JP2010204051A - Inspection apparatus and inspection method - Google Patents

Inspection apparatus and inspection method Download PDF

Info

Publication number
JP2010204051A
JP2010204051A JP2009052638A JP2009052638A JP2010204051A JP 2010204051 A JP2010204051 A JP 2010204051A JP 2009052638 A JP2009052638 A JP 2009052638A JP 2009052638 A JP2009052638 A JP 2009052638A JP 2010204051 A JP2010204051 A JP 2010204051A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
product
light
dark
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009052638A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5187851B2 (en
Inventor
Yasushi Shimosato
靖 下里
Hiroyuki Yokokawa
博之 横川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NIHON DENSHO VISION SYSTEM KK
Mutual Corp
Original Assignee
NIHON DENSHO VISION SYSTEM KK
Mutual Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NIHON DENSHO VISION SYSTEM KK, Mutual Corp filed Critical NIHON DENSHO VISION SYSTEM KK
Priority to JP2009052638A priority Critical patent/JP5187851B2/en
Publication of JP2010204051A publication Critical patent/JP2010204051A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5187851B2 publication Critical patent/JP5187851B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection apparatus and an inspection method for quickly, simply and accurately inspecting a state that a transparent particulate element such as silicon is applied to a product such as a syringe. <P>SOLUTION: The inspection apparatus 10 comprises: an illumination section 20 for illuminating transmission light 21; a slit plate 25 having a light transmitting section 26 and a light shielding section 27 alternately needled, and forming a brightness pattern having light sections and dark sections alternately repeated relative to the product 11; an image capturing section 30 for receiving transmission light 21a, and capturing an image of the product 11; an image processing section 36 for applying image processing to a captured image, and forming a multilevel gray-scale image; a detection section 37 for detecting a boundary of a particulate as a change point of the brightness by a tone difference between the particulate of the transparent particulate element appearing in a halftone and a light section or a dark section in an inspection area in the gray-scale image; and a determination section 38 for determining the state that the transparent particulate element is applied based on the number of the change points. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、検査装置および検査方法に関し、より詳しくは、シリンジのような製品において、シリコンなど透明微粒子体の塗布状態を検査する検査装置および検査方法に関する。   The present invention relates to an inspection apparatus and an inspection method, and more particularly to an inspection apparatus and an inspection method for inspecting the application state of transparent fine particles such as silicon in a product such as a syringe.

従来、シリンジのような製品を検査するものとして、製品を撮影するカメラと、このカメラによる画像を2値化する2値化回路と、この2値化回路により2値化された画像に基づいて当該製品の良否を判定する判定手段を備えた検査装置が知られている。 2. Description of the Related Art Conventionally, a product such as a syringe is inspected based on a camera for photographing a product, a binarization circuit for binarizing an image obtained by the camera, and an image binarized by the binarization circuit. There is known an inspection apparatus provided with a determination means for determining the quality of the product.

上記検査装置では、2値化された画像における黒又は白の画素数をカウントして、その総画素数が所定範囲以内となっていないときに当該製品が不良であると判定する。製品にゴミや傷があれば黒の画素数が増え、その分、白の画素数が減るため、それによって製品の良否を判定することができる。 The inspection apparatus counts the number of black or white pixels in the binarized image, and determines that the product is defective when the total number of pixels is not within a predetermined range. If the product has dust or scratches, the number of black pixels increases, and the number of white pixels decreases accordingly, so that the quality of the product can be determined.

特開平11−183401号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-183401

ところで、シリンジは近年、プレフィルドシリンジとして用いられることが増えている。プレフィルドシリンジは、シリンジ内に薬剤を充填し、ガスケットが連結された押し子を挿入して密封形成される。プレフィルドシリンジでは、押し子をスムーズに操作して薬剤投与できるように、シリンジ胴体部の内壁面に、潤滑剤としてのシリコンが塗布されている。 By the way, in recent years, syringes are increasingly used as prefilled syringes. The prefilled syringe is sealed by filling a medicine in the syringe and inserting a pusher to which a gasket is connected. In the prefilled syringe, silicon as a lubricant is applied to the inner wall surface of the syringe body so that the medicine can be administered by operating the pusher smoothly.

このようなシリンジおよびシリコンは何れも透明であり、塗布できるシリコンも微量であるため、シリンジにシリコンが塗布されているか否かを目視で検査することは非常に困難である。現在、シリンジを製作するメーカーなどでは、シリコンを塗布するノズルの先端を介して、シリコン塗布の有無を感知するようにしているが、検査精度として十分なものが得られていない。また、シリコンを塗布する際、とりわけシリコンの粘度が高いような場合には、塗布量にばらつきが生じることがある。 Since such syringes and silicon are both transparent and a small amount of silicon can be applied, it is very difficult to visually inspect whether or not silicon is applied to the syringe. Currently, manufacturers that manufacture syringes detect the presence or absence of silicon application through the tip of a nozzle that applies silicon, but sufficient inspection accuracy has not been obtained. In addition, when applying silicon, particularly when the viscosity of silicon is high, the coating amount may vary.

一方で、従来の上記検査装置によれば、シリンジにおけるゴミや傷などの有無を検査することはできるものの、2値化した画像においてシリコンは現れ得ないため、シリンジにシリコンが塗布されているか否か、あるいは塗布量が適切か否か、といったシリコンの塗布状態を検査することは難しかった。 On the other hand, according to the conventional inspection apparatus, although it is possible to inspect the syringe for dust or scratches, silicon cannot appear in the binarized image, so whether or not silicon is applied to the syringe. It was difficult to inspect the application state of silicon, such as whether or not the application amount was appropriate.

そこで、本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、シリンジのような製品におけるシリコンなど透明微粒子体の塗布状態を、素早く簡単に、しかも精度よく検査することのできる検査装置および検査方法を提供することにある。本発明の他の目的は、以下の説明により明らかにされる。 Therefore, the present invention has been made in view of the above circumstances, and its object is to quickly and easily inspect the application state of transparent fine particles such as silicon in a product such as a syringe with high accuracy. It is an object of the present invention to provide an inspection apparatus and an inspection method that can perform inspection. Other objects of the present invention will become apparent from the following description.

本発明の検査装置は、製品における透明微粒子体の塗布状態を検査する検査装置であって、透過光を照明する照明部と、透光部と遮光部とが交互に穿設されてなり、製品と該照明部との間に配置され、該製品に対して、明部と暗部とが交互に繰り返される明暗縞を形成するスリット板と、該製品を透過した該透過光を受光して、該製品を撮影する撮影部と、該撮影部により撮影された撮影画像に画像処理を施して、多階調の濃淡画像を形成する画像処理部と、該濃淡画像中の検査領域内で、中間調にて現れる透明微粒子体の各微粒子と該明部または該暗部との階調差により、該微粒子の境界を明暗の変化点として検出する検出部と、該変化点の個数に基づき、透明微粒子体の塗布状態を判定する判定部と、を備えている。 The inspection apparatus of the present invention is an inspection apparatus for inspecting the application state of transparent fine particles in a product, wherein an illumination unit that illuminates transmitted light, a light transmitting unit, and a light shielding unit are alternately perforated, and the product And a slit plate that forms bright and dark stripes in which bright parts and dark parts are alternately repeated with respect to the product, and receives the transmitted light transmitted through the product, An image processing unit that captures a product, an image processing unit that performs image processing on a captured image captured by the image capturing unit to form a multi-tone gray image, and a halftone image in an inspection area in the gray image. Based on the number of the change points, a detection unit that detects a boundary between the fine particles based on a gradation difference between each fine particle of the transparent fine particle appearing at the bright portion or the dark portion, and the number of the change points And a determination unit for determining the application state of.

本発明の検査装置の好ましい例では、該検出部が、該明暗縞に平行する走査方向に沿って、該変化点を検出するようになされている。   In a preferred example of the inspection apparatus of the present invention, the detection unit detects the change point along a scanning direction parallel to the light and dark stripes.

本発明の検査装置のさらに好ましい例では、該検出部が、該微粒子の該走査方向に沿う両側縁で該変化点を検出することにより、各微粒子につき2個ずつの該変化点を検出するようになされている。   In a further preferred example of the inspection apparatus of the present invention, the detection unit detects the change points at both side edges along the scanning direction of the fine particles, thereby detecting two change points for each fine particle. Has been made.

本発明の検査装置のさらに好ましい例では、該検査領域が、複数の検査ブロックからなり、該検出部が、各検査ブロックごとに該変化点を検出するとともに、該判定部が、検出された該変化点の個数を合算した合計値と、所定の判定基準とを比較することにより、該透明微粒子体の塗布状態を判定するようになされている。   In a further preferred example of the inspection apparatus according to the present invention, the inspection region includes a plurality of inspection blocks, the detection unit detects the change point for each inspection block, and the determination unit detects the detected points. The application state of the transparent fine particle body is determined by comparing the total value obtained by adding the number of change points with a predetermined determination criterion.

本発明の検査装置のさらに好ましい例では、該製品がシリンジであって、該シリンジの内壁面におけるシリコンの塗布状態を検査するものである。   In a further preferred example of the inspection apparatus according to the present invention, the product is a syringe, and the application state of silicon on the inner wall surface of the syringe is inspected.

また、本発明の検査方法は、製品における透明微粒子体の塗布状態を検査する検査方法であって、透過光を照明して、製品に対して明部と暗部とが交互に繰り返される明暗縞を形成する工程と、該製品を透過した該透過光を受光して、該製品を撮影する工程と、撮影された撮影画像に画像処理を施して、多階調の濃淡画像を形成する工程と、該濃淡画像中の検査領域内で、中間調にて現れる透明微粒子体の各微粒子と該明部または該暗部との階調差により、該微粒子の境界を明暗の変化点として検出する工程と、該変化点の個数に基づき、透明微粒子体の塗布状態を判定する工程と、を備えている。   Further, the inspection method of the present invention is an inspection method for inspecting the application state of the transparent fine particles in the product, and illuminates the transmitted light so that bright and dark stripes in which the bright part and the dark part are alternately repeated on the product. A step of forming, a step of receiving the transmitted light that has passed through the product and photographing the product, a step of performing image processing on the photographed photographed image to form a multi-tone image, Detecting the boundary of the fine particle as a change point of light and dark according to a gradation difference between each fine particle of the transparent fine particle body appearing in a halftone and the bright part or the dark part in the inspection region in the grayscale image; And a step of determining a coating state of the transparent fine particle body based on the number of change points.

本発明によれば、上記のとおり、透過光を照明する照明部と、透光部と遮光部とが交互に穿設されてなり、製品と該照明部との間に配置され、該製品に対して、明部と暗部とが交互に繰り返される明暗縞を形成するスリット板と、該製品を透過した該透過光を受光して、該製品を撮影する撮影部と、該撮影部により撮影された撮影画像に画像処理を施して、多階調の濃淡画像を形成する画像処理部と、該濃淡画像中の検査領域内で、中間調にて現れる透明微粒子体の各微粒子と該明部または該暗部との階調差により、該微粒子の境界を明暗の変化点として検出する検出部と、該変化点の個数に基づき、透明微粒子体の塗布状態を判定する判定部と、を備えて検査装置を構成したため、シリンジのような製品におけるシリコンなど透明微粒子体の塗布状態を、素早く簡単に、しかも精度よく検査することができる。   According to the present invention, as described above, the illuminating unit that illuminates the transmitted light, the translucent unit, and the light-shielding unit are alternately perforated and disposed between the product and the illuminating unit. On the other hand, a slit plate that forms bright and dark stripes in which a bright part and a dark part are alternately repeated, a photographing part that receives the transmitted light transmitted through the product, and photographs the product, and is photographed by the photographing part An image processing unit that performs image processing on the captured image to form a multi-gradation gray image, and each fine particle of the transparent fine particle that appears in halftone in the inspection region in the gray image and the bright portion or Inspection comprising: a detection unit that detects a boundary between the fine particles as a change point of light and darkness based on a gradation difference from the dark part; and a determination unit that determines a coating state of the transparent fine particle body based on the number of the change points Because the device is configured, transparent fine particles such as silicon in products such as syringes The coating state, quickly and easily, yet can be accurately inspected.

実施形態に係る検査装置を示す全体構成図である。It is a whole lineblock diagram showing the inspection device concerning an embodiment. 実施形態に係る濃淡画像を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the grayscale image which concerns on embodiment. スリット板を用いない場合の濃淡画像の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the grayscale image when not using a slit board. スリット板を用いた場合の濃淡画像の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the grayscale image at the time of using a slit board. 実施形態に係る検査手順を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the test | inspection procedure which concerns on embodiment. 実施形態に係る検査手順を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the test | inspection procedure which concerns on embodiment. 実施形態に係る検査システムを示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows the inspection system which concerns on embodiment. 実施例(サンプルA)に係る濃淡画像を示す図である。It is a figure which shows the grayscale image which concerns on an Example (sample A). 実施例(サンプルA)に係る検査画像を示す図である。It is a figure which shows the test | inspection image which concerns on an Example (sample A). 実施例(サンプルB)に係る濃淡画像を示す図である。It is a figure which shows the grayscale image which concerns on an Example (sample B). 実施例(サンプルB)に係る検査画像を示す図である。It is a figure which shows the test | inspection image which concerns on an Example (sample B). 実施例の検査領域および検査ブロックを示す図である。It is a figure which shows the test | inspection area | region and test | inspection block of an Example.

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。図1は、実施形態に係る検査装置10を示す全体構成図である。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is an overall configuration diagram illustrating an inspection apparatus 10 according to an embodiment.

検査装置10は、製品としてのシリンジにおけるシリコンの塗布状態を検査するものであり、図1に示すように、シリンジ11を挟んで一方側に照明部20を、他方側に撮影部30をそれぞれ配設して構成されている。
シリンジ11は、容積5〜10ミリリットル程度の透明なプラスチックまたはガラス製で、円筒状の胴体部12の上下に、フランジ部13と、先端部15に向けて漸次縮径する縮径部14とがそれぞれ連成された公知の構造を有している。この胴体部12の内壁面16に潤滑剤たるシリコンが塗布される。シリンジ11は、先端部15を下方にし、図示しない把持手段を介して鉛直状態に適宜把持されている。
The inspection apparatus 10 inspects the application state of silicon in a syringe as a product. As shown in FIG. 1, the illumination unit 20 is arranged on one side and the imaging unit 30 is arranged on the other side with the syringe 11 interposed therebetween. It is configured.
The syringe 11 is made of transparent plastic or glass having a volume of about 5 to 10 milliliters, and includes a flange portion 13 and a diameter-reduced portion 14 that gradually decreases in diameter toward the distal end portion 15 above and below the cylindrical body portion 12. Each has a known structure coupled with each other. Silicon as a lubricant is applied to the inner wall surface 16 of the body 12. The syringe 11 is appropriately held in a vertical state through a holding means (not shown) with the distal end portion 15 facing downward.

シリコンは、所定基準(例えば薬機第327号「注射針及び注射筒等に潤滑剤として用いるシリコン油の基準について(平成7年12月20日厚生省薬務局医療機器開発課長通知)」)を満たすものであるが、オイルシリコンまたはエマルジョンシリコンが、シリンジ11の材質や充填される薬剤との適合性などに応じて適宜選択して用いられる。 Silicon is based on prescribed standards (for example, Drug Machine No. 327 “Standards for Silicon Oil Used as Lubricant for Injection Needles and Syringes, etc. (December 20, 1995 Ministry of Health and Welfare Pharmaceutical Affairs Department Medical Device Development Division Manager Notice)”) Although satisfy | filling, an oil silicone or an emulsion silicone is used selecting it suitably according to the compatibility with the material of the syringe 11, the chemical | medical agent with which it fills, etc.

照明部20は、図1に示すように、透過光21を略水平に照明する。照明部20は、多数のLED光源(図示せず)が縦横碁盤目状に密に植設されるとともに、アクリル板23で被装された薄箱状をなし、少なくともシリンジ胴体部12よりも一回り大きい鉛直の投光面を有している。アクリル板23は、上記LED光源による透過光21を適度に拡散させる働きをなしている。LEDは、長寿命で明るさの均一性を保ち易く、しかも照明部20をコンパクトに構成できる点から、好ましい光源である。 The illumination unit 20 illuminates the transmitted light 21 substantially horizontally as shown in FIG. The illumination unit 20 has a thin box shape in which a large number of LED light sources (not shown) are densely arranged in a vertical and horizontal grid pattern and is covered with an acrylic plate 23, and is at least one more than the syringe body unit 12. It has a large vertical projection surface. The acrylic plate 23 functions to appropriately diffuse the transmitted light 21 from the LED light source. The LED is a preferable light source because it has a long lifetime and can easily maintain brightness uniformity, and the illumination unit 20 can be configured compactly.

シリンジ11と照明部20との間には、図1に示すように、複数の透光部26と遮光部27とが交互に穿設されてなるスリット板25が、照明部20の上記投光面と平行状態で配置されている。これにより、スリット板25は、シリンジ11に対して、明部41と暗部42とが交互に繰り返される所定の明暗縞40をシリンジ11の軸方向に沿って形成する(図2参照)。 As shown in FIG. 1, a slit plate 25 in which a plurality of light transmitting portions 26 and light shielding portions 27 are alternately drilled is provided between the syringe 11 and the illumination portion 20. It is arranged in parallel with the surface. Thereby, the slit board 25 forms the predetermined light and dark stripe 40 in which the bright part 41 and the dark part 42 are repeated with respect to the syringe 11 along the axial direction of the syringe 11 (refer FIG. 2).

この実施形態では、スリット板25のピッチを、W=2(mm)、W=2(mm)の寸法で形成しているが(図1)、W、Wの好ましい範囲は、シリンジ胴体部12の径をおおむね5〜20(mm)とすると、1〜5(mm)であり、より好ましくは、W=Wとするのがよい。
また、スリット板25の厚みDは、上記W、Wの寸法や、照明部20とスリット板25との間隔などを勘案して適宜設定することができる。この実施形態では、D=2(mm)の寸法で形成している。
In this embodiment, the pitch of the slit plate 25 is formed with dimensions of W 1 = 2 (mm) and W 2 = 2 (mm) (FIG. 1), but the preferred range of W 1 and W 2 is When the diameter of the syringe body 12 is approximately 5 to 20 (mm), it is 1 to 5 (mm), and more preferably, W 1 = W 2 .
In addition, the thickness D of the slit plate 25 can be appropriately set in consideration of the dimensions of W 1 and W 2 and the distance between the illumination unit 20 and the slit plate 25. In this embodiment, it is formed with a dimension of D = 2 (mm).

スリット板25は、シリンジ11の搬送態様によるスペース的な制限などに応じ、適当な位置に配設してよい。スリット板25を、照明部20のアクリル板23表面に固着することもできる。また、照明部20やスリット板25を、水平移動可能な構成とすれば、検査するシリンジ11の種類(胴体部12の径)などにより、これらを都度最適な位置に調整して配設することが容易となる。 The slit plate 25 may be disposed at an appropriate position in accordance with a space limitation due to the transport mode of the syringe 11. The slit plate 25 can be fixed to the surface of the acrylic plate 23 of the illumination unit 20. Further, if the illumination unit 20 and the slit plate 25 are configured to be horizontally movable, they may be adjusted to the optimal position each time depending on the type of syringe 11 to be inspected (diameter of the body unit 12) and the like. Becomes easy.

撮影部30は、図1に示すように、照明部20から照明されシリンジ11を透過する透過光21aを反対側から受光して、シリンジ11を撮影する。この実施形態では、撮影部30は倍速ランダムカメラ(4倍速)からなり、シリンジ胴体部12の略全体的な投影像を、約16(ミリ秒)で撮影して画像取り込みできる。
撮影部30は、透過光21aを正面から受光できる位置に配設されるのが最適であるが、1台に限らず、複数台を設けるようにしても構わない。
As illustrated in FIG. 1, the imaging unit 30 receives the transmitted light 21 a illuminated from the illumination unit 20 and transmitted through the syringe 11 from the opposite side, and images the syringe 11. In this embodiment, the photographing unit 30 is composed of a double speed random camera (four times speed), and can capture an image by photographing a substantially entire projection image of the syringe body part 12 in about 16 (milliseconds).
The photographing unit 30 is optimally disposed at a position where the transmitted light 21a can be received from the front, but the number of the photographing unit 30 is not limited to one, and a plurality of units may be provided.

撮影部30には、図1に示すように、所定の検査部35が接続されている。検査部35は、画像処理部36と、検出部37と、判定部38と、を主として備える。画像処理部36は、撮影部30により撮影された撮影画像に画像処理を施して濃淡画像を形成し、この濃淡画像を用いて、検出部37が、所定の検出処理を施す。そして、検出処理の結果に基づき、判定部38が、シリンジ11におけるシリコンの塗布状態を判定するものである。   As shown in FIG. 1, a predetermined inspection unit 35 is connected to the imaging unit 30. The inspection unit 35 mainly includes an image processing unit 36, a detection unit 37, and a determination unit 38. The image processing unit 36 performs image processing on the captured image captured by the imaging unit 30 to form a grayscale image, and the detection unit 37 performs a predetermined detection process using the grayscale image. And based on the result of a detection process, the determination part 38 determines the application | coating state of the silicon | silicone in the syringe 11. FIG.

なお、図示しないが、検査部35は、メモリなどの記憶手段、CPUなどの演算処理手段、所定のプログラム、インターフェース、電源ポートなど必要なハードウェアおよびソフトウェアを備えており、さらに検査部35には、モニタ、ディスプレイなどの表示手段、キーパッド、タッチパネル、ジョイスティックなどの入力手段その他の周辺機器が適宜接続されるようになっている。   Although not shown, the inspection unit 35 includes necessary storage and hardware such as a storage unit such as a memory, an arithmetic processing unit such as a CPU, a predetermined program, an interface, and a power supply port. Display means such as a monitor and a display, input means such as a keypad, a touch panel, and a joystick and other peripheral devices are appropriately connected.

上記の如く構成される検査装置10を用いた具体的な検査手順について説明する。まず、撮影部30によって、所定状態にセットされたシリンジ11を撮影し、撮影画像を得る。 A specific inspection procedure using the inspection apparatus 10 configured as described above will be described. First, the photographing unit 30 photographs the syringe 11 set in a predetermined state, and obtains a photographed image.

上記撮影画像はデジタルデータ化され、画像処理部36によって、濃淡画像を形成するための所定の画像処理が施される。この画像処理の手法自体は、公知の技術が用いられる。つまり、多数の画素の集合に標本化された画像データにおいて、各画素を、例えば0〜255の256階調の濃淡レベルに量子化し、多階調で表現されたグレースケールの濃淡画像(多値画像)を形成する。 The captured image is converted into digital data, and the image processing unit 36 performs predetermined image processing for forming a grayscale image. A known technique is used as the image processing method itself. That is, in the image data sampled into a set of a large number of pixels, each pixel is quantized to a gradation level of 256 gradations, for example, 0 to 255, and a grayscale gradation image (multi-valued expression) expressed in multiple gradations. Image).

このとき、濃淡画像中のシリンジ11では、上記した照明部20およびスリット板25によって、図2に示すように、ハイライト近傍の白色をなす明部41とシャドウ近傍の黒色をなす暗部42とが交互に繰り返される明暗縞40が形成されているが、さらに、シリコンの各微粒子45が中間調のグレーの陰影として現れることとなる。 At this time, in the syringe 11 in the grayscale image, as shown in FIG. 2, the above-described illumination unit 20 and slit plate 25 cause a bright portion 41 that forms white near the highlight and a dark portion 42 that forms black near the shadow. The light and dark stripes 40 that are alternately repeated are formed, but each silicon fine particle 45 appears as a gray shade of gray.

図3は、シリコンを塗布したシリンジ11に対して、スリット板を用いないで形成した濃淡画像の例であり、一方で図4は、同じシリンジ11に対して、上記の如くスリット板を用いて形成した濃淡画像の例を示している。これらの図から明らかなように、本来、粒子周囲に透過光21aがまわり込み濃淡画像には現れ得ない透明なシリコンを、一定のスリット板を介することで、上記所定の陰影をもってくっきりと浮かび上がらせることができるのである。 FIG. 3 is an example of a grayscale image formed without using a slit plate for a syringe 11 coated with silicon, while FIG. 4 shows an example using the slit plate for the same syringe 11 as described above. An example of the formed grayscale image is shown. As is clear from these figures, transparent silicon, which originally has transmitted light 21a around the particle and cannot appear in the grayscale image, clearly appears with the predetermined shadow by passing through a certain slit plate. It can be done.

これは、スリット板25の透光部26と遮光部27との作用により、明部41に位置することになるシリコンの微粒子45は、その両サイドの遮光部27の影響で黒みを帯び、逆に暗部42に位置することになるシリコンの微粒子45は、その両サイドの透光部26の影響で白みを帯びて現れることによるものと考えられる(図2参照)。 This is because the silicon fine particles 45 located in the bright part 41 are darkened by the influence of the light-shielding parts 27 on both sides due to the action of the light-transmitting part 26 and the light-shielding part 27 of the slit plate 25. It is considered that the silicon fine particles 45 located in the dark part 42 appear to appear white due to the light-transmitting parts 26 on both sides (see FIG. 2).

上記濃淡画像を形成した後には、位置補正を施しておくことが好ましい。シリンジ11の胴体部12の輪郭部分やフランジ部13は、透過光21aを通し難く、黒い輪郭線状に現れるため、これに基づいてシリンジ11を基準位置にくるように位置補正することができる。特に搬送途中のシリンジ11を断続撮影して検査する場合には、各画像ごとにシリンジ11の位置が異なり得るが、このような位置補正によって以下の検出処理をよりおこない易くできる。 It is preferable to perform position correction after the gray image is formed. Since the contour portion of the body portion 12 and the flange portion 13 of the syringe 11 are difficult to transmit the transmitted light 21a and appear in a black contour line, the position of the syringe 11 can be corrected based on this. In particular, when the syringe 11 in the middle of conveyance is inspected by intermittent shooting, the position of the syringe 11 may be different for each image, but the following detection process can be more easily performed by such position correction.

検出部37による検出処理は、図5に示すように、上記濃淡画像中に、一定の検査領域50を設けておこなわれる。この検査領域50の設け方は任意であり、シリンジ11の全体または一部の何れに設けてもよい。また、検査領域50を複数の検査ブロックに分けることもできる。複数の検査ブロックに分け、これを総合することで、より検査精度を向上させることができる。
シリンジ11にあっては、胴体部12の先端部15側のシリコン塗布状態の確認が特に重要となってくるため、少なくともこの近辺に検査領域50を設けるのがよい。
As shown in FIG. 5, the detection process by the detection unit 37 is performed by providing a certain inspection region 50 in the grayscale image. The inspection region 50 may be provided in any manner, and may be provided on the whole or a part of the syringe 11. Further, the inspection area 50 can be divided into a plurality of inspection blocks. By dividing into a plurality of inspection blocks and integrating them, the inspection accuracy can be further improved.
In the syringe 11, since it is particularly important to check the silicon application state on the distal end 15 side of the body portion 12, it is preferable to provide the inspection region 50 at least in the vicinity thereof.

検出処理は、上記検査領域50内で、上記中間調にて現れるシリコンの各微粒子45と、その背景(明部41または暗部42)との階調差により、各微粒子45の境界を明暗の変化点として検出することによりおこなわれる。
シリコンが塗布されているシリンジ11の場合について、図5を用いて、より具体的に説明すると、濃淡画像中の適宜位置に矩形状の検査領域50を設定し、前処理として、所定のエッジ検出により、各微粒子45の境界(エッジ)を検出する。エッジ検出では、検査領域50内で各画素の明暗階調を順次抽出し、画素間の明暗階調の変化量を計算するとともに、この変化量とあらかじめ設定された所定のしきい値とを比較して、当該変化量が所定のしきい値以上であれば、エッジとして検出する。例えば、設定しきい値が「30」であれば、上記明暗階調が30以上減少するところは「明から暗へ」のエッジとして検出し、逆に上記明暗階調が30以上増加するところは「暗から明へ」のエッジとして検出する。上記変化量の計算に際しては、差分処理などの手法が適宜用いられる。
このエッジ検出は、明暗縞40に平行する走査方向Aに沿っておこなわれるが、シリコンの各微粒子45が、上記中間調のグレーの陰影として出現しているため、明部41または暗部42との階調差により、それらの境界を簡単に精度よくエッジ検出できる。上記走査方向Aに沿ってエッジ検出をおこなうことで、複雑な処理を要することなく、各微粒子45の境界のみを検出し易くなる。
In the detection process, in the inspection area 50, the boundary between the fine particles 45 is changed by the gradation difference between the fine particles 45 of silicon appearing in the halftone and the background (the bright portion 41 or the dark portion 42). This is done by detecting as a point.
More specifically, the case of the syringe 11 to which silicon is applied will be described with reference to FIG. 5. A rectangular inspection region 50 is set at an appropriate position in the grayscale image, and predetermined edge detection is performed as preprocessing. Thus, the boundary (edge) of each fine particle 45 is detected. In edge detection, the light / dark gradation of each pixel is sequentially extracted in the inspection area 50, the amount of change in light / dark gradation between pixels is calculated, and the amount of change is compared with a predetermined threshold value. If the amount of change is equal to or greater than a predetermined threshold, it is detected as an edge. For example, if the set threshold value is “30”, a point where the light / dark gradation decreases by 30 or more is detected as an edge from “bright to dark”, and conversely, a place where the light / dark gradation increases by 30 or more Detect as an edge from “dark to light”. In calculating the amount of change, a technique such as difference processing is appropriately used.
This edge detection is performed along the scanning direction A parallel to the light and dark stripes 40. However, since the silicon fine particles 45 appear as shades of the gray of the halftone, the edge detection is performed with the bright portion 41 or the dark portion 42. Due to the difference in gradation, it is possible to detect edges of these boundaries easily and accurately. By performing edge detection along the scanning direction A, it becomes easy to detect only the boundaries of the respective fine particles 45 without requiring complicated processing.

そして、上記エッジ検出に基づき、明暗の変化点を検出する。図5中、51は走査方向Aに沿って明暗の変化点を探査するエッジチェッカである。この実施形態では、各微粒子45のエッジ検出された上記境界における走査方向Aに沿う両側縁を、それぞれ明暗の変化点として検出するように設定してあり、図5の例は、検査領域50内で、計6個の変化点が検出され得ることを示している。このような実施態様によれば、各微粒子45につき一定数(2個)ずつの変化点が検出されるため、微粒子45の点在状態をより正確に反映させ易いものとできる。
シリコンが塗布されたシリンジ11の場合、上記説明したようにして明暗の変化点が多数検出されることとなる。
Based on the edge detection, a change point between light and dark is detected. In FIG. 5, 51 is an edge checker that searches for a light-dark change point along the scanning direction A. In this embodiment, both side edges along the scanning direction A at the boundary where the edge of each fine particle 45 is detected are set to be detected as light and dark change points, respectively, and the example of FIG. This indicates that a total of six change points can be detected. According to such an embodiment, since a certain number (two) of changing points are detected for each fine particle 45, the scattered state of the fine particles 45 can be more easily reflected more accurately.
In the case of the syringe 11 coated with silicon, a large number of light and dark change points are detected as described above.

一方、図6に示すように、シリコンを塗布されていないシリンジ11’の場合には、濃淡画像中にシリコンがグレーの陰影として出現することはないため、理論的には明暗の変化点は検出されない。   On the other hand, as shown in FIG. 6, in the case of the syringe 11 ′ not coated with silicon, silicon does not appear as a shade of gray in the grayscale image. Not.

なお、各微粒子45の境界として検出され得る画素サイズを設定できるような構成とするのが好ましい。例えば、画素サイズを「走査方向Aに5画素」というように設定する。すると、走査方向Aに平行する画素の並びが「0、0、0、0、0、50、60、30、70、70、0、0、0、0、0」(数値は各画素の階調を示す;しきい値は30)というような場合には、5番目の「0」と6番目の「50」との間、10番目の「70」と11番目の「0」との間で、それぞれ「暗から明へ」と「明から暗へ」の境界が検出され、「0、0、0、0、0、50、60、0、0、0、0、0」(同上)というような場合には、5番目の「0」と6番目の「50」との間、7番目の「60」と8番目の「0」との間で、境界が検出されないようにできる。
これによれば、シリンジ11に付着する微細な凹凸や傷など、シリコンの微粒子45以外のノイズを効果的に排除することが可能となる。上記画素サイズは、シリコンの各微粒子45の粒子径などを考慮して設定するのがよい。
It is preferable that the pixel size that can be detected as the boundary between the fine particles 45 can be set. For example, the pixel size is set to “5 pixels in the scanning direction A”. Then, the arrangement of the pixels parallel to the scanning direction A is “0, 0, 0, 0, 0, 50, 60, 30, 70, 70, 0, 0, 0, 0, 0” (the numerical value is the level of each pixel. In this case, the threshold is 30), between the fifth “0” and the sixth “50”, between the tenth “70” and the eleventh “0”. The boundary between “dark to light” and “light to dark” is detected, and “0, 0, 0, 0, 0, 50, 60, 0, 0, 0, 0, 0” (same as above) In such a case, the boundary can be prevented from being detected between the fifth “0” and the sixth “50” and between the seventh “60” and the eighth “0”.
According to this, it is possible to effectively eliminate noise other than the silicon fine particles 45 such as fine irregularities and scratches attached to the syringe 11. The pixel size is preferably set in consideration of the particle diameter of each silicon fine particle 45 and the like.

そして、判定部38により、上記検出された変化点の個数がカウントされ、これに基づき、シリンジ11におけるシリコンの塗布状態の判定処理がおこなわれる。検査部35の記憶手段には、あらかじめ検査ごとにそれぞれの正常な判定基準(上限値、下限値、あるいは一定の数値範囲)が記憶されており、判定部38が、この判定基準と上記カウントした変化点の個数とを比較して、シリンジ11の良否などの判定をおこなうのである。 And the determination part 38 counts the number of the said detected change points, and the determination process of the application | coating state of the silicon | silicone in the syringe 11 is performed based on this. The storage unit of the inspection unit 35 stores in advance each normal determination criterion (upper limit value, lower limit value, or a certain numerical range) for each inspection, and the determination unit 38 counts this determination criterion and the above-described count. The quality of the syringe 11 is judged by comparing the number of change points.

このように検査装置10によれば、本来、濃淡画像中には現れ得ないシリコンの微粒子45を、中間調のグレーの陰影としてくっきりと浮かび上がらせ、背景との階調差により、微粒子45の境界を明暗の変化点として検出することができる。そのため、当該変化点の個数に基づき、シリンジ11にシリコンが塗布されているか否か、あるいは塗布量が適切か否か、といったシリコンの塗布状態を、簡単に精度よく検査することが可能となる。 As described above, according to the inspection apparatus 10, the silicon fine particles 45, which cannot originally appear in the grayscale image, clearly appear as a shade of halftone gray, and the boundary between the fine particles 45 due to the gradation difference from the background. Can be detected as a change point of light and dark. Therefore, based on the number of the change points, it is possible to easily and accurately inspect the application state of silicon such as whether or not silicon is applied to the syringe 11 or whether or not the application amount is appropriate.

上記検査装置10によれば、撮影部30による撮影から検査部35による判定まで、1本のシリンジ11あたり約50(ミリ秒)程度で検査を完了することができる。 According to the inspection apparatus 10, the inspection can be completed in about 50 (milliseconds) per syringe 11 from imaging by the imaging unit 30 to determination by the inspection unit 35.

上記した如くの検査装置10を用いて構成した検査システムの一例について、さらに図7を参照して説明する。図7は、実施形態に係る検査システム60を示す概略平面図である。 An example of an inspection system configured using the inspection apparatus 10 as described above will be further described with reference to FIG. FIG. 7 is a schematic plan view showing the inspection system 60 according to the embodiment.

検査システム60は、図7に示すように、スターホイール61、63と、回転テーブル62と、検査装置10と、を備えている。シリンジ11は、先端部15を下方に向けた状態で、コンベヤ65を一列に搬送されており、スターホイール61を介して、スターホイール61と同期して回転する回転テーブル62に搬入される。搬入されたシリンジ11は、回転テーブル62の回転に伴って移動している間に、シリコン塗布機67によって、内壁面16にシリコンが塗布される。 As illustrated in FIG. 7, the inspection system 60 includes star wheels 61 and 63, a rotary table 62, and the inspection device 10. The syringe 11 is conveyed in a row on the conveyor 65 with the distal end portion 15 facing downward, and is carried via the star wheel 61 to a rotary table 62 that rotates in synchronization with the star wheel 61. The loaded syringe 11 is coated with silicon on the inner wall surface 16 by the silicon coating machine 67 while moving with the rotation of the rotary table 62.

回転テーブル62の外周には、各シリンジ11の胴体部12を着脱自在に挟持する挟持片70が等間隔に形成されており、さらに4個の挟持片70が1組となってアーム71に連結されている。各アーム71は、上下反転手段72を備えており、スターホイール61から搬入されたシリンジ11が、適時反転されて先端部15を上方に向けた状態で、シリコン塗布機67のノズル68が、このシリンジ11の下方(フランジ13側)から臨んでシリコンを噴霧する。ノズル68からは均一にシリコンが噴霧され、部分的不良を減少させるようになされている。シリコンを噴霧されたシリンジ11は、さらに適時反転されて先端部15を下方に向けた状態で、回転テーブル62と同期して回転するスターホイール63を介して搬出される。 On the outer periphery of the rotary table 62, sandwiching pieces 70 for detachably sandwiching the body portion 12 of each syringe 11 are formed at equal intervals, and four sandwiching pieces 70 are connected to the arm 71 as a set. Has been. Each arm 71 is provided with an upside down means 72. The syringe 11 carried in from the star wheel 61 is turned over in a timely manner, and the nozzle 68 of the silicon coating machine 67 Silicone is sprayed from below the syringe 11 (flange 13 side). Silicon is uniformly sprayed from the nozzle 68 to reduce partial defects. The syringe 11 sprayed with silicon is further carried out through a star wheel 63 that rotates in synchronization with the rotary table 62 in a state where the syringe 11 is reversed in a timely manner and the distal end portion 15 is directed downward.

検査装置10の照明部20およびスリット板25は、スターホイール63の下方において、適宜の方向を向けて固設されており、撮影部30が、スターホイール63の外方に配設されている。スターホイール63の凹部64に、シリンジ11のフランジ部13が掛止されることで、シリンジ11が鉛直に懸吊された状態となされ、シリンジ11が、照明部20およびスリット板25と、撮影部30との間を通過する際に、撮影部30がこれを間欠的に撮影して、上記説明した如くシリンジ11におけるシリコンの塗布状態を検査できる。 The illumination unit 20 and the slit plate 25 of the inspection apparatus 10 are fixed below the star wheel 63 in an appropriate direction, and the photographing unit 30 is disposed outside the star wheel 63. The flange 11 of the syringe 11 is hooked on the concave portion 64 of the star wheel 63, so that the syringe 11 is suspended vertically, and the syringe 11 includes the illumination unit 20, the slit plate 25, and the imaging unit. When passing between 30 and 30, the imaging unit 30 can intermittently take an image, and inspect the application state of silicon in the syringe 11 as described above.

検査装置10を通過したシリンジ11は、直後に、検査装置10から出力される良否の判定信号と連携する振り分け手段を介して、良品と判定された場合にはコンベヤ74で次工程(薬剤の充填・閉塞)へと送出され、不良品と判定された場合にはコンベヤ75で排出される。
このような検査システム60によれば、1分間当たり200本以上のシリンジ11を処理することが可能である。
Immediately after the syringe 11 that has passed through the inspection apparatus 10 is determined to be a non-defective product via a distribution unit that cooperates with a quality determination signal output from the inspection apparatus 10, the next process (filling of medicine) is performed by the conveyor 74. If the product is determined to be defective, it is discharged by the conveyor 75.
According to such an inspection system 60, it is possible to process 200 or more syringes 11 per minute.

検査装置10を、シリコン塗布機67の近くに配設すると、飛散したシリコンの影響で、適正な検査がおこなえなくなるおそれがある。一方で、シリコンが塗布されてから長時間が経過すると、検査装置10によりシリコンの各微粒子45の境界を正確に検出し難くなる。上記検査システム60であれば、シリコンを塗布されたシリンジ11を、好適な位置とタイミングで検査することが可能となる。 If the inspection apparatus 10 is disposed near the silicon coating machine 67, there is a possibility that proper inspection cannot be performed due to the influence of scattered silicon. On the other hand, when a long time has elapsed since the silicon was applied, it becomes difficult for the inspection apparatus 10 to accurately detect the boundaries of the silicon microparticles 45. If it is the said inspection system 60, it will become possible to test | inspect the syringe 11 apply | coated with the silicon | silicone at a suitable position and timing.

既存の5ミリリットル用プラスチック製シリンジを用意し、内壁面にシリコン(ダウコーニング社製360 Medical Fluid)を適量(約6g)塗布したものを、サンプルAとして、上記検査装置10による検査実験をおこなった。
また、同一のプラスチック製シリンジを用意し、シリコンを塗布していないものを、サンプルBとして、上記検査装置10による検査実験をおこなった。
An existing 5 ml plastic syringe was prepared, and an inspection experiment with the above-described inspection apparatus 10 was conducted using Sample A with a suitable amount (about 6 g) of silicon (360 Medical Fluid manufactured by Dow Corning) applied to the inner wall surface. .
Moreover, the same plastic syringe was prepared, and the test | inspection experiment by the said test | inspection apparatus 10 was done by making the thing which has not apply | coated silicon into the sample B.

図8は、サンプルAの濃淡画像を示し、図9は、同濃淡画像に検出処理を施して得られた検査画像を示している。
また、図10は、サンプルBの濃淡画像を示し、図11は、同濃淡画像に検出処理を施して得られた検査画像を示している。
FIG. 8 shows a grayscale image of sample A, and FIG. 9 shows an inspection image obtained by performing detection processing on the grayscale image.
FIG. 10 shows a grayscale image of sample B, and FIG. 11 shows an inspection image obtained by performing detection processing on the grayscale image.

なお、本検査実験では、図12に示すように、検査領域50’を設定し、さらに検査領域50’を1〜8の8つの検査ブロックに分けて、明暗の変化点を検出した。   In this inspection experiment, as shown in FIG. 12, an inspection region 50 'was set, and the inspection region 50' was further divided into eight inspection blocks 1 to 8 to detect light and dark change points.

サンプルAにおける、各検査ブロックごとの明暗の変化点の検出個数は、以下のとおりであった。
(1)27(2)23(3)21(4)14(5)11(6)16(7)24(8)20;(1〜8の合計値)156
In sample A, the number of detected light and dark change points for each inspection block was as follows.
(1) 27 (2) 23 (3) 21 (4) 14 (5) 11 (6) 16 (7) 24 (8) 20; (total value of 1 to 8) 156

一方、サンプルBにおける、各検査ブロックごとの明暗の変化点の検出個数は、以下のとおりであった。
(1)5(2)5(3)3(4)1(5)3(6)1(7)2(8)6、(1〜8の合計値)26
On the other hand, the number of detected brightness change points for each inspection block in sample B was as follows.
(1) 5 (2) 5 (3) 3 (4) 1 (5) 3 (6) 1 (7) 2 (8) 6 (total value of 1 to 8) 26

この結果から明らかなように、サンプルAでは、サンプルBに比べて、著しく多数の変化点が検出された。サンプルBで、明暗の変化点が少数ながら検出されているのは、シリンジの微細な凹凸や傷などによるものであると考えられる。   As is clear from this result, in Sample A, a significantly larger number of change points were detected than in Sample B. In Sample B, the fact that a small number of light and dark change points are detected is considered to be due to fine irregularities or scratches on the syringe.

本検査実験では、シリンジの良否を判定する判定基準として、「変化点の検出数の合計値50」とあらかじめ設定してあり、合計値156であるサンプルAは良品、合計値26であるサンプルBは不良品として検査装置10が判定した。さらにこれらのサンプルA、B以外にも複数のサンプルを作製して検査実験を繰り返したが、シリコン塗布の有無に対応して、同様の結果が得られた。   In this inspection experiment, as a criterion for determining the quality of the syringe, “total value 50 of detected change points” is set in advance, sample A having a total value 156 is non-defective, sample B having a total value 26 Is judged as a defective product by the inspection apparatus 10. Further, in addition to these samples A and B, a plurality of samples were prepared and the test experiment was repeated. Similar results were obtained in accordance with the presence or absence of silicon coating.

このように適当な判定基準を設定しておくことで、シリンジにおけるシリコン塗布の有無(シリコンが塗布されているか否か、あるいは塗布量が足りているか否か)を簡易かつ正確に検査可能であることが理解される。判定基準は、例えば、シリコンが適切に塗布されているシリンジ数本をあらかじめ抜き取り調査し、それらの変化点の検出数を実際に計測することで得られる。   By setting appropriate judgment criteria in this way, it is possible to easily and accurately inspect whether or not silicon is applied to the syringe (whether silicon is applied or whether the amount of application is sufficient). It is understood. The determination criteria can be obtained by, for example, extracting and examining several syringes to which silicon is properly applied in advance and actually measuring the number of detected change points.

さらに、上記のようなシリコン塗布の有無といった定性的な検査だけでなく、判定基準を適宜変更することにより、如何なる量のシリコンが塗布されているかといった定量的な検査に適用することも可能である。
また、検査データをもとに、例えば、縦軸を変化点の検出数(合計値)、横軸をシリコンの塗布量とする検量線を最小二乗法などを用いて作成しておくことで、得られる変化点の検出数から、シリコンの塗布量を推測することも可能となる。
Furthermore, not only the qualitative inspection such as the presence / absence of silicon application as described above, but also a quantitative inspection such as what amount of silicon is applied can be applied by appropriately changing the determination criteria. .
In addition, based on the inspection data, for example, by creating a calibration curve using the least square method etc. with the vertical axis representing the number of detected change points (total value) and the horizontal axis representing the amount of silicon applied, It is also possible to estimate the amount of silicon applied from the number of detected change points.

以上の実施形態の記述は、本発明をこれに限定するものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変更等が可能であることは言うまでもない。
例えば、上記実施形態では、シリンジ11の軸方向に沿って、明部41と暗部42が繰り返される明暗縞40が形成されるようにしたが、これと直交する向きの明暗縞を形成するようにしてもよい。また、斜め状に明暗縞を形成することもできる。
The description of the above embodiment does not limit the present invention, and it goes without saying that various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
For example, in the above embodiment, the light and dark stripes 40 in which the bright part 41 and the dark part 42 are repeated are formed along the axial direction of the syringe 11. However, the light and dark stripes in the direction orthogonal to this are formed. May be. In addition, light and dark stripes can be formed diagonally.

また、上記実施形態では、シリンジ11にシリコンを塗布する場合を例示して説明したが、本発明はこれに限らず、透明の製品における透明微粒子体の塗布状態を検査する場合に、幅広く適用することができる。本発明で言う「透明」とは完全な透明だけでなく、肉眼では塗布状態を判定し難い、半透明なども含む概念である。対象となる製品は、シリンジ11のような筒状以外に、板状その他の形状であってよい。微粒子体にも制限は無いが、とりわけ霧状に散点して塗布されたものに対して、本発明は優れた効果を発揮する。 Moreover, in the said embodiment, although the case where a silicon | silicone was apply | coated to the syringe 11 was illustrated and demonstrated, this invention is not limited to this, When applying the application | coating state of the transparent fine particle body in a transparent product is applied widely. be able to. The term “transparent” as used in the present invention is not only completely transparent but also a concept including translucency, which makes it difficult to determine the application state with the naked eye. The target product may have a plate shape or other shapes in addition to the cylindrical shape such as the syringe 11. Although there is no restriction | limiting also in a microparticles | fine-particles body, this invention exhibits the outstanding effect especially with respect to what was apply | coated with the mist form.

本発明は、シリンジのような製品におけるシリコンなど透明微粒子体の塗布状態の検査に幅広く利用することができる。   The present invention can be widely used for inspection of the application state of transparent fine particles such as silicon in products such as syringes.

10 検査装置
11 シリンジ
12 胴体部
16 内壁面
20 照明部
21、21a 透過光
25 スリット板
26 透光部
27 遮光部
30 撮影部
36 画像処理部
37 検出部
38 判定部
40 明暗縞
41 明部
42 暗部
45 微粒子
50 検査領域
A 走査方向
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Inspection apparatus 11 Syringe 12 Body part 16 Inner wall surface 20 Illumination part 21, 21a Transmitted light 25 Slit plate 26 Translucent part 27 Light-shielding part 30 Imaging part 36 Image processing part 37 Detection part 38 Determination part 40 Bright / dark stripe 41 Bright part 42 Dark part 45 Particle 50 Inspection area A Scanning direction

Claims (6)

製品における透明微粒子体の塗布状態を検査する検査装置であって、
透過光を照明する照明部と、
透光部と遮光部とが交互に穿設されてなり、製品と該照明部との間に配置され、該製品に対して、明部と暗部とが交互に繰り返される明暗縞を形成するスリット板と、
該製品を透過した該透過光を受光して、該製品を撮影する撮影部と、
該撮影部により撮影された撮影画像に画像処理を施して、多階調の濃淡画像を形成する画像処理部と、
該濃淡画像中の検査領域内で、中間調にて現れる透明微粒子体の各微粒子と該明部または該暗部との階調差により、該微粒子の境界を明暗の変化点として検出する検出部と、
該変化点の個数に基づき、透明微粒子体の塗布状態を判定する判定部と、を備えた検査装置。
An inspection device for inspecting the application state of transparent fine particles in a product,
An illumination unit for illuminating the transmitted light;
A slit in which light-transmitting portions and light-shielding portions are alternately drilled, and is arranged between a product and the illumination portion, and forms bright and dark stripes in which bright and dark portions are alternately repeated on the product. The board,
An imaging unit that receives the transmitted light transmitted through the product and images the product;
An image processing unit that performs image processing on a captured image captured by the imaging unit to form a multi-tone gray image;
A detection unit that detects a boundary between the fine particles as a change point of light and dark according to a gradation difference between each fine particle of the transparent fine particle appearing in a halftone and the bright part or the dark part in the inspection region in the grayscale image; ,
An inspection apparatus comprising: a determination unit that determines a coating state of the transparent fine particle body based on the number of the change points.
該検出部が、該明暗縞に平行する走査方向に沿って、該変化点を検出するようになされた請求項1に記載の検査装置。 The inspection apparatus according to claim 1, wherein the detection unit is configured to detect the change point along a scanning direction parallel to the light and dark stripes. 該検出部が、該微粒子の該走査方向に沿う両側縁で該変化点を検出することにより、各微粒子につき2個ずつの該変化点を検出するようになされた請求項2に記載の検査装置。 The inspection apparatus according to claim 2, wherein the detection unit detects the change points at both side edges along the scanning direction of the fine particles, thereby detecting two change points for each fine particle. . 該検査領域が、複数の検査ブロックからなり、
該検出部が、各検査ブロックごとに該変化点を検出するとともに、
該判定部が、検出された該変化点の個数を合算した合計値と、所定の判定基準とを比較することにより、該透明微粒子体の塗布状態を判定するようになされた請求項3に記載の検査装置。
The inspection area is composed of a plurality of inspection blocks,
The detection unit detects the change point for each inspection block,
4. The determination unit according to claim 3, wherein the determination unit determines the application state of the transparent fine particle body by comparing a total value obtained by adding up the number of detected change points with a predetermined determination criterion. Inspection equipment.
該製品がシリンジであって、
該シリンジの内壁面におけるシリコンの塗布状態を検査するものである請求項4に記載の検査装置。
The product is a syringe,
5. The inspection apparatus according to claim 4, wherein the inspection state of the silicon coating on the inner wall surface of the syringe is inspected.
製品における透明微粒子体の塗布状態を検査する検査方法であって、
透過光を照明して、製品に対して明部と暗部とが交互に繰り返される明暗縞を形成する工程と、
該製品を透過した該透過光を受光して、該製品を撮影する工程と、
撮影された撮影画像に画像処理を施して、多階調の濃淡画像を形成する工程と、
該濃淡画像中の検査領域内で、中間調にて現れる透明微粒子体の各微粒子と該明部または該暗部との階調差により、該微粒子の境界を明暗の変化点として検出する工程と、
該変化点の個数に基づき、透明微粒子体の塗布状態を判定する工程と、を備えた検査方法。
An inspection method for inspecting the application state of transparent fine particles in a product,
Illuminating transmitted light to form bright and dark stripes in which bright and dark portions are alternately repeated on the product;
Receiving the transmitted light transmitted through the product and photographing the product;
A process of performing image processing on the captured image to form a multi-tone image,
Detecting the boundary of the fine particle as a change point of light and dark according to a gradation difference between each fine particle of the transparent fine particle body appearing in a halftone and the bright part or the dark part in the inspection region in the grayscale image;
And a step of determining a coating state of the transparent fine particle body based on the number of the change points.
JP2009052638A 2009-03-05 2009-03-05 Inspection apparatus and inspection method Active JP5187851B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009052638A JP5187851B2 (en) 2009-03-05 2009-03-05 Inspection apparatus and inspection method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009052638A JP5187851B2 (en) 2009-03-05 2009-03-05 Inspection apparatus and inspection method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010204051A true JP2010204051A (en) 2010-09-16
JP5187851B2 JP5187851B2 (en) 2013-04-24

Family

ID=42965664

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009052638A Active JP5187851B2 (en) 2009-03-05 2009-03-05 Inspection apparatus and inspection method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5187851B2 (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013099086A1 (en) * 2011-12-27 2013-07-04 東洋製罐グループホールディングス株式会社 Multilayer preform inspecting method and multilayer preform inspecting apparatus
JP2013253903A (en) * 2012-06-08 2013-12-19 Mutual Corp Inspection apparatus and inspection method
US20180040519A1 (en) * 2016-08-03 2018-02-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Test apparatus and manufacturing apparatus of light emitting device package
JP2019505793A (en) * 2016-01-15 2019-02-28 ダブリュ.エル.ゴア アンド アソシエイツ,インコーポレイティドW.L. Gore & Associates, Incorporated System and method for detecting seal defects in a syringe
WO2019163369A1 (en) * 2018-02-20 2019-08-29 富士フイルム株式会社 Determination apparatus, cell detachment/collection apparatus, and determination method

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0854342A (en) * 1994-08-10 1996-02-27 Sekisui Chem Co Ltd Device for inspecting amount of medicine applied to internal surface of blood collecting tube
JPH10506461A (en) * 1994-09-20 1998-06-23 ネオパス,インク. Method and apparatus for detecting cover slips on microscope slides
JP2001296251A (en) * 2000-04-13 2001-10-26 Dai Ichi Seiyaku Co Ltd Apparatus and method for inspecting foreign matter on liquid surface
JP2001327600A (en) * 2000-05-19 2001-11-27 Daikyo Seiko Ltd Piston detachment preventing stopper for syringe commonly used as medicine vessel
JP2005283204A (en) * 2004-03-29 2005-10-13 Terumo Corp Sliding material application inspection method in syringe external cylinder, and sliding material application inspection device in syringe external cylinder
JP2006343138A (en) * 2005-06-07 2006-12-21 Keizo Taishaku Inspection device
JP2007113923A (en) * 2005-10-18 2007-05-10 Toyo Seikan Kaisha Ltd Inspection device of neck ring, and inspection method of neck ring

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0854342A (en) * 1994-08-10 1996-02-27 Sekisui Chem Co Ltd Device for inspecting amount of medicine applied to internal surface of blood collecting tube
JPH10506461A (en) * 1994-09-20 1998-06-23 ネオパス,インク. Method and apparatus for detecting cover slips on microscope slides
JP2001296251A (en) * 2000-04-13 2001-10-26 Dai Ichi Seiyaku Co Ltd Apparatus and method for inspecting foreign matter on liquid surface
JP2001327600A (en) * 2000-05-19 2001-11-27 Daikyo Seiko Ltd Piston detachment preventing stopper for syringe commonly used as medicine vessel
JP2005283204A (en) * 2004-03-29 2005-10-13 Terumo Corp Sliding material application inspection method in syringe external cylinder, and sliding material application inspection device in syringe external cylinder
JP2006343138A (en) * 2005-06-07 2006-12-21 Keizo Taishaku Inspection device
JP2007113923A (en) * 2005-10-18 2007-05-10 Toyo Seikan Kaisha Ltd Inspection device of neck ring, and inspection method of neck ring

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013099086A1 (en) * 2011-12-27 2013-07-04 東洋製罐グループホールディングス株式会社 Multilayer preform inspecting method and multilayer preform inspecting apparatus
JP2013134163A (en) * 2011-12-27 2013-07-08 Toyo Seikan Group Holdings Ltd Method and apparatus for inspecting multilayer preform
JP2013253903A (en) * 2012-06-08 2013-12-19 Mutual Corp Inspection apparatus and inspection method
JP2019505793A (en) * 2016-01-15 2019-02-28 ダブリュ.エル.ゴア アンド アソシエイツ,インコーポレイティドW.L. Gore & Associates, Incorporated System and method for detecting seal defects in a syringe
US10878553B2 (en) 2016-01-15 2020-12-29 W. L. Gore & Associates, Inc. Systems and methods for detecting syringe seal defects
US20180040519A1 (en) * 2016-08-03 2018-02-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Test apparatus and manufacturing apparatus of light emitting device package
US10217680B2 (en) * 2016-08-03 2019-02-26 Samsung Electronics Co., Ltd. Test apparatus and manufacturing apparatus of light emitting device package
WO2019163369A1 (en) * 2018-02-20 2019-08-29 富士フイルム株式会社 Determination apparatus, cell detachment/collection apparatus, and determination method

Also Published As

Publication number Publication date
JP5187851B2 (en) 2013-04-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5074998B2 (en) Appearance inspection method and apparatus for transparent film
JP5187851B2 (en) Inspection apparatus and inspection method
US20180348146A1 (en) Image Inspection Apparatus
JP2004340770A (en) Imaging inspection system
US20180350060A1 (en) Image Inspection Apparatus
JP2016085212A (en) Defect detection system and method
CN106068450A (en) For the method and apparatus detecting particularly refractive defects
JP4566769B2 (en) Defect information detection device
JP5412221B2 (en) Inspection system
WO2018137233A1 (en) Optical inspection system
US10922810B2 (en) Automated visual inspection for visible particulate matter in empty flexible containers
EP1855468A3 (en) Image detection device, image processing apparatus, image detection method, method of reducing burn-in of display device, and image detection program
JP2008275618A5 (en)
JP2011095107A (en) Foreign matter inspection device and foreign matter inspection method
JP3241666B2 (en) Glass container defect inspection equipment
JP2006343138A (en) Inspection device
JP2023137057A (en) Method of generating defect prediction model, bottle appearance inspection method and bottle appearance inspection device
JP2016217989A (en) Defect inspection device and defect inspection method
JPH04216445A (en) Device for inspecting bottle
JP2016217764A (en) Container inspection method and apparatus
JP2839934B2 (en) Inspection method for defects on the inner wall of the cylinder
KR20180136421A (en) System and method for defect detection
JPWO2020170389A1 (en) Foreign matter inspection device and foreign matter inspection method
TWI753384B (en) Glass bottle inspection method and glass bottle manufacturing method
JP2004361085A (en) Visual examination device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120210

TRDD Decision of grant or rejection written
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121219

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121220

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130117

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160201

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5187851

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250