JP2010015633A - 光ディスク装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】急激な温度変化が生じた場合などであっても、光ディスクからのデータの読み出し又はデータの書き込みの精度を低下させることがない光ディスク装置を提供する。
【解決手段】制御装置70からの一の読出要求に係るデータの読出処理を終了し、次の読出要求が制御装置70から与えられない期間、又は、制御装置70から与えられたデータの光ディスク100への書込処理を終了し、次のデータが制御装置70から与えられない期間に、制御部10にてトラッキングエラー信号のオフセット電圧を検出し、メモリに記憶されたオフセット電圧の値を更新する。また、光ディスク装置1が動作を停止し、光ピックアップ2がビーム光の照射を停止した後からの経過時間を計時し、動作を再開する際に経過時間が所定時間を超えている場合には、オフセット電圧を検出して更新する。
【選択図】図1
【解決手段】制御装置70からの一の読出要求に係るデータの読出処理を終了し、次の読出要求が制御装置70から与えられない期間、又は、制御装置70から与えられたデータの光ディスク100への書込処理を終了し、次のデータが制御装置70から与えられない期間に、制御部10にてトラッキングエラー信号のオフセット電圧を検出し、メモリに記憶されたオフセット電圧の値を更新する。また、光ディスク装置1が動作を停止し、光ピックアップ2がビーム光の照射を停止した後からの経過時間を計時し、動作を再開する際に経過時間が所定時間を超えている場合には、オフセット電圧を検出して更新する。
【選択図】図1
Description
本発明は、CD(Compact Disc)、DVD(Digital Versatile Disk)及びBD(Blue-ray Disc)等の光ディスクからのデータの読み出し及び/又はデータの書き込みを行う光ディスク装置に関する。
従来、CD、DVD及びBD等の光ディスクがデータの記録媒体として広く普及しており、光ディスクにデータの読み出し及び/又はデータの書き込みを行う光ディスク装置が広く普及している。これらの光ディスクでは螺旋状に形成された凹凸(ピット)又は溝(グルーブ)にデータが記録されており、光ディスク装置は、光ピックアップがビーム光をピット又はグルーブへ照射し、光ディスクでの反射光を受光することによってデータの読み出し及び/又は書き込みを行うことができる。このため、光ディスク装置の光ピックアップは、光ディスクのピット又はグルーブへ正確にビーム光を照射する必要がある。
光ディスクのピット又はグルーブは数μm程度の間隔で形成されている。光ディスク装置において、光ディスクはスピンドルモータによって回転されているが、光ディスクを完全な円を描いて回転させることは難しく、数十μm程度の偏心量で回転されている。また、光ディスクの径方向に関して、ピット又はグルーブの形成位置に誤差が生じている場合もある。よって、光ディスクのピット又はグルーブに対して光ピックアップのビーム光の照射位置に誤差が生じる虞がある。このため、光ディスク装置には、光ディスクの径方向に関して、光ピックアップが照射するビーム光の照射位置を補正する制御機能、所謂トラッキングサーボの機能が備えられている。
トラッキングサーボにおいては、光ディスクからの反射光を受光した光ピックアップが出力する電気信号から、ビーム光の照射位置の誤差に応じた電圧値の信号、所謂トラッキングエラー信号を生成し、トラッキングエラー信号に応じて光ピックアップの位置調整などを行っている。また光ディスク装置は、トラッキングサーボを停止したときのトラッキングエラー信号のオフセット電圧(オフセット量)を予め測定しておき、トラッキングサーボの際にはこのオフセット電圧に基づいた制御を行うことによって光ピックアップの制御精度を高めている。従来の光ディスク装置において、オフセット電圧の測定は、光ディスク装置にセットされた光ディスクの立ち上げ動作中(光ディスクの回転開始から所定回転速度に達するまでの期間)に行われる場合が多い。
光ディスク装置においては、レーザのオン/オフに伴って光ピックアップの各光素子にて生じるオフセット、及びトラッキングエラー信号を生成するIC(Integrated Circuit)に含まれる各種のアンプなどで生じるオフセット等の要因により、トラッキングエラー信号にオフセットが発生する。このため、トラッキングサーボを停止した場合に光ピックアップの出力信号から生成されるトラッキングエラー信号は、基準の電圧(0V)から数mV〜数V程度ずれた電圧を中心に振動する信号、即ちオフセットを有する信号となる。光ディスク装置は、トラッキングサーボ停止時の振動するトラッキングエラー信号について中心電圧(上限電圧、下限電圧又は平均電圧等であってもよい)をオフセット電圧として予め測定して記憶しておき、記憶した中心電圧をトラッキングエラー信号の目標電圧としてトラッキングサーボを行うことによって、光ディスクからのデータの読み出し又はデータの書き込みを精度よく行うことができる。
しかし、上述のように、従来の光ディスク装置では、トラッキングエラー信号のオフセット電圧の測定は、光ディスク装置にセットされた光ディスクの立ち上げ動作中に行われる。光ディスクからのデータの読み出し又はデータの書き込みを継続して行うことにより光ディスク装置の温度上昇が発生し、この温度変化により光ピックアップの各光素子の特性変化、及び電流量の変化等が発生するため、トラッキングエラー信号のオフセット電圧が変化するという問題がある。また、径方向に関して光ディスクの基板層の厚みが変化するなどの要因により、光ピックアップの光学特性によっては光ディスクの内側と外側とでトラッキングエラー信号のオフセット電圧が変化する場合があるという問題がある。
特許文献1においては、トラッキングサーボの動作を開始したときからの時間をタイマにより計測し、タイマの計測時間が設定時間を経過した後に行う光ディスクのトラックサーチ時にトラッキングオフセット電圧を検出して、記憶部に記憶されたトラッキングオフセット電圧を置き換え、記憶したトラッキングオフセット電圧に基づいた補正制御を行う光ディスク記録再生装置が提案されている。
特開2001−118264号公報
しかしながら、特許文献1に記載の光ディスク記録再生装置は、光ディスクのトラックサーチ時にトラッキングオフセット電圧を検出する構成であるため、ユーザによる選曲操作などが行われてトラックサーチが発生するまでトラッキングオフセット電圧の検出を行うことができない。よって、光ディスク記録再生装置に急激な温度変化が生じてトラッキングオフセット電圧が変化した場合であっても、この光ディスク記録再生装置は変化したトラッキングオフセット電圧の検出を行うことができず、光ディスクからのデータの読み出し又はデータの書き込みの精度が低下するという問題がある。
本発明は、斯かる事情に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、トラッキングエラー信号のオフセット電圧の測定を確実に行って、急激な温度変化が生じた場合などであっても、光ディスクからのデータの読み出し又はデータの書き込みの精度を低下させることがない光ディスク装置を提供することにある。
本発明に係る光ディスク装置は、光ディスクの記録面への光ピックアップによるビーム光の照射位置の誤差に係るトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段と、前記トラッキングエラー信号に基づいて前記光ピックアップによるビーム光の照射位置を調整する調整手段とを備え、他の装置から逐次的に与えられる読出要求に応じて、光ディスクからのデータの読み出しを行う光ディスク装置において、基準電圧に対する前記トラッキングエラー信号のオフセット量を記憶する記憶手段と、一の読出要求に係るデータの読み出しを終了し、次の読出要求が与えられていない場合に、前記調整手段による調整を停止して、前記トラッキングエラー信号のオフセット量を検出するオフセット量検出手段と、前記記憶手段に記憶されたオフセット量を、前記オフセット量検出手段が検出したオフセット量に更新するオフセット量更新手段とを備え、前記調整手段は、前記トラッキングエラー信号生成手段が生成したトラッキングエラー信号及び前記記憶手段に記憶されたオフセット量に基づいて、ビーム光の照射位置を調整するようにしてあることを特徴とする。
また、本発明に係る光ディスク装置は、光ディスクから読み出したデータを前記他の装置へバッファを介して与えるようにしてあり、前記バッファの蓄積量が所定量を超えるか否かを判定する判定手段を更に備え、前記オフセット量検出手段は、前記判定手段が前記バッファの蓄積量が所定量を超えると判定した場合に、オフセット量の検出を行うようにしてあることを特徴とする。
また、本発明に係る光ディスク装置は、光ディスクの記録面への光ピックアップによるビーム光の照射位置の誤差に係るトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段と、前記トラッキングエラー信号に基づいて前記光ピックアップによるビーム光の照射位置を調整する調整手段とを備え、他の装置から逐次的に与えられるデータの光ディスクへの書き込みを行う光ディスク装置において、基準電圧に対する前記トラッキングエラー信号のオフセット量を記憶する記憶手段と、与えられたデータの書込処理を終了し、次のデータが与えられていない場合に、前記調整手段による調整を停止して、前記トラッキングエラー信号のオフセット量を検出するオフセット量検出手段と、前記記憶手段に記憶されたオフセット量を、前記オフセット量検出手段が検出したオフセット量に更新するオフセット量更新手段とを備え、前記調整手段は、前記トラッキングエラー信号生成手段が生成したトラッキングエラー信号及び前記記憶手段に記憶されたオフセット量に基づいて、ビーム光の照射位置を調整するようにしてあることを特徴とする。
また、本発明に係る光ディスク装置は、前記他の装置が光ディスクへ書き込むデータをバッファへ出力する場合に、前記バッファの蓄積量が所定量を超えるか否かを判定する判定手段を更に備え、前記オフセット量検出手段は、前記判定手段が前記バッファの蓄積量が所定量を超えないと判定した場合に、オフセット量の検出を行うようにしてあることを特徴とする。
また、本発明に係る光ディスク装置は、前記オフセット量更新手段によるオフセット量の更新からの時間を計時する計時手段を更に備え、前記オフセット量検出手段は、前記計時手段が計時した時間が所定時間を超えた場合に、オフセット量の検出を行うようにしてあることを特徴とする。
また、本発明に係る光ディスク装置は、前記オフセット量更新手段がオフセット量の更新を行ったときの光ディスクの径方向に係る前記光ピックアップの位置を記憶する位置記憶手段を更に備え、前記オフセット量検出手段は、前記光ピックアップの位置が前記位置記憶手段が記憶した位置から所定距離を超えて離れた場合に、オフセット量の検出を行うようにしてあることを特徴とする。
また、本発明に係る光ディスク装置は、前記光ピックアップによるビーム光の照射を停止してからの時間を計時する計時手段を更に備え、前記オフセット量検出手段は、前記光ピックアップによるビーム光の照射を再開するときに、前記計時手段が計時した時間が所定時間を超えた場合に、オフセット量の検出を行うようにしてあることを特徴とする。
本発明においては、光ディスク装置は他の装置から与えられる読出要求に応じて光ディスクからデータの読み出しを行う。例えばCDプレーヤ、DVDプレーヤ又はBDプレーヤ等の機器において、機器の制御を行うCPU(Central Processing Unit)又はMPU(Micro Processing Unit)等の制御装置から光ディスク装置へデータの読出要求が逐次的に与えられ、この読出要求に応じて光ディスク装置はデータの読み出しを順次行う。このとき、光ディスク装置が例えば2倍速又はそれ以上の高速でデータの読み出しを行うことができ、CDプレーヤ、DVDプレーヤ又はBDプレーヤ等の機器が1倍速(等速)でデータ出力(音声又は映像等の再生)を行う場合、光ディスク装置が読み出したデータを制御装置が処理し終えるまで、制御装置から光ディスク装置へ読出要求が与えられず、光ディスク装置がデータの読み出しを行わない期間が存在する。
よって、本発明の光ディスク装置は、一の読出要求に係るデータの読出処理を終了し、次の読出要求が他の装置から与えられない期間に、トラッキングエラー信号のオフセット電圧(オフセット量)を検出し、予め記憶したオフセット電圧の更新を行う。これにより、トラックサーチなどのユーザによる操作を必要とせずにオフセット電圧の検出及び更新を行うことができ、オフセット電圧の更新頻度を高めることができるため、トラッキングサーボを精度よく行うことができる。
よって、本発明の光ディスク装置は、一の読出要求に係るデータの読出処理を終了し、次の読出要求が他の装置から与えられない期間に、トラッキングエラー信号のオフセット電圧(オフセット量)を検出し、予め記憶したオフセット電圧の更新を行う。これにより、トラックサーチなどのユーザによる操作を必要とせずにオフセット電圧の検出及び更新を行うことができ、オフセット電圧の更新頻度を高めることができるため、トラッキングサーボを精度よく行うことができる。
また、光ディスク装置が読み出したデータをバッファへ出力し、バッファを介してデータを他の装置へ与える構成の場合、光ディスク装置のデータの読み出しが高速であれば、バッファに十分にデータが蓄積され、他の装置によりバッファのデータが処理されて蓄積量が低下するまでの間、光ディスク装置がデータの読み出しを待機する期間が存在する。よって、本発明の光ディスク装置は、バッファのデータ蓄積量が所定量を超える場合にも、トラッキングエラー信号のオフセット電圧を検出し、記憶したオフセット電圧の更新を行う。これにより、オフセット電圧の更新頻度をより高めることができる。
また、本発明においては、光ディスク装置は他の装置から与えられたデータの光ディスクへの書き込みを行う。例えばDVDレコーダ又はBDレコーダ等の機器において、機器の制御を行う制御装置から光ディスク装置へ書き込み用のデータが逐次的に与えられ、このデータを光ディスク装置は光ディスクに順次書き込む。このとき、光ディスク装置のデータ書込速度が、制御装置による書き込み用データの生成処理又は転送処理等の速度より高速な場合、制御装置から光ディスク装置へデータが与えられず、光ディスク装置がデータの書き込みを行わない期間が存在する。
よって、本発明の光ディスク装置は、他の装置から与えられたデータの書込処理を終了し、次のデータが与えられていない場合に、トラッキングエラー信号のオフセット電圧を検出し、記憶したオフセット電圧の更新を行う。これにより、トラックサーチなどのユーザによる操作を必要とせずにオフセット電圧の検出及び更新を行うことができ、オフセット電圧の更新頻度を高めることができるため、トラッキングサーボを精度よく行うことができる。
よって、本発明の光ディスク装置は、他の装置から与えられたデータの書込処理を終了し、次のデータが与えられていない場合に、トラッキングエラー信号のオフセット電圧を検出し、記憶したオフセット電圧の更新を行う。これにより、トラックサーチなどのユーザによる操作を必要とせずにオフセット電圧の検出及び更新を行うことができ、オフセット電圧の更新頻度を高めることができるため、トラッキングサーボを精度よく行うことができる。
また、他の装置が光ディスク装置へバッファを介して書き込み用のデータを与える構成の場合、光ディスク装置のデータの書き込みが高速であれば、バッファに蓄積されたデータの書き込みを終了し、他の装置によりバッファにデータが十分に蓄積されるまでの間、光ディスク装置はデータの書き込みを待機する期間を得ることができる。よって、本発明の光ディスク装置は、バッファのデータ蓄積量が所定量を超えない場合にも、トラッキングエラー信号のオフセット電圧を検出し、記憶したオフセット電圧の更新を行う。これにより、オフセット電圧の更新頻度をより高めることができる。
また、本発明においては、トラッキングエラー信号のオフセット電圧の更新を行った後の経過時間をタイマなどで計時し、所定時間を超えた場合にオフセット電圧の検出及び更新を再度行う。光ディスク装置は、読出速度又は書込速度が十分に高速であれば、上述のようにオフセット電圧の更新を行う機会を頻繁に得ることができる。しかし、オフセット電圧の更新を行う機会の発生周期と比較して、読み出し又は書き込みの動作に伴う光ディスク装置の温度変化の速度は遅い。よって、本発明の光ディスク装置は、オフセット電圧の更新の機会が得られた場合であっても、前回の更新から所定時間が経過していなければオフセット電圧の検出及び更新を行わず、前回の更新から所定時間が経過した場合にのみオフセット電圧の検出及び更新を行う。これにより、光ディスク装置が必要以上にオフセット電圧の検出及び更新を行うことがなく、処理負荷を低減することができる。
また、トラッキングエラー信号のオフセット電圧の更新を行った際に光ディスクの径方向に係る位置を記憶しておき、光ピックアップが移動して記憶した位置から所定距離を超えて離れた場合にオフセット電圧の検出及び更新を再度行う。光ピックアップの光学特性によっては、径方向に関して光ディスクの基板層の厚みが変化するなどの要因によりトラッキングエラー信号のオフセット電圧が変化する場合があるため、光ピックアップが所定距離を越えて移動した場合などには、前回の更新からの時間経過が少ない場合であっても、オフセット電圧の検出及び更新を行う。これにより光ディスク装置は、光ピックアップによるビーム光の照射位置が、光ディスクの内側から外側までのいずれの位置であっても、トラッキングサーボを精度よく行うことができる。
また、本発明においては、光ピックアップによるビーム光の照射を停止してからの時間、即ち光ディスクからのデータの読み出し又は書き込みの処理を停止してからの時間を、光ディスク装置がタイマなどにより計時する。光ディスク装置が読み出し又は書き込みの処理を停止した場合、装置の温度は徐々に低下するため、トラッキングエラー信号のオフセット電圧も変化する虞がある。よって光ディスク装置は、光ピックアップによるビーム光の照射を再開するとき、即ち光ディスクからのデータの読み出し又は書き込みの処理を再開するとき、停止からの時間が所定時間を超えて、装置温度が低下したと考えられる場合には、トラッキングエラー信号のオフセット電圧の検出及び更新を行う。これにより、長時間の動作停止後に光ディスク装置が動作再開する場合であっても、トラッキングサーボを精度よく行うことができる。
本発明による場合は、他の装置から読出要求又は書き込み用のデータが逐次的に与えられているときであっても、一の読み出し処理又は書込処理を終了し、次の読出要求又は書き込み用データが他の装置から与えられるまでの間に、光ディスク装置はトラッキングエラー信号のオフセット電圧を検出し、記憶したオフセット電圧を新たに検出したオフセット電圧に更新する。これにより、光ディスク装置の温度変化の時間と比較して、十分に短い期間でオフセット電圧を更新することができるため、光ディスク装置は急激な温度変化が生じる場合であってもトラッキングサーボを精度よく行うことができる。また、光ピックアップが光ディスクの径方向に移動する時間(距離)と比較して、十分に短い期間でオフセット電圧を更新することができるため、光ディスクの基板層の厚みが変化するなどの要因により、光ピックアップの光学特性との組み合わせによっては光ディスクの内側と外側とでトラッキングエラー信号のオフセット電圧が変化する場合であっても、光ディスク装置はトラッキングサーボを精度よく行うことができる。よって、光ディスク装置によるデータの読み出し又はデータの書き込みに係る信頼性を向上することができる。
以下、本発明をその実施の形態を示す図面に基づき具体的に説明する。図1は、本発明に係る光ディスク装置を備えた機器の構成を示すブロック図である。図示の機器は、例えばDVDレコーダなどの記録再生機器であり、DVDなどの光ディスク100に映像又は音声等のデータを書き込む(録画する)と共に、光ディスク100に記録された映像又は音声等のデータを読み出して出力する(再生する)ことができる。記録再生機器は、機器全体の動作の制御を行う制御装置70と、光ディスク100に対するデータの読み出し及び書き込みを行う光ディスク装置1とを備えている。
制御装置70は、例えばチューナなどにより受信した映像又は音声等のデータを光ディスク装置1へ書込要求と共に与えることによって、光ディスク100へデータを書き込むことができる。また、制御装置70は、光ディスク装置へ読出要求を与えることによって、光ディスク100からデータを読み出し、このデータに係る映像又は音声等を出力することができる。制御装置70は光ディスク100に書き込むデータを光ディスク装置1へバッファ50を介して与え、光ディスク装置1は光ディスク100から読み出したデータを制御装置70へバッファ50を介して与える。ただし、制御装置70による読出要求及び書込要求等は、バッファ50を介さずに光ディスク装置1へ与えられる。
バッファ50は、例えばDRAM(Dynamic Random Access Memory)又はSRAM(Static Random Access Memory)等による大容量のメモリ素子で構成され、光ディスク装置1及び制御装置70の双方からアクセス可能に構成されている。なお、バッファ50は、光ディスク装置1内に設けられる構成であってもよく、制御装置70内に設けられる構成であってもよい。
光ディスク装置1は、光ピックアップ2により光ディスク100の記録面にビーム光を照射することによって、データの読み出し及び書き込みを行う装置である。光ディスク装置1は、光ディスク100を載置するトレイ(図示は省略する)と、このトレイをスライドさせて装置の内外に出入するための動力を発生するトレイモータ4と、このトレイモータ4による回転運動をトレイの出入運動に変換する歯車機構など(図示は省略する)とを備えている。ユーザの操作に応じて制御装置70は光ディスク装置1へトレイの出入要求を与え、光ディスク装置1の制御部10は出入要求に応じてトレイモータ4を回転駆動する。
また、光ディスク装置1は、トレイに載置された光ディスク100を回転させるスピンドルモータ3を備えている。スピンドルモータ3の回転速度は、光ピックアップ2の位置(又は光ディスク100へのビーム光の照射位置)に応じて変化し、制御部10により制御されている。即ち、制御部10は、スピンドルモータ3の回転速度を調整する制御、所謂スピンドルサーボを行っている。
また、光ディスク装置1は、上述の光ピックアップ2と、この光ピックアップ2を光ディスク100の径方向へ移動させるための動力を発生するスレッドモータ5と、このスレッドモータ5の回転運動を光ピックアップ2の移動に変換する歯車機構、所謂スレッド送り機構(図示は省略する)とを備えている。スレッドモータ5は、光ディスク100に対するデータの読出位置又は書込位置へ光ピックアップ2が移動するように、制御部10によって回転が制御されている。
光ピックアップ2は、図示は省略するが、ビーム光を発するダイオードと、このダイオードが発したビーム光を光ディスク100の記録面に集光して照射するレンズなどの光学素子と、光ディスク100にて反射されたビーム光を受光する受光素子と、これらを光ディスク100の記録面に対して水平方向及び垂直方向に移動させるアクチュエータとを備えて構成されている。光ピックアップ2の受光素子が受光した光に応じた電気信号が制御部10へ与えられると共に、制御部10は光ピックアップ2のダイオード及びアクチュエータの駆動制御を行っている。
制御部10は、光ピックアップ2が照射するビーム光の強度を調整することにより、光ディスク100に対するデータの読み出し又は書き込みを行う。光ディスク100にデータを書き込む場合のビーム光の強度は、データを読み出す場合のビーム光の強度より強く、ビーム光の照射による光ディスク100の結晶構造の変化などを利用してデータの書き込みを行う。
制御部10は、光ピックアップ2のアクチュエータを駆動してダイオード及び光学素子等を光ディスク100の記録面に対して垂直方向に移動させる制御を行うことによって、ビーム光の焦点距離の調整、所謂フォーカスサーボを行う。制御部10は、光ピックアップ2から与えられた電気信号からビーム光の焦点誤差を示すフォーカスエラー信号を生成し、この信号に基づいてフォーカスサーボを行っている。なお、フォーカスエラー信号の生成は、例えば非点収差法又はフーコー法等の既知の技術に基づいて行えばよい。
また、制御部10は、光ピックアップ2のアクチュエータを駆動してダイオード及び光学素子等を光ディスク100の記録面に対して水平方向に移動させる制御を行うことによって、ビーム光の照射位置の調整、所謂トラッキングサーボを行う。図2は、本発明に係る光ディスク装置の制御部10の構成を示すブロック図であり、トラッキングサーボに関連する機能ブロック及び信号のみを抽出して図示してある。制御部10は、信号処理回路11、DSP(Digital Signal Processor)12、メモリ13、タイマ14及び駆動回路15等を備えている。
光ピックアップ2は受光素子が受光した光ディスク100からの反射光に応じた電気信号を出力しており、この電気信号は制御部10の信号処理回路11へ入力される。信号処理回路11は、光ピックアップ2から与えられた電気信号を、光ディスク100に対するビーム光の照射位置の誤差を示すトラッキングエラー信号(図2においてはTE信号と略記する)を生成して出力する。トラッキングエラー信号の生成は、例えばプッシュプル法又は3ビーム法等の既知の技術に基づいて行えばよい。プッシュプル法に基づいてトラッキングエラー信号を生成する場合、光ディスク100からの反射光を2分割した受光素子で受光し、各受光素子の出力信号の差分をトラッキングエラー信号として信号処理回路11が出力する。なお、信号処理回路11は、トラッキングエラー信号の生成の他に、上述のフォーカスエラー信号の生成、及び光ディスク100から読み出したデータに係る信号の復調等の信号処理を行う機能を有している。
信号処理回路11により生成されたトラッキングエラー信号はDSP12に与えられる。DSP12は、与えられたトラッキングエラー信号に応じて、光ピックアップ2のアクチュエータを駆動するための駆動信号を生成して駆動回路15へ与える。駆動回路15は、与えられた駆動信号に応じて光ピックアップ2のアクチュエータを駆動し、光ピックアップ2のダイオード及び光学素子等を光ディスク100の記録面に対して水平方向に移動させる。これによりDSP12は、光ピックアップ2から光ディスク100へ照射されるビーム光の照射位置を移動させることができる。
例えばプッシュプル法に基づくトラッキングエラー信号が与えられた場合、基本的にDSP12は、2分割した受光素子の出力信号の差分が0となるように、即ちトラッキングエラー信号が0Vとなるように駆動信号を生成し、光ピックアップ2によるビーム光の照射位置の調整(トラッキングサーボ)を行う。ただし、光ディスク装置1においては光ピックアップ2の光学素子にて生じるオフセット、又は信号処理回路11内の各種のアンプなどで生じるオフセット等の要因により、トラッキングエラー信号にオフセット電圧が発生する。このため、DSP12は、メモリ13にオフセット電圧の値を記憶しており、記憶したオフセット電圧を考慮した駆動信号の生成を行う。また、DSP12は、トラッキングエラー信号のオフセット電圧を検出し、メモリ13に記憶されたオフセット電圧の値を新たに検出したオフセット電圧の値に更新する処理を行う。
図3は、トラッキングエラー信号のオフセット電圧を説明するための模式図である。DSP12がトラッキングサーボを停止し、光ピックアップ2のアクチュエータの動作を停止させた状態で得られる電気信号から信号処理回路11がトラッキングエラー信号を生成した場合、トラッキングエラー信号は上限電圧Vmax及び加減電圧Vminの間で振動する信号となる(図3(a)参照)。このとき、トラッキングエラー信号の中心電圧がオフセット電圧Voであり、DSP12はこの電圧を測定してメモリ13に記憶する。
DSP12がトラッキングサーボを行うときには、メモリ13に記憶したオフセット電圧Voを目標の電圧値とし、トラッキングエラー信号がオフセット電圧Voで一定となるように(図3(b)参照)、駆動信号を生成して駆動回路15へ与え、光ピックアップ2のビーム光の照射位置を調整する。これにより光ディスク装置1は、光ディスク100の径方向に関するビーム光の照射位置を正確に調整することができ、光ディスク100に対するデータの読み出し及び書き込みを精度よく行うことができる。
しかし、トラッキングエラー信号のオフセット電圧Voは、温度依存性を有しており、光ディスク装置1が動作に伴って温度上昇した場合に変化する。また、光ディスク100の特性及び光ピックアップ2の光学特性の組み合わせによっては、内側と外側とでオフセット電圧Voが異なる場合がある。このため、本発明に係る光ディスク装置1は、トラッキングエラー信号のオフセット電圧Voの検出及びメモリ13に記憶したオフセット電圧Voの更新(以下、単にオフセット電圧の検出及び更新という)を適宜のタイミングで行う機能を有している。
本発明に係る光ディスク装置1は、下記の(1)〜(3)のタイミングでオフセット電圧の検出及び更新を行う。
(1)光ディスク100からデータの読み出しを行った後、読み出したデータがバッファ50に十分に蓄積されているなどの要因で、制御装置70から光ディスク装置1へ読出要求が与えられていないタイミング。
(2)光ディスク100へデータの書き込みを行った後、次の書き込み用のデータが制御装置70によってバッファ50に蓄積されていないなどの要因で、光ディスク100への書き込みを待機しているタイミング。
(3)光ディスク100に対するデータの読み出し又は書き込みの処理が停止された後に、制御装置70によってデータの読み出し又は書き込みの処理が再び開始されたときのタイミング。
(1)光ディスク100からデータの読み出しを行った後、読み出したデータがバッファ50に十分に蓄積されているなどの要因で、制御装置70から光ディスク装置1へ読出要求が与えられていないタイミング。
(2)光ディスク100へデータの書き込みを行った後、次の書き込み用のデータが制御装置70によってバッファ50に蓄積されていないなどの要因で、光ディスク100への書き込みを待機しているタイミング。
(3)光ディスク100に対するデータの読み出し又は書き込みの処理が停止された後に、制御装置70によってデータの読み出し又は書き込みの処理が再び開始されたときのタイミング。
DVDレコーダなどの記録再生機器において、光ディスク100に記録された映像などを再生する場合、制御装置70から光ディスク装置1へデータの読出要求が逐次的に与えられる。光ディスク装置1は読出要求に応じて光ディスク100から読み出したデータをバッファ50に蓄積し、制御装置70はバッファ50からデータを取得して映像表示に係る処理を行う。このときに光ディスク装置1のデータ読出速度が制御装置70の処理速度より高速であれば、光ディスク装置1が一の読出要求に係るデータ読出処理を終了した後、制御装置70から次の読出要求が与えられるまで光ディスク装置1はデータ読出を待機する時間がある。本発明の光ディスク装置1は、この待機時間にオフセット電圧の検出及び更新を行う(上記タイミング(1))。
また上記タイミング(1)においては、制御装置70からデータの読出要求が与えられた場合であっても、バッファ50にデータが蓄積されており、制御装置70がバッファ50からデータを取得するまで光ディスク装置1がデータ読出を待機する時間がある。光ディスク装置1は、このような待機時間にもオフセット電圧の検出及び更新を行うことができる。そこで光ディスク装置1は、バッファ50のデータ蓄積量が所定量を超えたか否かを判定し、データ蓄積量が所定量を超えた場合にバッファ50が満たされていると判断し、次のデータ読出の開始まで時間的な余裕があると判断して、オフセット電圧の検出及び更新を行う。
記録再生機器においてチューナの受信などにより取得した映像などのデータを光ディスク100に記録する場合、制御装置70から光ディスク装置1へデータの書込要求と共に、書き込み用のデータが逐次的にバッファ50を介して与えられる。光ディスク装置1は、バッファ50からデータを取得して光ディスク100への書き込みを行う。このときに光ディスク装置1のデータ書込速度が制御装置70の処理速度より高速であれば、光ディスク装置1が与えられたデータの書込処理を終了した後、次の書き込み用のデータが与えられるまで光ディスク装置1はデータ書込を待機する時間がある。本発明の光ディスク装置1は、この待機時間にオフセット電圧の検出及び更新を行う(上記タイミング(2))。
また上記タイミング(2)においては、制御装置70から書き込み用のデータが与えられた場合であっても、バッファ50のデータ蓄積量が少なく、バッファ50に書き込み用のデータが満たされるまで十分な時間が存在する場合がある。光ディスク装置1は、このような場合にもオフセット電圧の検出及び更新を行うことができる。そこで光ディスク装置1は、バッファ50のデータ蓄積量が所定量を超えないか否かを判定し、データ蓄積量が所定量を超えない場合にバッファ50に十分な空きがあると判断し、次のデータ書込の開始まで時間的な余裕があると判断して、オフセット電圧の検出及び更新を行う。
なお、光ディスク装置1のデータ読出速度又はデータ書込速度が高速であるほどオフセット電圧の検出及び更新を行うことができるタイミングが多く発生する。しかし、光ディスク装置1の動作に伴う温度変化の速度は、オフセット電圧の検出及び更新を行うことができるタイミングの発生周期と比較して十分に遅いため、光ディスク装置1はオフセット電圧の検出及び更新を行うことができるタイミングが発生する都度にこれを行う必要はない。そこで、光ディスク装置1は、オフセット電圧の検出及び更新を行った後にタイマ14による計時を開始し、経過時間が所定時間を超えた場合に次のオフセット電圧の検出及び更新を行う。
ただし、光ディスク100の特性及び光ピックアップ2の光学特性の組み合わせによっては、光ディスク100の内側と外側とでトラッキングエラー信号のオフセット電圧が変化する虞がある。そこで、光ディスク装置1は、オフセット電圧の検出及び更新を行った際に光ディスク100に対するビーム光の照射位置(光ディスク100のアドレス又は光ピックアップ2の位置等でもよい)をメモリ13に更新位置として記憶しておき、タイマ14による経過時間が所定時間を超えない場合であっても、ビーム光の照射位置がメモリ13に記憶した更新位置から所定距離を超えて離れた場合には、オフセット電圧の検出及び更新を行う。
また、ユーザの操作などによって記録再生機器の再生処理又は記録処理が停止又は一時停止された場合、光ディスク装置1の動作が停止され、光ディスク装置1の温度が徐々に低下する。このため、記録再生機器の再生処理又は記録処理が再開され、光ディスク装置1の動作が再開された場合には、トラッキングエラー信号のオフセット電圧が変化している可能性がある。そこで、光ディスク装置1は、データの読み出し又は書き込みの動作が停止され、その後に動作が再開された場合、オフセット電圧の検出及び更新を行う。
ただし、データの読み出し又は書き込みの動作が停止された直後に動作が再開された場合には、オフセット電圧が変化するほど光ディスク装置1の温度は変化しない。そこで、光ディスク装置1は、データの読み出し又は書き込みの動作を停止した後にタイマ14による計時を開始し、動作を再開するときにタイマ14による経過時間が所定時間を超えた場合に、オフセット電圧の検出及び更新を行う。
図4及び図5は、本発明に係る光ディスク装置1がデータ読出の際に行う処理の手順を示すフローチャートであり、光ディスク装置1の制御部10にて行われる処理である。光ディスク装置1の制御部10は、まず、制御装置70から与えられた一の読出要求に係る光ディスク100からのデータの読出処理を終了したか否かを調べ(ステップS1)、読出処理を終了していない場合は(S1:NO)、データの読出処理を行う(ステップS2)。データの読出処理を終了した場合(S1:YES)、制御部10は、タイマ14にて計時された前回のオフセット電圧の更新を行ってからの経過時間を取得し(ステップS3)、光ピックアップ2による光ディスク100へのビーム光の照射位置(又はアドレス)を取得する(ステップS4)。
次いで、制御部10は、ステップS3にて取得した経過時間により、前回のオフセット電圧の更新から所定時間が経過したか否かを調べる(ステップS5)。所定時間が経過していない場合(S5:NO)、制御部10は、ステップS4にて取得した現在の照射位置がメモリ13に記憶された前回の更新を行った位置から所定距離を超えて離れているか否かを更に調べる(ステップS6)。
前回の更新から所定時間が経過した場合(S5:YES)、又は、現在の照射位置が前回の更新位置から所定距離を超えて離れている場合(S6:YES)、制御部10は、制御装置70から次の読出要求が与えられたか否かを調べる(ステップS7)。読出要求が与えられた場合(S7:YES)、制御部10はバッファ50のデータの蓄積量が所定量を超えたか否かを判定する(ステップS8)。現在の照射位置が前回の更新位置から所定距離を超えていない場合(S6:NO)、又は、バッファ50のデータの蓄積量が所定量を超えない場合には(S8:NO)、制御部10は処理を終了する。
制御装置70から次の読出要求が与えられていない場合(S7:NO)、又は、バッファ50のデータの蓄積量が所定量を超えた場合(S8:YES)、制御部10は、トラッキングエラー信号のオフセット電圧を検出してメモリ13に記憶されたオフセット電圧の値を更新するオフセット更新処理を行う(ステップS9)。
図6は、本発明に係る光ディスク装置1が行うオフセット更新処理の手順を示すフローチャートである。制御部10は、光ピックアップ2のアクチュエータを停止することによりトラッキングサーボを停止し(ステップS21)、このときに信号処理回路11にて生成されるトラッキングエラー信号を測定する(ステップS22)。トラッキングエラー信号の測定結果から、制御部10は、例えば発振するトラッキングエラー信号の中心電圧をオフセット電圧として検出する(ステップS23)。次いで制御部10は、検出したオフセット電圧をメモリ13に記憶して更新し(ステップS24)、トラッキングサーボを開始して(ステップS25)、オフセット更新処理を終了する。
オフセット更新処理の終了後、制御部10は、タイマ14をリセットして(ステップS10)、オフセット電圧の更新からの経過時間を計時し始めると共に、オフセット電圧の更新を行った際の光ピックアップ2によるビーム光の照射位置を更新位置としてメモリ13に記憶し(ステップS11)、処理を終了する。なお、制御装置70から光ディスク装置1へは読出命令が連続的に繰り返して与えられており、光ディスク装置1の制御部10は上記のステップS1〜S11の処理を読出命令毎に繰り返して行う。
図7及び図8は、本発明に係る光ディスク装置1がデータ書込の際に行う処理の手順を示すフローチャートである。光ディスク装置1の制御部10は、まず、制御装置70から与えられた書き込み用の一のデータの書込処理を終了したか否かを調べ(ステップS41)、書込処理を終了していない場合は(S41:NO)、データの書込処理を行う(ステップS42)。データの書込処理を終了した場合(S41:YES)、制御部10は、タイマ14にて計時された前回のオフセット電圧の更新を行ってからの経過時間を取得し(ステップS43)、光ピックアップ2による光ディスク100へのビーム光の照射位置を取得する(ステップS44)。
次いで、制御部10は、ステップS43にて取得した経過時間により、前回のオフセット電圧の更新から所定時間が経過したか否かを調べる(ステップS45)。所定時間が経過していない場合(S45:NO)、制御部10は、ステップS44にて取得した現在の照射位置がメモリ13に記憶された前回の更新を行った位置から所定距離を超えて離れているか否かを更に調べる(ステップS46)。
前回の更新から所定時間が経過した場合(S45:YES)、又は、現在の照射位置が前回の更新位置から所定距離を超えて離れている場合(S46:YES)、制御部10は、制御装置70から次の書き込み用のデータが与えられたか否かを調べる(ステップS47)。書き込み用のデータが与えられた場合(S47:YES)、制御部10はバッファ50のデータの蓄積量が所定量より少ないか否かを判定する(ステップS48)。現在の照射位置が前回の更新位置から所定距離を超えていない場合(S46:NO)、又は、バッファ50のデータの蓄積量が所定量を超える場合には(S48:NO)、制御部10は処理を終了する。
制御装置70から次の書き込み用データが与えられていない場合(S47:NO)、又は、バッファ50のデータの蓄積量が所定量を超えずに少ない場合(S48:YES)、制御部10は、トラッキングエラー信号のオフセット電圧の検出及び更新を行うオフセット更新処理を行う(ステップS49)。なお、ステップS49にて行うオフセット更新処理は、図6のフローチャートに示した処理と同じである。
オフセット更新処理の終了後、制御部10は、タイマ14をリセットして(ステップS50)、オフセット電圧の更新からの経過時間を計時し始めると共に、オフセット電圧の更新を行った際の光ピックアップ2によるビーム光の照射位置を更新位置としてメモリ13に記憶し(ステップS51)、処理を終了する。なお、制御装置70から光ディスク装置1へは書き込み用のデータがバッファ50を介して連続的に繰り返して与えられており、光ディスク装置1の制御部10は上記のステップS41〜S51の処理をデータの書き込みを行う毎に繰り返して行う。
図9及び図10は、本発明に係る光ディスク装置1が処理の停止及び再開の際に行う処理の手順を示すフローチャートである。例えば記録再生機器に対してユーザの操作により再生処理又は記録処理の停止又は一時停止が指示された場合、制御装置70から光ディスク装置1へ処理停止の要求が与えられ、光ディスク装置1の制御部10はデータの読出処理又は書込処理を停止する(ステップS61)。
その後、制御部10は、読出処理又は書込処理を再開する要求が一定時間内に制御装置70から与えられたか否かを調べ(ステップS62)、一定時間内に再開要求が与えられた場合には(S62:YES)、ステップS76へ進む。一定時間内に処理の再開要求が与えられていない場合(S62:NO)、制御部10は、スピンドルサーボ、フォーカスサーボ及びトラッキングサーボ等の全てのサーボを停止する(ステップS63)。更に制御部10は、光ピックアップ2による光ディスク100へのビーム光の照射を停止し(ステップS64)、スピンドルモータ3の回転を停止し(ステップS65)、タイマ14をリセットして(ステップS66)、動作停止からの経過時間を計時し始める。
次いで、制御部10は、読出処理又は書込処理を再開する要求が制御装置70から与えられたか否かを調べ(ステップS67)、再開要求が与えられていない場合には(S67:NO)、再開要求が与えられるまで待機する。再開要求が与えられた場合(S67:YES)、制御部10は、スピンドルモータ3の動作を開始し(ステップS68)、光ピックアップ2によるビーム光の照射を開始し(ステップS69)、光ピックアップ2のアクチュエータの動作を開始することによって焦点距離の調整に係るフォーカスサーボを開始する(ステップS70)。
次いで、制御部10は、ステップS66にて計時を開始したタイマ14による時間が所定時間を経過したか否かを調べ(ステップS71)、所定時間を経過した場合(S71:YES)、トラッキングエラー信号のオフセット電圧の検出及び更新を行うオフセット更新処理を行い(ステップS72)、タイマ14をリセットして(ステップS73)、オフセット電圧の更新からの経過時間を計時し始めると共に、オフセット電圧の更新を行った際の光ピックアップ2によるビーム光の照射位置を更新位置としてメモリ13に記憶する(ステップS74)。
ステップS74にて更新位置の記憶を行った後、又は、ステップS71にてタイマ14が計時した時間が所定時間を経過していない場合(S71:NO)、制御部10は、ステップS63にて停止した全てのサーボを開始する(ステップS75)。ステップS75にて全てのサーボを開始した後、又は、ステップS62にて一定時間内に再開要求が与えられた場合(S62:YES)、制御部10は、与えられた再開要求に係る処理を開始して(ステップS76)、処理を終了する。
以上の構成の光ディスク装置1においては、制御装置70からの一の読出要求に係るデータの読出処理を終了し、次の読出要求が制御装置70から与えられない期間に、トラッキングエラー信号のオフセット電圧を検出し、メモリ13に記憶されたオフセット電圧の値を更新する構成とすることにより、光ディスク装置1の動作に伴う温度上昇が生じても、温度上昇の時間より十分に短い期間でオフセット電圧の更新を行うことができるため、温度に適したオフセット電圧を用いたトラッキングサーボを行うことができる。また、光ディスク100の特性及び光ピックアップ2の光学特性の組み合わせによって、光ディスク100の基板層の厚みが変化するなどの要因で、光ディスクの内側と外側とでオフセット電圧が変化する場合であっても、光ディスク100の径方向の距離と比較して十分に短い間隔でオフセット電圧を更新することができるため、光ディスク100に対するビーム光の照射位置に適したオフセット電圧を用いたトラッキングサーボを行うことができる。よって、光ディスク装置1によるデータの読み出しに係る信頼性を向上することができる。
また、光ディスク装置1により読み出されてバッファ50に記憶されたデータの蓄積量が所定量を超える場合にも、トラッキングエラー信号のオフセット電圧の検出及び更新を行う構成とすることにより、オフセット電圧の検出及び更新を行う機会をより多く生じさせることができるため、光ディスク装置1の温度及び光ディスク100に対するビーム光の照射位置等に適したオフセット電圧を用いたトラッキングサーボをより確実に行うことができる。
同様に、光ディスク装置1においては、制御装置70から与えられたデータの光ディスク100への書込処理を終了し、次のデータが制御装置70から与えられない期間に、トラッキングエラー信号のオフセット電圧を検出し、メモリ13に記憶されたオフセット電圧の値を更新する構成とすることにより、光ディスク装置1の及び光ディスク100に対するビーム光の照射位置等に適したオフセット電圧を用いたトラッキングサーボを行うことができる。よって、光ディスク装置1によるデータの書き込みに係る信頼性を向上することができる。
また、制御装置70から与えられてバッファ50に記憶されたデータの蓄積量が所定量を超えない場合にも、トラッキングエラー信号のオフセット電圧の検出及び更新を行う構成とすることにより、オフセット電圧の検出及び更新を行う機会をより多く生じさせることができるため、光ディスク装置1の温度及び光ディスク100に対するビーム光の照射位置等に適したオフセット電圧を用いたトラッキングサーボをより確実に行うことができる。
また、トラッキングエラー信号のオフセット電圧の更新を行った後にタイマ14をリセットして経過時間を計時し、経過時間が所定時間を超えた場合にオフセット電圧の検出及び更新を行う構成とすることにより、温度上昇に伴うオフセット電圧の変化に対して光ディスク装置1が必要以上にオフセット電圧の更新を行うことがなく、処理負荷を低減することができる。
また、トラッキングエラー信号のオフセット電圧の更新を行った際に光ディスク100の径方向に係る光ピックアップ2のビーム光の照射位置を更新位置としてメモリ13に記憶しておき、ビーム光の照射位置が更新位置から所定距離を超えて離れた場合にオフセット電圧の検出及び更新を行う構成とすることにより、光ピックアップ2によるビーム光の照射位置が移動した場合であっても、ビーム光の照射位置に適したオフセット電圧を用いたトラッキングサーボをより確実に行うことができる。
また、光ディスク装置1が動作を停止し、光ピックアップ2によるビーム光の照射を停止した後にタイマ14をリセットして停止からの経過時間を計時し、ビーム光の照射を再開する際にタイマ14による経過時間が所定時間を超えている場合には、オフセット電圧の検出及び更新を行う構成とすることにより、動作停止による光ディスク装置1の温度低下が生じても、温度に適したオフセット電圧を用いたトラッキングサーボを行うことができる。
よって、光ディスク装置1を搭載したDVDレコーダなどの記録再生機器においては、光ディスク100に対する再生動作又は記録動作が行われている際であっても、光ディスク装置1がデータの読み出し又は書き込みの合間にオフセット電圧の検出及び更新を行うことができるため、高精度なトラッキングサーボを行うことができ、光ディスク100に対するデータの読み出し及び書き込みに係る信頼性を向上することができる。
なお、本実施の形態においては、光ディスク100としてDVDに対するデータの読み出し及び書き込みを光ディスク装置1が行う構成としたが、これに限るものではなく、CD又はBD等の他の光ディスクに対するデータの読み出し及び書き込みを行う構成としてもよい。また、光ディスク装置1は光ディスク100に対してデータの読み出し及び書き込みの両処理を行う構成としたが、これに限るものではなく、データの読み出しのみを行う構成であってもよく、データの書き込みのみを行う構成であってもよい。また、光ディスク装置1は、光ディスク100を載置するトレイをトレイモータ4の駆動により出入りさせる構成としたが、これに限るものではなく、光ディスク装置に対して光ディスク100をセットするための機構はその他の構成であってもよい。
また、トラッキングサーボを停止した際のトラッキングエラー信号の中心電圧をオフセット電圧としてメモリ13に記憶する構成としたが、これに限るものではなく、トラッキングエラー信号の上限電圧及び下限電圧をメモリ13に記憶しておき、中心電圧を算出する構成としてもよい。また、光ディスク装置1は信号処理回路11が出力するトラッキングエラー信号がオフセット電圧となるようにトラッキングサーボを行う構成としたが、これに限るものではなく、例えば信号処理回路11が出力するトラッキングエラー信号からオフセット電圧を差し引いて、この電圧が0Vとなるようにトラッキングサーボを行う構成であってもよく、その他の方法でトラッキングサーボを行う構成であってもよい。
また、オフセット電圧の更新を行った後は、制御装置70から読出要求又は書き込み用データが与えられない場合など、オフセット電圧の更新を行う時間がある場合であっても、所定時間を経過するまでオフセット電圧の更新を行わない構成としたが、これに限るものではなく、オフセット電圧の更新を行う時間があれば常にオフセット電圧の更新を行う構成であってもよい。また、本実施の形態においては説明を省略したが、光ディスク装置1の電源投入後に初めてデータの読み出し又は書き込みを行う際には、その直前にオフセット電圧の更新を行う構成としてもよい。
1 光ディスク装置
2 光ピックアップ
3 スピンドルモータ
4 トレイモータ
5 スレッドモータ
10 制御部
11 信号処理回路(トラッキングエラー信号生成手段)
12 DSP(オフセット量検出手段、調整手段、オフセット量更新手段、判定手段)
13 メモリ(記憶手段、位置記憶手段)
14 タイマ(計時手段)
15 駆動回路
50 バッファ
70 制御装置(他の装置)
100 光ディスク
2 光ピックアップ
3 スピンドルモータ
4 トレイモータ
5 スレッドモータ
10 制御部
11 信号処理回路(トラッキングエラー信号生成手段)
12 DSP(オフセット量検出手段、調整手段、オフセット量更新手段、判定手段)
13 メモリ(記憶手段、位置記憶手段)
14 タイマ(計時手段)
15 駆動回路
50 バッファ
70 制御装置(他の装置)
100 光ディスク
Claims (7)
- 光ディスクの記録面への光ピックアップによるビーム光の照射位置の誤差に係るトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段と、前記トラッキングエラー信号に基づいて前記光ピックアップによるビーム光の照射位置を調整する調整手段とを備え、他の装置から逐次的に与えられる読出要求に応じて、光ディスクからのデータの読み出しを行う光ディスク装置において、
基準電圧に対する前記トラッキングエラー信号のオフセット量を記憶する記憶手段と、
一の読出要求に係るデータの読み出しを終了し、次の読出要求が与えられていない場合に、前記調整手段による調整を停止して、前記トラッキングエラー信号のオフセット量を検出するオフセット量検出手段と、
前記記憶手段に記憶されたオフセット量を、前記オフセット量検出手段が検出したオフセット量に更新するオフセット量更新手段と
を備え、
前記調整手段は、前記トラッキングエラー信号生成手段が生成したトラッキングエラー信号及び前記記憶手段に記憶されたオフセット量に基づいて、ビーム光の照射位置を調整するようにしてあること
を特徴とする光ディスク装置。 - 光ディスクから読み出したデータを前記他の装置へバッファを介して与えるようにしてあり、
前記バッファの蓄積量が所定量を超えるか否かを判定する判定手段を更に備え、
前記オフセット量検出手段は、前記判定手段が前記バッファの蓄積量が所定量を超えると判定した場合に、オフセット量の検出を行うようにしてあること
を特徴とする請求項1に記載の光ディスク装置。 - 光ディスクの記録面への光ピックアップによるビーム光の照射位置の誤差に係るトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段と、前記トラッキングエラー信号に基づいて前記光ピックアップによるビーム光の照射位置を調整する調整手段とを備え、他の装置から逐次的に与えられるデータの光ディスクへの書き込みを行う光ディスク装置において、
基準電圧に対する前記トラッキングエラー信号のオフセット量を記憶する記憶手段と、
与えられたデータの書込処理を終了し、次のデータが与えられていない場合に、前記調整手段による調整を停止して、前記トラッキングエラー信号のオフセット量を検出するオフセット量検出手段と、
前記記憶手段に記憶されたオフセット量を、前記オフセット量検出手段が検出したオフセット量に更新するオフセット量更新手段と
を備え、
前記調整手段は、前記トラッキングエラー信号生成手段が生成したトラッキングエラー信号及び前記記憶手段に記憶されたオフセット量に基づいて、ビーム光の照射位置を調整するようにしてあること
を特徴とする光ディスク装置。 - 前記他の装置が光ディスクへ書き込むデータをバッファへ出力する場合に、
前記バッファの蓄積量が所定量を超えるか否かを判定する判定手段を更に備え、
前記オフセット量検出手段は、前記判定手段が前記バッファの蓄積量が所定量を超えないと判定した場合に、オフセット量の検出を行うようにしてあること
を特徴とする請求項3に記載の光ディスク装置。 - 前記オフセット量更新手段によるオフセット量の更新からの時間を計時する計時手段を更に備え、
前記オフセット量検出手段は、前記計時手段が計時した時間が所定時間を超えた場合に、オフセット量の検出を行うようにしてあること
を特徴とする請求項1から請求項4までのいずれか1つに記載の光ディスク装置。 - 前記オフセット量更新手段がオフセット量の更新を行ったときの光ディスクの径方向に係る前記光ピックアップの位置を記憶する位置記憶手段を更に備え、
前記オフセット量検出手段は、前記光ピックアップの位置が前記位置記憶手段が記憶した位置から所定距離を超えて離れた場合に、オフセット量の検出を行うようにしてあること
を特徴とする請求項1から請求項5までのいずれか1つに記載の光ディスク装置。 - 前記光ピックアップによるビーム光の照射を停止してからの時間を計時する計時手段を更に備え、
前記オフセット量検出手段は、前記光ピックアップによるビーム光の照射を再開するときに、前記計時手段が計時した時間が所定時間を超えた場合に、オフセット量の検出を行うようにしてあること
を特徴とする請求項1から請求項6までのいずれか1つに記載の光ディスク装置。
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 2008-07-02 JP JP2008173708A patent/JP2010015633A/ja active Pending
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20120327 |