JP2009051017A - Photocurable composition for photo-nanoimprint lithography and manufacturing method of substrate with pattern - Google Patents

Photocurable composition for photo-nanoimprint lithography and manufacturing method of substrate with pattern Download PDF

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JP2009051017A JP2007217204A JP2007217204A JP2009051017A JP 2009051017 A JP2009051017 A JP 2009051017A JP 2007217204 A JP2007217204 A JP 2007217204A JP 2007217204 A JP2007217204 A JP 2007217204A JP 2009051017 A JP2009051017 A JP 2009051017A
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裕一 福重
Masatoshi Yumoto
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photocurable composition for photo-nanoimprint lithography, which excels in curability of the surface and the inside and can form a resist pattern excellent in exfoliation from a mold. <P>SOLUTION: The photocurable composition for the photo-nanoimprint lithography comprises (a) a polymerizable compound, (b) a photopolymerization initiator and (c) a surface-active photo polymerization initiator, and its viscosity at 25°C is ≥3 mPa s and ≤30 mPa s. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物、及びパターン付き基板の製造方法に関する。   The present invention relates to a photocurable composition for optical nanoimprint lithography and a method for producing a patterned substrate.

ナノインプリントリソグラフィ法は、光ディスク製作では良く知られているエンボス技術を発展させた方法であり、凹凸のパターンを形成した金型原器(一般的に、モールド、スタンパ、テンプレート等と呼ばれる)の凹凸パターンを、レジスト膜にプレスし、レジスト膜を力学的に変形させて微細パターンを精密に転写する技術である。モールドを一度作製すれば、ナノ構造が簡単に繰り返して成型できるため経済的であるとともに、有害な廃棄・排出物が少ないナノ加工技術であるため、近年、さまざまな分野への応用が期待されている。   The nanoimprint lithography method is a method developed from an embossing technique that is well-known in optical disc production. The concave / convex pattern of a mold base (generally called a mold, stamper, template, etc.) on which a concave / convex pattern is formed. Is pressed onto a resist film, and the resist film is mechanically deformed to precisely transfer a fine pattern. Once a mold is made, it is economical because nanostructures can be easily and repeatedly molded, and it is a nano-processing technology that has few harmful wastes and emissions, so in recent years it has been expected to be applied in various fields. Yes.

ナノインプリントリソグラフィ法には、主として、被加工材料として熱可塑性樹脂を用いる技術(例えば、非特許文献1参照)と、光硬化性組成物を用いる技術(例えば、非特許文献2参照)との2通りが知られている。光硬化性組成物を用いる場合、基板上に形成された光硬化性膜(レジスト膜)にモールドの凹凸パターンを圧接し、モールド及び/又は基板を通して光を照射し、光硬化性膜を光硬化させ、その後モールドを剥離してレジストパターンを形成する。   There are two main types of nanoimprint lithography methods: a technique using a thermoplastic resin as a material to be processed (for example, see Non-Patent Document 1) and a technique using a photocurable composition (for example, see Non-Patent Document 2). It has been known. When a photocurable composition is used, the concave / convex pattern of the mold is pressed against the photocurable film (resist film) formed on the substrate, light is irradiated through the mold and / or the substrate, and the photocurable film is photocured. After that, the mold is peeled off to form a resist pattern.

光硬化性組成物としては、形成される硬化膜の表面強度を改良することができる界面活性光開始剤を含む感光性組成物が知られている(例えば、特許文献1〜特許文献3参照)。一方、ナノインプリントリソグラフィ法におけるモールドの剥離性が良好なパターン形成方法として、フッ素含有量が40〜70質量%の重合性化合物を含有する硬化性材料を用いる方法が知られている(例えば、特許文献4参照)。   As a photocurable composition, a photosensitive composition containing a surface active photoinitiator capable of improving the surface strength of a formed cured film is known (for example, see Patent Documents 1 to 3). . On the other hand, a method using a curable material containing a polymerizable compound having a fluorine content of 40 to 70% by mass is known as a pattern forming method with good mold releasability in nanoimprint lithography (for example, Patent Documents). 4).

特表2004−515611号公報JP-T-2004-515611 特表2004−522819号公報JP-T-2004-522819 特表2004−525994号公報JP-T-2004-525994 特開2006−114882号公報JP 2006-114882 A S.Chou et al.:Appl.Phys.Lett.Vol.67,114,3314(1995)S.Chou et al.:Appl.Phys.Lett.Vol.67,114,3314 (1995) M.Colbun et al,:Proc.SPIE,Vol.676,78(1999)M.Colbun et al,: Proc.SPIE, Vol.676,78 (1999)

しかしながら、特許文献1〜特許文献3に記載の感光性組成物は、硬化膜の内部の強度が不足し、光ナノインプリントリソグラフィーへ適用することはできない。また、特許文献4に記載の硬化性材料では、表面の硬化度が不足することが明らかとなった。   However, the photosensitive compositions described in Patent Documents 1 to 3 have insufficient strength inside the cured film and cannot be applied to optical nanoimprint lithography. Further, it has been clarified that the curable material described in Patent Document 4 has insufficient surface curing.

本発明は上記に鑑みなされたものであり、少ない露光量で硬化させた場合においても、表面及び内部の硬化性に優れ、モールドからの剥離性に優れたレジストパターンを形成可能な光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物、及び、前記光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物を用いたパターン付き基板の製造方法を提供することを目的とし、該目的を達成することを課題とする。   The present invention has been made in view of the above, and for optical nanoimprint lithography capable of forming a resist pattern having excellent surface and internal curability and excellent mold releasability even when cured with a small exposure amount. It aims at providing the manufacturing method of the board | substrate with a pattern using the photocurable composition and the said photocurable composition for optical nanoimprint lithography, and makes it a subject to achieve this objective.

本発明者は鋭意検討した結果、光重合開始剤と界面活性光重合開始剤とを併用することにより、形成されたレジストパターンの内部の硬化度と表面の硬化度とを両立でき、更にモールドからの剥離性をも向上できる、との知見を得、かかる知見に基づき本発明を完成した。
即ち、前記課題を達成するための具体的手段は以下の通りである。
As a result of earnest study, the present inventor can achieve both the degree of cure inside the resist pattern formed and the degree of cure of the surface by using a photopolymerization initiator and a surface-active photopolymerization initiator in combination. The present inventors have obtained the knowledge that the releasability of the film can be improved, and have completed the present invention based on such knowledge.
That is, specific means for achieving the above-described problem are as follows.

<1> (a)重合性化合物と、(b)光重合開始剤と、(c)界面活性光重合開始剤と、を含み、25℃における粘度が3mPa・s以上30mPa・s以下である光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物である。
<2> 前記(c)界面活性光重合開始剤は、置換されていてもよい炭素数3以上30以下のアルキル基、置換されていてもよいシロキサン基、及び置換されていてもよいフッ素化アルキル基から選ばれる少なくとも1種を有する化合物であることを特徴とする<1>に記載の光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物である。
<1> Light containing a (a) polymerizable compound, (b) a photopolymerization initiator, and (c) a surface-active photopolymerization initiator, and having a viscosity at 25 ° C. of 3 mPa · s to 30 mPa · s. It is a photocurable composition for nanoimprint lithography.
<2> The (c) surfactant photopolymerization initiator is an optionally substituted alkyl group having 3 to 30 carbon atoms, an optionally substituted siloxane group, and an optionally substituted fluorinated alkyl. It is a compound which has at least 1 sort (s) chosen from group, It is a photocurable composition for optical nanoimprint lithography as described in <1> characterized by the above-mentioned.

<3> 25℃における粘度が3mPa・s以上18mPa・s以下であることを特徴とする<1>又は<2>に記載の光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物である。
<4> 更に、(d)フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤、及びフッ素・シリコーン系界面活性剤から選ばれる少なくとも1種を含むことを特徴とする<1>〜<3>のいずれか1つに記載の光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物である。
<3> The photocurable composition for optical nanoimprint lithography according to <1> or <2>, wherein a viscosity at 25 ° C. is 3 mPa · s or more and 18 mPa · s or less.
<4> Further, (d) any one of <1> to <3>, further comprising (d) at least one selected from a fluorine-based surfactant, a silicone-based surfactant, and a fluorine / silicone-based surfactant The photocurable composition for optical nanoimprint lithography according to any one of the above.

<5> <1>〜<4>のいずれか1つに記載の光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物を基板上に塗布して光硬化性層を形成する工程と、凹凸パターンを有するモールドの前記凹凸パターンと、前記基板上に形成された前記光硬化性層と、を圧接して前記光硬化性層を変形させる工程と、前記基板の前記光硬化性層が形成された側の反対側から、及び/又は、前記モールドの前記光硬化性層に接する側の反対側から、前記変形した光硬化性層に光を照射して前記変形した光硬化性層を硬化する工程と、前記基板から前記モールドを剥離し、基板上に前記凹凸パターンの反転パターンを形成する工程と、を有するパターン付き基板の製造方法である。 <5> A step of applying a photocurable composition for optical nanoimprint lithography according to any one of <1> to <4> on a substrate to form a photocurable layer, and a mold having an uneven pattern A step of deforming the photocurable layer by press-contacting the uneven pattern and the photocurable layer formed on the substrate; and a side of the substrate opposite to the side on which the photocurable layer is formed. And / or curing the deformed photocurable layer by irradiating the deformed photocurable layer with light from the opposite side of the mold that is in contact with the photocurable layer, and the substrate. The mold is peeled off, and a reverse pattern of the concavo-convex pattern is formed on the substrate.

<6> 更に、前記基板上に形成された前記反転パターンをマスクとして基板をエッチングする工程と、エッチング後の基板から前記反転パターンを剥離する工程と、を有することを特徴とする<5>に記載のパターン付き基板の製造方法である。 <6> The method according to <5>, further comprising a step of etching the substrate using the reverse pattern formed on the substrate as a mask, and a step of peeling the reverse pattern from the substrate after etching. It is a manufacturing method of the board | substrate with a pattern of description.

本発明によれば、少ない露光量で硬化させた場合においても、表面及び内部の硬化性に優れ、モールドからの剥離性に優れたレジストパターンを形成可能な光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物、及び、前記光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物を用いたパターン付き基板の製造方法を提供することができる。   According to the present invention, even when cured with a small amount of exposure, the photocurable composition for optical nanoimprint lithography that can form a resist pattern having excellent surface and internal curability and excellent peelability from the mold, And the manufacturing method of the board | substrate with a pattern using the said photocurable composition for optical nanoimprint lithography can be provided.

≪光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物≫
本発明の光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物(以下、「本発明の光硬化性組成物」ともいう)は、(a)重合性化合物と、(b)光重合開始剤と、(c)界面活性光重合開始剤と、を含み、25℃における粘度が3〜30mPa・sとなるように構成される。
光硬化性組成物を上記構成とすることにより、該光硬化性組成物を用いてレジストパターンを形成する際、少ない露光量で硬化させた場合においても、レジストパターンの表面及び内部の硬化性が向上し、モールドからの剥離性(以下、「モールドとの剥離性」、「離型性」ともいう)が向上する。
上記効果が得られる理由は定かではないが、理由の一つは以下のように推定される。
即ち、b)成分により、主としてパターン内部の重合を進行する。一方、上記(c)成分は、塗布乾燥後、パターン表面付近の濃度が増加しやすいため、パターン表面及びパターン内部の効果的な重合を進行させ得る。上記パターン表面の硬化の進行と、(c)成分の持つ界面活性機能と、の相乗効果により、モールドの剥離性が向上するものと推定される。
≪Photocurable composition for optical nanoimprint lithography≫
The photocurable composition for optical nanoimprint lithography of the present invention (hereinafter also referred to as “photocurable composition of the present invention”) comprises (a) a polymerizable compound, (b) a photopolymerization initiator, and (c). And a surface active photopolymerization initiator, and the viscosity at 25 ° C. is 3 to 30 mPa · s.
By forming the photocurable composition as described above, when the resist pattern is formed using the photocurable composition, the surface and internal curability of the resist pattern can be maintained even when cured with a small exposure amount. This improves the releasability from the mold (hereinafter also referred to as “releasability from the mold” and “releasability”).
The reason why the above effect is obtained is not clear, but one of the reasons is estimated as follows.
That is, polymerization inside the pattern mainly proceeds by the component b). On the other hand, the component (c) can easily increase the concentration in the vicinity of the pattern surface after coating and drying, and thus can promote effective polymerization on the pattern surface and inside the pattern. It is presumed that the mold releasability is improved by the synergistic effect of the progress of curing of the pattern surface and the surface active function of the component (c).

本明細書において「〜」とは、その前後に記載される数値を下限値及び上限値として含む意味で使用される。メタ(アクリレート)はアクリレートおよびメタクリレートを表し、メタ(アクリル)はアクリルおよびメタクリルを表し、メタ(アクリロイル)はアクリロイルおよびメタクリロイルを表す。また、本明細書中において、単量体とモノマーは同一である。本発明における単量体は、オリゴマー、ポリマーと区別し、質量平均分子量が1,000以下の化合物をいう。
なお、本発明でいうナノインプリントリソグラフィは、およそ数μmから数十nmのサイズのパターン転写であることが好ましい。
In the present specification, “to” is used to mean that the numerical values described before and after it are included as a lower limit value and an upper limit value. Meta (acrylate) represents acrylate and methacrylate, meth (acryl) represents acryl and methacryl, and meth (acryloyl) represents acryloyl and methacryloyl. Moreover, in this specification, a monomer and a monomer are the same. The monomer in the present invention is a compound having a mass average molecular weight of 1,000 or less, distinguished from oligomers and polymers.
The nanoimprint lithography referred to in the present invention is preferably pattern transfer having a size of about several μm to several tens of nm.

本発明の光硬化性組成物は、25℃における粘度が3〜30mPa・sである。本発明における粘度は特に述べない限り、25℃における粘度をいう。
前記粘度が30mPa・sより大きいと、微細な凹凸パターンを有するモールドを光硬化性組成物に密着させた場合、モールドの凹部のキャビティ内に光硬化性組成物が流れにくくなり、大気が取り込まれやすくなるためバブル欠陥を引き起こしやすくなり、モールド凸部において光硬化後に残渣が残りやすくなる。また、最新レジスト材料ハンドブック、P1、103〜104(2005年、情報機構出版)などにこれまでに開示されている光ナノインプリント組成物は、粘度がおよそ50mPa・sであるため、バブル欠陥や光硬化後にモールドの凹部に残渣が残りやすいなどの問題があったため、限られた用途にしか適用できなかった。例えば、半導体集積回路や液晶ディスプレイの薄膜トランジスタなどの微細加工用途への展開は難しかった。本発明の光硬化性組成物は、これらの用途に好適に適用でき、また、その他の用途、例えば、フラットスクリーン、マイクロ電気機械システム(MEMS)、センサ素子、光ディスク、高密度メモリーデイスク等の磁気記録媒体、回折格子やレリーフホログラム等の光学部品、ナノデバイス、光学デバイス、光学フィルムや偏光素子、有機トランジスタ、カラーフィルター、オーバーコート層、マイクロレンズアレイ、免疫分析チップ、DNA分離チップ、マイクロリアクター、ナノバイオデバイス、光導波路、光学フィルター、フォトニック液晶等の作製にも幅広く適用できる。
The photocurable composition of the present invention has a viscosity at 25 ° C. of 3 to 30 mPa · s. The viscosity in the present invention means a viscosity at 25 ° C. unless otherwise specified.
When the viscosity is greater than 30 mPa · s, when a mold having a fine uneven pattern is brought into close contact with the photocurable composition, the photocurable composition becomes difficult to flow into the cavity of the concave portion of the mold, and air is taken in. Since it becomes easy, it becomes easy to cause a bubble defect, and a residue tends to remain after photocuring in a mold convex part. Moreover, since the viscosity of the optical nanoimprint composition disclosed so far in the latest resist material handbook, P1, 103-104 (2005, published by the Information Organization) has a viscosity of about 50 mPa · s, bubble defects and photocuring Since there was a problem that residues were likely to remain in the recesses of the mold later, it could be applied only to limited applications. For example, it has been difficult to expand into microfabrication applications such as semiconductor integrated circuits and thin film transistors for liquid crystal displays. The photocurable composition of the present invention can be suitably applied to these applications, and other applications such as magnetic fields such as flat screens, microelectromechanical systems (MEMS), sensor elements, optical disks, and high-density memory disks. Recording media, optical components such as diffraction gratings and relief holograms, nanodevices, optical devices, optical films and polarizing elements, organic transistors, color filters, overcoat layers, microlens arrays, immunoassay chips, DNA separation chips, microreactors, It can be widely applied to the production of nanobio devices, optical waveguides, optical filters, photonic liquid crystals, and the like.

前記粘度が3mPa・s未満であると、基板塗布適性の問題や膜の機械的強度の低下が生じる。具体的には、粘度を低くしすぎることによって、組成物の塗布の際に面上ムラを生じたり、塗布時に基板から組成物が流れ出たりする問題がある。   If the viscosity is less than 3 mPa · s, problems of substrate coating suitability and mechanical strength of the film are reduced. Specifically, when the viscosity is too low, there is a problem that unevenness on the surface occurs during application of the composition, or the composition flows out of the substrate during application.

前記残渣をさらに抑制し、塗布性をさらに向上させる観点からは、前記光硬化性組成物の25℃における粘度は、3〜18mPa・sが好ましく、4〜18mPa・sがより好ましい。
以下、本発明の光硬化性組成物の各成分について説明する。
From the viewpoint of further suppressing the residue and further improving applicability, the viscosity of the photocurable composition at 25 ° C. is preferably 3 to 18 mPa · s, and more preferably 4 to 18 mPa · s.
Hereinafter, each component of the photocurable composition of the present invention will be described.

<(a)重合性化合物>
本発明の光硬化性組成物は、重合性化合物を少なくとも1種含有する。
前記重合性化合物としては、光ラジカル重合性不飽和単量体および/または光カチオン重合性不飽和単量体を含むことが好ましい。
<(A) Polymerizable compound>
The photocurable composition of the present invention contains at least one polymerizable compound.
The polymerizable compound preferably contains a photo radical polymerizable unsaturated monomer and / or a photo cationic polymerizable unsaturated monomer.

本発明で用いることのできる光ラジカル重合性不飽和単量体の具体例としては、エチレン性不飽和結合含有基を有する単量体が好ましく用いられる。   As a specific example of the photoradically polymerizable unsaturated monomer that can be used in the present invention, a monomer having an ethylenically unsaturated bond-containing group is preferably used.

エチレン性不飽和結合含有基を1個有する単量体の例としては、2−アクリロイロキシエチルフタレート、2−アクリロイロキシ2−ヒドロキシエチルフタレート、2−アクリロイロキシエチルヘキサヒドロフタレート、2−アクリロイロキシプロピルフタレート、2−エチル−2−ブチルプロパンジオールアクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシルカルビトール(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2−メトキシエチル(メタ)アクリレート、3−メトキシブチル(メタ)アクリレート、4−ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート、アクリル酸ダイマー、脂肪族エポキシ(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、ブタンジオールモノ(メタ)アクリレート、ブトキシエチル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、カプロラクトン(メタ)アクリレート、セチル(メタ)アクリレート、エチレンオキシド変性(以下「EO」という。)クレゾール(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、ジシクロペンタニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンテニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンテニルオキシエチル(メタ)アクリレート、ジプロピレングリコール(メタ)アクリレート、エトキシ化フェニル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、イソアミル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)アクリレート、イソブチル(メタ)アクリレート、イソオクチル(メタ)アクリレート、イソミリスチル(メタ)アクリレート、ラウリル(メタ)アクリレート、   Examples of monomers having one ethylenically unsaturated bond-containing group include 2-acryloyloxyethyl phthalate, 2-acryloyloxy 2-hydroxyethyl phthalate, 2-acryloyloxyethyl hexahydrophthalate, 2-acryloyl Roxypropyl phthalate, 2-ethyl-2-butylpropanediol acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl carbitol (meth) acrylate, 2-hydroxybutyl (meth) acrylate, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate , 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-methoxyethyl (meth) acrylate, 3-methoxybutyl (meth) acrylate, 4-hydroxybutyl (meth) acrylate, acrylic acid dimer, aliphatic epoxy (Meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate, butanediol mono (meth) acrylate, butoxyethyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, caprolactone (meth) acrylate, cetyl (meth) acrylate, ethylene oxide modified (hereinafter referred to as “EO”) Cresol (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate, dicyclopentenyl (meth) acrylate, dicyclopentenyloxyethyl (meth) acrylate, dipropylene glycol (meth) acrylate, Ethoxylated phenyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, isoamyl (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, isobutyl (meth) acrylate Over DOO, isooctyl (meth) acrylate, isomyristyl (meth) acrylate, lauryl (meth) acrylate,

メトキシジプロピレングリコール(メタ)アクリレート、メトキシトリプロピレングリコール(メタ)アクリレート、メトキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレート、メトキシトリエチレングリコール(メタ)アクリレート、 Methoxydipropylene glycol (meth) acrylate, methoxytripropylene glycol (meth) acrylate, methoxypolyethylene glycol (meth) acrylate, methoxytriethylene glycol (meth) acrylate,

メチル(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールベンゾエート(メタ)アクリレート、ノニルフェノキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレート、ノニルフェノキシポリプロピレングリコール(メタ)アクリレート、オクチル(メタ)アクリレート、パラクミルフェノキシエチレングリコール(メタ)アクリレート、エピクロロヒドリン(以下「ECH」という)変性フェノキシアクリレート、フェノキシエチル(メタ)アクリレート、フェノキシジエチレングリコール(メタ)アクリレート、フェノキシヘキサエチレングリコール(メタ)アクリレート、フェノキシテトラエチレングリコール(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコール(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコール−ポリプロピレングリコール(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコール(メタ)アクリレート、ステアリル(メタ)アクリレート、EO変性コハク酸(メタ)アクリレート、tert−ブチル(メタ)アクリレート、tert−ブチルシクロヘキシル(メタ)アクリレート、テトラヒドロフルフリル(メタ)アクリレート、カプロラクトン変性テトラヒドロフルフリル(メタ)アクリレート、トリブロモフェニル(メタ)アクリレート、EO変性トリブロモフェニル(メタ)アクリレート、トリドデシル(メタ)アクリレート、トリフルオロエチル(メタ)アクリレート、ウレタンモノ(メタ)アクリレート、アダマンチル(メタ)アクリレート、3−ヒドロキシアダマンチル(メタ)アクリレート、 Methyl (meth) acrylate, neopentyl glycol benzoate (meth) acrylate, nonylphenoxypolyethylene glycol (meth) acrylate, nonylphenoxypolypropylene glycol (meth) acrylate, octyl (meth) acrylate, paracumylphenoxyethylene glycol (meth) acrylate, epi Chlorohydrin (hereinafter referred to as “ECH”) modified phenoxy acrylate, phenoxyethyl (meth) acrylate, phenoxydiethylene glycol (meth) acrylate, phenoxyhexaethylene glycol (meth) acrylate, phenoxytetraethylene glycol (meth) acrylate, polyethylene glycol (meth) ) Acrylate, polyethylene glycol-polypropylene glycol (meta Acrylate, polypropylene glycol (meth) acrylate, stearyl (meth) acrylate, EO-modified succinic acid (meth) acrylate, tert-butyl (meth) acrylate, tert-butylcyclohexyl (meth) acrylate, tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate, caprolactone Modified tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate, tribromophenyl (meth) acrylate, EO modified tribromophenyl (meth) acrylate, tridodecyl (meth) acrylate, trifluoroethyl (meth) acrylate, urethane mono (meth) acrylate, adamantyl ( (Meth) acrylate, 3-hydroxyadamantyl (meth) acrylate,

p−イソプロペニルフェノール、4−ビニルピリジン、N−メチルアクリルアミド、N,N−ジメチルアクリルアミド、N,N−ジエチルアクリルアミド、N−ヒドロキシエチルアクリルアミド、N,N−ジメチルアミノエチル(メタ)アクリレート、ジエチルアミノエチル(メタ)アクリレート、スチレン、α−メチルスチレン、アクリロニトリル、ビニルカプロラクタム、ビニルカルバゾール、1−ビニルイミダゾール、2−メチル−1−ビニルイミダゾール、イミドアクリレート、ビニルオキサゾリン等が挙げられる。 p-isopropenylphenol, 4-vinylpyridine, N-methylacrylamide, N, N-dimethylacrylamide, N, N-diethylacrylamide, N-hydroxyethylacrylamide, N, N-dimethylaminoethyl (meth) acrylate, diethylaminoethyl (Meth) acrylate, styrene, α-methylstyrene, acrylonitrile, vinylcaprolactam, vinylcarbazole, 1-vinylimidazole, 2-methyl-1-vinylimidazole, imide acrylate, vinyloxazoline and the like.

これらの中で特に、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、エトキシ化フェニル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)アクリレート、フェノキシエチル(メタ)アクリレート、フェノキシテトラエチレングリコール(メタ)アクリレート、N−ビニル−2−ピロリドン、N−アクリロイルモルフォリン等が粘度が低く、揮発性に優れ、本発明に好適に用いられる。   Among these, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate, ethoxylated phenyl (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, phenoxyethyl (meth) acrylate, phenoxytetraethylene glycol (meth) acrylate N-vinyl-2-pyrrolidone, N-acryloylmorpholine and the like have low viscosity and excellent volatility, and are preferably used in the present invention.

また、モールドとの剥離性や基板との密着性や塗布性を向上させる目的で、(メタ)アクリロイル変性シリコーン、ビニル変性シリコーン、シリコーンヘキサアクリレートなどのシリコーン化合物、市販されているシリコーンアクリレート(商品名:デソライトZ7500(JSR製)、SHC200、SHC900、UVHC85XXシリーズ、UVHC11XXシリーズ(いずれもGE東芝シリコーン社製)、ジメチルシロキサンモノメタクリレート(FM0711、FM0721、FM0725(いずれもチッソ(株)製))、ジメチルシロキサンジメタクリレート(DMS−V22(チッソ(株)製))、Ebercryl−1360(ダイセル化学工業製))も用いることができる。同様に、トリフルオロエチル(メタ)アクリレート、ペンタフルオロエチル(メタ)アクリレート、(パーフルオロブチル)エチル(メタ)アクリレート、パーフルオロブチル−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、(パーフルオロヘキシル)エチル(メタ)アクリレート、オクタフルオロペンチル(メタ)アクリレート、パーフルオロオクチルエチル(メタ)アクリレート、テトラフルオロプロピル(メタ)アクリレート等のフッソ原子を有する化合物も用いることができる。   In addition, for the purpose of improving the releasability from the mold, the adhesion to the substrate, and the coating property, silicone compounds such as (meth) acryloyl-modified silicone, vinyl-modified silicone, and silicone hexaacrylate, and commercially available silicone acrylate (trade name) : Desolite Z7500 (manufactured by JSR), SHC200, SHC900, UVHC85XX series, UVHC11XX series (all manufactured by GE Toshiba Silicone), dimethylsiloxane monomethacrylate (FM0711, FM0721, FM0725 (all manufactured by Chisso Corporation)), dimethylsiloxane Dimethacrylate (DMS-V22 (manufactured by Chisso Corporation)) and Ebercryl-1360 (manufactured by Daicel Chemical Industries)) can also be used. Similarly, trifluoroethyl (meth) acrylate, pentafluoroethyl (meth) acrylate, (perfluorobutyl) ethyl (meth) acrylate, perfluorobutyl-hydroxypropyl (meth) acrylate, (perfluorohexyl) ethyl (meth) A compound having a fluorine atom such as acrylate, octafluoropentyl (meth) acrylate, perfluorooctylethyl (meth) acrylate, and tetrafluoropropyl (meth) acrylate can also be used.

さらに、基板との密着性を高めるために、例えば、エチル(メタ)アクリレートアシッドホスフェート、3−クロロ−2−アシッドホスホキシプロピル(メタ)アクリレート、ポリオキシエチレングリコール(メタ)アクリレートアシッドホスフェート、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレートアシッドホスフェート、2−(メタ)アクリロイロキシエチルカプロエートアシッドホスフェート等のリン酸含有(メタ)アクリルモノマーも本発明に用いることができる。   Further, in order to improve the adhesion to the substrate, for example, ethyl (meth) acrylate acid phosphate, 3-chloro-2-acid phosphoxypropyl (meth) acrylate, polyoxyethylene glycol (meth) acrylate acid phosphate, 2- Phosphoric acid-containing (meth) acrylic monomers such as hydroxyethyl (meth) acrylate acid phosphate and 2- (meth) acryloyloxyethyl caproate acid phosphate can also be used in the present invention.

本発明の光硬化性組成物の基板密着性や膜の機械特性を高めるために、イソシアネート系の(メタ)アクリレート化合物も本発明の光硬化性組成物に含めることができる。
イソシアネート系の(メタ)アクリレート化合物の具体例としては、イソシアネートメ
チル(メタ)アクリレート、イソシアネートエチル(メタ)アクリレート、イソシアネートn−プロピル(メタ)アクリレート、イソシアネートイソプロピル(メタ)アクリレート、イソシアネートn−ブチル(メタ)アクリレート、イソシアネートイソブチル(メタ)アクリレート、イソシアネートsec−ブチル(メタ)アクリレート、イソシアネートtert−ブチル(メタ)アクリレート等のイソシアネートアルキル(メタ)アクリレート;(メタ)アクリロイルメチルイソシアネート、(メタ)アクリロイルエチルイソシアネート、(メタ)アクリロイルn−プロピルイソシアネート、(メタ)アクリロイルイソプロピルイソシアネート、(メタ)アクリロイルn−ブチルイソシアネート、(メタ)アクリロイルイソブチルイソシアネート、(メタ)アクリロイルsec−ブチルイソシアネート、(メタ)アクリロイルtert−ブチルイソシアネート等の(メタ)アクリロイルアルキルイソシアネートが例示される。
In order to improve the substrate adhesion of the photocurable composition of the present invention and the mechanical properties of the film, an isocyanate-based (meth) acrylate compound can also be included in the photocurable composition of the present invention.
Specific examples of the isocyanate-based (meth) acrylate compound include isocyanate methyl (meth) acrylate, isocyanate ethyl (meth) acrylate, isocyanate n-propyl (meth) acrylate, isocyanate isopropyl (meth) acrylate, and isocyanate n-butyl (meth) ) Acrylate, isocyanate isobutyl (meth) acrylate, isocyanate sec-butyl (meth) acrylate, isocyanate alkyl (meth) acrylate such as isocyanate tert-butyl (meth) acrylate; (meth) acryloylmethyl isocyanate, (meth) acryloylethyl isocyanate, (Meth) acryloyl n-propyl isocyanate, (meth) acryloyl isopropyl isocyanate, (me ) Acryloyl n- butyl isocyanate, (meth) acryloyl Louis Seo-butyl isocyanate, (meth) acryloyl sec- butyl isocyanate, (meth) acryloyl tert- butyl isocyanate (meth) acryloyl alkyl isocyanate are exemplified.

また、ジオキソラン骨格の(メタ)アクリレートも、本発明の光硬化性組成物に用いることができる。
ジオキソラン骨格の(メタ)アクリレートの具体例としては、4−アクリロイルオキシ
メチル−2−メチル−2−エチル−1,3−ジオキソラン、4−アクリロイルオキシメチル−2−メチル−2−イソブチル−1,3−ジオキソラン、4−アクリロイルオキシメチル−2−メチル−2−シクロヘキシル−1,3−ジオキソラン、4−メタクリロイルオキシメチル−2,2−ジメチル−1,3−ジオキソラン、4−メタクリロイルオキシメチル−2−メチル−2−エチル−1,3−ジオキソラン、4−メタクリロイルオキシメチル−2−メチル−2−イソブチル−1,3−ジオキソラン、4−メタクリロイルオキシメチル−2−シクロヘキシル−1,3−ジオキソラン等が挙げられる。
中でも、4−アクリロイルオキシメチル−2−メチル−2−エチル−1,3−ジオキソ
ラン、4−アクリロイルオキシメチル−2−メチル−2−イソブチル−1,3−ジオキソラン等が挙げられる。
Further, (meth) acrylate having a dioxolane skeleton can also be used in the photocurable composition of the present invention.
Specific examples of the (meth) acrylate having a dioxolane skeleton include 4-acryloyloxymethyl-2-methyl-2-ethyl-1,3-dioxolane, 4-acryloyloxymethyl-2-methyl-2-isobutyl-1,3. -Dioxolane, 4-acryloyloxymethyl-2-methyl-2-cyclohexyl-1,3-dioxolane, 4-methacryloyloxymethyl-2,2-dimethyl-1,3-dioxolane, 4-methacryloyloxymethyl-2-methyl -2-ethyl-1,3-dioxolane, 4-methacryloyloxymethyl-2-methyl-2-isobutyl-1,3-dioxolane, 4-methacryloyloxymethyl-2-cyclohexyl-1,3-dioxolane, and the like. .
Among them, 4-acryloyloxymethyl-2-methyl-2-ethyl-1,3-dioxolane, 4-acryloyloxymethyl-2-methyl-2-isobutyl-1,3-dioxolane and the like can be mentioned.

本発明で用いることのできるエチレン性不飽和結合含有基を2個有する単量体の例としては、ジエチレングリコールモノエチルエーテル(メタ)アクリレート、ジメチロールジシクロペンタンジ(メタ)アクリレート、ジ(メタ)アクリル化イソシアヌレート、1,3−ブチレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、EO変性1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、ECH変性1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、アリロキシポリエチレングリコールアクリレート、1,9−ノナンジオールジ(メタ)アクリレート、EO変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、PO変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、EO変性ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート、ECH変性ヘキサヒドロフタル酸ジアクリレート、ヒドロキシピバリン酸ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、EO変性ネオペンチルグリコールジアクリレート、プロピレンオキシド(以後「PO」という。)変性ネオペンチルグリコールジアクリレート、カプロラクトン変性ヒドロキシピバリン酸エステルネオペンチルグリコール、ステアリン酸変性ペンタエリスリトールジ(メタ)アクリレート、ECH変性フタル酸ジ(メタ)アクリレート、   Examples of monomers having two ethylenically unsaturated bond-containing groups that can be used in the present invention include diethylene glycol monoethyl ether (meth) acrylate, dimethylol dicyclopentane di (meth) acrylate, and di (meth). Acrylic isocyanurate, 1,3-butylene glycol di (meth) acrylate, 1,4-butanediol di (meth) acrylate, EO-modified 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, ECH-modified 1,6-hexane Diol di (meth) acrylate, allyloxy polyethylene glycol acrylate, 1,9-nonanediol di (meth) acrylate, EO modified bisphenol A di (meth) acrylate, PO modified bisphenol A di (meth) acrylate, modified bisphenol A di ( Meta) Acu Rate, EO-modified bisphenol F di (meth) acrylate, ECH-modified hexahydrophthalic acid diacrylate, hydroxypivalic acid neopentyl glycol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, EO-modified neopentyl glycol diacrylate, Propylene oxide (hereinafter referred to as “PO”) modified neopentyl glycol diacrylate, caprolactone modified hydroxypivalate ester neopentyl glycol, stearic acid modified pentaerythritol di (meth) acrylate, ECH modified phthalic acid di (meth) acrylate,

ポリ(エチレングリコール−テトラメチレングリコール)ジ(メタ)アクリレート、ポリ(プロピレングリコール−テトラメチレングリコール)ジ(メタ)アクリレート、ポリエステル(ジ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ECH変性プロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、シリコーンジ(メタ)アクリレート、トリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリシクロデカンジメタノール(ジ)アクリレート、ネオペンチルグリコール変性トリメチロールプロパンジ(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、EO変性トリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリグリセロールジ(メタ)アクリレート、ジプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジビニルエチレン尿素、ジビニルプロピレン尿素が例示される。 Poly (ethylene glycol-tetramethylene glycol) di (meth) acrylate, poly (propylene glycol-tetramethylene glycol) di (meth) acrylate, polyester (di) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, polypropylene glycol di (meth) Acrylate, ECH-modified propylene glycol di (meth) acrylate, silicone di (meth) acrylate, triethylene glycol di (meth) acrylate, tetraethylene glycol di (meth) acrylate, tricyclodecane dimethanol (di) acrylate, neopentyl glycol Modified trimethylolpropane di (meth) acrylate, tripropylene glycol di (meth) acrylate, EO modified tripropylene glycol di ( Data) acrylate, triglycerol di (meth) acrylate, dipropylene glycol di (meth) acrylate, divinyl ethylene urea, divinyl propylene urea and the like.

さらに、基板との密着性を高めるために、EO変性リン酸ジ(メタ)アクリレート等のリン酸含有ジ(メタ)アクリルモノマーも本発明に用いることができる。   Furthermore, in order to improve the adhesiveness with the substrate, a phosphoric acid-containing di (meth) acrylic monomer such as EO-modified phosphoric acid di (meth) acrylate can also be used in the present invention.

これらの中で特に、1,9−ノナンジオールジ(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ヒドロキシピバリン酸ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート等が2官能単量体の中では低粘度であり、本発明に好適に用いられる。   Among these, 1,9-nonanediol di (meth) acrylate, tripropylene glycol di (meth) acrylate, tetraethylene glycol di (meth) acrylate, hydroxypivalate neopentyl glycol di (meth) acrylate, polyethylene glycol Di (meth) acrylate and the like have a low viscosity among the bifunctional monomers and are preferably used in the present invention.

エチレン性不飽和結合含有基を3個以上有する多官能単量体の例としては、ECH変性グリセロールトリ(メタ)アクリレート、EO変性グリセロールトリ(メタ)アクリレート、PO変性グリセロールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、EO変性リン酸トリアクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、カプロラクトン変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、EO変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、PO変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、トリス(アクリロキシエチル)イソシアヌレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、カプロラクトン変性ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヒドロキシペンタ(メタ)アクリレート、アルキル変性ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールポリ(メタ)アクリレート、アルキル変性ジペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ジトリメチロールプロパンテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールエトキシテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート等が挙げられる。   Examples of polyfunctional monomers having three or more ethylenically unsaturated bond-containing groups include ECH-modified glycerol tri (meth) acrylate, EO-modified glycerol tri (meth) acrylate, PO-modified glycerol tri (meth) acrylate, penta Erythritol triacrylate, EO-modified phosphate triacrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, caprolactone-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, EO-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, PO-modified trimethylolpropane tri (meta) ) Acrylate, tris (acryloxyethyl) isocyanurate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, caprolactone modified dipentaerythritol hexa (meth) acrylate Dipentaerythritol hydroxypenta (meth) acrylate, alkyl-modified dipentaerythritol penta (meth) acrylate, dipentaerythritol poly (meth) acrylate, alkyl-modified dipentaerythritol tri (meth) acrylate, ditrimethylolpropane tetra (meth) acrylate, Examples include pentaerythritol ethoxytetra (meth) acrylate and pentaerythritol tetra (meth) acrylate.

これらの中で特に、EO変性グリセロールトリ(メタ)アクリレート、PO変性グリセロールトリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、EO変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、PO変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールエトキシテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート等が3官能以上の単量体の中では低粘度であり、本発明に好適に用いられる。   Among these, EO-modified glycerol tri (meth) acrylate, PO-modified glycerol tri (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, EO-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, PO-modified trimethylolpropane tri (Meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, pentaerythritol ethoxytetra (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, etc. have a low viscosity among the trifunctional or higher monomers, Preferably used.

一分子内に光重合性官能基を2つ以上有するものを用いる場合には、上記のように組成物に多量の光重合性官能基が導入されるので、組成物の架橋密度が非常に大きくなり、硬化後の諸物性を向上させる効果が高い。硬化後の諸物性の中でも、とりわけ耐熱性および耐久性(耐摩耗性、耐薬品性、耐水性)が架橋密度の増大によって向上し、高熱、摩擦または溶剤に曝されても、微細凹凸パターンの変形、消失、損傷が起こり難くなる。   When using one having two or more photopolymerizable functional groups in one molecule, a large amount of photopolymerizable functional groups are introduced into the composition as described above, so that the crosslink density of the composition is very high. Therefore, the effect of improving various physical properties after curing is high. Among the various physical properties after curing, heat resistance and durability (abrasion resistance, chemical resistance, water resistance) are improved by increasing the crosslink density, and even when exposed to high heat, friction or solvent, Deformation, disappearance, and damage are less likely to occur.

本発明の光硬化性組成物では、架橋密度をさらに高める目的で、上記多官能単量体よりもさらに分子量の大きい多官能オリゴマーやポリマーを本発明の目的を達成する範囲で配合することができる。光ラジカル重合性を有する多官能オリゴマーとしてはポリエステルアクリレート、ポリウレタンアクリレート、ポリエーテルアクリレート、ポリエポキシアクリレート等の各種アクリレートオリゴマー、フォスファゼン骨格、アダマンタン骨格、カルド骨格、ノルボルネン骨格等の嵩高い構造を持つオリゴマーまたはポリマー等が挙げられる。   In the photocurable composition of the present invention, for the purpose of further increasing the crosslinking density, a polyfunctional oligomer or polymer having a molecular weight higher than that of the polyfunctional monomer can be blended within a range that achieves the object of the present invention. . Polyfunctional oligomers having photo-radical polymerizability include various acrylate oligomers such as polyester acrylate, polyurethane acrylate, polyether acrylate, polyepoxy acrylate, oligomers having a bulky structure such as phosphazene skeleton, adamantane skeleton, cardo skeleton, norbornene skeleton, or Examples thereof include polymers.

本発明で用いることができる重合性不飽和単量体として、オキシラン環を有する化合物も採用できる。前記オキシラン環を有する化合物としては、例えば、脂環式ポリエポキシド類、多塩基酸のポリグリシジルエステル類、多価アルコールのポリグリシジルエーテル類、ポリオキシアルキレングリコールのポリグリシジルエーテル類、芳香族ポリオールのポリグリシジルエテーテル類、芳香族ポリオールのポリグリシジルエーテル類の水素添加化合物類、ウレタンポリエポキシ化合物およびエポキシ化ポリブタジエン類等を挙げることができる。
これらの化合物は、その一種を単独で使用することもできるし、また、その二種以上を混合して使用することもできる。
As the polymerizable unsaturated monomer that can be used in the present invention, a compound having an oxirane ring can also be employed. Examples of the compound having an oxirane ring include alicyclic polyepoxides, polyglycidyl esters of polybasic acids, polyglycidyl ethers of polyhydric alcohols, polyglycidyl ethers of polyoxyalkylene glycol, Examples thereof include glycidyl ethers, hydrogenated compounds of polyglycidyl ethers of aromatic polyols, urethane polyepoxy compounds and epoxidized polybutadienes.
These compounds can be used alone or in combination of two or more thereof.

本発明で用いることができるエポキシ化合物としては、エポキシシクロへキシル基含有化合物ならびにグリシジル基含有化合物が好ましい。エポキシシクロヘキシル基含有化合物は、カチオン重合性に優れている。グリシジル基化合物は重合体に柔軟性を付与し、重合系のモビリティを増加させ、硬化性が一層向上する。
特に、脂環式エポキシ化合物は粘度が低く且つ硬化速度が速いため好ましい。
As an epoxy compound that can be used in the present invention, an epoxycyclohexyl group-containing compound and a glycidyl group-containing compound are preferable. The epoxycyclohexyl group-containing compound is excellent in cationic polymerizability. The glycidyl group compound imparts flexibility to the polymer, increases the mobility of the polymerization system, and further improves the curability.
In particular, alicyclic epoxy compounds are preferred because of their low viscosity and fast curing speed.

前記エポキシシクロヘキシル基含有化合物としては、例えば、3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−3’,4’−エポキシシクロヘキサンカルボキシレート、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル−5,5−スピロ−3,4−エポキシ)シクロヘキサン−メタジオキサン、ビス(3,4−エポキシシクロヘキシルメチル)アジペート、ビス(3,4−エポキシ−6−メチルシクロヘキシルメチル)アジペート、3,4−エポキシ−6−メチルシクロヘキシル−3’,4’−エポキシ−6’−メチルシクロヘキサンカルボキシレート、メチレンビス(3,4−エポキシシクロヘキサン)、エチレングリコールのジ(3,4−エポキシシクロヘキシルメチル)エーテル、エチレンビス(3,4−エポキシシクロヘキサンカルボキシレート)、ε−カプロラクトン変性3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−3’,4’−エポキシシクロヘキサンカルボキシレート、トリメチルカプロラクトン変性3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−3’,4’−エポキシシクロヘキサンカルボキシレート、β−メチル−δ−バレロラクトン変性3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−3’,4’−エポキシシクロヘキサンカルボキシレート、1.2:8,9ジエポキシリモネンなどを例示することができる。   Examples of the epoxycyclohexyl group-containing compound include 3,4-epoxycyclohexylmethyl-3 ′, 4′-epoxycyclohexanecarboxylate, 2- (3,4-epoxycyclohexyl-5,5-spiro-3,4- Epoxy) cyclohexane-metadioxane, bis (3,4-epoxycyclohexylmethyl) adipate, bis (3,4-epoxy-6-methylcyclohexylmethyl) adipate, 3,4-epoxy-6-methylcyclohexyl-3 ′, 4 '-Epoxy-6'-methylcyclohexanecarboxylate, methylenebis (3,4-epoxycyclohexane), di (3,4-epoxycyclohexylmethyl) ether of ethylene glycol, ethylenebis (3,4-epoxycyclohexanecarboxylate) ε-caprolactone modified 3,4-epoxycyclohexylmethyl-3 ′, 4′-epoxycyclohexanecarboxylate, trimethylcaprolactone modified 3,4-epoxycyclohexylmethyl-3 ′, 4′-epoxycyclohexanecarboxylate, β-methyl-δ -Valerolactone-modified 3,4-epoxycyclohexylmethyl-3 ', 4'-epoxycyclohexanecarboxylate, 1.2: 8,9 diepoxy limonene and the like can be exemplified.

これらの成分のうち、3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−3’,4’−エポキシシクロヘキサンカルボキシレート、ビス(3,4−エポキシシクロヘキシルメチル)アジペート、ε−カプロラクトン変性3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−3’,4’−エポキシシクロヘキサンカルボキシレート、トリメチルカプロラクトン変性3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−3’,4’−エポキシシクロヘキサンカルボキシレート、β−メチル−δ−バレロラクトン変性3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−3’,4’−エポキシシクロヘキサンカルボキシレート、1.2:8,9ジエポキシリモネンが好ましい。   Among these components, 3,4-epoxycyclohexylmethyl-3 ′, 4′-epoxycyclohexanecarboxylate, bis (3,4-epoxycyclohexylmethyl) adipate, ε-caprolactone modified 3,4-epoxycyclohexylmethyl-3 ', 4'-epoxycyclohexanecarboxylate, trimethylcaprolactone modified 3,4-epoxycyclohexylmethyl-3', 4'-epoxycyclohexanecarboxylate, β-methyl-δ-valerolactone modified 3,4-epoxycyclohexylmethyl-3 ', 4'-epoxycyclohexanecarboxylate, 1.2: 8,9 diepoxy limonene is preferred.

この成分として好適に使用できる市販品としては、UVR−6100、UVR−6105、UVR−6110、UVR−6128、UVR−6200、UVR−6216(以上、ユニオンカーバイド社製)、セロキサイド2021、セロキサイド2021P、セロキサイド2081、セロキサイド2083、セロキサイド2085、セロキサイド3000、エポリードGT−300、エポリードGT−301、エポリードGT−302、エポリードGT−400、エポリード401、エポリード403(以上、ダイセル化学工業(株)製)、KRM−2100、KRM−2110、KRM−2199(以上、旭電化工業(株)製)などを挙げることができる。上記成分は、1種単独で、または2種以上組み合わせて使用できる。   Commercially available products that can be suitably used as this component include UVR-6100, UVR-6105, UVR-6110, UVR-6128, UVR-6200, UVR-6216 (manufactured by Union Carbide), Celoxide 2021, Celoxide 2021P, Celoxide 2081, Celoxide 2083, Celoxide 2085, Celoxide 3000, Epolide GT-300, Epolide GT-301, Epolide GT-302, Epolide GT-400, Epolide 401, Epolide 403 (above, manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.), KRM -2100, KRM-2110, KRM-2199 (manufactured by Asahi Denka Kogyo Co., Ltd.). The said component can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

好ましく使用することのできるグリシジル基含有エポキシ化合物としては、例えば、ビスフェノールAジグリシジルエーテル、ビスフェノールFジグリシジルエーテル、ビスフェノールSジグリシジルエーテル、臭素化ビスフェノールAジグリシジルエーテル、臭素化ビスフェノールFジグリシジルエーテル、臭素化ビスフェノールSジグリシジルエーテル、水添ビスフェノールAジグリシジルエーテル、水添ビスフェノールFジグリシジルエーテル、水添ビスフェノールSジグリシジルエーテル、1,4−ブタンジオールジグリシジルエーテル、1,6−ヘキサンジオールジグリシジルエーテル、グリセリントリグリシジルエーテル、トリメチロールプロパントリグリシジルエーテル、ポリエチレングリコールジグリシジルエーテル、ポリプロピレングリコールジグリシジルエーテル類;エチレングリコール、プロピレングリコール、グリセリンなどの脂肪族多価アルコールに1種または2種以上のアルキレンオキサイドを付加することにより得られるポリエーテルポリオールのポリグリシジルエーテル類;脂肪族長鎖二塩基酸のジグリシジルエステル類;脂肪族高級アルコールのモノグリシジルエーテル類;フェノール、クレゾール、ブチルフェノールまたはこれらにアルキレンオキサイドを付加して得られるポリエーテルアルコールのモノグリシジルエーテル類;高級脂肪酸のグリシジルエステル類などを例示することができる。   Examples of the glycidyl group-containing epoxy compound that can be preferably used include bisphenol A diglycidyl ether, bisphenol F diglycidyl ether, bisphenol S diglycidyl ether, brominated bisphenol A diglycidyl ether, brominated bisphenol F diglycidyl ether, Brominated bisphenol S diglycidyl ether, hydrogenated bisphenol A diglycidyl ether, hydrogenated bisphenol F diglycidyl ether, hydrogenated bisphenol S diglycidyl ether, 1,4-butanediol diglycidyl ether, 1,6-hexanediol diglycidyl Ether, glycerin triglycidyl ether, trimethylolpropane triglycidyl ether, polyethylene glycol diglycidyl ether, poly Lopylene glycol diglycidyl ethers; Polyglycidyl ethers of polyether polyols obtained by adding one or more alkylene oxides to aliphatic polyhydric alcohols such as ethylene glycol, propylene glycol and glycerin; long aliphatic chains Diglycidyl esters of dibasic acids; monoglycidyl ethers of higher aliphatic alcohols; monoglycidyl ethers of polyether alcohols obtained by adding phenol, cresol, butylphenol or alkylene oxide to these; glycidyl esters of higher fatty acids Etc. can be illustrated.

これらの成分の中、ビスフェノールAジグリシジルエーテル、ビスフェノールFジグリシジルエーテル、水添ビスフェノールAジグリシジルエーテル、水添ビスフェノールFジグリシジルエーテル、1,4−ブタンジオールジグリシジルエーテル、1,6−ヘキサンジオールジグリシジルエーテル、グリセリントリグリシジルエーテル、トリメチロールプロパントリグリシジルエーテル、ネオペンチルグリコールジグリシジルエーテル、ポリエチレングリコールジグリシジルエーテル、ポリプロピレングリコールジグリシジルエーテルが好ましい。   Among these components, bisphenol A diglycidyl ether, bisphenol F diglycidyl ether, hydrogenated bisphenol A diglycidyl ether, hydrogenated bisphenol F diglycidyl ether, 1,4-butanediol diglycidyl ether, 1,6-hexanediol Diglycidyl ether, glycerin triglycidyl ether, trimethylolpropane triglycidyl ether, neopentyl glycol diglycidyl ether, polyethylene glycol diglycidyl ether, and polypropylene glycol diglycidyl ether are preferred.

グリシジル基含有化合物として好適に使用できる市販品としては、UVR−6216(ユニオンカーバイド社製)、グリシドール、AOEX24、サイクロマーA200、(以上、ダイセル化学工業(株)製)、エピコート828、エピコート812、エピコート1031、エピコート872、エピコートCT508(以上、油化シェル(株)製)、KRM−2400、KRM−2410、KRM−2408、KRM−2490、KRM−2720、KRM−2750(以上、旭電化工業(株)製)などを挙げることができる。これらは、1種単独で、または2種以上組み合わせて用いることができる。   Commercially available products that can be suitably used as the glycidyl group-containing compound include UVR-6216 (manufactured by Union Carbide), glycidol, AOEX24, cyclomer A200, (manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.), Epicoat 828, Epicoat 812, Epicoat 1031, Epicoat 872, Epicoat CT508 (above, manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.), KRM-2400, KRM-2410, KRM-2408, KRM-2490, KRM-2720, KRM-2750 (above, Asahi Denka Kogyo ( Product)). These can be used alone or in combination of two or more.

また、これらのオキシラン環を有する化合物はその製法は問わないが、例えば、丸善KK出版、第四版実験化学講座20有機合成II、213〜、平成4年、Ed.by Alfred Hasfner,The chemistry of heterocyclic compounds-Small Ring Heterocycles part3 Oxiranes,John & Wiley and Sons,An Interscience Publication,New York,1985、吉村、接着、29巻12号、32、1985、吉村、接着、30巻5号、42、1986、吉村、接着、30巻7号、42、1986、特開平11−100378号公報、特許第2906245号公報、特許第2926262号公報などの文献を参考にして合成できる。   The production method of these compounds having an oxirane ring is not limited. For example, Maruzen KK Publishing, 4th edition Experimental Chemistry Course 20 Organic Synthesis II, 213, 1992, Ed. By Alfred Hasfner, The chemistry of cyclic compounds-Small Ring Heterocycles part3 Oxiranes, John & Wiley and Sons, An Interscience Publication, New York, 1985, Yoshimura, Adhesion, Vol. 29, No. 12, 32, 1985, Yoshimura, Adhesion, Vol. 30, No. 5, 42, 1986, Yoshimura, Adhesion, Vol. 30, No. 7, 42, 1986, Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-1000037, Japanese Patent No. 2906245, Japanese Patent No. 2926262 and the like can be synthesized.

本発明で用いることができる重合性不飽和単量体として、オキセタン化合物が挙げられる。前記オキセタン化合物は、分子内にオキセタン環を有する化合物であれば特に限定はないが、例えば特開平8−143806号公報、特開2001−220526号公報、特開2001−310937号公報に記載のオキセタン化合物が好適に使用できる。その他、耐熱性や膜硬度、離型性を改良するために、オキセタニル基を有するシルセスシオキサン化合物やオキセタニル基を有するフッ素化合物を用いることもできる。   Examples of the polymerizable unsaturated monomer that can be used in the present invention include oxetane compounds. The oxetane compound is not particularly limited as long as it is a compound having an oxetane ring in the molecule. For example, the oxetane described in JP-A-8-143806, JP-A-2001-220526, and JP-A-2001-310937 is disclosed. A compound can be used conveniently. In addition, a silsesquioxane compound having an oxetanyl group or a fluorine compound having an oxetanyl group may be used to improve heat resistance, film hardness, and releasability.

分子内にオキセタン環を1個有する化合物としては、例えば、3−エチル−3−ヒドロキシメチルオキセタン、3−(メタ)アリルオキシメチル−3−エチルオキセタン、(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチルベンゼン、4−フルオロ−〔1−(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル〕ベンゼン、4−メトキシ−〔1−(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル〕ベンゼン、〔1−(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)エチル〕フェニルエーテル、イソブトキシメチル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、イソボルニルオキシエチル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、イソボルニル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、2−エチルヘキシル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、エチルジエチレングリコール(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、   Examples of the compound having one oxetane ring in the molecule include 3-ethyl-3-hydroxymethyloxetane, 3- (meth) allyloxymethyl-3-ethyloxetane, and (3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl. Benzene, 4-fluoro- [1- (3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] benzene, 4-methoxy- [1- (3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] benzene, [1- (3- Ethyl-3-oxetanylmethoxy) ethyl] phenyl ether, isobutoxymethyl (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, isobornyloxyethyl (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, isobornyl (3-ethyl- 3-Oxetanylmethyl) ether, 2-ethylhexyl (3-ethyl) 3-oxetanylmethyl) ether, ethyl diethylene glycol (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether,

ジシクロペンタジエン(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ジシクロペンテニルオキシエチル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ジシクロペンテニル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、テトラヒドロフルフリル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、テトラブロモフェニル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、2−テトラブロモフェノキシエチル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、トリブロモフェニル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、2−トリブロモフェノキシエチル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、2−ヒドロキシエチル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、2−ヒドロキシプロピル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ブトキシエチル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ペンタクロロフェニル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ペンタブロモフェニル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ボルニル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、3−(4−ブロモブトキシメチル)−3−メチルオキセタン、(3−メチルオキセタン−3−イル)メチルベンゾエート等が挙げられる。 Dicyclopentadiene (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, dicyclopentenyloxyethyl (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, dicyclopentenyl (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, tetrahydrofurfuryl (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, tetrabromophenyl (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, 2-tetrabromophenoxyethyl (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, tribromophenyl (3 -Ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, 2-tribromophenoxyethyl (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, 2-hydroxyethyl (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, 2-hydroxypropyl ( -Ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, butoxyethyl (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, pentachlorophenyl (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, pentabromophenyl (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ) Ether, bornyl (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, 3- (4-bromobutoxymethyl) -3-methyloxetane, (3-methyloxetane-3-yl) methylbenzoate and the like.

分子内にオキセタン環を2個以上有する化合物の例としては、3,7−ビス(3−オキセタニル)−5−オキサ−ノナン、3,3’−(1,3−(2−メチレニル)プロパンジイルビス(オキシメチレン))ビス−(3−エチルオキセタン)、1,4−ビス〔(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル〕ベンゼン、1,4−ビス〔(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル〕ビフェニル、1,2−ビス[(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]エタン、1,3−ビス[(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]プロパン、エチレングリコールビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ジシクロペンテニルビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、トリエチレングリコールビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、テトラエチレングリコールビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、トリシクロデカンジイルジメチレン(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、トリメチロールプロパントリス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、1,4−ビス(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)ブタン、1,6−ビス(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)ヘキサン、   Examples of compounds having two or more oxetane rings in the molecule include 3,7-bis (3-oxetanyl) -5-oxa-nonane, 3,3 ′-(1,3- (2-methylenyl) propanedii Rubis (oxymethylene)) bis- (3-ethyloxetane), 1,4-bis [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] benzene, 1,4-bis [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) ) Methyl] biphenyl, 1,2-bis [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] ethane, 1,3-bis [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] propane, ethylene glycol bis (3 -Ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, dicyclopentenylbis (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, triethyleneglycol Bis (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, tetraethylene glycol bis (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, tricyclodecanediyldimethylene (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, trimethylolpropane Tris (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, 1,4-bis (3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) butane, 1,6-bis (3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) hexane,

ペンタエリスリトールトリス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ペンタエリスリトールテトラキス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ポリエチレングリコールビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ジペンタエリスリトールヘキサキス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ジペンタエリスリトールペンタキス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ジペンタエリスリトールテトラキス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、 Pentaerythritol tris (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, pentaerythritol tetrakis (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, polyethylene glycol bis (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, dipentaerythritol hexakis (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, dipentaerythritol pentakis (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, dipentaerythritoltetrakis (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether,

カプロラクトン変性ジペンタエリスリトールヘキサキス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、カプロラクトン変性ジペンタエリスリトールペンタキス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ジトリメチロールプロパンテトラキス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、EO変性ビスフェノールAビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、PO変性ビスフェノールAビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、EO変性水添ビスフェノールAビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、PO変性水添ビスフェノールAビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、EO変性ビスフェノールF(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、 Caprolactone-modified dipentaerythritol hexakis (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, caprolactone-modified dipentaerythritol pentakis (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, ditrimethylolpropane tetrakis (3-ethyl-3-oxetanyl) Methyl) ether, EO-modified bisphenol A bis (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, PO-modified bisphenol A bis (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, EO-modified hydrogenated bisphenol A bis (3-ethyl- 3-oxetanylmethyl) ether, PO-modified hydrogenated bisphenol A bis (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, EO-modified bisphenol F (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether,

ポリ(3−(4−ブロモブトキシメチル)−3−メチルオキセタン)、N−オキセタン−2−イルメトキシメチルアクリルアミド、3,5−ビス(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)安息香酸、3,5−ビス(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)安息香酸メチルエステル、5−(3−エチル−3−オキセタニル)イソフタル酸、1,1,1−トリス[4(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)フェニル]エタンなどを例示することができ、これらは1種単独あるいは2種以上を組み合わせて用いることができる。 Poly (3- (4-bromobutoxymethyl) -3-methyloxetane), N-oxetan-2-ylmethoxymethylacrylamide, 3,5-bis (3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) benzoic acid, 3,5 -Bis (3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) benzoic acid methyl ester, 5- (3-ethyl-3-oxetanyl) isophthalic acid, 1,1,1-tris [4 (3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) Phenyl] ethane and the like can be exemplified, and these can be used alone or in combination of two or more.

上述したオキセタン環を有する各化合物の製造方法は、特に限定されず、従来知られた方法に従えばよく、例えば、パティソン(D.B.Pattison,J.Am.Chem.Soc.,3455,79(1957))が開示している、ジオールからのオキセタン環合成法等がある。
また、これら以外にも、分子量1000〜5000程度の高分子量を有する1〜4個のオキセタン環を有する化合物も挙げられる。
The production method of each compound having an oxetane ring described above is not particularly limited, and may be a conventionally known method. For example, Pattyson (DBPattison, J. Am. Chem. Soc., 3455, 79 (1957)) Discloses a method for synthesizing an oxetane ring from a diol.
In addition to these, compounds having 1 to 4 oxetane rings having a high molecular weight of about 1000 to 5000 are also included.

オキセタン化合物の市販品としては、例えば、東亜合成社製OXT101(3−エチル−3−ヒドロキシオキセタン、東亜合成社製OXT221(ジ[1−エチル(3−オキタセニル)メチルエーテル]、東亜合成社製1,4−ビス{[(3−エチル−3−オキタセル)メトキシメチル]ベンゼン、東亜合成社製OXT211(3−エチル−3−(フェノキシメチル)オキタセン)、東亜合成社製MPO(3,3−ジメチル−2−(p−メトキシフェニル)オキセタン)、宇部興産製ETERNACOLL OXBPが使用できる。   Examples of commercially available oxetane compounds include OXT101 manufactured by Toa Gosei Co., Ltd. (3-ethyl-3-hydroxyoxetane, OXT221 manufactured by Toa Gosei Co., Ltd., di [1-ethyl (3-oxacenyl) methyl ether], manufactured by Toa Gosei Co., Ltd. 1 , 4-bis {[(3-ethyl-3-octacel) methoxymethyl] benzene, OXT211 (3-ethyl-3- (phenoxymethyl) octacene) manufactured by Toa Gosei Co., Ltd., MPO (3,3-dimethyl) produced by Toa Gosei Co., Ltd. -2- (p-methoxyphenyl) oxetane), UTE Kosan ETERNACOLL OXBP can be used.

これらの中でも、本発明の光硬化性組成物の構成成分として好適に使用できるオキセタン化合物は、分子内のオキセタン環の数が好ましくは1〜10、より好ましくは1〜4である。具体的には、(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチルベンゼン、1,4−ビス[(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]ベンゼン、1,2−ビス(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)エタントリメチロールプロパントリス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、3−エチル−3−オキセタニルメトキシベンゼン等が挙げられる。   Among these, the number of oxetane rings in the molecule of the oxetane compound that can be suitably used as the constituent component of the photocurable composition of the present invention is preferably 1 to 10, and more preferably 1 to 4. Specifically, (3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methylbenzene, 1,4-bis [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] benzene, 1,2-bis (3-ethyl-3- Oxetanylmethoxy) ethanetrimethylolpropanetris (3-ethyl-3-oxetanylmethyl) ether, 3-ethyl-3-oxetanylmethoxybenzene and the like.

本発明で用いることができる重合性化合物として、ビニルエーテル化合物が挙げられる。
ビニルエーテル化合物は、適宜選択すれば良く、例えば、2−エチルヘキシルビニルエーテル、ブタンジオール−1,4−ジビニルエーテル、シクロヘキサンジメタノールモノビニルエーテル、ジエチレングリコールモノビニルエーテル、ジエチレングリコールモノビニルエーテル、エチレングリコールジビニルエーテル、トリエチレングリコールジビニルエーテル、1,2−プロパンジオールジビニルエーテル、1,3−プロパンジオールジビニルエーテル、1,3−ブタンジオールジビニルエーテル、1,4−ブタンジオールジビニルエーテル、テトラメチレングリコールジビニルエーテル、ネオペンチルグリコールジビニルエーテル、トリメチロールプロパントリビニルエーテル、トリメチロールエタントリビニルエーテル、ヘキサンジオールジビニルエーテル、1,4−シクロヘキサンジオールジビニルエーテル、テトラエチレングリコールジビニルエーテル、ペンタエリスリトールジビニルエーテル、ペンタエリスリトールトリビニルエーテル、ペンタエリスリトールテトラビニルエーテル、ソルビトールテトラビニルエーテル、ソルビトールペンタビニルエーテル、エチレングリコールジエチレンビニルエーテル、トリエチレングリコールジエチレンビニルエーテル、エチレングリコールジプロピレンビニルエーテル、トリエチレングリコールジエチレンビニルエーテル、トリメチロールプロパントリエチレンビニルエーテル、トリメチロールプロパンジエチレンビニルエーテル、ペンタエリスリトールジエチレンビニルエーテル、ペンタエリスリトールトリエチレンビニルエーテル、ペンタエリスリトールテトラエチレンビニルエーテル、イソボルニルビニルエーテル、メンチルビニルエーテル、シクロペンチルビニルエーテル、1,1,1−トリス〔4−(2−ビニロキシエトキシ)フェニル〕エタン、ビスフェノールAジビニロキシエチルエーテル等が挙げられ、これらビニルエーテル系化合物は、ラジカル重合においても、カチオン重合においても有用であり、低粘度であるという特徴がある。
A vinyl ether compound is mentioned as a polymeric compound which can be used by this invention.
The vinyl ether compound may be appropriately selected. For example, 2-ethylhexyl vinyl ether, butanediol-1,4-divinyl ether, cyclohexane dimethanol monovinyl ether, diethylene glycol monovinyl ether, diethylene glycol monovinyl ether, ethylene glycol divinyl ether, triethylene glycol diester. Vinyl ether, 1,2-propanediol divinyl ether, 1,3-propanediol divinyl ether, 1,3-butanediol divinyl ether, 1,4-butanediol divinyl ether, tetramethylene glycol divinyl ether, neopentyl glycol divinyl ether, Trimethylolpropane trivinyl ether, trimethylolethane trivinyl ether, hexane All divinyl ether, 1,4-cyclohexanediol divinyl ether, tetraethylene glycol divinyl ether, pentaerythritol divinyl ether, pentaerythritol trivinyl ether, pentaerythritol tetravinyl ether, sorbitol tetravinyl ether, sorbitol pentavinyl ether, ethylene glycol diethylene vinyl ether, triethylene glycol Diethylene vinyl ether, ethylene glycol dipropylene vinyl ether, triethylene glycol diethylene vinyl ether, trimethylolpropane triethylene vinyl ether, trimethylolpropane diethylene vinyl ether, pentaerythritol diethylene vinyl ether, pentaerythritol triethylene Nyl ether, pentaerythritol tetraethylene vinyl ether, isobornyl vinyl ether, menthyl vinyl ether, cyclopentyl vinyl ether, 1,1,1-tris [4- (2-vinyloxyethoxy) phenyl] ethane, bisphenol A divinyloxy ethyl ether, etc. These vinyl ether compounds are useful in both radical polymerization and cationic polymerization, and are characterized by low viscosity.

これらのビニルエーテル化合物は、例えば、Stephen.C.Lapin,Polymers Paint Colour Journal.179(4237)、321(1988)に記載されている方法、即ち多価アルコールもしくは多価フェノールとアセチレンとの反応、または多価アルコールもしくは多価フェノールとハロゲン化アルキルビニルエーテルとの反応により合成することができ、これらは1種単独あるいは2種以上を組み合わせて用いることができる。   These vinyl ether compounds can be obtained, for example, by the method described in Stephen C. Lapin, Polymers Paint Color Journal. 179 (4237), 321 (1988), that is, reaction of a polyhydric alcohol or polyhydric phenol with acetylene, or They can be synthesized by the reaction of a polyhydric alcohol or polyhydric phenol and a halogenated alkyl vinyl ether, and these can be used singly or in combination of two or more.

本発明で用いることができる重合性化合物として、スチレン誘導体が挙げられる。スチレン誘導体としては、例えば、スチレン、p−メチルスチレン、p−メトキシスチレン、β−メチルスチレン、p−メチル−β−メチルスチレン、α−メチルスチレン、p−メトキシ−β−メチルスチレン、p−ヒドロキシスチレン、等を挙げることができ、ビニルナフタレン誘導体としては、例えば、1−ビニルナフタレン、α−メチル−1−ビニルナフタレン、β−メチル−1−ビニルナフタレン、4−メチル−1−ビニルナフタレン、4−メトキシ−1−ビニルナフタレン等、N−ビニル化合物類としては、例えば、N−ビニルカルバゾール、N−ビニルピロリドン、N−ビニルインドール、N−ビニルピロール、N−ビニルフェノチアジン、N−ビニルアセトアニリド、N−ビニルエチルアセトアミド、N−ビニルスクシンイミド、N−ビニルフタルイミド、N−ビニルカプロラクタム、N−ビニルイミダゾール等を挙げることができる。   A styrene derivative is mentioned as a polymeric compound which can be used by this invention. Examples of styrene derivatives include styrene, p-methylstyrene, p-methoxystyrene, β-methylstyrene, p-methyl-β-methylstyrene, α-methylstyrene, p-methoxy-β-methylstyrene, p-hydroxy. Examples of the vinyl naphthalene derivative include 1-vinylnaphthalene, α-methyl-1-vinylnaphthalene, β-methyl-1-vinylnaphthalene, 4-methyl-1-vinylnaphthalene, 4 Examples of N-vinyl compounds such as -methoxy-1-vinylnaphthalene include N-vinylcarbazole, N-vinylpyrrolidone, N-vinylindole, N-vinylpyrrole, N-vinylphenothiazine, N-vinylacetanilide, N -Vinylethylacetamide, N-vinylsuccinimide, - it can be exemplified vinyl phthalimide, N- vinyl caprolactam, the N- vinylimidazole like.

本発明で用いることができる重合性化合物として、プロペニルエーテルおよびブテニルエーテルを配合できる。例えば1−ドデシル−1−プロペニルエーテル、1−ドデシル−1−ブテニルエーテル、1−ブテノキシメチル−2−ノルボネン、1−4−ジ(1−ブテノキシ)ブタン、1,10−ジ(1−ブテノキシ)デカン、1,4−ジ(1−ブテノキシメチル)シクロヘキサン、ジエチレングリコールジ(1−ブテニル)エーテル、1,2,3−トリ(1−ブテノキシ)プロパン、プロペニルエーテルプロピレンカーボネート等が好適に適用できる。   As a polymerizable compound that can be used in the present invention, propenyl ether and butenyl ether can be blended. For example, 1-dodecyl-1-propenyl ether, 1-dodecyl-1-butenyl ether, 1-butenoxymethyl-2-norbonene, 1-4-di (1-butenoxy) butane, 1,10-di (1-butenoxy) Decane, 1,4-di (1-butenoxymethyl) cyclohexane, diethylene glycol di (1-butenyl) ether, 1,2,3-tri (1-butenoxy) propane, propenyl ether propylene carbonate, and the like can be suitably applied.

本発明の光硬化性組成物にはさらに必要に応じて各種ポリオール化合物を配合できる。好適に適用できるポリオールとして、例えば、エチレングリコール、グリセリン、ペンタエリスリトール、ジペンタエリスリトール、トリメチロールプロパン、ジトリメチロールプロパン、ネオペンチルグリコール、スピログリコール、各種ポリエーテルポリオール、各種ポリエステルポリオール、各種カプロラクトンポリオールが適用できる。かかる各種ポリオールの添加により、硬化速度を向上させることがきる。これらポリオールのうち水酸基当量が小さく、光カチオン硬化性組成物の主要反応成分であるエポキシ化合物および/またはオキセタン化合物との相溶性に優れ、且つ添加により粘度上昇の小さいことからエチレングリコール、トリメチロールプロパンが本発明で好適に適用できる。   Various polyol compounds can be further blended in the photocurable composition of the present invention as necessary. Examples of polyols that can be suitably applied include ethylene glycol, glycerin, pentaerythritol, dipentaerythritol, trimethylolpropane, ditrimethylolpropane, neopentyl glycol, spiroglycol, various polyether polyols, various polyester polyols, and various caprolactone polyols. it can. The addition of such various polyols can improve the curing rate. Among these polyols, the hydroxyl group equivalent is small, and is excellent in compatibility with the epoxy compound and / or oxetane compound, which is the main reaction component of the photocationic curable composition, and the viscosity increase by addition is small, so ethylene glycol and trimethylolpropane Can be suitably applied in the present invention.

上記ポリオールは、好ましくは1分子中に2個以上、さらに好ましくは1分子中に2〜6個の水酸基を有するものである。1分子中に有する水酸基の数が2個以上のポリオールを使用すると、光硬化性の向上効果が十分得られ、また、得られる光硬化性組成物の機械的特性が低下しにくい傾向がある。一方、ポリオール1分子中の水酸基数が6個以下の方が、耐湿性の点で好ましい。   The polyol preferably has 2 or more hydroxyl groups in one molecule, more preferably 2 to 6 hydroxyl groups in one molecule. When a polyol having two or more hydroxyl groups in one molecule is used, the effect of improving the photocurability is sufficiently obtained, and the mechanical properties of the resulting photocurable composition tend not to be lowered. On the other hand, the number of hydroxyl groups in one molecule of polyol is preferably 6 or less from the viewpoint of moisture resistance.

かかるポリオールとしては、例えば、ポリエーテルポリオール、ポリカプロラクトンポリオール、2塩基酸とジオールからなるポリエステルで変性することにより得られるポリエステルポリオール等を挙げることができる。   Examples of such polyols include polyether polyols, polycaprolactone polyols, polyester polyols obtained by modification with a polyester composed of a dibasic acid and a diol.

上記ポリオールの中、ポリエーテルポリオールが好ましい。例えば、トリメチロールプロパン、グリセリン、ペンタエリスリトール、ソルビトール、スクロース、クオドロールなどの3価以上の多価アルコールを、エチレンオキシド、プロピレンオキシド、ブチレンオキシド、テトラヒドロフランなどの環状エーテル化合物で変性することにより得られるポリエーテルポリオールを挙げることができる。具体的には、EO変性トリメチロールプロパン、PO変性トリメチロールプロパン、テトラヒドロフラン変性トリメチロールプロパン、EO変性グリセリン、PO変性グリセリン、テトラヒドロフラン変性グリセリン、EO変性ペンタエリスリトール、PO変性ペンタエリスリトール、テトラヒドロフラン変性ペンタエリスリトール、EO変性ソルビトール、PO変性ソルビトール、EO変性スクロース、PO変性スクロース、EO変性スクロース、EO変性クオドール、ポリオキシエチレンジオール、ポリオキシプロピレンジオール、ポリオキシテトラメチレンジオール、ポリオキシブチレンジオール、ポリオキシブチレン−オキシエチレン共重合ジオールなどを例示することができる。これらのうち、EO変性トリメチロールプロパン、PO変性トリメチロールプロパン、PO変性グリセリン、PO変性ソルビトールが好ましい。   Of the above polyols, polyether polyols are preferred. For example, a polyether obtained by modifying a trihydric or higher polyhydric alcohol such as trimethylolpropane, glycerin, pentaerythritol, sorbitol, sucrose, and quadrol with a cyclic ether compound such as ethylene oxide, propylene oxide, butylene oxide, and tetrahydrofuran. Mention may be made of polyols. Specifically, EO-modified trimethylolpropane, PO-modified trimethylolpropane, tetrahydrofuran-modified trimethylolpropane, EO-modified glycerin, PO-modified glycerin, tetrahydrofuran-modified glycerin, EO-modified pentaerythritol, PO-modified pentaerythritol, tetrahydrofuran-modified pentaerythritol, EO-modified sorbitol, PO-modified sorbitol, EO-modified sucrose, PO-modified sucrose, EO-modified sucrose, EO-modified quadrole, polyoxyethylene diol, polyoxypropylene diol, polyoxytetramethylene diol, polyoxybutylene diol, polyoxybutylene-oxy Examples include ethylene copolymer diol. Of these, EO-modified trimethylolpropane, PO-modified trimethylolpropane, PO-modified glycerin, and PO-modified sorbitol are preferable.

ポリエーテルポリオールの市販品としては、サンニックスTP−400、サンニックスGP−600、サンニックスGP−1000、サンニックスSP−750、サンニックスGP−250、サンニックスGP−400、サンニックスGP−600(以上、三洋化成(株)製)、TMP−3Glycol、PNT−4 Glycol、EDA−P−4、EDA−P−8(以上、日本乳化剤(株)製)、G−300、G−400、G−700、T−400、EDP−450、SP−600、SC−800(以上、旭電化工業(株)製)などを挙げることができる。   Commercially available polyether polyols include Sannix TP-400, Sannix GP-600, Sannix GP-1000, Sannix SP-750, Sannix GP-250, Sannix GP-400, Sannix GP-600 (Sanyo Kasei Co., Ltd.), TMP-3Glycol, PNT-4 Glycol, EDA-P-4, EDA-P-8 (Nippon Emulsifier Co., Ltd.), G-300, G-400, Examples thereof include G-700, T-400, EDP-450, SP-600, and SC-800 (manufactured by Asahi Denka Kogyo Co., Ltd.).

ポリカプロラクトンポリオールの具体例は、カプロラクトン変性トリメチロールプロパン、カプロラクトン変性グリセリン、カプロラクトン変性ペンタエリスリトール、カプロラクトン変性ソルビトールなどを挙げることができる。   Specific examples of the polycaprolactone polyol include caprolactone-modified trimethylolpropane, caprolactone-modified glycerin, caprolactone-modified pentaerythritol, and caprolactone-modified sorbitol.

ポリカプロラクトンポリオールの市販品としては、TONE0301、TONE0305、TONE0310(以上、ユニオンカーバイト社)、ポリエステルポリオールの市販品としては、プラクセル303、プラクセル305、プラクセル308(以上、ダイセル化学工業(株))などを挙げることができる。   Examples of commercially available products of polycaprolactone polyol include TONE 0301, TONE 0305, and TONE 0310 (above, Union Carbide), and examples of polyester polyols that are available are Plaxel 303, Plaxel 305, Plaxel 308 (above, Daicel Chemical Industries, Ltd.), etc. Can be mentioned.

上記のポリオールは、1種単独で、または2種以上組み合わせで用いることができる。使用するポリオールの分子量は、100〜50,000であることが好ましく、さらに好ましくは160〜20,000とされる。分子量が該範囲のポリオールを使用することにより、形状安定性および物性安定性がより良好な光硬化性組成物を得ることができると共に、得られる光硬化性組成物の粘度が過大となり過ぎて、弾性率が低下するのを抑止できる傾向にある。   Said polyol can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types. The molecular weight of the polyol used is preferably from 100 to 50,000, more preferably from 160 to 20,000. By using a polyol having a molecular weight within this range, a photocurable composition with better shape stability and physical property stability can be obtained, and the resulting photocurable composition has an excessively high viscosity. It tends to be able to prevent the elastic modulus from decreasing.

本発明で用いることができる重合性不飽和化合物として、光カチオン重合性の反応性成分として、一分子内に、エポキシ基、オキセタン基、ビニル基等のカチオン反応性の単一官能基を有する上記化合物だけでなく、同一分子内に複数種類の官能基を有する化合物も適用することができる。
例えば、同一分子内にビニルエーテル基とエポキシ基を含有する化合物やプロペニルエ
ーテル基とエポキシ基を有する反応性化合物を用いることができる。
また、光カチオン重合性および光ラジカル重合性の反応性成分として、3−メチル−3−オキセタニルメチルアクリレート(大阪有機化学工業社製、OXE−10)、3−メチル−3−オキセタニルメチルアクリレート(大阪有機化学工業社、OXE−30)、ビニルシクロヘキセンモノオキサイド1,2−エポキシ−4−ビニルシクロヘキサン(ダイセル化学工業製、セロキサイド2000)、オキセタン環を有する(メタ)アクリレート化合物(宇部興産、ETERNACOLL OXMA等)等の化合物を用いることもできる。
As the polymerizable unsaturated compound that can be used in the present invention, as a photocationic polymerizable reactive component, the above-mentioned one having a cationic reactive single functional group such as an epoxy group, an oxetane group, or a vinyl group in one molecule. Not only compounds but also compounds having plural kinds of functional groups in the same molecule can be applied.
For example, a compound containing a vinyl ether group and an epoxy group in the same molecule or a reactive compound having a propenyl ether group and an epoxy group can be used.
Moreover, as a reactive component of photocationic polymerizable property and radical photopolymerizable property, 3-methyl-3-oxetanylmethyl acrylate (Osaka Organic Chemical Industries, Ltd., OXE-10), 3-methyl-3-oxetanylmethyl acrylate (Osaka) Organic Chemical Industry Co., Ltd., OXE-30), vinylcyclohexene monooxide 1,2-epoxy-4-vinylcyclohexane (manufactured by Daicel Chemical Industries, Celoxide 2000), (meth) acrylate compounds having an oxetane ring (Ube Industries, ETERNACOLL OXMA, etc.) ) Etc. can also be used.

本発明の光硬化性組成物は、必要に応じてラジカル硬化機構を有する反応性成分とハイブリット化したものを含んでいてもよい。ハイブリット化は、例えばエポキシ化合物、オキセタン化合物、ビニル化合物等を反応性化合物として含有するカチオン硬化性成分にアクロイル基含有化合物等のラジカル硬化型成分および必要に応じてラジカル硬化開始剤を混合することにより得られる。アクロイル基含有化合物として例えば、(メタ)アクリル酸−(ビニロキシ)エチル等の同一分子中にカチオン重合性のビニルエーテルとラジカル重合性のアクロイル基を有する化合物等が好適に挙げられる。
ハイブリッド系化合物の市販品としては、例えば、3−メチル−3−オキセタニルメチルアクリレート(大阪有機化学工業社製、OXE−10 )、3−メチル−3−オキセタニルメチルアクリレート(大阪有機化学工業社製、OXE−30)、オキセタン環を有する(メタ)アクリレート化合物(宇部興産、ETERNACOLL OXMA等)アクリル酸−2−(2−ビニロキシエトキシ)エチルやメタクリル酸−2−(2−ビニロキシエトキシ)エチル(日本触媒社製、VEEA)、3,4−エポキシシクロヘキシル(メタ)アクリレート(ダイセル化学工業製、サイクロマーA400、A100)等が挙げられる。
The photocurable composition of the present invention may contain a hybrid with a reactive component having a radical curing mechanism, if necessary. Hybridization is performed by, for example, mixing a radical curable component such as an acroyl group-containing compound and a radical curing initiator as necessary with a cationic curable component containing an epoxy compound, an oxetane compound, a vinyl compound or the like as a reactive compound. can get. Preferred examples of the acroyl group-containing compound include compounds having a cationic polymerizable vinyl ether and a radical polymerizable acroyl group in the same molecule such as (meth) acrylic acid- (vinyloxy) ethyl.
Examples of commercially available hybrid compounds include 3-methyl-3-oxetanylmethyl acrylate (Osaka Organic Chemical Industry, OXE-10), 3-methyl-3-oxetanylmethyl acrylate (Osaka Organic Chemical Industry, OXE-30), (meth) acrylate compounds having an oxetane ring (Ube Industries, ETERNACOLL OXMA, etc.) 2- (2-vinyloxyethoxy) ethyl acrylate and 2- (2-vinyloxyethoxy) ethyl methacrylate ( Nippon Shokubai Co., Ltd., VEEA), 3,4-epoxycyclohexyl (meth) acrylate (manufactured by Daicel Chemical Industries, Cyclomers A400, A100) and the like.

次に、本発明の光硬化性組成物における、光ラジカル重合性単量体の好ましいブレンド形態について説明する。本発明の光硬化性組成物は、粘度が30mPa・s以下の重合性不飽和単量体(好ましくは、エチレン性不飽和結合含有基を1個有する単量体、2個有する単量体および3個有する単量体のいずれか1種以上を含む。)を50質量%以上含むようにブレンドして用いる形態が好ましい。   Next, the preferable blend form of the photoradically polymerizable monomer in the photocurable composition of the present invention will be described. The photocurable composition of the present invention comprises a polymerizable unsaturated monomer having a viscosity of 30 mPa · s or less (preferably a monomer having one ethylenically unsaturated bond-containing group, a monomer having two, and A form in which one or more of the three monomers is included) and blended so as to include 50% by mass or more is preferable.

本発明において、不飽和結合含有基を1個有する光ラジカル重合性単量体は、通常、反応性希釈剤として用いられ、本発明の光硬化性組成物の粘度を下げるのに有効であり、全重合性化合物の好ましくは80質量%以下、より好ましくは70質量%以下、特に好ましくは、60質量%以下の範囲で添加される。不飽和結合含有基を1個有する単量体の割合を、80質量%以下とすることにより、本発明の光硬化性組成物を硬化した硬化膜の機械的な強度、エッチング耐性、耐熱性がより良好となる傾向にあり、光ナノインプリントのモールド材として用いる場合には、モールドが膨潤してモールドが劣化するのを抑止できる傾向にあり好ましい。一方で、不飽和結合含有基を1個およびまたは2個有する単量体は、反応性希釈剤としてより良好であるため、不飽和結合含有基を1個または2個有する単量体が添加されることが好ましい。   In the present invention, the photoradically polymerizable monomer having one unsaturated bond-containing group is usually used as a reactive diluent, and is effective for lowering the viscosity of the photocurable composition of the present invention. The total polymerizable compound is preferably added in an amount of 80% by mass or less, more preferably 70% by mass or less, and particularly preferably 60% by mass or less. By setting the ratio of the monomer having one unsaturated bond-containing group to 80% by mass or less, the mechanical strength, etching resistance, and heat resistance of the cured film obtained by curing the photocurable composition of the present invention are improved. When it is used as a mold material for optical nanoimprint, it tends to be able to prevent the mold from swelling and deteriorating the mold, which is preferable. On the other hand, monomers having one and / or two unsaturated bond-containing groups are better as reactive diluents, so monomers having one or two unsaturated bond-containing groups are added. It is preferable.

不飽和結合含有基を2個有する単量体は、全重合性化合物の好ましくは90質量%以下、より好ましくは80質量%以下、特に好ましくは、70質量%以下の範囲で添加される。不飽和結合含有基を1個およびまたは2個有する単量体の割合は、全重合性化合物、好ましくは1〜95質量%、より好ましくは3〜95質量%、特に好ましくは、5〜90質量%の範囲で添加される。   The monomer having two unsaturated bond-containing groups is preferably added in an amount of 90% by mass or less, more preferably 80% by mass or less, and particularly preferably 70% by mass or less of the total polymerizable compound. The proportion of the monomer having one and / or two unsaturated bond-containing groups is a total polymerizable compound, preferably 1 to 95% by mass, more preferably 3 to 95% by mass, and particularly preferably 5 to 90% by mass. % Is added.

不飽和結合含有基を3個以上有する重合性不飽和単量体の割合は、全重合性不飽和単量体の、好ましくは80質量%以下、より好ましくは70質量%以下、特に好ましくは、60質量%以下の範囲で添加される。重合性不飽和結合含有基を3個以上有する重合性不飽和単量体の割合を80質量%以下とすることにより、組成物の粘度を本発明の粘度範囲により容易に調整することができ好ましい。   The ratio of the polymerizable unsaturated monomer having 3 or more unsaturated bond-containing groups is preferably 80% by mass or less, more preferably 70% by mass or less, particularly preferably the total polymerizable unsaturated monomer. It is added in the range of 60% by mass or less. By setting the ratio of the polymerizable unsaturated monomer having 3 or more polymerizable unsaturated bond-containing groups to 80% by mass or less, the viscosity of the composition can be easily adjusted by the viscosity range of the present invention. .

さらに、本発明の光硬化性組成物における、光カチオン重合性単量体の好ましいブレンド形態について述べる。光カチオン性単量体のブレンドの範囲は本発明の粘度条件の範囲を逸脱しない限り特にこれらに限定されるものではない。   Furthermore, the preferable blend form of the photocationically polymerizable monomer in the photocurable composition of the present invention will be described. The range of the blend of the photocationic monomer is not particularly limited as long as it does not deviate from the range of the viscosity condition of the present invention.

本発明において、カチオン重合性基を1個有するカチオン重合性単量体は、通常、反応性希釈剤として用いられ、本発明の光硬化性組成物の粘度を下げるのに有効であり、全単量体の、好ましくは95質量%以下、より好ましくは90質量%以下、特に好ましくは85質量%以下の範囲で添加される。カチオン重合性基を1個有する単量体の割合を95質量%以下とすることにより、硬化膜の機械的な強度、エッチング耐性、耐熱性をより良好に保つことができる傾向にあるため好ましく、また光ナノインプリントのモールド材として有機ポリマーを使う場合には、モールドの膨潤を抑え、モールドの劣化を低減出来る傾向にある。一方で、カチオン重合性基を1個およびまたは2個有する単量体は、反応性希釈剤として用いるため、カチオン重合性基を1個または2個有する単量体の添加は必須であり、全単量体の好ましくは1質量%以上、より好ましくは3質量%以上、さらに好ましくは5質量%以上の割合で配合される。   In the present invention, a cationically polymerizable monomer having one cationically polymerizable group is usually used as a reactive diluent and is effective in reducing the viscosity of the photocurable composition of the present invention. It is preferably added in an amount of 95% by mass or less, more preferably 90% by mass or less, and particularly preferably 85% by mass or less. By setting the ratio of the monomer having one cationic polymerizable group to 95% by mass or less, it is preferable because the mechanical strength, etching resistance, and heat resistance of the cured film tend to be kept better, Further, when an organic polymer is used as a mold material for optical nanoimprinting, there is a tendency that swelling of the mold can be suppressed and deterioration of the mold can be reduced. On the other hand, since a monomer having one and / or two cationically polymerizable groups is used as a reactive diluent, addition of a monomer having one or two cationically polymerizable groups is essential. The amount of the monomer is preferably 1% by mass or more, more preferably 3% by mass or more, and further preferably 5% by mass or more.

本発明における重合性化合物としては、25℃における粘度が30mPa・s以下である重合性不飽和単量体の、全重合性化合物中の含有量としては、50質量%以上が好ましい。ここで、前記含有量は60質量%以上が好ましく、75質量%以上がより好ましい。上限は特に限定されず、他の必須成分との合計が100質量%となる数値である。   As a polymeric compound in this invention, 50 mass% or more is preferable as content in all the polymeric compounds of the polymerizable unsaturated monomer whose viscosity in 25 degreeC is 30 mPa * s or less. Here, the content is preferably 60% by mass or more, and more preferably 75% by mass or more. An upper limit is not specifically limited, It is a numerical value from which the sum total with another essential component will be 100 mass%.

一般的に、組成物の粘度を調整するには、粘度の異なる各種の単量体、オリゴマー、ポリマーをブレンドすることが可能であるが、特に、本発明の光硬化性組成物の粘度を前述の好ましい範囲に調製する観点からは、粘度が30mPa・s以下の重合性不飽和単量体を50質量%以上含有することが好ましい。
即ち、粘度が30mPa・s以下の重合性不飽和単量体の割合が、全組成分中、質量比で50質量%以上であれば、モールド凹部に取り込まれた大気によるバブル欠陥や、光硬化後のモールド凸部の残渣を、より効果的に防止できる。
In general, in order to adjust the viscosity of the composition, it is possible to blend various monomers, oligomers, and polymers having different viscosities. In particular, the viscosity of the photocurable composition of the present invention is described above. From the viewpoint of preparing in a preferable range, it is preferable to contain 50% by mass or more of a polymerizable unsaturated monomer having a viscosity of 30 mPa · s or less.
That is, if the proportion of the polymerizable unsaturated monomer having a viscosity of 30 mPa · s or less is 50% by mass or more in the mass ratio in the total composition, bubble defects due to the air taken into the mold recesses, or photocuring It is possible to more effectively prevent the residue of the subsequent mold convex portion.

<(b)光重合開始剤>
本発明の光硬化性組成物は、光重合開始剤を少なくとも1種含有する。
本発明における光重合開始剤としては、使用する光源の波長に対して活性を有するものを配合することができ、反応形式の違い(例えば、ラジカル重合やカチオン重合など)に応じて適切な活性種を発生させるものを用いる。また、光重合開始剤は1種類のみでも、2種類以上用いてもよい。
<(B) Photopolymerization initiator>
The photocurable composition of the present invention contains at least one photopolymerization initiator.
As the photopolymerization initiator in the present invention, one having activity with respect to the wavelength of the light source to be used can be blended, and an appropriate active species depending on the difference in reaction mode (for example, radical polymerization or cationic polymerization). The one that generates Moreover, only one type of photopolymerization initiator may be used, or two or more types may be used.

本発明における光重合開始剤としては、光ラジカル重合開始剤を用いることができる。
前記光ラジカル重合開始剤は、例えば、市販されている開始剤を用いることができる。
これらの例としては、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社から入手可能なIrgacure(登録商標)2959(1−[4−(2−ヒドロキシエトキシ)フェニル]−2−ヒドロキシ−2−メチル−1−プロパン−1−オン、Irgacure(登録商標)184(1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン)、Irgacure(登録商標)500(1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、ベンゾフェノン)、Irgacure(登録商標)651(2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン)、Irgacure(登録商標)369(2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)ブタノン−1)、Irgacure(登録商標)907(2−メチル−1[4−メチルチオフェニル]−2−モルフォリノプロパン−1−オン、Irgacure(登録商標)819(ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−フェニルフォスフィンオキサイド、Irgacure(登録商標)1800(ビス(2,6−ジメトキシベンゾイル)−2,4,4−トリメチル−ペンチルフォスフィンオキサイド,1−ヒドロキシ−シクロヘキシル−フェニル−ケトン)、Irgacure(登録商標)1800(ビス(2,6−ジメトキシベンゾイル)−2,4,4−トリメチル−ペンチルフォスフィンオキサイド,2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニル−1−プロパン−1−オン)、Irgacure(登録商標)OXE01(1,2−オクタンジオン,1−[4−(フェニルチオ)フェニル]−2−(O−ベンゾイルオキシム)、
As the photopolymerization initiator in the present invention, a photoradical polymerization initiator can be used.
As the radical photopolymerization initiator, for example, a commercially available initiator can be used.
Examples of these include Irgacure® 2959 (1- [4- (2-hydroxyethoxy) phenyl] -2-hydroxy-2-methyl-1-propane-1 available from Ciba Specialty Chemicals. -One, Irgacure (R) 184 (1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone), Irgacure (R) 500 (1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, benzophenone), Irgacure (R) 651 (2,2-dimethoxy-1, 2-diphenylethane-1-one), Irgacure® 369 (2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) butanone-1), Irgacure® 907 (2-methyl) -1 [4-Methylthiol Nyl] -2-morpholinopropan-1-one, Irgacure® 819 (bis (2,4,6-trimethylbenzoyl) -phenylphosphine oxide, Irgacure® 1800 (bis (2,6- Dimethoxybenzoyl) -2,4,4-trimethyl-pentylphosphine oxide, 1-hydroxy-cyclohexyl-phenyl-ketone), Irgacure® 1800 (bis (2,6-dimethoxybenzoyl) -2,4,4 Trimethyl-pentylphosphine oxide, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenyl-1-propan-1-one), Irgacure® OXE01 (1,2-octanedione, 1- [4- (phenylthio) ) Phenyl] -2- (O-benzoyloxy) Beam),

Darocur(登録商標)1173(2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニル−1−プロパン−1−オン)、Darocur(登録商標)1116、1398、1174および1020、CGI242(エタノン,1−[9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル]−1−(O−アセチルオキシム)、 Darocur® 1173 (2-hydroxy-2-methyl-1-phenyl-1-propan-1-one), Darocur® 1116, 1398, 1174 and 1020, CGI242 (ethanone, 1- [9- Ethyl-6- (2-methylbenzoyl) -9H-carbazol-3-yl] -1- (O-acetyloxime),

BASF社から入手可能なLucirin TPO(2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルホスフィンオキサイド)、Lucirin TPO−L(2,4,6−トリメチルベンゾイルフェニルエトキシホスフィンオキサイド)、ESACUR日本シイベルヘグナー社から入手可能なESACURE 1001M(1−[4−ベンゾイルフェニルスルファニル]フェニル]−2−メチル−2−(4−メチルフェニルスルホニル)プロパン−1−オン、 Lucirin TPO (2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide) available from BASF, Lucirin TPO-L (2,4,6-trimethylbenzoylphenylethoxyphosphine oxide), ESACURE available from Sierra Hegner, ESACUR Japan 1001M (1- [4-Benzoylphenylsulfanyl] phenyl] -2-methyl-2- (4-methylphenylsulfonyl) propan-1-one,

旭電化社から入手可能なアデカオプトマー(登録商標)N−1414(カルバゾール・フェノン系)、アデカオプトマー(登録商標)N−1717(アクリジン系)、アデカオプトマー(登録商標)N−1606(トリアジン系)、 Adekaoptomer (registered trademark) N-1414 (carbazole phenone series), Adekaoptomer (registered trademark) N-1717 (acridine series), Adekaoptomer (registered trademark) N-1606 (available from Asahi Denka Co., Ltd.) Triazine),

三和ケミカル製のTFE−トリアジン(2−[2−(フラン−2−イル)ビニル]−4,6−ビス(トリクロロメチル)−1,3,5−トリアジン)、三和ケミカル製のTME−トリアジン(2−[2−(5−メチルフラン−2−イル)ビニル]−4,6−ビス(トリクロロメチル)−1,3,5−トリアジン)、三和ケミカル製の(2−(4−メトキシフェニル)−4,6−ビス(トリクロロメチル)−1,3,5−トリアジン)、 TFE-triazine (2- [2- (furan-2-yl) vinyl] -4,6-bis (trichloromethyl) -1,3,5-triazine) manufactured by Sanwa Chemical, TME- manufactured by Sanwa Chemical Triazine (2- [2- (5-methylfuran-2-yl) vinyl] -4,6-bis (trichloromethyl) -1,3,5-triazine) (2- (4- Methoxyphenyl) -4,6-bis (trichloromethyl) -1,3,5-triazine),

みどり化学製TAZ−113(2−[2−(3,4−ジメトキシフェニル)エテニル]−4,6−ビス(トリクロロメチル)−1,3,5−トリアジン)、みどり化学製TAZ−108(2−(3,4−ジメトキシフェニル)−4,6−ビス(トリクロロメチル)−1,3,5−トリアジン)、 TAZ-113 manufactured by Midori Chemical (2- [2- (3,4-dimethoxyphenyl) ethenyl] -4,6-bis (trichloromethyl) -1,3,5-triazine), TAZ-108 manufactured by Midori Chemical (2 -(3,4-dimethoxyphenyl) -4,6-bis (trichloromethyl) -1,3,5-triazine),

ベンゾフェノン、4,4’−ビスジエチルアミノベンゾフェノン、メチル−2−ベンゾフェノン、4−ベンゾイル−4’−メチルジフェニルスルフィド、4−フェニルベンゾフェノン、エチルミヒラーズケトン、2−クロロチオキサントン、2−メチルチオキサントン、2−イソプロピルチオキサントン、4−イソプロピルチオキサントン、2,4−ジエチルチオキサントン、1−クロロ−4−プロポキシチオキサントン、2−メチルチオキサントン、チオキサントンアンモニウム塩、ベンゾイン、4,4’−ジメトキシベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテル、ベンジルジメチルケタール、1,1,1−トリクロロアセトフェノン、ジエトキシアセトフェノンおよびジベンゾスベロン、o−ベンゾイル安息香酸メチル、2−ベンゾイルナフタレン、4−ベンゾイル ビフェニル、4−ベンゾイル ジフェニルエーテル、1,4−ベンゾイルベンゼン、ベンジル、10−ブチル−2−クロロアクリドン、[4−(メチルフェニルチオ)フェニル]フェニルメタン)、2−エチルアントラキノン、2,2−ビス(2−クロロフェニル)4,5,4’,5’−テトラキス(3,4,5−トリメトキシフェニル)1,2’−ビイミダゾール、2,2−ビス(o−クロロフェニル)4,5,4’,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾール、トリス(4−ジメチルアミノフェニル)メタン、エチル−4−(ジメチルアミノ)ベンゾエート、2−(ジメチルアミノ)エチルベンゾエート、ブトキシエチル−4−(ジメチルアミノ)ベンゾエート、等が挙げられる。 Benzophenone, 4,4′-bisdiethylaminobenzophenone, methyl-2-benzophenone, 4-benzoyl-4′-methyldiphenyl sulfide, 4-phenylbenzophenone, ethyl Michler's ketone, 2-chlorothioxanthone, 2-methylthioxanthone, 2- Isopropylthioxanthone, 4-isopropylthioxanthone, 2,4-diethylthioxanthone, 1-chloro-4-propoxythioxanthone, 2-methylthioxanthone, thioxanthone ammonium salt, benzoin, 4,4'-dimethoxybenzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether , Benzoin isopropyl ether, benzoin isobutyl ether, benzyl dimethyl ketal, 1,1,1-trichloroacetophenone, dietoxy Acetophenone and dibenzosuberone, methyl o-benzoylbenzoate, 2-benzoylnaphthalene, 4-benzoyl biphenyl, 4-benzoyl diphenyl ether, 1,4-benzoylbenzene, benzyl, 10-butyl-2-chloroacridone, [4- (Methylphenylthio) phenyl] phenylmethane), 2-ethylanthraquinone, 2,2-bis (2-chlorophenyl) 4,5,4 ′, 5′-tetrakis (3,4,5-trimethoxyphenyl) 1, 2′-biimidazole, 2,2-bis (o-chlorophenyl) 4,5,4 ′, 5′-tetraphenyl-1,2′-biimidazole, tris (4-dimethylaminophenyl) methane, ethyl-4 -(Dimethylamino) benzoate, 2- (dimethylamino) ethylbenzoate, Tokishiechiru 4- (dimethylamino) benzoate, and the like.

本発明における光重合開始剤としては、光カチオン重合開始剤を用いることもできる。
前記光カチオン重合開始剤としては、紫外線等のエネルギー線を受けることにより光カチオン重合を開始させる物質を生成する化合物であれば良く、オニウム塩であるアリールスルホニウム塩やアリールヨウドニウム塩等が好ましい。
As the photopolymerization initiator in the present invention, a photocationic polymerization initiator can also be used.
The cationic photopolymerization initiator may be a compound that generates a substance that initiates cationic photopolymerization by receiving energy rays such as ultraviolet rays, and is preferably an onium salt such as an arylsulfonium salt or an aryliodonium salt.

オニウム塩の具体例としては、ジフェニルヨードニウム、4−メトキシジフェニルヨードニウム、ビス(4−メチルフェニル)ヨードニウム、ビス(4−tert−ブチルフェニル)ヨードニウム、ビス(ドデシルフェニル)ヨードニウム、トリフェニルスルホニウム、ジフェニル−4−チオフェノキシフェニルスルホニウム、ビス[4−(ジフェニルスルホニオ)−フェニル]スルフィド、ビス[4−(ジ(4−(2−ヒドロキシエチル)フェニル)スルホニオ)−フェニル]スルフィド、η−2,4−(シクロペンタジエニル)[1,2,3,4,5,6−η]−(メチルエチル)−ベンゼン]−鉄(1+)等が挙げられる。アニオンの具体例としては、テトラフルオロボレート(BF )、ヘキサフルオロホスフェート(PF )、ヘキサフルオロアンチモネート(SbF )、ヘキサフルオロアルセネート(AsF )、ヘキサクロロアンチモネート(SbCl )、過塩素酸イオン(ClO )、トリフルオロメタンスルホン酸イオン(CFSO )、フルオロスルホン酸イオン(FSO )、トルエンスルホン酸イオン、トリニトロベンゼンスルホン酸アニオン、トリニトロトルエンスルホン酸アニオンなどの他のアニオンを有するオニウム塩を使用することもできる。 Specific examples of the onium salt include diphenyliodonium, 4-methoxydiphenyliodonium, bis (4-methylphenyl) iodonium, bis (4-tert-butylphenyl) iodonium, bis (dodecylphenyl) iodonium, triphenylsulfonium, diphenyl- 4-thiophenoxyphenylsulfonium, bis [4- (diphenylsulfonio) -phenyl] sulfide, bis [4- (di (4- (2-hydroxyethyl) phenyl) sulfonio) -phenyl] sulfide, η 5 -2, 4- (cyclopentadienyl) [1,2,3,4,5,6-η]-(methylethyl) -benzene] -iron ( 1+ ) and the like. Specific examples of anions include tetrafluoroborate (BF 4 ), hexafluorophosphate (PF 6 ), hexafluoroantimonate (SbF 6 ), hexafluoroarsenate (AsF 6 ), hexachloroantimonate (SbCl). 6 -), perchlorate ion (ClO 4 -), trifluoromethanesulfonate ion (CF 3 SO 3 -), fluorosulfonic acid ion (FSO 3 -), toluenesulfonate ion, trinitrobenzene sulfonate anion, trinitrotoluene Onium salts having other anions such as sulfonate anions can also be used.

このようなオニウム塩のうち、特に有効な光カチオン重合開始剤は、芳香族オニウム塩である。例えば、特開昭50−151996号公報、特開昭50−158680号公報などに記載の芳香族ハロニウム塩、特開昭50−151997号公報、特開昭52−30899号公報、特開昭56−55420号公報、特開昭55−125105号公報などに記載のVIA族芳香族オニウム塩、特開昭50−158698号公報などに記載のVA族芳香族オニウム塩、特開昭56−8428号公報、特開昭56−149402号公報、特開昭57−192429号公報などに記載のオキソスルホキソニウム塩、特開昭49−17040号公報などに記載の芳香族ジアゾニウム塩、米国特許第4,139,655号明細書に記載のチオビリリウム塩、鉄/アレン錯体、アルミニウム錯体/光分解ケイ素化合物系開始剤、ハロゲン化水素を光発生するハロゲン化物、o−ニトロベンジルエステル化合物、イミドスルホネート化合物、ビススルホニルジアゾメタン化合物、オキシムスルホネート化合物を挙げることができる。   Among such onium salts, a particularly effective photocationic polymerization initiator is an aromatic onium salt. For example, aromatic halonium salts described in JP-A-50-151996, JP-A-50-158680, JP-A-50-151997, JP-A52-30899, JP-A-56. Group VIA aromatic onium salts described in JP-A-55420, JP-A-55-125105, etc., Group VA aromatic onium salts described in JP-A-50-158698, etc., JP-A-56-8428 Oxosulfoxonium salts described in JP-A-56-149402 and JP-A-57-192429, aromatic diazonium salts described in JP-A-49-17040, US Pat. , 139,655, photoinitiates a hydrogen halide, a thiobililium salt, an iron / allene complex, an aluminum complex / photolytic silicon compound-based initiator Halide, o- nitrobenzyl ester compounds, imide sulfonate compound, bissulfonyldiazomethane compounds, mention may be made of an oxime sulfonate compound.

本発明で用いることができる光カチオン重合開始剤としては、例えば、化学増幅型フォトレジストや光カチオン重合に利用される化合物を広く採用することができる(有機エレクトロニクス材料研究会編、「イメージング用有機材料」、ぶんしん出版(1993年)、187〜192ページ参照)。これらの化合物は、THE CHEMICAL SOCIETY OF JAPAN Voi.71 No.11,1998年、有機エレクトロニクス材料研究会編、「イメージング用有機材料」、ぶんしん出版(1993年)、に記載の光酸発生剤と同様、公知の方法にて容易に合成することができる。   As the photocationic polymerization initiator that can be used in the present invention, for example, a chemical amplification type photoresist or a compound used for photocationic polymerization can be widely used (edited by Organic Electronics Materials Research Group, “Organization for Imaging”). Materials, "Bunshin Publishing (1993), pages 187-192). These compounds are photoacid generators described in THE CHEMICAL SOCIETY OF JAPAN Voi.71 No.11, 1998, edited by Organic Electronics Materials Society, “Organic Materials for Imaging”, Bunshin Publishing (1993). Similarly, it can be easily synthesized by a known method.

光カチオン重合開始剤の市販品としては、UVI−6950、UVI−6970、UVI−6974、UVI−6990、UVI−6992、(以上、ユニオンカーバイド社製)、アデカオプトマーSP−150、SP−151、SP−170、SP−171、SP−172(以上、旭電化工業(株)製)、Irgacure 261、IRGACURE OXE01、IRGACURE CGI−1397、CGI−1325、CGI−1380、CGI−1311、CGI−263、CGI−268、CGI−1397、CGI−1325、CGI−1380、CGI−1311(以上、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製)、CI−2481、CI−2624、CI−2639、CI−2064(以上、日本曹達(株)製)、CD−1010、CD−1011、CD−1012(以上、サートマー社製)、DTS−102、DTS−103、NAT−103、NDS−103、TPS−103、MDS−103、MPI−103、BBI−103(以上、みどり化学(株)製)、PCI−061T、PCI−062T、PCI−020T、PCI−022T(以上、日本化薬(株)製)、PHOTOINITIATOR 2074(ローディア社製)、   Commercially available photocationic polymerization initiators include UVI-6950, UVI-6970, UVI-6974, UVI-6990, UVI-6992 (above, Union Carbide), Adekaoptomer SP-150, SP-151. , SP-170, SP-171, SP-172 (manufactured by Asahi Denka Kogyo Co., Ltd.), Irgacure 261, IRGACURE OXE01, IRGACURE CGI-1397, CGI-1325, CGI-1380, CGI-1311, CGI-263 CGI-268, CGI-1397, CGI-1325, CGI-1380, CGI-1311 (above, manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.), CI-2481, CI-2624, CI-2638, CI-2064 ( Above, Nippon Soda Co., Ltd.), CD -1010, CD-1011, CD-1012 (manufactured by Sartomer), DTS-102, DTS-103, NAT-103, NDS-103, TPS-103, MDS-103, MPI-103, BBI-103 ( As described above, manufactured by Midori Chemical Co., Ltd.), PCI-061T, PCI-062T, PCI-020T, PCI-022T (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), PHOTOINITIATOR 2074 (manufactured by Rhodia),

UR−1104、UR−1105、UR−1106、UR−1107、UR−1113、UR−1114、UR−1115、UR−1118、UR−1200、UR−1201、UR−1202、UR−1203、UR−1204、UR−1205、UR−1207、UR−1401、UR−1402、UR−1403、UR−M1010、UR−M1011、UR−M10112、UR−SAIT01、UR−SAIT02、UR−SAIT03、UR−SAIT04、UR−SAIT05、UR−SAIT06、UR−SAIT07、UR−SAIT08、UR−SAIT09、UR−SAIT10、UR−SAIT11、UR−SAIT12、UR−SAIT13、UR−SAIT14、UR−SAIT15、UR−SAIT16、UR−SAIT22、UR−SAIT30(以上、URAY社製)などを挙げることができる。これらのうち、UVI−6970、UVI−6974、アデカオプトマーSP−170、SP−171、SP−172、CD−1012、MPI−103は、これらを含有してなる組成物により高い光硬化感度を発現させることができる。
上記の光カチオン重合開始剤は、1種単独でまたは2種以上組み合わせて用いることができる。
UR-1104, UR-1105, UR-1106, UR-1107, UR-1113, UR-1114, UR-1115, UR-1118, UR-1200, UR-1201, UR-1202, UR-1203, UR- 1204, UR-1205, UR-1207, UR-1401, UR-1402, UR-1403, UR-M1010, UR-M1011, UR-M10112, UR-SAIT01, UR-SAIT02, UR-SAIT03, UR-SAIT04, UR-SAIT05, UR-SAIT06, UR-SAIT07, UR-SAIT08, UR-SAIT09, UR-SAIT10, UR-SAIT11, UR-SAIT12, UR-SAIT13, UR-SAIT14, UR-SAIT15, UR-SAIT16, U -SAIT22, UR-SAIT30 (manufactured by URAY Co., Ltd.) and the like. Among these, UVI-6970, UVI-6974, Adekaoptomer SP-170, SP-171, SP-172, CD-1012 and MPI-103 have higher photocuring sensitivity due to the composition containing them. Can be expressed.
Said photocationic polymerization initiator can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

以上で説明した光重合開始剤の、光硬化性組成物中における含有量としては、0.1〜15質量%が好ましく、0.2〜12質量%がより好ましく、0.3〜10質量%が特に好ましい。
前記含有量が0.1質量%以上であると、感度(速硬化性)、解像性、ラインエッジラフネス性、及び塗膜強度(塗膜の硬化性)をより向上させることができる。また、前記含有量が15質量%以下であると、光透過性、着色性、及び取り扱い性をより向上させることができる。
As content in the photocurable composition of the photoinitiator demonstrated above, 0.1-15 mass% is preferable, 0.2-12 mass% is more preferable, 0.3-10 mass% Is particularly preferred.
When the content is 0.1% by mass or more, sensitivity (fast curability), resolution, line edge roughness, and coating film strength (curability of the coating film) can be further improved. Moreover, light transmittance, coloring property, and handleability can be improved more as the said content is 15 mass% or less.

さらに本発明の光硬化性組成物には、前述の光重合開始剤の他に、光増感剤を加えて、UV領域の波長を調整することもできる。本発明において用いることができる典型的な増感剤としては、クリベロ〔J.V.Crivello,Adv.in Polymer Sci,62,1(1984)〕に開示しているものが挙げられ、具体的には、ピレン、ペリレン、アクリジンオレンジ、チオキサントン、2−クロロチオキサントン、ベンゾフラビン、N−ビニルカルバゾール、9,10−ジブトキシアントラセン、アントラキノン、クマリン、ケトクマリン、フェナントレン、カンファキノン、フェノチアジン誘導体などを挙げることができる。   Furthermore, in addition to the above-mentioned photopolymerization initiator, a photosensitizer can be added to the photocurable composition of the present invention to adjust the wavelength in the UV region. Typical sensitizers that can be used in the present invention include those disclosed in Crivello [JVCrivello, Adv. In Polymer Sci, 62, 1 (1984)], specifically, pyrene. Perylene, acridine orange, thioxanthone, 2-chlorothioxanthone, benzoflavine, N-vinylcarbazole, 9,10-dibutoxyanthracene, anthraquinone, coumarin, ketocoumarin, phenanthrene, camphorquinone, phenothiazine derivatives and the like.

本発明の光硬化性組成物における光増感剤の含有割合は、光硬化性組成物中30質量%以下であることが好ましく、さらに好ましくは20質量%以下、特に好ましくは10質量%以下が好ましい。光増感度剤含有割合の下限は特に限定されないが、効果を発現するためには、光増感剤含有割合の下限は0.1質量%程度である。   The content ratio of the photosensitizer in the photocurable composition of the present invention is preferably 30% by mass or less, more preferably 20% by mass or less, and particularly preferably 10% by mass or less in the photocurable composition. preferable. Although the minimum of a photosensitizer content rate is not specifically limited, In order to express an effect, the minimum of a photosensitizer content rate is about 0.1 mass%.

本発明の重合開始のための光は、紫外光、近紫外光、遠紫外光、可視光、赤外光等の領域の波長の光または、電磁波だけでなく、放射線も含まれ、放射線には、例えば、マイクロ波、電子線、EUV、X線が含まれる。また248nmエキシマレーザー、193nmエキシマレーザー、172nmエキシマレーザーなどのレーザー光も用いることができる。これらの光は、光学フィルターを通したモノクロ光(単一波長光)を用いてもよいし、複数の波長の異なる光(複合光)でもよい。露光は、多重露光も可能であり、膜強度、エッチング耐性を高めるなどの目的でパターン形成した後、更に全面露光することも可能である。   The light for initiating polymerization of the present invention includes not only light having a wavelength in the region of ultraviolet light, near ultraviolet light, far ultraviolet light, visible light, infrared light, or electromagnetic waves, but also radiation. For example, microwave, electron beam, EUV, and X-ray are included. Laser light such as a 248 nm excimer laser, a 193 nm excimer laser, and a 172 nm excimer laser can also be used. The light may be monochromatic light (single wavelength light) that has passed through an optical filter, or may be light having a plurality of different wavelengths (composite light). The exposure can be multiple exposure, and it is also possible to further expose the entire surface after pattern formation for the purpose of increasing the film strength and etching resistance.

本発明で使用される光重合開始剤は、使用する光源の波長に対して適時に選択する必要があるが、モールド加圧・露光中にガスを発生させないものが好ましい。ガスを発生させないものは、モールドが汚染されにくく、モールドの洗浄頻度が減少したり、光硬化性組成物がモールド内で変形しにくいので転写パターン精度を劣化させにくい等の観点で好ましい。   The photopolymerization initiator used in the present invention needs to be selected in a timely manner with respect to the wavelength of the light source to be used, but is preferably one that does not generate gas during mold pressurization / exposure. Those that do not generate gas are preferable from the viewpoints that the mold is not easily contaminated, the frequency of cleaning the mold is reduced, and the photocurable composition is less likely to be deformed in the mold, so that the transfer pattern accuracy is less likely to deteriorate.

以上、(a)重合性化合物、(b)光重合開始剤について説明したが、本発明においては、(a)重合性化合物、(b)光重合開始剤、その他の成分として公知の組成物を構成する成分を好適に用いることもできる。公知の成分としては、例えば、特開2006−23696号公報の段落番号[0010]〜[0020]に記載の成分や、特開2006−64921号公報の段落番号[0027]〜[0053]に記載の成分が挙げられる。   In the above, (a) a polymerizable compound and (b) a photopolymerization initiator have been described. In the present invention, (a) a polymerizable compound, (b) a photopolymerization initiator, and other compositions known as other components are used. The component which comprises can also be used suitably. Known components include, for example, the components described in paragraph numbers [0010] to [0020] of JP-A-2006-23696, and the paragraph numbers [0027] to [0053] of JP-A-2006-64921. Of the ingredients.

<(c)界面活性光重合開始剤>
本発明の光硬化性組成物は、界面活性光重合開始剤を少なくとも1種含有する。
本発明における界面活性光重合開始剤としては、界面活性作用と光重合開始作用とを有する化合物であれば、特に制限なく用いることができ、例えば、界面活性作用を有する置換基の少なくとも1種と光重合開始作用を有する置換基の少なくとも1種とを同一分子内に含む化合物を挙げることができる。
本発明の硬化性組成物においては、光重合開始剤に加えて界面活性光重合開始剤を更に含有していることにより、光硬化性組成物によって形成される硬化膜の表面特性が向上し、モールドからの剥離性が向上する。これにより、例えば、表示装置を構成するフォトスペーサーを作製した場合には、高度の変形回復性を示す。また、例えば、遮光層、着色層や保護層を製造した場合には、硬化膜の表面強度を大きくすることができる。
<(C) Surface-active photopolymerization initiator>
The photocurable composition of the present invention contains at least one surface active photopolymerization initiator.
As the surface active photopolymerization initiator in the present invention, any compound having a surface active action and a photopolymerization initiating action can be used without particular limitation. For example, at least one substituent having a surface active action can be used. The compound which contains at least 1 sort (s) of the substituent which has a photoinitiation effect | action in the same molecule can be mentioned.
In the curable composition of the present invention, by further containing a surface active photopolymerization initiator in addition to the photopolymerization initiator, the surface properties of the cured film formed by the photocurable composition are improved, The peelability from the mold is improved. Thereby, for example, when a photo spacer constituting the display device is produced, a high degree of deformation recovery is exhibited. For example, when a light shielding layer, a colored layer, or a protective layer is manufactured, the surface strength of the cured film can be increased.

前記界面活性作用を有する置換基は、硬化膜の表面特性の観点から、置換されていてもよい炭素数3以上30以下のアルキル基、置換されていてもよいシロキサン基、及び置換されていてもよいフッ化アルキル基から選ばれる少なくとも1種であることが好ましい。
これらの基が置換基を有している場合の置換基としては、例えば、炭素数1〜8のアルキル基、炭素数1〜8のアルコキシ基、ハロゲン基、アミノ基、シアノ基等を挙げることができる。
From the viewpoint of the surface characteristics of the cured film, the substituent having a surface active action may be an alkyl group having 3 to 30 carbon atoms that may be substituted, a siloxane group that may be substituted, and a substituent that may be substituted. It is preferably at least one selected from good fluorinated alkyl groups.
Examples of the substituent in the case where these groups have a substituent include an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 8 carbon atoms, a halogen group, an amino group, and a cyano group. Can do.

前記置換基を有していてもよい炭素数3以上30以下のアルキル基は、炭素数4以上20以下であることがより好ましい。具体的には例えば、ヘキシル基、オクチル基、ドデシル基、オクタデシル基、ヘキサデシル基等を挙げることができる。   The alkyl group having 3 to 30 carbon atoms which may have the substituent is more preferably 4 to 20 carbon atoms. Specific examples include a hexyl group, octyl group, dodecyl group, octadecyl group, hexadecyl group and the like.

また、前記置換基を有していてもよいシロキサン基としては、例えば、下記一般式(1)で表される構造単位を含むことが好ましい。
また、シロキサン基が置換基を有している場合の置換基としては、例えば、炭素数1〜8のアルキル基、炭素数1〜8のアルコキシ基、ハロゲン原子、アミノ基、シアノ基等を挙げることができる。
Moreover, as a siloxane group which may have the said substituent, it is preferable that the structural unit represented, for example by following General formula (1) is included.
Moreover, as a substituent in case a siloxane group has a substituent, a C1-C8 alkyl group, a C1-C8 alkoxy group, a halogen atom, an amino group, a cyano group etc. are mentioned, for example. be able to.

Figure 2009051017
Figure 2009051017

式中、R31は水素原子、炭化水素基又は−OR33を表し、R32は水素原子、炭化水素基又は−OR34を表す。R33及びR34はそれぞれ独立に炭化水素基を表す。R31〜R34で表される炭化水素基としては炭素数1〜8のアルキル基を挙げることができ、具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基等が好ましい。
上記一般式(1)で表される構造単位の繰り返し数としては、硬化膜の表面特性の観点から、2〜20であることが好ましく、2〜10であることがより好ましい。
In the formula, R 31 represents a hydrogen atom, a hydrocarbon group or —OR 33 , and R 32 represents a hydrogen atom, a hydrocarbon group or —OR 34 . R 33 and R 34 each independently represent a hydrocarbon group. Examples of the hydrocarbon group represented by R 31 to R 34 include an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, and specifically, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, and the like are preferable.
The number of repeating structural units represented by the general formula (1) is preferably 2 to 20 and more preferably 2 to 10 from the viewpoint of the surface properties of the cured film.

前記置換基を有していてもよいフッ化アルキル基は、炭素数が1以上16以下のフッ化アルキル基であることが好ましく、炭素数が3以上12以下のフッ化アルキル基であることがより好ましい。
また、フッ化アルキル基が置換基を有している場合の置換基としては、例えば、炭素数1〜8のアルキル基、炭素数1〜8のアルコキシ基、ハロゲン原子、アミノ基、シアノ基等を挙げることができる。
本発明においては、下記一般式(2)で表されるフッ化アルキル基であることが好ましい。
The fluorinated alkyl group which may have a substituent is preferably a fluorinated alkyl group having 1 to 16 carbon atoms, and preferably a fluorinated alkyl group having 3 to 12 carbon atoms. More preferred.
Examples of the substituent when the fluorinated alkyl group has a substituent include an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 8 carbon atoms, a halogen atom, an amino group, and a cyano group. Can be mentioned.
In the present invention, a fluorinated alkyl group represented by the following general formula (2) is preferable.

Figure 2009051017
Figure 2009051017

式中、Lは酸素原子又は単結合を表し、iは0〜8の整数を表し、jは1〜12の整数を表す。本発明においては、iが0〜6の整数であって、jが1〜10の整数であることが好ましく、iが1〜4の整数であって、jが2〜8の整数であることがより好ましい。
具体的には例えば、ペルフルオロヘキシルオキシエチル基、ペルフルオロオクチルエチル基等を挙げることができる。
In the formula, L 4 represents an oxygen atom or a single bond, i represents an integer of 0 to 8, and j represents an integer of 1 to 12. In the present invention, i is an integer of 0-6, j is preferably an integer of 1-10, i is an integer of 1-4, and j is an integer of 2-8. Is more preferable.
Specific examples include a perfluorohexyloxyethyl group and a perfluorooctylethyl group.

また、光重合開始作用を有する置換基としては、上記(b)光重合開始剤として説明した光重合開始剤から誘導される置換基を挙げることができる。中でも、光重合開始活性の観点から、トリハロメチル−s−トリアジン化合物、トリハロメチルオキサジアゾール化合物、α−アミノケトン化合物、α−ヒドロキシケトン化合物などから誘導される置換基であることが好ましい。   Examples of the substituent having a photopolymerization initiating action include a substituent derived from the photopolymerization initiator described as the above (b) photopolymerization initiator. Among these, from the viewpoint of photopolymerization initiation activity, a substituent derived from a trihalomethyl-s-triazine compound, a trihalomethyloxadiazole compound, an α-aminoketone compound, an α-hydroxyketone compound, or the like is preferable.

本発明における(c)界面活性光重合開始剤は、界面活性作用を有する置換基と光重合開始作用を有する置換基との間に連結基を有していてもよい。前記連結基としては特に制限はなく、例えば、酸素原子(−O−)、硫黄原子(−S−)、窒素原子、カルボニル基、アミド結合、エステル結合、アルキレン基、アルケニレン基、アリーレン基、及びこれらの組合せからなる連結基を挙げることができる。また、2価の連結基に限らず、3価以上の連結基であってもよい。   The (c) surface active photopolymerization initiator in the present invention may have a linking group between a substituent having a surface active action and a substituent having a photopolymerization start action. The linking group is not particularly limited, and examples thereof include an oxygen atom (—O—), a sulfur atom (—S—), a nitrogen atom, a carbonyl group, an amide bond, an ester bond, an alkylene group, an alkenylene group, an arylene group, and A linking group comprising these combinations can be exemplified. Moreover, not only a bivalent coupling group but a trivalent or more coupling group may be sufficient.

本発明における(c)界面活性光重合開始剤としては、具体的には、特表2004−515611号公報、特表2004−522819号公報、特表2004−525994号公報等に記載の化合物や、下記例示化合物1〜36を挙げることができる。   As the (c) surface active photopolymerization initiator in the present invention, specifically, compounds described in JP-T-2004-515611, JP-A-2004-522819, JP-T-2004-525994, and the like, The following exemplary compounds 1-36 can be mentioned.

Figure 2009051017
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Figure 2009051017
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Figure 2009051017
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Figure 2009051017
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本発明における(c)界面活性光重合開始剤としては、硬化膜の表面特性の観点から、界面活性作用を有する置換基が、置換されていてもよい長鎖アルキル基、置換されていてもよいシロキサン基及び置換されていてもよいフッ化アルキル基から選ばれる少なくとも1種であって、光重合開始作用を有する置換基が、トリハロメチル−s−トリアジン化合物、トリハロメチルオキサジアゾール化合物、α−アミノケトン化合物、α−ヒドロキシケトン化合物から誘導される置換基であることが好ましく、界面活性作用を有する置換基が炭素数1〜16のフッ化アルキル基、ケイ素数2〜20のポリメチルシロキサン基、または炭素数4〜20のアルキル基であって、光重合開始作用を有する置換基がトリハロメチル−s−トリアジン化合物であることがより好ましい。中でも、上記例示化合物9、30、31などが特に好ましい。   As the (c) surface active photopolymerization initiator in the present invention, from the viewpoint of the surface properties of the cured film, a substituent having a surface active action may be a long chain alkyl group which may be substituted, or may be substituted. At least one selected from a siloxane group and an optionally substituted fluorinated alkyl group, the substituent having a photopolymerization initiating action is a trihalomethyl-s-triazine compound, a trihalomethyloxadiazole compound, α- It is preferable that the substituent is derived from an aminoketone compound or an α-hydroxyketone compound, and the substituent having a surface activity is a fluorinated alkyl group having 1 to 16 carbon atoms, a polymethylsiloxane group having 2 to 20 silicon atoms, Alternatively, the alkyl group having 4 to 20 carbon atoms and the substituent having a photopolymerization initiating action is a trihalomethyl-s-triazine compound. More preferably. Among these, the exemplified compounds 9, 30, 31 and the like are particularly preferable.

<(d)フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤、及びフッ素・シリコーン系界面活性剤から選ばれる少なくとも1種>
本発明の光硬化性組成物は、界面活性剤を少なくとも1種含むことが好ましい。
界面活性剤としては、(d)フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤、及びフッ素・シリコーン系界面活性剤から選ばれる少なくとも1種(以下、単に「(d)界面活性剤」ということがある)であることが好ましい。
ここで、フッ素・シリコーン系界面活性剤とは、フッ素系界面活性剤およびシリコーン系界面活性剤の両方の要件を併せ持つものをいう。
このような界面活性剤を用いることにより、本発明の光硬化性組成物を、半導体素子製
造用のシリコンウェハや、液晶素子製造用のガラス角基板、クロム膜、モリブデン膜、モリブデン合金膜、タンタル膜、タンタル合金膜、窒化珪素膜、アモルファスシリコン膜、酸化錫をドープした酸化インジウム(ITO)膜や酸化錫膜などの、各種の膜が形成されるなど基板上の塗布時に起こるストリエーションや鱗状の模様(レジスト膜の乾燥むら)などの塗布不良の問題を解決する目的、およびモールド凹部のキャビティ内への光硬化性組成物の流動性を良くし、モールドとレジスト間の離型性を良くし、レジストと基板間の密着性を良くする、光硬化性組成物の粘度を下げる等が可能になる。
特に、本発明の光硬化性組成物において、上記界面活性剤を添加することにより、塗布均一性を大幅に改良でき、スピンコーターやスリットスキャンコーターを用いた塗布において、基板サイズに依らず良好な塗布適性が得られる。
<(D) At least one selected from fluorine-based surfactants, silicone-based surfactants, and fluorine / silicone-based surfactants>
The photocurable composition of the present invention preferably contains at least one surfactant.
The surfactant is at least one selected from (d) a fluorine-based surfactant, a silicone-based surfactant, and a fluorine / silicone-based surfactant (hereinafter simply referred to as “(d) surfactant”). Preferably).
Here, the fluorine / silicone surfactant refers to one having both requirements of a fluorine surfactant and a silicone surfactant.
By using such a surfactant, the photocurable composition of the present invention can be applied to a silicon wafer for manufacturing a semiconductor device, a glass square substrate for manufacturing a liquid crystal device, a chromium film, a molybdenum film, a molybdenum alloy film, or tantalum. Striations and scales that occur during coating, such as various films, such as films, tantalum alloy films, silicon nitride films, amorphous silicon films, tin oxide-doped indium oxide (ITO) films and tin oxide films The purpose of solving the problem of poor coating such as the pattern of the resist (unevenness of drying of resist film) and the fluidity of the photocurable composition into the cavity of the mold recess are improved, and the mold releasability between the mold and the resist is improved. In addition, the adhesion between the resist and the substrate can be improved, the viscosity of the photocurable composition can be lowered, and the like.
In particular, in the photocurable composition of the present invention, by adding the above-mentioned surfactant, the coating uniformity can be greatly improved, and in coating using a spin coater or slit scan coater, it is good regardless of the substrate size. Application suitability is obtained.

前記フッ素系界面活性剤の例としては、商品名フロラードFC−430、FC−431(住友スリーエム社製)、商品名サーフロン「S−382」(旭硝子製)、EFTOP「EF−122A、122B、122C、EF−121、EF−126、EF−127、MF−100」(トーケムプロダクツ社製)、商品名PF−636、PF−6320、PF−656、PF−6520(いずれもOMNOVA社)、商品名フタージェントFT250、FT251、DFX18(いずれも(株)ネオス製)、商品名ユニダインDS−401、DS−403、DS−451(いずれもダイキン工業(株)製)、商品名メガファック171、172、173、178K、178A、(いずれも大日本インキ化学工業社製)が挙げられる。   Examples of the fluorosurfactant include trade name Fluorad FC-430, FC-431 (manufactured by Sumitomo 3M), trade name Surflon “S-382” (manufactured by Asahi Glass), EFTOP “EF-122A, 122B, 122C”. , EF-121, EF-126, EF-127, MF-100 "(manufactured by Tochem Products), product names PF-636, PF-6320, PF-656, PF-6520 (all OMNOVA), products Name aftergents FT250, FT251, DFX18 (all manufactured by Neos Co., Ltd.), trade names Unidyne DS-401, DS-403, DS-451 (all manufactured by Daikin Industries, Ltd.), product names Megafuck 171, 172 173, 178K, 178A (all manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc.).

前記シリコーン系界面活性剤の例としては、商品名SI−10シリーズ(竹本油脂社製)、メガファックペインタッド31(大日本インキ化学工業社製)、KP−341(信越化学工業製)が挙げられる。   Examples of the silicone surfactant include trade name SI-10 series (manufactured by Takemoto Yushi Co., Ltd.), MegaFac Paintad 31 (manufactured by Dainippon Ink and Chemicals), and KP-341 (manufactured by Shin-Etsu Chemical). It is done.

本発明で用いることができるフッ素・シリコーン系界面活性剤の例としては、商品名X−70−090、X−70−091、X−70−092、X−70−093、(いずれも信越化学工業社製)、商品名メガファックR−08、XRB−4(いずれも大日本インキ化学工業社製)が挙げられる。   Examples of fluorine / silicone surfactants that can be used in the present invention include trade names X-70-090, X-70-091, X-70-092, X-70-093 (all of which are Shin-Etsu Chemical). Kogyo Kogyo Co., Ltd.), trade names Megafax R-08 and XRB-4 (all manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc.).

フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤およびフッ素・シリコーン系界面活性剤の配合量は、これらの界面活性剤の合計量で、光硬化性組成物中、0.001〜5質量%の範囲で配合することが好ましく、0.01〜3質量%の範囲で添加することがより好ましい。
フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤およびフッ素・シリコーン系界面活性剤が光硬化性組成物中0.001質量%以上であると、塗布の均一性をより向上させることができ、5質量%以下であると、モールドからの剥離性をより向上させることができる。
本発明で用いるフッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤およびフッ素・シリコーン系界面活性剤は単独で用いてもよいし、2種類以上を組み合せて使用してもよい。本発明では、フッ素系界面活性剤とシリコーン系界面活性剤の両方または、フッ素・シリコーン系界面活性剤を含むことが好ましい。
特に、フッ素・シリコーン系界面活性剤を含むことが最も好ましい。
The amount of fluorine-based surfactant, silicone-based surfactant and fluorine-silicone-based surfactant is the total amount of these surfactants in the range of 0.001 to 5% by mass in the photocurable composition. It is preferable to mix | blend with, and it is more preferable to add in 0.01-3 mass%.
When the fluorine-based surfactant, the silicone-based surfactant, and the fluorine-silicone-based surfactant are 0.001% by mass or more in the photocurable composition, the coating uniformity can be further improved. When it is at most%, the releasability from the mold can be further improved.
The fluorine-based surfactant, silicone-based surfactant and fluorine-silicone-based surfactant used in the present invention may be used alone or in combination of two or more. In the present invention, it is preferable to include both a fluorine-based surfactant and a silicone-based surfactant, or a fluorine-silicone-based surfactant.
In particular, it is most preferable to contain a fluorine / silicone surfactant.

本発明の光硬化性組成物には、上記の以外に、光硬化性組成物の柔軟性等を改良する目的で、他のノニオン系界面活性剤を併用してもよい。
ノニオン系界面活性剤の市販品としては、例えば、竹本油脂(株)製のパイオニンシリーズのD−3110、D−3120、D−3412、D−3440、D−3510、D−3605などポリオキシエチレンアルキルアミン、竹本油脂(株)製のパイオニンシリーズのD−1305、D−1315、D−1405、D−1420、D−1504、D−1508、D−1518などのポリオキシエチレンアルキルエーテル、竹本油脂(株)製のパイオニンシリーズのD−2112−A、D−2112−C、D−2123−Cなどのポリオキシエチレンモノ脂肪酸エステル、竹本油脂(株)製のパイオニンシリーズのD−2405−A、D−2410−D、D−2110−Dなどのポリオキシエチレンジ脂肪酸エステル、竹本油脂(株)製のパイオニンシリーズのD−406、D−410、D−414、D−418などのポリオキシエチレンアルキルフェニルエーテル、日信化学工業(株)製のサーフィノールシリーズの104S、420、440、465、485などのポリオキシエチレンテトラメチルデシンジオールジエーテルなどが例示される。
In addition to the above, other nonionic surfactants may be used in combination with the photocurable composition of the present invention for the purpose of improving the flexibility of the photocurable composition.
Examples of commercially available nonionic surfactants include polyoxy, such as D-3110, D-3120, D-3412, D-3440, D-3510, and D-3605 of Pionein series manufactured by Takemoto Yushi Co., Ltd. Polyoxyethylene alkyl ethers such as ethylene alkylamine, D-1305, D-1315, D-1405, D-1420, D-1504, D-1508, and D-1518 of Pionein series manufactured by Takemoto Yushi Co., Ltd. Polyoxyethylene monofatty acid esters such as D-2112-A, D-2112-C and D-2123-C of the Pionein series manufactured by Takemoto Yushi Co., Ltd. D- of the Pionein series manufactured by Takemoto Yushi Co., Ltd. Polyoxyethylene difatty acid esters such as 2405-A, D-2410-D, D-2110-D, etc., manufactured by Takemoto Yushi Co., Ltd. Onin series D-406, D-410, D-414, D-418 and other polyoxyethylene alkyl phenyl ethers, Nissin Chemical Industry's Surfinol series 104S, 420, 440, 465, 485, etc. And polyoxyethylenetetramethyldecynediol diether.

また、重合性不飽和基を有する反応性界面活性剤も本発明で用いられる界面活性剤と併用することができる。例えば、アリロキシポリエチレングリコールモノメタアクリレート(日本油脂(株)商品名:ブレンマーPKEシリーズ)、ノニルフェノキシポリエチレングリコールモノメタアクリレート(日本油脂(株)商品名:ブレンマーPNEシリーズ)、ノニルフェノキシポリプロピレングリコールモノメタアクリレート(日本油脂(株)商品名:ブレンマーPNPシリーズ)、ノニルフェノキシポリ(エチレングリコール−プロピレングリコール)モノメタアクリレート(日本油脂(株)商品名:ブレンマーPNEP−600)、アクアロンRN−10、RN−20、RN−30、RN−50、RN−2025、HS−05、HS−10、HS−20(第一工業製薬(株)製)などが挙げられる。   Moreover, the reactive surfactant which has a polymerizable unsaturated group can also be used together with the surfactant used by this invention. For example, allyloxy polyethylene glycol monomethacrylate (Nippon Yushi Co., Ltd. trade name: Blenmer PKE series), nonylphenoxy polyethylene glycol monomethacrylate (Nippon Yushi Co., Ltd. trade name: Blenmer PNE series), nonylphenoxy polypropylene glycol monometa. Acrylate (Nippon Yushi Co., Ltd. trade name: Blenmer PNP series), Nonylphenoxy poly (ethylene glycol-propylene glycol) monomethacrylate (Nippon Yushi Co., Ltd. trade name: Blenmer PNEP-600), Aqualon RN-10, RN- 20, RN-30, RN-50, RN-2025, HS-05, HS-10, HS-20 (Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.) and the like.

<有機溶剤>
本発明の光硬化性組成物は、有機溶剤の少なくとも1種を含有してもよい。
前記有機溶剤としては、例えば、メタノール、エタノール等のアルコール類;テトラヒドロフラン等のエーテル類;エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールメチルエチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル等のグリコールエーテル類;メチルセロソルブアセテート、エチルセロソルブアセテート等のエチレングリコールアルキルエーテルアセテート類;ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールエチルメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル等のジエチレングリコール類;プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート等のプロピレングリコールアルキルエーテルアセテート類;
<Organic solvent>
The photocurable composition of the present invention may contain at least one organic solvent.
Examples of the organic solvent include alcohols such as methanol and ethanol; ethers such as tetrahydrofuran; glycol ethers such as ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol methyl ethyl ether, and ethylene glycol monoethyl ether; methyl cellosolve Ethylene glycol alkyl ether acetates such as acetate and ethyl cellosolve acetate; diethylene glycols such as diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol ethyl methyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, and diethylene glycol monobutyl ether; propylene glycol Monomethyl ether acetate, propylene glycol alkyl ether acetates such as propylene glycol monomethyl ether acetate;

トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類;アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、4−ヒドロキシ−4−メチル−2−ペンタノン、2−ヘプタノン等のケトン類;2−ヒドロキシプロピオン酸エチル、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオン酸メチル、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオン酸エチル、エトキシ酢酸エチル、ヒドロキシ酢酸エチル、2−ヒドロキシ−2−メチルブタン酸メチル、3−メトキシプロピオン酸メチル、3−メトキシプロピオン酸エチル、3−エトキシプロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、乳酸メチル、乳酸エチル等の乳酸エステル類等のエステル類などが挙げられる。 Aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; Ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone, 4-hydroxy-4-methyl-2-pentanone, 2-heptanone; ethyl 2-hydroxypropionate, 2-hydroxy-2- Methyl methylpropionate, ethyl 2-hydroxy-2-methylpropionate, ethyl ethoxyacetate, ethyl hydroxyacetate, methyl 2-hydroxy-2-methylbutanoate, methyl 3-methoxypropionate, ethyl 3-methoxypropionate, 3- Examples thereof include esters such as methyl ethoxypropionate, ethyl 3-ethoxypropionate, ethyl acetate, butyl acetate, methyl lactate, and lactate such as ethyl lactate.

さらに、N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N−メチルホルム
アニリド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン、ジメチルスルホキシド、ベンジルエチルエーテル、ジヘキシルエーテル、アセトニルアセトン、イソホロン、カプロン酸、カプリル酸、1−オクタノール、1−ノナノール、ベンジルアルコール、酢酸ベンジル、安息香酸エチル、シュウ酸ジエチル、マレイン酸ジエチル、γ−ブチロラクトン、炭酸エチレン、炭酸プロピレン、フェニルセロソルブアセテート等の高沸点溶剤を添加することもできる。これらは1種を単独使用してもよく、2種類以上を併用しても構わない。
Further, N-methylformamide, N, N-dimethylformamide, N-methylformanilide, N-methylacetamide, N, N-dimethylacetamide, N-methylpyrrolidone, dimethylsulfoxide, benzylethyl ether, dihexyl ether, acetonylacetone , Isophorone, caproic acid, caprylic acid, 1-octanol, 1-nonanol, benzyl alcohol, benzyl acetate, ethyl benzoate, diethyl oxalate, diethyl maleate, γ-butyrolactone, ethylene carbonate, propylene carbonate, phenyl cellosolve acetate, etc. A high boiling point solvent can also be added. These may be used alone or in combination of two or more.

これらの中でも、メトキシプロピレングリコールアセテート、2−ヒドロキシプロピン
酸エチル、3−メトキシプロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、乳酸エチル、シクロヘキサノン、メチルイソブチルケトン、2−ヘプタノンなどが特に好ましい。
Among these, methoxypropylene glycol acetate, ethyl 2-hydroxypropionate, methyl 3-methoxypropionate, ethyl 3-ethoxypropionate, ethyl lactate, cyclohexanone, methyl isobutyl ketone, 2-heptanone and the like are particularly preferable.

なお、本発明の光硬化性組成物は、調製時における水分量が好ましくは2.0質量%以下、より好ましくは1.5質量%、さらに好ましくは1.0質量%以下である。調製時における水分量を2.0質量%以下とすることにより、本発明の光硬化性組成物の保存安定性をより安定にすることができる。   In addition, the water content at the time of preparation of the photocurable composition of the present invention is preferably 2.0% by mass or less, more preferably 1.5% by mass, and further preferably 1.0% by mass or less. By making the water content at the time of preparation 2.0% by mass or less, the storage stability of the photocurable composition of the present invention can be made more stable.

また、本発明の光硬化性組成物は、有機溶剤の含有量が、全光硬化性組成物中、3質量%以下であることが好ましい。
すなわち、本発明の光硬化性組成物は、好ましくは特定の1官能およびまたは2官能の単量体を反応性希釈剤として含む場合には、本発明の光硬化性組成物の成分を溶解させるための有機溶剤は、必ずしも含有する必要がない。また、有機溶剤を含まなければ、溶剤の揮発を目的としたベーキング工程が不要となるため、プロセス簡略化に有効となるなどのメリットが大きい。従って、本発明の光硬化性組成物では、有機溶剤の含有量は、好ましくは3質量%以下、より好ましくは2質量%以下であり、含有しないことが特に好ましい。
Moreover, it is preferable that content of the organic solvent is 3 mass% or less in the photocurable composition of this invention in all the photocurable compositions.
That is, the photocurable composition of the present invention preferably dissolves the components of the photocurable composition of the present invention when a specific monofunctional or bifunctional monomer is included as a reactive diluent. Therefore, it is not always necessary to contain the organic solvent. In addition, if an organic solvent is not included, a baking process for the purpose of volatilization of the solvent is not necessary, so that there is a great merit that it is effective for simplifying the process. Therefore, in the photocurable composition of the present invention, the content of the organic solvent is preferably 3% by mass or less, more preferably 2% by mass or less, and particularly preferably not contained.

このように、本発明の光硬化性組成物は、必ずしも、有機溶剤を含むものではないが、反応性希釈剤では、溶解しない化合物などを本発明の光硬化性組成物として溶解させる場合や粘度を微調整する際など、任意に添加できる。本発明の光硬化性組成物に好ましく使用できる有機溶剤の種類としては、光硬化性組成物やフォトレジストで一般的に用いられている溶剤であり、本発明で用いる化合物を溶解および均一分散させるものであれば良く、かつこれらの成分と反応しないものであれば特に限定されない。   As described above, the photocurable composition of the present invention does not necessarily contain an organic solvent. However, the reactive diluent does not dissolve a compound that does not dissolve in the photocurable composition of the present invention or has a viscosity. It can be added arbitrarily, for example, when finely adjusting. The organic solvent that can be preferably used in the photocurable composition of the present invention is a solvent generally used in a photocurable composition or a photoresist, and dissolves and uniformly disperses the compound used in the present invention. Any material can be used as long as it does not react with these components.

<その他の成分>
本発明の光硬化性組成物には前記成分の他に必要に応じ、離型剤、シランカップリング剤、重合禁止剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、光安定剤、老化防止剤、可塑剤、密着促進剤、熱重合開始剤、着色剤、無機粒子、エラストマー粒子、酸化防止剤、光酸増殖剤、光塩基発生剤、塩基性化合物、流動調整剤、消泡剤、分散剤等のその他の成分を含有してもよい。
<Other ingredients>
In addition to the above components, the photocurable composition of the present invention may include a release agent, a silane coupling agent, a polymerization inhibitor, an antioxidant, an ultraviolet absorber, a light stabilizer, an antiaging agent, and a plasticizer as necessary. , Adhesion promoters, thermal polymerization initiators, colorants, inorganic particles, elastomer particles, antioxidants, photoacid multipliers, photobase generators, basic compounds, flow regulators, antifoaming agents, dispersants, etc. These components may be contained.

(離型剤)
離型性をさらに向上する目的で、本発明の光硬化性組成物には、離型剤を任意に配合することができる。具体的には、本発明の光硬化性組成物の層に押し付けたモールドを、樹脂層の面荒れや版取られを起こさずにきれいに剥離できるようにする目的で添加される。離型剤としては従来公知の離型剤、例えば、シリコーン系離型剤、ポリエチレンワックス、アミドワックス、テフロンパウダー(テフロンは登録商標)等の固形ワックス、弗素系、リン酸エステル系化合物等が何れも使用可能である。また、これらの離型剤をモールドに付着させておくこともできる。
(Release agent)
For the purpose of further improving the releasability, a release agent can be arbitrarily blended in the photocurable composition of the present invention. Specifically, it is added for the purpose of enabling the mold pressed against the layer of the photocurable composition of the present invention to be peeled cleanly without causing the resin layer to become rough or take off the plate. Examples of the release agent include conventionally known release agents, for example, silicone-type release agents, polyethylene wax, amide wax, solid wax such as Teflon powder (Teflon is a registered trademark), fluorine-type, phosphate ester-type compounds, etc. Can also be used. Moreover, these mold release agents can be attached to the mold.

シリコーン系離型剤は、本発明で用いられる上記光硬化性樹脂と組み合わせた時にモールドからの離型性が特に良好であり、版取られ現象が起こり難くなる。シリコーン系離型剤は、オルガノポリシロキサン構造を基本構造とする離型剤であり、例えば、未変性または変性シリコーンオイル、トリメチルシロキシケイ酸を含有するポリシロキサン、シリコーン系アクリル樹脂等が該当する。   Silicone release agents have particularly good release properties from the mold when combined with the above-mentioned photocurable resin used in the present invention, and the phenomenon of taking a plate hardly occurs. The silicone release agent is a release agent having an organopolysiloxane structure as a basic structure, and examples thereof include unmodified or modified silicone oil, polysiloxane containing trimethylsiloxysilicic acid, and silicone acrylic resin.

変性シリコーンオイルは、ポリシロキサンの側鎖および/または末端を変性したものであり、反応性シリコーンオイルと非反応性シリコーンオイルとに分けられる。反応性シリコーンオイルとしては、アミノ変性、エポキシ変性、カルボキシル変性、カルビノール変性、メタクリル変性、メルカプト変性、フェノール変性、片末端反応性、異種官能基変性等が挙げられる。非反応性シリコーンオイルとしては、ポリエーテル変性、メチルスチリル変性、アルキル変性、高級脂肪エステル変性、親水性特殊変性、高級アルコキシ変性、高級脂肪酸変性、フッ素変性等が挙げられる。
一つのポリシロキサン分子に上記したような変性方法の2つ以上を行うこともできる。
The modified silicone oil is obtained by modifying the side chain and / or terminal of polysiloxane, and is classified into a reactive silicone oil and a non-reactive silicone oil. Examples of the reactive silicone oil include amino modification, epoxy modification, carboxyl modification, carbinol modification, methacryl modification, mercapto modification, phenol modification, one-end reactivity, and different functional group modification. Examples of the non-reactive silicone oil include polyether modification, methylstyryl modification, alkyl modification, higher fatty ester modification, hydrophilic special modification, higher alkoxy modification, higher fatty acid modification, and fluorine modification.
Two or more of the above-described modification methods can be performed on one polysiloxane molecule.

変性シリコーンオイルは光硬化性組成物成分との適度な相溶性があることが好ましい。特に、光硬化性組成物中に必要に応じて配合される他の塗膜形成成分に対して反応性がある反応性シリコーンオイルを用いる場合には、本発明の光硬化性組成物を硬化した硬化膜中に化学結合よって固定されるので、当該硬化膜の密着性阻害、汚染、劣化等の問題が起き難い。特に、蒸着工程での蒸着層との密着性向上には有効である。また、(メタ)アクリロイル変性シリコーン、ビニル変性シリコーン等の、光硬化性を有する官能基で変性されたシリコーンの場合は、本発明の光硬化性組成物と架橋するため、硬化後の特性に優れる。   The modified silicone oil preferably has moderate compatibility with the photocurable composition component. In particular, when using a reactive silicone oil that is reactive with other coating-forming components blended in the photocurable composition as necessary, the photocurable composition of the present invention was cured. Since they are fixed in the cured film by chemical bonding, problems such as adhesion inhibition, contamination, and deterioration of the cured film are unlikely to occur. In particular, it is effective for improving the adhesion with the vapor deposition layer in the vapor deposition step. In addition, in the case of silicone modified with a photocurable functional group such as (meth) acryloyl-modified silicone, vinyl-modified silicone, etc., since it crosslinks with the photocurable composition of the present invention, it has excellent properties after curing. .

トリメチルシロキシケイ酸を含有するポリシロキサンは表面にブリードアウトし易く離型性に優れており、表面にブリードアウトしても密着性に優れ、金属蒸着やオーバーコート層との密着性にも優れている点で好ましい。
上記離型剤は1種類のみ或いは2種類以上を組み合わせて添加することができる。
Polysiloxane containing trimethylsiloxysilicic acid is easy to bleed out on the surface and has excellent releasability, excellent adhesion even when bleeding out on the surface, and excellent adhesion to metal deposition and overcoat layer This is preferable.
The said mold release agent can be added only in 1 type or in combination of 2 or more types.

離型剤を本発明の光硬化性組成物に添加する場合、光硬化性組成物全量中に0.001〜10質量%の割合で配合することが好ましく、0.01〜5質量%の範囲で添加することがより好ましい。離型剤の割合が0.01質量%以上だと、モールドと光硬化性組成物層の離型性向上効果が充分となる。一方、離型剤の割合が上記範囲を10質量%以内だと、光硬化性組成物の塗工時のはじきによる塗膜面の面荒れの問題が生じにくく、製品において基材自身および近接する層、例えば、蒸着層の密着性を阻害しにくく、転写時に皮膜破壊等(膜強度が弱くなりすぎる)を引き起こしにくい等の点で好ましい。   When adding a mold release agent to the photocurable composition of the present invention, it is preferable to add 0.001 to 10% by mass in the total amount of the photocurable composition, and a range of 0.01 to 5% by mass. It is more preferable to add at. When the ratio of the release agent is 0.01% by mass or more, the effect of improving the mold release between the mold and the photocurable composition layer is sufficient. On the other hand, if the ratio of the release agent is within the above range of 10% by mass, the problem of surface roughness of the coating film due to repelling during the application of the photocurable composition hardly occurs, and the substrate itself and the proximity in the product. It is preferable in that the adhesion of the layer, for example, the vapor deposition layer is hardly hindered and the film is not easily broken during transfer (the film strength is too weak).

(有機金属カップリング剤)
本発明の光硬化性組成物には、微細凹凸パターンを有する表面構造の耐熱性、強度、或いは、金属蒸着層との密着性を高めるために、有機金属カップリング剤を配合してもよい。また、有機金属カップリング剤は、熱硬化反応を促進させる効果も持つため有効である。有機金属カップリング剤としては、例えば、シランカップリング剤、チタンカップリング剤、ジルコニウムカップリング剤、アルミニウムカップリング剤、スズカップリング剤等の各種カップリング剤を使用できる。
(Organic metal coupling agent)
In the photocurable composition of the present invention, an organic metal coupling agent may be blended in order to increase the heat resistance, strength, or adhesion of the surface structure having a fine uneven pattern to the metal deposition layer. In addition, the organometallic coupling agent is effective because it has an effect of promoting the thermosetting reaction. As the organometallic coupling agent, for example, various coupling agents such as a silane coupling agent, a titanium coupling agent, a zirconium coupling agent, an aluminum coupling agent, and a tin coupling agent can be used.

本発明の光硬化性組成物に用いるシランカップリング剤としては、例えば、ビニルトリクロロシラン、ビニルトリス(β−メトキシエトキシ)シラン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン等のビニルシラン;γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、γ−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン等のアクリルシラン;β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン等のエポキシシラン;N−β−(アミノエチル)−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−β−(アミノエチル)−γ−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−フェニル−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン等のアミノシラン;および、その他のシランカップリング剤として、γ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、γ−クロロプロピルメチルジメトキシシラン、γ−クロロプロピルメチルジエトキシシラン等が挙げられる。   Examples of the silane coupling agent used in the photocurable composition of the present invention include vinyl silanes such as vinyltrichlorosilane, vinyltris (β-methoxyethoxy) silane, vinyltriethoxysilane, and vinyltrimethoxysilane; γ-methacryloxypropyl Acrylic silanes such as trimethoxysilane and γ-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane; β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropylmethyldi Epoxy silanes such as ethoxysilane; N-β- (aminoethyl) -γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-β- (aminoethyl) -γ-aminopropylmethyldimethoxysilane, γ-aminopropyltrimethoxysilane, N -Phenyl -Aminosilane such as γ-aminopropyltrimethoxysilane; and other silane coupling agents include γ-mercaptopropyltrimethoxysilane, γ-chloropropylmethyldimethoxysilane, γ-chloropropylmethyldiethoxysilane, and the like. .

チタンカップリング剤としては、例えば、イソプロピルトリイソステアロイルチタネート、イソプロピルトリドデシルベンゼンスルホニルチタネート、イソプロピルトリス(ジオクチルパイロホスフェート)チタネート、テトライソプロピルビス(ジオクチルホスファイト)チタネート、テトラオクチルビス(ジトリデシルホスファイト)チタネート、テトラ(2,2−ジアリルオキシメチル)ビス(ジトリデシル)ホスファイトチタネート、ビス(ジオクチルパイロホスフェート)オキシアセテートチタネート、ビス(ジオクチルパイロホスフェート)エチレンチタネート、イソプロピルトリオクタノイルチタネート、イソプロピルジメタクリルイソステアロイルチタネート、イソプロピルイソステアロイルジアクリルチタネート、イソプロピルトリ(ジオクチルホスフェート)チタネート、イソプロピルトリクミルフェニルチタネート、イソプロピルトリ(N−アミノエチル・アミノエチル)チタネート、ジクミルフェニルオキシアセテートチタネート、ジイソステアロイルエチレンチタネート等が挙げられる。   Examples of titanium coupling agents include isopropyl triisostearoyl titanate, isopropyl tridodecylbenzenesulfonyl titanate, isopropyl tris (dioctyl pyrophosphate) titanate, tetraisopropyl bis (dioctyl phosphite) titanate, tetraoctyl bis (ditridecyl phosphite) Titanate, tetra (2,2-diallyloxymethyl) bis (ditridecyl) phosphite titanate, bis (dioctylpyrophosphate) oxyacetate titanate, bis (dioctylpyrophosphate) ethylene titanate, isopropyltrioctanoyl titanate, isopropyldimethacrylisostearoyl Titanate, isopropyl isostearoyl diacryl titanate, isop Pirutori (dioctyl phosphate) titanate, isopropyl tricumylphenyl titanate, isopropyl tri (N- aminoethyl-aminoethyl) titanate, dicumyl phenyloxy acetate titanate, diisostearoyl ethylene titanate.

ジルコニウムカップリング剤としては、例えば、テトラ−n−プロポキシジルコニウム、テトラ−ブトキシジルコニウム、ジルコニウムテトラアセチルアセトネート、ジルコニウムジブトキシビス(アセチルアセトネート)、ジルコニウムトリブトキシエチルアセトアセテート、ジルコニウムブトキシアセチルアセトネートビス(エチルアセトアセテート)等が挙げられる。   Examples of the zirconium coupling agent include tetra-n-propoxyzirconium, tetra-butoxyzirconium, zirconium tetraacetylacetonate, zirconium dibutoxybis (acetylacetonate), zirconium tributoxyethyl acetoacetate, zirconium butoxyacetylacetonate bis. (Ethyl acetoacetate) and the like.

アルミニウムカップリング剤としては、例えば、アルミニウムイソプロピレート、モノsec−ブトキシアルミニウムジイソプロピレート、アルミニウムsec−ブチレート、アルミニウムエチレート、エチルアセトアセテエートアルミニウムジイソプロピレート、アルミニウムトリス(エチルアセトアセテート)、アルキルアセトアセテートアルミニウムジイソプロピレート、アルミニウムモノアセチルアセトネートビス(エチルアセトアセテート)、アルミニウムトリス(アセチルアセトアセテート)等を挙げることができる。   Examples of the aluminum coupling agent include aluminum isopropylate, monosec-butoxyaluminum diisopropylate, aluminum sec-butyrate, aluminum ethylate, ethylacetoacetate aluminum diisopropylate, aluminum tris (ethylacetoacetate), alkylacetate Acetate aluminum diisopropylate, aluminum monoacetylacetonate bis (ethyl acetoacetate), aluminum tris (acetylacetoacetate) and the like can be mentioned.

上記有機金属カップリング剤は、光硬化性組成物の固形分全量中に0.001〜10質量%の割合で任意に配合できる。有機金属カップリング剤の割合を0.001質量%以上とすることにより、耐熱性、強度、蒸着層との密着性の付与の向上についてより効果的な傾向にある。一方、有機金属カップリング剤の割合を10質量%以下とすることにより、光硬化性組成物の安定性、成膜性の欠損を抑止できる傾向にあり好ましい。   The said organometallic coupling agent can be arbitrarily mix | blended in the ratio of 0.001-10 mass% in solid content whole quantity of a photocurable composition. By setting the ratio of the organometallic coupling agent to 0.001% by mass or more, there is a tendency to be more effective in improving heat resistance, strength, and adhesion with the vapor deposition layer. On the other hand, it is preferable that the ratio of the organometallic coupling agent is 10% by mass or less because the stability of the photocurable composition and the deficiency in film formability can be suppressed.

(重合禁止剤)
本発明の光硬化性組成物には、貯蔵安定性等を向上させるために、重合禁止剤を配合してもよい。重合禁止剤としては、例えば、ハイドロキノン、tert−ブチルハイドロキノン、カテコール、ハイドロキノンモノメチルエーテル等のフェノール類;ベンゾキノン、ジフェニルベンゾキノン等のキノン類;フェノチアジン類;銅類等を用いることができる。重合禁止剤は、光硬化性組成物の全量に対して任意に0.001〜10質量%の割合で配合するのが好ましい。
(Polymerization inhibitor)
The photocurable composition of the present invention may contain a polymerization inhibitor in order to improve storage stability and the like. Examples of the polymerization inhibitor include phenols such as hydroquinone, tert-butylhydroquinone, catechol, and hydroquinone monomethyl ether; quinones such as benzoquinone and diphenylbenzoquinone; phenothiazines; coppers and the like. The polymerization inhibitor is preferably blended arbitrarily in a proportion of 0.001 to 10% by mass with respect to the total amount of the photocurable composition.

(酸化防止剤)
酸化防止剤の市販品としては、Irganox1010、1035、1076、1222(以上、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製)、Antigene P、3C、FR、スミライザーS(住友化学工業製)等が挙げられる。酸化防止剤は、光硬化性組成物の全量に対し、0.01〜10質量%の割合で配合するのが好ましい。
(Antioxidant)
Examples of commercially available antioxidants include Irganox 1010, 1035, 1076, 1222 (manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.), Antigene P, 3C, FR, and Sumilyzer S (manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.). The antioxidant is preferably blended at a ratio of 0.01 to 10% by mass with respect to the total amount of the photocurable composition.

(紫外線吸収剤)
紫外線吸収剤の市販品としては、Tinuvin P、234、320、326、32
7、328、213(以上、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製)、Sumisorb110、130、140、220、250、300、320、340、350、400(以上、住友化学工業(株)製)等が挙げられる。紫外線吸収剤は、光硬化性組成物の全量に対して任意に0.01〜10質量%の割合で配合するのが好ましい。
(UV absorber)
Commercially available UV absorbers include Tinuvin P, 234, 320, 326, 32
7, 328, 213 (above, manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.), Sumisorb 110, 130, 140, 220, 250, 300, 320, 340, 350, 400 (above, manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.), etc. Is mentioned. It is preferable to mix | blend a ultraviolet absorber arbitrarily in the ratio of 0.01-10 mass% with respect to the whole quantity of a photocurable composition.

光安定剤の市販品としては、Tinuvin 292、144、622LD(以上、チ
バガイギー(株)製)、サノールLS−770、765、292、2626、1114、744(以上、三共化成工業(株)製)等が挙げられる。光安定剤は光硬化性組成物の全量に対し、0.01〜10質量%の割合で配合するのが好ましい。
Commercially available light stabilizers include Tinuvin 292, 144, 622LD (above, manufactured by Ciba Geigy Co., Ltd.), Sanol LS-770, 765, 292, 2626, 1114, 744 (above, manufactured by Sankyo Kasei Kogyo Co., Ltd.) Etc. The light stabilizer is preferably blended at a ratio of 0.01 to 10% by mass with respect to the total amount of the photocurable composition.

老化防止剤の市販品としては、Antigene W、S、P、3C、6C、RD−G
、FR、AW(以上、住友化学工業(株)製)等が挙げられる。老化防止剤は光硬化性組成物の全量に対し、0.01〜10質量%の割合で配合するのが好ましい。
Commercially available anti-aging agents include Antigene W, S, P, 3C, 6C, and RD-G.
, FR, AW (above, manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.) and the like. The anti-aging agent is preferably blended at a ratio of 0.01 to 10% by mass with respect to the total amount of the photocurable composition.

(可塑剤)
本発明の光硬化性組成物には基板との接着性や膜の柔軟性、硬度等を調整するために可塑剤を加えることが可能である。好ましい可塑剤の具体例としては、例えばジオクチルフタレート、ジドデシルフタレート、トリエチレングリコールジカプリレート、ジメチルグリコールフタレート、トリクレジルホスフェート、ジオクチルアジペート、ジブチルセバケート、トリアセチルグリセリン、ジメチルアジペート、ジエチルアジペート、ジ(n−ブチル)アジペート、ジメチルスベレート、ジエチルスベレート、ジ(n−ブチル)スベレート等があり、可塑剤は光硬化性組成物中の30質量%以下で任意に添加することができる。好ましくは20質量%以下で、より好ましくは10質量%以下である。可塑剤の添加効果を得るためには、0.1質量%以上が好ましい。
(Plasticizer)
A plasticizer can be added to the photocurable composition of the present invention in order to adjust adhesion to the substrate, flexibility of the film, hardness, and the like. Specific examples of preferred plasticizers include, for example, dioctyl phthalate, didodecyl phthalate, triethylene glycol dicaprylate, dimethyl glycol phthalate, tricresyl phosphate, dioctyl adipate, dibutyl sebacate, triacetyl glycerin, dimethyl adipate, diethyl adipate, There are di (n-butyl) adipate, dimethyl suberate, diethyl suberate, di (n-butyl) suberate and the like, and a plasticizer can be optionally added at 30% by mass or less in the photocurable composition. Preferably it is 20 mass% or less, More preferably, it is 10 mass% or less. In order to obtain the effect of adding a plasticizer, 0.1% by mass or more is preferable.

(密着促進剤)
本発明の光硬化性組成物には基板との接着性等を調整するために密着促進剤を添加してもよい。密着促進剤として、ベンズイミダゾール類やポリベンズイミダゾール類、低級ヒドロキシアルキル置換ピリジン誘導体、含窒素複素環化合物、ウレアまたはチオウレア、有機燐化合物、8−オキシキノリン、4−ヒドロキシプテリジン、1,10−フェナントロリン、2,2’−ビピリジン誘導体、ベンゾトリアゾール類、有機燐化合物とフェニレ
ンジアミン化合物、2−アミノ−1−フェニルエタノール、N−フェニルエタノールアミン、N−エチルジエタノールアミン,N−エチルジエタノールアミン、N−エチルエタノールアミンおよび誘導体、ベンゾチアゾール誘導体などを使用することができる。密着促進剤は、光硬化性組成物中の好ましくは20質量%以下、より好ましくは10質量%以下、さらに好ましくは5質量%以下である。密着促進剤の添加は効果を得るためには、0.1質量%以上が好ましい。
(Adhesion promoter)
An adhesion promoter may be added to the photocurable composition of the present invention in order to adjust adhesion to the substrate. Adhesion promoters include benzimidazoles and polybenzimidazoles, lower hydroxyalkyl-substituted pyridine derivatives, nitrogen-containing heterocyclic compounds, urea or thiourea, organophosphorus compounds, 8-oxyquinoline, 4-hydroxypteridine, 1,10-phenanthroline 2,2′-bipyridine derivatives, benzotriazoles, organic phosphorus compounds and phenylenediamine compounds, 2-amino-1-phenylethanol, N-phenylethanolamine, N-ethyldiethanolamine, N-ethyldiethanolamine, N-ethylethanol Amines and derivatives, benzothiazole derivatives, and the like can be used. The adhesion promoter is preferably 20% by mass or less, more preferably 10% by mass or less, and still more preferably 5% by mass or less in the photocurable composition. The addition of the adhesion promoter is preferably 0.1% by mass or more in order to obtain the effect.

(熱重合開始剤)
本発明の光硬化性組成物を硬化させる場合、必要に応じて熱重合開始剤も添加することができる。好ましい熱重合開始剤としては、例えば過酸化物、アゾ化合物を挙げることができる。具体例としては、ベンゾイルパーオキサイド、tert−ブチル−パーオキシベンゾエート、アゾビスイソブチロニトリル等を挙げることができる。
(Thermal polymerization initiator)
When hardening the photocurable composition of this invention, a thermal-polymerization initiator can also be added as needed. Preferred examples of the thermal polymerization initiator include peroxides and azo compounds. Specific examples include benzoyl peroxide, tert-butyl-peroxybenzoate, azobisisobutyronitrile, and the like.

(光塩基発生剤)
本発明の光硬化性組成物は、パターン形状、感度等を調整する目的で、必要に応じて光塩基発生剤を添加してもよい。例えば、2−ニトロベンジルシクロヘキシルカルバメート、トリフェニルメタノール、O−カルバモイルヒドロキシルアミド、O−カルバモイルオキシム、[[(2,6−ジニトロベンジル)オキシ]カルボニル]シクロヘキシルアミン、ビス[[(2−ニトロベンジル)オキシ]カルボニル]ヘキサン1,6−ジアミン、4−(メチルチオベンゾイル)−1−メチル−1−モルホリノエタン、(4−モルホリノベンゾイル)−1−ベンジル−1−ジメチルアミノプロパン、N−(2−ニトロベンジルオキシカルボニル)ピロリジン、ヘキサアンミンコバルト(III)トリス(トリフェニルメチルボレート)、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタノン、2,6−ジメチル−3,5−ジアセチル−4−(2’−ニトロフェニル)
−1,4−ジヒドロピリジン、2,6−ジメチル−3,5−ジアセチル−4−(2’,4’−ジニトロフェニル)−1,4−ジヒドロピリジン等が好ましいものとして挙げられる。
(Photobase generator)
The photocurable composition of the present invention may contain a photobase generator as necessary for the purpose of adjusting the pattern shape, sensitivity, and the like. For example, 2-nitrobenzylcyclohexylcarbamate, triphenylmethanol, O-carbamoylhydroxylamide, O-carbamoyloxime, [[(2,6-dinitrobenzyl) oxy] carbonyl] cyclohexylamine, bis [[(2-nitrobenzyl) Oxy] carbonyl] hexane 1,6-diamine, 4- (methylthiobenzoyl) -1-methyl-1-morpholinoethane, (4-morpholinobenzoyl) -1-benzyl-1-dimethylaminopropane, N- (2-nitro Benzyloxycarbonyl) pyrrolidine, hexaamminecobalt (III) tris (triphenylmethylborate), 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone, 2,6-dimethyl-3,5- Diacetyl-4 (2'-nitrophenyl)
Preferred examples include -1,4-dihydropyridine and 2,6-dimethyl-3,5-diacetyl-4- (2 ′, 4′-dinitrophenyl) -1,4-dihydropyridine.

(着色剤)
本発明の光硬化性組成物には、塗膜の視認性を向上するなどの目的で、着色剤を任意に添加してもよい。着色剤は、UVインクジェット組成物、カラーフィルター用組成物およびCCDイメージセンサ用組成物等で用いられている顔料や染料を本発明の目的を損なわない範囲で用いることができる。本発明で用いることができる顔料としては、従来公知の種々の無機顔料または有機顔料を用いることができる。無機顔料としては、金属酸化物、金属錯塩等で示される金属化合物であり、具体的には鉄、コバルト、アルミニウム、カドミウム、鉛、銅、チタン、マグネシウム、クロム、亜鉛、アンチモン等の金属酸化物、金属複合酸化物を挙げることができる。
有機顔料としては、C.I.Pigment Yellow 11, 24, 31, 53, 83, 99, 108, 109, 110, 138, 139,151, 154, 167、C.I.Pigment Orange 36, 38,43、C.I.Pigment Red 105, 122, 149, 150, 155, 171, 175, 176, 177, 209、C.I.Pigment Violet 19, 23, 32, 39、C.I.Pigment Blue 1, 2, 15, 16, 22, 60, 66、C.I.Pigment Green 7, 36, 37、C.I.Pigment Brown 25, 28、C.I.Pigment Black 1, 7および、カーボンブラックを例示できる。
(Coloring agent)
For the purpose of improving the visibility of the coating film, a colorant may be optionally added to the photocurable composition of the present invention. As the colorant, pigments and dyes used in UV inkjet compositions, color filter compositions, CCD image sensor compositions, and the like can be used as long as the object of the present invention is not impaired. As the pigment that can be used in the present invention, conventionally known various inorganic pigments or organic pigments can be used. Examples of inorganic pigments are metal compounds such as metal oxides and metal complex salts. Specifically, metal oxides such as iron, cobalt, aluminum, cadmium, lead, copper, titanium, magnesium, chromium, zinc, and antimony And metal complex oxides.
As organic pigments, CIPigment Yellow 11, 24, 31, 53, 83, 99, 108, 109, 110, 138, 139,151, 154, 167, CIPigment Orange 36, 38, 43, CIPigment Red 105, 122, 149, 150 , 155, 171, 175, 176, 177, 209, CIPigment Violet 19, 23, 32, 39, CIPigment Blue 1, 2, 15, 16, 22, 60, 66, CIPigment Green 7, 36, 37, CIPigment Brown 25 28, CIPigment Black 1, 7 and carbon black.

(フィラー)
本発明の光硬化性組成物には、塗膜の耐熱性、機械的強度、タック性等を向上するなどの目的で、任意成分として、無機微粒子やエラストマー粒子等のフィラーを添加してもよい。
無機微粒子は、超微粒子サイズのものを用いることができる。ここで「超微粒子」とはサブミクロンオーダーの粒子のことであり、一般的に「微粒子」と呼ばれている数μmから数100μmの粒子サイズを有する粒子よりも粒子サイズの小さいものを意味している。本発明において用いられる無機微粒子の具体的なサイズは、光硬化性組成物が適用される光学物品の用途およびグレードによっても相違するが、一般的には一次粒子サイズが1nm〜300nmの範囲のものを用いるのが好ましい一次粒子サイズが1nm以上では、光硬化性組成物の賦型性、形状維持性および離型性を充分に向上させることができ、一方、一次粒子サイズが300nm以下ならば、樹脂の硬化に必要な透明性を保つことができ、透明性の点で好ましい。
(Filler)
For the purpose of improving the heat resistance, mechanical strength, tackiness, etc. of the coating film, fillers such as inorganic fine particles and elastomer particles may be added as optional components to the photocurable composition of the present invention. .
As the inorganic fine particles, those having an ultrafine particle size can be used. Here, “ultrafine particle” means a particle of submicron order, and generally means a particle having a particle size smaller than a particle having a particle size of several μm to several 100 μm, which is generally called “fine particle”. ing. The specific size of the inorganic fine particles used in the present invention varies depending on the use and grade of the optical article to which the photocurable composition is applied, but generally the primary particle size is in the range of 1 nm to 300 nm. When the primary particle size is preferably 1 nm or more, the moldability, shape maintenance and releasability of the photocurable composition can be sufficiently improved, while if the primary particle size is 300 nm or less, The transparency necessary for curing the resin can be maintained, which is preferable in terms of transparency.

無機微粒子の具体例としては、SiO2、TiO2、ZrO2、SnO2、Al23等の金属酸化物微粒子を挙げることができ、これらの中から上記したようにコロイド状分散が可能で且つサブミクロンオーダーの粒子サイズを有するものを選択して用いるのが好ましく、特に、コロイダルシリカ(SiO2)微粒子を用いるのが好ましい。 Specific examples of the inorganic fine particles include metal oxide fine particles such as SiO 2 , TiO 2 , ZrO 2 , SnO 2 , and Al 2 O 3 , among which colloidal dispersion is possible as described above. In addition, it is preferable to select and use a particle having a particle size on the order of submicron, and particularly, it is preferable to use colloidal silica (SiO 2 ) fine particles.

無機微粒子は、光硬化性組成物の固形分全量中に1〜70質量%の割合で配合するのが好ましく、1〜50質量%の割合で配合するのが特に好ましい。無機微粒子の割合を1質量%以上とすることにより、本発明の光硬化性組成物の賦型性、形状維持性および離型性を充分に向上させることができ、無機微粒子の割合を70質量%以下とすると、露光硬化後の強度や表面硬度の点で好ましい。   The inorganic fine particles are preferably blended in a proportion of 1 to 70% by mass and particularly preferably in a proportion of 1 to 50% by mass in the total solid content of the photocurable composition. By setting the proportion of the inorganic fine particles to 1% by mass or more, the moldability, shape maintaining property and releasability of the photocurable composition of the present invention can be sufficiently improved, and the proportion of the inorganic fine particles is set to 70% by mass. % Or less is preferable in terms of strength and surface hardness after exposure and curing.

また、本発明の光硬化性組成物では、機械的強度、柔軟性等を向上するなどの目的で、任意成分としてエラストマー粒子を添加してもよい。
本発明の光硬化性組成物に任意成分として添加できるエラストマー粒子は、平均粒子サイズが好ましくは10nm〜700nm、より好ましくは30〜300nmである。例えばポリブタジエン、ポリイソプレン、ブタジエン/アクリロニトリル共重合体、スチレン/ブタジエン共重合体、スチレン/イソプレン共重合体、エチレン/プロピレン共重合体、エチレン/α−オレフィン系共重合体、エチレン/α−オレフィン/ポリエン共重合体、アクリルゴム、ブタジエン/(メタ)アクリル酸エステル共重合体、スチレン/ブタジエンブロック共重合体、スチレン/イソプレンブロック共重合体などのエラストマーの粒子である。またこれらエラストマー粒子を、メチルメタアクリレートポリマー、メチルメタアクリレート/グリシジルメタアクリレート共重合体などで被覆したコア/シェル型の粒子を用いることができる。エラストマー粒子は架橋構造をとっていてもよい。
In the photocurable composition of the present invention, elastomer particles may be added as an optional component for the purpose of improving mechanical strength, flexibility and the like.
The elastomer particles that can be added as an optional component to the photocurable composition of the present invention preferably have an average particle size of 10 nm to 700 nm, more preferably 30 to 300 nm. For example, polybutadiene, polyisoprene, butadiene / acrylonitrile copolymer, styrene / butadiene copolymer, styrene / isoprene copolymer, ethylene / propylene copolymer, ethylene / α-olefin copolymer, ethylene / α-olefin / Particles of elastomer such as polyene copolymer, acrylic rubber, butadiene / (meth) acrylic ester copolymer, styrene / butadiene block copolymer, styrene / isoprene block copolymer. Further, core / shell type particles in which these elastomer particles are coated with a methyl methacrylate polymer, a methyl methacrylate / glycidyl methacrylate copolymer or the like can be used. The elastomer particles may have a crosslinked structure.

エラストマー粒子の市販品としては、例えば、レジナスボンドRKB(レジナス化成(株)製)、テクノMBS−61、MBS−69(以上、テクノポリマー(株)製)等を挙げることができる。   Examples of commercially available elastomer particles include Resin Bond RKB (manufactured by Resinas Kasei Co., Ltd.), Techno MBS-61, MBS-69 (manufactured by Techno Polymer Co., Ltd.), and the like.

これらエラストマー粒子は単独で、または2種以上組み合わせて使用することができる。本発明の光硬化性組成物におけるエラストマー成分の含有割合は、好ましくは1〜35質量%であり、より好ましくは2〜30質量%、特に好ましくは3〜20質量%である。   These elastomer particles can be used alone or in combination of two or more. The content of the elastomer component in the photocurable composition of the present invention is preferably 1 to 35% by mass, more preferably 2 to 30% by mass, and particularly preferably 3 to 20% by mass.

(酸化防止剤)
本発明の光硬化性組成物には、公知の酸化防止剤を含めることができる。酸化防止剤は、光照射による退色およびオゾン、活性酸素、NOx、SOx(Xは整数)などの各種の酸化性ガスによる退色を抑制するものである。このような酸化防止剤としては、ヒドラジド類、ヒンダードアミン系酸化防止剤、含窒素複素環メルカプト系化合物、チオエーテル系酸化防止剤、ヒンダードフェノール系酸化防止剤、アスコルビン酸類、硫酸亜鉛、チオシアン酸塩類、チオ尿素誘導体、糖類、亜硝酸塩、亜硫酸塩、チオ硫酸塩、ヒドロキシルアミン誘導体などを挙げることができる。
(Antioxidant)
The photocurable composition of the present invention can contain a known antioxidant. The antioxidant suppresses fading caused by light irradiation and fading caused by various oxidizing gases such as ozone, active oxygen, NO x , SO x (X is an integer). Examples of such antioxidants include hydrazides, hindered amine antioxidants, nitrogen-containing heterocyclic mercapto compounds, thioether antioxidants, hindered phenol antioxidants, ascorbic acids, zinc sulfate, thiocyanates, Examples include thiourea derivatives, sugars, nitrites, sulfites, thiosulfates, hydroxylamine derivatives, and the like.

(塩基性化合物)
本発明の光硬化性組成物には、硬化収縮の抑制、熱安定性を向上するなどの目的で、塩基性化合物を任意に添加してもよい。塩基性化合物としては、アミンならびにキノリンおよびキノリジンなど含窒素複素環化合物、塩基性アルカリ金属化合物、塩基性アルカリ土類金属化合物などが挙げられる。これらの中でも、光重合成モノマーとの相溶性の面からアミンが好ましく、例えば、オクチルアミン、ナフチルアミン、キシレンジアミン、ジベンジルアミン、ジフェニルアミン、ジブチルアミン、ジオクチルアミン、ジメチルアニリン、キヌクリジン、トリブチルアミン、トリオクチルアミン、テトラメチルエチレンジアミン、テトラメチル−1,6−ヘキサメチレンジアミン、ヘキサメチレンテトラミンおよびトリエタノールアミンなどが挙げられる。
(Basic compound)
A basic compound may be optionally added to the photocurable composition of the present invention for the purpose of suppressing curing shrinkage and improving thermal stability. Examples of the basic compound include amines and nitrogen-containing heterocyclic compounds such as quinoline and quinolidine, basic alkali metal compounds, basic alkaline earth metal compounds, and the like. Among these, amine is preferable from the viewpoint of compatibility with the photopolymerization monomer, for example, octylamine, naphthylamine, xylenediamine, dibenzylamine, diphenylamine, dibutylamine, dioctylamine, dimethylaniline, quinuclidine, tributylamine, Examples include octylamine, tetramethylethylenediamine, tetramethyl-1,6-hexamethylenediamine, hexamethylenetetramine, and triethanolamine.

(酸増殖剤)
本発明では、エネルギー線によって酸を発生するカチオン重合開始剤に、発生した酸の作用によって新たに自己触媒的に酸を発生する物質(以下酸増殖剤という)を組み合わせることにより、硬化速度を向上させることもできる。酸増殖剤としては、例えば、特開平08−248561号公報、特開平10−1508号公報、特許第3102640号公報に開示の化合物、具体的には、1,4−ビス(p−トルエンスルホニルオキシ)シクロヘキサン、1,4−ビス(p−トルエンスルホニルオキシ)シクロヘキサン、シス−3−(p−トルエンスルホニルオキシ)−2−ピナノール、シス−3−(p−オクタンスルホニルオキシ)−2−ピナノールが挙げられる。市販の化合物としては、アクプレス11M(日本ケミックス社製)などが挙げられる。
(Acid growth agent)
In the present invention, the cationic polymerization initiator that generates acid by energy rays is combined with a substance (hereinafter referred to as an acid proliferation agent) that newly generates an acid by the action of the generated acid to improve the curing rate. It can also be made. Examples of the acid proliferating agent include compounds disclosed in JP-A-08-248561, JP-A-10-1508 and JP-A-3106640, specifically 1,4-bis (p-toluenesulfonyloxy). ) Cyclohexane, 1,4-bis (p-toluenesulfonyloxy) cyclohexane, cis-3- (p-toluenesulfonyloxy) -2-pinanol, cis-3- (p-octanesulfonyloxy) -2-pinanol It is done. Examples of commercially available compounds include ACPRESS 11M (manufactured by Nippon Chemix Co., Ltd.).

<本発明の光硬化性組成物の好ましい組み合わせ>
本発明の光硬化性組成物の各成分について、種類や含有量の組み合わせを最適化することにより、表面及び内部の硬化性、並びに、モールドからの剥離性をさらに向上させることができる
<Preferable combination of the photocurable composition of the present invention>
About each component of the photocurable composition of this invention, by optimizing the combination of a kind and content, the surface and internal sclerosis | hardenability, and the peelability from a mold can further be improved.

上記効果をより効果的に得る観点からは、(b)光重合開始剤と、(c)界面活性光重合開始剤と、の好ましい組み合わせとしては、(b)光重合開始剤が、2,4−ビス−(トリクロロエチル)−6−[4’−(N,N−ビスエトキシカルボニルメチルアミノ)−3’−ブロモフェニル]−s−トリアジン、Irgacure−184、Irgacure−651、Irgacure−369、Irgacure−907、Darocure−1173、Lucirin TPO、Lucirin TPO−L、MP−トリアジン,TAZ−108、ビス(4−メチルフェニル)ヨードニウム、ジフェニル−4−チオフェノキシフェニルスルホニウムなどであって、(c)界面活性光重合開始剤が、トリハロメチル−s−トリアジン化合物から誘導される基と、炭素数1〜16のフッ化アルキル基、ケイ素数2〜20のポリメチルシロキサン基又は炭素数4〜20のアルキル基と、を有する化合物(例えば、例示化合物9、30、31など)である組み合わせが好ましく、(b)光重合開始剤が、2,4−ビス−(トリクロロエチル)−6−[4’−(N,N−ビスエトキシカルボニルメチルアミノ)−3’−ブロモフェニル]−s−トリアジン、Lucirin TPO、Darocure−1173、Irgacure−651、Irgacure−369、Irgacure−907、Lucirin TPO−Lであって、(c)界面活性光重合開始剤が、トリハロメチル−s−トリアジン化合物から誘導される基と、炭素数1〜16のフッ化アルキル基と、を有する化合物(例えば、例示化合物30など)である組み合わせがより好ましい。   From the viewpoint of obtaining the above effect more effectively, as a preferable combination of (b) a photopolymerization initiator and (c) a surface-active photopolymerization initiator, (b) a photopolymerization initiator is 2, 4 -Bis- (trichloroethyl) -6- [4 '-(N, N-bisethoxycarbonylmethylamino) -3'-bromophenyl] -s-triazine, Irgacure-184, Irgacure-651, Irgacure-369, Irgacure -907, Darocure-1173, Lucirin TPO, Lucirin TPO-L, MP-triazine, TAZ-108, bis (4-methylphenyl) iodonium, diphenyl-4-thiophenoxyphenylsulfonium, etc., (c) surface activity Whether the photopolymerization initiator is a trihalomethyl-s-triazine compound A compound having a group derived from the above and a fluorinated alkyl group having 1 to 16 carbon atoms, a polymethylsiloxane group having 2 to 20 silicon atoms, or an alkyl group having 4 to 20 carbon atoms (for example, Exemplified Compounds 9, 30) And (b) the photopolymerization initiator is 2,4-bis- (trichloroethyl) -6- [4 ′-(N, N-bisethoxycarbonylmethylamino) -3 ′. -Bromophenyl] -s-triazine, Lucirin TPO, Darocure-1173, Irgacure-651, Irgacure-369, Irgacure-907, Lucirin TPO-L, (c) the surfactant photopolymerization initiator is trihalomethyl- A compound having a group derived from an s-triazine compound and a fluorinated alkyl group having 1 to 16 carbon atoms A combination that is (for example, exemplified compound 30) is more preferable.

また、上記効果をより効果的に得る観点からは、含有量比〔((c)界面活性光重合開始剤)/((b)光重合開始剤)〕(質量比)としては、0.1〜1.0が好ましい。   From the viewpoint of obtaining the above effect more effectively, the content ratio [((c) surfactant photopolymerization initiator) / ((b) photopolymerization initiator)] (mass ratio) is 0.1. -1.0 is preferred.

また、上記効果をより効果的に得る観点からは、(c)界面活性光重合開始剤と、(d)界面活性剤と、の好ましい組み合わせとしては、(c)界面活性光重合開始剤が、トリハロメチル−s−トリアジン化合物から誘導される基と、炭素数1〜16のフッ化アルキル基、ケイ素数2〜20のポリメチルシロキサン基又は炭素数4〜20のアルキル基と、を有する化合物(例えば、例示化合物9、30、31など)であって、(d)界面活性剤が、フッ素系界面活性剤及びシリコーン系界面活性剤から選ばれる少なくとも1種である組み合わせが好ましく、(c)界面活性光重合開始剤が、トリハロメチル−s−トリアジン化合物から誘導される基と、炭素数1〜16のフッ化アルキル基と、を有する化合物(例えば、例示化合物30など)であって、(d)界面活性剤が、フッ素系界面活性剤及びシリコーン系界面活性剤から選ばれる少なくとも1種である組み合わせがより好ましい。   Moreover, from the viewpoint of obtaining the above effect more effectively, as a preferable combination of (c) a surfactant photopolymerization initiator and (d) a surfactant, (c) a surfactant photopolymerization initiator is A compound having a group derived from a trihalomethyl-s-triazine compound and a fluorinated alkyl group having 1 to 16 carbon atoms, a polymethylsiloxane group having 2 to 20 silicon atoms, or an alkyl group having 4 to 20 carbon atoms ( For example, a combination in which (d) the surfactant is at least one selected from a fluorine-based surfactant and a silicone-based surfactant is preferable, and (c) an interface A compound in which the active photopolymerization initiator has a group derived from a trihalomethyl-s-triazine compound and a fluorinated alkyl group having 1 to 16 carbon atoms (for example, exemplified compound 30) There are, (d) surfactant combination is at least one selected from fluorine-based surfactants and silicone-based surfactants are more preferable.

また、上記効果をより効果的に得る観点からは、含有量比〔((d)界面活性剤)/((c)界面活性光重合開始剤)〕(質量比)としては、0.1〜1.0が好ましい。   From the viewpoint of obtaining the above effect more effectively, the content ratio [((d) surfactant) / ((c) surfactant photopolymerization initiator)] (mass ratio) is 0.1 to 0.1%. 1.0 is preferred.

<本発明の光硬化性組成物の調製方法>
本発明の光硬化性組成物は、上記各成分を混合した後、例えば、孔径0.05μm〜5.0μmのフィルターで濾過することによって溶液として調製することができる。光硬化性組成物の混合・溶解は、通常、0℃〜100℃の範囲で行われる。濾過は、多段階で行ってもよいし、多数回繰り返してもよい。また、濾過した液を再濾過することもできる。濾過に使用する材質は、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、フッソ樹脂、ナイロン樹脂などのものが使用できるが特に限定されない。
<Method for Preparing Photocurable Composition of the Present Invention>
The photocurable composition of the present invention can be prepared as a solution by, for example, filtering with a filter having a pore diameter of 0.05 μm to 5.0 μm after mixing the above-described components. Mixing and dissolution of the photocurable composition is usually performed in the range of 0 ° C to 100 ° C. Filtration may be performed in multiple stages or repeated many times. Moreover, the filtered liquid can be refiltered. Materials used for filtration can be polyethylene resin, polypropylene resin, fluorine resin, nylon resin, etc., but are not particularly limited.

本発明の光硬化性組成物は、半導体集積回路、フラットスクリーン、マイクロ電気機械システム(MEMS)、センサ素子、光ディスク、高密度メモリーデイスク等の磁気記録媒体、回折格子やレリーフホログラム等の光学部品、ナノデバイス、光学デバイス、フラットパネルディスプレイ製作のための光学フィルムや偏光素子、液晶ディスプレイの薄膜トランジスタ、有機トランジスタ、カラーフィルター、オーバーコート層、柱材、液晶配向用のリブ材、マイクロレンズアレイ、免疫分析チップ、DNA分離チップ、マイクロリアクター、ナノバイオデバイス、光導波路、光学フィルター、フォトニック液晶等の作製の際の、微細パターン形成のための光ナノインプリントレジスト組成物として用いることができる。   The photocurable composition of the present invention includes a semiconductor integrated circuit, a flat screen, a micro electro mechanical system (MEMS), a sensor element, an optical disk, a magnetic recording medium such as a high-density memory disk, an optical component such as a diffraction grating or a relief hologram, Nano devices, optical devices, optical films and polarizing elements for flat panel display fabrication, thin film transistors for liquid crystal displays, organic transistors, color filters, overcoat layers, pillar materials, rib materials for liquid crystal alignment, microlens arrays, immunoassays It can be used as an optical nanoimprint resist composition for forming a fine pattern when producing a chip, a DNA separation chip, a microreactor, a nanobiodevice, an optical waveguide, an optical filter, a photonic liquid crystal, or the like.

≪パターン付き基板の製造方法≫
本発明のパターン付き基板の製造方法は、
(1)上記で説明した本発明の光硬化性組成物を基板上に塗布して光硬化性層を形成する工程(以下、「光硬化性層形成工程」ともいう)と、
(2)凹凸パターンを有するモールドの前記凹凸パターンと、前記基板上に形成された前記光硬化性層と、を圧接して前記光硬化性層を変形させる工程(以下、「圧接工程」ともいう)と、
(3)前記基板の前記光硬化性層が形成された側の反対側(以下、「基板裏面側」ともいう)から、及び/又は、前記モールドの前記光硬化性層に接する側の反対側(以下、「モールド裏面側」ともいう)から、前記変形した光硬化性層に光を照射して前記変形した光硬化性層を硬化する工程(以下、「露光工程」ともいう)と、
(4)前記基板から前記モールドを剥離し、基板上に前記凹凸パターンの反転パターンを形成する工程(以下、「モールド剥離工程」ともいう)と、
を有して構成される。
≪Pattern manufacturing method≫
The method for producing a patterned substrate of the present invention includes:
(1) A step of applying the photocurable composition of the present invention described above on a substrate to form a photocurable layer (hereinafter, also referred to as “photocurable layer forming step”);
(2) A step of pressing the concavo-convex pattern of the mold having the concavo-convex pattern and the photocurable layer formed on the substrate to deform the photocurable layer (hereinafter also referred to as “pressure-contacting step”). )When,
(3) From the opposite side of the substrate on which the photocurable layer is formed (hereinafter also referred to as “substrate back side”) and / or on the opposite side of the mold in contact with the photocurable layer. (Hereinafter, also referred to as “mold back side”), the step of irradiating the deformed photocurable layer with light to cure the deformed photocurable layer (hereinafter, also referred to as “exposure step”),
(4) A step of peeling the mold from the substrate and forming an inverted pattern of the concave-convex pattern on the substrate (hereinafter, also referred to as “mold peeling step”);
It is comprised.

本発明のパターン付き基板の製造方法は、本発明の光硬化性組成物を用い、モールドの凹凸パターンの反転パターンであるレジストパターンを形成するため、少ない露光量で硬化させた場合においても、レジストパターンの表面及び内部の硬化性が向上し、レジストパターンのモールドからの剥離性が向上する。   The method for producing a substrate with a pattern of the present invention uses the photocurable composition of the present invention to form a resist pattern that is a reversal pattern of the concave and convex pattern of the mold. The curability of the surface and the inside of the pattern is improved, and the peelability of the resist pattern from the mold is improved.

前記「パターン付き基板」における「パターン」は、
(A)基板上に形成されたレジストパターンを、必要に応じてポスト露光や加熱処理等により更に硬化させて形成されたパターン、
及び/又は、
(B)基板上に形成されたレジストパターンをマスクとするエッチングにより形成された、基板表面、金属膜、半導体膜、絶縁体膜(有機膜でも無機膜でもよい。以下同じ。)等からなるパターン、を指す。
前記(A)の具体例としては、例えば、表示装置における、フォトスペーサーパターン、配向制御用突起パターン、隔壁(例えば、ブラックマトリクス等)パターン、着色画素パターン、等が挙げられる。
前記(B)の具体例としては、例えば、半導体装置、表示装置、プリント配線基板等における、配線パターン、電極パターン、半導体パターン、絶縁膜パターン、CMP等の研磨プロセスに用いる溝状パターン、等が挙げられる。
The “pattern” in the “patterned substrate” is:
(A) A pattern formed by further curing the resist pattern formed on the substrate by post-exposure or heat treatment, if necessary,
And / or
(B) A pattern formed by etching using a resist pattern formed on the substrate as a mask, and comprising a substrate surface, a metal film, a semiconductor film, an insulator film (which may be an organic film or an inorganic film, and the same shall apply hereinafter). .
Specific examples of (A) include, for example, a photo spacer pattern, an alignment control projection pattern, a partition wall (for example, black matrix) pattern, a colored pixel pattern, and the like in a display device.
Specific examples of (B) include, for example, a wiring pattern, an electrode pattern, a semiconductor pattern, an insulating film pattern, a groove pattern used in a polishing process such as CMP in a semiconductor device, a display device, a printed wiring board, and the like. Can be mentioned.

前記(B)のパターンを形成する方法としては特に限定はないが、
(5)本発明の光硬化性組成物を用いて形成されたレジストパターンをマスクとして、基板(基板そのものの他、基板上に形成された金属膜、半導体膜、絶縁体膜を含む)をエッチングする工程(以下、「エッチング工程」ともいう)と、
(6)必要に応じ、その後、レジストパターンを剥離する工程(以下、「レジストパターン剥離工程」ともいう)と、
を有する形態が挙げられる。
この形態においては、形成されたレジストパターンの、表面及び内部の硬化性、並びにモールドからの剥離性が向上する結果、基板のエッチング性が向上する。
The method for forming the pattern (B) is not particularly limited,
(5) Etching a substrate (including a metal film, a semiconductor film, and an insulator film formed on the substrate in addition to the substrate itself) using a resist pattern formed using the photocurable composition of the present invention as a mask A process (hereinafter also referred to as an “etching process”),
(6) If necessary, a step of peeling the resist pattern (hereinafter also referred to as “resist pattern peeling step”);
The form which has is mentioned.
In this embodiment, the surface and internal curability of the formed resist pattern and the releasability from the mold are improved, so that the etching property of the substrate is improved.

以下、各工程について説明する。
<(1)光硬化性層形成工程>
前記光硬化性層形成工程は、上記で説明した本発明の光硬化性組成物を基板上に塗布して光硬化性層を形成する工程である。
前記基板としては、石英、ガラス、光学フィルム、セラミック材料、蒸着膜、磁性膜、反射膜、金属基板(Ni、Cu、Cr、Feなど)、紙、SOG、ポリマー基板(ポリエステルフィルム、ポリカーボネートフィルム、ポリイミドフィルム等)、TFTアレイ基板、PDPの電極板、ガラス基板、透明プラスチック基板、導電性基材(ITOや金属等)、絶縁性基材、半導体作製基板(シリコン、窒化シリコン、ポリシリコン、酸化シリコン、アモルファスシリコン等)、等が挙げられ、特に制約はない。基板の形状は、板状でもよいし、ロール状でもよい。
Hereinafter, each step will be described.
<(1) Photocurable layer forming step>
The photocurable layer forming step is a step of forming the photocurable layer by applying the photocurable composition of the present invention described above on a substrate.
As the substrate, quartz, glass, optical film, ceramic material, vapor deposition film, magnetic film, reflection film, metal substrate (Ni, Cu, Cr, Fe, etc.), paper, SOG, polymer substrate (polyester film, polycarbonate film, Polyimide film, etc.), TFT array substrate, PDP electrode plate, glass substrate, transparent plastic substrate, conductive substrate (ITO, metal, etc.), insulating substrate, semiconductor fabrication substrate (silicon, silicon nitride, polysilicon, oxidation) There are no particular restrictions. The shape of the substrate may be a plate shape or a roll shape.

本発明の光硬化性組成物を基板上に塗布する塗布方法としては、一般によく知られた塗布方法、例えば、ディップコート法、エアーナイフコート法、カーテンコート法、ワイヤーバーコート法、グラビアコート法、エクストルージョンコート法、スピンコート法、スリットスキャン法、スリット&スピン法などを用いることができる。
本発明の光硬化製組成物を塗布して形成される光硬化性層の層厚は、使用する用途によって異なるが、0.05μm〜30μmが好ましい。また、本発明の光硬化性組成物は、多重塗布してもよい。
As a coating method for coating the photocurable composition of the present invention on a substrate, generally well-known coating methods such as dip coating, air knife coating, curtain coating, wire bar coating, and gravure coating are used. Further, an extrusion coating method, a spin coating method, a slit scanning method, a slit & spin method and the like can be used.
Although the layer thickness of the photocurable layer formed by applying the photocurable composition of the present invention varies depending on the intended use, it is preferably 0.05 μm to 30 μm. In addition, the photocurable composition of the present invention may be applied multiple times.

<(2)圧接工程>
前記圧接工程は、凹凸パターンを有するモールドの前記凹凸パターンと、前記基板上に形成された前記光硬化性層と、を圧接して前記光硬化性層を変形させる工程である。
<(2) Pressure welding process>
The press-contacting step is a step of deforming the photocurable layer by press-contacting the concave-convex pattern of the mold having the concave-convex pattern and the photocurable layer formed on the substrate.

(モールド)
本発明におけるモールドとしては、基板上に転写されるべき凹凸パターンを少なくとも一方の面に有するモールドを用いる。
前記凹凸パターンは、例えば、フォトリソグラフィや電子線描画法等によって、所望する加工精度に応じて形成できるが、本発明では、モールドパターン形成方法は特に制限されない。
本発明におけるモールドとしては、光透過性モールドと非光透過性モールドとが挙げられる。
(mold)
As a mold in the present invention, a mold having an uneven pattern to be transferred onto a substrate on at least one surface is used.
The concavo-convex pattern can be formed according to desired processing accuracy by, for example, photolithography, electron beam drawing, or the like, but the mold pattern forming method is not particularly limited in the present invention.
Examples of the mold in the present invention include a light transmissive mold and a non-light transmissive mold.

本発明において用いられる光透過性モールドの材質は、特に限定されないが、所定の強度、耐久性を有するものであればよい。具体的には、ガラス、石英、PMMA、ポリカーボネート樹脂などの光透明性樹脂、透明金属蒸着膜、ポリジメチルシロキサンなどの柔軟膜、光硬化膜、金属膜等が例示される。   The material of the light transmissive mold used in the present invention is not particularly limited as long as it has predetermined strength and durability. Specifically, a light transparent resin such as glass, quartz, PMMA, and polycarbonate resin, a transparent metal vapor-deposited film, a flexible film such as polydimethylsiloxane, a photocured film, and a metal film are exemplified.

前記非光透過性モールドとしては、特に限定されないが、所定の強度を有するものであればよい。具体的には、セラミック材料、蒸着膜、磁性膜、反射膜、Ni、Cu、Cr、Feなどの金属基板、SiC、シリコン、窒化シリコン、ポリシリコン、酸化シリコン、アモルファスシリコンなどの基板などが例示され、特に制約されない。形状は板状モールド、ロール状モールドのどちらでもよい。ロール状モールドは、特に転写の連続生産性が必要な場合に適用される。   The non-light-transmitting mold is not particularly limited as long as it has a predetermined strength. Specific examples include ceramic materials, vapor deposition films, magnetic films, reflective films, metal substrates such as Ni, Cu, Cr, and Fe, and substrates such as SiC, silicon, silicon nitride, polysilicon, silicon oxide, and amorphous silicon. There are no particular restrictions. The shape may be either a plate mold or a roll mold. The roll mold is applied particularly when continuous transfer productivity is required.

上記本発明で用いられるモールドは、光硬化性組成物とモールドとの剥離性を向上するために離型処理をおこなったものを用いてもよい。シリコーン系やフッソ系などのシランカップリング剤による処理を行ったもの、例えばダイキン工業製:商品名 オプツールDSXや住友スリーエム製:商品名Novec EGC−1720等の市販の離型剤も好適に用いることができる。   The mold used in the present invention may be a mold that has been subjected to a release treatment in order to improve the peelability between the photocurable composition and the mold. Products that have been treated with a silane coupling agent such as silicone or fluorine, such as Daikin Industries: trade name Optool DSX or Sumitomo 3M: trade name Novec EGC-1720, etc. Can do.

(圧接条件)
前記モールドの凹凸パターンと、前記基板上の光硬化性層と、を圧接する際の圧接条件(モールド圧力)としては特に限定はないが、10気圧以下が好ましい。
モールド圧力を10気圧を以下とすることにより、モールドや基板が変形しにくくパターン精度が向上する傾向にあり、また、加圧が低いため装置を縮小できる傾向にあり好ましい。モールドの圧力は、モールド凸部の光硬化性組成物の残膜が少なくなる範囲で、モールド転写の均一性が確保できる領域を選択することが好ましい。
(Pressing condition)
There is no particular limitation on the pressure contact condition (mold pressure) when pressing the concave-convex pattern of the mold and the photocurable layer on the substrate, but 10 atm or less is preferable.
It is preferable to set the mold pressure to 10 atm or less because the mold and the substrate are less likely to be deformed and the pattern accuracy tends to be improved, and because the pressure is low, the apparatus can be reduced. The mold pressure is preferably selected in a region where the uniformity of mold transfer can be ensured within a range in which the residual film of the photocurable composition on the mold convex portion is reduced.

<(3)露光工程>
前記露光工程は、前記圧接工程により形成された基板とモールドとからなる積層体に対し、基板裏面側から、及び/又は、モールド裏面側から、光を照射し(即ち、露光し)、前記変形した光硬化性層(即ち、光硬化性層のうち、モールドの凹凸パターンの凹部に位置する部分)を硬化する工程である。
<(3) Exposure process>
In the exposure step, light is irradiated (ie, exposed) from the back side of the substrate and / or from the back side of the mold to the laminate formed of the substrate and the mold formed by the pressure contact step, and the deformation This is a step of curing the photocurable layer (that is, the portion of the photocurable layer located in the concave portion of the concave / convex pattern of the mold).

基板裏面側から光を照射する場合には、前述の基板のうち、光透過性の基板を用いることが好ましい。一方、前記モールド裏面側から光を照射する場合には、前述のモールドのうち、光透過性モールドを用いることが好ましい。
ここで、「光透過性」とは、照射する光の透過率(露光波長における透過率)が90%以上(好ましくは、95%以上)である性質をいう。
In the case of irradiating light from the back side of the substrate, it is preferable to use a light transmissive substrate among the aforementioned substrates. On the other hand, when irradiating light from the back side of the mold, it is preferable to use a light-transmitting mold among the aforementioned molds.
Here, “light transmittance” refers to a property that the transmittance of light to be irradiated (transmittance at the exposure wavelength) is 90% or more (preferably 95% or more).

露光工程において照射する光としては特に限定されないが、高エネルギー電離放射線、近紫外、遠紫外、可視、赤外等の領域の波長の光または放射線が挙げられる。
高エネルギー電離放射線源としては、例えば、コッククロフト型加速器、ハンデグラーフ型加速器、リニヤーアクセレーター、ベータトロン、サイクロトロン等の加速器によって加速された電子線が工業的に最も便利且つ経済的に使用されるが、その他に放射性同位元素や原子炉等から放射されるγ線、X線、α線、中性子線、陽子線等の放射線も使用できる。
紫外線源としては、例えば、紫外線螢光灯、低圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、キセノン灯、炭素アーク灯、太陽灯等が挙げられる。放射線には、例えばマイクロ波、EUVが含まれる。
また、LED、半導体レーザー光、あるいは248nmのKrFエキシマレーザー光や193nmのArFエキシマレーザー光などの半導体の微細加工で用いられているレーザー光も本発明に好適に用いることができる。
これらの光は、モノクロ光を用いてもよいし、複数の波長の異なる光(ミックス光)でもよい。
Although it does not specifically limit as light irradiated in an exposure process, The light or radiation of the wavelength of area | regions, such as high energy ionizing radiation, near ultraviolet, far ultraviolet, visible, and infrared, is mentioned.
As the high-energy ionizing radiation source, for example, an electron beam accelerated by an accelerator such as a cockcroft accelerator, a handagraaf accelerator, a linear accelerator, a betatron, or a cyclotron is industrially most conveniently and economically used. However, radiation such as γ rays, X rays, α rays, neutron rays, proton rays emitted from radioisotopes or nuclear reactors can also be used.
Examples of the ultraviolet ray source include an ultraviolet fluorescent lamp, a low-pressure mercury lamp, a high-pressure mercury lamp, an ultrahigh-pressure mercury lamp, a xenon lamp, a carbon arc lamp, and a solar lamp. The radiation includes, for example, microwaves and EUV.
Also, laser light used in semiconductor microfabrication such as LED, semiconductor laser light, or 248 nm KrF excimer laser light or 193 nm ArF excimer laser light can be suitably used in the present invention.
These lights may be monochromatic lights, or may be lights having different wavelengths (mixed lights).

本発明において、光照射量は、硬化に必要な照射量よりも十分大きければよい。硬化に必要な照射量は、光硬化性組成物の不飽和結合の消費量や硬化膜のタッキネスを調べて決定することができる。
この際、前述の本発明の光硬化性組成物を用いて形成された光硬化性層を露光するため、少ない露光量で硬化させた場合においても、表面及び内部の硬化性に優れ、モールドからの剥離性に優れたレジストパターンを形成できる。
また、光照射の際の基板温度は、通常、室温で行われるが、反応性を高めるために加熱をしながら光照射してもよい。
光照射の前段階として、真空状態にしておくと、気泡混入防止、酸素混入による反応性低下の抑制、モールドと光硬化性組成物の密着性向上に効果があるため、真空状態で光照射してもよい。本発明において、好ましい真空度は、10−1Paから常圧の範囲で行われる。
In the present invention, the light irradiation amount may be sufficiently larger than the irradiation amount necessary for curing. The amount of irradiation necessary for curing can be determined by examining the consumption of unsaturated bonds of the photocurable composition and the tackiness of the cured film.
At this time, in order to expose the photocurable layer formed using the photocurable composition of the present invention described above, even when cured with a small amount of exposure, the surface and internal curability is excellent, and from the mold. It is possible to form a resist pattern having excellent releasability.
In addition, the substrate temperature during light irradiation is usually room temperature, but light irradiation may be performed while heating in order to increase reactivity.
As a pre-stage of light irradiation, if it is in a vacuum state, it is effective in preventing bubble mixing, suppressing the decrease in reactivity due to oxygen mixing, and improving the adhesion between the mold and the photocurable composition. May be. In the present invention, a preferable degree of vacuum is in the range of 10 −1 Pa to normal pressure.

<(4)モールド剥離工程>
前記モールド剥離工程は、前記光照射後の基板(詳しくは、基板上の光硬化性層)からモールドを剥離し、基板上に前記凹凸パターンの反転パターンとして、レジストパターンを形成する工程である。
この際、前述の本発明の光硬化性組成物を用いて形成された光硬化性層からモールドを剥離するため、少ない露光量で硬化させた場合においても、未硬化物がモールドに残留する現象を効果的に防止でき、モールドからの剥離性を向上できる。
<(4) Mold peeling process>
The mold peeling step is a step of peeling a mold from the substrate after light irradiation (specifically, a photocurable layer on the substrate), and forming a resist pattern on the substrate as an inverted pattern of the concavo-convex pattern.
At this time, since the mold is peeled off from the photocurable layer formed using the photocurable composition of the present invention described above, a phenomenon in which an uncured product remains in the mold even when cured with a small exposure amount. Can be effectively prevented, and the releasability from the mold can be improved.

<(5)エッチング工程>
前記エッチング工程は、本発明の光硬化性組成物を用いて形成されたレジストパターンをマスクとして、基板(基板そのものに限られず、基板上に形成された金属膜、半導体膜、絶縁体膜であってもよい)をエッチングする工程である。
本発明のパターン付き基板においてエッチング工程を設ける場合、前記(1)〜(4)の工程を含んで形成されたレジストパターンは、エッチングレジストとして機能することができる。
<(5) Etching process>
The etching process is performed using a resist pattern formed using the photocurable composition of the present invention as a mask (not limited to the substrate itself, but a metal film, a semiconductor film, or an insulator film formed on the substrate). Or may be etched).
When providing an etching process in the substrate with a pattern of this invention, the resist pattern formed including the process of said (1)-(4) can function as an etching resist.

前記エッチングの方法としては、公知のエッチング処理方法の中から適宜選択した方法により行うことができ、レジストパターンで覆われていない下地部分を除去するために行い、パターンを得る。
前記エッチングとしては、エッチング液による処理(ウェットエッチング)、もしくは減圧下で反応性ガスをプラズマ放電で活性化させた処理(ドライエッチング)のいずれかを行う。
エッチング処理は、適当な枚数をまとめて処理するバッチ方式でもよいし、一枚毎に処理する枚葉処理でもよい。
The etching method can be performed by a method appropriately selected from known etching methods, and is performed for removing a base portion not covered with a resist pattern to obtain a pattern.
As the etching, either a treatment with an etching solution (wet etching) or a treatment in which a reactive gas is activated by plasma discharge under reduced pressure (dry etching) is performed.
The etching process may be a batch system in which an appropriate number of sheets are processed together, or a single wafer process in which each sheet is processed.

(ウェットエッチング)
前記ウェットエッチングを行う場合のエッチング液には、塩化第二鉄/塩酸系、塩酸/硝酸系、臭化水素酸系などを代表例として、多くのエッチング液が開発され使用されている。
Cr用には硝酸セリウムアンモニウム溶液や、硝酸セリウム・過酸化水素水の混合液、Ti用には希釈フッ酸、弗酸・硝酸混合液、Ta用にはアンモニウム溶液と過酸化水素水の混合液、Mo用には過酸化水素水、アンモニア水・過酸化水素水の混合物、リン酸・硝酸の混合液、MoW、Alにはリン酸・硝酸混合液、弗酸・硝酸の混合液、リン酸・硝酸・酢酸の混合液ITO用には希釈王水、塩化第二鉄溶液、ヨウ化水素水、SiNxやSiOには緩衝フッ酸、フッ酸・フッ化アンモニウム混合液、Si、ポリSiには弗酸・硝酸・酢酸の混合液、Wにはアンモニア水・過酸化水素水の混合液、PSGには硝酸・フッ酸の混合液、BSGにはフッ酸・フッ化アンモニウム混合液などがそれぞれ使用される。
(Wet etching)
As etching solutions for wet etching, many etching solutions have been developed and used, with ferric chloride / hydrochloric acid systems, hydrochloric acid / nitric acid systems, hydrobromic acid systems and the like as representative examples.
For Cr, mixed solution of cerium ammonium nitrate or cerium nitrate / hydrogen peroxide solution, for Ti, diluted hydrofluoric acid, hydrofluoric acid / nitric acid mixed solution, for Ta, mixed solution of ammonium solution and hydrogen peroxide solution For Mo, hydrogen peroxide solution, a mixture of ammonia water and hydrogen peroxide solution, a mixture solution of phosphoric acid and nitric acid, and for MoW and Al, a mixture solution of phosphoric acid and nitric acid, a mixture solution of hydrofluoric acid and nitric acid, phosphoric acid Nitric acid / acetic acid mixed solution For ITO, diluted aqua regia, ferric chloride solution, hydrogen iodide water, SiNx and SiO 2 are buffered hydrofluoric acid, hydrofluoric acid / ammonium fluoride mixed solution, Si, poly Si Is a mixture of hydrofluoric acid, nitric acid and acetic acid, W is a mixture of ammonia water and hydrogen peroxide, PSG is a mixture of nitric acid and hydrofluoric acid, and BSG is a mixture of hydrofluoric acid and ammonium fluoride. used.

ウェットエッチングは、シャワー方式でもよいし、ディップ方式でもよいが、エッチングレート、面内均一性、配線幅の精度は処理温度に大きく依存するため、基板種、用途、線幅に応じて条件は最適化する必要がある。また、前記ウェットエッチングを行う場合は、エッチング液の浸透によるアンダーカットを防止するためにポストベークを行うことが望ましい。
ここでポストベークとは、前記(1)〜(4)の工程を含んで形成されたレジストパターンを加熱して、更に硬化させる処理をいう。
通常ポストベークは90℃〜140℃程度で行われるが、必ずしもこれに限られてはいない。
Wet etching may be either a shower method or a dip method, but the etching rate, in-plane uniformity, and wiring width accuracy largely depend on the processing temperature, so the conditions are optimal according to the substrate type, application, and line width. It is necessary to make it. Moreover, when performing the said wet etching, it is desirable to perform a post-bake in order to prevent the undercut by the penetration | penetration of etching liquid.
Here, the post-baking refers to a process of heating and further curing the resist pattern formed including the steps (1) to (4).
Usually, post-baking is performed at about 90 ° C. to 140 ° C., but is not necessarily limited thereto.

(ドライエッチング)
ドライエッチングは、基本的に真空装置内に1対の平行に配置された電極を有し、一方の電極上に基板を設置する平行平板型のドライエッチング装置が用いられる。
プラズマを発生させるための高周波電源が基板を設置する側の電極に接続されるか、反対の電極に接続されるかにより、イオンが主として関与する反応性イオンエッチング(RIE)モードとラジカルが主として関与するプラズマエッチング(PE)モードに分類される。
前記ドライエッチングにおいて用いられるエッチャントガスとしては、それぞれの膜種に適合するエッチャントガスが使用される。a−Si/nやs−Si用には四フッ化炭素(塩素)+酸素、四フッ化炭素(六フッ化硫黄)+塩化水素(塩素)、a−SiNx用には四フッ化炭素+酸素、a−SiOx用には四フッ化炭素+酸素、三フッ化炭素+酸素、Ta用には四フッ化炭素(六フッ化硫黄)+酸素、MoTa/MoW用には四フッ化炭素+酸素、Cr用には塩素+酸素、Al用には三塩化硼素+塩素、臭化水素、臭化水素+塩素、ヨウ化水素等が挙げられる。ドライエッチングの工程では、イオン衝撃や熱によりレジストの構造が大きく変質することがあり、剥離性にも影響する。
(Dry etching)
The dry etching basically uses a parallel plate type dry etching apparatus having a pair of electrodes arranged in parallel in a vacuum apparatus and setting a substrate on one of the electrodes.
Reactive ion etching (RIE) mode in which ions are mainly involved and radicals are mainly involved depending on whether the high-frequency power source for generating plasma is connected to the electrode on the side where the substrate is installed or to the opposite electrode The plasma etching (PE) mode is classified.
As an etchant gas used in the dry etching, an etchant gas suitable for each film type is used. Carbon tetrafluoride (chlorine) + oxygen, carbon tetrafluoride (sulfur hexafluoride) + hydrogen chloride (chlorine) for a-Si / n + and s-Si, carbon tetrafluoride for a-SiNx + Oxygen, carbon tetrafluoride + oxygen for a-SiOx, carbon trifluoride + oxygen, carbon tetrafluoride (sulfur hexafluoride) + oxygen for Ta, carbon tetrafluoride for MoTa / MoW For chlorine + oxygen for + oxygen and Cr, boron trichloride + chlorine, hydrogen bromide, hydrogen bromide + chlorine, hydrogen iodide and the like for Al. In the dry etching process, the resist structure may be greatly altered by ion bombardment or heat, which also affects the peelability.

<(6)レジスト剥離工程>
前記レジスト剥離工程は、前記エッチング後の基板から、レジストパターンを剥離する工程である。
レジストパターンの剥離(以下、「レジスト剥離」ともいう)は、液にて取り除く(ウェット剥離)か、あるいは、減圧下での酸素ガスのプラズマ放電により酸化させてガス状にして取り除く(ドライ剥離/アッシング)か、あるいはオゾンとUV光によって酸化させてガス状にして取り除く(ドライ剥離/UVアッシング)など、いくつかの剥離方法によってレジスト除去を行うことができる。
<(6) Resist stripping step>
The resist stripping step is a step of stripping the resist pattern from the etched substrate.
The resist pattern is stripped (hereinafter also referred to as “resist stripping”) by removing it with a liquid (wet stripping) or by oxidizing it with a plasma discharge of oxygen gas under reduced pressure to remove it (dry stripping / The resist can be removed by several stripping methods, such as ashing) or oxidized by ozone and UV light to remove it in a gaseous state (dry stripping / UV ashing).

ウェット剥離に用いる剥離液としては、水酸化ナトリウム水溶液、水酸化カリウム水溶液、オゾン溶解水のような水溶液系とアミンとジメチルスルホキシドやN−メチルピロリドンの混合物のような有機溶剤系が一般的に知られている。後者の例としてはモノエタノールアミン/ジメチルスルホキシド混合物(質量混合比=7/3)がよく知られている。   As a stripping solution used for wet stripping, an aqueous solution system such as an aqueous solution of sodium hydroxide, an aqueous solution of potassium hydroxide or ozone-dissolved water and an organic solvent system such as a mixture of amine, dimethyl sulfoxide or N-methylpyrrolidone are generally known. It has been. As an example of the latter, a monoethanolamine / dimethyl sulfoxide mixture (mass mixing ratio = 7/3) is well known.

レジスト剥離速度は、温度・液量・時間・圧力などが大きく関与し、基板種、用途によって最適化ことができる。本発明では、室温〜100℃程度の温度範囲で、基板を浸し(数分〜数十分)、酢酸ブチルなどの溶剤リンス、水洗を行うことが好ましい。剥離液自体のリンス性、パーティクル除去性、耐腐食性を向上させる観点から、水リンスのみでもよい。水洗は、純水シャワー、乾燥はエアナイフ乾燥が好ましい例として挙げられる。基板上に非結晶質シリコーンが露出している場合には、水と空気の存在で酸化膜が形成されるので、空気を遮断することが好ましい。   The resist stripping rate is greatly influenced by temperature, liquid amount, time, pressure, etc., and can be optimized depending on the substrate type and application. In the present invention, it is preferable to immerse the substrate (from several minutes to several tens of minutes) in the temperature range of room temperature to 100 ° C., and perform rinsing with butyl acetate or the like and washing with water. From the viewpoint of improving the rinsing properties, particle removability, and corrosion resistance of the stripper itself, only water rinsing may be used. A preferable example is a pure water shower for washing and an air knife drying for drying. When the amorphous silicone is exposed on the substrate, an oxide film is formed in the presence of water and air. Therefore, it is preferable to block air.

また、アッシング(灰化)と薬液による剥離を併用する方法も適用してもよい。アッシングは、プラズマアッシング、ダウンフローアッシング、オゾンを用いたアッシング、UV/オゾンアッシングが挙げられる。例えば、ドライエッチングでAl基板を加工する場合には、一般的に塩素系のガスを使うが、塩素とAlの生成物である塩化アルミニウムなどがAlを腐食する場合がある。これらを防止するために、防腐剤入りの剥離液を使用してもよい。   Moreover, you may apply the method of using together ashing (ashing) and peeling by a chemical | medical solution. Examples of ashing include plasma ashing, downflow ashing, ashing using ozone, and UV / ozone ashing. For example, when an Al substrate is processed by dry etching, a chlorine-based gas is generally used, but aluminum chloride, which is a product of chlorine and Al, may corrode Al. In order to prevent these, a stripping solution containing a preservative may be used.

<その他の工程>
本発明のパターン付き基板の製造方法は、以上で説明した(1)〜(6)の工程以外のその他の工程を有していてもよい。
前記その他の工程としては、特に制限はなく、公知のパターン形成における工程の中から適宜選択することが挙げられる。
例えば、硬化処理工程などが挙げられる。
これらは、1種単独で使用してもよく、2種以上を併用してもよい。硬化処理工程としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、例えば、全面加熱処理や全面露光処理などが好適に挙げられる。
<Other processes>
The manufacturing method of the board | substrate with a pattern of this invention may have other processes other than the process of (1)-(6) demonstrated above.
There is no restriction | limiting in particular as said other process, Selecting suitably from the processes in well-known pattern formation is mentioned.
For example, a hardening process process etc. are mentioned.
These may be used alone or in combination of two or more. There is no restriction | limiting in particular as a hardening process, Although it can select suitably according to the objective, For example, a whole surface heat processing, a whole surface exposure process, etc. are mentioned suitably.

前記全面加熱処理の方法としては、例えば、形成されたパターンを加熱する方法が挙げられる。全面加熱により、前記パターンの表面の膜強度が高められる。全面加熱における加熱温度としては、80〜200℃が好ましく、90〜180℃がより好ましい。該加熱温度が80℃以上とすることにより、加熱処理による膜強度がより向上する傾向にあり、200℃以下とすることにより、光硬化性組成物中の成分の分解が生じ、膜質が弱く脆くなる傾向をより効果的に抑止できる。前記全面加熱を行う装置としては、特に制限はなく、公知の装置の中から、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、ドライオーブン、ホットプレート、IRヒーターなどが挙げられる。また、ホットプレートを使用する場合には、加熱を均一に行う為に、パターンを形成した基材をプレートから浮かせて行うことが望ましい。   Examples of the method for the entire surface heat treatment include a method for heating the formed pattern. By heating the entire surface, the film strength on the surface of the pattern is increased. As heating temperature in whole surface heating, 80-200 degreeC is preferable and 90-180 degreeC is more preferable. When the heating temperature is 80 ° C. or higher, the film strength by heat treatment tends to be further improved, and when it is 200 ° C. or lower, the components in the photocurable composition are decomposed and the film quality is weak and brittle. Can be more effectively deterred. There is no restriction | limiting in particular as an apparatus which performs the said whole surface heating, According to the objective, it can select suitably from well-known apparatuses, For example, a dry oven, a hot plate, IR heater etc. are mentioned. Moreover, when using a hot plate, in order to heat uniformly, it is desirable to carry out by lifting the substrate on which the pattern is formed from the plate.

前記全面露光処理の方法としては、例えば、形成されたパターンの全面を露光する方法が挙げられる。全面露光により、前記感光層を形成する光硬化性組成物中の硬化が促進され、前記パターンの表面が硬化されるため、エッチング耐性を高めることができる。前記全面露光を行う装置としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、例えば、超高圧水銀灯などのUV露光機が好適に挙げられる。   Examples of the entire surface exposure processing method include a method of exposing the entire surface of the formed pattern. The entire surface exposure promotes curing in the photocurable composition for forming the photosensitive layer and the surface of the pattern is cured, so that etching resistance can be increased. There is no restriction | limiting in particular as an apparatus which performs the said whole surface exposure, Although it can select suitably according to the objective, For example, UV exposure machines, such as an ultrahigh pressure mercury lamp, are mentioned suitably.

以下、実施例により本発明をさらに具体的に説明する。以下の実施例に示す材料、使用量、割合、処理内容、処理手順等は、本発明の趣旨を逸脱しない限り、適宜、変更することができる。従って、本発明の範囲は以下に示す具体例に限定されるものではない。   Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples. The materials, amounts used, ratios, processing details, processing procedures, and the like shown in the following examples can be changed as appropriate without departing from the spirit of the present invention. Therefore, the scope of the present invention is not limited to the specific examples shown below.

〔実施例1〕
≪レジストパターン付き基板の作製≫
<光硬化性組成物の調製>
重合性化合物として、ベンジルアクリレート(R−01)9.799g、トリプロピレングリコールジアクリレート(R−11)78.392g、エチレンオキシド変性トリメチロールプロパントリアクリレート(R−12)9.799g、光重合開始剤として、2,4,6−トリメチルベンゾイル−エトキシフェニル−ホスフィンオキシド(BASF社製 Lucirin TPO−L)(P−1)2.00g、界面活性光重合開始剤として前記例示化合物30を0.5g、界面活性剤として、EFTOP EF−122A(フッ素系、W−1)0.01gを精秤し、室温で24時間混合し、均一溶液として、光硬化性組成物(塗布液)A−1を得た。
得られた光硬化性組成物A−1は、粘度が30mPa・s以下の重合性化合物の割合が90質量%であり、光硬化性組成物A−1の粘度は18mPa・sであった。
[Example 1]
≪Preparation of substrate with resist pattern≫
<Preparation of photocurable composition>
As a polymerizable compound, 9.799 g of benzyl acrylate (R-01), 78.392 g of tripropylene glycol diacrylate (R-11), 9.799 g of ethylene oxide-modified trimethylolpropane triacrylate (R-12), a photopolymerization initiator 2,4,6-trimethylbenzoyl-ethoxyphenyl-phosphine oxide (Lucirin TPO-L manufactured by BASF) (P-1) 2.00 g, 0.5 g of the exemplified compound 30 as a surface active photopolymerization initiator, As a surfactant, 0.01 g of EFTOP EF-122A (fluorine-based, W-1) is precisely weighed and mixed at room temperature for 24 hours to obtain a photocurable composition (coating liquid) A-1 as a uniform solution. It was.
In the obtained photocurable composition A-1, the ratio of the polymerizable compound having a viscosity of 30 mPa · s or less was 90% by mass, and the viscosity of the photocurable composition A-1 was 18 mPa · s.

ここで、重合性化合物及び光硬化性組成物の粘度は、東機産業(株)社製のRE−80L型回転粘度計を用い、25±0.2℃で測定した。
測定時の回転速度は、0.5mPa・s以上5mPa・s未満は100rpm、5mPa・s以上10mPa・s未満は50rpm、10mPa・s以上30mPa・s未満は20rpm、30mPa・s以上60mPa・s未満は10rpm、60mPa・s以上120mPa・s未満は5rpm、120mPa・s以上は1rpmもしくは0.5rpmで、それぞれ行った。
Here, the viscosity of the polymerizable compound and the photocurable composition was measured at 25 ± 0.2 ° C. using a RE-80L rotational viscometer manufactured by Toki Sangyo Co., Ltd.
The rotational speed at the time of measurement is 0.5 rpm to less than 5 mPa · s is 100 rpm, 5 mPa · s to less than 10 mPa · s is 50 rpm, 10 mPa · s to less than 30 mPa · s is 20 rpm, 30 mPa · s to less than 60 mPa · s. Was 10 rpm, 60 mPa · s or more and less than 120 mPa · s was 5 rpm, and 120 mPa · s or more was 1 rpm or 0.5 rpm.

<レジストパターンの形成>
厚さ1mmのガラス基板(大きさ350mm×400mm)上に形成されたカラーフィルター層(R(赤)、G(緑)、B(青)の画素を有する)の上に、上記で調製した光硬化性組成物A−1を、厚さが6.0μmになるようにスピンコートして光硬化性層を形成した。
<Formation of resist pattern>
The light prepared above on a color filter layer (having R (red), G (green), and B (blue) pixels) formed on a glass substrate (size 350 mm × 400 mm) having a thickness of 1 mm. The photocurable layer was formed by spin coating the curable composition A-1 to a thickness of 6.0 μm.

上記でスピンコートして得られた光硬化性層付き基板を、ORC社製の高圧水銀灯(ランプパワー2000mW/cm2)を光源とするナノインプリント装置にセットした。
このナノインプリント装置には、ポリジメチルシロキサン(東レ・ダウコーニング社製、SILPOT184を80℃60分で硬化させたもの)を材質とするモールドがセットしてある。前記モールドの片面には、凹凸パターンとして10μmのライン/スペースパターン(溝深さ5.0μm)が設けられている。
なお、前記光硬化性層付き基板及び前記モールドは、基板上の光硬化性層とモールド上の凹凸パターンとが向き合う配置でセットした。
The substrate with a photocurable layer obtained by spin coating as described above was set in a nanoimprint apparatus using an ORC high pressure mercury lamp (lamp power 2000 mW / cm 2 ) as a light source.
In this nanoimprint apparatus, a mold made of polydimethylsiloxane (manufactured by Dow Corning Toray Co., Ltd., cured SILPOT184 at 80 ° C. for 60 minutes) is set. On one side of the mold, a 10 μm line / space pattern (groove depth of 5.0 μm) is provided as an uneven pattern.
In addition, the said board | substrate with a photocurable layer and the said mold were set with the arrangement | positioning in which the photocurable layer on a board | substrate and the uneven | corrugated pattern on a mold face each other.

次に、前記光硬化性層と前記モールドの凹凸パターンとを、ソフトモールド加圧力0.8kNで圧接し、光硬化性層を、モールドの凹凸パターンに対する反転パターン状に変形させた。
前記圧接により変形した光硬化性層に対し、モールドの裏面側から100mJ/cm2の条件で露光し、光硬化性層を硬化させた。露光中の真空度は10Torrとした。
前記露光後、基板からモールドを剥離し、レジストパターンを得た。
レジストパターンは、モールドの凹凸パターンに対する反転パターンとして形成された。
Next, the photocurable layer and the concavo-convex pattern of the mold were pressed against each other at a soft mold pressure of 0.8 kN, and the photocurable layer was deformed into an inverted pattern with respect to the concavo-convex pattern of the mold.
The photocurable layer deformed by the pressure contact was exposed from the back side of the mold under the condition of 100 mJ / cm 2 to cure the photocurable layer. The degree of vacuum during exposure was 10 Torr.
After the exposure, the mold was peeled from the substrate to obtain a resist pattern.
The resist pattern was formed as an inverted pattern with respect to the concave / convex pattern of the mold.

≪評価≫
得られた光硬化性組成物又はレジストパターンについて、以下の評価を行った。評価結果を表2に示す。
≪Evaluation≫
The following evaluation was performed about the obtained photocurable composition or resist pattern. The evaluation results are shown in Table 2.

<モールドからの剥離性>
レジストパターンの、モールドからの剥離性の評価を以下のようにして行った。
上記露光後にモールドを剥離したとき、光硬化性層の未硬化物がモールドに残留するか否かを光学顕微鏡(倍率300倍)で観察し、下記判断基準により評価した。
下記判断基準において、A又はBであれば実用上許容範囲内である。
〜判断基準〜
A:残留物全く無し。
B:残留物少し有り(モールドと光硬化性層との接触面積に対し30%未満)。
C:残留物半分ほど有り(モールドと光硬化性層との接触面積に対し30%以上90%未満)。
D:残留物大量に有り(モールドと光硬化性層との接触面積に対し90%以上。
<Peelability from mold>
Evaluation of the peelability of the resist pattern from the mold was performed as follows.
When the mold was peeled after the exposure, whether or not the uncured product of the photocurable layer remained in the mold was observed with an optical microscope (300 times magnification), and evaluated according to the following criteria.
In the following criteria, if it is A or B, it is practically acceptable.
~Judgment criteria~
A: No residue at all.
B: There is a little residue (less than 30% with respect to the contact area between the mold and the photocurable layer).
C: About half of the residue (30% or more and less than 90% with respect to the contact area between the mold and the photocurable layer).
D: Large amount of residue (90% or more with respect to the contact area between the mold and the photocurable layer.

<光硬化性> ・・・ レジストパターン内部の硬化性
レジストパターン内部の硬化性の評価として、以下のようにして光硬化性の評価を行った。
上記光硬化性組成物に対し、高圧水銀灯を光源に用い、モノマー(重合性化合物)の810cm-1の吸収の変化をフーリエ変換型赤外分光装置(FT−IR)を用いて、硬化反応速度(モノマー消費率)をリアルタイムで行った。
測定結果に基づき、光硬化性組成物の光硬化性を下記判断基準により評価した。
下記判断基準において、Aであれば実用上許容範囲内である。
〜判断基準〜
A:硬化反応速度が0.5/秒以上。
B:硬化反応速度が0.2/秒以上0.5/秒未満。
C:硬化反応速度が0.2/秒未満。
<Photocurability> ... Curability inside resist pattern As an evaluation of curability inside the resist pattern, photocurability was evaluated as follows.
Using the high pressure mercury lamp as the light source for the photocurable composition, the change in the absorption at 810 cm −1 of the monomer (polymerizable compound) was measured using a Fourier transform infrared spectrometer (FT-IR). (Monomer consumption rate) was performed in real time.
Based on the measurement results, the photocurability of the photocurable composition was evaluated according to the following criteria.
In the following criteria, if it is A, it is practically acceptable.
~Judgment criteria~
A: The curing reaction rate is 0.5 / second or more.
B: Curing reaction rate is 0.2 / second or more and less than 0.5 / second.
C: Curing reaction rate is less than 0.2 / second.

<密着性> ・・・ レジストパターン表面の硬化性
レジストパターン表面の硬化性の評価として、以下のようにして光硬化性の評価を行った。
得られたレジストパターン表面に、テープを貼り付け、引き剥がした時に、テープ側に光硬化した光硬化性レジストパターンが付着あるか否かを目視観察で判断し、以下の判断基準により評価した。
下記判断基準において、Aであれば実用上許容範囲内である。
〜判断基準〜
A:テープ側にパターンの付着が無い。
B:テープ側に極く薄く(パターンの付着面積がテープ面積に対し10%未満)ではあるがパターンの付着が認められる。
C:テープ側にはっきりと(パターンの付着面積がテープ面積に対し10%以上)パターンの付着が認められる。
<Adhesiveness> ... Curability of resist pattern surface As an evaluation of curability of the resist pattern surface, photocurability was evaluated as follows.
When the tape was affixed to the surface of the obtained resist pattern and peeled off, it was judged by visual observation whether or not a photocured resist pattern photocured on the tape side was adhered, and evaluated according to the following criteria.
In the following criteria, if it is A, it is practically acceptable.
~Judgment criteria~
A: There is no pattern adhesion on the tape side.
B: Although it is very thin on the tape side (the area where the pattern is attached is less than 10% of the area of the tape), the adhesion of the pattern is recognized.
C: Pattern adhesion is clearly observed on the tape side (the pattern adhesion area is 10% or more of the tape area).

<残膜性とパターン形状の観察>
形成されたレジストパターンについて、パターン形状、パターンの残渣を走査型電子顕微鏡(倍率300倍)により観察し、残膜性およびパターン形状を以下の判断基準により評価した。
<Observation of residual film properties and pattern shape>
About the formed resist pattern, the pattern shape and the residue of the pattern were observed with a scanning electron microscope (magnification 300 times), and the remaining film property and the pattern shape were evaluated according to the following criteria.

〜残膜性の判断基準〜
A:残渣が観察されない。
B:残渣が少し観察される。
C:残渣が多く観察される。
-Judgment criteria for residual film properties-
A: A residue is not observed.
B: A little residue is observed.
C: Many residues are observed.

〜パターン形状の判断基準〜
A:モールドのパターン形状の元となる原版のパターンとほぼ同一である。
B:モールドのパターン形状の元となる原版のパターン形状と一部異なる部分(原版のパターンの膜厚に対し20%未満の範囲)がある。
C:モールドのパターン形状の元となる原版のパターンとはっきりと異なる、あるいはパターンの膜厚が原版のパターンと20%以上異なる。
~ Judgment criteria for pattern shape ~
A: It is almost the same as the pattern of the original plate from which the pattern shape of the mold is based.
B: There is a part (a range of less than 20% with respect to the film thickness of the original pattern) that is partly different from the original pattern shape of the mold pattern.
C: The pattern pattern of the mold is clearly different from the original pattern, or the film thickness of the pattern is 20% or more different from the original pattern.

<スピン塗布適性> ・・・塗布性(I)
本発明の光硬化性組成物を、膜厚400nmのアルミニウム(Al)被膜を形成した4インチ角の0.7mm厚さのガラス基板上に、厚さが6.0μmになるようにスピンコートした後、該ガラス基板を1分間静置して、面状観察を行い、以下の判断基準により評価した。
〜判断基準〜
A:ハジキと塗布スジ(ストリエーション)が観察されない。
B:塗布スジが少し観察された。
C:ハジキまたは塗布スジが強く観察された。
<Spin coating suitability> ... coating property (I)
The photocurable composition of the present invention was spin-coated on a 4-inch square 0.7 mm-thick glass substrate on which an aluminum (Al) film having a thickness of 400 nm was formed so as to have a thickness of 6.0 μm. Then, this glass substrate was left still for 1 minute, surface shape observation was performed, and the following judgment criteria evaluated.
~Judgment criteria~
A: No repelling or coating streaks are observed.
B: A few application stripes were observed.
C: Repelling or coating streaks were strongly observed.

<スリット塗布適性> ・・・塗布性(II)
本発明の光硬化性組成物を、大型基板塗布用のスリットコーターレジスト塗布装置(平田機工(株)社製ヘッドコーターシステム)を用いて、膜厚400nmのアルミニウム(Al)被膜を形成した0.7mm厚さのガラス基板(550mm×650mm)上に塗布し、膜厚2.0μmのレジスト被膜を形成し、縦横に出る筋状のムラの有無を観察し、以下の判断基準により評価した。
〜判断基準〜
A:スジ状のムラが観察されなかった。
B:スジ状のムラが弱く観察された。
C:スジ状のムラが強く観察された、またはレジスト被膜にハジキが観察された。
<Slit application suitability> ... Applicability (II)
An aluminum (Al) film having a film thickness of 400 nm was formed on the photocurable composition of the present invention by using a slit coater resist coating apparatus (head coater system manufactured by Hirata Kiko Co., Ltd.) for coating a large substrate. The coating was applied on a 7 mm thick glass substrate (550 mm × 650 mm) to form a resist film having a thickness of 2.0 μm, and the presence or absence of streaky irregularities extending vertically and horizontally was observed and evaluated according to the following criteria.
~Judgment criteria~
A: Striped unevenness was not observed.
B: Streaky unevenness was weakly observed.
C: Streaky unevenness was strongly observed or repelling was observed on the resist film.

〔実施例2〕
重合性化合物として、フェノキシエチルアクリレート(R−02)29.39g、ヒドロキシピバリン酸ネオペンチルグリコールジアクリレート(R−09)48.98g、トリプロピレングリコールジアクリレート(R−11)9.795g、プロピレンオキシド変性トリメチロールプロパントリアクリレート(R−13)9.795g、光重合開始剤として、2,4,6−トリメチルベンゾイル−エトキシフェニル−ホスフィンオキシド(BASF社製 Lucirin TPO−L)(P−1)2.0g、界面活性開始剤として例示化合物9を0.5g、界面活性剤として、メガファックペインタッド31(シリコーン系、W−2)0.05gを精秤し、室温で24時間混合し、均一溶液として、光硬化性組成物(塗布液)A−2を得た。
上記で得られた光硬化性組成物A−2では、粘度が30mPa・s以下の重合性化合物の割合が90質量%であり、光硬化性組成物A−2の粘度は18mPa・sであった。
なお、粘度の測定は実施例1と同様の方法により行った。
上記で得られた光硬化性組成物A−2を用い、実施例1と同様にしてレジストパターンを形成し、実施例1と同様の評価を行った。
[Example 2]
As a polymerizable compound, phenoxyethyl acrylate (R-02) 29.39 g, hydroxypivalic acid neopentyl glycol diacrylate (R-09) 48.98 g, tripropylene glycol diacrylate (R-11) 9.795 g, propylene oxide 9.9595 g of modified trimethylolpropane triacrylate (R-13), 2,4,6-trimethylbenzoyl-ethoxyphenyl-phosphine oxide (Lucirin TPO-L manufactured by BASF) (P-1) 2 as a photopolymerization initiator 0.0 g, 0.5 g of Exemplified Compound 9 as a surfactant initiator, and 0.05 g of Mega-Fac Painted 31 (silicone-based, W-2) as a surfactant are precisely weighed and mixed at room temperature for 24 hours. As a solution, a photocurable composition (coating solution) A-2 was obtained.
In the photocurable composition A-2 obtained above, the ratio of the polymerizable compound having a viscosity of 30 mPa · s or less was 90% by mass, and the viscosity of the photocurable composition A-2 was 18 mPa · s. It was.
The viscosity was measured by the same method as in Example 1.
Using the photocurable composition A-2 obtained above, a resist pattern was formed in the same manner as in Example 1, and the same evaluation as in Example 1 was performed.

〔実施例3〕
実施例1中、界面活性光重合開始剤として用いた例示化合物30を、例示化合物31に変更した以外は実施例1と同様にして光硬化性組成物A−3を調製した。
上記で得られた光硬化性組成物A−3について、実施例1と同様にして粘度を測定した。また、上記で得られた光硬化性組成物A−3を用い、実施例1と同様にしてレジストパターンを形成し、実施例1と同様の評価を行った。
Example 3
A photocurable composition A-3 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the exemplified compound 30 used as the surface active photopolymerization initiator in Example 1 was changed to the exemplified compound 31.
About the photocurable composition A-3 obtained above, it carried out similarly to Example 1, and measured the viscosity. Moreover, the resist pattern was formed like Example 1 using the photocurable composition A-3 obtained above, and evaluation similar to Example 1 was performed.

〔実施例4〕
実施例3中、界面活性剤として用いたEFTOP EF−122A(フッ素系、W−1)を除いた以外は実施例3と同様にして光硬化性組成物A−4を調製した。
得られた光硬化性組成物A−4について、実施例1と同様にして粘度を測定した。また、上記で得られた光硬化性組成物A−4を用い、実施例1と同様にしてレジストパターンを形成し、実施例1と同様の評価を行った。
Example 4
In Example 3, Photocurable Composition A-4 was prepared in the same manner as Example 3 except that EFTOP EF-122A (fluorine-based, W-1) used as the surfactant was omitted.
About the obtained photocurable composition A-4, it carried out similarly to Example 1, and measured the viscosity. Moreover, the resist pattern was formed like Example 1 using the photocurable composition A-4 obtained above, and evaluation similar to Example 1 was performed.

〔実施例5〕
実施例3中、界面活性剤として用いたEFTOP EF−122A(フッ素系、W−1)を、メガファックR−08(フッ素・シリコーン系、W−3)に変更した以外は実施例3と同様にして光硬化性組成物A−5を調製した。
得られた光硬化性組成物A−5について、実施例1と同様にして粘度を測定した。また、上記で得られた光硬化性組成物A−5を用い、実施例1と同様にしてレジストパターンを形成し、実施例1と同様の評価を行った。
Example 5
In Example 3, except that EFTOP EF-122A (fluorine type, W-1) used as the surfactant was changed to MegaFac R-08 (fluorine / silicone type, W-3), as in Example 3. Thus, a photocurable composition A-5 was prepared.
About the obtained photocurable composition A-5, it carried out similarly to Example 1, and measured the viscosity. Moreover, the resist pattern was formed like Example 1 using the photocurable composition A-5 obtained above, and evaluation similar to Example 1 was performed.

〔実施例6〜10〕
実施例1〜5中、モールドの裏面側からの露光量を50mJ/cm2の条件に変更した以外は実施例1〜5と同様にしてレジストパターンをそれぞれ形成し、実施例1と同様の評価を行った。
[Examples 6 to 10]
In Examples 1 to 5, a resist pattern was formed in the same manner as in Examples 1 to 5 except that the exposure amount from the back side of the mold was changed to a condition of 50 mJ / cm 2 , and the same evaluation as in Example 1 was performed. Went.

〔実施例11〕
重合性化合物として、ヒドロキシピバリン酸ネオペンチルグリコールジアクリレート(R−09)46.2g、エチレンオキサイド変性トリメチロールプロパントリアクリレート(R−12)46.2g、エチレンオキサイド変性リン酸ジメタクリレート(R−16)0.1g、光重合開始剤として、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニル−プロパン−1−オン(チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製 Darocure 1173)(P−2)7.5g、界面活性開始剤として例示化合物31を0.5g、界面活性剤として、EFTOP EF−122A(フッ素系、W−1)0.05gを精秤し、室温で24時間混合し、均一溶液として、光硬化性組成物(塗布液)A−6を得た。
上記で得られた光硬化性組成物A−6では、粘度が30mPa・s以下の重合性化合物の割合が60質量%であり、光硬化性組成物A−6の粘度は28mPa・sであった。
なお、粘度の測定は実施例1と同様の方法により行った。
上記で得られた光硬化性組成物A−6を用い、実施例1と同様にしてレジストパターンを形成し、実施例1と同様の評価を行った。
Example 11
As a polymerizable compound, hydroxypivalate neopentyl glycol diacrylate (R-09) 46.2 g, ethylene oxide-modified trimethylolpropane triacrylate (R-12) 46.2 g, ethylene oxide-modified phosphate dimethacrylate (R-16) ) 0.1 g, as photopolymerization initiator, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenyl-propan-1-one (Darocur 1173 manufactured by Ciba Specialty Chemicals) (P-2) 7.5 g, surface activity 0.5 g of Exemplified Compound 31 as an initiator and 0.05 g of EFTOP EF-122A (fluorine-based, W-1) as a surfactant are precisely weighed, mixed at room temperature for 24 hours, and made into a uniform solution as photocurable. Composition (coating solution) A-6 was obtained.
In the photocurable composition A-6 obtained above, the ratio of the polymerizable compound having a viscosity of 30 mPa · s or less was 60% by mass, and the viscosity of the photocurable composition A-6 was 28 mPa · s. It was.
The viscosity was measured by the same method as in Example 1.
Using the photocurable composition A-6 obtained above, a resist pattern was formed in the same manner as in Example 1, and the same evaluation as in Example 1 was performed.

〔比較例1〜4〕
実施例1〜4中、界面活性光重合開始剤をそれぞれ添加しなかった以外は実施例1〜4と同様にして、光硬化性組成物N−1〜N−4をそれぞれ調製した。
得られた各光硬化性組成物について、実施例1と同様にして粘度を測定した。また、上記で得られた各光硬化性組成物を用い、実施例1と同様にしてレジストパターンを形成し、実施例1と同様の評価を行った。
[Comparative Examples 1-4]
In Examples 1 to 4, photocurable compositions N-1 to N-4 were respectively prepared in the same manner as in Examples 1 to 4, except that the surfactant photopolymerization initiator was not added.
About each obtained photocurable composition, it carried out similarly to Example 1, and measured the viscosity. Moreover, the resist pattern was formed like Example 1 using each photocurable composition obtained above, and evaluation similar to Example 1 was performed.

〔比較例5〕
実施例1中、光重合開始剤を添加しなかった以外は実施例1と同様にして、光硬化性組成物N−5を調製した。
得られた光硬化性組成物N−5について、実施例1と同様にして粘度を測定した。また、得られた光硬化性組成物N−5を用い、実施例1と同様にしてレジストパターンを形成し、実施例1と同様の評価を行った。
[Comparative Example 5]
In Example 1, a photocurable composition N-5 was prepared in the same manner as in Example 1 except that no photopolymerization initiator was added.
About the obtained photocurable composition N-5, it carried out similarly to Example 1, and measured the viscosity. Further, using the obtained photocurable composition N-5, a resist pattern was formed in the same manner as in Example 1, and the same evaluation as in Example 1 was performed.

〔比較例6〜10〕
比較例1〜5中、モールドの裏面側からの露光量を50mJ/cm2の条件に変更した以外は比較例1〜5と同様にしてレジストパターンをそれぞれ形成し、実施例1と同様の評価を行った。
[Comparative Examples 6 to 10]
In Comparative Examples 1 to 5, a resist pattern was formed in the same manner as Comparative Examples 1 to 5 except that the exposure amount from the back side of the mold was changed to the condition of 50 mJ / cm 2. Went.

〔比較例11〕
重合性化合物として、トリプロピレングリコールジアクリレート(R−11)28.6g、エチレンオキサイド変性トリメチロールプロパントリアクリレート(R−12)62g、ネオペンチルグリコールジアクリレート(R−22)4.77g、光重合開始剤として、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニル−プロパン−1−オン(チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製 Darocure 1173)(P−2)4.58g、界面活性開始剤として例示化合物31を0.5g、界面活性剤として、EFTOP EF−122A(フッ素系、W−1)0.05gを精秤し、室温で24時間混合し、均一溶液として、光硬化性組成物(塗布液)N−6を得た。
上記で得られた光硬化性組成物N−6では、粘度が30mPa・s以下の重合性化合物の割合が30質量%であり、光硬化性組成物N−6の粘度は33mPa・sであった。
なお、粘度の測定は実施例1と同様の方法により行った。
上記で得られた光硬化性組成物N−6を用い、実施例1と同様にしてレジストパターンを形成し、実施例1と同様の評価を行った。
[Comparative Example 11]
As a polymerizable compound, 28.6 g of tripropylene glycol diacrylate (R-11), 62 g of ethylene oxide-modified trimethylolpropane triacrylate (R-12), 4.77 g of neopentyl glycol diacrylate (R-22), photopolymerization As an initiator, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenyl-propan-1-one (Darocur 1173 manufactured by Ciba Specialty Chemicals) (P-2) 4.58 g, and exemplified compound 31 as a surfactant initiator 0.5 g, EFTOP EF-122A (fluorine-based, W-1) 0.05 g as a surfactant is precisely weighed and mixed at room temperature for 24 hours. As a uniform solution, a photocurable composition (coating liquid) N -6 was obtained.
In the photocurable composition N-6 obtained above, the proportion of the polymerizable compound having a viscosity of 30 mPa · s or less was 30% by mass, and the viscosity of the photocurable composition N-6 was 33 mPa · s. It was.
The viscosity was measured by the same method as in Example 1.
Using the photocurable composition N-6 obtained above, a resist pattern was formed in the same manner as in Example 1, and the same evaluation as in Example 1 was performed.

実施例1〜5及び11、比較例1〜5及び11における光硬化性組成物の組成を下記表1に示す。
また、実施例1〜11及び比較例1〜11の評価結果を下記表2に示す。
The compositions of the photocurable compositions in Examples 1 to 5 and 11 and Comparative Examples 1 to 5 and 11 are shown in Table 1 below.
The evaluation results of Examples 1 to 11 and Comparative Examples 1 to 11 are shown in Table 2 below.

Figure 2009051017
Figure 2009051017

<表1中の記号の説明>
〜(a)重合性化合物 〜
R−01: ベンジルアクリレート(ビスコート#160:大阪有機化学社製)
R−02: フェノキシエチルアクリレート(ライトアクリレートPO−A:共栄社油脂社製)
R−09: ヒドロキシピバリン酸ネオペンチルグリコールジアクリレート(カラヤッドMANDA:日本化薬社製)
R−11: トリプロピレングリコールジアクリレート(カラヤッドTPGDA:日本化薬社製)
R−12: エチレンオキサイド変性トリメチロールプロパントリアクリレート(SR−454: 化薬サートマー社製)
R−13:プロピレンオキシド変性トリメチロールプロパントリアクリレート(ニューフロンティアTMP−3P:第一工業製薬社製)
R−16: エチレンオキサイド変性リン酸ジメタクリレート(カヤマーPM−21: 日本化薬社製)
R−22: ネオペンチルグリコールジアクリレート(SR−351: 化薬サートマー社製)
<Explanation of symbols in Table 1>
-(A) Polymerizable compound-
R-01: benzyl acrylate (Biscoat # 160: manufactured by Osaka Organic Chemical Co., Ltd.)
R-02: Phenoxyethyl acrylate (Light acrylate PO-A: manufactured by Kyoeisha Yushi Co., Ltd.)
R-09: Hydroxypivalic acid neopentyl glycol diacrylate (Kalayad MANDA: manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
R-11: Tripropylene glycol diacrylate (Kalayad TPGDA: manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
R-12: Ethylene oxide modified trimethylolpropane triacrylate (SR-454: manufactured by Kayaku Sartomer)
R-13: Propylene oxide-modified trimethylolpropane triacrylate (New Frontier TMP-3P: manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.)
R-16: Ethylene oxide-modified phosphate dimethacrylate (Kayamer PM-21: Nippon Kayaku Co., Ltd.)
R-22: Neopentyl glycol diacrylate (SR-351: Kayaku Sartomer)

〜(b)光重合開始剤 〜
P−1: 2,4,6−トリメチルベンゾイル−エトキシフェニル−ホスフィンオキシド(Lucirin TPO−L:BASF社製)
P−2: 2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニル−プロパン−1−オン(Darocure 1173:チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製)
-(B) Photopolymerization initiator-
P-1: 2,4,6-trimethylbenzoyl-ethoxyphenyl-phosphine oxide (Lucirin TPO-L: manufactured by BASF)
P-2: 2-hydroxy-2-methyl-1-phenyl-propan-1-one (Darocur 1173: manufactured by Ciba Specialty Chemicals)

〜(c)界面活性剤 〜
W−1: EFTOP EF−122A(トーケムプロダクツ社製:フッ素系界面活性剤)
W−2: メガファックペインタッド31(大日本インキ化学工業社製:シリコーン系界面活性剤)
W−3: メガファックR−08(大日本インキ化学工業社製:フッ素・シリコーン系界面活性剤)
~ (C) Surfactant ~
W-1: EFTOP EF-122A (manufactured by Tochem Products: fluorinated surfactant)
W-2: Megafuck Paintad 31 (Dainippon Ink & Chemicals, Inc .: silicone surfactant)
W-3: Mega-Fac R-08 (Dainippon Ink Chemical Industries, Ltd .: fluorine / silicone surfactant)

Figure 2009051017
Figure 2009051017

表2に示すとおり、少なくとも界面活性光重合開始剤を含有する実施例1〜5及び11ではモールドからの剥離性が良好であったが、界面活性光重合開始剤を含有しない比較例1〜4では、特にモールドからの剥離性を満足できるものではなかった。
又、露光量を半減させた実施例6〜10は良好な性能を維持できているのに対し、比較例6〜10は性能を満足するものは得られなかった。
更に、粘度が30mPa・sを超える比較例11は満足する塗布性及び性能を得ることはできなかった。
As shown in Table 2, the peelability from the mold was good in Examples 1 to 5 and 11 containing at least a surface-active photopolymerization initiator, but Comparative Examples 1 to 4 not containing a surface-active photopolymerization initiator. In particular, the peelability from the mold was not satisfactory.
In addition, while Examples 6 to 10 in which the exposure amount was halved maintained good performance, Comparative Examples 6 to 10 were not able to obtain satisfactory performance.
Furthermore, Comparative Example 11 having a viscosity exceeding 30 mPa · s could not obtain satisfactory coating properties and performance.

〔実施例12〕
≪Al製電極パターン付き基板の作製≫
<レジストパターンの形成>
厚さ1mmの4インチ角のガラス基板上に形成された、膜厚400nmのアルミニウム(Al)膜上に、上記で調製した光硬化性組成物A−1を、厚さが6.0μmになるようにスピンコートしてAl膜上に光硬化性層を形成した。
Example 12
≪Preparation of substrate with Al electrode pattern≫
<Formation of resist pattern>
The thickness of the photocurable composition A-1 prepared above is 6.0 μm on an aluminum (Al) film having a thickness of 400 nm formed on a 4 inch square glass substrate having a thickness of 1 mm. The photocurable layer was formed on the Al film by spin coating as described above.

次に、実施例1と同様の方法により、Al膜上にレジストパターンを形成した。
レジストパターンは、モールドの凹凸パターンに対する反転パターンとして形成された。
Next, a resist pattern was formed on the Al film by the same method as in Example 1.
The resist pattern was formed as an inverted pattern with respect to the concave / convex pattern of the mold.

<Al製電極パターンの形成>
次に、得られたレジストパターンをマスクとして、Al膜のウェットエッチングを行った。
即ち、リン硝酸エッチャントにより、レジストパターンに被覆されていないアルミニウム(Al)部を除去し、アルミニウム(Al)製の電極パターン(以下、「Al製電極パターン」ともいう)を形成した。
さらにレジスト剥離を、モノエタノールアミン/ジメチルスルホキシド混合剥離液を用い、80℃にて3分間浸漬処理して行った。
以上により、Al製電極パターン付き基板を得た。
<Formation of Al electrode pattern>
Next, wet etching of the Al film was performed using the obtained resist pattern as a mask.
That is, an aluminum (Al) portion not covered with the resist pattern was removed with a phosphoric nitrate etchant to form an aluminum (Al) electrode pattern (hereinafter also referred to as “Al electrode pattern”).
Further, the resist was stripped by immersion for 3 minutes at 80 ° C. using a mixed stripping solution of monoethanolamine / dimethyl sulfoxide.
As a result, an Al electrode-patterned substrate was obtained.

≪評価≫
上記光硬化性組成物及び上記レジストパターンについて、実施例1と同様の評価を行った。
更に、上記Al製電極パターンについて、下記エッチング性の評価を行った。
評価結果を表3に示す。
≪Evaluation≫
Evaluation similar to Example 1 was performed about the said photocurable composition and the said resist pattern.
Furthermore, the following etching property was evaluated about the said Al electrode pattern.
The evaluation results are shown in Table 3.

<エッチング性>
レジスト剥離後のAl製電極パターンを、目視および光学顕微鏡(倍率500倍)により観察した。観察は、基板内5ポイントについて行い、以下の判断基準により評価した。
〜判断基準〜
A:線幅10±2.0μmのアルミニウムのラインが得られた。
B:ラインの線幅のばらつき±2.0μmを超えるラインになった。
C:ラインの欠損部分が存在した、または、ライン間が繋がっていた。
<Etching property>
The Al electrode pattern after resist peeling was observed visually and with an optical microscope (magnification 500 times). Observation was performed for 5 points in the substrate and evaluated according to the following criteria.
~Judgment criteria~
A: An aluminum line having a line width of 10 ± 2.0 μm was obtained.
B: Variation in line width The line exceeded ± 2.0 μm.
C: Line missing portions existed or lines were connected.

〔実施例13〜16〕
実施例12中、実施例1で調製した光硬化性組成物A−1を、実施例2〜5で調製した光硬化性組成物A−2〜A−5に変更した以外は実施例12と同様にして、それぞれレジストパターン及びAl製電極パターンの形成を行った。上記光硬化性組成物、上記レジストパターン、及び上記Al電極パターンについて、それぞれ実施例12と同様の評価を行った。
評価結果を表3に示す。
[Examples 13 to 16]
In Example 12, Example 12 except that the photocurable composition A-1 prepared in Example 1 was changed to the photocurable compositions A-2 to A-5 prepared in Examples 2 to 5. Similarly, a resist pattern and an Al electrode pattern were formed. Evaluation similar to Example 12 was performed about the said photocurable composition, the said resist pattern, and the said Al electrode pattern, respectively.
The evaluation results are shown in Table 3.

〔比較例12〜16〕
実施例12〜16において、光硬化性組成物A−1〜A−5を、前述の光硬化性組成物N−1〜N−5に変更した以外は実施例12〜16と同様にして、それぞれレジストパターン及びAl製電極パターンの形成を行った。上記光硬化性組成物、上記レジストパターン、及び上記Al電極パターンについて、それぞれ実施例12と同様の評価を行った。
評価結果を表3に示す。
[Comparative Examples 12 to 16]
In Examples 12-16, except having changed photocurable composition A-1 to A-5 into the above-mentioned photocurable composition N-1 to N-5, it is the same as that of Examples 12-16, A resist pattern and an Al electrode pattern were respectively formed. Evaluation similar to Example 12 was performed about the said photocurable composition, the said resist pattern, and the said Al electrode pattern, respectively.
The evaluation results are shown in Table 3.

Figure 2009051017
Figure 2009051017

表3に示すとおり、少なくとも界面活性開始剤化合物を含有する実施例12〜16は良好なモールドからの剥離性、エッチング性を発現したが、界面活性開始剤化合物を含有しない比較例12〜15の組成物、及び光重合開始剤を含有しない比較例16の組成物は、特にモールドからの剥離性、エッチング性を満足できるものではなかった。   As shown in Table 3, Examples 12 to 16 containing at least a surfactant initiator compound exhibited good mold releasability and etching properties, but Comparative Examples 12 to 15 containing no surfactant initiator compound. The composition and the composition of Comparative Example 16 that did not contain a photopolymerization initiator were not particularly satisfactory in the releasability from the mold and the etching property.

Claims (6)

(a)重合性化合物と、(b)光重合開始剤と、(c)界面活性光重合開始剤と、を含み、25℃における粘度が3mPa・s以上30mPa・s以下である光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物。 For optical nanoimprint lithography, comprising (a) a polymerizable compound, (b) a photopolymerization initiator, and (c) a surface-active photopolymerization initiator, and having a viscosity at 25 ° C. of 3 mPa · s to 30 mPa · s. Photocurable composition. 前記(c)界面活性光重合開始剤は、置換されていてもよい炭素数3以上30以下のアルキル基、置換されていてもよいシロキサン基、及び置換されていてもよいフッ素化アルキル基から選ばれる少なくとも1種を有する化合物であることを特徴とする請求項1に記載の光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物。   The (c) surfactant photopolymerization initiator is selected from an optionally substituted alkyl group having 3 to 30 carbon atoms, an optionally substituted siloxane group, and an optionally substituted fluorinated alkyl group. The photocurable composition for optical nanoimprint lithography according to claim 1, wherein the photocurable composition is a compound having at least one kind. 25℃における粘度が3mPa・s以上18mPa・s以下であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物。   3. The photocurable composition for photo-nanoimprint lithography according to claim 1, wherein the viscosity at 25 ° C. is 3 mPa · s or more and 18 mPa · s or less. 更に、(d)フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤、及びフッ素・シリコーン系界面活性剤から選ばれる少なくとも1種を含むことを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物。   Furthermore, (d) At least 1 sort (s) chosen from a fluorine-type surfactant, a silicone type surfactant, and a fluorine-silicone type surfactant is included, The any one of Claims 1-3 characterized by the above-mentioned. The photocurable composition for photo-nanoimprint lithography described in 1. 請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載の光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物を基板上に塗布して光硬化性層を形成する工程と、
凹凸パターンを有するモールドの該凹凸パターンと、前記基板上に形成された前記光硬化性層と、を圧接して前記光硬化性層を変形させる工程と、
前記基板の前記光硬化性層が形成された側の反対側から、及び/又は、前記モールドの前記光硬化性層に接する側の反対側から、前記変形した光硬化性層に光を照射して前記変形した光硬化性層を硬化する工程と、
前記基板から前記モールドを剥離し、基板上に前記凹凸パターンの反転パターンを形成する工程と、
を有するパターン付き基板の製造方法。
The process of apply | coating the photocurable composition for optical nanoimprint lithography of any one of Claims 1-4 on a board | substrate, and forming a photocurable layer,
Deforming the photocurable layer by pressing the concave / convex pattern of the mold having the concave / convex pattern and the photocurable layer formed on the substrate;
The deformed photocurable layer is irradiated with light from the opposite side of the substrate on which the photocurable layer is formed and / or from the opposite side of the mold in contact with the photocurable layer. Curing the deformed photocurable layer,
Peeling the mold from the substrate and forming a reversal pattern of the concavo-convex pattern on the substrate;
A method for manufacturing a substrate with a pattern.
更に、
前記基板上に形成された前記反転パターンをマスクとして基板をエッチングする工程と、
前記エッチングされた基板から前記反転パターンを剥離する工程と、
を有することを特徴とする請求項5に記載のパターン付き基板の製造方法。
Furthermore,
Etching the substrate using the reverse pattern formed on the substrate as a mask;
Peeling the reverse pattern from the etched substrate;
The method for producing a substrate with a pattern according to claim 5, wherein:
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