JP2009177018A - 固体撮像素子及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】信号電荷を蓄積するNウェル36に隣接して、Nウェル36の信号電荷を排出するドレイン領域40と、Nウェル36とドレイン領域40との間に位置し電位障壁を形成するバリア領域42とを有するLOD構造26が設けられる。当該LOD構造26には、ドレイン領域40より低濃度のバッファ領域44が、バリア領域42とドレイン領域40との境界部分に設けられ、バリア領域42とドレイン領域40との間の不純物濃度変化を緩やかにする。これにより、電子シャッタ動作でのバリア領域42とドレイン領域40との間の電界強度が緩和され、ホットホールに起因する界面準位の発生が抑制される。
【選択図】図2
Description
Claims (4)
- 半導体基板の表面に形成された第1導電型の半導体領域からなる電荷蓄積領域と、
前記電荷蓄積領域に隣接して前記半導体基板の表面に設けられ、前記電荷蓄積領域から不要な信号電荷を排出するオーバーフロードレイン構造と、
を有し、
前記オーバーフロードレイン構造は、
印加される電圧に応じて電位を制御可能な第1導電型のドレイン領域と、
前記電荷蓄積領域と前記ドレイン領域との間に前記ドレイン領域の電位に応じた電位障壁を形成する第2導電型のバリア領域と、
前記バリア領域と前記ドレイン領域との境界部分に設けられ、前記バリア領域と前記ドレイン領域との間の不純物濃度変化を緩やかにするバッファ領域と、
を有すること、
を特徴とする固体撮像素子。 - 請求項1に記載の固体撮像素子において、
前記電荷蓄積領域は、フォトダイオード又はCCDシフトレジスタのチャネルを構成する不純物拡散層であること、を特徴とする固体撮像素子。 - 請求項1又は請求項2に記載の固体撮像素子を製造する製造方法であって、
前記ドレイン領域を形成する領域に対応した開口を有するレジスト層を前記半導体基板の表面に形成するマスク形成工程と、
前記レジスト層をマスクとして前記半導体基板に第1導電型の不純物イオンを高濃度に注入して前記ドレイン領域を形成するドレイン領域形成工程と、
前記レジスト層をマスクとして前記半導体基板に第1導電型の不純物イオンを前記ドレイン領域形成工程よりも低濃度に注入する工程であって、イオン注入方向を前記ドレイン領域形成工程におけるイオン注入方向よりも前記バリア領域へ向けて傾斜させ、前記ドレイン領域よりも前記バリア領域寄りの領域にイオン注入を行い、前記バッファ領域を形成するバッファ領域形成工程と、
を有することを特徴とする固体撮像素子の製造方法。 - 請求項1又は請求項2に記載の固体撮像素子を製造する製造方法であって、
前記ドレイン領域を形成する領域に対応した開口を有するレジスト層を前記半導体基板の表面に形成するマスク形成工程と、
前記レジスト層をマスクとして前記半導体基板に第1導電型の不純物イオンを高濃度に注入して前記ドレイン領域を形成するドレイン領域形成工程と、
前記ドレイン領域形成工程後、前記レジスト層に対するエッチング処理を行い、前記レジスト層の前記開口を前記バリア領域へ向けて拡大するマスク開口拡大工程と、
前記マスク開口拡大工程後、前記レジスト層をマスクとして前記半導体基板に第1導電型の不純物イオンを前記ドレイン領域形成工程よりも低濃度に注入して前記バッファ領域を形成するバッファ領域形成工程と、
を有することを特徴とする固体撮像素子の製造方法。
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---|---|---|---|---|
JP2001326344A (ja) * | 2000-03-22 | 2001-11-22 | Eastman Kodak Co | Lodブルーミング抑圧構造を備えるフル・フレーム型イメージセンサ用高速掃き出し構造 |
JP2003086782A (ja) * | 2001-08-31 | 2003-03-20 | Eastman Kodak Co | 破壊電圧を高めたccdデバイスの横型オーバーフロードレイン及びブルーミング防止構造 |
JP2003124451A (ja) * | 2001-08-31 | 2003-04-25 | Eastman Kodak Co | 電荷結合素子におけるブルーミング防止構造の生成方法 |
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2008
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