JP2009106433A - 放射線撮像装置 - Google Patents
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 49
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 23
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 199
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 100
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 119
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 49
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 claims description 32
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 9
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 abstract description 6
- 238000011112 process operation Methods 0.000 abstract 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 77
- 238000000034 method Methods 0.000 description 40
- 238000005315 distribution function Methods 0.000 description 8
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 5
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 4
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
【解決手段】予め作成されている補正関数であって、計測データと補正値とを対応付けた補正関数を用い、得られた計測データを画素毎に補正する。補正は、補正値が直接X線強度で得られる場合は置き換え、補正値が散乱X線強度で得られる場合は、計測データから補正値を減算する。
【選択図】 図4
Description
以下、本発明を適用する第一の実施形態を説明する。図1は、本実施形態のX線撮像装置200の側面図である。本実施形態のX線撮像装置200はX線管212内のX線源201と、検出器202と、支柱203と、回転装置204と被検体保持装置205と、制御処理装置206と、を備える。X線源201と検出器202とは、支柱203の両端に対向して設置される。ここでは、支柱203には、C字型のアームが用いられ、被検体保持装置205には寝台が用いられる。回転装置204は、支柱203を被検体保持装置205の周りで回転させる。支柱203の回転に従って、X線源201および検出器202は、回転軸207を中心として被検体保持装置205上の被検体208の周囲を回転する。本図では、回転軸207は、床に対して平行であり、支柱203に設置されたX線源201および検出器202が寝台に横になった被検体208の周囲を回転する。
本発明を適用する第二の実施形態を説明する。本実施形態のX線撮像装置は基本的に第一の実施形態と同様である。第一の実施形態では、透過率データと直接X線強度との関係式を補正関数として用いる。本実施形態では、透過率データと散乱X線強度との関係式を補正関数として用いる。以下、第一の実施形態と異なる構成に主眼をおいて説明する。以下、本実施形態において、第一の実施形態と同一のものは、同一の符号を用いる。
Claims (12)
- 被検体にX線を照射するX線源と、
複数の画素を有し、X線を検出する検出器と、
透過率と散乱X線量条件との関係近似式から求める補正値と、透過率とを関係づける関数を、補正関数として記憶する記憶部と、
前記検出器が検出した検出結果を補正する補正処理部と、を備え、
前記補正処理部は、前記検出器が検出した前記画素毎の検出結果から得られる透過率を、前記補正関数から得られる当該透過率に対応する前記補正値を用いて補正すること
を特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項1記載の放射線撮像装置であって、
前記補正値は、前記関係近似式において、本計測時と異なる特定の前記散乱X線量条件に対応する第一の透過率から得られ、
前記補正関数において前記補正値に関係づけられる透過率は、当該関係近似式において、本計測時と同一の前記散乱X線量条件に対応する第二の透過率であること
を特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項2記載の放射線撮像装置であって
前記特定の散乱X線量条件は、散乱X線量が最も少なくなるものであること、
を特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項2記載の放射線撮像装置であって、
前記補正値は、前記関係近似式のグラフの、前記透過率を示す軸の切片であること
を特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項2から4いずれか1項記載の放射線撮像装置であって、
前記補正関数は、前記透過率を変えて得られる複数の前記関係近似式それぞれにおける前記補正値と当該補正値に関係づけられた前記第二の透過率との組から、前記補正値と前記第二の透過率とを関係付けたものであること
を特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項1から5いずれか1項記載の放射線撮像装置であって、
前記散乱X線量条件は、前記補正関数作成時に用いるコリメータ上でX線が照射される領域の面積を変更することにより変更すること
を特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項1から6いずれか1項記載の放射線撮像装置であって、
前記透過率は、前記補正関数作成時に用いる模擬被写体を前記X線が透過する距離により定まるものであること
を特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項7記載の放射線撮像装置であって、
前記模擬被写体は、1の水円柱であり、
当該水円柱内の前記X線の透過距離が異なる位置における検出結果を用いることにより、異なる透過率を得ること
を特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項2から8いずれか1項記載の放射線撮像装置であって、
前記補正値は、前記第一の透過率そのものであり、
前記補正処理部による補正は、本計測時の検出結果から得られる透過率を、前記補正値で置き換えるものであること
を特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項2から8いずれか1項記載の放射線撮像装置であって、
前記補正値は、前記第二の透過率から前記第一の透過率を減算したものであり、
前記補正処理部による補正は、前記本計測時の検出結果から得られる透過率から、前記補正値を減算するものであること
を特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項1から11いずれか1項記載の放射線撮像装置であって、
前記X線源と前記検出器とを前記被写体に対して相対的に移動させる制御部と、
前記補正後の検出結果から画像を再構成する再構成処理部とをさらに備え、
前記制御部は、前記X線源と前記2次元検出器とを前記被検体に対して相対的に回転させ、
前記再構成処理部は、前記補正値を用いて再構成演算を行い3次元像を取得すること
を特徴とする放射線撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007280292A JP5220383B2 (ja) | 2007-10-29 | 2007-10-29 | 放射線撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007280292A JP5220383B2 (ja) | 2007-10-29 | 2007-10-29 | 放射線撮像装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009106433A true JP2009106433A (ja) | 2009-05-21 |
JP2009106433A5 JP2009106433A5 (ja) | 2010-12-02 |
JP5220383B2 JP5220383B2 (ja) | 2013-06-26 |
Family
ID=40775642
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007280292A Expired - Fee Related JP5220383B2 (ja) | 2007-10-29 | 2007-10-29 | 放射線撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5220383B2 (ja) |
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---|---|
JP5220383B2 (ja) | 2013-06-26 |
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