JP2010204048A - 自動分析装置 - Google Patents

Abstract

【課題】試料を精度よく分注することができる自動分析装置を提供する。
【解決手段】試料容器１７から試料をサンプル分注プローブ１６内に吸引して反応容器３又は電解質測定ユニット１３に吐出する分注を行うサンプル分注ポンプ１６ａを有するサンプル分注手段を備え、サンプル分注手段は、１回目の分注では、試料容器１７からダミー用試料を吸引した後に１回目の測定用試料を吸引し、ｎ回目（ｎは２以上の整数）の分注では、試料容器１７から（ｎ−１）回吸引した測定用試料の総量が所定量以上である場合、試料容器１７から追加のダミー用試料を吸引した後にｎ回目の測定用試料を吸引する。
【選択図】図３

Description

本発明は、液体に含まれている成分を分析する自動分析装置に係り、特に、ヒトから採取した試料を分注して、その試料に含まれる成分を分析する自動分析装置に関する。

自動分析装置は生化学検査項目や免疫検査項目等を対象とし、被検体から採取された被検試料と各検査項目の試薬との混合液の反応によって生ずる色調や濁りの変化を、分光光度計や比濁計等の測光ユニットで光学的に測定することにより、被検試料中の様々な検査項目成分の濃度や酵素の活性等で表される分析データを生成する。また、生化学検査項目の内、ナトリウムイオン、カリウムイオン、塩素イオン等の電解質の項目を、この電解質に選択的に応答するイオンセンサと一定の電位を発生する参照電極間を電解質測定ユニットで測定することにより、分析データを生成する。

この自動分析装置では、被検試料毎に多数の検査項目の中から選択された検査対象の項目の分析を行う。そして、分析を行うために、被検試料をサンプル分注プローブで試料容器から反応容器に分注し、各検査項目の試薬を試薬分注プローブで試薬容器から反応容器に分注する。次いで、反応容器に分注された被検試料及び試薬の混合液を撹拌子で撹拌した後、測光ユニットで測定する。また、被検試料をサンプル分注プローブで試料容器から電解質測定ユニットに分注して、電解質測定ユニットで測定する。更に被検試料及び試薬に接触したサンプル分注プローブ及び試薬分注プローブ、並びに混合液に接触した撹拌子及び反応容器を洗浄した後、繰り返して測定に使用する。

ところで、自動分析装置の被検試料を分注するユニットは、サンプル分注プローブ、被検試料を収容した試料容器から反応容器や電解質測定ユニットへサンプル分注プローブを移動するアーム、試料容器の被検試料をサンプル分注プローブ内に吸引し、吸引した被検試料をサンプル分注プローブから反応容器や電解質測定ユニットへ吐出するサンプル分注ポンプ、及びサンプル分注プローブとサンプル分注ポンプ間を連通する純水などの圧力伝達媒体が封入されたチューブ等により構成される。そして、被検試料における検査対象の検査項目の数が複数である場合、その被検試料を検査項目の数に応じた回数の分注が行われる。

１回目の分注では、サンプル分注プローブ内にエアを吸引した後、試料容器から測定に使用しない被検試料（ダミー用試料）を吸引し、更に１回目の検査項目に対応する測定用の被検試料（測定用試料）を吸引する。次いで、吸引した測定用試料のみを反応容器又は電解質測定ユニットに吐出する。

ｎ回目（ｎ≧２）の分注では、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ内に保持した状態で、ｎ回目の検査項目に対応する測定用試料を吸引した後、吸引した測定用試料のみを反応容器又は電解質測定ユニットに吐出する。

そして、検査対象の検査項目分の被検試料の分注が終了した後、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ内から排出し、排出後にサンプル分注プローブの内外の洗浄を行う。

このエア及びダミー用試料は、ダミー用試料に隣接する測定用試料を圧力伝達媒体から隔離し、圧力伝達媒体の混入により測定用試料が希釈されて分注精度が低下するのを防ぐために設けられていることが知られている（例えば、特許文献１参照。）。

特開２００２−１６２４０１号公報

しかしながら、エア及びダミー用試料は圧力伝達媒体と共に、サンプル分注プローブ内で分注回数往復移動するため、検査対象の検査項目の数が多いとダミー用試料が圧力伝達媒体に希釈される。このため、ダミー用試料が希釈された後に分注精度の誤差要因の占める割合の大きい検査項目に対応する測定用試料の吸引が行われると、希釈されたダミー用試料に隣接する測定用試料が希釈されて分注精度が低下し、その測定用試料に対応する検査項目の分析データが悪化する問題がある。

本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので、試料を精度よく分注することができる自動分析装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、請求項１に係る本発明の自動分析装置は、試料及びこの試料の検査対象の検査項目に該当する試薬を反応容器に分注して、その混合液を測定する自動分析装置において、前記試料を収容する試料容器からその試料を分注プローブ内に吸引して前記反応容器内に吐出する分注を行う分注手段を備え、前記分注手段は、１回目の分注では、前記試料容器からダミー用試料を吸引した後に１回目の測定用試料を吸引し、ｎ回目（ｎは２以上の整数）の分注では、前記試料容器から（ｎ−１）回吸引した測定用試料の総量が所定量以上である場合、前記試料容器から追加のダミー用試料を吸引した後にｎ回目の測定用試料を吸引することを特徴とする。

また、請求項５に係る本発明の自動分析装置は、試料及びこの試料の検査対象の検査項目に該当する試薬を反応容器に分注して、その混合液を測定する自動分析装置において、前記試料を収容する試料容器からその試料を分注プローブ内に吸引して前記反応容器内に吐出する分注を行う分注手段を備え、前記分注手段は、１回目の分注では、前記試料容器からダミー用試料を吸引した後に１回目の測定用試料を吸引し、ｎ回目（ｎは２以上の整数）の分注では、n回目の測定用試料が予め設定された検査項目の試料である場合、前記試料容器から追加のダミー用試料を吸引した後にｎ回目の測定用試料を吸引し、前記検査項目以外の項目の試料である場合、前記ｎ回目の測定用試料のみを吸引することを特徴とする。

更に、請求項８に係る本発明の自動分析装置は、試料及びこの試料の検査対象の検査項目に該当する試薬を反応容器に分注して、その混合液を測定する自動分析装置において、前記試料を収容する試料容器からその試料を分注プローブ内に吸引して前記反応容器内に吐出する分注を行う分注手段を備え、前記分注手段は、１回目の分注では、前記試料容器からダミー用試料を吸引した後に１回目の測定用試料を吸引し、ｎ回目（ｎは２以上の整数）の分注では、前記n回が予め設定された回数である場合、前記試料容器から追加のダミー用試料を吸引した後にｎ回目の測定用試料を吸引することを特徴とする。

本発明によれば、同じ被検試料を複数回分注する場合、１回目の分注ではダミー用試料を吸引した後に１回目の測定用試料を吸引し、ｎ回目（２以上の整数）の分注では追加のダミー用試料を吸引した後にｎ回目の測定用試料を吸引することにより、試料を精度よく分注することができる。これにより、分析データの悪化を防ぐことができる。

本発明の実施例に係る自動分析装置の構成を示すブロック図。 本発明の実施例に係る分析部の構成を示す斜視図。 本発明の実施例に係る分析部の各試料を分注する位置を示す図。 本発明の実施例に係るサンプル分注ポンプによりサンプル分注プローブ内に各試料を吸引する原理を説明するための図。 本発明の実施例に係る被検試料の分注におけるサンプル分注プローブ内を示す図。 本発明の実施例に係る表示部に表示されたダミー用試料設定画面の一例を示す図。 本発明の実施例に係る被検試料を分注する試料分注工程の構成を示す図。 図７に示した試料分注工程の第１の試料分注工程を示すフローチャート。 図７に示した試料分注工程の第ｎの試料分注工程を示すフローチャート。 本発明の実施例に係る被検試料の分注におけるサンプル分注プローブ内を示す図。

以下、本発明の実施例を説明する。

以下、本発明による自動分析装置の実施例を、図１乃至図１０を参照して説明する。

図１は、本発明の実施例に係る自動分析装置の構成を示したブロック図である。この自動分析装置１００は、各検査項目の標準試料や被検体から採取された被検試料と各検査項目に該当する試薬との混合液を測定して標準データや被検データを生成する分析部２４と、分析部２４の測定に関る各分析ユニットの駆動及び制御を行う分析制御部２５とを備えている。

また、自動分析装置１００は、分析部２４で生成された標準データや被検データを処理して検量データや分析データの生成を行うデータ処理部３０と、データ処理部３０で生成された検量データや分析データを印刷出力や表示出力する出力部４０と、各種コマンド信号の入力等を行う操作部５０と、分析制御部２５、データ処理部３０、及び出力部４０を統括して制御するシステム制御部６０とを備えている。

図２は、分析部２４の構成を示した斜視図である。この分析部２４は、標準試料や被検試料等の各試料を収容する試料容器１７と、この試料容器１７を保持するサンプルディスク５と、各試料に含まれる検査項目の成分と反応する１試薬系及び２試薬系の第１試薬を収容する試薬容器６と、この試薬容器６を回動可能に保持する試薬ラック１ａを有する試薬庫１と、２試薬系の第１試薬と対をなす第２試薬を収容する試薬容器７と、この試薬容器７を回動可能に保持する試薬ラック２ａを有する試薬庫２と、円周上に配置された複数の反応容器３を回転可能に保持する反応ディスク４とを備えている。

また、検査項目の内のナトリウムイオン、カリウムイオン、及び塩素イオン等の電解質項目を分析するための測定を行う電解質測定ユニット２３と、サンプルディスク５に保持された試料容器１７の各試料をサンプル分注プローブ１６内に吸引して反応容器３や電解質測定ユニット２３へ吐出する分注を行うサンプル分注ポンプ１６ａと、サンプル分注プローブ１６を回動及び上下移動可能に保持するサンプル分注アーム１０と、各試料の分注終了毎にサンプル分注プローブ１６を洗浄する洗浄槽１６ｂとを備えている。

また、試薬庫１に収納された試薬容器６内の第１試薬を第１試薬分注プローブ１４内に吸引して各試料が吐出された反応容器３内に吐出する分注を行う第１試薬分注ポンプ１４ａと、第１試薬分注プローブ１４を回動及び上下移動可能に保持する第１試薬分注アーム８と、第１試薬の分注終了毎に第１試薬分注プローブ１４を洗浄する洗浄槽１４ｂとを備えている。

また、反応容器３内に吐出された各試料と第１試薬の混合液を撹拌する第１撹拌子１８と、第１撹拌子１８を回動及び上下移動可能に保持する第１撹拌アーム２０と、混合液の撹拌終了毎に第１撹拌子１８を洗浄する洗浄槽１８ａとを備えている。

また、試薬庫２に収納された試薬容器７内の第２試薬を第２試薬分注プローブ１５内に吸引して各試料及び第１試薬が吐出された反応容器３内に吐出する分注を行う第２試薬分注ポンプ１５ａと、第２試薬分注プローブ１５を回動及び上下移動可能に保持する第２試薬分注アーム９と、第２試薬の分注終了毎に第２試薬分注プローブ１５を洗浄する洗浄槽１５ｂとを備えている。

また、反応容器３内の各試料、第１試薬、及び第２試薬の混合液を撹拌する第２撹拌子１９と、第２撹拌子１９を回動及び上下移動可能に保持する第２撹拌アーム２１と、混合液の撹拌終了毎に第２撹拌子１９を洗浄する洗浄槽１９ａとを備えている。

また、反応容器３内の混合液に光を照射して光学的に測定する測光ユニット１３と、測光ユニット１３で測定を終了した反応容器３内を洗浄する洗浄ユニット１２とを備えている。

そして、測光ユニット１３は、光路を通過する反応容器３に光を照射し、その反応容器３内の標準試料や被検試料を含む混合液を透過した各検査項目の波長光を検出する検出信号に基づいて、例えば吸光度データで表される標準データや被検データを生成する。また、電解質測定ユニット２３は、標準試料や被検試料に含まれる各検査項目成分に選択的に応答するイオンセンサと一定の電位を発生する参照電極間を測定することにより例えば起電力データで表される標準データや被検データを生成する。そして、測光ユニット１３や電解質測定ユニット２３で生成した標準データや被検データをデータ処理部３０に出力する。

分析制御部２５は、分析部２４の各分析ユニットを駆動する機構を有する機構部２６と、機構部２６の各機構を制御して分析部２４の各分析ユニットを作動させる制御部２７とを備えている。そして、機構部２６は分析サイクル毎に、サンプルディスク５、試薬庫１の試薬ラック１ａ、及び試薬庫２の試薬ラック２ａを夫々回動した後に停止する機構、並びに反応ディスク４５を回転した後に停止する機構を備えている。

また、サンプル分注アーム１０、第１試薬分注アーム８、第２試薬分注アーム９、第１撹拌アーム２０、及び第２撹拌アーム２１を夫々回動及び上下移動する機構、並びにサンプル分注ポンプ１６ａ、第１試薬分注ポンプ１４ａ、及び第２試薬分注ポンプ１５ａを夫々吸引及び吐出駆動する機構等を備えている。

図１に示したデータ処理部３０は、分析部２４の測光ユニット１３や電解質測定ユニット２３から出力された標準データや被検データを処理して各検査項目の検量データや分析データを生成する演算部３１と、演算部３１で生成された標準データや分析データを保存するデータ記憶部３２とを備えている。

演算部３１は、測光ユニット１３や電解質測定ユニット２３から出力された標準データ及びこの標準データの標準試料に対して予め設定された標準値から、各検査項目成分の濃度や活性と標準データの関係を表す検量データを生成し、生成した検量データを出力部４０に出力すると共にデータ記憶部３２に保存する。

また、測光ユニット１３や電解質測定ユニット２３から出力された被検データに対応する検査項目の検量データをデータ記憶部３２から読み出す。そして、読み出した検量データを用いてその被検データから濃度値や活性値として表される分析データを生成し、生成した分析データを出力部４０に出力すると共にデータ記憶部３２に保存する。

データ記憶部３２は、ハードディスク等のメモリデバイスを備え、演算部３１から出力された検量データを検査項目毎に保存する。また、演算部３１から出力された各検査項目の分析データを被検試料毎に保存する。

出力部４０は、データ処理部３０の演算部３１から出力された検量データや分析データを印刷出力する印刷部４１及び表示出力する表示部４２を備えている。そして、印刷部４１は、プリンタなどを備え、演算部３１から出力された検量データや分析データを予め設定されたフォーマットに従って、プリンタ用紙などに印刷する。

表示部４２は、ＣＲＴや液晶パネルなどのモニタを備え、演算部３１から出力された検量データや分析データを表示する。また、自動分析装置１００で検査可能な検査項目の被検試料を反応容器３や電解質測定ユニット２３に吐出する量（吐出量）等の分析パラメータを設定するための分析パラメータ設定画面、各検査項目に該当する試薬の試薬情報を設定するための試薬情報設定画面、分析部２４のサンプル分注プローブ１６内に測定に使用しない被検試料（ダミー用試料）を吸引する条件を設定するためのダミー用試料設定画面、被検試料毎にこの被検試料を識別する氏名やＩＤ等の識別情報及び検査対象の検査項目を設定するための被検試料情報設定画面等を表示する。

操作部５０は、キーボード、マウス、ボタン、タッチキーパネルなどの入力デバイスを備え、検査項目毎の分析パラメータの設定、試薬情報の設定、ダミー用試料吸引条件の設定、被検試料の識別情報及び検査項目の設定等の操作を行う。

システム制御部６０は、ＣＰＵ及び記憶回路を備え、操作部５０からの操作により入力されたコマンド信号、各検査項目の分析パラメータの情報、試薬情報、ダミー用試料の吸引条件、被検試料の識別情報及び検査項目の情報等の入力情報を記憶回路に記憶した後、これらの入力情報に基づいて、分析制御部２５、データ処理部３０、及び出力部４０を統括してシステム全体を制御する。

次に、図１乃至図６を参照して、分析部２４で被検試料を分注する分注動作の概略を説明する。図３は、分析部２４の各試料を分注する位置を示す図である。図４は、分析部２４のサンプル分注ポンプ１６ａによりサンプル分注プローブ１６内に各試料を吸引する原理を説明するための図である。図５は、被検試料の分注におけるサンプル分注プローブ１６内を示す図である。図６は、表示部４２に表示されたダミー用試料設定画面の一例を示す図である。

図３において、分析部２４のサンプル分注アーム１０は、回動軸を中心として上停止位置における高さで矢印方向に回動して、各試料の分注を行うためにサンプル分注プローブ１６を破線で示した円形の軌道に沿って移動する。そして、サンプルディスク５に収納された試料容器１７内の標準試料を吸引する位置である標準試料吸引位置Ｔ１及び試料容器１７内の被検試料を吸引する位置である被検試料吸引位置Ｔ２、試料容器１７から吸引した標準試料や被検試料を反応容器３内に吐出する位置である反応容器吐出位置Ｔ３及び電解質測定ユニット２３に吐出する位置である電解質ユニット位置Ｔ４、並びにサンプル分注プローブ１６を洗浄槽１６ｂで洗浄する位置である洗浄位置Ｔ５の各位置の上方の上停止位置で停止する。そして、停止した各上停止位置でサンプル分注プローブ１６を上下移動する。

サンプル分注ポンプ１６ａは、標準試料吸引位置Ｔ１に停止した試料容器１７内の標準試料をサンプル分注プローブ１６内に吸引して反応容器吐出位置Ｔ３に停止した反応容器３や電解質ユニット位置Ｔ４の電解質測定ユニット２３に吐出する。また、被検試料吸引位置Ｔ２に停止した試料容器１７内の被検試料をサンプル分注プローブ１６内に吸引して反応容器吐出位置Ｔ３に停止した反応容器３や電解質測定ユニット２３に吐出する。

図４は、サンプル分注ポンプ１６ａによりサンプル分注プローブ１６内に各試料を吸引する原理を説明するための図である。各試料を分注するサンプル分注手段は、サンプル分注ポンプ１６ａ、サンプル分注アーム１０、サンプル分注プローブ１６、サンプル分注ポンプ１６ａとサンプル分注プローブ１６に接続されたチューブ等により構成される。そして、サンプル分注ポンプ１６ａの吸引動作及び吐出動作によるサンプル分注プローブ１６内への各試料の吸引及びサンプル分注プローブ１６からの各試料の吐出が可能なように、サンプル分注ポンプ１６ａ、チューブ、及びサンプル分注プローブ１６内には純水等の圧力伝達媒体が封入されている。

なお、第１及び第２試薬も試料の吸引と同じ原理で、第１及び第２試薬分注プローブ１４，１５内に吸引される。第１及び第２試薬分注ポンプ１４ａ，１５ａと第１及び第２試薬分注プローブ１４，１５は、夫々チューブで接続されている。また、第１及び第２試薬分注ポンプ１４ａ，１５ａの吸引動作及び吐出動作による第１及び第２試薬分注プローブ１４，１５内への第１及び第２試薬の吸引及び第１及び第２試薬分注プローブ１４，１５からの第１及び第２試薬の吐出が可能なように、第１及び第２試薬分注ポンプ１４ａ，１５ａ、チューブ、及び第１及び第２試薬分注プローブ１４，１５内には夫々圧力伝達媒体が封入されている。

このように圧力伝達媒体を利用してサンプル分注プローブ１６内に各試料を吸引したとき、サンプル分注プローブ１６の内壁に残留する圧力伝達媒体の試料への混入や拡散等により、吸引した試料が希釈されて各検査項目の分析対象成分の濃度が低下する問題がある。

この問題を避けるために、例えば被検試料吸引位置Ｔ２の試料容器１７から測定対象の被検試料をサンプル分注プローブ１６内に吸引するとき、図５（ａ）に示すように、先ずエアを吸引する。次いで、図５（ｂ）に示すように、ダミー用試料を吸引する。

そして、１回目の分注では、図５（ｂ）に示すように、エア及びダミー用試料を吸引した後に１回目の検査項目に対応する測定用試料を吸引する。測定用試料を吸引した後、図５（ｃ）に示すように、１回目の測定用試料のみを反応容器３（又は電解質測定ユニット２３）に吐出する。

また、ｎ回目（ｎ≧２）の分注では、図５（ｄ）に示すように、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ１６内に保持した状態で、ｎ回目の検査項目に対応する測定用試料を吸引し、ｎ回目の測定用試料のみを反応容器３（又は電解質測定ユニット２３）に吐出する。そして、検査対象の検査項目の被検試料の分注を終了した後、洗浄槽１６ｂでエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ１６内から排出し、排出後にサンプル分注プローブ１６の内外の洗浄を行う。

しかしながら、検査対象の検査項目数が多い被検試料においては、サンプル分注プローブ１６内に測定用試料を吸引する回数が多くなるため、検査対象の最後の検査項目に近づくに従い、サンプル分注プローブ１６内を繰り返し往復移動するダミー用試料が圧力伝達媒体で希釈され、この希釈されたダミー用試料に隣接する測定用試料が希釈される。この測定用試料の希釈により、試料の分注精度の誤差要因の占める割合の大きく、且つ分析データの許容範囲の狭い特定の検査項目の分析データが悪化する問題が発生する。

この問題を避けるために、１回目の分注で吸引するダミー用試料を増量する方法が考えられるが、検査対象に特定の検査項目が含まれていないと、ダミー用として増量した被検試料が浪費されることになる。このダミー用試料の浪費を避けて必要に応じて追加のダミー用試料を吸引するために、表示部４２に表示されるダミー用試料吸引条件設定画面で追加のダミー用試料の吸引条件を設定する。

図６は、表示部４２に表示されたダミー用試料設定画面の一例を示した図である。このダミー用試料設定画面４３は、ｎ回目の測定用試料を分注する前に追加のダミー用試料を吸引する条件を設定するための「直前にダミー用試料を追加吸引する項目」の欄と、（ｎ−１）回吸引した測定用試料の総量が所定量以上である場合にｎ回目の測定用試料を分注する前に追加のダミー用試料を吸引する条件を設定するための「所定量以上でダミー用試料を追加吸引する項目」の欄とにより構成される。そして、各欄に吸引条件を設定する操作部５０からの入力操作により、各欄に設定された吸引条件の情報がシステム制御部６０の記憶回路に保存されると共に表示部４２に表示される。

「直前にダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に、表示部４２の分析パラメータ設定画面で設定された検査項目の中から例えば電解質項目等の試料の分注精度の誤差要因の占める割合の大きく、且つ分析データの許容範囲の狭い特定の検査項目を選択入力する操作が行われると、ダイアログボックス４４１内に特定の検査項目である例えば「項目Ａ」が表示される。そして、検査項目が選択入力されていないダイアログボックス４４２乃至４４ｐ内は空白になっている。

ここでは、ｎ回目の分注が、「項目Ａ」に対応する測定用試料である場合に、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ１６内に保持した状態で、追加のダミー用試料を吸引した後に「項目Ａ」の測定用試料を吸引し、吸引した「項目Ａ」の測定用試料を反応容器３（又は電解質測定ユニット２３）に吐出する。

そして、追加のダミー用試料の量は、「直前にダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に設定された検査項目の分析パラメータ設定画面に設定された吐出量Ｖ１に応じて算出される例えば算出量Ｖｃ１{Ｖｃ１＝Ａ×Ｖ１＋Ｂ}（Ａ及びＢは定数）となる。なお、追加のダミー用試料の量を、１回目の分注で吸引されるダミー用試料の量以下の一定量で固定して実施するようにしてもよい。

このように、ｎ回目の測定用試料が「直前にダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に設定された特定の検査項目の試料である場合に、追加のダミー用試料を吸引した後にその検査項目に対応するｎ回目の測定用試料を吸引することにより、ｎ回目の測定用試料に含まれる検査項目成分の濃度の低下を低減することができる。これにより、ｎ回目の測定用試料を精度よく分注することができる。

「所定量以上でダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に、表示部４２の分析パラメータ設定画面で設定された検査項目の中から「直前にダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に設定した検査項目よりは要求精度が低いものの試料の分注精度の誤差要因の占める割合の大きく、且つ分析データの許容範囲の狭い特定の検査項目を選択入力する操作が行われると、ダイアログボックス４５１内に特定の検査項目である例えば「項目Ｂ」が表示される。そして、検査項目が選択入力されていないダイアログボックス４５２乃至４５ｑ内は空白になっている。

ここでは、ｎ回目の分注が「項目Ｂ」に対応する測定用試料である場合、（ｎ−１）回吸引した測定用試料の総量を算出する。そして、算出した総量が予め設定された所定量以上である場合、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ１６内に保持した状態で、追加のダミー用試料を吸引した後に「項目Ｂ」に対応する測定用試料を吸引し、吸引した「項目Ｂ」の測定用試料を反応容器３（又は電解質測定ユニット２３）に吐出する。

また、算出した総量が所定量未満である場合、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ１６内に保持した状態で、「項目Ｂ」に対応する測定用試料のみを吸引し、吸引した「項目Ｂ」の測定用試料を反応容器３（又は電解質測定ユニット２３）に吐出する。

そして、追加のダミー用試料の量は、「所定量以上でダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に設定された検査項目の分析パラメータ設定画面に設定された吐出量Ｖ２に応じて算出される例えば算出量Ｖｃ２{Ｖｃ＝Ａ×Ｖ２＋Ｂ}となる。なお、追加のダミー用試料の量を、１回目の分注で吸引されるダミー用試料の量以下の一定量で固定して実施するようにしてもよい。

なお、ダミー用試料や測定用試料の希釈は、サンプル分注―プローブ１６内に試料を吸引する速度、サンプル分注分注プローブ１６の内径等様々な条件によって異なるため、予め実験により１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ１６内に保持した状態でｎの値を変数として、所定の吐出量の測定用試料をｎ回吸引したときのｎとｎ回目に吸引した測定用試料の濃度の関係を求める。また、測定用試料の吐出量を変えて、ｎの値を変数として、測定用試料をｎ回吸引したときのｎとｎ回目に吸引した測定用試料の濃度の関係を求める。この求めた関係から所定量を算出し、算出した所定量を操作部５０から入力して制御部２７に設定保存する。制御部２７は、予め設定された所定量に基づいて、追加のダミー用試料を吸引するか否かを判定する。

このように、ｎ回目の測定用試料が「所定量以上でダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に設定された特定の検査項目の試料であり、且つ（ｎ−１）回吸引した測定用試料の総量が所定量以上である場合に追加のダミー用試料を吸引した後にｎ回目の測定用試料を吸引することにより、被検試料の浪費を防いで、ｎ回目の測定用試料を精度よく分注することができる。

以下、図１乃至図１０を参照して、分析部２４で被検試料を分注する動作の一例を説明する。図７は、被検試料を分注する試料分注工程の構成を示す図である。図８及び図９は、図７に示した試料分注工程の詳細を示すフローチャートである。図１０は、被検試料の分注におけるサンプル分注プローブ１６内を示す図である。

図７において、試料分注工程Ｓ１は、被検試料を１回目に分注する第１の試料分注工程Ｓ１０と、複数回分注するときのｎ回目（２以上の整数）に分注する第ｎの試料分注工程Ｓ３０とにより構成される。

分析制御部２５の制御部２７は、システム制御部６０から供給される各検査項目の分析パラメータ、被検試料の情報、及びこの被検試料に設定された検査対象の検査項目の情報に基づき機構部２６の各機構を制御する。そして、反応ディスク５、サンプル分注アーム１０、及びサンプル分注ポンプ１６ａ等の各分析ユニットを作動させて、試料分注工程Ｓ１を実行する。

図８は、試料分注工程Ｓ１の第１の試料分注工程Ｓ１０を示したフローチャートである。この第１の試料分注工程Ｓ１０は、ステップＳ１１乃至ステップＳ１４により構成される。

１回目の分注では、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６をホームポジションから被検試料吸引位置Ｔ２の上停止位置へ移動する。このサンプル分注プローブ１６の移動に並行して、サンプル分注ポンプ１６ａは、サンプル分注プローブ１６内に所定量のエアを吸引する（ステップＳ１１）。

サンプル分注プローブ１６内へのエアの吸引後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を下へ移動して、被検試料吸引位置Ｔ２に停止した試料容器１７に収容された測定対象の被検試料の吸引が可能な吸引高で停止する。サンプル分注ポンプ１６ａは、サンプル分注プローブ１６内にダミー用試料を吸引する（ステップＳ１２）。

ダミー用試料を吸引した後、サンプル分注ポンプ１６ａは、サンプル分注プローブ１６内に１回目の検査項目に対応する測定用試料を吸引する（ステップＳ１３）。

１回目の分注における吸引後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を例えば反応容器吐出位置Ｔ３に停止した反応容器３内へ移動する。サンプル分注プローブ１６が反応容器３内へ移動した後、サンプル分注ポンプ１６ａは、反応容器３内にサンプル分注プローブ１６内の１回目の測定用試料を吐出する（ステップＳ１４）。

１回目の測定用試料の吐出後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を反応容器３内からホームポジションへ移動する。

このように、１回目の分注では、エア及びダミー用試料を吸引した後に１回目の測定用試料を吸引することにより、１回目の測定用試料に含まれる検査項目成分の濃度の低下を低減することができる。これにより、１回目の測定用試料を精度よく分注することができる。

図９は、図７に示した試料分注工程Ｓ１の第ｎの試料分注工程Ｓ３０を示したフローチャートである。この第ｎの試料分注工程Ｓ３０は、ステップＳ３１乃至ステップＳ３６により構成される。

ｎ回目の分注では、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６をホームポジションから被検試料吸引位置Ｔ２の上停止位置へ移動する。被検試料吸引位置Ｔ２の上停止位置への移動後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を下へ移動して試料吸引高で停止する。

制御部２７は、システム制御部６０から供給されるダミー用試料吸引条件の情報に基づいて、各分析ユニットを制御する。そして、ｎ回目の測定用試料の検査項目が図６に示したダミー用試料設定画面４３の「直前にダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に設定された検査項目以外の項目である場合（ステップＳ３１のいいえ）、ステップＳ３２へ移行する。また、ダミー用試料設定画面４３の「直前にダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に設定された検査項目である場合（ステップＳ３１のはい）、ステップＳ３４へ移行する。

ステップＳ３１の「いいえ」の後に、ｎ回目の測定用試料がダミー用試料設定画面４３の「所定量以上でダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に設定された検査項目の試料である場合（ステップＳ３２のはい）、ステップＳ３３へ移行する。また、ダミー用試料設定画面４３の「所定量以上でダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に設定された検査項目以外の項目の試料である場合（ステップＳ３２のいいえ）、ステップＳ３５へ移行する。

ステップ３２の「はい」の後に、サンプル分注プローブ１６内に（ｎ−１）回吸引した測定用試料の総量が所定量以上である場合（ステップＳ３３のはい）、ステップＳ３４へ移行する。また、サンプル分注プローブ１６内に（ｎ−１）回吸引した測定用試料の総量が所定量未満である場合（ステップＳ３３のいいえ）、ステップＳ３５へ移行する。

ステップＳ３１の「はい」又はステップＳ３３の「はい」の後に、サンプル分注ポンプ１６ａは、図１０（ａ）に示すように、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ１６内に保持した状態で追加のダミー用試料を吸引した後にｎ回目の測定用試料を吸引する（ステップＳ３４）。

なお、測定用試料の平均量を求め、求めた平均量の測定用試料を繰り返し吸引し、その測定用試料が「所定量以上でダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に設定された検査項目の分析データが悪化する程度に希釈される回数を求める。そして、求めた回数を予め設定し、ｎが予め設定された回数である場合に、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ１６内に保持した状態で追加のダミー用試料を吸引した後にｎ回目の測定用試料を吸引するように実施してもよい。

このように、ｎ回目の分注では、ｎ回目に分注する測定用試料がダミー用試料設定画面４３の「直前にダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に設定された検査項目の試料である場合、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ１６内に保持した状態で、追加のダミー用試料を吸引した後にｎ回目の測定用試料を吸引することにより、被検試料の浪費を防いで、ｎ回目の測定用試料を精度よく分注することができる。

また、ｎ回目に分注する測定用試料がダミー用試料設定画面４３の「所定量以上でダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に設定した検査項目に対応する試料であり、且つ（ｎ―１）回吸引した測定用試料の総量が所定量以上である場合、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ１６内に保持した状態で、追加のダミー用試料を吸引した後にｎ回目の測定用試料を吸引することにより、被検試料の浪費を防いで、ｎ回目の測定用試料を精度よく分注することができる。

ここで、データ処理部３０の演算部３１は、制御部２７から供給される追加ダミー用試料の情報に基づいて、追加のダミー用試料を吸引した後に分注された測定用試料の測定により生成した分析データに、追加のダミー用試料が吸引された後の測定用試料から生成されたデータであることを示すフラグを付加する。そして、そのフラグが付加された分析データをデータ記憶部３２に保存すると共に出力部４０に出力する。出力部４０の印刷部４１及び表示部４２は、演算部３１から出力されたフラグが付加された分析データを印刷出力及び表示出力する。

ステップＳ３２の「いいえ」、又はステップＳ３３の「いいえ」の後に、サンプル分注ポンプ１６ａは、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ１６内に保持した状態でｎ回目の検査項目に対応する測定用試料のみを吸引する（ステップＳ３５）。

このように、ｎ回目の分注では、ｎ回目に分注する測定用試料がダミー用試料設定画面４３に設定された検査項目以外の項目である場合、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ１６内に保持した状態で、ｎ回目の測定用試料のみを吸引することにより、分析データを悪化させることなく、被検試料の消費を低減することができる。

また、ｎ回目に分注する測定用試料がダミー用試料設定画面４３の「所定量以上でダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に設定した検査項目に対応する試料であり、且つ（ｎ―１）回吸引した測定用試料の総量が所定量未満である場合、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ１６内に保持した状態で、ｎ回目の測定用試料のみを吸引することにより、分析データを悪化させることなく、被検試料の消費を低減することができる。

ｎ回目の分注における吸引後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を例えば反応容器吐出位置Ｔ３に停止した反応容器３内へ移動する。サンプル分注プローブ１６を反応容器３内へ移動した後、サンプル分注ポンプ１６ａは、サンプル分注プローブ１６内のｎ回目の測定用試料を反応容器３内に吐出する（ステップＳ３６）。

ｎ回目の分注における測定用試料の吐出後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を反応容器３内からホームポジションへ移動する。そして、検査対象の全ての検査項目の被検試料の分注終了後に、サンプル分注プローブ１６内のエア及びダミー用試料を排出した後、サンプル分注プローブ１６の洗浄が行われる。洗浄後に、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６をホームポジションに移動して、次の被検試料の分注に備えて待機する。

なお、複数の被検試料に検査対象として設定された検査項目が１項目であり、且つ複数の被検試料に検査対象として設定された検査項目が全て同じ検査項目である場合、被検試料と同様にして、１試薬系における第１試薬や２試薬系における第１及び第２試薬を分注するように実施してもよい。以下に、第１試薬を分注する例を説明する。

１回目の分注では、エア及び測定に使用しない第１試薬（ダミー用試薬）を吸引した後に１回目の測定に使用する第１試薬（測定用試薬）を吸引することにより、１回目の測定用試薬を精度よく分注することができる。

また、ｎ回目の分注では、ｎ回目に分注する測定用試薬が予め設定された検査項目の試薬以外の試薬である場合、又は予め設定された検査項目の試薬であり、且つ（ｎ―１）回吸引した測定用試薬の総量が所定量未満である場合、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試薬を第１試薬分注プローブ１４内に保持した状態で、ｎ回目の測定用試薬のみを吸引することにより、第１試薬の消費を低減することができる。

更に、ｎ回目の分注では、ｎ回目に分注する測定用試薬が予め設定された検査項目に対応する第１試薬であり、且つ（ｎ―１）回吸引した測定用試薬の総量が所定量以上である場合、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試薬を第１試薬分注プローブ１４内に保持した状態で、追加のダミー用試薬を吸引した後にｎ回目の測定用試薬を吸引することにより、第１試薬の浪費を防いで、ｎ回目の測定用試薬を精度よく分注することができる。

以上述べた本発明の実施例によれば、１回目の分注では、エア及びダミー用試料を吸引した後に１回目の測定用試料を吸引することにより、１回目の測定用試料を精度よく分注することができる。これにより、良好な分析データを得ることができる。

また、ｎ回目の分注では、ｎ回目に分注する測定用試料がダミー用試料設定画面４３に設定された検査項目以外の項目である場合、又はｎ回目に分注する測定用試料がダミー用試料設定画面４３の「所定量以上でダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に設定した検査項目の試料であり、且つ（ｎ―１）回吸引した測定用試料の総量が所定量未満である場合、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ１６内に保持した状態で、ｎ回目の測定用試料のみを吸引することにより、分析データを悪化させることなく、被検試料の消費を低減することができる。

更に、ｎ回目の分注では、ｎ回目に分注する測定用試料がダミー用試料設定画面４３の「直前にダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に設定された検査項目の試料である場合、又はｎ回目に分注する測定用試料がダミー用試料設定画面４３の「所定量以上でダミー用試料を追加吸引する項目」の欄に設定した検査項目の試料であり、且つ（ｎ―１）回吸引した測定用試料の総量が所定量以上である場合、１回目の分注で吸引したエア及びダミー用試料をサンプル分注プローブ１６内に保持した状態で、追加のダミー用試料を吸引した後にｎ回目の測定用試料を吸引することにより、被検試料の浪費を防いで、ｎ回目の測定用試料を精度よく分注することができる。これにより、分析データの悪化を防ぐことができる。

３ 反応容器
４ 反応ディスク
５ サンプルディスク
１０ サンプル分注アーム
１６ サンプル分注プローブ
１６ａ サンプル分注ポンプ
１６ｂ 洗浄槽
１７ 試料容器
２３ 電解質測定ユニット
２４ 分析部

Claims (8)

1. 試料及びこの試料の検査対象の検査項目に該当する試薬を反応容器に分注して、その混合液を測定する自動分析装置において、
   前記試料を収容する試料容器からその試料を分注プローブ内に吸引して前記反応容器内に吐出する分注を行う分注手段を備え、
   前記分注手段は、
   １回目の分注では、前記試料容器からダミー用試料を吸引した後に１回目の測定用試料を吸引し、
   ｎ回目（ｎは２以上の整数）の分注では、前記試料容器から（ｎ−１）回吸引した測定用試料の総量が所定量以上である場合、前記試料容器から追加のダミー用試料を吸引した後にｎ回目の測定用試料を吸引することを特徴とする自動分析装置。
2. 前記検査項目を設定する設定手段を有し、
   前記分注手段は、前記ｎ回目の測定用試料が前記設定手段により設定された検査項目の試料である場合、前記試料容器から追加のダミー用試料を吸引した後にｎ回目の測定用試料を吸引することを特徴とする請求項１に記載の自動分析装置。
3. 前記分注手段は、前記ｎ回目の測定用試料が前記設定手段により設定された検査項目以外の項目の試料である場合、前記試料容器から前記ｎ回目の測定用試料のみを吸引することを特徴とする請求項２に記載の自動分析装置。
4. 前記分注手段は、前記試料容器から（ｎ−１）回吸引した測定用試料の総量が所定量未満である場合、前記試料容器から前記ｎ回目の測定用試料のみを吸引することを特徴とする請求項１に記載の自動分析装置。
5. 試料及びこの試料の検査対象の検査項目に該当する試薬を反応容器に分注して、その混合液を測定する自動分析装置において、
   前記試料を収容する試料容器からその試料を分注プローブ内に吸引して前記反応容器内に吐出する分注を行う分注手段を備え、
   前記分注手段は、
   １回目の分注では、前記試料容器からダミー用試料を吸引した後に１回目の測定用試料を吸引し、
   ｎ回目（ｎは２以上の整数）の分注では、n回目の測定用試料が予め設定された検査項目の試料である場合、前記試料容器から追加のダミー用試料を吸引した後にｎ回目の測定用試料を吸引し、前記検査項目以外の項目の試料である場合、前記ｎ回目の測定用試料のみを吸引することを特徴とする自動分析装置。
6. 前記追加のダミー用試料の量は、前記ｎ回目の測定用試料の量に応じて算出される量であることを特徴とする請求項１又は請求項５に記載の自動分析装置。
7. 前記追加のダミー用試料が吸引された後に吸引される測定用試料の測定により生成された分析データに、前記追加のダミー用試料が吸引された後の測定用試料から生成されたデータであることを示すフラグを付加するようにしたことを特徴とする請求項１又は請求項５に記載の自動分析装置。
8. 試料及びこの試料の検査対象の検査項目に該当する試薬を反応容器に分注して、その混合液を測定する自動分析装置において、
   前記試料を収容する試料容器からその試料を分注プローブ内に吸引して前記反応容器内に吐出する分注を行う分注手段を備え、
   前記分注手段は、
   １回目の分注では、前記試料容器からダミー用試料を吸引した後に１回目の測定用試料を吸引し、
   ｎ回目（ｎは２以上の整数）の分注では、前記n回が予め設定された回数である場合、前記試料容器から追加のダミー用試料を吸引した後にｎ回目の測定用試料を吸引することを特徴とする自動分析装置。

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