JP2009131666A - 少なくとも1つの電磁放射を伝播するよう構成される機器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】少なくとも1つの電磁放射を伝播するようにする構成は、解剖学的構造に挿入されるプローブシースと、プローブシース内に設置される干渉計、および、プローブシース内に少なくとも部分的に設置され、サンプルからは少なくとも1つの電磁放射の第1の部分を、基準からは少なくとも1つの電磁放射の第2の部分を受信するセクションのうちの少なくとも1つを含む少なくとも1つの装置と、を備え、第1の部分および第2の部分は実質的に同じ経路を進む。
【選択図】図4
Description
本出願は、2006年1月18日付で出願された米国特許出願第60/759,936号に基づいており、この出願に伴う優先権の利益を主張するものであり、この開示内容は、本引用により、そのすべてが本明細書に包含される。
本発明は、米国科学財団によって付与された契約番号第BES−0086709号の下における米国政府の支援によって行われたものである。従って、米国政府は、本発明における特定の権利を保有している。
52 CCDカメラ
56 光源
60 部分反射ミラー
64 基準ミラー
68 光ファイバ束
70 サンプル
72 基準アーム
74 サンプルアーム
76 内視鏡プローブ
Claims (51)
- 少なくとも1つの電磁放射を伝播するよう構成される機器であって、
解剖構造に挿入されるように構成されるプローブシースと、
前記シースの内部に位置する干渉計、または、前記プローブシースの内部に少なくとも部分的に位置し、かつサンプルから少なくとも1つの電磁放射の第1の部分を受光すると共に基準から少なくとも1つの電磁放射の第2の部分を受光するように構成されるセクションであって、前記第1の部分および前記第2の部分は、実質的に同じ経路を伝わるセクション、のうちの少なくとも1つを含む少なくとも1つの装置と、
を備えることを特徴とする機器。 - 前記セクションはその全体が前記プローブシース内に位置する請求項1に記載の機器。
- 少なくとも1つの光ファイバを備え、
前記第1の部分のうちの少なくとも一部および前記第2の部分のうちの少なくとも一部が、前記少なくとも1つの光ファイバを伝わる請求項1に記載の機器。 - 前記プローブシース内に位置する、少なくとも1つの電磁放射を第1の部分と第2の部分とに分割することができるビームスプリッタ装置をさらに備える請求項1に記載の機器。
- 前記ビームスプリッタ装置は、屈折率インターフェイス、誘電体ミラー、部分反射金属ミラー、前記プローブシースの内部表面、前記プローブシースの外部表面、キューブタイプのビームスプリッタ、回折光学系、またはペリクルビームスプリッタのうちの少なくとも1つを含む請求項4に記載の機器。
- 前記ビームスプリッタと連携するよう備えられ、前記プローブシース内に位置し、ビームを所定の方向に方向付けするビーム方向付け要素をさらに備える請求項4に記載の機器。
- 前記ビームスプリッタ装置は、ビーム方向付け要素を含む請求項4に記載の機器。
- 前記ビームスプリッタ装置と連携するよう備えられ、前記プローブシース内に位置し、ビームを合焦するレンズ構成をさらに備える請求項4に記載の機器。
- 前記ビームスプリッタ装置は、レンズ構成を含む請求項4に記載の機器。
- 前記プローブシースは、透明なシースである請求項1に記載の機器。
- 前記少なくとも1つの電磁放射は広帯域の光源によって生成され、前記セクションから返送されたさらなる放射が分光計によって受光されるよう構成される請求項1に記載の機器。
- 前記セクションから返送されたさらなる放射を受光し、前記さらなる放射を検出装置へ向かうよう方向付けするよう構成される放射受光構成をさらに備える請求項1に記載の機器。
- 前記少なくとも1つの電磁放射の前記第1の部分は、サンプルについて走査される請求項1に記載の機器。
- 走査された前記サンプルの情報と関連付けられた前記セクションから受光したさらなる放射は、前記サンプルの少なくとも一部の画像を生成する検出および画像生成装置へ伝送される請求項13に記載の機器。
- 前記干渉計は、マイケルソン干渉計、マッハシェンダー干渉計およびサニャク干渉計のうちの少なくとも1つを備える請求項1に記載の機器。
- 前記干渉計は、サンプルから少なくとも1つの電磁放射の第1の部分を受光すると共に基準から少なくとも1つの電磁放射の第2の部分を受光するように構成されるセクションであって、前記第1の部分および前記第2の部分は、実質的に同じ経路を伝わるセクションを含む請求項1に記載の機器。
- 少なくとも1つの電磁放射を伝播するよう構成される機器であって、
サンプルから少なくとも1つの電磁放射の第1の部分を受光すると共に基準から少なくとも1つの電磁放射の第2の部分を受光するように構成される少なくとも1つのセクションを備え、
前記第1の部分および前記第2の部分は、実質的に同じ経路を伝わり、
前記少なくとも1つの電磁放射が、調節可能な中心波長を有し、狭帯域の光源によって生成されること、または、前記第1の部分および前記第2の部分が、少なくとも1つの光ファイバを介して少なくとも部分的に伝送されること、のうちの1つであることを特徴とする機器。 - プローブシースをさらに備え、
前記サンプルおよび少なくとも1つのセクションは、前記プローブシース内に少なくとも部分的に位置する請求項17に記載の機器。 - 前記少なくとも1つのセクションはその全体が前記プローブシース内に位置する請求項18に記載の機器。
- 少なくとも1つの電磁放射を第1の部分と第2の部分とに分割することができるビームスプリッタ装置をさらに備える請求項17に記載の機器。
- 前記ビームスプリッタ装置は、屈折率インターフェイス、誘電体ミラー、部分反射金属ミラー、前記プローブシースの内部表面、前記プローブシースの外部表面、キューブタイプのビームスプリッタ、回折光学系、またはペリクルビームスプリッタのうちの少なくとも1つを含む請求項20に記載の機器。
- 前記ビームスプリッタ装置と連携するよう備えられ、ビームを所定の方向に方向付けするビーム方向付け要素をさらに備える請求項20に記載の機器。
- 前記ビームスプリッタ装置は、ビーム方向付け要素もしくはレンズ構成のうちのいずれか1つを含む請求項20に記載の機器。
- 前記ビームスプリッタ装置と連携するよう備えられた、ビームを合焦するレンズ構成をさらに備える請求項20に記載の機器。
- 前記プローブシースは、透明なシースである請求項17に記載の機器。
- 前記サンプルおよび前記少なくとも1つのセクションから返送されたさらなる放射を受光し、前記さらなる放射を検出装置へ向かうよう方向付けするよう構成される放射受光構成をさらに備える請求項17に記載の機器。
- 前記少なくとも1つの電磁放射の前記第1の部分は、サンプルについて走査される請求項17に記載の機器。
- 走査された前記サンプルの情報と関連付けられた前記セクションから受光したさらなる放射は、前記サンプルの少なくとも一部の画像を生成する検出および画像生成装置へ伝送される請求項27に記載の機器。
- 少なくとも1つの電磁放射を伝播するよう構成される機器であって、
少なくとも1つの電磁放射を第1の部分と第2の部分とに分割する装置と、
サンプルへ伝送されるよう意図されている前記第1の部分を伝播するように構成された第1のセクションと、
前記第2の部分を基準へ伝播するように構成された第2のセクションと、
解剖構造に挿入されるように構成されるプローブシースと、
を備え、
前記第1のセクションおよび前記第2のセクションは、前記プローブシース内に少なくとも部分的に位置し、前記装置は、前記少なくとも1つの電磁放射の光源よりもサンプルに近い位置に配置されることを特徴とする機器。 - 前記機器は、内視鏡プローブを備える請求項29に記載の機器。
- 前記セクションはその全体が前記プローブシース内に位置する請求項29に記載の機器。
- 少なくとも1つの光ファイバを備え、
前記第1の部分のうちの少なくとも一部および前記第2の部分のうちの少なくとも一部が、前記少なくとも1つの光ファイバを伝わる請求項29に記載の機器。 - 前記第1のセクションおよび前記第2のセクションは、それぞれ前記第1の部分および前記第2の部分を異なる方向に伝播するように構成される請求項29に記載の機器。
- 少なくとも1つの電磁放射を伝播するよう構成される機器であって、
サンプルから少なくとも1つの電磁放射の第1の部分を受光すると共に基準から少なくとも1つの電磁放射の第2の部分を受光するように構成される少なくとも1つのセクションであって、前記第1の部分および前記第2の部分は、実質的に同じ経路を伝わるセクションと、
解剖構造に挿入されるように構成されるプローブシースと、
前記第2の部分の光学的経路長を制御するように構成される装置、または、少なくとも1つの電磁放射を一方が前記第1の部分に関連付けられもう一方が前記第2の部分に関連付けられる2つのセクションに分割するスプリッタ構成であって、前記スプリッタ構成は、結果生じる放射として前記第1の部分および前記第2の部分を受光するよう構成され、前記結果生じる放射を少なくとも2つのさらなる放射部分にさらに分割するスプリッタ構成、のうちの1つを有する装置と、
を備え、
前記装置は、前記プローブシース内に少なくとも部分的に位置することを特徴とする機器。 - 前記装置は、多くても1つの波長によって光学的経路長を変更するよう構成される請求項34に記載の機器。
- 生じた少なくとも1つの第1の放射は、前記第2の部分の第1の光学的経路長から検出され、生じた少なくとも1つの第2の放射は、前記第2の部分の第2の光学的経路長から検出される請求項34に記載の機器。
- 前記第2の部分の前記光学的経路長は、前記基準に関連付けてさらなる機器の形を機械的に変換することによって制御される請求項36に記載の機器。
- 前記さらなる機器の形を機械的に変換するさらなる装置をさらに備え、
前記さらなる装置は、線形並進器および圧電トランスデューサのうちの少なくとも1つを含む請求項37に記載の機器。 - 前記機器は、内視鏡プローブを備える請求項34に記載の機器。
- 前記少なくとも1つの電磁放射の前記第1の部分は、サンプルについて走査される請求項34に記載の機器。
- 走査された前記サンプルの情報と関連付けられた前記セクションから受光したさらなる放射は、前記サンプルの少なくとも一部の画像を生成する検出および画像生成装置へ伝送される請求項40に記載の機器。
- それぞれが前記さらなる放射部分のうちの1つを伝播するように構成される少なくとも2つの光ファイバをさらに備える請求項34に記載の機器。
- 前記さらなる放射部分を伝播するように構成される光ファイバをさらに備える請求項34に記載の機器。
- 前記少なくとも第1の部分に関連する少なくとも1つの第1の放射と、前記少なくとも第2の部分に関連する少なくとも1つの第2の放射と、の間の干渉を検出する少なくとも1つのデュアルバランス受信機をさらに備える請求項34に記載の機器。
- 前記さらなる放射部分を干渉するように構成される装置をさらに備える請求項34に記載の機器。
- 前記装置は干渉計である請求項45に記載の機器。
- 前記干渉計は、互いに相手の干渉計から制御可能な遅延で提供される第1のアームおよび第2のアームを含む請求項46に記載の機器。
- 前記第1のアームおよび前記第2のアームからの更なる放射を受光するように構成される検出器をさらに備える請求項47に記載の機器。
- 前記装置は、生じた第1の放射および第2の放射を伝播するように構成されて、生じた前記第1の放射および前記第2の放射を検出器構成上でオーバーラップするようにする請求項45に記載の機器。
- 前記検出器構成は、複数の検出器を含む請求項49に記載の機器。
- 前記さらなる放射部分は、個別に着脱可能である請求項34に記載の機器。
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