JP2009118887A - X線ct装置及び画像処理装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被検体に、第1X線と第1エネルギースペクトルとは異なる第2X線とを被検体に照射するX線照射部(21)と、X線照射部により照射された第1X線に基づく被検体の第1X線投影データ及び第2X線に基づく被検体の第2X線投影データを収集するX線データ収集部(24)と、第1X線投影データ及び第2X線投影データに基づき、検体の画像に対する第1X線と第2X線との相違情報を求め、相違情報に基づき、画像を少なくとも2つの画素領域に区分し、前記区分された画素領域のうちの一部の画素領域のみを、複数のエネルギースペクトルのX線投影データに基づく加重減算処理によって得られたデュアルエネルギー画像とする画像再構成部と(34)、を備える。
【選択図】図3
Description
より具体的には、この技術は、異なるエネルギースペクトルのX線によって被検体中の物質のX線吸収係数が異なることから、被検体中のある物質が強調されるように差分をとることが知られている。
そこで、本発明の目的は、S/Nが向上しコントラストが高いデュアルエネルギー画像を得ことが可能なX線CT装置を提供することにある。
前記X線照射部により照射された第1X線に基づく前記被検体の第1X線投影データ及び前記第2X線に基づく前記被検体の第2X線投影データを収集するX線データ収集部と、
前記第1X線投影データ及び前記第2X線投影データに基づき、前記被検体の画像に対する前記第1X線と前記第2X線との相違情報を求め、前記相違情報に基づき、前記画像を少なくとも2つの画素領域に区分し、前記区分された画素領域のうちの一部の画素領域のみを、複数のエネルギースペクトルのX線投影データに基づく加重減算処理によって得られたデュアルエネルギー画像とする画像再構成部と、を備える。
ここで、「加重減算処理」とは、対象となるデータを選択的に消去するために重み係数(1を含む)を乗じて差分をとる処理を意味するものである。
第12の観点の画像処理装置は、第11の観点の画像処理装置において、前記相違情報に係る基準が、前記被検体に含まれる複数種の物質毎に設定可能である、というものである。
図1は、本発明の一実施例にかかるX線CT装置100の構成ブロック図である。このX線CT装置100は、操作コンソール1と、撮影テーブル10と、走査ガントリ20とを具備している。
図2は、本実施例のX線CT装置100についての動作の概要を示すフローチャートである。
ステップP1では、被検体HBをクレードル12に乗せ、位置合わせを行う。ここでは、クレードル12の上に乗せられた被検体HBは各部位の基準点に走査ガントリ20のスライスライト中心位置を合わせる。そして、スカウト像収集を行う。スカウト像撮影では、X線管21と多列X線検出器24とを固定させ、クレードル12を直線移動させながらX線検出器データのデータ収集動作を行う。ここでは、スカウト像は通常0度,90度のビュー角度位置で撮影する。図2中の右側は、0度で胸部付近を撮影したスカウト像SCTの例である。このスカウト像上から断層像の撮影位置を計画できる。
ステップP5では、前処理部33がビームハードニング補正を行う。ここでは、前処理した投影データD1(view,j,i)に対して、ビームハードニング補正を行う。
ステップP8において、画像再構成部34は三次元逆投影処理を行う。ここでは、再構成関数重畳処理した投影データD3(view,j,i)に対して、三次元逆投影処理を行い、逆投影データD3(x,y,z)を求める。画像再構成する画像はz軸に垂直な面である。以下の再構成領域はxy平面に平行なものとする。
ステップP10において、画像表示部は画像再構成した断層像を表示する。断層像の例として、図2の右側に断層像TMを示す。
尚、ステップP4からステップP10までの処理は、ステップP3において収集した80kVのX線管電圧を用いたX線投影データと140kVのX線管電圧を用いたX線投影データについて処理される。
(実施例1)
本実施例においては、断層像空間おいてデュアルエネルギー画像の再構成を行う例について図3のフローチャートを用いて説明する。
区分に用いる画素値の比r(x,y)の傾きの範囲は、区分条件設定部36により設定することができる。尚、設定は、例えばモニタ6により表示された画素値の比の情報に基づき、入力装置2に入力することによって設定される。ここでは、最終的に消去したい物質の画素値の比の範囲を設定する。具体的には、比の範囲そのものを入力してもよいし、物質を選択することにより比の範囲が自動的に選択されるようにしてもよいし、物質の選択により比の範囲のデフォルト値を表示し、その範囲の幅を調整できるようにしてもよい。
次に、ステップ104において、画像再構成部34は、消去したい物質の画素領域、即ち、ステップ102において設定した画素値の範囲に入った画素を含む画素領域について、デュアルエネルギー画像を得る。
以上より、画像再構部34は、断層像空間と投影データ空間とにおいて造影剤等価画像(造影剤を消去した画像)、カルシウム等価画像(カルシウムを消去した画像)などを作成することができる。
本実施例においては、投影データ空間おいてデュアルエネルギー画像の再構成を行う例について説明する。
次に、前記比の値が割り当てられた各画素を、仮想検出器上に再投影し、画素の座標及び比の値をデータとして備えた、サイノグラムで示される仮想投影データを得る。
次に、実施例1のステップ103において、各仮想投影データのその画素比の値が設定値に入っているかを判断する。
詳しくは、画像再構部34は、実施例1と同じ加重減算係数を用い、投影データ空間おいてX線管電圧80kVの投影データに加重減算係数w1を乗算し、同様にX線管電圧140kVの投影データに加重減算係数w2を乗算し、定数C1とともに加重減算処理ADDし、加重減算後の投影データを用いた画像再構成処理により、デュアルエネルギー断層像DTMを作成する。
その後の処理は、実施例と同様のため、説明を省略する。
上記実施例では、ステップ102において、消去したい物質の画素の比のレンジを設定したが、設定したレンジに含まれない物質を消去する、即ち設定したレンジに含まれない画素に対しデュアルエネルギー画像を得るようにしてもよい。
また、上記実施例においては、二次元画像の処理を説明したが、三次元画像の処理に適用することもできる。
2 … 入力装置2
3 … 中央処理装置3 (33 … 前処理部,34 … 画像再構成部,35 … … 画素値比算出部)
5 … データ収集バッファ
6 … モニタ
7 … 記憶装置
10 … 撮影テーブル
12 … クレードル
15 … ガントリ回転部
20 … 走査ガントリ
21 … X線管
22 … X線制御部
23 … コリメータ
24 … 多列X線検出器24
25 … データ収集装置(DAS)
26 … 回転制御部
28 … ビーム形成X線フィルタ28
29 … ガントリ制御部
SCT … スカウト画像
TM … 断層像
DTM … デュアルエネルギー断層像
Io … 造影剤
Ca … カルシウム(骨)
Claims (16)
- 被検体に、第1エネルギースペクトルを有する第1X線と前記第1エネルギースペクトルとは異なる第2エネルギースペクトルを有する第2X線とを被検体に照射するX線照射部と、
前記X線照射部により照射された第1X線に基づく前記被検体の第1X線投影データ及び前記第2X線に基づく前記被検体の第2X線投影データを収集するX線データ収集部と、
前記第1X線投影データ及び前記第2X線投影データに基づき、前記被検体の画像に対する前記第1X線と前記第2X線との相違情報を求め、前記相違情報に基づき、前記画像を少なくとも2つの画素領域に区分し、前記区分された画素領域のうちの一部の画素領域のみを、複数のエネルギースペクトルのX線投影データに基づく加重減算処理によって得られたデュアルエネルギー画像とする画像再構成部と、
を備えることを特徴とするX線CT装置。 - 前記画像再構成手段は、前記被検体の画像に対する前記第1X線と前記第2X線の相違情報として、前記第1X線投影データを用いて画像再構成した前記第1画像と前記第2X線投影データを用いて画像再構成した第2画像との画素値の比を求めることを特徴とする請求項1に記載のX線CT装置。
- 前記X線CT装置は、前記被検体の画像の画素領域を区分するための前記第1X線と前記第2X線との相違情報に係る基準を設定する区分条件設定手段をさらに備えることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のX線CT装置。
- 前記相違情報に係る基準は、前記被検体に含まれる複数種の物質毎に設定可能であることを特徴とする請求項3に記載のX線CT装置。
- 前記X線CT装置は、前記被検体の画素領域を区分するための基準として、前記第1画素と前記第2画素の画素値の比の範囲を設定する区分条件設定手段をさらに備えることを特徴とする請求項2に記載のX線CT装置。
- 前記画像再構成手段は、前記第1X線投影データを用いた第1画像の画像再構成及び前記第2X線投影データを用いた第2画像の画像再構成をそれぞれ行い、前記区分された画素領域のうちの他の一部を、前記第1X線投影データを用いて画像再構成した前記第1画像、前記第2X線投影データを用いて画像再構成した第2画像及び前記第1画像と前記第2画像の平均画像のうちの一つとすることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか一項に記載のX線CT装置。
- 前記画像再構成手段は、前記第1X線投影データを用いて画像再構成した前記第1画像と前記第2X線投影データを用いて画像再構成した第2画像との加重減算処理により前記デュアルエネルギー画像を得ることを特徴とする請求項1ないし6のいずれか一項に記載のX線CT装置。
- 前記画像再構成手段は、前記第1X線投影データと前記第2X線投影データとを加重減算処理した後画像再構成してデュアルエネルギー画像を得ることを特徴とする請求項1ないし請求項6のいずれか一項に記載のX線CT装置。
- 被検体に、第1エネルギースペクトルを有する第1X線と前記第1エネルギースペクトルとは異なる第2エネルギースペクトルを有する第2X線とを被検体に照射することにより収集された、前記第1X線に基づく前記被検体の第1X線投影データ及び前記第2X線に基づく前記被検体の第2X線投影データに基づき、前記被検体の画像に対する前記第1X線と前記第2X線との相違情報を求め、前記相違情報に基づき、前記画像を少なくとも2つの画素領域に区分し、前記区分された画素領域のうちの一部の画素領域のみを、複数のエネルギースペクトルのX線投影データに基づく加重減算処理によって得られたデュアルエネルギー画像とする画像再構成部
を備えることを特徴とする画像処理装置。 - 前記画像再構成手段は、前記被検体の画像に対する前記第1X線と前記第2X線の相違情報として、前記第1X線投影データを用いて画像再構成した前記第1画像と前記第2X線投影データを用いて画像再構成した第2画像との画素値の比を求めることを特徴とする請求項9に記載の画像処理装置。
- 前記画像処理装置は、前記被検体の画像の画素領域を区分するための前記第1X線と前記第2X線との相違情報に係る基準を設定する区分条件設定手段をさらに備えることを特徴とする請求項9又は請求項10に記載の画像処理装置。
- 前記相違情報に係る基準は、前記被検体に含まれる複数種の物質毎に設定可能であることを特徴とする請求項11に記載の画像処理装置。
- 前記画像処理装置は、前記被検体の画素領域を区分するための基準として、前記第1画素と前記第2画素の画素値の比の範囲を設定する区分条件設定手段をさらに備えることを特徴とする請求項10に記載の画像処理装置。
- 前記画像再構成手段は、前記第1X線投影データを用いた第1画像の画像再構成及び前記第2X線投影データを用いた第2画像の画像再構成をそれぞれ行い、前記区分された画素領域のうちの他の一部を、前記第1X線投影データを用いて画像再構成した前記第1画像、前記第2X線投影データを用いて画像再構成した第2画像及び前記第1画像と前記第2画像の平均画像のうちの一つとすることを特徴とする請求項9ないし13のいずれか一項に記載の画像処理装置。
- 前記画像再構成手段は、前記第1X線投影データを用いて画像再構成した前記第1画像と前記第2X線投影データを用いて画像再構成した第2画像との加重減算処理により前記デュアルエネルギー画像を得ることを特徴とする請求項9ないし14のいずれか一項に記載の画像処理装置。
- 前記画像再構成手段は、前記第1X線投影データと前記第2X線投影データとを加重減算処理した後画像再構成してデュアルエネルギー画像を得ることを特徴とする請求項9ないし請求項14のいずれか一項に記載の画像処理装置。
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