JP2010145161A - 形状測定装置 - Google Patents
形状測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010145161A JP2010145161A JP2008320808A JP2008320808A JP2010145161A JP 2010145161 A JP2010145161 A JP 2010145161A JP 2008320808 A JP2008320808 A JP 2008320808A JP 2008320808 A JP2008320808 A JP 2008320808A JP 2010145161 A JP2010145161 A JP 2010145161A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical path
- measured
- shape measuring
- wedge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】被測定物14の膜下の表面にピントが合う位置において、参照光L1と測定光L2の2系統の光路差が0となるように、図3に示すように、アクチュエータ16を駆動して、楔状部材12bを光軸直交方向に移動させる。これにより、図3に示すように、楔状部材12a、12bの重合部の厚さが変化(Δ)するので、かかる重合部を通過する測定光L2の距離が変化し、これにより測定光L2の光路長を変えることができる。
【選択図】図3
Description
光源と、
前記光源からの光束を集光する対物レンズと、
前記対物レンズから出射された光束を、被測定物に向かう測定光と、参照光とに分岐する分岐手段と、
前記被測定物から反射した測定光と、前記参照光とを合成して出射する合成手段と、
前記合成手段で合成された前記測定光と前記参照光を観察する観察手段と、
前記測定光の光路長を調整する調整手段と、を有することを特徴とする。
11…第1ハーフミラー
12…第2ハーフミラー
12a…楔状部材
12b…楔状部材
13…被測定物保護膜
14…被測定物
15…鏡筒
16…アクチュエータ
20…検査光光源
21…照明光学系
22…CCDセンサ
23…集光レンズ
24…ビームスプリッタ
25…演算部
Claims (6)
- 光源と、
前記光源からの光束を集光する対物レンズと、
前記対物レンズから出射された光束を、被測定物に向かう測定光と、参照光とに分岐する分岐手段と、
前記被測定物から反射した測定光と、前記参照光とを合成して出射する合成手段と、
前記合成手段で合成された前記測定光と前記参照光を観察する観察手段と、
前記測定光の光路長を調整する調整手段と、を有することを特徴とする形状測定装置。 - 前記対物レンズと前記被測定物との間には、一部の光束を透過し残りの光束を反射する2枚のハーフミラーが配置されており、前記被測定物に近い側のハーフミラーが前記分岐手段を構成し、前記対物レンズに近い側のハーフミラーが前記合成手段を構成することを特徴とする請求項1に記載の形状測定装置。
- 前記調整手段は、相対的に変位可能な2つの楔状板材を組み合わせてなる前記ハーフミラーの少なくとも一方を含み、前記測定光は、前記2つの楔状部材の重合部を通過するようになっており、前記楔状部材の少なくとも一方を他方に対して変位させることにより、前記測定光の光路長を調整することを特徴とする請求項2に記載の形状測定装置。
- 前記楔状部材の少なくとも一方を駆動するアクチュエータを有することを特徴とする請求項3に記載の形状測定装置。
- 前記調整手段は、板厚又は材質の異なるハーフミラーを含み、特定の板厚又は材質を有するハーフミラーに交換することにより、前記測定光の光路長を調整することを特徴とする請求項2に記載の形状測定装置。
- 前記観察手段は、前記合成光を撮像する撮像素子と、前記撮像素子からの信号を演算する演算装置とを有することを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の形状測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008320808A JP5233643B2 (ja) | 2008-12-17 | 2008-12-17 | 形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008320808A JP5233643B2 (ja) | 2008-12-17 | 2008-12-17 | 形状測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010145161A true JP2010145161A (ja) | 2010-07-01 |
JP5233643B2 JP5233643B2 (ja) | 2013-07-10 |
Family
ID=42565760
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008320808A Expired - Fee Related JP5233643B2 (ja) | 2008-12-17 | 2008-12-17 | 形状測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5233643B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108759698A (zh) * | 2018-08-02 | 2018-11-06 | 淮阴师范学院 | 多镜面透镜组镜面间距的低相干光干涉测量方法和装置 |
WO2024057455A1 (ja) * | 2022-09-14 | 2024-03-21 | 株式会社日立ハイテク | 光学装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000337836A (ja) * | 1999-05-31 | 2000-12-08 | Fuji Photo Optical Co Ltd | 多波長干渉縞による形状測定方法 |
JP2001004336A (ja) * | 1999-06-21 | 2001-01-12 | Nikon Corp | 斜入射干渉計 |
JP2004361218A (ja) * | 2003-06-04 | 2004-12-24 | Toray Eng Co Ltd | 表面形状および/または膜厚測定方法及びその装置 |
JP2005274236A (ja) * | 2004-03-23 | 2005-10-06 | Fujinon Corp | パスマッチ経路型干渉計装置 |
JP2008196901A (ja) * | 2007-02-09 | 2008-08-28 | Fujinon Corp | 光波干渉測定装置 |
JP2008286630A (ja) * | 2007-05-17 | 2008-11-27 | Toray Eng Co Ltd | 透明膜の屈折率測定方法およびその装置並びに透明膜の膜厚測定方法およびその装置 |
-
2008
- 2008-12-17 JP JP2008320808A patent/JP5233643B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000337836A (ja) * | 1999-05-31 | 2000-12-08 | Fuji Photo Optical Co Ltd | 多波長干渉縞による形状測定方法 |
JP2001004336A (ja) * | 1999-06-21 | 2001-01-12 | Nikon Corp | 斜入射干渉計 |
JP2004361218A (ja) * | 2003-06-04 | 2004-12-24 | Toray Eng Co Ltd | 表面形状および/または膜厚測定方法及びその装置 |
JP2005274236A (ja) * | 2004-03-23 | 2005-10-06 | Fujinon Corp | パスマッチ経路型干渉計装置 |
JP2008196901A (ja) * | 2007-02-09 | 2008-08-28 | Fujinon Corp | 光波干渉測定装置 |
JP2008286630A (ja) * | 2007-05-17 | 2008-11-27 | Toray Eng Co Ltd | 透明膜の屈折率測定方法およびその装置並びに透明膜の膜厚測定方法およびその装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108759698A (zh) * | 2018-08-02 | 2018-11-06 | 淮阴师范学院 | 多镜面透镜组镜面间距的低相干光干涉测量方法和装置 |
WO2024057455A1 (ja) * | 2022-09-14 | 2024-03-21 | 株式会社日立ハイテク | 光学装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5233643B2 (ja) | 2013-07-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6992779B2 (en) | Interferometer apparatus for both low and high coherence measurement and method thereof | |
JP6044315B2 (ja) | 変位計測方法および変位計測装置 | |
JP5172040B2 (ja) | 表面形状測定方法及び表面形状測定装置 | |
JP5168168B2 (ja) | 屈折率測定装置 | |
WO2013084557A1 (ja) | 形状測定装置 | |
KR20120044064A (ko) | 광학 측정 장치 | |
EP1840502B1 (en) | Optical interferometer for measuring changes in thickness | |
JP5648961B2 (ja) | 分光特性測定装置及びその校正方法 | |
KR102285818B1 (ko) | 실시간으로 자동 초점이 가능한, 측정 대상물의 입체형상을 측정하는 입체형상 측정장치 | |
US20070146724A1 (en) | Vibration-resistant interferometer apparatus | |
JP6512673B2 (ja) | 偏心測定装置及び偏心測定方法 | |
JP2009162539A (ja) | 光波干渉測定装置 | |
JP2022540988A (ja) | オンチップウェーハアライメントセンサ | |
Ruprecht et al. | Confocal micro-optical distance sensor: principle and design | |
JP2010237183A (ja) | 低コヒーレンス干渉計及び光学顕微鏡 | |
JP5756733B2 (ja) | 干渉式膜厚計 | |
JP2001091223A (ja) | 面間隔測定方法及び装置 | |
JP5233643B2 (ja) | 形状測定装置 | |
JP2007093288A (ja) | 光計測装置及び光計測方法 | |
JP2009198205A (ja) | 干渉計 | |
JP4810693B2 (ja) | 光波干渉測定装置 | |
JP2013036848A (ja) | 高さ計測装置及び方法 | |
JP2005274236A (ja) | パスマッチ経路型干渉計装置 | |
JP2009300267A (ja) | 形状測定装置 | |
JP4634884B2 (ja) | 表面性状測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110901 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121212 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121219 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130206 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130226 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130311 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5233643 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160405 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |