JP2009171868A - 温度制御装置および温度制御方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】メンテナンス労力を軽減するとともに、PCR制御における加熱・吸熱のサイクル速度を容易に速めることのできる温度制御装置を提供する。
【解決手段】温度制御対象物に接する面を備えた第1のペルチェ素子と、温度制御対象物に第1のペルチェ素子とは離れて接する面を備えた第2のペルチェ素子と、第1のペルチェ素子の面とは異なる他の面に接する第1の蓄熱手段と、第2のペルチェ素子の面とは異なる他の面に接する第2の蓄熱手段と、を備え、制御回路が、第1の蓄熱手段と、第2の蓄熱手段を異なる温度に制御する。
【選択図】図1

Description

本発明は、ペルチェ素子を用いて温度制御対象物を加熱および吸熱する温度制御装置および温度制御方法に関する。
DNA(デオキシリボ核酸)を増幅させるための技術としてPCR(ポリメラーゼ連鎖反応)法が存在する。このPCR法は、DNAを含む水溶液の温度を周期的に上下させることにより、短時間でDNAを増幅させることができる技術である。そして、このPCR法を用いて、DNAの任意の断片の増幅を行うにあたり、DNAを含む水溶液が格納されたPCR用容器に対して加熱または吸熱を行っている。なお、液冷式ヒートシンクを用いたPCRの制御において、流す液体の温度を制御する装置の技術が特許文献1に開示されている。
特開2007−110943号公報
しかしながら、上述の特許文献1による技術では、液冷式ヒートシンクに流す液体の温度を変えるための可動機構が必要になるため、加熱・吸熱のサイクルが可動機構の動作に左右され、加熱・吸熱のサイクル速度が遅い。また当該可動機構により構造的に複雑となり、メンテナンスに労力がかかるという問題がある。
そこでこの発明は、メンテナンス労力を軽減するとともに、PCR制御における加熱・吸熱のサイクル速度を容易に速めることのできる温度制御装置および温度制御方法を提供することを目的としている。
上記目的を達成するために、本発明は、温度制御対象物への加熱または前記温度制御対象物からの吸熱を行う温度制御装置であって、前記温度制御対象物に接する面を備えた第1のペルチェ素子と、前記温度制御対象物に前記第1のペルチェ素子とは離れて接する面を備えた第2のペルチェ素子と、前記第1のペルチェ素子の前記面とは異なる他の面に接する第1の蓄熱手段と、前記第2のペルチェ素子の前記面とは異なる他の面に接する第2の蓄熱手段と、を備え、前記第1の蓄熱手段と、前記第2の蓄熱手段を異なる温度に制御する制御手段と、を備えることを特徴とする温度制御装置である。
また本発明は、上述の温度制御装置において、前記第1の蓄熱手段が、蓄熱材とヒータとで構成されることを特徴とする。
また本発明は、上述の温度制御装置において、前記制御手段は、前記温度制御対象物への加熱を行う場合には、前記第1のペルチェ素子に対して、前記第2のペルチェ素子が移動させる熱より大きな熱を前記第1の蓄熱手段から前記温度制御対象物へ移動させるように電流を流す制御を行い、前記温度制御対象物からの吸熱を行う場合には、前記第2のペルチェ素子に対して、前記第1のペルチェ素子が移動させる熱より大きな熱を前記温度制御対象物から前記第2の蓄熱手段へ移動させるように電流を流す制御を行うことを特徴とする。
また本発明は、前記温度制御対象物に接する面を備えた第1のペルチェ素子と、前記温度制御対象物に前記第1のペルチェ素子とは離れて接する面を備えた第2のペルチェ素子と、前記第1のペルチェ素子の前記面とは異なる他の面に接する第1の蓄熱手段と、前記第2のペルチェ素子の前記面とは異なる他の面に接する第2の蓄熱手段と、を備えた温度制御装置が、温度制御対象物への加熱または前記温度制御対象物からの吸熱を行う温度制御方法であって、制御手段が、前記温度制御対象物への加熱を行う場合には前記第1のペルチェ素子が前記温度制御対象物より高い熱を発するよう電流を流す制御を行い、前記温度制御対象物からの吸熱を行う場合には前記第2のペルチェ素子が前記温度制御対象物より低い熱を発するよう電流を流す制御を行い、前記第1の蓄熱手段と、前記第2の蓄熱手段を異なる温度に制御することを特徴とする温度制御方法である。
本発明によれば、温度制御対象物を加熱・吸熱するための機構に機械的構造を不要としたため、故障がなく、管理者のメンテナンス労力を軽減することができる。また、第1のヒートシンクを用いて、ペルチェ素子の一方の面から他方の面への通常の物体における熱伝導の効果を利用することで、従来に比べて迅速に温度制御対象物の温度を増加させることができる。また、吸熱時において第2のペルチェ素子21の両面の温度差Tchip−Tsinkを負の値に安定させることができるため、1組のペルチェと空冷式ヒートシンクで加熱も吸熱も行う場合に比べて吸熱量Qchipを制御しやすくなる。
以下、本発明の一実施形態による温度制御装置を図面を参照して説明する。
図1は同実施形態による温度制御装置の構成を示す第1の図である。
この図は、2つのペルチェ素子と2つのヒートシンクを備え、また、温度制御対象物A(PCR容器;本実施形態においては化学反応用チップと呼ぶ)を配置した状態を示す温度制御装置の断面図を示している。図で示すように、温度制御装置は第1のモジュールと第2のモジュールの2つのモジュールから構成されており、第1のモジュール1は、第一のペルチェ素子11、第一のヒートシンク12(蓄熱材15、ヒータ16)、温度センサ13、14から構成されている。また、第2のモジュール2は、第2のペルチェ素子21、第2のヒートシンク22(フィン25、ファン26)、温度センサ23、24から構成されている。また、温度センサ12,13,23,24及びヒータ16,ファン26には制御回路30が接続されている。
本実施形態における温度制御装置は、第1のヒートシンク12の温度を温度制御対象物Aの化学反応用チップより高温に加熱して保温しておき、温度制御対象物Aの化学反応用チップを加熱するときは、第1のペルチェ素子11が発熱する様に電流を流して駆動し、また温度制御対象物Aの化学反応用チップから吸熱するときは、第2のペルチェ素子21が冷却する様に電流を流して駆動する。
図2は同実施形態による化学反応用チップの構成を示す図である。
この図は、温度制御対象物である化学反応用チップを示す図である。図2に示すように、化学反応用チップは、上板部1と下板部2の対応する面が接合して成る構造となっており、上板部1にはDNA水溶液の注入孔3が2つ備えられている。また、下板部2には水溶液が溜まる反応槽の凹部4が設けられている。図2においては簡略化して反応層の凹部4が3つのみ備えられた様子を示しているが、本実施系形態においては36個が備えられているものとする。
次に、図1を用いて、第1のヒートシンク12として十分に大きい熱容量をもつ蓄熱材15を用いる実施例について説明する。
ここで、蓄熱材15にはヒータ16が内蔵されている。蓄熱材15と第1のペルチェ素子11が接する箇所に温度センサ14が設置されており、この温度センサ14は第1のヒートシンク側の蓄熱材の温度を計測している。また温度センサ13は温度制御対象物Aである化学反応用チップの第1のヒートシンク側の面の温度を計測している。そして、制御回路30は、はじめに蓄熱材15が95℃に加熱されるようにヒータ16に電流を流し、その後は蓄熱材15が常時95℃に保温されるようにヒータ16に電流を流す。
このとき、温度制御対象物Aである化学反応用チップへの吸加熱量Qchipは、ペルチェ素子への入力電流をIin、ペルチェ素子の温度制御対象物側の温度をTchip、ペルチェ素子のヒートシンク側の温度をTsinkとすると、
chip={α×(Tchip+273)Iin}+{1/2×R×Iin
−{L×(Tchip−Tsink)}
で表すことができる。
この式においてαはペルチェ係数、Rは電気抵抗、1/Lが熱抵抗でありペルチェ素子に固有の値である。この式から分かるように、温度制御対象物Aである化学反応用チップへの吸加熱量Qchipは、『α×(Tchip+273)Iin』の第1項と、『1/2×R×Iin 』の第2項と、『−L×(Tchip−Tsink)』の第3項とにより表すことができる。ここで、第1項はペルチェ素子の一方の面から他方の面へ強制的に熱移動を行うペルチェ効果によるものである。また第2項はペルチェ素子に電流を流すことによりペルチェ素子自体が発生させるジュール熱によるものである。また第3項はペルチェ素子の一方の面から他方の面への通常の物体における熱伝導によるものである。そして、これら第1項〜第3項の効果により、温度制御対象物Aである化学反応用チップの温度が増減する。
そして、蓄熱材15が95℃に保温されている間に、式(1)で算出される吸加熱量Qchipの熱量が温度制御対象物Aである化学反応用チップに与えられ、これにより化学反応用チップの温度が増加する。なお、ペルチェ素子を用いて温度制御対象物である化学反応用チップの温度を制御する従来の技術においては、式(1)における第1項と第2項の効果を用いていたが、本実施形態においては、第1のヒートシンクを用いて式(1)の第3項の効果をもたらすことにより、従来に比べて迅速に化学反応用チップの温度を増加させることができる。
そして、温度センサ13が、温度制御対象物Aである化学反応用チップの第1のモジュール側の面の温度を計測し、制御回路30が温度センサ13の計測する温度を読み取る。そして制御回路30は、温度センサ13の温度が95℃に達してから15秒経過した後に、ヒータ16への電流を停止し、また第1のペルチェ素子11への電流を停止する。そして、制御回路30は、第2のペルチェ素子21がマイナスの温度を発するように電流を流す。そして、第2のペルチェ素子21は、上記式(1)の算出式による熱量を、温度制御対象物Aである化学反応用チップから温度を吸熱し、その熱をフィン25へ伝える。そしてフィン25と、ファン26により熱が放出される。70℃が45秒間続くと、ペルチェ素子21への電流を停止し、上記加熱の処理を再度行う。
なお、温度制御対象物Aである化学反応用チップとして、アルミ合金とポリカーボネイト樹脂を積層した厚さ1mmの板を用いる。化学反応用チップは微細加工されていて容量10マイクロリットルの反応槽36個をもち、それぞれの反応槽にPCR反応液が充填されている。そして制御回路30は、上記の加熱と吸熱の処理を繰り返す。ここで反応試薬のPCR工程は2温度設定、例えば(95℃15秒、70℃45秒)×30サイクルであるとする。
なお、上述の構成においては、温度制御対象物Aへの加熱を行う場合には、第1のペルチェ素子11に対して、第2のペルチェ素子21が移動させる熱より大きな熱を第1のヒートシンク12から温度制御対象物Aへ移動させるように電流を流す制御を行い、また、温度制御対象物Aからの吸熱を行う場合には、第2のペルチェ素子21に対して、第1のペルチェ素子11が移動させる熱より大きな熱を温度制御対象物Aから第2のヒートシンク22へ移動させるように電流を流す制御を行っている。
そして、この構成によれば、加熱時において第1のペルチェ素子11の両面の温度差Tchip−Tsinkを第1のヒートシンク12の蓄熱材15を備えることにより強制的に負の値にすることができるため、第1のペルチェ素子11に対して、従来と同じ電流値Iinを流したとしても、従来の1組のペルチェ素子11と空冷式ヒートシンクで加熱も吸熱も行う場合に比べて、加熱量Qchipが増加する。すなわち、温度制御対象物Aである化学反応用チップの加熱を高速化することができる。また空冷式ヒートシンクに比べて第1のヒートシンク12の温度を安定させることが出来るので、安定した加熱の制御を行うことができる。
図3は同実施形態による温度制御装置の構成を示す第2の図である。
図3で示す温度制御装置は、図1で示した温度制御装置における第2のペルチェ素子21とフィン25の間に蓄熱材27と第3のペルチェ素子28を備えるようにしたものである。図3で示す温度制御装置では、第2のペルチェ素子21が温度制御対象物Aである化学反応用チップから吸熱した熱を、一旦、蓄熱材27に蓄熱し、第3のペルチェ素子28により蓄熱材27の熱を吸熱して、フィン25、ファン26により熱を放出する。
実施例2の温度制御装置の構成によれば、吸熱時において第3のペルチェ素子に電流を流すことによって、第2のペルチェ素子から蓄熱材27に移動した熱を高速に吸熱することができる。つまり従来は室温に依存していた吸熱を、第3のペルチェ素子を利用して制御することができるので、吸熱を高速化することができ、さらに、その熱の移動の安定化を図ることができる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本温度制御装置によれば、温度制御対象物である化学反応用チップを加熱・吸熱するための機構に機械的構造を不要としたため、故障がなく、管理者のメンテナンス労力を軽減することができる。また、第1のヒートシンクを用いて、ペルチェ素子の一方の面から他方の面への通常の物体における熱伝導の効果を利用することで、従来に比べて迅速に温度制御対象物である化学反応用チップの温度を増加させることができる。また、吸熱時において第2のペルチェ素子21の両面の温度差Tchip−Tsinkを負の値に安定させることができるため、1組のペルチェ素子と空冷式ヒートシンクで加熱も吸熱も行う場合に比べて吸熱量Qchipを制御しやすくなる。
上述の温度制御装置における制御回路は内部に、コンピュータシステムを有している。そして、上述した処理の過程は、プログラムの形式でコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶されており、このプログラムをコンピュータが読み出して実行することによって、上記処理が行われる。ここでコンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、磁気ディスク、光磁気ディスク、CD−ROM、DVD−ROM、半導体メモリ等をいう。また、このコンピュータプログラムを通信回線によってコンピュータに配信し、この配信を受けたコンピュータが当該プログラムを実行するようにしても良い。
また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良い。さらに、前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル(差分プログラム)であっても良い。
温度制御装置の構成を示す第1の図である。 化学反応用チップの構成を示す図である。 温度制御装置の構成を示す第2の図である。
符号の説明
11・・・第1のペルチェ素子
12・・・第1のヒートシンク
13,14,23,24・・・温度センサ
15・・・蓄熱材
16ヒータ
21・・・第2のペルチェ素子
22・・・第2のヒートシンク
25・・・フィン
26・・・ファン
27・・・蓄熱材
28・・・第3のペルチェ素子
A・・・温度制御対象物

Claims (4)

  1. 温度制御対象物への加熱または前記温度制御対象物からの吸熱を行う温度制御装置であって、
    前記温度制御対象物に接する面を備えた第1のペルチェ素子と、
    前記温度制御対象物に前記第1のペルチェ素子とは離れて接する面を備えた第2のペルチェ素子と、
    前記第1のペルチェ素子の前記面とは異なる他の面に接する第1の蓄熱手段と、
    前記第2のペルチェ素子の前記面とは異なる他の面に接する第2の蓄熱手段と、を備え、
    前記第1の蓄熱手段と、前記第2の蓄熱手段を異なる温度に制御する制御手段と、
    を備えることを特徴とする温度制御装置。
  2. 前記第1の蓄熱手段が、蓄熱材とヒータとで構成されることを特徴とする請求項1に記載の温度制御装置。
  3. 前記制御手段は、
    前記温度制御対象物への加熱を行う場合には、前記第1のペルチェ素子に対して、前記第2のペルチェ素子が移動させる熱より大きな熱を前記第1の蓄熱手段から前記温度制御対象物へ移動させるように電流を流す制御を行い、
    前記温度制御対象物からの吸熱を行う場合には、前記第2のペルチェ素子に対して、前記第1のペルチェ素子が移動させる熱より大きな熱を前記温度制御対象物から前記第2の蓄熱手段へ移動させるように電流を流す制御を行う
    ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の温度制御装置。
  4. 前記温度制御対象物に接する面を備えた第1のペルチェ素子と、
    前記温度制御対象物に前記第1のペルチェ素子とは離れて接する面を備えた第2のペルチェ素子と、
    前記第1のペルチェ素子の前記面とは異なる他の面に接する第1の蓄熱手段と、
    前記第2のペルチェ素子の前記面とは異なる他の面に接する第2の蓄熱手段と、を備えた温度制御装置が、温度制御対象物への加熱または前記温度制御対象物からの吸熱を行う温度制御方法であって、
    制御手段が、
    前記温度制御対象物への加熱を行う場合には前記第1のペルチェ素子が前記温度制御対象物より高い熱を発するよう電流を流す制御を行い、
    前記温度制御対象物からの吸熱を行う場合には前記第2のペルチェ素子が前記温度制御対象物より低い熱を発するよう電流を流す制御を行い、
    前記第1の蓄熱手段と、前記第2の蓄熱手段を異なる温度に制御する
    ことを特徴とする温度制御方法。
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