JP2010122273A - 投写光学系のズーム比測定方法、そのズーム比測定方法を用いた投写画像の補正方法及びその補正方法を実行するプロジェクタ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】原画像を表す画像光を投写スクリーンにズームして投写する投写光学系のズーム比を測定する測定方法であって、測定点を含む測定用画像を、測定点が投写光学系の光軸からオフセットした位置に投写されるように、投写スクリーンに投写表示する工程と、測定点が投写スクリーンに投写表示された投写測定点を、投写光学系からの相対的な固定位置として予め設定されている測定点検出位置から検出する工程と、検出された投写測定点の位置情報を求め、位置情報と、予め準備された位置情報に対するズーム比との関係を用いてズーム比を決定する工程とを備える、測定方法。
【選択図】図8
Description
原画像を表す画像光を投写スクリーンに投写する投写光学系のズーム比を測定する測定方法であって、
(a)測定点を含む測定用画像を、前記測定点が前記投写光学系の光軸からオフセットした位置に表示されるように、前記投写スクリーンに投写表示する工程と、
(b)前記測定点が前記投写スクリーンに投写表示された投写測定点を、前記投写光学系に対する相対的な位置が固定されている測定点検出位置から検出する工程と、
(c)検出された前記投写測定点の位置情報を求め、前記位置情報と、予め準備された前記位置情報に対するズーム比の関係とを用いて前記ズーム比を決定する工程と、
を備える、測定方法。
この測定方法によれば、少なくとも1つの測定点を投写スクリーンに投写表示して、その位置を検出することにより、投写光学系のズーム比を決定することができる。従って、ズーム機能を有する投写光学系において、そのズーム比の測定精度を向上させることができる。
適用例1記載の測定方法であって、
前記工程(b)は、前記測定検出位置から撮像部によって前記投写測定点を撮影し、撮影された撮影画像上における前記投写測定点の像を検出する工程を含み、
前記撮像部の光軸の方向ベクトルと、前記測定用画像の原画像において前記測定点が前記投写光学系の光軸からオフセットされた方向の方向ベクトルとが、ほぼ垂直の関係を有する、測定方法。
この測定方法によれば、撮影画像上において、投写光学系のズーム比の変化に応じて、測定点の像が移動する方向と、測定点の投写距離の変化に応じて移動する方向とは、ほぼ直交する。従って、ズーム比の変化による撮影画像上における測定点の像の位置の変化の検出精度が向上し、ズーム比の測定精度を向上させることができる。なお、本明細書において「原画像」と呼ぶときには、投写光学系の前段において、投写画像を形成するために液晶パネルなどに形成された画像が含まれる。
適用例2に記載の測定方法であって、
前記位置情報には、前記撮影画像上における前記投写測定点の像の座標が含まれ、
前記工程(c)は、前記像の座標と、予め準備された前記像の座標に対する前記ズーム比の関係とを用いて、前記像の座標に対する前記ズーム比を決定する工程を含む、測定方法。
この測定方法によれば、予め準備されたマップによって一意にズーム比を決定できるため、ズーム比の測定が容易となる。
原画像を表す画像光をズーム機構を備える投写光学系を介して投写スクリーンに投写することにより表示された投写画像を補正する画像の補正方法であって、
(a)測定点を含む測定用画像を、前記測定点が前記投写光学系の光軸からオフセットした位置に表示されるように、前記投写スクリーンに投写表示する工程と、
(b)前記測定点が前記投写スクリーンに投写表示された投写測定点を、前記投写光学系に対する相対的な位置が固定されている測定点検出位置から検出する工程と、
(c)検出された前記投写測定点の位置情報を求め、前記位置情報と、予め準備された前記位置情報に対するズーム比の関係とを用いて前記ズーム比を決定する工程と、
(d)決定された前記ズーム比を用いて、前記投写画像の台形歪みを補正する工程と、
を備える、画像の補正方法。
この画像の補正方法によれば、投写光学系のズーム比の変化により、その焦点距離が変化した場合であっても、その変化した焦点距離を原画像の台形歪み補正に反映させることができる。従って、ズーム機構を有する投写光学系を備えるプロジェクタにおいて、より適切な投写画像の画像補正が可能となる。
適用例4記載の画像の補正方法であって、
前記工程(b)は、前記測定検出位置から撮像部によって前記投写測定点を撮影し、撮影された撮影画像上における前記投写測定点の像を検出する工程を含み、
前記撮像部の光軸の方向ベクトルと、前記測定用画像の原画像において前記測定点が前記投射光学系の光軸からオフセットされた方向の方向ベクトルとがほぼ垂直の関係を有する、画像の補正方法。
この補正方法によれば、さらに、ズーム比を精度良く測定することができ、原画像の台形歪み補正に反映させることができる。従って、表示画像の画質を向上させることができる。
適用例5に記載の画像の補正方法であって、
前記位置情報には、前記撮影画像上における前記投写測定点の像の座標が含まれ、
前記工程(c)は、前記像の座標と、予め準備された前記像の座標に対する前記ズーム比の関係とを用いて、前記像の座標に対する前記ズーム比を決定する工程を含む、画像の補正方法。
この補正方法によれば、ズーム比を容易に測定することができ、原画像の歪み補正に反映させることができる。従って、表示画像の画質を向上させることができる。
原画像を表す画像光を投写スクリーンに投写することにより投写画像を表示するプロジェクタであって、
ズーム機構を備え、前記画像光を前記投写スクリーンに投写する投写光学系と、
前記投写光学系から前記投写スクリーンに投写された測定用画像に含まれる投写測定点を検出する測定点検出部と、
前記投写画像の補正を実行する制御部と、
を備え、
前記投写測定点は、前記投写光学系の光軸からオフセットされた位置に投写表示されるズーム比測定用投写測定点を含み、
前記測定点検出部は、前記投写光学系に対する相対的な位置が固定されている測定点検出位置に設けられており、
前記制御部は、検出された前記ズーム比測定用投写測定点の位置情報を求め、前記位置情報と、予め準備された前記位置情報に対するズーム比の関係とを用いて前記ズーム比を決定し、決定された前記ズーム比を用いて前記投写画像の補正を実行する、プロジェクタ。
適用例7に記載のプロジェクタであって、
前記測定点検出部は、前記投写測定点を撮影する撮像部を含み、
前記撮像部の光軸の方向ベクトルと、前記測定用画像の原画像において前記ズーム比測定用測定点が前記投写光学系の光軸からオフセットされた方向の方向ベクトルとが、ほぼ垂直の関係を有する、プロジェクタ。
適用例8に記載のプロジェクタであって、
前記位置情報は、前記撮像部によって撮影された撮影画像上における前記ズーム比測定用投写測定点の像の座標が含まれ、
前記制御部は、前記像の座標と、予め準備された前記像に対する前記ズーム比との関係とを用いて、前記像の座標に対する前記ズーム比を決定する、プロジェクタ。
図1は本発明の一実施例としてのプロジェクタの内部構成の概略を示すブロック図である。このプロジェクタ100は、画像を表す画像光を投写スクリーンSCなどの投写面上に投写して画像を表示する。
なお、この発明は上記の実施例や実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の態様において実施することが可能であり、例えば次のような変形も可能である。
上記実施例において、ハードウェアによって実現されていた構成の一部をソフトウェアに置き換えるようにしてもよく、逆に、ソフトウェアによって実現されていた構成の一部をハードウェアに置き換えるようにしてもよい。例えば、CPU120が有していた各構成部121〜125の機能の一部または全部を映像用プロセッサ134が実行するようにすることもできる。
上記実施例において、測定用パターン画像MIは、3行3列に整列された9個の測定点MP1〜MP9を有していたが、測定用パターン画像MIは、他の構成を有していても良い。例えば、測定点の個数は9個より少ないものとしても良く、9個よりさらに多いものとしても良い。なお、三角測量を実行するためには、少なくとも、ズーム比測定点MP4の他に、2個の測定点を有していることが好ましいが、測定点の個数が多いほど、三角測量の測定精度を向上させることが可能である。また、測定点を表す画像は、点でなくとも良く、例えば、パターン検出部121は、直線同士の交点など、直線上の特定の点を測定点として検出するものとしても良い。なお、三角測量の精度を向上させるために、測定点同士の距離は、互いに離れているほど好ましい。
上記実施例において、ズーム比測定部122は、ズーム比測定点MP4の撮影画像SIにおける座標と投写光学系150のズーム比とを一意に対応させたマップを用いて投写光学系150のズーム比を決定していた。しかし、ズーム比測定部122は、当該マップを用いなくとも良く、ズーム比測定点MP4の位置情報と投写光学系150のズーム比との予め準備された関係を用いて投写光学系150のズーム比を決定すれば良い。例えば、ズーム比測定部122は、ズーム比測定点MP4の座標を用いて投写光学系150のズーム比を算出できる数式によって、投写光学系150のズーム比を算出するものとしても良い。
上記実施例において、撮像部180の撮影画像SIによってズーム比測定点MP4を検出し、撮影画像SIの画像面内における座標をズーム比測定点MP4の位置情報として検出していた。しかし、ズーム比測定点MP4は、他の方法により、その位置情報が検出されるものとしても良い。例えば、撮像部180に換えて、エリアセンサなどの光センサによってズーム比測定点MP4の投写画像を検出し、その位置情報を求めるものとしても良い。
上記実施例において、撮像部180の位置は投写光学系150の位置に対して1カ所に固定されていた。しかし、撮像部180は、1カ所に固定されていなくとも良く、投写光学系150に対して複数箇所の相対的位置に移動可能であるとしても良い。なお、この場合には、その撮像部180の位置ごとに、ズーム比測定のためのズーム比測定点MP4の位置情報と投写光学系150のズーム比との関係が、予め準備されていることが好ましい。
上記実施例では、測定された投写光学系150のズーム比を用いた三角測量によって投写スクリーンSCの配置状態を測定し、その配置状態に応じた原画像に対する台形補正を実行していた。しかし、プロジェクタ100は、測定されたズーム比を利用して、台形補正以外の処理を実行するものとしても良い。例えば、測定されたズーム比を用いて、曲率を有する投写面への画像投写に際して原画像に実行される画像の歪み補正を実行するものとしても良い。また、投写画像のフォーカスを調整するオートフォーカス処理するものとしても良い。
上記実施例では、ズーム機構を備える投写光学系150を有するプロジェクタ100において、投写光学系150のズーム比の測定を実行していた。しかし、上記実施例で説明したズーム比の測定方法は、プロジェクタに限らず、投写面に光をズームして投写する投写光学系を備える装置やシステムに適用することが可能である。例えば、物体表面に画像光を投写して物体の形状を測定する三次元物体認識装置に本発明が適用されるものとしても良い。
上記実施例では、光変調素子として透過型の液晶パネルを用いた。しかし、プロジェクタ100は、透過型の液晶パネル以外の光変調素子を用いても良い。例えば、光変調素子として反射型の液晶パネルやDLP(Digital Light Processing)(登録商標)等を採用してもよい。
102…内部バス
105…脚部
110…A/D変換部
120…中央処理装置
121…パターン検出部
122…ズーム比測定部
123…焦点距離算出部
124…三次元測量部
125…投写角度算出部
130…液晶パネル
130s…パネル面
132…液晶パネル駆動部
134…映像用プロセッサ
136…台形歪み補正部
140…照明光学系
150…投写光学系
152…ズームレンズ
155…ズームレンズ駆動部
156…ズーム調整用モータ
157…フォーカス調整用モータ
160…内部メモリ(RAM)
170…不揮発性記憶部(ROM)
171…測定パターン記憶部
180…撮像部
182…撮影画像メモリ
190…リモコン制御部
191…リモコン
300…ケーブル
CL1…第1の中央線
CL2…第2の中央線
IF…画像形成領域
Lm…仮想的直線
Lp…測定点を表す画像光の軌跡
MI…測定用パターン画像
MIp…測定用投写画像
MP1〜MP9…測定点
MP4min…ズーム比最小設定時の投写画像
MP4max…ズーム比最大設定時の投写画像
MPi…測定用投写画像
OAi…撮像部の光軸
OAp…投写光学系の光軸
OPp…パネル光軸交点
OPs…スクリーン光軸交点
PA…平面領域
PI…全白投写画像
PP…投写光学系の主点
PPs…撮像部の主点
SC…投写スクリーン
SI…撮影画像
Claims (9)
- 原画像を表す画像光を投写スクリーンに投写する投写光学系のズーム比を測定する測定方法であって、
(a)測定点を含む測定用画像を、前記測定点が前記投写光学系の光軸からオフセットした位置に表示されるように、前記投写スクリーンに投写表示する工程と、
(b)前記測定点が前記投写スクリーンに投写表示された投写測定点を、前記投写光学系に対する相対的な位置が固定されている測定点検出位置から検出する工程と、
(c)検出された前記投写測定点の位置情報を求め、前記位置情報と、予め準備された前記位置情報に対するズーム比の関係とを用いて前記ズーム比を決定する工程と、
を備える、測定方法。 - 請求項1記載の測定方法であって、
前記工程(b)は、前記測定検出位置から撮像部によって前記投写測定点を撮影し、撮影された撮影画像上における前記投写測定点の像を検出する工程を含み、
前記撮像部の光軸の方向ベクトルと、前記測定用画像の原画像において前記測定点が前記投写光学系の光軸からオフセットされた方向の方向ベクトルとが、ほぼ垂直の関係を有する、測定方法。 - 請求項2に記載の測定方法であって、
前記位置情報には、前記撮影画像上における前記投写測定点の像の座標が含まれ、
前記工程(c)は、前記像の座標と、予め準備された前記像の座標に対する前記ズーム比の関係とを用いて、前記像の座標に対する前記ズーム比を決定する工程を含む、測定方法。 - 原画像を表す画像光をズーム機構を備える投写光学系を介して投写スクリーンに投写することにより表示された投写画像を補正する画像の補正方法であって、
(a)測定点を含む測定用画像を、前記測定点が前記投写光学系の光軸からオフセットした位置に表示されるように、前記投写スクリーンに投写表示する工程と、
(b)前記測定点が前記投写スクリーンに投写表示された投写測定点を、前記投写光学系に対する相対的な位置が固定されている測定点検出位置から検出する工程と、
(c)検出された前記投写測定点の位置情報を求め、前記位置情報と、予め準備された前記位置情報に対するズーム比の関係とを用いて前記ズーム比を決定する工程と、
(d)決定された前記ズーム比を用いて、前記投写画像の台形歪みを補正する工程と、
を備える、画像の補正方法。 - 請求項4記載の画像の補正方法であって、
前記工程(b)は、前記測定検出位置から撮像部によって前記投写測定点を撮影し、撮影された撮影画像上における前記投写測定点の像を検出する工程を含み、
前記撮像部の光軸の方向ベクトルと、前記測定用画像の原画像において前記測定点が前記投射光学系の光軸からオフセットされた方向の方向ベクトルとがほぼ垂直の関係を有する、画像の補正方法。 - 請求項5に記載の画像の補正方法であって、
前記位置情報には、前記撮影画像上における前記投写測定点の像の座標が含まれ、
前記工程(c)は、前記像の座標と、予め準備された前記像の座標に対する前記ズーム比の関係とを用いて、前記像の座標に対する前記ズーム比を決定する工程を含む、画像の補正方法。 - 原画像を表す画像光を投写スクリーンに投写することにより投写画像を表示するプロジェクタであって、
ズーム機構を備え、前記画像光を前記投写スクリーンに投写する投写光学系と、
前記投写光学系から前記投写スクリーンに投写された測定用画像に含まれる投写測定点を検出する測定点検出部と、
前記投写画像の補正を実行する制御部と、
を備え、
前記投写測定点は、前記投写光学系の光軸からオフセットされた位置に投写表示されるズーム比測定用投写測定点を含み、
前記測定点検出部は、前記投写光学系に対する相対的な位置が固定されている測定点検出位置に設けられており、
前記制御部は、検出された前記ズーム比測定用投写測定点の位置情報を求め、前記位置情報と、予め準備された前記位置情報に対するズーム比の関係とを用いて前記ズーム比を決定し、決定された前記ズーム比を用いて前記投写画像の補正を実行する、プロジェクタ。 - 請求項7に記載のプロジェクタであって、
前記測定点検出部は、前記投写測定点を撮影する撮像部を含み、
前記撮像部の光軸の方向ベクトルと、前記測定用画像の原画像において前記ズーム比測定用測定点が前記投写光学系の光軸からオフセットされた方向の方向ベクトルとが、ほぼ垂直の関係を有する、プロジェクタ。 - 請求項8に記載のプロジェクタであって、
前記位置情報は、前記撮像部によって撮影された撮影画像上における前記ズーム比測定用投写測定点の像の座標が含まれ、
前記制御部は、前記像の座標と、予め準備された前記像に対する前記ズーム比との関係とを用いて、前記像の座標に対する前記ズーム比を決定する、プロジェクタ。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008293212A JP5401940B2 (ja) | 2008-11-17 | 2008-11-17 | 投写光学系のズーム比測定方法、そのズーム比測定方法を用いた投写画像の補正方法及びその補正方法を実行するプロジェクタ |
US12/605,634 US8186835B2 (en) | 2008-11-17 | 2009-10-26 | Method of measuring zoom ratio of projection optical system, method of correcting projection image using the method, and projector executing the correction method |
US13/457,022 US8360585B2 (en) | 2008-11-17 | 2012-04-26 | Method of measuring zoom ratio of projection optical system, method of correcting projection image using the method, and projector executing the correction method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008293212A JP5401940B2 (ja) | 2008-11-17 | 2008-11-17 | 投写光学系のズーム比測定方法、そのズーム比測定方法を用いた投写画像の補正方法及びその補正方法を実行するプロジェクタ |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010122273A true JP2010122273A (ja) | 2010-06-03 |
JP2010122273A5 JP2010122273A5 (ja) | 2012-01-05 |
JP5401940B2 JP5401940B2 (ja) | 2014-01-29 |
Family
ID=42171774
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008293212A Expired - Fee Related JP5401940B2 (ja) | 2008-11-17 | 2008-11-17 | 投写光学系のズーム比測定方法、そのズーム比測定方法を用いた投写画像の補正方法及びその補正方法を実行するプロジェクタ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8186835B2 (ja) |
JP (1) | JP5401940B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021135133A (ja) * | 2020-02-26 | 2021-09-13 | セイコーエプソン株式会社 | 電子機器の制御方法および電子機器 |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010098728A (ja) * | 2008-09-19 | 2010-04-30 | Sanyo Electric Co Ltd | 投写型映像表示装置及び表示システム |
JP5401940B2 (ja) * | 2008-11-17 | 2014-01-29 | セイコーエプソン株式会社 | 投写光学系のズーム比測定方法、そのズーム比測定方法を用いた投写画像の補正方法及びその補正方法を実行するプロジェクタ |
JP5353596B2 (ja) * | 2009-09-18 | 2013-11-27 | セイコーエプソン株式会社 | 投写型表示装置、キーストン補正方法 |
TWI439788B (zh) * | 2010-01-04 | 2014-06-01 | Ind Tech Res Inst | 投影校正系統及方法 |
JP5754124B2 (ja) * | 2010-12-14 | 2015-07-29 | セイコーエプソン株式会社 | プロジェクターおよび制御方法 |
JP5834615B2 (ja) * | 2011-08-18 | 2015-12-24 | 株式会社リコー | プロジェクタ、その制御方法、そのプログラム、及び、そのプログラムを記録した記録媒体 |
JP6176114B2 (ja) * | 2011-09-15 | 2017-08-09 | 日本電気株式会社 | 投影像自動補正システム、投影像自動補正方法およびプログラム |
CN103890655B (zh) * | 2011-10-13 | 2016-03-23 | 日立麦克赛尔株式会社 | 投影型影像显示装置 |
JP5924020B2 (ja) * | 2012-02-16 | 2016-05-25 | セイコーエプソン株式会社 | プロジェクター、及び、プロジェクターの制御方法 |
CN104956665B (zh) * | 2013-01-28 | 2018-05-22 | Jvc建伍株式会社 | 投射装置及图像校正方法 |
CN103970518B (zh) * | 2013-01-31 | 2019-06-25 | 腾讯科技(深圳)有限公司 | 一种逻辑窗口的3d渲染方法和装置 |
US9792674B2 (en) * | 2016-03-10 | 2017-10-17 | Netflix, Inc. | Perspective correction for curved display screens |
JP6707925B2 (ja) * | 2016-03-16 | 2020-06-10 | セイコーエプソン株式会社 | プロジェクター、及び、プロジェクターの制御方法 |
CN106803946B (zh) * | 2017-01-26 | 2019-01-18 | 苏州佳世达电通有限公司 | 一种用于投影机投影画面测试的画面对位方法及系统 |
CN110480510A (zh) * | 2019-07-25 | 2019-11-22 | 广州市宇欣光电子技术研究所有限公司 | 一种用于磨削加工的光学测量系统及应用方法 |
CN117579798B (zh) * | 2024-01-15 | 2024-04-19 | 深圳市橙子数字科技有限公司 | 一种投影设备标定方法、装置和电子设备 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001320652A (ja) * | 2000-05-11 | 2001-11-16 | Nec Corp | プロジェクタ装置 |
JP2004140845A (ja) * | 2003-10-30 | 2004-05-13 | Nec Corp | プロジェクタ装置 |
JP2005124131A (ja) * | 2003-09-26 | 2005-05-12 | Seiko Epson Corp | 画像処理システム、プロジェクタ、プログラム、情報記憶媒体および画像処理方法 |
JP2005167948A (ja) * | 2003-12-05 | 2005-06-23 | Nec Viewtechnology Ltd | プロジェクタのズーム状態検出方法およびプロジェクタ |
JP2005331585A (ja) * | 2004-05-18 | 2005-12-02 | Nec Viewtechnology Ltd | 距離傾斜角度測定装置を有するプロジェクタ |
JP2008205814A (ja) * | 2007-02-20 | 2008-09-04 | Seiko Epson Corp | プロジェクタおよび当該プロジェクタの画像補正方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3509652B2 (ja) | 1999-08-23 | 2004-03-22 | 日本電気株式会社 | プロジェクタ装置 |
JP3880582B2 (ja) * | 2004-02-13 | 2007-02-14 | Necビューテクノロジー株式会社 | 複数のカメラを備えたプロジェクタ |
CN101658070A (zh) * | 2007-03-13 | 2010-02-24 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 按照投影到投影表面的图像控制房间的照明的方法 |
JP5401940B2 (ja) * | 2008-11-17 | 2014-01-29 | セイコーエプソン株式会社 | 投写光学系のズーム比測定方法、そのズーム比測定方法を用いた投写画像の補正方法及びその補正方法を実行するプロジェクタ |
-
2008
- 2008-11-17 JP JP2008293212A patent/JP5401940B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-10-26 US US12/605,634 patent/US8186835B2/en active Active
-
2012
- 2012-04-26 US US13/457,022 patent/US8360585B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001320652A (ja) * | 2000-05-11 | 2001-11-16 | Nec Corp | プロジェクタ装置 |
JP2005124131A (ja) * | 2003-09-26 | 2005-05-12 | Seiko Epson Corp | 画像処理システム、プロジェクタ、プログラム、情報記憶媒体および画像処理方法 |
JP2004140845A (ja) * | 2003-10-30 | 2004-05-13 | Nec Corp | プロジェクタ装置 |
JP2005167948A (ja) * | 2003-12-05 | 2005-06-23 | Nec Viewtechnology Ltd | プロジェクタのズーム状態検出方法およびプロジェクタ |
JP2005331585A (ja) * | 2004-05-18 | 2005-12-02 | Nec Viewtechnology Ltd | 距離傾斜角度測定装置を有するプロジェクタ |
JP2008205814A (ja) * | 2007-02-20 | 2008-09-04 | Seiko Epson Corp | プロジェクタおよび当該プロジェクタの画像補正方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021135133A (ja) * | 2020-02-26 | 2021-09-13 | セイコーエプソン株式会社 | 電子機器の制御方法および電子機器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5401940B2 (ja) | 2014-01-29 |
US20120212710A1 (en) | 2012-08-23 |
US8360585B2 (en) | 2013-01-29 |
US20100123878A1 (en) | 2010-05-20 |
US8186835B2 (en) | 2012-05-29 |
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