JP2009237664A - 位置決め制御ユニット、位置決め制御方法および位置決め制御プログラム - Google Patents

位置決め制御ユニット、位置決め制御方法および位置決め制御プログラム Download PDF

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【課題】A/D変換の精度をデバイスの分解能以上に高め、位置決めの精度を向上させる。
【解決手段】ステージの位置決め制御をする位置決め制御ユニット120であって、1制御周期あたりの操作量を算出する操作量算出部121と、ステージ140の駆動のために、算出された操作量を出力する出力部126と、センサ150により1制御周期あたり複数回検出されたステージ140の検出位置の、1制御周期にわたる平均値を現在位置として算出する現在位置算出部129と、を備える。これにより、検出の分解能をデバイスの分解能以上に高くして、位置決めの精度を向上させることができる。たとえば、位置換算値1nmの分解能のA/D変換部127を用いて0.1nm単位の位置検出を行うことができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、ステージの位置決めを制御する位置決め制御ユニット、位置決め制御方法および位置決め制御プログラムに関する。
近年、磁気ヘッド検査装置や半導体分野および光学分野の検査装置において、ナノメータ単位の精密な移動精度を要する微少位置決め技術が求められている。このような要望を受け、圧電アクチュエータを備えた位置決めステージと静電容量型位置検出センサとから構成される位置決め装置が使用されている。高精度の位置決めを行うための要素の一つとして、A/Dコンバータの分解能の向上がある。そして、A/Dコンバータの分解能については、制御回路の分野で開発がなされてきた(たとえば、特許文献1〜3参照)。
特許文献1記載の制御装置は、センサ入力電圧を分割してA/D変換することで、制御量を高い分解能で検知して制御対象を制御している。特許文献2記載のA/D変換装置では、所定時間内に変換されたデジタル信号を加算し、加算値をセンサ入力値としてそのまま使用することで、簡易な手法にて分解能を全て有効に利用する。特許文献3記載のA/D変換装置は、各サンプリングクロックの一周期の時間内にそれぞれ得られた数値データを平均化することで、加算によって増加するビット数分だけ高分解能とすることができる。
特開昭63−19005号公報 特開2002−368613号公報 特開2004−7385号公報
上記のような位置決め装置の位置決め精度を向上させるためには、ステージの位置検出の精度を向上させる必要がある。センサについては、高感度のものが入手可能である。一方で、A/Dコンバータについてはその信号処理の高速化により、高速処理可能なデバイスが入手可能になったものの、16bitを超える高分解能のものはほとんど市場に出回っておらず、高価であり入手が困難である。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、ステージの位置検出の精度をデバイスの分解能以上に高め、位置決めの精度を向上させる位置決め制御ユニット、位置決め制御方法および位置決め制御プログラムを提供することを目的とする。
(1)上記の目的を達成するため、本発明の位置決め制御ユニットは、ステージの位置決め制御をする位置決め制御ユニットであって、1制御周期あたりの操作量を算出する操作量算出部と、前記ステージの駆動のために、前記算出された操作量を出力する出力部と、センサにより1制御周期あたり複数回検出された前記ステージの検出位置の、1制御周期にわたる平均値を、現在位置として算出する位置算出部と、を備えることを特徴としている。
このように、本発明の位置決め制御ユニットは、1制御周期あたり複数回検出されたステージの検出位置の平均値を現在位置として算出する。これにより、位置検出の分解能をデバイスの分解能以上に高くして、位置決めの精度を向上させることができる。たとえば、位置換算値1nmの分解能のA/D変換部を用いて0.1nm単位の位置検出を行うことができる。なお、A/D変換の分解能とは、A/D変換装置固有の変換可能な出力の最小単位をいう。
(2)また、本発明の位置決め制御方法は、ステージの位置決め制御をする位置決め制御方法であって、1制御周期あたりの操作量を算出する操作量算出ステップと、前記ステージの駆動のために、前記算出された操作量を出力する出力ステップと、センサにより1制御周期あたり複数回検出された前記ステージの検出位置の、1制御周期にわたる平均値を、現在位置として算出する位置算出ステップと、を含むことを特徴としている。これにより、位置検出の分解能をデバイスの分解能以上に高くして、位置決めの精度を向上させることができる。
(3)また、本発明の位置決め制御プログラムは、ステージの位置決め制御をする位置決め制御プログラムであって、1制御周期あたりの操作量を算出する操作量算出処理と、前記ステージの駆動のために、前記算出された操作量を出力する出力処理と、センサにより1制御周期あたり複数回検出された前記ステージの検出位置の、1制御周期にわたる平均値を、現在位置として算出する位置算出処理と、をコンピュータに実行させることを特徴としている。これにより、位置検出の分解能をデバイスの分解能以上に高くして、位置決めの精度を向上させることができる。
本発明によれば、検出の精度をデバイスの分解能以上に高くして、位置決めの精度を向上させることができる。たとえば、位置換算値1nmの分解能のA/Dコンバータを用いて0.1nm単位の位置検出を行うことができる。
(位置決め装置の構成)
以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。図1は、位置決め装置100の構成を示すブロック図である。位置決め装置100は、PC110、コントローラ120、ステージ駆動部130、ステージ140、センサ150を備えている。位置決め装置100は、操作量の算出からステージの現在位置の算出までを1制御周期として、所定分解能でA/D変換し、ステージの位置決め制御をする。
PC110は、入力部111を備えている。入力部111は、ユーザからの位置指定の入力を受け付ける。コントローラ120(位置決め制御ユニット)は、操作量の算出および出力、現在位置の算出等の処理を行う。コントローラ120は、操作量算出部121、判定部122、出力部126、駆動用増幅部126a、検出用増幅部126b、A/D変換部127、検出カウンタ128および現在位置算出部129を備えている。
操作量算出部121は、入力された移動量およびステージの現在位置から1制御周期あたりの操作量を算出する。その際にはPID制御も行う。判定部122は、算出された操作量が、整定範囲より小さいか否かを判定する。整定範囲は、あらかじめ設定された値であり、ステージ140の移動量が、入力された移動量を達成したことを判定するための基準値である。これにより、位置決め装置100は、算出された操作量が整定範囲より小さいと判定されるまで周期的な制御を繰り返す。出力部126は、いわゆるD/Aコンバータを含み、出力制御を行いながら算出された操作量をデバイス固有の分解能でD/A変換して出力する。駆動用増幅部126a(ピエゾアンプ)は、出力部126が出す信号を増幅して、ステージ駆動部130に印加する。
検出用増幅部126b(センサアンプ)は、センサ150が検知したステージ140の位置を示す信号を増幅する。A/D変換部127は、センサ150が検知したステージ140の検出位置を示すアナログ信号を固有の分解能でデジタル信号に変換する。検出カウンタ128は、A/D変換部127にデジタル信号への変換を1制御周期あたりm回繰り返して行わせる。したがって、A/D変換部127は制御周期のm倍の速度で駆動することになる。
このようにして、1制御周期でm回ステージ140の位置を検出することで、制御分解能を向上させることができる。たとえば、m=10の場合は制御分解能が1桁向上する。なお、A/D変換部127の分解能は、A/D変換部127が変換可能な出力の最小単位である。現在位置算出部129は、検出位置の1制御周期における平均値を現在位置として算出する。
ステージ駆動部130は、圧電素子を有し、アナログ信号に応じて圧電素子を駆動させステージを移動させる。圧電素子は、たとえば積層型の圧電アクチュエータである。ステージ140は、圧電素子の変位に応じて移動する。ステージ140は、圧電素子の伸縮により移動可能に構成されている。
センサ150は、ステージの位置を信号として検知する。センサ150には、ステージ140の位置変化を静電容量の変化として検出する静電容量型のリニアスケールセンサを用いることができる。なお、検出用増幅部126b、A/D変換部127、検出カウンタ128および現在位置算出部129は、位置算出部160を構成する。位置算出部160は、センサ150により検出されたステージの検出位置からステージの現在位置を算出する。
(位置決め装置の動作)
次に、上記のように構成された位置決め装置100の動作を説明する。図2は、位置決め装置の特徴的な動作を示すフローチャートである。まず、位置決め装置100は、PC100においてユーザから移動量の入力を受け付ける(ステップS1)。
次に、操作量算出部121は、入力された移動量とステージの現在位置とから、ステージ140に出力すべき操作量を算出する(ステップS2)。そして、判定部122は、算出された操作量とあらかじめ決められた整定範囲とを比較し(ステップS3)、操作量が整定範囲以下の場合には、終了する。一方、操作量が整定範囲より大きい場合には、出力部126は、出力量を算出し、出力量のデジタル信号をアナログ信号に変換し(ステップS4)、駆動用増幅部126aが信号を増幅して、ステージ駆動部130に印加する。そして、ステージ駆動部130は、圧電素子を駆動させて、出力量に基づいてステージを移動させる(ステップS5)。
次に、センサ150は、ステージ140の位置を検出する(ステップS6)。検出用増幅部126bは、検出された位置を示す信号を増幅し、A/D変換部127は、検出位置を示すアナログ信号をデジタル信号に変換する(ステップS7)。そして、検出カウンタ128は、その制御周期において検出位置のA/D変換がm回終了したか否かを判定する(ステップS8)。検出位置のA/D変換がm回終了してないと判定された場合には、ステップS6に戻る。1制御周期でm回、ステージ140の位置を検出することで、センサ信号の検出分解能を向上させ、制御分解能を向上させることができる。
たとえば1制御周期で10回(m=10)、ステージ140の位置を検出する場合、制御分解能が1桁向上する。検出位置のA/D変換がm回終了していると判定された場合には、デジタル変換された検出位置の平均値を現在位置として算出し(ステップS9)、ステップS2に戻る。ステップS2〜S10が1制御周期である。なお、上記の例では、ステップS3において、操作量が整定範囲以下の場合には終了するが、そのままのステージの位置を維持するために制御を繰り返すこととしてもよい。
上記の位置決め装置100を用いて、位置決め制御の実験を行った。センサ150には、高安定でノイズレベルがホワイトノイズ的な高分解能な静電容量型センサを用いた。コントローラ120には、32bitのCPU、16bitのD/AコンバータおよびA/Dコンバータならびにアンプにより構成され、組み込まれた制御プログラムにより制御を行うデジタルコントローラを用いた。センサ信号をA/Dコンバータでデジタル変換する最小分解能は、16bitであり、この最小分解能の位置換算値は65um÷16bit=1nmである。なお、CPUおよびD/Aコンバータからステージ駆動部130に印加される電圧の最小単位(分解能)の位置換算値は0.1nm相当となるように調整した。
A/Dコンバータは、CPUの制御周期100μsの1/10である10μsの周期で駆動した。つまり、位置決めの制御周期は100μsであり、制御周期1回あたりに対してA/Dコンバータでのデジタル変換を10回実施した。そして、デジタル変換した10回のデータをCPUにて演算して1/10にし、平均化した結果を制御に使用するセンサ信号値、すなわち現在位置とした。その現在位置に基づいて操作量を算出させ、これを出力することでステージ140を移動させて、その位置決めを制御した。
このようにして、ステージ140を駆動させるとともに、センサ150により出力されるアナログ信号をデジタルボルトメータ(アジレントテクノロジー社製34401A)でサンプリングして計測した。計測は、デジタルボルトメータの実効値により行った。実効値とは、データについて所定時間にわたる平均をとったものをいう。図3は、指定位置に対するステージ140の移動量換算値を示すグラフである。図3に示すステージ140の移動量は、センサ150が検出した位置に対応して出力した電圧を移動量に換算したものである。試験の結果、図3に示すようにステージ140が0.1nmの分解能で移動したことを確認した。このようにして、位置決め制御の分解能がA/Dコンバータの分解能の1/10である位置決め精度を実現することができた。位置決め装置100にて実際の駆動を行い、位置決めの分解能をレーザ干渉計で計測したところ、位置換算値0.1nmの分解能を確認できた。その結果、位置決め制御の分解能がA/Dコンバータの分解能の1/10である位置決め精度を実現することができた。
なお、本実施例では、位置決め制御の分解能をA/Dコンバータの分解能の1/10にする実験を行ったが、制御周期が遅くても良い場合は、制御周期を1msとして1回の制御サイクルに対してA/D変換を100回行うことにより、位置決め精度をA/Dコンバータの分解能の1/100にすることも可能である。また、センサ150は、高安定で出力ノイズがホワイトノイズ的なものであれば、特に静電容量型センサに限られない。
位置決め装置の構成を示すブロック図である。 位置決め装置の特徴的な動作を示すフローチャートである。 指定位置に対するステージの移動量換算値を示すグラフである(実施例)。
符号の説明
100 位置決め装置
110 PC
111 入力部
120 コントローラ(位置決め制御ユニット)
121 操作量算出部
122 判定部
126 出力部
126a 駆動用増幅部
126b 検出用増幅部
127 A/D変換部
128 検出カウンタ
129 現在位置算出部
130 ステージ駆動部
140 ステージ
150 センサ
160 位置算出部

Claims (3)

  1. ステージの位置決め制御をする位置決め制御ユニットであって、
    1制御周期あたりの操作量を算出する操作量算出部と、
    前記ステージの駆動のために、前記算出された操作量を出力する出力部と、
    センサにより1制御周期あたり複数回検出された前記ステージの検出位置の、1制御周期にわたる平均値を、現在位置として算出する位置算出部と、を備えることを特徴とする位置決め制御ユニット。
  2. ステージの位置決め制御をする位置決め制御方法であって、
    1制御周期あたりの操作量を算出する操作量算出ステップと、
    前記ステージの駆動のために、前記算出された操作量を出力する出力ステップと、
    センサにより1制御周期あたり複数回検出された前記ステージの検出位置の、1制御周期にわたる平均値を、現在位置として算出する位置算出ステップと、を含むことを特徴とする位置決め制御方法。
  3. ステージの位置決め制御をする位置決め制御プログラムであって、
    1制御周期あたりの操作量を算出する操作量算出処理と、
    前記ステージの駆動のために、前記算出された操作量を出力する出力処理と、
    センサにより1制御周期あたり複数回検出された前記ステージの検出位置の、1制御周期にわたる平均値を、現在位置として算出する位置算出処理と、をコンピュータに実行させることを特徴とする位置決め制御プログラム。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2005284867A (ja) * 2004-03-30 2005-10-13 Canon Inc 駆動制御装置及び方法及び露光装置

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