JP2010197474A5

JP2010197474A5 -

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Publication number: JP2010197474A5
Application number: JP2009039370A
Authority: JP
Filing date: 2009-02-23
Publication date: 2012-07-19

Description

また、請求項９に記載の発明は、光源と、前記光源から出力された光を信号光と参照光とに分割する分割手段と、第１の光ファイバを含み、前記信号光を導光して被測定物体に照射し、前記被測定物体を経由した前記信号光を導光する第１の導光路と、第２の光ファイバを含み、前記参照光を導光して参照物体に照射し、前記参照物体を経由した前記参照光を導光する第２の導光路と、前記第１の光ファイバ及び／又は前記第２の光ファイバに対して圧力を印加して当該光ファイバを通過する光の偏光状態を変化させる偏光コントローラと、前記被測定物体を経由して前記第１の導光路により導かれた前記信号光と、前記参照物体を経由して前記第２の導光路により導かれた前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する重畳手段と、前記生成された干渉光を検出して検出信号を生成する検出手段と、前記生成された検出信号に基づいて前記被測定物体の断層像を形成する画像形成手段と、を有する光画像計測装置であって、前記偏光コントローラは、前記光ファイバの径方向の対向位置に設けられ、前記光ファイバの側面に当接される平面部をそれぞれ有する一対の当接部材と、前記一対の平面部の間に配置され、前記光ファイバの径と略等しい厚さを有する部材と、前記一対の平面部の間隔を変更するように前記一対の当接部材を相対的に移動させて前記圧力を印加する移動機構と、を備える、ことを特徴とする。

Claims

光ファイバに対して圧力を印加する圧力印加部を有し、前記印加される圧力により前記光ファイバを通過する光の偏光状態を変化させる偏光コントローラであって、
前記圧力印加部は、
前記光ファイバの径方向の対向位置に設けられ、前記光ファイバの側面に当接される平面部をそれぞれ有する一対の当接部材と、
前記一対の平面部の間に配置され、前記光ファイバの径と略等しい厚さを有する部材と、
前記一対の平面部の間隔を変更するように前記一対の当接部材を相対的に移動させて前記圧力を印加する移動機構と、
を備える、
ことを特徴とする偏光コントローラ。
前記光ファイバの軸方向を回転軸として前記圧力印加部を回転させる回転機構を更に備える、
ことを特徴とする請求項１に記載の偏光コントローラ。
前記圧力印加部は、前記移動機構により相対的に移動される前記一対の当接部材の位置を固定する固定機構を更に備える、
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の偏光コントローラ。
前記部材は、前記光ファイバと略等しい径を有する線状部材を含む、
ことを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の偏光コントローラ。
前記線状部材は、前記光ファイバと同じ形態の光ファイバである、
ことを特徴とする請求項４に記載の偏光コントローラ。
前記圧力印加部は、前記線状部材を保持する保持部を更に備える、
ことを特徴とする請求項４又は請求項５に記載の偏光コントローラ。
前記部材は、前記一対の平面部における前記光ファイバの配置位置以外の場所に設けられ、前記光ファイバと略等しい厚さを有する膜状部材を含む、
ことを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の偏光コントローラ。
第１の光ファイバを含む第１の導光路と、第２の光ファイバを含む第２の導光路と、前記第１の光ファイバ及び／又は前記第２の光ファイバに対して圧力を印加して当該光ファイバを通過する光の偏光状態を変化させる偏光コントローラとを有し、前記第１の導光路により導かれた光と前記第２の導光路により導かれた光とを重畳させて干渉光を生成する干渉計であって、
前記偏光コントローラは、
前記光ファイバの径方向の対向位置に設けられ、前記光ファイバの側面に当接される平面部をそれぞれ有する一対の当接部材と、
前記一対の平面部の間に配置され、前記光ファイバの径と略等しい厚さを有する部材と、
前記一対の平面部の間隔を変更するように前記一対の当接部材を相対的に移動させて前記圧力を印加する移動機構と、
を備える、
ことを特徴とする干渉計。
光源と、
前記光源から出力された光を信号光と参照光とに分割する分割手段と、
第１の光ファイバを含み、前記信号光を導光して被測定物体に照射し、前記被測定物体を経由した前記信号光を導光する第１の導光路と、
第２の光ファイバを含み、前記参照光を導光して参照物体に照射し、前記参照物体を経由した前記参照光を導光する第２の導光路と、
前記第１の光ファイバ及び／又は前記第２の光ファイバに対して圧力を印加して当該光ファイバを通過する光の偏光状態を変化させる偏光コントローラと、
前記被測定物体を経由して前記第１の導光路により導かれた前記信号光と、前記参照物体を経由して前記第２の導光路により導かれた前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する重畳手段と、
前記生成された干渉光を検出して検出信号を生成する検出手段と、
前記生成された検出信号に基づいて前記被測定物体の断層像を形成する画像形成手段と、
を有する光画像計測装置であって、
前記偏光コントローラは、
前記光ファイバの径方向の対向位置に設けられ、前記光ファイバの側面に当接される平面部をそれぞれ有する一対の当接部材と、
前記一対の平面部の間に配置され、前記光ファイバの径と略等しい厚さを有する部材と、
前記一対の平面部の間隔を変更するように前記一対の当接部材を相対的に移動させて前記圧力を印加する移動機構と、
を備える、
ことを特徴とする光画像計測装置。