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Amplitude-linear differential phase shift circuit
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撮影装置およびその制御方法
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ジックオプテックス株式会社 |
光波測距装置
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ELMOS Semiconductor AG |
Vorrichtung und Sensor zur Abstandsmessung mittels der Laufzeit von kompensierten Impulsen
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ELMOS Semiconductor AG |
Verfahren zur Vermessung einer Übertragungsstrecke mittels kompensierender Amplitudenmessung und Delta-Sigma-Methode sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
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CN104185799B
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梅卡雷斯系统有限责任公司 |
补偿线路板上的光学传感器
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ELMOS Semiconductor AG |
Verfahren und Sensorsystem zur Vermessung der Eigenschaften einer Übertragungsstrecke eines Messsystems zwischen Sender und Empfänger
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Schaltungsanordnung für ein PMD-Kamerasystem
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Bluetechnix Gmbh |
Aufnahmeverfahren für zumindest zwei ToF-Kameras
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Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem
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Elmos Semiconductor Ag |
Vorrichtung zur bestimmung einer eigenschaft eines uebertragungskanals zwischen einem sender und einem empfaenger
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2012-12-28 |
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Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh |
Verfahren zum Unterscheiden zwischen einem Zielobjekt und einem atmosphärischen Bestandteil bei einer Messung mit Hilfe einer optoelektronischen Sensoreinrichtung eines Kraftfahrzeugs, Sensoreinrichtung und Kraftfahrzeug
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DE102012025467A1
(de)
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2012-12-28 |
2014-07-03 |
Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh |
Optoelektronische Sensoreinrichtung zur Bestimmung eines Reflexionsvermögens unter Berücksichtigung von Intensitätsverlusten, Kraftfahrzeug und entsprechendes Verfahren
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DE102012025464A1
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2012-12-28 |
2014-07-03 |
Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh |
Optoelektronische Sensoreinrichtung für ein Kraftfahrzeug mit optimierten Streueigenschaften und Kraftfahrzeug mit einer Sensoreinrichtung
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2013-04-17 |
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Mechaless Systems Gmbh |
Method for optically measuring distances in the near and far range
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DE102013013664B3
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2013-08-17 |
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Elmos Semiconductor Ag |
Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem
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EP3124993B1
(de)
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2013-08-22 |
2021-10-06 |
Elmos Semiconductor SE |
Störkompensierte vorrichtung zur vermessung einer optischen signalübertragungsstrecke
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DE202014010352U1
(de)
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2013-09-12 |
2015-06-17 |
Mechaless Systems Gmbh |
Gestenerkennungsvorrichtung
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DE102014106463A1
(de)
*
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2014-05-08 |
2015-11-12 |
Sick Ag |
Entfernungsmessender Sensor und Verfahren zur Erfassung und Abstandsbestimmung von Objekten
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DE102015002270A1
(de)
|
2014-05-09 |
2015-11-26 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Vorrichtung und Verfahren zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen, Vermessen und Klassifizieren von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung
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DE102014019708B4
(de)
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2014-05-19 |
2026-02-12 |
Elmos Semiconductor Se |
Verfahren zur Bedienung einer mechanischen Vorrichtung und Vorrichtung zur Vermessung der Lage und/oder Position von Objekten
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DE102014019709A1
(de)
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2014-05-19 |
2015-11-19 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Verfahren zur Bedienung einer mechanischen Vorrichtung
|
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DE102014017237A1
(de)
|
2014-11-21 |
2016-05-25 |
Mechaless Systems Gmbh |
Messsystem zur energiesparenden optischen Abstandsmessung
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DE102014019172B4
(de)
|
2014-12-17 |
2023-12-07 |
Elmos Semiconductor Se |
Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung von festen Objekten, Kochdunst und Rauch mit einem kompensierenden optischen Messsystem
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DE102014019773B4
(de)
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2014-12-17 |
2023-12-07 |
Elmos Semiconductor Se |
Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung von festen Objekten, Kochdunst und Rauch mittels des Displays eines Mobiltelefons
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DE102015006174B3
(de)
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2015-05-08 |
2016-08-11 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke
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DE102015015389A1
(de)
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2015-11-18 |
2017-05-18 |
Elmos Semiconductor Ag |
Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
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DE102015015245A1
(de)
|
2015-11-18 |
2017-05-18 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
|
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DE102015015246A1
(de)
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2015-11-18 |
2017-05-18 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
|
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DE102015015390A1
(de)
|
2015-11-18 |
2017-05-18 |
Elmos Semiconductor Ag |
Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
|
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DE102015015244A1
(de)
|
2015-11-18 |
2017-05-18 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
|
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DE102015015248A1
(de)
|
2015-11-18 |
2017-05-18 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
|
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DE102016103688B3
(de)
*
|
2016-03-01 |
2017-05-18 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Optische Laufzeitmessung nach einem ein- oder zweistufigen Delta-Sigma-Verfahren und zugehörige Vorrichtung
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DE102016103690B3
(de)
*
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2016-03-01 |
2017-05-18 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Optische Laufzeitmessung nach einem ein- oder zweistufigen Delta-Sigma-Verfahren
|
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DE102017106811B4
(de)
|
2016-05-09 |
2018-01-11 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler LED-Bänder
|
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DE102017106812B4
(de)
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2016-05-09 |
2018-01-11 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler LED-Sensor-Bänder
|
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DE102017106813B4
(de)
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2016-05-09 |
2018-01-18 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler Sensor-Bänder
|
|
DE102017100308B3
(de)
|
2016-12-06 |
2018-05-30 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mit verringerter EMV Empfindlichkeit
|
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DE102017100305B4
(de)
|
2017-01-09 |
2021-08-12 |
Elmos Semiconductor Se |
Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mittels Mehrfachmodulation
|
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DE102017100306B4
(de)
|
2017-01-09 |
2021-08-12 |
Elmos Semiconductor Se |
Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mittels Mehrfachmodulation
|
|
JP7027403B2
(ja)
*
|
2017-02-28 |
2022-03-01 |
ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 |
測距装置、および測距方法
|
|
EP3525004B1
(de)
*
|
2018-02-08 |
2020-10-14 |
Cedes AG |
Tof sensor mit prüfsender
|
|
CN108508451A
(zh)
*
|
2018-04-03 |
2018-09-07 |
深圳新亮智能技术有限公司 |
高精度高频次的脉冲激光测距传感器
|
|
DE102019119917B4
(de)
|
2019-07-23 |
2025-02-06 |
Elmos Semiconductor Se |
Silizidierte Testvorrichtung und Testverfahren für metalllagenfreies Thermopaar in einer Ebene eines CMOS-Stapels
|
|
DE102019119904B4
(de)
|
2019-07-23 |
2024-12-19 |
Elmos Semiconductor Se |
Metalllagenfreies Thermopile mit optimiertem Layout
|
|
DE102020119245B4
(de)
|
2019-07-23 |
2024-06-13 |
Elmos Semiconductor Se |
Halios-Vorrichtung mit metalllagenfreiem Empfänger und Kompensation mittels Phononenstrahlung eines Heizelements oder eines elektroakustischen Wandlers
|
|
DE102019009338B4
(de)
|
2019-07-23 |
2025-02-27 |
Elmos Semiconductor Se |
Metalllagenfreies Thermopile mit optimiertem Layout
|