JP2009218796A - 線形補正回路及び線形補正方法、並びにセンサ装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明に係る線形補正回路は、センサ素子の出力信号が電圧変換されて得られる電圧を電流に変換する電圧電流変換手段と、電圧電流変換手段の出力電流に基づき補正電流を合成する補正電流合成手段と、補正電流合成手段が出力する補正電流から補正量を決定する電流を調整する電流量調整手段と、電流量調整手段で得られる補正量決定電流により電圧信号の出力特性が線形になるように補正する補正電圧を生成する補正電圧生成手段とを備える。これにより、センサ素子の出力信号に基づいて合成された補正電流から補正量を決定する電流を調整し、補正電圧を生成することができる。
【選択図】図1
Description
センサ素子1は、センサ素子の一例である。
センサ信号電圧変換回路2は、センサ信号電圧変換手段の一例である。
アンプ3は、電圧増幅手段の一例である。
gm4は、電圧電流変換手段の一例である。
2乗電流合成回路5は、補正電流合成手段の一例である。
電流量調整回路6は、電流量調整手段の一例である。
補正電圧生成手段7は、補正電圧生成手段の一例である。
出力バッファアンプ8は、出力バッファアンプの一例である。
線形補正回路9は、線形補正回路の一例である。
gm調整回路10は、補正電流合成手段のダミー回路の一例である。
センサ装置20は、センサ装置の一例である。
レジスタ21は、補正情報を記憶するメモリの一例である。
電流合成回路51は、電流合成回路の一例である。
電圧信号VOUTは、電圧信号の一例である。
電圧VAは、補正された電圧の一例である。
電圧VBは、センサ素子の出力信号が電圧変換されて得られる電圧の一例である。
電流IAは、補正電流の一例である。
電流IBは、補正量決定電流の一例である。
電圧IB・RAは、補正電圧の一例である。
電圧Vrefは、基準電圧の一例である。
電圧V0は、出力範囲の中心電圧の一例である。
差動入力電圧ΔVBは、センサ素子の出力信号が電圧変換されて得られる電圧と基準電圧との差動入力電圧の一例である。
電流I1、I2、I3、I4、I5、I6は、それぞれ第1、第2、第3、第4、第5、第6電流の一例である。
抵抗R1、R2、R3、R4は、それぞれ第1、第2、第3、第4抵抗の一例である。
トランジスタM1、M2、M3、M4、M5、M6は、それぞれ第1、第2、第3、第4、第5、第6トランジスタの一例である。
トランジスタQ3、Q4、Q5は、請求項3に記載のカレントミラー回路の一例である。
スイッチS3、S4、S5は、請求項3に記載のスイッチの一例である。
トランジスタQ6〜Q10、スイッチS7〜S10は、重み付けカレントミラーD/Aコンバータの一例である。
図7に示される電流反転回路は、請求項6に記載の電流反転回路の一例である。
トランジスタQ11〜Q13は、請求項6に記載のカレントミラー回路の一例である。
スイッチS1、S2は、補正量決定電流の向きを切り替えるスイッチの一例である。
抵抗RAは、電流電圧変換手段の一例である。
例えば、補正電流IAなどの電流の向きは図に示された向きに限られるものではない。逆向きの電流が流れるように構成されても、同様の作用、効果が得られることは言うまでもない。
(付記1)
センサ素子の出力信号を電圧変換して電圧信号を出力するセンサ装置において、前記電圧信号の出力特性が線形になるように補正する線形補正回路であって、
前記センサ素子の出力信号が電圧変換されて得られる電圧を電流に変換する電圧電流変換手段と、
前記電圧電流変換手段の出力電流に基づき、補正電流を合成する補正電流合成手段と、
前記補正電流合成手段が出力する補正電流から補正量を決定する電流を調整する電流量調整手段と、
前記電流量調整手段で得られる補正量決定電流により、前記電圧信号の出力特性が線形になるように補正する補正電圧を生成する補正電圧生成手段とを備えることを特徴とする線形補正回路。
(付記2)
前記電圧電流変換手段は、前記センサ素子の出力信号が電圧変換されて得られる電圧と基準電圧との差動入力電圧が入力されて、第1電流と第2電流との差動出力電流を出力する差動対で構成され、
前記補正電流合成手段は、前記差動対の差動出力線間に互いに直列に接続される第1抵抗及び第2抵抗と、
ゲートが前記第1抵抗と第2抵抗との間に接続され、ドレインが前記第1電流の流れる差動出力線に接続される第1トランジスタと、
ゲートが前記第1抵抗と第2抵抗との間に接続され、ドレインが前記第2電流の流れる差動出力線に接続される第2トランジスタと、
ゲートが前記第1トランジスタのドレインに接続され、前記差動入力電圧の2次関数で記述される第3電流が流れる第3トランジスタと、
ゲートが前記第2トランジスタのドレインに接続され、前記差動入力電圧の2次関数で記述される第4電流が流れる第4トランジスタと、
ゲートとソースとがそれぞれ前記第1、第2トランジスタと共通に接続され、第5電流が流れる第5トランジスタと、
前記第3、第4、第5電流から前記補正電流を合成する電流合成回路とを備えることを特徴とする付記1に記載の線形補正回路。
(付記3)
前記電流合成回路は、入力部が前記第5トランジスタと接続され、出力部が前記第3、第4トランジスタとそれぞれスイッチを介して接続されるカレントミラー回路を備え、前記スイッチと前記カレントミラー回路との組み合わせで前記補正電流の特性を可変にしたことを特徴とする付記2に記載の線形補正回路。
(付記4)
前記電圧電流変換手段は、前記第1、第2抵抗に相当する第3抵抗と、前記第3、第4トランジスタに相当する第6トランジスタと、前記補正電流に相当する第6電流が流れる第4抵抗とを備える前記補正電流合成手段のダミー回路によって調整されることを特徴とする付記2または3に記載の線形補正回路。
(付記5)
前記電流量調整手段は、重み付けカレントミラーD/Aコンバータを備えることを特徴とする付記1乃至4の少なくとも何れか1に記載の線形補正回路。
(付記6)
前記補正電圧生成手段は、入力部が前記電流量調整手段の出力部と接続されるカレントミラー回路と、前記補正量決定電流の向きを切り替えるスイッチとを備える電流反転回路と、
前記補正量決定電流を前記補正電圧に変換する電流電圧変換手段とを備えることを特徴とする付記1乃至5の少なくとも何れか1に記載の線形補正回路。
(付記7)
センサ素子の出力信号を電圧変換して電圧信号を出力するセンサ装置において、前記電圧信号の出力特性が線形になるように補正する線形補正方法であって、
前記センサ素子に基準となる物理量を加えたときの前記電圧信号の出力電圧が出力範囲の中心電圧となるようにオフセット調整するステップと、
前記センサ素子に所定の物理量を加えたときの前記電圧信号の出力電圧が前記所定の物理量に相当する電圧となるようにゲイン調整するステップと、
前記電圧信号の出力特性が線形になるように補正電圧の特性を選択するステップと、
補正量を調整するステップとを備えることを特徴とする線形補正方法。
(付記8)
前記補正電圧の特性を選択するステップは、補正前の前記電圧信号の出力特性を2次関数で近似することで最適な特性を持つ補正電圧を選択することを特徴とする付記7に記載の線形補正方法。
(付記9)
センサ素子の出力信号を電圧変換して電圧信号を出力するセンサ装置であって、
前記センサ素子の出力信号を電圧変換するセンサ信号電圧変換手段と、
前記センサ信号電圧変換手段で得られる電圧を増幅する電圧増幅手段と、
前記電圧増幅手段の出力電圧を電流に変換する電圧電流変換手段と、
前記電圧電流変換手段の出力電流に基づき、補正電流を合成する補正電流合成手段と、
前記補正電流合成手段が出力する補正電流から補正量を決定する電流を調整する電流量調整手段と、
前記電流量調整手段で得られる補正量決定電流により、前記電圧信号の出力特性が線形になるように補正する補正電圧を生成する補正電圧生成手段と、
前記補正電圧により前記電圧増幅手段の出力電圧が補正された電圧を前記電圧信号として出力する出力バッファアンプとを備えることを特徴とするセンサ装置。
(付記10)
付記9に記載のセンサ装置であって、
補正情報を記憶するメモリを備え、前記補正情報としてビット情報が与えられることで前記電圧信号の出力特性を補正することを特徴とするセンサ装置。
(付記11)
前記差動対は、前記差動入力電圧が入力される一対のトランジスタを備え、前記一対のトランジスタのソースは直列に接続された複数のトランジスタからなるトランジスタ群に接続され、前記一対のトランジスタと前記トランジスタ群の各トランジスタとのバックゲートは前記一対のトランジスタのソースにそれぞれ接続されることを特徴とする付記2乃至6の少なくとも何れか1に記載の線形補正回路。
2 センサ信号電圧変換回路
3 アンプ
4、11 電圧電流変換アンプgm
5 2乗電流合成回路
6 電流量調整回路
7 補正電圧生成手段
8 出力バッファアンプ
9 線形補正回路
10 gm調整回路
12 バッファアンプ
20 センサ装置
21 レジスタ
22 シリアルI/F
51 電流合成回路
I1〜I6、IA、IB、IC、−IC 電流
M1〜M10 NチャネルMOSトランジスタ
Q1〜Q13 PチャネルMOSトランジスタ
Q1n、Q2n トランジスタ群
S1〜S5、S7〜S10 スイッチ
VA、VB、VDD、Vf、VOUT、Vref、ΔVB 電圧
Claims (10)
- センサ素子の出力信号を電圧変換して電圧信号を出力するセンサ装置において、前記電圧信号の出力特性が線形になるように補正する線形補正回路であって、
前記センサ素子の出力信号が電圧変換されて得られる電圧を電流に変換する電圧電流変換手段と、
前記電圧電流変換手段の出力電流に基づき、補正電流を合成する補正電流合成手段と、
前記補正電流合成手段が出力する補正電流から補正量を決定する電流を調整する電流量調整手段と、
前記電流量調整手段で得られる補正量決定電流により、前記電圧信号の出力特性が線形になるように補正する補正電圧を生成する補正電圧生成手段とを備えることを特徴とする線形補正回路。 - 前記電圧電流変換手段は、前記センサ素子の出力信号が電圧変換されて得られる電圧と基準電圧との差動入力電圧が入力されて、第1電流と第2電流との差動出力電流を出力する差動対で構成され、
前記補正電流合成手段は、前記差動対の差動出力線間に互いに直列に接続される第1抵抗及び第2抵抗と、
ゲートが前記第1抵抗と第2抵抗との間に接続され、ドレインが前記第1電流の流れる差動出力線に接続される第1トランジスタと、
ゲートが前記第1抵抗と第2抵抗との間に接続され、ドレインが前記第2電流の流れる差動出力線に接続される第2トランジスタと、
ゲートが前記第1トランジスタのドレインに接続され、前記差動入力電圧の2次関数で記述される第3電流が流れる第3トランジスタと、
ゲートが前記第2トランジスタのドレインに接続され、前記差動入力電圧の2次関数で記述される第4電流が流れる第4トランジスタと、
ゲートとソースとがそれぞれ前記第1、第2トランジスタと共通に接続され、第5電流が流れる第5トランジスタと、
前記第3、第4、第5電流から前記補正電流を合成する電流合成回路とを備えることを特徴とする請求項1に記載の線形補正回路。 - 前記電流合成回路は、入力部が前記第5トランジスタと接続され、出力部が前記第3、第4トランジスタとそれぞれスイッチを介して接続されるカレントミラー回路を備え、前記スイッチと前記カレントミラー回路との組み合わせで前記補正電流の特性を可変にしたことを特徴とする請求項2に記載の線形補正回路。
- 前記電圧電流変換手段は、前記第1、第2抵抗に相当する第3抵抗と、前記第3、第4トランジスタに相当する第6トランジスタと、前記補正電流に相当する第6電流が流れる第4抵抗とを備える前記補正電流合成手段のダミー回路によって調整されることを特徴とする請求項2または3に記載の線形補正回路。
- 前記電流量調整手段は、重み付けカレントミラーD/Aコンバータを備えることを特徴とする請求項1乃至4の少なくとも何れか1項に記載の線形補正回路。
- 前記補正電圧生成手段は、入力部が前記電流量調整手段の出力部と接続されるカレントミラー回路と、前記補正量決定電流の向きを切り替えるスイッチとを備える電流反転回路と、
前記補正量決定電流を前記補正電圧に変換する電流電圧変換手段とを備えることを特徴とする請求項1乃至5の少なくとも何れか1項に記載の線形補正回路。 - センサ素子の出力信号を電圧変換して電圧信号を出力するセンサ装置において、前記電圧信号の出力特性が線形になるように補正する線形補正方法であって、
前記センサ素子に基準となる物理量を加えたときの前記電圧信号の出力電圧が出力範囲の中心電圧となるようにオフセット調整するステップと、
前記センサ素子に所定の物理量を加えたときの前記電圧信号の出力電圧が前記所定の物理量に相当する電圧となるようにゲイン調整するステップと、
前記電圧信号の出力特性が線形になるように補正電圧の特性を選択するステップと、
補正量を調整するステップとを備えることを特徴とする線形補正方法。 - 前記補正電圧の特性を選択するステップは、補正前の前記電圧信号の出力特性を2次関数で近似することで最適な特性を持つ補正電圧を選択することを特徴とする請求項7に記載の線形補正方法。
- センサ素子の出力信号を電圧変換して電圧信号を出力するセンサ装置であって、
前記センサ素子の出力信号を電圧変換するセンサ信号電圧変換手段と、
前記センサ信号電圧変換手段で得られる電圧を増幅する電圧増幅手段と、
前記電圧増幅手段の出力電圧を電流に変換する電圧電流変換手段と、
前記電圧電流変換手段の出力電流に基づき、補正電流を合成する補正電流合成手段と、
前記補正電流合成手段が出力する補正電流から補正量を決定する電流を調整する電流量調整手段と、
前記電流量調整手段で得られる補正量決定電流により、前記電圧信号の出力特性が線形になるように補正する補正電圧を生成する補正電圧生成手段と、
前記補正電圧により前記電圧増幅手段の出力電圧が補正された電圧を前記電圧信号として出力する出力バッファアンプとを備えることを特徴とするセンサ装置。 - 請求項9に記載のセンサ装置であって、
補正情報を記憶するメモリを備え、前記補正情報としてビット情報が与えられることで前記電圧信号の出力特性を補正することを特徴とするセンサ装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021205962A1 (ja) * | 2020-04-09 | 2021-10-14 | ミネベアミツミ株式会社 | 集積回路 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5915192B2 (ja) * | 2012-01-12 | 2016-05-11 | ミツミ電機株式会社 | センサ出力補正回路及びセンサ出力補正装置 |
CN104751891B (zh) * | 2015-04-17 | 2017-12-22 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 读操作时间控制电路 |
KR20180090731A (ko) * | 2017-02-03 | 2018-08-13 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치, 표시 패널, 표시 장치, 입출력 장치, 정보 처리 장치 |
US10902790B2 (en) | 2017-02-16 | 2021-01-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, display panel, display device, input/output device, and data processing device |
CN107346960B (zh) * | 2017-06-15 | 2020-07-07 | 西安华泰半导体科技有限公司 | 一种基于调节有源负载的低失调运算放大器 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06294664A (ja) * | 1993-04-08 | 1994-10-21 | Yamatake Honeywell Co Ltd | 非線形回路 |
JP2001343439A (ja) * | 2000-06-05 | 2001-12-14 | Tokin Corp | 高周波キャリア型磁気センサ |
JP2002026666A (ja) * | 2000-07-06 | 2002-01-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電圧電流変換器 |
JP2002057532A (ja) * | 2000-08-11 | 2002-02-22 | Nec Corp | 線形トランスコンダクタンスアンプ |
JP2006128739A (ja) * | 2004-10-26 | 2006-05-18 | Olympus Corp | 光電流処理回路及びそれに用いられる電流増幅回路 |
JP2008016829A (ja) * | 2006-06-05 | 2008-01-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レーザダイオード駆動装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4387602A (en) * | 1981-02-04 | 1983-06-14 | The Bendix Corporation | Pressure compensated circuit for ion mass airflow sensors |
US6651020B2 (en) * | 1997-12-24 | 2003-11-18 | Edward S. More | Method and apparatus for economical drift compensation in high resolution measurements |
IT1306286B1 (it) * | 1998-11-13 | 2001-06-04 | Magneti Marelli Spa | Dispositivo di controllo di una sonda lineare di ossigeno. |
-
2008
- 2008-03-10 JP JP2008059617A patent/JP5018570B2/ja active Active
-
2009
- 2009-03-06 US US12/399,543 patent/US7990134B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06294664A (ja) * | 1993-04-08 | 1994-10-21 | Yamatake Honeywell Co Ltd | 非線形回路 |
JP2001343439A (ja) * | 2000-06-05 | 2001-12-14 | Tokin Corp | 高周波キャリア型磁気センサ |
JP2002026666A (ja) * | 2000-07-06 | 2002-01-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電圧電流変換器 |
JP2002057532A (ja) * | 2000-08-11 | 2002-02-22 | Nec Corp | 線形トランスコンダクタンスアンプ |
JP2006128739A (ja) * | 2004-10-26 | 2006-05-18 | Olympus Corp | 光電流処理回路及びそれに用いられる電流増幅回路 |
JP2008016829A (ja) * | 2006-06-05 | 2008-01-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レーザダイオード駆動装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021205962A1 (ja) * | 2020-04-09 | 2021-10-14 | ミネベアミツミ株式会社 | 集積回路 |
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