JP2009245494A - 磁気記憶制御装置、磁気記憶制御方法、磁気記憶装置 - Google Patents

磁気記憶制御装置、磁気記憶制御方法、磁気記憶装置 Download PDF

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Abstract

【課題】同期精度とフォーマット効率を両立させる磁気記憶制御装置、磁気記憶制御方法、磁気記憶装置を提供する。
【解決手段】パターンドメディアである記録媒体を用いる磁気記憶装置の制御を行う磁気記憶制御装置であって、記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎にヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とする測定部と、測定部により測定された複数のデータブロックの測定値に基づいて、各データブロック内の複数のタイミングにおける記録クロックの設定値を算出する算出部と、算出部により算出された設定値に基づいて記録クロックを生成する生成部とを備えた。
【選択図】図1

Description

本発明は、パターンドメディア記録を行う磁気記憶制御装置、磁気記憶制御方法、磁気記憶装置に関するものである。
磁気ディスク装置の高密度化技術として、パターンドメディア記録が注目されている。パターンドメディアのディスク上には、島状の磁化領域(以下、ランドと呼ぶ)が形成される。磁気ディスク装置においては、記録の際、ランドに記録磁界のタイミングを合わせることが重要となる。
なお、従来技術として、連続する所定数のビット(書き込み領域)と他の連続する所定数のビットの間にライトタイミング用の同期領域を備える磁気記録媒体、及び同期領域から読み取った信号によりライトクロックを生成する記録装置がある(例えば、特許文献1参照)。
特開2003−157507号公報
パターンドメディア記録は、要求されるライトタイミングの精度が高い。同期精度を得るためには、上述した所定数は少ないほうがよい。その場合、同期領域が増加し、フォーマット効率(記録容量)が低下する。
本発明は上述した問題点を解決するためになされたものであり、同期精度とフォーマット効率を両立させる磁気記憶制御装置、磁気記憶制御方法、磁気記憶装置を提供することを目的とする。
上述した課題を解決するため、本発明の一態様は、パターンドメディアである記録媒体を用いる磁気記憶装置の制御を行う磁気記憶制御装置であって、前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎にヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とする測定部と、前記測定部により測定された複数のデータブロックの測定値に基づいて、各データブロック内の複数のタイミングにおける記録クロックの設定値を算出する算出部と、前記算出部により算出された設定値に基づいて前記記録クロックを生成する生成部とを備える。
また、本発明の一態様は、パターンドメディアである記録媒体を用いる磁気記憶装置の制御を行う磁気記憶制御方法であって、前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎にヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とし、測定された複数のデータブロックの前記測定値に基づいて、各データブロック内の複数のタイミングにおける記録クロックの設定値を算出し、算出された前記設定値に基づいて前記記録クロックを生成することを行う。
また、本発明の一態様は、パターンドメディアである記録媒体と、前記記録媒体に対して記録及び再生を行うヘッドと、前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎に前記ヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とする測定部と、前記測定部により測定された複数のデータブロックの測定値に基づいて、各データブロック内の複数のタイミングにおける記録クロックの設定値を算出する算出部と、前記算出部により算出された設定値に基づいて前記記録クロックを生成する生成部とを備える。
開示の磁気記憶制御装置、磁気記憶制御方法、磁気記憶装置によれば、同期精度とフォーマット効率を両立させることができる。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しつつ説明する。
実施の形態1.
まず、本実施の形態に係る磁気ディスク装置(磁気記憶装置)の構成について説明する。
図1は、実施の形態1に係る磁気ディスク装置の構成の一例を示すブロック図である。この磁気ディスク装置は、コントローラ11(測定部、算出部)、リードチャネル12a、ヘッド21、ディスク22(記録媒体)を有する。コントローラ11は、ホストとの通信及びリードチャネル12aの制御を行う。ディスク22は、パターンドメディアである。ヘッド21は、ディスク22に対してリード及びライトを行う。
リードチャネル12aは、ライトクロック生成器31a(生成部)、変調部32、復調部33を有する。変調部32は、コントローラ11からのデータを変調して変調結果をヘッド21へ出力する。復調部33は、ヘッド21からの再生信号の波形等化及び復調を行って復調結果をコントローラ11へ出力する。
図2は、実施の形態1に係るライトクロック生成器31aの構成の一例を示すブロック図である。ライトクロック生成器31aは、mark検出器41、擬似同期信号発生器42、ライト同期コントローラ43a、RAM(Random Access Memory)44、セレクタ45、PLL(Phase Locked Loop)46aを有する。
次に、本実施の形態に係る磁気ディスク装置のライト処理におけるライトクロック補正処理の概要について説明する。
ライト処理は、ライトデータをディスク22へライトする処理である。ライトクロック補正処理は、ライトを実行するためのライトクロックを補正する処理である。図3は、実施の形態1に係る磁気ディスク装置のライトクロック補正処理の一例を示す概念図である。
この図の(a)は、ディスク22上のトラック方向のディスクパターンを示す配置図である。この(a)において、ディスクパターンに対するヘッド21の相対位置は、左から右へ移動する。また、ディスクパターンは、ランドの集まりであるデータブロック(データドット列)と同期のためにリードされる同期マークとを有する。所定の長さのデータブロックの間に、同期マークが挿入される。
また、この図の(b)は、(a)のディスクパターン上のヘッド21の相対位置に対する動作モードの変化を示すタイミングチャートである。ここで、ヘッド21がデータブロック上に位置する場合の動作モードは、ライトモードであり、ヘッド21が同期マーク上に位置する場合の動作モードは、リードモードである。
また、この図の(c)は、(b)の動作モードに対するPLL入力信号(セレクタ45から出力されてPLL46aへ入力される信号)の波形を示すタイミングチャートである。ライトモードにおいて、PLL入力信号は、ヘッド21によりリードされた同期マークのタイミングで生成されるパルスである同期信号(第1パルス)と、同期信号間で生成されるパルスである擬似同期信号(第2パルス)とを有する。本実施の形態では、同期信号の間隔をM等分したタイミングのうち、同期信号のタイミング以外の(M−1)回のタイミングで擬似同期信号のパルスが生成されるとする。PLL46aは、同期信号及び擬似同期信号に同期してライトクロックを生成する。
次に、本実施の形態に係る磁気ディスク装置の変動計測処理について説明する。
本実施の形態に係る磁気ディスク装置は、ライト処理前に、予めディスク22の偏心による周波数変動、プロセスに起因する高次変動等を計測する変動計測処理を行う。変動計測処理を行うタイミングは、工場出荷時、初回ライト処理前、電源投入時、一定時間経過時、大きな衝撃を検出した後(衝撃により偏芯条件が変わるため)などである。
図4は、実施の形態1に係る磁気ディスク装置の変動計測処理の一例を示す概念図である。この図の(a)は、ディスク22上のトラック方向のディスクパターンを示す。ディスクパターンは、図3と同様、データブロックと同期マークを有する。また、この図の(b)は、(a)のデータブロック毎に計測されたデータブロック時間の測定値Ta,Tb,Tcを示す。データブロック時間は、同期マーク間(データブロック)の長さである。
図5は、実施の形態1に係る磁気ディスク装置の変動計測処理の一例を示すフローチャートである。
まず、コントローラ11は、所定のトラックにおいて、データブロック毎に、データブロック時間を計測する(S11)。ここで、コントローラ11は、所定の周波数のクロックをカウントすることにより、データブロック時間を計測して測定値とする。次に、コントローラ11は、測定値をRAM44に保存する(S12)。
図6は、実施の形態1に係る磁気ディスク装置の変動計測処理による測定結果の一例を示す概念図である。この図において、横軸は、データブロックの位置を示し、縦軸は、データブロック時間を示す。また、この図は、トラック1周分のデータブロック時間の変動を示す。更に、この図は、図4に示された測定値Ta,Tb,Tcを示す。
次に、コントローラ11は、トラック1周分のデータブロック時間の計測が終了したか否かの判定を行う(S13)。計測が終了していなければ(S13,N)、処理S11へ戻り、次のデータブロック時間の計測を行う。一方、終了していれば(S13,Y)、コントローラ11は、測定値の変動から各データブロック内の変動を予測し、各データブロック内の擬似同期信号の位相の補正値を算出し(S14)、この補正値を補正テーブルとしてRAM44に保存し(S15)、このフローは終了する。
ここで、コントローラ11は、補正値算出の対象のデータブロックの測定値とその前及び後のデータブロックの測定値とを用いて、対象のデータブロック内の測定値(ライトクロック周波数)の変動を予測する。また、ここでは、データブロック内で(M−1)回の擬似同期信号のパルス毎にPLL46aの同期が行われるため、コントローラ11は、各データブロックにおいて(M−1)個の補正値を算出する。
次に、本実施の形態に係る磁気ディスク装置のライト処理について説明する。
図7は、実施の形態1に係る磁気ディスク装置のライト処理の一例を示すフローチャートである。まず、mark検出器41は、ライト処理の対象となるトラックにおいてリードモードとし、再生信号から同期マークを検出して同期信号のパルスを生成し、ライトモードとする(S21)。次に、ライト同期コントローラ43aは、同期信号をセレクタ45で選択してPLL46aへ入力し、PLL46aを同期信号のパルスに同期させる(S22)。
次に、擬似同期信号発生器42は、擬似同期信号発生タイミングのために基準クロックのカウントを開始する(S23)。次に、擬似同期信号発生器42は、RAM44の補正テーブルから補正値を取得する(S24)。次に、擬似同期信号発生器42は、カウント値が所定のカウント値に達すると擬似同期信号のパルスを生成し、補正値に従ってパルスの位相の調整を行う(S25)。所定のカウント値は、データブロック時間をM等分した値である。
次に、ライト同期コントローラ43aは、擬似同期信号をセレクタ45で選択してPLL46aへ入力し、PLL46aを擬似同期信号のパルスに同期させる(S26)。次に、ライト同期コントローラ43aは、所定の数(M−1)の擬似同期信号の生成が終了したか否かの判定を行う(S27)。擬似同期信号の生成が終了していない場合(S27,N)、処理S23へ戻り、次の擬似同期信号の発生を行う。擬似同期信号の生成が終了した場合(S27,Y)、このフローは終了し、再度このフローを実行する。
なお、擬似同期信号発生器42は、補正テーブルを用いて擬似同期信号の位相調整を行うとしたが、計算を用いて位相調整を行っても良い。この場合、コントローラ11は、計測されたデータブロック時間に基づいて、データブロックの位置とライトクロックの周波数及び位相の補正値との関係を表す関係式のパラメータをRAM44へ保存する。また、擬似同期信号発生器42は、関係式を用いてデータブロックの位置から補正値を算出して擬似同期信号の位相調整を行う。関係式は、全ての変動をまとめた式を用いても良いし、変動要因や変動周波数毎に分離された式を用いても良い。分離された算出式を用いる場合、1次の変動である偏心と、プロセス起因等、その他の高次変動とが分離される。
また、本実施の形態においては、補正値がRAM44に保存されるとしたが、補正値が不揮発性メモリやディスク22のシステム領域に保存されるようにしても良い。この場合、磁気ディスク装置の電源が切断された後も補正値が保存され続けることにより、変動計測処理を低減することができる。
本実施の形態によれば、データブロック内でのライトクロックの周波数変動を予測して、同期信号と同様の擬似同期信号を発生させることにより、同期マークを増加させることなく、即ちフォーマット効率を低下させること無く、同期精度を向上させることができる。
実施の形態2.
まず、本実施の形態に係る磁気ディスク装置(磁気記憶装置)の構成について説明する。
図8は、実施の形態2に係る磁気ディスク装置の構成の一例を示すブロック図である。この図において、図1と同一符号は図1に示された対象と同一又は相当物を示しており、ここでの説明を省略する。この図の磁気ディスク装置は、図1の磁気ディスク装置と比較すると、リードチャネル12aの代わりにリードチャネル12bを有する。リードチャネル12bは、リードチャネル12aと比較すると、ライトクロック生成器31aの代わりにライトクロック生成器31bを有する。
図9は、実施の形態2に係るライトクロック生成器31bの構成の一例を示すブロック図である。この図において、図2と同一符号は図2に示された対象と同一又は相当物を示しており、ここでの説明を省略する。ライトクロック生成器31aと比較すると、ライトクロック生成器31bは、ライト同期コントローラ43aの代わりにライト同期コントローラ43bを備え、PLL46aの代わりにPLL46bを備え、新たに周波数・位相補正器47を備え、擬似同期信号発生器42、セレクタ45を必要としない。
また、本実施の形態の変動計測処理は、実施の形態1と同様であるが、本実施の形態の変動計測処理により算出されてRAM44に保存される補正値は、ライトクロックの周波数及び位相の補正値である。
次に、本実施の形態に係る磁気ディスク装置のライト処理におけるライトクロック補正処理の概要について説明する。
図10は、実施の形態2に係る磁気ディスク装置のライトクロック補正処理の一例を示す概念図である。この図の(a)は、実施の形態1と同様、ディスク22上のトラック方向のディスクパターンを示す配置図である。また、この図の(b)は、(a)のディスクパターン上のヘッド21の相対位置に対するライトクロックの周波数の変動を示す図である。(b)において、横軸は、ヘッド21の相対位置、縦軸は、ライトクロックの周波数を示す。本実施の形態の変動計測処理は、データブロックをM等分した補正タイミング毎の補正値を算出し、本実施の形態のライトクロック補正処理は、補正タイミング毎にライトクロック周波数及び位相の補正を行う。
次に、本実施の形態に係る磁気ディスク装置のライト処理について説明する。
図11は、実施の形態2に係る磁気ディスク装置のライト処理の一例を示すフローチャートである。この図において、図7と同一符号は図7に示された対象と同一又は相当処理を示しており、ここでの説明を省略する。まず、mark検出器41は、実施の形態1と同様の処理S21を実行する。次に、mark検出器41は、同期信号をPLL46bへ入力し、PLL46bを同期信号のパルスに同期させる(S42)。
次に、ライト同期コントローラ43bは、ライトクロック補正タイミングのために基準クロックのカウントを開始する(S43)。次に、ライト同期コントローラ43bは、RAM44の補正テーブルから補正値を取得する(S44)。次に、ライト同期コントローラ43bは、カウント値が所定のカウント値に達すると補正値を周波数・位相補正器47に送り、周波数・位相補正器47は、PLL46bから出力されるクロックの周波数及び位相を補正値に従って補正し、ライトクロックとして出力する(S45)。
次に、ライト同期コントローラ43bは、所定数(M−1)の補正を終了したか否かの判定を行う(S47)。補正が終了していない場合(S47,N)、処理S43へ戻り、次の補正を行う。補正が終了した場合(S47,Y)、このフローは終了し、再度このフローを実行する。
本実施の形態によれば、データブロック内でのライトクロックの周波数変動を予測して、ライトクロックの周波数及び位相を補正することにより、同期マークを増加させることなく、即ちフォーマット効率を低下させること無く、同期精度を向上させることができる。
本発明は、その精神または主要な特徴から逸脱することなく、他の様々な形で実施することができる。そのため、前述の実施の形態は、あらゆる点で単なる例示に過ぎず、限定的に解釈してはならない。本発明の範囲は、特許請求の範囲によって示すものであって、明細書本文には、何ら拘束されない。更に、特許請求の範囲の均等範囲に属する全ての変形、様々な改良、代替および改質は、全て本発明の範囲内のものである。
以上の実施の形態1〜2に関し、更に以下の付記を開示する。
(付記1) パターンドメディアである記録媒体を用いる磁気記憶装置の制御を行う磁気記憶制御装置であって、
前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎にヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とする測定部と、
前記測定部により測定された複数のデータブロックの測定値に基づいて、各データブロック内の複数のタイミングにおける記録クロックの設定値を算出する算出部と、
前記算出部により算出された設定値に基づいて前記記録クロックを生成する生成部と、
を備える磁気記憶制御装置。
(付記2) 付記1に記載の磁気記憶制御装置において、
前記算出部は、対象のデータブロックを含む複数のデータブロックの測定値に基づいて、前記対象のデータブロック内の複数のタイミングにおける測定値を予測し、該複数のタイミングのそれぞれにおける設定値を算出する磁気記憶制御装置。
(付記3) 付記1に記載の磁気記憶制御装置において、
前記生成部は、前記同期マークを再生し、再生された前記同期マークのタイミングに基づいて前記記録クロックを生成し、データブロック内の複数のタイミングにおいて前記設定値により前記記録クロックを補正する磁気記憶制御装置。
(付記4) 付記3に記載の磁気記憶制御装置において、
前記生成部は、再生された前記同期マークのタイミングを示す第1パルスを生成し、PLLを前記第1パルスに同期させて前記記録クロックを生成する磁気記憶制御装置。
(付記5) 付記4に記載の磁気記憶制御装置において、
前記生成部は、前記第1パルスと前記設定値とに基づいて互いに隣接する第1パルスの間のタイミングを示す第2パルスを生成し、前記PLLを前記第1パルス及び前記第2パルスに同期させて前記記録クロックを生成する磁気記憶制御装置。
(付記6) 付記5に記載の磁気記憶制御装置において、
前記算出部は、前記第2パルスのタイミングの補正量を前記設定値として算出し、
前記生成部は、該補正量に基づいて前記第2パルスのタイミングを補正する磁気記憶制御装置。
(付記7) 付記5に記載の磁気記憶制御装置において、
前記算出部は、データブロック毎に所定数の前記設定値を算出し、
前記生成部は、互いに隣接する第1パルスの間で前記所定数の第2パルスを生成する磁気記憶制御装置。
(付記8) 付記4に記載の磁気記憶制御装置において、
前記生成部は、互いに隣接する第1パルスの間の所定のタイミングにおいて、前記設定値に基づいて前記記録クロックを補正する磁気記憶制御装置。
(付記9) 付記8に記載の磁気記憶制御装置において、
前記算出部は、前記記録クロックの位相の補正量を前記設定値として算出し、
前記生成部は、該補正量に基づいて前記記録クロックの位相を補正する磁気記憶制御装置。
(付記10) 付記8に記載の磁気記憶制御装置において、
前記所定のタイミングは、互いに隣接する第1パルスの間を所定数で等分したタイミングである磁気記憶制御装置。
(付記11) パターンドメディアである記録媒体を用いる磁気記憶装置の制御を行う磁気記憶制御方法であって、
前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎にヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とし、
測定された複数のデータブロックの前記測定値に基づいて、各データブロック内の複数のタイミングにおける記録クロックの設定値を算出し、
算出された前記設定値に基づいて前記記録クロックを生成する
ことを行う磁気記憶制御方法。
(付記12) 付記11に記載の磁気記憶制御方法において、
対象のデータブロックを含む複数のデータブロックの前記測定値に基づいて、前記対象のデータブロック内の複数のタイミングにおける測定値を予測し、該複数のタイミングのそれぞれにおける設定値を算出する磁気記憶制御方法。
(付記13) 付記11に記載の磁気記憶制御方法において、
前記同期マークを再生し、再生された前記同期マークのタイミングに基づいて前記記録クロックを生成し、データブロック内の複数のタイミングにおいて前記設定値により前記記録クロックを補正する磁気記憶制御方法。
(付記14) 付記13に記載の磁気記憶制御方法において、
再生された前記同期マークのタイミングを示す第1パルスを生成し、PLLを前記第1パルスに同期させて前記記録クロックを生成する磁気記憶制御方法。
(付記15) 付記14に記載の磁気記憶制御方法において、
前記第1パルスと前記設定値とに基づいて互いに隣接する第1パルスの間のタイミングを示す第2パルスを生成し、前記PLLを前記第1パルス及び前記第2パルスに同期させて前記記録クロックを生成する磁気記憶制御方法。
(付記16) 付記15に記載の磁気記憶制御方法において、
前記第2パルスのタイミングの補正量を前記設定値として算出し、
該補正量に基づいて前記第2パルスのタイミングを補正する磁気記憶制御方法。
(付記17) 付記15に記載の磁気記憶制御方法において、
データブロック毎に所定数の前記設定値を算出し、
互いに隣接する第1パルスの間で前記所定数の第2パルスを生成する磁気記憶制御方法。
(付記18) 付記14に記載の磁気記憶制御方法において、
互いに隣接する第1パルスの間の所定のタイミングにおいて、前記設定値に基づいて前記記録クロックを補正する磁気記憶制御方法。
(付記19) 付記18に記載の磁気記憶制御方法において、
前記記録クロックの位相の補正量を前記設定値として算出し、
該補正量に基づいて前記記録クロックの位相を補正する磁気記憶制御方法。
(付記20) パターンドメディアである記録媒体と、
前記記録媒体に対して記録及び再生を行うヘッドと、
前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎に前記ヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とする測定部と、
前記測定部により測定された複数のデータブロックの測定値に基づいて、各データブロック内の複数のタイミングにおける記録クロックの設定値を算出する算出部と、
前記算出部により算出された設定値に基づいて前記記録クロックを生成する生成部と、
を備える磁気記憶装置。
実施の形態1に係る磁気ディスク装置の構成の一例を示すブロック図である。 実施の形態1に係るライトクロック生成器31aの構成の一例を示すブロック図である。 実施の形態1に係る磁気ディスク装置のライトクロック補正処理の一例を示す概念図である。 実施の形態1に係る磁気ディスク装置の変動計測処理の一例を示す概念図である。 実施の形態1に係る磁気ディスク装置の変動計測処理の一例を示すフローチャートである。 実施の形態1に係る磁気ディスク装置の変動計測処理による測定結果の一例を示す概念図である。 実施の形態1に係る磁気ディスク装置のライト処理の一例を示すフローチャートである。 実施の形態2に係る磁気ディスク装置の構成の一例を示すブロック図である。 実施の形態2に係るライトクロック生成器31bの構成の一例を示すブロック図である。 実施の形態2に係る磁気ディスク装置のライトクロック補正処理の一例を示す概念図である。 実施の形態2に係る磁気ディスク装置のライト処理の一例を示すフローチャートである。
符号の説明
11 コントローラ、12 リードチャネル、21 ヘッド、22 ディスク、31a,31b ライトクロック生成器、32 変調部、33 復調部、41 mark検出器、42 擬似同期信号発生器、43a.43b ライト同期コントローラ、44 RAM、45 セレクタ、46a,46b PLL、47 周波数・位相補正器。

Claims (7)

  1. パターンドメディアである記録媒体を用いる磁気記憶装置の制御を行う磁気記憶制御装置であって、
    前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎にヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とする測定部と、
    前記測定部により測定された複数のデータブロックの測定値に基づいて、各データブロック内の複数のタイミングにおける記録クロックの設定値を算出する算出部と、
    前記算出部により算出された設定値に基づいて前記記録クロックを生成する生成部と、
    を備える磁気記憶制御装置。
  2. 請求項1に記載の磁気記憶制御装置において、
    前記算出部は、対象のデータブロックを含む複数のデータブロックの測定値に基づいて、前記対象のデータブロック内の複数のタイミングにおける測定値を予測し、該複数のタイミングのそれぞれにおける設定値を算出する磁気記憶制御装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載の磁気記憶制御装置において、
    前記生成部は、前記同期マークを再生し、再生された前記同期マークのタイミングに基づいて前記記録クロックを生成し、データブロック内の複数のタイミングにおいて前記設定値により前記記録クロックを補正する磁気記憶制御装置。
  4. 請求項3に記載の磁気記憶制御装置において、
    前記生成部は、再生された前記同期マークのタイミングを示す第1パルスを生成し、PLLを前記第1パルスに同期させて前記記録クロックを生成する磁気記憶制御装置。
  5. 請求項4に記載の磁気記憶制御装置において、
    前記生成部は、前記第1パルスと前記設定値とに基づいて互いに隣接する第1パルスの間のタイミングを示す第2パルスを生成し、前記PLLを前記第1パルス及び前記第2パルスに同期させて前記記録クロックを生成する磁気記憶制御装置。
  6. パターンドメディアである記録媒体を用いる磁気記憶装置の制御を行う磁気記憶制御方法であって、
    前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎にヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とし、
    測定された複数のデータブロックの前記測定値に基づいて、各データブロック内の複数のタイミングにおける記録クロックの設定値を算出し、
    算出された前記設定値に基づいて前記記録クロックを生成する
    ことを行う磁気記憶制御方法。
  7. パターンドメディアである記録媒体と、
    前記記録媒体に対して記録及び再生を行うヘッドと、
    前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎に前記ヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とする測定部と、
    前記測定部により測定された複数のデータブロックの測定値に基づいて、各データブロック内の複数のタイミングにおける記録クロックの設定値を算出する算出部と、
    前記算出部により算出された設定値に基づいて前記記録クロックを生成する生成部と、
    を備える磁気記憶装置。
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