JP2010204916A - 試験システム及び試験方法 - Google Patents

Abstract

【課題】被試験装置の試験を効率良く行うことができる試験システムを提供する。
【解決手段】本発明の試験システム１は、試験装置２と、試験装置２とデータ通信線５及び電源供給線６によって接続されており、試験装置２からの電源の供給によって試験プログラムが稼働する被試験装置３と、被試験装置３の稼働電流を検出する検出手段４と、を備える。試験装置２は、検出手段４によって検出された稼働電流の値を測定する測定手段２１と、被試験装置３に電源を供給する電源供給手段２２と、測定手段２１によって測定された稼働電流値と閾値とを比較する比較手段２３と、比較結果に基づいて被試験装置３に電源を供給するか否かを判定し、判定結果に基づいて電源供給手段２２を制御する判定手段２４と、を備える。
【選択図】図１

Description

本発明は試験システム及び試験方法に関し、被試験装置の機能動作試験を行う試験システム及び試験方法に関する。

ネットワークに接続されたサーバ等の装置が正常に動作するか否かを試験する必要がある。そのため、特許文献１、２に開示されているように、サーバ等の被試験装置と共にネットワークに試験装置が接続され、試験装置からの制御に基づいて当該被試験装置が試験されるシステムとされている。

このようなシステムにおいて、被試験装置を試験する際には、例えば試験装置から電源を供給し、被試験装置の試験プログラムを稼働させて当該被試験装置の試験を行う。この際、試験装置は、予め試験プログラムの稼働時間を見越して、タイマーで機械的に所定の時間、被試験装置に電源を供給する。

ところで、特許文献３には、タイマー信号が所定値以上になると、実行中の処理内容を記憶させ、機器の運転停止が暴走によるものか否かを判定する自己診断装置が開示されている。

特開平１１−６５８７０号公報 特開平１１−１４３７３０号公報 特開平５−１９６２７３号公報

上述した関連技術の試験装置は、タイマーで機械的に被試験装置への電源をＯＦＦ／ＯＮして試験を行っていた。そのため、試験プログラムが稼働中に、電源がＯＦＦされないように、タイマー値に冗長をもたせて設定する必要があった。

本発明の目的は、上述した課題を解決する試験システム及び試験方法を提供することにある。

本発明の試験システムは、試験装置と、前記試験装置とデータ通信線及び電源供給線によって接続されており、前記試験装置からの電源の供給によって試験プログラムが稼働する被試験装置と、前記被試験装置の稼働電流を検出する検出手段と、を備え、前記試験装置は、前記検出手段によって検出された稼働電流の値を測定する測定手段と、前記被試験装置に電源を供給する電源供給手段と、前記測定手段によって測定された稼働電流値と閾値とを比較する比較手段と、前記比較結果に基づいて前記被試験装置に電源を供給するか否かを判定し、前記判定結果に基づいて前記電源供給手段を制御する判定手段と、を備える。

本発明の試験方法は、試験装置からの電源の供給によって被試験装置の試験プログラムを稼働させ、前記被試験装置の稼働電流値を測定し、前記稼働電流値に基づいて、前記被試験装置への電源の供給を制御する。

本発明によれば、被試験装置の試験を効率良く行うことができる試験システム及び試験方法を提供することができる。

本発明の実施の形態１の試験システムを概略的に示すブロック図である。 本発明の実施の形態２の試験システムを概略的に示すブロック図である。 試験装置の動作を概略的に示すフローチャートである。 被試験装置の動作を概略的に示すフローチャートである。

本発明に係る試験システム及び試験方法の実施の形態について説明する。但し、本発明が以下の実施の形態に限定される訳ではない。また、説明を明確にするため、以下の記載及び図面は、適宜、簡略化されている。

＜実施の形態１＞
本実施の形態の試験システム１は、図１に示すように、試験装置２、被試験装置３、電流検出手段４等を備える。

試験装置２は、被試験装置３とデータ通信線５及び電源供給線６によって接続されている。試験装置２は、データ通信線５を介して被試験装置３の試験結果等を得る。試験装置２は、電源供給線６を介して被試験装置３に電源を供給し、当該被試験装置３に格納されている試験プログラム３１を稼働させる。このとき、被試験装置３において、予め試験装置２から電源が供給されると、ＤＣ電源がＯＮとなり、ＯＳ（Operating System）上で試験プログラム３１が稼働するように設定されていても良く、または試験装置２から電源供給線６を介して電源が供給されると、ＤＣ電源がＯＮとなり、さらにデータ通信線５を介して試験プログラム３１の稼働開始情報が送信されると、ＯＳ上で試験プログラム３１が稼働するように設定されていても良い。

試験装置２は、測定手段２１、電源供給手段２２、比較手段２３、判定手段２４を備える。測定手段２１は、電流検出手段４によって検出された被試験装置３の稼働電流の値を測定する。すなわち、被試験装置３が試験プログラム３１を稼働させている際には、被試験装置３の稼働電流は上昇する。そこで、被試験装置３の稼働電流を電流検出手段４によって検出させ、電流検出手段４によって検出された当該被試験装置３の稼働電流の値を測定する。

電源供給手段２２は、被試験装置３に試験プログラム３１を稼働させるための電源を供給する。電源供給手段２２は、後述する判定手段２４の制御に基づいて、被試験装置３への電源の供給を遮断又は継続することができる構成とされている。

比較手段２３は、測定手段２１によって測定された被試験装置３の稼働電流値と閾値とを比較する。すなわち、上述のように被試験装置３は、ＯＳ上で試験プログラム３１が稼働していると、稼働電流が上昇する。このときの稼働電流は、変動があるものの大きく変動するものではない。そこで、例えば試験プログラム３１が稼働する際の最小電流値を測定しておき、当該最小電流値を閾値として比較手段２３に設定する。そして、比較手段２３は、被試験装置３の稼働電流値と閾値とを比較し、当該比較結果を判定手段２４に出力する。

判定手段２４は、比較手段２３の比較結果に基づいて、被試験装置３に電源を供給するか否かを判定し、当該判定結果に基づいて電源供給手段２２を制御する。すなわち、被試験装置３の稼働電流値が閾値より小さいとの比較結果が比較手段２３から入力されると、判定手段２４は被試験装置３のＯＳ上で試験プログラム３１が終了したと判定する。そして、判定手段２４は、上述のように試験プログラム３１が終了したと判定すると、電源供給手段２２からの被試験装置３への電源の供給を遮断させる。

一方、被試験装置３の稼働電流値が閾値以上との比較結果が比較手段２３から入力されると、判定手段２４は被試験装置３のＯＳ上で試験プログラム３１が継続して稼働していると判定する。判定手段２４は、上述のように試験プログラム３１が継続して稼働していると判定すると、電源供給手段２２からの被試験装置３への電源の供給を継続させる。

被試験装置３は、サーバ等のコンピュータである。被試験装置３は、試験プログラム３１が格納されており、当該試験プログラム３１がＯＳ上で稼働する。試験プログラム３１は、例えば被試験装置３に強制的に負荷をかけた際のメモリの稼働状態を把握し、この把握した情報を適宜、又は試験が終了すると試験装置２に送信する機能を備える。被試験装置３は、試験結果としてＯＳ上で試験プログラム３１が稼働中のメモリの稼働状態を、データ通信線５を介して試験装置２に送信する。試験装置２は、受信した被試験装置３のメモリの稼働状態から当該被試験装置３が正常に稼働するか否かを判定する。

電流検出手段４は、電流センサである。電流検出手段４は、被試験装置３の稼働電流を検出し、当該検出結果を試験装置２の測定手段２１に出力する。測定手段２１は、入力された被試験装置３の稼働電流の検出値に基づいて、当該被試験装置３の稼働電流値を測定する。

このような試験システム及び試験方法は、被試験装置３の稼働電流が閾値より低下したかを比較し、当該被試験装置３の試験の終了を試験装置２が自動判別する。そのため、当該試験システム及び試験方法は、試験終了後の冗長時間が低減されるため、被試験装置３の試験の実行回数を多く行うことができ、試験効率が向上する。

＜実施の形態２＞
次に、本発明に係る試験システム及び試験方法の好ましい形態を説明する。但し、図２に示す試験システム１００は、図１に示す試験システム１と略同様であり、図１で付した符号と同一の符号は同一の構成を示すため説明は省略する。

試験システム１００は、図２に示すように、試験装置２００、被試験装置３００、電流検出手段４等を備える。
試験装置２００は、被試験装置３００とデータ通信線５００及び電源供給線６００を介して接続されている。ちなみに、本実施の形態では、データ通信線５としてＬＡＮ等の汎用ネットワークが構築されている。また、電源供給線６００には、電源供給手段２３０によって制御されるスイッチング素子８００が設けられている。

試験装置２００は、記憶手段２１０、演算処理手段２２０、電源供給手段２３０等を備えることが好ましい。
記憶手段２１０には、試験プログラム３１が稼働中に被試験装置３００から送信される試験結果が格納されている。記憶手段２１０には、比較手段２２２に被試験装置３００の稼働電流値と閾値とを比較させ、当該比較結果を判定手段２２３に出力させる出力プログラム２１１が格納されている。記憶手段２１０には、判定手段２２３に比較手段２２２の比較結果に基づいて、被試験装置３００に電源を供給するか否かを判定させ、当該判定結果に基づいて電源供給手段２３０を制御させる制御プログラム２１２が格納されている。当該制御プログラム２１２は、判定手段２２３に被試験装置３００への電源の供給を遮断した後に、所定の時間経過後、被試験装置３００に再び電源が複数回、繰り返し供給されるように、電源供給手段２３０を制御させる機能も備える。これにより、自動的に被試験装置３００の機能動作確認試験を所定の回数行うことができる。

さらに記憶手段２１には、障害解析情報収集手段２２４に被試験装置３００のＯＳ上で試験プログラム３１が稼働している途中に障害が発生すると、被試験装置３００からメモリダイブ等の障害解析情報を収集させる収集プログラム２１３が格納されている。

演算処理手段２２０は、測定手段２２１、比較手段２２２、判定手段２２３などを備える。さらに演算処理手段２２０は、被試験装置３００の障害解析情報を収集する障害解析情報収集手段２２４を備える。

測定手段２２１は、電流検出手段４によって検出された被試験装置３００の稼働電流の値を断続的に測定し、稼働電流値を比較手段２２２に出力する。比較手段２２２は、当該出力プログラム２１１を機能させて、断続的に入力される被試験装置３００の稼働電流値と閾値とを比較し、当該比較結果を判定手段２２３に出力する。

判定手段２２３は、当該制御プログラム２１２を機能させて、断続的に入力される比較結果に基づき、被試験装置３００に電源を供給するか否かを判定し、当該判定結果に基づいて電源供給手段２３０を制御する。具体的に云うと、判定手段２２３は、被試験装置３００の稼働電流値が閾値より小さいと、被試験装置３００への電源の供給を遮断する判定をし、被試験装置３００への電源の供給を遮断するように電源供給手段２３０を制御する。

すなわち、上述のように、被試験装置３００のＯＳ上で試験プログラム３１が終了すると、被試験装置３００の稼働電流が低下しているはずである。そのため、判定手段２２３は、被試験装置３００の稼働電流値が閾値より小さいと、被試験装置３００のＯＳ上で試験プログラム３１が終了したと判定することができ、被試験装置３００への電源の供給を遮断させる。

判定手段２２３は、当該制御プログラム２１２を機能させて、被試験装置３００への電源の供給を遮断した後に、所定の時間経過後、被試験装置３００に再び電源が複数回、繰り返し供給されるように電源供給手段２３０を制御する。このように間隔をあけて所定の回数、被試験装置３００の試験を行う。つまり、本実施の形態の試験装置２００は、自動試験装置として機能させることができる。ちなみに、被試験装置３００の試験を繰り返す、回数や間隔は、適宜、設定される。

判定手段２２３は、当該制御プログラム２１２を機能させて、被試験装置３００の稼働電流値が閾値以上の時間が設定した時間より短いと、被試験装置３００への電源の供給を継続する判定をし、被試験装置３００への電源の供給を継続するように電源供給手段２３０を制御する。すなわち、試験プログラム３１は、被試験装置３００のＯＳ上で予定通りに稼働すると、予め定められた時間内に終了するはずである。そのため、判定手段２２３は、比較手段２２２から比較結果として、被試験装置３００の稼働電流値が閾値以上との判定結果が断続的に入力された時間が当該定められた時間より短いと、未だに試験プログラム３１が稼働していると判定し、被試験装置３００への電源の供給を継続するように電源供給手段２３０を制御する。

一方、判定手段２２３は、当該制御プログラム２１２を機能させて、被試験装置３００の稼働電流値が閾値以上の時間が設定した時間以上であると、被試験装置３００への電源の供給を遮断するように電源供給手段２３０を制御する。すなわち、判定手段２２３は、測定手段２２１から比較結果として、被試験装置３００の稼働電流値が閾値以上との判定結果が断続的に入力された時間が当該定められた時間以上であると、被試験装置３００のＯＳ上で試験プログラム３１が稼働している途中に障害が発生したと判定し、被試験装置３００への電源の供給を遮断するように電源供給手段２３０を制御する。

さらに判定手段２２３は、被試験装置３００のＯＳ上で試験プログラム３１が稼働している途中に障害が発生したと判定すると、当該障害が発生した旨の情報を障害解析情報収集手段２２４に出力する。

障害解析情報収集手段２２４は、判定手段２２３から障害が発生した旨の情報が入力されると、当該収集プログラム２１３を機能させて、メモリダイブ等の障害解析情報を収集し、記憶手段２１０に格納する。

電源供給手段２３０は、電源供給線６００に設けられたスイッチング素子８００を制御する。すなわち、電源供給手段２３０は、判定手段２２３から入力される制御情報に基づいて、スイッチング素子８００を制御する。スイッチング素子８００は、電源供給手段２３０からの制御情報に基づいて、被試験装置３００への電源の供給をＯＦＦ／ＯＮする。

このような試験装置２００は、図３に示すように動作する。
先ず、試験装置２００は、被試験装置３に電源を供給する（ステップＳ１）。所定の時間後、電流検出手段４は被試験装置３００の稼働電流を断続的に検出し、当該検出結果を測定手段２２１に出力する。測定手段２２１は、入力された被試験装置３００の稼働電流の値を測定し、稼働電流値を比較手段２２２に出力する（ステップＳ２）。比較手段２２２は、入力された被試験装置３００の稼働電流値と閾値とを比較し、当該比較結果を判定手段２２３に出力する（ステップＳ３）。判定手段２２３は、被試験装置３００の稼働電流値が閾値より小さいと、被試験装置３００への電源の供給を遮断するように電源供給手段２３０を制御する。電源供給手段２３０は、被試験装置３００への電源の供給を遮断するようにスイッチング素子８００を制御する（ステップＳ４）。判定手段２２３は、所定の時間経過後、被試験装置３００への電源の供給を再開するように電源供給手段２３０を制御する。電源供給手段２３０は、被試験装置３００への電源の供給が再開されるようにスイッチング素子８００を制御する。このように、所定の時間経過後に、被試験装置３００の試験プログラム３１を複数回、繰り返し実行すると（ステップＳ５）、被試験装置３００の試験を終了する。

判定手段２２３は、被試験装置３００の稼働電流値が閾値より大きいとの比較結果が入力される時間と予め設定された時間とを比較する（ステップＳ６）。判定手段２２３は、被試験装置３００の稼働電流値が閾値以上の時間が予め設定した時間より短いと、未だに試験プログラム３１が稼働していると判定し、被試験装置３００への電源の供給を継続するように電源供給手段２３０を制御する。一方、判定手段２２３は、被試験装置３００の稼働電流値が閾値以上との比較結果が断続的に入力される時間が予め設定された時間以上であると、被試験装置３００のＯＳ上で試験プログラム３１が稼働している途中に障害が発生したと判定し、被試験装置３００への電源の供給を遮断するように電源供給手段２３０を制御する。それと共に、判定手段２２３は、被試験装置３００のＯＳ上で試験プログラム３１が稼働している途中に障害が発生したと判定すると、当該障害が発生した旨の情報を障害解析情報収集手段２２４に出力する。障害解析情報収集手段２２４は、メモリダイブ等の障害解析情報を収集し、記憶手段２１０に格納する（ステップＳ７）。

なお、被試験装置３００の稼働電流値は小刻みに増減しているため、ランダムサンプリング等により平均化した電流値を被試験装置３００の稼働電流値として用いるのが好ましい。

被試験装置３００はサーバである。被試験装置３００は、一般的なサーバと同様に記憶手段３１０、演算処理手段３２０等を備える。記憶手段３１０には、ＯＳや試験プログラム３１が格納されており、さらにデータ通信線５００に接続されたクライアントコンピュータからの要求に応えるべく、各種のプログラムが格納されている（図示は省略）。演算処理手段３２０は、ＯＳ上で各種のプログラムを稼働させて、クライアントコンピュータからの要求に応える。さらに演算処理手段３２０は、試験装置２００から電源が供給されることにより、被試験装置３００の電源をＯＮとし、ＯＳ上で試験プログラム３１を稼働させて、被試験装置３００の試験を行う。

このような被試験装置３００は、図４に示すように動作する。
先ず、被試験装置３００は、試験装置２００から電源が供給されると、ＤＣ電源がＯＮとなり、ＯＳ上で試験プログラム３１が稼働する（ステップＳ１１〜Ｓ１３）。被試験装置３００は、試験プログラム３１が稼働中、例えば被試験装置３００に強制的に負荷をかけた際のメモリの稼働状態を把握し、この把握した情報を適宜、又は試験の終了と共に試験装置２００に送信する（ステップＳ１４）。被試験装置３００は、試験プログラム３１が終了すると、ＤＣ電源がＯＦＦとなり、試験装置２００からの電源の供給が遮断される（ステップＳ１５、Ｓ１６）。

すなわち、上記構成の試験システム１００を用いると、試験装置２００からの電源の供給によって被試験装置３００の試験プログラム３１を稼働させ、被試験装置３００の稼働電流値を測定し、当該稼働電流値に基づいて、被試験装置３００への電源の供給を制御することができる。このとき、試験装置２００は、測定した稼働電流値と閾値とを比較し、当該稼働電流値が閾値より小さいと被試験装置３００への電源の供給を遮断する。

また、試験装置２００は、測定した稼働電流値が閾値以上の時間が設定した時間より短いと、被試験装置３００への電源の供給を継続する。一方、試験装置２００は、測定した稼働電流値が閾値以上の時間が設定した時間以上であると、被試験装置３００への電源の供給を遮断すると共に、被試験装置３００の障害解析情報を収集する。

このような試験システム及び試験方法は、被試験装置３００の稼働電流が閾値より低下したかを比較し、当該被試験装置３００の試験の終了を試験装置２００が自動判別する。そのため、当該試験システム及び試験方法は、試験終了後の冗長時間が低減されるため、被試験装置３００の試験の実行回数を多く行うことができ、試験効率が向上する。

しかも、当該試験システム及び試験方法は、被試験装置３００の試験の終了前に被試験装置３００の電源をＯＦＦしてしまうことがないので、被試験装置３００内の試験情報を失うことがない。

本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、上記実施の形態では、被試験装置を１台接続した場合について説明したが、２台以上であっても良いのは勿論である。また、上記実施の形態では、電流検出手段４やスイッチング素子８００が試験装置２００の外部に配置されているが、試験装置２００の内部に配置されていても良い。また、上記実施の形態では、被試験装置の稼働電流を断続的に検出しているが、間隔をあけて検出しても良い。

１ 試験システム
２ 試験装置
３ 被試験装置
４ 電流検出手段
５ データ通信線
６ 電源供給線
２１ 測定手段
２１ 記憶手段
２２ 電源供給手段
２３ 比較手段
２３ 電源供給手段
２４ 判定手段
３１ 試験プログラム
１００ 試験システム
２００ 試験装置
２１０ 記憶手段
２１１ 出力プログラム
２１２ 制御プログラム
２１３ 収集プログラム
２２０ 演算処理手段
２２１ 測定手段
２２２ 比較手段
２２３ 判定手段
２２４ 障害解析情報収集手段
２３０ 電源供給手段
３００ 被試験装置
３１０ 記憶手段
３２０ 演算処理手段
５００ データ通信線
６００ 電源供給線
８００ スイッチング素子

Claims (11)

1. 試験装置と、
   前記試験装置とデータ通信線及び電源供給線によって接続されており、前記試験装置からの電源の供給によって試験プログラムが稼働する被試験装置と、
   前記被試験装置の稼働電流を検出する検出手段と、を備え、
   前記試験装置は、前記検出手段によって検出された稼働電流の値を測定する測定手段と、前記被試験装置に電源を供給する電源供給手段と、前記測定手段によって測定された稼働電流値と閾値とを比較する比較手段と、前記比較結果に基づいて前記被試験装置に電源を供給するか否かを判定し、前記判定結果に基づいて前記電源供給手段を制御する判定手段と、を備える試験システム。
2. 前記判定手段は、前記稼働電流値が閾値より小さいと、前記被試験装置への電源の供給を遮断する判定をし、前記被試験装置への電源の供給を遮断するように前記電源供給手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の試験システム。
3. 前記判定手段は、前記稼働電流値が閾値以上の時間が設定した時間より短いと、前記被試験装置への電源の供給を継続する判定をし、前記被試験装置への電源の供給を継続するように前記電源供給手段を制御することを特徴とする請求項１又は２に記載の試験システム。
4. 前記試験装置は、前記被試験装置の障害解析情報を収集する障害解析情報収集手段を備えることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の試験システム。
5. 前記障害解析情報収集手段は、前記稼働電流値が閾値以上の時間が設定した時間以上であると、前記被試験装置の障害解析情報を収集することを特徴とする請求項４に記載の試験システム。
6. 前記判定手段は、前記電源供給手段が前記被試験装置への電源を遮断した後に、所定の時間経過後、前記被試験装置に再び電源を供給するように前記電源供給手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の試験システム。
7. 前記被試験装置はサーバであることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の試験システム。
8. 試験装置からの電源の供給によって被試験装置の試験プログラムを稼働させ、
   前記被試験装置の稼働電流値を測定し、前記稼働電流値に基づいて、前記被試験装置への電源の供給を制御する試験方法。
9. 前記測定した稼働電流値と閾値とを比較し、前記稼働電流値が閾値より小さいと前記被試験装置への電源の供給を遮断することを特徴とする請求項８に記載の試験方法。
10. 前記測定した稼働電流値が閾値以上の時間が設定した時間より短いと、前記被試験装置への電源の供給を継続することを特徴とする請求項８又は９に記載の試験方法。
11. 前記測定した稼働電流値が閾値以上の時間が設定した時間以上であると、前記被試験装置の障害解析情報を収集することを特徴とする請求項８乃至１０のいずれか1項に記載の試験方法。

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