JP2000031643A - Multilayer printed wiring board and manufacture thereof - Google Patents
Multilayer printed wiring board and manufacture thereofInfo
- Publication number
- JP2000031643A JP2000031643A JP20866998A JP20866998A JP2000031643A JP 2000031643 A JP2000031643 A JP 2000031643A JP 20866998 A JP20866998 A JP 20866998A JP 20866998 A JP20866998 A JP 20866998A JP 2000031643 A JP2000031643 A JP 2000031643A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring board
- printed wiring
- roughened surface
- multilayer printed
- metal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、多層プリント配線
板に関し、特に、加熱時やヒートサイクル条件において
も、層間樹脂絶縁層の剥離を防止し、バイアホール部の
接続信頼性を確保できる多層プリント配線板に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer printed wiring board, and more particularly, to a multilayer printed wiring board which can prevent peeling of an interlayer resin insulating layer and secure connection reliability of a via hole even during heating or heat cycle conditions. Related to wiring boards.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、多層配線基板の高密度化という要
請から、いわゆるビルドアップ多層配線基板が注目され
ている。このビルドアップ多層配線基板は、例えば、特
公平4−55555号公報に開示されているような方法
により製造される。即ち、コア基板上に、感光性の無電
解めっき用接着剤からなる絶縁材を塗布し、これを乾燥
した後、露光現像することにより、バイアホール用の開
口を有する層間絶縁材層を形成する。次いで、この層間
絶縁材層の表面を酸化剤等による処理にて粗化した後、
その粗化面にめっきレジストを設け、その後、レジスト
非形成部分に無電解めっきを施してバイアホールを含む
導体回路パターンを形成する。かかる工程を複数回繰り
返すことで、多層化したビルドアップ配線基板が得られ
る。2. Description of the Related Art In recent years, so-called build-up multilayer wiring boards have been receiving attention due to a demand for higher density of the multilayer wiring boards. This build-up multilayer wiring board is manufactured, for example, by a method as disclosed in Japanese Patent Publication No. 4-55555. That is, on the core substrate, an insulating material made of a photosensitive electroless plating adhesive is applied, dried, exposed, and developed to form an interlayer insulating material layer having an opening for a via hole. . Next, after roughening the surface of this interlayer insulating material layer by treatment with an oxidizing agent or the like,
A plating resist is provided on the roughened surface, and then electroless plating is performed on a portion where no resist is formed to form a conductive circuit pattern including via holes. By repeating such a process a plurality of times, a multilayered build-up wiring board can be obtained.
【0003】また、ビルドアップ多層プリント配線板と
しては、いわゆるRCC(RESIN COATED COPPER :樹脂
付銅箔) を使用した多層化技術が注目を浴びている。こ
の技術は、RCCを回路基板に積層し、銅箔をエッチン
グ除去して、バイアホール形成部位に開口を設け、この
開口部にレーザを照射して、樹脂層を除去し、開口部を
めっきしてバイアホールを形成する技術である。As a build-up multilayer printed wiring board, a multilayer technology using a so-called RCC (RESIN COATED COPPER: copper foil with resin) has been receiving attention. In this technique, RCC is laminated on a circuit board, copper foil is removed by etching, an opening is formed in a via-hole forming portion, and the opening is irradiated with a laser to remove the resin layer and plate the opening. This is a technology for forming via holes.
【0004】更に、特開平9−36551号公報に記載
されているように、スルーホールに導電性物質が充填さ
れた片面回路基板を、接着剤層を介して積層して、多層
化する技術も開発されている。Further, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-36551, a technique is known in which a single-sided circuit board in which through holes are filled with a conductive material is laminated via an adhesive layer to form a multilayer. Is being developed.
【0005】かかる多層プリント配線板では、下層導体
回路表面と層間樹脂絶縁層との密着性を改善するため、
下層導体回路の表面が粗化処理される。このようにして
形成された粗化層は、バイアホール部の密着性を改善す
ることができる。かかる粗化処理は、黒化−還元処理、
硫酸−過酸化水素によるエッチング、銅−ニッケル−リ
ン針状合金めっき等によって行われている。In such a multilayer printed wiring board, in order to improve the adhesion between the lower conductive circuit surface and the interlayer resin insulating layer,
The surface of the lower conductor circuit is roughened. The roughened layer thus formed can improve the adhesion of the via hole. Such a roughening treatment includes a blackening-reduction treatment,
The etching is performed by sulfuric acid-hydrogen peroxide, copper-nickel-phosphorus needle-like alloy plating, or the like.
【0006】しかし、かかる粗化層に、バイアホールを
めっきによって形成する場合、めっきが付き難く、バイ
アホール導体の剥離を招き易いことが知られている。こ
のため、下層導体回路表面には、層間樹脂絶縁層と接触
する部分には粗化層を形成するが、バイアホール導体と
接触する部分では、かかる粗化層を除去するのが常識化
している(例えば、特開平3−3298号公報参照)。However, it is known that when a via hole is formed in such a roughened layer by plating, plating is difficult to occur, and the via-hole conductor is easily peeled off. For this reason, on the surface of the lower conductor circuit, a roughened layer is formed at a portion in contact with the interlayer resin insulating layer, but it is common sense to remove such a roughened layer at a portion in contact with the via-hole conductor. (See, for example, JP-A-3-3298).
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】ところが、本発明者の
知見では、バイアホール導体を接続する下層導体回路の
接続面を平坦化すると、加熱時やヒートサイクル条件
で、下層導体回路とバイアホール導体とが剥離してしま
うことがわかった。However, the inventor of the present invention has found that when the connection surface of the lower conductor circuit for connecting the via hole conductor is flattened, the lower conductor circuit and the via hole conductor can be heated or subjected to heat cycle conditions. Was found to be peeled off.
【0008】本発明者が導体回路の粗化処理を再検討し
たところ、針状合金めっきは、導体回路と樹脂絶縁層と
の密着性に最も優れるが、加熱時やヒートサイクル時
に、下層導体回路とバイアホール導体との間で剥離が発
生して、導通抵抗値が高くなるという現象が観察され
た。また、黒化−還元処理や硫酸−過酸化水素によるエ
ッチングでは、加熱時やヒートサイクル条件下に、導体
回路と樹脂絶縁層との間で剥離が観察された。The present inventor reexamined the roughening treatment of the conductor circuit. As a result, the needle-shaped alloy plating is most excellent in the adhesion between the conductor circuit and the resin insulating layer. A phenomenon was observed in which separation occurred between the via hole conductor and the via hole conductor, and the conduction resistance value increased. In the blackening-reduction treatment and the etching using sulfuric acid-hydrogen peroxide, peeling was observed between the conductor circuit and the resin insulating layer during heating or under heat cycle conditions.
【0009】かかる問題を解決すべく、本出願人は、特
願平9−196351号明細書に示すように、導体回路
の表面を所定のエッチング液で処理して、粗化面を形成
し、この粗化面を除去することなく、バイアホール部を
設ける技術を開発した。In order to solve such a problem, the present applicant, as shown in Japanese Patent Application No. 9-196351, processes a surface of a conductor circuit with a predetermined etching solution to form a roughened surface. We have developed a technology to provide via holes without removing this roughened surface.
【0010】本発明は、かかる技術を更に改良して、導
体回路と樹脂絶縁層との密着性と、導体回路とバイアホ
ール導体との密着性とを、より一層向上させることを目
的とする。It is an object of the present invention to further improve such a technique to further improve the adhesion between the conductor circuit and the resin insulating layer and the adhesion between the conductor circuit and the via-hole conductor.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】本発明は、下層導体回路
と、前記下層導体回路上の層間樹脂絶縁層とを備えてい
る多層プリント配線板において、前記下層導体回路が、
第二銅錯体と有機酸とを含有するエッチング液によって
処理された粗化面を有しており、前記粗化面が、チタ
ン、アルミニウム、亜鉛、鉄、インジウム、タリウム、
コバルト、ニッケル、スズ、鉛、ビスマス及び貴金属か
らなる群より選ばれた少なくとも1種の金属からなる金
属層により被覆されており、前記層間樹脂絶縁層が前記
粗化面上に設けられてなる多層プリント配線板、及びか
かる多層プリント配線板の製造方法に係るものである。According to the present invention, there is provided a multilayer printed wiring board comprising a lower-layer conductor circuit and an interlayer resin insulating layer on the lower-layer conductor circuit, wherein the lower-layer conductor circuit comprises:
It has a roughened surface that has been treated with an etching solution containing a cupric complex and an organic acid, and the roughened surface is titanium, aluminum, zinc, iron, indium, thallium,
A multilayer comprising a metal layer made of at least one metal selected from the group consisting of cobalt, nickel, tin, lead, bismuth and a noble metal, wherein the interlayer resin insulating layer is provided on the roughened surface The present invention relates to a printed wiring board and a method for manufacturing such a multilayer printed wiring board.
【0012】また、本発明は、下層導体回路と、前記下
層導体回路上の層間樹脂絶縁層とを備えている多層プリ
ント配線板において、前記下層導体回路が粗化面を有し
ており、前記粗化面が複数の錨状部と窪み部と稜線とを
有し、前記錨状部と前記窪み部と前記稜線とが分散形成
されてなり、隣り合う前記錨状部が前記稜線によって繋
がってなるとともに、前記窪み部が、前記錨状部と前記
稜線とによって囲まれてなり、前記粗化面が、チタン、
アルミニウム、亜鉛、鉄、インジウム、タリウム、コバ
ルト、ニッケル、スズ、鉛、ビスマス及び貴金属からな
る群より選ばれた少なくとも1種の金属からなる金属層
により被覆されており、前記層間樹脂絶縁層が前記粗化
面上に設けられてなる多層プリント配線板に係るもので
ある。Further, the present invention provides a multilayer printed wiring board comprising a lower conductive circuit and an interlayer resin insulating layer on the lower conductive circuit, wherein the lower conductive circuit has a roughened surface. The roughened surface has a plurality of anchors, dents, and ridges, and the anchors, the dents, and the ridges are dispersedly formed, and the adjacent anchors are connected by the ridges. And the depression is surrounded by the anchor and the ridge, and the roughened surface is formed of titanium,
Aluminum, zinc, iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, bismuth and a metal layer made of at least one metal selected from the group consisting of noble metals, wherein the interlayer resin insulating layer is The present invention relates to a multilayer printed wiring board provided on a roughened surface.
【0013】本発明者は、加熱時やヒートサイクル条件
においても、導体回路と樹脂絶縁層との間や、下層導体
回路とバイアホール導体との間で剥離を発生させず、バ
イアホール部の接続信頼性がより一層高い多層プリント
配線板を得るため、特願平9−196351号明細書に
記載した技術を更に検討した。The inventor of the present invention has found that even during heating or heat cycle conditions, the peeling does not occur between the conductor circuit and the resin insulating layer or between the lower conductor circuit and the via hole conductor, and the connection of the via hole portion is prevented. In order to obtain a multilayer printed wiring board with even higher reliability, the technique described in Japanese Patent Application No. 9-196351 was further studied.
【0014】その結果、本発明者は、導体回路を第二銅
錯体及び有機酸からなるエッチング液によって処理して
粗化面を形成した後、この粗化面を、酸化し難い金属の
層で被覆して表面酸化を防止するか、酸化しても樹脂と
の密着性やバイアホール導体との密着性を損なわない金
属層で被覆することで、導体回路と樹脂絶縁層との密着
性や、導体回路とバイアホール導体との密着性が、著し
く向上することを突き止め、本発明を完成した。As a result, the inventor of the present invention provided a roughened surface by treating a conductive circuit with an etchant comprising a cupric complex and an organic acid, and then formed the roughened surface with a layer of a metal which is hardly oxidized. By coating to prevent surface oxidation, or by coating with a metal layer that does not impair the adhesion to the resin or the via hole conductor even if oxidized, the adhesion between the conductor circuit and the resin insulation layer, The inventors have found that the adhesion between the conductor circuit and the via-hole conductor is significantly improved, and have completed the present invention.
【0015】本発明では、所定のエッチング液によって
形成されるような、所定の粗面形状の粗化面が、導体回
路表面に形成されており、かかる粗化面は、チタン、ア
ルミニウム、亜鉛、鉄、インジウム、タリウム、コバル
ト、ニッケル、スズ、鉛、ビスマス及び貴金属からなる
群より選ばれた少なくとも1種の金属からなる金属層に
より被覆されている。In the present invention, a roughened surface having a predetermined rough surface shape, such as that formed by a predetermined etching solution, is formed on the surface of the conductor circuit, and the roughened surface is formed of titanium, aluminum, zinc, It is covered with a metal layer made of at least one metal selected from the group consisting of iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, bismuth, and noble metals.
【0016】かかる金属層は、銅等の導体回路の表面が
酸化されるのを防止し、導体回路上に酸化膜を形成させ
ないか、あるいは、金属自身が酸化しても、金属層と樹
脂、金属層とバイアホール導体との密着性を低下させな
い。Such a metal layer prevents the surface of the conductor circuit such as copper from being oxidized, and prevents the formation of an oxide film on the conductor circuit, or even if the metal itself oxidizes, the metal layer and the resin, Does not reduce the adhesion between the metal layer and the via-hole conductor.
【0017】本発明の多層プリント配線板では、かかる
金属層が、酸化膜の剥がれに起因する、粗化面と層間樹
脂絶縁層との間の密着強度の低下や、粗化面とバイアホ
ール導体との間の密着強度の低下を防止することができ
る。In the multilayer printed wiring board according to the present invention, such a metal layer may cause the adhesion strength between the roughened surface and the interlayer resin insulating layer to decrease due to the peeling of the oxide film, or the roughened surface and the via-hole conductor. Can be prevented from lowering the adhesion strength.
【0018】[0018]
【発明の実施の形態】図面を参照して、本発明を詳細に
説明する。本発明にかかるエッチング液により下層導体
回路を処理すると、その表面は、針状合金めっきとは異
なり、図1〜8に示すような錨状部を有する粗化面とな
る。図1は、本発明にかかる一例の粗化面の図面代用写
真である。この写真は、電子顕微鏡下において、粗化面
を斜めから撮影したものである。図2は、本発明にかか
る他の例の粗化面の図面代用写真である。この写真も、
図1の写真と同様に撮影したものであるが、倍率を高め
たものである。図3は、本発明にかかる更に他の例の粗
化面の図面代用写真である。この写真は、図2の写真と
同様の倍率で、粗化面を電子顕微鏡下に真上から撮影し
たものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in detail with reference to the drawings. When the lower conductor circuit is treated with the etching solution according to the present invention, the surface thereof becomes a roughened surface having an anchor portion as shown in FIGS. FIG. 1 is a drawing substitute photograph of a roughened surface according to an example of the present invention. In this photograph, the roughened surface is photographed obliquely under an electron microscope. FIG. 2 is a drawing substitute photograph of a roughened surface of another example according to the present invention. This photo also
It was taken in the same manner as the photograph of FIG. 1, but with a higher magnification. FIG. 3 is a drawing substitute photograph of a roughened surface of still another example according to the present invention. This photograph was taken at the same magnification as the photograph in FIG. 2 and the roughened surface was photographed from directly above under an electron microscope.
【0019】本発明の多層プリント配線板では、この電
子顕微鏡写真が示すような粗化面に金属層が被覆されて
おり、この金属層を介して、導体回路と樹脂絶縁層、又
は下層導体回路とバイアホール導体とが接続されてい
る。In the multilayer printed wiring board of the present invention, the metal layer is coated on the roughened surface as shown in the electron micrograph, and the conductor circuit and the resin insulation layer or the lower conductor circuit are interposed via the metal layer. And the via-hole conductor are connected.
【0020】図4〜8は、かかる粗化面の摸式図であ
る。図4は、平面図、図5は、図4のA−A線で切断し
た縦断面図、図6は、錨状部と窪み部との間で切断した
縦断面図、図7は、錨状部の間の稜線を示す縦断面図、
図8は、稜線と窪み部との間で切断した縦断面図であ
る。FIGS. 4 to 8 are schematic diagrams of such a roughened surface. 4 is a plan view, FIG. 5 is a vertical cross-sectional view taken along line AA of FIG. 4, FIG. 6 is a vertical cross-sectional view cut between an anchor-shaped portion and a concave portion, and FIG. Longitudinal sectional view showing a ridge line between the shaped parts,
FIG. 8 is a longitudinal sectional view cut between a ridge line and a depression.
【0021】図4及び5に示すように、本発明にかかる
粗化面は、複数の錨状部1と複数の窪み部2と複数の稜
線3とを有しており、錨状部1と窪み部2と稜線3とが
分散しており、金属層4によって被覆されている。錨状
部1とその隣りの錨状部1との間には、図6に示すよう
な窪み部2が形成されている。また、錨状部1とその隣
りの錨状部1とは、図7に示すように、稜線3によって
互いに繋がっている。窪み部2は、図6と図8に示すよ
うに、錨状部1と稜線3とによって囲まれている。As shown in FIGS. 4 and 5, the roughened surface according to the present invention has a plurality of anchors 1, a plurality of depressions 2, and a plurality of ridges 3. The depression 2 and the ridge 3 are dispersed and covered with the metal layer 4. A recess 2 is formed between the anchor 1 and the adjacent anchor 1 as shown in FIG. In addition, the anchor-shaped portion 1 and the adjacent anchor-shaped portion 1 are connected to each other by a ridge line 3 as shown in FIG. The depression 2 is surrounded by the anchor 1 and the ridge 3 as shown in FIGS. 6 and 8.
【0022】図4〜8に示すような金属層は、酸化し難
い金属や、金属自身が酸化しても樹脂との密着性やバイ
アホール導体との密着性を損なわない金属からなる。か
かる金属層は、粗化面上における酸化膜の形成を防止
し、金属自身が酸化しても樹脂やバイアホール導体との
密着性が損なわれない。かかる金属層は、酸化膜の剥が
れに起因する、粗化面と樹脂絶縁層との間の密着強度の
低下や、粗化面とバイアホール導体との間の密着強度の
低下を防止することができる。The metal layer as shown in FIGS. 4 to 8 is made of a metal which is hardly oxidized or a metal which does not impair the adhesion to the resin or the adhesion to the via-hole conductor even if the metal itself is oxidized. Such a metal layer prevents the formation of an oxide film on the roughened surface, and does not impair the adhesion to the resin or via-hole conductor even if the metal itself is oxidized. Such a metal layer can prevent a decrease in adhesion strength between the roughened surface and the resin insulating layer and a decrease in adhesion strength between the roughened surface and the via-hole conductor due to peeling of the oxide film. it can.
【0023】また、かかる金属層は、粗化面を構成する
金属の硬度も高くすることができるため、粗化面におけ
る金属破壊が起きず、粗化面と樹脂絶縁層、粗化面とバ
イアホール導体との間の剥離がより一層防止される。In addition, since the hardness of the metal constituting the roughened surface can be increased in the metal layer, the metal is not broken on the roughened surface, and the roughened surface and the resin insulating layer, and the roughened surface and the via are not damaged. Separation from the hole conductor is further prevented.
【0024】本発明の多層プリント配線板は、かかる金
属層を有し、粗化面上に酸化層が形成され難く、酸化層
が形成されても、樹脂やバイアホール導体との密着性が
保たれ、加熱によっても、粗化面と樹脂絶縁層との間や
粗化面とバイアホール導体との間が剥離することはな
い。The multilayer printed wiring board of the present invention has such a metal layer, it is difficult to form an oxide layer on the roughened surface, and even if the oxide layer is formed, the adhesion to the resin or the via-hole conductor is maintained. Even when the heat is applied, the roughened surface and the resin insulating layer do not separate from each other, or the roughened surface and the via-hole conductor do not peel off.
【0025】かかる金属層は、チタン、アルミニウム、
亜鉛、鉄、インジウム、タリウム、コバルト、ニッケ
ル、スズ、鉛、ビスマス及び貴金属からなる群より選ば
れた少なくとも1種の金属からなる。かかる金属は、比
較的酸化し難く、あるいは金属自身が酸化しても、金属
層と樹脂との密着性を低下させない。また、かかる金属
は、樹脂との密着性にも優れている。更に、かかる金属
は、イオン化傾向が銅より大きくかつチタン以下である
金属又は貴金属であり、これらの金属又は貴金属の層
で、粗化面を被覆すれば、樹脂絶縁層を粗化する際の局
部電極反応による導体回路の溶解を防止することができ
る。The metal layer is made of titanium, aluminum,
It is made of at least one metal selected from the group consisting of zinc, iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, bismuth, and noble metals. Such a metal is relatively hard to oxidize, or does not reduce the adhesion between the metal layer and the resin even if the metal itself is oxidized. Further, such a metal is also excellent in adhesion to a resin. Further, such a metal is a metal or a noble metal whose ionization tendency is larger than copper and is equal to or less than titanium, and if a roughened surface is coated with a layer of such a metal or a noble metal, a local part when the resin insulating layer is roughened. Dissolution of the conductor circuit due to the electrode reaction can be prevented.
【0026】比較的酸化し難い金属としては、ニッケ
ル、スズ、コバルト、貴金属等の非酸化性金属等が挙げ
られる。貴金属としては、金、銀、白金、パラジウムか
ら選ばれる少なくとも1種が望ましい。金属自身が酸化
しても、金属層と樹脂との密着性を低下させないような
金属としては、チタン、アルミニウム、亜鉛、鉄、イン
ジウム、タリウム、鉛、ビスマス等の金属を挙げること
ができる。Examples of metals that are relatively difficult to oxidize include non-oxidizable metals such as nickel, tin, cobalt, and noble metals. As the noble metal, at least one selected from gold, silver, platinum, and palladium is desirable. Examples of the metal that does not decrease the adhesion between the metal layer and the resin even when the metal itself is oxidized include metals such as titanium, aluminum, zinc, iron, indium, thallium, lead, and bismuth.
【0027】これらの金属のうち、チタン、アルミニウ
ム、亜鉛、鉄、インジウム、タリウム、コバルト、ニッ
ケル、スズ、鉛、ビスマス又は貴金属を選択した場合、
多層プリント配線板にバイアホールを形成する際、バイ
アホール周囲にも酸化膜が形成されない。このため、か
かる金属からなる金属層を用いた場合、ハロー現象(ピ
ンクリング)も防止することができる。When titanium, aluminum, zinc, iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, bismuth or a noble metal is selected from these metals,
When a via hole is formed in a multilayer printed wiring board, no oxide film is formed around the via hole. Therefore, when a metal layer made of such a metal is used, a halo phenomenon (pink ring) can also be prevented.
【0028】かかる金属層の厚さは、0.01〜5μm
が望ましい。粗化面の凹凸の形状を維持しながら、銅導
体回路の酸化を防止できるからである。The thickness of the metal layer is 0.01 to 5 μm
Is desirable. This is because it is possible to prevent oxidation of the copper conductor circuit while maintaining the shape of the irregularities on the roughened surface.
【0029】なお、本発明にかかる粗化面は、導体回路
とバイアホール導体との密着性を著しく高める。かかる
粗化面は、めっきで形成したような、成長した針状突起
同士が重なった空間を形成していないからである。The roughened surface according to the present invention significantly enhances the adhesion between the conductor circuit and the via-hole conductor. This is because such a roughened surface does not form a space in which the grown needle-like projections overlap each other, as formed by plating.
【0030】図29は、めっきにより形成された、従来
の針状合金からなる粗化層の図面代用写真を示す。この
電子顕微鏡写真に示す粗化層では、針状合金同士が重な
り、針状合金間に空間が形成されている。かかるCu−
Ni−Pからなる針状合金構造は、針状突起同士が密集
しているため、突起と突起の間が狭く、現像液や樹脂残
りを除去する酸化剤溶液が流れず、樹脂が突起間に残存
して樹脂残りの原因となる。FIG. 29 is a drawing substitute photograph of a roughened layer made of a conventional needle-shaped alloy formed by plating. In the roughened layer shown in the electron micrograph, the acicular alloys overlap each other, and a space is formed between the acicular alloys. Such Cu-
In the needle-like alloy structure made of Ni-P, since the needle-like protrusions are densely packed, the space between the protrusions is narrow, so that the developing solution or the oxidizing agent solution for removing the residual resin does not flow, and the resin is moved between the protrusions. It remains and causes resin residue.
【0031】一方、本発明にかかる粗面形状は、最も高
い部分に錨状部を有し、この錨状部の周囲の最も低い部
分に窪み部が形成されており、錨状部とその隣りの錨状
部とは、これらの錨状部よりも低く、窪み部よりも高い
稜線によって繋がっており、複雑な凹凸形状を呈する。
かかる複雑な凹凸形状の粗化面は、めっき液との親和性
に優れ、めっきが粗化面の窪み部に浸入して、粗化面の
錨状部につきまわるため、錨状部がバイアホール導体に
食い込み、導体回路とバイアホール導体との密着性を低
下させない。また、かかる粗化面の錨状部は、樹脂絶縁
層に食い込み、導体回路と樹脂絶縁層とをより一層密着
させる。On the other hand, the rough surface shape according to the present invention has an anchor-shaped portion at the highest portion, and a recessed portion is formed at the lowest portion around the anchor-shaped portion. Are connected to each other by a ridgeline lower than the anchor-shaped portions and higher than the recessed portions, and have a complicated uneven shape.
The roughened surface having such a complicated uneven shape has an excellent affinity with the plating solution, and the plating penetrates into the recessed portion of the roughened surface and follows the anchor-shaped portion of the roughened surface. It does not bite into the conductor and does not reduce the adhesion between the conductor circuit and the via-hole conductor. In addition, the anchor-shaped portion of the roughened surface cuts into the resin insulating layer, and makes the conductor circuit and the resin insulating layer more closely adhere.
【0032】また、かかる粗化面では、各錨状部は密集
していない。また、各錨状部を連結する稜線は、樹脂の
流れを妨げないような形状を有している。このため、か
かる粗化面では、窪み部間や錨状部間を、現像液や樹脂
残りを除去する酸化剤溶液が流れ易く、樹脂が溜まり難
い。このため、本発明にかかる粗化面は、現像処理後の
樹脂残りがなく、バイアホール導体との密着性に優れて
いる。In addition, on such a roughened surface, the anchor portions are not dense. The ridge connecting the anchor portions has a shape that does not obstruct the flow of the resin. For this reason, on the roughened surface, the developer or the oxidizing agent solution for removing the resin residue easily flows between the recessed portions and the anchor-shaped portions, and the resin does not easily accumulate. For this reason, the roughened surface according to the present invention has no resin residue after the development processing and has excellent adhesion to the via-hole conductor.
【0033】このように、本発明にかかる粗化面は、導
体回路と樹脂絶縁層との密着性や、下層導体回路とバイ
アホール導体との密着性を維持しつつ、現像処理後の樹
脂残りを防止するのに最適な形状を有する。As described above, the roughened surface according to the present invention can maintain the adhesion between the conductor circuit and the resin insulating layer and the adhesion between the lower conductor circuit and the via-hole conductor while maintaining the resin residue after the development processing. It has an optimal shape to prevent
【0034】本発明にかかる粗化面は、例えば第二銅錯
体と有機酸とを含有するエッチング液によって、導体回
路表面の金属結晶粒子を除去することで形成することが
できる。かかる粗化面では、金属結晶粒子が大きくエッ
チングされた部分で、窪み部(凹部)が形成される。か
かる窪み部は、金属結晶粒子に由来する略多面体形の物
質が抉り取られたような形状で形成することができる。
本発明では、略多面体形とは、三面体、四面体、五面
体、六面体等の多面体やこれらの多面体を二種以上組み
合わせた多面体の形状をいう。かかる窪み部は、現像処
理後の樹脂残りを防止することができる。The roughened surface according to the present invention can be formed, for example, by removing metal crystal particles on the surface of a conductor circuit with an etching solution containing a cupric complex and an organic acid. On such a roughened surface, a depression (recess) is formed in a portion where the metal crystal particles are largely etched. Such a depression can be formed in a shape as if a substantially polyhedral substance derived from the metal crystal particles is cut off.
In the present invention, the substantially polyhedral shape refers to a polyhedron such as a trihedron, a tetrahedron, a pentahedron, a hexahedron, or a polyhedron obtained by combining two or more of these polyhedrons. Such depressions can prevent resin residue after the development processing.
【0035】また、かかる粗化面の錨状部は、この錨状
部の周囲の金属結晶粒子を除去することで形成すること
ができる。このようにして形成した錨状部は、角張った
凸部から構成され、窪み部に囲まれており、互いに重な
り合うことがない。かかる複雑な凹凸形状を有する粗化
面は、樹脂やバイアホール導体との密着性を維持しつ
つ、現像処理後の樹脂残りを防止することができる。Further, the anchor portion of the roughened surface can be formed by removing metal crystal particles around the anchor portion. The anchor-shaped portion formed in this manner is constituted by a square convex portion, is surrounded by the concave portion, and does not overlap with each other. The roughened surface having such a complicated uneven shape can prevent the resin residue after the development processing while maintaining the adhesion to the resin and the via-hole conductor.
【0036】更に、かかる粗化面には、隣り合う金属結
晶粒子のエッチングによって稜線を形成することができ
る。この稜線は、錨状部とその隣りの錨状部とを、錨状
部の高さよりも低い位置で連結する。この稜線は、3つ
以上の隣り合う金属結晶粒子を脱落させることで、枝分
かれした状態で形成される。また、この稜線は、隣り合
う金属結晶粒子が略多面体形状となってエッチングされ
ることで、尖った状態で形成することができる。かかる
稜線は、錨状部を各々分散させ、錨状部が窪み部と稜線
とによって囲まれるようにして形成することができる。
かかる粗化面は、より一層複雑な凹凸形状を有し、樹脂
やバイアホール導体との接触面を拡げ、より密着性を向
上させることができると同時に、樹脂残りを防止するこ
とができる。Further, a ridge line can be formed on the roughened surface by etching adjacent metal crystal particles. This ridge connects the anchor-shaped part and the adjacent anchor-shaped part at a position lower than the height of the anchor-shaped part. The ridge is formed in a branched state by dropping three or more adjacent metal crystal particles. In addition, the ridge line can be formed in a sharp state by etching the adjacent metal crystal particles in a substantially polyhedral shape. Such ridges can be formed such that the anchors are dispersed and the anchors are surrounded by the depressions and the ridges.
Such a roughened surface has a more complicated uneven shape, and a contact surface with the resin or via-hole conductor can be expanded to improve the adhesion and prevent the resin from remaining.
【0037】かかる粗化面は、0.1〜10μmの最大
粗度(Rmax)を有するのが好ましい。0.1μm未
満では、樹脂絶縁層との密着性やバイアホール導体との
密着性が著しく低下し、10μmを超えると、現像処理
後に樹脂残りが発生し、断線等の問題が発生し易くな
る。The roughened surface preferably has a maximum roughness (Rmax) of 0.1 to 10 μm. If it is less than 0.1 μm, the adhesion to the resin insulating layer and the adhesion to the via-hole conductor will be significantly reduced, and if it exceeds 10 μm, resin residue will be generated after the development processing, and problems such as disconnection will easily occur.
【0038】また、かかる粗化面は、25μm2 当り、
平均2〜100個の錨状部と、平均2〜100個の窪み
部とを有しているのが好ましい。25μm2 当り、平均
2〜100個の錨状部は、粗化面と樹脂絶縁層との密着
性や、粗化面とバイアホール導体との密着性を維持しつ
つ、現像処理後の樹脂残りを防止でき、25μm2 当
り、平均2〜100個の窪み部は、錨状部の密集を防止
して、現像処理後の樹脂残りの発生を抑止し、かつ、粗
化面と樹脂絶縁層との密着性や、粗化面とバイアホール
導体との密着性を維持できる。Further, such a roughened surface per 25 μm 2
It is preferable to have an average of 2 to 100 anchors and an average of 2 to 100 depressions. An average of 2 to 100 anchor-shaped portions per 25 μm 2 is used to maintain the adhesion between the roughened surface and the resin insulating layer and the adhesiveness between the roughened surface and the via-hole conductor while maintaining the resin residue after the development processing. Can be prevented, an average of 2 to 100 depressions per 25 μm 2 can prevent the anchor-shaped portions from being densely packed, suppress the generation of resin residue after the development processing, and form a roughened surface and a resin insulating layer. And the adhesion between the roughened surface and the via-hole conductor can be maintained.
【0039】本発明にかかる稜線は、25μm2 当り、
平均3〜3000本形成されるのが望ましい。この範囲
の数の稜線は、粗化面の形状を複雑にし、樹脂絶縁層や
バイアホール導体との接触面を拡げ、これら樹脂絶縁層
等との密着性を向上させることができると同時に、樹脂
残りを除去し易いからである。The ridge according to the present invention, 25μm 2 per,
It is desirable to form an average of 3 to 3000 lines. The number of ridge lines in this range complicates the shape of the roughened surface, expands the contact surface with the resin insulating layer and the via-hole conductor, and can improve the adhesion with the resin insulating layer and the like, and at the same time, the resin This is because the remainder is easily removed.
【0040】なお、錨状部、窪み部及び稜線の数は、図
2及び3に示すような5000倍の電子顕微鏡写真を用
い、粗化面をその真上及び斜め上方45°から撮影し、
25μm2 の領域を任意に選んで測定し、その平均値を
採用した。The number of anchors, depressions, and ridges was determined by using a 5000 × electron microscope photograph as shown in FIGS. 2 and 3 and photographing the roughened surface from directly above and obliquely above 45 °.
A region of 25 μm 2 was arbitrarily selected and measured, and the average value was adopted.
【0041】本発明にかかる粗化面は、第二銅錯体と有
機酸とを含有するエッチング液を用いることによって、
形成することができる。かかるエッチング液は、スプレ
イやバブリング等の酸素共存条件下で、次のように作用
させて、導体回路を形成する銅導体を溶解させることが
できる。The roughened surface according to the present invention can be formed by using an etching solution containing a cupric complex and an organic acid.
Can be formed. Such an etchant can be used as follows to dissolve the copper conductor forming the conductor circuit under the condition of coexistence of oxygen such as spraying and bubbling.
【0042】[0042]
【化1】 〔式中、Aは錯化剤(キレート剤として作用)、nは配
位数を示す。〕Embedded image [In the formula, A represents a complexing agent (acting as a chelating agent), and n represents a coordination number. ]
【0043】〔化1〕に示すように、発生した第一銅錯
体は、酸の作用で溶解し、酸素と結合して第二銅錯体と
なって、再び銅の酸化に寄与する。As shown in Chemical Formula 1, the generated cuprous complex dissolves under the action of an acid and combines with oxygen to form a cupric complex, which again contributes to copper oxidation.
【0044】本発明で用いる第二銅錯体は、アゾール類
の第二銅錯体がよい。この種の第二銅錯体は、金属銅等
を酸化する酸化剤として作用する。アゾール類として
は、ジアゾール、トリアゾールやテトラゾールがよい。
中でも、イミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−
エチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾ
ール、2−フェニルイミダゾール、2−ウンデシルイミ
ダゾール等がよい。アゾール類の第二銅錯体の添加量
は、1〜15重量%がよい。溶解性及び安定性に優れる
からである。The cupric complex used in the present invention is preferably an azole cupric complex. This type of cupric complex acts as an oxidizing agent for oxidizing metallic copper and the like. As the azoles, diazole, triazole and tetrazole are preferable.
Among them, imidazole, 2-methylimidazole, 2-
Ethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-undecylimidazole and the like are preferred. The addition amount of the cupric complex of azoles is preferably 1 to 15% by weight. This is because they are excellent in solubility and stability.
【0045】有機酸は、酸化銅を溶解させるために、第
二銅錯体に配合される。アゾール類の第二銅錯体を用い
る場合には、有機酸は、特に限定されず、種々の酸を用
いることができる。かかる有機酸としては、ギ酸、酢
酸、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、カプロン酸、アクリ
ル酸、クロトン酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グ
ルタル酸、マレイン酸、安息香酸、グリコール酸、乳
酸、リンゴ酸、スルファミン酸等からなる群より選ばれ
る少なくとも1種がよい。有機酸の含有量は、0.1〜
30重量%がよい。酸化された銅の溶解性を維持し、か
つ溶解安定性を確保するためである。An organic acid is added to the cupric complex to dissolve copper oxide. When a cupric complex of an azole is used, the organic acid is not particularly limited, and various acids can be used. Such organic acids include formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, caproic acid, acrylic acid, crotonic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid, maleic acid, benzoic acid, glycolic acid, lactic acid, At least one selected from the group consisting of malic acid, sulfamic acid and the like is preferred. The content of the organic acid is 0.1 to
30% by weight is good. This is for maintaining the solubility of the oxidized copper and ensuring the solubility stability.
【0046】本発明にかかるエッチング液には、銅の溶
解やアゾール類の酸化作用を補助するために、フッ素イ
オン、塩素イオン、臭素イオン等のハロゲンイオンを加
えることができる。ハロゲンイオンの供給には、塩酸、
塩化ナトリウム等を用いることができ、これらをエッチ
ング液に添加するのがよい。ハロゲンイオンの量は、
0.01〜20重量%がよい。形成された粗化面と樹脂
絶縁層との密着性に優れるからである。To the etching solution according to the present invention, halogen ions such as fluorine ions, chlorine ions and bromine ions can be added to assist in dissolving copper and oxidizing azoles. Hydrochloric acid,
Sodium chloride or the like can be used, and these are preferably added to the etching solution. The amount of halogen ions is
The content is preferably 0.01 to 20% by weight. This is because adhesion between the formed roughened surface and the resin insulating layer is excellent.
【0047】本発明にかかるエッチング液は、アゾール
類の第二銅錯体と有機酸(必要に応じてハロゲンイオ
ン)とを、水に溶解して調製することができる。また、
市販のエッチング液、例えば、メック社製、商品名「メ
ック エッチボンド」を使用することができる。The etching solution according to the present invention can be prepared by dissolving a cupric complex of an azole and an organic acid (halogen ion if necessary) in water. Also,
A commercially available etching solution, for example, a product name of “Mech Etch Bond” manufactured by Mec Co., Ltd. can be used.
【0048】かかるエッチング液によるエッチング量
は、1〜10μmがよい。エッチング処理量が多すぎて
も少なすぎても、導体回路とバイアホール導体との接続
不良を起こすからである。The etching amount by the etching solution is preferably 1 to 10 μm. This is because if the etching amount is too large or too small, a connection failure between the conductor circuit and the via-hole conductor occurs.
【0049】本発明では、樹脂絶縁層を、無電解めっき
用接着剤を用いて形成することができる。かかる無電解
めっき用接着剤は、熱硬化性樹脂を基剤とし、特に硬化
処理された耐熱性樹脂粒子、酸や酸化剤に溶解する耐熱
性樹脂粒子、無機粒子や繊維質フィラー等を、必要によ
り含ませることができる。かかる樹脂絶縁層が下層導体
回路と上層導体回路との間に設けられる場合、層間樹脂
絶縁層となる。In the present invention, the resin insulating layer can be formed using an electroless plating adhesive. Such an adhesive for electroless plating is based on a thermosetting resin, and particularly requires heat-resistant resin particles cured, heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent, inorganic particles and a fibrous filler. Can be included. When such a resin insulation layer is provided between the lower conductor circuit and the upper conductor circuit, it becomes an interlayer resin insulation layer.
【0050】熱硬化性樹脂基剤としては、エポキシ樹
脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂等を用いることが
できる。なお、熱硬化基の一部を感光化する場合は、熱
硬化基の一部をメタクリル酸やアクリル酸等と反応させ
てアクリル化させたものが好ましい。中でも、エポキシ
樹脂のアクリレートが最適である。かかるエポキシ樹脂
としては、ノボラック型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ
樹脂等を用いることができる。また、かかる熱硬化性樹
脂基剤には、ポリエーテルスルフォンやポリスルフォ
ン、ポリフェニレンスルフォン、ポリフェニレンサルフ
ァイド、ポリフェニルエーテル、ポリエーテルイミド等
の熱可塑性樹脂を添加することができる。As the thermosetting resin base, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin and the like can be used. When a part of the thermosetting group is sensitized, it is preferable that a part of the thermosetting group is acrylated by reacting with methacrylic acid or acrylic acid. Among them, acrylates of epoxy resins are most suitable. As such an epoxy resin, a novolak type epoxy resin, an alicyclic epoxy resin, or the like can be used. In addition, a thermoplastic resin such as polyether sulfone, polysulfone, polyphenylene sulfone, polyphenylene sulfide, polyphenyl ether, and polyether imide can be added to the thermosetting resin base.
【0051】耐熱性樹脂粒子としては、(1) 平均粒径が
10μm以下の耐熱性樹脂粉末、(2)平均粒径が2μm以
下の耐熱性樹脂粉末を凝集させた凝集粒子、(3) 平均粒
径が2〜10μmの耐熱性樹脂粉末と平均粒径が2μm未
満の耐熱性樹脂粉末との混合物、(4) 平均粒径が2〜10
μmの耐熱性樹脂粉末の表面に、平均粒径が2μm以下
の耐熱性樹脂粉末及び無機粉末の少なくとも1種を付着
させた疑似粒子、(5)平均粒子径が0.8 を超え2.0 μm
未満の耐熱性樹脂粉末と、平均粒子径が0.1 〜0.8 μm
の耐熱性樹脂粉末との混合物及び(6)平均粒径が0.1〜1.
0μmの耐熱性樹脂粉末からなる群より選ばれる少なくと
も1種の粒子を用いるのが望ましい。これらの粒子は、
より複雑なアンカーを形成するからである。これらの粒
子により得られる粗化面は、0.1〜20μmの最大粗
度(Rmax)を有することができる。As the heat resistant resin particles, (1) the average particle size is
10 μm or less heat-resistant resin powder, (2) agglomerated particles obtained by aggregating heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 μm or less, (3) heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 to 10 μm and an average particle size of 2 μm Mixture with less than heat resistant resin powder, (4) average particle size is 2-10
pseudo particles obtained by adhering at least one of a heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 μm or less and an inorganic powder to the surface of a heat-resistant resin powder having a particle size of 2 μm or less;
Heat-resistant resin powder of less than 0.1-0.8 μm
And (6) the average particle size is 0.1 to 1.
It is desirable to use at least one kind of particles selected from the group consisting of heat-resistant resin powder of 0 μm. These particles are
This is because a more complicated anchor is formed. The roughened surface obtained by these particles can have a maximum roughness (Rmax) of 0.1 to 20 μm.
【0052】酸や酸化剤に溶解する耐熱性樹脂粒子とし
ては、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グアナミ
ン樹脂等)、エポキシ樹脂(ビスフェノール型エポキシ
樹脂をアミン系硬化剤で硬化させたものが最適)、ビス
マレイミド−トリアジン樹脂等からなる耐熱性樹脂粒子
を用いることができる。かかる耐熱性樹脂粒子の混合比
は、耐熱性樹脂からなるマトリックスの固形物の5〜50
重量%、望ましくは10〜40重量%がよい。As the heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent, amino resin (melamine resin, urea resin, guanamine resin, etc.) and epoxy resin (bisphenol epoxy resin cured with an amine curing agent) are most suitable. ), Heat-resistant resin particles composed of a bismaleimide-triazine resin or the like can be used. The mixing ratio of the heat-resistant resin particles is 5 to 50 of the solid of the matrix made of the heat-resistant resin.
% By weight, preferably 10 to 40% by weight.
【0053】かかる樹脂絶縁層は、複数層にしてもよ
い。例えば、下層を無機粒子や繊維質フィラーと樹脂基
剤とからなる補強層とし、上層を無電解めっき用接着剤
層とすることができる。また、平均粒径0.1 〜2.0 μm
の酸や酸化剤に溶解する耐熱性樹脂粒子を酸や酸化剤に
難溶性の耐熱性樹脂中に分散させて下層とし、無電解め
っき用接着剤層を上層としてもよい。The resin insulating layer may have a plurality of layers. For example, the lower layer can be a reinforcing layer composed of inorganic particles or fibrous filler and a resin base, and the upper layer can be an adhesive layer for electroless plating. In addition, the average particle size is 0.1 to 2.0 μm
The lower layer may be formed by dispersing heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent in a heat-resistant resin that is hardly soluble in an acid or an oxidizing agent, and the adhesive layer for electroless plating may be an upper layer.
【0054】無機粒子としては、シリカ、アルミナ、タ
ルク等を使用できる。繊維質フィラーとしては、炭酸カ
ルシウムのウイスカー、ホウ酸アルミニウムのウイスカ
ー、アラミド繊維、炭素繊維等の少なくとも1種を使用
できる。As the inorganic particles, silica, alumina, talc and the like can be used. As the fibrous filler, at least one of calcium carbonate whisker, aluminum borate whisker, aramid fiber, carbon fiber and the like can be used.
【0055】次に、本発明のプリント配線板を製造する
一方法について説明する。以下の方法は、主としてセミ
アディティブ法によるものであるが、フルアディティブ
法を採用してもよい。Next, one method of manufacturing the printed wiring board of the present invention will be described. The following method is mainly based on the semi-additive method, but may use a full-additive method.
【0056】(1) まず、基板の表面に導体回路を形成し
た配線基板を作製する。基板としては、ガラスエポキシ
基板、ポリイミド基板、ビスマレイミド−トリアジン樹
脂基板等の樹脂絶縁基板、セラミック基板、金属基板等
を用いることができる。(1) First, a wiring board having a conductor circuit formed on the surface of the board is manufactured. As the substrate, a resin insulating substrate such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a bismaleimide-triazine resin substrate, a ceramic substrate, a metal substrate, or the like can be used.
【0057】基板上への導体回路の形成は、銅張積層板
を無電解めっき又は電解めっきした後にエッチングする
方法や、ガラスエポキシ基板、ポリイミド基板、セラミ
ック基板、金属基板等の基板上に無電解めっき用接着剤
層を形成し、この接着剤層表面を粗化して粗化面を形成
し、この粗化面を無電解めっきする方法、又はいわゆる
セミアディティブ法(その粗化面全体に薄付けの無電解
めっきを施し、めっきレジストを形成し、めっきレジス
ト非形成部に厚付けの電解めっきを施した後、めっきレ
ジストを除去し、エッチング処理して、電解めっき膜と
無電解めっき膜とからなる導体回路を形成する方法)に
より行うことができる。導体回路は、いずれも銅パター
ンがよい。The conductive circuit is formed on the substrate by a method of etching a copper-clad laminate after electroless plating or electrolytic plating, or by forming an electroless circuit on a substrate such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a ceramic substrate, or a metal substrate. A method of forming an adhesive layer for plating, roughening the surface of the adhesive layer to form a roughened surface, and electroless plating the roughened surface, or a so-called semi-additive method (thinning the entire roughened surface). After applying electroless plating, forming a plating resist, applying a thick electrolytic plating to the plating resist non-formed portion, removing the plating resist, etching, and removing from the electrolytic plating film and the electroless plating film (A method of forming a conductive circuit). The conductor circuit preferably has a copper pattern.
【0058】かかる導体回路には、第二銅錯体と有機酸
とを含有するエッチング液を用い、粗化面を形成するこ
とができる。第二銅錯体としては、前述したようなアゾ
ール類の第二銅錯体を用いるのが好ましい。粗化面の形
成には、かかるエッチング液を導体回路表面にスプレイ
するか、かかるエッチング液に導体回路を浸漬し、バブ
リングする方法を用いることができる。なお、導体回路
は、無電解めっき膜又は電解めっき膜が望ましい。圧延
銅箔をエッチングした導体回路では、粗化面が形成され
難いからである。For such a conductor circuit, a roughened surface can be formed by using an etching solution containing a cupric complex and an organic acid. As the cupric complex, it is preferable to use a cupric complex of an azole as described above. For forming the roughened surface, a method of spraying the etching liquid on the surface of the conductor circuit or dipping the conductor circuit in the etching liquid and bubbling can be used. Note that the conductor circuit is preferably an electroless plating film or an electrolytic plating film. This is because a roughened surface is not easily formed in a conductor circuit obtained by etching a rolled copper foil.
【0059】本発明では、このようにして形成した粗化
面を、非酸化性金属、又は金属自身が酸化しても金属層
と樹脂との密着性や金属層とバイアホール導体との密着
性を低下させないような金属からなる金属層によって被
覆する。かかる金属層は、粗化面の表面に酸化膜を形成
させないか、あるいは、酸化膜が形成されても、金属層
と樹脂絶縁層との密着性、金属層とバイアホール導体と
の密着性を低下させないため、粗化面と樹脂絶縁層との
密着性や粗化面とバイアホール導体との密着性を改善す
ることができる。In the present invention, the roughened surface formed as described above is used to improve the adhesion between the metal layer and the resin or the adhesion between the metal layer and the via-hole conductor even if the non-oxidizing metal or the metal itself is oxidized. With a metal layer made of a metal that does not lower the Such a metal layer does not allow an oxide film to be formed on the surface of the roughened surface, or even if an oxide film is formed, the adhesion between the metal layer and the resin insulating layer and the adhesion between the metal layer and the via-hole conductor are improved. Since it does not lower, the adhesion between the roughened surface and the resin insulating layer and the adhesion between the roughened surface and the via-hole conductor can be improved.
【0060】かかる金属には、チタン、アルミニウム、
亜鉛、鉄、インジウム、タリウム、コバルト、ニッケ
ル、スズ、鉛、ビスマス及び貴金属からなる群より選ば
れた少なくとも1種の金属を用いることができる。貴金
属には、金、銀、白金、パラジウムが用いられる。Such metals include titanium, aluminum,
At least one metal selected from the group consisting of zinc, iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, bismuth, and noble metals can be used. Gold, silver, platinum, and palladium are used as the noble metal.
【0061】本発明では、種々の方法を用いて、これら
の金属からなる金属層を、粗化面上に形成することがで
きる。この際、金属層を粗化面に追従するように形成
し、粗化面と金属層とを密着させるのが望ましい。粗化
面と金属層とを密着させることで、粗化面の酸化を効率
的に防止するこができ、金属膜の剥がれに起因する導体
回路と層間絶縁樹脂層との剥離や、導体回路とバイアホ
ール導体との剥離を防止することができる。In the present invention, a metal layer made of these metals can be formed on the roughened surface by using various methods. At this time, it is preferable that the metal layer is formed so as to follow the roughened surface, and the roughened surface and the metal layer are brought into close contact. By making the roughened surface and the metal layer adhere to each other, oxidation of the roughened surface can be effectively prevented, and the peeling of the conductor circuit from the interlayer insulating resin layer due to the peeling of the metal film and the peeling of the conductor circuit. Separation from the via-hole conductor can be prevented.
【0062】ニッケル、スズ、コバルト、貴金属等の非
酸化性金属からなる金属層を形成するには、置換めっ
き、無電解めっき、電解めっき、スパッタ、真空蒸着等
を用いることができる。貴金属の場合は、スパッタや蒸
着等の方法を採用することができる。In order to form a metal layer made of a non-oxidizing metal such as nickel, tin, cobalt, and a noble metal, displacement plating, electroless plating, electrolytic plating, sputtering, vacuum deposition and the like can be used. In the case of a noble metal, a method such as sputtering or vapor deposition can be employed.
【0063】特に、スズを用いる場合には、銅との置換
めっきが望ましい。スズは、銅との無電解置換めっきに
よって、薄い層を形成することができ、金属層を粗化面
に追従させるのに有利である。かかるCu−Sn置換反
応の場合、ホウフッ化スズ−チオ尿素、塩化スズ−チオ
尿素等の溶液を使用して、0.1〜2μmの厚さのSn
層を粗化面上に形成することができる。In particular, when tin is used, displacement plating with copper is desirable. Tin can form a thin layer by electroless displacement plating with copper, and is advantageous for causing the metal layer to follow the roughened surface. In the case of such a Cu-Sn substitution reaction, a solution of tin borofluoride-thiourea, tin chloride-thiourea, or the like is used to form a Sn having a thickness of 0.1 to 2 μm.
A layer can be formed on the roughened surface.
【0064】このようにして形成されるコア基板には、
スルーホールが形成されていてもよい。かかる基板で
は、スルーホールを介して、表面と裏面の配線層を電気
的に接続することができる。更に、スルーホール及びコ
ア基板の導体回路間には、ビスフェノールF型エポキシ
樹脂等の低粘度の樹脂を充填し、配線基板の平滑性を確
保することができる。The core substrate thus formed includes:
A through hole may be formed. In such a substrate, the wiring layers on the front surface and the back surface can be electrically connected via the through holes. Further, a low-viscosity resin such as a bisphenol F-type epoxy resin is filled between the through-holes and the conductor circuit of the core board, so that the smoothness of the wiring board can be secured.
【0065】(2) 次に、前記(1) で作製した配線基板の
上に、層間樹脂絶縁剤を塗布する。この層間樹脂絶縁剤
としては、無電解めっき用接着剤を用いることができ
る。層間樹脂絶縁剤の塗布には、ロールコータ、カーテ
ンコータ等を用いることができる。(2) Next, an interlayer resin insulating agent is applied on the wiring board prepared in the above (1). As the interlayer resin insulating agent, an adhesive for electroless plating can be used. A roll coater, a curtain coater, or the like can be used for applying the interlayer resin insulating agent.
【0066】(3) 塗布した層間樹脂絶縁剤(無電解めっ
き用接着剤)を乾燥する。この時点では、基板の導体回
路上に設けた層間樹脂絶縁層は、導体回路パターン上の
層間樹脂絶縁層の厚さが薄く、大面積を持つ導体回路上
の層間樹脂絶縁層の厚さが厚くなり、凹凸が発生してい
る状態であることが多い。そのため、この凹凸状態にあ
る層間樹脂絶縁層を、金属板や金属ロールを用いて加熱
しながら押圧し、その層間樹脂絶縁層の表面を平坦化す
ることが望ましい。(3) The applied interlayer resin insulating agent (adhesive for electroless plating) is dried. At this time, the interlayer resin insulation layer provided on the conductor circuit of the substrate has a thin interlayer resin insulation layer on the conductor circuit pattern and a thick interlayer resin insulation layer on the conductor circuit having a large area. In many cases, the unevenness occurs. Therefore, it is desirable that the interlayer resin insulating layer in the uneven state is pressed while being heated using a metal plate or a metal roll to flatten the surface of the interlayer resin insulating layer.
【0067】(4) 次に、層間樹脂絶縁層を硬化する一方
で、その層間樹脂絶縁層にはバイアホール形成用の開口
を設けることができる。層間樹脂絶縁層の硬化処理は、
無電解めっき用接着剤の樹脂マトリックスが熱硬化性樹
脂である場合は熱硬化して行い、感光性樹脂である場合
は紫外線等で露光して行う。(4) Next, while the interlayer resin insulating layer is cured, an opening for forming a via hole can be provided in the interlayer resin insulating layer. The curing treatment of the interlayer resin insulation layer
When the resin matrix of the adhesive for electroless plating is a thermosetting resin, the curing is performed by thermosetting, and when the resin matrix is a photosensitive resin, exposure is performed by ultraviolet rays or the like.
【0068】バイアホール形成用の開口は、無電解めっ
き用接着剤の樹脂マトリックスが熱硬化性樹脂である場
合は、レーザ光や酸素プラズマ等を用いて穿孔し、感光
性樹脂である場合は露光現像処理にて穿孔する。なお、
露光現像処理は、バイアホール形成のための円パターン
が描画されたフォトマスク(ガラス基板がよい)を、円
パターン側を感光性の層間樹脂絶縁層の上に密着させて
載置したのち、露光、現像処理する。The opening for forming the via hole is formed by using laser light or oxygen plasma when the resin matrix of the adhesive for electroless plating is a thermosetting resin, and is exposed when the resin matrix is a photosensitive resin. Perforate in development processing. In addition,
In the exposure and development processing, a photomask (preferably a glass substrate) on which a circular pattern for forming a via hole is drawn is placed with the circular pattern side closely attached to the photosensitive interlayer resin insulating layer. And developing.
【0069】(5) 次に、バイアホール形成用開口を設け
た層間樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤層)の表面を
粗化する。特に、無電解めっき用接着剤層の表面に存在
する耐熱性樹脂粒子を酸又は酸化剤によって溶解除去す
ることにより、接着剤層表面を粗化処理するのが好まし
い。このとき、粗化面の窪みの深さは、1〜5μm程度
が好ましい。(5) Next, the surface of the interlayer resin insulating layer (adhesive layer for electroless plating) provided with openings for forming via holes is roughened. In particular, it is preferable to roughen the surface of the adhesive layer by dissolving and removing the heat-resistant resin particles present on the surface of the adhesive layer for electroless plating with an acid or an oxidizing agent. At this time, the depth of the depression on the roughened surface is preferably about 1 to 5 μm.
【0070】酸としては、リン酸、塩酸、硫酸等の無機
酸や、蟻酸、酢酸等の有機酸を用いることができるが、
特に有機酸を用いるのが望ましい。粗化処理した場合
に、バイアホールから露出する金属導体層を腐食させに
くいからである。酸化剤としては、クロム酸、過マンガ
ン酸塩(過マンガン酸カリウム等)等を用いるのが望ま
しい。As the acid, inorganic acids such as phosphoric acid, hydrochloric acid and sulfuric acid, and organic acids such as formic acid and acetic acid can be used.
In particular, it is desirable to use an organic acid. This is because when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded. As the oxidizing agent, it is desirable to use chromic acid, permanganate (such as potassium permanganate), or the like.
【0071】(6) 次に、層間樹脂絶縁層の粗化面に触媒
核を付与する。触媒核の付与には、貴金属イオンや貴金
属コロイド等を用いるのが望ましく、一般的には、塩化
パラジウムやパラジウムコロイドを使用する。なお、触
媒核を固定するために、加熱処理を行うのが望ましい。
かかる触媒核としては、パラジウムがよい。(6) Next, a catalyst nucleus is applied to the roughened surface of the interlayer resin insulating layer. It is desirable to use a noble metal ion or a noble metal colloid for providing the catalyst nucleus, and generally, palladium chloride or a palladium colloid is used. Note that it is desirable to perform a heat treatment to fix the catalyst core.
Palladium is preferred as such a catalyst core.
【0072】(7) 次に、粗化し接触核を付与した層間樹
脂絶縁層上の全面に薄付けの無電解めっき膜を形成す
る。この無電解めっき膜は、無電解銅めっき膜がよく、
その厚みは、1〜5μm、より望ましくは2〜3μmと
する。なお、無電解銅めっき液としては、常法で採用さ
れる液組成のものを使用できる。例えば、硫酸銅:29
g/L、炭酸ナトリウム:25g/L、EDTA:14
0g/L、水酸化ナトリウム:40g/L、37%ホル
ムアルデヒド:150mL、(pH=11.5)からなる
液組成のものがよい。(7) Next, a thin electroless plating film is formed on the entire surface of the interlayer resin insulating layer provided with the roughened contact nuclei. This electroless plating film is preferably an electroless copper plating film,
The thickness is set to 1 to 5 μm, and more preferably to 2 to 3 μm. In addition, as the electroless copper plating solution, a solution having a liquid composition adopted by a usual method can be used. For example, copper sulfate: 29
g / L, sodium carbonate: 25 g / L, EDTA: 14
A liquid composition comprising 0 g / L, sodium hydroxide: 40 g / L, 37% formaldehyde: 150 mL, (pH = 11.5) is preferable.
【0073】(8) 次に、前記(7) で設けた無電解めっき
膜上に、感光性樹脂フィルム(ドライフィルム)をラミ
ネートし、この感光性樹脂フィルム上に、めっきレジス
トパターンが描画されたフォトマスク(ガラス基板がよ
い)を密着させて載置し、露光、現像処理することによ
り、めっきレジストパターンを配設した非導体部分を形
成する。(8) Next, a photosensitive resin film (dry film) was laminated on the electroless plating film provided in (7), and a plating resist pattern was drawn on the photosensitive resin film. A non-conductive portion provided with a plating resist pattern is formed by placing a photomask (preferably a glass substrate) in close contact with the substrate, and exposing and developing it.
【0074】(9) 次に、無電解めっき膜上の非導体部分
以外に電解めっき膜を形成し、導体回路、並びにバイア
ホールとなる導体部を設ける。ここで、電解めっきに
は、電解銅めっきを用いることが望ましく、その厚み
は、10〜20μmがよい。(9) Next, an electrolytic plating film is formed on a portion other than the non-conductor portion on the electroless plating film, and a conductor circuit and a conductor portion serving as a via hole are provided. Here, it is desirable to use electrolytic copper plating for the electrolytic plating, and its thickness is preferably 10 to 20 μm.
【0075】(10)次に、非導体部分のめっきレジストを
除去した後、更に、硫酸と過酸化水素の混合液や過硫酸
ナトリウム、過硫酸アンモニウム、塩化第二鉄、塩化第
二銅等のエッチング液にて無電解めっき膜を溶解除去
し、無電解めっき膜と電解めっき膜の2層からなる独立
した導体回路とバイアホールを得る。なお、非導体部分
に露出した粗化面上のパラジウム触媒核は、クロム酸等
で溶解除去する。(10) Next, after removing the plating resist on the non-conductive portion, etching of a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide or sodium persulfate, ammonium persulfate, ferric chloride, cupric chloride, etc. is further performed. The electroless plating film is dissolved and removed with the solution to obtain an independent conductor circuit and via holes each composed of two layers of the electroless plating film and the electrolytic plating film. The palladium catalyst nuclei on the roughened surface exposed to the non-conductive portion are dissolved and removed with chromic acid or the like.
【0076】(11)次に、前記(10)で得た導体回路、並び
にバイアホール導体の表面に粗化面を形成する。この粗
化面の形成方法としては、前述した本発明にかかるエッ
チング処理法によることができる。(12)次に、この基板
に(2),(3) の工程に従い、層間樹脂絶縁層を形成する。
(13)更に、必要に応じて (4)〜(10)の工程を繰り返すこ
とにより多層化し、多層プリント配線基板を製造する。(11) Next, a roughened surface is formed on the surface of the conductor circuit and via-hole conductor obtained in (10). The roughened surface can be formed by the above-described etching method according to the present invention. (12) Next, an interlayer resin insulating layer is formed on the substrate according to the steps (2) and (3).
(13) Further, if necessary, the steps (4) to (10) are repeated to form a multilayer, thereby manufacturing a multilayer printed wiring board.
【0077】以上は、主として、セミアディテイブ法に
よるものであるが、無電解めっき用接着剤層を粗化処理
し、表面にめっきレジストを形成した後、無電解めっき
を施して導体パターンを形成する、いわゆるフルアディ
ティブ法においても、無電解めっきにより形成された導
体回路表面に、本発明にかかる粗化面を形成することが
でき、その後に、非酸化性金属等からなる金属層を被覆
することができる。The above is mainly based on the semi-additive method. However, after roughening the adhesive layer for electroless plating, forming a plating resist on the surface, and applying electroless plating, a conductor pattern is formed. In the so-called full additive method, a roughened surface according to the present invention can be formed on a conductive circuit surface formed by electroless plating, and thereafter, a metal layer made of a non-oxidizing metal or the like is coated. be able to.
【0078】また、本発明にかかる粗化面は、図9〜1
5に示すようにして製造される多層プリント配線板にお
いても採用することができる。図9〜15は、かかる一
例の多層プリント配線板の製造工程図である。The roughened surface according to the present invention is shown in FIGS.
5 can be employed in a multilayer printed wiring board manufactured as shown in FIG. 9 to 15 are manufacturing process diagrams of such an example of a multilayer printed wiring board.
【0079】樹脂基材5の片面に金属箔6を張り付け、
図9に示すような基板7を得る。この基板7には、レー
ザ加工によって、図10に示すような開口部8を設け、
金属箔6をめっきリードとして電解めっきを施し、開口
部8の一部において、図11に示すような電解めっき膜
9を形成する。次いで、開口部8の残存部分10に、図
12に示すように、導電性ペースト11を充填して、バ
イアホール12を形成すると同時に、このバイアホール
12上に導電ペースト11による突起状導体13を形成
する。A metal foil 6 is adhered to one side of the resin base material 5,
A substrate 7 as shown in FIG. 9 is obtained. The substrate 7 is provided with an opening 8 as shown in FIG.
Electroplating is performed using the metal foil 6 as a plating lead, and an electrolytic plating film 9 as shown in FIG. Next, as shown in FIG. 12, the remaining portion 10 of the opening 8 is filled with a conductive paste 11 to form a via hole 12 and, at the same time, a projecting conductor 13 of the conductive paste 11 is formed on the via hole 12. Form.
【0080】次いで、金属箔6をエッチング除去して、
導体回路14を形成し、図13に示すような片面回路基
板15を作製する。なお、この片面回路基板15の突起
状導体13が形成された面には、エポキシ樹脂、ポリイ
ミド樹脂、フェノール樹脂等の未硬化の熱硬化性樹脂1
6を塗布するか、未硬化樹脂フィルムを載置する。Next, the metal foil 6 is removed by etching.
The conductor circuit 14 is formed, and a single-sided circuit board 15 as shown in FIG. 13 is manufactured. The surface of the single-sided circuit board 15 on which the protruding conductors 13 are formed is coated with an uncured thermosetting resin 1 such as an epoxy resin, a polyimide resin, or a phenol resin.
6 or place an uncured resin film.
【0081】この片面回路基板15は、図14に示すよ
うにして、本発明にかかる粗化面17に金属層18が被
覆された導体回路19を有する基板20の両面に載置し
て、加熱プレスして、一体化する。As shown in FIG. 14, the single-sided circuit board 15 is placed on both sides of a substrate 20 having a conductor circuit 19 in which a metal layer 18 is coated on a roughened surface 17 according to the present invention, and heated. Press and integrate.
【0082】図15には、このようにして製造された多
層プリント配線板21を示す。この配線板21では、プ
レスされた突起状導体13が樹脂16を押し分けて、本
発明にかかる粗化面17上の金属層18を介して導体回
路19に接触する。樹脂16は加熱により一旦軟化する
が、本発明にかかる金属層18は、粗化面17の密着性
を向上させるとともに、粗化面17を強化しており、樹
脂16が流れ易く、樹脂残りが原因となる接続不良がな
い。FIG. 15 shows the multilayer printed wiring board 21 manufactured as described above. In the wiring board 21, the pressed protruding conductor 13 pushes the resin 16 and contacts the conductor circuit 19 via the metal layer 18 on the roughened surface 17 according to the present invention. The resin 16 is once softened by heating, but the metal layer 18 according to the present invention improves the adhesion of the roughened surface 17 and strengthens the roughened surface 17, so that the resin 16 flows easily and the resin residue is reduced. There is no connection failure that causes.
【0083】更に、本発明にかかる金属層で被覆された
粗化面は、いわゆるRCCと呼ばれる樹脂付銅箔を貼付
して製造する、多層プリント配線板においても採用する
ことができる。本発明にかかる粗化面は、金属層で強化
されており、樹脂が残り難いため、このようにして得ら
れるプリント配線板でも接続不良が起こらない。Further, the roughened surface covered with the metal layer according to the present invention can be adopted also in a multilayer printed wiring board manufactured by sticking a so-called RCC-attached copper foil with resin. The roughened surface according to the present invention is reinforced by the metal layer, and the resin hardly remains. Therefore, the connection failure does not occur even in the printed wiring board thus obtained.
【0084】かかる多層プリント配線板を製造するに
は、例えば、本発明にかかる金属層で被覆された粗化面
を有する導体回路表面に、樹脂付銅箔を貼付して、バイ
アホール形成部の銅箔をエッチング除去し、レーザ光を
照射して樹脂を除去して、バイアホール用の開口部を設
け、次に、酸化剤の水溶液、例えば、クロム酸や過マン
ガン酸塩の水溶液等でデスミア(残存樹脂の除去) を行
なった後、めっきを施して、バイアホールを形成するこ
とができる。In order to manufacture such a multilayer printed wiring board, for example, a resin-coated copper foil is attached to the surface of a conductor circuit having a roughened surface covered with a metal layer according to the present invention, and a via-hole forming portion is formed. The copper foil is removed by etching, the resin is removed by irradiating a laser beam, an opening for a via hole is provided, and then desmearing is performed with an aqueous solution of an oxidizing agent, for example, an aqueous solution of chromic acid or permanganate. After performing (removal of the residual resin), plating is performed to form via holes.
【0085】[0085]
【実施例】図面を参照して、本発明を実施例及び比較例
に基づいて説明する。実施例1 無電解めっき用接着剤の調製 (1) クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬
製:分子量2500)の25重量%アクリル化物を35重量部、
感光性モノマー(東亜合成製:商品名アロニックスM31
5)3.15重量部、消泡剤(サンノプコ製S-65)0.5 重量
部、N-メチルピロリドン(NMP )3.6 重量部を攪拌混合
した。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Referring to the drawings, the present invention will be described based on embodiments and comparative examples. Example 1 Preparation of Adhesive for Electroless Plating (1) 35 parts by weight of 25% by weight acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku: molecular weight 2500)
Photosensitive monomer (Toa Gosei: Aronix M31
5) 3.15 parts by weight, 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65 manufactured by San Nopco) and 3.6 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP) were mixed by stirring.
【0086】(2) ポリエーテルスルフォン(PES )12重
量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成製:商品名ポリマー
ポール)の平均粒径1.0 μmのものを7.2 重量部、平均
粒径0.5 μmのものを3.09重量部を混合した後、更にNM
P 30重量部を添加し、ビーズミルで攪拌混合した。(2) 12 parts by weight of polyether sulfone (PES), 7.2 parts by weight of epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemical Co., trade name: Polymer Pole) having an average particle diameter of 1.0 μm, and 7.2 parts by weight of epoxy resin particles having an average particle diameter of 0.5 μm After mixing 3.09 parts by weight, further NM
30 parts by weight of P was added and mixed by stirring with a bead mill.
【0087】(3) イミダゾール硬化剤(四国化成製:商
品名2E4MZ-CN)2重量部、光開始剤(チバガイギー製:
イルガキュア I-907)2重量部、光増感剤(日本化薬
製:DETX-S)0.2 重量部、NMP 1.5 重量部を攪拌混合し
た。 (4) 混合物(1) 〜(3) を混合して、無電解めっき用接着
剤を得た。(3) 2 parts by weight of an imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN), a photoinitiator (manufactured by Ciba-Geigy:
2 parts by weight of Irgacure I-907), 0.2 parts by weight of a photosensitizer (DETX-S, manufactured by Nippon Kayaku), and 1.5 parts by weight of NMP were stirred and mixed. (4) The mixtures (1) to (3) were mixed to obtain an adhesive for electroless plating.
【0088】樹脂充填剤の調整 (1) ビスフェノールF型エポキシモノマー(油化シェル
製:分子量310 、商品名 YL983U ) 100重量部と平均粒
径 1.6μmで表面にシランカップリング剤がコーティン
グされたSiO2 球状粒子〔アドマテック製:CRS 1101
−CE、ここで、最大粒子の大きさは後述する内層銅パタ
ーンの厚み(15μm)以下とする。〕 170重量部、レベ
リング剤(サンノプコ製:商品名ペレノールS4)1.5 重
量部を3本ロールにて混練し、その混合物の粘度を23±
1℃で45,000〜49,000cps に調整した。Preparation of Resin Filler (1) 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell: molecular weight 310, trade name: YL983U) and SiO 2 having a surface coated with a silane coupling agent having an average particle size of 1.6 μm 2 spherical particles [Admatechs made: CRS 1101
-CE, where the maximum particle size is not more than the thickness (15 μm) of the inner layer copper pattern described later. 170 parts by weight, 1.5 parts by weight of a leveling agent (manufactured by San Nopco: trade name Perenol S4) are kneaded with a three-roll mill, and the viscosity of the mixture is adjusted to 23 ±
It was adjusted to 45,000 to 49,000 cps at 1 ° C.
【0089】(2) イミダゾール硬化剤(四国化成製、商
品名:2E4MZ-CN)6.5 重量部。 (3) 混合物(1) と(2) とを混合して、樹脂充填剤を調製
した。(2) 6.5 parts by weight of an imidazole curing agent (trade name: 2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals). (3) The mixtures (1) and (2) were mixed to prepare a resin filler.
【0090】プリント配線板の製造 図16〜28は、一例の製造工程に従って示す、本発明
にかかる他の例のプリント配線板の縦断面図である。 (1) 図16に示すように、本実施例では、厚さ1mmのガ
ラスエポキシ樹脂又はビスマレイミドトリアジン(BT)
樹脂からなる基板22の両面に18μmの銅箔23がラミ
ネートされている銅張積層板24を出発材料とした。 Manufacturing of Printed Wiring Board FIGS. 16 to 28 are longitudinal sectional views of another example of a printed wiring board according to the present invention, which are shown according to an example manufacturing process. (1) As shown in FIG. 16, in this example, a glass epoxy resin or bismaleimide triazine (BT) having a thickness of 1 mm was used.
A starting material was a copper-clad laminate 24 in which 18 μm copper foil 23 was laminated on both sides of a substrate 22 made of resin.
【0091】(2) まず、この銅張積層板24に、図17
に示すようなドリル孔25を開け、無電解めっき、電解
めっきを施し、更に銅箔23を常法に従いパターン状に
エッチングすることにより、基板22の両面に、厚さ2
5μmの内層銅パターン(下層導体回路)26及びスル
ーホール27を形成した。(2) First, this copper-clad laminate 24 is
Is formed by performing electroless plating and electrolytic plating, and further etching the copper foil 23 in a pattern according to a conventional method, so that a thickness 2
A 5 μm inner layer copper pattern (lower layer conductor circuit) 26 and a through hole 27 were formed.
【0092】次に、内層銅パターン26の表面と、スル
ーホール27のランド表面と内壁とに、それぞれ、粗化
面28,29,30を設けて、図17に示すような配線
基板31を製造した。粗化面28,29,30は、前述
の基板を水洗し、乾燥した後、エッチング液を基板の両
面にスプレイで吹きつけて、内層銅パターン26の表面
とスルーホール27のランド表面と内壁とをエッチング
することによって形成した。エッチング液には、イミダ
ゾール銅(II)錯体10重量部、グリコール酸7重量
部、塩化カリウム5重量部、イオン交換水78重量部を
混合したものを用いた。Next, roughened surfaces 28, 29 and 30 are provided on the surface of the inner layer copper pattern 26 and the land surface and the inner wall of the through hole 27, respectively, to manufacture the wiring board 31 as shown in FIG. did. After the above-mentioned substrate is washed with water and dried, the roughened surfaces 28, 29, and 30 are sprayed with an etching solution on both surfaces of the substrate by spraying, so that the surface of the inner layer copper pattern 26, the land surface of the through hole 27, and the inner wall are formed. Was formed by etching. The etching solution used was a mixture of 10 parts by weight of an imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, 5 parts by weight of potassium chloride, and 78 parts by weight of ion-exchanged water.
【0093】(3) 次に、図18に示すような樹脂層3
2,33を配線基板31の内層銅パターン26間とスル
ーホール27内とに設けた。樹脂層32,33は、予め
調製した樹脂充填剤を、ロールコータにより配線基板3
1の両面に塗布し、内層銅パターン26の間とスルーホ
ール27内に充填し、 100℃で1時間、120 ℃で3時
間、 150℃で1時間、 180℃で7時間、それぞれ加熱処
理することにより硬化させて形成した。(3) Next, as shown in FIG.
2 and 33 are provided between the inner layer copper patterns 26 of the wiring board 31 and in the through holes 27. The resin layers 32 and 33 are coated with a resin filler prepared in advance by a roll coater.
And applied to both sides of the inner copper pattern 26 and into the through holes 27, and heat-treated at 100 ° C for 1 hour, 120 ° C for 3 hours, 150 ° C for 1 hour, and 180 ° C for 7 hours. It was formed by curing.
【0094】(4) (3) の処理で得た基板の片面を、ベル
トサンダー研磨した。この研磨で、#600 のベルト研磨
紙(三共理化学製)を用い、内層銅パターン26の粗化
面28やスルーホール27のランド表面の粗化面29に
樹脂充填剤が残らないようにした。次に、このベルトサ
ンダー研磨による傷を取り除くために、バフ研磨を行っ
た。このような一連の研磨を基板の他方の面についても
同様に行い、図18に示すような配線基板34を得た。(4) One surface of the substrate obtained in the process of (3) was polished with a belt sander. In this polishing, # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku Co., Ltd.) was used to prevent the resin filler from remaining on the roughened surface 28 of the inner copper pattern 26 and the roughened surface 29 of the land surface of the through hole 27. Next, buffing was performed to remove the scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate to obtain a wiring substrate 34 as shown in FIG.
【0095】この配線基板34は、内層銅パターン26
間に樹脂層32が設けられ、スルーホール27内に樹脂
層33が設けられている。内層銅パターン26の粗化面
28とスルーホール27のランド表面の粗化面29が除
去されており、基板両面が樹脂充填剤により平滑化され
ている。樹脂層32は内層銅パターン26の側面の粗化
面28a又はスルーホール27のランド部側面の粗化面
29aと密着し、また、樹脂層33はスルーホール27
の内壁の粗化面30と密着している。The wiring board 34 is formed of the inner copper pattern 26.
A resin layer 32 is provided therebetween, and a resin layer 33 is provided in the through hole 27. The roughened surface 28 of the inner layer copper pattern 26 and the roughened surface 29 of the land surface of the through hole 27 are removed, and both surfaces of the substrate are smoothed by a resin filler. The resin layer 32 is in close contact with the roughened surface 28a on the side surface of the inner layer copper pattern 26 or the roughened surface 29a on the side surface of the land of the through hole 27.
In close contact with the roughened surface 30 of the inner wall.
【0096】(5) 更に、図19に示すように、露出した
内層銅パターン26とスルーホール27のランド上面を
(2) のエッチング処理で粗化して、深さ3μmの粗化面
35,36を形成した。(5) Furthermore, as shown in FIG. 19, the exposed upper surface of the land of the inner copper pattern 26 and the through hole 27 is removed.
The surface was roughened by the etching process (2) to form roughened surfaces 35 and 36 having a depth of 3 μm.
【0097】このようにして形成した粗化面を、真上及
び斜め上45°の角度から、図2及び3に示すように、
電子顕微鏡にて撮影したところ、25μm2 の領域で、
図4〜8に示すような錨状部1が平均11個、窪み部2が
平均11個、稜線3が平均22本観察された。The roughened surface formed in this manner is directly and obliquely angled at 45 ° as shown in FIGS.
When photographed with an electron microscope, in the area of 25 μm 2 ,
As shown in FIGS. 4 to 8, an average of 11 anchors 1, an average of 11 depressions 2, and an average of 22 ridges 3 were observed.
【0098】この粗化面35,36をスズ置換めっきし
て、図4〜8に示すような0.3 μmの厚さのSn層4を
設けた。置換めっきは、ホウフッ化スズ0.1 モル/L、
チオ尿素1.0 モル/L、温度50℃、pH=1.2 の条件で、
粗化面をCu−Sn置換反応させた(図19〜28で
は、Sn層を図示していない)。The roughened surfaces 35 and 36 were subjected to tin displacement plating to provide a Sn layer 4 having a thickness of 0.3 μm as shown in FIGS. Displacement plating is tin borofluoride 0.1 mol / L,
Under the conditions of thiourea 1.0 mol / L, temperature 50 ° C and pH = 1.2,
Cu-Sn substitution reaction was performed on the roughened surface (the Sn layer is not shown in FIGS. 19 to 28).
【0099】(6) 得られた配線基板の両面に、予め調製
した無電解めっき用接着剤をロールコータを用いて塗布
した。この接着剤は、基板を水平状態で20分間放置して
から、60℃で30分乾燥し、図20に示すような、厚さ35
μmの接着剤層37を形成した。(6) An adhesive for electroless plating prepared in advance was applied to both surfaces of the obtained wiring board using a roll coater. This adhesive is left standing for 20 minutes in a horizontal state, and then dried at 60 ° C. for 30 minutes to obtain a film having a thickness of 35 mm as shown in FIG.
A μm adhesive layer 37 was formed.
【0100】(7) 図21に示すように、(6) で接着剤層
37を形成した配線基板の両面に、85μmφの黒円38
が印刷されたフォトマスクフィルム39を密着させた。
この配線基板を、超高圧水銀灯により 500mJ/cm2 で露
光した。(7) As shown in FIG. 21, a black circle 38 of 85 μmφ is formed on both sides of the wiring board on which the adhesive layer 37 is formed in (6).
Was adhered to the photomask film 39 printed with.
This wiring board was exposed at 500 mJ / cm 2 by an ultra-high pressure mercury lamp.
【0101】次いで、この配線基板をDMDG溶液を用いて
スプレー現像することにより、図22に示すような85μ
mφのバイアホールとなる開口40を、接着剤層37に
形成した。更に、この配線基板を超高圧水銀灯により30
00mJ/cm2 で露光し、100 ℃で1時間、その後 150℃で
5時間、加熱処理することにより、フォトマスクフィル
ムに相当する寸法精度に優れた開口(バイアホール形成
用開口)を形成した。なお、厚さ35μmの接着剤層37
は、層間絶縁材層として機能し、バイアホール形成用開
口40には、図示してはいないが、内層銅パターン26
上のスズめっき層を部分的に露出させた。Next, this wiring board was spray-developed using a DMDG solution to obtain an 85 μm
An opening 40 serving as a mφ via hole was formed in the adhesive layer 37. Furthermore, this wiring board is
Exposure was performed at 00 mJ / cm 2 , and heat treatment was performed at 100 ° C. for 1 hour and then at 150 ° C. for 5 hours, thereby forming an opening having excellent dimensional accuracy (an opening for forming a via hole) corresponding to a photomask film. The adhesive layer 37 having a thickness of 35 μm is used.
Functions as an interlayer insulating material layer, and although not shown, the inner copper pattern 26
The upper tin plating layer was partially exposed.
【0102】(8) 次に、(7) の処理後の基板を、クロム
酸に1分間浸漬し、接着剤層37の表面に存在するエポ
キシ樹脂粒子を溶解除去した。この処理により、図23
に示すような粗化面41,42を、接着剤層37の表面
とバイアホール用開口の内壁面に形成した。その後、得
られた基板43を中和溶液(シプレイ社製)に浸漬して
から水洗した。(8) Next, the substrate after the treatment of (7) was immersed in chromic acid for 1 minute to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the adhesive layer 37. By this processing, FIG.
Are formed on the surface of the adhesive layer 37 and the inner wall surface of the via hole opening. Thereafter, the obtained substrate 43 was immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley), and then washed with water.
【0103】更に、粗面化処理した配線基板の表面に、
パラジウム触媒(アトテック製)を付与することによ
り、接着剤層37の粗化面41とバイアホール用開口の
粗化面42に触媒核を付けた。Further, on the surface of the roughened wiring board,
By applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech), catalyst nuclei were attached to the roughened surface 41 of the adhesive layer 37 and the roughened surface 42 of the via hole opening.
【0104】(9) 得られた基板を以下の条件の無電解銅
めっき浴中に浸漬し、図24に示すような厚さ1.6 μm
の無電解銅めっき膜44を粗化面全体に形成した。 無電解めっき液; EDTA : 150 g/L 硫酸銅 : 20 g/L HCHO : 30 mL/L NaOH : 40 g/L α、α’−ビピリジル : 80 mg/L PEG : 0.1 g/L 無電解めっき条件; 70℃の液温度で30分(9) The obtained substrate was immersed in an electroless copper plating bath under the following conditions, and the thickness was 1.6 μm as shown in FIG.
The electroless copper plating film 44 was formed on the entire roughened surface. Electroless plating solution; EDTA: 150 g / L Copper sulfate: 20 g / L HCHO: 30 mL / L NaOH: 40 g / L α, α'-bipyridyl: 80 mg / L PEG: 0.1 g / L None Electroplating condition; 30 minutes at 70 ° C liquid temperature
【0105】(10)次に、図25に示すように、市販の感
光性ドライフィルム45を無電解銅めっき膜44に張り
付け、パターン46が印刷されたマスクフィルム47を
載置した。この基板を、100mJ/cm2 で露光し、その後
0.8%炭酸ナトリウムで現像処理して、図26に示す
ように、厚さ15μmのめっきレジスト48を設けた。(10) Next, as shown in FIG. 25, a commercially available photosensitive dry film 45 was attached to the electroless copper plating film 44, and a mask film 47 on which a pattern 46 was printed was placed. This substrate was exposed at 100 mJ / cm 2 and then developed with 0.8% sodium carbonate to provide a plating resist 48 having a thickness of 15 μm as shown in FIG.
【0106】(11)次いで、得られた基板に以下の条件で
電解銅めっきを施し、図27に示すような厚さ15μmの
電解銅めっき膜49を形成した。 電解めっき液; 硫酸 : 180 g/L 硫酸銅 : 80 g/L 添加剤 : 1mL/L(添加剤はアトテ
ックジャパン製:商品名カパラシドGL) 電解めっき条件; 電流密度 : 1A/dm2 時間 : 30分 温度 : 室温(11) Next, the obtained substrate was subjected to electrolytic copper plating under the following conditions to form an electrolytic copper plating film 49 having a thickness of 15 μm as shown in FIG. Electrolytic plating solution; Sulfuric acid: 180 g / L Copper sulfate: 80 g / L Additive: 1 mL / L (additive: Atotech Japan: trade name: Kaparaside GL) Electroplating conditions; Current density: 1 A / dm 2 hours: 30 Min temperature: room temperature
【0107】(12)めっきレジスト48を5%KOH で剥離
除去した後、硫酸と過酸化水素混合液でエッチングし、
めっきレジスト48下に存在していた無電解めっき膜4
4を溶解除去した。図28に示すような、無電解銅めっ
き膜44と電解銅めっき膜49とからなる厚さ18μmの
導体回路50(バイアホール51を含む)が得られた。(12) After the plating resist 48 is peeled and removed with 5% KOH, it is etched with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide,
Electroless plating film 4 existing under plating resist 48
4 was dissolved away. As shown in FIG. 28, a conductor circuit 50 (including the via hole 51) having a thickness of 18 μm and comprising the electroless copper plating film 44 and the electrolytic copper plating film 49 was obtained.
【0108】更に、70℃で80g/Lのクロム酸に3分間
浸漬して、導体回路50間の無電解めっき用接着剤層3
7の表面を1μmエッチング処理し、表面のパラジウム
触媒を除去し、図28に示すような多層プリント配線板
52を製造した。Further, the adhesive layer 3 for electroless plating between the conductor circuits 50 was immersed in chromic acid of 80 g / L at 70 ° C. for 3 minutes.
The surface of No. 7 was etched by 1 μm to remove the palladium catalyst on the surface, thereby producing a multilayer printed wiring board 52 as shown in FIG.
【0109】加熱試験及びヒートサイクル試験 得られた配線板について、128℃で48時間の加熱試
験を行い、−55〜125℃で冷熱サイクル試験を行っ
た。各試験後の層間樹脂絶縁層と下層導体回路との剥
離、バイアホール部分の抵抗変化率を測定した。層間樹
脂絶縁層と下層導体回路との間の密着性は、ピール強度
を指標とし、JIS−C−5102に準じて測定した。
また、ハロー現象(粗化処理後のピンクリング)の有無
を光学顕微鏡によって確認した。結果を表1に記載す
る。 Heating Test and Heat Cycle Test The obtained wiring board was subjected to a heating test at 128 ° C. for 48 hours and a cooling / heating cycle test at −55 to 125 ° C. The peeling between the interlayer resin insulating layer and the lower conductive circuit after each test, and the resistance change rate of the via hole portion were measured. The adhesion between the interlayer resin insulating layer and the lower conductor circuit was measured according to JIS-C-5102 using the peel strength as an index.
The presence or absence of the halo phenomenon (pink ring after the roughening treatment) was confirmed by an optical microscope. The results are shown in Table 1.
【0110】実施例2 実施例1と同様であるが、Sn置換の代わりに、以下の
処理液によりニッケルめっきを行った。 塩化ニッケル : 30 g/L 次亜リン酸ナトリウム : 10 g/L 塩化アンモニウム : 50 g/L pH : 8〜10 温度 : 90 ℃ 得られた配線板について、実施例1と同様に加熱処理試
験とヒートサイクル試験を実施した。結果を表1に示
す。 Example 2 The same as Example 1, except that nickel plating was performed using the following treatment solution instead of Sn substitution. Nickel chloride: 30 g / L Sodium hypophosphite: 10 g / L Ammonium chloride: 50 g / L pH: 8 to 10 Temperature: 90 ° C. The obtained wiring board was subjected to the same heat treatment test as in Example 1. A heat cycle test was performed. Table 1 shows the results.
【0111】実施例3 実施例1と同様であるが、Sn置換の代わりに、以下の
処理液(水溶液)によりコバルトめっきを行った。 塩化コバルト : 0.6 g/L 次亜リン酸ナトリウム : 0.26g/L 酒石酸ナトリウム : 0.9 g/L 塩化アンモニウム : 1.3 g/L pH : 8〜10 温度 : 90 ℃ 得られた配線板について、実施例1と同様に加熱処理試
験とヒートサイクル試験を実施した。結果を表1に示
す。 Example 3 The same as Example 1, except that cobalt plating was performed using the following treatment solution (aqueous solution) instead of Sn substitution. Cobalt chloride: 0.6 g / L Sodium hypophosphite: 0.26 g / L Sodium tartrate: 0.9 g / L Ammonium chloride: 1.3 g / L pH: 8-10 Temperature: 90 ° C. A heat treatment test and a heat cycle test were performed on the wiring board in the same manner as in Example 1. Table 1 shows the results.
【0112】実施例4〜12 実施例1と同様であるが、Sn置換の代わりに、Au膜
(実施例4)、チタン膜(実施例5)、アルミニウム膜
(実施例6)、亜鉛膜(実施例7)、鉄膜(実施例
8)、インジウム膜(実施例9)、タリウム膜(実施例
10)、鉛膜(実施例11)、ビスマス膜(実施例1
2)を、それぞれ、スパタリングにより形成した。スパ
ッタリング装置は、すべて日本真空技術株式会社のSV
−4540を使用した。 Examples 4 to 12 Same as Example 1, except that instead of Sn substitution, an Au film (Example 4), a titanium film (Example 5), an aluminum film (Example 6), and a zinc film (Example 6) were used. (Example 7), iron film (Example 8), indium film (Example 9), thallium film (Example 10), lead film (Example 11), bismuth film (Example 1)
2) were each formed by sputtering. All sputtering equipment is SV of Japan Vacuum Engineering Co., Ltd.
-4540 was used.
【0113】スパッタリングの条件は、実施例4では、
気圧0.6Pa、温度100℃、電力200W、1分間
を採用し、実施例5及び6では、気圧0.6Pa、温度
100℃、電力200W、2分間を採用した。また、実
施例7〜10及び12では、気圧0.5Pa、温度10
0℃、電力200W、1分間を採用し、実施例11で
は、気圧0.5Pa、温度100℃、電力300W、1
分間を採用した。得られた配線板について、実施例1と
同様に加熱処理試験とヒートサイクル試験を実施した。
結果を表1に示す。In Example 4, the sputtering conditions were as follows.
A pressure of 0.6 Pa, a temperature of 100 ° C., and a power of 200 W were used for 1 minute. In Examples 5 and 6, a pressure of 0.6 Pa, a temperature of 100 ° C., and a power of 200 W were used for 2 minutes. In Examples 7 to 10 and 12, the pressure was 0.5 Pa and the temperature was 10 Pa.
0 ° C., power 200 W, 1 minute was adopted. In Example 11, the pressure was 0.5 Pa, the temperature was 100 ° C., the power was 300 W,
Minutes were adopted. A heat treatment test and a heat cycle test were performed on the obtained wiring board in the same manner as in Example 1.
Table 1 shows the results.
【0114】実施例13 実施例1の(1) および(2) の工程を実施して、図17に
示すような導体回路表面が粗化されたコア基板31を作
製し、粗化面28をパラジウムからなる金属層で被覆し
た。被覆は、実施例4と同様の条件で行った。その一
方、図9〜13に示すようにして、片面回路基板15を
作製した。 Example 13 By performing the steps (1) and (2) of Example 1, a core substrate 31 having a roughened conductor circuit surface as shown in FIG. It was covered with a metal layer consisting of palladium. The coating was performed under the same conditions as in Example 4. On the other hand, a single-sided circuit board 15 was manufactured as shown in FIGS.
【0115】片面回路基板15は、具体的には、次のよ
うにして作製した。ガラスエポキシ基材5に厚さが12μ
mの銅箔6を張りつけ、図9に示すような片面銅張積層
板7を得、この積層板7の銅箔6が形成されていない面
に炭酸ガスレーザ光を照射して、図10に示すような直
径50μmの開口部8を形成した。The single-sided circuit board 15 was specifically manufactured as follows. 12μ thick glass epoxy substrate 5
A single-sided copper-clad laminate 7 as shown in FIG. 9 is attached, and the surface of the laminate 7 on which the copper foil 6 is not formed is irradiated with a carbon dioxide laser beam, as shown in FIG. The opening 8 having a diameter of 50 μm was formed.
【0116】次いで、この積層板7上に、実施例1の(1
1)の条件で電解めっきを施し、図11に示すような電解
めっき膜9を形成した。その後、バイアホール形成部分
に開口が設けられたステンレス製の印刷マスクを載置
し、直径1.0 μmの金−Pd導電ペースト( 田中貴金属
製 TR−4931) を印刷して、開口部8を充填する
と共に、図12に示すような高さ20μmの突起状導体
13を形成した。Next, (1) of Example 1 was placed on the laminate 7.
Electroplating was performed under the condition of 1) to form an electrolytic plating film 9 as shown in FIG. Thereafter, a stainless steel print mask having an opening formed in the via hole forming portion is placed thereon, and a gold-Pd conductive paste (TR-4931 made by Tanaka Kikinzoku) having a diameter of 1.0 μm is printed to fill the opening 8. At the same time, a projecting conductor 13 having a height of 20 μm as shown in FIG. 12 was formed.
【0117】次に、銅箔5の表面にドライフィルムを貼
付し、紫外線で露光現像処理して、エッチングレジスト
を設け、硫酸−過酸化水素からなる水溶液で銅箔6をエ
ッチング除去して、導体パターン14を設けた。その
後、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂16を突起状
導体13が形成された面に塗布し、60℃で120 分間乾燥
し、図13に示すような片面回路基板15とした。Next, a dry film is adhered to the surface of the copper foil 5, exposed and developed by ultraviolet rays, an etching resist is provided, and the copper foil 6 is removed by etching with an aqueous solution of sulfuric acid-hydrogen peroxide. The pattern 14 was provided. Thereafter, a cresol novolak type epoxy resin 16 was applied to the surface on which the projecting conductors 13 were formed, and dried at 60 ° C. for 120 minutes to obtain a single-sided circuit board 15 as shown in FIG.
【0118】この片面回路基板15をコア基板31の両
面に載置して、150 ℃で10kg/cm2 の圧力で加圧し
て一体化して、図15に示すような多層プリント配線板
21を製造した。得られた配線板について、実施例1と
同様に加熱処理試験とヒートサイクル試験を実施した。
結果を表1に示す。The single-sided circuit board 15 is placed on both sides of the core substrate 31 and integrated by pressing at 150 ° C. under a pressure of 10 kg / cm 2 to produce a multilayer printed wiring board 21 as shown in FIG. did. A heat treatment test and a heat cycle test were performed on the obtained wiring board in the same manner as in Example 1.
Table 1 shows the results.
【0119】比較例1 実施例1と同様であるが、下層導体回路の粗化面をスズ
置換せず、他の非酸化性金属等からなる金属層も設けな
かった。得られた配線板について、実施例1と同様に加
熱処理試験とヒートサイクル試験を実施した。結果を表
1に示す。 Comparative Example 1 The same as Example 1, except that the roughened surface of the lower conductor circuit was not replaced with tin, and no metal layer made of another non-oxidizing metal or the like was provided. A heat treatment test and a heat cycle test were performed on the obtained wiring board in the same manner as in Example 1. Table 1 shows the results.
【0120】比較例2 実施例1と同様であるが、下層導体回路の粗化方法とし
て、硫酸銅8g/L、硫酸ニッケル0.6g/L、クエ
ン酸15g/L、次亜リン酸ナトリウム29g/L、ホ
ウ酸31g/L、界面活性剤0.1g/LからなるpH
=9の無電解めっき液に浸漬し、下層導体回路の表面に
厚さ3μmの銅−ニッケル−リンからなる粗化層を形成
した。スズ置換は行わなかった。得られた配線板につい
て、実施例1と同様に加熱処理試験とヒートサイクル試
験を実施した。結果を表1に示す。 Comparative Example 2 Same as Example 1, except that the lower conductor circuit was roughened by 8 g / L of copper sulfate, 0.6 g / L of nickel sulfate, 15 g / L of citric acid, 29 g of sodium hypophosphite. / L, boric acid 31g / L, surfactant 0.1g / L pH
= 9, and a roughened layer made of copper-nickel-phosphorus having a thickness of 3 μm was formed on the surface of the lower conductor circuit. No tin substitution was performed. A heat treatment test and a heat cycle test were performed on the obtained wiring board in the same manner as in Example 1. Table 1 shows the results.
【0121】比較例3 実施例1と同様であるが、下層導体回路の粗化方法とし
て、黒化−還元処理を行った。NaOH(10g/
L)、NaClO2 (40g/L)、Na3 PO4(6
g/L)を酸化浴とし、NaOH(10g/L)、Na
BH4 (6g/L)を還元浴として用いて、深さ3μm
の粗化面を形成した。スズ置換は行わなかった。得られ
た配線板について、実施例1と同様に加熱処理試験とヒ
ートサイクル試験を実施した。結果を表1に示す。 Comparative Example 3 As in Example 1, a blackening-reducing treatment was performed as a method for roughening the lower conductor circuit. NaOH (10 g /
L), NaClO 2 (40 g / L), Na 3 PO 4 (6
g / L) as an oxidation bath, NaOH (10 g / L), Na
Using BH 4 (6 g / L) as a reducing bath, a depth of 3 μm
Was formed. No tin substitution was performed. A heat treatment test and a heat cycle test were performed on the obtained wiring board in the same manner as in Example 1. Table 1 shows the results.
【0122】比較例4 実施例1と同様であるが、下層導体回路の粗化方法とし
て、過酸化水素−硫酸の混合水溶液を用いて、深さ3μ
mの粗化面を形成した。スズ置換は行わなかった。得ら
れた配線板について、実施例1と同様に加熱処理試験と
ヒートサイクル試験を実施した。結果を表1に示す。 Comparative Example 4 The same as Example 1, except that a lower layer conductor circuit was roughened by using a mixed aqueous solution of hydrogen peroxide and sulfuric acid at a depth of 3 μm.
m was formed. No tin substitution was performed. A heat treatment test and a heat cycle test were performed on the obtained wiring board in the same manner as in Example 1. Table 1 shows the results.
【0123】[0123]
【表1】 [Table 1]
【0124】表1に示したように、実施例1〜13の多
層プリント配線板は、比較例1の多層プリント配線板と
比べ、加熱試験及び冷熱サイクル試験、いずれにおいて
も、層間樹脂絶縁層と下層導体回路との間で剥離が生じ
なかった。また、実施例1〜13では、バイアホール部
分の抵抗変化率が、比較例2及び3に比べて少ない。更
に、実施例1〜13の多層プリント配線板では、比較例
1〜4に見られるハロー現象は確認されなかった。ま
た、実施例1〜13の多層プリント配線板は、いずれ
も、比較例1、3及び4に比べ、ピール強度が高かっ
た。As shown in Table 1, the multilayer printed wiring boards of Examples 1 to 13 were different from the multilayer printed wiring board of Comparative Example 1 in both the heating test and the cooling / heating cycle test. No peeling occurred with the lower conductor circuit. Further, in Examples 1 to 13, the resistance change rate of the via hole portion is smaller than in Comparative Examples 2 and 3. Furthermore, in the multilayer printed wiring boards of Examples 1 to 13, the halo phenomenon seen in Comparative Examples 1 to 4 was not confirmed. Further, the multilayer printed wiring boards of Examples 1 to 13 all had higher peel strength than Comparative Examples 1, 3, and 4.
【0125】[0125]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の多層プリ
ント配線板では、所定の粗面形状を有する導体回路の粗
化面が、非酸化性金属や、金属自身が酸化しても、樹脂
絶縁層やバイアホール導体との密着性を低下させない金
属からなる金属層によって被覆されている。かかる金属
層は、粗化面の酸化を防止して、酸化膜を形成させない
か、あるいは、金属自身が酸化しても、金属層と樹脂絶
縁層との密着性や金属層とバイアホール導体との密着性
を低下させない。As described above, in the multilayer printed wiring board according to the present invention, the roughened surface of the conductor circuit having a predetermined roughened surface is formed of resin even if the non-oxidizable metal or the metal itself is oxidized. It is covered with a metal layer made of a metal that does not reduce the adhesion to the insulating layer and the via-hole conductor. Such a metal layer prevents oxidation of the roughened surface and does not allow an oxide film to be formed, or even if the metal itself is oxidized, the adhesion between the metal layer and the resin insulating layer or the metal layer and the via-hole conductor Does not reduce the adhesion of
【0126】本発明の多層プリント配線板によれば、粗
化面上に形成される酸化膜の剥がれに起因する、粗化面
と樹脂絶縁層との間の密着強度の低下や、粗化面とバイ
アホール導体との間の密着強度の低下を防止することが
できる。また、本発明によれば、ハロー現象が抑制さ
れ、バイアホールの接続信頼性に優れた多層プリント配
線板を提供することができる。According to the multilayer printed wiring board of the present invention, the adhesion strength between the roughened surface and the resin insulating layer is reduced or the roughened surface is caused by peeling of the oxide film formed on the roughened surface. Of the adhesive strength between the substrate and the via-hole conductor can be prevented. Further, according to the present invention, it is possible to provide a multilayer printed wiring board in which the halo phenomenon is suppressed and the connection reliability of the via hole is excellent.
【図1】本発明にかかる一例の粗化面の図面代用写真で
ある。FIG. 1 is a photograph as a substitute for a drawing of a roughened surface according to an example of the present invention.
【図2】本発明にかかる他の例の粗化面の図面代用写真
である。FIG. 2 is a drawing substitute photograph of a roughened surface of another example according to the present invention.
【図3】本発明にかかる更に他の例の粗化面の図面代用
写真である。FIG. 3 is a drawing substitute photograph of a roughened surface of still another example according to the present invention.
【図4】本発明にかかる粗化面の摸式図である。FIG. 4 is a schematic view of a roughened surface according to the present invention.
【図5】本発明にかかる粗化面の摸式図である。FIG. 5 is a schematic view of a roughened surface according to the present invention.
【図6】本発明にかかる粗化面の摸式図である。FIG. 6 is a schematic view of a roughened surface according to the present invention.
【図7】本発明にかかる粗化面の摸式図である。FIG. 7 is a schematic diagram of a roughened surface according to the present invention.
【図8】本発明にかかる粗化面の摸式図である。FIG. 8 is a schematic diagram of a roughened surface according to the present invention.
【図9】本発明にかかる一例の多層プリント配線板の製
造工程図である。FIG. 9 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図10】本発明にかかる一例の多層プリント配線板の
製造工程図である。FIG. 10 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図11】本発明にかかる一例の多層プリント配線板の
製造工程図である。FIG. 11 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図12】本発明にかかる一例の多層プリント配線板の
製造工程図である。FIG. 12 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図13】本発明にかかる一例の多層プリント配線板の
製造工程図である。FIG. 13 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図14】本発明にかかる一例の多層プリント配線板の
製造工程図である。FIG. 14 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図15】本発明にかかる一例の多層プリント配線板の
製造工程図である。FIG. 15 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図16】本発明にかかる他の例の多層プリント配線板
の製造工程図である。FIG. 16 is a manufacturing process diagram of another example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図17】本発明にかかる他の例の多層プリント配線板
の製造工程図である。FIG. 17 is a manufacturing process diagram of another example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図18】本発明にかかる他の例の多層プリント配線板
の製造工程図である。FIG. 18 is a manufacturing process diagram of another example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図19】本発明にかかる他の例の多層プリント配線板
の製造工程図である。FIG. 19 is a manufacturing process diagram of another example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図20】本発明にかかる他の例の多層プリント配線板
の製造工程図である。FIG. 20 is a manufacturing process diagram of another example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図21】本発明にかかる他の例の多層プリント配線板
の製造工程図である。FIG. 21 is a manufacturing process diagram of another example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図22】本発明にかかる他の例の多層プリント配線板
の製造工程図である。FIG. 22 is a manufacturing process diagram of another example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図23】本発明にかかる他の例の多層プリント配線板
の製造工程図である。FIG. 23 is a manufacturing process diagram of another example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図24】本発明にかかる他の例の多層プリント配線板
の製造工程図である。FIG. 24 is a manufacturing process diagram of another example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図25】本発明にかかる他の例の多層プリント配線板
の製造工程図である。FIG. 25 is a manufacturing process diagram of another example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図26】本発明にかかる他の例の多層プリント配線板
の製造工程図である。FIG. 26 is a manufacturing process diagram of another example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図27】本発明にかかる他の例の多層プリント配線板
の製造工程図である。FIG. 27 is a manufacturing process diagram of another example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図28】本発明にかかる他の例の多層プリント配線板
の製造工程図である。FIG. 28 is a manufacturing process diagram of another example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図29】針状合金からなる粗化層の図面代用写真であ
る。FIG. 29 is a drawing substitute photograph of a roughened layer made of a needle-shaped alloy.
1 錨状部 2 窪み部 3 稜線 4,18 金属層 5 樹脂基材 6 金属箔 7,20,22 基板 8 開口部 9 電解めっき膜 10 開口部の残存部分 11 導電性ペースト 12,51 バイアホール 13 突起状導体 14,19,50 導体回路 15 片面回路基板 16 未硬化熱硬化性樹脂 17,28,29,30,35,36,41,42 粗
化面 21,52 多層プリント配線板 23 銅箔 24 銅張積層板 25 ドリル孔 26 内層銅パターン(下層導体回路) 27 スルーホール 31,34,43 配線基板 32,33 樹脂層 37 接着剤層 38 黒円 39,47 フォトマスクフィルム 40 開口 44 無電解銅めっき膜 45 感光性ドライフィルム 46 パターン 48 めっきレジスト 49 電解銅めっき膜DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Anchor part 2 Depression part 3 Ridge line 4, 18 Metal layer 5 Resin base material 6 Metal foil 7, 20, 22 Substrate 8 Opening 9 Electroplating film 10 Remaining part of opening 11 Conductive paste 12, 51 Via hole 13 Projecting conductors 14, 19, 50 Conductor circuit 15 Single-sided circuit board 16 Uncured thermosetting resin 17, 28, 29, 30, 35, 36, 41, 42 Roughened surface 21, 52 Multilayer printed wiring board 23 Copper foil 24 Copper-clad laminate 25 Drill hole 26 Inner layer copper pattern (lower layer conductor circuit) 27 Through hole 31, 34, 43 Wiring board 32, 33 Resin layer 37 Adhesive layer 38 Black circle 39, 47 Photomask film 40 Opening 44 Electroless copper Plating film 45 Photosensitive dry film 46 Pattern 48 Plating resist 49 Electrolytic copper plating film
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 袁 本鎮 岐阜県揖斐郡揖斐川町北方1の1 イビデ ン株式会社大垣北工場内 Fターム(参考) 5E343 AA02 AA16 BB16 BB22 BB24 BB25 BB28 BB34 BB35 BB43 BB44 BB47 BB71 BB80 CC22 CC32 CC33 DD33 DD43 EE52 EE53 GG04 5E346 AA02 AA03 AA12 AA15 AA32 AA35 AA43 BB01 CC08 CC09 CC10 CC13 CC16 CC31 CC32 CC33 CC34 CC37 CC38 CC39 CC41 CC43 CC58 DD03 DD23 DD24 DD25 DD33 DD44 DD47 EE02 EE06 EE07 EE33 EE38 FF02 FF03 FF13 FF14 FF18 FF35 GG01 GG15 GG17 GG18 GG19 GG22 GG23 GG27 GG28 HH07 HH11 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing from the front page (72) Inventor Yuan Honzhen 1- 1 north of Ibigawa-cho, Ibi-gun, Gifu Prefecture F-term in Ogaki-kita Plant (reference) 5E343 AA02 AA16 BB16 BB22 BB24 BB25 BB28 BB34 BB35 BB43 BB44 BB47 BB71 BB80 CC22 CC32. FF14 FF18 FF35 GG01 GG15 GG17 GG18 GG19 GG22 GG23 GG27 GG28 HH07 HH11
Claims (13)
層間樹脂絶縁層とを備えている多層プリント配線板にお
いて、 前記下層導体回路が、第二銅錯体と有機酸とを含有する
エッチング液によって処理された粗化面を有しており、
前記粗化面が、チタン、アルミニウム、亜鉛、鉄、イン
ジウム、タリウム、コバルト、ニッケル、スズ、鉛、ビ
スマス及び貴金属からなる群より選ばれた少なくとも1
種の金属からなる金属層により被覆されており、前記層
間樹脂絶縁層が前記粗化面上に設けられてなることを特
徴とする、多層プリント配線板。1. A multilayer printed wiring board comprising a lower conductive circuit and an interlayer resin insulating layer on the lower conductive circuit, wherein the lower conductive circuit is an etching solution containing a cupric complex and an organic acid. Has a roughened surface treated by
The roughened surface is at least one selected from the group consisting of titanium, aluminum, zinc, iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, bismuth and a noble metal.
A multilayer printed wiring board, wherein the multilayer printed wiring board is covered with a metal layer made of a kind of metal, and the interlayer resin insulating layer is provided on the roughened surface.
層間樹脂絶縁層とを備えている多層プリント配線板にお
いて、 前記下層導体回路が粗化面を有しており、前記粗化面が
複数の錨状部と窪み部と稜線とを有し、前記錨状部と前
記窪み部と前記稜線とが分散形成されてなり、隣り合う
前記錨状部が前記稜線によって繋がってなるとともに、
前記窪み部が、前記錨状部と前記稜線とによって囲まれ
てなり、前記粗化面が、チタン、アルミニウム、亜鉛、
鉄、インジウム、タリウム、コバルト、ニッケル、ス
ズ、鉛、ビスマス及び貴金属からなる群より選ばれた少
なくとも1種の金属からなる金属層により被覆されてお
り、前記層間樹脂絶縁層が前記粗化面上に設けられてな
ることを特徴とする、多層プリント配線板。2. A multilayer printed wiring board comprising a lower conductor circuit and an interlayer resin insulation layer on the lower conductor circuit, wherein the lower conductor circuit has a roughened surface, and the roughened surface is It has a plurality of anchors, depressions, and ridges, and the anchors, the depressions, and the ridges are dispersedly formed, and the adjacent anchors are connected by the ridges,
The depression is surrounded by the anchor and the ridge, and the roughened surface is formed of titanium, aluminum, zinc,
Covered with a metal layer made of at least one metal selected from the group consisting of iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, bismuth and a noble metal, wherein the interlayer resin insulating layer is formed on the roughened surface A multilayer printed wiring board characterized by being provided in a multilayer printed wiring board.
グによって形成されていることを特徴とする、請求項2
記載の多層プリント配線板。3. The method according to claim 2, wherein the recess is formed by etching metal crystal particles.
The multilayer printed wiring board according to the above.
いることを特徴とする、請求項2記載の多層プリント配
線板。4. The multilayer printed wiring board according to claim 2, wherein said recess is hollowed out in a substantially polyhedral shape.
ッチングによって形成されていることを特徴とする、請
求項2記載の多層プリント配線板。5. The multilayer printed wiring board according to claim 2, wherein said ridge lines are formed by etching adjacent metal crystal particles.
とする、請求項2記載の多層プリント配線板。6. The multilayer printed wiring board according to claim 2, wherein said ridge lines are branched.
る、請求項2記載の多層プリント配線板。7. The multilayer printed wiring board according to claim 2, wherein the ridge is sharp.
結晶粒子のエッチングによって形成されていることを特
徴とする、請求項2記載の多層プリント配線板。8. The multilayer printed wiring board according to claim 2, wherein said anchor-shaped portion is formed by etching metal crystal particles around said anchor-shaped portion.
錨状部が、前記窪み部と前記稜線とによって囲まれてい
ることを特徴とする、請求項2記載の多層プリント配線
板。9. The multilayer printed wiring board according to claim 2, wherein each of said anchor portions is dispersed, and said anchor portion is surrounded by said recessed portion and said ridge line. .
大粗度(Rmax)を有することを特徴とする、請求項
2記載の多層プリント配線板。10. The multilayer printed wiring board according to claim 2, wherein said roughened surface has a maximum roughness (Rmax) of 0.1 to 10 μm.
2〜100個の前記錨状部と、平均2〜100個の前記
窪み部とを有していることを特徴とする、請求項2記載
の多層プリント配線板。11. The roughened surface has an average of 2 to 100 anchor-shaped portions and an average of 2 to 100 recesses per 25 μm 2. 2. The multilayer printed wiring board according to 2.
の層間樹脂絶縁層とを備えている多層プリント配線板を
得るにあたり、 基板上に前記下層導体回路を設け、第二銅錯体と有機酸
とを含有するエッチング液により処理して、前記下層導
体回路に粗化面を形成し、前記粗化面を、チタン、アル
ミニウム、亜鉛、鉄、インジウム、タリウム、コバル
ト、ニッケル、スズ、鉛、ビスマス及び貴金属からなる
群より選ばれる少なくとも1種の金属からなる金属層に
より被覆し、前記金属層上に前記層間樹脂絶縁層を設け
ることを特徴とする、多層プリント配線板の製造方法。12. To obtain a multilayer printed wiring board including a lower conductive circuit and an interlayer resin insulating layer on the lower conductive circuit, the lower conductive circuit is provided on a substrate, and a second copper complex and an organic acid are provided. To form a roughened surface in the lower conductor circuit, and to form the roughened surface with titanium, aluminum, zinc, iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, and bismuth. And a metal layer made of at least one metal selected from the group consisting of noble metals, and providing the interlayer resin insulating layer on the metal layer.
の開口部を形成し、前記層間樹脂絶縁層上に上層導体回
路を設け、前記金属層と前記上層導体回路とをバイアホ
ールによって接続することを特徴とする、請求項12記
載の多層プリント配線板の製造方法。13. An opening for a via hole is formed in the interlayer resin insulation layer, an upper conductor circuit is provided on the interlayer resin insulation layer, and the metal layer and the upper conductor circuit are connected by a via hole. The method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 12, wherein:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20866998A JP2000031643A (en) | 1998-07-08 | 1998-07-08 | Multilayer printed wiring board and manufacture thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20866998A JP2000031643A (en) | 1998-07-08 | 1998-07-08 | Multilayer printed wiring board and manufacture thereof |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000031643A true JP2000031643A (en) | 2000-01-28 |
Family
ID=16560104
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20866998A Withdrawn JP2000031643A (en) | 1998-07-08 | 1998-07-08 | Multilayer printed wiring board and manufacture thereof |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000031643A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004349693A (en) * | 2003-04-30 | 2004-12-09 | Mec Kk | Resin adhesive layer on surface of copper |
CN101394711B (en) * | 2007-09-19 | 2012-07-04 | 上村工业株式会社 | Manufacture method of buildup circuit board |
-
1998
- 1998-07-08 JP JP20866998A patent/JP2000031643A/en not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004349693A (en) * | 2003-04-30 | 2004-12-09 | Mec Kk | Resin adhesive layer on surface of copper |
CN101394711B (en) * | 2007-09-19 | 2012-07-04 | 上村工业株式会社 | Manufacture method of buildup circuit board |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2000124617A (en) | Multilayer printed wiring board | |
EP1667506B1 (en) | Electroless plating process and printed circuit board | |
US6762921B1 (en) | Multilayer printed-circuit board and method of manufacture | |
JP4511626B2 (en) | Manufacturing method of multilayer printed wiring board | |
JP3311977B2 (en) | Adhesive for electroless plating and multilayer printed wiring board | |
JPH10256724A (en) | Multilayer printed circuit board | |
JP4746252B2 (en) | Multilayer printed circuit board | |
JP2000031643A (en) | Multilayer printed wiring board and manufacture thereof | |
JP4282134B2 (en) | Method for manufacturing printed wiring board | |
JP2001135916A (en) | Manufacturing method for printed wiring board | |
JP2000077851A (en) | Manufacture of multilayer printed wiring board | |
JPH10242649A (en) | Multilayer printed wiring board | |
JP4236327B2 (en) | Electroless plating solution, electroless plating method, printed wiring board manufacturing method, and printed wiring board | |
JP2003152319A (en) | Printed board | |
JP2000200971A (en) | Manufacture of multiplayer wiring board | |
JPH10242639A (en) | Multilyer printed wiring board and its manufacturing method | |
JP2000294929A (en) | Manufacture of multilayer printed wiring board and the multilayer printed wiring board | |
JP2000286557A (en) | Multilayer printed wiring board and manufacture thereof | |
JPH1117336A (en) | Multilayer printed wiring board and its manufacture | |
JPH11214828A (en) | Printed wiring of board and manufacture thereof | |
JP3300653B2 (en) | Adhesive for electroless plating and multilayer printed wiring board | |
JPH11168277A (en) | Multilayer printed wiring board | |
JP2000294932A (en) | Manufacture of multilayer printed wiring board | |
JPH10242622A (en) | Printed wiring board, multilayer printed wiring board, and manufacture thereof | |
JP2000294937A (en) | Wiring board and printed wiring board |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20051004 |