JP2010184258A - 仮付けビード部の自動溶接方法 - Google Patents

Abstract

【課題】本仮付けビード部より欠陥の発生しやすい仮付けビード部の始端部と終端部においても、高品質な自動溶接を可能とする。
【解決手段】開先を、仮付けビード１２の無い通常開先部と仮付けビード部の２領域に分け、それぞれに対応した各積層ビードの標準溶接条件を用意しておき、溶接の際に、これらの溶接条件を呼び出して再生し、一方、仮付けビード部の始端部と終端部の溶接においては、通常開先部と仮付けビード部に対応した溶接条件より線形補間方法に基づき溶接条件を求めて実施し、溶接中は、現在の開先幅を標準開先幅に比較して、その変化量に応じて標準溶接条件から実際にあるべき溶接条件を算出して溶接することにより、開先に必要な最適な溶着量を供給すると共に、欠陥を生じさせないようにする。
【選択図】図８

Description

本発明は、仮付けビード部の自動溶接方法にかかり、特に、本仮付けビード部より欠陥の発生しやすい仮付けビード部の始端部と終端部においても、高品質な自動溶接が可能な仮付けビード部の自動溶接方法に関する。

図１に例示するような、被溶接物１０と溶接ワイヤ２４の間にアーク２５を発生させて溶接を行うアーク溶接では、開先形状を保持するために、本溶接の前に仮付けビード１２を溶接しておくことがよく行われる。図において、１１は溶融池、２２は溶接トーチである。

このようなアーク溶接の初層溶接において、仮付けビード部１２における融合不良等の溶接欠陥を無くすために、仮付けビード部の溶接条件を自動的に適応制御する方法が特許文献1に記載されている。

一方、特許文献２には、片面ガスシールドアーク溶接において、問題となる溶接中の回転変形による凝固割れを防止するために、仮付け溶接係数Ｋ（＝仮付けビード長さ×仮付けビード高さ／仮付けビード間ピッチ）を０．８以上に、仮付けビード高さを８ｍｍ以下にして、溶接電流密度を２２０〜２９０Ａ／ｍｍ^２に抑えて溶接する溶接方法が記載されている。

特開平１１−５１６４号公報 特開平１１−１５６５４５号公報

しかしながら、特許文献１は初層溶接のみを論じたもので、積層に関する溶接方法は明確でない。

又、特許文献１と２のいずれも、仮付けビード部の始端部と終端部の形状については何も論じておらず、制御方法も明確ではないという問題点を有していた。

実は、仮付けビード部の始端部と終端部は、本仮付けビード部より欠陥の発生しやすいところであり、特に溶接電流が比較的小さい短絡アーク溶接プロセスにおいては、より顕著な問題となっていた。

本発明は、前記従来の問題点を解消すべくなされたもので、本仮付けビード部より欠陥が発生しやすい仮付けビード部の始端部と終端部においても、高品質な自動溶接が行えるようにすることを課題とする。

本発明は、開先を、仮付けビードの無い通常開先部と仮付けビード部の２領域に分け、それぞれに対応した各積層ビードの標準溶接条件を用意しておき、溶接の際に、これらの溶接条件を呼び出して再生し、一方、仮付けビード部の始端部と終端部の溶接においては、通常開先部と仮付けビード部に対応した溶接条件より線形補間方法に基づき溶接条件を求めて実施し、溶接中は、現在の開先幅を標準開先幅に比較して、その変化量に応じて標準溶接条件から実際にあるべき溶接条件を算出して溶接するようにして、前記課題を解決したものである。

ここで、前記仮付けビード部を、本仮付けビード部、始端部及び終端部に分け、本仮付けビード部の厚さを３．５±０．５ｍｍ、長さを５０〜１５０ｍｍとし、始端部と終端部には滑らかな傾斜を設けると共に、長さを１５±２ｍｍとすることができる。

又、前記仮付けビード部の始点と終点から、それぞれ長さＬｓとＬｅ離れたところの開先幅ＷｓとＷｅ、ルートギャップＧｓとＧｅ、開先深さＤｓとＤｅをそれぞれ測定し、この２点の形状寸法及び仮付けビード部の標準ビード高さＨt0から、直線補間法により、次式を用いて、仮付けビード部の長さＬｔの始点から長さＳだけ離れた地点における本仮付けビード部の表面幅Ｇｔと開先幅Ｗｔと深さＤｔを求めることができる。
Ｗｔ＝Ｗｓ＋（Ｗｅ−Ｗｓ）／Ｌ×（Ｌｓ＋Ｓ）
Ｇｔ＝Ｇst＋（Ｇet−Ｇst）／Ｌ×（Ｌｓ＋Ｓ）
Ｄｔ＝Ｄst＋（Ｄet−Ｄst）／Ｌ×（Ｌｓ＋Ｓ）
ここで、
Ｌ＝Ｌｓ＋Ｌｔ＋Ｌｅ
Ｇst＝Ｇｓ＋（Ｗｓ−Ｇｓ）／Ｄｓ×Ｈt0
Ｇet＝Ｇｅ＋（Ｗｅ−Ｇｅ）／Ｄｅ×Ｈt0
Ｄst＝Ｄｓ−Ｈt0
Ｄet＝Ｄｅ−Ｈt0

又、前記仮付けビード部の始点と終点を測定するに際して、仮付けビード部の始点を検知する迄は、通常の走行速度で測定し、仮付けビード部の始点を検知したら、通常の走行速度より遅い走行速度でバックして、仮付けビード部の始点を測定し、仮付けビード部の始点を測定したら、再び反転して通常の走行速度で測定し、仮付けビード部の終点を検知したら、通常の走行速度より遅い走行速度でバックして、仮付けビード部の終点を測定することができる。

本発明によれば、開先に必要な最適な溶着量を供給すると共に、欠陥を生じさせないようにして、特に本仮付けビード部より欠陥の発生しやすい仮付けビード部の始端部と終端部においても、高品質な自動溶接を行うことができる。

アーク溶接の状態を示す図 本発明による仮付けビード部の形状仕様の例を示す図 本発明による仮付けビード部の開先形状計測方法を示す図 レーザセンサによる計測装置の構成の一例を示す図 同じく他の例を示す図 同じく更に他の例を示す図 本発明による開先形状寸法計測時のスキャン方法を示す図 本発明による仮付けビード端部の溶接方法を示す図 溶接制御の方法を示す図

以下、図面を参照して、本発明の実施形態を詳細に説明する。

水平固定大径（直径１ｍ以上）管の周継手の現地片面溶接では、通常裏当てを付けて溶接するが、開先形状を保持するために、本溶接の前に仮付けビードを溶接しておくことがよく採用される。しかし、本溶接の時に仮付けビード部を通常開先部と同じに取り扱って溶接できるかどうか、仮付けビード厚さによる。仮付けビード厚さが２〜３ｍｍを超えた場合、仮付けビード部の品質を有するために、仮付けビード部を溶接するための溶接条件を別に用意しなければならない。これだけでは十分ではなく、仮付けビードの始端部と終端部の形状を更に定めておき、これらの始端部と終端部を特別な方法で溶接しなければならない。

そこで、このような開先を自動片面自動溶接する時に、次の３つの課題が生じてくる。
１．仮付けビード部の形状規制
２．仮付けビード部の検知
３．仮付けビード部の溶接

以下、これらの課題の解決方法について説明する。

１．仮付けビード部の形状規制
図２は、水平固定大径管の現地片面溶接時の仮付けビード形状に関する仕様を示すものである。ここで、使用する溶接プロセスは、ソリッドワイヤの短絡アーク溶接もしくはフラックス入りワイヤアーク溶接（溶接電流３５０Ａ以下）とする。仮付けビード部を、本仮付けビード部と、始端部と、終端部に分け、本仮付けビード部の厚さを３．５±０．５ｍｍ、長さを５０〜１５０ｍｍにする。始端部と終端部には滑らかな傾斜を設けると共に、長さを１５±２ｍｍにする。

本仮付けビード部の厚さを３．５±０．５ｍｍにした理由は次のとおりである。

本仮付けビード部の厚さが薄すぎると、溶接中に熱収縮力により仮付けビード部に亀裂が生じる恐れがある。一方、本仮付けビード部の厚さが厚すぎると、通常開先部と同じ積層数で溶接した場合、本溶接時に仮付けビード部の一層当たりのビード厚さが薄くなりすぎるため、適正な溶接条件を見出しにくくなる。

ここで、仮付けビード部の溶接条件は次のように選定する。

仮付けビード部の一層当たりに必要な溶着量は、通常開先部に比べビード厚さが薄いため少なくなる。そこで、溶接速度を早くするか、又はワイヤ突き出し長（図１参照）を短くするか、溶接電流を小さくするかを選択する。但し、溶接速度は速くなればなるほど、トーチ揺動ピッチが荒くなり、スポット溶融不良を発生しやすいため、トーチ揺動ピッチの上限は４ｍｍ程度である。

溶着量を減らすため、ワイヤ突き出し長を短くすることも可能である。特に、初層の場合はワイヤ突き出し長は一般的に長いので短くする余裕があり、その短縮量を仮付けビード部の厚さに相当した分とすることができる、但し、ワイヤ突き出し長をあまり短くしすぎると給電チップが焼損する恐れがあるため、９ｍｍ位が限界である。溶接速度とワイヤ突き出し長の変化により、仮付けビード部の一層当たりの溶着量変化を調整しきれない場合は、更に溶接電流を小さくする。但し、これも限界があり、安定な溶接アークを保つために、ワイヤ系が０．９ｍｍの場合で１１０Ａ位が下限である（選んだワイヤによって更に小さくすることができる場合もある）。

実験結果によれば、通常開先部と比べ、仮付けビード部における一層当たりのビード厚さの減少が１ｍｍ程度であれば、溶接条件の修正には大きな困難が無い。例えば管厚が１２ｍｍ程度の場合、周継手の溶接は、普通、下進溶接側では５層溶接、上進溶接側では４層溶接の計画を採用する。すると、厚さ３．５ｍｍの仮付けビード部を本溶接する時には、一層当たりのビード厚さは、通常開先部よりせいぜい１ｍｍ程度薄くなればよいので、仮付けビード部を困難なく溶接することができる。

又、仮付けビード端部に滑らかな傾斜を設ける理由は次のとおりである。

仮付けビード端部の傾斜が急であれば、通常開先部から仮付けビード部に、或いは仮付けビード部から通常開先部に切り替わった時に、溶接条件（トーチ揺動幅、ワイヤ突き出し長、溶接速度、溶接電流等）の変化も急となるので、アーク不安定を引き起こして、欠陥が発生しやすくなる。実験結果によると、溶接条件の修正は、トーチ揺動半周毎に少しずつ行うならば、トーチ揺動４周期以上、即ち８回以上に分けて行うことが望ましい。すると、通常開先部のトーチ揺動ピッチが平均で３ｍｍ程度と考えた場合、仮付けビード端部の傾斜長さは１２ｍｍ（３×４）位以上が適当となる。

したがって、本発明では、仮付けビード端部の傾斜長さを１５±２ｍｍにしている。なお、仮付けビード端部における傾斜面と水平面とがなす角度は１０〜２０度が好ましい。

仮付けビード部の高さと仮付けビード端部の傾斜長さに大きな許容変化範囲を与えたのは、現場作業を考慮した結果で、避けて通ることはできない。これをカバーするのは、適切な溶接条件選定である。

本仮付けビード部の長さを５０〜１５０ｍｍにするのは、この長さが短すぎると、仮付けビードの強度が足りなくなり、長すぎると、直線近似精度が悪くなるからである。

２．仮付けビード部の自動検知
仮付けビード部の検出方法については、特許文献１には、レーザセンサ、視覚センサとアークセンサを用いる方法が記載されているが、実用的な意味ではレーザセンサが有力である。但し、仮付けビード部を上記のような形状寸法にするため、通常グラインダを用いて溶接後の仮付けビードを修正することが必要である。工事現場の環境下でのグラインダ作業は容易なことではなく、これが原因で、仮付けビード部の開先輪郭が崩れる場合も多い。従って、せっかく精度の良いレーザセンサを使用しても、正確な仮付けビード部の形状計測ができなくなる。

そこで、本発明では、仮付けビード部の形状寸法については、仮付けビード部の両端部の通常開先形状寸法をそれぞれ測定し、これらのデータに基づいて、仮付けビード部の寸法を推定する。例えば図３に示すように、仮付けビード部の始点と終点からそれぞれ長さＬｓとＬｅ離れたところの開先幅ＷｓとＷｅ、ルートキャップＧｓとＧｅ、開先深さＤｓとＤｅをそれぞれ計測し、この２点の形状寸法及び仮付けビード部の標準ビード高さＨt0から直線補間法で仮付けビード部の開先形状寸法を推定する。

具体的には、仮付けビード部の長さＬｔの始点から長さＳだけ離れた地点における本仮付けビード部の表面幅Ｇｔと開先幅Ｗｔと深さＤｔは、次式で求められる。
Ｗｔ＝Ｗｓ＋（Ｗｅ−Ｗｓ）／Ｌ×（Ｌｓ＋Ｓ）
Ｇｔ＝Ｇst＋（Ｇet−Ｇst）／Ｌ×（Ｌｓ＋Ｓ）
Ｄｔ＝Ｄst＋（Ｄet−Ｄst）／Ｌ×（Ｌｓ＋Ｓ）
ここで、
Ｌ＝Ｌｓ＋Ｌｔ＋Ｌｅ
Ｇst＝Ｇｓ＋（Ｗｓ−Ｇｓ）／Ｄｓ×Ｈt0
Ｇet＝Ｇｅ＋（Ｗｅ−Ｇｅ）／Ｄｅ×Ｈt0
Ｄst＝Ｄｓ−Ｈt0
Ｄet＝Ｄｅ−Ｈt0

又、ＬｓとＬｅは、普通１５ｍｍ程度以上である。短くしすぎると、グラインダによる開先形状崩れの場所になる恐れがある。

又、Ｌｔは５０〜１５０ｍｍである。この長さが短すぎると、仮付けビードの強度が足りなくなり、長すぎると、直線近似精度が悪くなるおそれがある。

次に、レーザセンサによる自動計測時のスキャン方法について説明する。

計測は本溶接直前に行う。具体的には、例えば出願人が特願２００８−４３４５２で提案したように、図４に示す如く、レーザ投光器３０、レーザセンサ用フィルタ３２、及び画像撮影カメラ３６からなるレーザセンサと、視覚センサ用フィルタ３４及び前記画像撮影カメラ３６からなる視覚センサとを備え、前記画像撮影カメラ３６は、レーザセンサ用フィルタ３２と視覚センサ用フィルタ３４が交換可能に機能された単一の画像撮影カメラとされた装置を用いて行うことができる。

前記レーザ投光器３０及び溶接トーチ２２は、溶接ヘッド２０に設けた梁４０の一端（図の左端）に固定され、前記画像撮影カメラ３６を含むセンサヘッドは、前記梁４０上を溶接方向（図の右方向）に沿って前後に移動できるスライダ４２の先端（図の右端）に取り付けられている。

このスライダ４２の前後動作は、溶接トーチ２２の揺動動作と連動しており、トーチ２２が揺動中心を通過する場合には、スライダ４２が丁度一番伸びた状態で、トーチ２２が揺動端部に到達した時には、スライダ４２が一番縮んだ状態となるようにする。スライダ４２を駆動するための手段は、例えばエアシリンダ（図示省略）とすることができる。なお、モータや電磁石を使用することも可能である。

複合センシングシステムのレーザセンサと視覚センサの切換は、スライダ４２の動作に同期する。即ち、スライダ４２を一番伸ばした時には、レーザ投光器３０をすばやく照射し、カメラ３６を撮影させる。このときの複合センシングシステムはレーザセンサとして機能する。

但し、複合センシングシステムを視覚センサ或いはレーザセンサとして使用する時には、それぞれに合ったバンドパスフィルタを使用した方が望ましい。このため、９０度回転できるサイコロフィルタセット３１をカメラレンズ前に装着設置する。このフィルタセット３１の動きはスライダ動作と同期し、スライダ４２が一番延びた状態では、レーザセンサ用バンドパスフィルタ３２をカメラ３６の前に回し、スライダ４２が一番縮んだ状態では、視覚センサ用バンドパスフィルタ３４をカメラ３６の前に回しておく。サイコロフィルタセット３１を回すための手段は、例えば電磁石やモータを使用するとよい。

図において、２６は溶接条件制御装置、２８はリモコン、３０Ｓは照明用レーザスリット光、３８は画像処理装置、５２は複合センシングシステム制御装置、５４は計測モードスイッチである。

或いは、出願人が特願２００８−９０７７で提案した図５に示すような装置で計測を行うこともできる。この例では、図４の例と逆に、画像撮影カメラ３６が、溶接ヘッド２０に設けた梁４０の一端（図の右端）に取り付けられ、レーザ投光器３０及び溶接トーチ２２が、梁４０上を摺動するスライダ４２に固定されている。他の点については図４の例と同様であるので説明は省略する。

或いは、出願人が特願２００８−２６０８１５で提案した図６に示すような装置を用いて計測を行うこともできる。この例では、溶接トーチ２２、レーザ投光器３０、画像撮影カメラ３６を、全て同一の梁４０に取り付ける。こうする理由は、３者にいつも同一の動きをとらせ、相対的な移動を無くすためである。他の点については図４又は図５の例と同じであるので説明は省略する。

仮付けビード始点と終点を正確に測定するために、計測時の走行パターンは、図７で示す方法を採用する。即ち、通常計測中は高速で走行するが、一旦仮付けビード始点を検知したら、即座に低速に切り換えてバックし、仮付けビード始点を正確に計測する。始点を確認し終えると、再び高速に切り換えて走行し、仮付けビード部の終点を検知する。一旦検したら、また即座に低速に切り換えてバックし、仮付けビード部の終点を正確に計測する。

このような計測スキャン方法によれば、仮付けビード部の始点と終点位置の計測精度を維持すると共に、計測能率を大幅に向上することができる。

３．仮付けビード部の自動溶接
仮付けビード部を溶接する時には、別に用意した仮付けビード部における積層別の溶接条件（溶接電流、電圧、ワイヤ送給速度、溶接速度、トーチ揺動幅、揺動速度、トーチ揺動端部停止時間等）を用いて、該当する層を溶接する。

但し、仮付けビード部の始端部と終端部の溶接は、図８に示すように、例えば１０ステップに分けて、溶接条件を通常開先部から本仮付けビード部へ、或いは本仮付けビード部から通常開先部へ少しずつ変えて行う。

例えば、溶接電流の場合、仮付けビード端部の溶接電流は次のように求めることができる。その他の溶接パラメータも類似で求められる。
仮付けビード始端部の溶接電流 Ｉts＝Ｉｓ＋（Ｉtse−Ｉｓ）／１０×Ｎ
仮付けビード終端部の溶接電流 Ｉte＝Ｉtes＋（Ｉe−Ｉtes）／１０×Ｎ
ここで、Ｉｓは仮付けビード始点に差し掛かったところの実際溶接電流、
Ｉｅは仮付けビード終点から離れたところの実際溶接電流、
Ｉtseは本仮付けビード部に差し掛かったところの実際溶接電流、
Ｉtesは本仮付けビード部から離れたところの実際溶接電流、
Ｎはステップ番号

一方、もし開先幅が変化したら、溶接ビード品質を保つためには溶接条件の適応制御が必要で、仮付けビード部の溶接も例外ではない。図９に、レーザセンサと視覚センサをそれぞれの情報に基づく溶接制御方法の例を示す。ここで、溶接の制御は、まずレーザセンサ情報に基づきティーチングプレーバックデータで行う。制御は、主として溶接条件の適応制御である。つまり、溶接位置毎に、レーザセンサから得た開先内に仮付けビードの有無や開先幅、開先深さ及びルートギャップ等の大きさより溶接条件（溶接電流、電圧、溶接速度、トーチ揺動幅、揺動端部停止時間等）の補正量を求めて、これらを基準溶接条件に加えて、溶接をフィードフォワード制御する。

溶接トーチの開先倣いも、勿論、レーザセンサから得た開先幅とルートギャップの中心位置データに基づいて行えるが、その倣い制御の実際のずれは、更に複合センシングシステムを視覚センサとして得た情報に基づいてフィードバックで修正する。

視覚センサは、主として溶接トーチの開先倣い制御に使用する。但し、初層溶接の時に、裏当て隙間の変動やその隙間に入り込んだ溶接溶融金属量の変化等があるため、単に溶接前にレーザセンサから得たデータ情報に基づくティーチングプレイバックデータによるフィードフォワード制御だけでは、高品質な初層溶接ビードを維持するのが難しい場合もある。従って、視覚センサから得た初層溶接時の溶融池の高さに基づき、溶着量の追加的な補正量を求めて、ティーチングプレーバックデータに加え溶接制御を行う。

又、非常時には、手元のリモコン２８により手動制御も行える。例えば緊急停止とか或いは、モニタから制御のずれを発見したときには、インプロセスで手動修正を行うこともできる。

本発明により、板厚１２ｍｍ、開先角度３０度、鋼板裏当てを付けた開先を溶接した結果、フラックス入りワイヤを使用した大電流溶接にしても、或いは、ソリッドワイヤを使用した短絡アーク溶接プロセスにしても、仮付けビード部には欠陥無く健全な溶接ができた。又、ルートギャップが４〜１２ｍｍ変動しても、均一な溶接ビードが得られることを確認できた。

本発明は、例えば水平固定大径管の周継手の現地片面溶接に適用できる。

１０…被溶接物
１２…仮付けビード
２０…溶接ヘッド
２２…溶接トーチ
２４…溶接ワイヤ
２５…溶接アーク
２６…溶接条件制御装置
３０…レーザ投光器
３０Ｓ…照明用レーザスリット光
３２…レーザセンサ用フィルタ
３４…視覚センサ用フィルタ
３６…画像撮影カメラ
３８…画像処理装置
４０…梁
４２…スライダ
５２…複合センシングシステム制御装置
５４…計測モードスイッチ

Claims (4)

1. 開先を、仮付けビードの無い通常開先部と仮付けビード部の２領域に分け、それぞれに対応した各積層ビードの標準溶接条件を用意しておき、
   溶接の際に、これらの溶接条件を呼び出して再生し、
   一方、仮付けビード部の始端部と終端部の溶接においては、通常開先部と仮付けビード部に対応した溶接条件より線形補間方法に基づき溶接条件を求めて実施し、
   溶接中は、現在の開先幅を標準開先幅に比較して、その変化量に応じて標準溶接条件から実際にあるべき溶接条件を算出して溶接することを特徴とする仮付けビード部の自動溶接方法。
2. 前記仮付けビード部を、本仮付けビード部、始端部及び終端部に分け、
   本仮付けビード部の厚さを３．５±０．５ｍｍ、長さを５０〜１５０ｍｍとし、
   始端部と終端部には滑らかな傾斜を設けると共に、長さを１５±２ｍｍとすることを特徴とする請求項１に記載の仮付けビード部の自動溶接方法。
3. 前記仮付けビード部の始点と終点から、それぞれ長さＬｓとＬｅ離れたところの開先幅ＷｓとＷｅ、ルートギャップＧｓとＧｅ、開先深さＤｓとＤｅをそれぞれ測定し、
   この２点の形状寸法及び仮付けビード部の標準ビード高さＨt0から、直線補間法により、次式を用いて、仮付けビード部の長さＬｔの始点から長さＳだけ離れた地点における本仮付けビード部の表面幅Ｇｔと開先幅Ｗｔと深さＤｔを求めることを特徴とする請求項１に記載の仮付けビード部の自動溶接方法。
   Ｗｔ＝Ｗｓ＋（Ｗｅ−Ｗｓ）／Ｌ×（Ｌｓ＋Ｓ）
   Ｇｔ＝Ｇst＋（Ｇet−Ｇst）／Ｌ×（Ｌｓ＋Ｓ）
   Ｄｔ＝Ｄst＋（Ｄet−Ｄst）／Ｌ×（Ｌｓ＋Ｓ）
   ここで、
   Ｌ＝Ｌｓ＋Ｌｔ＋Ｌｅ
   Ｇst＝Ｇｓ＋（Ｗｓ−Ｇｓ）／Ｄｓ×Ｈt0
   Ｇet＝Ｇｅ＋（Ｗｅ−Ｇｅ）／Ｄｅ×Ｈt0
   Ｄst＝Ｄｓ−Ｈt0
   Ｄet＝Ｄｅ−Ｈt0
4. 前記仮付けビード部の始点と終点を測定するに際して、
   仮付けビード部の始点を検知する迄は、通常の走行速度で測定し、
   仮付けビード部の始点を検知したら、通常の走行速度より遅い走行速度でバックして、仮付けビード部の始点を測定し、
   仮付けビード部の始点を測定したら、再び反転して通常の走行速度で測定し、
   仮付けビード部の終点を検知したら、通常の走行速度より遅い走行速度でバックして、仮付けビード部の終点を測定することを特徴とする請求項３に記載の仮付けビード部の自動溶接方法。

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