JP2010131223A - 画像処理装置及び画像処理方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】X線画像撮像システム10は、FPD14やプロセッサ装置15を備える。プロセッサ装置15は、CPU21,残像除去部37、補正係数テーブル43、補間部27を備える。CPU21は、FPD14で得た撮影画像を取得する。残像除去部37は、FPD14に残留する前回の撮影時の残像の経時的な減衰状況を表す減衰カーブに基づいて、前回の撮影時点から今回の撮影時点までの経過時間に応じた残像の減衰を算出して、撮影画像から残像を除去する。補正係数テーブル43は、減衰カーブの変動要因となるパラメータに対応する複数の補正係数が予め格納する。補間部27は、今回の撮影時点におけるパラメータに対応する補正係数が補正係数テーブル43にない場合に、補正係数テーブル43に格納されている補正係数に基づいて、撮影時点のパラメータに対応する補正係数を補間により算出する。
【選択図】図2
Description
図1に示すように、X線画像撮影システム(放射線画像撮影システム)10は、被写体HにX線を曝射して、被写体Hの体内の様子を撮影するシステムであり、X線源11、X線撮影装置12、プロセッサ装置15等から構成される。また、X線撮影装置12は、X線撮影台13、FPD14等から構成される。
X線画像撮影システム10では、様々な様態の被写体Hを、これに応じた様々な条件下で撮影することになる。このため、撮影時のパラメータが、補正係数テーブル43の補正係数の条件(蓄積時間及びFPD温度)に合致することは稀であり、多くの場合、補間部27が補正係数を補間により算出することになる。撮影毎に補正係数を算出するとなると、プロセッサ装置15に比較的高いマシンパワーが要求される。これを軽減するX線画像撮影システムの例を、以下に、第2実施形態として説明する。なお、第1実施形態と同じものには、X線画像撮影システム10と同様の符号を付し、説明を省略する。
11 X線源
12 X線撮影装置
13 X線撮影台
14 FPD(撮像手段)
15 プロセッサ装置(画像処理装置)
16 操作部
17 モニタ
21 CPU
22 X線源コントローラ
24 DSP
26 ノイズ除去部
27,73 補間部(減衰カーブ補正手段)
28 ストレージ
31 位置センサ
32 温度センサ
36 オフセット除去部
37 残像除去部(残像除去手段,減衰算出手段)
41 オフセット画像
43 補正係数テーブル
56,66 データ列
61a〜61b,81 第1画像
62a〜62c 第2画像
72 閾値
Claims (11)
- 撮像手段で得た撮影画像を取得する画像取得手段と、
前記撮像手段に残留する前回の撮影時の残像を、前記撮影画像から除去する残像除去手段と、
前記残像の経時的な減衰状況を表す減衰カーブに基づいて、前回の撮影時点から今回の撮影時点までの経過時間に応じた前記残像の減衰を算出する減衰算出手段と、
前記減衰算出手段により参照され、前記減衰カーブの変動要因となるパラメータに対応する複数の補正係数が予め格納された補正係数テーブルと、
今回の撮影時点におけるパラメータに対応する前記補正係数が前記補正係数テーブルにない場合に、前記補正係数テーブルに格納されている補正係数に基づいて、前記パラメータに対応する補正係数を補間する補間手段と、
を備え、
前記減衰率算出手段は、今回の撮影時点におけるパラメータに対応する前記補正係数が前記補正係数テーブルにない場合に、前記補間手段により算出された前記補正係数を用いて、前記残像の減衰を算出することを特徴とする画像処理装置。 - 前記補正係数テーブルには、第1及び第2の2種類のパラメータが含まれており、前記補間手段は、第1及び第2の2種類のパラメータに基づいて補間することを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
- 前記補間手段は、前記第1及び第2のパラメータによって補間する場合に、前記第1のパラメータの値を固定し、前記第2のパラメータを変化させたときの複数の補正係数からなるデータ列を求め、前記データ列の中から第2のパラメータの値に対応する補正係数を求める一次元補間を行うことを特徴とする請求項2記載の画像処理装置。
- 前記補間手段は、前記第1及び第2のパラメータによって補間する場合に、前記第1及び第2のパラメータの周辺のパラメータに対応する複数の補正係数から、二次元補間を行うことを特徴とする請求項2記載の画像処理装置。
- 前記補間手段は、補間によって求めた前記補正係数を前記補正係数テーブルに追加登録することを特徴とする請求項1ないし4いずれかに記載の画像処理装置。
- 前記パラメータは、環境条件又は撮影条件のうち少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項1ないし5いずれかに記載の画像処理装置。
- 前記環境条件は、前記撮像素子の温度を含むことを特徴とする請求項6記載の画像処理装置。
- 前記撮影条件は、前記撮像手段の蓄積時間を含むことを特徴とする請求項6又は7記載の画像処理装置。
- 前記補間手段は、今回の撮影時点における撮像手段の温度に対応する補正係数が前記補正係数テーブルにない場合において、前回と今回の撮影時点における前記撮像手段の温度の変動量を予め定められた閾値と比較し、前記変動量が前記閾値よりも大きいときに、補間によって今回の撮像手段の温度に対応する補正係数を求め、前記変動量が前記閾値以下の場合には、前回の補正係数を流用することを特徴とする請求項7または8記載の画像処理装置。
- 前記撮像手段は、放射線を直接電荷に変換する光導電膜を有する直接変換型のフラットパネルディテクタであることを特徴とする請求項1ないし9いずれかに記載の画像処理装置。
- 撮像手段で得た撮影画像から前回の撮影時の残像を除去する画像処理方法であって、
残像の経時的な減衰状況を表す減衰カーブの変動要因となるパラメータに応じた複数の補正係数が予め格納された補正テーブルを参照して、撮影時点におけるパラメータに対応する前記補正係数が前記補正係数テーブルにない場合に、前記補正係数テーブルに格納されている補正係数に基づいて、前記パラメータに対応する補正係数を補間する補間ステップと、
補間ステップで得た前記補正係数を適用した前記減衰カーブに基づいて、前回の撮影時点から今回の撮影時点までの経過時間に応じた前記残像の減衰を算出する減衰算出ステップと、
算出した減衰に応じた前記残像を前記撮影画像から除去する残像除去ステップと、
を含むことを特徴とする画像処理方法。
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