JP2009076861A - 磁気センサ、ホール素子、ホールic、磁気抵抗効果素子、ホール素子の作製方法、および磁気抵抗効果素子の作製方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】GaNからなり室温での電子濃度が1×1016/cm3以下である第1層2aと、AlxGa1-xN(0<x≦0.3)からなる第2層2bとを積層することで、ヘテロ接合界面を有する動作層2を形成する。これにより、二次元電子ガス領域2gにおけるキャリア移動度はより高められるとともに、キャリア濃度がより低減される。その結果、室温においては定電流駆動および定電圧駆動の双方で高い測定感度を有するとともに、高温でも定電流駆動によって室温と同程度の測定感度で使用できるホール素子が実現される。
【選択図】図2
Description
本実施の形態においては、半導体のホール効果を利用して磁界を検出することができる磁気センサであるホール素子について説明する。
図1は、本発明の第1の実施の形態に係るホール素子10の上面図である。図2は、図1のA−B断面における(略中央部を通る)ホール素子10の断面図である。
上述したように、動作層2においては、組成およびバンドギャップの相異なるIII族窒化物からなる第1層2aと第2層2bとが積層形成されてなることから、両層の境界にはヘテロ接合界面が形成されてなる。係るヘテロ接合界面においては、自発分極およびピエゾ分極が生じ、これによって、第1層2aにおける両層の積層界面から数nm程度の範囲に、電子が高濃度に蓄えられた二次元電子ガス領域2gが形成される。すなわち、ホール素子10の動作は、係る二次元電子ガス領域2gに蓄えられた二次元電子ガスがキャリアとなることで実現される。
次に、上述のような構成を有する動作層2を実現するための積層構造体5の形成方法について説明する。積層構造体5は、MOCVD法によって形成することができる。すなわち、基板1を所定の反応管内のサセプタに載置し、基板1を所定の反応温度(形成温度)に昇温した後、該反応温度を保った状態で、III族原料ガス(第1層2aの場合はGa原料ガス、第2層2bの場合はGa原料ガスとAl原料ガス)およびV族原料ガスであるNH3ガスをそれぞれキャリアガスと共に所定の流量で流すことによって、第1層2aと第2層2bとを順次にエピタキシャル形成することができる。第1層2aの形成温度は(950℃〜1200℃の範囲の所定温度、例えば1000℃とするのが好適であり、第2層2bの形成温度は950℃〜1200℃の範囲の所定温度、例えば同じく1000℃とするのが好適である。なお、上述のように、基板1の上にまず、400℃〜600℃の範囲の所定温度、例えば500℃でGaNからなるバッファ層をあらかじめ形成したうえで、第1層2aおよび第2層2bを形成するのがより好ましい。
<ホール素子の概要>
第1の実施の形態において図2に例示しているホール素子10は、RIE法によって動作層2を十字形に形成する際に、動作層2の厚みよりも深くエッチングを行うことで基板1の一部も除去した場合のホール素子10であるが、動作層2を十字形に形成する態様は、これに限られるものではない。本実施の形態においては、第1の実施の形態に係るホール素子とは異なる態様にて動作層を備えるホール素子について説明する。
次に、本実施の形態に係るホール素子20の作製に用いる積層構造体5を得るにあたって、高抵抗層としての第1層2aを形成する方法について説明する。ここでは、第1の実施の形態と同様にMOCVD法によって積層構造体5を得るものとする。係る場合、例えば特許文献3に開示されているような雰囲気制御の手法によって、第1層2aを高抵抗層として形成することができる。具体的には、第1層2aの形成に先立つ基板1の昇温時に窒素ガスを含むガスを流すようにするとともに、第1層2aの形成時の少なくとも一時期に、III族原料用のキャリアガス(第1キャリアガス)とV族原料用のキャリアガス(第2キャリアガス)との少なくとも一方において、好ましくは双方において、それぞれのキャリアガス全体に対する窒素ガスの割合を3体積%以上となるようにする。これにより、電子濃度が1×1012/cm3以下(比抵抗が1×106Ωcm以上)という第1層2aの形成が実現される。
上述の第2の実施の形態に係るホール素子20を作製するために用いられる、第1層2aの比抵抗が1×106Ωcm以上(電子濃度が1×1012/cm3以下)の高抵抗GaN層である積層構造体5は、良好なピンチオフ特性を示す高電子移動度トランジスタ(HEMT)を作製するにあたっても好適な条件を満たすものといえる。従って、このような積層構造体5を用いることにより、第2の実施の形態に示したホール素子と、HEMTからなるIC部を集積したホールICの実現が可能となる。本実施の形態においては、係るホールICについて説明する。
本実施の形態においては、半導体の磁気抵抗効果を利用して磁界を検出することができる磁気センサである磁気抵抗効果素子について説明する。
実施例1として、第1の実施の形態に係るホール素子10として、第1層2aの電子濃度および第2層2bにおける全III族元素中のAlの組成比が異なる種々のホール素子を作製した。併せて、比較例1として、ホール素子10と同様の構成を有するが、第1層2aの電子濃度がホール素子10よりも高いホール素子、および第2層2bにおける全III族元素中のAlの組成比がホール素子10よりも高いホール素子も、いくつか作製した。
本実施例では、第2の実施の形態に係るホール素子20を形成した。なお、第1層2aとしてのGaN層中の電子濃度は5×1011/cm3とした。第2層2bとしてはAl0.2Ga0.8N層を形成した。また、動作層2を十字形に形成する際のエッチング深さは60nmとした。その他は、実施例1と同様の手順とした。
本実施例においては、第3の実施の形態に係るモノリシックタイプのホールIC100を作製した。なお、その際には、ホール素子部110が実施例2に係るホール素子と同様の構成を有するようにした。HEMT素子部120としては、信号処理IC部120a、定電流バイアス生成回路部120b、コンパレータ回路部120c、オフセット補償回路部120d、増幅回路部120eを形成した。
2、102、202 動作層
2a、102a、202a (動作層の)第1層
2b、102b、202b (動作層の)第2層
2g、202g 二次元電子ガス領域
3a、3b、103a、103b 入力電極
4a、4b、104a、104b 出力電極
5、15 積層構造体
10、20 ホール素子
100 ホールIC
105 ゲート電極
106 ソース電極
107 ドレイン電極
108 溝部
110 ホール素子部
120 HEMT素子部
120a 信号処理IC部
120b 定電流バイアス生成回路部
120c コンパレータ回路部
120d オフセット補償回路部
120e 増幅回路部
200 磁気抵抗効果素子
203a、203b 端子電極
204 短絡電極
Claims (16)
- 動作層にGaN層とAlGaN層とのヘテロ接合構造を有する磁気センサであって、
前記GaN層の電子濃度が1×1016/cm3以下であり、
前記AlGaN層が、AlxGa1-xN(0<x≦0.3)によって形成されてなる、
ことを特徴とする磁気センサ。 - 請求項1に記載の磁気センサであって平面視において前記動作層の互いに対向する第1の端部のそれぞれに入力電極を備えるとともに、前記第1の端部同士を結ぶ方向と略直交する方向において互いに対向する第2の端部のそれぞれに出力電極を備えたものである、
ことを特徴とするホール素子。 - 請求項2に記載のホール素子であって、
前記動作層が平面視において略十字形をなす十字形部分を有しており、前記十字形部分の互いに対向する2つの先端部のそれぞれに前記入力電極を備えるとともに、前記第1の先端部と異なる2つの先端部のそれぞれに前記出力電極を備える、
ことを特徴とするホール素子。 - 請求項2または請求項3に記載のホール素子であって、
前記GaN層の比抵抗が1×106Ωcm以上である、
ことを特徴とするホール素子。 - 請求項2または請求項3に記載のホール素子であって、
前記GaN層の電子濃度が1×1012/cm3以下である、
ことを特徴とするホール素子。 - 請求項4または請求項5に記載のホール素子であって、
前記十字形部分の高さが前記AlGaN層の厚みよりも大きくかつ前記動作層全体の厚みよりも小さい、
ことを特徴とするホール素子。 - 請求項2ないし請求項6のいずれかに記載のホール素子であって、
前記AlGaN層と前記GaN層の接合界面に0.75nm〜1.5nmの厚みのAlN層が挿入されてなることを特徴とするホール素子。 - 請求項4ないし請求項6のいずれかに記載のホール素子、
を備えるホールICであって、
前記ホール素子においては前記GaN層が所定の基板の上に形成されてなり、
前記所定の基板上にHEMTを含む制御回路が形成されてなる、
ことを特徴とするホールIC。 - 請求項1に記載の磁気センサであって前記動作層の表面の対向する端部のそれぞれに端子電極を備えるとともに、前記端子電極の間に複数の短絡電極を備えたものである、
ことを特徴とする磁気抵抗効果素子。 - 請求項9に記載の磁気抵抗効果素子であって、
前記AlGaN層と前記GaN層の接合界面に0.75nm〜1.5nmの厚みのAlN層が挿入されてなることを特徴とする磁気抵抗効果素子。 - ホール素子の作製方法であって、
所定の基板の上に電子濃度が1×1016/cm3以下のGaN層をエピタキシャル形成するGaN層形成工程と、
前記GaN層の上に、AlxGa1-xN(0<x≦0.3)からなるAlGaN層をエピタキシャル形成するAlGaN層形成工程と、
によって、前記GaN層と前記AlGaN層とのヘテロ接合構造を形成する動作層を積層形成する動作層形成工程と、
平面視において前記動作層の互いに対向する第1の端部のそれぞれに入力電極を形成するとともに、前記第1の端部同士を結ぶ方向と略直交する方向において互いに対向する第2の端部のそれぞれに出力電極を形成する電極形成工程と、
を備えることを特徴とするホール素子の作製方法。 - 請求項11に記載のホール素子の作製方法であって、
前記動作層形成工程が、
前記動作層の一部を除去することによって前記動作層に平面視において略十字形をなす十字形部分を形成する除去工程、
をさらに備え、
前記電極形成工程においては、
前記十字形部分の互いに対向する2つの先端部のそれぞれに前記入力電極を形成するとともに、前記第1の先端部と異なる2つの先端部のそれぞれに前記出力電極を形成する、
ことを特徴とするホール素子の作製方法。 - 請求項12記載のホール素子の作製方法であって、
前記GaN層形成工程においては、比抵抗が1×106Ωcm以上であるか、電子濃度が1×1012/cm3以下であるように前記GaN層を形成し、
前記除去工程においては、前記十字形部分の高さが前記AlGaNの厚みより大きくかつ前記動作層全体の厚みよりも小さくなるように前記十字形部分を形成する、
こと特徴とするホール素子の作製方法。 - 請求項11ないし請求項13のいずれかに記載のホール素子の作製方法であって、
前記動作層形成工程において、前記AlGaN層形成工程と前記GaN層形成工程の間に、
0.75nm〜1.5nmの厚みのAlN層を形成するAlN層形成工程、
をさらに備えることを特徴とするホール素子の作製方法。 - 磁気抵抗効果素子の作製方法であって、
所定の基板の上に電子濃度が1×1016/cm3以下のGaN層をエピタキシャル形成するGaN層形成工程と、
前記GaN層の上に、AlxGa1-xN(0<x≦0.3)からなるAlGaN層をエピタキシャル形成するAlGaN層形成工程と、
によって、前記GaN層と前記AlGaN層とのヘテロ接合構造を形成する動作層を積層形成する動作層形成工程と、
前記動作層の表面の対向する端部のそれぞれに端子電極を形成するとともに前記端子電極の間に複数の短絡電極を形成する電極形成工程と、
を備えることを特徴とする磁気抵抗効果素子の作製方法。 - 請求項15に記載の磁気抵抗効果素子の作製方法であって、
前記動作層形成工程において、前記AlGaN層形成工程と前記GaN層形成工程の間に、
0.75nm〜1.5nmの厚みのAlN層を形成するAlN層形成工程、
をさらに備えることを特徴とする磁気抵抗効果素子の作製方法。
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