JP2009162634A - 絶縁被覆プローブ針 - Google Patents

絶縁被覆プローブ針 Download PDF

Info

Publication number
JP2009162634A
JP2009162634A JP2008001040A JP2008001040A JP2009162634A JP 2009162634 A JP2009162634 A JP 2009162634A JP 2008001040 A JP2008001040 A JP 2008001040A JP 2008001040 A JP2008001040 A JP 2008001040A JP 2009162634 A JP2009162634 A JP 2009162634A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe needle
tip
insulating film
insulation
integrated circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008001040A
Other languages
English (en)
Inventor
Junichi Kujihashi
淳一 鬮橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to JP2008001040A priority Critical patent/JP2009162634A/ja
Publication of JP2009162634A publication Critical patent/JP2009162634A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

【課題】プローブ針先端部が接触しても通電リークが発生しないプローブ針を提供すること、および作業性が低下せず、有機溶剤や特殊な薬品を使用しない絶縁被覆プローブ針の製造方法を提供する。
【解決手段】集積回路の電極パッドと接触するプローブ針先端面4を除いたプローブ針1の外周面に絶縁皮膜3を設ける。これによって、プローブ針の先端部で通電リークが発生する問題が防止できる。また、先端部6をテーパ状に尖頭加工した後に、外周面に絶縁皮膜3を塗布し、次に先端面4の絶縁皮膜3を除去することで、集積回路の電極パッドと接触するプローブ針先端面4に絶縁皮膜3がなく、その他の部分は絶縁皮膜3で被覆されたプローブ針1が製造できる。
【選択図】図2

Description

本発明は、半導体ウエハ上の集積回路の通電検査のためのプローブカードに配設されるプローブ針およびその製造方法に関する。
IC,LSIといった集積回路を構成する半導体ウエハの製造工程において半導体ウエハ上の集積回路チップの通電検査(ウエハテスト)を行うために使用されているプローブカードは、プリント配線基板に数十本から数百本のプローブ針を配設したもので、プローバ(検査機)に搭載し、半導体ウエハ上の集積回路チップの各電極パッドにプローブ針の先端面を当接させて通電測定を行う。
そして、そのプローブカードに配設されるプローブ針には、従来から材質が硬くて弾力性のあるタングステン、レニウムタングステン、ベリリウム銅などが使用されている。
タングステン等のプローブ針は、例えば先端が尖頭加工され、その尖頭加工によりテーパ状となった部分の途中から先が検査すべき半導体ウエハ上の集積回路の電極パッドに当接するようカギ形に曲折され、尖頭加工されていない針胴部がハンダ付けにより基板のプリント配線に接続される。
ところで、プローブカードは、半導体ウエハ上に形成される集積回路の細密化によりプローブカードの針配列の狭ピッチ化が進んで、針間隔が益々狭密になってきた。これに伴って、針同士の接触による通電リークの問題が生じてきた。針同士の接触は、プローブカードの小型化によるプローブ針先端部のさらなる狭密化でプローブ針の先端部でも発生するようになってきた。
そのため、従来からリーク対策として、プローブ針表面に絶縁管(樹脂チューブ)を被せたり、塗装等によって絶縁材を被覆することが試みられている。
塗装等によって絶縁材を被覆するものとしては、例えば、特許文献1に、プローブ針本体を構成する芯線をポリイミド液に浸すことによってポリイミドを外周に付着させるようにしたものが記載され、特許文献2には、プローブ針胴部外表面に電着塗装によって絶縁皮膜を設けたプローブ針が記載されている。
通電リークの対策として、絶縁管(樹脂チューブ)を被せたり、プローブ針の外周に塗装等によって樹脂等を被覆して絶縁皮膜とすることが試みられているが、樹脂チューブを被せる方式は、プローブ針配列の狭ピッチ化により、針が細径化(線径0.05〜0.5mm程度)するのに伴って、絶縁工程における作業効率の大幅な低下を招くという問題を有している。
また、プローブ針の外周に塗装等によって樹脂等を被覆する方式や電着塗装による方式では、絶縁工程における作業効率の大幅な低下を招くことはないが、共に液体にプローブ針本体を構成する芯線を浸漬しなければならず、芯線の全表面に絶縁材が被覆されてしまう。したがって、絶縁材を塗布したのち、集積回路の電極パッドに当接する部分の絶縁材を取り除かなければならず、この絶縁材を取り除くための有機溶剤や特殊な薬品の管理上の問題が発生する。しかも薬品に浸漬して取り除くため、その処理上先端部近傍まで絶縁材が取り除かれてしまい、この部分で通電リークが発生してしまうという問題を有している。
特開2000−155130号公報 特開2002−168879号公報
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、プローブカードの小型化によりプローブ針先端部が接触しても通電リークが発生しないプローブ針を提供すること、および作業性が低下しないことは勿論のこと、有機溶剤や特殊な薬品を使用しないで集積回路の電極パッドに当接する部分の絶縁皮膜を取り除いた絶縁被覆プローブ針の製造方法を提供することを目的とする。
本発明は、半導体ウエハ上の集積回路の通電検査のためのプローブカードに配設される絶縁被覆プローブ針であって、集積回路の電極パッドと接触するプローブ針先端面を除いたプローブ針外周面に絶縁皮膜が設けられたことを特徴とする。
本発明のプローブ針は、集積回路の電極パッドと接触するプローブ針先端面を除いたプローブ針外周面に絶縁皮膜が設けられているので、プローブ針の先端部で通電リークが発生してしまうという問題が防止できる。
絶縁皮膜を施す部分はプローブ針先端面を除いた全ての部分でなくてよく、プリント配線基板の各電極にハンダ付けされる基端部側は絶縁皮膜がなくてもよい。
上記発明において、絶縁皮膜は電着塗装が好ましい。というのは、電着塗装によれば膜厚の均一な絶縁皮膜が得られ、そのため、膜厚を厚くしなくても十分な絶縁性が確保できるからである。電着塗装によればプローブ針配列の狭ピッチ化による針の細径化に対応できる。
また、本発明の絶縁被覆プローブ針の製造方法は、先端をテーパ状に尖頭加工した後に、外周面に絶縁皮膜を塗布し、次に集積回路の電極パッドと接触する先端面の絶縁皮膜を除去することを特徴とする。
上記製造方法によれば、集積回路の電極パッドと接触するプローブ針先端面に絶縁皮膜がなく、その他の部分は絶縁皮膜で被覆されたプローブ針が製造できる。
さらに、上記製造方法において、先端のテーパ部の折り曲げ加工は、外周面に絶縁皮膜を被覆する前でもよいし、被覆したのちでもよい。
また、上記製造方法において、集積回路の電極パッドと接触する先端面の絶縁皮膜を除去する手段は研磨が好ましい。というのは、研磨であれば有機溶剤や特殊な薬品を使用する必要がなく管理上の問題が発生せず、しかも集積回路の電極パッドと接触するプローブ針先端面のみ絶縁皮膜を除去することができるからである。
本発明のプローブ針は、集積回路の電極パッドと接触する先端面のみ絶縁皮膜がなく、その他の部分は絶縁皮膜で被覆されたプローブ針なので、プローブカードの小型化によってプローブ針先端部が接触しても通電リークが発生しない。
そして、本発明の絶縁被覆プローブ針の製造方法によれば、作業性が低下しないことは勿論のこと、有機溶剤や特殊な薬品を使用しないで集積回路の電極パッドに当接する部分の絶縁皮膜を取り除くことができる。
発明の実施の形態
以下、本発明の実施の形態の一例を図面に基づいて説明する。
図1〜図4は、本発明の実施の形態の一例を示すもので、図1はプローブ針の先端折り曲げ前のストレートな状態の平面図、図2(a)はプローブ針の研磨前の先端部の断面図で、図2(b)は、研磨後のプローブ針先端部の断面を示す断面図で、図3はプローブ針の先端面を研磨する方法の説明図、図4はプローブ針の折り曲げ後のハンダ付け説明図である。
図において1は、一般に「水平ニードル型」と総称するタイプのプローブカードに配設されるプローブ針である。プローブ針1は、半導体ウエハ上の集積回路チップの通電検査のためのプローブカードのプリント配線基板に数十本から数百本が所定ピッチで配列され、ハンダ付けされるものである。
プローブ針1は、母材2の材質が例えばタングステンで、線径が0.1〜0.7mm、全長25〜90mmである。そして、プローブ針1の先端部11は所定長さ(例えば0.3〜6mm)にわたって直線テーパ状に尖頭加工される。
そして、プローブ針1は、外表面に電着塗装によって絶縁皮膜3が設けられる。ハンダ付け性をより向上させる目的で、プローブ針1の外表面にまず電気メッキによってNiメッキ層や銅メッキ層(図省略)を設け、その上に電着塗装を設けてもよい。
電着塗装は、電着塗装液中にプローブ針の母材と電極を浸漬し、所定時間電圧を印加することによって行う。電着塗装としては、カルボキシル基、スルホン酸基、リン酸基等のアニオン性基を有する塗膜成分を含むアニオン系電着塗液であってよく、また、有機アンモニウム基、ピリジウム基等のカチオン性基を有する塗膜成分を含むカチオン系電着塗液であってもよい。
電着塗装によれば膜厚は均一にすることができる。絶縁皮膜3の膜厚は全体的に均一で、5〜50μm程度とするのがよい。膜厚の設定は電圧および通電時間の設定により調整可能である。
このように電着塗装による膜厚の均一な薄い絶縁皮膜3によって絶縁性を確保できる。絶縁性は膜厚5〜20μmで十分確保できる。
絶縁皮膜3を施す部分はプローブ針先端面4を除いた全て(先端部11と針胴部12)の部分でなくてよく、プリント配線基板の各電極にハンダ付けされる針胴部の基端側端部部5側(テーパ部と反対側)は絶縁皮膜3がなくてもよい。
こうして形成されたプローブ針1は、図1のストレートな状態から、尖頭加工された先端部6の途中から先が、検査すべき集積回路ウエハ上の電極パッド(図示せず)に当接するようカギ形に曲折される。
そして、先端曲折後の各プローブ針1は、先端部6を内側にしてプリント配線基板8上の所定位置に円形状に配列され、外側に向いた各プローブ針の針胴部7が、例えば図4に示すように基端側端部5をハンダ付け位置として、プリント配線基板8の各電極にハンダ付けされる。図4において8がハンダ付け部分である。
上記実施の形態の例は、絶縁塗装後に折り曲げ加工するものであるが、絶縁塗装をする前に折り曲げ加工するようにしてもよい。
また、本発明は、タングステンの他、レニウムタングステン、ベリリウム銅などを母材とするプローブ針に適用することもできる。
また、本発明は、尖頭加工しないプローブ針に対しても同様に適用できる。
また、本発明は、一般に「垂直ニードル型」と総称するタイプのプローブカードに配設されるプローブ針に対しても同様に適用できる。
また、本発明のプローブ針1は、断面形状が真円であってもよく、真円以外の異形断面形状を有するものであってもよい。真円以外の異形断面形状とは、例えば長丸(トラック形状)、楕円形、矩形などであり、他にも種々の形状を採択できる。そして、その異形断面形状を有するプローブ針は、プローブ針全長にわたって異形断面を有するものであってもよいし、部分的に異形断面を有するものであってもよい。部分的に異形断面を有するプローブ針としては、例えば針胴部が真円で先端部が異形断面のプローブ針がある。
本発明のプローブ針1は、先端部6をテーパ状に尖頭加工した後に、外周面に絶縁皮膜を塗布し、次に集積回路の電極パッドと接触する先端面4の絶縁皮膜を図3に示す研磨装置11によって除去することで製造できる。
研磨は、モータ(図省略)によって回転する円盤12上にボンド等によって微細な砥粒を固着させた研磨紙13をのせて回転させ、その回転する研磨紙13上にプローブ針1の先頭加工したテーパ部の先端面4を押し付けておこなう。図3(a)に示す研磨前のプローブ針1は、研磨されて図3(b)に示すようにプローブ針先端面4に絶縁皮膜がないプローブ針1が製造できる。研磨に際しては、摩擦による発熱を防止する目的で冷却水を研磨部に注ぐのがよい。研磨の手段は、上記の手段に限られるものではないのはいうまでもない。
本発明の実施の形態の一例のプローブ針の先端曲折前のストレートな状態の平面図である。 (a)はプローブ針の研磨前の先端部の断面図で、(b)は、研磨後のプローブ針先端部の断面を示す断面図である。 プローブ針の先端面を研磨する方法の説明図である。 図1および図2に示すプローブ針の先端曲折後のハンダ付けの説明図である。
符号の説明
1 プローブ針
2 母材
3 絶縁皮膜
4 先端面
5 基端側端部
6 先端部
7 針胴部
8 プリント配線基板
9 ハンダ
11 研磨装置
12 円盤
13 研磨紙

Claims (6)

  1. 半導体ウエハ上の集積回路の通電検査のためのプローブカードに配設される絶縁被覆プローブ針であって、集積回路の電極パッドと接触するプローブ針先端面を除いたプローブ針外周面に絶縁皮膜が設けられたことを特徴とする絶縁被覆プローブ針。
  2. 絶縁皮膜が電着塗装によるものである請求項1に記載の絶縁被覆プローブ針。
  3. 半導体ウエハ上の集積回路の通電検査のためのプローブカードに配設される絶縁被覆プローブ針の製造方法であって、先端をテーパ状に尖頭加工した後に、外周面に絶縁皮膜を塗布し、次に集積回路の電極パッドと接触する先端面の絶縁皮膜を除去することを特徴とする絶縁被覆プローブ針の製造方法。
  4. 外周面に絶縁皮膜を塗布する前、または外周面に絶縁皮膜を塗布した後に、先端のテーパ部に折り曲げ加工を施す請求項3に記載の絶縁被覆プローブ針の製造方法。
  5. 集積回路の電極パッドと接触する先端面の絶縁皮膜を除去する手段が研磨である請求項3に記載の絶縁被覆プローブ針の製造方法。
  6. 絶縁皮膜が電着塗装によるものである請求項3乃至5のいずれか1項に記載の絶縁被覆プローブ針の製造方法。
JP2008001040A 2008-01-08 2008-01-08 絶縁被覆プローブ針 Pending JP2009162634A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008001040A JP2009162634A (ja) 2008-01-08 2008-01-08 絶縁被覆プローブ針

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008001040A JP2009162634A (ja) 2008-01-08 2008-01-08 絶縁被覆プローブ針

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009162634A true JP2009162634A (ja) 2009-07-23

Family

ID=40965416

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008001040A Pending JP2009162634A (ja) 2008-01-08 2008-01-08 絶縁被覆プローブ針

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009162634A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102072634B1 (ko) * 2018-10-17 2020-02-03 한국생산기술연구원 부식 및 전기적 특성을 향상시킨 프로브카드 니들
CN112481582A (zh) * 2020-12-22 2021-03-12 珠海拓优电子有限公司 一种纳米涂层探针及其制备方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08285890A (ja) * 1995-04-10 1996-11-01 Tokyo Electron Ltd プローブカード
JP3038114U (ja) * 1996-11-22 1997-06-06 日本電子材料株式会社 絶縁性被膜付きプローブ及びこれを用いたプローブカード
JP2004138393A (ja) * 2002-10-15 2004-05-13 Umc Japan カンチレバー式プローブカード、およびその製造方法
JP2007322369A (ja) * 2006-06-05 2007-12-13 Totoku Electric Co Ltd コンタクトプローブ及びその製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08285890A (ja) * 1995-04-10 1996-11-01 Tokyo Electron Ltd プローブカード
JP3038114U (ja) * 1996-11-22 1997-06-06 日本電子材料株式会社 絶縁性被膜付きプローブ及びこれを用いたプローブカード
JP2004138393A (ja) * 2002-10-15 2004-05-13 Umc Japan カンチレバー式プローブカード、およびその製造方法
JP2007322369A (ja) * 2006-06-05 2007-12-13 Totoku Electric Co Ltd コンタクトプローブ及びその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102072634B1 (ko) * 2018-10-17 2020-02-03 한국생산기술연구원 부식 및 전기적 특성을 향상시킨 프로브카드 니들
CN112481582A (zh) * 2020-12-22 2021-03-12 珠海拓优电子有限公司 一种纳米涂层探针及其制备方法
CN112481582B (zh) * 2020-12-22 2024-04-05 珠海拓优电子有限公司 一种纳米涂层探针及其制备方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6305754B2 (ja) コンタクトプローブユニット
US20080106292A1 (en) Probe card having cantilever probes
KR101106970B1 (ko) 프로브, 프로브 카드 및 프로브의 제조방법
US20050162177A1 (en) Multi-signal single beam probe
JP5144997B2 (ja) コンタクトプローブユニット及びその製造方法
JP2007214571A (ja) 均一な共平面性を有する多層フリップチップバンプの高さを制御する方法及び関連装置
JP2008196905A (ja) コンタクトプローブ、その使用方法及びその製造方法
JP2009198238A (ja) プローブ針及びその製造方法
JP2007107937A (ja) プローブカードのプローブ交換方法及びプローブカード
JP5192899B2 (ja) プローブ針及びその製造方法
JP2009162634A (ja) 絶縁被覆プローブ針
JP2002168879A (ja) 絶縁被覆プローブピン
JP4919365B2 (ja) 半導体集積回路の製造方法
JP2009210443A (ja) コンタクトプローブ及びその製造方法
JP2008096293A (ja) 検査用接触子の製造方法、検査用接触子、検査用治具及び検査装置
JP2007155535A (ja) 検査治具および検査治具の製造方法
JP5640760B2 (ja) 試験用プローブカード、試験装置及び半導体装置の製造方法
JP2012052887A (ja) プローブ製造方法、プローブ構造体、プローブ装置、および試験装置
KR101164415B1 (ko) 프로브 카드
JP3902294B2 (ja) コンタクトプローブおよびその製造方法
JPH06302657A (ja) プローブカード及びその製造方法並びにプローブカードを用いたic検査方法
KR20130109773A (ko) 반도체 테스트용 mvp 프로브 보드 제조방법
US20240151743A1 (en) Probe card needle shape and method of manufacturing
JP2009156797A (ja) コンタクトピン用付着物除去具及びコンタクトピンの付着物除去方法
JP2005164473A (ja) プローブカード及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A625 Written request for application examination (by other person)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625

Effective date: 20101125

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120711

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20120731

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120921

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121225

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130206

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130924

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20140225