JP2002217547A - Manufacturing method of resin film, and multilayer printed wiring substrate - Google Patents

Manufacturing method of resin film, and multilayer printed wiring substrate

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JP2002217547A
JP2002217547A JP2001008033A JP2001008033A JP2002217547A JP 2002217547 A JP2002217547 A JP 2002217547A JP 2001008033 A JP2001008033 A JP 2001008033A JP 2001008033 A JP2001008033 A JP 2001008033A JP 2002217547 A JP2002217547 A JP 2002217547A
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a resin film, used in manufacturing of a multilayer printed wiring substrate, which can satisfy the properties of shape keeping properties when being stuck on a substrate wherein a conductor circuit is formed and can ensure characteristics required by a formed interlayer resin insulation layer as well, and furthermore, enables a roughened surface with desired irregularities to be formed in a surface thereof. SOLUTION: The resin film is used for manufacturing of a multilayer printed wiring substrate, wherein a conductor circuit and an interlayer resin insulation layer are successively laminated and formed on a substrate. In the resin film, particles which are soluble in acid or oxidizer, are dispersed in resin, which is hardly soluble in acid or oxidizer. The hardly soluble resin is a resin composite consisting of two kinds of thermosetting resins and at least one kind of thermoplastic resin.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、多層プリント配線
板の製造に用いられる樹脂フィルム、および、多層プリ
ント配線板の製造方法に関するものである。
The present invention relates to a resin film used for manufacturing a multilayer printed wiring board and a method for manufacturing a multilayer printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】信号の高周波化に伴って、パッケージ基
板の材料は、低誘電率、低誘電正接であることが求めら
れるようになってきている。そのためパッケージ基板の
材料は、セラミックから樹脂へとその主流が移りつつあ
る。
2. Description of the Related Art As the frequency of a signal becomes higher, the material of a package substrate is required to have a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent. Therefore, the mainstream of the package substrate material is shifting from ceramic to resin.

【0003】いわゆる多層ビルドアップ配線基板と呼ば
れる多層プリント配線板は、セミアディティブ法等によ
り製造されており、コアと呼ばれる0.5〜1.5mm
程度のガラスクロス等で補強された樹脂基板の上に、銅
等による導体回路と層間樹脂絶縁層とを交互に積層する
ことにより製造される。この多層プリント配線板の層間
樹脂絶縁層を介した導体回路間の接続は、バイアホール
等により行われている。
A multilayer printed wiring board called a so-called multilayer build-up wiring board is manufactured by a semi-additive method or the like, and has a thickness of 0.5 to 1.5 mm called a core.
It is manufactured by alternately laminating conductive circuits made of copper or the like and interlayer resin insulating layers on a resin substrate reinforced with a glass cloth or the like. The connection between the conductor circuits via the interlayer resin insulation layer of the multilayer printed wiring board is performed by via holes or the like.

【0004】従来、ビルドアップ多層プリント配線板
は、例えば、特開平4−55555号公報等に開示され
た方法により製造されている。すなわち、まず、銅箔が
張り付けられた銅張積層板に貫通孔を形成し、続いて無
電解銅めっき処理を施すことによりスルーホールを形成
する。続いて、基板の表面を導体パターン状にエッチン
グ処理して導体回路を形成し、この導体回路の表面に、
無電解めっきやエッチング等により粗化面を形成する。
そして、この粗化面を有する導体回路上にエポキシアク
リレート等を含む樹脂絶縁層を形成した後、露光、現像
処理を行ってバイアホール用開口を形成し、その後、U
V硬化、本硬化を経て層間樹脂絶縁層を形成する。
Conventionally, build-up multilayer printed wiring boards have been manufactured by a method disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-55555. That is, first, a through-hole is formed in a copper-clad laminate on which a copper foil is stuck, and then a through-hole is formed by performing an electroless copper plating process. Subsequently, the surface of the substrate is etched into a conductor pattern to form a conductor circuit, and on the surface of the conductor circuit,
A roughened surface is formed by electroless plating or etching.
Then, after a resin insulating layer containing epoxy acrylate or the like is formed on the conductor circuit having the roughened surface, exposure and development are performed to form a via hole opening.
After V curing and main curing, an interlayer resin insulating layer is formed.

【0005】さらに、層間樹脂絶縁層に酸や酸化剤など
により粗化処理を施した後、薄い無電解めっき膜を形成
し、この無電解めっき膜上にめっきレジストを形成し、
電解めっきにより厚付けを行い、めっきレジスト剥離後
にエッチングを行って、下層の導体回路とバイアホール
とにより接続された導体回路を形成する。この工程を繰
り返した後、最後に導体回路を保護するためのソルダー
レジスト層を形成し、ICチップ等との接続のために開
口を形成し、露出した導体回路にめっき等を施し、半田
ペーストを印刷して半田バンプを形成することにより、
ビルドアップ多層プリント配線板の製造を完了する。
Further, after roughening the interlayer resin insulating layer with an acid or an oxidizing agent, a thin electroless plating film is formed, and a plating resist is formed on the electroless plating film.
Thickening is performed by electrolytic plating, and etching is performed after the plating resist is stripped to form a conductive circuit connected to the lower conductive circuit and the via hole. After repeating this process, finally, a solder resist layer for protecting the conductor circuit is formed, an opening is formed for connection with an IC chip or the like, plating is performed on the exposed conductor circuit, and a solder paste is applied. By printing and forming solder bumps,
Complete the manufacture of the build-up multilayer printed wiring board.

【0006】このようにして製造されたビルドアップ多
層プリント配線板は、マザーボードやドータボードとよ
ばれる他の基板に接続し、このマザーボード等に抵抗、
コンデンサ等の電子部品を実装し、かつ、配線を形成す
ることより特性インピーダンス等の電気特性を整合した
後、パッケージ基板として使用する。
[0006] The build-up multilayer printed wiring board manufactured in this manner is connected to another board called a motherboard or a daughter board.
An electronic component such as a capacitor is mounted, and wiring is formed to match electrical characteristics such as characteristic impedance, and then used as a package substrate.

【0007】このような多層プリント配線板の製造方法
においては、導体回路の形成された基板上に感光性樹脂
を含む樹脂組成物からなる層間樹脂絶縁層を形成し、そ
の後、露光現像処理によりバイアホール用開口を形成し
ていた。具体的には、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂とか
らなり、感光性が付与された樹脂複合体等の特開平7−
33991号公報や特開平7−102175号公報等に
開示されている樹脂組成物を用いて、層間樹脂絶縁層を
形成していた。
In such a method for manufacturing a multilayer printed wiring board, an interlayer resin insulating layer made of a resin composition containing a photosensitive resin is formed on a substrate on which a conductive circuit is formed, and then the via is formed by exposure and development. A hole opening was formed. More specifically, Japanese Patent Application Laid-Open No. H07-197007 discloses a resin composite made of a thermosetting resin and a thermoplastic resin and having photosensitivity.
An interlayer resin insulating layer has been formed using a resin composition disclosed in 33991, JP-A-7-102175, and the like.

【0008】近年、多層プリント配線板の高密度化、高
機能化に伴い、導体回路のL/S〔Line/Space:導体回
路の幅/導体回路間の距離〕が小さくなってきており、
バイアホール用開口の径も小さくする必要がでてきてい
る。しかしながら、上記したような樹脂組成物を用い、
露光現像処理を行うバイアホール用開口の形成方法で
は、径が小さく、かつ、所望の形状のバイアホール用開
口を形成することは難しかった。また、露光現像処理に
よりバイアホール用開口を形成する場合には、この処理
で用いた現像液の処理や再利用に環境上の配慮を施す必
要があり、経済的な負担が付加されることとなってい
た。
In recent years, with the increase in density and functionality of multilayer printed wiring boards, L / S (Line / Space: width of conductor circuit / distance between conductor circuits) of conductor circuits has been reduced.
It is necessary to reduce the diameter of the via hole opening. However, using the resin composition as described above,
In the method of forming a via hole opening for performing exposure and development processing, it was difficult to form a via hole opening having a small diameter and a desired shape. Also, in the case of forming a via hole opening by exposure and development processing, it is necessary to give consideration to the environment for processing and reuse of the developing solution used in this processing, which imposes an economic burden. Had become.

【0009】これに対し、一般的には、レーザを用いる
ことにより、露光現像処理を用いる場合に比べて、より
径の小さい開口を形成することができるとされている。
そこで、上記特開平7−33991号公報等に開示され
た樹脂組成物を用い、レーザ処理によりバイアホール用
開口等を形成する方法について検討したが、形成された
層の平坦性等に起因して、レーザ処理により、径が小さ
く、かつ、所望の形状のバイアホール用開口を形成する
ことは難しかった。
On the other hand, it is generally said that the use of a laser makes it possible to form an opening having a smaller diameter than in the case of using an exposure and development process.
Therefore, a method of forming a via hole opening or the like by laser processing using the resin composition disclosed in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-33991 was examined. However, due to the flatness of the formed layer and the like, It has been difficult to form a via hole opening having a small diameter and a desired shape by laser processing.

【0010】一方、特開平11−1547号公報、特開
平11−87927号公報等では、樹脂フィルムを減圧
下または真空下で圧着して張り付けた後、レーザ処理に
よりバイアホール用開口等を形成して層間樹脂絶縁層と
し、その後、樹脂フィルムからなる絶縁層表面に粗化面
を設け、さらに金属層を設けて導体回路とバイアホール
とを形成する多層プリント配線板の製造方法が開示され
ている。
On the other hand, in Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 11-1547 and 11-87927, a resin film is adhered by pressure bonding under reduced pressure or vacuum, and a via hole opening or the like is formed by laser processing. A method for manufacturing a multilayer printed wiring board in which a roughened surface is provided on the surface of an insulating layer made of a resin film, and a metal layer is further provided to form a conductor circuit and a via hole. .

【0011】特開平11−1547号公報に開示されて
いるエポキシ樹脂とフェノール樹脂組成物とゴム成分と
硬化促進剤とを含むエポキシ樹脂組成物からなる樹脂フ
ィルムを導体回路が形成された基板上に張り付けて層間
樹脂絶縁層を形成する場合、導体回路の表面に形成され
た粗化面の形状に起因して、張り付けられた樹脂フィル
ムの上面が平坦にならなかったり、導体回路上面と導体
回路非形成部との高低差に起因して、導体回路非形成部
に樹脂フィルムが完全に充填されなかったり、張り付け
られた樹脂フィルムの上面に凹凸(うねり)が生じたり
することがあった。即ち、この樹脂フィルムは、圧着時
の形状保持性が充分でなく、均一な膜厚の樹脂フィルム
層(層間樹脂絶縁層)を形成することは難しかった。従
って、このような樹脂フィルム層に、レーザ処理により
バイアホール用開口等を形成した場合には、均一な形状
の開口を形成することができず、樹脂フィルムを用いて
製造する多層プリント配線板の接続性、信頼性の低下に
繋がるという問題があった。このような問題を解消する
ために、樹脂フィルム中に添加剤を分散させる方法につ
いても検討したが、添加剤の分散性、可溶性粒子との相
互作用等の点で、上記問題を解消するに充分な添加剤を
得ることができなかった。
[0011] A resin film comprising an epoxy resin composition containing an epoxy resin, a phenolic resin composition, a rubber component and a curing accelerator disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-1547 is formed on a substrate on which a conductive circuit is formed. When the interlayer resin insulation layer is formed by bonding, the upper surface of the bonded resin film may not be flat due to the shape of the roughened surface formed on the surface of the conductive circuit, or the upper surface of the conductive circuit may not be in contact with the conductive circuit. Due to the height difference from the formed portion, the resin film may not be completely filled in the non-conductive circuit formed portion, or irregularities (undulations) may occur on the upper surface of the adhered resin film. That is, this resin film did not have sufficient shape retention during pressure bonding, and it was difficult to form a resin film layer (interlayer resin insulation layer) having a uniform thickness. Therefore, when a via hole opening or the like is formed in such a resin film layer by laser processing, an opening having a uniform shape cannot be formed, and a multilayer printed wiring board manufactured using a resin film cannot be formed. There is a problem that it leads to a decrease in connectivity and reliability. In order to solve such a problem, a method of dispersing the additive in the resin film was also examined.However, in terms of the dispersibility of the additive, the interaction with the soluble particles, and the like, it was sufficient to solve the above problem. Could not be obtained.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】一方、特開平11−8
7927号公報に開示されている樹脂フィルムは、常温
で液状のエポキシ樹脂等と、機械的強度や可撓性等を向
上させるためのバインダーポリマー(例えば、熱可塑性
樹脂)と、硬化剤とを含む樹脂フィルムであった。この
1種の熱硬化性樹脂と1種の熱可塑性樹脂とを含む樹脂
フィルムは、導体回路が形成された基板上に張り付ける
際に、導体回路の表面に形成された粗化面の形状に追従
することができるため、形成される樹脂フィルム層の上
面は平坦であり、また、導体回路非形成部にも完全に充
填された場合にも、熱可塑性樹脂等のバインダーポリマ
ーが配合されているため樹脂フィルム層の上面に凹凸
(うねり)が発生することもなかった。従って、このよ
うな樹脂フィルムは、レーザ処理により、径が小さく、
所望の形状のバイアホール用開口を形成するのに適して
いた。
On the other hand, Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-8 / 1999
The resin film disclosed in Japanese Patent No. 7927 includes a liquid epoxy resin at room temperature, a binder polymer (for example, a thermoplastic resin) for improving mechanical strength and flexibility, and a curing agent. It was a resin film. When a resin film containing one kind of thermosetting resin and one kind of thermoplastic resin is attached to a substrate on which a conductive circuit is formed, the resin film has a roughened surface formed on the surface of the conductive circuit. Because it can follow, the upper surface of the formed resin film layer is flat, and even when the conductive circuit non-formed portion is completely filled, a binder polymer such as a thermoplastic resin is blended. Therefore, no irregularities (undulations) were generated on the upper surface of the resin film layer. Therefore, such a resin film has a small diameter due to the laser treatment,
It was suitable for forming a via hole opening having a desired shape.

【0013】しかしながら、この樹脂フィルム層を硬化
させることにより層間樹脂絶縁層を形成した場合、硬化
後の層間樹脂絶縁層に要求される特性(耐熱性、導体回
路との密着性、耐クラック性等)を充分に満足すること
ができなかった。これは、上記樹脂フィルムの組成が、
硬化前の粗化面やバイアホール等への追従性や形状保持
性等の特性を確保するために選択されたもので、硬化後
の層間樹脂絶縁層の特性について深く考慮した結果、選
択された組成ではなかったからである。即ち、硬化前に
要求される凹凸への追従性や形状保持性を満足させるた
めには、比較的低分子で凹凸等に追従しやすい熱硬化性
樹脂と、比較的高分子で形状保持機能等を有する熱可塑
性樹脂とを一定範囲で配合する必要があり、1種の熱硬
化性樹脂と1種の熱可塑性樹脂を用いて、上記特性を満
足するような組成物を形成した場合には、硬化後の層間
樹脂絶縁層に要求される特性を完全に満足することは困
難であった。
However, when an interlayer resin insulation layer is formed by curing this resin film layer, the properties (heat resistance, adhesion to a conductor circuit, crack resistance, etc.) required of the cured interlayer resin insulation layer are obtained. ) Could not be fully satisfied. This is because the composition of the resin film is
It was selected to ensure characteristics such as followability and shape retention to roughened surfaces and via holes before curing, and was selected as a result of deep consideration of the characteristics of the interlayer resin insulation layer after curing. This is because it was not a composition. In other words, in order to satisfy the conformability to shape and conformity to irregularities required before curing, a thermosetting resin that is relatively low in molecular weight and easily conforms to irregularities, etc. It is necessary to blend a thermoplastic resin having a certain range, and when a composition that satisfies the above characteristics is formed using one kind of thermosetting resin and one kind of thermoplastic resin, It has been difficult to completely satisfy the properties required for the cured interlayer resin insulation layer.

【0014】本発明は、上述の問題を解決するためにな
されたものであり、その目的は、多層プリント配線板を
製造する際に用いる樹脂フィルムであって、導体回路の
形成された基板上に張り付ける際の追従性および形状保
持性を満足することは勿論、硬化により形成した層間樹
脂絶縁層に要求される特性にも優れるものであり、さら
には、その表面に所望の凹凸を有する粗化面を形成する
ことができる樹脂フィルムを提供することにある。ま
た、本発明の別の目的は、上記樹脂フィルムを用いた多
層プリント配線板の製造方法を提供することにある。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a resin film used for manufacturing a multilayer printed wiring board, wherein the resin film is formed on a substrate on which a conductive circuit is formed. It not only satisfies the conformability and the shape retention at the time of bonding, but also has excellent properties required for the interlayer resin insulating layer formed by curing, and further has a roughened surface having desired irregularities on its surface. It is to provide a resin film capable of forming a surface. Another object of the present invention is to provide a method for manufacturing a multilayer printed wiring board using the above resin film.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】そこで、本発明者らは、
硬化前の樹脂フィルムに要求される特性(追従性、形状
保持性等)を満足することは勿論、硬化後の層間樹脂絶
縁層に要求される特性をも満足する樹脂フィルムの配合
組成について、鋭意研究した結果、酸または酸化剤に難
溶性の樹脂中に、酸または酸化剤に可溶性の粒子が分散
しており、該酸または酸化剤に難溶性の樹脂として、2
種の熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂とからなる樹脂複合体
が用いられた樹脂フィルムは、上記要求特性を満足させ
得るものであることを見いだし、以下に示す内容を要旨
構成とする発明に到達した。
Means for Solving the Problems Accordingly, the present inventors have:
In addition to satisfying the characteristics required for the resin film before curing (followability, shape retention, etc.), the composition of the resin film that satisfies the characteristics required for the interlayer resin insulation layer after curing has been eagerly studied. As a result of research, particles that are soluble in an acid or an oxidizing agent are dispersed in a resin that is hardly soluble in an acid or an oxidizing agent.
A resin film using a resin composite composed of a kind of thermosetting resin and a thermoplastic resin was found to be capable of satisfying the above-mentioned required characteristics, and reached an invention having the following content as a gist configuration. did.

【0016】すなわち、本発明の樹脂フィルムは、基板
上に導体回路と層間樹脂絶縁層とが順次積層形成された
多層プリント配線板の製造に用いられる樹脂フィルムで
あって、上記樹脂フィルムは、酸または酸化剤に難溶性
の樹脂中に、酸または酸化剤に可溶性の粒子が分散して
おり、上記難溶性の樹脂は、2種の熱硬化性樹脂と少な
くとも1種の熱可塑性樹脂とからなる樹脂複合体である
ことを特徴とする。
That is, the resin film of the present invention is a resin film used for manufacturing a multilayer printed wiring board in which a conductive circuit and an interlayer resin insulating layer are sequentially formed on a substrate. Alternatively, particles that are soluble in an acid or an oxidizing agent are dispersed in a resin that is hardly soluble in an oxidizing agent, and the hardly-soluble resin includes two types of thermosetting resins and at least one type of thermoplastic resin. It is a resin composite.

【0017】上記樹脂フィルムにおいて、上記熱硬化性
樹脂のうちの1種は、エポキシ樹脂であることが望まし
い。また、上記2種の熱硬化性樹脂は、エポキシ樹脂と
フェノール樹脂、または、エポキシ樹脂とポリイミド樹
脂であることが望ましい。また、上記熱可塑性樹脂は、
フェノキシ樹脂、ポリエーテルスルホンおよびポリスル
ホンからなる群より選択される少なくとも1種であるこ
とが望ましい。
In the resin film, one of the thermosetting resins is preferably an epoxy resin. The two types of thermosetting resins are preferably an epoxy resin and a phenol resin, or an epoxy resin and a polyimide resin. Further, the thermoplastic resin,
Desirably, it is at least one selected from the group consisting of phenoxy resin, polyether sulfone and polysulfone.

【0018】また、上記可溶性の粒子は、樹脂粒子、無
機粒子および金属粒子からなる群より選択される少なく
とも1種であることが望ましい。また、本発明の多層プ
リント配線板の製造方法は、基板上に導体回路と層間樹
脂絶縁層とを順次積層形成する多層プリント配線板の製
造方法であって、上記層間樹脂絶縁層を形成する際に、
本発明の樹脂フィルムを用い、上記樹脂フィルムを減圧
下または真空下において、0.2〜1MPaの圧力で圧
着した後、非貫通孔および/または貫通孔を形成するこ
とを特徴とする。
The soluble particles are desirably at least one selected from the group consisting of resin particles, inorganic particles and metal particles. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention is a method for manufacturing a multilayer printed wiring board in which a conductor circuit and an interlayer resin insulating layer are sequentially formed on a substrate. To
A non-through hole and / or a through hole is formed by using the resin film of the present invention and pressing the resin film under a reduced pressure or vacuum under a pressure of 0.2 to 1 MPa.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】本発明の樹脂フィルムは、基板上
に導体回路と層間樹脂絶縁層とが順次積層形成された多
層プリント配線板の製造に用いられる樹脂フィルムであ
って、上記樹脂フィルムは、酸または酸化剤に難溶性の
樹脂中に、酸または酸化剤に可溶性の粒子が分散してお
り、上記難溶性の樹脂は、2種の熱硬化性樹脂と少なく
とも1種の熱可塑性樹脂とからなる樹脂複合体であるこ
とを特徴とする。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The resin film of the present invention is a resin film used for manufacturing a multilayer printed wiring board in which a conductive circuit and an interlayer resin insulating layer are sequentially laminated on a substrate. Wherein particles which are soluble in an acid or an oxidizing agent are dispersed in a resin which is hardly soluble in an acid or an oxidizing agent, and the hardly soluble resin comprises two types of thermosetting resins and at least one type of thermoplastic resin. Characterized in that it is a resin composite comprising

【0020】本発明の樹脂フィルムによれば、酸または
酸化剤に難溶性の樹脂中に、酸または酸化剤に可溶性の
粒子が分散しており、該難溶性の樹脂として、2種の熱
硬化性樹脂と少なくとも1種の熱可塑性樹脂とからなる
樹脂複合体が用いられているため、該樹脂フィルムを張
り付ける際には、導体回路表面を含む該導体回路の形成
された基板表面の形状への追従性、および、形状保持性
に優れる。これは、上記樹脂フィルムは、硬化前には、
相対的に柔らかい熱硬化性樹脂と相対的に硬い熱可塑性
樹脂とが共存しているため、相対的に柔らかい熱硬化性
樹脂の存在により、粗化面への追従性に優れることとな
り、相対的に硬い熱可塑性樹脂の存在により形状保持性
に優れることとなるからである。
According to the resin film of the present invention, particles that are soluble in an acid or an oxidizing agent are dispersed in a resin that is hardly soluble in an acid or an oxidizing agent. Since a resin composite comprising a conductive resin and at least one type of thermoplastic resin is used, when the resin film is attached, the shape of the surface of the substrate on which the conductor circuit is formed, including the surface of the conductor circuit, Excellent in followability and shape retention. This is because the resin film before curing
Because the relatively soft thermosetting resin and the relatively hard thermoplastic resin coexist, the presence of the relatively soft thermosetting resin will result in excellent followability to the roughened surface, This is because the presence of a hard thermoplastic resin results in excellent shape retention.

【0021】また、上記樹脂フィルムを硬化させること
により形成される層間樹脂絶縁層は、2種の熱硬化性樹
脂を含んでいるため、異なる特性を同時に確保すること
ができる。特に、単一種の樹脂のみ(例えば、エポキシ
樹脂のみ)からなる層間樹脂絶縁層では難しかった、複
数の特性の両立を果たすことができる。具体的には、例
えば、機械的特性と導体回路との密着性との両立や、機
械的特性と耐熱性との両立等を果たすことができる。ま
た、本発明の樹脂フィルムでは、酸または酸化剤に難溶
性の樹脂中に、酸または酸化剤に可溶性の粒子が分散し
ており、形成される層間樹脂絶縁層の表面に所望の凹凸
を有する粗化面を形成することができる。また、上記樹
脂フィルムは、バイアホール用開口を形成した後、該バ
イアホール用開口の壁面に所望の凹凸を形成するのに適
している。
Further, since the interlayer resin insulating layer formed by curing the resin film contains two kinds of thermosetting resins, different characteristics can be secured at the same time. In particular, it is possible to achieve a plurality of characteristics compatible with an interlayer resin insulating layer made of only a single type of resin (for example, only an epoxy resin). Specifically, for example, it is possible to achieve compatibility between mechanical characteristics and adhesion to a conductor circuit, and compatibility between mechanical characteristics and heat resistance. Further, in the resin film of the present invention, particles soluble in the acid or the oxidizing agent are dispersed in the resin that is hardly soluble in the acid or the oxidizing agent, and the surface of the formed interlayer resin insulating layer has desired irregularities. A roughened surface can be formed. In addition, the resin film is suitable for forming desired irregularities on the wall surface of the via hole opening after forming the via hole opening.

【0022】従来、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂との樹
脂複合体からなる樹脂フィルムを用いて多層プリント配
線板を製造する場合は、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂と
が各1種類ずつ配合された樹脂フィルムを用い、これを
硬化させるともに、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂とを相
溶させることで層間樹脂絶縁層を形成していた。しかし
ながら、上記樹脂複合体からなる樹脂組成物をフィルム
化する場合、熱可塑性樹脂が樹脂フィルム中に均一に存
在せず、粗密になってしまうことがあり、この熱可塑性
樹脂の存在の偏りに起因して、形成した層間樹脂絶縁層
に脆い部分が発生し、酸や酸化剤等の粗化液やめっき液
に浸漬した場合に層間樹脂絶縁層にクラック等が生じ、
上記層間樹脂絶縁層を挟んだ導体回路間で短絡が発生し
てしまうことがあった。
Conventionally, when a multilayer printed wiring board is manufactured using a resin film made of a resin composite of a thermosetting resin and a thermoplastic resin, one type of each of the thermosetting resin and the thermoplastic resin is blended. The cured resin film is used and cured, and a thermosetting resin and a thermoplastic resin are made compatible with each other to form an interlayer resin insulating layer. However, when a resin composition comprising the above resin composite is formed into a film, the thermoplastic resin is not uniformly present in the resin film, and may become coarse and dense, which may be caused by uneven distribution of the thermoplastic resin. Then, a brittle portion occurs in the formed interlayer resin insulating layer, and cracks and the like occur in the interlayer resin insulating layer when immersed in a roughening solution such as an acid or an oxidizing agent or a plating solution,
A short circuit may occur between conductor circuits sandwiching the interlayer resin insulation layer.

【0023】これに対し、本発明の樹脂フィルムは、2
種類の異なる熱硬化性樹脂を含んでいるため、第一の熱
硬化性樹脂として熱可塑性樹脂と高い親和性を有する樹
脂を選択することにより、これらの樹脂が均一に混在し
あった複合樹脂を形成し、第二の熱硬化性樹脂として、
第一の熱硬化性樹脂との親和性に優れた樹脂を選択する
ことにより、上記複合樹脂が第二の熱硬化性樹脂中に相
溶状態で分散したものを得ることができ、これにより熱
硬化性樹脂が硬化する前に熱可塑性樹脂が凝集したり、
不均一に分散したりすることを防止することができ、上
記した熱可塑性樹脂の存在の偏りに起因する不都合を回
避することができ、また、酸または酸化剤に可溶性の粒
子の凝集や不均一な分散も防止することができる。ま
た、本発明の樹脂フィルムにおいて、熱硬化性樹脂とし
て硬化温度の異なる2種類の熱硬化性樹脂を選択した場
合、ある温度においては、第一の熱硬化性樹脂のみを硬
化状態にし、第二の熱硬化性樹脂を未硬化状態にするこ
とができ、さらに、温度を高めることにより全ての熱硬
化性樹脂を硬化させることができる。この場合、第二の
熱硬化性樹脂の存在により、第一の熱硬化性樹脂や熱可
塑性樹脂の存在に起因する硬化時の応力を緩和すること
ができ、硬化時に層間樹脂絶縁層にクラック等が発生す
ることを防止することができる。また、硬化温度のプロ
ファイル(硬化温度、ステップキュア)を調整すること
によって、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂とが完全に相溶
した層間樹脂絶縁層を形成することができる。なお、こ
の場合の相溶とは、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂とが、
完全に混ざり合って1種類の樹脂となっている状態では
なく、それぞれが樹脂の状態で複雑に絡み合うように構
成され、擬似的に相溶している状態をいい、場所によっ
ては、球状ドメイン構造や共連続構造となっていてもよ
い。
On the other hand, the resin film of the present invention
Since different types of thermosetting resins are included, by selecting a resin that has a high affinity with the thermoplastic resin as the first thermosetting resin, a composite resin in which these resins are uniformly mixed is considered. Formed and as a second thermosetting resin,
By selecting a resin having an excellent affinity for the first thermosetting resin, it is possible to obtain a resin in which the above composite resin is dispersed in a compatible state in the second thermosetting resin. Before the curable resin is cured, the thermoplastic resin aggregates,
Non-uniform dispersion can be prevented, and the above-described inconvenience caused by the uneven existence of the thermoplastic resin can be avoided.Also, aggregation or non-uniformity of particles soluble in an acid or an oxidizing agent can be prevented. Dispersion can also be prevented. Further, in the resin film of the present invention, when two types of thermosetting resins having different curing temperatures are selected as the thermosetting resin, at a certain temperature, only the first thermosetting resin is brought into a cured state, Can be brought into an uncured state, and all the thermosetting resins can be cured by increasing the temperature. In this case, due to the presence of the second thermosetting resin, stress at the time of curing caused by the presence of the first thermosetting resin or the thermoplastic resin can be reduced, and cracks or the like may occur in the interlayer resin insulating layer at the time of curing. Can be prevented from occurring. Further, by adjusting the profile of the curing temperature (curing temperature, step cure), it is possible to form an interlayer resin insulating layer in which the thermosetting resin and the thermoplastic resin are completely compatible. In addition, the compatibility in this case, the thermosetting resin and the thermoplastic resin,
It is not a state of being completely mixed and one kind of resin, but a state in which each is intricately entangled in the state of resin and is pseudo-compatible with each other. In some places, a spherical domain structure Or a co-continuous structure.

【0024】本発明の樹脂フィルムは、酸または酸化剤
に難溶性の樹脂(以下、難溶性樹脂という)中に、酸ま
たは酸化剤に可溶性の粒子(以下、可溶性粒子という)
が分散しており、該難溶性の樹脂として、2種の熱硬化
性樹脂と熱可塑性樹脂とからなる樹脂複合体が用いられ
ている。
[0024] The resin film of the present invention comprises a resin which is hardly soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter referred to as a hardly soluble resin) and a particle which is soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter referred to as a soluble particle).
Are dispersed, and a resin composite composed of two types of thermosetting resins and thermoplastic resins is used as the hardly-soluble resin.

【0025】なお、本発明で使用する「難溶性」「可溶
性」なる語は、同一の酸または酸化剤からなる溶液に同
一時間浸漬した場合に、相対的に溶解速度の早いものを
便宜上「可溶性」と呼び、相対的に溶解速度の遅いもの
を便宜上「難溶性」と呼ぶ。
The terms "sparingly soluble" and "soluble" used in the present invention refer to those having a relatively high dissolution rate when immersed in a solution containing the same acid or oxidizing agent for the same time. And those having a relatively slow dissolution rate are referred to as "poorly soluble" for convenience.

【0026】上記可溶性粒子としては、例えば、酸また
は酸化剤に可溶性の樹脂粒子(以下、可溶性樹脂粒子と
いう)、酸または酸化剤に可溶性の無機粒子(以下、可
溶性無機粒子という)、酸または酸化剤に可溶性の金属
粒子(以下、可溶性金属粒子という)等が挙げられる。
これらの可溶性粒子は、単独で用いても良いし、2種以
上併用してもよい。
Examples of the soluble particles include resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter referred to as “soluble resin particles”), inorganic particles soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter referred to as “soluble inorganic particles”), and acid or oxidizing agents. Metal particles soluble in the agent (hereinafter referred to as soluble metal particles).
These soluble particles may be used alone or in combination of two or more.

【0027】上記可溶性粒子の形状は特に限定されず、
球状、破砕状等が挙げられる。また、上記可溶性粒子の
形状は、一様な形状であることが望ましい。均一な粗さ
の凹凸を有する粗化面を形成することができるからであ
る。
The shape of the soluble particles is not particularly limited.
Spherical, crushed and the like. The shape of the soluble particles is desirably a uniform shape. This is because a roughened surface having unevenness with a uniform roughness can be formed.

【0028】上記可溶性粒子の平均粒径としては、0.
1〜10μmが望ましい。また、可溶性粒子は同一の粒
径を有するもののみからなってもよいし、上記粒径の範
囲であれば、2種類以上の異なる粒径のものを含有して
もよい。例えば、平均粒径が0.1〜0.5μmの可溶
性粒子と平均粒径が1〜3μmの可溶性粒子とを含有す
る等である。この場合、より複雑な形状の粗化面を形成
することができる。なお、本発明において、可溶性粒子
の粒径とは、可溶性粒子の一番長い部分の長さである。
The average particle size of the above-mentioned soluble particles is 0.1.
1 to 10 μm is desirable. The soluble particles may be composed of only particles having the same particle diameter, or may contain two or more kinds of particles having different particle diameters within the above-mentioned particle diameter. For example, it contains soluble particles having an average particle size of 0.1 to 0.5 μm and soluble particles having an average particle size of 1 to 3 μm. In this case, a roughened surface having a more complicated shape can be formed. In the present invention, the particle size of the soluble particles is the length of the longest portion of the soluble particles.

【0029】上記可溶性樹脂粒子としては、熱硬化性樹
脂、熱可塑性樹脂等からなるものが挙げられ、酸あるい
は酸化剤からなる溶液に浸漬した場合に、上記難溶性樹
脂よりも溶解速度が速いものであれば特に限定されな
い。上記可溶性樹脂粒子の具体例としては、例えば、エ
ポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、ポリフ
ェニレン樹脂、ポリオレフィン樹脂、フッ素樹脂等から
なるものが挙げられ、これらの樹脂の1種からなるもの
であってもよいし、2種以上の樹脂の混合物からなるも
のであってもよい。可溶性粒子としてこのような可溶性
樹脂粒子を用いる場合、その粒子径は、0.1〜5μm
であることが望ましい。
Examples of the soluble resin particles include those made of a thermosetting resin, a thermoplastic resin, and the like. When immersed in a solution containing an acid or an oxidizing agent, the soluble resin particles have a higher dissolution rate than the hardly soluble resin. If it is, there is no particular limitation. Specific examples of the soluble resin particles include, for example, those made of epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, polyphenylene resin, polyolefin resin, fluororesin, etc., and those made of one of these resins. Or a mixture of two or more resins. When such a soluble resin particle is used as the soluble particle, its particle size is 0.1 to 5 μm.
It is desirable that

【0030】また、上記可溶性樹脂粒子としては、ゴム
からなる樹脂粒子を用いることもできる。上記ゴムとし
ては、例えば、ポリブタジエンゴム、エポキシ変性、ウ
レタン変性、(メタ)アクリロニトリル変性等の各種変
性ポリブタジエンゴム、カルボキシル基を含有した(メ
タ)アクリロニトリル・ブタジエンゴム等が挙げられ
る。これらのゴムを使用することにより、可溶性樹脂粒
子が酸あるいは酸化剤に溶解しやすくなる。つまり、酸
を用いて可溶性樹脂粒子を溶解する際には、強酸以外の
酸でも溶解することができ、酸化剤を用いて可溶性樹脂
粒子を溶解する際には、比較的酸化力の弱い過マンガン
酸でも溶解することができる。また、クロム酸を用いた
場合でも、低濃度で溶解することができる。そのため、
酸や酸化剤が樹脂表面に残留することがなく、後述する
ように、粗化面形成後、塩化パラジウム等の触媒を付与
する際に、触媒が付与されなたかったり、触媒が酸化さ
れたりすることがない。
Further, as the soluble resin particles, resin particles made of rubber can also be used. Examples of the rubber include polybutadiene rubber, various modified polybutadiene rubbers such as epoxy-modified, urethane-modified, (meth) acrylonitrile-modified, and (meth) acrylonitrile-butadiene rubber containing a carboxyl group. By using these rubbers, the soluble resin particles are easily dissolved in an acid or an oxidizing agent. In other words, when dissolving the soluble resin particles using an acid, an acid other than a strong acid can be dissolved, and when dissolving the soluble resin particles using an oxidizing agent, permanganese having a relatively weak oxidizing power is used. It can also dissolve in acids. Even when chromic acid is used, it can be dissolved at a low concentration. for that reason,
Acid or oxidizing agent does not remain on the resin surface, and as described later, after forming a roughened surface, when a catalyst such as palladium chloride is applied, the catalyst is not applied or the catalyst is oxidized. Nothing.

【0031】上記可溶性無機粒子としては、例えば、ア
ルミニウム化合物、カルシウム化合物、カリウム化合
物、バリウム化合物、マグネシウム化合物およびケイ素
化合物からなる群より選択される少なくとも1種からな
る粒子等が挙げられる。
Examples of the above-mentioned soluble inorganic particles include particles made of at least one selected from the group consisting of aluminum compounds, calcium compounds, potassium compounds, barium compounds, magnesium compounds and silicon compounds.

【0032】上記アルミニウム化合物としては、例え
ば、アルミナ、水酸化アルミニウム等が挙げられ、上記
カルシウム化合物としては、例えば、炭酸カルシウム、
水酸化カルシウム等が挙げられ、上記カリウム化合物と
しては、炭酸カリウム等が挙げられ、上記バリウム化合
物としては、炭酸バリウム等が挙げられ、上記マグネシ
ウム化合物としては、マグネシア、ドロマイト、塩基性
炭酸マグネシウム等が挙げられ、上記ケイ素化合物とし
ては、シリカ、ゼオライト等が挙げられる。これらは単
独で用いても良いし、2種以上併用してもよい。これら
のなかでは、ケイ素化合物が望ましく、特に、シリカが
望ましい。このような可溶性無機粒子を含む樹脂フィル
ムを用いて層間樹脂絶縁層を形成し、この層間樹脂絶縁
層の表面に酸や酸化剤を用いて粗化面を形成する場合、
後述するように、可溶性無機粒子が溶解する作用に加え
て、可溶性無機粒子が脱落する作用によっても粗化面が
形成される。従って、この場合には、短時間で層間樹脂
絶縁層の表面に粗化面を形成することができ、そのた
め、層間樹脂絶縁層に悪影響を与えるおそれが少なくな
る。
Examples of the aluminum compound include alumina and aluminum hydroxide. Examples of the calcium compound include calcium carbonate and
Calcium hydroxide and the like, as the potassium compound, potassium carbonate and the like, as the barium compound, barium carbonate and the like, and as the magnesium compound, magnesia, dolomite, basic magnesium carbonate and the like. Examples of the silicon compound include silica and zeolite. These may be used alone or in combination of two or more. Of these, silicon compounds are desirable, and silica is particularly desirable. When an interlayer resin insulating layer is formed using a resin film containing such soluble inorganic particles, and a roughened surface is formed on the surface of the interlayer resin insulating layer using an acid or an oxidizing agent,
As described later, in addition to the action of dissolving the soluble inorganic particles, the roughened surface is also formed by the action of the soluble inorganic particles falling off. Therefore, in this case, a roughened surface can be formed on the surface of the interlayer resin insulating layer in a short time, and therefore, there is less possibility of adversely affecting the interlayer resin insulating layer.

【0033】上記可溶性無機粒子としては、2種以上の
可溶性無機粒子を併用することが望ましい。混合して用
いる可溶性無機粒子の組み合わせとしては、酸や酸化剤
に相対的に溶解しやすい可溶性無機粒子と酸や酸化剤に
より脱落しやすい可溶性無機粒子との組み合わせが望ま
しい。このような組み合わせの可溶性無機粒子を併用す
ることにより、より複雑な形状の粗化面を形成すること
ができる。また、上記可溶性無機粒子としては、異なる
粒径を有するものを併用することが望ましい。例えば、
平均粒径が2μm前後の可溶性無機粒子と平均粒径が
0.5〜1.5μmの可溶性無機粒子とを併用する等で
ある。これにより、より複雑な形状の粗化面を形成する
ことができる。従って、このような無機粒子を含む樹脂
フィルムを用いて多層プリント配線板を製造した場合、
層間樹脂絶縁層と導体回路とが密着性に優れたものとな
る。
As the above-mentioned soluble inorganic particles, it is desirable to use two or more kinds of soluble inorganic particles in combination. As a combination of the soluble inorganic particles used by mixing, a combination of the soluble inorganic particles relatively easily dissolved in the acid or the oxidizing agent and the soluble inorganic particles easily dropped off by the acid or the oxidizing agent is desirable. By using such a combination of soluble inorganic particles, a roughened surface having a more complicated shape can be formed. Further, it is desirable to use particles having different particle sizes in combination as the soluble inorganic particles. For example,
For example, soluble inorganic particles having an average particle size of about 2 μm and soluble inorganic particles having an average particle size of 0.5 to 1.5 μm are used in combination. Thereby, a roughened surface having a more complicated shape can be formed. Therefore, when a multilayer printed wiring board is manufactured using a resin film containing such inorganic particles,
The interlayer resin insulation layer and the conductor circuit have excellent adhesion.

【0034】上記可溶性金属粒子としては、例えば、
銅、ニッケル、鉄、亜鉛、鉛、金、銀、アルミニウム、
マグネシウム、カルシウムおよびケイ素からなる群より
選択される少なくとも1種からなる粒子等が挙げられ
る。また、これらの可溶性金属粒子は、絶縁性を確保す
るために、表層が樹脂等により被覆されていてもよい。
The soluble metal particles include, for example,
Copper, nickel, iron, zinc, lead, gold, silver, aluminum,
Examples include particles made of at least one selected from the group consisting of magnesium, calcium, and silicon. These soluble metal particles may have a surface layer coated with a resin or the like in order to ensure insulation.

【0035】上記可溶性粒子は、1種のみを用いても良
いが、2種以上を混合して用いることが望ましい。2種
以上の可溶性粒子を組み合わせて用いることにより、よ
り複雑な形状の粗化面を形成することができる。この場
合、混合して用いる2種の可溶性粒子の組み合わせとし
ては、樹脂粒子と無機粒子との組み合わせが望ましい。
The above-mentioned soluble particles may be used alone, but it is desirable to use a mixture of two or more. By using a combination of two or more soluble particles, a roughened surface having a more complicated shape can be formed. In this case, the combination of the two types of soluble particles used as a mixture is preferably a combination of resin particles and inorganic particles.

【0036】これは、樹脂粒子と無機粒子とを組み合わ
せて用いる場合、両者の酸や酸化剤による溶解プロセス
の違いに起因して複雑な形状の粗化面を形成することが
できるからである。即ち、可溶性樹脂粒子は、難溶性樹
脂と同じ樹脂同士であるため、幾分か難溶性樹脂との相
溶性を有し、難溶性樹脂との親和性に富み、酸化剤等に
より完全に溶解される前に、可溶性樹脂粒子が難溶性樹
脂の層から剥離することはなく、形成される凹部の大き
さも浸漬時間に比例して大きくなり、樹脂粒子の輪郭と
同じ壁面を有する凹部は形成されにくい。これに対し
て、可溶性無機粒子は、難溶性樹脂とは、異質の粒子で
あり、難溶性樹脂と親和性や相溶性を有さないため、酸
化剤等により可溶性無機粒子を溶解する際に、該可溶性
無機粒子と難溶性樹脂との界面から溶解し始め、無機粒
子が完全に溶解しなくても、可溶性無機粒子が難溶性樹
脂から剥離し、ある程度の大きさになると、可溶性無機
粒子が脱落して樹脂粒子の輪郭と同じ壁面を有する凹部
が形成されることとなる。従って、このように異なる溶
解プロセスを経て形成される粗化面の形状は、より複雑
なものとなる。特に、可溶性無機粒子としてシリカを用
いた場合には、樹脂粒子により形成される凹部とは、全
く異なる形状の凹部を形成することができるため、より
複雑な形状の粗化面を形成することができる。
This is because, when resin particles and inorganic particles are used in combination, a roughened surface having a complicated shape can be formed due to a difference in a dissolution process using an acid or an oxidizing agent. That is, since the soluble resin particles are the same resin as the hardly soluble resin, they have some compatibility with the hardly soluble resin, have a high affinity with the hardly soluble resin, and are completely dissolved by the oxidizing agent and the like. Before the dissolution, the soluble resin particles do not peel off from the layer of the poorly soluble resin, and the size of the formed concave portion also increases in proportion to the immersion time, and the concave portion having the same wall surface as the contour of the resin particle is difficult to be formed. . On the other hand, the soluble inorganic particles are particles of a different kind from the poorly soluble resin, and have no affinity or compatibility with the poorly soluble resin, so that when the soluble inorganic particles are dissolved by an oxidizing agent or the like, The soluble inorganic particles begin to dissolve from the interface between the soluble inorganic particles and the poorly soluble resin, and even when the inorganic particles are not completely dissolved, the soluble inorganic particles are peeled off from the poorly soluble resin, and when a certain size is reached, the soluble inorganic particles fall off. As a result, a concave portion having the same wall surface as the contour of the resin particles is formed. Therefore, the shape of the roughened surface formed through such different melting processes becomes more complicated. In particular, when silica is used as the soluble inorganic particles, since a concave portion having a completely different shape from the concave portion formed by the resin particles can be formed, a roughened surface having a more complicated shape can be formed. it can.

【0037】また、樹脂粒子と無機粒子とを併用した場
合には、両者とも導電性が低くいため樹脂フィルムの絶
縁性を確保することができるとともに、難溶性樹脂との
間で熱膨張の調整が図りやすい。従って、該樹脂フィル
ムを用いて層間樹脂絶縁層を形成した多層プリント配線
板を製造した場合、得られた多層プリント配線板では、
この層間樹脂絶縁層にクラックが発生しにくく、また、
層間樹脂絶縁層と導体回路との間で剥離が発生しにく
い。
When the resin particles and the inorganic particles are used together, both have low conductivity, so that the insulating property of the resin film can be ensured, and the thermal expansion can be adjusted between the resin film and the poorly soluble resin. Easy to plan. Therefore, when a multilayer printed wiring board in which an interlayer resin insulating layer is formed using the resin film is manufactured, the obtained multilayer printed wiring board includes:
Cracks hardly occur in this interlayer resin insulation layer,
Separation hardly occurs between the interlayer resin insulating layer and the conductor circuit.

【0038】上記難溶性樹脂は、層間樹脂絶縁層に酸ま
たは酸化剤を用いて粗化面を形成する際に、粗化面の形
状を保持できるものであり、2種の熱硬化性樹脂と少な
くとも1種の熱可塑性樹脂とからなる樹脂複合体であ
る。難溶性樹脂として、このような樹脂複合体を用いる
ことにより、上述したように、上記樹脂フィルムを張り
付ける際には、粗化面等に対する追従性と、形状保持性
とを同時に得ることができる。
The hardly soluble resin can maintain the shape of the roughened surface when the roughened surface is formed on the interlayer resin insulating layer by using an acid or an oxidizing agent. A resin composite comprising at least one type of thermoplastic resin. By using such a resin composite as the hardly-soluble resin, as described above, when attaching the resin film, it is possible to simultaneously obtain conformability to a roughened surface and the like and shape retention. .

【0039】上記熱硬化性樹脂としては、例えば、フェ
ノール樹脂、メラミン、尿素樹脂等のアミノ樹脂、エポ
キシ樹脂、エポキシ変成ポリイミド樹脂、不飽和ポリエ
ステル樹脂、ポリイミド樹脂、ウレタン樹脂、ジアリル
フタレート樹脂、ポリフェニレン樹脂、ポリオレフィン
樹脂、フッ素樹脂等が挙げられる。上記樹脂複合体に
は、このような熱硬化性樹脂が2種含まれている。ま
た、上記樹脂複合体に含まれる2種の熱硬化性樹脂は、
そのうちの1種がエポキシ樹脂であることが望ましく、
エポキシ樹脂とフェノール樹脂との組み合わせや、エポ
キシ樹脂とポリイミド樹脂との組み合わせがより望まし
い。
Examples of the thermosetting resin include amino resins such as phenol resin, melamine and urea resin, epoxy resin, epoxy-modified polyimide resin, unsaturated polyester resin, polyimide resin, urethane resin, diallyl phthalate resin and polyphenylene resin. , A polyolefin resin, a fluororesin and the like. The resin composite contains two types of such thermosetting resins. Further, the two types of thermosetting resins contained in the resin composite are:
Preferably, one of them is an epoxy resin,
A combination of an epoxy resin and a phenol resin or a combination of an epoxy resin and a polyimide resin is more desirable.

【0040】上記エポキシ樹脂の具体例としては、例え
ば、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノ
ールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹
脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、アルキルフ
ェノールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェノールF型
エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ジシクロペ
ンタジエン型エポキシ樹脂、フェノール類とフェノール
性水酸基を有する芳香族アルデヒドとの縮合物のエポキ
シ化物、トリグリシジルイソシアヌレート、脂環式エポ
キシ樹脂等が挙げられる。これらは、単独で用いてもよ
く、2種以上を併用してもよい。それにより、より耐熱
性等に優れるものとなる。また、これらのなかでは、1
分子中に、2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂
がより望ましい。所望の形状の粗化面を形成するのに適
しているばかりでなく、耐熱性等にも優れているため、
このようなエポキシ樹脂を含む樹脂フィルムを用いて形
成した多層プリント配線板では、ヒートサイクル条件下
においても、層間樹脂絶縁層にクラックが発生したり、
層間樹脂絶縁層と導体回路との間で剥離が発生したりし
にくい。
Specific examples of the epoxy resin include cresol novolak type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, alkylphenol novolak type epoxy resin, biphenol F type epoxy resin, Examples include a naphthalene type epoxy resin, a dicyclopentadiene type epoxy resin, an epoxidized product of a condensate of a phenol and an aromatic aldehyde having a phenolic hydroxyl group, triglycidyl isocyanurate, and an alicyclic epoxy resin. These may be used alone or in combination of two or more. Thereby, it becomes more excellent in heat resistance and the like. Among these, 1
An epoxy resin having two or more epoxy groups in the molecule is more desirable. Not only is it suitable for forming a roughened surface of a desired shape, it is also excellent in heat resistance etc.
In a multilayer printed wiring board formed using a resin film containing such an epoxy resin, cracks may occur in the interlayer resin insulating layer even under heat cycle conditions,
Separation hardly occurs between the interlayer resin insulating layer and the conductor circuit.

【0041】上記樹脂複合体中に、このような熱硬化性
樹脂を2種含む場合、該樹脂複合体は、異なる特性を同
時に確保することができる。具体的には、例えば、エポ
キシ樹脂とフェノール樹脂とを含む場合、樹脂複合体
は、エポキシ樹脂の存在に起因して耐クラック性等の機
械的特性に優れ、フェノール樹脂の存在に起因して金属
層との密着性に優れることとなる。この場合、フェノー
ル樹脂として、トリアジン構造含有フェノール樹脂を用
いることにより、より優れた金属層との密着性を得るこ
とができる。また、樹脂複合体が、熱硬化性樹脂として
エポキシ樹脂とポリイミド樹脂とを含む場合には、上記
同様、エポキシ樹脂の存在に起因して耐クラック性等の
機械的特性に優れるとともに、ポリイミド樹脂の存在に
起因して耐熱性に優れることとなる。また、上述したよ
うに、熱可塑性樹脂との親和性が異なる2種の熱硬化性
樹脂を選択することにより、熱可塑性樹脂の局在化を防
止し、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂とが完全に相溶した
樹脂フィルムを形成することができ、また、硬化温度の
異なる熱硬化性樹脂を選択することにより、硬化温度が
低い熱硬化性樹脂を硬化する際に発生する応力を緩和す
ることができる。このような効果は、具体的には、例え
ば、エポキシ樹脂/フェノール樹脂/ポリエーテルスル
ホン、ポリイミド樹脂/フェノール樹脂/ポリエーテル
スルホン、エポキシ樹脂/フェノール樹脂/フェノキシ
樹脂、ポリイミド樹脂/フェノール樹脂/フェノキシ樹
脂等の組み合わせからなる樹脂複合体を用いることによ
り得ることができる。
When two kinds of such thermosetting resins are contained in the above resin composite, the resin composite can simultaneously secure different characteristics. Specifically, for example, when an epoxy resin and a phenol resin are included, the resin composite has excellent mechanical properties such as crack resistance due to the presence of the epoxy resin, and metal due to the presence of the phenol resin. The adhesion to the layer is excellent. In this case, by using a phenol resin having a triazine structure as the phenol resin, more excellent adhesion to the metal layer can be obtained. Further, when the resin composite contains an epoxy resin and a polyimide resin as the thermosetting resin, as described above, excellent mechanical properties such as crack resistance due to the presence of the epoxy resin, as well as the polyimide resin, Due to its presence, it has excellent heat resistance. Further, as described above, by selecting two kinds of thermosetting resins having different affinities with the thermoplastic resin, localization of the thermoplastic resin is prevented, and the thermosetting resin and the thermoplastic resin are separated. It is possible to form a completely compatible resin film, and to reduce the stress generated when curing a thermosetting resin with a low curing temperature by selecting thermosetting resins with different curing temperatures. Can be. Such an effect is, for example, specifically, epoxy resin / phenol resin / polyether sulfone, polyimide resin / phenol resin / polyether sulfone, epoxy resin / phenol resin / phenoxy resin, polyimide resin / phenol resin / phenoxy resin. It can be obtained by using a resin composite composed of a combination of the above.

【0042】上記熱可塑性樹脂としては、例えば、ポリ
エーテルスルホン、ポリスルホン、フェノキシ樹脂、ポ
リエーテルイミド樹脂、ポリスチレン、ポリエチレン、
ポリアクリレート、ポリアミドイミド、ポリフェニレン
スルフィド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリオキシ
ベンゾエート、ポリ塩化ビニル、ポリアセタール、ポリ
カーボネート等が挙げられる。これらの熱可塑性樹脂
は、単独で用いてもよいし、2種以上併用してもよい。
これらのなかでは、フェノキシ樹脂、ポリエーテルスル
ホン、ポリスルホン等が望ましく、フェノキシ樹脂がよ
り望ましい。これは、フェノキシ樹脂がこれらの樹脂の
なかでは、比較的柔らかく、どのような熱硬化性樹脂と
組み合わせても層分離が発生しにくく、形成する層間樹
脂絶縁層にクラック等が発生しにくいからである。この
ような樹脂フィルムにおける熱硬化性樹脂と熱可塑性樹
脂との配合比率は、重量比で、10:1〜5であること
が望ましい。上記した特性、即ち、追従性と形状保持性
とを同時に確保することができるからである。
Examples of the thermoplastic resin include polyethersulfone, polysulfone, phenoxy resin, polyetherimide resin, polystyrene, polyethylene,
Examples thereof include polyacrylate, polyamideimide, polyphenylene sulfide, polyether ether ketone, polyoxybenzoate, polyvinyl chloride, polyacetal, and polycarbonate. These thermoplastic resins may be used alone or in combination of two or more.
Of these, phenoxy resin, polyether sulfone, polysulfone, and the like are desirable, and phenoxy resin is more desirable. This is because the phenoxy resin is relatively soft among these resins, layer separation hardly occurs even when combined with any thermosetting resin, and cracks and the like hardly occur in the formed interlayer resin insulating layer. is there. The mixing ratio of the thermosetting resin and the thermoplastic resin in such a resin film is desirably 10: 1 to 5 by weight. This is because the characteristics described above, that is, the followability and the shape retention can be simultaneously secured.

【0043】本発明の樹脂フィルムにおいて、上記可溶
性粒子は、上記難溶性樹脂中にほぼ均一に分散されてい
ることが望ましい。均一な粗さの凹凸を有する粗化面を
形成することができ、樹脂フィルムにバイアホールやス
ルーホールを形成しても、その上に形成する導体回路と
の密着性を確保することができるからである。また、粗
化面を形成する表層部だけに可溶性粒子を含有する樹脂
フィルムを用いてもよい。それによって、樹脂フィルム
の表層部以外は酸または酸化剤にさらされることがない
ため、層間樹脂絶縁層を介した導体回路間の絶縁性が確
実に保たれる。
In the resin film of the present invention, the soluble particles are desirably substantially uniformly dispersed in the hardly-soluble resin. It is possible to form a roughened surface having unevenness of uniform roughness, and even if a via hole or a through hole is formed in a resin film, it is possible to secure adhesion to a conductor circuit formed thereon. It is. Alternatively, a resin film containing soluble particles only in the surface layer forming the roughened surface may be used. Thereby, since the portions other than the surface layer of the resin film are not exposed to the acid or the oxidizing agent, the insulation between the conductor circuits via the interlayer resin insulating layer is reliably maintained.

【0044】上記樹脂フィルムにおいて、難溶性樹脂中
に分散している可溶性粒子の配合量は、樹脂フィルムに
対して、3〜40重量%が望ましい。可溶性粒子の配合
量が3重量%未満では、所望の凹凸を有する粗化面を形
成することができない場合があり、40重量%を超える
と、酸または酸化剤を用いて可溶性粒子を溶解した際
に、樹脂フィルムの深部まで溶解してしまい、樹脂フィ
ルムからなる層間樹脂絶縁層を介した導体回路間の絶縁
性を維持できず、短絡の原因となる場合がある。
In the above resin film, the compounding amount of the soluble particles dispersed in the poorly soluble resin is preferably 3 to 40% by weight based on the resin film. If the amount of the soluble particles is less than 3% by weight, it may not be possible to form a roughened surface having desired irregularities. If the amount exceeds 40% by weight, the soluble particles may be dissolved using an acid or an oxidizing agent. In addition, there is a case where the resin film is melted to a deep portion of the resin film and the insulation between the conductor circuits via the interlayer resin insulating layer made of the resin film cannot be maintained, which may cause a short circuit.

【0045】上記樹脂フィルムは、上記可溶性粒子、上
記難溶性樹脂以外に、硬化剤、その他の成分等を含有し
ていることが望ましい。上記硬化剤としては、例えば、
イミダゾール系硬化剤、アミン系硬化剤、グアニジン系
硬化剤、これらの硬化剤のエポキシアダクトやこれらの
硬化剤をマイクロカプセル化したもの、トリフェニルホ
スフィン、テトラフェニルホスフォニウム・テトラフェ
ニルボレート等の有機ホスフィン系化合物等が挙げられ
る。
The resin film desirably contains a curing agent and other components in addition to the soluble particles and the hardly soluble resin. As the curing agent, for example,
Imidazole-based curing agents, amine-based curing agents, guanidine-based curing agents, epoxy adducts of these curing agents and microcapsules of these curing agents, and organic materials such as triphenylphosphine, tetraphenylphosphonium, and tetraphenylborate. Phosphine compounds and the like can be mentioned.

【0046】上記硬化剤の含有量は、樹脂フィルムに対
して0.05〜10重量%であることが望ましい。0.
05重量%未満では、樹脂フィルムの硬化が不十分であ
るため、酸や酸化剤が樹脂フィルムに侵入する度合いが
大きくなり、樹脂フィルムの絶縁性が損なわれることが
ある。一方、10重量%を超えると、過剰な硬化剤成分
が樹脂の組成を変性させることがあり、信頼性の低下を
招いたりしてしまうことがある。
The content of the curing agent is desirably 0.05 to 10% by weight based on the resin film. 0.
If the amount is less than 05% by weight, the resin film is insufficiently cured, so that the degree of penetration of the acid or the oxidizing agent into the resin film is increased, and the insulating property of the resin film may be impaired. On the other hand, when the content exceeds 10% by weight, an excessive curing agent component may modify the composition of the resin, which may cause a decrease in reliability.

【0047】上記その他の成分としては、例えば、粗化
面の形成に影響しない無機化合物あるいは樹脂等のフィ
ラーが挙げられる。上記無機化合物としては、例えば、
シリカ、アルミナ、ドロマイト等が挙げられ、上記樹脂
としては、例えば、ポリイミド樹脂、ポリアクリル樹
脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリフェニレン樹脂、メラ
ニン樹脂、オレフィン系樹脂等が挙げられる。これらの
フィラーを含有させることによって、熱膨脹係数の整合
や耐熱性、耐薬品性の向上などを図ることができ、ひい
ては、樹脂フィルムを用いて製造した多層プリント配線
板の性能を向上させることができる。
Examples of the other components include fillers such as inorganic compounds and resins which do not affect the formation of the roughened surface. As the inorganic compound, for example,
Examples of the resin include silica, alumina, and dolomite. Examples of the resin include a polyimide resin, a polyacryl resin, a polyamideimide resin, a polyphenylene resin, a melanin resin, and an olefin resin. By including these fillers, matching of thermal expansion coefficient, improvement in heat resistance, chemical resistance, and the like can be achieved, and thus, performance of a multilayer printed wiring board manufactured using a resin film can be improved. .

【0048】また、上記樹脂フィルムは、溶剤を含有し
ていてもよい。上記溶剤としては、例えば、アセトン、
メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、
酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテートやトル
エン、キシレン等の芳香族炭化水素等が挙げられる。こ
れらは単独で用いてもよいし、2種類以上併用してもよ
い。
Further, the resin film may contain a solvent. As the solvent, for example, acetone,
Ketones such as methyl ethyl ketone and cyclohexanone,
Ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, and aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene. These may be used alone or in combination of two or more.

【0049】本発明の樹脂フィルムは、例えば、以下の
方法により作製することができる。即ち、まず、可溶性
粒子および難溶性樹脂と、必要に応じて配合する硬化剤
等とを混合し、可溶性粒子が難溶性樹脂中に均一に分散
した樹脂フィルム形成用組成物を調整する。次に、この
樹脂フィルム形成用組成物を成形型にいれ、乾燥、半硬
化させることにより樹脂フィルムとする。なお、樹脂フ
ィルム形成用組成物を成形型に入れる代わりに、PET
フィルム等の離型フィルム上にロールコーター等を用い
て、樹脂フィルム形成用組成物を塗布した後、乾燥、半
硬化させることにより樹脂フィルムを形成してもよい。
なお、成形した樹脂フィルムの片面に銅箔等の金属層を
形成してもよい。
The resin film of the present invention can be produced, for example, by the following method. That is, first, a resin film-forming composition in which soluble particles and a hardly soluble resin are mixed with a curing agent and the like, if necessary, is prepared to uniformly dissolve the soluble particles in the hardly soluble resin. Next, the resin film forming composition is placed in a mold, dried and semi-cured to obtain a resin film. Instead of putting the resin film forming composition into a mold, PET
A resin film forming composition may be applied to a release film such as a film using a roll coater or the like, and then dried and semi-cured to form a resin film.
Note that a metal layer such as a copper foil may be formed on one side of the molded resin film.

【0050】このような樹脂フィルムは、基板上に導体
回路と層間樹脂絶縁層とが順次積層形成された多層プリ
ント配線板の製造に用いられるものであり、この樹脂フ
ィルムを用いて製造された多層プリント配線板は、ヒー
トサイクル条件下においても、クラックが発生したり、
導体回路との間で剥離が発生したりしにくく、かつ、耐
熱性と導体回路との密着性等の優れた異なる特性を有す
る層間樹脂絶縁層が形成されたものとなる。
Such a resin film is used for manufacturing a multilayer printed wiring board in which a conductor circuit and an interlayer resin insulating layer are sequentially laminated on a substrate. A multilayer film manufactured using this resin film is used. The printed wiring board cracks even under heat cycle conditions,
An interlayer resin insulating layer is formed in which peeling between the conductive circuit and the conductive circuit is unlikely to occur, and which has different characteristics such as excellent heat resistance and adhesion to the conductive circuit.

【0051】次に、本発明の多層プリント配線板の製造
方法について説明する。本発明の多層プリント配線板の
製造方法は、基板上に導体回路と層間樹脂絶縁層とを順
次積層形成する多層プリント配線板の製造方法であっ
て、上記層間樹脂絶縁層を形成する際に、本発明の樹脂
フィルムを用い、上記樹脂フィルムを減圧下または真空
下において、0.2〜1MPaの圧力で圧着した後、非
貫通孔および/または貫通孔を形成することを特徴とす
る。
Next, a method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention will be described. The method of manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention is a method of manufacturing a multilayer printed wiring board in which a conductive circuit and an interlayer resin insulating layer are sequentially laminated on a substrate, and when forming the interlayer resin insulating layer, A non-through hole and / or a through hole is formed by using the resin film of the present invention and pressing the resin film under a reduced pressure or vacuum under a pressure of 0.2 to 1 MPa.

【0052】本発明の多層プリント配線板の製造方法に
よれば、本発明の樹脂フィルムが用いられているため、
層間樹脂絶縁層を形成した後、その表面に所望の凹凸を
有する粗化面を形成することができ、ヒートサイクル条
件下においても、クラックが発生したり、導体回路との
間で剥離が発生したりしにくく、貫通孔や非貫通孔を形
成した際にも形状保持性に優れる層間樹脂絶縁層を形成
することができる。また、本発明の製造方法では、複数
の異なる特性(例えば、機械的特性および導体回路との
密着性)に優れた層間樹脂絶縁層を形成することができ
る。
According to the method for manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention, since the resin film of the present invention is used,
After forming the interlayer resin insulating layer, a roughened surface having desired irregularities can be formed on the surface thereof, and even under heat cycle conditions, cracks occur or peeling occurs with the conductor circuit. It is possible to form an interlayer resin insulating layer having excellent shape retention even when a through hole or a non-through hole is formed. Further, according to the manufacturing method of the present invention, it is possible to form an interlayer resin insulating layer having a plurality of different properties (for example, mechanical properties and adhesion to a conductor circuit).

【0053】以下、本発明の多層プリント配線板の製造
方法について、工程順に説明する。 (1)本発明の製造方法においては、まず、絶縁性基板
の表面に導体回路が形成された基板を作製する。上記絶
縁性基板としては、樹脂基板が望ましく、具体的には、
ガラスエポキシ基板、ポリエステル基板、ポリイミド基
板、ビスマレイミド−トリアジン樹脂基板、熱硬化性ポ
リフェニレンエーテル基板、フッ素樹脂基板、銅張積層
板、RCC基板等が挙げられる。このとき、必要に応じ
て、絶縁性基板に貫通孔を設けてもよい。この場合、貫
通孔は直径100〜300μmのドリル、レーザ光等を
用いて形成することが望ましい。
Hereinafter, a method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention will be described in the order of steps. (1) In the manufacturing method of the present invention, first, a substrate having a conductive circuit formed on a surface of an insulating substrate is prepared. As the insulating substrate, a resin substrate is desirable, and specifically,
Examples include a glass epoxy substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a bismaleimide-triazine resin substrate, a thermosetting polyphenylene ether substrate, a fluororesin substrate, a copper-clad laminate, and an RCC substrate. At this time, if necessary, a through-hole may be provided in the insulating substrate. In this case, the through-hole is desirably formed using a drill having a diameter of 100 to 300 μm, a laser beam, or the like.

【0054】(2)次に、無電解めっきを施した後、基
板上に導体回路形状のエッチングレジストを形成し、エ
ッチングを行うことにより導体回路を形成する。無電解
めっきとしては銅めっきが望ましい。また、絶縁性基板
に貫通孔を設けた場合には、該貫通孔の壁面にも同時に
無電解めっきを施してスルーホールを形成することによ
り、基板の両面の導体回路間を電気的に接続してもよ
い。
(2) Next, after performing electroless plating, a conductive circuit-shaped etching resist is formed on the substrate, and etching is performed to form a conductive circuit. Copper plating is desirable as the electroless plating. Also, when a through hole is provided in the insulating substrate, by simultaneously applying electroless plating to the wall surface of the through hole to form a through hole, the conductor circuits on both surfaces of the substrate are electrically connected. You may.

【0055】さらに、この無電解めっきの後、無電解め
っき層表面とスルーホールを形成した場合にはスルーホ
ール内壁との粗化形成処理を施し、導体回路表面を粗化
面とすることが望ましい。上記粗化形成処理方法として
は、例えば、黒化(酸化)−還元処理、有機酸と第二銅
錯体の混合水溶液によるスプレー処理、Cu−Ni−P
針状合金めっきによる処理等が挙げられる。
Further, after the electroless plating, when the surface of the electroless plating layer and the through-hole are formed, it is preferable to perform a roughening treatment on the inner wall of the through-hole to make the surface of the conductor circuit a roughened surface. . Examples of the roughening forming treatment method include blackening (oxidation) -reduction treatment, spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, Cu-Ni-P
Processing by needle-like alloy plating and the like can be mentioned.

【0056】上記黒化(酸化)−還元処理の具体的な方
法としては、NaOH(10〜20g/l)、NaCl
2 (40〜50g/l)、Na3 PO4 (6〜15g
/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とする黒化処
理、および、NaOH(2.7〜10g/l)、NaB
4 (1.0〜6.0g/l)を含む水溶液を還元浴と
する還元処理を行う方法等が挙げられる。
As a specific method of the blackening (oxidation) -reduction treatment, NaOH (10 to 20 g / l), NaCl
O 2 (40 to 50 g / l), Na 3 PO 4 (6 to 15 g
/ L), a blackening treatment using an aqueous solution containing (Na) (2.7 to 10 g / l), NaB
A method of performing a reduction treatment using an aqueous solution containing H 4 (1.0 to 6.0 g / l) as a reduction bath is exemplified.

【0057】上記エッチング処理に用いるエッチング液
としては、有機酸と第二銅錯体との混合溶液が望まし
い。上記有機酸としては、例えば、蟻酸、酢酸、プロピ
オン酸、酪酸、吉草酸、カプロン酸、アクリル酸、クロ
トン酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、
マレイン酸、安息香酸、グリコール酸、乳酸、リンゴ
酸、スルファミン酸等が挙げられる。これらは、単独で
用いてもよく、2種以上併用してもよい。上記エッチン
グ液において、上記有機酸の含有量は、0.1〜30重
量%が望ましい。酸化された銅の溶解性を維持し、かつ
触媒安定性を確保することができるからである。
As the etchant used for the above etching treatment, a mixed solution of an organic acid and a cupric complex is desirable. Examples of the organic acid include formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, caproic acid, acrylic acid, crotonic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid,
Maleic acid, benzoic acid, glycolic acid, lactic acid, malic acid, sulfamic acid and the like can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more. In the etching solution, the content of the organic acid is desirably 0.1 to 30% by weight. This is because the solubility of the oxidized copper can be maintained and the stability of the catalyst can be ensured.

【0058】上記第二銅錯体としては、アゾール類の第
二銅錯体が望ましい。このアゾール類の第二銅錯体は、
金属銅等を酸化する酸化剤として作用する。アゾール類
としては、例えば、ジアゾール、トリアゾール、テトラ
ゾール等が挙げられる。これらのなかでも、イミダゾー
ル、2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾー
ル、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニ
ルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾールが望まし
い。上記エッチング液において、上記第二銅錯体の含有
量は、1〜15重量%が望ましい。溶解性および安定性
に優れ、また、触媒核を構成するPd等の貴金属をも溶
解させることができるからである。
As the cupric complex, a cupric complex of an azole is desirable. This cupric complex of azoles is
It acts as an oxidizing agent that oxidizes metallic copper and the like. Examples of the azoles include diazole, triazole, tetrazole and the like. Among these, imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, and 2-undecylimidazole are desirable. In the etching solution, the content of the cupric complex is desirably 1 to 15% by weight. This is because it is excellent in solubility and stability, and can also dissolve noble metals such as Pd constituting the catalyst core.

【0059】上記めっき処理としては、例えば、硫酸銅
(1〜40g/l)、硫酸ニッケル(0.1〜6.0g
/l)、クエン酸(10〜20g/l)、次亜リン酸ナ
トリウム(10〜100g/l)、ホウ酸(10〜40
g/l)および界面活性剤(日信化学工業社製、サーフ
ィノール465)(0.01〜10g/l)を含むpH
=9の無電解めっき浴にて無電解めっきを施し、Cu−
Ni−P合金からなる粗化層を形成する方法等が挙げら
れる。この範囲で析出するめっき被膜の結晶構造は、針
状構造となるため、アンカー効果に優れるからである。
上記無電解めっき浴には、上記化合物を加えて錯化剤や
添加剤を加えてもよい。このような粗化面の形成は必要
に応じて行えばよく、導体回路の表面を粗化面にするこ
となく、次の工程を行ってもよい。
As the plating treatment, for example, copper sulfate (1 to 40 g / l), nickel sulfate (0.1 to 6.0 g)
/ L), citric acid (10-20 g / l), sodium hypophosphite (10-100 g / l), boric acid (10-40 g / l)
g / l) and a surfactant (Surfynol 465, manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.) (0.01 to 10 g / l).
= 9 in the electroless plating bath, Cu-
A method of forming a roughened layer made of a Ni-P alloy is exemplified. This is because the crystal structure of the plating film deposited in this range has a needle-like structure, and thus has an excellent anchor effect.
The above-mentioned compound may be added to the electroless plating bath to add a complexing agent or an additive. Such a roughened surface may be formed as needed, and the next step may be performed without making the surface of the conductor circuit a roughened surface.

【0060】また、この工程で、スルーホールを形成し
た場合には、樹脂充填材をスルーホールに充填する。ま
た、必要に応じて、絶縁性基板表面の下層導体回路が形
成されていない凹部に樹脂充填材を充填し、その後、研
磨等を行って下層導体回路および樹脂充填材の表面を平
坦化してもよい。
When a through hole is formed in this step, a resin filler is filled in the through hole. Further, if necessary, the resin filler is filled in the concave portion where the lower conductive circuit of the insulating substrate is not formed, and then the surface of the lower conductive circuit and the resin filler are flattened by polishing or the like. Good.

【0061】スルホール内に樹脂充填材を充填した場合
には、該樹脂充填材を、例えば、100℃/20分の条
件で乾燥させた後、硬化させる。硬化は、温度50〜2
50℃の間で行うことが望ましい。この硬化条件の一例
としては、100℃で1時間加熱した後、150℃で1
時間加熱する方法が挙げられる。必要に応じて、順次低
い温度から高い温度へと温度を変化させて硬化させるス
テップ硬化を行ってもよい。
When a resin filler is filled in the through hole, the resin filler is dried, for example, at 100 ° C. for 20 minutes, and then cured. Curing is performed at a temperature of 50-2.
It is desirable to carry out between 50 ° C. As an example of this curing condition, after heating at 100 ° C. for 1 hour,
For example, there is a method of heating for a time. If necessary, step curing may be performed in which the temperature is gradually changed from a low temperature to a high temperature to cure.

【0062】研磨を行って下層導体回路等の表面を平坦
化した場合には、必要に応じて、もう一度、下層導体回
路の粗化処理を行ってもよい。粗化処理方法としては、
例えば、黒化(酸化)−還元処理、有機酸と第二銅錯体
との混合水溶液によるスプレー処理、Cu−Ni−P合
金めっきによる処理等が挙げられる。
When the surface of the lower conductor circuit or the like is flattened by polishing, the lower conductor circuit may be subjected to another roughening treatment as required. As the roughening treatment method,
Examples include blackening (oxidation) -reduction treatment, spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, treatment with Cu-Ni-P alloy plating, and the like.

【0063】(3)次に、導体回路が形成された基板上
に、本発明の樹脂フィルムを圧着することにより未硬化
(半硬化)の樹脂フィルム層を形成する。上記樹脂フィ
ルムの圧着は、真空ラミネータ等の装置を用い、減圧下
または真空下において、0.2〜1MPaの圧力で行
う。
(3) Next, an uncured (semi-cured) resin film layer is formed by pressing the resin film of the present invention on the substrate on which the conductive circuit is formed. The compression bonding of the resin film is performed using a device such as a vacuum laminator under reduced pressure or vacuum at a pressure of 0.2 to 1 MPa.

【0064】上記樹脂フィルムを圧着する際の圧力が、
0.2MPa未満では、樹脂フィルム層の下部に形成さ
れた導体回路と樹脂フィルム層との密着性が低く、層間
樹脂絶縁層を形成した際に、該層間樹脂絶縁層と導体回
路との間で剥離が発生したり、バイアホール用開口等を
形成した層間樹脂絶縁層に、酸や酸化剤を用いて粗化面
を形成する際に、該酸や酸化剤がバイアホール用開口の
底面付近から層間樹脂絶縁層と導体回路との界面に侵入
しやすく、両者の間で剥離が発生する原因となる場合が
ある。一方、上記樹脂フィルムを圧着する際の圧力が1
MPaを超えると、可溶性粒子が層間樹脂絶縁層の表層
部に凝集してしまう部分が発生し、凝集した可溶性粒子
が溶解または脱落した場合には、粗化面に所望の形状の
凹凸を形成することができず、層間樹脂絶縁層と層間樹
脂絶縁層の上に形成する導体回路との密着強度が0.5
kg以下となり、導体回路の剥離が発生しやすくなる。
The pressure at the time of pressing the above resin film is
When the pressure is less than 0.2 MPa, the adhesion between the conductor circuit formed under the resin film layer and the resin film layer is low, and when the interlayer resin insulation layer is formed, the gap between the interlayer resin insulation layer and the conductor circuit is low. When peeling occurs or when the roughened surface is formed by using an acid or an oxidizing agent on the interlayer resin insulating layer in which the via hole opening or the like is formed, the acid or the oxidizing agent is removed from near the bottom surface of the via hole opening. It may easily enter the interface between the interlayer resin insulation layer and the conductor circuit, which may cause peeling between the two. On the other hand, when the pressure at the time of pressing the resin film is 1
If it exceeds MPa, a portion where the soluble particles are aggregated in the surface layer portion of the interlayer resin insulating layer occurs, and when the aggregated soluble particles are dissolved or dropped, irregularities of a desired shape are formed on the roughened surface. And the adhesion strength between the interlayer resin insulation layer and the conductor circuit formed on the interlayer resin insulation layer is 0.5
kg or less, and peeling of the conductor circuit is likely to occur.

【0065】上記樹脂フィルムを圧着する際の圧力は、
0.3〜0.7MPaが望ましい。これは、可溶性粒子
の大きさ、密度等にあまり関係なく均一な凹凸を有する
粗化面を形成することができ、層間樹脂絶縁層と導体回
路との間に所望の密着強度を維持することができるた
め、該層間樹脂絶縁層と導体回路との間で剥離が発生し
ないからである。
The pressure at the time of pressing the resin film is as follows:
0.3-0.7 MPa is desirable. This makes it possible to form a roughened surface having uniform irregularities regardless of the size and density of the soluble particles, and to maintain a desired adhesion strength between the interlayer resin insulating layer and the conductor circuit. This is because peeling does not occur between the interlayer resin insulating layer and the conductor circuit.

【0066】また、上記樹脂フィルムの圧着は、加熱下
で行うことが望ましく、40〜70℃の温度下で行うこ
とがより望ましい。加熱温度が40℃未満では、加熱す
る効果がほとんど得られず、加熱温度が70℃を超える
と、樹脂フィルムが硬化剤や溶剤を含有する場合に、こ
れらの硬化剤や溶剤が揮発したり、変性したりしてしま
い、硬化が不充分であったり、硬化が進行しすぎてバイ
アホール用開口の底面に樹脂が残渣として残ることがあ
り、バイアホールを含む導体回路の接続信頼性が低下し
てしまうことがある。
The pressure bonding of the resin film is preferably performed under heating, more preferably at a temperature of 40 to 70 ° C. When the heating temperature is less than 40 ° C., the effect of heating is hardly obtained, and when the heating temperature exceeds 70 ° C., when the resin film contains a curing agent or a solvent, these curing agents or solvents volatilize, It may be denatured and cured insufficiently, or the curing may progress too much and resin may remain as a residue on the bottom of the via hole opening, lowering the connection reliability of the conductor circuit including the via hole. Sometimes.

【0067】より望ましい加熱温度は、50〜60℃で
ある。樹脂フィルム中の可溶性粒子が凝集することがな
く、また、樹脂フィルムが含有する硬化剤やその他の成
分が、硬化前に揮発したり、変性したりすることがない
からである。
A more desirable heating temperature is 50 to 60 ° C. This is because the soluble particles in the resin film do not agglomerate, and the curing agent and other components contained in the resin film do not volatilize or denature before curing.

【0068】また、上記樹脂フィルムを圧着する時間
は、10〜120秒が望ましい。圧着時間が10秒未満
では、樹脂フィルムの圧着が不充分であり、一方、圧着
時間が120秒を超えても樹脂フィルムと導体回路との
密着性はほとんど向上しないからである。
The time for pressing the resin film is preferably 10 to 120 seconds. If the crimping time is less than 10 seconds, the crimping of the resin film is insufficient, while if the crimping time exceeds 120 seconds, the adhesion between the resin film and the conductor circuit is hardly improved.

【0069】また、上記樹脂フィルムを圧着する際の真
空度は、13〜1300Paが望ましい。上記真空度を
13Pa未満にすることは、技術的に容易でなく、時間
もかかる。一方、1300Paを超えると、配線間隔が
50μm未満の導体回路間に樹脂フィルムが完全に充填
されないことがある。
It is desirable that the degree of vacuum when the resin film is pressure-bonded is 13 to 1300 Pa. It is technically not easy to reduce the degree of vacuum to less than 13 Pa, and it takes time. On the other hand, if it exceeds 1300 Pa, the resin film may not be completely filled between the conductor circuits having a wiring interval of less than 50 μm.

【0070】(6)次に、未硬化の樹脂フィルム層に硬
化処理を施すとともに、非貫通孔および/または貫通孔
し、層間樹脂絶縁層とする。また、この工程では、必要
に応じて、貫通孔を形成してもよい。なお、上記非貫通
孔とは、例えば、バイアホール用開口であり、上記貫通
孔とは、例えば、スルホール用貫通孔である。
(6) Next, a hardening treatment is applied to the uncured resin film layer, and a non-through hole and / or a through hole is formed to form an interlayer resin insulating layer. In this step, a through-hole may be formed as necessary. The non-through hole is, for example, an opening for a via hole, and the through hole is, for example, a through hole for a through hole.

【0071】上記バイアホール用開口は、レーザ処理に
より形成することが望ましい。上記レーザ処理は、上記
硬化処理前に行ってもよいし、硬化処理後に行ってもよ
い。また、樹脂フィルム層の材料や、形成する開口径に
よっては露光、現像処理を行うことにより、バイアホー
ル用開口を設けてもよい。なお、この場合、露光、現像
処理は、上記硬化処理前に行う。
The via hole opening is desirably formed by laser processing. The laser processing may be performed before the curing processing or may be performed after the curing processing. Further, depending on the material of the resin film layer and the diameter of the opening to be formed, the opening for the via hole may be provided by performing exposure and development processing. In this case, the exposure and development processes are performed before the above-described curing process.

【0072】上記レーザ処理で使用するレーザとして
は、例えば、炭酸ガスレーザ、エキシマレーザ、UVレ
ーザ、YAGレーザ等が挙げられる。これらのレーザ
は、形成するバイアホール用開口や貫通孔の形状等を考
慮して使い分けてもよい。
Examples of the laser used in the laser processing include a carbon dioxide gas laser, an excimer laser, a UV laser, and a YAG laser. These lasers may be selectively used in consideration of the shape of a via hole opening or a through hole to be formed.

【0073】上記バイアホール用開口を形成する場合、
マスクを介して、ホログラム方式のエキシマレーザによ
りレーザ光を照射することにより、一度に多数のバイア
ホール用開口を形成することができる。また、短パルス
の炭酸ガスレーザを用いて、バイアホール用開口を形成
すると、開口内の樹脂残りが少なく、開口周縁の樹脂に
対するダメージが小さい。
When forming the via hole opening,
By irradiating laser light with a hologram excimer laser through a mask, a large number of via hole openings can be formed at once. Further, when the via hole opening is formed using a short-pulse carbon dioxide laser, the amount of resin remaining in the opening is small, and the damage to the resin at the periphery of the opening is small.

【0074】また、光学系レンズとマスクとを介してレ
ーザ光を照射することにより、一度に多数のバイアホー
ル用開口を形成することができる。光学系レンズとマス
クとを介することにより、同一強度で、かつ、照射角度
が同一のレーザ光を複数の部分に同時に照射することが
できるからである。
By irradiating a laser beam through an optical lens and a mask, a large number of via hole openings can be formed at once. This is because a plurality of portions can be simultaneously irradiated with laser light having the same intensity and the same irradiation angle through the optical lens and the mask.

【0075】上記マスクに形成された貫通孔は、レーザ
光のスポット形状を真円にするために、真円であること
が望ましく、上記貫通孔の径は、0.1〜2mm程度が
望ましい。また、上記炭酸ガスレーザを用いる場合、そ
のパルス間隔は、10-4〜10-8秒であることが望まし
い。また、開口を形成するためのレーザを照射する時間
は、10〜500μ秒であることが望ましい。
The through hole formed in the mask is desirably a perfect circle in order to make the spot shape of the laser beam a perfect circle, and the diameter of the through hole is desirably about 0.1 to 2 mm. When the carbon dioxide laser is used, the pulse interval is desirably 10 −4 to 10 −8 seconds. The time for irradiating the laser for forming the opening is preferably 10 to 500 μsec.

【0076】レーザ光にてバイアホール用開口を形成し
た場合、特に炭酸ガスレーザを用いた場合には、デスミ
ア処理を行うことが望ましい。上記デスミア処理は、ク
ロム酸、過マンガン酸塩等の水溶液からなる酸化剤を使
用して行うことができる。また、酸素プラズマ、CF4
と酸素の混合プラズマやコロナ放電等で処理してもよ
い。また、低圧水銀ランプを用いて紫外線を照射するこ
とにより、表面改質することもできる。
When an opening for a via hole is formed by a laser beam, and particularly when a carbon dioxide laser is used, desmearing is preferably performed. The desmear treatment can be performed using an oxidizing agent composed of an aqueous solution such as chromic acid and permanganate. In addition, oxygen plasma, CF 4
It may be treated by a mixed plasma of oxygen and oxygen, corona discharge, or the like. The surface can also be modified by irradiating ultraviolet rays using a low-pressure mercury lamp.

【0077】上記層間樹脂絶縁層の厚さとしては特に限
定されないが、5〜50μmが望ましい。上記厚さが5
μm未満であると、上下に隣合う導体回路間の絶縁性が
維持できない場合があり、一方、50μmを超えると、
非貫通孔等を形成した際に、その底部に樹脂残りが発生
したり、その非貫通孔等の形状が底部に向かって先細り
形状になることがある。
The thickness of the interlayer resin insulation layer is not particularly limited, but is preferably 5 to 50 μm. The thickness is 5
If it is less than μm, insulation between the vertically adjacent conductor circuits may not be maintained, while if it exceeds 50 μm,
When a non-through hole or the like is formed, resin residue may be generated at the bottom thereof, or the shape of the non-through hole or the like may be tapered toward the bottom.

【0078】また、層間樹脂絶縁層を形成した基板に、
貫通孔を形成する場合には、直径50〜300μmのド
リル、レーザ光等を用いて貫通孔を形成する。上記貫通
孔を形成した場合、後述する工程において、貫通孔の内
壁面に導体層を形成することにより、スルーホールとす
ることができ、該スルーホールを形成することにより、
上記基板および上記層間樹脂絶縁層を介した導体回路間
を電気的に接続することができる。
Further, on the substrate on which the interlayer resin insulating layer is formed,
When forming a through hole, the through hole is formed using a drill having a diameter of 50 to 300 μm, laser light, or the like. When the through-hole is formed, in a step described later, by forming a conductor layer on the inner wall surface of the through-hole, the through-hole can be formed, and by forming the through-hole,
Conductive circuits can be electrically connected via the substrate and the interlayer resin insulating layer.

【0079】(7)次に、バイアホール用開口の内壁を
含む層間樹脂絶縁層の表面と上記工程で貫通孔を形成し
た場合には貫通孔の内壁とに、必要に応じて、酸または
酸化剤を用いて粗化面を形成する。上記酸としては、硫
酸、硝酸、塩酸、リン酸、蟻酸等が挙げられ、上記酸化
剤としては、クロム酸、クロム硫酸、過マンガン酸ナト
リウム等の過マンガン酸塩等が挙げられる。また、層間
樹脂絶縁層をフェノキシ樹脂を含む樹脂フィルムを用い
て形成した場合には、上記過マンガン酸塩を用いて粗化
面を形成することが望ましい。
(7) Next, if necessary, the surface of the interlayer resin insulating layer including the inner wall of the via hole opening and the inner wall of the through hole when the through hole is formed in the above-described step, may be acid or oxidized. A roughened surface is formed using an agent. Examples of the acid include sulfuric acid, nitric acid, hydrochloric acid, phosphoric acid, and formic acid. Examples of the oxidizing agent include chromic acid, chromic sulfuric acid, and permanganates such as sodium permanganate. When the interlayer resin insulating layer is formed using a resin film containing a phenoxy resin, it is desirable to form a roughened surface using the above permanganate.

【0080】その後、酸を用いて粗化面を形成した場合
はアルカリ等の水溶液を用い、酸化剤を用いて粗化面を
形成した場合は中和液を用いて、バイアホール用開口内
や貫通孔内を中和する。この操作により酸や酸化剤を除
去し、次工程に影響を与えないようにする。
Thereafter, when the roughened surface is formed by using an acid, an aqueous solution of an alkali or the like is used, and when the roughened surface is formed by using an oxidizing agent, a neutralizing solution is used. Neutralizes the inside of the through hole. By this operation, the acid and the oxidizing agent are removed so that the next step is not affected.

【0081】(8)次に、形成された粗化面に、必要に
より、触媒を付与する。上記触媒としては、例えば、塩
化パラジウム等が挙げられる。このとき、触媒を確実に
付与するために、酸素、窒素等のプラズマ処理やコロナ
処理等のドライ処理を施すことにより、酸または酸化剤
の残渣を除去するとともに層間樹脂絶縁層の表面を改質
することにより、触媒を確実に付与し、無電解めっき時
の金属の析出、および、無電解めっき層の層間樹脂絶縁
層への密着性を向上させることができ、特に、バイアホ
ール用開口の底面において、大きな効果が得られる。
(8) Next, a catalyst is applied to the formed roughened surface, if necessary. Examples of the catalyst include palladium chloride. At this time, in order to reliably apply the catalyst, a dry treatment such as a plasma treatment with oxygen, nitrogen or the like or a corona treatment is performed to remove a residue of an acid or an oxidizing agent and to modify the surface of the interlayer resin insulating layer. By doing so, the catalyst can be reliably applied, the metal can be deposited during electroless plating, and the adhesion of the electroless plating layer to the interlayer resin insulating layer can be improved. In particular, the bottom surface of the via hole opening can be improved. In the above, a great effect can be obtained.

【0082】(9)ついで、バイアホール用開口の内壁
面を含む層間樹脂絶縁層の表面に、薄膜導体層を形成す
る。上記薄膜導体層は無電解めっきにより形成すること
が望ましいが、スパッタリング、蒸着等の方法を用いて
形成してもよい。上記薄膜導体層の材質としては、例え
ば、銅やニッケルこれらの合金等が挙げられる。これら
なかでは、電気特性、経済性の点から銅が望ましい。
(9) Next, a thin film conductor layer is formed on the surface of the interlayer resin insulating layer including the inner wall surface of the via hole opening. The thin film conductor layer is desirably formed by electroless plating, but may be formed by a method such as sputtering or vapor deposition. Examples of the material of the thin film conductor layer include copper and nickel alloys thereof. Among them, copper is desirable from the viewpoint of electric characteristics and economy.

【0083】上記無電解めっきにより形成した薄膜導体
層の厚さは、0.3〜2.0μmが望ましい。上記薄膜
導体層の厚さが0.3μm未満では、上面の平坦な薄膜
導体層を形成することができず、一方、2.0μmを超
えると、後工程で薄膜導体層を除去する際に、層間樹脂
絶縁層の表面に薄膜導体層が残留することがある。
The thickness of the thin film conductor layer formed by the electroless plating is desirably 0.3 to 2.0 μm. When the thickness of the thin film conductor layer is less than 0.3 μm, a thin film conductor layer having a flat upper surface cannot be formed. On the other hand, when the thickness exceeds 2.0 μm, when the thin film conductor layer is removed in a later step, The thin film conductor layer may remain on the surface of the interlayer resin insulating layer.

【0084】また、上記(6)の工程で貫通孔を形成し
た場合は、この工程で貫通孔の内壁面にも金属からなる
薄膜導体層を形成することにより、スルーホールとして
もよい。
When the through-hole is formed in the step (6), a through-hole may be formed by forming a thin film conductor layer made of metal also on the inner wall surface of the through-hole in this step.

【0085】上記(6)の工程で、スルーホールを形成
した場合には、以下のような処理工程を行うことが望ま
しい。即ち、無電解めっき層表面とスルーホール内壁と
を黒化(酸化)−還元処理、有機酸と第二銅錯体の混合
水溶液によるスプレー処理、Cu−Ni−P針状合金め
っきによる処理等を用いて粗化形成処理を行う。この
後、さらに、樹脂充填材等を用いてスルーホール内を充
填し、ついで、樹脂充填材の表層部と無電解めっき層表
面とをバフ研磨等の研磨処理方法を用いて、平坦化す
る。さらに、無電解めっきを行い、既に形成した金属か
らなる薄膜導体層と樹脂充填材の表層部とに無電解めっ
き層を形成することにより、スルーホールの上に蓋めっ
き層を形成する。
When a through hole is formed in the step (6), it is desirable to perform the following processing steps. That is, the surface of the electroless plating layer and the inner wall of the through hole are subjected to blackening (oxidation) -reduction treatment, spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, treatment with Cu-Ni-P needle-like alloy plating, or the like. To perform a roughening process. Thereafter, the inside of the through-hole is further filled with a resin filler or the like, and then the surface portion of the resin filler and the surface of the electroless plating layer are flattened by a polishing treatment method such as buffing. Further, electroless plating is performed, and an electroless plating layer is formed on the already formed thin film conductor layer made of metal and the surface layer of the resin filler, thereby forming a lid plating layer on the through hole.

【0086】(10)次に、上記層間樹脂絶縁層上の一
部にドライフィルムを用いてめっきレジストを形成し、
その後、上記薄膜導体層をめっきリードとして電気めっ
きを行い、上記めっきレジスト非形成部に電気めっき層
を形成する。このとき、バイアホール用開口を電気めっ
きで充填してフィールドビア構造としてもよく、バイア
ホール用開口に導電性ペースト等を充填した後、その上
に蓋めっき層を形成してフィールドビア構造としてもよ
い。フィールドビア構造を形成することにより、バイア
ホールの直上にバイアホールを設けることができる。
(10) Next, a plating resist is formed on a part of the interlayer resin insulating layer using a dry film,
Thereafter, electroplating is performed using the thin film conductor layer as a plating lead, and an electroplating layer is formed in the portion where the plating resist is not formed. At this time, the via hole opening may be filled with electroplating to form a field via structure, and after filling the via hole opening with a conductive paste or the like, a lid plating layer may be formed thereon to form a field via structure. Good. By forming a field via structure, a via hole can be provided immediately above the via hole.

【0087】(11)電気めっき層を形成した後、めっ
きレジストを剥離し、めっきレジストの下に存在してい
た金属からなる薄膜導体層をエッチングにより除去し、
独立した導体回路とする。エッチング液としては、例え
ば、硫酸−過酸化水素水溶液、過硫酸アンモニウム、過
硫酸ナトリウム、過硫酸カリウム等の過硫酸塩水溶液、
塩化第二鉄、塩化第二銅の水溶液、塩酸、硝酸、熱希硫
酸等が挙げられる。また、前述した第二銅錯体と有機酸
とを含有するエッチング液を用いて、導体回路間のエッ
チングと同時に粗化面を形成してもよい。さらに、必要
により、酸または酸化剤を用いて層間樹脂絶縁層上に触
媒を除去してもよい。触媒を除去することにより、触媒
に用いたパラジウム等の金属がなくなるため、電気特性
の低下を防止することができる。
(11) After the formation of the electroplating layer, the plating resist is peeled off, and the thin film conductor layer made of a metal existing under the plating resist is removed by etching.
Independent conductor circuits. Examples of the etchant include a sulfuric acid-hydrogen peroxide aqueous solution, ammonium persulfate, sodium persulfate, a persulfate aqueous solution such as potassium persulfate,
An aqueous solution of ferric chloride and cupric chloride, hydrochloric acid, nitric acid, hot dilute sulfuric acid and the like can be mentioned. Alternatively, a roughened surface may be formed simultaneously with etching between conductor circuits using an etching solution containing the above-described cupric complex and an organic acid. Further, if necessary, the catalyst may be removed from the interlayer resin insulating layer using an acid or an oxidizing agent. By removing the catalyst, the metal such as palladium used for the catalyst disappears, so that a decrease in electric characteristics can be prevented.

【0088】(12)この後、上記(3)〜(11)の
工程を必要に応じて繰り返すことにより、導体回路と層
間樹脂絶縁層とが順次積層された基板を作製する。
(12) Thereafter, the above steps (3) to (11) are repeated as necessary to produce a substrate on which the conductor circuit and the interlayer resin insulating layer are sequentially laminated.

【0089】(13)次に、最上層の導体回路を含む基
板面にソルダーレジスト層を形成し、さらに、該ソルダ
ーレジスト層を開口して半田パッドを形成した後、上記
半田パッドに半田ペーストを充填し、リフローすること
により半田バンプを形成する。その後、外部基板接続面
に、ピンを配設したり、半田ボールを形成したりするこ
とにより、PGA(Pin Grid Array)やBGA(Ball Grid
Array) とする。
(13) Next, a solder resist layer is formed on the surface of the substrate including the uppermost conductive circuit, a solder pad is formed by opening the solder resist layer, and a solder paste is applied to the solder pad. Filling and reflowing form solder bumps. Then, pins are arranged on the connection surface of the external board, or solder balls are formed, so that a PGA (Pin Grid Array) or a BGA (Ball Grid Array) is formed.
Array).

【0090】上記PGAを配設する場合には、はんだペ
ースト等の導電性接着剤層を介して、コバール、42ア
ロイ等の合金で形成されたピンを接続させることが望ま
しく、該ピンは、T型ピンが望ましい。
When the above PGA is provided, it is desirable to connect a pin made of an alloy such as Kovar or 42 alloy through a conductive adhesive layer such as a solder paste. Mold pins are preferred.

【0091】上記ソルダーレジスト層は、例えば、ポリ
フェニレンエーテル樹脂、ポリオレフィン樹脂、フッ素
樹脂、熱可塑性エラストマー、エポキシ樹脂、ポリイミ
ド樹脂等からなるソルダーレジスト組成物を用いて形成
することができ、これらの樹脂の具体例としては、例え
ば、層間樹脂絶縁層に用いた樹脂と同様の樹脂等が挙げ
られる。
The solder resist layer can be formed using, for example, a solder resist composition comprising a polyphenylene ether resin, a polyolefin resin, a fluororesin, a thermoplastic elastomer, an epoxy resin, a polyimide resin, and the like. Specific examples include, for example, the same resins as those used for the interlayer resin insulating layer.

【0092】また、上記以外のソルダーレジスト組成物
としては、例えば、ノボラック型エポキシ樹脂の(メ
タ)アクリレート、イミダゾール硬化剤、2官能性(メ
タ)アクリル酸エステルモノマー、分子量500〜50
00程度の(メタ)アクリル酸エステルの重合体、ビス
フェノール型エポキシ樹脂等からなる熱硬化性樹脂、多
価アクリル系モノマー等の感光性モノマー、グリコール
エーテル系溶剤などを含むペースト状の流動体が挙げら
れ、その粘度は25℃で1〜10Pa・sに調整されて
いることが望ましい。上記ノボラック型エポキシ樹脂の
(メタ)アクリレートとしては、例えば、フェノールノ
ボラックやクレゾールノボラックのグリシジルエーテル
をアクリル酸やメタクリル酸等と反応させたエポキシ樹
脂等が挙げられる。
Examples of the solder resist composition other than those described above include, for example, (meth) acrylate of novolak type epoxy resin, imidazole curing agent, bifunctional (meth) acrylate monomer, and molecular weight of 500 to 50.
A paste-like fluid containing a polymer of about 00 (meth) acrylate, a thermosetting resin such as a bisphenol-type epoxy resin, a photosensitive monomer such as a polyvalent acrylic monomer, a glycol ether-based solvent, and the like. It is desirable that the viscosity is adjusted to 1 to 10 Pa · s at 25 ° C. Examples of the (meth) acrylate of the novolak epoxy resin include an epoxy resin obtained by reacting glycidyl ether of phenol novolak or cresol novolak with acrylic acid, methacrylic acid, or the like.

【0093】上記2官能性(メタ)アクリル酸エステル
モノマーとしては特に限定されず、例えば、各種ジオー
ル類のアクリル酸やメタクリル酸のエステル等が挙げら
れ、市販品としては、日本化薬社製のR−604、PM
2、PM21等が挙げられる。
The bifunctional (meth) acrylic acid ester monomer is not particularly limited, and examples thereof include acrylic acid and methacrylic acid esters of various diols, and commercially available products of Nippon Kayaku Co., Ltd. R-604, PM
2, PM21 and the like.

【0094】また、上記ソルダーレジスト組成物はエラ
ストマーや無機フィラーが配合されていてもよい。エラ
ストマーが配合されていることにより、形成されるソル
ダーレジスト層は、エラストマーの有する柔軟性および
反発弾性により、ソルダーレジスト層に応力が作用した
場合でも、該応力を吸収したり緩和したりすることがで
き、その結果、多層プリント配線板の製造工程や製造し
た多層プリント配線板にICチップ等の電子部品を搭載
した後のソルダーレジスト層にクラックや剥離が発生す
ることを抑制でき、さらに、クラックが発生した場合で
も該クラックが大きく成長することがない。
The solder resist composition may contain an elastomer or an inorganic filler. By being blended with the elastomer, the formed solder resist layer can absorb or reduce the stress even when a stress acts on the solder resist layer due to the flexibility and rebound resilience of the elastomer. As a result, cracks and peeling can be suppressed from occurring in the manufacturing process of the multilayer printed wiring board and in the solder resist layer after mounting electronic components such as IC chips on the manufactured multilayer printed wiring board. Even when it occurs, the crack does not grow large.

【0095】上記ソルダーレジスト層を開口する方法と
しては、例えば、バイアホール用開口を形成する方法と
同様に、レーザ光を照射する方法等が挙げられる。
The method of opening the solder resist layer includes, for example, a method of irradiating a laser beam as in the method of forming an opening for a via hole.

【0096】また、ソルダーレジスト組成物として、感
光性のソルダーレジスト組成物を使用した場合には、ソ
ルダーレジスト層を形成した後、該ソルダーレジスト層
上にフォトレジストを載置し、露光、現像処理を施すこ
とにより、ソルダーレジスト層を開口することができ
る。
When a photosensitive solder resist composition is used as the solder resist composition, after a solder resist layer is formed, a photoresist is placed on the solder resist layer, and exposed and developed. By performing the above, the solder resist layer can be opened.

【0097】上記ソルダーレジスト層を開口することに
より露出した導体回路部分は、通常、ニッケル、パラジ
ウム、金、銀、白金等の耐食性金属により被覆すること
が望ましい。具体的には、ニッケル−金、ニッケル−
銀、ニッケル−パラジウム、ニッケル−パラジウム−金
等の金属により被覆層を形成することが望ましい。上記
被覆層は、例えば、めっき、蒸着、電着等により形成す
ることができるが、これらのなかでは、被覆層の均一性
に優れるという点からめっきが望ましい。
The conductor circuit portion exposed by opening the solder resist layer is usually desirably covered with a corrosion-resistant metal such as nickel, palladium, gold, silver, and platinum. Specifically, nickel-gold, nickel-
It is desirable to form the coating layer with a metal such as silver, nickel-palladium, nickel-palladium-gold, and the like. The coating layer can be formed by, for example, plating, vapor deposition, electrodeposition, and the like, and among these, plating is preferable because of excellent uniformity of the coating layer.

【0098】なお、製品認識文字などを形成するための
文字印刷工程やソルダーレジスト層の改質のために、酸
素や四塩化炭素などのプラズマ処理を適時行ってもよ
い。以上の方法は、セミアディティブ法によるものであ
るが、フルアディティブ法を採用してもよい。
A plasma treatment with oxygen, carbon tetrachloride, or the like may be performed as needed for a character printing step for forming product recognition characters or the like or for modifying a solder resist layer. Although the above method is based on the semi-additive method, a full additive method may be employed.

【0099】[0099]

【実施例】以下、本発明をさらに詳細に説明する。 (実施例1) A.樹脂フィルムの作製 ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量18
5、油化シェルエポキシ社製 エピコート828EL)
30重量部、トリアジン構造含有フェノールノボラック
樹脂(トリアジン:フェノール=1:9、大日本インキ
化学工業社製 フェノライトLA−7052)30重量
部をエチルジグリコールアセテート20重量部、ソルベ
ントナフサ20重量部に攪拌しながら加熱溶解させ、そ
こへポリエーテルスルホン(PES)(三井化学社製)
8重量部、末端エポキシ化ポリブタジエンゴム15重量
部、2−フェニル−4、5−ビス(ヒドロキシメチル)
イミダゾール粉砕品1.5重量部、シリコン系消泡剤
0.5重量部を添加し樹脂組成物を調製した。得られた
樹脂組成物を厚さ38μmのPETフィルム上に乾燥後
の厚さが50μmとなるようにロールコーターを用いて
塗布した後、80〜120℃で10分間乾燥させること
により、樹脂フィルムを作製した。
The present invention will be described in more detail below. Example 1 A. Preparation of resin film Bisphenol A type epoxy resin (Epoxy equivalent 18
5, Yuka Shell Epoxy Epicoat 828EL)
30 parts by weight, 30 parts by weight of a triazine structure-containing phenol novolak resin (triazine: phenol = 1: 9, phenolite LA-7052, manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.) to 20 parts by weight of ethyl diglycol acetate and 20 parts by weight of solvent naphtha Heat and dissolve with stirring, and polyether sulfone (PES) (Mitsui Chemicals)
8 parts by weight, terminal epoxidized polybutadiene rubber 15 parts by weight, 2-phenyl-4,5-bis (hydroxymethyl)
A resin composition was prepared by adding 1.5 parts by weight of a pulverized imidazole and 0.5 parts by weight of a silicone-based antifoaming agent. After applying the obtained resin composition on a 38 μm-thick PET film using a roll coater so that the thickness after drying becomes 50 μm, the resin film is dried at 80 to 120 ° C. for 10 minutes to obtain a resin film. Produced.

【0100】B.樹脂充填材の調製 ビスフェノールF型エポキシモノマー(油化シェル社
製、分子量:310、YL983U)100重量部、表
面にシランカップリング剤がコーティングされた平均粒
径が1.6μmで、最大粒子の直径が15μm以下のS
iO2 球状粒子(アドテック社製、CRS 1101−
CE)170重量部およびレベリング剤(サンノプコ社
製 ペレノールS4)1.5重量部を容器にとり、攪拌
混合することにより、その粘度が23±1℃で45〜4
9Pa・sの樹脂充填材を調製した。なお、硬化剤とし
て、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2E4MZ−
CN)6.5重量部を用いた。
B. Preparation of resin filler 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell Co., molecular weight: 310, YL983U), the average particle diameter of which is coated with a silane coupling agent on the surface is 1.6 μm, and the diameter of the largest particle Is less than 15 μm
iO 2 spherical particles (CRS 1101- manufactured by Adtech Co., Ltd.)
CE) 170 parts by weight and 1.5 parts by weight of a leveling agent (Perenol S4 manufactured by San Nopco Co.) are placed in a container, and the mixture is stirred and mixed to have a viscosity of 45-4 at 23 ± 1 ° C.
A resin filler of 9 Pa · s was prepared. In addition, as a curing agent, an imidazole curing agent (2E4MZ- manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.)
6.5 parts by weight (CN).

【0101】C.プリント配線板の製造方法 (1)厚さ0.8mmのガラスエポキシ樹脂またはBT
(ビスマレイミド−トリアジン)樹脂からなる基板1の
両面に18μmの銅箔8がラミネートされている銅張積
層板を出発材料とした(図1(a)参照)。まず、この
銅張積層板をドリル削孔し、無電解めっき処理を施し、
パターン状にエッチングすることにより、基板1の両面
に下層導体回路4とスルーホール9を形成した。
C. Method for manufacturing printed wiring board (1) 0.8 mm thick glass epoxy resin or BT
A starting material was a copper-clad laminate in which 18 μm copper foils 8 were laminated on both sides of a substrate 1 made of (bismaleimide-triazine) resin (see FIG. 1A). First, this copper clad laminate is drilled and subjected to electroless plating.
The lower conductor circuit 4 and the through hole 9 were formed on both surfaces of the substrate 1 by etching in a pattern.

【0102】(2)スルーホール9および下層導体回路
4を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、NaOH
(10g/l)、NaClO2 (40g/l)、Na3
PO4 (6g/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)と
する黒化処理、および、NaOH(10g/l)、Na
BH4 (6g/l)を含む水溶液を還元浴とする還元処
理を行い、そのスルーホール9を含む下層導体回路4の
全表面に粗化面4a、9aを形成した(図1(b)参
照)。
(2) The substrate on which the through hole 9 and the lower conductor circuit 4 are formed is washed with water and dried,
(10 g / l), NaClO 2 (40 g / l), Na 3
A blackening treatment using an aqueous solution containing PO 4 (6 g / l) as a blackening bath (oxidizing bath), NaOH (10 g / l), Na
A reduction treatment was performed using an aqueous solution containing BH 4 (6 g / l) as a reducing bath, and roughened surfaces 4 a and 9 a were formed on the entire surface of the lower conductor circuit 4 including the through holes 9 (see FIG. 1 (b)). ).

【0103】(3)上記Bに記載した樹脂充填材を調製
した後、下記の方法により調製後24時間以内に、スル
ーホール9内、および、基板1の片面の導体回路非形成
部と導体回路4の外縁部とに樹脂充填材10の層を形成
した。即ち、まず、スキージを用いてスルーホール内に
樹脂充填材を押し込んだ後、100℃、20分の条件で
乾燥させた。次に、導体回路非形成部に相当する部分が
開口したマスクを基板上に載置し、スキージを用いて凹
部となっている導体回路非形成部に樹脂充填材10の層
を形成し、100℃、20分の条件で乾燥させた(図1
(c)参照)。
(3) After preparing the resin filler described in the above B, within 24 hours after preparation by the following method, the conductive circuit non-formed portion and the conductive circuit in the through hole 9 and on one side of the substrate 1 A layer of the resin filler 10 was formed on the outer edge portion of No. 4. That is, first, the resin filler was pushed into the through holes using a squeegee, and then dried at 100 ° C. for 20 minutes. Next, a mask having an opening corresponding to the conductor circuit non-forming portion is placed on the substrate, and a layer of the resin filler 10 is formed in the conductor circuit non-forming portion having a concave portion using a squeegee. At 20 ° C. for 20 minutes (FIG. 1).
(C)).

【0104】(4)上記(3)の処理を終えた基板の片
面を、#600のベルト研磨紙(三共理化学製)を用い
たベルトサンダー研磨により、内層銅パターン4の表面
やスルーホール9のランド表面に樹脂充填材10が残ら
ないように研磨し、次いで、上記ベルトサンダー研磨に
よる傷を取り除くためのバフ研磨を行った。このような
一連の研磨を基板の他方の面についても同様に行った。
次いで、100℃で1時間、150℃で1時間の加熱処
理を行って樹脂充填材10を硬化した。
(4) One surface of the substrate after the treatment of the above (3) is subjected to belt sanding using # 600 belt abrasive paper (manufactured by Sankyo Rikagaku) to form the surface of the inner layer copper pattern 4 and the through holes 9. Polishing was performed so that the resin filler 10 did not remain on the land surface, and then buffing was performed to remove scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate.
Next, heat treatment was performed at 100 ° C. for 1 hour and at 150 ° C. for 1 hour to cure the resin filler 10.

【0105】このようにして、スルーホール9や導体回
路非形成部に形成された樹脂充填材10の表層部および
下層導体回路4の表面を平坦化し、樹脂充填材10と下
層導体回路4の側面4aとが粗化面を介して強固に密着
し、またスルーホール9の内壁面9aと樹脂充填材10
とが粗化面を介して強固に密着した絶縁性基板を得た
(図1(d)参照)。即ち、この工程により、樹脂充填
材10の表面と下層導体回路4の表面とが同一平面とな
る。
In this way, the surface portion of the resin filler 10 formed in the through hole 9 and the portion where the conductor circuit is not formed and the surface of the lower conductor circuit 4 are flattened, and the resin filler 10 and the side surfaces of the lower conductor circuit 4 are flattened. 4a is firmly adhered through the roughened surface, and the inner wall surface 9a of the through hole 9 and the resin filler 10
Was obtained, thereby obtaining an insulating substrate firmly adhered through the roughened surface (see FIG. 1D). That is, by this step, the surface of the resin filler 10 and the surface of the lower conductive circuit 4 are flush with each other.

【0106】(5)上記基板を水洗、酸性脱脂した後、
ソフトエッチングし、次いで、エッチング液を基板の両
面にスプレイで吹きつけて、下層導体回路4の表面とス
ルーホール9のランド表面と内壁とをエッチングするこ
とにより、下層導体回路4の全表面に粗化面4a、9a
を形成した(図2(a)参照)。エッチング液として
は、イミダゾール銅(II)錯体10重量部、グリコー
ル酸7重量部、塩化カリウム5重量部からなるエッチン
グ液(メック社製、メックエッチボンド)を使用した。
(5) After the above substrate is washed with water and acid degreased,
Soft etching is performed, and then an etching solution is sprayed on both surfaces of the substrate to etch the surface of the lower conductive circuit 4 and the land surface and the inner wall of the through-hole 9, so that the entire surface of the lower conductive circuit 4 is roughened. Surface 4a, 9a
Was formed (see FIG. 2A). As an etching solution, an etching solution (Mec etch bond, manufactured by Mec Co., Ltd.) comprising 10 parts by weight of an imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, and 5 parts by weight of potassium chloride was used.

【0107】(6)基板の両面に、Aで作製した基板よ
り少し大きめの層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムを基板上
に載置し、圧力4kgf/cm2 、温度80℃、圧着時
間10秒の条件で仮圧着して裁断した後、さらに、以下
の方法により真空ラミネーター装置を用いて張り付ける
ことにより層間樹脂絶縁層を形成した(図2(b)参
照)。即ち、層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムを基板上
に、真空度65Pa、圧力0.4MPa、温度80℃、
圧着時間60秒の条件で本圧着し、その後、170℃で
30分間熱硬化させた。
(6) On both surfaces of the substrate, a resin film for an interlayer resin insulating layer slightly larger than the substrate prepared in A was placed on the substrate, and the pressure was 4 kgf / cm 2 , the temperature was 80 ° C., and the pressure bonding time was 10 seconds. After temporary compression bonding under the conditions and cutting, an interlayer resin insulating layer was formed by bonding using a vacuum laminator by the following method (see FIG. 2B). That is, a resin film for an interlayer resin insulation layer is placed on a substrate, with a degree of vacuum of 65 Pa, a pressure of 0.4 MPa, a temperature of 80 ° C.,
The main press was performed under the condition of a press contact time of 60 seconds, and thereafter, thermosetting was performed at 170 ° C. for 30 minutes.

【0108】(7)次に、層間樹脂絶縁層2上に、厚さ
1.2mmの貫通孔が形成されたマスクを介して、波長
10.4μmのCO2 ガスレーザにて、ビーム径4.0
mm、トップハットモード、パルス幅8.0μ秒、マス
クの貫通孔の径1.0mm、1ショットの条件で層間樹
脂絶縁層2に、直径80μmのバイアホール用開口6を
形成した(図2(c)参照)。
(7) Next, a CO 2 gas laser having a wavelength of 10.4 μm is used to form a beam having a beam diameter of 4.0 through a mask having a through hole having a thickness of 1.2 mm formed on the interlayer resin insulating layer 2.
2 mm, a top hat mode, a pulse width of 8.0 μsec, a mask through-hole diameter of 1.0 mm, and a one-shot condition, a via hole opening 6 having a diameter of 80 μm was formed in the interlayer resin insulating layer 2 (FIG. c)).

【0109】(8)バイアホール用開口6を形成した基
板を、60g/lの過マンガン酸を含む80℃の溶液に
10分間浸漬し、層間樹脂絶縁層2の表面に存在するエ
ポキシ樹脂粒子を溶解除去することにより、バイアホー
ル用開口6の内壁を含む層間樹脂絶縁層2の表面を粗面
とした(図2(d)参照)。
(8) The substrate having the via hole opening 6 formed therein is immersed in a solution containing 60 g / l of permanganic acid at 80 ° C. for 10 minutes to remove the epoxy resin particles present on the surface of the interlayer resin insulating layer 2. By dissolving and removing, the surface of the interlayer resin insulating layer 2 including the inner wall of the via hole opening 6 was roughened (see FIG. 2D).

【0110】(9)次に、上記処理を終えた基板を、中
和溶液(シプレイ社製)に浸漬してから水洗いした。さ
らに、粗面化処理(粗化深さ3μm)した該基板の表面
に、パラジウム触媒を付与することにより、層間樹脂絶
縁層2の表面およびバイアホール用開口6の内壁面に触
媒核を付着させた。
(9) Next, the substrate after the above treatment was immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and washed with water. Further, by applying a palladium catalyst to the surface of the substrate subjected to the surface roughening treatment (roughening depth: 3 μm), a catalyst nucleus is attached to the surface of the interlayer resin insulating layer 2 and the inner wall surface of the via hole opening 6. Was.

【0111】(10)次に、以下の組成の無電解銅めっ
き水溶液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ0.6〜
3.0μmの無電解銅めっき膜12を形成した(図3
(a)参照)。 〔無電解めっき水溶液〕 NiSO4 0.003 mol/l 酒石酸 0.200 mol/l 硫酸銅 0.030 mol/l HCHO 0.050 mol/l NaOH 0.100 mol/l α、α′−ビピリジル 40 mg/l ポリエチレングリコール(PEG) 0.10 g/l 〔無電解めっき条件〕35℃の液温度で40分
(10) Next, the substrate is immersed in an electroless copper plating aqueous solution having the following composition, and the thickness of the substrate is reduced to 0.6 to
A 3.0 μm electroless copper plating film 12 was formed (FIG. 3).
(A)). [Electroless plating aqueous solution] NiSO 4 0.003 mol / l tartaric acid 0.200 mol / l copper sulfate 0.030 mol / l HCHO 0.050 mol / l NaOH 0.100 mol / l α, α'-bipyridyl 40 mg / l Polyethylene glycol (PEG) 0.10 g / l [Electroless plating conditions] 40 minutes at a liquid temperature of 35 ° C

【0112】(11)市販の感光性ドライフィルムを無
電解銅めっき膜12に張り付け、マスクを載置して、1
00mJ/cm2 で露光し、0.8%炭酸ナトリウム水
溶液で現像処理することにより、厚さ30μmのめっき
レジスト3を設けた(図3(b)参照)。
(11) A commercially available photosensitive dry film is stuck on the electroless copper plating film 12 and a mask is placed thereon to
Exposure was performed at 00 mJ / cm 2 , and development was performed with a 0.8% aqueous sodium carbonate solution to provide a plating resist 3 having a thickness of 30 μm (see FIG. 3B).

【0113】(12)ついで、基板を50℃の水で洗浄
して脱脂し、25℃の水で水洗後、さらに硫酸で洗浄し
てから、以下の条件で電解銅めっきを施し、厚さ20μ
mの電解銅めっき膜13を形成した(図3(c)参
照)。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 2.24 mol/l 硫酸銅 0.26 mol/l 添加剤 19.5 ml/l (アトテックジャパン社製、カパラシドHL) 〔電解めっき条件〕 電流密度 1 A/dm2 時間 65 分 温度 22±2 ℃
(12) Then, the substrate was washed with water at 50 ° C., degreased, washed with water at 25 ° C., further washed with sulfuric acid, and then subjected to electrolytic copper plating under the following conditions to give a thickness of 20 μm.
m of the electrolytic copper plating film 13 was formed (see FIG. 3C). [Electroplating aqueous solution] sulfuric acid 2.24 mol / l copper sulfate 0.26 mol / l additive 19.5 ml / l (manufactured by Atotech Japan, Capparaside HL) [electroplating conditions] current density 1 A / dm 2 hours 65 minutes Temperature 22 ± 2 ℃

【0114】(13)めっきレジスト3を5%NaOH
で剥離除去した後、そのめっきレジスト3下の無電解め
っき膜12を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング処
理して溶解除去し、無電解銅めっき膜12と電解銅めっ
き膜13からなる厚さ18μmの導体回路(バイアホー
ル7を含む)5を形成した(図3(d)参照)。
(13) Plating resist 3 is made of 5% NaOH
Then, the electroless plating film 12 under the plating resist 3 is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide, and the thickness of the electroless plating film 12 and the electrolytic copper plating film 13 is reduced. A conductor circuit (including the via hole 7) 5 having a thickness of 18 μm was formed (see FIG. 3D).

【0115】(14)(5)と同様の処理を行い、第二
銅錯体と有機酸とを含有するエッチング液によって、粗
化面を形成した(図4(a)参照)。
(14) The same treatment as in (5) was performed, and a roughened surface was formed with an etching solution containing a cupric complex and an organic acid (see FIG. 4A).

【0116】(15)上記(6)〜(14)の工程を繰
り返すことにより、さらに上層の導体回路を形成し、多
層配線板を得た(図4(b)〜図5(b)参照)。
(15) By repeating the above steps (6) to (14), a conductor circuit of a further upper layer was formed, and a multilayer wiring board was obtained (see FIGS. 4 (b) to 5 (b)). .

【0117】(15)次に、ジエチレングリコールジメ
チルエーテル(DMDG)に60重量%の濃度になるよ
うに溶解させた、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂
(日本化薬社製)のエポキシ基50%をアクリル化した
感光性付与のオリゴマー(分子量:4000)46.6
7重量部、メチルエチルケトンに溶解させた80重量%
のビスフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル社製、
商品名:エピコート1001)15.0重量部、イミダ
ゾール硬化剤(四国化成社製、商品名:2E4MZ−C
N)1.6重量部、感光性モノマーである2官能アクリ
ルモノマー(日本化薬社製、商品名:R604)4.5
重量部、同じく多価アクリルモノマー(共栄化学社製、
商品名:DPE6A)1.5重量部、分散系消泡剤(サ
ンノプコ社製、S−65)0.71重量部を容器にと
り、攪拌、混合して混合組成物を調製し、この混合組成
物に対して光重合開始剤としてベンゾフェノン(関東化
学社製)2.0重量部、光増感剤としてのミヒラーケト
ン(関東化学社製)0.2重量部、を加えることによ
り、粘度を25℃で2.0Pa・sに調整したソルダー
レジスト組成物を得た。なお、粘度測定は、B型粘度計
(東京計器社製、DVL−B型)で60rpmの場合は
ローターNo.4、6rpmの場合はローターNo.3
によった。
(15) Next, a cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) so as to have a concentration of 60% by weight was used. Oligomer for imparting properties (molecular weight: 4000) 46.6
7 parts by weight, 80% by weight dissolved in methyl ethyl ketone
Of bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.
Trade name: Epicoat 1001) 15.0 parts by weight, imidazole hardener (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-C)
N) 1.6 parts by weight, a bifunctional acrylic monomer which is a photosensitive monomer (trade name: R604, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 4.5
Parts by weight, also polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoei Chemical Co.,
A trade name: 1.5 parts by weight of DPE6A) and 0.71 parts by weight of a dispersion defoaming agent (manufactured by San Nopco, S-65) are placed in a container, stirred and mixed to prepare a mixed composition, and the mixed composition is prepared. Of benzophenone (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) as a photopolymerization initiator and 0.2 part by weight of Michler's ketone (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) as a photosensitizer at 25 ° C. A solder resist composition adjusted to 2.0 Pa · s was obtained. The viscosity was measured with a B-type viscometer (DVL-B type, manufactured by Tokyo Keiki Co., Ltd.) when the rotor No. was 60 rpm. In the case of 4, 6 rpm, the rotor No. 3
According to

【0118】(17)次に、多層配線基板の両面に、上
記ソルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗布し、
70℃で20分間、70℃で30分間の条件で乾燥処理
を行った後、ソルダーレジスト開口部のパターンが描画
された厚さ5mmのフォトマスクをソルダーレジスト層
に密着させて1000mJ/cm2 の紫外線で露光し、
DMTG溶液で現像処理し、200μmの直径の開口を
形成した。そして、さらに、80℃で1時間、100℃
で1時間、120℃で1時間、150℃で3時間の条件
でそれぞれ加熱処理を行ってソルダーレジスト層を硬化
させ、開口を有し、その厚さが20μmのソルダーレジ
ストパターン層14を形成した。上記ソルダーレジスト
組成物としては、市販のソルダーレジスト組成物を使用
することもできる。
(17) Next, the solder resist composition is applied on both surfaces of the multilayer wiring board in a thickness of 20 μm.
After performing a drying process under the conditions of 70 ° C. for 20 minutes and 70 ° C. for 30 minutes, a 5 mm-thick photomask on which a pattern of the solder resist opening is drawn is brought into close contact with the solder resist layer to form a 1000 mJ / cm 2 . Exposure with ultraviolet light,
The film was developed with a DMTG solution to form an opening having a diameter of 200 μm. Then, at 80 ° C. for 1 hour, 100 ° C.
For 1 hour, at 120 ° C. for 1 hour, and at 150 ° C. for 3 hours to cure the solder resist layer, thereby forming a solder resist pattern layer 14 having an opening and a thickness of 20 μm. . As the solder resist composition, a commercially available solder resist composition can be used.

【0119】(18)次に、ソルダーレジスト層14を
形成した基板を、塩化ニッケル(2.3×10-1mol
/l)、次亜リン酸ナトリウム(2.8×10-1mol
/l)、クエン酸ナトリウム(1.6×10-1mol/
l)を含むpH=4.5の無電解ニッケルめっき液に2
0分間浸漬して、開口部に厚さ5μmのニッケルめっき
層15を形成した。さらに、その基板をシアン化金カリ
ウム(7.6×10-3mol/l)、塩化アンモニウム
(1.9×10-1mol/l)、クエン酸ナトリウム
(1.2×10-1mol/l)、次亜リン酸ナトリウム
(1.7×10-1mol/l)を含む無電解金めっき液
に80℃の条件で7.5分間浸漬して、ニッケルめっき
層15上に、厚さ0.03μmの金めっき層16を形成
した。
(18) Next, the substrate on which the solder resist layer 14 is formed is coated with nickel chloride (2.3 × 10 -1 mol).
/ L), sodium hypophosphite (2.8 × 10 -1 mol)
/ L), sodium citrate (1.6 × 10 -1 mol /
2) in the electroless nickel plating solution having pH = 4.5 containing l)
This was immersed for 0 minutes to form a nickel plating layer 15 having a thickness of 5 μm in the opening. Furthermore, the substrate gold potassium cyanide (7.6 × 10 -3 mol / l ), ammonium chloride (1.9 × 10 -1 mol / l ), sodium citrate (1.2 × 10 -1 mol / l), immersed in an electroless gold plating solution containing sodium hypophosphite (1.7 × 10 -1 mol / l) for 7.5 minutes at 80 ° C. A gold plating layer 16 of 0.03 μm was formed.

【0120】(19)この後、基板のICチップを載置
する面のソルダーレジスト層14の開口に、スズ−鉛を
含有するはんだペーストを印刷し、さらに他方の面のソ
ルダーレジスト層14の開口にスズ−アンチモンを含有
するはんだペーストを印刷した後、200℃でリフロー
することによりはんだバンプ(はんだ体)17を形成
し、はんだバンプ17を有する多層プリント配線板を製
造した(図5(c)参照)。
(19) Thereafter, a solder paste containing tin-lead is printed on the opening of the solder resist layer 14 on the surface of the substrate on which the IC chip is to be mounted, and the opening of the solder resist layer 14 on the other surface is further printed. After printing a solder paste containing tin-antimony on the substrate, a solder bump (solder body) 17 was formed by reflow at 200 ° C., and a multilayer printed wiring board having the solder bump 17 was manufactured (FIG. 5C). reference).

【0121】(実施例2)以下に示す方法で作製した樹
脂フィルムを用いた以外は、実施例1と同様にして多層
プリント配線板を製造した。 樹脂フィルムの作製 ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量18
5、油化シェルエポキシ社製 エピコート828EL)
30重量部、トリアジン構造含有フェノールノボラック
樹脂(トリアジン:フェノール=1:9、大日本インキ
化学工業社製フェノライトLA−7052)30重量部
をエチルジグリコールアセテート20重量部、ソルベン
トナフサ20重量部に攪拌しながら加熱溶解させ、そこ
へフェノキシ樹脂(東都化成社製 YPB−40−PX
M40)5重量部、末端エポキシ化ポリブタジエンゴム
15重量部、2−フェニル−4、5−ビス(ヒドロキシ
メチル)イミダゾール粉砕品1.5重量部、シリコン系
消泡剤0.5重量部を添加し樹脂組成物を調製した。得
られた樹脂組成物を厚さ38μmのPETフィルム上に
乾燥後の厚さが50μmとなるようにロールコーターを
用いて塗布した後、80〜120℃で10分間乾燥させ
ることにより、樹脂フィルムを作製した。
Example 2 A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 1 except that a resin film produced by the following method was used. Preparation of resin film Bisphenol A type epoxy resin (Epoxy equivalent 18
5, Yuka Shell Epoxy Epicoat 828EL)
30 parts by weight, 30 parts by weight of a triazine structure-containing phenol novolak resin (triazine: phenol = 1: 9, phenolite LA-7052 manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.) to 20 parts by weight of ethyl diglycol acetate and 20 parts by weight of solvent naphtha Heat and dissolve while stirring, and add phenoxy resin (YPB-40-PX manufactured by Toto Kasei Co., Ltd.)
M40) 5 parts by weight, a terminal epoxidized polybutadiene rubber 15 parts by weight, 2-phenyl-4,5-bis (hydroxymethyl) imidazole pulverized product 1.5 parts by weight, and a silicon-based antifoaming agent 0.5 parts by weight. A resin composition was prepared. After applying the obtained resin composition on a 38 μm-thick PET film using a roll coater so that the thickness after drying becomes 50 μm, the resin film is dried at 80 to 120 ° C. for 10 minutes to obtain a resin film. Produced.

【0122】(実施例3)実施例1の樹脂フィルムの作
製において、末端エポキシ化ポリブタジエンゴム15重
量部に代えて、微粉砕シリカ(粒子径0.5μm)15
重量部を用いて樹脂フィルムを作製した以外は、実施例
1と同様にして多層プリント配線板を製造した。
Example 3 In the preparation of the resin film of Example 1, 15 parts by weight of epoxidized polybutadiene rubber was replaced with 15 parts by weight of finely divided silica (particle size: 0.5 μm).
A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 1 except that a resin film was manufactured using parts by weight.

【0123】(実施例4)実施例2の樹脂フィルムの作
製において、末端エポキシ化ポリブタジエンゴム15重
量部に代えて、微粉砕シリカ(粒子径0.5μm)10
重量部を用いて樹脂フィルムを作製した以外は、実施例
1と同様にして多層プリント配線板を製造した。
Example 4 In the preparation of the resin film of Example 2, finely ground silica (particle size: 0.5 μm) was replaced with 15 parts by weight of an epoxidized polybutadiene rubber.
A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 1 except that a resin film was manufactured using parts by weight.

【0124】(実施例5)実施例1の樹脂フィルムの作
製において、末端エポキシ化ポリブタジエンゴム15重
量部に代えて、ケイ素(粒子径1μm)10重量部を用
いて樹脂フィルムを作製した以外は、実施例1と同様に
して多層プリント配線板を製造した。
Example 5 A resin film was prepared in the same manner as in Example 1, except that 10 parts by weight of silicon (particle diameter: 1 μm) was used instead of 15 parts by weight of the epoxidized polybutadiene rubber. A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 1.

【0125】(実施例6)実施例1の樹脂フィルムの作
製において、末端エポキシ化ポリブタジエンゴム15重
量部に代えて、ケイ素(粒子径0.3μm)10重量部
を用いて樹脂フィルムを作製した以外は、実施例2と同
様にして多層プリント配線板を製造した。
Example 6 A resin film was prepared in the same manner as in Example 1, except that 10 parts by weight of silicon (particle diameter: 0.3 μm) was used instead of 15 parts by weight of the epoxidized polybutadiene rubber. Manufactured a multilayer printed wiring board in the same manner as in Example 2.

【0126】(実施例7)実施例1の樹脂フィルムの作
製において、末端エポキシ化ポリブタジエンゴム4重量
部と微粉砕シリカ(粒子径0.01μm)2重量部とを
加えて樹脂フィルムを作製した以外は、実施例1と同様
にして多層プリント配線板を製造した。
Example 7 A resin film was prepared in the same manner as in Example 1, except that 4 parts by weight of an epoxidized polybutadiene rubber and 2 parts by weight of finely ground silica (particle diameter 0.01 μm) were added. Manufactured a multilayer printed wiring board in the same manner as in Example 1.

【0127】(実施例8)実施例1の樹脂フィルムの作
製において、末端エポキシ化ポリブタジエンゴム3重量
部と微粉砕シリカ(粒子径0.5μm)5重量部とを加
えて樹脂フィルムを作製した以外は、実施例2と同様に
して多層プリント配線板を製造した。
Example 8 A resin film was prepared in the same manner as in Example 1, except that 3 parts by weight of an epoxidized polybutadiene rubber and 5 parts by weight of finely ground silica (particle size: 0.5 μm) were added. Manufactured a multilayer printed wiring board in the same manner as in Example 2.

【0128】(実施例9)実施例1の樹脂フィルムの作
製において、末端エポキシ化ポリブタジエンゴム2重量
部とケイ素(粒子径0.3μm)10重量部とを加えて
樹脂フィルムを作製した以外は、実施例1と同様にして
多層プリント配線板を製造した。
Example 9 A resin film was prepared in the same manner as in Example 1, except that 2 parts by weight of a terminally epoxidized polybutadiene rubber and 10 parts by weight of silicon (particle diameter: 0.3 μm) were added. A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 1.

【0129】(実施例10)実施例1の樹脂フィルムの
作製において、末端エポキシ化ポリブタジエンゴム5重
量部とケイ素(粒子径1μm)3重量部とを加えて樹脂
フィルムを作製した以外は、実施例2と同様にして多層
プリント配線板を製造した。
Example 10 The procedure of Example 1 was repeated except that the resin film was prepared by adding 5 parts by weight of an epoxidized polybutadiene rubber and 3 parts by weight of silicon (particle diameter: 1 μm). In the same manner as in Example 2, a multilayer printed wiring board was manufactured.

【0130】実施例1〜10で得られた多層プリント配
線板について、130℃で3分、−65℃で3分を1サ
イクルとする信頼性試験を1000サイクル行い、信頼
性試験前後の(1)ピール強度、(2)層間樹脂絶縁層
でのクラックの発生の有無、(3)層間樹脂絶縁層と導
体回路との間での剥離の発生の有無、(4)層間樹脂絶
縁層の平坦性、(5)バイアホール用開口の形状を評価
した。結果を表1に示した。なお、上記(2)〜(5)
の評価は、多層プリント配線板を刃物で切断し、その断
面を顕微鏡で観察することにより行った。また、(4)
および(5)の評価は、信頼性試験前にのみ行った。な
お、(4)層間樹脂絶縁層の平坦性、および、(5)バ
イアホール用開口の形状の評価は以下の評価基準で行っ
た。
The multilayer printed wiring boards obtained in Examples 1 to 10 were subjected to 1000 cycles of a reliability test at 130 ° C. for 3 minutes and at −65 ° C. for 3 minutes as one cycle. ) Peel strength, (2) presence or absence of cracks in interlayer resin insulation layer, (3) presence or absence of peeling between interlayer resin insulation layer and conductive circuit, (4) flatness of interlayer resin insulation layer (5) The shape of the via hole opening was evaluated. The results are shown in Table 1. Note that the above (2) to (5)
Was evaluated by cutting the multilayer printed wiring board with a blade and observing the cross section with a microscope. Also, (4)
Evaluations of (5) and (5) were performed only before the reliability test. The evaluation of (4) the flatness of the interlayer resin insulation layer and (5) the shape of the opening for the via hole was performed according to the following evaluation criteria.

【0131】評価基準 (4)層間樹脂絶縁層の平坦性 層間樹脂絶縁層の上面において、下層導体回路表面の凹
凸に起因した凹凸が観察されず、かつ、下層導体回路形
成部と下層導体回路非形成部の高低差に起因した凹凸
(うねり)が観察されないものを良好、それ以外を不良
と評価した。 (5)バイアホール用開口の形状 その断面の形状が、逆台形状または矩形状のものを良好
とし、その他の形状、例えば、左右の壁面が非対称の歪
んだ形状のものを不良とした。
[0131]Evaluation criteria  (4) Flatness of interlayer resin insulating layer On the upper surface of the interlayer resin insulating layer, a concave portion on the surface of the lower conductive circuit is formed.
No unevenness due to the protrusion is observed, and the lower conductor circuit type
Unevenness due to the difference in height between the component part and the part where the lower conductor circuit is not formed
Good if no swell is observed, otherwise bad
Was evaluated. (5) Shape of the opening for the via hole The shape of the cross section is preferably an inverted trapezoidal shape or a rectangular shape.
And other shapes, for example, asymmetrical distortion on the left and right walls
The one with a round shape was regarded as defective.

【0132】[0132]

【表1】 [Table 1]

【0133】表1に記載したように、実施例1〜10で
製造した多層プリント配線板は、信頼性試験後であって
もピール強度が1.0kg/cm以上で、導体回路と層
間樹脂絶縁層との密着性は充分であった。また、信頼性
試験前後において、層間樹脂絶縁層にクラックが発生し
ているものはなく、また、層間樹脂絶縁層と導体回路と
の間で剥離が発生しているものも無かった。これらの多
層プリント配線板では、層間樹脂絶縁層の平坦性、およ
び、バイアホール用開口の形状についても良好であっ
た。
As shown in Table 1, the multilayer printed wiring boards manufactured in Examples 1 to 10 had a peel strength of 1.0 kg / cm or more even after the reliability test, and had a conductor circuit and interlayer resin insulation. Adhesion with the layer was sufficient. Before and after the reliability test, no cracks occurred in the interlayer resin insulating layer, and no peeling occurred between the interlayer resin insulating layer and the conductor circuit. In these multilayer printed wiring boards, the flatness of the interlayer resin insulating layer and the shape of the via hole opening were also good.

【0134】[0134]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の樹脂フィ
ルムは、酸または酸化剤に難溶性の樹脂中に、酸または
酸化剤に可溶性の粒子が分散しており、該難溶性の樹脂
として、2種の熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂とからなる
樹脂複合体が用いられているため、該樹脂フィルムを張
り付ける際には、導体回路表面を含む該導体回路の形成
された基板表面の形状への追従性、および、形状保持性
に優れる。また、上記樹脂フィルムは、硬化させること
により異なる特性を同時に確保した層間樹脂絶縁層を形
成することができる。また、本発明の樹脂フィルムで
は、難溶性樹脂中に可溶性粒子が分散しているため、層
間樹脂絶縁層の表面に所望の凹凸を有する粗化面を形成
することができる。従って、本発明の樹脂フィルムによ
れば、ヒートサイクル条件下においても、クラックが発
生したり、導体回路との間で剥離が発生したりしにく
く、貫通孔や非貫通孔を形成した際にも形状保持性に優
れる層間樹脂絶縁層を形成することができる。
As described above, in the resin film of the present invention, particles which are soluble in an acid or an oxidizing agent are dispersed in a resin which is hardly soluble in an acid or an oxidizing agent. Since a resin composite composed of two kinds of thermosetting resin and thermoplastic resin is used, when attaching the resin film, the surface of the substrate on which the conductor circuit is formed, including the conductor circuit surface, Excellent in conformity to shape and shape retention. In addition, the resin film can form an interlayer resin insulating layer that simultaneously secures different characteristics by curing. Further, in the resin film of the present invention, since the soluble particles are dispersed in the poorly soluble resin, a roughened surface having desired irregularities can be formed on the surface of the interlayer resin insulating layer. Therefore, according to the resin film of the present invention, even under heat cycle conditions, cracks are generated, peeling between the conductive circuit and the conductor circuit is less likely to occur, even when forming a through hole or a non-through hole. An interlayer resin insulation layer having excellent shape retention can be formed.

【0135】また、本発明の多層プリント配線板の製造
方法によれば、本発明の樹脂フィルムが用いられている
ため、層間樹脂絶縁層を形成した後、その表面に所望の
凹凸を有する粗化面を形成することができ、ヒートサイ
クル条件下においても、クラックが発生したり、導体回
路との間で剥離が発生したりしにくく、貫通孔や非貫通
孔を形成した際にも形状保持性に優れる層間樹脂絶縁層
を形成することができる。また、本発明の製造方法で
は、複数の異なる特性を獲得した層間樹脂絶縁層を形成
することができる。
Further, according to the method for manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention, since the resin film of the present invention is used, after forming an interlayer resin insulating layer, a roughened surface having desired irregularities on its surface is formed. The surface can be formed, it is hard to crack under heat cycle conditions, and it does not peel off with the conductor circuit, and it retains shape even when forming through holes and non-through holes It is possible to form an interlayer resin insulating layer having excellent characteristics. Further, according to the manufacturing method of the present invention, it is possible to form an interlayer resin insulating layer having a plurality of different characteristics.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 1A to 1D are cross-sectional views showing a part of a manufacturing process of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図2】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 2A to 2D are cross-sectional views showing a part of a manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【図3】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 3A to 3D are cross-sectional views illustrating a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図4】(a)〜(c)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 4A to 4C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【図5】(a)〜(c)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 5A to 5C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 層間樹脂絶縁層 3 めっきレジスト 4 下層導体回路 4a 粗化面 5 導体回路 6 バイアホール用開口 7 バイアホール 8 銅箔 9 スルーホール 9a 粗化面 10 樹脂充填材 12a 無電解銅めっき層 12b 無電解銅めっき層 13 電解銅めっき膜 14 ソルダーレジスト層 15 ニッケルめっき膜 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Interlayer resin insulation layer 3 Plating resist 4 Lower conductor circuit 4a Roughened surface 5 Conductor circuit 6 Via hole opening 7 Via hole 8 Copper foil 9 Through hole 9a Roughened surface 10 Resin filler 12a Electroless copper plating layer 12b Electroless copper plating layer 13 Electrolytic copper plating film 14 Solder resist layer 15 Nickel plating film

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上に導体回路と層間樹脂絶縁層とが
順次積層形成された多層プリント配線板の製造に用いら
れる樹脂フィルムであって、前記樹脂フィルムは、酸ま
たは酸化剤に難溶性の樹脂中に、酸または酸化剤に可溶
性の粒子が分散しており、前記難溶性の樹脂は、2種の
熱硬化性樹脂と少なくとも1種の熱可塑性樹脂とからな
る樹脂複合体であることを特徴とする樹脂フィルム。
1. A resin film used for manufacturing a multilayer printed wiring board in which a conductive circuit and an interlayer resin insulating layer are sequentially laminated on a substrate, wherein the resin film has low solubility in an acid or an oxidizing agent. Particles soluble in an acid or an oxidizing agent are dispersed in the resin, and the hardly-soluble resin is a resin composite composed of two thermosetting resins and at least one thermoplastic resin. Characteristic resin film.
【請求項2】 前記熱硬化性樹脂のうちの1種は、エポ
キシ樹脂である請求項1に記載の樹脂フィルム。
2. The resin film according to claim 1, wherein one of the thermosetting resins is an epoxy resin.
【請求項3】 前記2種の熱硬化性樹脂は、エポキシ樹
脂とフェノール樹脂、または、エポキシ樹脂とポリイミ
ド樹脂である請求項1に記載の樹脂フィルム。
3. The resin film according to claim 1, wherein the two thermosetting resins are an epoxy resin and a phenol resin, or an epoxy resin and a polyimide resin.
【請求項4】 前記熱可塑性樹脂は、フェノキシ樹脂、
ポリエーテルスルホンおよびポリスルホンからなる群よ
り選択される少なくとも1種である請求項1、2または
3に記載の樹脂フィルム。
4. The thermoplastic resin is a phenoxy resin,
4. The resin film according to claim 1, wherein the resin film is at least one selected from the group consisting of polyether sulfone and polysulfone.
【請求項5】 前記可溶性の粒子は、樹脂粒子、無機粒
子および金属粒子からなる群より選択される少なくとも
1種である請求項1〜4のいずれかに記載の樹脂フィル
ム。
5. The resin film according to claim 1, wherein the soluble particles are at least one selected from the group consisting of resin particles, inorganic particles, and metal particles.
【請求項6】 基板上に導体回路と層間樹脂絶縁層とを
順次積層形成する多層プリント配線板の製造方法であっ
て、前記層間樹脂絶縁層を形成する際に、請求項1〜5
のいずれかに記載の樹脂フィルムを用い、前記樹脂フィ
ルムを減圧下または真空下において、0.2〜1MPa
の圧力で圧着した後、非貫通孔および/または貫通孔を
形成することを特徴とする多層プリント配線板の製造方
法。
6. A method for manufacturing a multilayer printed wiring board, wherein a conductive circuit and an interlayer resin insulation layer are sequentially laminated on a substrate, wherein the interlayer resin insulation layer is formed.
The resin film according to any one of the above, under a reduced pressure or vacuum, 0.2 to 1 MPa
Forming a non-through hole and / or a through hole after pressure bonding at a pressure of:
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