JP2009088227A - 基板の処理装置及び処理方法 - Google Patents

基板の処理装置及び処理方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2009088227A
JP2009088227A JP2007255777A JP2007255777A JP2009088227A JP 2009088227 A JP2009088227 A JP 2009088227A JP 2007255777 A JP2007255777 A JP 2007255777A JP 2007255777 A JP2007255777 A JP 2007255777A JP 2009088227 A JP2009088227 A JP 2009088227A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
processing
liquid
device surface
cleaning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007255777A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009088227A5 (ja
Inventor
Harumichi Hirose
治道 廣瀬
Masayasu Abe
正泰 安部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Mechatronics Corp
Original Assignee
Shibaura Mechatronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shibaura Mechatronics Corp filed Critical Shibaura Mechatronics Corp
Priority to JP2007255777A priority Critical patent/JP2009088227A/ja
Publication of JP2009088227A publication Critical patent/JP2009088227A/ja
Publication of JP2009088227A5 publication Critical patent/JP2009088227A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】この発明は基板のデバイス面を確実に洗浄処理することができるようにした処理装置を提供することにある。
【解決手段】基板を処理液によって洗浄処理する処理装置であって、
処理液が貯留される処理槽1と、基板16のデバイス面16aを下に向けて保持して上下方向に駆動され下降方向に駆動されたときに上記デバイス面を処理槽の処理液に浸漬させる保持機構17と、処理槽に貯留された処理液に超音波振動を付与する超音波発振器15を具備する。
【選択図】 図1

Description

この発明は回路パターンが形成されたデバイス面を処理液によって洗浄処理する基板の処理装置及び処理方法に関する。
たとえば、液晶表示装置や半導体装置の製造工程においては、ガラス基板や半導体ウエハなどの基板の回路パターンが形成された面、つまりデバイス面を高い清浄度で洗浄処理することが要求される工程がある。
上記基板のデバイス面を洗浄処理する方式としては、洗浄液中に複数枚の基板を浸漬するデイップ方式や基板に向けて洗浄液を噴射して一枚ずつ洗浄する枚葉方式があり、最近では高い清浄度が得られる枚葉方式が採用されることが多くなってきている。
枚葉方式の1つとして基板をスピン処理装置の回転テーブルにデバイス面を上に向けて保持し、この回転テーブルとともに基板を回転させる一方、基板の上方にノズル体を配設し、このノズル体から基板に向けて超音波振動が付与された処理液を噴射し、処理液の洗浄作用と超音波振動による振動作用によって上記基板から微粒子などの汚れを効率よく除去する洗浄方式が実用化されている。
特許文献1にはこのような基板の洗浄装置が示されている。
特開2003−318148号公報
ところで、最近では基板のデバイス面に形成される回路パターンの高密度化によって回路パターンが微細化し、そのアスペクト比が大きくなる傾向にある。回路パターンのアスペクト比が大きくなると、隣り合う回路パターンの隙間が深くなるとともに狭くなる。
そのため、回転テーブルに保持された基板の上方に配置されたノズル体から超音波振動が付与された洗浄液を上記基板のデバイス面に向けて噴射しても、その洗浄液が隣り合う回路パターン間の深くて狭い隙間に入り込まないことがあるため、デバイス面の洗浄を確実かつ良好に行うことができないということがある。
しかも、アスペクト比が大きな回路パターン間に洗浄液が十分に入り込まない状態で、回路パターンに超音波振動が付与された洗浄液を噴射すると、その洗浄液が与える超音波振動などの外力によって回路パターンに倒れが発生し、絶縁不良などの製品不良を招く虞がある。
この発明は、基板のデバイス面に形成された回路パターンのアスペクト比が大きい場合であっても、そのデバイス面を確実に、しかも回路パターンの倒れを招くことなく良好に洗浄処理することができるようにした基板の洗浄装置及び洗浄方法を提供することにある。
この発明は、基板を処理液によって洗浄処理する処理装置であって、
処理液が貯留される処理槽と、
上記基板のデバイス面を下に向けて保持して上記処理槽に対し相対的に上下方向に駆動され下降方向に駆動されたときに上記デバイス面を上記処理槽の処理液に浸漬させる保持機構と、
上記処理槽に貯留された処理液に超音波振動を付与する超音波付与手段と
を具備したことを特徴とする基板の処理装置にある。
上記超音波付与手段は、上記保持機構に保持された基板の板面に対して垂直方向に超音波振動を付与することが好ましい。
上記洗浄液は表面張力が水よりも小さな液体であることが好ましい。
上記洗浄液はナノバブル水であることが好ましい。
上記超音波付与手段は所定の範囲の周波数の超音波振動を処理液に付与することが好ましい。
上記保持機構は、上記基板を保持する保持部と、この保持部を上下方向及び回転方向に駆動する駆動手段を備えていることが好ましい。
この発明は、基板を処理槽に貯えられた処理液によって洗浄処理する処理方法であって、
上記基板のデバイス面を下に向けて保持する工程と、
上記基板のデバイス面を上記処理槽に貯えられた処理液に浸漬する工程と、
デバイス面が浸漬された上記処理液に超音波振動を付与する工程と
を具備したことを特徴とする基板の処理方法にある。
デバイス面が洗浄された上記基板を上記処理槽から上昇させる工程と、
上記処理槽から上昇させた基板を回転させて乾燥処理する工程と
具備することが好ましい。
この発明によれば、基板のデバイス面を下に向けて処理槽の超音波振動が付与される処理液に浸漬して洗浄処理するようにした。
そのため、処理液は上記基板のデバイス面の回路パターン間に入り込み易くなるから、デバイス面の洗浄を確実に行うことができ、しかも回路パターン間の隙間に洗浄液が入り込み易いから、その隙間に入り込んだ洗浄液によって回路パターンが補強され、洗浄液から受ける外力によって倒れるのを防止することができる。
以下、この発明の実施の形態を図面を参照しながら説明する。
図1はこの発明の処理装置の概略的構成を示し、この処理装置は上面が開口した処理槽1を備えている。この処理槽1は、周囲がカップ体2によって覆われていて、底部には処理液の給液管3の一端が接続されている。この給液管3の他端は上記処理槽に処理液Lを供給する貯液槽4に接続されている。この給液管3の中途部には供給ポンプ5とフィルタ6が設けられている。それによって、上記貯液槽4に貯えられた処理液Lを上記処理槽1に供給することができるようになっている。
上記貯液槽4にはナノバブル発生器9から上記処理液Lとなるナノバブル水が供給されるようになっている。上記ナノバブル発生器9には気体供給ポンプ11と液体供給ポンプ12がそれぞれ配管接続されている。
上記気体供給ポンプ11は上記ナノバブル発生器9に窒素ガスや二酸化炭素ガスなどの気体を所定の圧力で供給し、上記液体供給ポンプ12は上記ナノバブル発生器9にイソプロピルアルコール(IPA)や純水などの液体を供給する。
上記ナノバブル発生器9に供給された気体は旋回流となり、上記液体は気体よりも旋回速度の速い旋回流となって気体の周囲に沿って流れる。それによって、気体が液体によって剪断されることで微細径のバブル、つまりナノバブルが発生し、そのナノバブルが液体に混入して処理液Lとしてのナノバブル水となる。
上記液体に含まれるバブルの粒径は上記気体と液体との旋回速度によって設定することができ、この実施の形態では液体に剪断された気体によって直径が1μm以下のナノバブルが発生するよう、上記ナノバブル発生器9に供給される気体と液体との旋回速度が設定される。それによって、上記ナノバブル発生器9から上記貯液槽4に供給されて貯えられる処理液Lはナノバブルを含む、ナノバブル水となる。
上記貯液槽4から上記給液管3を通じて上記処理槽1に供給された処理液Lは、この処理槽1からカップ体2にオーバフローする。カップ体2には戻り管13の一端が接続されている。この戻り管13の他端は上記液体供給ポンプ12に接続されている。それによって、処理槽1に供給される処理液Lは循環させて使用できるようになっている。
純水やイソプロピルアルコールなどの液体によってたとえば90nm以下の微細な回路パターンを洗浄すると、その表面張力によって回路パターン間に十分に入り込まずに洗浄不足が生じたり、わずかに入り込んだ液体の表面張力によって回路パターンに倒れが生じる。
しかしながら、窒素ガスや二酸化炭素ガスの気体のナノバブルを含む純水やイソプロピルアルコールなどの液体を使用して洗浄すれば、その液体の表面張力が低下して界面活性効果が向上するから、洗浄不足やパターン倒れを防止することができる。
つまり、純水はナノバブルを含むことで表面張力が低下し、イソプロピルアルコールはもともと表面張力が純水よりも低いが、ナノバブルを含むことで、さらに表面張力が低下する。
上記処理槽1の底部外面には、異なる周波数帯域で発振する複数の振動子14が振動方向を図2に矢印S示す上記底部外面に対して垂直になるよう設けられている。各振動子14には超音波発振器15によって発生する所定の範囲の周波数帯域の高周波が印加される。それによって、複数の振動子14は、それぞれ固有の発振周波数で超音波振動するようになっている。つまり、各振動子14は異なる周波数で超音波振動する。
複数の振動子14の超音波振動は上記処理槽1に供給された処理液Lに付与される。処理液Lはナノバブルを含んでいる。ナノバブルに超音波振動が付与されると、その超音波振動によってナノバブルが圧壊される。
ナノバブルは直径が1μm以下であるが、その大きさにはばらつきがある。そのため、ナノバブルの直径によって効率よく圧壊される超音波振動の周波数が異なるものの、複数の振動子14を異なる周波数で超音波発振させるようにしているため、大きさにばらつきのあるナノバブルを各振動子14の超音波振動によって効率よく確実に圧壊することができる。
上記処理槽1に供給された処理液Lには、保持機構17によって半導体ウエハやガラス基板などの基板16が回路パターンが形成された面を下にして浸漬されるようになっている。すなわち、上記保持機構17は下面に上記基板16を真空吸着するチャック18を有する。このチャック18の上面には駆動手段を構成する回転駆動源19の回転軸20が連結されている。
上記回転駆動源19にはアーム21の一端が連結されている。このアーム21は水平となっていて、その他端はZ可動体22に連結されている。このZ可動体22の背面にはZ受け部材23が設けられ、このZ受け部材23は水平可動体24に垂直に設けられたZガイドレール25に沿って移動可能に係合している。
上記水平可動体24の上端面には駆動手段を構成するZ駆動源26が設けられている。このZ駆動源26は上記Z可動体22を上記Zガイドレール25に沿うZ方向、つまり上下方向に沿って駆動するようになっている。
上記水平可動体24の下面にはY受け部材27が設けられている。このY受け部材27は図1の紙面に直交するY方向に沿って設けられたYガイドレール28に沿って移動可能になっている。Yガイドレール28はベース29上に設けられている。
上記ベース29のY方向に沿う端部には駆動手段を構成する図示しないY駆動源が設けられている。このY駆動源は上記水平可動体24を上記Yガイドレール28に沿うY方向に駆動するようになっている。
それによって、基板16は、図2に示すように回路パターン16bが形成されたデバイス面16aを下に向けて回転方向、上下方向及び水平方向のうちのY方向に駆動可能な状態で、上記チャック18に吸着保持されている。
なお、この実施の形態では、上記Z駆動源26とY駆動源としては、図示しないねじ軸を回転駆動することで、このねじ軸を介して上記Z可動体22や水平可動体24を駆動するパルスモータが用いられているが、パルスモータに代わってコイルと永久磁石からなるリニアモータを用いるようにしてもよい。
つぎに、上記構成の処理装置によって基板16を洗浄処理する場合について説明する。
保持機構17のチャック18にデバイス面16aを下にして基板16を吸着保持したならば、上記チャック18を下降させて基板16を処理槽1の処理液Lに浸漬する。それと同時に、ナノバブル発生器9に気体供給ポンプ11から気体を供給し、液体供給ポンプ12によって液体を供給する。それによって、液体にナノバブルが含まれる処理液Lとしてのナノバブル水を貯液槽4に供給することができる。貯液槽4に供給されたナノバブルを含む処理液Lは供給ポンプ5によって上記処理槽1に供給される。
上記処理槽1に供給された処理液Lには、この処理槽1の底部外面に設けられて異なる周波数で超音波振動する複数の振動子14によって図2に矢印Sで示す上記基板16の板面と垂直方向に振動する超音波振動が付与される。
超音波振動を基板16の板面と垂直方向に付与することで、回路パターン16bが設けられたデバイス面16aに対して超音波振動が垂直方向、すなわちアスペクト比の大きな回路パターン16bの立設方向に対して超音波振動が平行方向に作用するから、その超音波振動によって回路パターン16bが倒れるのを防止することができる。
ナノバブルを含む純水やイソプロピルアルコールの液体、つまりナノバブル水からなる処理液Lは表面張力が水よりも低くいため、デバイス面16aに形成された狭くて深い回路パターン16b間の隙間cに十分に侵入する。しかも、ナノバブルを含む処理液Lには異なる周波数帯域で発振する複数の振動子14によって超音波振動が付与される。そのため、処理液Lに含まれるナノバブルの粒径にばらつきがあっても、異なる粒径のナノバブルを異なる周波数の超音波振動によって効率よく圧壊することができる。
それによって、基板16のデバイス面16aは、処理液Lに付与された超音波振動によって圧壊されるナノバブルによって発生する衝撃力で良好に洗浄されることになる。
ナノバブルが圧壊されることで発生する衝撃力でアスペクト比の大きな回路パターン16bは倒れる虞がある。しかしながら、ナノバブルを含む処理液Lは表面張力が水よりも低くなっているから、図2に示すようにデバイス面16aを下に向けてチャック18に保持された基板16の回路パターン16b間の隙間cに確実に侵入する。
そのため、微小な隙間cで隣り合う回路パターン16bは、これらの間に入り込んだ処理液Lによって確実に補強されるから、ナノバブルが圧壊することによって発生する衝撃力で回路パターン16bが倒れるのを確実に防止することができる。
このようにして、基板16のデバイス面16aをナノバブルを含む処理液Lによって所定時間洗浄したならば、基板16を吸着保持した保持機構17のチャック18を上昇方向に駆動して基板16を処理槽1の処理液Lから引き上げる。このとき、基板16はカップ体2の内部に位置する高さとする。
このとき、基板16はデバイス面16aを下に向けて保持されているので、デバイス面16aに付着した処理液Lは回路パターン16bの立設方向に沿う垂直方向に落下する。そのため、処理液Lがデバイス面16a上に留まることが防止され、後述の乾燥処理における処理時間の短縮を図ることができる。
また、乾燥処理前にデバイス面16aに留まる処理液Lが極力少なくなるので、乾燥処理時の高速回転の遠心力でデバイス面16aに沿って移動する処理液Lが少なくでき、回路パターン16bの立設方向に対して垂直方向の処理液Lの流れによる回路パターン16aの損傷が防止できる。
ついで、回転駆動源19を作動させて上記チャック18を高速回転させる。それによって、基板16に付着した処理液Lが遠心力によってカップ体2内に飛散して基板16が乾燥処理されることになる。カップ体2内に飛散した処理液Lは戻り管13を通じて液体供給ポンプ12に流れて再使用されることになる。
そして、基板16を乾燥処理したならば、上記チャック18をカップ体2の外部に露出する高さまで上昇させ、ついでY方向に駆動してその基板16を次工程に受け渡し、上記チャック18には未処理の基板16が供給される。そして、上述した基板16に対する処理が繰り返して行われることになる。
なお、上記一実施の形態では、処理液にイソプロピルアルコールを用いた場合にも、イソプロピルアルコールにナノバブルを混入させて使用するようにしたが、イソプロピルアルコールは純水に比べて表面張力が十分に低いから、ナノバブルを混入させなくとも、デバイス面を下にして基板を処理槽のイソプロピルアルコールに浸漬すれば、イソプロピルアルコールを間隔の狭い回路パターン間に侵入させて洗浄効果を高めることができる。
つまり、液体の表面張力が純水よりも低い場合には、その液体にナノバブルを混入させずに処理液として使用してもよい。
また、基板を乾燥処理するときにだけ、基板を回転駆動源によって回転させるようにしたが、基板を処理液によって洗浄処理するときにも、回転駆動源によって基板を乾燥処理時よりも低速度で回転させるようにしてもよい。そうすることによって、処理液によるデバイス面の洗浄処理を均一に行うことが可能となる。
また、基板を処理槽の処理液に浸漬させる際、保持機構によって基板を下降方向に駆動したが、処理槽を上昇方向に駆動して保持機構に保持された基板を処理液に浸漬させるようにしてもよい。
この発明の一実施の形態を示す処理装置の概略的構成図。 基板のデバイス面を洗浄処理する状態を拡大して示す説明図。
符号の説明
1…処理槽、9…ナノバブル発生器、14…振動子、15…超音波発生器、17…保持機構、18…チャック、19…回転駆動源、22…Z可動体、24…水平可動体、26…Z駆動源。

Claims (8)

  1. 基板を処理液によって洗浄処理する処理装置であって、
    処理液が貯留される処理槽と、
    上記基板のデバイス面を下に向けて保持して上記処理槽に対し相対的に上下方向に駆動され下降方向に駆動されたときに上記デバイス面を上記処理槽の処理液に浸漬させる保持機構と、
    上記処理槽に貯留された処理液に超音波振動を付与する超音波付与手段と
    を具備したことを特徴とする基板の処理装置。
  2. 上記超音波付与手段は、上記保持機構に保持された基板の板面に対して垂直方向に超音波振動を付与することを特徴とする請求項1記載の基板の処理装置。
  3. 上記洗浄液は表面張力が水よりも小さな液体であることを特徴とする請求項1記載の基板の処理装置。
  4. 上記洗浄液はナノバブル水であることを特徴とする請求項3記載の基板の処理装置。
  5. 上記超音波付与手段は所定の範囲の周波数の超音波振動を処理液に付与することを特徴とする請求項1記載の基板の処理装置。
  6. 上記保持機構は、上記基板を保持する保持部と、この保持部を上下方向及び回転方向に駆動する駆動手段を備えていることを特徴とする請求項1記載の基板の処理装置。
  7. 基板を処理槽に貯えられた処理液によって洗浄処理する処理方法であって、
    上記基板のデバイス面を下に向けて保持する工程と、
    上記基板のデバイス面を上記処理槽に貯えられた処理液に浸漬する工程と、
    デバイス面が浸漬された上記処理液に超音波振動を付与する工程と
    を具備したことを特徴とする基板の処理方法。
  8. デバイス面が洗浄された上記基板を上記処理槽から上昇させる工程と、
    上記処理槽から上昇させた基板を回転させて乾燥処理する工程と
    具備したことを特徴とする請求項7記載の基板の処理方法。
JP2007255777A 2007-09-28 2007-09-28 基板の処理装置及び処理方法 Pending JP2009088227A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007255777A JP2009088227A (ja) 2007-09-28 2007-09-28 基板の処理装置及び処理方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007255777A JP2009088227A (ja) 2007-09-28 2007-09-28 基板の処理装置及び処理方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009088227A true JP2009088227A (ja) 2009-04-23
JP2009088227A5 JP2009088227A5 (ja) 2010-11-11

Family

ID=40661262

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007255777A Pending JP2009088227A (ja) 2007-09-28 2007-09-28 基板の処理装置及び処理方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009088227A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011114675A1 (ja) * 2010-03-16 2011-09-22 三菱電機株式会社 シリコンウェハのエッチング方法、エッチング液、エッチング装置、および半導体装置
CN102210987A (zh) * 2010-04-12 2011-10-12 阿思普株式会社 气体溶解液生成装置及生成方法
JP2011238918A (ja) * 2010-05-04 2011-11-24 Asml Netherlands Bv 流体ハンドリング構造、リソグラフィ装置及びデバイス製造方法
KR101377273B1 (ko) * 2011-11-17 2014-03-26 한국기계연구원 레이저를 이용한 연성 회로 기판의 제조 시스템 및 그 제조 방법
WO2022210088A1 (ja) * 2021-04-01 2022-10-06 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、および基板処理方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0234923A (ja) * 1988-07-25 1990-02-05 Toshiba Corp 超音波洗浄装置
JPH0468524U (ja) * 1990-10-24 1992-06-17
JPH06320124A (ja) * 1993-03-15 1994-11-22 Hitachi Ltd 超音波洗浄方法およびその洗浄装置
JP2002200586A (ja) * 2000-10-31 2002-07-16 Ebara Corp 基板の把持装置、処理装置、及び把持方法
JP2005093873A (ja) * 2003-09-19 2005-04-07 Ebara Corp 基板処理装置
JP2005245817A (ja) * 2004-03-05 2005-09-15 National Institute Of Advanced Industrial & Technology ナノバブルの製造方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0234923A (ja) * 1988-07-25 1990-02-05 Toshiba Corp 超音波洗浄装置
JPH0468524U (ja) * 1990-10-24 1992-06-17
JPH06320124A (ja) * 1993-03-15 1994-11-22 Hitachi Ltd 超音波洗浄方法およびその洗浄装置
JP2002200586A (ja) * 2000-10-31 2002-07-16 Ebara Corp 基板の把持装置、処理装置、及び把持方法
JP2005093873A (ja) * 2003-09-19 2005-04-07 Ebara Corp 基板処理装置
JP2005245817A (ja) * 2004-03-05 2005-09-15 National Institute Of Advanced Industrial & Technology ナノバブルの製造方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011114675A1 (ja) * 2010-03-16 2011-09-22 三菱電機株式会社 シリコンウェハのエッチング方法、エッチング液、エッチング装置、および半導体装置
JP5447649B2 (ja) * 2010-03-16 2014-03-19 三菱電機株式会社 シリコンウェハのエッチング方法およびエッチング液
CN102210987A (zh) * 2010-04-12 2011-10-12 阿思普株式会社 气体溶解液生成装置及生成方法
JP2011218308A (ja) * 2010-04-12 2011-11-04 Asupu:Kk 気体溶解液生成装置及び生成方法
JP2011238918A (ja) * 2010-05-04 2011-11-24 Asml Netherlands Bv 流体ハンドリング構造、リソグラフィ装置及びデバイス製造方法
US8711326B2 (en) 2010-05-04 2014-04-29 Asml Netherlands B.V. Fluid handling structure, a lithographic apparatus and a device manufacturing method
KR101377273B1 (ko) * 2011-11-17 2014-03-26 한국기계연구원 레이저를 이용한 연성 회로 기판의 제조 시스템 및 그 제조 방법
WO2022210088A1 (ja) * 2021-04-01 2022-10-06 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、および基板処理方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101571685B1 (ko) 초음파 세정 장치 및 초음파 세정 방법
JP5449953B2 (ja) 基板処理装置および基板処理方法
JP5183382B2 (ja) 基板処理装置及び基板処理方法
TWI558476B (zh) 基板清潔方法及基板清潔裝置
JP2008021672A (ja) ガス過飽和溶液を用いた超音波洗浄方法及び洗浄装置
JP2005093873A (ja) 基板処理装置
JP2009088227A (ja) 基板の処理装置及び処理方法
KR101272668B1 (ko) 기판 처리 장치
CN100528385C (zh) 清洗方法、半导体器件的制造方法及显示器件的制造方法
KR100598112B1 (ko) 이중 세정 프로브를 갖는 초음파 세정 장치 및 세정 방법
JP2009170709A (ja) 基板の処理装置及び処理方法
JP4957277B2 (ja) 洗浄装置および洗浄方法
KR100873937B1 (ko) 웨이퍼 세정 장치 및 웨이퍼 세정 방법
JP3927936B2 (ja) 枚葉式洗浄方法及び洗浄装置
JP2011121009A (ja) 基板処理装置および基板処理方法
JP4955586B2 (ja) 基板洗浄装置および基板洗浄方法
KR100868364B1 (ko) 초음파 발생 장치 및 이를 갖는 기판 세정 장치
JPS59150584A (ja) 半導体ウエハの超音波洗浄方法
JP6542613B2 (ja) 基板洗浄装置および基板洗浄方法
JP2004146439A (ja) 基板洗浄方法および基板洗浄装置
JP2000262989A (ja) 基板洗浄装置
KR102361474B1 (ko) 기판 처리 장치 및 방법
KR101068710B1 (ko) 기판세정장치 및 기판세정방법
KR20070073311A (ko) 웨이퍼 초음파 세정장치 및 이를 이용한 웨이퍼 세정방법
JP2007266194A (ja) 半導体基板の洗浄方法及びそれを用いた半導体基板の洗浄装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100928

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100928

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120210

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120228

A521 Written amendment

Effective date: 20120404

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Effective date: 20120529

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20120904

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130205