JP2006343138A - Inspection device - Google Patents

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圭三 帝釋
Atsushi Shiba
敦志 柴
Koji Shioda
江次 潮田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection device capable of inspecting difference in surface state of an inspected object like an inspection of silicon coating to syringe. <P>SOLUTION: The inspection device has a lighting means 12 for lighting it so as to focus an image 10a of a predetermined shape on the inspected object 10, and an imaging means 14 for imaging the inspected object 10 on which the image 10a of the predetermined shape is focused. Two-dimensional FFT processing is applied to the picked-up image picked up by the imaging means 14, and the surface state of the inspected object 10 is detected based on the extent of spectrum dispersion of the two-dimensionally FFT-processed data. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、例えばシリンジのような被検査物を検査する検査装置に関する。   The present invention relates to an inspection apparatus for inspecting an object to be inspected such as a syringe.

従来、シリンジのような被検査物を検査する検査装置として、被検査物をカメラにより撮像し、その撮像した画像を2値化し、2値化した画像内に検査領域を設定し、その検査領域内の画像に基づいて被検査物であるシリンジの良否を判定するものが知られている。   Conventionally, as an inspection apparatus for inspecting an inspection object such as a syringe, the inspection object is imaged by a camera, the captured image is binarized, an inspection area is set in the binarized image, and the inspection area What determines the quality of the syringe which is a to-be-inspected object based on the image in the inside is known.

シリンジの傷やゴミの有無を検査する場合には、検査領域内における黒又は白の画素数をカウントして、その画素数が所定範囲内になっていない場合には、そのシリンジが不良であると判定する。   When inspecting a syringe for scratches or dust, the number of black or white pixels in the inspection area is counted, and if the number of pixels is not within a predetermined range, the syringe is defective. Is determined.

その場合、複数種類のシリンジが混在しても、判定基準を選択することにより、シリンジの種類毎に適切な検査を行う技術が知られている(特許文献1参照)。   In that case, even if a plurality of types of syringes are mixed, a technique is known in which an appropriate inspection is performed for each type of syringe by selecting a criterion (see Patent Document 1).

また、磨りガラスの濃さにばらつきがあるようなシリンジに対しても、2値化レベルを調整することにより、その良否を正しく判定することができる技術が知られている(特許文献2参照)。
特開平11−183401号公報 特開2004−344300号公報
Moreover, the technique which can determine the quality correctly also is known by adjusting a binarization level also with respect to a syringe with the dispersion | variation in the density of polished glass (refer patent document 2). .
Japanese Patent Laid-Open No. 11-183401 JP 2004-344300 A

例えば、注射器用のシリンジでは、内面に例えばシリコンを塗布し、投与時に薬液をスムーズに押し出せるようにしている。シリコンの塗布もれや塗布不足があると、薬液をスムーズに押し出すことができない。このため、シリンジにシリコンが塗布されているかを検査する必要がある。   For example, in a syringe for a syringe, for example, silicon is applied to the inner surface so that a drug solution can be pushed out smoothly during administration. If silicon is leaked or insufficiently applied, the chemical cannot be pushed out smoothly. For this reason, it is necessary to inspect whether silicon is applied to the syringe.

しかしながら、従来の検査装置では、シリンジの傷やゴミの有無を検出することはできるものの、シリンジにシリコンが塗布されているか否かのような被検査物の表面状態の違いを検査することはできなかった。   However, although the conventional inspection apparatus can detect the presence or absence of scratches or dust on the syringe, it can inspect the difference in the surface condition of the object to be inspected, such as whether or not silicon is applied to the syringe. There wasn't.

本発明の目的は、シリンジへのシリコン塗布の検査のような被検査物の表面状態の違いを検査することができる検査装置を提供することにある。   The objective of this invention is providing the inspection apparatus which can test | inspect the difference in the surface state of to-be-inspected object like the test | inspection of the silicon application | coating to a syringe.

本願発明者等は、シリンジへのシリコン塗布検査のような被検査物の表面状態の違いを検査するために、被検査物に対してどのように照明すればよいか、また、照明された被検査物の撮像画像をどのように処理すれば判別できるかについて、様々な方法を試行した。   Inventors of the present application should examine how to illuminate the object to be inspected in order to inspect the difference in surface condition of the object to be inspected, such as a silicon coating inspection on a syringe. Various methods were tried as to how the picked-up image of the inspection object can be processed.

本願発明者等が鋭意研究した結果、被検査物に外縁がはっきりした所定形状の像が結像するように照明すると、その所定形状の像の外縁が被検査物の表面状態に応じて変化することがわかった。シリンジにシリコンが塗布されていると所定形状の像の外縁がぼけるのに対し、シリンジにシリコンが塗布されていないと所定形状の像の外縁がはっきりする。   As a result of diligent research by the inventors of the present application, when the object to be inspected is illuminated so that an image of a predetermined shape with a clear outer edge is formed, the outer edge of the image of the predetermined shape changes according to the surface state of the object to be inspected. I understood it. When the silicon is applied to the syringe, the outer edge of the image having the predetermined shape is blurred, whereas when the silicon is not applied to the syringe, the outer edge of the image having the predetermined shape is clear.

このような像の外縁の相違は目視により判別できるものの、外縁を含む検査領域内における黒又は白の画素数をカウントする従来の検査方法では判別することができない。   Such a difference in the outer edge of the image can be discriminated visually, but cannot be discriminated by a conventional inspection method that counts the number of black or white pixels in the inspection area including the outer edge.

そこで、更に本願発明者等が鋭意研究した結果、撮像画像に2次元FFT処理を行えば、2次元FFT処理されたデータのスペクトル分散の程度により、シリンジへのシリコン塗布の有無による被検査物の表面状態の相違を検出できることがわかった。   Therefore, as a result of further diligent research by the inventors of the present application, if a two-dimensional FFT process is performed on the captured image, the object to be inspected depending on whether or not silicon is applied to the syringe depending on the degree of spectral dispersion of the data subjected to the two-dimensional FFT process. It was found that the difference in surface condition can be detected.

したがって、本発明による検査装置は、被検査物に所定形状の像が結像するように照明する照明手段と、所定形状の像が結像された被検査物を撮像する撮像手段と、撮像手段により撮像された撮像画像に2次元FFT処理を行う手段と、2次元FFT処理されたデータのスペクトル分散の程度に基づいて被検査物の表面状態を検出する検出手段とを有することを特徴とする。   Accordingly, the inspection apparatus according to the present invention includes an illuminating unit that illuminates so that an image of a predetermined shape is formed on the inspection object, an imaging unit that images the inspection object formed with the image of the predetermined shape, and an imaging unit. Characterized in that it comprises means for performing a two-dimensional FFT process on the captured image captured by the method and a detecting means for detecting the surface state of the object to be inspected based on the degree of spectral dispersion of the data subjected to the two-dimensional FFT process. .

上述した検査装置において、被検査物はシリンジであり、検出手段により検出された被検査物の表面状態に基づいて、シリンジの内面にシリコンが塗布されているか否かを検出するようにしてもよい。   In the inspection apparatus described above, the object to be inspected is a syringe, and based on the surface state of the object to be inspected detected by the detecting means, it may be detected whether or not silicon is applied to the inner surface of the syringe. .

以上の通り、本発明によれば、被検査物に所定形状の像が結像するように照明し、所定形状の像が結像された被検査物を撮像し、撮像された撮像画像に2次元FFT処理を行い、2次元FFT処理されたデータのスペクトル分散の程度に基づいて被検査物の表面状態を検出するようにしたので、シリンジへのシリコン塗布の検査のような被検査物の表面状態の違いを検査することができる。   As described above, according to the present invention, illumination is performed so that an image of a predetermined shape is formed on the inspection object, the inspection object on which the image of the predetermined shape is formed is imaged, and 2 is added to the captured image. Since the surface state of the inspection object is detected based on the degree of spectral dispersion of the data subjected to the two-dimensional FFT processing, the surface of the inspection object such as inspection of silicon coating on the syringe Can check for differences in state.

本発明の一実施形態による検査装置について図面を用いて説明する。図1は本実施形態による検査装置を示す斜視図である。図2は本実施形態による検査装置を示すブロック図である。   An inspection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing the inspection apparatus according to the present embodiment. FIG. 2 is a block diagram showing the inspection apparatus according to the present embodiment.

本実施形態の検査装置は、図1に示すように、被検査物であるシリンジ10を中心として、一方の側に照明装置12が設けられ、他方の側に撮像装置14が設けられている。照明装置12は、水平方向に細長い矩形状の照射光12aをシリンジ10に照射する。シリンジ10は、図1に示すように、長手方向が垂直となるように載置されている。照明装置12の照射光12aからの細長い矩形状の照射光12aにより、シリンジ10の長手方向に直交する細長い矩形状の像10aがシリンジ10上に結像する。撮像装置14は、照明装置12により照明されて矩形状の像10aが結像したシリンジ10の全体を撮像する。   As shown in FIG. 1, the inspection apparatus according to the present embodiment is provided with an illumination device 12 on one side and an imaging device 14 on the other side with a syringe 10 as an inspection object as a center. The illuminating device 12 irradiates the syringe 10 with rectangular irradiation light 12a elongated in the horizontal direction. As shown in FIG. 1, the syringe 10 is placed so that the longitudinal direction is vertical. An elongated rectangular image 10 a orthogonal to the longitudinal direction of the syringe 10 is formed on the syringe 10 by the elongated rectangular illumination light 12 a from the illumination light 12 a of the illumination device 12. The imaging device 14 images the entire syringe 10 that is illuminated by the illuminating device 12 and forms a rectangular image 10a.

撮像装置(カメラ)14により撮像された撮像画像は、図2に示すように、前処理部16により前処理がなされ、前処理された撮像画像は、検査処理部22により検査処理がなされ、所定の判定結果を得る。   As shown in FIG. 2, the captured image captured by the imaging device (camera) 14 is preprocessed by the preprocessing unit 16, and the preprocessed captured image is subjected to inspection processing by the inspection processing unit 22, and is predetermined. The determination result is obtained.

前処理部16は、撮像装置(カメラ)14により撮像されたグレースケールの多値撮像画像を2値化する2値化処理部18と、撮像画像から検査のために必要な検査領域を取得するマスク処理部20とから構成されている。   The pre-processing unit 16 obtains an inspection area necessary for inspection from the binarization processing unit 18 that binarizes the grayscale multi-value captured image captured by the imaging device (camera) 14. And a mask processing unit 20.

検査処理部22は、2値化された撮像画像に2次元FFT(Fast Fourier Transform)処理を行って周波数成分を抽出する2次元FFT処理部24と、2次元FFT処理により周波数成分が抽出されたデータに対して2値化する2値化処理部26と、2値化された画像に基づいてシリンジ10の表面状態を判定して判定結果を出力する判定部28とから構成されている。   The inspection processing unit 22 performs a two-dimensional FFT (Fast Fourier Transform) process on the binarized captured image and extracts a frequency component, and the frequency component is extracted by the two-dimensional FFT process. The binarization processing unit 26 binarizes the data, and the determination unit 28 that determines the surface state of the syringe 10 based on the binarized image and outputs the determination result.

本実施形態の検査装置の動作について図3を参照して説明する。図3は本実施形態の検査装置の各段階における撮像画像を示す図である。   The operation of the inspection apparatus of this embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a diagram showing captured images at each stage of the inspection apparatus of the present embodiment.

撮像装置(カメラ)14により被検査物であるシリンジ10を撮像すると、図3(a)に示すように、中央にシリンジ10が映し出された撮像画像を取得する。この撮像画像には、中央にシリンジ10が撮像され、シリンジ10の像の中央には水平方向で細長い矩形状の照明光の像10aが結像している。   When the imaging device (camera) 14 captures an image of the syringe 10 as an object to be inspected, a captured image in which the syringe 10 is projected at the center is acquired as shown in FIG. In this captured image, the syringe 10 is imaged at the center, and an image 10 a of illumination light that is elongated in the horizontal direction is formed at the center of the image of the syringe 10.

この撮像画像を2値化処理部18において2値化した後、マスク処理部20においてマスク処理を行う。図3(b)に示すように、2値化された撮像画像中のシリンジ10の細長い矩形状の像10aを含むようなマスク20aを予め用意しておき、そのマスク20a内の画像のみを切り出す。マスク20aにより切り出された撮像画像を図3(c)に示す。   After the captured image is binarized by the binarization processing unit 18, mask processing is performed by the mask processing unit 20. As shown in FIG. 3B, a mask 20a that includes an elongated rectangular image 10a of the syringe 10 in the binarized captured image is prepared in advance, and only the image in the mask 20a is cut out. . A captured image cut out by the mask 20a is shown in FIG.

なお、図3(a)、(b)において像10aにハッチングを施したが、実際の撮像画像では、図3(c)に示すように、ハッチングされた像10aの部分のみが明るく他は暗くなっている。   3A and 3B, the image 10a is hatched. However, in the actual captured image, as shown in FIG. 3C, only the hatched image 10a is bright and the others are dark. It has become.

次に、マスク処理された撮像画像(図3(c))に対して、2次元FFT処理部24により2次元FFT処理を実行すると、この撮像画像の周波数成分が抽出されたデータが得られる。周波数成分が抽出されたデータを所定値により2値化すると、図3(d)に示すように、2値化された撮像FFTデータが得られる。この撮像FFTデータは、撮像画像のスペクトル分散の程度を示すものである。   Next, when the two-dimensional FFT processing unit 24 executes the two-dimensional FFT processing on the masked captured image (FIG. 3C), data in which the frequency component of the captured image is extracted is obtained. When the data from which the frequency component is extracted is binarized by a predetermined value, binarized imaging FFT data is obtained as shown in FIG. The imaged FFT data indicates the degree of spectral dispersion of the captured image.

図3(d)に示す撮像FFTデータは、縦軸が水平方向の周波数成分、横軸が垂直方向の周波数成分を表しており、黒点が周波数成分の有無を表している。黒点の位置により周波数成分が高い低いを表している。黒点の位置が中心に近ければ近いほど周波数成分が低く、中心から離れれば離れるほど周波数成分が高くなる、
図3(d)に示す撮像FFTデータは、その中央付近でスペクトル分散の程度が大きく、周囲になるほどスペクトル分散の程度が小さくなる。撮像FFTデータの2値化された黒点は、中央に集中し、その周囲に一定程度で広がっている。
In the imaging FFT data shown in FIG. 3D, the vertical axis represents the frequency component in the horizontal direction, the horizontal axis represents the frequency component in the vertical direction, and the black dot represents the presence or absence of the frequency component. The frequency component indicates high or low depending on the position of the black dot. The closer the black spot is to the center, the lower the frequency component, the farther away from the center, the higher the frequency component,
In the imaging FFT data shown in FIG. 3D, the degree of spectral dispersion is large near the center thereof, and the degree of spectral dispersion is smaller as it goes around. The binarized black dots of the imaging FFT data are concentrated at the center and spread around the periphery at a certain level.

本実施形態では、2値化された撮像FFTデータにおける所定領域内の黒点の数にもとづいてシリンジ10の表面状態を判定する。この判定について、図4及び図5に示す実験例を用いて説明する。   In this embodiment, the surface state of the syringe 10 is determined based on the number of black spots in a predetermined area in the binarized imaging FFT data. This determination will be described using experimental examples shown in FIGS.

なお、図4、図5では、図3とは異なり、細長い矩形形状の像の長手方向が図の上下方向となっている。図4、図5に示す撮像FFTデータは、縦軸が垂直方向の周波数成分、横軸が水平方向の周波数成分を表しており、黒点が周波数成分の有無を表している。   4 and 5, unlike FIG. 3, the longitudinal direction of the elongated rectangular image is the vertical direction of the figure. In the imaging FFT data shown in FIGS. 4 and 5, the vertical axis represents the frequency component in the vertical direction, the horizontal axis represents the frequency component in the horizontal direction, and the black dot represents the presence or absence of the frequency component.

図4(a1)は、シリンジ10にシリコンが塗布された良品の撮像画像である。図4(a2)は、図4(a1)の撮像画像に対して2次元FFT処理を行った後、所定値により2値化された撮像FFTデータである。   FIG. 4A1 is a captured image of a non-defective product in which silicon is applied to the syringe 10. FIG. 4A2 shows imaging FFT data binarized by a predetermined value after performing a two-dimensional FFT process on the captured image of FIG. 4A1.

図4(b1)は、シリンジ10にシリコンが塗布された他の良品の撮像画像である。図4(b2)は、図4(b1)の撮像画像に対して2次元FFT処理を行った後、所定値により2値化された撮像FFTデータである。   4B1 is a captured image of another non-defective product in which silicon is applied to the syringe 10. FIG. FIG. 4B2 shows imaging FFT data binarized by a predetermined value after performing a two-dimensional FFT process on the captured image of FIG. 4B1.

図5(a1)は、シリンジ10にシリコンが塗布されていない不良品の撮像画像である。図5(a2)は、図5(a1)の撮像画像に対して2次元FFT処理を行った後、所定値により2値化された撮像FFTデータである。   FIG. 5A1 is a captured image of a defective product in which silicon is not applied to the syringe 10. FIG. 5A2 shows imaging FFT data binarized by a predetermined value after performing a two-dimensional FFT process on the captured image of FIG. 5A1.

図5(b1)は、シリンジ10にシリコンが塗布されていない他の良品の撮像画像である。図5(b2)は、図5(b1)の撮像画像に対して2次元FFT処理を行った後、所定値により2値化された撮像FFTデータである。   FIG. 5B1 is a captured image of another non-defective product in which the syringe 10 is not coated with silicon. FIG. 5B2 shows imaging FFT data binarized by a predetermined value after performing a two-dimensional FFT process on the captured image of FIG. 5B1.

図4(a1)、(b1)と、図5(a1)、(b1)を比較すればわかるように、シリンジ10にシリコンが塗布されている良品の場合(図4(a1)、(b1))には、撮像画像中の所定形状の像10aの外縁がぼけているのに対し、シリンジ10にシリコンが塗布されていない不良品の場合(図5(a1)、(b1))には、撮像画像中の所定形状の像10aの外縁がはっきりしている。   As can be seen by comparing FIGS. 4 (a1) and (b1) with FIGS. 5 (a1) and (b1), the non-defective product in which silicon is applied to the syringe 10 (FIGS. 4 (a1) and (b1) In the case of a defective product in which the outer edge of the image 10a having a predetermined shape in the captured image is blurred while silicon is not applied to the syringe 10 (FIGS. 5A1 and 5B1), The outer edge of the image 10a having a predetermined shape in the captured image is clear.

そのため、良品である図4(a1)、(b1)の撮像画像に対する撮像FFTデータ(図4(a2)、(b2))は、多数の黒点が中央に集中し、その周囲にも大きく広がっているパターンとなるのに対し、不良品である図5(a1)、(b1)の撮像画像に対する撮像FFTデータ(図5(a2)、(b2))は、黒点が中央に集中しているもののその数は少なく、その周囲にも大きく広がっていないパターンとなる。   Therefore, the imaging FFT data (FIGS. 4 (a2) and (b2)) for the captured images of FIGS. 4 (a1) and 4 (b1), which are non-defective products, have a large number of black spots concentrated at the center and greatly spread around it. The captured FFT data (FIGS. 5 (a2) and (b2)) for the captured images of FIGS. 5 (a1) and 5 (b1), which are defective products, have black spots concentrated at the center. The number is small, and the pattern does not spread greatly around it.

したがって、撮像FFTデータの中心から所定距離以内の領域の黒点をカウントすると、シリンジ10にシリコンが塗布されているものの方が、シリンジ10にシリコンが塗布されていないものよりも、黒点のカウント値が大きくなる。このカウント値を所定のしきい値と比較して、所定のしきい値よりも大きい場合には、判定部28により、シリコンが塗布されたシリンジ10の良品と判定し、所定のしきい値よりも小さい場合には、判定部28により、シリコンが塗布されていないシリンジ10の不良品と判定する。   Accordingly, when black spots in a region within a predetermined distance from the center of the imaging FFT data are counted, the count value of the black spots is higher when the syringe 10 is coated with silicon than when the syringe 10 is not coated with silicon. growing. When this count value is compared with a predetermined threshold value and is larger than the predetermined threshold value, the determination unit 28 determines that the syringe 10 is coated with silicon and determines that the count value is higher than the predetermined threshold value. Is smaller, the determination unit 28 determines that the syringe 10 is not defective with no silicon applied.

このように本実施形態によれば、シリンジに矩形形状の像が結像するように照明し、矩形形状の像が結像されたシリンジを撮像し、撮像画像に2次元FFT処理を行い、2次元FFT処理されたデータのスペクトル分散の程度に基づいてシリンジの表面状態を検出するようにしたので、シリンジへのシリコン塗布の有無を確実に検査することができる。   As described above, according to the present embodiment, illumination is performed so that a rectangular image is formed on the syringe, the syringe on which the rectangular image is formed is imaged, and the captured image is subjected to two-dimensional FFT processing. Since the surface state of the syringe is detected based on the degree of spectral dispersion of the data subjected to the dimensional FFT processing, the presence or absence of silicon application to the syringe can be reliably inspected.

次に、本実施形態の検査装置を、シリンジの生産ラインに設ける場合の構成について、図6及び図7を用いて説明する。図6はシリンジの生産ラインの概要を示す図であり、図7は生産ラインに設置された検査装置を示す図である。   Next, the structure in the case of providing the inspection apparatus of this embodiment in the production line of a syringe is demonstrated using FIG.6 and FIG.7. FIG. 6 is a view showing an outline of a syringe production line, and FIG. 7 is a view showing an inspection apparatus installed in the production line.

生産ラインにおいては、シリンジ10は、図6に示すように、その先端部を上方に向けた状態でホルダ(図示せず)に収容されており、ホルダに収容された状態でコンベヤ30からスターホイール32を介して回転テーブル34に搬入される。搬入されたシリンジ10は、回転テーブル34の回転に同期して移動している間にシリコン塗布装置(図示せず)によりシリンジ10の内面にシリコンが塗布される。回転テーブル34の搬出側には、シリコン塗布の有無を検査するために本実施形態の検査装置が設置されている。   In the production line, as shown in FIG. 6, the syringe 10 is accommodated in a holder (not shown) with its tip portion facing upward, and from the conveyor 30 in a state accommodated in the holder. It is carried into the rotary table 34 via 32. While the carried syringe 10 is moving in synchronization with the rotation of the rotary table 34, silicon is applied to the inner surface of the syringe 10 by a silicon application device (not shown). On the carry-out side of the turntable 34, an inspection apparatus according to this embodiment is installed in order to inspect the presence / absence of silicon coating.

本実施形態の検査装置として、照明装置12と撮像装置14が、回転テーブル34により移動するシリンジ10を挟んで設けられている。回転テーブル34によるシリンジ10の移動に同期して、照明装置12はシリンジ10を照明し、撮像装置14はシリンジ10を撮像する。   As an inspection apparatus according to this embodiment, an illumination device 12 and an imaging device 14 are provided with a syringe 10 that is moved by a rotary table 34 interposed therebetween. In synchronization with the movement of the syringe 10 by the rotary table 34, the illumination device 12 illuminates the syringe 10, and the imaging device 14 images the syringe 10.

回転テーブル34を移動するシリンジ10は、スターホイール36を介してコンベヤ38に搬出される。   The syringe 10 moving on the rotary table 34 is carried out to the conveyor 38 via the star wheel 36.

シリンジの生産ラインでは、シリンジ10の内面にシリコンを塗布するため、雰囲気中にシリコンの微粒子が飛散し、そのままでは、飛散したシリコン微粒子が、撮像装置(カメラ)14のレンズに付着してしまい、検査に支障をきたすことがある。このことを防止するために、本実施形態では、図7に示すように、撮像装置(カメラ)14をカメラボックス40に収納する。このカメラボックス40には、撮像用窓40aと空気吸入口40bが設けられ、撮像用窓40aには透明なレンズキャップ42が設けられている。検査中は、空気吸入口42bから常にきれいな空気を外部から注入し続ける。これにより、カメラボックス40内に、図7に示すように、空気吸入口40bから撮像用窓40aとレンズキャップ42間を流れる空気の流れが発生し、撮像装置(カメラ)14前面のレンズの部分には常にきれいな空気が流れるため、生産ラインの雰囲気中に飛散しているシリコンがレンズに付着するのを防止することができる。   In the syringe production line, silicon is applied to the inner surface of the syringe 10, so that silicon fine particles are scattered in the atmosphere, and as it is, the scattered silicon fine particles adhere to the lens of the imaging device (camera) 14. May interfere with inspection. In order to prevent this, in this embodiment, the imaging device (camera) 14 is housed in a camera box 40 as shown in FIG. The camera box 40 is provided with an imaging window 40a and an air inlet 40b, and a transparent lens cap 42 is provided on the imaging window 40a. During the inspection, clean air is always injected from the outside through the air inlet 42b. As a result, as shown in FIG. 7, a flow of air flowing between the imaging window 40a and the lens cap 42 from the air suction port 40b is generated in the camera box 40, and a lens portion on the front surface of the imaging device (camera) 14 is generated. Since clean air always flows, the silicon scattered in the atmosphere of the production line can be prevented from adhering to the lens.

本発明は上記実施形態に限らず種々の変形が可能である。   The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made.

例えば、上記実施形態では、シリンジに結像する細長い矩形形状の像の方向をシリンジの長手方向に直交するようしたが、シリンジの長手方向と平行な方向でも、斜めの方向でもよい。   For example, in the above-described embodiment, the direction of the elongated rectangular image formed on the syringe is orthogonal to the longitudinal direction of the syringe. However, the direction may be parallel to the longitudinal direction of the syringe or may be oblique.

また、上記実施形態では、シリンジに細長い矩形形状の像を結像したが、細長い矩形形状である必要はなく、少なくとも1辺の外縁がある像であればよい。また、細長い矩形形状の像が1本である必要はなく、多数の細長い矩形形状の像であってもよい。より感度よく検出することができる。   In the above embodiment, an elongated rectangular image is formed on the syringe. However, the image does not have to be an elongated rectangular shape, and may be an image having at least one outer edge. Also, there is no need for a single elongated rectangular image, and a large number of elongated rectangular images may be used. It can be detected with higher sensitivity.

また、上記実施形態では、被検査物であるシリンジのシリコンを塗布したか否かを判定する場合に本発明を適用したが、被検査物の表面状態を検査するものであれば、他の検査にも本発明を適用することができる。   Moreover, in the said embodiment, although this invention was applied when determining whether the silicon | silicone of the syringe which is a to-be-inspected object was apply | coated, if it inspects the surface state of a to-be-inspected object, other inspection | inspection The present invention can also be applied to.

また、上記実施形態では、樹脂製のシリンジに本発明を適用したが、樹脂、ガラスのような透明又は半透明の被検査物に対して塗布されている透明な塗布剤の有無を検知するのにも本発明を適用することができる。   Moreover, in the said embodiment, although this invention was applied to resin-made syringes, the presence or absence of the transparent coating agent currently apply | coated with respect to transparent or semi-transparent to-be-inspected objects like resin and glass is detected. The present invention can also be applied to.

本発明の一実施形態による検査装置を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the inspection apparatus by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態による検査装置を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the inspection apparatus by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態による検査装置の各段階における撮像画像を示す図である。It is a figure which shows the captured image in each step | level of the test | inspection apparatus by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態による検査装置の撮像画像の具体例を示す図(その1)である。It is a figure (the 1) which shows the specific example of the captured image of the test | inspection apparatus by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態による検査装置の撮像画像の具体例を示す図(その1)である。It is a figure (the 1) which shows the specific example of the captured image of the test | inspection apparatus by one Embodiment of this invention. シリンジの生産ラインの概要を示す図である。It is a figure which shows the outline | summary of the production line of a syringe. シリンジの生産ラインに設置された検査装置を示す図である。It is a figure which shows the test | inspection apparatus installed in the production line of a syringe.

符号の説明Explanation of symbols

10…シリンジ
10a…矩形状の像
12…照明装置
12a…矩形状の照射光
14…撮像装置(カメラ)
16…前処理部
18…2値化処理部
20…マスク処理部
20a…マスク
22…検査処理部
24…2次元FFT処理部
26…2値化処理部
28…判定部
30…コンベヤ
32…スターホイール
34…回転テーブル
36…スターホイール
38…コンベヤ
40…カメラボックス
40a…撮像用窓
40b…空気吸入口
42…レンズキャップ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Syringe 10a ... Rectangular image 12 ... Illumination device 12a ... Rectangular irradiation light 14 ... Imaging device (camera)
16 ... Pre-processing unit 18 ... Binarization processing unit 20 ... Mask processing unit 20a ... Mask 22 ... Inspection processing unit 24 ... Two-dimensional FFT processing unit 26 ... Binarization processing unit 28 ... Determination unit 30 ... Conveyor 32 ... Star wheel 34 ... Rotary table 36 ... Star wheel 38 ... Conveyor 40 ... Camera box 40a ... Imaging window 40b ... Air inlet 42 ... Lens cap

Claims (3)

被検査物に所定形状の像が結像するように照明する照明手段と、
前記所定形状の像が結像された前記被検査物を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段により撮像された撮像画像に2次元FFT処理を行う手段と、
2次元FFT処理されたデータのスペクトル分散の程度に基づいて前記被検査物の表面状態を検出する検出手段と
を有することを特徴とする検査装置。
Illuminating means for illuminating so that an image of a predetermined shape is formed on the inspection object;
Imaging means for imaging the inspection object on which the image of the predetermined shape is formed;
Means for performing a two-dimensional FFT process on a captured image captured by the imaging means;
An inspection apparatus comprising: detecting means for detecting a surface state of the inspection object based on a degree of spectral dispersion of data subjected to two-dimensional FFT processing.
請求項1記載の検査装置において、
前記被検査物はシリンジであり、
前記検出手段により検出された前記被検査物の表面状態に基づいて、前記シリンジの内面にシリコンが塗布されているか否かを検出する
ことを特徴とする検査装置。
The inspection apparatus according to claim 1,
The inspection object is a syringe;
An inspection apparatus that detects whether or not silicon is applied to the inner surface of the syringe based on the surface state of the inspection object detected by the detection means.
請求項2記載の検査装置において、
前記所定形状の像は、前記シリンジの長手方向に直交する細長い矩形状の像である
ことを特徴とする検査装置。
The inspection apparatus according to claim 2,
The inspection apparatus according to claim 1, wherein the image having the predetermined shape is an elongated rectangular image orthogonal to the longitudinal direction of the syringe.
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