JP2009289011A - 配線基板の設計方法、および電子装置 - Google Patents
配線基板の設計方法、および電子装置 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】 基板上に回路素子を配置する構成の配線基板の設計方法であって、CAD工程と、前記CAD工程の出力を受け前記回路素子のレイアウトパターンおよび配置に対応したバラツキを、パラメータを含む数式に一時的に数式化する解析工程と、前記配線基板についての製造工程のバラツキから求めた条件によって、前記素子パラメータ群中のパラメータをばらつかせる処理とばらつかせた前記パラメータを用いて、演算処理手段にて回路シミュレーションを実行する工程とを含むことを特徴とする配線基板の設計方法。
【選択図】 図3
Description
図1は、この発明の一実施形態を説明するために示す基板断面図である。実際にPWBを製造すると、設計値通りには製造できずに製造誤差が生じる。図1では、ある銅層の層厚が設計値では35μmであるのに対し実測では38μmであって、層幅が設計値では110μmであるのに対し実測では105μmであって、またメーカ提示比誘電率が4.5であるのに対し実測では4.7であったという例を示している。
ここでまず、図2を参照して、本発明の一実施形態に係る電子装置の構成について説明する。この電子装置は、バッテリ駆動可能な携帯型のノートブック型パーソナルコンピュータ10として実現されている。
ディスプレイユニット12は、コンピュータ本体11に支持され、そのコンピュータ本体11に対してコンピュータ本体11の上面が露出される開放位置とコンピュータ本体11の上面を覆う閉塞位置との間を回動自由に取り付けられている。コンピュータ本体11は薄い箱形の筐体を有しており、その上面にはキーボード13、本コンピュータ10を電源オン/オフするためのパワーボタン14、入力操作パネル15、およびタッチパッド16などが配置されている。
CADツールから解析ツールにデータ転送または読み取る際に、解析条件を一次的に変更可能とすることにより製造誤差を考慮した解析も可能となる。
図5は解析条件変更操作画面(GUIイメージ画面)DC抵抗値&IRドロップ値解析の例である。
図5の解析条件を変更することで製造誤差を考慮する。項目としては、層厚、ライン幅率、比誘電体率、誘電正接、抵抗率である。縦軸は各層を表現している。L1〜L6は銅層を表し、その間の層は誘電体層を表している。図1に関しL1の層厚が設計値では35μmであるのに対し実測では38μmであることを説明したがその例が表現されている。
図6は解析例の一つである。DC抵抗値解析とDC電圧ドロップ解析の例である。
以下の式からも分かるように、ラインやプレーンの層厚と幅、抵抗率を変更することにより、抵抗値が変化する。過去の製造データより製造誤差を割出し、CADデータに補正をかけて解析することで、ワーストケースを求めることができる。これにより、ワーストケースでの電圧ドロップも解析可能である。
R :抵抗値[Ω]、L :導体長[m]、A :導体面積[m^2]、ρ :低効率[Ω・m]、V:電圧[V]、I:電流[A]
図7は解析例のもう一つである。伝送線路解析における線路モデル解析の例である。配線モデルの特性インピーダンスZ0は、インダクタンスLとキャパシタンスCに依存する。インダクタンスLとキャパシタンスCはライン幅Wや導体厚、誘電率や誘電体厚によって変化する。このため、ラインやプレーンの幅や厚さを変更した解析結果を求めることでワーストケースでの伝送線路解析が可能となる。図7(a)はマイクロストリップ配線のモデルを示す図であり、図7(b)はストリップ配線のモデルを示す図である。
基板伝送線路の場合、線路の幅Wとベタ面からの距離Hおよびその間の絶縁材の比誘電率により特性インピーダンスが決まる。基板伝送線路には、例えば、図7(a)に示すマイクロストリップ配線や、図7(b)に示すストリップ配線がある。
2. PWB製造誤差を考慮し、ワーストケースでの解析実施により歩留りや後戻りを減らすことができる。
3. ライン・プレーンの幅や厚さ、誘電体の比誘電率や誘電正接、導体の導電率に対して、製造誤差などの補正をかける。
4. CADデータの変更や新しい解析モデルの作成時間が要らないので、解析に至るまでの時間が縮小できる。
5. 具体的に上げると、電源設計における電源プレーンのDC抵抗・電圧ドロップ解析、伝送線路解析における配線モデルの特性インピーダンス解析などで製造誤差を考慮した解析が可能になる。
1.製造誤差等を考慮し、ワーストケースでの解析ができるため、製品の歩留りが向上する。
2.CADデータを変更しないで製造誤差等を考慮できるため、解析に至るまでの時間が縮小できる。
なお、この発明は上記実施形態に限定されるものではなく、この外その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
また、上記した実施の形態に開示されている複数の構成要素を適宜に組み合わせることにより、種々の発明を形成することができる。例えば、実施の形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除しても良いものである。さらに、異なる実施の形態に係る構成要素を適宜組み合わせても良いものである。
71…グランドプレーン、72…第1誘電体層、73…第2誘電体層、74…マイクロストリップ配線、81…グランドパターン、82…誘電体層、83…ストリップ配線、84…回路パターン。
Claims (4)
- 基板上に回路素子を配置する構成の配線基板の設計方法であって、
CAD工程と、
前記CAD工程の出力を受け前記回路素子のレイアウトパターンおよび配置に対応したバラツキを、パラメータを含む数式に一時的に数式化する解析工程と、
前記配線基板についての製造工程のバラツキから求めた条件によって、前記素子パラメータ群中のパラメータをばらつかせる処理とばらつかせた前記パラメータを用いて、演算処理手段にて回路シミュレーションを実行する工程とを
含むことを特徴とする配線基板の設計方法。 - 基板上に回路素子を配置する構成の配線基板の設計方法であって、
CAD工程と、
前記CAD工程の出力を受け前記回路素子のレイアウトパターンおよび配置に対応したバラツキを、パラメータを含む数式に一時的に数式化する解析工程と、
前記配線基板についての使用条件のバラツキから求めた条件によって、前記素子パラメータ群中のパラメータをばらつかせる処理とばらつかせた前記パラメータを用いて、演算処理手段にて回路シミュレーションを実行する工程とを
含むことを特徴とする配線基板の設計方法。 - 基板上に回路素子を配置する構成の配線基板の設計方法であって、
CAD工程と、
前記CAD工程の出力を受け前記回路素子のレイアウトパターンおよび配置に対応したバラツキを、パラメータを含む数式に一時的に数式化する解析工程と、
前記配線基板についての製造工程または使用条件のバラツキから求めた条件によって、前記素子パラメータ群中のパラメータをばらつかせる処理とばらつかせた前記パラメータを用いて、演算処理手段にて回路シミュレーションを実行する工程とを含むことを特徴とする配線基板の設計方法
により設計された配線基板。 - 請求項3に記載の配線基板の設計方法により設計された前記配線基板を備えた電子機器。
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JP2008140604A JP2009289011A (ja) | 2008-05-29 | 2008-05-29 | 配線基板の設計方法、および電子装置 |
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- 2008-05-29 JP JP2008140604A patent/JP2009289011A/ja active Pending
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