JP2010006678A - カーボンナノチューブ作製装置、カーボンナノチューブ作製方法、および、ラジカル作製装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ガスからイオン、ラジカル、および、電子からなるプラズマを生成するプラズマ生成部2と、ラジカルからカーボンナノチューブを作製する成長基板保持部5と、プラズマ生成部2と成長基板保持部5との間に設けられ、イオンおよび電子の成長基板保持部5への進入を防止する多段荷電粒子遮蔽電極部3と、多段荷電粒子遮蔽電極部3に電圧を印加するバイアス印加用電源4と、を備え、多段荷電粒子遮蔽電極部3は、開口部14を備える第1遮蔽電極部11、開口部15を備える第2遮蔽電極部12、および、開口部16を備える第3遮蔽電極部13を備える。
【選択図】 図1
Description
図1は、第1の実施の形態にかかるカーボンナノチューブ作製装置の構成を示す断面図である。カーボンナノチューブ作製装置1は、プラズマCVD法により、基板上にカーボンナノチューブを作製する。カーボンナノチューブ作製装置1は、プラズマ生成部2、多段荷電粒子遮蔽電極部3、バイアス印加用電源4、および、成長基板保持部5を備えて構成されている。
本実施の形態にかかるカーボンナノチューブ作製装置1によるカーボンナノチューブの作製方法について説明する。なお、以後の説明のため、図2において、下部電極9と第1遮蔽電極部11の間を空間A、第1遮蔽電極部11と第2遮蔽電極部12の間を空間B、第2遮蔽電極部12と第3遮蔽電極部13の間を空間Cとする。
次に、本実施の形態にかかるカーボンナノチューブ作製装置の変形例について説明する。本変形例では、多段荷電粒子遮蔽電極部の第1遮蔽電極部および第3遮蔽電極部の形状のみ異なっている。図4は、第1の実施の形態にかかるカーボンナノチューブ作製装置の変形例の構成を示す断面図であり、図5は、多段荷電粒子遮蔽電極部における各遮蔽電極部の上面図である。
第2の実施の形態では、第1の実施の形態にかかるカーボンナノチューブ作製装置の構成要素のうち、プラズマ生成部、多段荷電粒子遮蔽電極部、および、バイアス印加用電源で構成されたラジカル作製装置について説明する。第2の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。本実施の形態にかかるラジカル作製装置の構成について、第1の実施の形態と異なる部分を説明する。他の部分については第1の実施の形態と同様であるので、同一の符号が付された箇所については、上述した説明を参照し、ここでの説明を省略する。
第3の実施の形態にかかるカーボンナノチューブ作製装置は、第1の実施の形態にかかるカーボンナノチューブ作製装置に対して、多段荷電粒子遮蔽電極部を構成する各遮蔽電極部の数、各遮蔽電極部の開口部の形状、および、これらの開口部間の距離が異なっている。第3の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。本実施の形態にかかるカーボンナノチューブ作製装置の構成について、第1の実施の形態と異なる部分を説明する。他の部分については第1の実施の形態と同様であるので、同一の符号が付された箇所については、上述した説明を参照し、ここでの説明を省略する。
本実施の形態にかかるカーボンナノチューブ作製装置41によるカーボンナノチューブの作製方法について説明する。なお、以後の説明のため、図8において、下部電極9と第1遮蔽電極部44の間を空間A、第1遮蔽電極部44と第2遮蔽電極部45の間を空間B、第2遮蔽電極部45と第3遮蔽電極部46の間を空間C、第3遮蔽電極部46と第4遮蔽電極部47の間を空間Dとする。
第4の実施の形態にかかるカーボンナノチューブ作製装置は、荷電粒子遮蔽電極部を構成する電極部の数を1つにし、その代わりに、成長基板保持部の基板ステージを覆うように箱型遮蔽電極部を配置している。第4の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。本実施の形態にかかるカーボンナノチューブ作製装置の構成について、第1の実施の形態と異なる部分を説明する。他の部分については第1の実施の形態と同様であるので、同一の符号が付された箇所については、上述した説明を参照し、ここでの説明を省略する。
本実施の形態にかかるカーボンナノチューブ作製装置61によるカーボンナノチューブの作製方法について説明する。なお、以後の説明のため、図10において、下部電極9と荷電粒子遮蔽電極部62の間を空間A、荷電粒子遮蔽電極部62と箱型遮蔽電極部68の間を空間B、箱型遮蔽電極部68の内部を空間Cとする。
2 プラズマ生成部
3、3’、42 多段荷電粒子遮蔽電極部
4、43、63 バイアス印加用電源
5、64 成長基板保持部
6 パルス電源
7 ガス導入口
8 上部電極
9 下部電極
10 プラズマ
11、11’、44 第1遮蔽電極部
12、45 第2遮蔽電極部
13、13’、46 第3遮蔽電極部
14、15、16、49、50、51 開口部
17、52、66 第1バイアス印加電源
18、53、67 第2バイアス印加電源
19、54 第3バイアス印加電源
20、33 基板
21 基板ステージ
22、23、48、65 隙間
31、 ラジカル作製装置
32 成長基板保持装置
34 予備室
35 メインチャンバー
47 第4遮蔽電極部
55 第4バイアス印加電源
62 荷電粒子遮蔽電極部
68 箱型遮蔽電極部
Claims (14)
- ガスからイオン、ラジカル、および、電子からなるプラズマを生成するプラズマ生成手段と、
前記ラジカルからカーボンナノチューブを作製するカーボンナノチューブ作製手段と、
前記プラズマ生成手段と前記カーボンナノチューブ作製手段との間に設けられ、前記イオンおよび前記電子の前記カーボンナノチューブ作製手段への進入を防止する遮蔽電極手段と、
前記遮蔽電極手段に電圧を印加するバイアス印加手段と、を備え、
前記遮蔽電極手段は、少なくとも1つの開口部を備える第1の遮蔽電極を2段以上備えること、
を特徴とするカーボンナノチューブ作製装置。 - 隣り合う前記第1の遮蔽電極において、互いの前記開口部間の距離は、前記イオンまたは前記電子が両方の前記開口部を通過不能なだけ離れていること、
を特徴とする請求項1に記載のカーボンナノチューブ作製装置。 - 前記カーボンナノチューブ作製手段は、上面が板状で側面がメッシュ状に形成され、前記イオンおよび前記電子の内部への進入を防止する第2の遮蔽電極を備え、
前記バイアス印加手段は、前記第2の遮蔽電極に電圧を印加すること、
を特徴とする請求項1または2に記載のカーボンナノチューブ作製装置。 - 前記ガスは、希ガスで希釈された炭素系ガスであること、を特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載のカーボンナノチューブ作製装置。
- 前記プラズマ生成手段が生成する前記プラズマの密度は、1010cm−3以下であること、を特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載のカーボンナノチューブ作製装置。
- 前記プラズマ生成手段の圧力は、前記カーボンナノチューブ作製手段の圧力より大きいこと、を特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載のカーボンナノチューブ作製装置。
- 前記バイアス印加手段は、負の電圧を印加すること、を特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載のカーボンナノチューブ作製装置。
- ガスからイオン、ラジカル、および、電子からなるプラズマを生成するプラズマ生成ステップと、
少なくとも1つの開口部を備える遮蔽電極を2段以上備える遮蔽電極手段に電圧を印加する電圧印加ステップと、
前記ラジカルからカーボンナノチューブを作製するカーボンナノチューブ作製手段への前記イオンおよび前記電子を進入させずに、前記ラジカルを進入させるラジカル進入ステップと、
前記ラジカルからカーボンナノチューブを作製する作製ステップと、を含むこと、
を特徴とするカーボンナノチューブ作製方法。 - 隣り合う前記遮蔽電極において、互いの前記開口部間の距離は、前記イオンまたは前記電子が両方の前記開口部を通過不能なだけ離れていること、
を特徴とする請求項8に記載のカーボンナノチューブ作製方法。 - ガスからイオン、ラジカル、および、電子からなるプラズマを生成するプラズマ生成手段と、
前記イオンおよび前記電子の外部への放出を防止し、前記ラジカルを外部へ放出する遮蔽電極手段と、
前記遮蔽電極手段に電圧を印加するバイアス印加手段と、を備え、
前記遮蔽電極手段は、少なくとも1つの開口部を備える遮蔽電極を2段以上備えること、
を特徴とするラジカル作製装置。 - 隣り合う前記遮蔽電極において、互いの前記開口部間の距離は、前記イオンまたは前記電子が両方の前記開口部を通過不能なだけ離れていること、
を特徴とする請求項10に記載のラジカル作製装置。 - 前記ガスは、希ガスで希釈された炭素系ガスであること、を特徴とする請求項10または11に記載のラジカル作製装置。
- 前記プラズマ生成手段が生成する前記プラズマの密度は、1010cm−3以下であること、を特徴とする請求項10から12のいずれか一項に記載のラジカル作製装置。
- 前記バイアス印加手段は、負の電圧を印加すること、を特徴とする請求項10から13のいずれか一項に記載のラジカル作製装置。
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