JP2009074955A - 転がり軸受用外輪の絶縁試験方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】試験に伴って絶縁層を破壊する事がなく、しかも、ピンホールによる絶縁性能の悪化を検知でき、更にはインピーダンスの値を安定して測定できる試験方法及び装置を実現する。
【解決手段】外輪3、3の内径側空間の軸方向両端部を液密に塞いだ状態で、これら各外輪3、3を電解液8中に浸漬する。そして、これら各外輪3、3の内周面で絶縁層6により覆われていない部分と上記電解液8に浸漬した電極14との間に電圧を印加して、両者間の抵抗値を求め、上記絶縁層6の絶縁性能を判定する。
【選択図】図1
【解決手段】外輪3、3の内径側空間の軸方向両端部を液密に塞いだ状態で、これら各外輪3、3を電解液8中に浸漬する。そして、これら各外輪3、3の内周面で絶縁層6により覆われていない部分と上記電解液8に浸漬した電極14との間に電圧を印加して、両者間の抵抗値を求め、上記絶縁層6の絶縁性能を判定する。
【選択図】図1
Description
この発明は、汎用或いは鉄道車両用の電動モータの回転軸、或いは風力発電機等の発電機の回転軸の様に、電流が流れる可能性がある回転支持部に組み込む、電食防止用の絶縁転がり軸受の絶縁性能を試験する為の試験装置の改良に関する。
電動モータや発電機等、各種電気機器等の回転軸を支承する為の転がり軸受の場合、対策を講じないと、転がり軸受自体に、帰路電流、モータ軸電流等の電流が流れてしまう。転がり軸受に電流が流れた場合、電流の通路となる部分の腐食が進む、所謂電食が発生して、転がり軸受を損傷してしまう。この様な電食の発生を防止する為、転がり軸受を構成する外輪や内輪の表面に絶縁層を形成する事で、転がり軸受に電流が流れない様にする電食防止用絶縁転がり軸受が、例えば特許文献1〜7に記載されている様に、従来から知られている。
これら各特許文献に記載された絶縁型の転がり軸受は何れも、転がり軸受を構成する軌道輪のうちで、相手部材の嵌合支持する部分に、セラミックス、合成樹脂等の絶縁層を形成して成るもので、例えば図2に示す様に構成されている。転がり軸受は、内輪1の外周面に形成した内輪軌道2と外輪3の内周面に形成した外輪軌道4との間に複数の転動体5、5を設ける事で、上記内輪1と外輪3との相対的回転を自在としている。そして、この外輪3の外周面及び軸方向両端面に、絶縁層6を形成している。この絶縁層6としては、ポリフェニレンサルファイド等の合成樹脂製被膜、或いはアルミナ等のセラミックス製の溶射層等が使用可能である。この様な電食防止用絶縁転がり軸受の場合、上記外輪3を金属製のハウジングに内嵌支持した状態では、上記絶縁層6が、これら外輪3とハウジングとを絶縁する。この結果、これら外輪3とハウジングとの間に電流が流れなくなり、上記転がり軸受の構成各部材1、3、5に、上述した様な電食が発生しなくなる。
上述の様な絶縁型の転がり軸受に必要な性能を発揮させる為には、この転がり軸受の絶縁性能(抵抗値)、耐電圧性能、静電容量、インピーダンス等を正確に測定する必要がある。これら各性能は、上記絶縁層6の厚さ寸法を大きくすれば良好になるが、単に厚さ寸法を大きくすると、製造コストが嵩むだけでなく、絶縁層6を設けた軌道輪を相手部材に嵌合固定(図2に示した構造では、外輪3をハウジングに内嵌固定)する際に、上記絶縁層6が剥離し易くなる。勿論、この絶縁層6が剥離した場合には、必要とする絶縁性能を得られないので、この絶縁層6の厚さ寸法を過大にする事はできない。これらの事を考慮すれば、この絶縁層6の厚さ寸法は、この絶縁層6の材質や使用時に加わる電圧等の条件を考慮して、適正範囲に規制する必要がある。又、絶縁型の転がり軸受は個々の性能保証が重要である為、各製品毎に性能試験を行なってから出荷する場合もある。
この為従来から、例えば特許文献8に記載された様な試験装置により、絶縁転がり軸受の諸性能(絶縁性能、耐電圧性能、静電容量、インピーダンス)を測定する事が行なわれている。上記特許文献8に記載される等により従来から知られている試験装置の場合には、上記絶縁層6により外周面及び軸方向両端面を被覆した外輪3を金属製のケース等に内嵌し、このケース等と、この外輪3の内周面で上記絶縁層6により被覆されていない部分との間の抵抗値を測定する事で、この絶縁層の良否を判定する様にしている。この様な従来の転がり軸受用外輪の絶縁試験方法及び装置の場合、次の(a) 〜(c) の様な解決すべき点がある。
(a) 絶縁層6に存在するピンホールによる絶縁性能の悪化を検知できない。
この絶縁層6にピンホールの如き微小な欠陥が存在した場合、上述した様な従来技術の場合には、上記ケース等と上記外輪3のうちで金属製の本体部分とが、上記欠陥内に存在する空気層を介して対向する状態となる。上記従来技術の場合、この状態では、上記絶縁層6の絶縁性が不良であるとは判定されない。これに対し、実際の使用状態で上記欠陥内に、金属粉や導電性を有する潤滑剤、或いは水滴等が入り込むと、上記絶縁層6による絶縁性が損なわれ、上記外輪3を組み込んだ転がり軸受に電食等の不具合が発生する。
この絶縁層6にピンホールの如き微小な欠陥が存在した場合、上述した様な従来技術の場合には、上記ケース等と上記外輪3のうちで金属製の本体部分とが、上記欠陥内に存在する空気層を介して対向する状態となる。上記従来技術の場合、この状態では、上記絶縁層6の絶縁性が不良であるとは判定されない。これに対し、実際の使用状態で上記欠陥内に、金属粉や導電性を有する潤滑剤、或いは水滴等が入り込むと、上記絶縁層6による絶縁性が損なわれ、上記外輪3を組み込んだ転がり軸受に電食等の不具合が発生する。
(b) 上記外輪3を金属製のケース等に着脱する際に上記絶縁層6を破損し易い。
即ち、上述した様な従来技術の場合、使用状態に準じて、上記ケース等の内周面と上記絶縁層6の外周面とを確実に密着させる為に、このケース等に上記外輪3を締り嵌めで内嵌する必要がある。この内嵌作業及び試験後の取り外し作業に伴って、上記外輪3の絶縁層6を損傷する可能性がある。絶縁層6を損傷した絶縁転がり軸受は、不良品として廃棄しなければならず、製品の歩留り悪化によるコスト上昇の原因となる。
即ち、上述した様な従来技術の場合、使用状態に準じて、上記ケース等の内周面と上記絶縁層6の外周面とを確実に密着させる為に、このケース等に上記外輪3を締り嵌めで内嵌する必要がある。この内嵌作業及び試験後の取り外し作業に伴って、上記外輪3の絶縁層6を損傷する可能性がある。絶縁層6を損傷した絶縁転がり軸受は、不良品として廃棄しなければならず、製品の歩留り悪化によるコスト上昇の原因となる。
(c) 上記外輪3の外周面と上記ケース等の内周面との当接状態のばらつきにより、絶縁性能に関する測定値、特にインピーダンスの測定値にばらつきを生じ易い。
特に近年になって、電動機を制御する為のキャリア周波数が数十kHz以上にまで高くなっており、同時に、回路設計の高度化によりパルス波形の高精度化も進んでいる。この為、単に、絶縁転がり軸受の絶縁性能(抵抗値)を管理するだけでは不十分となる場合があり、インピーダンス特性に就いても、より正確に計測する事が求められ始めている。ところで、インピーダンス(|Z|)は、以下の(1)式に示す様に、静電容量(C)に対して反比例し、この静電容量(C)は、(2)式から明らかな様に、絶縁層に接触する電極の面積(A)の値に依存(比例)する。
特に近年になって、電動機を制御する為のキャリア周波数が数十kHz以上にまで高くなっており、同時に、回路設計の高度化によりパルス波形の高精度化も進んでいる。この為、単に、絶縁転がり軸受の絶縁性能(抵抗値)を管理するだけでは不十分となる場合があり、インピーダンス特性に就いても、より正確に計測する事が求められ始めている。ところで、インピーダンス(|Z|)は、以下の(1)式に示す様に、静電容量(C)に対して反比例し、この静電容量(C)は、(2)式から明らかな様に、絶縁層に接触する電極の面積(A)の値に依存(比例)する。
|Z|=1/{(1/R2 )+(2πfC)2 }1/2 ・・・・(1)
|Z|:インピーダンス(Ω)、R:抵抗値(Ω)、f:周波数(Hz)、C:静電容量(F)
C=εo εr (A/S) ・・・・(2)
εo :真空中の誘電率(8.854×10-12 F/m)、εr :比誘電率、A:面積(m2 )、S:距離(m)
この様な(1)(2)式から明らかな通り、静電容量の計測、延いては、インピーダンス特性に就いて正確な計測を行なう為には、絶縁層に対して電極の表面を密着させる必要があるが、前述した従来技術の場合には、必ずしもこの様な要求に対応できない。
|Z|:インピーダンス(Ω)、R:抵抗値(Ω)、f:周波数(Hz)、C:静電容量(F)
C=εo εr (A/S) ・・・・(2)
εo :真空中の誘電率(8.854×10-12 F/m)、εr :比誘電率、A:面積(m2 )、S:距離(m)
この様な(1)(2)式から明らかな通り、静電容量の計測、延いては、インピーダンス特性に就いて正確な計測を行なう為には、絶縁層に対して電極の表面を密着させる必要があるが、前述した従来技術の場合には、必ずしもこの様な要求に対応できない。
前述した特許文献8には、外輪3の外周面を被覆した絶縁層6を、導電ゴム製の被膜接触体により抑え付ける事で、試験装置を構成するケース等と、この絶縁層6との接触状態を改善する技術が記載されているが、前述した(a) の問題は解決できないし、前述した(b) 及び上述した(c) の問題も十分には解決できない。又、上記特許文献8には、上記ケース等を二つ割りにする事で、このケース等への上記外輪3の着脱性を向上させる技術が記載されている。この様な技術は、上記(b) の問題を解決できても、残りの(a)(c)の問題を解決する事はできない。
本発明は、上述の様な事情に鑑みて、上述した(a) 〜(c) の様な問題を総て解決できる転がり軸受用外輪の絶縁試験方法及び装置を実現すべく発明したものである。即ち、本発明は、試験に伴って絶縁層を破壊する事がなく、しかも、ピンホールの如き微小な欠陥による絶縁性能の悪化を検知でき、更にはインピーダンスの値を安定して測定できる、転がり軸受用外輪の絶縁試験方法及び装置を実現するものである。
本発明の転がり軸受用外輪の絶縁試験方法及び装置は、内周面に外輪軌道を形成し、少なくとも外周面を絶縁被膜により被覆した転がり軸受用外輪の、この絶縁被膜の絶縁性能を試験する為のものである。
そして、請求項1に記載した転がり軸受用外輪の絶縁試験方法は、少なくともこの転がり軸受用外輪の内径側空間の軸方向両端部を液密に塞いだ状態で、この転がり軸受用外輪を導電性を有する液体中に、この転がり軸受用外輪のうちで上記絶縁被膜により被覆された部分のみがこの液体と接触する状態で浸漬する。そして、この転がり軸受用外輪の内周面で上記絶縁被膜により覆われていない部分と上記液体との間に電圧を印加する事で、この絶縁被膜の絶縁性能を判定する。
そして、請求項1に記載した転がり軸受用外輪の絶縁試験方法は、少なくともこの転がり軸受用外輪の内径側空間の軸方向両端部を液密に塞いだ状態で、この転がり軸受用外輪を導電性を有する液体中に、この転がり軸受用外輪のうちで上記絶縁被膜により被覆された部分のみがこの液体と接触する状態で浸漬する。そして、この転がり軸受用外輪の内周面で上記絶縁被膜により覆われていない部分と上記液体との間に電圧を印加する事で、この絶縁被膜の絶縁性能を判定する。
又、請求項2に記載した転がり軸受用外輪の絶縁試験装置は、貯液槽と、支持装置と、判定器とを備える。このうちの貯液層は、塩化ナトリウムの水溶液(食塩水)の如き電解液等の、導電性を有する液体を貯溜する。又、上記支持装置は、上記貯液槽内に上記転がり軸受用外輪を、少なくともこの転がり軸受用外輪の内径側空間の軸方向両端部を液密に塞いだ状態で支持する。更に、上記判定器は、この転がり軸受用外輪の内周面で上記絶縁被膜により覆われていない部分と上記液体との間に電圧を印加する事で、この絶縁被膜の絶縁性能を判定する。
上述の様に構成する本発明の転がり軸受用外輪の絶縁試験方法及び装置によれば、試験に伴って絶縁層を破壊する事がなく、しかも、ピンホールによる絶縁性能の悪化を検知でき、更にはインピーダンスの値を安定して測定できる。
図1は、本発明の実施の形態の1例を示している。本例は、それぞれが外周面と軸方向両端面とを絶縁層6、6により被覆した3個の外輪3、3の、この絶縁層6による絶縁性能を試験する、絶縁試験装置を示している。尚、これら各外輪3、3は、それぞれの外周面と軸方向両端面とに加え、内周面の軸方向両端寄り部分も、上記絶縁層6により被覆している。この様な絶縁層6の絶縁性能を試験する為の試験装置を構成する為の、上方が開口した貯液槽7内に、塩化ナトリウムの水溶液の如き電解液8を貯溜している。そして、この電解液8内に、上記各外輪3、3を、絶縁層6、6により被覆されていない部分がこの電解液8に触れない様にシールした状態で、浸漬している。
この為に本例の場合には、隣り合う外輪3、3同士の間に円環状のシールリング9a、9aを挟持すると共に、両端の外輪3、3の外端開口に塞ぎ板10、10を、円環状のシールリング9b、9bを介して突き当てている。上記各外輪3、3の表面を被覆した上記絶縁層6、6は、上記各シールリング9a、9bが突き当てられた部分よりも内径側或いは軸方向内側まで存在する。言い換えれば、これら各シールリング9a、9bが突き当てられた部分よりも外径側或いは軸方向外側部分に存在し、上記電解液8に接触する部分は、総て上記絶縁層6、6により覆われている。この状態で上記両塞ぎ板10、10同士を、スタッド11に螺合したナット12、12により、互いに近づく方向に押圧している。これら両ナット12、12と上記両塞ぎ板10、10との当接面は、シール板(図示省略)により、液密にシールしている。尚、上記各シールリング9a、9bは、図示の様な、断面形状が台形若しくは三角形のものに限らず、一般的なOリングを使用する事もできる。Oリングを使用する場合には、隣り合う外輪3、3の軸方向端面同士の間、外輪3、3の軸方向端面と塞ぎ板10、10との間で上記Oリングを、軸方向両側から挟持する。
尚、上記スタッド11の両端部は、上記貯液槽7の底面に設けた1対の支柱13、13同士の間に掛け渡している。これら両支柱13、13の上端部は、例えば二股に形成する等により、上記スタッド11の端部を係止自在としている。絶縁試験を行なう際には、上記貯液槽7外でこのスタッド11の中間部周囲に、上記各部材3、9a、9b、10、12等を組み付けてから、これら各部材3、9a、9b、10、12等を上記スタッド11と共に、上記貯液槽7内の上記電解液8中に浸漬する。
この状態で、上記各外輪3、3の母材(一部を上記絶縁層6、6により覆われた金属材)と、上記電解液8中に浸漬した電極14との間の抵抗値を測定自在としている。この為に、上記各外輪3、3の内周面で上記絶縁層6、6により覆われていない部分に第一の導線15の端部を接続し、上記電極14に第二の導線16の端部を接続している。そして、これら第一、第二の導線15、16により、上記各外輪3、3の母材と上記電極14との間に電圧を印加し、これら各外輪3、3の母材と上記電極14との間の抵抗値を測定自在としている。尚、上記各外輪3、3の母材への電圧印加は、これら各外輪3、3毎に互いに独立して(1個ずつ)行なえる様にし、上記絶縁層6、6の良否を、上記各外輪3、3毎に行なえる様にしている。
上記各外輪3、3の絶縁層6、6の良否を判定すべく、何れかの外輪3の母材と上記電極14との間に電圧を印加した場合に、当該外輪3の絶縁層6が良質であれば、これら母材と電極14との間の抵抗値が十分に大きくなる。これに対して、当該外輪3の絶縁層6が不良であれば、これら母材と電極14との間の抵抗値が小さくなる。この場合に、絶縁層6にピンホールの如き欠陥が存在した場合であっても、この欠陥中に上記電解液8が入り込む事で、この欠陥の存在を上記抵抗値の変動として捉える事ができる。又、この電解液8と上記絶縁層6との接触状態は常に一定であるから、この電解液8の濃度管理さえ行なえば、上記抵抗値(インピーダンス)の測定を安定して行なえる。更に、試験の為に上記各外輪3、3を前記スタッド11の周囲に着脱する際に、これら各外輪3、3の外周面及び軸方向両端面を被覆した絶縁層6、6が破損する事はない。
1 内輪
2 内輪軌道
3 外輪
4 外輪軌道
5 転動体
6 絶縁層
7 貯液槽
8 電解液
9a、9b シールリング
10 塞ぎ板
11 スタッド
12 ナット
13 支柱
14 電極
15 第一の導線
16 第二の導線
2 内輪軌道
3 外輪
4 外輪軌道
5 転動体
6 絶縁層
7 貯液槽
8 電解液
9a、9b シールリング
10 塞ぎ板
11 スタッド
12 ナット
13 支柱
14 電極
15 第一の導線
16 第二の導線
Claims (2)
- 内周面に外輪軌道を形成し、少なくとも外周面を絶縁被膜により被覆した転がり軸受用外輪の、この絶縁被膜の絶縁性能を試験する為の転がり軸受用外輪の絶縁試験方法であって、少なくともこの転がり軸受用外輪の内径側空間の軸方向両端部を液密に塞いだ状態で、この転がり軸受用外輪を導電性を有する液体中に、この転がり軸受用外輪のうちで上記絶縁被膜により被覆された部分のみがこの液体と接触する状態で浸漬し、この転がり軸受用外輪の内周面で上記絶縁被膜により覆われていない部分と上記液体との間に電圧を印加する事で、この絶縁被膜の絶縁性能を判定する転がり軸受用外輪の絶縁試験方法。
- 内周面に外輪軌道を形成し、少なくとも外周面を絶縁被膜により被覆した転がり軸受用外輪の、この絶縁被膜の絶縁性能を試験する為の転がり軸受用外輪の絶縁試験装置であって、導電性を有する液体を貯溜する貯液槽と、この貯液槽内に上記転がり軸受用外輪を、少なくともこの転がり軸受用外輪の内径側空間の軸方向両端部を液密に塞いだ状態で支持する支持装置と、この転がり軸受用外輪の内周面で上記絶縁被膜により覆われていない部分と上記液体との間に電圧を印加する事で、この絶縁被膜の絶縁性能を判定する判定器とを備えた転がり軸受用外輪の絶縁試験装置。
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---|---|---|---|
JP2007244767A JP2009074955A (ja) | 2007-09-21 | 2007-09-21 | 転がり軸受用外輪の絶縁試験方法及び装置 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015146689A1 (ja) * | 2014-03-25 | 2015-10-01 | Ntn株式会社 | 軸受部品の内部欠陥検査装置および内部欠陥検査方法 |
CN114152438A (zh) * | 2021-11-15 | 2022-03-08 | 中车永济电机有限公司 | 一种适用于多型号滚动轴承绝缘性能动态测试装置 |
-
2007
- 2007-09-21 JP JP2007244767A patent/JP2009074955A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015146689A1 (ja) * | 2014-03-25 | 2015-10-01 | Ntn株式会社 | 軸受部品の内部欠陥検査装置および内部欠陥検査方法 |
CN114152438A (zh) * | 2021-11-15 | 2022-03-08 | 中车永济电机有限公司 | 一种适用于多型号滚动轴承绝缘性能动态测试装置 |
CN114152438B (zh) * | 2021-11-15 | 2024-01-23 | 中车永济电机有限公司 | 一种适用于多型号滚动轴承绝缘性能动态测试装置 |
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