JP2000286557A - Multilayer printed wiring board and manufacture thereof - Google Patents

Multilayer printed wiring board and manufacture thereof

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JP2000286557A
JP2000286557A JP9196599A JP9196599A JP2000286557A JP 2000286557 A JP2000286557 A JP 2000286557A JP 9196599 A JP9196599 A JP 9196599A JP 9196599 A JP9196599 A JP 9196599A JP 2000286557 A JP2000286557 A JP 2000286557A
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JP
Japan
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wiring board
layer
printed wiring
conductor circuit
plating
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JP9196599A
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Japanese (ja)
Inventor
Naohiro Hirose
直宏 広瀬
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Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Publication date
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multilayer printed wiring board whose connection reliability of a via hole can be improved and to provide a manufacturing method of the multilayer printed wiring board. SOLUTION: Voids 35a are installed on the roughened face 35 of a conductor circuit 29. In the voids 35a, affinity with plating liquid is superior and plating infiltrates into the voids 35a and is beset in an anchor part in a plating process. Thus, the roughened face 35 of the conductor circuit 29 is adhered still more closely with the via holes 130. Namely, plating is inserted into the conductor of the via holes 130 in the voids 35a of the conductor circuit 29 at forming of the via hole 130 on the lower conductor circuit 29, so that adhesion can be enhanced.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、層間樹脂絶縁層と
導体回路とを交互に積層してなる多層プリント配線板及
び該多層プリント配線板の製造方法に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer printed wiring board in which interlayer resin insulating layers and conductive circuits are alternately laminated, and a method of manufacturing the multilayer printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、多層配線基板の高密度化という要
請から、いわゆるビルドアップ多層配線基板が注目され
ている。このビルドアップ多層配線基板は、例えば、特
公平4-55555 号公報に開示されているような方法で製造
される。即ち、感光性の無電解めっき用接着剤からなる
絶縁材を、導体回路を有するコア基板上に塗布し、乾燥
した後、露光現像することにより、バイアホール用開口
を有する層間絶縁材層を形成する。次いで、この層間絶
縁材層の表面を酸化剤等による処理にて粗化した後、そ
の粗化面にめっきレジストを設け、レジスト非形成部分
に無電解めっきを施して、バイアホールを含む2層の導
体回路パターンを形成する。かかる工程を複数回繰り返
すことで、多層化したビルドアップ配線基板が得られ
る。
2. Description of the Related Art In recent years, so-called build-up multilayer wiring boards have been receiving attention due to a demand for higher density of the multilayer wiring boards. This build-up multilayer wiring board is manufactured, for example, by a method disclosed in Japanese Patent Publication No. 4-55555. That is, an insulating material made of a photosensitive adhesive for electroless plating is applied on a core substrate having a conductor circuit, dried, and exposed and developed to form an interlayer insulating material layer having a via hole opening. I do. Next, after roughening the surface of the interlayer insulating material layer by treatment with an oxidizing agent or the like, a plating resist is provided on the roughened surface, and electroless plating is performed on a portion where no resist is formed, thereby forming two layers including via holes. Is formed. By repeating such a process a plurality of times, a multilayered build-up wiring board can be obtained.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】多層プリント配線板に
おいては、銅等の金属からなる導体回路と樹脂からなる
層間樹脂絶縁層との密着性が低いため、導体回路を粗化
するか、或いは、粗化層を設けることで、層間樹脂絶縁
層と導体回路との密着性を改善している。しかしなが
ら、高温と低温とを繰り返すヒートサイクルにおいて、
バイアホールの剥離が発生していた。
In a multilayer printed wiring board, since the adhesion between a conductor circuit made of a metal such as copper and an interlayer resin insulation layer made of a resin is low, the conductor circuit is roughened or By providing the roughened layer, the adhesion between the interlayer resin insulating layer and the conductor circuit is improved. However, in a heat cycle that repeats high and low temperatures,
Peeling of the via holes occurred.

【0004】本発明は、上述した課題を解決するために
なされたものであり、その目的は、バイアホールの接続
信頼性を改善できる多層プリント配線板及び該多層プリ
ント配線板の製造方法を提案することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to propose a multilayer printed wiring board capable of improving connection reliability of a via hole and a method of manufacturing the multilayer printed wiring board. It is in.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ため本発明は、層間樹脂絶縁層と導体回路とを交互に積
層してなる多層プリント配線板において、導体回路表面
にボイドを形成したことを技術的特徴とする。
According to the present invention, there is provided a multilayer printed wiring board in which interlayer resin insulating layers and conductive circuits are alternately laminated, wherein voids are formed on the surface of the conductive circuits. Is a technical feature.

【0006】また、本発明は、層間樹脂絶縁層と導体回
路を交互に積層してなる多層プリント配線板の製造方法
において、導体回路を形成した後、層間樹脂絶縁層を形
成し、さらに前記層間樹脂絶縁層にバイアホール形成用
開口を設けた後、前記層間樹脂絶縁層表面を粗化すると
ともに、前記導体回路表面にボイドを形成することを特
徴とする。
Further, the present invention provides a method for manufacturing a multilayer printed wiring board comprising alternately laminating interlayer resin insulating layers and conductive circuits, wherein a conductive circuit is formed, and then an interlayer resin insulating layer is formed. After forming an opening for forming a via hole in the resin insulating layer, the surface of the interlayer resin insulating layer is roughened, and a void is formed on the surface of the conductive circuit.

【0007】本発明の多層プリント配線板においては、
導体回路表面にボイドを形成してあるため、該ボイドに
バイアホールが接続することにより、バイアホールの接
続信頼性が向上する。
In the multilayer printed wiring board of the present invention,
Since the void is formed on the surface of the conductor circuit, the connection reliability of the via hole is improved by connecting the via hole to the void.

【0008】また、請求項2の多層プリント配線板の製
造方法によれば、前記ボイドは、平均直径が、1μm〜
20μm程度が望ましい。大きすぎると断線し、小さす
ぎると接続信頼性を充分確保できないからである。
According to a second aspect of the present invention, the void has an average diameter of 1 μm or less.
About 20 μm is desirable. If it is too large, the connection will be broken, and if it is too small, the connection reliability cannot be sufficiently ensured.

【0009】また、請求項2の多層プリント配線板の製
造方法によれば、層間樹脂絶縁層を粗化する際に、その
粗化液によって導体回路表面にボイドを形成できるため
工程を簡略化できる。前記導体回路の表面には、導体回
路を構成する金属とは異なる金属からなる異種金属層を
設けることが望ましい。導体回路と前記異種金属層とが
電池反応を起こし、導体回路が溶解して容易にボイドを
形成できるからである。導体回路が銅である場合には、
このような異種金属層としては、Cu−Ni−P、Cu
−Co−Pからなる粗化めっき層、Ti、Al、Fe、
Zn、Cr、Ni、Co、Sn、貴金属(Ag、Au、
Pt、Pd)がよい。
According to the method for manufacturing a multilayer printed wiring board of the second aspect, when the interlayer resin insulating layer is roughened, voids can be formed on the surface of the conductor circuit by the roughening solution, so that the process can be simplified. . It is desirable to provide a dissimilar metal layer made of a metal different from the metal constituting the conductor circuit on the surface of the conductor circuit. This is because a battery reaction occurs between the conductor circuit and the dissimilar metal layer, and the conductor circuit dissolves to easily form a void. If the conductor circuit is copper,
Such a dissimilar metal layer includes Cu-Ni-P, Cu
A roughened plating layer made of -Co-P, Ti, Al, Fe,
Zn, Cr, Ni, Co, Sn, precious metals (Ag, Au,
Pt, Pd) are preferable.

【0010】このような異種金属層の厚みは、0.01
〜20μmで調整される。使用される粗化液としては、
酸、酸化剤、アルカリである。酸としては、ギ酸、酢酸
などの有機酸、塩酸、硫酸、ふっ酸、リン酸などの無機
酸を使用できる。また、酸化剤としては、クロム酸、ア
ルカリ性過マンガン酸塩などの水溶液である。アルカリ
としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウムなどの水
溶液が好適である。
The thickness of such a dissimilar metal layer is 0.01
Adjusted at 20 μm. As the roughening solution used,
Acids, oxidants and alkalis. Organic acids such as formic acid and acetic acid, and inorganic acids such as hydrochloric acid, sulfuric acid, hydrofluoric acid and phosphoric acid can be used as the acid. The oxidizing agent is an aqueous solution of chromic acid, alkaline permanganate, or the like. As the alkali, an aqueous solution of sodium hydroxide, potassium hydroxide or the like is suitable.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態では、ボイド
を局部電池反応によって形成する。導体回路の表面に異
種金属層を設ける。具体的には、Pdが最適である。P
dの形成方法としては、スパッタリングの他、Pd−S
nコロイドからなる触媒を付与し、酸などの活性化剤で
Pdイオンを還元して金属パラジウムとする方法がコス
トの観点から最適である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In an embodiment of the present invention, voids are formed by a local battery reaction. A dissimilar metal layer is provided on the surface of the conductor circuit. Specifically, Pd is optimal. P
As a method for forming d, in addition to sputtering, Pd-S
A method in which a catalyst composed of n colloid is provided, and Pd ions are reduced with an activator such as an acid to obtain metal palladium is optimal from the viewpoint of cost.

【0012】PdとCuが電池となり、クロム酸などで
層間樹脂絶縁層を粗化する際にクロム酸の水溶液が電解
液となって、Cu部分が溶解しボイドが形成されるので
ある。導体回路表面は予め粗化しておくことが望まし
い。
When Pd and Cu form a battery, an aqueous solution of chromic acid becomes an electrolytic solution when the interlayer resin insulating layer is roughened with chromic acid or the like, and the Cu portion is dissolved to form voids. It is desirable that the surface of the conductor circuit be roughened in advance.

【0013】具体的には、第二銅錯体と有機酸とを含有
するエッチング液を、スプレーやバブリング等の酸素共
存条件で、次のように作用させて、導体回路の銅導体を
溶解させボイドを形成する。
More specifically, an etching solution containing a cupric complex and an organic acid is allowed to act as follows under conditions of coexistence of oxygen, such as spraying and bubbling, to dissolve the copper conductor of the conductor circuit and form a void. To form

【0014】[0014]

【化1】 Cu+Cu(II)An → 2Cu(I)An/2 ↓ エアレーション 2Cu(I)An/2 +n/4O2 +nAH → 2Cu(II)An +n/2H2 O 〔式中、Aは錯化剤(キレート剤として作用)、nは配
位数を示す。〕
Embedded image Cu + Cu (II) A n → 2Cu (I) A n / 2 ↓ Aeration 2Cu (I) A n / 2 + N / 4O 2 + NAH → 2Cu (II) A n + N / 2H 2 O [In the formula, A represents a complexing agent (acting as a chelating agent), and n represents a coordination number. ]

【0015】本願発明に用いる第二銅錯体は、アゾール
類の第二銅錯体がよい。このアゾール類の第二銅錯体
は、金属銅等を酸化する酸化剤として作用する。アゾー
ル類としては、ジアゾール、トリアゾール、テトラゾー
ルがよい。中でも、イミダゾール、2−メチルイミダゾ
ール、2−エチレイミダゾール、2−エチル−4−メチ
ルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−ウン
デシルイミダゾール等がよい。アゾール類の第二銅錯体
の添加量は、1〜15重量%がよい。溶解性及び安定性に
優れ、また、触媒核を構成するPdなどの貴金属をも溶
解させることができるからである。
The cupric complex used in the present invention is preferably an azole cupric complex. This cupric complex of azoles acts as an oxidizing agent for oxidizing metallic copper and the like. As the azoles, diazole, triazole and tetrazole are preferable. Among them, imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-undecylimidazole and the like are preferable. The addition amount of the cupric complex of azoles is preferably 1 to 15% by weight. This is because it is excellent in solubility and stability, and can also dissolve noble metals such as Pd constituting the catalyst core.

【0016】また、酸化銅を溶解させるために、有機酸
をアゾール類の第二銅錯体に配合する。具体例として
は、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、カプロ
ン酸、アクリル酸、クロトン酸、シュウ酸、マロン酸、
コハク酸、グルタル酸、マレイン酸、安息香酸、グリコ
ール酸、乳酸、リンゴ酸、スルファミン酸からなる群よ
り選ばれる少なくとも1種がよい。有機酸の含有量は、
0.1 〜30重量%がよい。酸化された銅の溶解性を維持
し、かつ溶解安定性を確保するためである。
In order to dissolve copper oxide, an organic acid is added to a cupric complex of an azole. Specific examples include formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, caproic acid, acrylic acid, crotonic acid, oxalic acid, malonic acid,
At least one selected from the group consisting of succinic acid, glutaric acid, maleic acid, benzoic acid, glycolic acid, lactic acid, malic acid, and sulfamic acid is preferred. The content of organic acids is
0.1 to 30% by weight is preferred. This is for maintaining the solubility of the oxidized copper and ensuring the solubility stability.

【0017】発生した第一銅錯体は、酸の作用で溶解
し、酸素と結合して第二銅錯体となって、再び銅の酸化
に寄与する。
The generated cuprous complex dissolves under the action of an acid and combines with oxygen to form a cupric complex, which again contributes to the oxidation of copper.

【0018】また、銅の溶解やアゾール類の酸化作用を
補助するために、ハロゲンイオン、例えば、フッ素イオ
ン、塩素イオン、臭素イオン等をエッチング液に加えて
もよい。本発明では、塩酸、塩化ナトリウム等を添加し
て、ハロゲンイオンを供給することができる。ハロゲン
イオン量は、0.01〜20重量%がよい。形成された粗化面
と層間樹脂絶縁層との密着性に優れるからである。
Further, in order to assist the dissolution of copper and the oxidizing action of azoles, halogen ions, for example, fluorine ions, chlorine ions, bromine ions and the like may be added to the etching solution. In the present invention, halogen ions can be supplied by adding hydrochloric acid, sodium chloride, or the like. The amount of halogen ions is preferably 0.01 to 20% by weight. This is because adhesion between the formed roughened surface and the interlayer resin insulating layer is excellent.

【0019】アゾール類の第二銅錯体と有機酸(必要に
応じてハロゲンイオン)を、水に溶解してエッチング液
を調整する。また、市販のエッチング液、例えば、メッ
ク社製、商品名「メック エッチボンド」を使用し、本
発明にかかる粗化面を形成することができる。
An etching solution is prepared by dissolving a cuprous complex of an azole and an organic acid (halogen ion if necessary) in water. The roughened surface according to the present invention can be formed by using a commercially available etching solution, for example, “Mech Etch Bond” manufactured by Mec Corporation.

【0020】本発明では、エッチング量は1〜10μmが
よい。この範囲を超えたエッチング処理は、形成された
粗化面とバイアホール導体との接続不良を起こすからで
ある。
In the present invention, the etching amount is preferably 1 to 10 μm. This is because an etching treatment exceeding this range causes a connection failure between the formed roughened surface and the via-hole conductor.

【0021】本発明で使用される層間樹脂絶縁層は、無
電解めっき用接着剤を用いて形成することができる。無
電解めっき用接着剤は、熱硬化性樹脂を基剤とし、特に
硬化処理された耐熱性樹脂粒子、酸や酸化剤に溶解する
耐熱性樹脂粒子、無機粒子や繊維質フィラー等を、必要
により含ませることができる。
The interlayer resin insulating layer used in the present invention can be formed using an electroless plating adhesive. Adhesive for electroless plating is based on thermosetting resin, especially heat-treated resin particles cured, heat-resistant resin particles dissolved in acid or oxidizing agent, inorganic particles or fibrous filler, etc., if necessary. Can be included.

【0022】熱硬化性樹脂基剤としては、エポキシ樹
脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂等を用いることが
できる。なお、熱硬化基の一部を感光化する場合は、熱
硬化基の一部をメタクリル酸やアクリル酸等と反応させ
てアクリル化させる。中でも、エポキシ樹脂のアクリレ
ートが最適である。このエポキシ樹脂としては、ノボラ
ック型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂等を用いるこ
とができる。また、添加する熱可塑性樹脂としては、ポ
リエーテルスルフォンやポリスルフォン、ポリフェニレ
ンスルフォン、ポリフェニレンサルファイド、ポリフェ
ニルエーテル、ポリエーテルイミド等を用いることがで
きる。
As the thermosetting resin base, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin and the like can be used. When a part of the thermosetting group is sensitized, a part of the thermosetting group is reacted with methacrylic acid, acrylic acid, or the like to be acrylated. Among them, acrylates of epoxy resins are most suitable. As the epoxy resin, a novolak type epoxy resin, an alicyclic epoxy resin, or the like can be used. As the thermoplastic resin to be added, polyether sulfone, polysulfone, polyphenylene sulfone, polyphenylene sulfide, polyphenyl ether, polyether imide, or the like can be used.

【0023】耐熱性樹脂粒子としては、(1) 平均粒径が
10μm以下の耐熱性樹脂粉末、(2)平均粒径が2μm以
下の耐熱性樹脂粉末を凝集させた凝集粒子、(3) 平均粒
径が2〜10μmの耐熱性粉末樹脂粉末と平均粒径が2μ
m以下の耐熱性樹脂粉末との混合物、(4) 平均粒径が2
〜10μmの耐熱性樹脂粉末の表面に、平均粒径が2μm
以下の耐熱性樹脂粉末及び無機粉末のいずれか一方又は
双方を付着させた疑似粒子、(5) 平均粒子径が0.8 〜2.
0 μmの耐熱性樹脂粉末、平均粒子径が0.1 〜0.8 μm
の耐熱性樹脂粉末、及びそれらの混合物から選ばれる少
なくとも1種の粒子を用いるのが望ましい。これらの粒
子は、より複雑なアンカーを形成できるからである。こ
れらの粒子により得られる粗化面は、最大粗度(Rma
x)が、0.1〜20μmである。
As the heat-resistant resin particles, (1) the average particle size is
Heat-resistant resin powder of 10 μm or less, (2) agglomerated particles obtained by aggregating heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 μm or less, (3) heat-resistant powder resin powder having an average particle size of 2 to 10 μm and an average particle size of 2μ
m and a mixture with a heat-resistant resin powder having a mean particle size of 2 or less.
The average particle size is 2 μm on the surface of the heat-resistant resin powder of ~ 10 μm.
Pseudo particles to which one or both of the following heat-resistant resin powder and inorganic powder are adhered, (5) the average particle diameter is 0.8 to 2.
0 μm heat-resistant resin powder, average particle size 0.1-0.8 μm
It is desirable to use at least one kind of particles selected from heat-resistant resin powders and mixtures thereof. This is because these particles can form a more complex anchor. The roughened surface obtained by these particles has a maximum roughness (Rma).
x) is from 0.1 to 20 μm.

【0024】酸や酸化剤に溶解する耐熱性樹脂粒子とし
ては、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グアナミ
ン樹脂等)、エポキシ樹脂(ビスフェノール型エポキシ
樹脂をアミン系硬化剤で硬化させたものが最適)、ビス
マレイミド−トリアジン樹脂等を用いることができる。
As the heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent, amino resin (melamine resin, urea resin, guanamine resin, etc.) and epoxy resin (bisphenol epoxy resin cured with an amine-based curing agent) are most suitable. ), Bismaleimide-triazine resin and the like can be used.

【0025】かかる層間樹脂絶縁層は、複数層にしても
よい。例えば、下層を無機粒子や繊維質フィラーと樹脂
基剤とからなる補強層とし、上層を無電解めっき用接着
剤層とする。
The interlayer resin insulating layer may have a plurality of layers. For example, the lower layer is a reinforcing layer composed of inorganic particles or fibrous filler and a resin base, and the upper layer is an adhesive layer for electroless plating.

【0026】また、下層を、酸や酸化剤に溶解する平均
粒径0.1 〜2.0 μmの耐熱性樹脂粒子が酸や酸化剤に難
溶性の耐熱性樹脂中に分散したものとし、上層を無電解
めっき用接着剤層としてもよい。
The lower layer is formed by dispersing heat-resistant resin particles having an average particle size of 0.1 to 2.0 μm soluble in an acid or an oxidizing agent in a heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidizing agent. It may be an adhesive layer for plating.

【0027】無機粒子としては、シリカ、アルミナ、タ
ルク等を使用できる。繊維質フィラーとしては、炭酸カ
ルシウムのウイスカー、ホウ酸アルミニウムのウイスカ
ー、アラミド繊維、炭素繊維等の少なくとも1種を使用
できる。
As the inorganic particles, silica, alumina, talc and the like can be used. As the fibrous filler, at least one of calcium carbonate whisker, aluminum borate whisker, aramid fiber, carbon fiber and the like can be used.

【0028】次に、本発明のプリント配線板を製造する
一方法について説明する。以下の方法は、セミアディテ
ィブ法によるものであるが、フルアディティブ法を採用
してもよい。
Next, one method of manufacturing the printed wiring board of the present invention will be described. The following method is based on the semi-additive method, but may use the full-additive method.

【0029】(1) まず、基板の表面に導体回路を形成し
た配線基板を作製する。基板としては、ガラスエポキシ
基板、ポリイミド基板、ビスマレイミド−トリアジン樹
脂基板等の樹脂絶縁基板、セラミック基板、金属基板等
を用いることができる。
(1) First, a wiring board having a conductive circuit formed on the surface of the board is manufactured. As the substrate, a resin insulating substrate such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a bismaleimide-triazine resin substrate, a ceramic substrate, a metal substrate, or the like can be used.

【0030】基板上への導体回路の形成は、銅張積層板
を無電解めっき又は電解めっきした後にエッチングする
方法や、ガラスエポキシ基板、ポリイミド基板、セラミ
ック基板、金属基板等の基板に無電解めっき用接着剤層
を形成し、この接着剤層表面を粗化して粗化面とし、こ
の粗化面に無電解めっきする方法、又はいわゆるセミア
ディティブ法(その粗化面全体に薄付けの無電解めっき
を施し、めっきレジストを形成し、めっきレジスト非形
成部分に厚付けの電解めっきを施した後、めっきレジス
ト除去し、エッチング処理して、電解めっき膜と無電解
めっき膜とからなる導体回路を形成する方法)により行
う。導体回路は、いずれも銅パターンがよい。
The conductor circuit is formed on the substrate by a method of etching the copper-clad laminate after electroless plating or electrolytic plating, or a method of electroless plating on a substrate such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a ceramic substrate, or a metal substrate. A method of forming an adhesive layer for use, roughening the surface of the adhesive layer to a roughened surface, and electroless plating the roughened surface, or a so-called semi-additive method (electroless plating of the entire roughened surface). After plating, forming a plating resist, applying a thick electrolytic plating to a portion where no plating resist is formed, removing the plating resist, etching, and forming a conductor circuit including an electrolytic plating film and an electroless plating film. Method of forming). The conductor circuit preferably has a copper pattern.

【0031】次いで、導体回路に粗化層を形成する。こ
の粗化層は、前述したアゾール類の第二銅錯体と有機酸
の水溶液からなるエッチング液をスプレイするか、エッ
チング液に浸漬し、バブリングする方法により行われ
る。なお、導体回路は、無電解めっき膜又は電解めっき
膜が望ましい。圧延銅箔をエッチングした導体回路で
は、粗化面が形成されにくいからである。
Next, a roughened layer is formed on the conductor circuit. The roughened layer is formed by spraying or dipping the etching solution comprising the aqueous solution of the cupric complex of an azole and an organic acid as described above, and bubbling. Note that the conductor circuit is preferably an electroless plating film or an electrolytic plating film. This is because a roughened surface is not easily formed in a conductor circuit obtained by etching a rolled copper foil.

【0032】また、この粗化層は、イオン化傾向が銅よ
り大きくかつチタン以下である金属又は貴金属の層で被
覆されていてもよい。これらの金属又は貴金属の層は、
粗化層を被覆し、層間樹脂絶縁層を粗化する際に起こる
局部電極反応による導体回路の溶解を防止できる。その
層の厚さは 0.1〜2μmがよい。
Further, the roughened layer may be covered with a layer of a metal or a noble metal having an ionization tendency larger than that of copper and equal to or less than titanium. These metal or precious metal layers
It is possible to prevent the conductor circuit from dissolving due to a local electrode reaction that occurs when the roughened layer is covered and the interlayer resin insulating layer is roughened. The thickness of the layer is preferably 0.1 to 2 μm.

【0033】かかる金属としては、チタン、アルミニウ
ム、亜鉛、鉄、インジウム、タリウム、コバルト、ニッ
ケル、スズ、鉛、ビスマスからなる群より選ばれる少な
くとも1種がある。貴金属としては、金、銀、白金、パ
ラジウムがある。これらのうち、特にスズがよい。スズ
は、無電解置換めっきにより薄い層を形成でき、粗化層
に追従できるため有利である。
As such a metal, there is at least one selected from the group consisting of titanium, aluminum, zinc, iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead and bismuth. Noble metals include gold, silver, platinum and palladium. Of these, tin is particularly preferred. Tin is advantageous because it can form a thin layer by electroless displacement plating and can follow the roughened layer.

【0034】スズを被覆するには、ホウフッ化スズ−チ
オ尿素、塩化スズ−チオ尿素液を使用する。この場合、
Cu−Snの置換反応により 0.1〜2μm程度のSn層
が形成される。貴金属の場合は、スパッタや蒸着等の方
法が採用できる。
For coating tin, tin borofluoride-thiourea or tin chloride-thiourea liquid is used. in this case,
An Sn layer of about 0.1 to 2 μm is formed by the substitution reaction of Cu—Sn. In the case of a noble metal, a method such as sputtering or vapor deposition can be adopted.

【0035】また、かかる配線基板には、スルーホール
が形成され、このスルーホールを介して表面と裏面の配
線層を電気的に接続することができる。更に、かかる配
線基板には、スルーホールと配線基板の導体回路間にビ
スフェノールF型エポキシ樹脂等の低粘度の樹脂を充填
し、配線基板の平滑性を確保してもよい。
Further, a through hole is formed in such a wiring board, and the wiring layer on the front surface and the back surface can be electrically connected through the through hole. Further, the wiring board may be filled with a low-viscosity resin such as a bisphenol F-type epoxy resin between the through-holes and the conductor circuits of the wiring board to ensure the smoothness of the wiring board.

【0036】(2) このようにして作製した配線基板の上
に無電解めっき用接着剤を塗布し乾燥して、層間樹脂絶
縁層を設ける。塗布には、ロールコータ、カーテンコー
タ等を使用できる。
(2) An adhesive for electroless plating is applied on the wiring board thus manufactured and dried to provide an interlayer resin insulating layer. For coating, a roll coater, a curtain coater or the like can be used.

【0037】この時点では、基板の導体回路上に設けた
層間樹脂絶縁層は、導体回路パターン上の層間樹脂絶縁
層の厚さが薄く、導体回路パターン上以外の他の大面積
を持つ部分の層間樹脂絶縁層の厚さが厚くなり、凹凸が
発生している状態であることが多い。そのため、この凹
凸状態にある層間樹脂絶縁層を、金属板や金属ロールを
用いて加熱しながら押圧し、その層間樹脂絶縁層の表面
を平坦化することが望ましい。
At this point, the interlayer resin insulating layer provided on the conductor circuit of the substrate is a portion having a large area other than on the conductor circuit pattern because the thickness of the interlayer resin insulating layer on the conductor circuit pattern is small. In many cases, the interlayer resin insulating layer becomes thick and irregularities are generated. Therefore, it is desirable that the interlayer resin insulating layer in the uneven state is pressed while being heated using a metal plate or a metal roll to flatten the surface of the interlayer resin insulating layer.

【0038】(3) 次に、層間樹脂絶縁層を硬化する一方
で、その層間樹脂絶縁層にはバイアホール形成用の開口
を設ける。
(3) Next, while curing the interlayer resin insulation layer, an opening for forming a via hole is provided in the interlayer resin insulation layer.

【0039】層間樹脂絶縁層の硬化処理は、無電解めっ
き用接着剤の樹脂マトリックスが熱硬化性樹脂である場
合は熱硬化して行い、感光性樹脂である場合は紫外線等
で露光して行う。
The curing treatment of the interlayer resin insulation layer is performed by thermosetting when the resin matrix of the adhesive for electroless plating is a thermosetting resin, and is performed by exposing with a UV ray or the like when the resin matrix is a photosensitive resin. .

【0040】バイアホール形成用の開口は、無電解めっ
き用接着剤の樹脂マトリックスが熱硬化性樹脂である場
合は、レーザ光や酸素プラズマ等を用いて穿孔し、感光
性樹脂である場合は露光現像処理にて穿孔する。尚、露
光現像処理は、バイアホール形成のための円パターンが
描画されたフォトマスク(ガラス基板がよい)を、円パ
ターン側を感光性の層間樹脂絶縁層の上に密着させて載
置した後、露光、現像処理する。
The opening for forming the via hole is formed using laser light or oxygen plasma when the resin matrix of the adhesive for electroless plating is a thermosetting resin, and exposed when the resin matrix is a photosensitive resin. Perforate in development processing. In the exposure and development process, a photomask (a glass substrate is preferable) on which a circular pattern for forming a via hole is drawn is placed on the photosensitive interlayer resin insulating layer with the circular pattern side in close contact. , Exposure and development processing.

【0041】(4) 次に、バイアホール形成用開口を設け
た層間樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤層)の表面を
粗化する。特に本発明では、無電解めっき用接着剤層の
表面に存在する耐熱性樹脂粒子を酸又は酸化剤で溶解除
去することにより、接着剤層表面を粗化処理する。この
とき、粗化面に形成される窪みの深さは、1〜5μm程
度が好ましい。
(4) Next, the surface of the interlayer resin insulating layer (adhesive layer for electroless plating) provided with openings for forming via holes is roughened. In particular, in the present invention, the surface of the adhesive layer is roughened by dissolving and removing the heat-resistant resin particles present on the surface of the adhesive layer for electroless plating with an acid or an oxidizing agent. At this time, the depth of the depression formed in the roughened surface is preferably about 1 to 5 μm.

【0042】酸としては、リン酸、塩酸、硫酸、又は蟻
酸や酢酸等の有機酸を用いることができる。特に有機酸
を用いるのが望ましい。粗化処理した場合に、バイアホ
ールから露出する金属導体層を腐食させにくいからであ
る。
As the acid, phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, or an organic acid such as formic acid or acetic acid can be used. In particular, it is desirable to use an organic acid. This is because when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded.

【0043】酸化剤としては、クロム酸、過マンガン酸
塩(過マンガン酸カリウム等)を用いることが望まし
い。
As the oxidizing agent, it is desirable to use chromic acid or permanganate (such as potassium permanganate).

【0044】(5) 次に、層間樹脂絶縁層の粗化面に触媒
核を付与する。触媒核の付与には、貴金属イオンや貴金
属コロイド等を用いることが望ましく、一般的には、塩
化パラジウムやパラジウムコロイドを使用する。尚、触
媒核を固定するために加熱処理を行うことが望ましい。
このような触媒核としてはパラジウムがよい。
(5) Next, a catalyst nucleus is provided on the roughened surface of the interlayer resin insulating layer. It is desirable to use a noble metal ion or a noble metal colloid for providing the catalyst nucleus, and generally, palladium chloride or a palladium colloid is used. It is desirable to perform a heat treatment to fix the catalyst core.
Palladium is preferred as such a catalyst core.

【0045】(6) 次に、粗化し触媒核を付与した層間樹
脂絶縁層上の全面に薄付けの無電解めっき膜を形成す
る。この無電解めっき膜は、無電解銅めっき膜がよく、
その厚みは、1〜5μm、より望ましくは2〜3μmと
する。尚、無電解銅めっき液としては、常法で採用され
る液組成のものを使用でき、例えば、硫酸銅:29g/
l、炭酸ナトリウム:25g/l、EDTA: 140g/
l、水酸化ナトリウム:40g/l、37%ホルムアルデヒ
ド: 150ml、(pH=11.5)からなる液組成のものがよ
い。
(6) Next, a thin electroless plating film is formed on the entire surface of the interlayer resin insulating layer provided with the roughened catalyst nuclei. This electroless plating film is preferably an electroless copper plating film,
The thickness is set to 1 to 5 μm, and more preferably to 2 to 3 μm. In addition, as the electroless copper plating solution, those having a liquid composition that is used in a usual manner can be used. For example, copper sulfate: 29 g /
l, sodium carbonate: 25 g / l, EDTA: 140 g /
1, sodium hydroxide: 40 g / l, 37% formaldehyde: 150 ml, (pH = 11.5).

【0046】(7) 次に、このようにして形成した無電解
めっき膜上に感光性樹脂フィルム(ドライフィルム)を
ラミネートし、この感光性樹脂フィルム上に、めっきレ
ジストパターンが描画されたフォトマスク(ガラス基板
がよい)を密着させて載置し、露光し、現像処理するこ
とにより、めっきレジストパターンを配設した非導体部
分を形成する。
(7) Next, a photosensitive resin film (dry film) is laminated on the electroless plating film thus formed, and a photomask on which a plating resist pattern is drawn is formed on the photosensitive resin film. A non-conductive portion having a plating resist pattern is formed by placing a glass substrate (preferably a glass substrate) in close contact, exposing, and developing.

【0047】(8) 次に、無電解めっき膜上の非導体部分
以外に電解めっき膜を形成し、導体回路とバイアホール
となる導体部を設ける。電解めっきとしては、電解銅め
っきを用いることが望ましく、その厚みは、10〜20μm
がよい。
(8) Next, an electrolytic plating film is formed on portions other than the non-conductor portion on the electroless plating film, and a conductor circuit and a conductor portion serving as a via hole are provided. As the electrolytic plating, it is desirable to use electrolytic copper plating, the thickness of which is 10 to 20 μm.
Is good.

【0048】(9) 次に、次に、非導体部分のめっきレジ
ストを除去した後、更に、硫酸と過酸化水素の混合液や
過硫酸ナトリウム、過硫酸アンモニウム、塩化第二鉄、
塩化第二銅等のエッチング液にて無電解めっき膜を溶解
除去し、無電解めっき膜と電解めっき膜の2層からなる
独立した導体回路とバイアホールを得る。尚、非導体部
分に露出した粗化面上のパラジウム触媒核は、クロム酸
等で溶解除去することもできる。
(9) Next, after removing the plating resist of the non-conductive portion, a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide, sodium persulfate, ammonium persulfate, ferric chloride,
The electroless plating film is dissolved and removed with an etching solution such as cupric chloride to obtain an independent conductor circuit and a via hole having two layers of the electroless plating film and the electrolytic plating film. The palladium catalyst nuclei on the roughened surface exposed to the non-conductive portion can be dissolved and removed with chromic acid or the like.

【0049】(10)次に、このようにして得た導体回路と
バイアホールの表面に、ボイドを有する粗化面を形成す
る。この粗化面の形成方法としては、前述したエッチン
グ処理法による。このとき、導体回路間の触媒核が除去
(削減)することもできる。この場合には、上述した触
媒核の除去工程が不要になる。なお、触媒核の除去(削
減)とは、触媒核を完全に除去する場合のみを意味する
のではなく、導体回路間の絶縁を確立するに十分な範囲
まで減ずることも含む。
(10) Next, a roughened surface having voids is formed on the surfaces of the conductor circuit and the via hole thus obtained. The roughened surface is formed by the above-described etching method. At this time, the catalyst nuclei between the conductor circuits can be removed (reduced). In this case, the above-described step of removing the catalyst nucleus becomes unnecessary. Note that the removal (reduction) of the catalyst nuclei does not only mean the case where the catalyst nuclei are completely removed, but also includes a case where the catalyst nuclei are reduced to a range sufficient to establish the insulation between the conductor circuits.

【0050】(11)次に、この基板上に(2) の工程に従
い、層間樹脂絶縁層を形成する。 (12)更に、必要に応じて (3)〜(9) の工程を繰り返すこ
とにより多層化し、多層プリント配線板を製造する。
(11) Next, an interlayer resin insulating layer is formed on the substrate according to the step (2). (12) If necessary, the steps (3) to (9) are repeated to form a multilayer, thereby producing a multilayer printed wiring board.

【0051】以上の処理は、セミアディテイブ法である
が、無電解めっき用接着剤層を粗化処理し、表面にめっ
きレジストを形成した後、無電解めっきを施して導体パ
ターンを形成するいわゆるフルアディティブ法におい
て、導体回路表面にボイドを設ける様に粗化してもよ
い。
The above processing is a semi-additive method. However, after roughening the adhesive layer for electroless plating and forming a plating resist on the surface, electroless plating is performed to form a conductor pattern. In the full additive method, the surface may be roughened so as to provide voids on the surface of the conductor circuit.

【0052】[0052]

【実施例】以下、本発明の実施形態に係る多層プリント
配線板及びその製造方法について図を参照して説明す
る。先ず、本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板10の構成について、図8を参照して説明する。多
層プリント配線板10では、コア基板1内にスルーホー
ル6が形成され、該コア基板1の両面には導体回路5が
形成されている。また、該コア基板1の上には、バイア
ホール30及び導体回路29の形成された下層側層間樹
脂絶縁層(接着剤層)16が配設されている。該下層層
間樹脂絶縁層16の上には、バイアホール130及び導
体回路129が形成された上層層間樹脂絶縁層(接着剤
層)116が配置されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A multilayer printed wiring board according to an embodiment of the present invention and a method for manufacturing the same will be described below with reference to the drawings. First, the configuration of the multilayer printed wiring board 10 according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In the multilayer printed wiring board 10, through holes 6 are formed in the core substrate 1, and conductor circuits 5 are formed on both surfaces of the core substrate 1. On the core substrate 1, a lower interlayer resin insulation layer (adhesive layer) 16 having via holes 30 and conductor circuits 29 formed thereon is disposed. On the lower interlayer resin insulation layer 16, an upper interlayer resin insulation layer (adhesive layer) 116 in which a via hole 130 and a conductor circuit 129 are formed is arranged.

【0053】多層プリント配線板の上面側には、ソルダ
ーレジスト70の開口部71に、ICチップ(図示せ
ず)のランドへ接続するための半田バンプ76Uが配設
されている。下面側の開口部71には、ドーターボード
(図示せず)のランドへ接続するための半田バンプ76
Dが配設されている。該半田バンプ76Uは、層間樹脂
絶縁層116に形成されたバイアホール130及び層間
樹脂絶縁層16に形成されたバイアホール30を介して
スルーホール6へ接続されている。一方、該半田バンプ
76Dは、層間樹脂絶縁層116に形成されたバイアホ
ール130及び層間樹脂絶縁層16に形成されたバイア
ホール30を介してスルーホール6へ接続されている。
On the upper surface side of the multilayer printed wiring board, a solder bump 76U for connection to a land of an IC chip (not shown) is provided in the opening 71 of the solder resist 70. Solder bumps 76 for connection to lands on a daughter board (not shown) are formed in the openings 71 on the lower surface side.
D is provided. The solder bumps (76U) are connected to the through holes (6) via via holes (130) formed in the interlayer resin insulation layer (116) and via holes (30) formed in the interlayer resin insulation layer (16). On the other hand, the solder bump 76D is connected to the through hole 6 via a via hole 130 formed in the interlayer resin insulating layer 116 and a via hole 30 formed in the interlayer resin insulating layer 16.

【0054】導体回路29の粗化面35には、ボイド3
5aを有する。該ボイド35aは、めっき液との親和性
に優れ、めっき工程において、めっきがボイド35a内
に浸入して錨状部につきまわるため、導体回路29の粗
化面35とバイアホール130とがより一層密着する。
即ち、下層導体回路29上にめっきによりバイアホール
130を形成する際に、導体回29路のボイド35a部
内にバイアホール130の導体に食い込むため、密着性
を高くすることができる。なお、図9に示すようにボイ
ド35a内に空隙を残存させてもよい。
The roughened surface 35 of the conductor circuit 29 has voids 3
5a. The void 35a has excellent affinity with the plating solution, and in the plating step, the plating penetrates into the void 35a and follows the anchor-shaped portion, so that the roughened surface 35 of the conductor circuit 29 and the via hole 130 are further formed. In close contact.
That is, when the via hole 130 is formed on the lower conductor circuit 29 by plating, the conductor of the via hole 130 is cut into the void 35a of the conductor circuit 29, so that the adhesion can be increased. Note that a gap may be left in the void 35a as shown in FIG.

【0055】引き続き、図8を参照して上述したプリン
ト配線板の製造方法について説明する。ここでは、先
ず、A.無電解めっき用接着剤、B.樹脂充填剤調製用
の原料組成物について説明する。 無電解めっき用接着剤組成物Aの調製 (1) クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬
製:分子量2500)の25重量%アクリル化物を35重量部、
感光性モノマー(東亜合成製:商品名アロニックスM31
5)3.15重量部、消泡剤(サンノプコ製S-65)0.5 重量
部、N-メチルピロリドン(NMP )3.6 重量部を攪拌混合
した。
Next, a method for manufacturing the above-described printed wiring board will be described with reference to FIG. Here, first, A.I. Adhesive for electroless plating, B. The raw material composition for preparing a resin filler will be described. Preparation of Adhesive Composition A for Electroless Plating (1) 35 parts by weight of a 25% by weight acrylate of a cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku: molecular weight 2500)
Photosensitive monomer (Toa Gosei: Aronix M31
5) 3.15 parts by weight, 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65 manufactured by San Nopco) and 3.6 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP) were mixed by stirring.

【0056】(2) ポリエーテルスルフォン(PES )12重
量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成製:商品名ポリマー
ポール)の平均粒径1.0 μmを7.2 重量部、平均粒径0.
5 μmのものを3.09重量部を混合した後、さらにNMP 30
重量部を添加し、ビーズミルで攪拌混合した。
(2) 12 parts by weight of polyether sulfone (PES), 7.2 parts by weight of an average particle diameter of 1.0 μm of epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemical Co., trade name: polymer pole), and 0.2 parts by weight of an average particle diameter
After mixing 3.09 parts by weight of 5 μm, further add NMP 30
Parts by weight were added and mixed by stirring with a bead mill.

【0057】(3) イミダゾール硬化剤(四国化成製:商
品名2E4MZ-CN)2重量部、光開始剤(チバガイギー製:
イルガキュア I-907)2重量部、光増感剤(日本化薬
製:DETX-S)0.2 重量部、NMP 1.5 重量部を攪拌混合し
た。 (4) 混合物(1) 〜(3) を混合して無電解めっき用接着剤
組成物を得た。
(3) 2 parts by weight of an imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Kasei: 2E4MZ-CN), a photoinitiator (manufactured by Ciba-Geigy:
2 parts by weight of Irgacure I-907), 0.2 parts by weight of a photosensitizer (DETX-S, manufactured by Nippon Kayaku), and 1.5 parts by weight of NMP were stirred and mixed. (4) The mixtures (1) to (3) were mixed to obtain an adhesive composition for electroless plating.

【0058】樹脂充填剤Bの調整 (1) ビスフェノールF型エポキシモノマー(油化シェル
製:分子量310 、商品名 YL983U ) 100重量部と平均粒
径 1.6μmで表面にシランカップリング剤がコーティン
グされたSiO球状粒子〔アドマテック製:CRS 11
01−CE、ここで、最大粒子の大きさは後述する内層銅パ
ターンの厚み(15μm)以下とする。〕170重量部、レ
ベリング剤(サンノプコ製:商品名ペレノールS4)1.5
重量部を3本ロールにて混練し、その混合物の粘度を23
±1℃で45,000〜49,000cps に調整した。
Preparation of Resin Filler B (1) 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell: molecular weight 310, trade name: YL983U) and an average particle diameter of 1.6 μm, and the surface was coated with a silane coupling agent. SiO 2 spherical particles [manufactured by Admatech: CRS 11
01-CE, where the maximum particle size is equal to or less than the thickness (15 μm) of an inner copper pattern described later. ] 170 parts by weight, 1.5 leveling agent (manufactured by San Nopco: trade name Perenol S4) 1.5
Parts by weight are kneaded with three rolls, and the viscosity of the mixture is adjusted to 23.
The temperature was adjusted to 45,000 to 49,000 cps at ± 1 ° C.

【0059】(2) イミダゾール硬化剤(四国化成製、商
品名:2E4MZ-CN)6.5 重量部。 (3) 混合物(1) と(2) とを混合して、樹脂充填剤を調製
した。
(2) Imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN) 6.5 parts by weight. (3) The mixtures (1) and (2) were mixed to prepare a resin filler.

【0060】プリント配線板の製造 図1(A)〜図7(S)は、本発明の第1実施例に係る
工程に従って製造されるプリント配線板の断面図であ
る。 (1) 図1(A)に示すように、本実施例では、厚さ1mm
のビスマレイミドトリアジン(BT)樹脂からなる基板1
の両面に18μmの銅箔2がラミネートされている銅張積
層板3を出発材料とした。
Manufacturing of Printed Wiring Board FIGS. 1A to 7S are cross-sectional views of a printed wiring board manufactured according to the process according to the first embodiment of the present invention. (1) As shown in FIG. 1A, in this embodiment, the thickness is 1 mm.
1 made of bismaleimide triazine (BT) resin
A copper-clad laminate 3 in which 18 μm copper foil 2 was laminated on both surfaces of was used as a starting material.

【0061】(2) まず、この銅張積層板3にドリル孔4
を開け、無電解めっきを施し、さらに銅箔を常法に従い
パターン状にエッチングすることにより、基板1の両面
に内層銅パターン(下層導体回路)5を設け、スルーホ
ール6を形成した(図1(B))。
(2) First, drill holes 4 are formed in the copper-clad laminate 3.
, An electroless plating is performed, and an inner copper pattern (lower conductive circuit) 5 is provided on both surfaces of the substrate 1 by etching the copper foil in a pattern according to a conventional method, thereby forming a through hole 6 (FIG. 1). (B)).

【0062】次に、内層銅パターン5の表面、スルーホ
ール6のランド表面と内壁に、それぞれ粗化層7,8,
9を設けた(図1(C))。粗化層7,8,9は、前述
の基板を水洗し、乾燥した後、エッチング液を基板の両
面にスプレイで吹きつけて、内層銅パターン5の表面、
スルーホール6のランド表面と内壁をエッチングするこ
とにより形成した。エッチング液には、イミダゾール銅
(II)錯体10重量部、グリコール酸7重量部、塩化カ
リウム5重量部、イオン交換水78重量部を混合したも
のを用いた。
Next, on the surface of the inner layer copper pattern 5, the land surface and the inner wall of the through hole 6, roughened layers 7, 8,
9 (FIG. 1C). The roughened layers 7, 8, 9 are formed by washing the above-mentioned substrate with water and drying, and then spraying an etchant on both surfaces of the substrate by spraying to spray the surface of the inner layer copper pattern 5,
The through-hole 6 was formed by etching the land surface and inner wall. The etching solution used was a mixture of 10 parts by weight of an imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, 5 parts by weight of potassium chloride, and 78 parts by weight of ion-exchanged water.

【0063】(3) 次に、樹脂層11,12を配線基板1
0の内層銅パターン5間とスルーホール6内とに設け
た。ここでは、先ず、樹脂層11,12は、予め調製し
た樹脂充填剤Bを、ロールコータにより配線基板10の
両面に塗布し、内層銅パターン5の間とスルーホール6
内に充填し、 100℃で1時間、120 ℃で3時間、 150℃
で1時間、 180℃で7時間、それぞれ加熱処理すること
により硬化させて形成した(図1(D))。
(3) Next, the resin layers 11 and 12 are
0 between the inner copper patterns 5 and in the through holes 6. Here, first, the resin layers 11 and 12 are coated with the resin filler B prepared in advance on both surfaces of the wiring board 10 by a roll coater, and the resin layer B is formed between the inner layer copper pattern 5 and the through hole 6.
Filled in at 100 ℃ for 1 hour, 120 ℃ for 3 hours, 150 ℃
For 1 hour and by heating at 180 ° C. for 7 hours, respectively, to form a cured product (FIG. 1 (D)).

【0064】(4) (3) の処理で得た基板の片面を、ベル
トサンダー研磨した。この研磨では、#600 のベルト研
磨紙(三共理化学製)を用い、内層銅パターン5の粗化
層7やスルーホール6のランド表面に樹脂充填剤が残ら
ないようにした。次いで、このベルトサンダー研磨によ
る傷を取り除くために、バフ研磨を行った。このような
一連の研磨を基板の他方の面についても同様に行い、図
2(E)示すような配線基板13を得た。
(4) One side of the substrate obtained in the process of (3) was polished with a belt sander. In this polishing, a # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku Co., Ltd.) was used to prevent the resin filler from remaining on the roughened layer 7 of the inner copper pattern 5 and the land surface of the through hole 6. Next, buffing was performed to remove the scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate to obtain a wiring substrate 13 as shown in FIG.

【0065】この配線基板13は、内層銅パターン5間
に樹脂層11が設けられ、スルーホール6内に樹脂層1
2が設けられている。内層銅パターン5の粗化層7とス
ルーホール6のランド表面の粗化層8が除去されてお
り、基板両面が樹脂充填剤により平滑化されている。樹
脂層11は内層銅パターン5の側面の粗化層7aを介し
て内層銅パターン5と密着し、樹脂層12はスルーホー
ル6の内壁の粗化層9を介してスルーホール6の内壁と
密着している。
In this wiring board 13, resin layer 11 is provided between inner layer copper patterns 5, and resin layer 1 is provided in through hole 6.
2 are provided. The roughened layer 7 of the inner layer copper pattern 5 and the roughened layer 8 on the land surface of the through hole 6 are removed, and both surfaces of the substrate are smoothed by a resin filler. The resin layer 11 is in close contact with the inner copper pattern 5 via the roughened layer 7a on the side surface of the inner copper pattern 5, and the resin layer 12 is in close contact with the inner wall of the through hole 6 via the roughened layer 9 on the inner wall of the through hole 6. are doing.

【0066】(5) 更に、図2(F)に示すように、露出
した内層銅パターン5とスルーホール6のランド上面を
(2) のエッチング処理で粗化して、厚さ3μmの粗化層
14,15を形成した。粗化面を真上および斜め上45
°の角度から電子顕微鏡にて撮影したところ、5μm角
当りの領域で錨状部が平均11個、窪みが、5μm角当
りの領域で平均11個、稜線は、5μm角当りの領域で
22本観察された。さらに、この粗化面に、Su−Pd
コロイド触媒(シプレイ社、キャタホジット44)を付
与し、1NHuでPdイオンをPd原子に還元した。
(5) Further, as shown in FIG. 2 (F), the exposed upper surface of the land of the inner layer copper pattern 5 and the through hole 6 is removed.
Roughening was performed by the etching process (2) to form roughened layers 14 and 15 having a thickness of 3 μm. 45 directly above and obliquely above the roughened surface
When photographed with an electron microscope from an angle of °, an average of 11 anchors were formed in an area per 5 μm square, an average of 11 depressions were formed in an area per 5 μm square, and 22 ridges were formed in an area per 5 μm square. Was observed. Furthermore, this roughened surface has a Su-Pd
A colloidal catalyst (Cataplay 44, Shipley) was applied to reduce Pd ions to Pd atoms with 1 NHu.

【0067】(6) 得られた配線基板の両面に、予め調製
した無電解めっき用接着剤組成物Aをロールコータを用
いて塗布した。この組成物は、基板を水平状態で20分間
放置してから、60℃で30分乾燥し、厚さ35μmの接着剤
層(層間樹脂絶縁層)16を形成した(図2(G))。
(6) An adhesive composition A for electroless plating prepared in advance was applied to both surfaces of the obtained wiring board using a roll coater. The composition was left standing for 20 minutes in a horizontal state, and then dried at 60 ° C. for 30 minutes to form an adhesive layer (interlayer resin insulating layer) 16 having a thickness of 35 μm (FIG. 2 (G)).

【0068】(7) 図3(H)に示すように、(6) で接着
剤層16を形成した配線基板の両面に、85μmφの黒円
17が印刷されたフォトマスクフィルム18を密着させ
た。この配線基板を、超高圧水銀灯により 500mJ/cm
で露光した。
(7) As shown in FIG. 3H, a photomask film 18 on which a black circle 17 of 85 μmφ is printed is brought into close contact with both surfaces of the wiring board on which the adhesive layer 16 is formed in (6). . 500mJ / cm
Exposure at 2 .

【0069】次いで、この配線基板をDMDG溶液を用いて
スプレー現像することにより、85μmφのバイアホール
となる開口19を、接着剤層16に形成した(図3
(I))。更に、この配線基板を超高圧水銀灯により30
00mJ/cmで露光し、100 ℃で1時間、その後 150℃
で5時間、加熱処理することにより、フォトマスクフィ
ルムに相当する寸法精度に優れた開口(バイアホール形
成用開口)19を形成した。尚、厚さ35μmの接着剤層
16は、層間絶縁材層として機能し、バイアホール形成
用開口には、内層銅パターン5を部分的に露出させた。
Then, the wiring board was spray-developed using a DMDG solution to form an opening 19 serving as a 85 μmφ via hole in the adhesive layer 16 (FIG. 3).
(I)). Furthermore, this wiring board is
Exposure at 100 mJ / cm 2 , 1 hour at 100 ° C, then 150 ° C
By performing the heat treatment for 5 hours, an opening (opening for forming a via hole) 19 having excellent dimensional accuracy corresponding to a photomask film was formed. The adhesive layer 16 having a thickness of 35 μm functioned as an interlayer insulating material layer, and the inner layer copper pattern 5 was partially exposed in the via hole forming opening.

【0070】(8) 次に、(7) の処理後の基板を、80g
/lのクロム酸水溶液に1分間浸漬し、接着剤層16の
表面に存在するエポキシ樹脂粒子を溶解除去した。この
処理により、図3(J)に示すような粗化層20,21
を、接着剤層16の表面とバイアホール用開口の内壁面
に形成した。その後、得られた基板22を中和溶液(シ
プレイ社製)に浸漬してから水洗いした。このクロム酸
処理による、内層銅パターン5にボイド(平均直径5μ
m)14aが発生した。
(8) Next, 80 g of the substrate after the treatment of (7)
/ L of chromic acid aqueous solution for 1 minute to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the adhesive layer 16. By this processing, the roughened layers 20, 21 as shown in FIG.
Was formed on the surface of the adhesive layer 16 and the inner wall surface of the via hole opening. Thereafter, the obtained substrate 22 was immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and then washed with water. Void (5 μm average diameter) is formed in the inner copper pattern 5 by the chromic acid treatment.
m) 14a occurred.

【0071】更に、粗面化処理した配線基板の表面に、
再度パラジウム触媒(シプレイ社、キャタホジット4
4)を付与することにより、接着剤層16の粗化層20
とバイアホール用開口の粗化層21に触媒核33を付け
た(図4(K))。
Further, on the surface of the roughened wiring board,
Again palladium catalyst (Cypresit 4
4), the roughened layer 20 of the adhesive layer 16
Then, a catalyst core 33 was attached to the roughened layer 21 of the via hole opening (FIG. 4K).

【0072】(9) 得られた基板を以下の条件の無電解銅
めっき浴中に浸漬し、図4(L)に示すような厚さ1.6
μmの無電解銅めっき膜23を粗化面全体に形成した。 無電解めっき液; EDTA : 150 g/l 硫酸銅 : 20 g/l HCHO : 30 ml/l NaOH : 40 g/l α、α’−ビピリジル : 80 mg/l PEG : 0.1 g/l 無電解めっき条件; 70℃の液温度で30分
(9) The obtained substrate was immersed in an electroless copper plating bath under the following conditions to obtain a substrate having a thickness of 1.6 as shown in FIG.
A μm electroless copper plating film 23 was formed on the entire roughened surface. Electroless plating solution; EDTA: 150 g / l Copper sulfate: 20 g / l HCHO: 30 ml / l NaOH: 40 g / l α, α'-bipyridyl: 80 mg / l PEG: 0.1 g / l None Electroplating condition; 30 minutes at 70 ° C liquid temperature

【0073】(10)次に、市販の感光性ドライフィルム
(図示せず)を無電解銅めっき膜23に張り付け、パタ
ーンが印刷されたマスクフィルム(図示せず)を載置し
た。この基板を、100mJ/cmで露光し、その後0.8
%炭酸ナトリウムで現像処理して、図4(M)に示すよ
うに、厚さ15μmのめっきレジスト27を設けた。
(10) Next, a commercially available photosensitive dry film (not shown) was attached to the electroless copper plating film 23, and a mask film (not shown) on which a pattern was printed was placed. This substrate was exposed at 100 mJ / cm 2 and then exposed to 0.8 mJ / cm 2.
4M, a plating resist 27 having a thickness of 15 μm was provided as shown in FIG.

【0074】(11)次いで、得られた基板に以下の条件で
電解銅めっきを施し、図5(N)に示すような厚さ15μ
mの電解銅めっき膜28を形成した。 電解めっき液; 硫酸 : 180 g/l 硫酸銅 : 80 g/l 添加剤 : 1ml/l (添加剤はアトテックジャパン製:商品名カパラシドG
L) 電解めっき条件; 電流密度 : 1A/dm 時間 : 30分 温度 : 室温
(11) Next, the obtained substrate was subjected to electrolytic copper plating under the following conditions, and a thickness of 15 μm as shown in FIG.
m of electrolytic copper plating film 28 was formed. Electrolytic plating solution; Sulfuric acid: 180 g / l Copper sulfate: 80 g / l Additive: 1 ml / l (Additives are manufactured by Atotech Japan: trade name Capalaside G
L) Electroplating conditions; Current density: 1 A / dm 2 hours: 30 minutes Temperature: room temperature

【0075】(12)めっきレジスト26を5%KOH で剥離
除去した後、硫酸と過酸化水素混合液でエッチングし、
めっきレジスト26下に存在していた無電解めっき膜2
3を溶解除去した。図5(O)に示すような、無電解銅
めっき膜23と電解銅めっき膜28とからなる厚さ18μ
mの導体回路29(バイアホール30を含む)が得られ
た。
(12) After the plating resist 26 is peeled off with 5% KOH, it is etched with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide.
Electroless plating film 2 existing under plating resist 26
3 was dissolved away. As shown in FIG. 5 (O), a thickness of 18 μm comprising the electroless copper plating film 23 and the electrolytic copper plating film 28
m conductor circuits 29 (including via holes 30) were obtained.

【0076】更に、イミダゾール銅(II)錯体10重量
部、グリコール酸7重量部、塩化カリウム5重量部、イ
オン交換水78重量部を混合したエッチング液をスプレ
ーで吹きつけて導体回路29(バイアホール30含む)
表面に粗化面35を形成するとともに、接着剤層16表
面のパラジウム触媒33を除去し、図5(P)に示すよ
うな多層プリント配線板31を製造した。
Further, an etching solution containing a mixture of 10 parts by weight of an imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, 5 parts by weight of potassium chloride, and 78 parts by weight of ion-exchanged water is sprayed onto the conductor circuit 29 (via hole). 30)
A roughened surface 35 was formed on the surface, and the palladium catalyst 33 on the surface of the adhesive layer 16 was removed to produce a multilayer printed wiring board 31 as shown in FIG. 5 (P).

【0077】(14)さらに、上記6) 〜(8)を行い導体回路
29の上に接着剤層116を形成する(図6(Q))。
ここで、接着剤層116を粗化する際に、導体回路29
の粗化面35にボイド35aが形成されている。
(14) Further, the above steps 6) to (8) are performed to form an adhesive layer 116 on the conductor circuit 29 (FIG. 6 (Q)).
Here, when the adhesive layer 116 is roughened, the conductive circuits 29
Voids 35a are formed in the roughened surface 35 of FIG.

【0078】(15) 引き続き、上記(9)〜 (13)を繰り返
して接着剤層116に導体回路129、バイアホール1
30を形成し、図6(R)に示すの多層プリント配線板
を得た。かかるボイド35aを有する導体回路29の粗
化面35は、めっき液との親和性に優れ、めっきがボイ
ド35a内に浸入して錨状部につきまわるため、導体回
路29の粗化面35とバイアホール130とがより一層
密着する。即ち、下層導体回路29上にめっきによりバ
イアホール130を形成する際に、導体回29路のボイ
ド35a部内にバイアホール130の導体に食い込むた
め、密着性を高くすることができる。
(15) Subsequently, the above (9) to (13) are repeated to form a conductor circuit 129 and a via hole 1 on the adhesive layer 116.
30 was formed to obtain a multilayer printed wiring board shown in FIG. The roughened surface 35 of the conductor circuit 29 having the void 35a has an excellent affinity with the plating solution, and the plating penetrates into the void 35a and follows the anchor-shaped portion. The hole 130 is further in close contact. That is, when the via hole 130 is formed on the lower conductor circuit 29 by plating, the conductor of the via hole 130 is cut into the void 35a of the conductor circuit 29, so that the adhesion can be increased.

【0079】(16)上述した多層プリント配線板にはん
だバンプを形成する。先ず、DMDGに溶解させた60
重量%のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化
薬製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与
のオリゴマー(分子量4000)を 46.67g、メ
チルエチルケトンに溶解させた80重量%のビスフェノ
ールA型エポキシ樹脂(油化シェル製、エピコート10
01)15.0g、イミダゾール硬化剤(四国化成製、
2E4MZ−CN)1.6 g、感光性モノマーである
多価アクリルモノマー(日本化薬製、R604 )3
g、同じく多価アクリルモノマー(共栄社化学製、DP
E6A ) 1.5g、分散系消泡剤(サンノプコ社
製、S−65)0.71gを混合し、さらにこの混合物
に対して光開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学
製)を2g、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化
学製)を 0.2g加えて、粘度を25℃で 2.0P
a・sに調整したソルダーレジスト組成物を得た。な
お、粘度測定は、B型粘度計(東京計器、 DVL−B
型)で 60rpmの場合はローターNo.4、6rp
m の場合はローターNo.3によった。
(16) Solder bumps are formed on the above-mentioned multilayer printed wiring board. First, 60 dissolved in DMDG
46.67 g of an oligomer (molecular weight: 4000) of a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) in which 50% of an epoxy group of the acrylate is acrylated, and 80% by weight of a bisphenol A type epoxy dissolved in methyl ethyl ketone Resin (made of Yuka Shell, Epicoat 10
01) 15.0 g, imidazole curing agent (Shikoku Chemicals,
2E4MZ-CN) 1.6 g, polyvalent acrylic monomer (R604, manufactured by Nippon Kayaku) which is a photosensitive monomer
g, also polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoeisha Chemical, DP
E6A) 1.5 g and a dispersant defoamer (manufactured by San Nopco Co., S-65) 0.71 g were mixed, and 2 g of benzophenone as a photoinitiator (manufactured by Kanto Kagaku) was added to this mixture, followed by photosensitization. 0.2g of Michler's ketone (manufactured by Kanto Chemical Co.)
A solder resist composition adjusted to a · s was obtained. The viscosity was measured using a B-type viscometer (Tokyo Keiki, DVL-B
In the case of 60 rpm, the rotor No. 4,6 rp
m, the rotor No. According to 3.

【0080】(17)前記(16)で得られた多層プリント配線
基板の両面に、上記ソルダーレジスト組成物を20μm
の厚さで塗布した。次いで、70℃で20分間、70℃
で30分間の乾燥処理を行った後、円パターン(マスク
パターン)が描画された厚さ5mmのフォトマスクフィ
ルムを密着させて載置し、1000mJ/cmの紫外
線で露光し、DMTG現像処理した。そしてさらに、8
0℃で1時間、100℃で1時間、120℃で1時間、
150℃で3時間の条件で加熱処理し、はんだパッド部
(バイアホールとそのランド部分を含む)の開口部(開
口径200μm)71を有するソルダーレジスト層(厚
み20μm)70を形成した(図7(S))。
(17) The above-mentioned solder resist composition is applied to both sides of the multilayer printed wiring board obtained in the above (16) in a thickness of 20 μm.
Was applied. Then at 70 ° C for 20 minutes at 70 ° C
After performing a drying process for 30 minutes, a 5 mm-thick photomask film on which a circular pattern (mask pattern) is drawn is placed in close contact with the substrate, exposed to ultraviolet light of 1000 mJ / cm 2 , and subjected to DMTG development processing. . And then 8
1 hour at 0 ° C, 1 hour at 100 ° C, 1 hour at 120 ° C,
Heat treatment was performed at 150 ° C. for 3 hours to form a solder resist layer (thickness: 20 μm) 70 having an opening (opening diameter: 200 μm) 71 of the solder pad portion (including the via hole and its land portion) (FIG. 7). (S)).

【0081】(18) 次に、塩化ニッケル2.31×10−1
ol/l、次亜リン酸ナトリウム2.8×10−1mol/
l、クエン酸ナトリウム1.85×10−1mol/l、から
なるpH=4.5の無電解ニッケルめっき液に該基板3
0を20分間浸漬して、開口部71に厚さ5μmのニッ
ケルめっき層72を形成した。さらに、その基板を、シ
アン化金カリウム4.1 ×10−2mol/l、塩化アンモ
ニウム1.87×10−1mol/l、クエン酸ナトリウム1.
16×10−1mol/l、次亜リン酸ナトリウム1.7 ×10
−1mol/lからなる無電解金めっき液に80℃の条件
で7分20秒間浸漬して、ニッケルめっき層上に厚さ0.
03μmの金めっき層74を形成することで、バイアホー
ル130に半田パッド75を形成する(図7(T)参
照)。
(18) Next, nickel chloride 2.31 × 10 −1 m
ol / l, sodium hypophosphite 2.8 × 10 −1 mol /
1 and 1.85 × 10 −1 mol / l of sodium citrate, and the substrate 3 was placed in an electroless nickel plating solution having a pH of 4.5.
0 was immersed for 20 minutes to form a nickel plating layer 72 having a thickness of 5 μm in the opening 71. Further, the substrate was treated with potassium cyanide 4.1 × 10 −2 mol / l, ammonium chloride 1.87 × 10 −1 mol / l, sodium citrate 1.
16 × 10 −1 mol / l, sodium hypophosphite 1.7 × 10
Immersion in an electroless gold plating solution of -1 mol / l at 80 ° C. for 7 minutes and 20 seconds to form a film having a thickness of 0.2 mm on the nickel plating layer.
By forming a gold plating layer 74 of 03 μm, a solder pad 75 is formed in the via hole 130 (see FIG. 7 (T)).

【0082】(19)そして、ソルダーレジスト層70の開
口部71に、低融点金属として半田ペーストを印刷して
200℃でリフローすることにより、半田バンプ(半田
体)76U、76Dを形成し、多層プリント配線板10
を完成した(図8参照)。
(19) Then, a solder paste is printed as a low melting point metal on the opening 71 of the solder resist layer 70.
By performing reflow at 200 ° C., solder bumps (solder bodies) 76U and 76D are formed.
Was completed (see FIG. 8).

【0083】[0083]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の多層プリ
ント配線板及び多層プリント配線板の製造方法では、導
体回路表面にボイドを形成してあるため、該ボイドとバ
イアホールとが密着するため、バイアホールの接続信頼
性を向上させることができる。
As described above, in the multilayer printed wiring board and the method of manufacturing the multilayer printed wiring board of the present invention, since the void is formed on the surface of the conductor circuit, the void is closely attached to the via hole. The connection reliability of the via hole can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1(A)、図1(B)、図1(C)、図1
(D)は、本発明の第1実施例にかかる多層プリント配
線板の製造工程図である。
1 (A), 1 (B), 1 (C), 1
(D) is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the first example of the present invention.

【図2】図2(E)、図2(F)、図2(G)は、本発
明の第1実施例にかかる多層プリント配線板の製造工程
図である。
FIGS. 2 (E), 2 (F), and 2 (G) are manufacturing process diagrams of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図3】図3(H)、図3(I)、図3(J)は、本発
明の第1実施例にかかる多層プリント配線板の製造工程
図である。
FIGS. 3 (H), 3 (I), and 3 (J) are manufacturing process diagrams of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図4】図4(K)、図4(L)、図4(M)は、本発
明の第1実施例にかかる多層プリント配線板の製造工程
図である。
FIGS. 4 (K), 4 (L), and 4 (M) are manufacturing process diagrams of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図5】図5(N)、図5(O)、図5(P)は、本発
明の第1実施例にかかる多層プリント配線板の製造工程
図である。
FIGS. 5 (N), 5 (O), and 5 (P) are manufacturing process diagrams of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図6】図6(Q)、図6(R)は、本発明の第1実施
例にかかる多層プリント配線板の製造工程図である。
FIGS. 6 (Q) and 6 (R) are manufacturing process diagrams of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図7】図7(S)、図7(T)は、本発明の第1実施
例にかかる多層プリント配線板の製造工程図である。
FIGS. 7 (S) and 7 (T) are manufacturing process diagrams of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第1実施例に係る多層プリント配線板
の断面図である。
FIG. 8 is a sectional view of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第1実施例に係る多層プリント配線板
の断面図である。
FIG. 9 is a sectional view of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 銅箔 3 銅張積層板 5 内層銅パターン 6 スルーホール 7,8,9,14,15,20,21 粗化層 14a ボイド 10,13,22 配線基板 11,12 樹脂層 16、116 接着剤層(層間樹脂絶縁層) 19 開口 23 無電解銅めっき膜 27 めっきレジスト 28 電解銅めっき膜 29 導体回路 30 バイアホール 31 多層プリント配線板 33 触媒核 35 粗化面 35a ボイド 45 粗化層 129 導体回路 Reference Signs List 1 substrate 2 copper foil 3 copper-clad laminate 5 inner layer copper pattern 6 through hole 7, 8, 9, 14, 15, 20, 21 roughened layer 14a void 10, 13, 22 wiring board 11, 12 resin layer 16, 116 Adhesive layer (interlayer resin insulating layer) 19 Opening 23 Electroless copper plating film 27 Plating resist 28 Electrolytic copper plating film 29 Conductor circuit 30 Via hole 31 Multilayer printed wiring board 33 Catalyst core 35 Roughened surface 35a Void 45 Roughened layer 129 Conductor circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5E343 AA02 AA12 BB15 BB24 BB71 CC33 CC35 CC43 EE37 EE55 GG04 5E346 AA06 AA12 AA15 AA35 AA43 BB01 CC08 CC32 CC58 DD03 DD22 DD33 DD47 EE34 EE38 FF02 FF07 FF12 GG15 GG17 GG27 HH07  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F-term (reference) 5E343 AA02 AA12 BB15 BB24 BB71 CC33 CC35 CC43 EE37 EE55 GG04 5E346 AA06 AA12 AA15 AA35 AA43 BB01 CC08 CC32 CC58 DD03 DD22 DD33 DD47 EE34 EE38 FF02 FF07 GG17 GG17 GG07

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 層間樹脂絶縁層と導体回路とを交互に積
層してなる多層プリント配線板において、 前記導体回路表面にボイドを形成したことを特徴とする
多層プリント配線板。
1. A multilayer printed wiring board in which interlayer resin insulating layers and conductive circuits are alternately laminated, wherein a void is formed on the surface of the conductive circuit.
【請求項2】 層間樹脂絶縁層と導体回路を交互に積層
してなる多層プリント配線板の製造方法において、 導体回路を形成した後、層間樹脂絶縁層を形成し、さら
に前記層間樹脂絶縁層にバイアホール形成用開口を設け
た後、前記層間樹脂絶縁層表面を粗化するとともに、前
記導体回路表面にボイドを形成することを特徴とする多
層プリント配線板の製造方法。
2. A method for manufacturing a multilayer printed wiring board comprising alternately laminating an interlayer resin insulation layer and a conductor circuit, comprising: forming a conductor circuit; forming an interlayer resin insulation layer; A method for manufacturing a multilayer printed wiring board, comprising: providing an opening for forming a via hole; roughening the surface of the interlayer resin insulating layer; and forming a void in the surface of the conductive circuit.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007116077A (en) * 2005-09-26 2007-05-10 Hitachi Chem Co Ltd Pretreatment of copper surface and wiring substrate using the same
JP2012028517A (en) * 2010-07-22 2012-02-09 Jx Nippon Mining & Metals Corp Resist formation wiring substrate and method of manufacturing electronic circuit

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