JP2009032516A - 平型電線の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】簡易な装置によって厚さを計測することにより、所望の厚さの平型電線を製造することができる平型電線の製造方法を提供する。
【解決手段】並列した導体11に絶縁樹脂12を押出し被覆して平型電線10を製造する平型電線の製造方法であって、絶縁樹脂12を押出し被覆された絶縁樹脂層13における導体11の並列面Pに対して上面及び下面に光学式距離測定器20a,20bからレーザ光Bを照射して上面までの距離D1及び下面までの距離D2を測定し、光学式距離測定器20a,20bの間隔Lから上面までの距離D1及び下面までの距離D2を減じて平型電線10の厚さTを検出し、検出された厚さTが所定の範囲内となるように絶縁樹脂12の押出し量を調整する。
【選択図】図3
【解決手段】並列した導体11に絶縁樹脂12を押出し被覆して平型電線10を製造する平型電線の製造方法であって、絶縁樹脂12を押出し被覆された絶縁樹脂層13における導体11の並列面Pに対して上面及び下面に光学式距離測定器20a,20bからレーザ光Bを照射して上面までの距離D1及び下面までの距離D2を測定し、光学式距離測定器20a,20bの間隔Lから上面までの距離D1及び下面までの距離D2を減じて平型電線10の厚さTを検出し、検出された厚さTが所定の範囲内となるように絶縁樹脂12の押出し量を調整する。
【選択図】図3
Description
本発明は、並列した導体に絶縁樹脂を押出し被覆して平型電線を製造する方法に関する。
並列した導体に絶縁樹脂を押出し被覆して平型電線(フラットケーブル)を製造する際に、平型電線の平坦な面に超音波を当てて、平型電線の厚さ等、種々のパラメータを求める方法及び装置が知られている(例えば特許文献1参照)。
この方法及び装置では、水槽中に上下一対の超音波ヘッドを往復移動可能に設けておき、測定する平型電線を超音波ヘッドの移動方向と略直交する方向に移動させて、平型電線の幅方向へ走査する。これにより、平型電線の幅方向全体にわたって厚さを測定し、製造に必要な種々のパラメータを測定する。
この方法及び装置では、水槽中に上下一対の超音波ヘッドを往復移動可能に設けておき、測定する平型電線を超音波ヘッドの移動方向と略直交する方向に移動させて、平型電線の幅方向へ走査する。これにより、平型電線の幅方向全体にわたって厚さを測定し、製造に必要な種々のパラメータを測定する。
前記特許文献1に記載の測定装置では、水槽や超音波を用いているため装置が大掛かりであり、製造コストも嵩み易い。また、平型電線の厚さを直接計測する接触式測定器を使用した場合には、絶縁樹脂の押出し直後に計測子が接触すると、平型電線の表面に傷が付くおそれがある。
そこで、本発明の目的は、簡易な装置によって厚さを計測することにより、所望の厚さの平型電線を製造することができる平型電線の製造方法を提供することにある。
前記課題を解決することのできる本発明に係る平型電線の製造方法は、並列した導体に絶縁樹脂を押出し被覆して平型電線を製造する平型電線の製造方法であって、前記絶縁樹脂が押出し被覆された絶縁樹脂層における前記導体の並列面に対して上方に設置された光学式距離測定器及び下方に設置された光学式距離測定器それぞれから前記導体の並列面の上面及び下面に検出光を照射して、前記上方に設置された光学式距離測定器から前記上面までの距離及び前記下方に設置された光学式距離測定器から前記下面までの距離を測定し、前記上方に設置された光学式距離測定器と前記下方に設置された光学式距離測定器の間隔から前記上面までの距離及び前記下面までの距離を減じて前記平型電線の厚さを検出し、前記検出された厚さが所定の範囲内となるように前記絶縁樹脂の押出し量を調整することを特徴とする。
本発明に係る平型電線の製造方法において、前記絶縁樹脂層の上面及び下面を前記導体の並列方向に走査して前記平型電線の幅方向で複数箇所の厚さを測定し、各測定箇所で最新の測定値と前回の測定値とを比較して、測定値の差が所定以上の場合にはその測定箇所での最新の測定値を採用せずに、採用した測定箇所での測定値から前記平型電線の厚さを検出して前記絶縁樹脂の押出し量を調整することが好ましい。
本発明によれば、並列した導体に絶縁樹脂を押出し被覆して平型電線を製造する際に、押出し被覆された絶縁樹脂層の上下面に、導体の並列面に対して上方に設置された光学式距離測定器及び下方に設置された光学式距離測定器それぞれから検出光を照射し、それぞれ上下面までの距離を測定する。そして、測定された絶縁被覆層の上下面までの距離から平型電線の厚さを検出し、検出された厚さが所定の範囲内となるように絶縁樹脂の押出し量を調整するため、簡易な装置によって厚さを計測して、所望の厚さの平型電線を製造することができる。
以下、本発明に係る平型電線の製造方法の実施形態の例を、図面を参照しつつ説明する。
図1は本実施形態に係る平型電線の製造方法を実施する製造装置を示す概略構成図、図2は平型電線の一例を示す断面図、図3は平型電線の厚さを測定する構成を示す説明図である。
図1は本実施形態に係る平型電線の製造方法を実施する製造装置を示す概略構成図、図2は平型電線の一例を示す断面図、図3は平型電線の厚さを測定する構成を示す説明図である。
図1に示すように、平型電線の製造装置30は、複数本の導体11を並列させて被覆装置32に導入し、導体11の周囲に絶縁樹脂12を押出し被覆して平型電線10を製造するものである。導体11は、例えば錫メッキ銅合金の線状体であり、絶縁樹脂12は、例えばPVC、ポリプロピレン、ポリウレタン等を用いることができる。
また、図2に平型電線10の一例を示す。各部の寸法は、例えば、平型電線10の幅W=10〜60mm、平型電線10の厚さT=0.5〜1.5mm、導体11の幅w1=1mm、導体11の厚さt1=0.1〜0.2mm、溝14の幅w2=0.5mm、溝14の深さt2=0.3mmである。なお、導体11の形状や本数、溝14の形状や本数はこれに限られない。
図1に示すように、被覆装置32の下流側には、絶縁樹脂12が押出し成形された直後の平型電線10の厚さを測定するための光学式距離測定器20a,20bが設けられている。光学式距離測定器20a,20bは、平型電線10の上方及び下方の所定の位置に各々設けられ、平型電線10の上下面のそれぞれに検出用のレーザ光(検出光)Bを照射し、反射して戻ってきたレーザ光Bを受光して、光学式距離測定器20a,20bに接続されている制御装置31に測定信号を伝達する。制御装置31では、光学式距離測定器20a,20bから送られてきた測定信号に基づいて、平型電線10の上下面までの距離を検出し、それに基づき平型電線10の厚さを算出する。
図3に、平型電線10の断面と光学式距離測定器20a,20b及び各部の距離を示す。
光学式距離測定器20a,20bは、並列した導体11の並列面Pに対して絶縁樹脂層13の上面及び下面に、それぞれレーザ光Bを照射し、その反射光をそれぞれ検出することで、上方の光学式距離測定器20aと平型電線10の上面との距離D1と、下方の光学式距離測定器20bと平型電線10の下面との距離D2とを測定する。レーザ光Bの光束は、例えば、50μm×850μmである。
光学式距離測定器20a,20bは、並列した導体11の並列面Pに対して絶縁樹脂層13の上面及び下面に、それぞれレーザ光Bを照射し、その反射光をそれぞれ検出することで、上方の光学式距離測定器20aと平型電線10の上面との距離D1と、下方の光学式距離測定器20bと平型電線10の下面との距離D2とを測定する。レーザ光Bの光束は、例えば、50μm×850μmである。
平型電線10の厚さTを測定する際には、押出し被覆された直後の絶縁樹脂層13の上下面に対してレーザ光Bを導体11の並列方向(幅方向)に走査して平型電線10の幅方向で複数箇所の厚さTを測定する。レーザ光Bの走査時間は、例えば往復で2秒程度である。このとき、絶縁樹脂層13が押出し被覆された平型電線10は、上下および左右に振れる(例えば、1.2mm程度)ことがあるため、測定できない箇所が生じないように、レーザ光Bの走査範囲は平型電線10の全幅よりも大きくするとよい。
そして、制御装置31は、光学式距離測定器20a,20bの間隔Lと、測定した距離D1,D2を用いて、式「T=L−(D1+D2)」から平型電線10の厚さTを算出する。平型電線10は上下左右に振れながら走行するため、距離D1及びD2は刻々と変化するが、本実施形態では、固定値である間隔LからD1とD2の値を引いて厚さTを算出するため、平型電線10の走行振れの影響を極力受けずに厚さTを求めることができる。
さらに、制御装置31は、算出された平型電線10の厚さTを、目標値である所定の厚さT0と比較する。制御装置31は被覆装置32に接続されており、検出された平型電線10の厚さTが所定の厚さT0よりも薄い(T<T0)場合には、被覆装置32を制御して、絶縁樹脂12の押出し量を増加させて厚さTを増加させる。一方、厚さTが所定の厚さよりも厚い(T>T0)場合には、被覆装置32を制御して、絶縁樹脂12の押出し量を減少させ、厚さTを減少させる。
このように、検出された厚さTが目標値である所定の厚さT0に対して所定の範囲内となるように、制御装置31は被覆装置32をフィードバック制御して絶縁樹脂12の押出し量を調整する。これにより、簡易な構成の製造装置30によって、所望の厚さの平型電線10を製造することができる。
また、図2に示すように、平型電線10の上面や下面に、導体11を分岐するため、もしくは導体11の位置を示すための溝14が形成されている場合には、溝14における測定値が急に減少して、見かけ上平型電線10の厚さTが不足しているように検出される。このような場合に、溝14における測定値に基づいて絶縁樹脂12の押出し量を増加させると、実際には厚さTが足りていても絶縁樹脂12の押出し量が増加するため、厚さTが所定の厚さよりも厚くなってしまう。あるいは、平型電線10が傾いた場合、見かけ上厚さTが厚くなる。このような場合に絶縁樹脂12の押出し量を減らすと、所定の厚さよりも薄くなってしまう。
そのため、平型電線10の幅方向にレーザ光Bを走査して複数箇所で厚さTを計測し、最新の測定値と前回の測定値とを比較して、測定値の差が所定以上の場合には、溝14の位置の測定値である、または平型電線10の走行振れがあったと判断できるため、その測定箇所での最新の測定値を採用しないようにする。そして、採用した複数箇所の測定値の平均値を算出して、平型電線10の厚さTとして判断し、被覆装置32(図1参照)にフィードバックして絶縁樹脂12の押出し量を調整するとよい。なお、複数箇所の測定値のうち、最大値を平型電線10の厚さTとして判断してもよい。
10 平型電線
11 導体
12 絶縁樹脂
13 絶縁樹脂層
20 光学式距離測定器
B レーザ光(検出光)
D1 平型電線の上面までの距離
D2 平型電線の下面までの距離
L 基準間隔
T 厚さ
11 導体
12 絶縁樹脂
13 絶縁樹脂層
20 光学式距離測定器
B レーザ光(検出光)
D1 平型電線の上面までの距離
D2 平型電線の下面までの距離
L 基準間隔
T 厚さ
Claims (2)
- 並列した導体に絶縁樹脂を押出し被覆して平型電線を製造する平型電線の製造方法であって、
前記絶縁樹脂が押出し被覆された絶縁樹脂層における前記導体の並列面に対して上方に設置された光学式距離測定器及び下方に設置された光学式距離測定器それぞれから前記導体の並列面の上面及び下面に検出光を照射して、前記上方に設置された光学式距離測定器から前記上面までの距離及び前記下方に設置された光学式距離測定器から前記下面までの距離を測定し、前記上方に設置された光学式距離測定器と前記下方に設置された光学式距離測定器の間隔から前記上面までの距離及び前記下面までの距離を減じて前記平型電線の厚さを検出し、前記検出された厚さが所定の範囲内となるように前記絶縁樹脂の押出し量を調整することを特徴とする平型電線の製造方法。 - 請求項1に記載の平型電線の製造方法であって、
前記絶縁樹脂層の上面及び下面を前記導体の並列方向に走査して前記平型電線の幅方向で複数箇所の厚さを測定し、各測定箇所で最新の測定値と前回の測定値とを比較して、測定値の差が所定以上の場合にはその測定箇所での最新の測定値を採用せずに、採用した測定箇所での測定値から前記平型電線の厚さを検出して前記絶縁樹脂の押出し量を調整することを特徴とする平型電線の製造方法。
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2007
- 2007-07-26 JP JP2007194983A patent/JP2009032516A/ja active Pending
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