JP2010133866A - サンプリング波形測定装置および信号品質モニタ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、サンプリング波形の時間軸信号を与えるビット同期回路が、入力信号のビット周波数とサンプリング周波数又はサンプリング周波数の整数倍の周波数との間のビート周波数のサンプリング周波数に対する比を検出し、検出したビート周波数のサンプリング周波数に対する比から時間軸信号を決定し、時間軸信号として出力することを特徴とするサンプリング波形測定装置である。
【選択図】図7
Description
Mathias Westlund, Henrik Sunnerud, Magnus Karlson, and Peter A. Andrekson, "Software Synchronized All−Optical Sampling for Fiber Communication Systems", IEEE Journal of Lightwave Technology, vol.23, no.3, pp.1088−1099, March 2005
本発明に係るサンプリング波形測定装置は、少ない演算量で離散スペクトルのデータ間隔よりも高い分解能でビート周波数を検出することができる。
入力信号のビット周波数成分のレベルがビット周波数の整数倍の周波数成分のレベルより大きい場合、本発明に係るサンプリング波形測定装置は、容易に基本波ビート周波数を推定することができる。
本発明に係るサンプリング波形測定装置は、入力信号のビット周波数成分のレベルがビット周波数の整数倍の周波数成分のレベルより小さい、又は近い場合においても、確実に基本波ビート周波数を推定することができる。
本発明に係るサンプリング波形測定装置は、NRZ符号の信号に対しても精度よくビート周波数を検出することができる。
本発明に係るサンプリング波形測定装置は、時間軸方向の変動の少ないアイ波形を得ることができる。
本発明に係るサンプリング波形測定装置は、アイ波形の欠落を防止することができる。
本発明に係るサンプリング波形測定装置は、入力信号が光入力信号であり、サンプリングパルスが電気サンプリングパルスであっても、サンプリング波形を得ることができる。
本発明に係るサンプリング波形測定装置は、入力信号が光入力信号であり、サンプリングパルスが光サンプリングパルスであっても、サンプリング波形を得ることができる。
本発明に係るサンプリング波形測定装置は、入力信号が電気入力信号であり、サンプリングパルスが光サンプリングパルスであっても、サンプリング波形を得ることができる。
本発明に係るサンプリング波形測定装置は、簡易に光サンプリングパルスを得ることができる。
本発明に係るサンプリング波形測定装置は、アイ波形を観測することができる。
Q=(μh−μl)/(σh+σl)
本発明に係るサンプリング波形測定装置は、入力信号のビット周波数が不明で、また、サンプリング周波数が不明であっても、簡易にQ値を得ることができる。
101 サンプリングゲート
103、603 A−D変換回路
104 アイ波形表示回路
105 サンプリングパルス発生回路
110、210 ビット同期回路
112 離散フーリエ変換回路
114、214 補間回路
115 ビット周波数検出回路
131 波形欠落検出回路
120、620 時間軸決定回路
201、601 光サンプリングゲート
202、602 受光器
205、605 光サンプリングパルス発生回路
211 非線形回路
213 ビート周波数概略値検出回路
216 位相検波回路
604 アイ波形表示部
606 周波数シンセサイザ
607 サンプリング周波数算出部
611 2乗検波回路
612 離散フーリエ変換器
613 ローパスフィルタ
614 最大値検出回路
615 Δt変更回路
616 振幅スライス回路
617 ヒストグラム
618 2乗和回路
619 最大値検出回路
Claims (14)
- 一定のサンプリング周波数のサンプリングパルスを発生するサンプリングパルス発生回路と、
入力信号が入力され、前記サンプリングパルス発生回路からのサンプリングパルスが入力された時に前記入力信号をサンプリングするサンプリングゲート回路と、
前記サンプリングゲート回路からのサンプリングされた入力信号をディジタル変換して振幅軸信号として出力するアナログ−ディジタル変換回路(以後、「アナログ−ディジタル変換回路」を「A−D変換回路」と略記する。)と、
前記A−D変換回路からのディジタル変換された入力信号を用いて前記入力信号のビット周波数と同期をとった時間軸信号を出力するビット同期回路と、を備え、
前記ビット同期回路は、前記A−D変換回路からのディジタル変換された入力信号を離散フーリエ変換して離散スペクトルを算出し、前記離散スペクトルのデータ間を補間した後、前記入力信号のビット周波数と前記サンプリング周波数又は前記サンプリング周波数の整数倍の周波数との間のビート周波数(以後、「前記入力信号のビット周波数と前記サンプリング周波数又は前記サンプリング周波数の整数倍の周波数との間のビート周波数」を「基本波ビート周波数」と略記する。)の前記サンプリング周波数に対する比を検出し、検出した前記基本波ビート周波数の前記サンプリング周波数に対する比から時間軸信号を決定し、前記時間軸信号として出力することを特徴とするサンプリング波形測定装置。 - 前記ビット同期回路が、前記離散スペクトルから前記基本波ビート周波数の前記サンプリング周波数に対する比の概略値を算出し、算出した概略値を用いて前記離散スペクトルのデータ間を補間することを特徴とする請求項1に記載のサンプリング波形測定装置。
- 前記ビット同期回路が、前記離散スペクトルが最大となる最大周波数の前記サンプリング周波数に対する比を前記基本波ビート周波数の前記サンプリング周波数に対する比の概略値とすることを特徴とする請求項2に記載のサンプリング波形測定装置。
- 前記ビット同期回路が、前記離散スペクトルが極大となる極大周波数の前記サンプリング周波数に対する比を複数検出し、前記極大周波数の前記サンプリング周波数に対する比のいずれかが前記基本波ビート周波数の前記サンプリング周波数に対する比であると仮定し、前記ビット周波数の整数倍の周波数と前記サンプリング周波数又は前記サンプリング周波数の整数倍の周波数との間のビート周波数(以後、「前記ビット周波数の整数倍の周波数と前記サンプリング周波数又は前記サンプリング周波数の整数倍の周波数との間のビート周波数」を「高調波ビート周波数」と略記する。)の前記サンプリング周波数に対する比と前記極大周波数の前記サンプリング周波数に対する比との誤差を計算し、前記誤差が最も小さくなる場合に仮定した極大周波数の前記サンプリング周波数に対する比を前記基本波ビート周波数の前記サンプリング周波数に対する比とする請求項2に記載のサンプリング波形測定装置。
- 前記ビット同期回路が、前記A−D変換回路からのディジタル変換された入力信号を非線形関数に入力し、前記非線形関数の出力を離散フーリエ変換することを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載のサンプリング波形測定装置。
- 前記ビット同期回路が、前記基本波ビート周波数の信号成分の位相を検出し、検出した前記位相を用いて前記入力信号の特定の位置が特定の時間軸値となるように前記時間軸信号を決定することを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載のサンプリング波形測定装置。
- 一定の時間軸値範囲内に前記時間軸信号が発生しない場合に、前記サンプリングパルス発生回路が、前記サンプリング周波数を変更することを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載のサンプリング波形測定装置。
- 前記入力信号が光入力信号であり、
前記サンプリングパルス発生回路が、発生するサンプリングパルスが電気サンプリングパルスであり、
前記サンプリングゲート回路が、前記サンプリングパルス発生回路からの電気サンプリングパルスが入力された時に前記光入力信号をサンプリングする光変調器と、
前記光変調器の出力するサンプリングされた光信号を電気信号に変換してサンプリングされた入力信号として出力する受光器と、を備えることを特徴とする請求項1から7のいずれかに記載のサンプリング波形測定装置。 - 前記入力信号が光入力信号であり、
前記サンプリングパルス発生回路が、発生するサンプリングパルスが光サンプリングパルスであり、
前記サンプリングゲート回路が、前記サンプリングパルス発生回路からの光サンプリングパルスが入力された時に前記光入力信号をサンプリングする光サンプリングゲートと、
前記光サンプリングゲートの出力するサンプリングされた光信号を電気信号に変換してサンプリングされた入力信号として出力する受光器と、を備えることを特徴とする請求項1から7のいずれかに記載のサンプリング波形測定装置。 - 前記入力信号が電気入力信号であり、
前記サンプリングパルス発生回路が、発生するサンプリングパルスが光サンプリングパルスであり、
前記サンプリングゲート回路が、前記サンプリングパルス発生回路からの光サンプリングパルスが入力された時に前記電気入力信号をサンプリングするEOサンプリングゲート、を備えることを特徴とする請求項1から7のいずれかに記載のサンプリング波形測定装置。 - 前記サンプリングパルス発生回路が、パッシブモード同期ファイバレーザであることを特徴とする請求項9又は10に記載のサンプリング波形測定装置。
- 前記A−D変換回路からの振幅軸信号及び前記ビット同期回路からの時間軸信号を受けて前記入力信号のアイ波形を表示するアイ波形表示回路をさらに備えることを特徴とする請求項1から11のいずれかに記載のサンプリング波形測定装置。
- 請求項1から12のいずれかに記載のサンプリング波形測定装置と、
前記A−D変換回路からの振幅軸信号及び前記ビット同期回路からの時間軸信号で生成されるアイ波形から前記入力信号の信号品質を表す値を算出する信号品質算出回路と、を備えることを特徴とする信号品質モニタ。 - 前記信号品質算出回路が、前記アイ波形の所定の時間軸値範囲内におけるハイレベルの平均値μh及び標準偏差σh並びにローレベルの平均値μl及び標準偏差σlを求め、次式により得られるQ値を信号品質として算出することを特徴とする請求項13に記載の信号品質モニタ。
Q=(μh−μl)/(σh+σl)
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JP2010133866A true JP2010133866A (ja) | 2010-06-17 |
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