JP2010060473A - 物体検出装置および物体位置ずれ検出装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】特殊な構造の反射板を必要とせずに、半導体基板の有無を確実に検出する。
【解決手段】照射光(6)が反射板(5)で反射されたときの反射光(6a)から得られる反射点(Ra)の位置と、照射光(6)が半導体基板(S)で反射されたときの反射光(6c)から得られる反射点(Rc)の位置の違いを検出して、半導体基板(S)の有無を判定する。
【効果】特殊な構造の反射板を必要とせずに、半導体基板の有無を確実に検出できる。特殊な反射板を必要としないから、コスト高にならず、容易に実施できる。
【選択図】図2
【解決手段】照射光(6)が反射板(5)で反射されたときの反射光(6a)から得られる反射点(Ra)の位置と、照射光(6)が半導体基板(S)で反射されたときの反射光(6c)から得られる反射点(Rc)の位置の違いを検出して、半導体基板(S)の有無を判定する。
【効果】特殊な構造の反射板を必要とせずに、半導体基板の有無を確実に検出できる。特殊な反射板を必要としないから、コスト高にならず、容易に実施できる。
【選択図】図2
Description
本発明は、物体検出装置および物体位置ずれ検出装置に関し、更に詳しくは、特殊な反射板を必要とせずに物体の有無を検出することが出来る物体検出装置および物体の位置ずれを検出することが出来る物体位置ずれ検出装置に関する。
従来、基板の移相方向に対して交差する方向に照射光を照射する発光部と、照射光の波動特性を変化させて反射する反射体と、前記反射体で反射された反射光のみを受光する受光部とを有する基板の検出装置が知られている(特許文献1参照)。
特開2003−65711号公報
上記従来の基板の検出装置では、照射光の波動特性を変化させて反射する反射体が必要であるが、これは例えば偏光反射板のような特殊な反射板であり、コスト高になり、実施が容易でない問題点がある。
そこで、本発明の目的は、特殊な反射板を必要とせずに物体の有無を検出することが出来る物体検出装置および物体の位置ずれを検出することが出来る物体位置ずれ検出装置を提供することにある。
そこで、本発明の目的は、特殊な反射板を必要とせずに物体の有無を検出することが出来る物体検出装置および物体の位置ずれを検出することが出来る物体位置ずれ検出装置を提供することにある。
第1の観点では、本発明は、物体(S)が載置されると塞がれる開口部(4a)を有する物体載置台(4)と、前記物体載置台(4)に載置された物体(S)に対して照射光(6)を照射する光照射手段(2)と、前記物体載置台(4)に物体(S)が載置されていないときに物体(S)で反射されずに前記開口部(4a)を通過した照射光(6)を反射する反射板(5)と、前記物体載置台(4)に物体(S)が載置されていないときに前記照射光(6)が前記反射板(5)で反射された反射光(6a)および前記物体載置台(4)に物体(S)が載置されているときに前記照射光(6)が物体(S)で反射された反射光(6c)を検出する光検出手段(3)と、前記光検出手段(3)で検出された反射光(6a,6c)の反射点(Ra,Rc)の位置を求める位置測定手段(9)と、測定した反射点の位置(Ra,Rc)に基づいて前記載置台(4)に物体(S)が載置されているか否かを判定する判定手段(11)とを具備したことを特徴とする物体検出装置(100)を提供する。
上記第1の観点による物体検出装置(100)において、照射光(6)が反射板(5)で反射されたときの反射光(6a)から得られる反射点(Ra)の位置と、照射光(6)が物体(S)で反射されたときの反射光(6c)から得られる反射点(Rc)の位置とは、明らかに異なり、確実に判別できる。すなわち、上記第1の観点による物体検出装置(100)では、物体の有無を確実に検出できる。そして、特殊な反射板を必要としないから、コスト高にならず、容易に実施できる。
上記第1の観点による物体検出装置(100)において、照射光(6)が反射板(5)で反射されたときの反射光(6a)から得られる反射点(Ra)の位置と、照射光(6)が物体(S)で反射されたときの反射光(6c)から得られる反射点(Rc)の位置とは、明らかに異なり、確実に判別できる。すなわち、上記第1の観点による物体検出装置(100)では、物体の有無を確実に検出できる。そして、特殊な反射板を必要としないから、コスト高にならず、容易に実施できる。
第2の観点では、本発明は、前記第1の観点による物体検出装置(100)を複数具備すると共に、前記複数の物体検出装置(100)の判定出力を基に物体の位置ずれを判定する位置ずれ判定手段(12)を具備したことを特徴とする物体位置ずれ検出装置(200)を提供する。
上記第2の観点による物体位置ずれ検出装置(200)では、複数の位置において物体を検出することにより、物体の位置ずれを検出することが出来る。
上記第2の観点による物体位置ずれ検出装置(200)では、複数の位置において物体を検出することにより、物体の位置ずれを検出することが出来る。
本発明の物体検出装置によれば、特殊な反射板を必要とせずに物体の有無を検出することが出来る。
以下、図に示す実施の形態により本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。
図1,図2は、実施例1にかかる半導体基板検出装置100の構成説明図である。
この半導体基板検出装置100は、チャンバー1内に半導体基板Sが搬入されたか否かを検出する装置であり、チャンバー1内に設置され且つ開口部4aを有する載置台4と、載置台4の開口部4aの下方のチャンバー底面に設置された反射板5と、チャンバー1の外部に設置された光照射手段2および光検出手段3と、光検出手段3の出力を基に反射光の反射点の位置を測定する位置測定回路9と、反射板5の反射点Raの位置を記憶している記憶回路10と、位置測定回路9で得た反射点の位置と記憶回路10に記憶している反射板5の反射点の位置Raとを比較して半導体基板Sの有無を判定する判定回路11とを具備している。
この半導体基板検出装置100は、チャンバー1内に半導体基板Sが搬入されたか否かを検出する装置であり、チャンバー1内に設置され且つ開口部4aを有する載置台4と、載置台4の開口部4aの下方のチャンバー底面に設置された反射板5と、チャンバー1の外部に設置された光照射手段2および光検出手段3と、光検出手段3の出力を基に反射光の反射点の位置を測定する位置測定回路9と、反射板5の反射点Raの位置を記憶している記憶回路10と、位置測定回路9で得た反射点の位置と記憶回路10に記憶している反射板5の反射点の位置Raとを比較して半導体基板Sの有無を判定する判定回路11とを具備している。
半導体基板Sは、ゲート1gを介して、チャンバー1に搬入/搬出される。載置台4の開口部4aを塞ぐように載置台4に載置された半導体基板Sの表面は、ほぼ水平面となる。
反射板5は、例えば表面が粗面化されたアルミ板である。
光照射手段2は、例えば半導体レーザであり、ビーム状の照射光6を、例えば水平面に対して30゜〜60゜の角度で斜めに出射する。
載置台4に半導体基板Sが載置されていないとき、照射光6は、チャンバー1の開口部1aを塞ぐガラス7およびチャンバー1の開口部1aを通して、さらに、載置台4の開口部4aを通して、反射板5に照射され、反射板5の反射点Raで乱反射される。そして、乱反射光6aが光検出手段3で検出される。
載置台4に半導体基板Sが載置されているとき、照射光6は、チャンバー1の開口部1aを塞ぐガラス7およびチャンバー1の開口部1aを通して、半導体基板Sに照射され、半導体基板Sの反射点Rcで乱反射される。そして、乱反射光6cが光検出手段3で検出される。なお、半導体基板Sの表面が鏡面である場合は、乱反射光6cはほとんど無いので、光検出手段3で反射光は検出されない。
光検出手段3は、例えばCCDカメラであり、乱反射光6aを受光した画像または乱反射光6cを受光した画像を出力する。この場合、反射点RaとRcは、画像上で異なる位置になるので、確実に判別できる。
位置測定回路9,記憶回路10および判定回路11は、例えばコンピュータである。
判定回路11は、位置測定回路9で得た反射点の位置と記憶回路10に記憶している反射板5の反射点の位置Raとを比較して許容範囲内で一致すれば半導体基板Sが無いと判定し、許容範囲内で一致しなければ半導体基板Sが有ると判定する。なお、光検出手段3で反射光が検出されない場合も、半導体基板Sが有ると判定する。
半導体基板Sが有ると判定されると、半導体基板Sに対する処理作業が実行される。
実施例1の物体検出装置100によれば次の効果が得られる。
(1)半導体基板Sより遠方の反射板5を検出できるか否かで半導体基板Sの有無を判定するため、半導体基板Sの表面状態に依存せず、確実に検出を行うことが出来る。
(2)反射板5は、特別な材質・形状のものでなくてもよく、取り付けに特別な精度を必要とせず、様々な雰囲気に対応でき、安価に済み、容易に実施できる。
(1)半導体基板Sより遠方の反射板5を検出できるか否かで半導体基板Sの有無を判定するため、半導体基板Sの表面状態に依存せず、確実に検出を行うことが出来る。
(2)反射板5は、特別な材質・形状のものでなくてもよく、取り付けに特別な精度を必要とせず、様々な雰囲気に対応でき、安価に済み、容易に実施できる。
チャンバー1の床面を反射板5として利用してもよい。
有無を検出する対象は、半導体基板Sに限定されない。
図3,図4,図5は、実施例4にかかる半導体基板位置ずれ検出装置200の構成説明図である。
この半導体基板位置ずれ検出装置200は、チャンバー1内の載置台4上の正しい位置に半導体基板Sが載置されているか位置ずれしているかを検出する装置であり、チャンバー1内に設置されるピン状の載置台4と、載置台4の下方に設置される反射板5,5’と、チャンバー1の外部に設置された光照射手段2,2’および光検出手段3,3’と、光検出手段3の出力を基に反射光の反射点の位置を測定する位置測定回路9と、反射板5の反射点Raの位置を記憶している記憶回路10と、位置測定回路9で得た反射点の位置と記憶回路10に記憶している反射板5の反射点の位置Raとを比較して半導体基板Sが光軸上にあるか否かを判定する判定回路11と、光検出手段3’の出力を基に反射光の反射点の位置を測定する位置測定回路9’と、反射板5’の反射点Ra’の位置を記憶している記憶回路10’と、位置測定回路9’で得た反射点の位置と記憶回路10’に記憶している反射板5’の反射点の位置Ra’とを比較して半導体基板Sが光軸上にあるか否かを判定する判定回路11’と、複数の判定回路11,11’の情報を基に半導体基板Sの位置ずれを判定するずれ判定回路12とを具備している。
この半導体基板位置ずれ検出装置200は、チャンバー1内の載置台4上の正しい位置に半導体基板Sが載置されているか位置ずれしているかを検出する装置であり、チャンバー1内に設置されるピン状の載置台4と、載置台4の下方に設置される反射板5,5’と、チャンバー1の外部に設置された光照射手段2,2’および光検出手段3,3’と、光検出手段3の出力を基に反射光の反射点の位置を測定する位置測定回路9と、反射板5の反射点Raの位置を記憶している記憶回路10と、位置測定回路9で得た反射点の位置と記憶回路10に記憶している反射板5の反射点の位置Raとを比較して半導体基板Sが光軸上にあるか否かを判定する判定回路11と、光検出手段3’の出力を基に反射光の反射点の位置を測定する位置測定回路9’と、反射板5’の反射点Ra’の位置を記憶している記憶回路10’と、位置測定回路9’で得た反射点の位置と記憶回路10’に記憶している反射板5’の反射点の位置Ra’とを比較して半導体基板Sが光軸上にあるか否かを判定する判定回路11’と、複数の判定回路11,11’の情報を基に半導体基板Sの位置ずれを判定するずれ判定回路12とを具備している。
半導体基板Sは、ゲート1gを介してチャンバー1に搬入/搬出される。搬入/搬出は基板搬送装置14によって行われる。基板搬送装置14は、例えばロボットである。
例えば半導体基板Sの図3〜5における左右方向の位置ずれを検知したい場合、半導体基板Sが載置台4上の正しい位置にあるとき、半導体基板Sの上面左右端縁部分に照射光6,6’が照射されるように複数の光照射手段2,2’が設置される。
図3に示すように、半導体基板Sが載置台4上の正しい位置にあるとき、半導体基板S上の反射点Rc,Rc’からの乱反射光6c,6c’が光検知手段3,3’に受光され、半導体基板Sが有るとの判定出力が判定回路11,11’からずれ判定回路12に入力される。そこで、ずれ判定回路12は、載置台4上の正しい位置に半導体基板Sが位置していると判定する。
半導体基板Sが載置台4上の正しい位置にあれば、半導体基板Sに対する必要な処理が実行される。
半導体基板Sが載置台4上の正しい位置にあれば、半導体基板Sに対する必要な処理が実行される。
一方、図4に示すように、半導体基板Sの位置が図4における左方向にずれているとき、反射板5上の反射点Raからの乱反射光6aが光検知手段3に受光され、半導体基板Sが無いとの判定出力が判定回路11からずれ判定回路12に入力され、半導体基板S上の反射点Rc’からの乱反射光6c’が光検知手段3’に受光され、半導体基板Sが有るとの判定出力が判定回路11’からずれ判定回路12に入力される。そこで、ずれ判定回路12は、図4における左方向にずれた位置に半導体基板Sが位置していると判定する。
搬送装置制御回路13は、ずれ判定回路12の出力を基に、半導体基板Sを図4における右方向に移動するように基板搬送装置14を駆動すると共に異常発生の警報を出すなどの処理を行う。
搬送装置制御回路13は、ずれ判定回路12の出力を基に、半導体基板Sを図4における右方向に移動するように基板搬送装置14を駆動すると共に異常発生の警報を出すなどの処理を行う。
また、図5に示すように、半導体基板Sの位置が図5における右方向にずれているとき、半導体基板S上の反射点Rcからの乱反射光6cが光検知手段3に受光され、半導体基板Sが有るとの判定出力が判定回路11からずれ判定回路12に入力され、反射板5’上の反射点Ra’からの乱反射光6a’が光検知手段3’に受光され、半導体基板Sが無いとの判定出力が判定回路11’からずれ判定回路12に入力される。そこで、ずれ判定回路12は、図5における右方向にずれた位置に半導体基板Sが位置していると判定する。
搬送装置制御回路13は、ずれ判定回路12の出力を基に、半導体基板Sを図5における左方向に移動するように基板搬送装置14を駆動すると共に異常発生の警報を出すなどの処理を行う。
搬送装置制御回路13は、ずれ判定回路12の出力を基に、半導体基板Sを図5における左方向に移動するように基板搬送装置14を駆動すると共に異常発生の警報を出すなどの処理を行う。
半導体基板Sの位置修正の機構を載置台4に組み込んでもよい。
本発明の物体検出装置および物体位置ずれ検出装置は、例えば半導体基板製造装置に有用である。
1 チャンバ
1a 開口部
1g ゲート
2,2’ 光照射手段
3,3’ 光検出手段
4 載置台
5,5’ 反射板
6,6’ 照射光
6a,6c,6a’,6c’ 乱反射光
9,9’ 位置測定回路
10,10’ 記憶回路
11,11’ 判定回路
12 ずれ判定回路
13 搬送装置制御回路
14 基板搬送装置
100 物体検出装置
200 物体位置ずれ検出装置
Ra,Rc,Ra’,Rc’ 反射点
S 半導体基板
1a 開口部
1g ゲート
2,2’ 光照射手段
3,3’ 光検出手段
4 載置台
5,5’ 反射板
6,6’ 照射光
6a,6c,6a’,6c’ 乱反射光
9,9’ 位置測定回路
10,10’ 記憶回路
11,11’ 判定回路
12 ずれ判定回路
13 搬送装置制御回路
14 基板搬送装置
100 物体検出装置
200 物体位置ずれ検出装置
Ra,Rc,Ra’,Rc’ 反射点
S 半導体基板
Claims (2)
- 物体(S)が載置されると塞がれる開口部(4a)を有する物体載置台(4)と、前記物体載置台(4)に載置された物体(S)に対して照射光(6)を照射する光照射手段(2)と、前記物体載置台(4)に物体(S)が載置されていないときに物体(S)で反射されずに前記開口部(4a)を通過した照射光(6)を反射する反射板(5)と、前記物体載置台(4)に物体(S)が載置されていないときに前記照射光(6)が前記反射板(5)で反射された反射光(6a)および前記物体載置台(4)に物体(S)が載置されているときに前記照射光(6)が物体(S)で反射された反射光(6c)を検出する光検出手段(3)と、前記光検出手段(3)で検出された反射光(6a,6c)の反射点(Ra,Rc)の位置を求める位置測定手段(9)と、測定した反射点の位置(Ra,Rc)に基づいて前記載置台(4)に物体(S)が載置されているか否かを判定する判定手段(11)とを具備したことを特徴とする物体検出装置(100)。
- 請求項1に記載の物体検出装置(100)を複数具備すると共に、前記複数の物体検出装置(100)の判定出力を基に物体の位置ずれを判定する位置ずれ判定手段(12)を具備したことを特徴とする物体位置ずれ検出装置(200)。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008227666A JP2010060473A (ja) | 2008-09-05 | 2008-09-05 | 物体検出装置および物体位置ずれ検出装置 |
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2006165472A (ja) * | 2004-12-10 | 2006-06-22 | Oki Electric Ind Co Ltd | 基板検出装置及び基板検出方法 |
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2008
- 2008-09-05 JP JP2008227666A patent/JP2010060473A/ja active Pending
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