JP2009147387A - Multilayer printed wiring board and method for manufacturing multilayer printed wiring board - Google Patents

Multilayer printed wiring board and method for manufacturing multilayer printed wiring board Download PDF

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Yoko Nishiwaki
陽子 西脇
Kota Noda
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a highly reliable multilayer printed wiring board which prevents occurrence of a crack in a resin portion caused by having a roughened face different in an upper face and side faces of a lower layer conductor circuit. <P>SOLUTION: In a build-up multilayer printed wiring board in which a through-hole whose inside is filled with resin is provided, lower layer conductor circuits whose surfaces are roughened are provided on both sides of a substrate, and an interlayer resin insulating layer and an upper layer conductor circuit whose surface is roughened are further sequentially laminated, the upper face and side faces of the lower layer conductor circuit are roughened by the same type method of roughening. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、樹脂絶縁層のクラックの発生を防止することができる構造の導体回路を有する配線基板およびプリント配線板に関する。 The present invention relates to a wiring board and a printed wiring board having a conductor circuit having a structure capable of preventing the occurrence of cracks in a resin insulating layer.

近年、多層配線板の高密度化の要請から、いわゆる多層ビルドアップ配線基板と呼ばれる多層プリント配線板が注目されている。
この多層ビルドアップ配線基板は、コアと呼ばれる100〜1000μm程度のガラスクロス等で補強された樹脂基板の上に、銅等による配線層と層間樹脂絶縁層とが交互に積層され、コアを挟んだ配線層同士はスルーホールにより、また、層間樹脂絶縁層を挟んだ配線層はバイアホールにより、それぞれ電気的に接続されて構成されている。
2. Description of the Related Art In recent years, a multilayer printed wiring board called a so-called multilayer build-up wiring board has attracted attention because of demand for higher density of the multilayer wiring board.
In this multilayer build-up wiring board, copper and other wiring layers and interlayer resin insulation layers are alternately laminated on a resin substrate reinforced with a glass cloth of about 100 to 1000 μm called a core, and sandwich the core. The wiring layers are electrically connected by through holes, and the wiring layers sandwiching the interlayer resin insulation layer are electrically connected by via holes.

特許文献1等には、このような多層ビルドアップ配線基板を製造する方法が記載されている。
これらの公報によれば、まず、銅張積層板にスルーホールおよび導体回路を形成した後、スルーホールの内壁および導体回路表面を黒化−還元処理により粗化処理し、スルーホール内や導体回路間等に樹脂を充填した後、樹脂充填層を含む基板表面に研磨処理を施して樹脂充填層および導体回路を平坦化するとともに、樹脂充填層上面と導体回路上面とを同一平面化する。
Patent Document 1 and the like describe a method of manufacturing such a multilayer build-up wiring board.
According to these publications, first, after forming a through hole and a conductor circuit in a copper clad laminate, the inner wall of the through hole and the surface of the conductor circuit are roughened by blackening-reduction treatment, and the inside of the through hole and the conductor circuit are formed. After the resin is filled in between, the surface of the substrate including the resin filling layer is polished to flatten the resin filling layer and the conductor circuit, and the upper surface of the resin filling layer and the upper surface of the conductor circuit are flushed.

この後、層間樹脂絶縁層等との密着性を向上させるために、導体回路に黒化−還元処理とは異なる粗化処理を施した後、この導体回路と樹脂充填層の上に層間樹脂絶縁層を設け、バイアホール用貫通孔を形成するとともに、この層間樹脂絶縁層上にバイアホールを有する上層導体回路を形成していた。 Thereafter, in order to improve the adhesion with the interlayer resin insulation layer, etc., the conductor circuit is subjected to a roughening treatment different from the blackening-reduction treatment, and then the interlayer resin insulation is formed on the conductor circuit and the resin filling layer. A layer was provided to form a through hole for a via hole, and an upper conductor circuit having a via hole was formed on the interlayer resin insulating layer.

上記製造方法により多層プリント配線板を製造する際に、スルーホールの内壁には大きな応力は発生せず、層間樹脂絶縁層を粗化するために用いられる粗化液とも接触しにくいため、上記黒化−還元処理により粗化面を形成すれば、内部に充填された樹脂を充分に保持することができ、樹脂充填剤にクラック等の発生もない。 When a multilayer printed wiring board is manufactured by the above manufacturing method, no large stress is generated on the inner wall of the through hole, and it is difficult to contact the roughening liquid used to roughen the interlayer resin insulation layer. If the roughened surface is formed by the conversion-reduction treatment, the resin filled inside can be sufficiently retained, and the resin filler does not generate cracks or the like.

一方、下層導体回路の表面は、製造過程において各種粗化液と接触したり、熱履歴等により応力が発生したり、その上に層間樹脂絶縁層やバイアホールが形成されるため、より強固な粗化方法(例えば、Cu−Ni−P合金からなる針状または多孔質状めっき、有機酸と第二銅錯体による酸素共存下でのエッチング処理)が必要とされていた。 On the other hand, the surface of the lower conductor circuit is in contact with various roughening liquids in the manufacturing process, stress is generated due to thermal history, etc., and an interlayer resin insulation layer and via holes are formed thereon, so that the surface is stronger. A roughening method (for example, acicular or porous plating made of a Cu—Ni—P alloy, etching treatment in the presence of oxygen with an organic acid and a cupric complex) has been required.

特開平6−283860号公報JP-A-6-283860

しかしながら、このような方法で製造した多層プリント配線板では、導体回路の側面と上面とで粗化方法が異なっているため、ヒートサイクル時に導体回路の上面と側面とで膨張や収縮の程度や方向が異なる。
従って、これに伴って導体回路と接触している樹脂の膨張や収縮が側面近傍と上面近傍とで異なることとなり、このような膨張や収縮の程度の差に起因して境界部分の樹脂に大きな応力が発生し、境界部分の層間樹脂絶縁層にクラックが発生することがあった。
However, in the multilayer printed wiring board manufactured by such a method, since the roughening method is different between the side surface and the top surface of the conductor circuit, the degree and direction of expansion and contraction between the top surface and the side surface of the conductor circuit during the heat cycle. Is different.
Accordingly, the expansion and contraction of the resin that is in contact with the conductor circuit is different between the vicinity of the side surface and the vicinity of the upper surface, and this causes a large difference in the resin at the boundary due to the difference in the degree of expansion and contraction. Stress was generated, and cracks sometimes occurred in the interlayer resin insulation layer at the boundary.

また、このような従来の方法では、スルーホール内と導体回路間とに樹脂を充填した後、樹脂充填層を研磨除去するとともに、導体回路の上部も研磨除去し、導体回路上面と樹脂充填層上面とを同一平面とするため、研磨工程が複雑化し、導体回路の研磨の際に発生した金属の破片が樹脂充填層に突き刺さり、導体回路間のショートが発生する等の事故も発生しやすかった。 Further, in such a conventional method, after filling the resin in the through hole and between the conductor circuits, the resin filling layer is polished and removed, and the upper part of the conductor circuit is also polished and removed, so that the upper surface of the conductor circuit and the resin filling layer are removed. Since the upper surface is the same plane, the polishing process is complicated, and metal fragments generated during polishing of the conductor circuit pierce the resin-filled layer, and accidents such as short circuits between the conductor circuits are likely to occur. .

本発明は、このような従来技術の問題点を解決するためになされたものであり、その目的は、下層導体回路の上面と側面とが異なる粗化面を有することに起因する樹脂部分のクラックの発生を防止することができる、信頼性の高い多層プリント配線板、および、より簡略化された方法により上記多層プリント配線板を安価に製造することができる多層プリント配線板の製造方法を提供することにある。 The present invention has been made to solve such problems of the prior art, and its purpose is to crack the resin portion due to the fact that the upper surface and the side surface of the lower conductor circuit have different roughened surfaces. The present invention provides a highly reliable multilayer printed wiring board that can prevent the occurrence of the above, and a multilayer printed wiring board manufacturing method that can manufacture the multilayer printed wiring board at a low cost by a more simplified method. There is.

発明者らは、上記目的の実現に向け鋭意研究した結果、以下に示す内容を要旨構成とする発明に想到した。
即ち、本発明の多層プリント配線板は、内部に樹脂が充填されたスルーホールが設けられるとともに、表面が粗化された下層導体回路が両面に設けられた基板上に、さらに層間樹脂絶縁層及び表面が粗化された上層導体回路が順次積層形成されてなるビルドアップ多層プリント配線板において、
上記下層導体回路の上面と側面とが同種類の粗化方法により粗化されていることを特徴とする。
As a result of intensive research aimed at realizing the above object, the inventors have come up with an invention having the following contents as a gist.
That is, the multilayer printed wiring board of the present invention is provided with a through hole filled with a resin inside, and on a substrate provided with a lower-layer conductor circuit with a roughened surface on both sides, an interlayer resin insulation layer and In the build-up multilayer printed wiring board in which the upper layer conductor circuit whose surface is roughened is sequentially laminated and formed,
The upper surface and the side surface of the lower conductor circuit are roughened by the same kind of roughening method.

上記多層プリント配線板において、上記下層導体回路の厚さは、30μm以下であることが望ましい。 In the multilayer printed wiring board, the thickness of the lower conductor circuit is preferably 30 μm or less.

本発明の多層プリント配線板の製造方法は、金属層が形成された基板にスルーホール用貫通孔を形成し、
上記スルーホール用貫通孔の内壁を含む基板表面に金属層を形成してスルーホールを設け、
上記スルーホールの内壁を含む基板表面を粗化し、
粗化されたスルーホールの内部に樹脂を充填した後、基板表面を平滑化し、
平滑化された基板表面の金属層をエッチング処理して下層導体回路を形成し、
形成された上記下層導体回路の上面および側面を同時に粗化処理し、
粗化処理された下層導体回路を含む基板面に層間樹脂絶縁層と上層導体回路とを順次積層形成することを特徴とする。
The method for producing a multilayer printed wiring board of the present invention forms a through hole for a through hole on a substrate on which a metal layer is formed,
Forming a metal layer on the substrate surface including the inner wall of the through hole for the through hole to provide a through hole,
Roughening the substrate surface including the inner wall of the through hole,
After filling the inside of the roughened through hole with resin, the substrate surface is smoothed,
Etch the metal layer on the smoothed substrate surface to form the lower conductor circuit,
Simultaneously roughening the upper surface and side surfaces of the formed lower conductor circuit,
An interlayer resin insulation layer and an upper layer conductor circuit are sequentially stacked on the substrate surface including the roughened lower layer conductor circuit.

本発明の多層プリント配線板の製造方法においては、スルーホール用貫通孔を形成する前に、金属層が形成された基板をエッチング処理することにより、上記金属層の厚さを1〜10μmに調整することが望ましい。 In the method for producing a multilayer printed wiring board according to the present invention, the thickness of the metal layer is adjusted to 1 to 10 μm by etching the substrate on which the metal layer is formed before forming the through hole for the through hole. It is desirable to do.

また、上記多層プリント配線板の製造方法においては、層間樹脂絶縁層を形成した後、上記層間樹脂絶縁層が形成された基板をプレス処理することにより、上記層間樹脂絶縁層の表面を平坦化することが望ましい。 In the method of manufacturing a multilayer printed wiring board, after the interlayer resin insulation layer is formed, the substrate on which the interlayer resin insulation layer is formed is pressed to flatten the surface of the interlayer resin insulation layer. It is desirable.

本発明の多層プリント配線板によれば、下層導体回路の上面と側面とが異なる粗化面を有することに起因する樹脂部分のクラックの発生を防止することができる、信頼性の高い多層プリント配線板を提供することができる。 According to the multilayer printed wiring board of the present invention, a highly reliable multilayer printed wiring which can prevent the occurrence of cracks in the resin portion due to the roughened surface being different from the upper surface and the side surface of the lower conductor circuit. Board can be provided.

また、本発明の多層プリント配線板の製造方法によれば、簡略化された工程により、信頼性の高い多層プリント配線板を安価に製造することができる。 Moreover, according to the method for producing a multilayer printed wiring board of the present invention, a highly reliable multilayer printed wiring board can be produced at a low cost by a simplified process.

(a)〜(e)は、本発明の配線基板の製造工程の一例を示す断面図である。(A)-(e) is sectional drawing which shows an example of the manufacturing process of the wiring board of this invention. (a)〜(d)は、本発明のプリント配線板の製造工程の一部を示す断面図である。(A)-(d) is sectional drawing which shows a part of manufacturing process of the printed wiring board of this invention. (a)〜(d)は、本発明のプリント配線板の製造工程の一部を示す断面図である。(A)-(d) is sectional drawing which shows a part of manufacturing process of the printed wiring board of this invention. (a)〜(d)は、本発明のプリント配線板の製造工程の一部を示す断面図である。(A)-(d) is sectional drawing which shows a part of manufacturing process of the printed wiring board of this invention. (a)〜(c)は、本発明のプリント配線板の製造工程の一部を示す断面図である。(A)-(c) is sectional drawing which shows a part of manufacturing process of the printed wiring board of this invention. (a)〜(c)は、本発明のプリント配線板の製造工程の一部を示す断面図である。(A)-(c) is sectional drawing which shows a part of manufacturing process of the printed wiring board of this invention. (a)〜(d)は、比較例に係る多層プリント配線板の製造工程の一部を示す断面図である。(A)-(d) is sectional drawing which shows a part of manufacturing process of the multilayer printed wiring board which concerns on a comparative example.

本発明の多層プリント配線板は、内部に樹脂が充填されたスルーホールが設けられるとともに、表面が粗化された下層導体回路が両面に設けられた基板上に、さらに層間樹脂絶縁層及び表面が粗化された上層導体回路が順次積層形成されてなるビルドアップ多層プリント配線板において、
上記下層導体回路の上面と側面とが同種類の粗化方法により粗化されていることを特徴とする。
The multilayer printed wiring board of the present invention is provided with a through-hole filled with a resin inside, and on a substrate provided with a lower layer conductor circuit having a roughened surface on both sides, an interlayer resin insulation layer and a surface further In a build-up multilayer printed wiring board in which roughened upper layer conductor circuits are sequentially laminated,
The upper surface and the side surface of the lower conductor circuit are roughened by the same kind of roughening method.

このような本発明の構成によれば、下層導体回路の上面と側面とが同種類の粗化方法により粗化されているので、ヒートサイクル時にも、上記下層導体回路の上面の近傍に存在する樹脂と側面の近傍に存在する樹脂とで、膨張、収縮の程度は殆ど異ならないため、樹脂に大きな応力は発生せず、従って、下層導体回路に接する層間樹脂絶縁層にクラックが発生することはない。 According to such a configuration of the present invention, since the upper surface and the side surface of the lower conductor circuit are roughened by the same type of roughening method, they exist in the vicinity of the upper surface of the lower conductor circuit even during a heat cycle. Since the degree of expansion and contraction is almost the same between the resin and the resin in the vicinity of the side surface, no large stress is generated in the resin, and therefore cracks occur in the interlayer resin insulation layer in contact with the lower conductor circuit. Absent.

上記多層プリント配線板において、下層導体回路上に形成する層間樹脂絶縁層上面の平坦性を保つためには、上記下層導体回路の厚さが薄い方が望ましく、そのの厚さは、具体的には、30μm以下であることが望ましい。 In the multilayer printed wiring board, in order to maintain the flatness of the upper surface of the interlayer resin insulation layer formed on the lower layer conductor circuit, it is desirable that the thickness of the lower layer conductor circuit is thin. Is preferably 30 μm or less.

本発明の多層プリント配線板の製造方法は、金属層が形成された基板にスルーホール用貫通孔を形成し、上記スルーホール用貫通孔の内壁を含む基板表面に金属層を形成してスルーホールを設け、上記スルーホールの内壁を含む基板表面を粗化し、粗化されたスルーホールの内部に樹脂を充填した後、基板表面を平滑化し、平滑化された基板表面の金属層をエッチング処理して下層導体回路を形成し、形成された上記下層導体回路の上面および側面を同時に粗化処理し、粗化処理された下層導体回路を含む基板面に層間樹脂絶縁層と上層導体回路とを順次積層形成することを特徴とする。
このような本発明の構成によれば、より簡略化された方法により、信頼性の高い上記多層プリント配線板を安価に製造することができる。
In the method for producing a multilayer printed wiring board of the present invention, a through hole for a through hole is formed on a substrate on which a metal layer is formed, and the metal layer is formed on the surface of the substrate including the inner wall of the through hole for the through hole. After roughening the substrate surface including the inner wall of the through hole, filling the inside of the roughened through hole with resin, the substrate surface is smoothed, and the metal layer on the smoothed substrate surface is etched. Forming a lower conductor circuit, and simultaneously roughening the upper and side surfaces of the formed lower conductor circuit, and sequentially placing the interlayer resin insulation layer and the upper conductor circuit on the substrate surface including the roughened lower conductor circuit. It is characterized by being laminated.
According to the configuration of the present invention, the highly reliable multilayer printed wiring board can be manufactured at a low cost by a more simplified method.

以下、本発明の多層プリント配線板を製造する方法について説明する。
(1) まず、スルーホールが形成され、かつ、基板の両面全体に金属層が形成された基板を作製する。
通常は、銅張積層板等の金属層が形成された基板にスルーホール用貫通孔を形成した後、無電解めっきを施すことによりスルーホールを形成するが、ガラスエポキシ基板、ポリイミド基板、セラミック基板などの基板に無電解めっき用接着剤層を形成し、スルーホール用貫通孔を形成した後、この無電解めっき用接着剤層表面を粗化して粗化面とし、その後、無電解めっきを施す方法等を用いることもできる。
銅張積層板を用いた場合、無電解めっきにより表面の導体層も厚くなるので、無電解めっきを施す前に、エッチングにより導体層の厚さを1〜10μm程度に薄くしておくことが望ましい。
Hereinafter, a method for producing the multilayer printed wiring board of the present invention will be described.
(1) First, a substrate in which through holes are formed and metal layers are formed on both surfaces of the substrate is manufactured.
Normally, through holes for through holes are formed on a substrate on which a metal layer such as a copper clad laminate is formed, and then through holes are formed by electroless plating, but glass epoxy substrates, polyimide substrates, ceramic substrates After forming an electroless plating adhesive layer on a substrate such as a through-hole, the surface of the electroless plating adhesive layer is roughened to a roughened surface, and then electroless plating is performed. A method or the like can also be used.
When a copper clad laminate is used, the conductive layer on the surface is also thickened by electroless plating. Therefore, it is desirable to reduce the thickness of the conductive layer to about 1 to 10 μm by etching before performing electroless plating. .

(2) 上記(1) の工程の後、スルーホール内の導体層を粗化する。
上記粗化方法は特に限定されるものではなく、例えば、エッチング処理、黒化還元処理、めっき処理等が挙げられるが、スルーホール内の粗化は、余り凹凸の高さの高い粗化面を形成する必要はないので、上記黒化還元処理等を用いて粗化面を形成することができる。
(2) After the step (1), the conductor layer in the through hole is roughened.
The roughening method is not particularly limited, and examples thereof include etching treatment, blackening reduction treatment, plating treatment, and the like, but roughening in the through hole is a roughened surface with a very high unevenness. Since it is not necessary to form, the roughened surface can be formed by using the blackening reduction treatment or the like.

上記黒化還元処理を行う際には、NaOH(20g/l)、NaClO(50g/l)、NaPO(15.0g/l)を含む水溶液からなる黒化浴(酸化浴)、および、NaOH(2.7g/l)、NaBH(1.0g/l)を含む水溶液からなる還元浴を用いて粗化面を形成する方法が望ましい。 When performing the blackening reduction treatment, a blackening bath (oxidation bath) made of an aqueous solution containing NaOH (20 g / l), NaClO 2 (50 g / l), Na 3 PO 4 (15.0 g / l), and, NaOH (2.7g / l), a method of forming a roughened surface by using a reducing bath of an aqueous solution containing NaBH 4 a (1.0 g / l) is desired.

(3) 上記粗化処理の後、スルーホール内に樹脂充填材を充填し、乾燥させた後、基板の両面の平坦化を行い、続いてエッチングにより導体回路を形成する。
スルーホール内を充填するために用いる樹脂充填材は、特に限定されるものではないが、例えば、ビスフェノールF型エポキシ樹脂等を主成分とする余り粘度の高くないものが挙げられる。
(3) After the roughening treatment, a resin filler is filled into the through hole and dried, and then both surfaces of the substrate are flattened, and then a conductor circuit is formed by etching.
The resin filler used for filling the inside of the through hole is not particularly limited, and examples thereof include a material having a bisphenol F type epoxy resin or the like as a main component and not having a high viscosity.

基板表面の導体層の平坦化は、研磨処理により行うことができ、下層導体回路は、表面に導体回路パターン状のエッチングレジストを形成した後、エッチングを行うことにより形成することができる。
この工程により形成される導体回路の厚さは、従来のものに比べて薄くすることが望ましく、30μm以下が望ましい。層間樹脂絶縁層を形成する場合に、導体回路が形成された部分とそうでない部分との間で凹凸が余り大きくならないようにするためである。
The planarization of the conductor layer on the surface of the substrate can be performed by polishing treatment, and the lower layer conductor circuit can be formed by performing etching after forming a conductor circuit pattern-like etching resist on the surface.
The thickness of the conductor circuit formed by this process is preferably thinner than the conventional one, and is preferably 30 μm or less. This is because when the interlayer resin insulation layer is formed, the unevenness is not excessively increased between the portion where the conductor circuit is formed and the portion where the conductor circuit is not formed.

(4) 上記(3) の工程の後、基板上に形成された導体回路に粗化処理を施し、粗化面または粗化層を形成する。
上記粗化面または粗化層は、研磨処理、エッチング処理、黒化還元処理およびめっき処理のうちのいずれかの方法により形成されることが望ましい。
(4) After the step (3), the conductor circuit formed on the substrate is roughened to form a roughened surface or a roughened layer.
The roughened surface or the roughened layer is preferably formed by any one of a polishing process, an etching process, a blackening reduction process, and a plating process.

上記めっき処理により粗化層を形成する際には、硫酸銅(1〜40g/l)、硫酸ニッケル(0.1〜6.0g/l)、クエン酸(10〜20g/l)、次亜リン酸ナトリウム(10〜100g/l)、ホウ酸(10〜40g/l)、界面活性剤(日信化学工業社製、サーフィノール465)(0.01〜10g/l)を含むpH=9の無電解めっき浴にて無電解めっきを施し、Cu−Ni−P合金からなる粗化層を形成する方法が望ましい。
この範囲で析出する被膜の結晶構造は針状構造になるため、アンカー効果に優れるからである。この無電解めっき浴には上記化合物に加えて錯化剤や添加剤を加えてもよい。
When the roughening layer is formed by the above plating treatment, copper sulfate (1 to 40 g / l), nickel sulfate (0.1 to 6.0 g / l), citric acid (10 to 20 g / l), hypochlorous acid, PH = 9 containing sodium phosphate (10-100 g / l), boric acid (10-40 g / l), surfactant (manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd., Surfinol 465) (0.01-10 g / l) A method of forming a roughened layer made of a Cu-Ni-P alloy by performing electroless plating in an electroless plating bath is desirable.
This is because the crystal structure of the coating deposited in this range becomes a needle-like structure, and thus the anchor effect is excellent. In addition to the above compounds, complexing agents and additives may be added to the electroless plating bath.

上記黒化還元処理を行う際には、上記(2) の工程において、スルーホール内に粗化面を形成した際の条件と同様の条件を用いることができる。 When performing the blackening reduction treatment, conditions similar to the conditions for forming a roughened surface in the through hole can be used in the step (2).

上記エッチング処理の方法としては、第二銅錯体および有機酸からなるエッチング液を酸素共存化で作用させる方法が挙げられる。この場合、上記エッチング液をスプレーすることにより導体回路に粗化面を形成する方法が望ましい。
この場合、下記の式(1)および式(2)の化学反応によりエッチングが進行する。
Examples of the etching treatment include a method in which an etching solution composed of a cupric complex and an organic acid is allowed to act in the presence of oxygen. In this case, a method of forming a roughened surface on the conductor circuit by spraying the etching solution is desirable.
In this case, etching proceeds by the chemical reaction of the following formulas (1) and (2).

Figure 2009147387
Figure 2009147387

上記第二銅錯体としては、アゾール類の第二銅錯体が望ましい。このアゾール類の第二銅錯体は、金属銅等を酸化する酸化剤として作用する。アゾール類としては、例えば、ジアゾール、トリアゾール、テトラゾールが挙げられる。これらのなかでも、イミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール等が望ましい。上記エッチング液中のアゾール類の第二銅錯体の含有量は、1〜15重量%が望ましい。溶解性および安定性に優れ、また、触媒核を構成するPdなどの貴金属をも溶解させることができるからである。 The cupric complex is preferably an azole cupric complex. This cupric complex of azoles acts as an oxidizing agent that oxidizes metallic copper and the like. Examples of azoles include diazole, triazole, and tetrazole. Among these, imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-undecylimidazole and the like are desirable. As for content of the cupric complex of azoles in the said etching liquid, 1 to 15 weight% is desirable. This is because it is excellent in solubility and stability and can also dissolve noble metals such as Pd constituting the catalyst nucleus.

また、酸化銅を溶解させるために、有機酸をアゾール類の第二銅錯体に配合する。上記有機酸の具体例としては、例えば、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、カプロン酸、アクリル酸、クロトン酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、マレイン酸、安息香酸、グリコール酸、乳酸、リンゴ酸、スルファミン酸等が挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。 Moreover, in order to dissolve copper oxide, an organic acid is blended with a cupric complex of azoles. Specific examples of the organic acid include, for example, formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, caproic acid, acrylic acid, crotonic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid, maleic acid, benzoic acid, Examples include glycolic acid, lactic acid, malic acid, and sulfamic acid. These may be used alone or in combination of two or more.

エッチング液中の有機酸の含有量は、0.1〜30重量%が望ましい。酸化された銅の溶解性を維持し、かつ溶解安定性を確保することができるからである。
上記式(2)に示したように、発生した第一銅錯体は、酸の作用で溶解し、酸素と結合して第二銅錯体となって、再び銅の酸化に寄与する。
The content of the organic acid in the etching solution is desirably 0.1 to 30% by weight. This is because the solubility of oxidized copper can be maintained and the dissolution stability can be ensured.
As shown in the above formula (2), the generated cuprous complex is dissolved by the action of an acid, combined with oxygen to become a cupric complex, and again contributes to the oxidation of copper.

銅の溶解やアゾール類の酸化作用を補助するために、ハロゲンイオン、例えば、フッ素イオン、塩素イオン、臭素イオン等を上記エッチング液に加えてもよい。また、塩酸、塩化ナトリウム等を添加することにより、ハロゲンイオンを供給することができる。エッチング液中のハロゲンイオンの含有量は、0.01〜20重量%が望ましい。形成された粗化面と層間樹脂絶縁層との密着性に優れるからである。 In order to assist the dissolution of copper and the oxidizing action of azoles, halogen ions such as fluorine ions, chlorine ions and bromine ions may be added to the etching solution. In addition, halogen ions can be supplied by adding hydrochloric acid, sodium chloride, or the like. The halogen ion content in the etching solution is preferably 0.01 to 20% by weight. This is because the adhesion between the formed roughened surface and the interlayer resin insulation layer is excellent.

エッチング液を調製する際には、アゾール類の第二銅錯体と有機酸(必要に応じてハロゲンイオンを有するものを使用)を、水に溶解する。また、上記エッチング液として、市販のエッチング液、例えば、メック社製、商品名「メック エッチボンド」を使用する。上記エッチング液を用いた場合のエッチング量は0.1〜10μmが望ましく、1〜5μmがより望ましい。エッチング量が10μmを超えると、形成された粗化面とバイアホール導体との接続不良を起こし、一方、エッチング量が0.1μm未満では、その上に形成する層間樹脂絶縁層との密着性が不充分となるからである。 When preparing the etching solution, a cupric complex of azoles and an organic acid (use one having a halogen ion if necessary) are dissolved in water. Further, as the etching solution, a commercially available etching solution, for example, trade name “MEC Etch Bond” manufactured by MEC is used. The etching amount when the above etching solution is used is preferably 0.1 to 10 μm, and more preferably 1 to 5 μm. If the etching amount exceeds 10 μm, poor connection between the formed rough surface and the via-hole conductor is caused. On the other hand, if the etching amount is less than 0.1 μm, the adhesion with the interlayer resin insulation layer formed thereon is poor. This is because it becomes insufficient.

上記方法により形成される粗化面は、イオン化傾向が銅より大きくチタン以下である金属または貴金属の層(以下、金属層という)で被覆されていてもよい。このような金属としては、例えば、チタン、アルミニウム、亜鉛、鉄、インジウム、タリウム、コバルト、ニッケル、スズ、鉛、ビスマスなどが挙げられる。また、貴金属としては、例えば、金、銀、白金、パラジウムなどが挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種以上を併用して複数の層を形成してもよい。 The roughened surface formed by the above method may be covered with a metal or noble metal layer (hereinafter referred to as a metal layer) having an ionization tendency larger than copper and equal to or less than titanium. Examples of such metals include titanium, aluminum, zinc, iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, and bismuth. Moreover, as a noble metal, gold | metal | money, silver, platinum, palladium etc. are mentioned, for example. These may be used alone or in combination of two or more to form a plurality of layers.

これらの金属層は粗化層を被覆し、層間樹脂絶縁層を粗化処理しても局部電極反応を防止して導体回路の溶解を防止する。これらの金属の厚さは0.1〜2μmが望ましい。 These metal layers cover the roughened layer, and even if the interlayer resin insulating layer is roughened, the local electrode reaction is prevented and the conductor circuit is prevented from dissolving. The thickness of these metals is preferably 0.1 to 2 μm.

上記金属層を構成する金属のなかでは、スズが望ましい。スズは無電解置換めっきにより薄い層を形成することができ、粗化層に追従することができるたらである。
スズからなる金属層を形成する場合は、ホウフッ化スズ−チオ尿素を含む溶液、または、塩化スズ−チオ尿素を含む溶液を使用して置換めっきを行う。この場合、Cu−Snの置換反応により、0.1〜2μm程度のSn層が形成される。
貴金属からなる金属層を形成する場合は、スパッタや蒸着などの方法を採用することができる。
Of the metals constituting the metal layer, tin is desirable. When tin can form a thin layer by electroless displacement plating and can follow the roughened layer.
In the case of forming a metal layer made of tin, displacement plating is performed using a solution containing tin borofluoride-thiourea or a solution containing tin chloride-thiourea. In this case, an Sn layer of about 0.1 to 2 μm is formed by the substitution reaction of Cu—Sn.
In the case of forming a metal layer made of a noble metal, a method such as sputtering or vapor deposition can be employed.

(5) 上記のようにして形成した粗化面を有する導体回路を含む基板面に有機溶剤を含む粗化面形成用樹脂組成物を塗布、乾燥して粗化面形成用樹脂組成物の層を設ける。 (5) A roughened surface-forming resin composition layer is formed by applying and drying a roughened surface-forming resin composition containing an organic solvent on a substrate surface including a conductor circuit having a roughened surface formed as described above. Is provided.

上記粗化面形成用樹脂組成物は、酸、アルカリおよび酸化剤から選ばれる少なくとも1種からなる粗化液に対して難溶性の未硬化の耐熱性樹脂マトリックス中に、酸、アルカリおよび酸化剤から選ばれる少なくとも1種からなる粗化液に対して可溶性の物質が分散されたものが望ましい。
なお、本発明で使用する「難溶性」「可溶性」という語は、同一の粗化液に同一時間浸漬した場合に、相対的に溶解速度の早いものを便宜上「可溶性」といい、相対的に溶解速度の遅いものを便宜上「難溶性」と呼ぶ。
The resin composition for forming a roughened surface comprises an acid, an alkali, and an oxidizing agent in an uncured heat-resistant resin matrix that is hardly soluble in a roughening liquid consisting of at least one selected from acids, alkalis, and oxidizing agents. A material in which a substance soluble in at least one roughening liquid selected from the above is dispersed is desirable.
As used herein, the terms “sparingly soluble” and “soluble” refer to the term “soluble” for the sake of convenience when the dissolution rate is relatively high when immersed in the same roughening solution for the same time. Those having a low dissolution rate are referred to as “slightly soluble” for convenience.

上記耐熱性樹脂マトリックスとしては、例えば、熱硬化性樹脂や熱硬化性樹脂(熱硬化基の一部を感光化したものも含む)と熱可塑性樹脂との複合体などを使用することができる。 As the heat-resistant resin matrix, for example, a thermosetting resin or a composite of a thermosetting resin (including those obtained by sensitizing part of a thermosetting group) and a thermoplastic resin can be used.

上記熱硬化性樹脂としては、例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、熱硬化性ポリオレフィン樹脂などが挙げられる。また、上記熱硬化性樹脂を感光化する場合は、メタクリル酸やアクリル酸などを用い、熱硬化基を(メタ)アクリル化反応させる。特にエポキシ樹脂の(メタ)アクリレートが最適である。 As said thermosetting resin, an epoxy resin, a phenol resin, a polyimide resin, a thermosetting polyolefin resin etc. are mentioned, for example. Moreover, when sensitizing the said thermosetting resin, methacrylic acid, acrylic acid, etc. are used, and a thermosetting group is (meth) acrylated. In particular, epoxy resin (meth) acrylate is most suitable.

上記エポキシ樹脂としては、例えば、ノボラック型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂などを使用することができる。
上記熱可塑性樹脂としては、例えば、ポリエーテルスルフォン、ポリスルフォン、ポリフェニレンスルフォン、ポリフェニレンサルファイド、ポリフェニルエーテル、ポリエーテルイミドなどを使用することができる。
As said epoxy resin, a novolak-type epoxy resin, an alicyclic epoxy resin, etc. can be used, for example.
As said thermoplastic resin, polyether sulfone, polysulfone, polyphenylene sulfone, polyphenylene sulfide, polyphenyl ether, polyether imide, etc. can be used, for example.

上記酸、アルカリおよび酸化剤から選ばれる少なくとも1種からなる粗化液に対して可溶性の物質は、無機粒子、樹脂粒子、金属粒子、ゴム粒子、液相樹脂および液相ゴムから選ばれる少なくとも1種であることが望ましい。 The substance soluble in the roughening liquid consisting of at least one selected from acids, alkalis and oxidizing agents is at least one selected from inorganic particles, resin particles, metal particles, rubber particles, liquid phase resins and liquid phase rubbers. It is desirable to be a seed.

上記無機粒子としては、例えば、シリカ、アルミナ、炭酸カルシウム、タルク、ドロマイトなどが挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
上記アルミナ粒子は、フッ酸で溶解除去することができ、炭酸カルシウムは塩酸で溶解除去することができる。また、ナトリウム含有シリカやドロマイトはアルカリ水溶液で溶解除去することができる。
Examples of the inorganic particles include silica, alumina, calcium carbonate, talc, and dolomite. These may be used alone or in combination of two or more.
The alumina particles can be dissolved and removed with hydrofluoric acid, and the calcium carbonate can be dissolved and removed with hydrochloric acid. Sodium-containing silica and dolomite can be dissolved and removed with an alkaline aqueous solution.

上記樹脂粒子としては、例えば、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グアナミン樹脂など)、エポキシ樹脂、ビスマレイミド−トリアジン樹脂など挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
なお、上記エポキシ樹脂は、酸や酸化剤に溶解するものや、これらに難溶解性のものを、オリゴマーの種類や硬化剤を選択することにより任意に製造することができる。例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂をアミン系硬化剤で硬化させた樹脂はクロム酸に非常によく溶けるが、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂をイミダゾール硬化剤で硬化させた樹脂は、クロム酸には溶解しにくい。
Examples of the resin particles include amino resins (melamine resins, urea resins, guanamine resins, etc.), epoxy resins, bismaleimide-triazine resins, and the like. These may be used alone or in combination of two or more.
In addition, the said epoxy resin can be arbitrarily manufactured by selecting what kind of oligomer and hardening | curing agent what melt | dissolves in an acid and an oxidizing agent, and a thing hardly soluble in these. For example, a resin obtained by curing a bisphenol A type epoxy resin with an amine curing agent dissolves very well in chromic acid, but a resin obtained by curing a cresol novolac type epoxy resin with an imidazole curing agent is difficult to dissolve in chromic acid. .

上記樹脂粒子は予め硬化処理されていることが必要である。硬化させておかないと上記樹脂粒子が樹脂マトリックスを溶解させる溶剤に溶解してしまうため、均一に混合されてしまい、酸や酸化剤で樹脂粒子のみを選択的に溶解除去することができないからである。 The resin particles must be previously cured. If not cured, the resin particles are dissolved in a solvent that dissolves the resin matrix, so they are uniformly mixed, and only the resin particles cannot be selectively dissolved and removed with an acid or an oxidizing agent. is there.

上記金属粒子としては、例えば、金、銀、銅、スズ、亜鉛、ステンレス、アルミニウムなどが挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。 Examples of the metal particles include gold, silver, copper, tin, zinc, stainless steel, and aluminum. These may be used alone or in combination of two or more.

上記ゴム粒子としては、例えば、アクリロニトリル−ブタジエンゴム、ポリクロロプレンゴム、ポリイソプレンゴム、アクリルゴム、多硫系剛性ゴム、フッ素ゴム、ウレタンゴム、シリコーンゴム、ABS樹脂などが挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。 Examples of the rubber particles include acrylonitrile-butadiene rubber, polychloroprene rubber, polyisoprene rubber, acrylic rubber, polysulfuric rigid rubber, fluorine rubber, urethane rubber, silicone rubber, ABS resin, and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

上記液相樹脂としては、上記熱硬化性樹脂の未硬化溶液を使用することができ、このような液相樹脂の具体例としては、例えば、未硬化のエポキシオリゴマーとアミン系硬化剤の混合液などが挙げられる。
上記液相ゴムとしては、例えば、上記ゴムの未硬化溶液などを使用することができる。
As the liquid phase resin, an uncured solution of the thermosetting resin can be used. As a specific example of such a liquid phase resin, for example, a mixed liquid of an uncured epoxy oligomer and an amine curing agent. Etc.
As the liquid phase rubber, for example, an uncured solution of the rubber can be used.

上記液相樹脂や液相ゴムを用いて上記感光性樹脂組成物を調製する場合には、耐熱性樹脂マトリックスと可溶性の物質が均一に相溶しない(つまり相分離するように)ように、これらの物質を選択する必要がある。
上記基準により選択された耐熱性樹脂マトリックスと可溶性の物質とを混合することにより、上記耐熱性樹脂マトリックスの「海」の中に液相樹脂または液相ゴムの「島」が分散している状態、または、液相樹脂または液相ゴムの「海」の中に、耐熱性樹脂マトリックスの「島」が分散している状態の感光性樹脂組成物を調製することができる。
When preparing the photosensitive resin composition using the liquid phase resin or the liquid phase rubber, the heat resistant resin matrix and the soluble material are not uniformly compatible (that is, so as to be phase separated). It is necessary to select a substance.
By mixing the heat-resistant resin matrix selected according to the above criteria and a soluble substance, the liquid-phase resin or liquid-phase rubber “islands” are dispersed in the “sea” of the heat-resistant resin matrix. Alternatively, it is possible to prepare a photosensitive resin composition in which “islands” of a heat-resistant resin matrix are dispersed in a “sea” of a liquid phase resin or a liquid phase rubber.

そして、このような状態の感光性樹脂組成物を硬化させた後、「海」または「島」の液相樹脂または液相ゴムを除去することにより粗化面を形成することができる。 And after hardening the photosensitive resin composition of such a state, a roughened surface can be formed by removing the liquid phase resin or liquid phase rubber of "the sea" or "the island".

上記粗化液として用いる酸としては、例えば、リン酸、塩酸、硫酸や、蟻酸、酢酸などの有機酸などが挙げられるが、これらのなかでは有機酸を用いることが望ましい。粗化処理した場合に、バイアホールから露出する金属導体層を腐食させにくいからである。
上記酸化剤としては、例えば、クロム酸、アルカリ性過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウムなど)の水溶液などを用いることが望ましい。
また、アルカリとしては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウムなどの水溶液が望ましい。
Examples of the acid used as the roughening solution include phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, and organic acids such as formic acid and acetic acid. Among these, it is desirable to use an organic acid. This is because when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded.
As the oxidizing agent, for example, an aqueous solution of chromic acid or alkaline permanganate (such as potassium permanganate) is preferably used.
Moreover, as an alkali, aqueous solutions, such as sodium hydroxide and potassium hydroxide, are desirable.

本発明において、上記無機粒子、上記金属粒子および上記樹脂粒子を使用する場合は、その平均粒径は、10μm以下が望ましい。
また、特に平均粒径が2μm未満であって、平均粒径の相対的に大きな粗粒子と平均粒径が相対的に小さな微粒子との混合粒子を組み合わせて使用することにより、無電解めっき膜の溶解残渣をなくし、めっきレジスト下のパラジウム触媒量を少なくし、しかも、浅くて複雑な粗化面を形成することができる。そして、このような複雑な粗化面を形成することにより、浅い粗化面でも実用的なピール強度を維持することができる。
In the present invention, when the inorganic particles, the metal particles, and the resin particles are used, the average particle size is desirably 10 μm or less.
In particular, by using a combination of coarse particles having an average particle size of less than 2 μm and relatively large average particles and fine particles having a relatively small average particle size, Dissolving residue can be eliminated, the amount of palladium catalyst under the plating resist can be reduced, and a shallow and complicated roughened surface can be formed. By forming such a complicated roughened surface, a practical peel strength can be maintained even on a shallow roughened surface.

上記粗粒子と微粒子とを組み合わせることにより、浅くて複雑な粗化面を形成することができるのは、使用する粒子径が粗粒子で平均粒径2μm未満であるため、これらの粒子が溶解除去されても形成されるアンカーは浅くなり、また、除去される粒子は、相対的に粒子径の大きな粗粒子と相対的に粒子径の小さな微粒子の混合粒子であるから、形成される粗化面が複雑になるのである。
また、この場合、使用する粒子径は、粗粒子で平均粒径2μm未満であるため、粗化が進行しすぎて空隙を発生させることはなく、形成した層間樹脂絶縁層は層間絶縁性に優れている。
By combining the above coarse particles and fine particles, a shallow and complicated roughened surface can be formed because the particles used are coarse particles with an average particle size of less than 2 μm, so these particles are dissolved and removed. However, the anchor formed is shallow, and the particles to be removed are a mixture of coarse particles having a relatively large particle size and fine particles having a relatively small particle size. Is complicated.
In this case, since the particle size used is coarse and less than 2 μm in average particle size, the roughening does not proceed excessively and voids are not generated, and the formed interlayer resin insulation layer is excellent in interlayer insulation. ing.

上記粗粒子は平均粒径が0.8μmを超え2.0μm未満であり、微粒子は平均粒径が0.1〜0.8μmであることが望ましい。
この範囲では、粗化面の深さは概ねRmax=3μm程度となり、セミアディティブ法では、無電解めっき膜をエッチング除去しやすいだけではなく、無電解めっき膜下のPd触媒をも簡単に除去することができ、また、実用的なピール強度1.0〜1.3kg/cmを維持することができるからである。
The coarse particles preferably have an average particle size of more than 0.8 μm and less than 2.0 μm, and the fine particles preferably have an average particle size of 0.1 to 0.8 μm.
In this range, the depth of the roughened surface is approximately Rmax = 3 μm, and the semi-additive method not only easily removes the electroless plated film but also easily removes the Pd catalyst under the electroless plated film. This is because a practical peel strength of 1.0 to 1.3 kg / cm can be maintained.

上記粗化面形成用樹脂組成物中の有機溶剤の含有量は、10重量%以下であることが望ましい。
粗化面形成用樹脂組成物の塗布を行う際には、ロールコータ、カーテンコータなどを使用することができる。
The content of the organic solvent in the roughened surface-forming resin composition is desirably 10% by weight or less.
A roll coater, a curtain coater, etc. can be used when apply | coating the resin composition for roughening surface formation.

(6) 上記(5) で形成した粗化面形成用樹脂組成物層を乾燥して半硬化状態とした後、バイアホール用開口を設ける。
粗化面形成用樹脂組成物層を乾燥させた状態では、導体回路パターン上の上記樹脂組成物層の厚さが薄く、大面積を持つプレーン層上の層間樹脂絶縁層の厚さが厚くなり、また導体回路と導体回路非形成部の凹凸に起因して、層間樹脂絶縁層に凹凸が発生していることが多いため、金属板や金属ロールを用い、加熱しながらプレスして、層間樹脂絶縁層の表面を平坦化することが望ましい。
(6) After the roughened surface-forming resin composition layer formed in (5) above is dried to a semi-cured state, a via hole opening is provided.
When the roughened surface-forming resin composition layer is dried, the thickness of the resin composition layer on the conductor circuit pattern is thin, and the thickness of the interlayer resin insulation layer on the plain layer having a large area is large. In addition, since there are many irregularities in the interlayer resin insulation layer due to the irregularities of the conductor circuit and the conductor circuit non-formed part, using a metal plate or a metal roll, press while heating, the interlayer resin It is desirable to planarize the surface of the insulating layer.

バイアホール用開口は、粗化面形成用樹脂組成物層に紫外線などを用いて露光した後現像処理を行うことにより形成する。また、露光現像処理を行う場合には、前述したバイアホール用開口に相当する部分に、黒円のパターンが描画されたフォトマスク(ガラス基板が好ましい)の黒円のパターンが描画された側を粗化面形成用樹脂組成物層に密着させた状態で載置し、露光、現像処理する。 The via-hole opening is formed by performing development processing after exposing the roughened surface-forming resin composition layer to ultraviolet rays or the like. When performing the exposure development process, the side of the photomask (preferably a glass substrate) on which the black circle pattern is drawn is drawn on the portion corresponding to the above-described opening for the via hole. It mounts in the state closely_contact | adhered to the resin composition layer for roughening surface formation, and it exposes and develops.

(7) 次に、粗化面形成用樹脂組成物層を硬化させて層間樹脂絶縁層とし、この層間樹脂絶縁層を粗化する。
粗化処理は、上記層間樹脂絶縁層の表面に存在する、無機粒子、樹脂粒子、金属粒子、ゴム粒子、液相樹脂、液相ゴムから選ばれる少なくとも1種の可溶性の物質を、上記した酸、酸化剤、アルカリなどの粗化液を用いて除去することにより行う。粗化面の深さは、1〜5μm程度が望ましい。
(7) Next, the roughened surface-forming resin composition layer is cured to form an interlayer resin insulation layer, and the interlayer resin insulation layer is roughened.
In the roughening treatment, at least one soluble substance selected from inorganic particles, resin particles, metal particles, rubber particles, liquid phase resins, and liquid phase rubbers present on the surface of the interlayer resin insulating layer is treated with the above acid. Removing by using a roughening solution such as an oxidizing agent or an alkali. As for the depth of a roughening surface, about 1-5 micrometers is desirable.

(8) 次に、層間樹脂絶縁層に粗化処理が施された基板に触媒核を付与する。
触媒核の付与には、貴金属イオンや貴金属コロイドなどを用いることが望ましく、一般的には、塩化パラジウムやパラジウムコロイドを使用する。なお、触媒核を固定するために加熱処理を行うことが望ましい。このような触媒核としてはパラジウムが好ましい。
(8) Next, catalyst nuclei are imparted to the substrate on which the roughening treatment has been applied to the interlayer resin insulation layer.
For imparting the catalyst nucleus, it is desirable to use a noble metal ion or a noble metal colloid. Generally, palladium chloride or a palladium colloid is used. It is desirable to perform heat treatment to fix the catalyst core. Palladium is preferable as such a catalyst nucleus.

(9) 次に、粗化面全面に無電解めっき膜を形成する。
めっき液組成としては、例えば、NiSO(0.001〜0.003mol/l)、硫酸銅(0.02〜0.04mol/l)、酒石酸(0.08〜0.15mol/l)、水酸化ナトリウム(0.03〜0.08mol/l)、37%ホルムアルデヒド(0.03〜0.06mol/l)を含む水溶液が望ましい。無電解めっき膜の厚みは0.1〜5μmが望ましく、0.5〜3μmがより望ましい。
(9) Next, an electroless plating film is formed on the entire roughened surface.
Examples of the plating solution composition include NiSO 4 (0.001 to 0.003 mol / l), copper sulfate (0.02 to 0.04 mol / l), tartaric acid (0.08 to 0.15 mol / l), and water. An aqueous solution containing sodium oxide (0.03-0.08 mol / l) and 37% formaldehyde (0.03-0.06 mol / l) is desirable. The thickness of the electroless plating film is desirably 0.1 to 5 μm, and more desirably 0.5 to 3 μm.

(10)ついで、無電解めっき膜上に感光性樹脂フィルム(ドライフィルム)をラミネートし、めっきレジストパターンが描画されたフォトマスク(ガラス基板が好ましい)を感光性樹脂フィルムに密着させて載置し、露光、現像処理することにより、めっきレジストパターンを形成する。 (10) Next, a photosensitive resin film (dry film) is laminated on the electroless plating film, and a photomask (preferably a glass substrate) on which a plating resist pattern is drawn is placed in close contact with the photosensitive resin film. A plating resist pattern is formed by performing exposure and development processes.

(11)次に、めっきレジスト非形成部に電解めっきを施し、導体回路およびバイアホールを形成する。
ここで、上記電解めっきとしては、銅めっきを用いることが望ましく、その厚みは、1〜20μmが望ましい。
(11) Next, electrolytic plating is performed on the plating resist non-formation portion to form a conductor circuit and a via hole.
Here, as the electrolytic plating, it is desirable to use copper plating, and the thickness is desirably 1 to 20 μm.

(12)さらに、めっきレジストを除去した後、硫酸と過酸化水素の混合液や過硫酸ナトリウム、過硫酸アンモニウム、塩化第二鉄、塩化第二銅などのエッチング液で無電解めっき膜を溶解除去して、独立した導体回路とする。この後、必要に応じて、クロム酸などでパラジウム触媒核を溶解除去する。 (12) Further, after removing the plating resist, the electroless plating film is dissolved and removed with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide or an etching solution such as sodium persulfate, ammonium persulfate, ferric chloride, or cupric chloride. And an independent conductor circuit. Thereafter, if necessary, the palladium catalyst nucleus is dissolved and removed with chromic acid or the like.

(13)次に、(4) 〜(12)の工程を繰り返してさらに上層の導体回路を設け、その上にはんだパッドとして機能する平板状の導体パッドやバイアホールなどを形成する。最後にソルダーレジスト層およびハンダバンプ等を形成することにより、多層多層プリント配線板の製造を終了する。なお、以下の方法は、セミアディティブ法によるものであるが、フルアディティブ法を採用してもよい。
以下、実施例をもとに説明する。
(13) Next, steps (4) to (12) are repeated to provide a further upper conductor circuit, and a flat conductor pad or via hole functioning as a solder pad is formed thereon. Finally, by forming a solder resist layer, solder bumps, and the like, the production of the multilayer multilayer printed wiring board is completed. In addition, although the following method is based on a semi-additive method, you may employ | adopt a full additive method.
In the following, description will be given based on examples.

(実施例1)
A.感光性樹脂組成物の調製
クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社製、分子量:2500)の25%アクリル化物をジエチレングリコールジメチルエーテル(DMDG)に溶解させた樹脂液34重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2E4MZ−CN)2重量部、感光性モノマーであるカプロラクトン変成トリス(アクロキシエチル)イソシアヌレート(東亜合成社製、商品名:アロニックスM325)4重量部、光重合開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学社製)2重量部、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化学社製)0.2重量部、感光性モノマー(日本化薬社製 KAYAMER PM−21)10重量部、および、エポキシ樹脂粒子( 三洋化成社製 ポリマーポール) の平均粒径1.0μmのもの15重量部と平均粒径0.5μmのもの10重量部を混合した後、N−メチルピロリドン(NMP)30.0重量部添加しながら混合し、ホモディスパー攪拌機で粘度7Pa・sに調整し、続いて3本ロールで混練して感光性樹脂組成物(層間樹脂絶縁材)を調製した。
Example 1
A. Preparation of photosensitive resin composition 34 parts by weight of resin solution prepared by dissolving 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG), imidazole curing agent (Shikoku Chemicals) 2 parts by weight, 2E4MZ-CN), 4 parts by weight of caprolactone-modified tris (acryloxyethyl) isocyanurate (trade name: Aronix M325, manufactured by Toagosei Co., Ltd.) as a photo-sensitive monomer, benzophenone (photopolymerization initiator) 2 parts by weight of Kanto Chemical Co., Ltd., 0.2 parts by weight of Michler's ketone (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) as a photosensitizer, 10 parts by weight of photosensitive monomer (KAYAMER PM-21, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), and epoxy resin 15 parts by weight of particles (polymer pole manufactured by Sanyo Chemical Co., Ltd.) with an average particle size of 1.0 μm After mixing 10 parts by weight of an average particle size of 0.5 μm, 30.0 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP) was added and mixed, adjusted to a viscosity of 7 Pa · s with a homodisper stirrer, and then 3 A photosensitive resin composition (interlayer resin insulating material) was prepared by kneading with a roll.

B.プリント配線板の製造方法
(1) 厚さ0.6mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両面に12μmの銅箔18がラミネートされている銅張積層板を出発材料とした(図1(a)参照)。
(2) まず、この銅貼積層板を、過酸化水素/硫酸などのエッチング液を用いて、エッチング処理を施すことにより、銅箔18の厚さを5μmの厚さまで薄くし(図1(b)参照)、続いてこの基板を水洗いした後ドリル削孔し、スルーホール用貫通孔1aを形成した(図1(c)参照)。
B. Method for manufacturing printed wiring board
(1) A copper-clad laminate in which a 12 μm copper foil 18 is laminated on both surfaces of a substrate 1 made of glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin having a thickness of 0.6 mm was used as a starting material (FIG. 1 ( a)).
(2) First, the copper-clad laminate is etched using an etchant such as hydrogen peroxide / sulfuric acid to reduce the thickness of the copper foil 18 to 5 μm (FIG. 1 (b)). Then, the substrate was washed with water and then drilled to form a through hole 1a for a through hole (see FIG. 1C).

(3) 次に、めっき液として、NiSO(0.001〜0.003mol/l)、硫酸銅(0.02〜0.04mol/l)、酒石酸(0.08〜0.15mol/l)、水酸化ナトリウム(0.03〜0.08mol/l)、37%ホルムアルデヒド(0.03〜0.06mol/l)を含む水溶液を用いて無電解めっきを行い、基板面におけるトータルの厚さが29μmの銅からなる導体層8、および、スルーホール9を形成した(図1(d)参照)。 (3) Next, as the plating solution, NiSO 4 (0.001 to 0.003 mol / l), copper sulfate (0.02 to 0.04 mol / l), tartaric acid (0.08 to 0.15 mol / l) Electroless plating is performed using an aqueous solution containing sodium hydroxide (0.03 to 0.08 mol / l) and 37% formaldehyde (0.03 to 0.06 mol / l). A conductor layer 8 made of 29 μm copper and a through hole 9 were formed (see FIG. 1D).

(4) スルーホール9および導体層8を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、NaOH(10g/l)、NaClO(40g/l)、NaPO(16g/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とする黒化処理、および、NaOH(19g/l)、NaBH(5g/l)を含む水溶液を還元浴とする還元処理を行い、そのスルーホール9を含む導体層8の全表面に粗化面8a、9aを形成した(図1(e)参照)。 (4) The substrate on which the through hole 9 and the conductor layer 8 are formed is washed with water and dried, and then an aqueous solution containing NaOH (10 g / l), NaClO 2 (40 g / l), and Na 3 PO 4 (16 g / l) is added. Conductive layer including through hole 9 after performing blackening treatment using blackening bath (oxidation bath) and reduction treatment using an aqueous solution containing NaOH (19 g / l) and NaBH 4 (5 g / l). Roughened surfaces 8a and 9a were formed on the entire surface of 8 (see FIG. 1 (e)).

(5) 次に、ビスフェノールF型エポキシ樹脂を含む樹脂充填剤10を、スルーホール9内に充填し、100℃で10分間加熱乾燥させた後(図2(a)参照)、基板の片面をバフ研磨することにより基板表面の導体層を平坦化し、ついで、他の面も同様の方法で平坦化した(図2(b)参照)。
これにより、基板表面の銅からなる導体層8の厚さは、23.8μmとなった。
(5) Next, a resin filler 10 containing a bisphenol F-type epoxy resin is filled in the through hole 9 and heated and dried at 100 ° C. for 10 minutes (see FIG. 2A), and then one side of the substrate is removed. The conductor layer on the substrate surface was flattened by buffing, and then the other surfaces were flattened by the same method (see FIG. 2B).
As a result, the thickness of the conductor layer 8 made of copper on the substrate surface was 23.8 μm.

(6) 市販の感光性ドライフィルムを導体層8の表面に熱圧着することにより貼り付け、クロム層によって、めっきレジスト非形成部分がマスクパターンとして描画された厚さ5mmのソーダライムガラス基板を、クロム層が形成された側を感光性ドライフィルムに密着させて、110mJ/cmで露光した後、0.8%炭酸ナトリウムで現像処理し、厚さ15μmのエッチングレジスト11を設けた(図2(c)参照)。 (6) A commercially available photosensitive dry film is attached to the surface of the conductor layer 8 by thermocompression bonding, and a 5 mm thick soda lime glass substrate in which a plating resist non-formed portion is drawn as a mask pattern by a chrome layer, The side on which the chromium layer was formed was brought into close contact with the photosensitive dry film, exposed at 110 mJ / cm 2 and then developed with 0.8% sodium carbonate to provide an etching resist 11 having a thickness of 15 μm (FIG. 2). (See (c)).

(7) 次に、硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング処理を行って、エッチングレジストが形成されていない部分の導体層8を溶解除去し、導体回路(スルーホール9を含む)4を形成した。(図2(d)参照)。 (7) Next, an etching process is performed with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide to dissolve and remove the portion of the conductor layer 8 where the etching resist is not formed, thereby forming the conductor circuit (including the through hole 9) 4. did. (See FIG. 2 (d)).

(8) 上記基板を水洗、酸性脱脂した後、ソフトエッチングし、次いで、エッチング液を基板の両面にスプレイで吹きつけて、下層導体回路4の表面とスルーホール9のランド表面と内壁とをエッチングすることにより、下層導体回路4の全表面に粗化面4a、9aを形成し、さらに、この粗化面4a、9aに厚さ0.05μmのSn層を設けた(図3(a)参照)。但し、Sn層については図示しない。 (8) After washing the substrate with water and acid degreasing, soft etching is performed, and then an etching solution is sprayed on both sides of the substrate to spray the surface of the lower conductor circuit 4, the land surface of the through hole 9, and the inner wall. Thus, roughened surfaces 4a and 9a are formed on the entire surface of the lower conductor circuit 4, and a 0.05 μm thick Sn layer is further provided on the roughened surfaces 4a and 9a (see FIG. 3A). ). However, the Sn layer is not shown.

なお、エッチングの際、エッチング液として、イミダゾール銅 (II)錯体10重量部、グリコール酸7重量部、塩化カリウム5重量部およびイオン交換水78重量部を混合したものを使用した。また、Sn層は、ホウフッ化スズ(0.1mol/l)、チオ尿素(1.0mol/l)を含むpH=1.2、温度50℃の無電解スズ置換めっき浴に基板を浸漬することにより形成した。 In the etching, a mixture of 10 parts by weight of imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, 5 parts by weight of potassium chloride and 78 parts by weight of ion-exchanged water was used as an etching solution. In addition, the Sn layer is obtained by immersing the substrate in an electroless tin substitution plating bath containing tin borofluoride (0.1 mol / l) and thiourea (1.0 mol / l) at pH = 1.2 and a temperature of 50 ° C. Formed by.

(9) 上記Aに記載の方法により調製した感光性樹脂組成物を、上記(8) の処理を終えた基板の両面に、ロールコータを用いて塗布し、水平状態で20分間放置してから、60℃で30分の乾燥を行い、厚さ30μmの感光性樹脂組成物層(層間樹脂絶縁層)2を形成した(図3(b)参照)。さらに、この感光性樹脂組成物層2上に粘着剤を介してポリエチレンテレフタレートフィルムを貼付した。 (9) The photosensitive resin composition prepared by the method described in A above is applied on both sides of the substrate after the processing in (8) above using a roll coater and left in a horizontal state for 20 minutes. Then, drying was performed at 60 ° C. for 30 minutes to form a photosensitive resin composition layer (interlayer resin insulating layer) 2 having a thickness of 30 μm (see FIG. 3B). Furthermore, a polyethylene terephthalate film was stuck on the photosensitive resin composition layer 2 via an adhesive.

(10)上記(9) で感光性樹脂組成物層2を形成した基板1の両面に、遮光インクによって厚さ5μmの黒円が描画された厚さ5mmのソーダライムガラス基板を黒円が描画された側を感光性樹脂組成物層2に密着させ、超高圧水銀灯により3000mJ/cm強度で露光した後、DMDG溶液でスプレー現像し、100μmの直径のバイアホール用開口6を形成した。この後、100℃で1時間、150℃で5時間の加熱処理を施し、フォトマスクフィルムに相当する寸法精度に優れたバイアホール用開口6を有する厚さ50μmの層間樹脂絶縁層2を形成した(図3(c)参照)。なお、バイアホールとなる開口には、粗化層を部分的に露出させた。この後、金属ロールを用い、加熱しながらプレスして、層間樹脂絶縁層の表面を平坦化した。 (10) A black circle is drawn on a 5 mm thick soda lime glass substrate in which a black circle with a thickness of 5 μm is drawn on both sides of the substrate 1 on which the photosensitive resin composition layer 2 is formed in (9) above by shading ink. The exposed side was brought into close contact with the photosensitive resin composition layer 2 and exposed at 3000 mJ / cm 2 intensity with an ultrahigh pressure mercury lamp, and then spray-developed with a DMDG solution to form a via hole opening 6 having a diameter of 100 μm. Thereafter, heat treatment was performed at 100 ° C. for 1 hour and at 150 ° C. for 5 hours to form an interlayer resin insulating layer 2 having a thickness of 50 μm having via hole openings 6 having excellent dimensional accuracy corresponding to a photomask film. (See FIG. 3C). Note that the roughened layer was partially exposed in the opening serving as the via hole. Then, it pressed, using a metal roll, heating, and planarized the surface of the interlayer resin insulation layer.

(11)バイアホール用開口6を形成した基板を、クロム酸水溶液に浸漬して層間樹脂絶縁層2の表面に存在するエポキシ樹脂粒子を溶解除去することにより、層間樹脂絶縁層2の表面を粗面(深さ5μm)とし、その後、中和溶液(シプレイ社製)に浸漬してから水洗いした(図3(d)参照)。
さらに、粗面化処理した該基板の表面に、パラジウム触媒(アトテック製)を付与することにより、層間樹脂絶縁層2の表面およびバイアホール用開口6の内壁面に触媒核を付着させた。
(11) The surface of the interlayer resin insulation layer 2 is roughened by immersing the substrate having the via hole openings 6 in a chromic acid aqueous solution to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the interlayer resin insulation layer 2. The surface (depth 5 μm) was then immersed in a neutralized solution (manufactured by Shipley Co., Ltd.) and washed with water (see FIG. 3D).
Furthermore, a catalyst catalyst was attached to the surface of the interlayer resin insulation layer 2 and the inner wall surface of the via hole opening 6 by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the roughened substrate.

(12)次に、以下の組成の無電解銅めっき水溶液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ3μmの無電解銅めっき膜12を形成した(図4(a)参照)。
〔無電解めっき水溶液〕
EDTA 150 g/l
硫酸銅 20 g/l
HCHO 30 ml/l
NaOH 40 g/l
α、α’−ビピリジル 80 mg/l
ポリエチレングリコール(PEG) 0.1 g/l
〔無電解めっき条件〕
70℃の液温度で30分
(12) Next, the substrate was immersed in an electroless copper plating aqueous solution having the following composition to form an electroless copper plating film 12 having a thickness of 3 μm on the entire rough surface (see FIG. 4A).
[Electroless plating aqueous solution]
EDTA 150 g / l
Copper sulfate 20 g / l
HCHO 30 ml / l
NaOH 40 g / l
α, α'-bipyridyl 80 mg / l
Polyethylene glycol (PEG) 0.1 g / l
[Electroless plating conditions]
30 minutes at a liquid temperature of 70 ° C

(13)市販の感光性ドライフィルムを無電解銅めっき膜12に熱圧着することにより貼り付け、クロム層によって、めっきレジスト非形成部分がマスクパターンとして描画された厚さ5mmのソーダライムガラス基板を、クロム層が形成された側を感光性ドライフィルムに密着させて、110mJ/cmで露光した後、0.8%炭酸ナトリウムで現像処理し、厚さ15μmのめっきレジスト3を設けた(図4(b)参照)。 (13) A commercially available photosensitive dry film is attached to the electroless copper plating film 12 by thermocompression bonding, and a 5 mm thick soda lime glass substrate in which a plating resist non-formation portion is drawn as a mask pattern by a chromium layer. The side on which the chromium layer was formed was brought into close contact with the photosensitive dry film, exposed at 110 mJ / cm 2 , and then developed with 0.8% sodium carbonate to provide a plating resist 3 having a thickness of 15 μm (see FIG. 4 (b)).

(14)ついで、以下の条件で電解銅めっきを施し、厚さ15μmの電解銅めっき膜13を形成した(図4(c)参照)。
〔電解めっき水溶液〕
硫酸 180 g/l
硫酸銅 80 g/l
添加剤 1 ml/l
(アトテックジャパン社製、カパラシドGL)
〔電解めっき条件〕
電流密度 1.2 A/dm
時間 30 分
温度 室温
(14) Next, electrolytic copper plating was performed under the following conditions to form an electrolytic copper plating film 13 having a thickness of 15 μm (see FIG. 4C).
(Electrolytic plating aqueous solution)
Sulfuric acid 180 g / l
Copper sulfate 80 g / l
Additive 1 ml / l
(Manufactured by Atotech Japan, Kaparaside GL)
[Electrolytic plating conditions]
Current density 1.2 A / dm 2
Time 30 minutes Temperature Room temperature

(15)めっきレジスト3を5%KOHで剥離除去した後、そのめっきレジスト3下の無電解めっき膜12を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング処理して溶解除去し、無電解銅めっき膜12と電解銅めっき膜13からなる厚さ18μmの導体回路(バイアホール7を含む)5を形成した。さらに、800g/lのクロム酸を含む溶液に1〜2分間浸漬して、層間樹脂絶縁層2の表面に残存するパラジウム触媒を除去した(図4(d)参照)。 (15) After stripping and removing the plating resist 3 with 5% KOH, the electroless plating film 12 under the plating resist 3 is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide, and the electroless copper plating film A conductor circuit (including via hole 7) 5 having a thickness of 18 μm and formed of 12 and electrolytic copper plating film 13 was formed. Furthermore, it was immersed in a solution containing 800 g / l of chromic acid for 1 to 2 minutes to remove the palladium catalyst remaining on the surface of the interlayer resin insulation layer 2 (see FIG. 4D).

(16)次に、上記(8) の工程で用いた液と同じ組成のエッチング(第二銅錯体と有機酸とを含むエッチング液)をスプレーすることにより、導体回路(バイアホール7を含む)5に粗化面を形成した(図5(a)参照)。また、この粗化面に厚さ0.05μaのSn層を設けた。但し、Sn層については図示しない。 (16) Next, the conductor circuit (including via hole 7) is sprayed by spraying the etching (etching solution containing cupric complex and organic acid) having the same composition as the solution used in the step (8). A roughened surface was formed on 5 (see FIG. 5A). Further, an Sn layer having a thickness of 0.05 μa was provided on the roughened surface. However, the Sn layer is not shown.

(17)上記 (9)〜(16)の工程を繰り返すことにより、さらに上層の層間樹脂絶縁層と導体回路とを形成し、多層配線板を得た(図5(b)〜図6(b)参照)。 (17) By repeating the above steps (9) to (16), an upper interlayer resin insulation layer and a conductor circuit were formed to obtain a multilayer wiring board (FIGS. 5B to 6B). )reference).

(18)次に、ジエチレングリコールジメチルエーテル(DMDG)に60重量%の濃度になるように溶解させた、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与のオリゴマー(分子量:4000)46.67重量部、メチルエチルケトンに溶解させた80重量%のビスフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル社製、商品名:エピコート1001)6.67重量部、同じくビスフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル社製、商品名:エピコートE−1001−B80)6.67重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、商品名:2E4MZ−CN)1.6重量部、感光性モノマー(日本化薬社製 KAYAMER PM−21)6重量部、アクリル酸エステル重合物からなるレベリング剤(共栄化学社製、商品名:ポリフローNo.75)0.36重量部を容器にとり、攪拌、混合して混合組成物を調製し、この混合組成物に対して光重合開始剤としてイルガキュアI−907(チバガイギー社製)2.0重量部、光増感剤としてのDETX−S(日本化薬社製)0.2重量部、DMDG0.6重量部を加えることにより、粘度を25℃で1.4±0.3Pa・sに調整したソルダーレジスト組成物を得た。
なお、粘度測定は、B型粘度計(東京計器社製、DVL−B型)で60rpmの場合はローターNo.4、6rpmの場合はローターNo.3によった。
(18) Next, a photosensitizing agent obtained by acrylating 50% of an epoxy group of a cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) to a concentration of 60% by weight. 46.67 parts by weight of oligomer (molecular weight: 4000), 80% by weight of bisphenol A type epoxy resin dissolved in methyl ethyl ketone (product name: Epicoat 1001 manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.) 6.67 parts by weight, also bisphenol A type epoxy 6.67 parts by weight of resin (manufactured by Yuka Shell, trade name: Epicoat E-1001-B80), 1.6 parts by weight of imidazole curing agent (trade name: 2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Kasei), photosensitive monomer ( KAYAMER PM-21 manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. 6 parts by weight, levelin made of acrylic ester polymer 0.36 parts by weight of an agent (manufactured by Kyoei Chemical Co., Ltd., trade name: Polyflow No. 75) is placed in a container, stirred and mixed to prepare a mixed composition, and Irgacure I is used as a photopolymerization initiator for this mixed composition. By adding 2.0 parts by weight of -907 (manufactured by Ciba Geigy), 0.2 parts by weight of DETX-S (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) as a photosensitizer, and 0.6 parts by weight of DMDG, the viscosity is 25 ° C. A solder resist composition adjusted to 1.4 ± 0.3 Pa · s was obtained.
Viscosity measurement was performed using a B-type viscometer (DVL-B type, manufactured by Tokyo Keiki Co., Ltd.). In the case of 4 or 6 rpm, the rotor No. 3 according.

(19)次に、多層配線基板の両面に、上記ソルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗布し、70℃で20分間、70℃で30分間の条件で乾燥処理を行った後、クロム層によってソルダーレジスト開口部のパターンが描画された厚さ5mmのソーダライムガラス基板を、クロム層が描画された側をソルダーレジスト層に密着させて1000mJ/cmの紫外線で露光し、DMTG溶液で現像処理し、200μmの直径の開口を形成した。
そして、さらに、80℃で1時間、100℃で1時間、120℃で1時間、150℃で3時間の条件で加熱処理してソルダーレジスト層を硬化させ、開口を有し、その厚さが20μmのソルダーレジスト層14を形成した。
(19) Next, the solder resist composition is applied to both surfaces of the multilayer wiring board at a thickness of 20 μm, and after a drying treatment at 70 ° C. for 20 minutes and 70 ° C. for 30 minutes, the chromium layer The soda lime glass substrate having a thickness of 5 mm on which the pattern of the solder resist opening is drawn is exposed to 1000 mJ / cm 2 with the solder resist layer in close contact with the side on which the chromium layer is drawn, and developed with a DMTG solution. Processed to form 200 μm diameter openings.
Further, the solder resist layer is cured by heat treatment at 80 ° C. for 1 hour, 100 ° C. for 1 hour, 120 ° C. for 1 hour, and 150 ° C. for 3 hours. A 20 μm solder resist layer 14 was formed.

(20)次に、ソルダーレジスト層14を形成した基板を、塩化ニッケル(30g/l)、次亜リン酸ナトリウム(10g/l)、クエン酸ナトリウム(10g/l)を含むpH=5の無電解ニッケルめっき液に20分間浸漬して、開口部に厚さ5μmのニッケルめっき層15を形成した。さらに、その基板をシアン化金カリウム(2g/l)、塩化アンモニウム(75g/l)、クエン酸ナトリウム(50g/l)、次亜リン酸ナトリウム(10g/l)を含む無電解めっき液に93℃の条件で23秒間浸漬して、ニッケルめっき層15上に、厚さ0.03μmの金めっき層16を形成した。 (20) Next, the substrate on which the solder resist layer 14 is formed is coated with nickel chloride (30 g / l), sodium hypophosphite (10 g / l), and sodium citrate (10 g / l). The nickel plating layer 15 having a thickness of 5 μm was formed in the opening by dipping in an electrolytic nickel plating solution for 20 minutes. Further, the substrate was added to an electroless plating solution containing potassium gold cyanide (2 g / l), ammonium chloride (75 g / l), sodium citrate (50 g / l) and sodium hypophosphite (10 g / l). A gold plating layer 16 having a thickness of 0.03 μm was formed on the nickel plating layer 15 by dipping for 23 seconds under the condition of ° C.

(21)この後、ソルダーレジスト層14の開口にはんだペーストを印刷して、200℃でリフローすることによりはんだバンプ(はんだ体)17を形成し、はんだバンプ17を有する多層配線プリント基板を製造した(図6(c)参照)。 (21) Thereafter, a solder paste is printed on the opening of the solder resist layer 14 and reflowed at 200 ° C. to form solder bumps (solder bodies) 17. A multilayer wiring printed board having the solder bumps 17 is manufactured. (See FIG. 6 (c)).

(比較例1)
上記(1) 〜(8) の工程に代わって、下記の(1) 〜(4) の工程を行って、スルーホール9および樹脂充填材10の表層部および下層導体回路4の表面が平坦化され、樹脂充填材10と下層導体回路4の側面4aとが粗化面を介して強固に密着し、またスルーホール9の内壁面9aと樹脂充填材10とが粗化面を介して強固に密着した絶縁性基板を得た後(図7(a)〜(d)参照)、本発明の上記(9) 〜(21)と同様の工程を行い、多層プリント配線板を得た。
(Comparative Example 1)
Instead of the steps (1) to (8), the following steps (1) to (4) are performed to flatten the surface layer of the through hole 9 and the resin filler 10 and the surface of the lower conductor circuit 4. Then, the resin filler 10 and the side surface 4a of the lower conductor circuit 4 are firmly attached via the roughened surface, and the inner wall surface 9a of the through hole 9 and the resin filler 10 are firmly attached via the roughened surface. After obtaining an insulative insulating substrate (see FIGS. 7A to 7D), the same processes as in the above (9) to (21) of the present invention were performed to obtain a multilayer printed wiring board.

(1) 厚さ0.6mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両面に18μmの銅箔8がラミネートされている銅張積層板を出発材料とした(図1(a)参照)。まず、この銅張積層板をドリル削孔し、無電解めっき処理を施し、パターン状にエッチングすることにより、基板1の両面に下層導体回路4とスルーホール9を形成した。 (1) A copper-clad laminate in which 18 μm copper foil 8 is laminated on both surfaces of a substrate 1 made of glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin having a thickness of 0.6 mm was used as a starting material (FIG. 1 ( a)). First, the copper-clad laminate was drilled, subjected to electroless plating, and etched into a pattern to form the lower conductor circuits 4 and the through holes 9 on both surfaces of the substrate 1.

(2) スルーホール9および下層導体回路4を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、NaOH(10g/l)、NaClO(40g/l)、NaPO(16g/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とする黒化処理、および、NaOH(19g/l)、NaBH(5g/l)を含む水溶液を還元浴とする還元処理を行い、そのスルーホール9を含む下層導体回路4の全表面に粗化面4a、9aを形成した(図1(b)参照)。 (2) The substrate on which the through hole 9 and the lower conductor circuit 4 are formed is washed with water and dried, and then an aqueous solution containing NaOH (10 g / l), NaClO 2 (40 g / l), and Na 3 PO 4 (16 g / l). A lower layer including the through hole 9 by performing a blackening treatment using a blackening bath (oxidation bath) and a reduction treatment using an aqueous solution containing NaOH (19 g / l) and NaBH 4 (5 g / l) as a reducing bath. Roughened surfaces 4a and 9a were formed on the entire surface of the conductor circuit 4 (see FIG. 1B).

(3) ビスフェノールF型エポキシ樹脂を含む樹脂充填剤10を、基板の片面にロールコータを用いて塗布することにより、下層導体回路4間あるいはスルーホール9内に充填し、加熱乾燥させた後、他方の面についても同様に樹脂充填剤10を導体回路4間あるいはスルーホール9内に充填し、加熱乾燥させた(図1(c)参照)。 (3) A resin filler 10 containing a bisphenol F-type epoxy resin is applied to one side of the substrate using a roll coater to fill the space between the lower conductor circuits 4 or the through holes 9 and heat-dry. Similarly, the other surface was filled with the resin filler 10 between the conductor circuits 4 or in the through holes 9 and dried by heating (see FIG. 1C).

(4) 上記(3) の処理を終えた基板の片面を、#600のベルト研磨紙(三共理化学製)を用いたベルトサンダー研磨により、内層銅パターン4の表面やスルーホール9のランド表面に樹脂充填剤10が残らないように研磨し、次いで、上記ベルトサンダー研磨による傷を取り除くためのバフ研磨を行った。このような一連の研磨を基板の他方の面についても同様に行った。
次いで、100℃で1時間、120℃で3時間、150℃で1時間、180℃で7時間の加熱処理を行って樹脂充填剤10を硬化した。この後、上記実施例1の(9) 〜(21)と同様の工程を行い、多層プリント配線板を得た。
(4) One side of the substrate after the processing in (3) above is applied to the surface of the inner layer copper pattern 4 or the land surface of the through hole 9 by belt sander polishing using # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku). Polishing was performed so that the resin filler 10 did not remain, and then buffing was performed to remove scratches due to the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate.
Next, the resin filler 10 was cured by heat treatment at 100 ° C. for 1 hour, 120 ° C. for 3 hours, 150 ° C. for 1 hour, and 180 ° C. for 7 hours. Thereafter, the same steps as (9) to (21) of Example 1 were performed to obtain a multilayer printed wiring board.

このようにして製造した実施例1および比較例1のプリント配線板について、−55℃で30分保持した後、125℃で30分保持するヒートサイクルを1000回繰り返すヒートサイクル試験を実施し、下層導体回路4を含む部分をクロスカットして、下層導体回路4と層間樹脂絶縁層2との境界部分を顕微鏡観察することにより、層間樹脂絶縁層2のクラックの発生状態を調べた。 The printed wiring boards of Example 1 and Comparative Example 1 thus manufactured were subjected to a heat cycle test in which the heat cycle held at -55 ° C for 30 minutes and then held at 125 ° C for 30 minutes was repeated 1000 times. The portion including the conductor circuit 4 was cross-cut, and the boundary portion between the lower layer conductor circuit 4 and the interlayer resin insulation layer 2 was observed with a microscope, thereby examining the occurrence of cracks in the interlayer resin insulation layer 2.

その結果、実施例1に係る多層プリント配線板では、同様の条件で製造されたもの全てについて、下層導体回路付近の層間樹脂絶縁層にクラックは全く発見されなかったが、比較例1に係る多層プリント配線板では、一部のものに下層導体回路4の縁部に近い部分において、層間樹脂絶縁層にクラックが発見された。 As a result, in the multilayer printed wiring board according to Example 1, no cracks were found in the interlayer resin insulating layer near the lower conductor circuit for all of the boards manufactured under the same conditions. In the printed wiring board, a crack was found in the interlayer resin insulating layer in a part close to the edge of the lower conductor circuit 4 in a part.

1 基板
2 層間樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤層)
3 めっきレジスト
4 下層導体回路(内層銅パターン)
4a 粗化面
5 上層導体回路
6 バイアホール用開孔
7 バイアホール
8 導体層
9 スルーホール
9a 粗化面
10 樹脂充填剤
11 エッチングレジスト
12 無電解めっき膜
13 電気めっき膜
14 ソルダーレジスト層
15 ニッケルめっき層
16 金めっき層
17 はんだバンプ
1 Substrate 2 Interlayer resin insulation layer (adhesive layer for electroless plating)
3 Plating resist 4 Lower layer conductor circuit (inner layer copper pattern)
4a Roughened surface 5 Upper layer conductor circuit 6 Via hole opening 7 Via hole 8 Conductor layer 9 Through hole 9a Roughened surface 10 Resin filler 11 Etching resist 12 Electroless plating film 13 Electroplating film 14 Solder resist layer 15 Nickel plating Layer 16 Gold plating layer 17 Solder bump

Claims (5)

内部に樹脂が充填されたスルーホールが設けられるとともに、表面が粗化された下層導体回路が両面に設けられた基板上に、さらに層間樹脂絶縁層及び表面が粗化された上層導体回路が順次積層形成されてなるビルドアップ多層プリント配線板において、
前記下層導体回路の上面と側面とが同種類の粗化方法により粗化されていることを特徴とする多層プリント配線板。
A through-hole filled with resin is provided inside, and a lower-layer conductor circuit with a roughened surface is provided on both sides, and then an interlayer resin insulation layer and an upper-layer conductor circuit with a roughened surface are sequentially formed. In the build-up multilayer printed wiring board formed by lamination,
A multilayer printed wiring board, wherein an upper surface and a side surface of the lower conductor circuit are roughened by the same kind of roughening method.
前記下層導体回路の厚さは、30μm以下である請求項1に記載の多層プリント配線板。 The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the lower conductor circuit has a thickness of 30 μm or less. 金属層が形成された基板にスルーホール用貫通孔を形成し、
前記スルーホール用貫通孔の内壁を含む基板表面に金属層を形成してスルーホールを設け、
前記スルーホールの内壁を含む基板表面を粗化し、
粗化されたスルーホールの内部に樹脂を充填した後、基板表面を平滑化し、
平滑化された基板表面の金属層をエッチング処理して下層導体回路を形成し、
形成された前記下層導体回路の上面および側面を同時に粗化処理し、
粗化処理された下層導体回路を含む基板面に層間樹脂絶縁層と上層導体回路とを順次積層形成することを特徴とする多層プリント配線板の製造方法。
Through holes for through holes are formed in the substrate on which the metal layer is formed,
A metal layer is formed on the substrate surface including the inner wall of the through hole for the through hole to provide a through hole,
Roughening the substrate surface including the inner wall of the through hole,
After filling the inside of the roughened through hole with resin, the substrate surface is smoothed,
Etch the metal layer on the smoothed substrate surface to form the lower conductor circuit,
Simultaneously roughening the upper surface and the side surface of the formed lower conductor circuit,
A method for producing a multilayer printed wiring board, comprising sequentially laminating an interlayer resin insulating layer and an upper layer conductor circuit on a substrate surface including a roughened lower layer conductor circuit.
スルーホール用貫通孔を形成する前に、金属層が形成された基板をエッチング処理することにより、前記金属層の厚さを1〜10μmに調整する請求項3に記載の多層プリント配線板の製造方法。 The multilayer printed wiring board according to claim 3, wherein the thickness of the metal layer is adjusted to 1 to 10 μm by etching the substrate on which the metal layer is formed before forming the through hole for the through hole. Method. 層間樹脂絶縁層を形成した後、前記層間樹脂絶縁層が形成された基板をプレス処理することにより、前記層間樹脂絶縁層の表面を平坦化する請求項3または4に記載の多層プリント配線板の製造方法。 5. The multilayer printed wiring board according to claim 3, wherein after the formation of the interlayer resin insulation layer, the surface of the interlayer resin insulation layer is planarized by pressing the substrate on which the interlayer resin insulation layer is formed. Production method.
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