JP2000294932A - Manufacture of multilayer printed wiring board - Google Patents

Manufacture of multilayer printed wiring board

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Publication number
JP2000294932A
JP2000294932A JP9591599A JP9591599A JP2000294932A JP 2000294932 A JP2000294932 A JP 2000294932A JP 9591599 A JP9591599 A JP 9591599A JP 9591599 A JP9591599 A JP 9591599A JP 2000294932 A JP2000294932 A JP 2000294932A
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JP
Japan
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resin
insulating layer
layer
acid
weight
Prior art date
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Pending
Application number
JP9591599A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Seiji Shirai
誠二 白井
Yukihiko Toyoda
幸彦 豊田
Yoko Nishiwaki
陽子 西脇
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Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
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Publication of JP2000294932A publication Critical patent/JP2000294932A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method for a multilayer printed wiring board, in which the so-called 'via fog' is not generated, when an opening for a via hole is formed in an interlayer resin insulating layer and in which a roughened face can be formed easily on the interlayer resin insulating layer. SOLUTION: This manufacturing method for a multilayer printed wiring board includes a process, wherein a substrate 1 on which a conductor circuit is formed is coated with a resin composition for roughened-face formation, containing an organic solvent, the resin composition is dried and an interlayer resin insulating layer 2 if formed, a process in which an opening 6 for a via hole is formed in the interlayer resin insulating layer 2, a process in which the via hole is formed in the opening 6 and in which a conductor circuit is formed on the surface of the interlayer resin-insulating layer 2, a process in which resin composition is formed with a substance which is soluble with respect to a roughening liquid is dispersed into an unhardened heat-resistant resin matrix, which is hardly soluble with respect to the roughening liquid composed of at least one kind selected from among acid, alkali or oxidizing agent, and a process in which the content of the organic solvent prior to the exposure treatment of the interlayer resin insulating layer 2 is set at 5 to 15 wt.%.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、層間樹脂絶縁層に
バイアホールを形成する際、いわゆるビアかぶりを防止
することができる多層プリント配線板の製造方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a multilayer printed wiring board capable of preventing so-called via fogging when forming a via hole in an interlayer resin insulating layer.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、多層配線基板に対する高密度化の
要請から、いわゆるビルドアップ多層配線基板が注目さ
れている。このビルドアップ多層配線基板は、例えば特
公平4−55555号公報に開示されているような方法
により製造される。即ち、下層導体回路が形成されたコ
ア基板上に、感光性樹脂からなる無電解めっき用接着剤
を塗布し、これを乾燥したのち露光、現像処理すること
により、バイアホール用開口を有する層間樹脂絶縁層を
形成する。次いで、この層間樹脂絶縁層の表面を酸化剤
等による処理にて粗化した後、該感光性樹脂層を露光、
現像処理してめっきレジストを設け、その後、めっきレ
ジスト非形成部分に無電解めっき等を施してバイアホー
ルを含む導体回路パターンを形成する。そして、このよ
うな工程を複数回繰り返すことにより、多層化したビル
ドアップ配線基板を製造するのである。
2. Description of the Related Art In recent years, a so-called build-up multilayer wiring board has attracted attention due to a demand for higher density of the multilayer wiring board. This build-up multilayer wiring board is manufactured by a method disclosed in, for example, Japanese Patent Publication No. 4-55555. That is, an adhesive for electroless plating made of a photosensitive resin is applied onto the core substrate on which the lower conductive circuit is formed, and then dried and exposed and developed to form an interlayer resin having an opening for a via hole. An insulating layer is formed. Next, after the surface of the interlayer resin insulating layer is roughened by a treatment with an oxidizing agent or the like, the photosensitive resin layer is exposed,
A plating resist is provided by performing a development process, and thereafter, a conductive circuit pattern including via holes is formed by applying electroless plating or the like to a portion where the plating resist is not formed. By repeating such a process a plurality of times, a multilayered build-up wiring board is manufactured.

【0003】従来、このようなビルドアップ多層配線基
板の製造方法において、基板上に塗布する感光性樹脂組
成物として、通常、硬化処理された酸または酸化剤に可
溶性の耐熱性樹脂粒子が、酸あるいは酸化剤に難溶性の
未硬化の耐熱性樹脂中に分散されてなるものが使用され
ており、この感光性樹脂は塗布、硬化させた後、酸ある
いは酸化剤の溶液で処理することにより、耐熱性樹脂粒
子が溶解除去され、この接着剤層(層間樹脂絶縁層)の
表面に蛸つぼ状のアンカーからなる粗化面が形成され
る。従って、この層間樹脂絶縁層の上に、該層間樹脂絶
縁層との密着性に優れる導体回路を形成することができ
る。
Conventionally, in such a method of manufacturing a build-up multilayer wiring board, a heat-resistant resin particle soluble in a cured acid or an oxidizing agent is usually used as a photosensitive resin composition applied on the substrate. Alternatively, those that are dispersed in an uncured heat-resistant resin that is hardly soluble in an oxidizing agent are used, and this photosensitive resin is applied, cured, and then treated with a solution of an acid or an oxidizing agent, The heat-resistant resin particles are dissolved and removed, and a roughened surface made of an octopus pot-shaped anchor is formed on the surface of the adhesive layer (interlayer resin insulating layer). Therefore, a conductive circuit having excellent adhesion to the interlayer resin insulating layer can be formed on the interlayer resin insulating layer.

【0004】この感光性樹脂組成物中には、耐熱性樹脂
粒子を均一に分散させたり、樹脂組成物の粘度を適切な
範囲に保つために、有機溶剤が必要であり、露光処理前
の指触乾燥時においても、15〜20重量%程度の有機
溶剤が含まれていた。このような有機溶剤の残留は、樹
脂分子鎖が重合反応時に動くためにある程度必要と考え
られていた。
An organic solvent is required in the photosensitive resin composition to uniformly disperse the heat-resistant resin particles and to maintain the viscosity of the resin composition in an appropriate range. At the time of contact drying, about 15 to 20% by weight of the organic solvent was contained. It has been considered that such residual organic solvent is necessary to some extent in order for the resin molecular chains to move during the polymerization reaction.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この感
光性樹脂組成物を塗布し、乾燥させた後、露光、現像処
理を行ってバイアホール用開口を形成すると、この感光
性樹脂組成物中の有機溶剤の存在に起因して、主として
バイアホール用開口の下部が目的とする大きさ以下の大
きさでしか溶解、除去されない現象、いわゆるビアかぶ
りが発生するという問題が新たに発生した。
However, when the photosensitive resin composition is applied, dried, and then exposed and developed to form an opening for a via hole, the organic resin in the photosensitive resin composition is reduced. Due to the presence of the solvent, a new problem arises in that the phenomenon that the lower portion of the opening for the via hole is mainly dissolved and removed only in a size smaller than the target size, that is, a so-called via fog occurs.

【0006】このようなビアかぶりが発生した場合、こ
の後に層間樹脂絶縁層にめっき処理を施した場合、バイ
アホールが接続不良を起こしてしまう。
When such via fogging occurs, if the interlayer resin insulating layer is subsequently subjected to plating, the via holes cause poor connection.

【0007】本発明は、従来技術が抱える上述した問題
を解消するためになされたものであり、その主たる目的
は、層間樹脂絶縁層にバイアホール用開口を形成する際
に、いわゆるビアかぶりが発生せず、しかも、層間樹脂
絶縁層に粗化面をより容易に形成することができる多層
プリント配線板の製造方法を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art. The main object of the present invention is to provide a so-called via fogging when forming an opening for a via hole in an interlayer resin insulating layer. It is another object of the present invention to provide a method of manufacturing a multilayer printed wiring board that can easily form a roughened surface on an interlayer resin insulating layer without using the same.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記目的
の実現に向け鋭意研究した結果、以下に示す内容を要旨
構成とする本発明を完成するに至った。即ち、本発明の
多層プリント配線板の製造方法は、(1) 導体回路が形成
された基板上に、有機溶剤を含む粗化面形成用樹脂組成
物を塗布、乾燥して層間樹脂絶縁層を設ける工程、(2)
上記層間樹脂絶縁層にバイアホール用の開口を設ける工
程、および、(3) 上記バイアホール用開口にバイアホー
ルを設けるとともに、上記層間樹脂絶縁層の表面に導体
回路を形成する工程を含む多層プリント配線板の製造方
法であって、上記粗化面形成用樹脂組成物は、酸、アル
カリおよび酸化剤から選ばれる少なくとも1種からなる
粗化液に対して難溶性の未硬化の耐熱性樹脂マトリック
ス中に、酸、アルカリおよび酸化剤から選ばれる少なく
とも1種からなる粗化液に対して可溶性の物質が分散さ
れてなるものであり、上記層間樹脂絶縁層の露光処理前
の指触乾燥(指で触れても変形しない程度に乾燥された
状態)時における有機溶剤の含有量が5〜15重量%で
あることを特徴とする。
Means for Solving the Problems The inventors of the present invention have made intensive studies for realizing the above-mentioned object, and as a result, have completed the present invention having the following contents. That is, the method for producing a multilayer printed wiring board according to the present invention comprises the steps of (1) applying a resin composition for forming a roughened surface containing an organic solvent onto a substrate on which a conductive circuit is formed, and drying the resin composition to form an interlayer resin insulating layer; Providing step, (2)
Providing a via hole in the interlayer resin insulating layer; and (3) providing a via hole in the via hole opening and forming a conductive circuit on the surface of the interlayer resin insulating layer. A method for manufacturing a wiring board, wherein the resin composition for forming a roughened surface is an uncured heat-resistant resin matrix which is hardly soluble in a roughening liquid comprising at least one selected from an acid, an alkali and an oxidizing agent. A substance which is soluble in a roughening solution comprising at least one selected from an acid, an alkali and an oxidizing agent is dispersed therein, and the interlayer resin insulating layer is dried to the touch before exposure treatment (finger The organic solvent content is 5 to 15% by weight when the organic solvent is dried so that the organic solvent does not deform even when touched.

【0009】上記多層プリント配線板の製造方法におい
て、上記酸、アルカリおよび酸化剤から選ばれる少なく
とも1種からなる粗化液に対して可溶性の物質は、無機
粒子、樹脂粒子、金属粒子、ゴム粒子、液相樹脂および
液相ゴムから選ばれる少なくとも1種であることが好ま
しい。
In the method for producing a multilayer printed wiring board, the substance soluble in a roughening solution comprising at least one selected from the group consisting of an acid, an alkali, and an oxidizing agent includes inorganic particles, resin particles, metal particles, and rubber particles. And at least one selected from liquid phase resins and liquid phase rubbers.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】本発明の多層プリント配線板の製
造方法は、(1) 導体回路が形成された基板上に、有機溶
剤を含む粗化面形成用樹脂組成物を塗布、乾燥して層間
樹脂絶縁層を設ける工程、(2) 上記層間樹脂絶縁層にバ
イアホール用の開口を設ける工程、および、(3) 上記バ
イアホール用開口にバイアホールを設けるとともに、上
記層間樹脂絶縁層の表面に導体回路を形成する工程を含
む多層プリント配線板の製造方法であって、上記粗化面
形成用樹脂組成物は、酸、アルカリおよび酸化剤から選
ばれる少なくとも1種からなる粗化液に対して難溶性の
未硬化の耐熱性樹脂マトリックス中に、酸、アルカリお
よび酸化剤から選ばれる少なくとも1種からなる粗化液
に対して可溶性の物質が分散されてなるものであり、上
記層間樹脂絶縁層の露光処理前の指触乾燥時における有
機溶剤の含有量が5〜15重量%であることを特徴とす
る。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention comprises the steps of (1) applying a resin composition for forming a roughened surface containing an organic solvent onto a substrate on which a conductive circuit is formed, and drying the applied resin composition. Providing an interlayer resin insulation layer, (2) providing a via hole opening in the interlayer resin insulation layer, and (3) providing a via hole in the via hole opening and providing a surface of the interlayer resin insulation layer. A multilayer printed wiring board including a step of forming a conductive circuit, wherein the resin composition for forming a roughened surface comprises a roughening solution comprising at least one selected from an acid, an alkali, and an oxidizing agent. A material which is soluble in a roughening liquid comprising at least one selected from an acid, an alkali and an oxidizing agent in an uncured heat-resistant resin matrix which is hardly soluble, Layer dew The content of the organic solvent during the pre-treatment tack is characterized in that 5 to 15% by weight.

【0011】本発明の多層プリント配線板の製造方法に
おいては、上記粗化液に対して難溶性の未硬化の耐熱性
樹脂マトリックス中に、上記粗化液に対して可溶性の物
質が分散されてなるものを粗化面形成用樹脂組成物(無
電解めっき用接着剤)として使用しているので、形成し
た層間樹脂絶縁層の特性などに合わせ、種々の粗化液を
用いてより容易に優れたアンカー効果を有する粗化面を
形成することができる。また、上記粗化面形成用樹脂組
成物は、上記層間樹脂絶縁層の露光処理前の指触乾燥時
における有機溶剤の含有量を5〜15重量%に調整して
あるため、重合反応時に樹脂分子鎖が動きすぎて重合反
応が進みすぎることを防止することができる。重合反応
が進みすぎると本来硬化反応させてはならない部分まで
硬化してしまい、いわゆるビアかぶり(バイアホール下
部の層間樹脂が除去されずに内層のパッドにかぶってし
まう現象)が生じる。本発明では、重合反応が進行しす
ぎないようにしてビアかぶりを抑制しているのである。
また、層間樹脂絶縁層の露光処理前の指触乾燥時におけ
る有機溶剤の含有量を5重量%以上とすることにより、
樹脂分子鎖の動きが完全に凍結されてしまうのを防止し
て、重合反応の進行を担保しているのである。重合反応
が起きないと、層間樹脂絶縁層が現像時に剥離してしま
うなどの問題が発生する。
In the method for producing a multilayer printed wiring board according to the present invention, a substance soluble in the roughening solution is dispersed in an uncured heat-resistant resin matrix that is hardly soluble in the roughening solution. Is used as a resin composition for forming a roughened surface (adhesive for electroless plating), so it can be more easily used with various roughening liquids in accordance with the characteristics of the formed interlayer resin insulation layer. A roughened surface having an improved anchor effect can be formed. Further, in the resin composition for forming a roughened surface, the content of the organic solvent at the time of touch drying before the exposure treatment of the interlayer resin insulating layer is adjusted to 5 to 15% by weight. It is possible to prevent the polymerization reaction from proceeding excessively due to excessive movement of the molecular chain. If the polymerization reaction proceeds too much, it hardens to the part that should not be allowed to undergo the curing reaction, and a so-called via fogging (a phenomenon that the interlayer resin under the via hole is not removed but covers the inner layer pad) occurs. In the present invention, via fogging is suppressed by preventing the polymerization reaction from proceeding excessively.
Further, by setting the content of the organic solvent at the time of touch drying before the exposure treatment of the interlayer resin insulating layer to 5% by weight or more,
The movement of the resin molecular chain is prevented from being completely frozen, and the progress of the polymerization reaction is ensured. If the polymerization reaction does not occur, problems such as peeling of the interlayer resin insulating layer during development occur.

【0012】上記層間樹脂絶縁層の露光処理前の指触乾
燥時における有機溶剤の含有量は、10〜12重量%に
調整しておくことが好ましい。50〜60℃で10〜1
20分加熱するだけで、この溶剤量を達成することがで
きるからである。
Preferably, the content of the organic solvent at the time of touch drying of the interlayer resin insulating layer before the exposure treatment is adjusted to 10 to 12% by weight. 10-1 at 50-60 ° C
This is because the amount of the solvent can be achieved only by heating for 20 minutes.

【0013】上記耐熱性樹脂マトリックスとしては、例
えば、熱硬化性樹脂や熱硬化性樹脂(熱硬化基の一部を
感光化したものも含む)と熱可塑性樹脂との複合体など
を使用することができる。上記熱硬化性樹脂としては、
例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹
脂、熱硬化性ポリオレフィン樹脂などが挙げられる。ま
た、上記熱硬化性樹脂を感光化する場合は、メタクリル
酸やアクリル酸などを用い、熱硬化基を(メタ)アクリ
ル化反応させる。特にエポキシ樹脂の(メタ)アクリレ
ートが最適である。
As the heat-resistant resin matrix, for example, a thermosetting resin or a composite of a thermosetting resin (including one in which a part of the thermosetting group is sensitized) and a thermoplastic resin are used. Can be. As the thermosetting resin,
For example, an epoxy resin, a phenol resin, a polyimide resin, a thermosetting polyolefin resin, and the like can be given. When the thermosetting resin is exposed to light, a methacrylic acid, acrylic acid, or the like is used to cause the thermosetting group to undergo a (meth) acrylation reaction. Particularly, epoxy resin (meth) acrylate is most suitable.

【0014】上記エポキシ樹脂としては、例えば、ノボ
ラック型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂などを使用
することができる。上記熱可塑性樹脂としては、例え
ば、ポリエーテルスルフォン、ポリスルフォン、ポリフ
ェニレンスルフォン、ポリフェニレンサルファイド、ポ
リフェニルエーテル、ポリエーテルイミドなどを使用す
ることができる。熱可塑性樹脂の含有量としては、全固
形分に対して30重量%以下であることが望ましい。3
0重量%以下に調整することにより、混練時の有機溶剤
量を減らすことができ、指触乾燥時点での有機溶剤の量
を15重量%以下に調整しやすくなるからである。
As the epoxy resin, for example, a novolak type epoxy resin, an alicyclic epoxy resin and the like can be used. As the thermoplastic resin, for example, polyether sulfone, polysulfone, polyphenylene sulfone, polyphenylene sulfide, polyphenyl ether, polyether imide, and the like can be used. The content of the thermoplastic resin is desirably 30% by weight or less based on the total solid content. 3
By adjusting the amount to 0% by weight or less, the amount of the organic solvent at the time of kneading can be reduced, and the amount of the organic solvent at the time of touch drying can be easily adjusted to 15% by weight or less.

【0015】上記酸、アルカリおよび酸化剤から選ばれ
る少なくとも1種からなる粗化液に対して可溶性の物質
は、無機粒子、樹脂粒子、金属粒子、ゴム粒子、液相樹
脂および液相ゴムから選ばれる少なくとも1種であるこ
とが望ましい。
The substance soluble in the roughening liquid comprising at least one selected from the above-mentioned acids, alkalis and oxidizing agents is selected from inorganic particles, resin particles, metal particles, rubber particles, liquid resin and liquid rubber. It is desirable that it is at least one kind.

【0016】上記無機粒子としては、例えば、シリカ、
アルミナ、炭酸カルシウム、タルク、ドロマイトなどが
挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種以上
を併用してもよい。上記アルミナ粒子は、ふっ酸で溶解
除去することができ、炭酸カルシウムは塩酸で溶解除去
することができる。また、ナトリウム含有シリカやドロ
マイトはアルカリ水溶液で溶解除去することができる。
The inorganic particles include, for example, silica,
Examples include alumina, calcium carbonate, talc, and dolomite. These may be used alone or in combination of two or more. The alumina particles can be dissolved and removed with hydrofluoric acid, and the calcium carbonate can be dissolved and removed with hydrochloric acid. Further, sodium-containing silica and dolomite can be dissolved and removed with an alkaline aqueous solution.

【0017】上記樹脂粒子としては、例えば、アミノ樹
脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グアナミン樹脂など)、
エポキシ樹脂、ビスマレイミド−トリアジン樹脂など挙
げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種以上を
併用してもよい。なお、上記エポキシ樹脂は、酸や酸化
剤に溶解するものや、これらに難溶解性のものを、オリ
ゴマーの種類や硬化剤を選択することにより任意に製造
することができる。例えば、ビスフェノールA型エポキ
シ樹脂をアミン系硬化剤で硬化させた樹脂はクロム酸に
非常によく溶けるが、クレゾールノボラック型エポキシ
樹脂をイミダゾール硬化剤で硬化させた樹脂は、クロム
酸には溶解しにくい。
Examples of the resin particles include amino resins (melamine resins, urea resins, guanamine resins, etc.),
Epoxy resins, bismaleimide-triazine resins and the like can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more. The epoxy resin can be arbitrarily manufactured by dissolving in an acid or an oxidizing agent or hardly dissolving in the acid or the oxidizing agent by selecting the type of the oligomer and the curing agent. For example, a resin obtained by curing a bisphenol A-type epoxy resin with an amine-based curing agent is very soluble in chromic acid, but a resin obtained by curing a cresol novolac-type epoxy resin with an imidazole curing agent is not easily dissolved in chromic acid. .

【0018】上記樹脂粒子は予め硬化処理されているこ
とが必要である。硬化させておかないと上記樹脂粒子が
樹脂マトリックスを溶解させる溶剤に溶解してしまうた
め、均一に混合されてしまい、酸や酸化剤で樹脂粒子の
みを選択的に溶解除去することができないからである。
It is necessary that the resin particles have been previously cured. If not cured, the resin particles will dissolve in the solvent that dissolves the resin matrix, so they will be uniformly mixed, and it will not be possible to selectively dissolve and remove only the resin particles with an acid or oxidizing agent. is there.

【0019】上記金属粒子としては、例えば、金、銀、
銅、スズ、亜鉛、ステンレス、アルミニウムなどが挙げ
られる。これらは、単独で用いてもよく、2種以上を併
用してもよい。上記ゴム粒子としては、例えば、アクリ
ロニトリル−ブタジエンゴム、ポリクロロプレンゴム、
ポリイソプレンゴム、アクリルゴム、多硫系剛性ゴム、
フッ素ゴム、ウレタンゴム、シリコーンゴム、ABS樹
脂などが挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、
2種以上を併用してもよい。
The metal particles include, for example, gold, silver,
Examples include copper, tin, zinc, stainless steel, and aluminum. These may be used alone or in combination of two or more. Examples of the rubber particles include acrylonitrile-butadiene rubber, polychloroprene rubber,
Polyisoprene rubber, acrylic rubber, polysulfuric rigid rubber,
Fluorine rubber, urethane rubber, silicone rubber, ABS resin and the like can be mentioned. These may be used alone,
Two or more kinds may be used in combination.

【0020】上記液相樹脂としては、上記熱硬化性樹脂
の未硬化溶液を使用することができ、このような液相樹
脂の具体例としては、例えば、未硬化のエポキシオリゴ
マーとアミン系硬化剤の混合液などが挙げられる。上記
液相ゴムとしては、例えば、上記ゴムの未硬化溶液など
を使用することができる。
As the liquid phase resin, an uncured solution of the thermosetting resin can be used. Specific examples of such a liquid phase resin include, for example, an uncured epoxy oligomer and an amine-based curing agent. And the like. As the liquid phase rubber, for example, an uncured solution of the rubber can be used.

【0021】上記液相樹脂や液相ゴムを用いて粗化面形
成用樹脂組成物を調製する場合には、耐熱性樹脂マトリ
ックスと可溶性の物質が均一に相溶しない(つまり相分
離するように)ように、これらの物質を選択する必要が
ある。上記基準により選択された耐熱性樹脂マトリック
スと可溶性の物質とを混合することにより、上記耐熱性
樹脂マトリックスの「海」の中に液相樹脂または液相ゴ
ムの「島」が分散している状態、または、液相樹脂また
は液相ゴムの「海」の中に、耐熱性樹脂マトリックスの
「島」が分散している状態の粗化面形成用樹脂組成物を
調製することができる。
When a resin composition for forming a roughened surface is prepared by using the above liquid phase resin or liquid phase rubber, the heat resistant resin matrix and the soluble substance are not uniformly compatible (that is, the phase is separated. You need to choose these substances, as in By mixing a heat-resistant resin matrix and a soluble substance selected according to the above criteria, a state in which "islands" of liquid-phase resin or liquid-phase rubber are dispersed in the "sea" of the heat-resistant resin matrix Alternatively, a resin composition for forming a roughened surface in which "islands" of a heat-resistant resin matrix are dispersed in the "sea" of a liquid-phase resin or a liquid-phase rubber can be prepared.

【0022】そして、このような状態の粗化面形成用樹
脂組成物を硬化させた後、「海」または「島」の液相樹
脂または液相ゴムを除去することにより粗化面を形成す
ることができる。
After curing the resin composition for forming a roughened surface in such a state, the roughened surface is formed by removing the liquid resin or the liquid rubber in the "sea" or "island". be able to.

【0023】上記粗化液を構成する酸としては、例え
ば、リン酸、塩酸、硫酸や、蟻酸、酢酸などの有機酸な
どが挙げられるが、これらのなかでは有機酸を用いるこ
とが望ましい。粗化処理した場合に、バイアホールから
露出する金属導体層を腐食させにくいからである。上記
酸化剤としては、例えば、クロム酸、アルカリ性過マン
ガン酸塩(過マンガン酸カリウムなど)の水溶液などを
用いることが望ましい。また、アルカリとしては、水酸
化ナトリウム、水酸化カリウムなどの水溶液が望まし
い。
The acid constituting the roughening solution includes, for example, phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, and organic acids such as formic acid and acetic acid. Among them, it is preferable to use an organic acid. This is because when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded. As the oxidizing agent, for example, an aqueous solution of chromic acid, an alkaline permanganate (such as potassium permanganate), or the like is desirably used. As the alkali, an aqueous solution of sodium hydroxide, potassium hydroxide or the like is desirable.

【0024】上記粗化面形成用樹脂組成物の耐熱性樹脂
マトリックス中には、(メタ)アクリル酸エステルモノ
マーが含有されていることが望ましい。
The heat-resistant resin matrix of the resin composition for forming a roughened surface desirably contains a (meth) acrylate monomer.

【0025】上記(メタ)アクリル酸エステルモノマー
としては、例えば、下記の化学式(1)、(2)、
(3)、(4)、(5)で示される化合物がが挙げられ
る。
The above (meth) acrylic acid ester monomers include, for example, the following chemical formulas (1), (2),
Compounds represented by (3), (4) and (5) are mentioned.

【0026】[0026]

【化1】 Embedded image

【0027】(式中、nは、0または1、a、bは、1
または2を表す。)
(Where n is 0 or 1, a and b are 1
Or 2 is represented. )

【0028】[0028]

【化2】 Embedded image

【0029】(式中、nは、0または1、cは、1また
は2を表す。)
(In the formula, n represents 0 or 1, and c represents 1 or 2.)

【0030】[0030]

【化3】 Embedded image

【0031】[0031]

【化4】 Embedded image

【0032】[0032]

【化5】 Embedded image

【0033】上記化学式(1)、(2)で示される化合
物としては、具体的には、例えば、日本火薬社製のKA
YAMER PM−2、LAYAMAER PM−21
などが挙げられる。上記日本火薬社製のKAYAMER
PM−2は、下記化学式(6)で表されるメタクリル
酸エステルモノマーを主成分とし、
Specific examples of the compounds represented by the chemical formulas (1) and (2) include, for example, KA manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.
YAMER PM-2, LAYAMAER PM-21
And the like. KAYAMER manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.
PM-2 contains a methacrylate monomer represented by the following chemical formula (6) as a main component,

【0034】[0034]

【化6】 Embedded image

【0035】下記化学式(7)および(8)で表される
メタクリル酸エステルモノマーを含有した混合物であ
る。
This is a mixture containing methacrylic acid ester monomers represented by the following chemical formulas (7) and (8).

【0036】[0036]

【化7】 Embedded image

【0037】[0037]

【化8】 Embedded image

【0038】また、日本火薬社製のLAYAMAER
PM−21は、下記化学式(9)で表されるメタクリル
酸エステルモノマーを主成分とし、
LAYAMAER manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.
PM-21 has a methacrylate monomer represented by the following chemical formula (9) as a main component,

【0039】[0039]

【化9】 Embedded image

【0040】下記化学式(10)および(11)で表さ
れるメタクリル酸エステルモノマーを含有した混合物で
ある。
This is a mixture containing methacrylic acid ester monomers represented by the following chemical formulas (10) and (11).

【0041】[0041]

【化10】 Embedded image

【0042】[0042]

【化11】 Embedded image

【0043】このようなP原子を有する2官能性(メ
タ)アクリル酸エステルモノマー中のフォスフィン酸ま
たはフォスフォン酸は、金属との密着性を改善し、直鎖
分子はその硬化体に可撓性を与える。
Phosphinic acid or phosphonic acid in such a bifunctional (meth) acrylic acid ester monomer having a P atom improves the adhesion to a metal, and the straight-chain molecules are flexible to the cured product. give.

【0044】本発明において、上記無機粒子、上記金属
粒子および上記樹脂粒子を使用する場合は、その平均粒
径は、10μm以下が望ましい。また、特に平均粒径が
2μm未満であって、平均粒径の相対的に大きな粗粒子
と平均粒径が相対的に小さな微粒子との混合粒子を組み
合わせて使用することにより、無電解めっき膜の溶解残
渣をなくし、めっきレジスト下のパラジウム触媒量を少
なくし、しかも、浅くて複雑な粗化面を形成することが
できる。そして、このような複雑な粗化面を形成するこ
とにより、浅い粗化面でも実用的なピール強度を維持す
ることができる。
In the present invention, when the above-mentioned inorganic particles, the above-mentioned metal particles and the above-mentioned resin particles are used, the average particle size is desirably 10 μm or less. Further, in particular, by using a mixture of coarse particles having a relatively large average particle diameter and fine particles having a relatively small average particle diameter having an average particle diameter of less than 2 μm, the electroless plating film Dissolved residues can be eliminated, the amount of palladium catalyst under the plating resist can be reduced, and a shallow and complicated roughened surface can be formed. By forming such a complicated roughened surface, a practical peel strength can be maintained even on a shallow roughened surface.

【0045】上記粗粒子と微粒子とを組み合わせること
により、浅くて複雑な粗化面を形成することができるの
は、使用する粒子径が粗粒子で平均粒径2μm未満であ
るため、これらの粒子が溶解除去されても形成されるア
ンカーは浅くなり、また、除去される粒子は、相対的に
粒子径の大きな粗粒子と相対的に粒子径の小さな微粒子
の混合粒子であるから、形成される粗化面が複雑になる
のである。また、この場合、使用する粒子径は、粗粒子
で平均粒径2μm未満であるため、粗化が進行しすぎて
空隙を発生させることはなく、形成した層間樹脂絶縁層
は層間絶縁性に優れている。
By combining the above coarse particles and fine particles, a shallow and complicated roughened surface can be formed because the coarse particles used are coarse particles having an average particle size of less than 2 μm. The anchor formed even when dissolved is removed becomes shallow, and the particles to be removed are formed by the mixture of coarse particles having a relatively large particle diameter and fine particles having a relatively small particle diameter. The roughened surface becomes complicated. In this case, the particle diameter used is coarse and the average particle diameter is less than 2 μm, so that roughening does not proceed too much and no voids are generated, and the formed interlayer resin insulating layer has excellent interlayer insulating properties. ing.

【0046】また、バイアホール用の開口を露光、現像
処理やレーザ加工等で形成した場合に、通常、バイアホ
ール用の開口の底には絶縁層の残渣が残留するが、本発
明では、絶縁層中にアルカリ、酸、酸化剤などの粗化液
に溶解する成分が存在するため、これら粗化液による粗
化処理によってこのような残渣を容易に除去することが
できる。
When the opening for the via hole is formed by exposure, development processing, laser processing, or the like, the residue of the insulating layer usually remains at the bottom of the opening for the via hole. Since there are components dissolved in the roughening solution such as alkali, acid and oxidizing agent in the layer, such residues can be easily removed by the roughening treatment using the roughening solution.

【0047】上記粗粒子、微粒子とも破砕粒子ではな
く、球状粒子であることが望ましい。破砕粒子の場合、
粗化処理後の粗化面は角張っており、層間樹脂絶縁層が
温度変化した場合、角張った部分の先端に応力集中が発
生しやすく、そのため、ヒートサイクルにより層間樹脂
絶縁層にクラックが生じやすいからである。
It is desirable that both the coarse particles and the fine particles are spherical particles, not crushed particles. For crushed particles,
The roughened surface after the roughening treatment is angular, and when the temperature of the interlayer resin insulating layer changes, stress concentration tends to occur at the tip of the angular portion, and therefore, cracks easily occur in the interlayer resin insulating layer due to a heat cycle. Because.

【0048】本発明においては、形成されるアンカーは
浅いため、セミアディティブ法、フルアディティブ法の
いずれを採用した場合においても、L/Sの両方が40
/40μmより小さいファインパターンを形成すること
ができる。
In the present invention, since the anchor to be formed is shallow, both L / S are 40 when either the semi-additive method or the full-additive method is employed.
Fine patterns smaller than / 40 μm can be formed.

【0049】上記粒子に関し、粗粒子は平均粒径が0.
8μmを超え2.0μm未満であり、微粒子は平均粒径
が0.1〜0.8μmであることが望ましい。この範囲
では、粗化面の深さは概ねRmax=3μm程度とな
り、セミアディテイブ法では、無電解めっき膜をエッチ
ング除去しやすいだけではなく、無電解めっき膜下のP
d触媒をも簡単に除去することができ、また、実用的な
ピール強度1.0〜1.3kg/cmを維持することが
できるからである。
Regarding the above particles, the coarse particles have an average particle size of 0.1.
The average particle diameter of the fine particles is more than 8 μm and less than 2.0 μm, and desirably 0.1 to 0.8 μm. In this range, the depth of the roughened surface is approximately Rmax = approximately 3 μm. In the semi-additive method, not only is the electroless plating film easily removed by etching, but also the P under the electroless plating film is reduced.
This is because the d catalyst can be easily removed, and a practical peel strength of 1.0 to 1.3 kg / cm can be maintained.

【0050】また、フルアディティブ法では、めっきレ
ジスト下のPd触媒核の量を減らすことができるだけで
なく、めっきレジスト残りを防止することができ、浅い
アンカーを形成した場合でも実用的なピール強度1.0
〜1.3kg/cmを維持することができる。
In addition, the full additive method can not only reduce the amount of Pd catalyst nuclei under the plating resist, but also can prevent the plating resist from remaining, so that even if a shallow anchor is formed, a practical peel strength of 1% can be obtained. .0
11.3 kg / cm can be maintained.

【0051】このときの混合重量比は、粗粒子/微粒子
=35/10〜10/10が望ましい。粗粒子が多すぎ
るとアンカーの深さが深くなりすぎて無電解めっき膜を
エッチング除去しにくくなり、粗粒子が少なすぎるとめ
っき膜との密着強度が得られない。上記粗粒子は粗化面
形成用樹脂組成物の固形分に対して10〜40重量%が
望ましい。また、上記微粒子は、粗化面形成用樹脂組成
物の固形分に対して1〜15重量%が望ましい。そし
て、この重量百分率の範囲で粗粒子の重量が微粒子と同
じか多くなるように、その量を調整する。
The mixing weight ratio at this time is desirably from coarse particles / fine particles = 35/10 to 10/10. If the amount of coarse particles is too large, the depth of the anchor becomes too deep to make it difficult to remove the electroless plating film by etching. If the amount of coarse particles is too small, the adhesion strength to the plating film cannot be obtained. The amount of the coarse particles is desirably 10 to 40% by weight based on the solid content of the resin composition for forming a roughened surface. The fine particles are desirably 1 to 15% by weight based on the solid content of the resin composition for forming a roughened surface. Then, the amount of the coarse particles is adjusted so that the weight of the coarse particles is equal to or larger than that of the fine particles in the range of the weight percentage.

【0052】上記粗化面形成用樹脂組成物は、ガラス布
などの繊維質基体に含浸させてBステージ状にしてプリ
プレグとしてもよく、フィルム状に成形してあってもよ
い。さらに、基板の形状に成形してあってもよい。ま
た、上記粗化面形成用樹脂組成物は、構成樹脂をハロゲ
ン化して難燃化したものを用いてもよく、また、色素、
顔料、紫外線吸収剤を添加してもよい。さらに繊維状の
フィラーや無機フィラーを充填して靱性や熱膨張率を調
整してよい。
The above-described resin composition for forming a roughened surface may be impregnated into a fibrous substrate such as a glass cloth to form a B-stage into a prepreg, or may be formed into a film. Further, it may be formed in the shape of a substrate. Further, the resin composition for forming a roughened surface may be a resin obtained by halogenating a constituent resin to make it flame-retardant.
You may add a pigment and an ultraviolet absorber. Further, a fibrous filler or an inorganic filler may be filled to adjust the toughness and the coefficient of thermal expansion.

【0053】上記層間樹脂絶縁層の粗化面の深さは、R
max=1〜5μmが望ましい。この粗化深さは、従来
の接着剤で形成されている粗化面の深さRmax=10
μmの1/2程度であり、めっきレジスト下の無電解め
っき膜を溶解除去してもめっき残渣が残らず、めっきレ
ジスト下のパラジウム触媒核の量も少なくすることがで
きるからである。
The depth of the roughened surface of the interlayer resin insulation layer is R
It is desirable that max = 1 to 5 μm. This roughening depth is equal to the depth of the roughened surface Rmax = 10 formed with the conventional adhesive.
This is about 1/2 of μm, so that even if the electroless plating film under the plating resist is dissolved and removed, no plating residue remains, and the amount of palladium catalyst nuclei under the plating resist can be reduced.

【0054】また、セミアディティブ法では、導体回路
は無電解めっきの薄付け部分と電解めっきの厚付け部分
とで構成されるため、電解めっきのめっき応力が小さ
く、アンカーが浅くともめっき膜は剥離しにくい。
In the semi-additive method, since the conductor circuit is composed of a thin portion of electroless plating and a thick portion of electrolytic plating, the plating stress of electrolytic plating is small, and even if the anchor is shallow, the plating film is peeled off. Hard to do.

【0055】本発明の多層プリント配線板の製造方法に
おいては、粗化面形成用樹脂組成物を用いて形成した下
層導体回路を有する基板上の層間樹脂絶縁層の上に導体
回路を形成するが、この導体回路表面に、エッチング、
めっき等による粗化層を形成することが望ましい。
In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, a conductive circuit is formed on an interlayer resin insulating layer on a substrate having a lower conductive circuit formed using a resin composition for forming a roughened surface. , Etching,
It is desirable to form a roughened layer by plating or the like.

【0056】上記多層プリント配線板をフルアディティ
ブ法により製造する場合には、導体回路の上面に、ま
た、サブトラクティブ法により製造する場合には、導体
回路の側面または全面に粗化面を形成することが望まし
い。これらの粗化面により、樹脂絶縁層と導体回路との
密着性が改善され、ヒートサイクル時における導体回路
と樹脂絶縁層との熱膨張率差に起因するクラックの発生
を抑制することができるからである。
A roughened surface is formed on the upper surface of the conductor circuit when the above-mentioned multilayer printed wiring board is manufactured by the full additive method, and a roughened surface is formed on the side surface or the entire surface of the conductive circuit when the multilayer printed wiring board is manufactured by the subtractive method. It is desirable. Due to these roughened surfaces, the adhesion between the resin insulating layer and the conductor circuit is improved, and the occurrence of cracks due to the difference in thermal expansion coefficient between the conductor circuit and the resin insulating layer during a heat cycle can be suppressed. It is.

【0057】また、上記粗化層を形成した場合には、導
体回路を被覆するソルダーレジストや上層の層間樹脂絶
縁層との密着性を改善することができ、ヒートサイクル
時に発生するクラックを抑制することができる。
Further, when the roughened layer is formed, the adhesion to the solder resist covering the conductor circuit and the upper interlayer resin insulating layer can be improved, and cracks generated during a heat cycle can be suppressed. be able to.

【0058】次に、本発明にかかる多層プリント配線板
を製造する方法をセミアディティブを例にとり説明す
る。 (1) まず、コア基板の表面に内層銅パターン(下層導体
回路)が形成された基板を作製する。このコア基板に対
する導体回路を形成する際には、銅張積層板を特定パタ
ーン状にエッチングする方法、ガラスエポキシ基板、ポ
リイミド基板、セラミック基板、金属基板などの基板に
無電解めっき用接着剤層を形成し、この無電解めっき用
接着剤層表面を粗化して粗化面とした後、無電解めっき
を施す方法、または、上記粗化面全体に無電解めっきを
施し、めっきレジストを形成し、めっきレジスト非形成
部分に電解めっきを施した後、めっきレジストを除去
し、エッチング処理を行って、電解めっき膜と無電解め
っき膜からなる導体回路を形成する方法(セミアディテ
ィブ法)などを用いることができる。
Next, a method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention will be described by taking a semi-additive as an example. (1) First, a substrate having an inner copper pattern (lower conductive circuit) formed on the surface of a core substrate is prepared. When forming a conductor circuit for this core substrate, a method of etching a copper-clad laminate into a specific pattern, a method of forming an adhesive layer for electroless plating on a substrate such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a ceramic substrate, and a metal substrate. Forming, after roughening the surface of the adhesive layer for electroless plating to a roughened surface, a method of performing electroless plating, or performing electroless plating on the entire roughened surface to form a plating resist, Using a method (semi-additive method) of forming a conductor circuit consisting of an electrolytic plating film and an electroless plating film by applying a plating resist after removing the plating resist after applying electrolytic plating to the portion where no plating resist is formed, and performing an etching process. Can be.

【0059】さらに、上記配線基板の導体回路の表面に
は、粗化面または粗化層を形成することができる。ここ
で、上記粗化面または粗化層は、研磨処理、エッチング
処理、黒化還元処理およびめっき処理のうちのいずれか
の方法により形成されることが望ましい。これらの処理
のうち、黒化還元処理を行う際には、NaOH(20g
/l)、NaClO2 (50g/l)、Na3 PO4
(15.0g/l)を含む水溶液からなる黒化浴(酸化
浴)、および、NaOH(2.7g/l)、NaBH4
(1.0g/l)を含む水溶液からなる還元浴を用いて
粗化面を形成する方法が望ましい。
Further, a roughened surface or a roughened layer can be formed on the surface of the conductor circuit of the wiring board. Here, the roughened surface or the roughened layer is desirably formed by any one of a polishing process, an etching process, a blackening reduction process, and a plating process. Of these treatments, when performing the blackening reduction treatment, NaOH (20 g
/ L), NaClO 2 (50 g / l), Na 3 PO 4
(Oxidation bath) consisting of an aqueous solution containing (15.0 g / l), NaOH (2.7 g / l), NaBH 4
A method of forming a roughened surface using a reducing bath composed of an aqueous solution containing (1.0 g / l) is desirable.

【0060】また、めっき処理により粗化層を形成する
際には、硫酸銅(1〜40g/l)、硫酸ニッケル
(0.1〜6.0g/l)、クエン酸(10〜20g/
l)、次亜リン酸ナトリウム(10〜100g/l)、
ホウ酸(10〜40g/l)、界面活性剤(日信化学工
業社製、サーフィノール465)(0.01〜10g/
l)を含むpH=9の無電解めっき浴にて無電解めっき
を施し、Cu−Ni−P合金からなる粗化層を形成する
方法が望ましい。この範囲で析出する被膜の結晶構造は
針状構造になるため、アンカー効果に優れるからであ
る。この無電解めっき浴には上記化合物に加えて錯化剤
や添加剤を加えてもよい。
When a roughened layer is formed by plating, copper sulfate (1 to 40 g / l), nickel sulfate (0.1 to 6.0 g / l), and citric acid (10 to 20 g / l) are used.
l), sodium hypophosphite (10-100 g / l),
Boric acid (10 to 40 g / l), surfactant (Surfynol 465, manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.) (0.01 to 10 g / l)
It is preferable to form a roughened layer made of a Cu-Ni-P alloy by performing electroless plating in an electroless plating bath having a pH of 9 and containing l). This is because the crystalline structure of the film deposited in this range has a needle-like structure, and thus has an excellent anchor effect. A complexing agent or an additive may be added to the electroless plating bath in addition to the above compounds.

【0061】上記エッチング処理方法として、第二銅錯
体および有機酸からなるエッチング液を酸素共存化で作
用させ、導体回路表面を粗化する方法が挙げられる。こ
の場合、下記の式(12)および式(13)の化学反応
によりエッチングが進行する。
As the above-mentioned etching method, there is a method in which an etching solution comprising a cupric complex and an organic acid is allowed to act in the presence of oxygen to roughen the surface of the conductor circuit. In this case, the etching proceeds by the chemical reaction of the following equations (12) and (13).

【0062】[0062]

【化12】 Embedded image

【0063】上記第二銅錯体としては、アゾール類の第
二銅錯体が望ましい。このアゾール類の第二銅錯体は、
金属銅等を酸化する酸化剤として作用する。アゾール類
としては、例えば、ジアゾール、トリアゾール、テトラ
ゾールが挙げられる。これらのなかでも、イミダゾー
ル、2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾー
ル、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニ
ルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール等が望ま
しい。上記エッチング液中のアゾール類の第二銅錯体の
含有量は、1〜15重量%が望ましい。溶解性及び安定
性に優れ、また、触媒核を構成するPdなどの貴金属を
も溶解させることができるからである。
As the cupric complex, a cupric complex of an azole is desirable. This cupric complex of azoles is
It acts as an oxidizing agent that oxidizes metallic copper and the like. Examples of the azoles include diazole, triazole, and tetrazole. Among these, imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-undecylimidazole and the like are desirable. The content of the cupric complex of azoles in the etching solution is desirably 1 to 15% by weight. This is because it is excellent in solubility and stability, and can also dissolve noble metals such as Pd constituting the catalyst core.

【0064】また、酸化銅を溶解させるために、有機酸
をアゾール類の第二銅錯体に配合する。上記有機酸の具
体例としては、例えば、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、酪
酸、吉草酸、カプロン酸、アクリル酸、クロトン酸、シ
ュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、マレイン
酸、安息香酸、グリコール酸、乳酸、リンゴ酸、スルフ
ァミン酸等が挙げられる。これらは、単独で用いてもよ
く、2種以上を併用してもよい。
In order to dissolve the copper oxide, an organic acid is added to the azole cupric complex. Specific examples of the organic acid include, for example, formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, caproic acid, acrylic acid, crotonic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid, maleic acid, benzoic acid, Glycolic acid, lactic acid, malic acid, sulfamic acid and the like can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more.

【0065】エッチング液中の有機酸の含有量は、0.
1〜30重量%が望ましい。酸化された銅の溶解性を維
持し、かつ溶解安定性を確保することができるからであ
る。上記式(3)に示したように、発生した第一銅錯体
は、酸の作用で溶解し、酸素と結合して第二銅錯体とな
って、再び銅の酸化に寄与する。
The content of the organic acid in the etching solution is 0.1%.
1 to 30% by weight is desirable. This is because the solubility of the oxidized copper can be maintained and the solubility stability can be ensured. As shown in the above formula (3), the generated cuprous complex dissolves by the action of an acid and combines with oxygen to form a cupric complex, which again contributes to copper oxidation.

【0066】銅の溶解やアゾール類の酸化作用を補助す
るために、ハロゲンイオン、例えば、フッ素イオン、塩
素イオン、臭素イオン等を上記エッチング液に加えても
よい。また、塩酸、塩化ナトリウム等を添加して、ハロ
ゲンイオンを供給することができる。エッチング液中の
ハロゲンイオン量は、0.01〜20重量%が望まし
い。形成された粗化面と層間樹脂絶縁層との密着性に優
れるからである。
To assist in dissolving copper and oxidizing azoles, halogen ions, for example, fluorine ions, chlorine ions, bromine ions, etc., may be added to the above etching solution. Further, halogen ions can be supplied by adding hydrochloric acid, sodium chloride, or the like. The amount of halogen ions in the etching solution is desirably 0.01 to 20% by weight. This is because adhesion between the formed roughened surface and the interlayer resin insulating layer is excellent.

【0067】エッチング液を調製する際には、アゾール
類の第二銅錯体と有機酸(必要に応じてハロゲンイオン
を有するものを使用)を、水に溶解する。また、上記エ
ッチング液として、市販のエッチング液、例えば、メッ
ク社製、商品名「メック エッチボンド」を使用する。
上記エッチング液を用いた場合のエッチング量は1〜1
0μmが望ましい。エッチング量が10μmを超える
と、形成された粗化面とバイアホール導体との接続不良
を起こし、一方、エッチング量が1μm未満では、その
上に形成する層間樹脂絶縁層との密着性が不充分となる
からである。
When preparing an etching solution, a cupric complex of an azole and an organic acid (if necessary, having a halogen ion) are dissolved in water. As the etching solution, a commercially available etching solution, for example, “Mech Etch Bond” manufactured by Mec Co., Ltd. is used.
The amount of etching when using the above etching solution is 1 to 1
0 μm is desirable. When the etching amount exceeds 10 μm, poor connection between the formed roughened surface and the via-hole conductor occurs. On the other hand, when the etching amount is less than 1 μm, the adhesion to the interlayer resin insulating layer formed thereon is insufficient. This is because

【0068】粗化層または粗化面は、イオン化傾向が銅
より大きくチタン以下である金属または貴金属の層(以
下、金属層という)で被覆されていてもよい。このよう
な金属としては、例えば、チタン、アルミニウム、亜
鉛、鉄、インジウム、タリウム、コバルト、ニッケル、
スズ、鉛、ビスマスなどが挙げられる。また、貴金属と
しては、例えば、金、銀、白金、パラジウムなどが挙げ
られる。これらは、単独で用いてもよく、2種以上を併
用して複数の層を形成してもよい。
The roughened layer or roughened surface may be covered with a layer of a metal or a noble metal having a higher ionization tendency than copper and not more than titanium (hereinafter, referred to as a metal layer). Such metals include, for example, titanium, aluminum, zinc, iron, indium, thallium, cobalt, nickel,
Examples include tin, lead, and bismuth. Examples of the noble metal include gold, silver, platinum, and palladium. These may be used alone or in combination of two or more to form a plurality of layers.

【0069】これらの金属層は粗化層を被覆し、層間樹
脂絶縁層を粗化処理しても局部電極反応を防止して導体
回路の溶解を防止する。これらの金属の厚さは0.1〜
2μmが望ましい。
These metal layers cover the roughened layer, and even if the interlayer resin insulating layer is roughened, the local electrode reaction is prevented and the conductor circuit is prevented from melting. The thickness of these metals is 0.1-
2 μm is desirable.

【0070】上記金属層を構成する金属のなかでは、ス
ズが望ましい。スズは無電解置換めっきにより薄い層を
形成することができ、粗化層に追従することができるか
らである。スズからなる金属層を形成する場合は、ホウ
フッ化スズ−チオ尿素を含む溶液、または、塩化スズ−
チオ尿素を含む溶液を使用して置換めっきを行う。この
場合、Cu−Snの置換反応により、0.1〜2μm程
度のSn層が形成される。貴金属からなる金属層を形成
する場合は、スパッタや蒸着などの方法を採用すること
ができる。
Of the metals constituting the metal layer, tin is desirable. This is because tin can form a thin layer by electroless displacement plating and can follow the roughened layer. When forming a metal layer made of tin, a solution containing tin borofluoride-thiourea, or tin chloride-
Displacement plating is performed using a solution containing thiourea. In this case, a Sn layer having a thickness of about 0.1 to 2 μm is formed by the substitution reaction of Cu—Sn. When a metal layer made of a noble metal is formed, a method such as sputtering or vapor deposition can be employed.

【0071】なお、コア基板には、スルーホールが形成
され、このスルーホールを介して表面と裏面の配線層が
電気的に接続されていてもよい。また、スルーホールお
よびコア基板の導体回路間にはビスフェノールF型エポ
キシ樹脂などの低粘度の樹脂が充填されて、平滑性が確
保されていてもよい。
Note that a through hole may be formed in the core substrate, and the wiring layer on the front surface and the back surface may be electrically connected via the through hole. In addition, a low-viscosity resin such as a bisphenol F-type epoxy resin may be filled between the through hole and the conductor circuit of the core substrate to ensure smoothness.

【0072】(2) 次に、上記(1) で作製した基板の上
に、有機溶剤を含む粗化面形成用樹脂組成物を塗布、乾
燥して粗化面形成用樹脂組成物の層を設ける。有機溶剤
を含む粗化面形成用樹脂組成物としては、上記した有機
溶剤の含有量が10重量%以下の粗化面形成用樹脂組成
物を使用する。なお、粗化面形成用樹脂組成物層は複数
層とし、各層の粒子径を変えてもよい。例えば、下層を
平均粒径1.0μmとし、上層を平均粒径1.0μmと
平均粒径0.5μmの混合粒子として、粒子径が異なる
粗化面形成用樹脂組成物の硬化体で構成してもよい。下
層の粒子径は、平均粒径0.1〜2.0μmが望まし
く、平均粒径0.1〜1.0μmがより望ましい。粗化
面形成用樹脂組成物の塗布を行う際には、ロールコー
タ、カーテンコータなどを使用することができる。
(2) Next, on the substrate prepared in the above (1), a resin composition for forming a roughened surface containing an organic solvent is applied and dried to form a layer of the resin composition for forming a roughened surface. Provide. As the roughened surface forming resin composition containing an organic solvent, the above roughened surface forming resin composition having an organic solvent content of 10% by weight or less is used. The resin composition layer for forming a roughened surface may have a plurality of layers, and the particle diameter of each layer may be changed. For example, the lower layer has an average particle size of 1.0 μm, and the upper layer is a mixed particle having an average particle size of 1.0 μm and an average particle size of 0.5 μm, and is composed of a cured product of a resin composition for forming a roughened surface having different particle sizes. You may. The lower layer preferably has an average particle size of 0.1 to 2.0 μm, more preferably an average particle size of 0.1 to 1.0 μm. When applying the resin composition for forming a roughened surface, a roll coater, a curtain coater, or the like can be used.

【0073】(3) 上記(2) で形成した粗化面形成用樹脂
組成物層を乾燥して半硬化状態とした後、バイアホール
用開口を設ける。粗化面形成用樹脂組成物層を乾燥させ
た状態では、導体回路パターン上の上記樹脂組成物層の
厚さが薄く、大面積を持つプレーン導体層上の層間樹脂
絶縁層の厚さが厚くなり、また導体回路と導体回路非形
成部の凹凸に起因して、層間樹脂絶縁層に凹凸が発生し
ていることが多いため、金属板や金属ロールを用い、加
熱しながら押圧して、層間樹脂絶縁層の表面を平坦化す
ることが望ましい。
(3) After the resin composition layer for forming a roughened surface formed in the above (2) is dried to a semi-cured state, an opening for a via hole is provided. In a state where the roughened surface forming resin composition layer is dried, the thickness of the resin composition layer on the conductor circuit pattern is small, and the thickness of the interlayer resin insulation layer on the plane conductor layer having a large area is large. In addition, since irregularities are often generated in the interlayer resin insulating layer due to irregularities of the conductor circuit and the conductor circuit non-formed portion, using a metal plate or a metal roll, pressing while heating, It is desirable to flatten the surface of the resin insulating layer.

【0074】バイアホール用開口は、粗化面形成用樹脂
組成物層に紫外線などを用いて露光した後現像処理を行
うことにより形成する。また、露光現像処理を行う場合
には、前述したバイアホール用開口に相当する部分に、
黒円のパターンが描画されたフォトマスク(ガラス基板
が好ましい)の黒円のパターンが描画された側を粗化面
形成用樹脂組成物層に密着させた状態で載置し、露光、
現像処理する。
The via hole opening is formed by exposing the resin composition layer for forming a roughened surface to ultraviolet rays or the like and then performing a developing treatment. In the case of performing the exposure and development processing, a portion corresponding to the opening for the via hole described above is provided.
A photomask (preferably a glass substrate) on which a black circle pattern is drawn is placed in a state where the side on which the black circle pattern is drawn is in close contact with the resin composition layer for forming a roughened surface.
Develop.

【0075】4)次に、粗化面形成用樹脂組成物層を硬化
させて層間樹脂絶縁層とし、この層間樹脂絶縁層を粗化
する。粗化処理は、上記層間樹脂絶縁層の表面に存在す
る、無機粒子、樹脂粒子、金属粒子、ゴム粒子、液相樹
脂、液相ゴムから選ばれる少なくとも1種の可溶性の物
質を、上記した酸、酸化剤、アルカリなどの粗化液を用
いて除去することにより行う。粗化面の深さは、1〜5
μm程度が望ましい。
4) Next, the resin composition layer for forming a roughened surface is cured to form an interlayer resin insulating layer, and the interlayer resin insulating layer is roughened. In the roughening treatment, at least one soluble substance selected from inorganic particles, resin particles, metal particles, rubber particles, a liquid-phase resin, and a liquid-phase rubber, which is present on the surface of the interlayer resin insulating layer, is treated with the above-described acid. By using a roughening liquid such as an oxidizing agent or an alkali. The depth of the roughened surface is 1 to 5
About μm is desirable.

【0076】(5) 次に、層間樹脂絶縁層を粗化した配線
基板に触媒核を付与する。触媒核の付与には、貴金属イ
オンや貴金属コロイドなどを用いることが望ましく、一
般的には、塩化パラジウムやパラジウムコロイドを使用
する。なお、触媒核を固定するために加熱処理を行うこ
とが望ましい。このような触媒核としてはパラジウムが
好ましい。
(5) Next, a catalyst nucleus is applied to the wiring board having the interlayer resin insulating layer roughened. It is desirable to use a noble metal ion or a noble metal colloid for providing the catalyst nucleus, and generally, palladium chloride or a palladium colloid is used. Note that it is desirable to perform a heat treatment to fix the catalyst core. Palladium is preferred as such a catalyst core.

【0077】(6) 次に、粗化面全面に無電解めっき膜を
形成する。無電解めっきは、無電解銅めっきが望まし
い。めっき液組成としては、常法のものを使用すること
ができ、例えば、硫酸銅(29g/l)、炭酸ナトリウ
ム(25g/l)、酒石酸塩(140g/l)、水酸化
ナトリウム(40g/l)、37%ホルムアルデヒド
(150ml/l)を含む水溶液でpHが11.5のも
のが望ましい。無電解めっき膜の厚みは0.1〜5μm
が望ましく、0.5〜3μmがより望ましい。
(6) Next, an electroless plating film is formed on the entire roughened surface. Electroless plating is desirably electroless copper plating. As the plating solution composition, a conventional plating solution can be used. For example, copper sulfate (29 g / l), sodium carbonate (25 g / l), tartrate (140 g / l), sodium hydroxide (40 g / l) ), An aqueous solution containing 37% formaldehyde (150 ml / l) having a pH of 11.5 is desirable. The thickness of the electroless plating film is 0.1 to 5 μm
And more preferably 0.5 to 3 μm.

【0078】(7) ついで、無電解めっき膜上に感光性樹
脂フィルム(ドライフィルム)をラミネートし、めっき
レジストパターンが描画されたフォトマスク(ガラス基
板が好ましい)を感光性樹脂フィルムに密着させて載置
し、露光、現像処理することにより、めっきレジストパ
ターンを形成する。
(7) Next, a photosensitive resin film (dry film) is laminated on the electroless plating film, and a photomask (preferably a glass substrate) on which a plating resist pattern is drawn is brought into close contact with the photosensitive resin film. A plating resist pattern is formed by mounting, exposing, and developing.

【0079】(8) 次に、めっきレジスト非形成部に電解
めっきを施し、導体回路およびバイアホールを形成す
る。ここで、上記電解めっきとしては、銅めっきを用い
ることが望ましく、その厚みは、1〜20μmが望まし
い。
(8) Next, electrolytic plating is applied to the portion where the plating resist is not formed to form a conductor circuit and a via hole. Here, it is desirable to use copper plating as the electrolytic plating, and its thickness is desirably 1 to 20 μm.

【0080】(9) さらに、めっきレジストを除去した
後、硫酸と過酸化水素の混合液や過硫酸ナトリウム、過
硫酸アンモニウム、塩化第二鉄、塩化第二銅などのエッ
チング液で無電解めっき膜を溶解除去して、独立した導
体回路とする。さらに、露出した粗化面上のパラジウム
触媒核をクロム酸などで溶解除去する。 (10)次に、導体回路の表面に粗化層または粗化面を形成
する。上記粗化層または粗化面の形成は、上記(1) にお
いて説明した方法を用いることにより行う。
(9) Further, after the plating resist is removed, the electroless plating film is formed with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide or an etching solution such as sodium persulfate, ammonium persulfate, ferric chloride and cupric chloride. Dissolve and remove to form an independent conductor circuit. Further, the palladium catalyst nuclei on the exposed roughened surface are dissolved and removed with chromic acid or the like. (10) Next, a roughened layer or a roughened surface is formed on the surface of the conductor circuit. The formation of the roughened layer or the roughened surface is performed by using the method described in the above (1).

【0081】(11)次に、この基板上に、上記粗化面形成
用樹脂組成物を用い、上述した方法と同様の方法により
層間樹脂絶縁層を形成する。 (12)次に、 (3)〜(9) の工程を繰り返してさらに上層の
導体回路を設け、その上にはんだパッドとして機能する
平板状の導体パッドやバイアホールなどを形成すること
により、多層配線基板を得る。最後にソルダーレジスト
層およびハンダバンプ等を形成することにより、多層プ
リント配線板の製造を終了する。なお、以下の方法は、
セミアディティブ法によるものであるが、フルアディテ
ィブ法を採用してもよい。
(11) Next, an interlayer resin insulating layer is formed on the substrate by using the above-described resin composition for forming a roughened surface by the same method as described above. (12) Next, the steps (3) to (9) are repeated to provide a further upper layer conductive circuit, and a flat conductive pad or via hole functioning as a solder pad is formed thereon, thereby forming a multilayer circuit. Obtain a wiring board. Finally, by forming a solder resist layer and solder bumps, the production of the multilayer printed wiring board is completed. In addition, the following method
Although the method is based on the semi-additive method, a full-additive method may be adopted.

【0082】以下、実施例に基づいて説明する。Hereinafter, description will be made based on embodiments.

【実施例】(実施例1) A.上層の粗化面形成用樹脂組成物の調製 1)クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社
製、分子量:2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でジエチレングリコールジメチルエーテル
(DMDG)に溶解させた樹脂液400重量部、感光性
モノマー(東亜合成社製、アロニックスM325)60
重量部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)5重量部
およびN−メチルピロリドン(NMP)35重量部を容
器にとり、攪拌混合することにより混合組成物を調製し
た。
Example (Example 1) A. Preparation of Resin Composition for Forming Roughened Surface of Upper Layer 1) A 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) is dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) at a concentration of 80% by weight. Resin solution 400 parts by weight, photosensitive monomer (Aronix M325, manufactured by Toagosei Co., Ltd.) 60
A mixed composition was prepared by placing parts by weight, 5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65, manufactured by San Nopco) and 35 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP) in a container and mixing with stirring.

【0083】2)ポリエーテルスルフォン(PES)80
重量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、ポリマーポ
ール)の平均粒径1.0μmのもの72重量部および平
均粒径0.5μmのもの31重量部を別の容器にとり、
攪拌混合した後、さらにNMP257重量部を添加し、
ビーズミルで攪拌混合し、別の混合組成物を調製した。
2) Polyether sulfone (PES) 80
Parts by weight, 72 parts by weight of an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Chemical Co., polymer pole) having an average particle size of 1.0 μm and 31 parts by weight of an epoxy resin particle having an average particle size of 0.5 μm were placed in another container.
After stirring and mixing, 257 parts by weight of NMP were further added,
Another mixed composition was prepared by stirring and mixing with a bead mill.

【0084】3)イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2
E4MZ−CN)20重量部、光重合開始剤(ベンゾフ
ェノン)4重量部、光増感剤(チバガイギー社製、EA
B)4重量部およびNMP16重量部をさらに別の容器
にとり、攪拌混合することにより混合組成物を調製し
た。そして、1)、2)および3)で調製した混合組成物を混
合することにより粗化面形成用樹脂組成物を得た。
3) Imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, 2
E4MZ-CN) 20 parts by weight, photopolymerization initiator (benzophenone) 4 parts by weight, photosensitizer (manufactured by Ciba-Geigy, EA)
B) 4 parts by weight and 16 parts by weight of NMP were placed in another container and mixed by stirring to prepare a mixed composition. Then, a resin composition for forming a roughened surface was obtained by mixing the mixed compositions prepared in 1), 2) and 3).

【0085】B.下層の粗化面形成用樹脂組成物の調製 1)クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社
製、分子量:2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でDMDGに溶解させた樹脂液400重量
部、感光性モノマー(東亜合成社製、アロニックスM3
25)60重量部、消泡剤(サンノプコ社製 S−6
5)5重量部およびNMP35重量部を容器にとり、攪
拌混合することにより混合組成物を調製した。
B. Preparation of Resin Composition for Forming Lower Surface Roughened Surface 1) Resin solution 400 in which 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) is dissolved in DMDG at a concentration of 80% by weight. Parts by weight, photosensitive monomer (Aronix M3 manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.)
25) 60 parts by weight, an antifoaming agent (S-6 manufactured by San Nopco)
5) 5 parts by weight and 35 parts by weight of NMP were placed in a container and mixed by stirring to prepare a mixed composition.

【0086】2)ポリエーテルスルフォン(PES)80
量部、および、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、ポリ
マーポール)の平均粒径0.5μmのもの145重量部
を別の容器にとり、攪拌混合した後、さらにNMP25
8重量部を添加し、ビーズミルで攪拌混合し、別の混合
組成物を調製した。
2) Polyether sulfone (PES) 80
Parts, and 145 parts by weight of epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Kasei Co., Ltd., polymer pole) having an average particle size of 0.5 μm are placed in another container, mixed with stirring, and further mixed with NMP25.
8 parts by weight were added and mixed by stirring with a bead mill to prepare another mixed composition.

【0087】3)イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2
E4MZ−CN)20重量部、光重合開始剤(ベンゾフ
ェノン)20重量部、光増感剤(チバガイギー社製、E
AB)4重量部およびNMP16重量部をさらに別の容
器にとり、攪拌混合することにより混合組成物を調製し
た。そして、1)、2)および3)で調製した混合組成物を混
合することにより無電解めっき用接着剤を得た。
3) Imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, 2
E4MZ-CN) 20 parts by weight, photopolymerization initiator (benzophenone) 20 parts by weight, photosensitizer (Ciba-Geigy, E
AB) 4 parts by weight and 16 parts by weight of NMP were placed in another container and mixed by stirring to prepare a mixed composition. Then, an adhesive for electroless plating was obtained by mixing the mixed compositions prepared in 1), 2) and 3).

【0088】C.樹脂充填剤の調製 1)ビスフェノールF型エポキシモノマー(油化シェル社
製、分子量:310、YL983U)100重量部、表
面にシランカップリング剤がコーティングされた平均粒
径が1.6μmで、最大粒子の直径が15μm以下のS
iO2 球状粒子(アドテック社製、CRS 1101−
CE)170重量部およびレベリング剤(サンノプコ社
製 ペレノールS4)1.5重量部を容器にとり、攪拌
混合することにより、その粘度が23±1℃で4500
0〜49000cps(45〜49Pa・s)の樹脂充
填剤を調製した。なお、硬化剤として、イミダゾール硬
化剤(四国化成社製、2E4MZ−CN)6.5重量部
を用いた。
C. Preparation of resin filler 1) 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell Co., molecular weight: 310, YL983U), the average particle size of which surface is coated with a silane coupling agent is 1.6 μm, and the largest particle Having a diameter of 15 μm or less
iO 2 spherical particles (CRS 1101- manufactured by Adtech Co., Ltd.)
CE) 170 parts by weight and 1.5 parts by weight of a leveling agent (Perenol S4 manufactured by San Nopco Co.) are placed in a container, and the mixture is stirred and mixed to have a viscosity of 4500 at 23 ± 1 ° C.
A resin filler of 0 to 49000 cps (45 to 49 Pa · s) was prepared. As a curing agent, 6.5 parts by weight of an imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.) was used.

【0089】D.多層プリント配線板の製造方法 (1) 厚さ0.6mmのガラスエポキシ樹脂またはBT
(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両
面に18μmの銅箔8がラミネートされている銅張積層
板を出発材料とした(図1(a)参照)。まず、この銅
貼積層板をドリル削孔し、無電解めっき処理を施し、パ
ターン状にエッチングすることにより、基板1の両面に
下層導体回路4とスルーホール9を形成した。
D. Method of manufacturing multilayer printed wiring board (1) Glass epoxy resin or BT having a thickness of 0.6 mm
The starting material was a copper-clad laminate in which 18 μm copper foils 8 were laminated on both sides of a substrate 1 made of (bismaleimide triazine) resin (see FIG. 1A). First, the copper-clad laminate was drilled, subjected to electroless plating, and etched in a pattern to form a lower conductor circuit 4 and through holes 9 on both surfaces of the substrate 1.

【0090】(2) スルーホール9および下層導体回路4
を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、NaOH(1
0g/l)、NaClO2 (40g/l)、Na3 PO
4 (16g/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とす
る黒化処理、および、NaOH(19g/l)、NaB
4 (5g/l)を含む水溶液を還元浴とする還元処理
を行い、そのスルーホール9を含む下層導体回路4の全
表面に粗化面4a、9aを形成した(図1(b)参
照)。
(2) Through-hole 9 and lower conductor circuit 4
After the substrate on which was formed was washed with water and dried, NaOH (1
0 g / l), NaClO 2 (40 g / l), Na 3 PO
4 A blackening treatment using an aqueous solution containing (16 g / l) as a blackening bath (oxidizing bath), NaOH (19 g / l), NaB
A reduction treatment was performed using an aqueous solution containing H 4 (5 g / l) as a reduction bath, and roughened surfaces 4 a and 9 a were formed on the entire surface of the lower conductor circuit 4 including the through holes 9 (see FIG. 1 (b)). ).

【0091】(3) 樹脂充填剤10を、基板の片面にロー
ルコータを用いて塗布することにより、下層導体回路4
間あるいはスルーホール9内に充填し、加熱乾燥させた
後、他方の面についても同様に樹脂充填剤10を導体回
路4間あるいはスルーホール9内に充填し、加熱乾燥さ
せた(図1(c)参照)。
(3) By applying the resin filler 10 to one surface of the substrate using a roll coater, the lower conductor circuit 4
After filling in the space or through hole 9 and heating and drying, the other surface is similarly filled with the resin filler 10 between the conductor circuits 4 or in the through hole 9 and heated and dried (FIG. 1 (c)). )reference).

【0092】(4) 上記(3) の処理を終えた基板の片面
を、#600のベルト研磨紙(三共理化学製)を用いた
ベルトサンダー研磨により、内層銅パターン4の表面や
スルーホール9のランド表面に樹脂充填剤10が残らな
いように研磨し、次いで、上記ベルトサンダー研磨によ
る傷を取り除くためのバフ研磨を行った。このような一
連の研磨を基板の他方の面についても同様に行った。次
いで、100℃で1時間、120℃で3時間、150℃
で1時間、180℃で7時間の加熱処理を行って樹脂充
填剤10を硬化した。
(4) One surface of the substrate after the treatment of the above (3) is subjected to belt sander polishing using # 600 belt abrasive paper (manufactured by Sankyo Rikagaku) to form the surface of the inner layer copper pattern 4 and the through holes 9. Polishing was performed so that the resin filler 10 did not remain on the land surface, and then buffing was performed to remove scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate. Then, at 100 ° C for 1 hour, at 120 ° C for 3 hours, at 150 ° C
For 1 hour and a heat treatment at 180 ° C. for 7 hours to cure the resin filler 10.

【0093】このようにして、スルーホール9や導体回
路非形成部に形成された樹脂充填材10の表層部および
下層導体回路4の表面を平坦化し、樹脂充填材10と下
層導体回路4の側面4aとが粗化面を介して強固に密着
し、またスルーホール9の内壁面9aと樹脂充填材10
とが粗化面を介して強固に密着した絶縁性基板を得た
(図1(d)参照)。この工程により、樹脂充填剤10
の表面と下層導体回路4の表面が同一平面となる。
In this way, the surface layer of the resin filler 10 formed in the through-hole 9 and the portion where the conductor circuit is not formed and the surface of the lower conductor circuit 4 are flattened, and the resin filler 10 and the side surface of the lower conductor circuit 4 are flattened. 4a is firmly adhered through the roughened surface, and the inner wall surface 9a of the through hole 9 and the resin filler 10
Was obtained, thereby obtaining an insulating substrate firmly adhered through the roughened surface (see FIG. 1D). By this step, the resin filler 10
And the surface of the lower conductor circuit 4 are flush with each other.

【0094】(5) 上記(4) の処理で露出した内層導体回
路4およびスルーホール9のランド上面に、厚さ2.5
μmのCu−Ni−P合金からなる粗化層(凹凸層)1
1を形成し、さらに、その粗化層11の表面に厚さ0.
3μmのSn層を設けた(図2(a)参照、但し、Sn
層については図示しない)。その形成方法は以下のよう
である。即ち、硫酸銅(8g/l)、硫酸ニッケル
(0.6g/l)、クエン酸(15g/l)、次亜リン
酸ナトリウム(29g/l)、ホウ酸(31g/l)、
界面活性剤(日信化学工業社製、サーフィノール46
5)(0.1g/l)を含む水溶液からなるpH=9の
無電解銅めっき浴に基板を浸漬し、浸漬1分後に、4秒
あたりに1回の割合で縦および横方向に振動させて、下
層導体回路およびスルーホールのランドの表面に、Cu
−Ni−Pからなる針状合金の粗化層11を設けた。さ
らに、ホウフッ化スズ(0.1mol/l)、チオ尿素
(1.0mol/l)を含む温度50℃、pH=1.2
のめっき浴を用い、Cu−Sn置換反応させ、粗化層の
表面に厚さ0.3μmのSn層を設けた。
(5) On the land upper surface of the inner layer conductor circuit 4 and the through hole 9 exposed by the processing of the above (4), a thickness of 2.5
Roughened layer (concavo-convex layer) 1 made of μm Cu-Ni-P alloy
1 on the surface of the roughened layer 11.
A 3 μm Sn layer was provided (see FIG. 2A, except that Sn
The layers are not shown). The formation method is as follows. That is, copper sulfate (8 g / l), nickel sulfate (0.6 g / l), citric acid (15 g / l), sodium hypophosphite (29 g / l), boric acid (31 g / l),
Surfactant (Surfinol 46, manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.)
5) The substrate was immersed in an electroless copper plating bath at pH = 9 consisting of an aqueous solution containing (0.1 g / l), and after 1 minute of immersion, vibrated vertically and horizontally at a rate of once every 4 seconds. The surface of the land of the lower conductor circuit and the through hole is
A roughened layer 11 of a needle-like alloy made of -Ni-P was provided. Furthermore, a temperature of 50 ° C. containing tin borofluoride (0.1 mol / l) and thiourea (1.0 mol / l), pH = 1.2
Cu-Sn substitution reaction was performed using the plating bath of No. 1, and a Sn layer having a thickness of 0.3 μm was provided on the surface of the roughened layer.

【0095】(6) 基板の両面に、Bに記載の粗化面形成
用樹脂組成物(粘度:1.5Pa・s)をロールコータ
で塗布し、水平状態で20分間放置してから、55℃で
40分の乾燥を行い、粗化面形成用樹脂組成物層2aを
形成した。さらにこの粗化面形成用樹脂組成物層2aの
上にAに記載の粗化面形成用樹脂組成物(粘度:7Pa
・s)をロールコータを用いて塗布し、水平状態で20
分間放置してから、55℃で40分の乾燥を行い、粗化
面形成用樹脂組成物層2bを形成し、これにより、合計
の厚さが35μmの粗化面形成用樹脂組成物層2を形成
した(図2(b)参照)。層間樹脂絶縁層の残留有機溶
剤の量は、この基板を150℃で5時間加熱して、重量
変化で測定した。その結果、10重量%であることがわ
かった。
(6) The resin composition for forming a roughened surface (viscosity: 1.5 Pa · s) described in B was applied to both surfaces of the substrate by a roll coater, and left in a horizontal state for 20 minutes. Drying was performed at 40 ° C. for 40 minutes to form a resin composition layer 2a for forming a roughened surface. Further, on the roughened surface forming resin composition layer 2a, the roughened surface forming resin composition described in A (viscosity: 7 Pa)
・ S) is applied using a roll coater, and 20
After leaving it for 55 minutes, it is dried at 55 ° C. for 40 minutes to form a roughened surface forming resin composition layer 2 b, whereby the total thickness of the roughened surface forming resin composition layer 2 is 35 μm. Was formed (see FIG. 2B). The amount of the residual organic solvent in the interlayer resin insulating layer was measured by heating the substrate at 150 ° C. for 5 hours and changing the weight. As a result, it was found that the content was 10% by weight.

【0096】(7) 上記(6) で粗化面形成用樹脂組成物層
2を形成した基板1の両面に、直径85μmの黒円が印
刷されたフォトマスクフィルムを密着させ、超高圧水銀
灯により500mJ/cm2 強度で露光した後、DMD
G溶液でスプレー現像した。この後、さらに、この基板
を超高圧水銀灯により3000mJ/cm2 強度で露光
し、100℃で1時間、150℃で5時間の加熱処理を
施し、フォトマスクフィルムに相当する寸法精度に優れ
た直径85μmのバイアホール用開口6を有する厚さ3
5μmの層間樹脂絶縁層2を形成した(図2(c)参
照)。なお、バイアホールとなる開口には、スズめっき
層を部分的に露出させた。
(7) A photomask film on which a black circle having a diameter of 85 μm is printed is brought into close contact with both surfaces of the substrate 1 on which the resin composition layer 2 for forming a roughened surface has been formed in the above (6), and is brought into contact with an ultrahigh pressure mercury lamp. After exposure at 500 mJ / cm 2 intensity, DMD
Spray developed with G solution. Thereafter, the substrate is further exposed to an ultrahigh pressure mercury lamp at an intensity of 3000 mJ / cm 2 , and subjected to a heat treatment at 100 ° C. for 1 hour and at 150 ° C. for 5 hours to obtain a diameter excellent in dimensional accuracy equivalent to a photomask film. Thickness 3 having 85 μm via hole opening 6
An interlayer resin insulation layer 2 having a thickness of 5 μm was formed (see FIG. 2C). Note that the tin plating layer was partially exposed in the opening serving as the via hole.

【0097】(8) バイアホール用開口6を形成した基板
を、800g/lのクロム酸を含む溶液に70℃で19
分間浸漬し、層間樹脂絶縁層2の表面に存在するエポキ
シ樹脂粒子を溶解除去することにより、層間樹脂絶縁層
2の表面を粗面(深さ3μm)とし、その後、中和溶液
(シプレイ社製)に浸漬してから水洗いした(図2
(d)参照)。さらに、粗面化処理した該基板の表面
に、パラジウム触媒(アトテック製)を付与することに
より、層間樹脂絶縁層2の表面およびバイアホール用開
口6の内壁面に触媒核を付着させた。
(8) The substrate having the via hole opening 6 formed thereon was placed in a solution containing 800 g / l chromic acid at 70 ° C. for 19 hours.
The surface of the interlayer resin insulation layer 2 is roughened (depth: 3 μm) by dissolving and removing the epoxy resin particles present on the surface of the interlayer resin insulation layer 2, and then neutralizing solution (manufactured by Shipley Co., Ltd.) ) And washed with water (Fig. 2)
(D)). Further, by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the substrate subjected to the surface roughening treatment, catalyst nuclei were attached to the surface of the interlayer resin insulating layer 2 and the inner wall surface of the via hole opening 6.

【0098】(9) 次に、以下の組成の無電解銅めっき水
溶液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ0.8μmの
無電解銅めっき膜12を形成した(図3(a)参照)。
このとき、めっき膜が薄いため無電解めっき膜表面に
は、凹凸が観察された。 〔無電解めっき水溶液〕 EDTA 150 g/l 硫酸銅 20 g/l HCHO 30 ml/l NaOH 40 g/l α、α’−ビピリジル 80 mg/l ポリエチレングリコール(PEG) 0.1 g/l 〔無電解めっき条件〕 70℃の液温度で30分
(9) Next, the substrate was immersed in an aqueous electroless copper plating solution having the following composition to form an electroless copper plating film 12 having a thickness of 0.8 μm on the entire rough surface (FIG. 3 (a)). )reference).
At this time, since the plating film was thin, irregularities were observed on the surface of the electroless plating film. [Electroless plating aqueous solution] EDTA 150 g / l Copper sulfate 20 g / l HCHO 30 ml / l NaOH 40 g / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l Polyethylene glycol (PEG) 0.1 g / l Electroplating conditions] 30 minutes at a liquid temperature of 70 ° C

【0099】(10)市販の感光性ドライフィルムを無電解
銅めっき膜12に貼り付け、マスクを載置して、100
mJ/cm2 で露光し、0.8%炭酸ナトリウム水溶液
で現像処理することにより、めっきレジスト3を設けた
(図3(b)参照)。
(10) A commercially available photosensitive dry film is adhered to the electroless copper plating film 12, and a mask is placed thereon.
Exposure at mJ / cm 2 and development with a 0.8% aqueous sodium carbonate solution provided a plating resist 3 (see FIG. 3B).

【0100】(11)ついで、基板を50℃の水で洗浄して
脱脂し、25℃の水で水洗後、さらに硫酸で洗浄してか
ら、以下の条件で電解銅めっきを施し、厚さ15μmの
電解銅めっき膜13を形成した(図3(c)参照)。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 180 g/l 硫酸銅 80 g/l 添加剤 1 ml/l (アトテックジャパン社製、カパラシドGL) 〔電解めっき条件〕 電流密度 1 A/dm2 時間 30 分 温度 室温
(11) Then, the substrate was washed with water at 50 ° C., degreased, washed with water at 25 ° C., further washed with sulfuric acid, and then subjected to electrolytic copper plating under the following conditions to a thickness of 15 μm. (See FIG. 3C). [Electrolytic plating aqueous solution] Sulfuric acid 180 g / l Copper sulfate 80 g / l Additive 1 ml / l (Capparaside GL, manufactured by Atotech Japan) [Electroplating conditions] Current density 1 A / dm 2 hours 30 minutes Temperature Room temperature

【0101】(12)めっきレジスト3を5%KOHで剥離
除去した後、そのめっきレジスト3下の無電解めっき膜
12を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング処理して
溶解除去し、無電解銅めっき膜12と電解銅めっき膜1
3からなる厚さ18μmの導体回路(バイアホール7を
含む)5を形成した。さらに、800g/lのクロム酸
を含む70℃の溶液に3分間浸漬して、導体回路非形成
部分に位置する導体回路間の層間樹脂絶縁層2の表面を
1μmエッチング処理し、その表面に残存するパラジウ
ム触媒を除去した(図3(d)参照)。
(12) After the plating resist 3 is peeled and removed with 5% KOH, the electroless plating film 12 under the plating resist 3 is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide, and the electroless plating film is removed. Copper plating film 12 and electrolytic copper plating film 1
A conductor circuit (including the via hole 7) 5 made of 3 and having a thickness of 18 μm was formed. Further, the surface of the interlayer resin insulating layer 2 between the conductor circuits located at the part where the conductor circuits are not formed is immersed in a 70 ° C. solution containing 800 g / l of chromic acid for 3 minutes, and the surface of the interlayer resin insulation layer 2 is etched by 1 μm. The resulting palladium catalyst was removed (see FIG. 3 (d)).

【0102】(13)導体回路5を形成した基板を、硫酸銅
(8g/l)、硫酸ニッケル(0.6g/l)、クエン
酸(15g/l)、次亜リン酸ナトリウム(29g/
l)、ホウ酸(31g/l)、界面活性剤(日信化学工
業社製、サーフィノール465)(0.1g/l)を含
む水溶液からなるpH=9の無電解銅めっき浴に基板を
浸漬し、浸漬1分後に、4秒あたりに1回の割合で縦お
よび横方向に振動させて、下層導体回路およびスルーホ
ールのランドの表面に、Cu−Ni−Pからなる針状合
金の粗化層11を設けた(図4(a)参照)。このと
き、形成した粗化層11をEPMA(蛍光X線分析装置)
で分析したところ、Cu:98モル%、Ni:1.5モ
ル%、P:0.5モル%の組成比であった。さらに、ホ
ウフッ化スズ(0.1mol/l)、チオ尿素(1.0
mol/l)を含む温度50℃、pH=1.2のめっき
浴を用い、Cu−Sn置換反応させ、粗化層の表面に厚
さ0.3μmのSn層を設けた。但し、Sn層について
は、図示しない。
(13) The substrate on which the conductor circuit 5 was formed was coated with copper sulfate (8 g / l), nickel sulfate (0.6 g / l), citric acid (15 g / l), and sodium hypophosphite (29 g / l).
l), an aqueous solution containing boric acid (31 g / l) and a surfactant (Surfynol 465, manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.) (0.1 g / l). After immersion, one minute after immersion, vibrating in the vertical and horizontal directions at a rate of once every 4 seconds, the surface of the land of the lower conductor circuit and the through-hole was roughened with a needle-like alloy made of Cu-Ni-P. An oxide layer 11 was provided (see FIG. 4A). At this time, the formed roughened layer 11 is converted to an EPMA (X-ray fluorescence analyzer).
As a result, the composition ratio of Cu was 98 mol%, Ni was 1.5 mol%, and P was 0.5 mol%. Further, tin borofluoride (0.1 mol / l), thiourea (1.0 mol / l)
(mol / l) using a plating bath at a temperature of 50 ° C. and a pH of 1.2, and a Cu—Sn substitution reaction was performed to provide a 0.3 μm thick Sn layer on the surface of the roughened layer. However, the Sn layer is not shown.

【0103】(14)上記 (6)〜(13)の工程を繰り返すこと
により、さらに上層の導体回路を形成し、多層配線板を
得た。但し、Sn置換は行わなかった(図4(b)〜図
5(b)参照)。
(14) By repeating the above steps (6) to (13), a further upper layer conductive circuit was formed, and a multilayer wiring board was obtained. However, Sn substitution was not performed (see FIGS. 4B to 5B).

【0104】(15)次に、DMDGに60重量%の濃度に
なるように溶解させた、クレゾールノボラック型エポキ
シ樹脂(日本化薬社製)のエポキシ基50%をアクリル
化した感光性付与のオリゴマー(分子量:4000)4
6.67重量部、メチルエチルケトンに溶解させた80
重量%のビスフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル
社製、商品名:エピコート1001)6.67重量部、
同じくビスフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル社
製、商品名:エピコートE−1001−B80)6.6
7重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、商品
名:2E4MZ−CN)1.6重量部、感光性モノマー
である2官能アクリルモノマー(日本化薬社製、商品
名:R604)4.5重量部、同じく多価アクリルモノ
マー(共栄化学社製、商品名:DPE6A)1.5重量
部、アクリル酸エステル重合物からなるレベリング剤
(共栄化学社製、商品名:ポリフローNo.75)0.
36重量部を容器にとり、攪拌、混合して混合組成物を
調製し、この混合組成物に対して光重合開始剤としてイ
ルガキュアI−907(チバガイギー社製)2.0重量
部、光増感剤としてのDETX−S(日本化薬社製)
0.2重量部、DMDG0.6重量部を加えることによ
り、粘度を25℃で1.4±0.3Pa・sに調整した
ソルダーレジスト組成物を得た。なお、粘度測定は、B
型粘度計(東京計器社製、DVL−B型)で60rpm
の場合はローターNo.4、6rpmの場合はローター
No.3によった。
(15) Next, a sensitizing oligomer in which 50% of epoxy groups of a cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) is acrylated and dissolved in DMDG to a concentration of 60% by weight. (Molecular weight: 4000) 4
6.67 parts by weight of 80 dissolved in methyl ethyl ketone
6.67 parts by weight of bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell Co., trade name: Epicoat 1001) by weight
Similarly, bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell Co., Ltd., trade name: Epicoat E-1001-B80) 6.6
7 parts by weight, 1.6 parts by weight of an imidazole curing agent (trade name: 2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.), and 4.5 of a bifunctional acrylic monomer which is a photosensitive monomer (trade name: R604, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 1.5 parts by weight of a polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoei Chemical Co., Ltd., trade name: DPE6A), and a leveling agent composed of an acrylate polymer (manufactured by Kyoei Chemical Co., trade name: Polyflow No. 75)
36 parts by weight were placed in a container, stirred and mixed to prepare a mixed composition, and 2.0 parts by weight of Irgacure I-907 (manufactured by Ciba Geigy) as a photopolymerization initiator, and a photosensitizer as a photopolymerization initiator. DETX-S (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
By adding 0.2 parts by weight and 0.6 parts by weight of DMDG, a solder resist composition having a viscosity adjusted to 1.4 ± 0.3 Pa · s at 25 ° C. was obtained. The viscosity was measured by
60 rpm with a type viscometer (DVL-B type, manufactured by Tokyo Keiki Co., Ltd.)
In the case of the rotor No. In the case of 4, 6 rpm, the rotor No. According to 3.

【0105】(16)次に、多層配線基板の両面に、上記ソ
ルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗布し、70
℃で20分間、70℃で30分間の条件で乾燥処理を行
った後、ソルダーレジスト開口部のパターンが描画され
た厚さ5mmのフォトマスクをソルダーレジスト層に密
着させて1000mJ/cm2 の紫外線で露光し、DM
TG溶液で現像処理し、200μmの直径の開口を形成
した。そして、さらに、80℃で1時間、100℃で1
時間、120℃で1時間、150℃で3時間の条件でそ
れぞれ加熱処理を行ってソルダーレジスト層を硬化さ
せ、開口を有し、その厚さが20μmのソルダーレジス
トパターン層14を形成した。
(16) Next, the above-mentioned solder resist composition is applied to both sides of the multilayer wiring board in a thickness of 20 μm,
After performing a drying process under the conditions of 20 ° C. for 20 minutes and 70 ° C. for 30 minutes, a 5 mm-thick photomask on which a pattern of the opening of the solder resist is drawn is brought into close contact with the solder resist layer, and an ultraviolet ray of 1000 mJ / cm 2 is applied. Exposure with DM
Development was performed with a TG solution to form an opening having a diameter of 200 μm. Then, at 80 ° C. for 1 hour, and at 100 ° C. for 1 hour.
The solder resist layer was cured by performing heat treatment under the conditions of 120 ° C. for 1 hour and 150 ° C. for 3 hours to form a solder resist pattern layer 14 having an opening and a thickness of 20 μm.

【0106】(17)次に、ソルダーレジスト層14を形成
した基板を、塩化ニッケル(30g/l)、次亜リン酸
ナトリウム(10g/l)、クエン酸ナトリウム(10
g/l)を含むpH=5の無電解ニッケルめっき液に2
0分間浸漬して、開口部に厚さ5μmのニッケルめっき
層15を形成した。さらに、その基板をシアン化金カリ
ウム(2g/l)、塩化アンモニウム(75g/l)、
クエン酸ナトリウム(50g/l)、次亜リン酸ナトリ
ウム(10g/l)を含む無電解めっき液に93℃の条
件で23秒間浸漬して、ニッケルめっき層15上に、厚
さ0.03μmの金めっき層16を形成した。
(17) Next, the substrate on which the solder resist layer 14 was formed was replaced with nickel chloride (30 g / l), sodium hypophosphite (10 g / l), and sodium citrate (10 g / l).
g / l) in the electroless nickel plating solution with pH = 5.
This was immersed for 0 minutes to form a nickel plating layer 15 having a thickness of 5 μm in the opening. Further, the substrate was subjected to potassium gold cyanide (2 g / l), ammonium chloride (75 g / l),
It was immersed in an electroless plating solution containing sodium citrate (50 g / l) and sodium hypophosphite (10 g / l) at a temperature of 93 ° C. for 23 seconds to form a 0.03 μm thick nickel plating layer 15 on the nickel plating layer 15. A gold plating layer 16 was formed.

【0107】(18)この後、ソルダーレジスト層14の開
口にはんだペーストを印刷して、200℃でリフローす
ることによりはんだバンプ(はんだ体)17を形成し、
はんだバンプ17を有する多層配線プリント基板を製造
した(図5(c)参照)。
(18) Thereafter, a solder paste is printed in the openings of the solder resist layer 14 and reflowed at 200 ° C. to form solder bumps (solder bodies) 17.
A multilayer wiring printed board having the solder bumps 17 was manufactured (see FIG. 5C).

【0108】(実施例2)以下に示す成分組成の粗化面
形成用樹脂組成物を用いて粗化面形成用樹脂組成物層を
形成し、その後硬化させることにより層間樹脂絶縁層を
形成したこと以外は、実施例1と同様にしてはんだバン
プを有する多層プリント配線板を製造した。DMDGに
80重量%の濃度になるように溶解させた、クレゾール
ノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社製)のエポキシ
基50%をアクリル化した感光性付与のオリゴマー(分
子量:4000)46.67重量部、メチルエチルケト
ンに溶解させた80重量%のビスフェノールA型エポキ
シ樹脂(油化シェル社製、商品名:エピコート100
1)6.67重量部、同じくビスフェノールA型エポキ
シ樹脂(油化シェル社製、商品名:エピコートE−10
01−B80)6.67重量部、イミダゾール硬化剤
(四国化成社製、商品名:2E4MZ−CN)1.6重
量部、感光性モノマーである2官能アクリルモノマー
(日本化薬社製、商品名:R604)4.5重量部、同
じく多価アクリルモノマー(共栄化学社製、商品名:D
PE6A)1.5重量部、末端エポキシ変性ブタジエン
ゴム(長瀬化学産業社製、Denalax R−45E
P)12重量部、アクリル酸エステル重合物からなるレ
ベリング剤(共栄化学社製、商品名:ポリフローNo.
75)0.36重量部を容器にとり、攪拌、混合して混
合組成物を調製し、この混合組成物に対して光重合開始
剤としてイルガキュアI−907(チバガイギー社製)
2.0重量部、光増感剤としてのDETX−S(日本化
薬社製)0.2重量部、DMDG5.6重量部を加える
ことにより、粘度を25℃で7±0.1Pa・sに調整
した。指触乾燥条件は、55℃で35分であった。層間
樹脂絶縁層中の有機溶剤量は、12重量%であった。ま
た、粗化処理は、0.1mol/lの過マンガン酸カリ
ウムのアルカリ(NaOH)水溶液を使用した。
(Example 2) A resin composition layer for forming a roughened surface was formed using a resin composition for forming a roughened surface having the following component composition, and then cured to form an interlayer resin insulating layer. Except for this, a multilayer printed wiring board having solder bumps was manufactured in the same manner as in Example 1. 46.67 weight of a photosensitizing oligomer (molecular weight: 4000) in which 50% of an epoxy group of a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) is dissolved in DMDG so as to have a concentration of 80% by weight. Part, bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell Co., trade name: Epicoat 100) dissolved in methyl ethyl ketone at 80% by weight
1) 6.67 parts by weight, also bisphenol A type epoxy resin (trade name: Epicoat E-10, manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.)
01-B80) 6.67 parts by weight, imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd., trade name: 2E4MZ-CN) 1.6 parts by weight, bifunctional acrylic monomer which is a photosensitive monomer (trade name, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) : R604) 4.5 parts by weight, similarly polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoei Chemical Co., trade name: D
PE6A) 1.5 parts by weight, terminal epoxy-modified butadiene rubber (Denalax R-45E, manufactured by Nagase Chemical Industry Co., Ltd.)
P) 12 parts by weight of a leveling agent composed of an acrylate polymer (manufactured by Kyoei Chemical Co., Ltd., trade name: Polyflow No.
75) 0.36 parts by weight is placed in a container, stirred and mixed to prepare a mixed composition, and Irgacure I-907 (manufactured by Ciba Geigy) is used as a photopolymerization initiator for the mixed composition.
By adding 2.0 parts by weight, 0.2 parts by weight of DETX-S (produced by Nippon Kayaku Co., Ltd.) as a photosensitizer, and 5.6 parts by weight of DMDG, the viscosity at 25 ° C. is 7 ± 0.1 Pa · s. Was adjusted. Drying conditions for the touch were 55 ° C. for 35 minutes. The amount of the organic solvent in the interlayer resin insulating layer was 12% by weight. The roughening treatment used an aqueous 0.1 mol / l potassium permanganate solution of alkali (NaOH).

【0109】(比較例1)(6) において、指触乾燥温度
を55℃で10分としたほかは、実施例1と同様にして
多層プリント配線板を得た。層間樹脂絶縁層中の有機溶
剤量は、18重量%であった。
(Comparative Example 1) A multilayer printed wiring board was obtained in the same manner as in Example 1, except that the touch drying temperature was changed to 55 ° C for 10 minutes in (6). The amount of the organic solvent in the interlayer resin insulating layer was 18% by weight.

【0110】(比較例2)(6) において、指触乾燥温度
を55℃で80分としたほかは、実施例1と同様にして
多層プリント配線板を得た。層間樹脂絶縁層中の有機溶
剤量は、3重量%であった。
(Comparative Example 2) A multilayer printed wiring board was obtained in the same manner as in Example 1, except that the touch drying temperature was changed to 55 ° C for 80 minutes in (6). The amount of the organic solvent in the interlayer resin insulating layer was 3% by weight.

【0111】このようにして製造した実施例1〜2およ
び比較例1〜2の多層プリント配線板について、そのバ
イアホール用開口を含むように縦に切断し、バイアホー
ル用開口の形状、層間樹脂絶縁層の導体回路との剥離の
有無を顕微鏡により観察した。その結果を下記の表1に
示した。
The multilayer printed wiring boards of Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 and 2 manufactured as described above were cut vertically so as to include the via hole openings, and the shapes of the via hole openings and the interlayer resin were determined. The presence or absence of peeling of the insulating layer from the conductor circuit was observed with a microscope. The results are shown in Table 1 below.

【0112】[0112]

【表1】 [Table 1]

【0113】上記表1に示す結果から明らかなように、
本発明の多層プリント配線板の製造方法により製造され
た実施例1〜2の多層プリント配線板では、層間樹脂絶
縁層に形成されたバイアホール用開口にビアかぶりは発
生しておらず、これに起因するバイアホールの断線も発
生していないのに対し、比較例1の多層プリント配線板
では、形成したバイアホール用開口にビアかぶりが発生
しており、比較例2の多層プリント配線板では、硬化反
応が進行していないため、現像時に層間樹脂絶縁層と導
体回路との間での剥離が発生していた。
As is clear from the results shown in Table 1 above,
In the multilayer printed wiring boards of Examples 1 and 2 manufactured by the method for manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention, no via fogging occurred in the via hole openings formed in the interlayer resin insulating layer. In the multilayer printed wiring board of Comparative Example 1, via fogging occurred in the formed via hole opening, whereas in the multilayer printed wiring board of Comparative Example 2, Since the curing reaction did not proceed, peeling occurred between the interlayer resin insulating layer and the conductor circuit during development.

【0114】[0114]

【発明の効果】以上説明したように本発明の多層プリン
ト配線板の製造方法によれば、層間樹脂絶縁層にバイア
ホール用開口を形成した際、いわゆるビアかぶりが発生
せず、しかも、層間樹脂絶縁層の導体回路との密着性を
低下させることがない。
As described above, according to the method for manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention, when an opening for a via hole is formed in an interlayer resin insulating layer, so-called via fogging does not occur. The adhesion of the insulating layer to the conductor circuit is not reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)〜(d)は、本発明にかかる多層プリン
ト配線板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 1A to 1D are cross-sectional views showing a part of a manufacturing process of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図2】(a)〜(d)は、本発明にかかる多層プリン
ト配線板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 2A to 2D are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図3】(a)〜(d)は、本発明にかかる多層プリン
ト配線板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 3A to 3D are cross-sectional views illustrating a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図4】(a)〜(c)は、本発明にかかる多層プリン
ト配線板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 4A to 4C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図5】(a)〜(c)は、本発明にかかる多層プリン
ト配線板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 5A to 5C are cross-sectional views illustrating a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 層間樹脂絶縁層(粗化面形成用樹脂組成物層) 2a 粗化面形成用樹脂組成物層 2b 粗化面形成用樹脂組成物層 3 めっきレジスト 4 下層導体回路(内層銅パターン) 5 上層導体回路 6 バイアホール用開口 7 バイアホール 8 銅箔 9 スルーホール 10 充填樹脂(樹脂充填剤) 11 粗化層 12 無電解めっき膜 13 電解めっき膜 14 ソルダーレジスト層 15 ニッケルめっき層 16 金めっき層 17 はんだバンプ Reference Signs List 1 substrate 2 interlayer resin insulating layer (roughened surface forming resin composition layer) 2a roughened surface forming resin composition layer 2b roughened surface forming resin composition layer 3 plating resist 4 lower conductor circuit (inner copper pattern) 5 Upper Conductor Circuit 6 Via Hole Opening 7 Via Hole 8 Copper Foil 9 Through Hole 10 Filling Resin (Resin Filler) 11 Roughening Layer 12 Electroless Plating Film 13 Electrolytic Plating Film 14 Solder Resist Layer 15 Nickel Plating Layer 16 Gold Plating Layer 17 Solder bump

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西脇 陽子 岐阜県揖斐郡揖斐川町北方1−1 イビデ ン株式会社内 Fターム(参考) 5E346 AA12 AA15 AA32 AA43 BB01 CC08 CC09 CC10 CC13 CC16 CC31 CC33 CC58 DD02 DD22 DD32 DD47 EE31 EE38 FF02 FF04 FF07 FF15 GG15 GG19 GG27 HH07 HH11  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing from the front page (72) Inventor Yoko Nishiwaki 1-1, Ibigawa-cho, Ibi-gun, Gifu Prefecture F-term (reference) 5E346 AA12 AA15 AA32 AA43 BB01 CC08 CC09 CC10 CC13 CC16 CC31 CC33 CC58 DD02 DD22 DD32 DD47 EE31 EE38 FF02 FF04 FF07 FF15 GG15 GG19 GG27 HH07 HH11

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 (1) 導体回路が形成された基板上に、有
機溶剤を含む粗化面形成用樹脂組成物を塗布、乾燥して
層間樹脂絶縁層を設ける工程、(2) 前記層間樹脂絶縁層
にバイアホール用開口を設ける工程、および、(3) 前記
バイアホール用開口にバイアホールを設けるとともに、
前記層間樹脂絶縁層の表面に導体回路を形成する工程を
含む多層プリント配線板の製造方法であって、前記粗化
面形成用樹脂組成物は、酸、アルカリおよび酸化剤から
選ばれる少なくとも1種からなる粗化液に対して難溶性
の未硬化の耐熱性樹脂マトリックス中に、酸、アルカリ
および酸化剤から選ばれる少なくとも1種からなる粗化
液に対して可溶性の物質が分散されてなるものであり、
前記層間樹脂絶縁層の露光処理前における有機溶剤の含
有量が5〜15重量%であることを特徴とする多層プリ
ント配線板の製造方法。
(1) a step of applying a resin composition for forming a roughened surface containing an organic solvent on a substrate on which a conductive circuit is formed and drying to provide an interlayer resin insulating layer; Providing a via hole opening in the insulating layer, and (3) providing a via hole in the via hole opening,
A method for manufacturing a multilayer printed wiring board including a step of forming a conductive circuit on a surface of the interlayer resin insulating layer, wherein the resin composition for forming a roughened surface is at least one selected from an acid, an alkali, and an oxidizing agent. An uncured heat-resistant resin matrix which is hardly soluble in a roughening liquid comprising a substance which is soluble in a roughening liquid comprising at least one selected from an acid, an alkali and an oxidizing agent. And
The method for producing a multilayer printed wiring board, wherein the content of the organic solvent before the exposure treatment of the interlayer resin insulating layer is 5 to 15% by weight.
【請求項2】 前記酸、アルカリおよび酸化剤から選ば
れる少なくとも1種からなる粗化液に対して可溶性の物
質は、無機粒子、樹脂粒子、金属粒子、ゴム粒子、液相
樹脂および液相ゴムから選ばれる少なくとも1種である
請求項1に記載の多層プリント配線板の製造方法。
2. The substance soluble in a roughening liquid comprising at least one selected from the group consisting of an acid, an alkali and an oxidizing agent includes inorganic particles, resin particles, metal particles, rubber particles, liquid resin and liquid rubber. The method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the method is at least one selected from the group consisting of:
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002217547A (en) * 2001-01-16 2002-08-02 Ibiden Co Ltd Manufacturing method of resin film, and multilayer printed wiring substrate
JP2006294955A (en) * 2005-04-13 2006-10-26 Cmk Corp Rigid flex multilayer printed-wiring board and its manufacturing method

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002217547A (en) * 2001-01-16 2002-08-02 Ibiden Co Ltd Manufacturing method of resin film, and multilayer printed wiring substrate
JP4743974B2 (en) * 2001-01-16 2011-08-10 イビデン株式会社 Manufacturing method of resin film and multilayer printed wiring board
JP2006294955A (en) * 2005-04-13 2006-10-26 Cmk Corp Rigid flex multilayer printed-wiring board and its manufacturing method

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