JP2010123649A - 積層デバイス - Google Patents

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Masatoshi Maeda
正俊 前田
Akio Hirasawa
明雄 平澤
Tetsuo Shimamura
徹郎 島村
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Abstract

【課題】従来の積層デバイスでは、焼成時の収縮により周波数特性のバラツキが大きかった。
【解決手段】本発明の積層デバイスは、第1共振器61は、第1容量電極層21と、この第1容量電極層21に接続されると共に誘電体シート層に対し略垂直に設けられた第1ビア状インダクタ導体31を備え、第2共振器62は、第2容量電極層22と、この第2容量電極層22に接続され、誘電体シート層に対し略垂直に設けられた第2ビア状インダクタ導体32とこれに接続され、誘電体シート層に略平行に配置されたインダクタパターン33とを備え、第2ビア状インダクタ導体32の両端部は、第1ビア状インダクタ導体31よりも積層方向に対して絶縁体51の内側に入っているもので、小型化と共に周波数特性のバラツキを抑制できる。
【選択図】図1

Description

本発明は通信機器等に使用される複数の誘電体シート層を積層して構成された積層デバイスに関するものである。
従来からセラミクスを積層した絶縁体に複数の共振器を内蔵した積層デバイスが種々提案されている。
以下、従来の積層デバイスについて図4を用いて説明する。図4は従来の積層デバイスの分解斜視図である。
図4において、誘電体シート層1を積層して絶縁体が構成される。絶縁体の内部又は表面において誘電体シート層1に対して略平行に配置されたグランド電極11と、絶縁体の側面に配置された側面グランド電極13と、絶縁体に形成された複数の共振器を有する積層デバイスである。
そして、複数の共振器のうち第1共振器は、誘電体シート層に略平行に配置された第1容量電極層21と、一方の端が第1容量電極層21に接続されると共に誘電体シート層に対し略垂直に設けられた第1ビア状インダクタ導体31を備えた構成である。
また、第2共振器は、誘電体シート層に略平行に配置された第2容量電極層22と、一方が第2容量電極層22に接続されると共に誘電体シート層に対し略垂直に設けられた第2ビア状インダクタ導体32とを備えている。ここで第1ビア状インダクタ導体31、第2ビア状インダクタ導体32の磁界結合の結合係数の値の組み合わせを適当にすることで所望の特性を得ることができる。
なお、この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、例えば特許文献1が知られている。
特開平09−238040号公報
しかしながら、セラミクスを用いた積層体では、焼結時の収縮により特性のバラツキが生じるという問題が生じる。特にデバイスを小型化すると、その影響が大きくなってくる。
これに対し本発明は、焼結時の収縮によるビア導体の相対位置のズレを抑制し、小型化しても特性のバラツキの少ない積層デバイスを得ることを目的とする。
上記課題を解決するために本発明は、複数の誘電体シート層を積層して構成された絶縁体と、絶縁体の内部又は表面において誘電体シート層に対して略平行に配置されたグランド電極と、絶縁体の側面に配置された側面グランド電極と、絶縁体に形成された複数の共振器を有する積層デバイスであって、共振器のうち第1共振器は、誘電体シート層に略平行に配置された第1容量電極層と、一方の端が第1容量電極層に接続されると共に誘電体シート層に対し略垂直に設けられた第1ビア状インダクタ導体を備えた構成であり、共振器のうち第2共振器は、誘電体シート層に略平行に配置された第2容量電極層と、一方の端が第2容量電極層に接続され、誘電体シート層に対し略垂直に設けられた第2ビア状インダクタ導体と、第2ビア状インダクタ導体の他方の端に接続されると共に誘電体シート層に略平行に配置されたインダクタパターンとを備えた構成であり、第1ビア状インダクタ導体と第2ビア状インダクタ導体とはそれぞれ互いに磁界結合する位置に並行配置されたものであり、第2ビア状インダクタ導体の両端部は、第1ビア状インダクタ導体よりも積層方向に対して絶縁体の内側に入るようにしたものである。
本発明によると、ビア状インダクタ導体の延伸方向に対するバラツキによる相互インダクタンスのバラツキを抑制し、結果として特性のバラツキを低減できるという効果が得られる。
(実施の形態1)
以下、実施の形態1の積層デバイスについて図1および図2を用いて説明する。図1は、実施の形態1の積層デバイスの分解斜視図である。また図2は実施の形態1の積層デバイスの断面模式図である。
実施の形態1の積層デバイスは、低温焼結セラミック材料からなる複数の誘電体シート層1、2、3、4を積層して構成された絶縁体51と、絶縁体51の内部又は表面において誘電体シート層に対して略平行に配置されたグランド電極11、12と、絶縁体51の向かい合う側面に配置された側面グランド電極13、14と、絶縁体51に形成された複数の共振器61、62を有する。
そして、複数の共振器のうち1つの第1共振器61は、誘電体シート層に略平行に配置され、グランド電極12と約0.012mm離れて対向する第1容量電極層21と、一方の端が前記第1容量電極層21に接続されると共に誘電体シート層に対し略垂直に設けられた第1ビア状インダクタ導体31を備えた構成であり、第1ビア状インダクタ導体31の直径を約0.08mm、長さを約0.36mmとしている。ここで第1容量電極層21と入力端子41を接続することにより、信号ラインから第1ビア状インダクタ導体31を通じてグランド電極11に、さらにこれと並列に第1容量電極層21とグランド電極12の間に静電容量が形成されるため、LC並列共振回路となり、第1共振器61を構成する。
また、複数の共振器のうち他の1つの第2共振器62は、誘電体シート層に略平行に配置され、グランド電極11と約0.012mm離れて対向する第2容量電極層22と、一方が前記第2容量電極層22に接続されると共に誘電体シート層に対し略垂直に設けられた長さ約0.18mmの第2ビア状インダクタ導体32と、第2ビア状インダクタ導体32の他方に接続されると共に誘電体シート層に対し略平行に設けられたインダクタパターン33を備え、インダクタパターンの他方を側面グランド電極13に接続した構成である。このようにすることにより、第1共振器61と同様にLC並列共振回路を構成する。ここで絶縁体51の内部に形成される電極の厚みを約0.01mmとしている。
ここで、第1ビア状インダクタ導体31と第2ビア状インダクタ導体32は、間隔約0.43mmの位置で並行配置されているため、この間で磁界結合が発生し、第1共振器61と第2共振器62が結合し、バンドパスフィルタを構成することができる。このとき第1ビア状インダクタ導体31と第2ビア状インダクタ導体32との相対位置がずれると、この間の相互インダクタンスの値にバラツキが生じ、結果として周波数特性のバラツキにつながる。このような構成をとる場合、通常絶縁体51として低温焼結セラミック、電極材料として銀を用いるが、これらの間で焼結時の収縮率が異なるため、第1ビア状インダクタ導体31と第2ビア状インダクタ導体32との相対位置にズレが生じやすくなる。
これに対して本実施の形態1では、第2共振器62のインダクタンス部分を第2ビア状インダクタ導体32とインダクタパターン33に分けているため、第2ビア状インダクタ導体32の長さを第1ビア状インダクタ導体31よりも短くすることができ、また第2容量電極層22と第1容量電極層21の向き合うグランド電極を、反対側としているため、第2ビア状インダクタ導体32の上端部は、第1ビア状インダクタ導体31の上端部よりも、第2容量電極層22とグランド電極11との間隔及び第2容量電極層22の厚さ分だけ下側(内側)になる。
以上のように第2ビア状インダクタ導体32の両端部を、第1ビア状インダクタ導体31よりも積層方向に対して絶縁体51の内側になるようにしている。これにより焼結時の収縮により積層方向に対してズレが生じたとしても、相互インダクタンスが変わることがないため、周波数特性のバラツキを低減させることができる。
また、第1ビア状インダクタ導体31と第2ビア状インダクタ導体32との距離は第1ビア状インダクタ導体31の長さの1.5倍よりも短くなっている。このように第1ビア状インダクタ導体31と第2ビア状インダクタ導体32との距離が短くなってくると、相互インダクタンスの値も大きくなってくるため、所望の周波数特性を得ることが難しくなる。これに対し本実施の形態のように、第2共振器62のインダクタンス部分を第2ビア状インダクタ導体32とインダクタパターン33に分けることにより、相互インダクタンスを調整することができ、所望の周波数特性を得やすくなると共に、小型化によりますます周波数特性のバラツキが大きくなることに対しても、その影響度を小さくすることができる。
なお、本実施の形態では共振器が2個となっているが、それ以上であってもよく、例えば3個の共振器を有する場合、図3のように、第2共振器62と第3共振器63の関係を、第1共振器61と第2共振器62の関係と同様にすることにより、小型で周波数特性のバラツキの少ない積層デバイスを得ることができる。
本発明の積層デバイスは、小型化が可能で、周波数特性のバラツキを低減させることができ、フィルタ等の高周波デバイスに広く適用することができる。
本発明の実施の形態1の積層デバイスの分解斜視図 本発明の実施の形態1の積層デバイスの断面模式図 本発明の別の実施の形態の積層デバイスの断面模式図 従来の積層デバイスの分解斜視図
符号の説明
1、2、3、4 誘電体シート層
11、12 グランド電極
13、14 側面グランド電極
21 第1容量電極層
22 第2容量電極層
31 第1ビア状インダクタ導体
32 第2ビア状インダクタ導体
33 インダクタパターン
41、42 入出力端子
51 絶縁体
61 第1共振器
62 第2共振器

Claims (2)

  1. 複数の誘電体シート層を積層して構成された絶縁体と、前記絶縁体の内部又は表面において前記誘電体シート層に対して略平行に配置されたグランド電極層と、前記絶縁体に形成された複数の共振器を有する積層デバイスであって、前記共振器のうち第1共振器は、前記誘電体シート層に略平行に配置された第1容量電極層と、一方の端が前記第1容量電極層に接続されると共に前記誘電体シート層に対し略垂直に設けられた第1ビア状インダクタ導体を備えた構成であり、前記共振器のうち第2共振器は、前記誘電体シート層に略平行に配置された第2容量電極層と、一方の端が前記第2容量電極層に接続され、前記誘電体シート層に対し略垂直に設けられた第2ビア状インダクタ導体と、前記第2ビア状インダクタ導体の他方の端に接続されると共に前記誘電体シート層に略平行に配置されたインダクタパターンとを備えた構成であり、前記第1ビア状インダクタ導体と前記第2ビア状インダクタ導体とはそれぞれ互いに磁界結合する位置に並行配置されたものであり、前記第2ビア状インダクタ導体の両端部は、前記第1ビア状インダクタ導体よりも積層方向に対して前記絶縁体の内側に入っている積層デバイス。
  2. 第1ビア状インダクタ導体と第2ビア状インダクタ導体との距離は、第1ビア状インダクタ導体の長さの1.5倍よりも短い距離である請求項1記載の積層デバイス。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013121815A1 (ja) * 2012-02-14 2013-08-22 株式会社村田製作所 電子部品
US9548279B2 (en) 2013-09-25 2017-01-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Connection member, semiconductor device, and stacked structure
JP2017212717A (ja) * 2016-05-20 2017-11-30 株式会社村田製作所 積層型電子部品

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