JP2010085544A - 液晶装置の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】外部からの静電気に起因する画像乱れを抑制した液晶装置の製造方法を提供する
。
【解決手段】素子基板と対向基板との間に液晶層が挟持され、素子基板上に画素電極と共
通電極とが形成され、画素電極と共通電極との間に発生する電界によって液晶を駆動する
横電界方式の液晶装置の製造方法であって、ガラス基板上に感光性樹脂の材料層22xを
形成し、所定の露光パターンで露光処理を行う工程と、材料層22xに現像処理を行い、
底部にガラス基板が露出する開口部22cを有するブラックマトリクス22bを形成する
工程と、ブラックマトリクス22bを覆って静電シールド層40を形成する工程と、静電
シールド層40上の開口部22cと重なる領域に着色層22aを設ける工程と、を備える
ことを特徴とする。
【選択図】図6
。
【解決手段】素子基板と対向基板との間に液晶層が挟持され、素子基板上に画素電極と共
通電極とが形成され、画素電極と共通電極との間に発生する電界によって液晶を駆動する
横電界方式の液晶装置の製造方法であって、ガラス基板上に感光性樹脂の材料層22xを
形成し、所定の露光パターンで露光処理を行う工程と、材料層22xに現像処理を行い、
底部にガラス基板が露出する開口部22cを有するブラックマトリクス22bを形成する
工程と、ブラックマトリクス22bを覆って静電シールド層40を形成する工程と、静電
シールド層40上の開口部22cと重なる領域に着色層22aを設ける工程と、を備える
ことを特徴とする。
【選択図】図6
Description
本発明は、液晶装置の製造方法に関するものである。
液晶装置の視野角を広げる手段として、基板に対して面内方向(横方向)の電界を発生
させ、この横方向の電界で液晶分子を基板に並行な面内で回転させることで透過光を制御
する、いわゆる横電界方式のIPS(In-Plane Switching)方式が実用化されている。更
に、このIPS方式を改良したFFS(Fringe-Field Switching)方式が提案されている
。
させ、この横方向の電界で液晶分子を基板に並行な面内で回転させることで透過光を制御
する、いわゆる横電界方式のIPS(In-Plane Switching)方式が実用化されている。更
に、このIPS方式を改良したFFS(Fringe-Field Switching)方式が提案されている
。
このような横電界方式の液晶装置は、TFT等の駆動素子が形成された素子基板に共通
電極、画素電極といった電極、または配線といった導電性の部材を配置し、表示面側であ
る対向基板には導電部材を設けない構成を有する。そのため、静電気などに代表される対
向基板側の外部からの外部電界の影響を受けやすく、液晶表示に乱れが生じやすいという
問題がある。これを解決するために、対向基板側に透明導電膜を形成し、透明導電膜で静
電気を捕捉することで表示乱れを防ぐ方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)
。
電極、画素電極といった電極、または配線といった導電性の部材を配置し、表示面側であ
る対向基板には導電部材を設けない構成を有する。そのため、静電気などに代表される対
向基板側の外部からの外部電界の影響を受けやすく、液晶表示に乱れが生じやすいという
問題がある。これを解決するために、対向基板側に透明導電膜を形成し、透明導電膜で静
電気を捕捉することで表示乱れを防ぐ方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)
。
特許文献1には、対向基板が備えるガラス基板の外側(液晶層とは反対側)に透明導電
膜を備える構成と、ガラス基板の内側(液晶層側)に透明導電膜を備える構成と、が挙げ
られている。これらを比較すると、内側に透明導電膜を備える対向基板は、同じく内側に
設けられる配向膜などの部材と積層して形成することで、ガラス基板の上下反転操作等が
不要となるため製造が容易であるという利点を有する。
特開2001−51263号公報
膜を備える構成と、ガラス基板の内側(液晶層側)に透明導電膜を備える構成と、が挙げ
られている。これらを比較すると、内側に透明導電膜を備える対向基板は、同じく内側に
設けられる配向膜などの部材と積層して形成することで、ガラス基板の上下反転操作等が
不要となるため製造が容易であるという利点を有する。
しかし、上記特許文献では、ガラス基板の内側に透明導電膜を備える対向基板の構成と
して、透明導電膜が対向基板側の配向膜の裏面に形成される構造が示されている。このよ
うな位置に透明導電膜を設けた場合には、透明導電膜と液晶層との間には配向膜しか存在
しないため両者の距離が近いため、静電気を捕捉する透明導電膜と、素子基板に設けられ
た画素電極または共通電極との間に縦電界が発生し、横電界方式の駆動を乱すおそれがあ
る。そのため、静電気からの液晶装置の保護が十分ではない。
して、透明導電膜が対向基板側の配向膜の裏面に形成される構造が示されている。このよ
うな位置に透明導電膜を設けた場合には、透明導電膜と液晶層との間には配向膜しか存在
しないため両者の距離が近いため、静電気を捕捉する透明導電膜と、素子基板に設けられ
た画素電極または共通電極との間に縦電界が発生し、横電界方式の駆動を乱すおそれがあ
る。そのため、静電気からの液晶装置の保護が十分ではない。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであって、外部からの静電気に起因する
画像乱れを抑制した液晶装置の製造方法を提供することを目的とする。
画像乱れを抑制した液晶装置の製造方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、発明者は、静電遮蔽層をガラス基板の内側であって、液晶
層から極力遠ざけた位置に形成する構成を想到した。例えば、ガラス基板内側の表面に接
する位置に静電遮蔽層を形成することが考えられる。
層から極力遠ざけた位置に形成する構成を想到した。例えば、ガラス基板内側の表面に接
する位置に静電遮蔽層を形成することが考えられる。
ところで、液晶装置は複数の画素を備えており、画素間の領域を遮光する遮光層を有し
ている。このような遮光層としては、クロム等の金属を真空蒸着させた金属薄膜をエッチ
ングして形成される金属遮光層と、黒色の顔料等を分散させた樹脂により形成される樹脂
遮光層とがある。これらのうち、樹脂遮光層は、金属遮光層と比べると、真空蒸着等のプ
ロセスが不要であり、大面積の基板上にも形成が容易、という利点がある。
ている。このような遮光層としては、クロム等の金属を真空蒸着させた金属薄膜をエッチ
ングして形成される金属遮光層と、黒色の顔料等を分散させた樹脂により形成される樹脂
遮光層とがある。これらのうち、樹脂遮光層は、金属遮光層と比べると、真空蒸着等のプ
ロセスが不要であり、大面積の基板上にも形成が容易、という利点がある。
そこで発明者は、上述のように想到した構造を得るため、静電遮蔽層を形成したガラス
基板において、静電遮蔽層上に樹脂遮光層を積層する検討を行ったが、現像時に残渣が残
ってパターニング不良を起こし、良好な樹脂遮光層が形成できなかった。また、残渣が残
らないような現像条件とすると、必要部分の剥離を生じ、やはり良好な樹脂遮光層が形成
できなかった。
基板において、静電遮蔽層上に樹脂遮光層を積層する検討を行ったが、現像時に残渣が残
ってパターニング不良を起こし、良好な樹脂遮光層が形成できなかった。また、残渣が残
らないような現像条件とすると、必要部分の剥離を生じ、やはり良好な樹脂遮光層が形成
できなかった。
通常、樹脂遮光層は、平坦面を備えたガラス基板上に形成することが多く、フォトリソ
グラフィを用いたパターニングを行う事で形成する。そのため、樹脂遮光層の形成材料は
、ガラス基板上で形成することを前提として主鎖骨格や側鎖が設計されており、フォトリ
ソグラフィの反応条件が決定されている。このような事情により、静電遮蔽層上に樹脂遮
光層を形成することが困難となっていることが分かった。
グラフィを用いたパターニングを行う事で形成する。そのため、樹脂遮光層の形成材料は
、ガラス基板上で形成することを前提として主鎖骨格や側鎖が設計されており、フォトリ
ソグラフィの反応条件が決定されている。このような事情により、静電遮蔽層上に樹脂遮
光層を形成することが困難となっていることが分かった。
そこで、上記の課題を解決するため、本発明に係る第1の液晶装置の製造方法は、第1
基板と第2基板との間に液晶層が挟持され、前記第1基板上に画素電極と共通電極とが形
成され、前記画素電極と前記共通電極との間に発生する電界によって液晶を駆動する横電
界方式の液晶装置の製造方法であって、ガラス基板上に感光性樹脂の材料層を形成し、所
定の露光パターンで露光処理を行う工程と、前記材料層に現像処理を行い、底部に前記ガ
ラス基板が露出する開口部を有する樹脂遮光層を形成する工程と、前記樹脂遮光層を覆っ
て静電遮蔽層を形成する工程と、前記静電遮蔽層上の前記開口部と重なる領域に着色層を
設ける工程と、を備えることを特徴とする。
基板と第2基板との間に液晶層が挟持され、前記第1基板上に画素電極と共通電極とが形
成され、前記画素電極と前記共通電極との間に発生する電界によって液晶を駆動する横電
界方式の液晶装置の製造方法であって、ガラス基板上に感光性樹脂の材料層を形成し、所
定の露光パターンで露光処理を行う工程と、前記材料層に現像処理を行い、底部に前記ガ
ラス基板が露出する開口部を有する樹脂遮光層を形成する工程と、前記樹脂遮光層を覆っ
て静電遮蔽層を形成する工程と、前記静電遮蔽層上の前記開口部と重なる領域に着色層を
設ける工程と、を備えることを特徴とする。
また、本発明に係る第2の液晶装置の製造方法は、第1基板と第2基板との間に液晶層
が挟持され、前記第1基板上に画素電極と共通電極とが形成され、前記画素電極と前記共
通電極との間に発生する電界によって液晶を駆動する横電界方式の液晶装置の製造方法で
あって、ガラス基板上に感光性樹脂の材料層を形成し、所定の露光パターンで露光処理を
行う工程と、前記材料層に現像処理を行い、底部に前記ガラス基板が露出する開口部を有
する樹脂遮光層を形成する工程と、前記開口部と重なる領域に着色層を設け、カラーフィ
ルタ層を形成する工程と、前記樹脂遮光層及び前記着色層を覆って静電遮蔽層を形成する
工程と、を備えることを特徴とする。
が挟持され、前記第1基板上に画素電極と共通電極とが形成され、前記画素電極と前記共
通電極との間に発生する電界によって液晶を駆動する横電界方式の液晶装置の製造方法で
あって、ガラス基板上に感光性樹脂の材料層を形成し、所定の露光パターンで露光処理を
行う工程と、前記材料層に現像処理を行い、底部に前記ガラス基板が露出する開口部を有
する樹脂遮光層を形成する工程と、前記開口部と重なる領域に着色層を設け、カラーフィ
ルタ層を形成する工程と、前記樹脂遮光層及び前記着色層を覆って静電遮蔽層を形成する
工程と、を備えることを特徴とする。
これらの方法によれば、ガラス基板上に予め樹脂遮光層を形成するために、現像時に樹
脂遮光層の形成材料を除去しやすく、残渣を残さない良好なパターニングが可能である。
静電遮蔽層は良好に形成した樹脂遮光層の形成後に設けることから、樹脂遮光層の形成に
影響を及ぼさない。そのため、良好にパターニングされた樹脂遮光層と、静電気を捕捉す
る静電遮蔽層と、を有し、外部からの静電気に起因する画像乱れを抑制した液晶装置の製
造方法を提供することができる。
脂遮光層の形成材料を除去しやすく、残渣を残さない良好なパターニングが可能である。
静電遮蔽層は良好に形成した樹脂遮光層の形成後に設けることから、樹脂遮光層の形成に
影響を及ぼさない。そのため、良好にパターニングされた樹脂遮光層と、静電気を捕捉す
る静電遮蔽層と、を有し、外部からの静電気に起因する画像乱れを抑制した液晶装置の製
造方法を提供することができる。
本発明においては、前記静電遮蔽層および前記着色層を覆う絶縁層を形成する工程を有
することが望ましい。
この方法によれば、静電遮蔽層と液晶層とが、絶縁層の厚み分だけ更に離間するため電
圧降下が生じ、静電遮蔽層で捕捉した静電気が液晶層に作用する力(クーロン力)が弱ま
る。そのため、絶縁層が無いものと比べて静電気に起因する表示乱れを防ぎ、高品質な画
像表示が可能な液晶装置の製造方法とすることができる。
することが望ましい。
この方法によれば、静電遮蔽層と液晶層とが、絶縁層の厚み分だけ更に離間するため電
圧降下が生じ、静電遮蔽層で捕捉した静電気が液晶層に作用する力(クーロン力)が弱ま
る。そのため、絶縁層が無いものと比べて静電気に起因する表示乱れを防ぎ、高品質な画
像表示が可能な液晶装置の製造方法とすることができる。
本発明においては、前記絶縁層に、前記静電遮蔽層を露出させる第1コンタクトホール
を形成する工程と、前記第1基板に、駆動回路と、前記駆動回路と電気的に接続された引
き回し配線とを形成する工程と、前記第1コンタクトホールと平面的に重なる位置に導通
材を配置し、前記引き回し配線と前記静電遮蔽層とを電気的に接続する工程と、を有する
ことが望ましい。
この方法によれば、静電遮蔽層に捕捉される静電気の電荷が駆動回路により設定される
電位に保たれるため、長時間使用しても静電気が蓄積・増加することなく、静電気の影響
による画像乱れを抑制した液晶装置の製造方法を提供することができる。
を形成する工程と、前記第1基板に、駆動回路と、前記駆動回路と電気的に接続された引
き回し配線とを形成する工程と、前記第1コンタクトホールと平面的に重なる位置に導通
材を配置し、前記引き回し配線と前記静電遮蔽層とを電気的に接続する工程と、を有する
ことが望ましい。
この方法によれば、静電遮蔽層に捕捉される静電気の電荷が駆動回路により設定される
電位に保たれるため、長時間使用しても静電気が蓄積・増加することなく、静電気の影響
による画像乱れを抑制した液晶装置の製造方法を提供することができる。
本発明においては、前記引き回し配線を形成する工程の後に、前記引き回し配線を覆う
絶縁膜を形成する工程と、前記絶縁膜に、前記引き回し配線の一部を露出させる第2コン
タクトホールを形成する工程と、前記第2コンタクトホールの内部に、前記引き回し配線
を覆う導電膜を形成する工程と、を有し、前記電気的に接続する工程では、前記導通材を
前記導電膜と接して配置することが望ましい。
この方法によれば、導電膜が第2コンタクトホールの内部に露出する引き回し配線の酸
化を防ぎ、且つ良好な導通が得られるため、効果的に静電遮蔽層に蓄積する電荷を放出し
、良好な表示が可能な液晶装置の製造方法を提供することができる。特に、引き回し配線
の形成材料がアルミニウム等の卑金属である場合には、良好に表面酸化を防ぎ、導通を確
保することができるため好適である。
絶縁膜を形成する工程と、前記絶縁膜に、前記引き回し配線の一部を露出させる第2コン
タクトホールを形成する工程と、前記第2コンタクトホールの内部に、前記引き回し配線
を覆う導電膜を形成する工程と、を有し、前記電気的に接続する工程では、前記導通材を
前記導電膜と接して配置することが望ましい。
この方法によれば、導電膜が第2コンタクトホールの内部に露出する引き回し配線の酸
化を防ぎ、且つ良好な導通が得られるため、効果的に静電遮蔽層に蓄積する電荷を放出し
、良好な表示が可能な液晶装置の製造方法を提供することができる。特に、引き回し配線
の形成材料がアルミニウム等の卑金属である場合には、良好に表面酸化を防ぎ、導通を確
保することができるため好適である。
本発明においては、前記導電膜を形成する工程では、導電性金属酸化物を形成材料とす
ることが望ましい。
この方法によれば、コンタクトホールの底部に露出する引き回し配線の酸化を良好に防
ぐことができる。
ることが望ましい。
この方法によれば、コンタクトホールの底部に露出する引き回し配線の酸化を良好に防
ぐことができる。
本発明においては、前記第1基板に前記画素電極を形成した後に、絶縁膜を介して前記
画素電極と重なる前記共通電極を形成する工程を有することが望ましい。
この方法によれば、静電気を捕捉する静電遮蔽層と画素電極との間がより離れたものと
なる。そのため、画素電極と静電遮蔽層との間に発生する縦方向の電界を微弱に抑えるこ
とができ、画像乱れを抑制した液晶装置の製造方法を提供することができる。
画素電極と重なる前記共通電極を形成する工程を有することが望ましい。
この方法によれば、静電気を捕捉する静電遮蔽層と画素電極との間がより離れたものと
なる。そのため、画素電極と静電遮蔽層との間に発生する縦方向の電界を微弱に抑えるこ
とができ、画像乱れを抑制した液晶装置の製造方法を提供することができる。
[第1実施形態]
以下、図1〜図6を参照しながら、本発明に係る液晶装置の製造方法について説明する
。なお、以下の全ての図面においては、図面を見やすくするため、各構成要素の膜厚や寸
法の比率などは適宜異ならせてある。
以下、図1〜図6を参照しながら、本発明に係る液晶装置の製造方法について説明する
。なお、以下の全ての図面においては、図面を見やすくするため、各構成要素の膜厚や寸
法の比率などは適宜異ならせてある。
本実施形態の製造方法で製造する液晶装置は、光の進行方向と直交する横電界によって
液晶分子の方位角を制御して画像表示を行うものである。このような方式としては、FF
S方式や、IPS方式等が知られている。以下、FFS方式の駆動方式を採用した液晶装
置のうちフルカラー表示が可能なものに基づいて説明するが、本発明はIPS方式の液晶
装置にも適用可能である。
液晶分子の方位角を制御して画像表示を行うものである。このような方式としては、FF
S方式や、IPS方式等が知られている。以下、FFS方式の駆動方式を採用した液晶装
置のうちフルカラー表示が可能なものに基づいて説明するが、本発明はIPS方式の液晶
装置にも適用可能である。
図1は、本実施形態の製造方法で製造する液晶装置1の等価回路図である。液晶装置1
の画像表示領域を構成するマトリクス状に形成された複数のサブ画素領域には、画素電極
9と画素電極9をスイッチング制御するためのTFT30とが形成されている。画素電極
9と共通電極19との間には液晶層50が介在している。共通電極19は走査線駆動回路
204から延びる共通線3bと電気的に接続されており、複数のサブ画素において共通の
電位に保持されるようになっている。
の画像表示領域を構成するマトリクス状に形成された複数のサブ画素領域には、画素電極
9と画素電極9をスイッチング制御するためのTFT30とが形成されている。画素電極
9と共通電極19との間には液晶層50が介在している。共通電極19は走査線駆動回路
204から延びる共通線3bと電気的に接続されており、複数のサブ画素において共通の
電位に保持されるようになっている。
データ線駆動回路201から延びるデータ線6aがTFT30のソースと電気的に接続
されている。データ線駆動回路201は、画像信号S1、S2、…、Snを、データ線6
aを介して各サブ画素に供給する。画像信号S1〜Snはこの順に線順次に供給しても構
わないし、相隣接する複数のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給するようにし
てもよい。
されている。データ線駆動回路201は、画像信号S1、S2、…、Snを、データ線6
aを介して各サブ画素に供給する。画像信号S1〜Snはこの順に線順次に供給しても構
わないし、相隣接する複数のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給するようにし
てもよい。
TFT30のゲートには、走査線駆動回路204から延びる走査線3aが電気的に接続
されている。走査線駆動回路204から所定のタイミングで走査線3aにパルス的に供給
される走査信号G1、G2、…、Gmが、この順に線順次でTFT30のゲートに印加さ
れるようになっている。
されている。走査線駆動回路204から所定のタイミングで走査線3aにパルス的に供給
される走査信号G1、G2、…、Gmが、この順に線順次でTFT30のゲートに印加さ
れるようになっている。
画素電極9は、TFT30のドレインに電気的に接続されている。スイッチング素子で
あるTFT30が走査信号G1、G2、…、Gmの入力により一定期間だけオン状態とさ
れることで、データ線6aから供給される画像信号S1、S2、…、Snが所定のタイミ
ングで画素電極9に書き込まれるようになっている。画素電極9を介して液晶層50に書
き込まれた所定レベルの画像信号S1、S2、…、Snは、画素電極9と液晶層50を介
して対向する共通電極19との間で一定期間保持される。
あるTFT30が走査信号G1、G2、…、Gmの入力により一定期間だけオン状態とさ
れることで、データ線6aから供給される画像信号S1、S2、…、Snが所定のタイミ
ングで画素電極9に書き込まれるようになっている。画素電極9を介して液晶層50に書
き込まれた所定レベルの画像信号S1、S2、…、Snは、画素電極9と液晶層50を介
して対向する共通電極19との間で一定期間保持される。
図2〜図4は、本実施形態の製造方法で製造する液晶装置1について、対向基板(第2
基板)側から見た平面図であり、図3は図2の一部を拡大した図、図4は図3の一部を拡
大した図である。
基板)側から見た平面図であり、図3は図2の一部を拡大した図、図4は図3の一部を拡
大した図である。
図2に示すように、本実施形態の液晶装置1は、素子基板(第1基板)10と対向基板
20とが平面的に重なる部分の周縁部においてシール材52によって貼り合わされ、この
シール材52によって区画された領域(表示領域A)内に液晶分子が封入、保持されてい
る。シール材52には、製造時において素子基板10と対向基板20とを貼り合わせた後
に液晶分子を注入するための液晶注入口55が形成されており、液晶注入口55は液晶注
入後に封止材54により封止されている。素子基板10の内面側であって表示領域Aと平
面的に重なる領域には、図示略の画素電極および共通電極が形成されており、素子基板1
0の内面側であってシール材52と平面的に重なる領域には、引き回し配線18が設けら
れている。
20とが平面的に重なる部分の周縁部においてシール材52によって貼り合わされ、この
シール材52によって区画された領域(表示領域A)内に液晶分子が封入、保持されてい
る。シール材52には、製造時において素子基板10と対向基板20とを貼り合わせた後
に液晶分子を注入するための液晶注入口55が形成されており、液晶注入口55は液晶注
入後に封止材54により封止されている。素子基板10の内面側であって表示領域Aと平
面的に重なる領域には、図示略の画素電極および共通電極が形成されており、素子基板1
0の内面側であってシール材52と平面的に重なる領域には、引き回し配線18が設けら
れている。
素子基板10の一端側の、素子基板10と対向基板20との重なり部分から張り出し
た部分(基板張出部10a)には、液晶装置1を駆動する駆動信号を処理し適宜供給する
ための駆動用IC201が実装されており、端部には入力用端子202が設けられている
。入力用端子202には、例えば異方性導電膜203を介して、配線が形成されたFPC
(Flexible Printed Circuit)基板等が実装されており、外部電源や種々の外部機器と接
続している。
た部分(基板張出部10a)には、液晶装置1を駆動する駆動信号を処理し適宜供給する
ための駆動用IC201が実装されており、端部には入力用端子202が設けられている
。入力用端子202には、例えば異方性導電膜203を介して、配線が形成されたFPC
(Flexible Printed Circuit)基板等が実装されており、外部電源や種々の外部機器と接
続している。
また、対向基板20の内面側には、後述の静電シールド層(静電遮蔽層)40が設けら
れており、対向基板20のコーナー部の少なくとも1箇所に配設された導通部材(導電接
続部)43を介して、素子基板10の引き回し配線18と電気的に導通している。本実施
形態の液晶装置1では、素子基板10の他端側(駆動用IC201側の辺と対向する側)
の辺の両端部に2箇所、導通材43が設けられている。液晶装置1においては、その他必
要応じて位相差板、偏光板等が所定の向きに配置されるが、ここでは図示を省略する。
れており、対向基板20のコーナー部の少なくとも1箇所に配設された導通部材(導電接
続部)43を介して、素子基板10の引き回し配線18と電気的に導通している。本実施
形態の液晶装置1では、素子基板10の他端側(駆動用IC201側の辺と対向する側)
の辺の両端部に2箇所、導通材43が設けられている。液晶装置1においては、その他必
要応じて位相差板、偏光板等が所定の向きに配置されるが、ここでは図示を省略する。
図3は、図2において二点鎖線で囲んだ領域AR1の拡大図である。ここでは、主とし
て素子基板側の構成を示している。
て素子基板側の構成を示している。
図に示すように、表示領域Aには、平面視略矩形の複数のサブ画素Pがマトリクス状に
縦横に配置している。また、シール材52の内側であって表示領域Aの周辺は、非表示領
域Mとなっている。非表示領域Mには、引き回し配線18から浸入する静電気を放電し、
表示領域Aに配置されたサブ画素Pを保護するための静電保護領域SAと、静電保護領域
SAで放電仕切れなかった静電気によるサブ画素Pの破壊を自ら破壊されることで代行す
るダミー画素(静電保護部材)DPが配置されたダミー領域DAが設けられている。
縦横に配置している。また、シール材52の内側であって表示領域Aの周辺は、非表示領
域Mとなっている。非表示領域Mには、引き回し配線18から浸入する静電気を放電し、
表示領域Aに配置されたサブ画素Pを保護するための静電保護領域SAと、静電保護領域
SAで放電仕切れなかった静電気によるサブ画素Pの破壊を自ら破壊されることで代行す
るダミー画素(静電保護部材)DPが配置されたダミー領域DAが設けられている。
素子基板10における表示領域Aの周囲には、シール材52と重なって、共通電極19
に共通電位を供給する引き回し配線18が形成されており、引き回し配線18が折れ曲が
る角には外側(液晶層50とは反対側)に突出する接続部18aが形成されている。
に共通電位を供給する引き回し配線18が形成されており、引き回し配線18が折れ曲が
る角には外側(液晶層50とは反対側)に突出する接続部18aが形成されている。
一方、不図示の対向基板が備える静電シールド層40の角部にも外側に突出する接続部
40aが形成されている。接続部40aと接続部18aとは平面的に重なっていると共に
、いずれもシール材52の外側にまで延在して形成されており、各々の端部において導通
材43を介して電気的に接続されている。したがって、静電シールド層40の電位は、共
通電位と同電位に保たれている。
40aが形成されている。接続部40aと接続部18aとは平面的に重なっていると共に
、いずれもシール材52の外側にまで延在して形成されており、各々の端部において導通
材43を介して電気的に接続されている。したがって、静電シールド層40の電位は、共
通電位と同電位に保たれている。
図4は、図3において二点鎖線で囲んだ領域AR2の拡大図である。
図に示す様に、非表示領域Mには、サブ画素Pの周辺に配置された複数のダミー画素D
Pを有するダミー領域DAと、ダミー領域DAとシール材52との間の領域に配置された
ショートリング(静電保護部材)211や抵抗素子(静電保護部材)212を有する静電
保護領域SAと、が設けられている。静電保護領域SAのショートリング211および抵
抗素子212は、主に製造工程中に発生する静電気からサブ画素Pごとに配置されたTF
Tを保護するために設けられる。
Pを有するダミー領域DAと、ダミー領域DAとシール材52との間の領域に配置された
ショートリング(静電保護部材)211や抵抗素子(静電保護部材)212を有する静電
保護領域SAと、が設けられている。静電保護領域SAのショートリング211および抵
抗素子212は、主に製造工程中に発生する静電気からサブ画素Pごとに配置されたTF
Tを保護するために設けられる。
製造工程中に発生する静電気は、表示領域Aの周辺からサブ画素Pに侵入する。そのた
め、発生する静電気を静電保護領域SAの機能にて放電すると共に、放電仕切れなかった
静電気をダミー領域DAに配置されたダミー画素DPが破壊されることで、サブ画素Pが
破壊されることを防いでいる。
め、発生する静電気を静電保護領域SAの機能にて放電すると共に、放電仕切れなかった
静電気をダミー領域DAに配置されたダミー画素DPが破壊されることで、サブ画素Pが
破壊されることを防いでいる。
抵抗素子212は、サブ画素Pおよびダミー画素DPが配列する行列に対応して、各行
列の端部に設けられている。図では、サブ画素Pおよびダミー画素DPの行に対して1行
おき(上端の行から数えて偶数行)に設けられ、各々の行の走査線3aと接続している。
また、図示は省略するが、図に示す右辺と対向する側の左辺には、残る行(奇数行)に対
応する抵抗素子212が設けられている。また、サブ画素Pおよびダミー画素DPの列の
上端部にも、列毎に抵抗素子212が設けられている。
列の端部に設けられている。図では、サブ画素Pおよびダミー画素DPの行に対して1行
おき(上端の行から数えて偶数行)に設けられ、各々の行の走査線3aと接続している。
また、図示は省略するが、図に示す右辺と対向する側の左辺には、残る行(奇数行)に対
応する抵抗素子212が設けられている。また、サブ画素Pおよびダミー画素DPの列の
上端部にも、列毎に抵抗素子212が設けられている。
また、共通電極19は、サブ画素Pおよびダミー画素DPを覆って形成されており、抵
抗素子212が設けられた側の端部には、ショートリング211と接続するための張出部
213が設けられている。張出部213は、抵抗素子212と重ならない位置に設けられ
ており、張出部213を介して共通電極19とショートリング211とが接続している。
抗素子212が設けられた側の端部には、ショートリング211と接続するための張出部
213が設けられている。張出部213は、抵抗素子212と重ならない位置に設けられ
ており、張出部213を介して共通電極19とショートリング211とが接続している。
また、共通電極19の上端の角部分に設けられた張出部213には、引き回し配線18
と接続するために平面視略矩形の接続部19aが設けられており、複数のコンタクトホー
ル214を介して違いに接続している。また、接続部19aは、複数のコンタクトホール
215を介して、ショートリング211とも接続している。これら静電保護領域SAに設
けられた部材により、サブ画素Pに設けられたTFTの静電破壊を防止している。
と接続するために平面視略矩形の接続部19aが設けられており、複数のコンタクトホー
ル214を介して違いに接続している。また、接続部19aは、複数のコンタクトホール
215を介して、ショートリング211とも接続している。これら静電保護領域SAに設
けられた部材により、サブ画素Pに設けられたTFTの静電破壊を防止している。
また、静電シールド層40は、これらダミー領域DAや静電保護領域SAの各構成と平
面的に重なって設けられている。静電シールド層40は、後述するように外部からの静電
気を捕捉する機能を有しており、静電気によりダミー領域DAや静電保護領域SAの各構
成が破壊されることを防いでいる。そのため、ダミー領域DAや静電保護領域SAでは、
良好にサブ画素Pが破壊されることを防ぐことができる。また、静電シールド層40とダ
ミー領域DAや静電保護領域SAの各構成とは電気的に接続されているため、互いに協働
して静電気を拡散させることができる。
面的に重なって設けられている。静電シールド層40は、後述するように外部からの静電
気を捕捉する機能を有しており、静電気によりダミー領域DAや静電保護領域SAの各構
成が破壊されることを防いでいる。そのため、ダミー領域DAや静電保護領域SAでは、
良好にサブ画素Pが破壊されることを防ぐことができる。また、静電シールド層40とダ
ミー領域DAや静電保護領域SAの各構成とは電気的に接続されているため、互いに協働
して静電気を拡散させることができる。
図5は、本実施形態の製造方法で製造する液晶装置1のシール材52及び導通材43周
辺の概略断面図である。ここでは、図を見やすくするために、非表示領域における構成を
省略して図示している。
辺の概略断面図である。ここでは、図を見やすくするために、非表示領域における構成を
省略して図示している。
図に示すように、液晶装置1は、素子基板10と、素子基板10と対向配置された対向
基板20と、素子基板10と対向基板20との間に挟持された液晶層50と、を備えて構
成されている。また、液晶装置1には、素子基板10と対向基板20とが対向する領域の
縁端に沿ってシール材52が設けられ、液晶層50を構成する液晶分子が封止されている
。この液晶装置1は、素子基板10側から照明光が照射され、表示される画像を対向基板
20側から観察する構成となっている。
基板20と、素子基板10と対向基板20との間に挟持された液晶層50と、を備えて構
成されている。また、液晶装置1には、素子基板10と対向基板20とが対向する領域の
縁端に沿ってシール材52が設けられ、液晶層50を構成する液晶分子が封止されている
。この液晶装置1は、素子基板10側から照明光が照射され、表示される画像を対向基板
20側から観察する構成となっている。
素子基板10は、透光性を備えた基板本体11を備えている。基板本体11を形成する
材料には、例えばガラス、石英ガラス、窒化ケイ素等の無機物や、アクリル樹脂、ポリカ
ーボネート樹脂等の有機高分子化合物(樹脂)を用いることができる。また、透光性を備
えるならば、これらの材料を積層または混合して形成された複合材料を用いることもでき
る。
材料には、例えばガラス、石英ガラス、窒化ケイ素等の無機物や、アクリル樹脂、ポリカ
ーボネート樹脂等の有機高分子化合物(樹脂)を用いることができる。また、透光性を備
えるならば、これらの材料を積層または混合して形成された複合材料を用いることもでき
る。
基板本体11の液晶層50側の面上には、アルミニウムや銅等の導電性材料からなる走
査線3aと不図示のデータ線が形成されている。また、シール材52と平面的に重なる領
域には、同様の導電性材料からなる引き回し配線18が形成されている。これらは同じ材
料を用いることとしてもよく、また異なる材料を用いて形成しても良い。これらは、例え
ば導電性材料の薄膜を成膜した後に、パターニングされることにより得られる。本実施形
態では形成材料としてアルミニウムを用いる。
査線3aと不図示のデータ線が形成されている。また、シール材52と平面的に重なる領
域には、同様の導電性材料からなる引き回し配線18が形成されている。これらは同じ材
料を用いることとしてもよく、また異なる材料を用いて形成しても良い。これらは、例え
ば導電性材料の薄膜を成膜した後に、パターニングされることにより得られる。本実施形
態では形成材料としてアルミニウムを用いる。
また基板本体11上には、走査線3a、データ線、引き回し配線18を覆うようにゲー
ト絶縁膜12が形成されている。ゲート絶縁膜12は、窒化シリコンや酸化シリコンなど
のような絶縁性を有する透光性材料で構成されている。
ト絶縁膜12が形成されている。ゲート絶縁膜12は、窒化シリコンや酸化シリコンなど
のような絶縁性を有する透光性材料で構成されている。
ゲート絶縁膜12上には、半導体層32、半導体層32の一端に接続されているソース
電極33、半導体層32の他端に接続されているドレイン電極34が形成されており、こ
れら半導体層32、ソース電極33、ドレイン電極34および走査線3aによってボトム
ゲート型のTFT30を構成している。また、TFT30を覆うように層間絶縁膜13が
形成されている。層間絶縁膜13は、ゲート絶縁膜12と同様に、窒化シリコンや酸化シ
リコンなどの絶縁性を有する透光性材料で構成されている。
電極33、半導体層32の他端に接続されているドレイン電極34が形成されており、こ
れら半導体層32、ソース電極33、ドレイン電極34および走査線3aによってボトム
ゲート型のTFT30を構成している。また、TFT30を覆うように層間絶縁膜13が
形成されている。層間絶縁膜13は、ゲート絶縁膜12と同様に、窒化シリコンや酸化シ
リコンなどの絶縁性を有する透光性材料で構成されている。
層間絶縁膜13上には、画素電極9が形成されており、コンタクトホール16を介して
TFT30のドレイン電極34と電気的に接続している。画素電極9は、ITO(Indium
Tin Oxide:インジウム錫酸化物)や錫酸化物(SnO2)等の透光性を備えた導電性材
料にて形成されている。本実施形態ではITOを用いている。
TFT30のドレイン電極34と電気的に接続している。画素電極9は、ITO(Indium
Tin Oxide:インジウム錫酸化物)や錫酸化物(SnO2)等の透光性を備えた導電性材
料にて形成されている。本実施形態ではITOを用いている。
また、層間絶縁膜13上には、画素電極9を覆って電極間絶縁膜14が形成されている
。電極間絶縁膜14は、ゲート絶縁膜12や層間絶縁膜13と同様に、窒化シリコンや酸
化シリコンなどの絶縁性を有する透光性材料で構成されており、層間絶縁膜13上に形成
された画素電極9を被覆している。
。電極間絶縁膜14は、ゲート絶縁膜12や層間絶縁膜13と同様に、窒化シリコンや酸
化シリコンなどの絶縁性を有する透光性材料で構成されており、層間絶縁膜13上に形成
された画素電極9を被覆している。
電極間絶縁膜14上には、梯子状の共通電極19が形成されている。画素電極9と共通
電極19とは、電極間絶縁膜14を介して配置されており、FFS方式の電極構造を構成
している。また共通電極19は、ゲート絶縁膜12、層間絶縁膜13、電極間絶縁膜14
を連通するコンタクトホール17を介して引き回し配線18と接続されている。共通電極
19は、ITO等の透光性の導電性材料にて形成されており、本実施形態では共通電極1
9の材料にITOを用いている。
電極19とは、電極間絶縁膜14を介して配置されており、FFS方式の電極構造を構成
している。また共通電極19は、ゲート絶縁膜12、層間絶縁膜13、電極間絶縁膜14
を連通するコンタクトホール17を介して引き回し配線18と接続されている。共通電極
19は、ITO等の透光性の導電性材料にて形成されており、本実施形態では共通電極1
9の材料にITOを用いている。
また、電極間絶縁膜14上には、共通電極19を覆って配向膜15が形成されている。
配向膜15は、例えばポリイミドなどの有機材料やシリコン酸化物などの無機材料で構成
されている。本実施形態の配向膜15は、ポリイミドの形成材料を塗布してこれを乾燥・
硬化させた後、その上面にラビング処理を施すことによって得られる。
配向膜15は、例えばポリイミドなどの有機材料やシリコン酸化物などの無機材料で構成
されている。本実施形態の配向膜15は、ポリイミドの形成材料を塗布してこれを乾燥・
硬化させた後、その上面にラビング処理を施すことによって得られる。
一方、対向基板20は透光性を備えた基板本体21を備えている。基板本体21を形成
する材料には基板本体11と同様の材料を用いることができる。
する材料には基板本体11と同様の材料を用いることができる。
基板本体21の液晶層50側の面上には、ブラックマトリクス22bが形成されている
。ブラックマトリクス22bは、例えば黒色顔料を混合したアクリル樹脂などのネガ型感
光性樹脂を用いて格子上にパターニングして形成する。
。ブラックマトリクス22bは、例えば黒色顔料を混合したアクリル樹脂などのネガ型感
光性樹脂を用いて格子上にパターニングして形成する。
また、基板本体21の液晶層50側の面上には、基板本体21およびブラックマトリク
ス22bの表面を覆って静電シールド層40が形成されている。静電シールド層40は、
外部からの静電気を捕捉し、捉えた静電気を後述の導通材43を介して逃がすことで、対
向基板20と素子基板10との間に不測の縦電界を生じることを防止するために設けられ
る。静電シールド層40は、ITOやSnO2等の透光性を有する導電材料を用いて形成
されており、本実施形態ではITOを形成材料としている。
ス22bの表面を覆って静電シールド層40が形成されている。静電シールド層40は、
外部からの静電気を捕捉し、捉えた静電気を後述の導通材43を介して逃がすことで、対
向基板20と素子基板10との間に不測の縦電界を生じることを防止するために設けられ
る。静電シールド層40は、ITOやSnO2等の透光性を有する導電材料を用いて形成
されており、本実施形態ではITOを形成材料としている。
静電シールド層40の液晶層50側の面上には、着色層22aが形成されている。着色
層22aは、パターニングによりブラックマトリクス22bに設けられた開口部22cと
重なる静電シールド層40上に、液滴吐出法などの湿式塗布法を用いて着色層22aの形
成材料を配置して形成する。複数の着色層22aとブラックマトリクス22bとで、カラ
ーフィルタ層22を成している。
層22aは、パターニングによりブラックマトリクス22bに設けられた開口部22cと
重なる静電シールド層40上に、液滴吐出法などの湿式塗布法を用いて着色層22aの形
成材料を配置して形成する。複数の着色層22aとブラックマトリクス22bとで、カラ
ーフィルタ層22を成している。
本実施形態では各層の膜厚を、着色層22aは2μm、ブラックマトリクス22bは1
.5μmとした。カラーフィルタ層22で、素子基板10側から入射して対向基板20側
に出射する光を赤色、緑色、青色に変調し、各色の光を混色することでフルカラー表示が
可能となる。
.5μmとした。カラーフィルタ層22で、素子基板10側から入射して対向基板20側
に出射する光を赤色、緑色、青色に変調し、各色の光を混色することでフルカラー表示が
可能となる。
カラーフィルタ層22上には、オーバーコート層(絶縁層)24が形成されている。オ
ーバーコート(OVC)層24は、カラーフィルタ層22を物理的または化学的に保護し
、カラーフィルタ層22表面の凹凸形状を緩和する機能を備える。また、形成された着色
層22aやブラックマトリクス22bから、各々の形成材料に含まれる硬化剤の反応残渣
などの低分子量物質やイオン性の不純物が液晶層50へ溶出し、表示乱れを起こすことを
防ぐ。OVC層24は、例えばアクリル樹脂やエポキシ樹脂などの透光性を備えた硬化性
樹脂を用いて形成する。本実施形態ではアクリル樹脂を用い、膜厚2μmに形成している
。
ーバーコート(OVC)層24は、カラーフィルタ層22を物理的または化学的に保護し
、カラーフィルタ層22表面の凹凸形状を緩和する機能を備える。また、形成された着色
層22aやブラックマトリクス22bから、各々の形成材料に含まれる硬化剤の反応残渣
などの低分子量物質やイオン性の不純物が液晶層50へ溶出し、表示乱れを起こすことを
防ぐ。OVC層24は、例えばアクリル樹脂やエポキシ樹脂などの透光性を備えた硬化性
樹脂を用いて形成する。本実施形態ではアクリル樹脂を用い、膜厚2μmに形成している
。
OVC層24上には、配向膜15と同様の材料を用いて配向膜25が形成されている。
本実施形態の配向膜25は、ポリイミドの形成材料を塗布してこれを乾燥・硬化させた後
、その上面に一定方向にラビング処理を施すことによって得られる。ラビングによる配向
膜25の配向方向は、配向膜15の配向方向と同方向となるように設定されている。
本実施形態の配向膜25は、ポリイミドの形成材料を塗布してこれを乾燥・硬化させた後
、その上面に一定方向にラビング処理を施すことによって得られる。ラビングによる配向
膜25の配向方向は、配向膜15の配向方向と同方向となるように設定されている。
また、液晶層50と重なる領域のOVC層24上には、ブラックマトリクス22bと重
なる領域に、スペーサ56が形成されている。スペーサ56は、素子基板10と対向基板
20との離間距離を一定以下にならないように保持するためのものである。例えば、対向
基板20側から応力が加わった場合に、液晶層50の厚さがスペーサ56の高さ未満とな
らないため、表示乱れを防ぐことができる。
なる領域に、スペーサ56が形成されている。スペーサ56は、素子基板10と対向基板
20との離間距離を一定以下にならないように保持するためのものである。例えば、対向
基板20側から応力が加わった場合に、液晶層50の厚さがスペーサ56の高さ未満とな
らないため、表示乱れを防ぐことができる。
素子基板10に設けられた引き回し配線18と、対向基板20に設けられた静電シール
ド層40とは、液晶層50の周囲を囲むシール材52の外側(液晶層50とは反対側)の
領域において、導通材43を介して導通している。導通材43は、導電性を有する微粒子
を混合した硬化性樹脂や、銀ペーストなどを用いる事ができる。導電性を有する微粒子に
は、例えばAuやAgなどの金属微粒子や、金属などの導電性を有する材料で導電性を有
さない微粒子の表面をコートしたものなどが挙げられる。
ド層40とは、液晶層50の周囲を囲むシール材52の外側(液晶層50とは反対側)の
領域において、導通材43を介して導通している。導通材43は、導電性を有する微粒子
を混合した硬化性樹脂や、銀ペーストなどを用いる事ができる。導電性を有する微粒子に
は、例えばAuやAgなどの金属微粒子や、金属などの導電性を有する材料で導電性を有
さない微粒子の表面をコートしたものなどが挙げられる。
素子基板10側の導通材43を配置する領域には、ゲート絶縁膜12、層間絶縁膜13
、電極間絶縁膜14を貫通して互いに連通するコンタクトホール(第2コンタクトホール
)41が形成されており、底部には引き回し配線18が一部露出している。
、電極間絶縁膜14を貫通して互いに連通するコンタクトホール(第2コンタクトホール
)41が形成されており、底部には引き回し配線18が一部露出している。
本実施形態の引き回し配線18は、形成材料として卑金属であるアルミニウムを用いて
いるため、コンタクトホール41を形成して露出させると、表面が酸化して酸化膜を形成
し、導通を取ることができないおそれがある。また、コンタクトホール41の底部には引
き回し配線18の一部のみが露出するのみであり、導通材43との導通面積が小さい。そ
のため、引き回し配線18の表面酸化を防ぎ、また、導通材43との導通を確実なものと
するため、コンタクトホール41を覆ってITOやSnO2を形成材料とする導電膜44
が形成されていることが望ましい。
いるため、コンタクトホール41を形成して露出させると、表面が酸化して酸化膜を形成
し、導通を取ることができないおそれがある。また、コンタクトホール41の底部には引
き回し配線18の一部のみが露出するのみであり、導通材43との導通面積が小さい。そ
のため、引き回し配線18の表面酸化を防ぎ、また、導通材43との導通を確実なものと
するため、コンタクトホール41を覆ってITOやSnO2を形成材料とする導電膜44
が形成されていることが望ましい。
また、対向基板20側の導通材43を配置する領域には、OVC層24を貫通して互い
に連通するコンタクトホール(第1コンタクトホール)42が形成されている。
本実施形態の液晶装置1は、以上のような構成となっている。
に連通するコンタクトホール(第1コンタクトホール)42が形成されている。
本実施形態の液晶装置1は、以上のような構成となっている。
次いで、図6を用い、液晶装置1の製造方法について対向基板20の製造方法を中心に
説明する。図6は、対向基板20の製造工程を示す工程図である。
説明する。図6は、対向基板20の製造工程を示す工程図である。
まず、図6(a)に示すように、基板本体21上に、ネガ型感光性樹脂の前駆体を含む
溶液を塗布し、ブラックマトリクスの形成材料である材料層22xを成膜する。溶液の塗
布は、スピンコート法や液滴吐出法、またはフレキソ印刷やスクリーン印刷といった印刷
法などの方法を用いて行うことができる。
溶液を塗布し、ブラックマトリクスの形成材料である材料層22xを成膜する。溶液の塗
布は、スピンコート法や液滴吐出法、またはフレキソ印刷やスクリーン印刷といった印刷
法などの方法を用いて行うことができる。
次いで、図6(b)に示すように、ブラックマトリクスの形成領域に対応する位置に開
口部Maを備えたマスクMを介して材料層22xに紫外線Lを照射する。紫外線Lに曝さ
れた材料層22xは硬化し、ブラックマトリクス22bの潜像を形成する。また、マスク
Mの遮光部Mbに覆われて紫外線Lが当たらなかった領域では、重合反応が起こらないた
め材料層22xの状態を維持する。
口部Maを備えたマスクMを介して材料層22xに紫外線Lを照射する。紫外線Lに曝さ
れた材料層22xは硬化し、ブラックマトリクス22bの潜像を形成する。また、マスク
Mの遮光部Mbに覆われて紫外線Lが当たらなかった領域では、重合反応が起こらないた
め材料層22xの状態を維持する。
次いで、図6(c)に示すように、ネガ型感光性樹脂の前駆体を可溶な有機溶剤やアル
カリ性水溶液等の現像液Dを用いて、未反応の材料層22xを除去し現像する。このとき
、ガラス基板である基板本体21の表面からは、材料層22xの残渣(ネガ型感光性樹脂
の前駆体)が残ることなく良好に除去され、現像を行うことができる。材料層22xを除
去した後は、開口部22cを有するブラックマトリクス22bが現像される。必要に応じ
て、現像したブラックマトリクス22bを焼成し、ネガ型感光性樹脂を完全に硬化させる
こととしても良い。
カリ性水溶液等の現像液Dを用いて、未反応の材料層22xを除去し現像する。このとき
、ガラス基板である基板本体21の表面からは、材料層22xの残渣(ネガ型感光性樹脂
の前駆体)が残ることなく良好に除去され、現像を行うことができる。材料層22xを除
去した後は、開口部22cを有するブラックマトリクス22bが現像される。必要に応じ
て、現像したブラックマトリクス22bを焼成し、ネガ型感光性樹脂を完全に硬化させる
こととしても良い。
次いで、図6(d)に示すように、蒸着装置100A中においてITOを真空蒸着し、
静電シールド層40を成膜する。具体的には、静電シールド層40の形成材料が入った容
器110と、ブラックマトリクス22bが形成された基板本体21とを密閉容器100内
に配置し、密閉容器100内を真空に減圧した後に容器110を加熱することで、蒸発す
るブラックマトリクス22bの形成材料を基板本体21の表面に蒸着する。ここでは、蒸
着にて静電シールド層40を形成することとしたが、他にも例えばスパッタリング法や、
プラズマCVD法等の公知の技術を用いる事もできる。
静電シールド層40を成膜する。具体的には、静電シールド層40の形成材料が入った容
器110と、ブラックマトリクス22bが形成された基板本体21とを密閉容器100内
に配置し、密閉容器100内を真空に減圧した後に容器110を加熱することで、蒸発す
るブラックマトリクス22bの形成材料を基板本体21の表面に蒸着する。ここでは、蒸
着にて静電シールド層40を形成することとしたが、他にも例えばスパッタリング法や、
プラズマCVD法等の公知の技術を用いる事もできる。
次いで、図6(e)に示すように、静電シールド層40上の開口部22cと重なる領域
に、着色層の形成材料を配置し、着色層22aを形成する。
以上のようにして、ブラックマトリクス22bと静電シールド層40とを有する対向基
板20を形成することができる。このように製造される対向基板20を用い、従来知られ
た方法にて液晶装置1を製造することができる。
に、着色層の形成材料を配置し、着色層22aを形成する。
以上のようにして、ブラックマトリクス22bと静電シールド層40とを有する対向基
板20を形成することができる。このように製造される対向基板20を用い、従来知られ
た方法にて液晶装置1を製造することができる。
以上のような構成の液晶装置の製造方法によれば、ガラス基板である基板本体21上に
予め樹脂製のブラックマトリクス22bを形成するために、現像時に材料層22xを除去
しやすく、材料層22xの残渣を残さない良好なパターニングが可能である。静電シール
ド層40は良好に形成したブラックマトリクス22bの形成後に設けることから、ブラッ
クマトリクス22bの形成に影響を及ぼすことなく形成可能である。そのため、良好にパ
ターニングされブラックマトリクス22bと、外部静電気を捕捉する静電シールド層40
と、を有する液晶装置1の製造方法とすることができる。
予め樹脂製のブラックマトリクス22bを形成するために、現像時に材料層22xを除去
しやすく、材料層22xの残渣を残さない良好なパターニングが可能である。静電シール
ド層40は良好に形成したブラックマトリクス22bの形成後に設けることから、ブラッ
クマトリクス22bの形成に影響を及ぼすことなく形成可能である。そのため、良好にパ
ターニングされブラックマトリクス22bと、外部静電気を捕捉する静電シールド層40
と、を有する液晶装置1の製造方法とすることができる。
また、本実施形態では、静電シールド層40やカラーフィルタ層22を覆うOVC層2
4を形成することとしているため、OVC層24の厚み分電圧降下を生じさせ、静電気に
起因する表示乱れを防ぐことができる。
4を形成することとしているため、OVC層24の厚み分電圧降下を生じさせ、静電気に
起因する表示乱れを防ぐことができる。
また、本実施形態では、OVC層24に静電シールド層40を露出させるコンタクトホ
ール42が形成され、素子基板10側に形成された引き回し配線18と静電シールド層4
0とを、導通材43を介して接続することとしているため、長時間使用しても静電気が蓄
積・増加することがなく、静電気の影響による画像乱れを抑制した液晶装置とすることが
できる。
ール42が形成され、素子基板10側に形成された引き回し配線18と静電シールド層4
0とを、導通材43を介して接続することとしているため、長時間使用しても静電気が蓄
積・増加することがなく、静電気の影響による画像乱れを抑制した液晶装置とすることが
できる。
また、本実施形態では、引き回し配線18を露出させるコンタクトホール41の内部に
導電膜44を形成することとしているため、引き回し配線18の酸化を防ぐと共に良好な
導通を確保し、効果的に静電遮蔽層に蓄積する電荷を放出することができる。
導電膜44を形成することとしているため、引き回し配線18の酸化を防ぐと共に良好な
導通を確保し、効果的に静電遮蔽層に蓄積する電荷を放出することができる。
また、本実施形態では、画素電極9を形成した後に、電極間絶縁膜14を介して画素電
極9と重なる共通電極19を形成することとしているため、静電気を捕捉する静電シール
ド層40と画素電極9との間をより離すことができ、縦方向の電界を微弱に抑えることが
可能となる。
極9と重なる共通電極19を形成することとしているため、静電気を捕捉する静電シール
ド層40と画素電極9との間をより離すことができ、縦方向の電界を微弱に抑えることが
可能となる。
なお、本実施形態においては、ネガ型感光性樹脂を用いてブラックマトリクス22bを
形成することとしたが、ポジ型感光性樹脂を用いることとしても構わない。その場合は、
開口部22cの形成パターンに従って露光し、光照射により低分子量化したポジ型感光性
樹脂を現像時に除去する。この場合であっても、ガラス基板である基板本体21上にブラ
ックマトリクス22bを形成すると、良好な現像が可能である。
形成することとしたが、ポジ型感光性樹脂を用いることとしても構わない。その場合は、
開口部22cの形成パターンに従って露光し、光照射により低分子量化したポジ型感光性
樹脂を現像時に除去する。この場合であっても、ガラス基板である基板本体21上にブラ
ックマトリクス22bを形成すると、良好な現像が可能である。
また、本実施形態においては、静電シールド層40を共通電極19と接続し、共通電位
に制御することとしたが、これに限らない。例えば、GND電位に保たれた配線を別途形
成し、当該配線と静電シールド層40とを接続することで、静電シールド層40をGND
電位に保つ事としても良い。
に制御することとしたが、これに限らない。例えば、GND電位に保たれた配線を別途形
成し、当該配線と静電シールド層40とを接続することで、静電シールド層40をGND
電位に保つ事としても良い。
[第2実施形態]
図7は、本発明の第2実施形態に係る液晶装置の説明図である。本実施形態の液晶装置
は、第1実施形態と一部共通している。異なるのは、静電シールド層40がカラーフィル
タ層22を覆って形成されていることである。したがって、本実施形態において第1実施
形態と共通する構成要素については同じ符号を付し、詳細な説明は省略する。
図7は、本発明の第2実施形態に係る液晶装置の説明図である。本実施形態の液晶装置
は、第1実施形態と一部共通している。異なるのは、静電シールド層40がカラーフィル
タ層22を覆って形成されていることである。したがって、本実施形態において第1実施
形態と共通する構成要素については同じ符号を付し、詳細な説明は省略する。
液晶装置2が有するカラーフィルタ層22は、着色層22aが、ブラックマトリクス2
2bよりも厚く形成されており、周縁の一部が隣接するブラックマトリクス22bと重な
って形成されている。隣り合う着色層22aの間にはブラックマトリクス22bが一部露
出している。静電シールド層40は、カラーフィルタ層22の形成後に、カラーフィルタ
層22の表面を覆って形成されている。
2bよりも厚く形成されており、周縁の一部が隣接するブラックマトリクス22bと重な
って形成されている。隣り合う着色層22aの間にはブラックマトリクス22bが一部露
出している。静電シールド層40は、カラーフィルタ層22の形成後に、カラーフィルタ
層22の表面を覆って形成されている。
以上のような構成の液晶装置2でも、ガラス基板である基板本体21上に予め樹脂製の
ブラックマトリクス22bを形成するために良好な現像が可能である。静電シールド層4
0は良好に形成したブラックマトリクス22bを有するカラーフィルタ層22の表面に設
けることから、ブラックマトリクス22bの形成に影響を及ぼすことがない。そのため、
良好にパターニングされブラックマトリクス22bと、外部静電気を捕捉する静電シール
ド層40と、を有する液晶装置2を製造することができる。
ブラックマトリクス22bを形成するために良好な現像が可能である。静電シールド層4
0は良好に形成したブラックマトリクス22bを有するカラーフィルタ層22の表面に設
けることから、ブラックマトリクス22bの形成に影響を及ぼすことがない。そのため、
良好にパターニングされブラックマトリクス22bと、外部静電気を捕捉する静電シール
ド層40と、を有する液晶装置2を製造することができる。
以上、添付図面を参照しながら本発明に係る好適な実施の形態例について説明したが、
本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。上述した例において示した各構成
部材の諸形状や組み合わせ等は一例であって、本発明の主旨から逸脱しない範囲において
設計要求等に基づき種々変更可能である。
本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。上述した例において示した各構成
部材の諸形状や組み合わせ等は一例であって、本発明の主旨から逸脱しない範囲において
設計要求等に基づき種々変更可能である。
1,2…液晶装置、9…画素電極、10…素子基板、19…共通電極、20…対向基板
、22…カラーフィルタ層、22a…着色層、22b…ブラックマトリクス(樹脂遮光層
)、22c…開口部、22x…材料層、40…静電シールド層(静電遮蔽層)、43…導
通材、50…液晶層
、22…カラーフィルタ層、22a…着色層、22b…ブラックマトリクス(樹脂遮光層
)、22c…開口部、22x…材料層、40…静電シールド層(静電遮蔽層)、43…導
通材、50…液晶層
Claims (7)
- 第1基板と第2基板との間に液晶層が挟持され、前記第1基板上に画素電極と共通電極
とが形成され、前記画素電極と前記共通電極との間に発生する電界によって液晶を駆動す
る横電界方式の液晶装置の製造方法であって、
ガラス基板上に感光性樹脂の材料層を形成し、所定の露光パターンで露光処理を行う工
程と、
前記材料層に現像処理を行い、底部に前記ガラス基板が露出する開口部を有する樹脂遮
光層を形成する工程と、
前記樹脂遮光層を覆って静電遮蔽層を形成する工程と、
前記静電遮蔽層上の前記開口部と重なる領域に着色層を設ける工程と、を備えることを
特徴とする液晶装置の製造方法。 - 第1基板と第2基板との間に液晶層が挟持され、前記第1基板上に画素電極と共通電極
とが形成され、前記画素電極と前記共通電極との間に発生する電界によって液晶を駆動す
る横電界方式の液晶装置の製造方法であって、
ガラス基板上に感光性樹脂の材料層を形成し、所定の露光パターンで露光処理を行う工
程と、
前記材料層に現像処理を行い、底部に前記ガラス基板が露出する開口部を有する樹脂遮
光層を形成する工程と、
前記開口部と重なる領域に着色層を設け、カラーフィルタ層を形成する工程と、
前記樹脂遮光層及び前記着色層を覆って静電遮蔽層を形成する工程と、を備えることを
特徴とする液晶装置の製造方法。 - 前記静電遮蔽層および前記着色層を覆う絶縁層を形成する工程を有することを特徴とす
る請求項1または2に記載の液晶装置の製造方法。 - 前記絶縁層に、前記静電遮蔽層を露出させる第1コンタクトホールを形成する工程と、
前記第1基板に、駆動回路と、前記駆動回路と電気的に接続された引き回し配線とを形
成する工程と、
前記第1コンタクトホールと平面的に重なる位置に導通材を配置し、前記引き回し配線
と前記静電遮蔽層とを電気的に接続する工程と、を有することを特徴とする請求項3に記
載の液晶装置の製造方法。 - 前記引き回し配線を形成する工程の後に、前記引き回し配線を覆う絶縁膜を形成する工
程と、
前記絶縁膜に、前記引き回し配線の一部を露出させる第2コンタクトホールを形成する
工程と、
前記第2コンタクトホールの内部に、前記引き回し配線を覆う導電膜を形成する工程と
、を有し、
前記電気的に接続する工程では、前記導通材を前記導電膜と接して配置することを特徴
とする請求項4に記載の液晶装置の製造方法。 - 前記導電膜を形成する工程では、導電性金属酸化物を形成材料とすることを特徴とする
請求項5に記載の液晶装置の製造方法。 - 前記第1基板に前記画素電極を形成した後に、絶縁膜を介して前記画素電極と重なる前
記共通電極を形成する工程を有することを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記
載の液晶装置の製造方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008252587A JP2010085544A (ja) | 2008-09-30 | 2008-09-30 | 液晶装置の製造方法 |
US13/081,880 US8460953B2 (en) | 2008-09-30 | 2011-04-07 | Manufacturing method for liquid crystal apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008252587A JP2010085544A (ja) | 2008-09-30 | 2008-09-30 | 液晶装置の製造方法 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010085544A true JP2010085544A (ja) | 2010-04-15 |
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JP7561685B2 (ja) * | 2021-05-20 | 2024-10-04 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
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-
2008
- 2008-09-30 JP JP2008252587A patent/JP2010085544A/ja active Pending
-
2011
- 2011-04-07 US US13/081,880 patent/US8460953B2/en not_active Expired - Fee Related
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KR102575030B1 (ko) | 2018-08-24 | 2023-09-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 액정 표시 장치 |
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---|---|
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