JP2009088564A - 光起電力装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】耐湿性の低下を抑制しながら、歩留まりの低下を抑制することが可能な光起電力装置を提供することである。
【解決手段】この光起電力装置は、加水分解しやすい樹脂及び加水分解しにくい樹脂を含有する樹脂材料と導電性材料とを有する電極を含む光起電力素子1と、光起電力素子の表面側に設けられたナトリウムを含有する表面保護材14と、光起電力素子1の裏面側に設けられた裏面保護材15と、を備え、裏面保護材15を、厚み30μm以上の樹脂フィルムを1以上含み金属箔を含まない構成とし、樹脂材料中の加水分解しにくい樹脂の含有率を90体積%以上とすると共に、光起電力素子1の表面保護材15側の表面に接触するように、ナトリウムの透過を抑制するナトリウムブロック層76を形成した。
【選択図】図1

Description

本発明は、光起電力装置に関し、特に、集電極を有する光起電力素子を備えた光起電力装置に関する。
従来、集電極を有する光起電力素子を備えた光起電力装置が知られている(たとえば、特許文献1参照)。
図14は、上記特許文献1に開示された光起電力素子と同様の構成を有する従来の光起電力素子の構成を示した断面図である。図15は、図14に示した従来の一例による光起電力素子を用いた光起電力モジュールの構成を示した断面図である。図14を参照して、従来の一例による光起電力素子101では、n型単結晶シリコン基板102の上面上に、実質的に真性のi型非晶質シリコン層103と、p型非晶質シリコン層104と、透光性導電膜105とが順次形成されている。また、透光性導電膜105の上面上の所定領域には、樹脂硬化型の導電ペーストからなる集電極106が形成されている。この集電極106は、所定の間隔を隔てて互いに平行に延びるように形成された複数のフィンガー電極部106aと、フィンガー電極部106aにより収集された電流を集合させるバスバー電極部106bとによって構成されている。また、n型単結晶シリコン基板102の下面上には、実質的に真性のi型非晶質シリコン層107と、n型非晶質シリコン層108と、透光性導電膜109とが順次形成されている。また、透光性導電膜109の下面上の所定領域には、樹脂硬化型の導電ペーストからなる集電極110が形成されている。この集電極110は、所定の間隔を隔てて互いに平行に延びるように形成された複数のフィンガー電極部110aと、フィンガー電極部110aにより収集された電流を集合させるバスバー電極部(図示せず)とによって構成されている。なお、この下面側の集電極110のフィンガー電極部110aおよびバスバー電極部(図示せず)は、それぞれ、上面側の集電極106のフィンガー電極部106aおよびバスバー電極部106bと同様の構成を有している。
また、従来、上記の光起電力素子101を複数備えた光起電力モジュールが知られている。この従来の光起電力モジュールでは、図15に示すように、複数の光起電力素子101の各々が互いに隣接する他の光起電力素子101とタブ112により直列に接続されることによってモジュール化されている。また、タブ112の一方端側は、所定の光起電力素子101の上面側の集電極106のバスバー電極部106b(図14参照)に半田付けされるとともに、他方端側は、その所定の光起電力素子101に隣接する別の光起電力素子101の下面側の集電極110のバスバー電極部(図示せず)に半田付けされている。また、タブ112によって接続された複数の光起電力素子101は、充填材113によって覆われている。また、充填材113の上面上には、ガラス基板からなる表面保護材114が設けられている。また、充填材113の下面上には、PET(Poly Ethylene Terephtalate)層115a/Al箔115b/PET層115cの3層構造からなる裏面保護材115が設けられている。この裏面保護材115では、Al箔115bが水分をほとんど透過させないので、非常に低い水蒸気透過度を有している。この裏面保護材115により、光起電力モジュールの裏面側からの水分の浸入が抑制されている。
特開2003−197943号公報
しかしながら、図15に示した従来の光起電力モジュールでは、図16に示すように、タブ112を光起電力素子101の下面側の集電極110のバスバー電極部(図示せず)に半田付けする際に、凸状に固まった半田112aが形成される場合がある。この場合には、半田112aと裏面保護材115のAl箔115bとの間の距離Aが小さくなるので、半田112aとAl箔115bとの間の絶縁耐圧が低下する場合がある。この場合には、絶縁不良が発生するので、光起電力モジュールの歩留まりが低下するという問題点がある。
一方、上記の問題点を解消するために、Al箔などの金属材料を含まない裏面保護材を用いて光起電力モジュールを構成することも考えられる。しかしながら、この場合には、裏面保護材の水蒸気透過度が大きくなるので、集電極を構成する導電ペースト中に多くの水分が浸入することに起因して導電ペーストを構成する樹脂の加水分解により集電極の接触抵抗が増加するという不都合が新たに発生する。その結果、出力が低下するので、光起電力モジュールの耐湿性(水蒸気に対する出力維持特性)が低下するという問題点がある。
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、耐湿性の低下を抑制しながら、歩留まりの低下を抑制することが可能な光起電力装置を提供することである。
上記目的を達成するために、この発明の一の局面における光起電力装置は、エポキシ樹脂を含有する樹脂材料と導電性材料とを有する集電極を含む光起電力素子と、光起電力素子の表面および裏面の少なくとも一方側に設けられた保護層とを備え、樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率は、保護層の水蒸気透過度に応じて調整されている。
この一の局面による光起電力装置では、上記のように、集電極の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率を保護層の水蒸気透過度に応じて調整することによって、保護層の水蒸気透過度が高いことにより多くの水分が光起電力装置内に浸入する場合にも、加水分解しにくいエポキシ樹脂の樹脂材料中の含有率を増加させれば、樹脂材料の加水分解による集電極の劣化を抑制することができる。これにより、集電極の劣化に起因して集電極と集電極の形成された光起電力素子の表面との間の接触抵抗が増大するのを抑制することができるので、水分による光起電力装置の出力特性の低下を抑制することができる。このため、光起電力装置の耐湿性が低下するのを抑制することができる。また、この場合には、保護層の水蒸気透過度を低減するためにAl箔などの金属材料を保護層に用いる必要がないので、複数の光起電力素子をタブなどの電気配線により接続して光起電力装置を構成する場合にも、電気配線を光起電力素子に接続する半田と保護層との間の絶縁耐圧が低下することがない。これにより、絶縁不良が発生するのを抑制することができるので、光起電力装置の歩留まりの低下を抑制することができる。
上記一の局面による光起電力装置において、好ましくは、保護層の水蒸気透過度は、30g/m・24hrs(40℃,90%)以下であり、樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率は、98体積%以上である。このように構成すれば、保護層の水蒸気透過度が30g/m・24hrs(40℃,90%)以下の場合において、容易に、樹脂材料の加水分解による集電極の劣化を抑制することができるので、容易に、光起電力装置の耐湿性を向上させることができる。なお、保護層の水蒸気透過度が30g/m・24hrs(40℃,90%)以下であるとは、温度:40℃、湿度:90%の条件下において24時間の透湿度試験を行った場合に、保護層を透過する水蒸気の量が30g/m以下であることを意味する。
上記一の局面による光起電力装置において、好ましくは、保護層の水蒸気透過度は、15g/m・24hrs(40℃,90%)以下であり、樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率は、90体積%以上である。このように構成すれば、保護層の水蒸気透過度が15g/m・24hrs(40℃,90%)以下の場合において、容易に、樹脂材料の加水分解による集電極の劣化を抑制することができるので、容易に、光起電力装置の耐湿性を向上させることができる。なお、保護層の水蒸気透過度が15g/m・24hrs(40℃,90%)以下であるとは、温度:40℃、湿度:90%の条件下において24時間の透湿度試験を行った場合に、保護層を透過する水蒸気の量が15g/m以下であることを意味する。
この場合において、好ましくは、保護層の水蒸気透過度は、1g/m・24hrs(40℃,90%)以下であり、樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率は、95体積%以上である。このように構成すれば、保護層により水分の浸入を抑制しながら、95体積%以上含有されたエポキシ樹脂により樹脂材料の加水分解による集電極の劣化をより抑制することができるので、より容易に、光起電力装置の耐湿性を向上させることができる。なお、保護層の水蒸気透過度が1g/m・24hrs(40℃,90%)以下であるとは、温度:40℃、湿度:90%の条件下において24時間の透湿度試験を行った場合に、保護層を透過する水蒸気の量が1g/m以下であることを意味する。
上記一の局面による光起電力装置において、好ましくは、保護層は、シリコン酸化物および金属酸化物のいずれか一方からなる絶縁層を含む。このように構成すれば、水蒸気透過度の低いシリコン酸化物または金属酸化物からなる絶縁層により、保護層の水蒸気透過度を小さくすることができる。また、保護層を絶縁層により構成することによって、複数の光起電力素子を電気配線(タブ)により接続して光起電力装置を構成する場合にも、電気配線と保護層との間で絶縁不良が発生することがない。これにより、光起電力装置の耐湿性を向上させながら、絶縁不良による歩留まりの低下を抑制することができる。
上記一の局面による光起電力装置において、好ましくは、保護層は、樹脂材料を含有する層を含むとともに、金属材料を含有する層を含まない。このように構成すれば、複数の光起電力素子を電気配線により接続して光起電力装置を構成する場合にも、電気配線を光起電力素子に接続する半田と保護層との間で絶縁不良が発生するのを確実に防止することができる。
上記一の局面による光起電力装置において、好ましくは、光起電力素子の表面側に設けられたナトリウムを含有する部材をさらに備え、ナトリウムを含有する部材と光起電力素子との間には、ナトリウムの透過を抑制するナトリウムブロック層が設けられている。このように構成すれば、光起電力装置内に浸入した水分にナトリウムを含有する部材からナトリウムが溶出することにより、ナトリウムを含有する水分が光起電力装置内に拡散する場合にも、ナトリウムブロック層により光起電力素子にナトリウムが到達するのを抑制することができる。これにより、光起電力素子がp型半導体層を含む場合に、ナトリウムによりp型半導体層が劣化されたり、p型半導体層中のp型不純物の活性化率が低下されたりするのを抑制することができる。その結果、光起電力装置の出力特性が低下するのを抑制することができる。
上記一の局面による光起電力装置において、好ましくは、光起電力素子の表面側に設けられたナトリウムを含有する部材をさらに備え、光起電力素子は、光起電力素子のナトリウムを含有する部材側の表面に接触するように形成されたナトリウムの透過を抑制するナトリウムブロック層を含む。このように構成すれば、光起電力装置内に浸入した水分にナトリウムを含有する部材からナトリウムが溶出することにより、ナトリウムを含有する水分が光起電力装置内に拡散した場合に、光起電力素子にナトリウムが到達したとしても、ナトリウムブロック層により光起電力素子の内部までナトリウムが到達するのを抑制することができる。これにより、光起電力素子の内部にp型半導体層が形成されている場合に、ナトリウムによりp型半導体層が劣化されたり、p型半導体層中のp型不純物の活性化率が低下されるのを抑制することができる。その結果、光起電力装置の出力特性が低下するのを抑制することができる。
上記ナトリウムブロック層を含む構成において、好ましくは、ナトリウムブロック層は、酸化物、窒化物およびフッ化物からなるグループより選択される少なくとも1つの材料を含む。このような材料によりナトリウムブロック層を構成すれば、容易に、ナトリウムブロック層により光起電力素子のp型半導体層にナトリウムが到達するのを抑制することができる。
上記一の局面による光起電力装置において、好ましくは、光起電力素子の表面側に設けられたナトリウムを含有する部材をさらに備え、光起電力素子は、n型半導体層と、n型半導体層のナトリウムを含有する部材と反対側の表面上に形成されたp型半導体層とを含む。このように構成すれば、p型半導体層をn型半導体層のナトリウムを含有する部材側の表面上に形成する場合に比べて、p型半導体層とナトリウムを含有する部材との間の距離を大きくすることができるので、光起電力装置内に浸入した水分にナトリウムを含有する部材からナトリウムが溶出することにより、ナトリウムが拡散される場合にも、拡散されたナトリウムがp型半導体層に到達するのを抑制することができる。これにより、ナトリウムによりp型半導体層が劣化されたり、p型半導体層中のp型不純物の活性化率が低下されるのを抑制することができる。
上記一の局面による光起電力装置において、好ましくは、光起電力素子は、複数設けられているとともに、複数の光起電力素子は、電気配線により直列に接続されることによってモジュール化されている。このように構成すれば、複数の光起電力素子がモジュール化された光起電力装置において、耐湿性が低下するのを抑制しながら、歩留まりの低下を抑制することができる。
本発明の実施例1−1による光起電力素子の構成を示した断面図である。 図1に示した実施例1−1による光起電力素子を用いた光起電力モジュールの構成を示した断面図である。 比較例1−1による光起電力モジュールの構成を示した断面図である。 裏面保護材の水蒸気透過度の測定方法を説明するための図である。 絶縁性能の評価試験の試験方法を説明するための模式図である。 実施例2−6による光起電力モジュールの構成を示した断面図である。 実施例2−7による光起電力モジュールの構成を示した断面図である。 実施例2−15による光起電力モジュールの構成を示した断面図である。 実施例2−22による光起電力モジュールの構成を示した断面図である。 実施例3−2による光起電力モジュールの構成を示した断面図である。 実施例3−3による光起電力素子の構成を示した断面図である。 実施例3−4による光起電力モジュールの構成を示した断面図である。 実施例3−6による光起電力モジュールの構成を示した断面図である。 従来の一例による光起電力素子の構成を示した断面図である。 図14に示した従来の一例による光起電力素子を用いた光起電力モジュールの構成を示した断面図である。 図15に示した従来の光起電力モジュールの問題点を説明するための部分断面図である。
以下、本発明の実施例を具体的に説明する。
この実施例1では、集電極を構成する樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率を変化させて実施例1−1〜実施例1−5および比較例1−1〜比較例1−5による光起電力モジュールを作製するとともに、各光起電力モジュールについて温度サイクル試験、耐湿性試験および絶縁性能の評価試験を行った。
(実施例1−1)
図1は、本発明の実施例1−1による光起電力素子の構成を示した断面図である。図2は、図1に示した実施例1−1による光起電力素子を用いた光起電力モジュールの構成を示した断面図である。図1および図2を参照して、実施例1−1による光起電力モジュールの作製プロセスについて説明する。
[光起電力モジュールの作製]
まず、図1に示すように、洗浄することにより不純物が除去されたn型単結晶シリコン基板2を準備した。次に、RFプラズマCVD法を用いて、n型単結晶シリコン基板2の上面上にi型非晶質シリコン層3およびp型非晶質シリコン層4を順次形成した。
次に、RFプラズマCVD法を用いて、n型単結晶シリコン基板2の下面上にi型非晶質シリコン層7およびn型非晶質シリコン層8を順次形成した。
次に、マグネトロンスパッタ法を用いて、p型非晶質シリコン層4およびn型非晶質シリコン層8の各々の上に、ITO(Indium Tin Oxide)膜からなる透光性導電膜5および9をそれぞれ形成した。
次に、スクリーン印刷法を用いて、透光性導電膜5の上面上および透光性導電膜9の下面上の各々の所定領域に銀(Ag)からなる導電性フィラーと、樹脂材料(ビスフェノールA型のエポキシ樹脂/ウレタン樹脂が50体積%/50体積%)とからなる導電ペースト(銀ペースト)を塗布した。そして、その導電ペーストを200℃で1時間乾燥することにより硬化させた。これにより、透光性導電膜5の上面上に、80μmの幅を有するフィンガー電極部6aと、1.5mmの幅を有するバスバー電極部6bとからなる集電極6を形成するとともに、透光性導電膜9の下面上に、上記フィンガー電極部6aおよびバスバー電極部6bの各々と同様の構成を有するフィンガー電極部10aおよびバスバー電極部(図示せず)からなる集電極10を形成した。このようにして、図1に示した実施例1−1による光起電力素子1を形成した。
次に、上記のようにして作製した光起電力素子1を複数準備した。そして、この複数の光起電力素子1の上面側の集電極6のバスバー電極部6bに銅箔からなるタブ12(図2参照)の一方端側を接続した。なお、このタブ12は、本発明の「電気配線」の一例である。また、タブ12のバスバー電極部6bへの接続は、タブ12の表面にコーティングされた半田を加熱することによりバスバー電極部6bにタブ12を半田付けすることによって行った。そして、タブ12の他方端側を、同様のプロセスにより、隣接する別の光起電力素子1の下面側の集電極10のバスバー電極部(図示せず)に接続した。このようにして、複数の光起電力素子1を直列に接続した。
次に、ガラス基板からなる表面保護材14の上にEVA(Ethylene Vinyl Acetate)シートからなる充填材13を載せた後、タブ12により接続した複数の光起電力素子1を載せた。そして、その上にさらにEVAシートからなる充填材13を載せた後、30μmの厚みを有するPET(Poly Ethylene Terephtalate)の単層フィルムからなる裏面保護材15を載せた。なお、この裏面保護材15は、本発明の「保護層」の一例である。その後、加熱しながら加圧することによって、表面保護材14、充填材13、タブ12により接続した複数の光起電力素子1および裏面保護材15を一体化させた。このようにして、図2に示した実施例1−1による光起電力モジュールを作製した。
なお、裏面保護材15を一体化させるのに先立って、裏面保護材15の水蒸気透過度をJIS K 7129(プラスチックフィルムおよびシートの水蒸気透過度試験方法(機器測定法))に基づいて測定した。この水蒸気透過度の測定は、図4に示すような測定装置16を用いて行った。具体的には、測定装置16に裏面保護材15をセットするとともに、裏面保護材15の下方に水を設置した。そして、裏面保護材15の下側の雰囲気を温度:40℃、湿度:100%とするとともに、裏面保護材15の上側の雰囲気を温度:40℃、湿度:10%(測定開始時の初期湿度)とした。この状態を保持することにより、裏面保護材15に水蒸気を透過させた。そして、裏面保護材15の上側における湿度の変化速度を湿度センサにより測定した。そして、測定した湿度の変化速度を、予め水蒸気透過度の知られている標準試験片を用いた場合の湿度の変化速度と比較することにより、裏面保護材の水蒸気透過度を測定した。このようにして測定した実施例1−1による裏面保護材15の水蒸気透過度は、15g/m・24hrs(40℃,90%)であった。
(実施例1−2)
この実施例1−2では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを70体積%/30体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例1−1と同様にして実施例1−2による光起電力モジュールを作製した。
(実施例1−3)
この実施例1−3では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを90体積%/10体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例1−1と同様にして実施例1−3による光起電力モジュールを作製した。
(実施例1−4)
この実施例1−4では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを98体積%/2体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例1−1と同様にして実施例1−4による光起電力モジュールを作製した。
(実施例1−5)
この実施例1−5では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂が100体積%(ウレタン樹脂:0体積%)の樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例1−1と同様にして実施例1−5による光起電力モジュールを作製した。
(比較例1−1)
この比較例1−1では、図3に示すように、裏面保護材25として、PET層25a(膜厚:30μm)/Al箔25b(膜厚:30μm)/PET層25c(膜厚:30μm)の3層構造を有するフィルムを用いた。この裏面保護材25の水蒸気透過度は、0g/m・24hrs(40℃,90%)であった。これ以外は、上記実施例1−1と同様にして比較例1−1による光起電力モジュールを作製した。
(比較例1−2)
この比較例1−2では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを70体積%/30体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記比較例1−1と同様にして比較例1−2による光起電力モジュールを作製した。
(比較例1−3)
この比較例1−3では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを90体積%/10体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記比較例1−1と同様にして比較例1−3による光起電力モジュールを作製した。
(比較例1−4)
この比較例1−4では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを98体積%/2体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記比較例1−1と同様にして比較例1−4による光起電力モジュールを作製した。
(比較例1−5)
この比較例1−5では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂が100体積%(ウレタン樹脂:0体積%)の樹脂材料を用いた。これ以外は、上記比較例1−1と同様にして比較例1−5による光起電力モジュールを作製した。
[温度サイクル試験]
次に、上記のようにして作製した実施例1−1〜1−5および比較例1−1〜1−5による各光起電力モジュールについて、温度サイクル試験を行った。この温度サイクル試験は、JIS C 8917付属書1(規定)温度サイクル試験A−1に従って行った。具体的には、まず、光起電力モジュールの初期の出力を測定した。その後、光起電力モジュールを所定の試験槽内に設置するとともに、試験槽内の温度を−40℃から90℃まで上昇させた後、90℃から−40℃まで低下させた。そして、これを1サイクルとして合計200サイクルの試験を行った。そして、200サイクルの試験後、再び、光起電力モジュールの出力を測定した。そして、光起電力モジュールの初期の出力に対する200サイクルの試験後の出力の割合(%)(以下、温度サイクル試験の初期出力比という)を算出した。この温度サイクル試験の初期出力比は95%以上であることが、温度サイクル試験の合格基準として規定されている。
[耐湿性試験]
次に、実施例1−1〜1−5および比較例1−1〜1−5による各光起電力モジュールについて、耐湿性試験を行った。この耐湿性試験は、JIS C 8917付属書11(規定)耐湿性試験B−2に準じて行った。具体的には、まず、光起電力モジュールの初期の出力を測定した。その後、光起電力モジュールを温度:85℃、湿度:85%以上の恒温恒室槽中に1000時間保管した。その後、光起電力装置モジュールの出力を再び測定した。そして、光起電力モジュールの初期の出力に対する1000時間の保管後の出力の割合(%)(以下、耐湿性試験の初期出力比という)を算出した。そして、その算出した初期出力比に基づいて、光起電力モジュールの耐湿性(水蒸気に対する出力の維持特性)を評価した。なお、この耐湿性試験の初期出力比は95%以上であることが、JISにより耐湿性試験の合格基準として規定されている。
[絶縁性能の評価試験]
次に、JIS C 8918の6(性能)の(2)の絶縁抵抗測定法に準じて絶縁性能の評価試験を行った。なお、この絶縁性能の評価試験では、集電極6および10を構成する樹脂材料中のエポキシ樹脂とウレタン樹脂との配合比によって絶縁性能は変化しないと考えられるので、実施例1−1および比較例1−1による光起電力モジュールのみについて試験を行った。絶縁性能の評価試験では、具体的には、図5に示すように、光起電力モジュールの外周に金属フレーム17を取り付けた後、その金属フレーム17と、光起電力モジュール内の所定の光起電力素子1との間の抵抗を絶縁抵抗計(1000Vメガ)18を用いて測定した。なお、この際、金属フレーム17側を接地して測定を行った。そして、絶縁抵抗計18により測定した抵抗が1000MΩ以上であれば合格と判断する一方、1000MΩよりも小さい場合には、絶縁不良が発生したと判断した。なお、この評価試験では、実施例1−1および比較例1−1による各1000枚の光起電力モジュールについて試験するとともに、絶縁不良の発生率を算出した。
上記した温度サイクル試験、耐湿性試験および絶縁性能の評価試験の結果を以下の表1に示す。
Figure 2009088564
上記表1から、実施例1−1〜1−5および比較例1−1〜1−5では、温度サイクル試験の初期出力比が98%以上になることがわかる。すなわち、実施例1−1〜1−5および比較例1−1〜1−5では、全て、温度サイクル試験の合格基準である初期出力比95%以上を満たすことがわかった。これにより、PETの単層フィルムからなる裏面保護材15(図2参照)を用いた光起電力モジュール(実施例1−1〜1−5)と、PET層25a/Al箔25b/PET層25cの3層構造からなる裏面保護材25(図2参照)を用いた光起電力モジュール(比較例1−1〜1−5)とにおいて、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率が50体積%〜100体積%(ウレタン樹脂の含有率:50体積%〜0体積%)の場合に、温度サイクル試験に合格することが判明した。
また、上記表1から、エポキシ樹脂の含有率が100体積%(ウレタン樹脂の含有率:0体積%)の場合の温度サイクル試験の初期出力比(実施例1−5および比較例1−5:98%)は、エポキシ樹脂の含有率が50体積%〜98体積%(ウレタン樹脂の含有率:50体積%〜2体積%)の場合の温度サイクル試験の初期出力比(実施例1−1〜1−4および比較例1−1〜1−4:99%)に比べて、1%小さいことがわかる。これは、次のような理由によると考えられる。すなわち、エポキシ樹脂が硬く脆い性質を有していることにより、樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率が100体積%(ウレタン樹脂の含有率:0体積%)の場合には、集電極6および10が硬く脆い性質を有する。この場合には、温度サイクル試験中に集電極6および10と、光起電力素子1の集電極6および10以外の部分とで膨張率および収縮率に差が生じることによって、集電極6および10のフィンガー電極部6aおよび10aにクラックが生じる場合がある。これにより、フィンガー電極部6aおよび10aのクラックが生じた部分で抵抗損失が発生することにより出力が低下するので、実施例1−5および比較例1−5では、実施例1−1〜1−4および比較例1−1〜1−4に比べて、初期出力比が1%小さくなったと考えられる。
また、上記表1から、実施例1−3〜1−5では、耐湿性試験の初期出力比が95%以上(実施例1−3:95%、実施例1−4:96%、実施例1−5:97%)になる一方、実施例1−1および1−2では、耐湿性試験の初期出力比が90%以下(実施例1−1:75%、実施例1−2:90%)になることがわかる。すなわち、実施例1−3〜1−5では、耐湿性試験の合格基準(初期出力比95%以上)を満たす一方、実施例1−1および1−2では、耐湿性試験の合格基準(初期出力比95%以上)を満たさないことがわかった。これにより、PETの単層フィルム(膜厚:30μm、水蒸気透過度:15g/m・24hrs(40℃,90%))からなる裏面保護材15を用いた光起電力モジュール(実施例1−1〜1−5)において、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率を90体積%以上(ウレタン樹脂の含有率:10体積%以下)にすれば、耐湿性試験に合格することが判明した。
上記の結果は、以下の理由によると考えられる。すなわち、裏面保護材15(図2参照)がPETの単層フィルム(膜厚:30μm、水蒸気透過度:15g/m・24hrs(40℃,90%))からなる場合には、裏面保護材15を透過して光起電力モジュール内に多くの水分が浸入する。この際、ウレタン樹脂は加水分解しやすいので、光起電力モジュール内に浸入した水分により集電極6および10中のウレタン樹脂が加水分解されることによって、集電極6および10が劣化する。これにより、集電極6および透光性導電膜5と、集電極10および透光性導電膜9との各々の界面における接触抵抗が増大するので、光起電力素子1の出力が低下する。このため、光起電力モジュールの出力が低下する。一方、エポキシ樹脂は、ウレタン樹脂に比べて加水分解しにくいので、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率が大きくなるとともに、ウレタン樹脂の含有率が小さくなるにつれて、集電極6および10が劣化しにくくなる。これにより、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率が大きくなるとともに、ウレタン樹脂の含有率が小さくなるにつれて、光起電力モジュールの出力は低下しにくくなる。その結果、裏面保護材15がPETの単層フィルムからなる光起電力モジュール(実施例1−1〜1−5)において、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率が90体積%以上(ウレタン樹脂の含有率:10体積%以下)の場合に、耐湿性試験の初期特性比が95%以上になったと考えられる。
また、上記表1から、比較例1−1〜1−5では、耐湿性試験の合格基準である初期出力比95%以上(比較例1−1:97%、比較例1−2:98%、比較例1−3〜1−5:99%)を満たすことがわかる。これは、比較例1−1〜1−5では、PET層25a/Al箔25b/PET層25cの3層構造からなる裏面保護材25(図3参照)の水蒸気透過度が0g/m・24hrs(40℃,90%)であるため光起電力モジュール内にほとんど水分が浸入しないので、加水分解による集電極6および10の劣化がほとんど生じないことによると考えられる。
また、上記表1から、絶縁性能の評価試験において、実施例1−1では絶縁不良の発生率が0%であるのに対して、比較例1−1では1%の絶縁不良が発生することがわかる。これは、次の理由によると考えられる。すなわち、比較例1−1による光起電力モジュールでは、裏面保護材25(図3参照)にAl箔25bを用いているので、タブ12を集電極10(図1参照)に接続するための半田とAl箔25bとの間の距離が小さくなることに起因して半田とAl箔25bとの間の絶縁耐圧が低下する場合がある。これにより、1%の絶縁不良が発生したと考えられる。一方、実施例1−1では、裏面保護材15(図2参照)にAl箔などの金属材料を用いてないので、絶縁不良は発生しない。これにより、実施例1−1では、絶縁不良の発生率が0%になったと考えられる。上記の結果から、Al箔などの金属材料を含まない裏面保護材15を用いることが絶縁不良による光起電力モジュールの歩留まりの低下を抑制するために好ましいことが判明した。
この実施例2では、裏面保護材の水蒸気透過度による光起電力モジュールの耐湿性を評価するために種々の構成を有する裏面保護材を用いて実施例2−1〜2−25および比較例2−1による光起電力モジュールを作製するとともに、各光起電力モジュールについて耐湿性試験を行った。なお、以下の実施例2−1〜2−25および比較例2−1では、光起電力モジュールを作製するのに先立って、上記実施例1−1と同様の方法で裏面保護材の水蒸気透過度を測定した。
(実施例2−1)
この実施例2−1では、裏面保護材15(図2参照)として、PVF(ポリフッ化ビニル)の単層フィルム(膜厚:30μm、水蒸気透過度:30g/m・24hrs(40℃,90%))を用いた。また、集電極6および10(図1参照)を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを95体積%/5体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例1−1と同様にして実施例2−1による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−2)
この実施例2−2では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを98体積%/2体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−1と同様にして実施例2−2による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−3)
この実施例2−3では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂が100体積%(ウレタン樹脂:0体積%)の樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−1と同様にして実施例2−3による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−4)
この実施例2−4では、裏面保護材15(図2参照)として、PETの単層フィルム(膜厚:30μm、水蒸気透過度:15g/m・24hrs(40℃,90%))を用いた。また、集電極6および10(図1参照)を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを80体積%/20体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−1と同様にして実施例2−4による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−5)
この実施例2−5では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを90体積%/10体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−4と同様にして実施例2−5による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−6)
この実施例2−6では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを95体積%/5体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−4と同様にして実施例2−6による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−7)
この実施例2−7では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを98体積%/2体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−4と同様にして実施例2−7による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−8)
この実施例2−8では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂が100体積%(ウレタン樹脂:0体積%)の樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−4と同様にして実施例2−8による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−9)
この実施例2−9では、図6に示すように、裏面保護材35として、PET層35a(膜厚:30μm)/PET層35b(膜厚:30μm)の2層構造を有するフィルム(合計膜厚:60μm、水蒸気透過度:8g/m・24hrs(40℃,90%))を用いた。なお、この裏面保護材35は、本発明の「保護層」の一例である。また、集電極6および10(図1参照)を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを90体積%/10体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−1と同様にして実施例2−9による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−10)
この実施例2−10では、図7に示すように、裏面保護材45として、PET層45a(膜厚:30μm)/SiO層45b(膜厚:10nm)/PET層45c(膜厚:30μm)の3層構造を有するフィルム(合計膜厚:60μm、水蒸気透過度:1g/m・24hrs(40℃,90%))を用いた。なお、この裏面保護材45は、本発明の「保護層」の一例であり、SiO層45bは、本発明の「絶縁層」の一例である。また、集電極6および10(図1参照)を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを90体積%/10体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−1と同様にして実施例2−10による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−11)
この実施例2−11では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを95体積%/5体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−10と同様にして実施例2−11による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−12)
この実施例2−12では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを98体積%/2体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−10と同様にして実施例2−12による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−13)
この実施例2−13では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂が100体積%(ウレタン樹脂:0体積%)の樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−10と同様にして実施例2−13による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−14)
この実施例2−14では、実施例2−10による裏面保護材45(図7参照)のSiO層45b(膜厚:10nm)をAl層45d(膜厚:10nm)で置き換えた。なお、このAl層45dは、本発明の「絶縁層」の一例である。すなわち、裏面保護材45として、PET層45a(膜厚:30μm)/Al層45d(膜厚:10nm)/PET層45c(膜厚:30μm)の3層構造を有するフィルム(合計膜厚:60μm、水蒸気透過度:1.5g/m・24hrs(40℃,90%))を用いた。また、集電極6および10(図1参照)を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを90体積%/10体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−1と同様にして実施例2−14による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−15)
この実施例2−15では、実施例2−10による裏面保護材45(図7参照)のPET層45aの膜厚を増加させたフィルムを用いた。すなわち、裏面保護材45として、PET層45a(膜厚:300μm)/SiO層45b(膜厚:10nm)/PET層45c(膜厚:30μm)の3層構造を有するフィルム(合計膜厚:330μm、水蒸気透過度:0.1g/m・24hrs(40℃,90%))を用いた。また、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを70体積%/30体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−1と同様にして実施例2−15による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−16)
この実施例2−16では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを80体積%/20体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−15と同様にして実施例2−16による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−17)
この実施例2−17では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを90体積%/10体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−15と同様にして実施例2−17による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−18)
この実施例2−18では、図8に示すように、裏面保護材55として、PET層55a(膜厚:300μm)/SiO層55b(膜厚:10nm)/PET層55c(膜厚:30μm)/PVDC(ポリフッ化ビニリデン)層55d(膜厚:30μm)/SiO層55e(膜厚:10nm)/PET層55f(膜厚:300μm)の6層構造を有するフィルム(合計膜厚:660μm、水蒸気透過度:0.02g/m・24hrs(40℃,90%))を用いた。なお、この裏面保護材55は、本発明の「保護層」の一例である。また、集電極6および10(図1参照)を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを60体積%/40体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−1と同様にして実施例2−18による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−19)
この実施例2−19では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを70体積%/30体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−18と同様にして実施例2−19による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−20)
この実施例2−20では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを80体積%/20体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−18と同様にして実施例2−20による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−21)
この実施例2−21では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを90体積%/10体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−18と同様にして実施例2−21による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−22)
この実施例2−22では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを95体積%/5体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−18と同様にして実施例2−22による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−23)
この実施例2−23では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを98体積%/2体積%の配合比で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−18と同様にして実施例2−23による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−24)
この実施例2−24では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂が100体積%(ウレタン樹脂:0体積%)の樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−18と同様にして実施例2−24による光起電力モジュールを作製した。
(実施例2−25)
この実施例2−25では、図9に示すように、実施例2−18による裏面保護材55(図8参照)の合計膜厚(660μm)と実質的に同じ厚みを有するPETの単層フィルム(膜厚:660μm、水蒸気透過度:1g/m・24hrs(40℃,90%))を裏面保護材65として用いた。なお、この裏面保護材65は、本発明の「保護層」の一例である。また、集電極6および10(図1参照)を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを90体積%/10体積%で配合した樹脂材料を用いた。これ以外は、上記実施例2−1と同様にして実施例2−25による光起電力モジュールを作製した。
(比較例2−1)
この比較例2−1では、上記比較例1−3と同様にして比較例2−1による光起電力モジュールを作製した。
[耐湿性試験]
次に、上記のようにして作製した実施例2−1〜2−25および比較例2−1による光起電力モジュールについて、耐湿性試験を行った。この耐湿性試験では、上記実施例1と同様の1000時間の耐湿性試験に加えて、より長期の耐湿性(水蒸気に対する出力の維持特性)を評価するために2000時間の耐湿性試験を行った。この2000時間の耐湿性試験は、温度:85℃、湿度:85%以上の恒温恒室槽中に光起電力モジュールを2000時間保管すること以外は、上記した1000時間の耐湿性試験と同様にして行った。その結果を、以下の表2に示す。
Figure 2009088564
上記表2の1000時間の耐湿性試験の結果から、裏面保護材の水蒸気透過度が0.02g/m・24hrs(40℃,90%)の光起電力モジュール(実施例2−18〜2−24)では、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率が70体積%以上(ウレタン樹脂の含有率:30体積%以下)の実施例2−19〜2−24において、耐湿性試験の初期出力比が95%以上になることがわかる。また、裏面保護材の水蒸気透過度が0.1g/m・24hrs(40℃,90%)の光起電力モジュール(実施例2−15〜2−17)では、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率が80体積%以上(ウレタン樹脂の含有率:20体積%以下)の実施例2−16および2−17において、耐湿性試験の初期出力比が95%以上になることがわかる。また、裏面保護材の水蒸気透過度が1g/m・24hrs(40℃,90%)の光起電力モジュール(実施例2−10〜2−13)では、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率が90体積%以上(ウレタン樹脂の含有率:10体積%以下)の実施例2−10〜2−13において、耐湿性試験の初期出力比が96%以上になることがわかる。また、裏面保護材の水蒸気透過度が15g/m・24hrs(40℃,90%)の光起電力モジュール(実施例2−4〜2−8)では、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率が90体積%以上(ウレタン樹脂の含有率:10体積%以下)の実施例2−5〜2−8において、耐湿性試験の初期出力比が95%以上になることがわかる。また、裏面保護材の水蒸気透過度が30g/m・24hrs(40℃,90%)の光起電力モジュール(実施例2−1〜2−3)では、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率が98体積%以上(ウレタン樹脂の含有率:2体積%以下)の実施例2−2および2−3において、耐湿性試験の初期出力比が95%以上になることがわかる。上記の結果から、裏面保護材の水蒸気透過度が0.02g/m・24hrs(40℃,90%)から30g/m・24hrs(40℃,90%)へ徐々に大きくなるのに伴って、光起電力モジュール内により多くの水分が浸入する場合にも、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率を70体積%から98体積%へ裏面保護材の水蒸気透過度に応じて増加させることにより、1000時間の耐湿性試験の合格基準(初期出力比:95%以上)を満たすことがわかった。また、裏面保護材の水蒸気透過度が30g/m・24hrs(40℃,90%)以下の場合には、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率を98体積%以上にすれば、1000時間の耐湿性試験の合格基準(初期出力比:95%以上)を満たすことがわかった。また、裏面保護材の水蒸気透過度が15g/m・24hrs(40℃,90%)以下の場合には、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率を90体積%以上にすれば、1000時間の耐湿性試験の合格基準(初期出力比:95%以上)を満たすことがわかった。
また、上記表2の2000時間の耐湿性試験の結果から、裏面保護材の水蒸気透過度が0.02g/m・24hrs(40℃,90%)の光起電力モジュール(実施例2−18〜2−24)では、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率が90体積%以上(ウレタン樹脂の含有率:10体積%以下)の実施例2−21〜2−24において、耐湿性試験の初期出力比が95%以上になることがわかる。また、裏面保護材の水蒸気透過度が0.1g/m・24hrs(40℃,90%)の光起電力モジュール(実施例2−15〜2−17)では、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率が90体積%(ウレタン樹脂の含有率:10体積%)の実施例2−17において、耐湿性試験の初期出力比が95%以上になることがわかる。また、裏面保護材の水蒸気透過度が1g/m・24hrs(40℃,90%)の光起電力モジュール(実施例2−10〜2−13)では、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率が95体積%以上(ウレタン樹脂の含有率:5体積%以下)の実施例2−11〜2−13において、耐湿性試験の初期出力比が95%以上になることがわかる。また、裏面保護材の水蒸気透過度が15g/m・24hrs(40℃,90%)の光起電力モジュール(実施例2−4〜2−8)では、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率が100体積%(ウレタン樹脂の含有率:0体積%)の実施例2−8であっても、耐湿性試験の初期出力比が94%であることがわかる。また、裏面保護材の水蒸気透過度が30g/m・24hrs(40℃,90%)の光起電力モジュール(実施例2−1〜2−3)では、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率が100体積%(ウレタン樹脂の含有率:0体積%)の実施例2−3であっても、耐湿性試験の初期出力比が93%であることがわかる。上記の結果から、裏面保護材の水蒸気透過度が1g/m・24hrs(40℃,90%)以下の場合には、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率を95体積%以上にすれば、2000時間の耐湿性試験の初期出力比を95%以上にすることができることがわかった。これにより、集電極6および10の樹脂材料中のエポキシ樹脂の含有率を95体積%以上にすることが、より長期にわたって良好な耐湿性(水蒸気に対する出力の維持特性)を得るために好ましいことが判明した。
また、上記表2から、2層のPET層(膜厚30μm)/PET層(膜厚30μm)からなる裏面保護材を用いた実施例2−9による1000時間の耐湿性試験の初期出力比(96%)および2000時間の耐湿性試験の初期出力比(93%)は、それぞれ、単層のPET層(膜厚:30μm)からなる裏面保護材を用いた実施例2−5による1000時間の耐湿性試験の初期出力比(95%)および2000時間の耐湿性試験の初期出力比(90%)に比べて大きいことがわかる。これは、実施例2−9による裏面保護材の水蒸気透過度(8g/m・24hrs(40℃,90%))が、実施例2−5による裏面保護材の水蒸気透過度(15g/m・24hrs(40℃,90%))に比べて小さいことに起因すると考えられる。この結果から、水蒸気透過度が比較的高いPET層(膜厚:30μm、水蒸気透過度:15g/m・24hrs(40℃,90%))であっても、実施例2−9(図6参照)のように、2層重ねて膜厚を増加させることによって水蒸気透過度が低下することがわかった。そして、そのPETの2層構造のフィルムを裏面保護材に用いることによって光起電力モジュールの耐湿性(水蒸気に対する出力の維持特性)を向上させることができることが判明した。
また、上記表2から、実施例2−10による2000時間の耐湿性試験の初期出力比(94%)と、実施例2−14による2000時間の耐湿性試験の初期出力比(94%)とは、それぞれ、実施例2−9による2000時間の耐湿性試験の初期出力比(93%)に比べて大きいことがわかる。これは、実施例2−10による裏面保護材の水蒸気透過度(1g/m・24hrs(40℃,90%))と、実施例2−14による裏面保護材の水蒸気透過度(1.5g/m・24hrs(40℃,90%))とが、実施例2−9による水蒸気透過度(8g/m・24hrs(40℃,90%))に比べて小さいことに起因すると考えられる。この結果から、2層のPET層間に水蒸気透過度の低いSiO層やAl層の絶縁層を挟んだ構成を有する裏面保護材(実施例2−10および2−14)では、2層のPET層のみを積層した裏面保護材(実施例2−9)に比べて、水蒸気透過度を低下させることができることが判明した。また、そのPET層/SiO層/PET層またはPET層/Al層/PET層の構成を有する裏面保護材を用いることによって、光起電力モジュールの耐湿性(水蒸気に対する出力の維持特性)を向上させることができることが判明した。なお、SiO層およびAl層は絶縁層であるため、タブ12を光起電力素子1の集電極10に取り付ける半田とSiO層およびAl層との距離が小さくなった場合にも、絶縁不良は発生しない。これにより、絶縁不良に起因する歩留まりの低下が生じるのを抑制することができる。
また、上記表2から、実施例2−17による1000時間の耐湿性試験の初期出力比(97%)および2000時間の耐湿性試験の初期出力比(95%)は、それぞれ、実施例2−10による1000時間の耐湿性試験の初期出力比(96%)および2000時間の耐湿性試験の初期出力比(94%)に比べて大きいことがわかる。これは、実施例2−17による裏面保護材の水蒸気透過度(0.1g/m・24hrs(40℃,90%))が、実施例2−10による裏面保護材の水蒸気透過度(1g/m・24hrs(40℃,90%))に比べて小さいことに起因すると考えられる。この結果から、実施例2−17のようにPET層/SiO層/PET層の3層構造を有する裏面保護材において、一方のPET層の膜厚を300μmに増加させることによって、そのPET層の膜厚が30μmの場合(実施例2−10)よりも裏面保護材の水蒸気透過度を低下させることができることが判明した。また、実施例2−17では、一方のPET層の膜厚を300μmに増加させたPET層(膜厚:300μm)/SiO層(膜厚:10nm)/PET層(膜厚:30μm)からなる裏面保護材を用いることによって、実施例2−10に比べて、光起電力モジュールの耐湿性(水蒸気に対する出力の維持特性)を向上させることができることが判明した。
また、上記表2から、実施例2−21による1000時間の耐湿性試験の初期出力比(98%)および2000時間の耐湿性試験の初期出力比(95%)は、それぞれ、実施例2−17による1000時間の耐湿性試験の初期出力比(97%)および2000時間の耐湿性試験の初期出力比(95%)に比べて大きいことがわかる。これは、実施例2−21による裏面保護材の水蒸気透過度(0.02g/m・24hrs(40℃,90%))が、実施例2−17による裏面保護材の水蒸気透過度(0.1g/m・24hrs(40℃,90%))に比べて小さいことに起因すると考えられる。この結果から、PET層(膜厚:300μm)/SiO層(膜厚:10nm)/PET層(膜厚:30μm)の3層構造の裏面保護材(実施例2−17)に、さらに、PVDC層(膜厚:30μm)/SiO層(膜厚:10nm)/PET層(膜厚:300μm)の3層を積層して形成した6層構造の裏面保護材(実施例2−21)では、PET層(膜厚:300μm)/SiO層(膜厚:10nm)/PET層(膜厚:30μm)の3層構造からなる裏面保護材(実施例2−17)に比べて、水蒸気透過度を低下させることができることが判明した。また、実施例2−21では、その6層構造の裏面保護材を用いることによって、3層構造の裏面保護材を用いた実施例2−17に比べて光起電力モジュールの耐湿性(水蒸気に対する出力の維持特性)を向上させることができることが判明した。
また、上記表2から、実施例2−25による1000時間の耐湿性試験の初期出力比(96%)および2000時間の耐湿性試験の初期出力比(92%)は、それぞれ、実施例2−21による1000時間の耐湿性試験の初期出力比(98%)および2000時間の耐湿性試験の初期出力比(95%)に比べて小さいことがわかる。これは、実施例2−25による裏面保護材の水蒸気透過度(1g/m・24hrs(40℃,90%))が、実施例2−21による裏面保護材の水蒸気透過度(0.02g/m・24hrs(40℃,90%))に比べて大きいことに起因すると考えられる。この結果から、PET層(膜厚:300μm)/SiO層(膜厚:10nm)/PET層(膜厚:30μm)/PVDC層(膜厚:30μm)/SiO層(膜厚:10nm)/PET層(膜厚:300μm)の6層構造の裏面保護材(実施例2−21)に比べて、その6層構造の裏面保護材の合計膜厚(660μm)と同等の膜厚を有するPETの単層フィルムからなる裏面保護材(実施例2−25)では、水蒸気透過度が大きくなることが判明した。また、6層構造の裏面保護材と同等の膜厚を有するPETの単層フィルムを裏面保護材に用いた場合(実施例2−25)には、6層構造の裏面保護材を用いた場合(実施例2−21)ほど、光起電力モジュールの耐湿性(水蒸気に対する出力の維持特性)が向上しないことが判明した。
また、上記表2から比較例2−1による1000時間の耐湿性試験の初期出力比(99%)および2000時間の耐湿性試験の初期出力比(98%)は、それぞれ、上記実施例2−5、2−9、2−10、2−14、2−17、2−21および2−25による1000時間の耐湿性試験の初期出力比(95%〜98%)、および、2000時間の耐湿性試験の初期出力比(90%〜95%)に比べて大きいことがわかる。これは、比較例2−1による裏面保護材では、水蒸気透過度が0g/m・24hrs(40℃,90%)であり、裏面保護材を介して水蒸気が実質的に浸入しないためであると考えられる。しかしながら、上記実施例1による絶縁性能の評価試験の結果(表1参照)からわかるように、PET層(膜厚:30μm)/Al箔(膜厚:30μm)/PET層(膜厚:30μm)からなる裏面保護材を用いた場合(比較例2−1の場合)には、絶縁不良が発生することに起因して歩留まりが低下するため、比較例2−1によるPET層(膜厚:30μm)/Al箔(膜厚:30μm)/PET層(膜厚:30μm)からなる裏面保護材を用いるのは好ましくないことがわかる。
この実施例3では、浸入した水分に伴って拡散されるナトリウムの影響を抑制するための構成を有する実施例3−1〜3−6による光起電力モジュールを作製した。そして、その作製した各光起電力モジュールを用いて、表面保護材(ガラス基板)から溶出したナトリウムが出力特性に与える影響について評価した。
(実施例3−1)
この実施例3−1では、上記実施例2−2と同様にして実施例3−1による光起電力モジュールを作製した。すなわち、この実施例3−1では、集電極6および10を形成するための導電ペースト(銀ペースト)の樹脂材料として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂とウレタン樹脂とを90体積%/10体積%で配合した樹脂材料を用いた。また、裏面保護材15(図2参照)として、PETの単層フィルム(膜厚:30μm、水蒸気透過度:15g/m・24hrs(40℃,90%))を用いた。また、ナトリウムを約15質量%含有するソーダガラスにより表面保護材14を形成した。なお、この表面保護材14は、本発明の「ナトリウムを含有する部材」の一例である。
(実施例3−2)
この実施例3−2では、図10に示すように、スパッタ法により、表面保護材14の下面上に100nmの厚みを有するSiO層からなるナトリウムブロック層66を形成した。これ以外は、上記実施例3−1と同様にして実施例3−2による光起電力モジュールを作製した。
(実施例3−3)
この実施例3−3では、図11に示すように、スパッタ法により、光起電力素子1の表面保護材14(図2参照)側の透光性導電膜5上に100nmの厚みを有するSiO層からなるナトリウムブロック層76を形成した。これ以外は、上記実施例3−1と同様にして実施例3−3による光起電力モジュールを作製した。
(実施例3−4)
この実施例3−4では、図12に示すように、光起電力素子1と表面保護材14との間に充填材13、PETの単層フィルム(膜厚:150μm)からなるナトリウムブロック層86および充填材13を順次積層した。これ以外は、上記実施例3−1と同様にして実施例3−4による光起電力モジュールを作製した。
(実施例3−5)
この実施例3−5では、光起電力素子1(図1参照)の上下を反対にして光起電力モジュール内に配置した。すなわち、p型非晶質シリコン層4がn型単結晶シリコン基板2の表面保護材14(図2参照)と反対側の表面上に位置するとともに、n型非晶質シリコン層8(図1参照)がn型単結晶シリコン基板2の表面保護材14(図2参照)側の表面上に位置するように光起電力素子1を配置した。これ以外は、上記実施例3−1と同様にして実施例3−5による光起電力モジュールを作製した。なお、このn型単結晶シリコン基板2は、本発明の「n型半導体層」の一例であり、p型非晶質シリコン層4は、本発明の「p型半導体層」の一例である。
(実施例3−6)
この実施例3−6では、図13に示すように、裏面保護材45として、PET層45a(膜厚:30μm)/SiO層45b(膜厚:10nm)/PET層45c(膜厚:30μm)の3層構造を有するフィルム(合計膜厚:60μm、水蒸気透過度:1g/m・24hrs(40℃,90%))を用いた。また、表面保護材14の下面上に100nmの厚みを有するSiO層からなるナトリウムブロック層66をスパッタ法により形成した。これ以外は、上記実施例3−1と同様にして実施例3−6による光起電力モジュールを作製した。
[表面保護材のナトリウムによる影響の評価試験]
次に、上記のようにして作製した実施例3−1〜3−6による光起電力モジュールについて、表面保護材のナトリウムによる影響の評価試験を行った。この評価試験は、上記実施例2による1000時間の耐湿性試験および2000時間の耐湿性試験と同様にして行った。その結果を、以下の表3に示す。
Figure 2009088564
上記表3の1000時間のナトリウムによる影響の評価試験の結果から、実施例3−2〜3−5による初期出力比(97%)は、実施例3−1による初期出力比(95%)に比べて、2%大きいことがわかる。また、上記表3の2000時間のナトリウムによる影響の評価試験の結果から、実施例3−2〜3−5による初期出力比(95%)は、実施例3−1による初期出力比(90%)に比べて、5%大きいことがわかる。
これは、以下の理由によると考えられる。すなわち、実施例3−1〜3−5では、裏面保護材15としてPETの単層フィルム(膜厚:30μm、水蒸気透過度:15g/m・24hrs(40℃,90%))を用いているので、評価試験中に光起電力モジュールの裏面側から多くの水分が浸入する。この浸入した水分がソーダガラス(ナトリウム含有率:約15質量%)からなる表面保護材14に到達すると、表面保護材14中のナトリウムが水分中に溶出するとともに、そのナトリウムの溶出した水分が光起電力モジュール内を拡散する。この際、実施例3−1では、ナトリウムの透過を抑制するためのナトリウムブロック層を設けていないため、ナトリウムが光起電力素子1(図1参照)に到達する。これにより、ナトリウムが光起電力素子1のp型非晶質シリコン層4を劣化させたり、p型非晶質シリコン層4中のp型不純物を不活性化させることなどによって、光起電力素子1の出力が低下される。
一方、実施例3−2(図10参照)では、SiO層からなるナトリウムブロック層66を表面保護材14の下面上に設けるとともに、実施例3−4(図12参照)では、PETの単層フィルムからなるナトリウムブロック層86を表面保護材14と光起電力素子1との間に設けているので、ナトリウムブロック層66および86によりナトリウムが光起電力素子1に到達するのが抑制される。これにより、ナトリウムがp型非晶質シリコン層4(図1参照)に到達するのが抑制される。また、実施例3−3(図11参照)では、SiO層からなるナトリウムブロック層76を光起電力素子1の表面保護材14(図2参照)側の透光性導電膜5上に形成しているので、ナトリウムが光起電力素子1に到達したとしても、p型非晶質シリコン層4まで到達するのが抑制される。また、実施例3−5では、p型非晶質シリコン層4がn型単結晶シリコン基板2の表面保護材14(図2参照)と反対側の表面上に位置しているので、p型非晶質シリコン層4がn型単結晶シリコン基板2の表面保護材14側の表面上に位置する場合に比べて、p型非晶質シリコン層4と表面保護材14との間の距離が大きくなる。このため、実施例3−5では、ナトリウムがp型非晶質シリコン層4に到達するのが抑制される。上記のように、実施例3−2〜3−5では、ナトリウムがp型非晶質シリコン層4に到達するのが抑制されるので、ナトリウムによってp型非晶質シリコン層4が劣化されたり、p型非晶質シリコン層4のp型不純物の活性化率が低下されるのを抑制することができると考えられる。その結果、実施例3−2〜3−5では、上記の評価試験によって出力が低下するのが抑制されるので、実施例3−1に比べて、評価試験における初期出力比が大きくなったと考えられる。
また、上記表3の結果から、水蒸気透過度が比較的高いPETの単層フィルム(膜厚:30μm、水蒸気透過度:15g/m・24hrs(40℃,90%))を裏面保護材15として用いた場合にも、上記実施例3−2〜3−5のように、ナトリウムが光起電力素子1のp型非晶質シリコン層4に到達するのを抑制するように構成すれば、1000時間の評価試験(耐湿性試験)の合格基準(初期出力比:95%以上)を満たすことができるとともに、2000時間の評価試験(耐湿性試験)においても95%以上の初期出力比が得られることが判明した。
また、上記表3の1000時間の評価試験の結果から、実施例3−6による初期出力比(98%)は、実施例3−2による初期出力比(97%)に比べて、1%大きいことがわかる。また、上記表3の2000時間の評価試験の結果から、表面保護材の下面上にナトリウムブロック層を形成するとともに、PET層(膜厚:30μm)/SiO層(膜厚:10nm)/PET層(膜厚:30μm)からなる裏面保護材を用いた実施例3−6による初期出力比(96%)は、表面保護材の下面上にナトリウムブロック層を形成するとともに、PET(膜厚:30μm)の単層からなる裏面保護材を用いた実施例3−2による初期出力比(95%)に比べて、1%大きいことがわかる。これは、次の理由によると考えられる。すなわち、実施例3−6による裏面保護材45(図13参照)の水蒸気透過度(1g/m・24hrs(40℃,90%))は、実施例3−2による裏面保護材15(図2参照)の水蒸気透過度(15g/m・24hrs(40℃,90%))に比べて小さいので、実施例3−6では実施例3−2に比べて、光起電力モジュール内に浸入する水分が減少される。これにより、1000時間および2000時間の評価試験の初期出力比が大きくなったと考えられる。この結果から、実施例3−6のように表面保護材の下面上にナトリウムブロック層を形成するとともに、水蒸気透過度の低い裏面保護材を用いることが初期出力比を向上させるために好ましいことが判明した。
なお、今回開示された実施例は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施例の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。
たとえば、上記実施例では、集電極の樹脂材料中のエポキシ樹脂として、ビスフェノールA型のエポキシ樹脂を用いたが、本発明はこれに限らず、集電極の樹脂材料中のエポキシ樹脂として、ビスフェノールA型以外のエポキシ樹脂を用いてもよい。たとえば、スチルベン系およびビフェニル系などの2官能化合物を原料とするエポキシ樹脂や、ポリフェノール系およびフェノールノボラック系などの多官能フェノール化合物を原料とするエポキシ樹脂や、ジシクロペンタジエン系/フェノール系重化合物を原料とするエポキシ樹脂などを用いてもよい。これらのエポキシ樹脂を用いた場合にも上記実施例と同様の効果を得ることができる。
また、上記実施例では、集電極を形成するための導電ペーストに含有される導電性フィラーとして銀(Ag)を用いたが、本発明はこれに限らず、導電性を有する材料であれば、銀(Ag)以外の材料を導電性フィラーとして用いることができる。たとえば、銅、ニッケル、アルミニウムなどの金属や、炭素などを導電性フィラーの材料として用いることができる。
また、上記実施例では、両面HIT構造を有する光起電力素子を用いた光起電力モジュールを例にとって説明したが、本発明はこれに限らず、単結晶シリコン系、多結晶シリコン系、薄膜シリコン系、化合物半導体系、色素増感系、有機系などの種々の光起電力素子を用いた光起電力モジュールについて本発明を適用することができる。
また、上記実施例2では、水分の浸入を抑制する機能を有する絶縁層としてSiO層やAl層を裏面保護材に用いた例について示したが、本発明はこれに限らず、水分の浸入を抑制する機能を有する層であれば、SiOやAl以外の材料からなる絶縁層を裏面保護材に用いてもよい。たとえば、SiOやAl以外の酸化物からなる絶縁層や、有機酸系の膜からなる絶縁層などを裏面保護材に用いることができる。
また、上記実施例3では、SiO層によってナトリウムブロック層を構成したが、本発明はこれに限らず、窒化物やフッ化物などのナトリウムブロック効果を有する材料であれば、SiO以外の材料からなる層によってナトリウムブロック層を構成してもよい。たとえば、SiNや、MgFや、TiOなどの材料からなる層によってナトリウムブロック層を構成してもよい。このような材料からなる層によってナトリウムブロック層を構成した場合にも、上記実施例3と同様の効果を得ることができると考えられる。
1 光起電力素子
2 n型単結晶シリコン基板
3、7 i型非晶質シリコン層
4 p型非晶質シリコン層
5 透光性導電膜
6、10 集電極
6a、10a フィンガー電極部
6b バスバー電極部
8 n型非晶質シリコン層
12 タブ(電気配線)
13 充填材
14 表面保護材(ナトリウムを含有する部材)
15、25、35、45、55、65 裏面保護材(保護層)
66、76、86 ナトリウムブロック層

Claims (9)

  1. 加水分解しやすい樹脂及び加水分解しにくい樹脂を含有する樹脂材料と導電性材料とを有する電極を含む光起電力素子と、
    前記光起電力素子の表面側に設けられたナトリウムを含有する表面保護材と、
    前記光起電力素子の裏面側に設けられた裏面保護材と、を備え、
    前記裏面保護材を、厚み30μm以上の樹脂フィルムを1以上含み金属箔を含まない構成とし、
    前記樹脂材料中の加水分解しにくい樹脂の含有率を90体積%以上とすると共に、
    前記光起電力素子の前記表面保護材側の表面に接触するように、ナトリウムの透過を抑制するナトリウムブロック層を形成したことを特徴とする光起電力装置。
  2. 前記裏面保護材は、厚み30μm以上の前記樹脂フィルムを2以上含むことを特徴とする請求項1記載の光起電力装置。
  3. 前記裏面保護材は、シリコン酸化物および金属酸化物のいずれか一方からなる絶縁層を含む、請求項1または2に記載の光起電力装置。
  4. 前記裏面保護材は、2以上の前記樹脂フィルムの間にシリコン酸化物および金属酸化物のいずれか一方からなる絶縁層を含む、請求項2記載の光起電力装置。
  5. 前記ナトリウムブロック層は、酸化物、窒化物およびフッ化物からなるグループより選択される少なくとも1つの材料を含む、請求項1乃至4のいずれかに記載の光起電力装置。
  6. 前記光起電力素子は、n型半導体層と、前記n型半導体層の前記ナトリウムを含有する表面保護材と反対側の表面上に形成されたp型半導体層とを含む、請求項1乃至5のいずれか1項に記載の光起電力装置。
  7. 前記光起電力素子は、複数設けられているとともに、前記複数の光起電力素子は、電気配線により直列に接続されることによってモジュール化されている、請求項1乃至6のいずれか1項に記載の光起電力装置。
  8. 前記加水分解しにくい樹脂はエポキシ樹脂である、請求項1乃至7のいずれか1項に記載の光起電力装置。
  9. 前記加水分解しやすい樹脂はウレタン樹脂である、請求項1乃至8のいずれか1項に記載の光起電力装置。
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