JP2009242165A - 高純度水酸化マグネシウム粉末及び高純度酸化マグネシウム粉末 - Google Patents

高純度水酸化マグネシウム粉末及び高純度酸化マグネシウム粉末 Download PDF

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Abstract

【課題】不純物である鉛の含有量が十分に低い水酸化マグネシウム粉末及び酸化マグネシウム粉末を提供すること。
【解決手段】純度が99.9質量%以上であり、Pbの含量が0.1ppm未満である、水酸化マグネシウム粉末又は酸化マグネシウム粉末にも関する。Pbの含量は0.01ppm以下が好ましい。
【選択図】なし

Description

本発明は、高純度水酸化マグネシウム粉末及び高純度酸化マグネシウム粉末に関する。
水酸化マグネシウム粉末及び酸化マグネシウム粉末は、種々の分野において、食品添加剤等の各種添加剤、燃料電池原料、電子部品用途、蛍光体原料、各種ターゲット材原料、超伝導薄膜下地用原料、トンネル磁気抵抗素子(TMR)用のトンネル障壁原料、PDP用保護膜原料、PDP用結晶酸化マグネシウム層原料、トナー電荷調整剤、トナー粒度調整剤、二次電子増倍電極の原料、紫外線発光半導体の原料、二次電池の原料、医薬品原料、化粧品原料等として使用され、きわめて広範な用途を持つ無機材料として注目されている。
これらの粉末としては純度がより高いものが求められており、不純物のなかでも鉛(Pb)は人体に有害な元素であること、様々な用途において悪影響を及ぼす元素であることなどから、できるだけPb含量を低減することが望まれている。
従来、高純度の水酸化マグネシウム粉末を製造するにあたっては精製法などが行われ、高純度の酸化マグネシウム粉末を製造する方法としては、塩素雰囲気下での焼成などが行われている。鉛の含有量を記載した文献としては以下の特許文献1〜3が挙げられる。
特許文献1では、水酸化マグネシウムを700〜1300℃の温度で焼成することにより、鉛の含有量が7ppm以下の酸化マグネシウム粉末を得ることが記載されている。鉛の含有量の最小値としては表1で0.3ppmが記載されている。
特許文献2では、海水を精製して重金属を除去したマグネシウム原料と、苛性ソーダや水酸化カルシウム等のアルカリ原料とを反応させて、鉛の含量が0.6ppmである水酸化マグネシウムを得、これを焼成して鉛の含量が0.1〜1.2ppm程度である酸化マグネシウムを製造することが記載されている。
特許文献3では、鉛含有量が2×10-7モル/モル以下である酸化マグネシウムを、ハロゲン源の存在下で水酸化マグネシウムを焼成することにより製造できることが記載されている。鉛の含有量として実施例では1.9〜7.4×10-8モル/モル、すなわち0.1〜1.0ppm程度が記載されている。
また、鉛の含有量は記載されていないが、高純度の水酸化マグネシウム粉末又は酸化マグネシウム粉末を記載した文献としては以下の特許文献4〜5が挙げられる。
特許文献4では、シュウ酸マグネシウムを1200〜1400℃で焼成することによって、高純度の酸化マグネシウム粉末を製造する方法が記載されている。
特許文献5では、高純度の塩化マグネシウムと精製水とを混合した水溶液に、アルカリ水溶液を反応させて水酸化マグネシウムスラリーを得、次いで、当該スラリーに凝集剤を添加して水酸化マグネシウムを沈降させ、さらに、得られた水酸化マグネシウムを水熱処理することにより、高純度の水酸化マグネシウムを製造する方法が記載されている。
特開2003−33159号公報 特開2004−345912号公報 特開2004−244313号公報 特開2007−91525号公報 特開2007−254250号公報
以上の文献で開示されていた方法によると、水酸化マグネシウムや酸化マグネシウム中の鉛の含有量は低減できるものの、さらに鉛の含有量が低い高純度品は製造できなかった。すなわち、特許文献1や3に記載の水酸化マグネシウムをハロゲン源存在下で焼成する方法では、鉛の低減に限度があり、鉛含量として少なくとも0.1ppm程度しか達成できなかった。特許文献2や5に記載の方法によると、水酸化マグネシウムの原料精製工程において、鉛が原料溶液中に再溶出してしまうので、0.1ppm未満の鉛含量を達成できない。特許文献4では鉛の含量を低減できる特別な工程はなんら記載されていないため、この文献に記載の方法では鉛含量は十分に低減できなかった。
そこで、本発明は、不純物である鉛の含有量が十分に低い水酸化マグネシウム粉末及び酸化マグネシウム粉末を提供することを目的とする。
本発明者らは、上記課題を解決すべく種々検討を重ねた結果、特許文献5に記載の高純度水酸化マグネシウムの製法において、水酸化マグネシウムスラリーを高温、高攪拌下で保持する精製工程を追加実施することにより、予想外に、得られる水酸化マグネシウム粉末の鉛含量が低減されることを見出し、本発明に至ったものである。
すなわち本発明は、純度が99.9質量%以上であり、Pbの含量が0.1ppm未満である、水酸化マグネシウム粉末に関する。ここで、Pbの含量は0.01ppm以下が好ましい。
また本発明は、純度が99.9質量%以上であり、Pbの含量が0.1ppm未満である、酸化マグネシウム粉末にも関する。ここで、Pbの含量は0.01ppm以下が好ましい。また、Cu−Kα線を用いた粉末X線回折法における(111)面、(200)面及び(220)面のピークの半価幅がそれぞれ0.20度以下であることが好ましく、レーザ回折散乱式粒度分布測定による累積50%粒子径(D50)が0.1〜10μmであることが好ましい。
本発明の水酸化マグネシウム粉末及び酸化マグネシウム粉末は、不純物である鉛の含有量が十分に低いものである。
本発明の水酸化マグネシウム粉末又は酸化マグネシウム粉末は、水酸化マグネシウムの純度が99.9%以上ときわめて高純度であり、かつPbの含量が0.1ppm未満のものである。Pbの含量は、さらに0.05ppm以下、あるいは0.01ppm以下とすることができる。また、Pb含量の下限としては0.001ppm以上、あるいは0.005ppm以上であってよい。このように鉛含量が低い水酸化マグネシウム粉末又は酸化マグネシウム粉末は本発明において初めて得られたものであり、様々な用途において悪影響を及ぼす鉛の含量が低い意義はきわめて大きい。水酸化マグネシウムや酸化マグネシウムは鉛を吸着しやすい傾向が強く、単なる洗浄ではその含量を十分に低減することがきわめて困難であった。
本発明の酸化マグネシウム粉末は結晶性が良好であるため、結晶歪が極めて小さく、結晶中に格子欠陥等が少ない。具体的には、Cu−Kα線を用いた粉末X線回折法における(111)面、(200)面及び(220)面のピークの半価幅がそれぞれ、0.20度以下のものである。当該半価幅の下限は特に限定されないが、例えば、0.070度以上、あるいは0.090度以上が可能である。
本発明の酸化マグネシウム粉末の平均粒径は、レーザ回折散乱式粒度分布測定による累積50%粒子径(D50)で0.1〜10μmの範囲にあることが好ましい。D50は1.0μm以上であってもよいし、1.0μm未満であってもよい。当該数値範囲の下限としては0.3μm以上がより好ましい。上限に関しては8μm以下がより好ましく、6μm以下がさらに好ましい。なお、D50とは、メジアン径のことで、粒度の累積グラフにおいて50体積%に相当する粒径(μm)をいい、粉体をある粒子径で2つに分けたとき、大きい側と小さい側が等量となる粒径のことである。
次に本発明の水酸化マグネシウム粉末又は酸化マグネシウム粉末を製造する方法を説明する。
本発明の水酸化マグネシウム粉末は、塩化マグネシウムと水とを混合した水溶液に、アルカリ水溶液を反応させて水酸化マグネシウムスラリーを得、次いで、当該水酸化マグネシウムスラリーを高温、高攪拌下で一定時間保持した後、このスラリーに凝集剤を添加して水酸化マグネシウムを沈降させ、上澄液を回収し、精製塩化マグネシウム水溶液を得、次いで、得られた精製塩化マグネシウム溶液とアルカリ水溶液を反応させて水酸化マグネシウムスラリーを得、得られた水酸化マグネシウムスラリーを水熱処理することによって得られる。
このようにして得られた水酸化マグネシウム粉末を、例えば焼成炉等で焼成することにより本発明の酸化マグネシウム粉末を得ることができる。
前記塩化マグネシウムとしては、高純度の無水塩化マグネシウムを使用することが好ましい。
前記塩化マグネシウム原料に水を混合して塩化マグネシウム水溶液とする。水の添加量は、無水塩化マグネシウムに対して2〜5質量倍であることが好ましい。このとき水は、イオン交換した超純水を使用する。特に、水中に含まれる不純物量を低減するため、イオン交換樹脂に通して電気伝導率を0.1μS/cm以下まで精製した超純水を使用することが好ましい。
次に、塩化マグネシウム水溶液中に含まれるPbを精製除去するために、マグネシウムイオンに対して、反応率20モル%になるようにアルカリ源を投入し、一定時間保持した後、さらにこの水酸化マグネシウムスラリーを高温、高攪拌下で一定時間保持する。具体的には、80℃〜沸点未満程度の温度で、15,000〜30,000rpm程度の高攪拌下、10〜100時間程度の期間保持する。このようにして得た不純物を吸着した水酸化マグネシウム沈殿物を除去することによって、極めてPb量の低い高純度の精製原料溶液を得る。このような保持工程によりPb含量が低減する理由は明らかではないが、高攪拌下での高温保持によって水酸化マグネシウム粒子の結晶化が促進され、水酸化マグネシウム粒子の表面に吸着したPbが結晶中に取り込まれ、溶媒への再溶出が抑制されることが原因と推定される。なお、水酸化ナトリウムは、不純物のコンタミが少ない点で好ましいが、アンモニア水を使用することもできる。また水酸化ナトリウムは、アルカリ分が20〜50質量%のアルカリを溶解した水溶液を使用するのが好ましい。加えて、NaOH自体に混入されているPbを精製除去するために、水酸化ナトリウムを本反応に使用する前に、水酸化物イオンに対して、反応率10モル%となるように塩化マグネシウム溶液を投入して予備反応を行い、純度を高める。上記の反応により、水酸化ナトリウム水溶液中の水酸化物イオンの10モル%がマグネシウムイオンと反応し水酸化マグネシウムとして沈殿するとともに、不純物が沈殿し除去され、残った水酸化ナトリウム水溶液の不純物量が低減する。
次に、得られた精製MgCl2溶液を、NaOH等のアルカリ源と二次反応させることにより、水酸化マグネシウムスラリーを得る。得られた水酸化マグネシウムスラリーをオートクレーブにて水熱処理(温度:100〜150℃、時間:0〜60分)を施すことで、本発明の高純度水酸化マグネシウム粉末が得られる。オートクレーブ処理することにより、結晶粒を整えることができ、また結晶中に取り込まれている不純物を溶液中に滲出させることができると考えられ、結果として不純物量を減少することができる。
以上のようにして得られる本発明の高純度水酸化マグネシウム粉末をおよそ1000〜1500℃で焼成することにより、本発明の高純度酸化マグネシウム粉末を得ることができる。
以下に実施例を掲げて本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。
以下の実施例では、以下に示す手順に沿って各種物性等を測定した。
(1)水酸化マグネシウム及び酸化マグネシウムの純度測定法
水酸化マグネシウム及び酸化マグネシウムの純度は、100質量%から測定した不純物量の合計を差し引いた値として算出した。
(2)水酸化マグネシウム及び酸化マグネシウムの不純物量及びPb量測定法
水酸化マグネシウム及び酸化マグネシウムの不純物量(Si、Al、Ca、Fe、V、Cr、Mn、Ni、Zn、B、Zr、Cu、Na、K、Cl)及びPb量は、ICP質量分析装置(Agilent社製4500)を使用して試料を酸に溶解したのち測定した。
(3)粉末X線回折法
X線回折装置(商品名:RINT-Ultima III、リガク製)を使用して、Cu−Kα線を用いた粉末X線回折法により酸化マグネシウム粉末試料を測定し、解析ソフト(商品名:Jade 6、リガク製)を用いて2θ=36.9deg付近のピークを(111)面、2θ=42.9deg付近のピークを(200)面及び2θ=62.3deg付近のピークを(220)面とし、それぞれのピークの半価幅を算出した。
(4)レーザ回折散乱式粒度分布測定法
レーザ回折散乱式粒度分布測定装置(商品名:HIRA、日機装 製)を使用して、累積50%粒子径(D50)を測定した。
実施例1
無水塩化マグネシウム(MgCl2)をイオン交換水に溶解して、約3.5mol/lの塩化マグネシウム水溶液を調製した。MgCl2の反応率が20モル%になるよう、MgCl2溶液と25%NaOH溶液をそれぞれ定量ポンプでリアクターに送液して、連続反応を実施した。反応スラリーは、リアクターより滞留時間30分間でオーバーフローさせた。次にオーバーフローで回収したスラリーを、40℃で3時間保持した後、昇温速度が毎分2℃±0.5℃の範囲に調整して90℃まで昇温した後、ホモジナイザー(ヒスコトロンNS−50、(株)マイクロテックニチオン製)を用いて19,000rpmの高速攪拌下で48時間保持し、その後、凝集剤を生成水酸化マグネシウムに対し500ppm添加して、沈降させ、上澄液(精製塩化マグネシウム水溶液)を回収した。
回収した精製塩化マグネシウム溶液を攪拌しながら、25%NaOH溶液を、MgCl2の反応率が90モル%となるように投入し30分間攪拌した。得られた水酸化マグネシウムスラリーをオートクレーブで130℃、1時間の水熱処理を実施した。水熱処理した水酸化マグネシウムスラリーをろ過、水洗、乾燥して、水酸化マグネシウム粉末を得た。
得られた水酸化マグネシウム粉末を電気炉で1300℃、60分間焼成することによって、酸化マグネシウム粉末を得た。
これら水酸化マグネシウム粉末及び酸化マグネシウム粉末の鉛含有量及び純度を測定した結果を表1に示す。酸化マグネシウム粉末の粉末X線回折法における測定結果、及び累積50%粒子径の測定結果を表2に示す。
比較例1
無水塩化マグネシウム(MgCl2)をイオン交換水に溶解して、約3.5mol/lの塩化マグネシウム水溶液を調製した。MgCl2の反応率が20モル%になるよう、MgCl2溶液と25%NaOH溶液をそれぞれ定量ポンプでリアクターに送液して、連続反応を実施した。反応スラリーは、リアクターより滞留時間30分間でオーバーフローさせた。次にオーバーフローで回収したスラリーを攪拌しながら、凝集剤を生成水酸化マグネシウムに対し500ppm添加して、沈降させ、上澄液(精製塩化マグネシウム水溶液)を回収した。
回収した精製塩化マグネシウム溶液を攪拌しながら、25%NaOH溶液を、MgCl2の反応率が90モル%となるように投入し30分間攪拌した。得られた水酸化マグネシウムスラリーをオートクレーブで130℃、1時間の水熱処理を実施した。水熱処理した水酸化マグネシウムスラリーをろ過、水洗、乾燥して、水酸化マグネシウム粉末を得た。以上の比較例1の工程は特許文献5に記載の方法に準じたものである。
得られた水酸化マグネシウム粉末を電気炉で1300℃、60分間焼成することによって、酸化マグネシウム粉末を得た。
これら水酸化マグネシウム粉末及び酸化マグネシウム粉末の鉛含有量及び純度を測定した結果を表1に示す。酸化マグネシウム粉末の粉末X線回折法における測定結果、及び累積50%粒子径の測定結果を表2に示す。
比較例2
濃度が2.0mol/lの塩化マグネシウム溶液に対して、得られる酸化マグネシウムの濃度が1.2mol/lとなるように水酸化カルシウムスラリーを添加した。この混合溶液を、70℃で2時間反応させ、ろ過、水洗、乾燥して、水酸化マグネシウムを得た。
さらに、この水酸化マグネシウムを、ロータリーキルンで1000℃、20分間焼成、破砕し、酸化マグネシウム粉末を得た。
これら水酸化マグネシウム粉末及び酸化マグネシウム粉末の鉛含有量及び純度を測定した結果を表1に示す。酸化マグネシウム粉末の粉末X線回折法における測定結果、及び累積50%粒子径の測定結果を表2に示す。
比較例3
6水和塩化マグネシウム225gを蒸留水500mLで溶解し、800rpmで攪拌させながら水酸化ナトリウム80gを蒸留水500mLに溶解させた溶液を投入し、10分後攪拌を止め、1.5hr放置後、ろ過、水洗、乾燥させ水酸化マグネシウム粉末を得た。
さらに電気炉で1100℃、60分間焼成し、酸化マグネシウム粉末を得た。
これら水酸化マグネシウム粉末及び酸化マグネシウム粉末の鉛含有量及び純度を測定した結果を表1に示す。酸化マグネシウム粉末の粉末X線回折法における測定結果、及び累積50%粒子径の測定結果を表2に示す。
Figure 2009242165
Figure 2009242165
表1より、実施例1で製造した水酸化マグネシウム粉末及び酸化マグネシウム粉末は、比較例1〜3のそれらと比較すると鉛含有量がきわめて低いものであった。
本発明の高純度水酸化マグネシウム粉末及び高純度酸化マグネシウム粉末は、種々の分野において、食品添加剤等の各種添加剤、燃料電池原料、電子部品用途、蛍光体原料、各種ターゲット材原料、超伝導薄膜下地用原料、トンネル磁気抵抗素子(TMR)用のトンネル障壁原料、PDP用保護膜原料、PDP用結晶酸化マグネシウム層原料、トナー電荷調整剤、トナー粒度調整剤、二次電子増倍電極の原料、紫外線発光半導体の原料、二次電池の原料、医薬品原料、化粧品原料等として使用することができる。

Claims (6)

  1. 純度が99.9質量%以上であり、Pbの含量が0.1ppm未満である、水酸化マグネシウム粉末。
  2. Pbの含量が0.01ppm以下である、請求項1に記載の水酸化マグネシウム粉末。
  3. 純度が99.9質量%以上であり、Pbの含量が0.1ppm未満である、酸化マグネシウム粉末。
  4. Pbの含量が0.01ppm以下である、請求項3に記載の酸化マグネシウム粉末。
  5. Cu−Kα線を用いた粉末X線回折法における(111)面、(200)面及び(220)面のピークの半価幅がそれぞれ0.20度以下である、請求項3又は4に記載の酸化マグネシウム粉末。
  6. レーザ回折散乱式粒度分布測定による累積50%粒子径(D50)が0.1〜10μmである、請求項3〜5のいずれかに記載の酸化マグネシウム粉末。
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