JP2009525659A - カレントミラー回路 - Google Patents

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Abstract

本発明は、入力側のトランジスタ(Q)又は電界効果トランジスタと、出力側のトランジスタ(Q)又は電界効果トランジスタとを備えるカレントミラー回路(40,50,60)であって、前記入力側及び出力側の各トランジスタのエミッタ又はソースを結合するとともに電圧供給端(UB,55)に接続し、前記入力側及び出力側の各トランジスタのベース(45,46,57,58)又はゲートを互いに電気的に結合するとともに追加の電界効果トランジスタ(Q)に接続し、前記追加の電界効果トランジスタ(Q)のソース(44)を前記入力側及び出力側の2つのトランジスタ(Q,Q)又は電界効果トランジスタのベース(45,46,57,58)又はゲートに結合し、且つ前記追加の電界効果トランジスタ(Q)のドレインを前記入力側のトランジスタ(Q)又は電界効果トランジスタのコレクタ又はドレインに結合するようにした、カレントミラー回路に関する。

Description

本発明は、入力側トランジスタ及び出力側トランジスタを有し、入力側及び出力側の各トランジスタのエミッタ又はソースを結合し、且つ所定の電圧供給端に接続するカレントミラー回路に関する。これらのトランジスタは、バイポーラトランジスタ又は電界効果トランジスタとすることができる。
このようなカレントミラー回路は、最先端の技術で知られている。例えば、カレントミラーは、電流制御可能な電力源となり、即ち増幅するか、減少させるか、又は同一にする入力側電流のコピーを、その入力側で得ることができる。
センサを有するカレントミラー回路も入力電流源として動作させることができる。これにより、入力電流が倍増する場合にも、このセンサによって供給電圧が周囲温度でほとんど変化しないという利点がある。これは、このセンサを介する供給電圧の変化は、このセンサに直列接続する測定抵抗を用いた場合と比較してその影響が小さいことを意味する。このような既知のカレントミラーは、最先端の技術として図1に示している。
しかしながら、このようなカレントミラーは、グランドへの短絡回路とする場合、ベース‐エミッタ間電圧が供給電圧レベルまで増大するので、カレントミラーの抵抗は破壊されるという欠点を有する。グランドに低インピーダンスで接続する場合、極めて高い電流が双方のトランジスタに流れるため、浪費電力によるトランジスタの熱破壊の危険性が大きくなる。
これを防いでカレントミラー回路を守るために、保護回路を用いて、追加の抵抗による電圧降下によって電流を決定し制限することができる。最先端の技術によるこのような回路は、図2及び図3に示している。しかしながら、これらは、第1のトランジスタのコレクタと供給電圧又はバッテリ電圧との間に大きな電圧降下を生じさせるという欠点を有し、センサの供給電圧を減少させるという直接の影響をもたらし、望ましくない。
特許文献1の要約書には、グランドに接続した2個の保護抵抗と入力側の保護抵抗とを有するカレントミラー回路が開示されており、このカレントミラー回路は、第3のトランジスタのコレクタとベースとの間で電圧を変えるようにする。
特許文献2は、測定トランジスタおよび測定抵抗を有する電流制限回路を開示している。
特表平5‐303,439号公報 欧州特許第0602699(A2)号明細書
本発明の目的は、カレントミラー回路を提供することにあり、このカレントミラー回路は、グランドへの短絡回路とする場合の破壊の危険に対する保護を有し、更に、コレクタとバッテリ電圧又は供給電圧との間で大きな電圧降下を有さないようにする。
上記の目的は、請求項1に記載の特徴を有する本発明によって達成され、入力側のトランジスタ又は電界効果トランジスタと、出力側のトランジスタ又は電界効果トランジスタとを備えるカレントミラー回路は、前記入力側及び出力側の各トランジスタのエミッタ又はソースをするとともに電圧供給端(U)に接続し、前記入力側及び出力側の各トランジスタのベース又はゲートを互いに電気的に結合するとともに追加の電界効果トランジスタに接続し、前記追加の電界効果トランジスタのソースを前記入力側及び出力側の2つのトランジスタ又は電界効果トランジスタのベース又はゲートに結合し、且つ前記追加の電界効果トランジスタのドレインを前記入力側のトランジスタ又は電界効果トランジスタのコレクタ又はドレインに結合するようにした。
実際には、この結合は、以下のように、直接結合又は間接結合の双方によって達成することができ、この結合は、例えば、結合コンデンサ又は別の回路素子を介した結合も意味することに留意する。
ここで、前記入力側のトランジスタ及び前記出力側のトランジスタのエミッタを前記電圧供給端Uに接続するのが有利である。
更に、前記電界効果トランジスタを、有利にはMOSFETなどのpチャネル電界効果トランジスタにするのが利便性に優れる。
更に、前記入力側のトランジスタ及び前記出力側のトランジスタをpnpチャネルトランジスタにするのが有利である。
更に有利な例は、センサの一方の接続端を入力側のトランジスタのコレクタに結合し、且つセンサの他方の接続端をグランドに結合する。このようなセンサは、例えば、自動車のABSシステムのセンサとすることができる。
更に別の例では、前記入力側のトランジスタ及び前記出力側のトランジスタのエミッタをグランドに接続する。
電界効果トランジスタは、特にMOSFETなどのnチャネル電界効果トランジスタとするのが、特に利便性に優れる。また、入力側のトランジスタ及び出力側のトランジスタをnpnチャネルトランジスタとするとともに、センサの一方の接続端を入力側のトランジスタのコレクタに結合し、且つセンサの他方の接続端を好適には電圧供給端Uに接続するのが利便性に優れる。
電界効果トランジスタのゲートを制御回路に結合するのが特に有利である。
ここで、ある有利な例では、前記制御回路はトランジスタを有し、該トランジスタのコレクタを前記電界効果トランジスタのゲートに結合し、当該トランジスタのベースを前記カレントミラー回路の入力側のトランジスタのベースに少なくとも結合し、当該トランジスタのエミッタを前記入力側のトランジスタのエミッタに少なくとも結合する。
上記の本発明による有利な例は、バイポーラトランジスタとすることができるが、バイポーラトランジスタの代わりにMOSFETのような電界効果トランジスタを用いることもでき、バイポーラトランジスタのエミッタの代わりに電界効果トランジスタのソースを、バイポーラトランジスタのコレクタの代わりに電界効果トランジスタのドレインを、バイポーラトランジスタのベースの代わりに電界効果トランジスタのゲートを接続することができる。また、MOSFETなどのpnpチャネルトランジスタは、pチャネル電界効果トランジスタとするのが有利であり、有利には、npnチャネルトランジスタはnチャネル電界効果トランジスタとすることもできる。
更に有利な実施例は、従属請求項に示される。
図1は、2つのトランジスタである入力側トランジスタQ及び出力側トランジスタQを有し、各トランジスタのエミッタ2,3をそれぞれ接続するとともに電圧供給端Uに接続したカレントミラー回路1を示している。トランジスタQ,Qのベース4,5は、互いに結合させている。センサ7は、トランジスタQのコレクタ6に結合される。即ち、好適には2ワイヤインターフェースを有するセンサ7は、一方のワイヤの接続端8をコレクタ6に結合し、他方の接続端9をグランドに結合する。更に、トランジスタQのベース5とトランジスタQのコレクタ6との間を接続する(図示10)。このカレントミラー回路1において、電力源Iinは、2ワイヤインターフェースを有するセンサ7として形成される。これにより、既に上述したように、入力電流Iinが周囲温度で2倍になる場合、センサによって供給電圧がごく少量しか変化しないという利点が得られる。これは、センサ7に直列に配置した測定抵抗の場合と比較して、電圧変動が小さいことを意味している。しかしながら、この回路の不利な点は、グランドへの短絡回路とした場合に、トランジスタQ及び/又はQが破壊する危険がある。この場合、ベース−エミッタ間電圧は供給電圧レベルまで上昇し、トランジスタは破壊されうる。また、グランドに低インピーダンスで接続するだけの場合でも、大電流が2つのトランジスタを経て流れることになり、浪費電力による熱破壊を生じうる。
このため、図2に示したような保護手段をカレントミラー回路に設ける。図2において、カレントミラー回路20は、2つの抵抗R及びRを図1に従う回路に設け、抵抗Rは、電圧供給端UとトランジスタQのエミッタ21との間で電圧を変え、抵抗RはトランジスタQのエミッタ22と電圧供給端Uとの間で電圧を変える。更に、保護回路23をトランジスタQ及びQのそれぞれのベース24,25、トランジスタQのエミッタ21と電圧供給端Uとの間に設ける。それ以外は、この回路20は図1の回路1に対応するのでこれ以上説明しない。図2の回路20は、追加の測定抵抗Rを利用して、電圧降下によって入力電流を測定及び制限する。
図3は、図2の保護回路23の代わりにpnpチャネルトランジスタQ(31)を有し、それぞれの適切なカレントミラー回路30を示している。pnpチャネルトランジスタQ(31)のベース32は、トランジスタQのエミッタ33に結合し、pnpチャネルトランジスタQ(31)のエミッタ34は、電圧供給端Uに結合し、pnpチャネルトランジスタQ(31)のコレクタ35は、トランジスタQ及びQのベース36,37に結合している。更に、追加の抵抗Rは、トランジスタQのコレクタ38とトランジスタQのベース36との間で電圧を変える。この回路30により、入力電流Iinを0.6V/Rの値に制限することができ、従って、カレントミラーの保護を達成することができる。しかしながら、この保護は、トランジスタQのコレクタと電圧供給端Uとの間の大きな電圧降下によって得られるもので、センサの供給電圧の低下を引き起こし不利である。
これと対照的に、本発明による有利なカレントミラー回路40を図4に図式的に示す。図4に従うこの回路は、図1の回路と対応しており、追加のpチャネル電界効果トランジスタQをトランジスタQのコレクタ−ベース間に接続し、制御回路41を電界効果トランジスタQに提供する。ここで、電界効果トランジスタQのゲート43は、制御回路41に結合し、電界効果トランジスタQのソース44は、2つのトランジスタQ,Qのベース45,46に結合し、電界効果トランジスタQのドレイン47は、トランジスタQのコレクタ48に結合するように接続する。
電界効果トランジスタQを線形域で動作させる場合、そのドレインとソースとの間に低インピーダンスの接続と適切な直接接続を生じさせる。カレントミラー回路40は、図1におけるカレントミラーと同様に機能する。しかしながら、トランジスタQを流れる電流フローが大きくなりすぎた場合、ゲート電位が増大し、電界効果トランジスタQは飽和モードに移行し、トランジスタQのコレクタからの電流フローを減少させることができる。カレントミラーの入力端42で可能とした短絡回路は、カレントミラーの入力端及び出力端における電流フローの最大値を規定することができ、即ち入力Iin及び出力Ioutを制限することができる。このようにして、回路40は、例えばグランドへの短絡回路及びその影響を効率的に防ぐことができる。
図5は、電界効果トランジスタQを制御するための簡略な回路50を示しており、基本的に図4の電界効果トランジスタQに対応している。図5において、トランジスタQを制御用に設け、トランジスタQのエミッタ側52は、バッテリ電圧又は電圧供給端Uに接続し、トランジスタQのコレクタ側53は電界効果トランジスタQのゲート54に接続するとともに抵抗Rを介してグランド55に接続する。トランジスタQのベース56は、トランジスタQ及びQのそれぞれのベース57,58に結合する。低電流IinがトランジスタQを流れるだけでも、トランジスタQのコレクタ電流をICとすると、この電圧降下は、R*ICとなり、トランジスタQのゲート−ソース間の電圧は高くなる。この場合、トランジスタQは、短絡回路又は低インピーダンス抵抗のように機能するようになる。
しかしながら、入力電流が増大する場合、トランジスタQのゲート−ソース間の電圧は減少して、カットオフ電圧に達すると、トランジスタQはターンオフ状態に変化するので、カレントミラー50の入力電流Iinは制限される。
本発明によれば、接続するマイクロ・コントローラの動作評価に抵抗Rを用いる場合、更に有利にすることができる。これは、好適には、抵抗Rの最大電圧が電界効果トランジスタQのターンオンを保持している限り、マイクロ・コントローラを通常の動作状態で実行させることができるようにする。この場合、トランジスタQは省略することができる。
図6は、本発明に従うカレントミラー60の他の実施例を示しており、カレントミラーをセンサ61のグランド側に配置する。これは、図5のpnpチャネルトランジスタとは対照的に、トランジスタQ,Q及びQをnpnチャネルトランジスタとして設計し、電界効果トランジスタQは、例えばnチャネルMOSFETなどのnチャネル電界効果トランジスタとして設計する。このように、この回路は、センサ61のセンサ入力端及び抵抗Rを電圧供給端Uに接続し、トランジスタQ,Q及びQのエミッタをグランドに接続するようにして、図5の回路に対し反転させることができる。
図4〜6に示した本発明によるカレントミラー回路の実施例は、バイポーラトランジスタの代わりに電界効果トランジスタとすることもできる。ここで説明の反復を避けるようにするが、バイポーラトランジスタのエミッタの代わりに電界効果トランジスタのソースを接続し、バイポーラトランジスタのコレクタの代わりに電界効果トランジスタのドレインを接続し、バイポーラトランジスタのベースの代わりに電界効果トランジスタのゲートを接続することができる。pnpチャネルトランジスタは有利にpチャネル電界効果トランジスタとすることができ、npnチャネルトランジスタは有利にMOSFETのようなnチャネル電界効果トランジスタとすることができる。
本発明によるこのようなカレントミラー回路は図7〜10に示す。図7は、本発明による図4のカレントミラー回路40と等価なカレントミラー回路100を示している。図7に示す回路100は、図4の回路と対応しており、pチャネル電界効果トランジスタQを電界効果トランジスタQのドレイン−ゲート間に接続し、制御回路101を電界効果トランジスタQに提供する。ここで、電界効果トランジスタQのゲート103を制御回路101に結合し、電界効果トランジスタQのソース104を2つの電界効果トランジスタQ,Qのゲート105,106に結合し、電界効果トランジスタQのドレイン107をQのドレイン108に結合するように接続する。
前述したように、電界効果トランジスタQを線形域で動作させる場合、そのドレイン及びソース間に低インピーダンス接続及び適切な直接接続を生じさせる。カレントミラー100は、図1におけるカレントミラーと同様に機能する。しかしながら、電界効果トランジスタQを流れる電流フローが大きくなりすぎた場合、ゲート電位は増加し、電界効果トランジスタQは飽和モードに移行し、電界効果トランジスタQのコレクタからの電流フローを減少させることができる。カレントミラーの入力端102で可能とした短絡回路は、カレントミラーの入力端及び出力端における電流フローの最大値を規定することができ、即ち入力Iin及び出力Ioutを制限することができる。このようにして、回路100は、例えばグランドへの短絡回路及びその影響を効率的に防ぐことができる。
図8は、カレントミラー回路110を示しており、入力端111は電圧供給端Uに接続し、電界効果トランジスタQ及びQのソース112,113はグランドに接続する。それ以外は、回路110ではnチャネル電界効果トランジスタを、回路100ではpチャネル電界効果トランジスタを用いていることを除けば、回路100及び110は対応している。ここで、電界効果トランジスタQのゲート115を制御回路116に結合し、電界効果トランジスタQのソース117を2つの電界効果トランジスタQ,Qのゲート118,119に結合し、電界効果トランジスタQのドレイン120を電界効果トランジスタQのドレイン121に結合するように接続する。
図9は、電界効果トランジスタQを制御するための簡略なカレントミラー回路130を示しており、基本的に図7の電界効果トランジスタQに対応している。図9において、追加の電界効果トランジスタQを制御用に設け、電界効果トランジスタQのソース側132はバッテリ電圧又は供給電圧Uに接続し、電界効果トランジスタQのドレイン側133は電界効果トランジスタQのゲート134に接続するとともに抵抗Rを介してグランドに接続する。電界効果トランジスタQのゲート136は、電界効果トランジスタQ及びQのそれぞれのゲート137,138に結合する。
図10は、本発明によるカレントミラー140の他の実施例を示しており、本カレントミラーは、センサ141のグランド側に配置する。これは、電界効果トランジスタQ,Q,Q及びQを、例えばnチャネルMOSFETなどのnチャネル電界効果トランジスタとして設計することを意味する。このように、この回路は、センサ141のセンサ入力端及び抵抗Rを、電圧供給端Uに接続し、電界効果トランジスタQ,Q及びQのソースをグランドに接続するようにして、図9の回路に対し反転させる。
本発明のこれらおよび他の目的は、添付図面に示した実施形態を参照することによって明らかになるであろう。
最先端技術によるカレントミラー回路の配置図である。 最先端技術によるカレントミラー回路の配置図である。 最先端技術によるカレントミラー回路の配置図である。 本発明によるカレントミラー回路の配置図である。 本発明によるカレントミラー回路の配置図である。 本発明によるカレントミラー回路の配置図である。 本発明によるカレントミラー回路の配置図である。 本発明によるカレントミラー回路の配置図である。 本発明によるカレントミラー回路の配置図である。 本発明によるカレントミラー回路の配置図である。

Claims (11)

  1. 入力側のトランジスタ又は電界効果トランジスタと、出力側のトランジスタ又は電界効果トランジスタとを備えるカレントミラー回路であって、前記入力側及び出力側の各トランジスタのエミッタ又はソースを結合するとともに電圧供給端に接続し、前記入力側及び出力側の各トランジスタのベース又はゲートを互いに電気的に結合するとともに追加の電界効果トランジスタに接続し、前記追加の電界効果トランジスタのソースを前記入力側及び出力側の2つのトランジスタ又は電界効果トランジスタのベース又はゲートに結合し、且つ前記追加の電界効果トランジスタのドレインを前記入力側のトランジスタ又は電界効果トランジスタのコレクタ又はドレインに結合するようにした、カレントミラー回路。
  2. 請求項1に記載のカレントミラー回路において、前記入力側のトランジスタ又は電界効果トランジスタと、前記出力側のトランジスタ又は電界効果トランジスタのエミッタ又はソースとを前記電圧供給端に接続するようにしたことを特徴とするカレントミラー回路。
  3. 請求項1又は2に記載のカレントミラー回路において、前記電界効果トランジスタをpチャネル電界効果トランジスタとしたことを特徴とするカレントミラー回路。
  4. 請求項1,2又は3に記載のカレントミラー回路において、前記入力側のトランジスタ及び前記出力側のトランジスタをそれぞれpnpチャネルトランジスタとするか、又は、前記入力側の電界効果トランジスタ及び前記出力側の電界効果トランジスタをそれぞれMOSFETのようなpチャネル電界効果トランジスタとしたことを特徴とするカレントミラー回路。
  5. 請求項1〜4のいずれか一項に記載のカレントミラー回路において、センサの一方の接続端を入力側のトランジスタのコレクタに結合し、且つセンサの他方の接続端をグランドに結合することを特徴とするカレントミラー回路。
  6. 請求項1に記載のカレントミラー回路において、前記入力側のトランジスタ又は電界効果トランジスタのエミッタ又はソースをグランドに接続し、且つ前記出力側のトランジスタ又は電界効果トランジスタのエミッタ又はソースをグランドに接続したことを特徴とするカレントミラー回路。
  7. 請求項1又は6に記載のカレントミラー回路において、前記電界効果トランジスタをMOSFETのようなnチャネル電界効果トランジスタとしたことを特徴とするカレントミラー回路。
  8. 請求項1,6又は7に記載のカレントミラー回路において、前記入力側のトランジスタ及び前記出力側のトランジスタをそれぞれnpnチャネルトランジスタ又はMOSFETのようなnチャネル電界効果トランジスタとしたことを特徴とするカレントミラー回路。
  9. 請求項1〜8のいずれか一項に記載のカレントミラー回路において、センサの一方の接続端を前記入力側のトランジスタ又は電界効果トランジスタのコレクタ又はドレインに結合し、且つセンサの他方の接続部を前記電圧供給端に接続することを特徴とするカレントミラー回路。
  10. 請求項1〜9のいずれか一項に記載のカレントミラー回路において、前記電界効果トランジスタのゲートを制御回路に結合することを特徴とするカレントミラー回路。
  11. 請求項10に記載のカレントミラー回路において、前記制御回路は、トランジスタ又は電界効果トランジスタを有し、該トランジスタ又は電界効果トランジスタのコレクタ又はドレインを前記電界効果トランジスタのゲートに結合するとともに、該トランジスタ又は電界効果トランジスタのベース又はゲートを前記カレントミラーの前記入力側トランジスタ又は電界効果トランジスタのベース又はゲートに少なくとも結合し、該トランジスタ又は電界効果トランジスタのエミッタ又はソースを前記入力側トランジスタ又は電界効果トランジスタのエミッタ又はソースに少なくとも結合することを特徴とするカレントミラー回路。
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