JP2009238909A - 基板切断前処理装置および基板切断前処理方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 プリント配線基板に実装部品をリフローはんだ付けした後、リフロー直後の基板の残留熱により熱変形が発生し、後工程の基板切断装置において切断加工部分の周辺を押圧する際、はんだ接合部周辺にクラックを生じるという問題があった。
【解決手段】 リフロー後のプリント配線基板を基板切断装置に搬送する基板搬送部と、上記基板搬送部によるプリント配線基板の搬入を検出するセンサと、上記センサによるプリント配線基板の搬入検出に応じて、上記プリント配線基板に複数箇所からエアを吹き付けるエアーブロアを備えることにより、基板切断前の基板の熱変形を短時間で緩和する。
【選択図】 図1
【解決手段】 リフロー後のプリント配線基板を基板切断装置に搬送する基板搬送部と、上記基板搬送部によるプリント配線基板の搬入を検出するセンサと、上記センサによるプリント配線基板の搬入検出に応じて、上記プリント配線基板に複数箇所からエアを吹き付けるエアーブロアを備えることにより、基板切断前の基板の熱変形を短時間で緩和する。
【選択図】 図1
Description
この発明は、電子部品が載置されたプリント配線基板を切断する前の、前処理装置および基板切断前処理方法に関する。
プリント配線基板に電子部品をはんだ付けした後、配線基板を真空吸引した状態で分割し個片化する際、配線基板の反りにより切断時に基板の吸引力を確保することができず、切断後に基板個片が飛散する。このため、基板切断時に、櫛状基板押え板を用いて基板個片を押圧した後、基板カッターで基板を切断することで、配線基板の反りによる基板個片の飛散を防ぐことのできる基板切断装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、従来の基板切断装置は、はんだ付けにより基板の反りが発生した直後に押え板で押圧して、基板の反りを矯正するため、基板に実装された部品やはんだ接合部の周辺で、押圧力によるクラックが発生するという問題があった。特に、リフローはんだ付けを行った直後、基板面の温度は約100℃に達しており、リフローはんだ付け後に基板を切断する際、基板の反りが無視し得ないものとなっている。
この発明は係る課題を解決するためになされたものであり、リフローはんだ付け後にプリント配線基板を切断し、分割個片化する際、切断時の基板の反りを抑制することを目的とする。
この発明による、基板切断前処理装置は、リフロー後のプリント配線基板を基板切断装置に搬送する基板搬送部と、上記基板搬送部によるプリント配線基板の搬入を検出するセンサと、
上記センサによるプリント配線基板の搬入検出に応じて、上記プリント配線基板に複数箇所からエアを吹き付けるエアーブロアとを備えたものである。
上記センサによるプリント配線基板の搬入検出に応じて、上記プリント配線基板に複数箇所からエアを吹き付けるエアーブロアとを備えたものである。
この発明によれば、基板の分割前に、空冷により基板を強制冷却することにより、リフロー直後の熱変形による基板の反りを短時間で抑制することができる。
実施の形態1.
図1は、この発明の実施の形態1による基板切断用前処理装置の構成を示す図であり、(a)は基板切断用前処理装置を適用した基板実装ラインの構成を示す図、(b)は基板切断用前処理装置の構成を示す断面図である。
図1は、この発明の実施の形態1による基板切断用前処理装置の構成を示す図であり、(a)は基板切断用前処理装置を適用した基板実装ラインの構成を示す図、(b)は基板切断用前処理装置の構成を示す断面図である。
図1(a)において、基板実装ラインは、リフローはんだ付け装置201と、基板切断前処理装置300と、基板切断装置202を備える。リフローはんだ付け装置201は、多面取基板を構成するプリント配線基板(以下、基板)1が搬入される。この際、基板1は、上面にクリームはんだが印刷塗布され、電子部品51がこのクリームはんだの上から基板上面に載置されている。リフローはんだ付け装置201は、搬入された基板1をはんだ溶融温度(例えば180℃)まで加熱し、リフローはんだ付けによりはんだ付け固定を行う。リフローはんだ付け装置201は、内部に搬送コンベアベルト(図示せず)が設けられ、基板1を基板切断前処理装置300に搬出する。基板切断前処理装置300は、前工程のリフローはんだ付け装置201から搬出された基板1が搬入され、基板1を空冷する。基板切断前処理装置300は、冷却した基板を後工程の基板切断装置202に搬出する。基板切断装置202は基板切断前処理装置300から搬入された基板1を切断し、複数の個片化基板に分割する個片化を行う。フローはんだ付け装置201と、基板切断前処理装置300と、基板切断装置202間の搬送は、複数の搬送用の回転ローラで行う。
なお、ここでは、リフローはんだ付け装置201の詳細説明は省く。また、基板切断装置202の詳細については実施の形態4にて説明する。この実施の形態における以下の説明では、基板切断前処理装置300について詳細を述べる。
次に、図1(b)において、基板切断前処理装置300は、搬入された基板1を搬送する基板搬送部311と、基板保持部305と、プリント配線基板の搬入を検出する基板確認センサ304と、エアーブロア301とを備える。基板搬送部311は搬送コンベアベルトにより構成され、リフローはんだ付け装置201から搬入された基板1を載せて、紙面手面から裏面に向かう方向(X方向)に基板1を搬送し、基板1を基板切断装置202に搬出する。基板保持部305は、基板搬送部311を介して搬送時の基板1を支持する。基板確認センサ4は、基板搬送部311の搬送路上の上流側に設けられ、搬送路上の基板有無を確認し、基板1が基板搬送部311に搬入されたことを検出する。
なお、基板確認センサ4は、例えば発光部と受光部により構成した光センサで構成するのが良い。この場合、発光部から基板1の搬送方向に対し垂直(Y方向)に光信号を発光し、その基板1からの反射信号を受光部にて受光し、受光部による受光信号の受光レベルを所定の閾値と比較することで、基板1が基板確認センサ4の手前を通過したことを検出する。基板確認センサ4を設けることにより、基板1が搬送されたときに限ってエアーブロア301を動作させることができるので、エアーブロア301の駆動に要する消費電力を押えるとともに、エアーブロア301の動作寿命を長く保つことができる。
なお、基板確認センサ4は、例えば発光部と受光部により構成した光センサで構成するのが良い。この場合、発光部から基板1の搬送方向に対し垂直(Y方向)に光信号を発光し、その基板1からの反射信号を受光部にて受光し、受光部による受光信号の受光レベルを所定の閾値と比較することで、基板1が基板確認センサ4の手前を通過したことを検出する。基板確認センサ4を設けることにより、基板1が搬送されたときに限ってエアーブロア301を動作させることができるので、エアーブロア301の駆動に要する消費電力を押えるとともに、エアーブロア301の動作寿命を長く保つことができる。
エアーブロア301は、ファン302と、エアー噴出口303を備えて構成される。エアーブロア301は、基板搬送部311の上方に設置され、基板1を個片化基板に分割する前に、基板搬送部311により搬送される基板1の真上からエア(空気)を吹き付け、基板1を空冷する空冷部として機能する。エアー噴出口303は、基板の搬送方向と垂直な方向に所定の間隔で複数個(例えば5〜10個)配列され、その噴出口が基板1と対向するように下向きに配置される。さらに、エアー噴出口303は、基板の搬送方向(X方向)に複数組(例えば2〜10組)配列されている。エアー噴出口303は先端形状がエアノズルを構成している。ファン302は、外部からエアを吸気し、昇圧した後、エアーブロア内部にエアを吐出する。エアーブロア内部に吐出されたエアは、複数のエアー噴出口303に分配され、エアー噴出口303から基板1に向かって吐出され、基板1に向かって高速気流を噴出する。これによって、強制空冷により基板1からエアへの熱伝達を促進し、リフローはんだ付け後、基板1に残留している熱を、基板1の周囲を流れるエアに排熱して、基板1を冷却する。
次に、この実施の形態1による基板切断用前処理装置300の動作について説明する。
基板保持部5により、基板搬送部311のコンベアベルトを介してリフローはんだ付け処理後の基板1を保持し、基板1を搬送する。この際、基板1の温度は約100℃以上に達しており、基板1の熱膨張による熱変形によって、基板1に反りが生じている。
基板保持部5により、基板搬送部311のコンベアベルトを介してリフローはんだ付け処理後の基板1を保持し、基板1を搬送する。この際、基板1の温度は約100℃以上に達しており、基板1の熱膨張による熱変形によって、基板1に反りが生じている。
次に、基板確認センサ304により基板切断用前処理装置300へ基板1が搬入したことを確認する。この確認により基板の搬入を検出した後、空冷部301により基板1の真上からエアを吹き付け、リフロー後の基板1の熱を急速空冷する。かくして、基板1が常温付近まで冷却されるので、基板切断時における基板1の熱変形が緩和されることとなる。
例えば、基板切断用前処理装置300における基板搬送部311の搬送長が50cm、搬送速度が5cm/秒、エアー噴出口303をY方向に5個づつX方向に10列設けたとすると、この空冷によって、基板1の温度を30℃以下にまで冷却することができる。
例えば、基板切断用前処理装置300における基板搬送部311の搬送長が50cm、搬送速度が5cm/秒、エアー噴出口303をY方向に5個づつX方向に10列設けたとすると、この空冷によって、基板1の温度を30℃以下にまで冷却することができる。
なお、エアーブロア301は、各ノズル口の開閉度(ノズル開口)やエア風速の強弱を調整するための、ノズル開閉弁のような風速調整用絞り機構を備える。これにより、基板サイズの大きさに合わせて、エアーブロア301から噴出するエア流速を調整することができる。一般に、リフロー直後の基板上の熱は約100℃以上に達しているので、より短時間で空冷するには、エアの風速が強くなるように調整することが望ましい。
以上説明したとおり、この実施の形態1による基板切断用前処理装置は、リフロー後の基板1を基板切断装置300に搬送する基板搬送部311と、基板搬送部311による基板1の搬入を検出する基板確認センサ304と、基板確認センサ304による基板1の搬入検出に応じて、基板1に複数箇所からエアを吹き付けるエアーブロア301を備えて構成される。
これによって、基板切断装置202による基板1の切断分割前に、リフローによる基板1の熱変形を非接触にて短時間で緩和し、基板1の反りを抑制することができる。このため、後工程での基板切断装置202により基板1の切断部分周辺を押える際、基板1における反りの矯正による電子部品やはんだ接合部へのクラック発生を防止することができる。
実施の形態2.
図2は、この発明の実施の形態2による基板切断用前処理装置300の構成を示す断面図である。図において、実施の形態1と同一の符号のものは同一相当のものを示す。
図2は、この発明の実施の形態2による基板切断用前処理装置300の構成を示す断面図である。図において、実施の形態1と同一の符号のものは同一相当のものを示す。
図において、基板切断用前処理装置300の空冷部301は、その内部におけるファン302の吐出側にイオナイザ308が設けられている。イオナイザ308は、ファン302から吐出したエアをイオン化し、イオン化されたエアをエアー噴出口303に吐出する。これによって、基板1に対してイオン化されたエアを吹き付ける。その他の構成および動作については、実施の形態1と同様である。
基板分割時、基板の切断により発生する切屑が、静電気により基板上のはんだ接合部に付着した場合、はんだ接合部にショートを発生させることになる。
しかし、この実施の形態2による基板切断用前処理装置300は、基板切断装置による基板分割前に、イオナイザ308によりイオン化されたエアを基板真上から吹き付けることによって、静電気による基板1の帯電を防ぐことができる。このため、静電気により基板上に切屑が付着することを未然に防止でき、これにより切屑によるはんだ接合部へのショートの発生を防ぐことができる。
しかし、この実施の形態2による基板切断用前処理装置300は、基板切断装置による基板分割前に、イオナイザ308によりイオン化されたエアを基板真上から吹き付けることによって、静電気による基板1の帯電を防ぐことができる。このため、静電気により基板上に切屑が付着することを未然に防止でき、これにより切屑によるはんだ接合部へのショートの発生を防ぐことができる。
実施の形態3.
図3は、この発明の実施の形態3による基板切断用前処理装置300の構成を示す断面図である。図において、実施の形態2と同一の符号のものは同一相当のものを示す。
図3は、この発明の実施の形態3による基板切断用前処理装置300の構成を示す断面図である。図において、実施の形態2と同一の符号のものは同一相当のものを示す。
図において、基板切断用前処理装置300は、基板保持部305の上方にレーザ放射・受光部310が設けられている。レーザ放射・受光部310は基板1の上面にレーザを放射し、受光部によりそのレーザの反射光の受光位置を検出することで、基板1の反り量を計測する。ロボットアーム312は、レーザ放射・受光部310をXY方向へ移動させることができる。その他の構成および動作については、実施の形態2と同様である。
この実施の形態では、レーザ放射・受光部10により基板上の反り量を測定する。そして、反りの大きな高温度部分を中心に、エアーブロア301によるエアー噴出口303のノズル開口径を絞り、エア風速を大きく調整することで、基板の熱変形をより短時間で効果的に緩和することができる。また、空冷後、レーザ放射・受光部10により基板の反り量を測定することで、反りのない基板を確実に検知することができ、基板分割時の基板1の歪み量を均一に保つことができる。
なお、上述した実施の形態1から3は、いずれも基板分割前の前処理工程に対して、基板切断用前処理装置300を適用した場合について説明した。しかし、各実施の形態で説明した基板切断用前処理装置300は、リフロー後に搬送される装置であれば、外観検査装置、ICT等、他の装置の前処理にも利用できることは言うまでもない。
実施の形態4.
次に、実施の形態1から3による基板切断用前処理装置300の後工程に用いられる、基板切断装置202の一実施例について説明する。
次に、実施の形態1から3による基板切断用前処理装置300の後工程に用いられる、基板切断装置202の一実施例について説明する。
図4は実施の形態4による基板切断装置の構成を示す正面断面図である。図5は実施の形態4による基板切断装置の側面断面図である。
図において、基板切断装置202は、搬送コンベアベルト11と、基板切断用の刃物であるルータービット5と、スピンドル3と、下受治具6と、上部カバー治具9と、集塵装置7と、駆動装置20と、制御装置21を備えて構成され、インライン型の基板切断装置を構成する。基板切断装置202は、基板切断用前処理装置300から、空冷により冷却された基板1が搬入される。
なお、図中、基板切断装置の基台を構成するフレームや可動ステージ、装置カバー、制御操作盤などについては簡略化のために図示を省いている。
図において、基板切断装置202は、搬送コンベアベルト11と、基板切断用の刃物であるルータービット5と、スピンドル3と、下受治具6と、上部カバー治具9と、集塵装置7と、駆動装置20と、制御装置21を備えて構成され、インライン型の基板切断装置を構成する。基板切断装置202は、基板切断用前処理装置300から、空冷により冷却された基板1が搬入される。
なお、図中、基板切断装置の基台を構成するフレームや可動ステージ、装置カバー、制御操作盤などについては簡略化のために図示を省いている。
1対の搬送コンベアベルト11は、ベルト上面に基板1の両端を載せて、基板1を縦方向(X方向)に搬送する。1対の搬送コンベアベルト11は基板切断装置の基台101における段部102の2箇所に離間して取り付けられる。この2つの段部102の間に、下受治具6及びダクト7が配置される。この2つの搬送コンベアベルト11を跨り、基板1における側端下部周縁が2つのベルトコンベア11に載せられる。すなわち、2つの搬送コンベアベルト11におけるベルト同士の間隔は、基板1の横幅よりも若干短くなっている。
下受治具6は駆動装置20により上下移動し、基板1を昇降する。下受治具6は上面に位置決めピン10が設けられ、基板1の下面に当接した状態で位置決めピン10が基板1のピン穴15に嵌合する。下受治具6は複数の貫通穴31が設けられる。下受治具6の両
端2箇所には、下方に突出した保持用の突縁部が設けられ、駆動装置20により保持されている。
上部カバー治具9は両端2箇所に設けられた保持部13により基板切断装置に保持固定される。下受治具6の上昇により、上部カバー治具9の下面は基板1の上面に当接する。上部カバー治具9は複数の貫通穴30が設けられ、貫通穴30の穴位置は貫通穴31の穴位置に一致対応している。
端2箇所には、下方に突出した保持用の突縁部が設けられ、駆動装置20により保持されている。
上部カバー治具9は両端2箇所に設けられた保持部13により基板切断装置に保持固定される。下受治具6の上昇により、上部カバー治具9の下面は基板1の上面に当接する。上部カバー治具9は複数の貫通穴30が設けられ、貫通穴30の穴位置は貫通穴31の穴位置に一致対応している。
ルータービット5はスピンドル3に取り付けられて高速回転するとともに、スピンドル3の駆動部(図示せず)により水平(XY方向)及び上下(Z方向)の3軸方向に移動可能となっている。また、ルータービット5の先端部は上部カバー治具9の貫通穴30に挿入され、基板1のミクロジョイント2を切断加工する。
集塵ダクト7は下受治具6の下部に取付けられる。集塵ダクト7は複数のダクト70を備え、下受治具6の各貫通穴31が何れかのダクト70に導かれるように、貫通穴31がダクト70に連通する。それぞれのダクト70は1つの集合ダクト71に合流し、集合ダクト71は集塵タンク72に連結される。集塵タンク72の側面にはエアフィルタ73及びその取付穴が設けられ、エアフィルタ73は吸引ダクト74に連結されて、エアーポンプ(図示せず)により吸気が行われる。これにより、下受治具6の各貫通穴31を介して、上部カバー治具9の貫通穴30まで至る周辺空気が集塵ダクト7に吸引される。
制御装置21は搬送コンベアベルト11の駆動部(図示せず)に制御信号を送り、搬送コンベアベルト11の搬送及び停止動作を制御する。制御装置21はスピンドル3の駆動部に制御信号を送り、回転及び3軸方向への移動についての駆動制御を行う。また、制御装置21は駆動装置20に制御信号を送り、駆動装置20の駆動制御を行う。制御装置21は、これら各駆動装置や駆動部を制御するための制御プログラムが格納されたメモリを有する。
また、搬送コンベアベルト11の進行方向前方に、ストッパ12が設けられている。ストッパ12は上下に移動し、通常は基板1の前部に突当たる下方位置で係止する。ストッパ12及びその周辺には、光センサで構成される接触検出センサ(図示せず)や通過検出センサ(図示せず)が設けられる。搬送コンベアベルト11により基板1が搬送されて、基板1がストッパ12の前部に突当たると、ストッパ12の接触検出センサが基板1の接触を検出し、検出信号を制御装置21に送る。制御装置21はこの検出信号を受けると、搬送コンベアベルト11の搬送を停止する。搬送コンベアベルト11による搬送が停止した後、制御装置21はストッパ12の駆動部に制御信号を送り、ストッパ12が跳ね上がるように可動して、上部カバー治具9及び下受治具6が上昇しても干渉しない位置まで退避し、基板1の切断処理が開始される。
基板1の切断処理が終了すると、制御装置21が搬送コンベアベルト11による搬送を開始する。その後、ストッパ12の通過検出センサは、基板1から個片化された一組の基板が全て、ストッパ12の真下を通過したことを検出すると、ストッパ12が降下して再び元の通常位置に戻る。
図6は基板1の構成例を示す上面図である。基板1は、複数枚(図示の例では4枚)の基板100がミクロジョイント2により個々に接続された多面取基板を構成する。各基板100の上面には電子部品51が設けられており、ミクロジョイント2の切断により各基板100が分離され、個片化される。隣接する各基板100間は、所定の間隔で配置された複数本(図の例では3本)のミクロジョイント2により接続されている。ミクロジョイント2の接続部周縁における所定の領域52は、電子部品51が実装されておらず、平坦な面を構成する。また、各基板100には2つのピン穴15が設けられている。
図7は下受治具6の構成例を示す上面図である。前述のように、下受治具6は、上面から立設した位置決めピン10と貫通穴31が設けられ、一体的に形成された板で構成される。位置決めピン10の位置は基板1のピン穴15の位置に対応している。また、貫通穴31は、各基板100間に配置されるミクロジョイント2の間隔に合うように、穴位置と穴形状及び大きさが設定されている。図の例では、貫通穴31は縦に3個づつ設けられた穴の組が、基板100同士の間隔と同一寸法となる所定の間隔を空けて、3箇所に設けられている。なお、下受治具6は、基板1におけるミクロジョイント2の近傍以外で基板1と密着するように、ミクロジョイント2に対向する部分の高さが若干低くなるように凹んでいると良い。
図8は上部カバー治具9の構成例を示す図であり、(a)は上面図、(b)は側面図、(c)は押当板の形状例を示す上面図である。
図において、上部カバー治具9は、複数の覆板91と覆板91間を接続する複数の押当板92により構成される。覆板91は基板1の構成に合わせて、ミクロジョイント2により接続される基板100と同数分設けられる(図の例では4枚)。押当板92の数は覆板91よりも1つ少ない。押当板92は、基板1におけるミクロジョイント間の間隙部分の形状に合わせて、矩形状もしくは長円型をなす前述した複数個の貫通穴30が設けられている。覆板91は貫通穴30に被らないように押当板92の上面に固着され、押当板92の下面は覆板91の下面よりも下方に突出している。
なお、覆板91を一枚板で構成し、押当板92の貫通穴30を塞がないように覆板91に穴を設けても良い。
また、覆板91には透明な板材を用いても良い。この場合、切断加工時であっても、基板1に粉塵が混入しているか否かを、上部カバー治具9の上方から目視確認することができるので、基板切断装置の動作不良を常時監視することが可能となる。
図において、上部カバー治具9は、複数の覆板91と覆板91間を接続する複数の押当板92により構成される。覆板91は基板1の構成に合わせて、ミクロジョイント2により接続される基板100と同数分設けられる(図の例では4枚)。押当板92の数は覆板91よりも1つ少ない。押当板92は、基板1におけるミクロジョイント間の間隙部分の形状に合わせて、矩形状もしくは長円型をなす前述した複数個の貫通穴30が設けられている。覆板91は貫通穴30に被らないように押当板92の上面に固着され、押当板92の下面は覆板91の下面よりも下方に突出している。
なお、覆板91を一枚板で構成し、押当板92の貫通穴30を塞がないように覆板91に穴を設けても良い。
また、覆板91には透明な板材を用いても良い。この場合、切断加工時であっても、基板1に粉塵が混入しているか否かを、上部カバー治具9の上方から目視確認することができるので、基板切断装置の動作不良を常時監視することが可能となる。
次に、実施の形態4による基板切断装置202の基板切断動作について説明する。
図9は基板1を切断している様相を示す側面断面図である。図10は基板1を切断している様相を示す正面断面図である。基板1は、切断前に、ミクロジョイント2により個々の基板100が接続された多面取基板をなしている。なお、基板切断処理が開始されたとき、ストッパ12は跳ね上がっているので、ここでは図示を略している。
図9は基板1を切断している様相を示す側面断面図である。図10は基板1を切断している様相を示す正面断面図である。基板1は、切断前に、ミクロジョイント2により個々の基板100が接続された多面取基板をなしている。なお、基板切断処理が開始されたとき、ストッパ12は跳ね上がっているので、ここでは図示を略している。
図において、基板1は搬送コンベアベルト11で搬送され、下受治具6の位置決めピン10と基板1のピン穴15の位置を合わせるために、図4で説明したストッパ12の位置で停止する。基板1がストッパ12の位置で停止すると、搬送コンベアベルト11による搬送が停止し、ストッパ12が跳ね上がり、基板1の切断処理が開始される(ステップS1)。
切断処理が開始すると、駆動装置20により下受治具6が上昇し、下受治具6の位置決めピン10が基板1のピン穴15に挿入される。このとき、位置決めピン10が基板1のピン穴15に嵌合して位置決め固定されるとともに、下受治具6の上面が基板1の下面に当接し、下受治具6の上面と基板1の下面が密着する(ステップS2)。
続いて、基板1と密着した下受治具6がさらに上昇し、基板1の上面が上部カバー治具9を構成する押当板92の下面と接触する。これにより、基板1が下受治具6と上部カバー治具9に挟まれてクランプ固定され、下受治具6に接続された位置決めピン10によって正確に位置決めがなされる。この際、位置検出センサ(図示せず)が基板1の上面が上部カバー治具9に突当たったことを検出し、制御装置21が位置検出センサからの検出信号を受けて駆動装置20の上昇動作を停止し、下受治具6の上昇が止まる(ステップS3)。
なお、基板1が下受治具6と上部カバー治具9によりクランプ固定される際、上部カバー治具9の保持部13が適度に撓み、不必要な押圧力が基板1に印加されないようになされていると良い。
なお、基板1が下受治具6と上部カバー治具9によりクランプ固定される際、上部カバー治具9の保持部13が適度に撓み、不必要な押圧力が基板1に印加されないようになされていると良い。
この状態で、基板1は下受治具6に密着して支持されるとともに、上部カバー治具9が基板1における個々の基板100を覆うように、基板1の上面に位置する。同時に、上部カバー治具9の押当板92の下面は、ミクロジョイント近傍におけるミクロジョイント2を除いた部分で、基板1の端面周縁の上面に密着して接触している。
次に、下受治具6の上昇が止まると、ルータービット5による切断加工動作が開始する。
まず、スピンドル3の駆動部がスピンドル3とともにルータービット5を回転させる(ステップS4)。
次に、制御装置21の制御プログラムシーケンスに基づいて、スピンドル3が予め設定された基板1におけるミクロジョイント2の上部位置に移動する。このとき、前述したとおり、基板1は下受治具6の位置決めピン10により正確に位置決めがなされている(ステップS5)。
まず、スピンドル3の駆動部がスピンドル3とともにルータービット5を回転させる(ステップS4)。
次に、制御装置21の制御プログラムシーケンスに基づいて、スピンドル3が予め設定された基板1におけるミクロジョイント2の上部位置に移動する。このとき、前述したとおり、基板1は下受治具6の位置決めピン10により正確に位置決めがなされている(ステップS5)。
スピンドル3とルータービット5が回転した状態で、上部カバー治具9の貫通穴30を通過してルータービット5が下降し、ルータービット5の刃先が基板1のミクロジョイント2の上部に突当たる(ステップS6)。すると、ルータービット5の刃はミクロジョイント2を縦断し、ミクロジョイント2を粉砕する。図10において、符号200はミクロジョイント2が粉砕され、その部分が空洞となった状態を示している。
粉砕されたミクロジョイント2は粉塵8となり、下受治具6の貫通穴31を介して集塵ダクト7に吸引される。この切断中に発生する粉塵8は、ルータービット5が左ねじれの刃であるため、大部分は下向き、つまり集塵ダクト7に吸引される。集塵ダクト7に吸引された粉塵8は粉塵タンク72に蓄積される。
なお、粉塵タンク72は取り外して集積された粉塵の廃棄及び清掃がなされる。
粉砕されたミクロジョイント2は粉塵8となり、下受治具6の貫通穴31を介して集塵ダクト7に吸引される。この切断中に発生する粉塵8は、ルータービット5が左ねじれの刃であるため、大部分は下向き、つまり集塵ダクト7に吸引される。集塵ダクト7に吸引された粉塵8は粉塵タンク72に蓄積される。
なお、粉塵タンク72は取り外して集積された粉塵の廃棄及び清掃がなされる。
一方、基板1の上方にも微小ながら粉塵8の一部が舞い上がり、粉塵8が上部カバー治具9の覆板91における外部表面に付着する。しかし、上部カバー治具9の押当板92がミクロジョイント2近傍で基板1と密接に接触しているため、その内部に覆われた基板1には粉塵8が付着しない。また、上部カバー治具9に付着した粉塵8は微量のため、繰返し基板1を搬送して切断加工しても基板1に飛散することはない。また、定期清掃により上部カバー治具9に付着した粉塵8を簡単に除去することが可能である。また、基板100の裏面は下受治具6とミクロジョイント2を除く部分で密着しているため、当然の如く粉塵8が付着することはない。
1つのミクロジョイント2が切断されると、予め制御装置21に設定された基板1の加工データによるミクロジョイント2の設置位置に基づいて、制御装置21の制御信号により、スピンドル3が基板搬送方向と垂直な横方向(Y方向)に移動する。そして、順次隣接するミクロジョイント2を切断する(ステップS7)。
横方向に並んだミクロジョイント2を全て切断した後、予め設定された基板1の加工データによるミクロジョイント2の設置位置に基づいて、制御装置21の制御信号により、スピンドル3が基板搬送方向と平行な縦方向(X方向)に移動し、所定の間隔で縦方向(X方向)に並んだ1組のミクロジョイント2を順次切断していく(ステップS8)。
かくして、基板1の不要基板部分であるミクロジョイント2を切断除去し、製品となるべく基板100を分断して、個片化することができる。
横方向に並んだミクロジョイント2を全て切断した後、予め設定された基板1の加工データによるミクロジョイント2の設置位置に基づいて、制御装置21の制御信号により、スピンドル3が基板搬送方向と平行な縦方向(X方向)に移動し、所定の間隔で縦方向(X方向)に並んだ1組のミクロジョイント2を順次切断していく(ステップS8)。
かくして、基板1の不要基板部分であるミクロジョイント2を切断除去し、製品となるべく基板100を分断して、個片化することができる。
制御装置21の制御プログラムシーケンスに従い、一通りのミクロジョイント2の切断が完了すると、下受治具6が上部カバー治具9から離れるように微小速度で下降し、基板1が搬送コンベアベルト11に着地する(ステップS9)。
その後、基板1は搬送コンベアベルト11に乗った位置で停止し、下受治具6は基板1から離れるように下降する。下受治具6が停止位置まで下降すると切断加工処理が終了し、搬送コンベアベルト11が再び搬送を開始して、個片化された基板100が基板切断装置のライン後流へ搬送され、所定の集積コーナ(図示せず)へ排出される(ステップS10)。
そして、個片化された一組の基板100がストッパ12の真下を全て通過すると、前述したようにストッパ12が定位置に戻る(ステップS11)。
その後、基板1は搬送コンベアベルト11に乗った位置で停止し、下受治具6は基板1から離れるように下降する。下受治具6が停止位置まで下降すると切断加工処理が終了し、搬送コンベアベルト11が再び搬送を開始して、個片化された基板100が基板切断装置のライン後流へ搬送され、所定の集積コーナ(図示せず)へ排出される(ステップS10)。
そして、個片化された一組の基板100がストッパ12の真下を全て通過すると、前述したようにストッパ12が定位置に戻る(ステップS11)。
このように、実施の形態4による基板切断方法は、主に次の1)〜7)の順序でプリント基板を切断するステップを有する。
1)リフローはんだ付けにより、基板1に載置された電子部品51をはんだ付けする。
2)リフローはんだ付けされた基板1を、リフロー直後に基板切断前処理装置300により空冷にて強制空冷する。
3)基板切断前処理装置300により冷却された基板1を基板切断装置202に搬入し、基板切断装置202における1対の搬送コンベアベルト11により、基板1の両端を搬送する。
4)搬送コンベアベルト11による基板1の搬送を一時停止する。
5)下受治具6を可動し、上記1対の搬送コンベアベルト11の間で下受治具6に載置した基板1を昇降させ、基板1の端縁部分を上部カバー治具9の押当板92に押し当て、基板1を上部カバー治具9により覆う。
6)上部カバー治具に設けられた貫通穴を介してルータービットの先端部を挿入し、基板1を構成する複数の基板100間を接続するミクロジョイントを切断する。
7)基板1の切断後、再び搬送コンベアベルト11による搬送を開始し、個片化された各基板100を排出する。
1)リフローはんだ付けにより、基板1に載置された電子部品51をはんだ付けする。
2)リフローはんだ付けされた基板1を、リフロー直後に基板切断前処理装置300により空冷にて強制空冷する。
3)基板切断前処理装置300により冷却された基板1を基板切断装置202に搬入し、基板切断装置202における1対の搬送コンベアベルト11により、基板1の両端を搬送する。
4)搬送コンベアベルト11による基板1の搬送を一時停止する。
5)下受治具6を可動し、上記1対の搬送コンベアベルト11の間で下受治具6に載置した基板1を昇降させ、基板1の端縁部分を上部カバー治具9の押当板92に押し当て、基板1を上部カバー治具9により覆う。
6)上部カバー治具に設けられた貫通穴を介してルータービットの先端部を挿入し、基板1を構成する複数の基板100間を接続するミクロジョイントを切断する。
7)基板1の切断後、再び搬送コンベアベルト11による搬送を開始し、個片化された各基板100を排出する。
なお、ルータービット5は集塵カバー4で被覆されておらず剥き出しとなっているため、ルータービット5の折損や磨耗などによる交換時に、ルータービット5の清掃及び摩耗、折損等による交換を容易に行うことが可能となる。
また、切断時において、切断部であるミクロジョイント2近傍を上部カバー治具9と下受治具6によって適度に押圧してクランプしている。このクランプ力は基板1を歪ませない程度に適度に強いため、基板1はルータービット5との間で生じる切削抵抗によってぶれることがなく、切断位置のばらつきは小さくなる。また、このクランプにより基板1のミクロジョイント周辺が安定に固定されるので、基板1に生じる加工歪は小さい。
また、上部カバー治具9は基板1のミクロジョイント2近傍で接触し、かつ基板1に実装される電子部品51を被覆している。この際、基板1における上部カバー治具9との接触部分は、電子部品51の設計ルールにおける搭載禁止エリアである基板端縁を利用しているため、実施の形態1による基板切断装置を適用するために、敢えて基板の部品搭載エリアを制限する必要はなく、基板を設計する上で、不要な制約を付加する必要もない。
また、下受治具6は、基板1のミクロジョイント2の近傍以外で基板1の裏面と密着している。このため、基板100の下面と下受治具6との接触部分に隙間はなく、粉塵8が入り込むことはない。また、両面実装基板の場合は、下受治具6の上面に、基板100における部品実装部分周辺のみに、基板100の部品と接触しないように凹みや貫通穴を設け、基板100の外周縁部分を含むその他の部分を下受治具6の上面に密着させることで、片面実装基板と同様に、粉塵の付着を防止することができる。
また、基板の位置決め固定には、ストッパ12と位置決めピン10及び上部カバー治具9、下受治具6などの機械部品を使用した簡単な機構とその動作により、基板を所定位置に搬送し、正確に位置決めして、精度良く所望の切断位置を切断加工することができるので、カメラを用いた画像認識によって基板の切断位置を求める必要がなく、より安価な構成で基板切断装置を得ることができる。
以上説明したとおり、この実施の形態4による基板切断装置は、複数の基板100間がミクロジョイント2により接合されて構成され、基板切断前処理装置300により冷却された基板1における電子部品の搭載面を覆うとともに、当該基板1のミクロジョイント近傍端面に当着し、当該ミクロジョイント近傍に切断加工用のルータビット5を挿入するための貫通穴を設けた上部カバー治具9を備えている。
この際、基板搬送部の後流に基板切断装置を設け、基板切断装置を、基板1を載せるとともに当該基板1を位置決めする下受治具6と、下受治具6との間で基板1を挟持し、基板1におけるミクロジョイント位置に対応した貫通穴30を有するとともに、基板1を構成する各基板100を覆うように構成された上部カバー治具9とから構成し、下受治具6と上部カバー治具9の間に基板1を挟んだ状態で、ルータービット5が上部カバー治具9に設けられた貫通穴30を介して挿入され、基板1におけるミクロジョイント2を切断する。
この際、基板搬送部の後流に基板切断装置を設け、基板切断装置を、基板1を載せるとともに当該基板1を位置決めする下受治具6と、下受治具6との間で基板1を挟持し、基板1におけるミクロジョイント位置に対応した貫通穴30を有するとともに、基板1を構成する各基板100を覆うように構成された上部カバー治具9とから構成し、下受治具6と上部カバー治具9の間に基板1を挟んだ状態で、ルータービット5が上部カバー治具9に設けられた貫通穴30を介して挿入され、基板1におけるミクロジョイント2を切断する。
また、上部カバー治具9は、基板1を構成する各基板100の端縁に当接し、貫通穴30を有した押当板92と、押当板92における基板1との接触面の反対側に固着され、基板1を構成する各基板100を覆う覆板91とから構成される。
また、下受治具6は、基板1を構成する各基板100のピン穴15に嵌合する位置決めピン10を備えている。
また、基板1の両端を支持して基板1を搬送する1対の搬送コンベアベルト11と、搬送コンベアベルト11による基板1の搬送を一時停止するストッパ12と、ストッパ12により基板1の搬送が停止した後、下受治具6を可動し、1対の搬送コンベアベルト11の間で下受治具6に載置した基板1を昇降させ、基板1を上部カバー治具9に押し付ける駆動装置20とを備える。
このように構成することで、切断中及び切断箇所間のルータービット移動中に基板表面に粉塵が飛散しないようにミクロジョイント近傍を支持部とした粉塵カバーで基板表面を被覆するので、カバー内部に異物が混入しないという効果が得られる。例えば、0.1μmよりも大きな粉塵が混入しない装置を構成することができる。
また、基板のミクロジョイント近傍を上部カバー治具と下受治具とでクランプすることによって、切断時にルータービットと基板との間で生じる切削抵抗により基板がぶれないようになされるので、基板に生じる歪を低減することができる。
以上のように、基板のミクロジョイント近傍以外における粉塵付着を防止することが可能となり、実装した電子部品の誤作動を防止できる。
また、粉塵付着が防止できるので、基板に付着した粉塵の清掃工程を省略でき、工数減少つまり低コスト化できる。さらに、切断時の基板のぶれを防止し、基板に生じる歪を低減することができるため、実装部品の機械的・電気的な長寿命化につながり、また信頼性を向上できる。
なお、多面取基板の基板1を構成する基板100の数量は、4つに限らずさらに多くてもいい。また、上部カバー治具9や下受治具6は、基板1の形状や構成に合わせて他の形状に変更しても良いことは言うまでもなく、基板1の形状に合わせて、自動的に交換しても良い。さらに、ルータービットは、基板の切断加工が完了した後、粉塵の飛散がないようにカバーで囲まれた領域に移動して、エアーの吹き付けノズルやエアー吸引ダクトなどにより、粉塵を除去するように適宜清掃しても良い。
1 基板、2 ミクロジョイント、3 スピンドル、5 ルータービット、6 下受治具、7 集塵ダクト、9 上部カバー治具、10 位置決めピン、11 搬送コンベアベルト、12 ストッパ、15 ピン穴、20 駆動装置、21 制御装置、100 基板、覆板91、押当板92、201 リフローはんだ付け装置、202 基板切断装置、300 基板切断前処理装置、301 エアーブロア、302 ファン、303 エア噴出口、304 基板確認センサ、305 基板保持部、306 基板、307 部品、308 イオナイザ、309 電源、310 レーザ放射・受光部、312 XYロボット。
Claims (3)
- リフロー後のプリント配線基板を基板切断装置に搬送する基板搬送部と、
上記基板搬送部によるプリント配線基板の搬入を検出するセンサと、
上記センサによるプリント配線基板の搬入検出に応じて、上記プリント配線基板に複数箇所からエアを吹き付けるエアーブロアと、
を備えた基板切断前処理装置。 - エアーブロア内にイオナイザを備えたことを特徴とする請求項1記載の基板切断前処理装置。
- 複数の基板間が接合ジョイントにより接合されて構成された上記プリント基板を載せるとともに、当該プリント基板を位置決めする下受治具と、
上記下受治具との間でプリント基板を挟持し、上記プリント基板における接合ジョイント位置に対応した貫通穴を有するとともに、上記プリント基板を構成する各基板を覆う上部カバー治具と、
上記下受治具と上部カバー治具の間にプリント基板を挟んだ状態で、上記上部カバー治具に設けられた貫通穴を介して挿入され、上記プリント基板における接合ジョイントを切断するルータービットとを具備した基板切断装置を、上記基板搬送部の後流に備えたことを特徴とする請求項1記載の基板切断前処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008081119A JP2009238909A (ja) | 2008-03-26 | 2008-03-26 | 基板切断前処理装置および基板切断前処理方法 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN109348630A (zh) * | 2018-10-26 | 2019-02-15 | 蚌埠国显科技有限公司 | 一种阵列基板保护装置 |
-
2008
- 2008-03-26 JP JP2008081119A patent/JP2009238909A/ja active Pending
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CN109348630B (zh) * | 2018-10-26 | 2024-04-26 | 蚌埠国显科技有限公司 | 一种阵列基板保护装置 |
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