JP2010086448A - バックアップコンデンサの劣化検出装置および電子機器 - Google Patents

バックアップコンデンサの劣化検出装置および電子機器 Download PDF

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Abstract

【課題】バックアップコンデンサの劣化を検出し、ユーザ毎にバックアップコンデンサの交換周期を最適化する。
【解決手段】プロセスコントローラは、主電源断を検出する電源断検出回路7と、主電源断が検出されたときに、保持すべきデータをフラッシュROM9に書き込み、データの書き込み完了後に計時用データをEEPROM10に書き込み、主電源の投入によって起動したときにEEPROM10から計時用データを読み出し、電気二重層コンデンサ2の電圧低下によって動作不能になるまでの余裕時間を求めるCPU5と、余裕時間が所定時間以下の場合に、電気二重層コンデンサ2を交換すべきことを示す警告を発生する警告回路11とを備える。
【選択図】 図1

Description

本発明は、主電源断時のバックアップ電源として電力を供給するバックアップコンデンサの劣化を検出する劣化検出装置、およびこの劣化検出装置を用いるプロセスコントローラなどの電子機器に関するものである。
プラント機器を制御するプロセスコントローラにおいては、主電源断が発生した場合にその時点での動作データを保持して、次回起動時に使う必要がある。主電源断が発生した場合、何らかの方法でデータをメモリに保持しなければならないが、従来は主電源断から数msの間にスタティックRAM(Random Access Memory)にデータを瞬時に退避し、スタティックRAMを電池等でバックアップする方法が採用されてきた。しかしながら、コントローラの使用温度範囲が電池の使用温度範囲よりも広範囲の温度であるとか、電池の交換が煩わしいとかいった理由から電池でのバックアップを好まないユーザも存在する。また、コントローラのOS(Operating System)の関係で、主電源断から数msの時間では必要なデータをセーブできない場合もある。
そこで、電池を使用しない特殊なバックアップ電源を設け、主電源断後の数秒〜数十秒の間はバックアップ電源からCPUに電力を継続して供給し、その間に不揮発性メモリであるフラッシュROM(Read Only Memory)などにデータを書き込む方法が採用されている。フラッシュROMは、不揮発性メモリなので電池は不要である。電池を使用しないため、使用温度範囲も広くとることができる。バックアップ電源としては、電気二重層コンデンサと言われる大容量(例えば100F)のコンデンサが使用される。このバックアップ電源では、通常の動作時に電気二重層コンデンサを充電しておき、主電源断時に放電してCPUに数秒〜数十秒間電力を供給する。
このようなバックアップ電源の問題点は、電気二重層コンデンサにも電池よりは長寿命であるが、寿命があることである。平滑コンデンサとして使われているアルミ電解コンデンサの場合は、寿命が近づいて容量が低下したとしても、平滑特性が劣化してリップル等が若干大きくなるだけである。このような平滑コンデンサの容量低下に対しては、あらかじめ大きめの容量を選定しておけばおく、容量が大きめのコンデンサを使用したとしても、コストも殆ど上昇しない。
一方、電気二重層コンデンサは、アルミ電解コンデンサに比べて形状が大型なので、経年変化による容量低下を見越してあらかじめ容量の大きなものを選定すると、コストが上昇し、スペースが増大する問題点がある。
バックアップ電源に使用される電気二重層コンデンサの容量が低下すると、主電源断時にCPUが動作データをフラッシュROMに書き込むために必要な時間(数秒〜数十秒)だけ電力を継続して供給することができなくなるので、動作データをフラッシュROMに書き込むことが完了できない。例えばデータの書き込みに最低10秒必要なときに9秒しか電力を供給できない場合、データを書き込むことはできない。
電気二重層コンデンサの容量の経年変化は、使用温度環境に大きく影響される。電気二重層コンデンサを25℃の温度環境で使用する場合は、35℃の温度環境で使用する場合に比べて、劣化速度は例えば半分になる。しかし、エンドユーザがプロセスコントローラを何度の温度環境で使うかをコントローラのメーカは把握することができない。また、コントローラのI/Oカードの組み合わせで使用電流値も上下する。したがって、寿命を考慮して電気二重層コンデンサの交換周期を一律に決める場合、最も過酷な条件で交換周期を決めることになる。この場合、最悪の条件で使っているユーザにとっては交換周期が最適であっても、平均的な使用条件のユーザにとっては交換周期が早過ぎることになり、無駄なコストがかかることになる。
電気二重層コンデンサの交換周期を出来るだけ延ばすためには、ユーザ毎に交換周期を最適化する必要があり、最適な交換周期を決めるためには、電気二重層コンデンサの寿命を予測する必要がある。従来、コンデンサの寿命を予測する手段として、プロセスコントローラの保守支援システムが提案されている(例えば特許文献1参照)。この保守支援システムでは、電源の電圧データおよびリップルデータを収集して、電解コンデンサの劣化状況を把握するようにしている。
特開2003−248515号公報
特許文献1に開示された保守支援システムでは、電源の平滑コンデンサとして使われている電解コンデンサの電圧およびリップルのデータを通常動作時に計測している。したがって、この特許文献1に開示された技術をバックアップ電源の電気二重層コンデンサの寿命予測に適用するためには、通電時の計測データから主電源断時の電気二重層コンデンサの放電特性を予測する必要があり、この放電特性の予測が難しく、電気二重層コンデンサの劣化検出が難しいという問題点があった。また、特許文献1に開示された保守支援システムでは、電圧およびリップルのデータを計測する必要があり、計測回路に電力供給できない主電源断時に計測を行うことは困難である。
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、電気二重層コンデンサなどのバックアップコンデンサの劣化を検出し、ユーザ毎にバックアップコンデンサの交換周期を最適化することができるバックアップコンデンサの劣化検出装置および電子機器を提供することを目的とする。
本発明のバックアップコンデンサの劣化検出装置は、主電源断を検出する電源断検出手段と、主電源断が検出されたときに計時用データを不揮発性メモリに書き込む計時手段と、主電源の投入によって起動したときに前記不揮発性メモリから計時用データを読み出し、前記主電源断時から、前記主電源断時のバックアップ電源として電力を供給するバックアップコンデンサの電圧低下によって動作不能になるまでの余裕時間を求める余裕時間導出手段と、前記余裕時間が所定時間以下の場合に、前記バックアップコンデンサを交換すべきことを示す警告を発生する警告手段とを備えることを特徴とするものである。
また、本発明の電子機器は、通常動作時の電力を供給する主電源と、主電源断時のバックアップ電源として電力を供給するバックアップコンデンサと、主電源断が発生したときに、保持すべきデータを不揮発性メモリに書き込むデータ退避手段と、バックアップコンデンサの劣化検出装置とを備えることを特徴とするものである。
また、本発明の電子機器の1構成例において、前記計時手段は、前記データ退避手段によるデータの書き込み完了後に前記計時用データの書き込みを開始し、前記余裕時間導出手段は、前記データ退避手段によるデータの書き込み完了時刻から前記バックアップコンデンサの電圧低下によって動作不能になるまでの時間を前記余裕時間として求めることを特徴とするものである。
本発明によれば、主電源断が発生したときに計時用データを不揮発性メモリに書き込み、次の起動時に不揮発性メモリから計時用データを読み出して、余裕時間を求めるようにしたので、バックアップコンデンサの容量低下を間接的に推定することができ、必要としている電力に対してどの程度余裕があるかを判断することができる。こうして、本発明では、バックアップコンデンサの交換周期をユーザごとに最適化することができるので、ユーザの使用環境に合った効率のいい運用ができ、バックアップコンデンサの無駄な交換を防ぐことができる。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図1は本発明の実施の形態に係るバックアップコンデンサの劣化検出装置の構成を示すブロック図である。このバックアップコンデンサの劣化検出装置は、例えばプラント機器を制御するプロセスコントローラに搭載されるものである。
図1において、1はプロセスコントローラの主電源回路、2はバックアップコンデンサである電気二重層コンデンサ、3は電気二重層コンデンサ2の充電回路、4は電気二重層コンデンサ2の出力電圧を安定化するレギュレータ回路、5はプロセスコントローラのCPU、6は主電源回路1の出力とレギュレータ回路4の出力とをOR接続するダイオードからなるOR回路、7は主電源回路1の電源断を検出する電源断検出回路、8は図示しないプラント機器と接続されるI/Oインタフェース回路、9は不揮発性メモリであるフラッシュROM、10は同じく不揮発性メモリであるEEPROM、11は電気二重層コンデンサ2を交換すべきことを警告するための警告回路、12はOR回路6の出力電圧をCPU5で必要な電圧にドロップさせて安定化させるレギュレータ回路である。電気二重層コンデンサ2と充電回路3とレギュレータ回路4とは、バックアップ電源回路を構成している。
CPU5は、図示しない内部のメモリ、フラッシュROM9またはEEPROM10に格納されたプログラムに従って以下で説明するような処理を実行する。このCPU5は、データ退避手段と、計時手段と、余裕時間導出手段とを構成している。
主電源回路1がオンしている通常の動作時では、主電源回路1の出力電圧はOR回路6とレギュレータ回路12とを介してCPU5に供給される。このとき、電気二重層コンデンサ2は、主電源回路1から充電回路3を介して供給される充電電圧によって充電される。主電源回路1からOR回路6に出力される電圧は例えば5.5V、充電回路3に出力される電圧は例えば6Vである。電気二重層コンデンサ2の出力電圧は、レギュレータ回路4によって安定化される。電気二重層コンデンサ2の出力電圧を6V、CPU5で必要な電圧を3.3Vとすると、レギュレータ回路4は電気二重層コンデンサ2の出力電圧を例えば5V以下にドロップさせて安定化させる。レギュレータ回路4の出力電圧はOR回路6へ供給されるが、主電源回路1の出力電圧の方が高いので、主電源回路1がオンの場合には、主電源回路1からOR回路6とレギュレータ回路12とを介してCPU5に電力が供給されることになる。レギュレータ回路12は、OR回路6の出力電圧を3.3Vにドロップさせて安定化させる。
CPU5は、プラントの入力機器(例えばセンサ、圧力計、流量計等)のデータをI/Oインタフェース回路8を介して収集し、このデータを基に制御演算を実行する。そして、CPU5は、I/Oインタフェース回路8を介してプラントの出力機器(例えばスイッチ、バルブ、ポンプ等)を制御する。こうして、プロセスコントローラによってプラント機器が制御される。
次に、例えば装置のメンテナンスなどの理由により、主電源断となったときの動作を説明する。主電源回路1がオフになると、電気二重層コンデンサ2からレギュレータ回路4とOR回路6とレギュレータ回路12とを介してCPU5に電力が供給される。
一方、主電源回路1がオフになると、電源断検出回路7は、主電源断検出信号をCPU5に出力する。
図2は主電源断が発生したときのCPU5の動作を示すフローチャートである。CPU5は、電源断検出回路7から主電源断検出信号が入力された場合(図2ステップS1においてYES)、主電源断が発生したと判断して、保持すべき動作データを例えば数秒間でフラッシュROM9に書き込む(ステップS2)。続いて、CPU5は、リセットが発生するまで、一定時間ごと(例えば1秒ごと)に計時用のデータをEEPROM10に書き込む(ステップS3)。計時用データの例としては、例えば書き込み完了時刻からの経過時間がある。電気二重層コンデンサ2からの電源電圧が動作に必要な下限電圧を下回ってリセットが発生すると(ステップS4においてYES)、図2の処理が終了する。
図3は電気二重層コンデンサ2の容量の経年変化の1例を示す図である。図3において、C0は初期容量、CLは動作データの書き込みに必要な下限容量である。電気二重層コンデンサ2の容量は、時間と共に低下し、遂には下限容量CLを下回る。下限容量CLを下回ると、CPU5が動作データをフラッシュROM9に書き込むために必要な時間だけ電力を継続して供給することができなくなるので、動作データをフラッシュROM9に書き込むことができなくなる。
図4は電気二重層コンデンサ2の出力電圧と、電気二重層コンデンサ2からレギュレータ回路4とOR回路6とレギュレータ回路12とを介してCPU5に供給される電圧の時間変化を示す図である。ここでは、主電源断が発生した時刻を0としている。図4において、VC0は電気二重層コンデンサ2の初期の出力電圧、VC1は電気二重層コンデンサ2が劣化したときの出力電圧、V0はCPU5に供給される初期の電圧、V1は電気二重層コンデンサ2が劣化したときにCPU5に供給される電圧である。また、STはフラッシュROM9への動作データの書き込み完了時刻、RT0は初期のリセット時刻、RT1は電気二重層コンデンサ2が劣化したときのリセット時刻である。
主電源断時からの時間の経過とともに電気二重層コンデンサ2の電荷が放電して、電気二重層コンデンサ2の電圧は図4に示すように徐々に低下していく。CPU5で必要な電圧が3.3Vの場合、レギュレータ回路4,12での電圧降下分を考慮すると、電気二重層コンデンサ2の電圧は4V程度必要である。したがって、電気二重層コンデンサ2の電圧が4Vを下回ったあたりから、CPU5に供給される電圧が低下する。そして、CPU5に供給される電圧が動作に必要な下限電圧を下回ると、リセットが発生する。
前述のとおり、フラッシュROM9への動作データの書き込み完了後、リセットが発生するまで、EEPROM10には計時用データが書き込まれるので、主電源回路1の再投入時にEEPROM10から計時用データを読み出せば、書き込み完了時刻からリセット時刻までの余裕時間を把握できることになる。図4から明らかなように、電気二重層コンデンサ2の劣化によって電気二重層コンデンサ2の電圧低下は早まるので、リセットの発生が早くなり、余裕時間も少なくなる。したがって、余裕時間に基づいて電気二重層コンデンサ2を交換すべきか否かを判断できることになる。
図5は主電源の投入によって起動したときのCPU5の動作を示すフローチャートである。主電源回路1がオンすると(図5ステップS10においてYES)、CPU5は起動する。起動したCPU5は、EEPROM10から計時用データを読み出し、この計時用データを基に書き込み完了時刻からリセット時刻までの余裕時間を求める(ステップS11)。そして、CPU5は、余裕時間が所定時間以下かどうかを判定する(ステップS12)。
CPU5は、余裕時間が所定時間を上回る場合(ステップS12においてNO)、電気二重層コンデンサ2の寿命には余裕があると判断して、図5の処理を終了し、通常時の動作として上記のようにプラント機器の制御を行う。また、CPU5は、余裕時間が所定時間以下の場合、電気二重層コンデンサ2が寿命を迎えていると判断して、電気二重層コンデンサ2を交換すべきことを示す警告情報を警告回路11に発生させる(ステップS13)。警告の例としては、例えば警告用のLEDを点灯させる方法がある。また、電気二重層コンデンサ2を交換すべきことを示す警告情報をネットワーク経由で他の機器に送信するようにしてもよい。
以上のように、本実施の形態では、主電源断が発生したときに計時用データをEEPROM10に書き込み、次の起動時にEEPROM10から計時用データを読み出して、余裕時間を求めるようにしたので、電気二重層コンデンサ2の容量低下を間接的に推定することができ、必要としている電力に対してどの程度余裕があるかを判断することができる。こうして、本実施の形態では、電気二重層コンデンサ2の交換周期をユーザごとに最適化することができるので、ユーザの使用環境に合った効率のいい運用ができ、電気二重層コンデンサ2の無駄な交換を防ぐことができる。通常、プロセスコントローラを、例えば週末や月に1度は電源を落とす場合がある。この停止する時にEEPROM10に計時用データが書きこまれると、次の起動時に電気二重層コンデンサ2の寿命に余裕があるか否かを判断することができる。
なお、本実施の形態では、フラッシュROM9への動作データの書き込み完了後に計時用データの書き込みを開始しているが、これに限るものではなく、主電源断が発生したときから計時用データの書き込みを開始するようにしてもよい。
本発明は、バックアップコンデンサの劣化を検出する技術に適用することができる。
本発明の実施の形態に係るバックアップコンデンサの劣化検出装置の構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態において主電源断が発生したときのCPUの動作を示すフローチャートである。 電気二重層コンデンサの容量の経年変化の1例を示す図である。 本発明の実施の形態において電気二重層コンデンサの出力電圧と電気二重層コンデンサからレギュレータ回路およびOR回路を介してCPUに供給される電圧の時間変化を示す図である。 本発明の実施の形態において起動時のCPUの動作を示すフローチャートである。
符号の説明
1…主電源回路、2…電気二重層コンデンサ、3…充電回路、4,12…レギュレータ回路、5…CPU、6…OR回路、7…電源断検出回路、8…I/Oインタフェース回路、9…フラッシュROM、10…EEPROM、11…警告回路。

Claims (3)

  1. 主電源断を検出する電源断検出手段と、
    主電源断が検出されたときに計時用データを不揮発性メモリに書き込む計時手段と、
    主電源の投入によって起動したときに前記不揮発性メモリから計時用データを読み出し、前記主電源断時から、前記主電源断時のバックアップ電源として電力を供給するバックアップコンデンサの電圧低下によって動作不能になるまでの余裕時間を求める余裕時間導出手段と、
    前記余裕時間が所定時間以下の場合に、前記バックアップコンデンサを交換すべきことを示す警告を発生する警告手段とを備えることを特徴とするバックアップコンデンサの劣化検出装置。
  2. 通常動作時の電力を供給する主電源と、
    主電源断時のバックアップ電源として電力を供給するバックアップコンデンサと、
    主電源断が発生したときに、保持すべきデータを不揮発性メモリに書き込むデータ退避手段と、
    請求項1記載のバックアップコンデンサの劣化検出装置とを備えることを特徴とする電子機器。
  3. 請求項2記載の電子機器において、
    前記計時手段は、前記データ退避手段によるデータの書き込み完了後に前記計時用データの書き込みを開始し、
    前記余裕時間導出手段は、前記データ退避手段によるデータの書き込み完了時刻から前記バックアップコンデンサの電圧低下によって動作不能になるまでの時間を前記余裕時間として求めることを特徴とする電子機器。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9097747B2 (en) 2010-12-24 2015-08-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Electronic device, and capacitor capacitance detection method applied to the same
EP2720052A3 (en) * 2012-10-11 2017-05-17 Hamilton Sundstrand Corporation System and method for automated failure detection of hold-up power storage devices
JP2017111725A (ja) * 2015-12-18 2017-06-22 アズビル株式会社 電子機器
CN107193360A (zh) * 2017-06-20 2017-09-22 深圳市雷赛智能控制股份有限公司 掉电保护方法及主控装置
JP2019071000A (ja) * 2017-10-11 2019-05-09 Necプラットフォームズ株式会社 通信装置および通信装置電源用コンデンサ異常検出方法
WO2021199430A1 (ja) * 2020-04-03 2021-10-07 株式会社Fuji 対基板作業機

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02134998A (ja) * 1988-11-15 1990-05-23 Japan Storage Battery Co Ltd 蓄電池の監視システム
JPH09200155A (ja) * 1996-01-16 1997-07-31 Mitsubishi Electric Corp 遠隔監視装置
JP2000295788A (ja) * 1999-03-31 2000-10-20 Toshiba Lighting & Technology Corp 非常用点灯装置および非常用照明装置
JP2002051482A (ja) * 2000-07-27 2002-02-15 Seiko Epson Corp プリンタ及びプリンタ用バックアップ電源の充電装置
JP2008187860A (ja) * 2007-01-31 2008-08-14 Hioki Ee Corp 電子機器

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02134998A (ja) * 1988-11-15 1990-05-23 Japan Storage Battery Co Ltd 蓄電池の監視システム
JPH09200155A (ja) * 1996-01-16 1997-07-31 Mitsubishi Electric Corp 遠隔監視装置
JP2000295788A (ja) * 1999-03-31 2000-10-20 Toshiba Lighting & Technology Corp 非常用点灯装置および非常用照明装置
JP2002051482A (ja) * 2000-07-27 2002-02-15 Seiko Epson Corp プリンタ及びプリンタ用バックアップ電源の充電装置
JP2008187860A (ja) * 2007-01-31 2008-08-14 Hioki Ee Corp 電子機器

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9097747B2 (en) 2010-12-24 2015-08-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Electronic device, and capacitor capacitance detection method applied to the same
US9882410B2 (en) 2010-12-24 2018-01-30 Toshiba Memory Corporation Electronic device, and capacitor capacitance detection method applied to the same
EP2720052A3 (en) * 2012-10-11 2017-05-17 Hamilton Sundstrand Corporation System and method for automated failure detection of hold-up power storage devices
JP2017111725A (ja) * 2015-12-18 2017-06-22 アズビル株式会社 電子機器
CN107193360A (zh) * 2017-06-20 2017-09-22 深圳市雷赛智能控制股份有限公司 掉电保护方法及主控装置
JP2019071000A (ja) * 2017-10-11 2019-05-09 Necプラットフォームズ株式会社 通信装置および通信装置電源用コンデンサ異常検出方法
WO2021199430A1 (ja) * 2020-04-03 2021-10-07 株式会社Fuji 対基板作業機
JPWO2021199430A1 (ja) * 2020-04-03 2021-10-07

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