JP2008533721A - 単一基板上で多数の工程段階を実現する方法および装置 - Google Patents
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Abstract
基板マスキング装置は、処理のために基板を支持するプラテンアセンブリと、開口を有するマスクと、マスクをマスキング位置で保持する保持機構と、マスクと基板との相対位置を変更することにより、マスクにおける開口を介し、基板の異なる領域が露光されるようにする位置決め機構とを含む。装置は、マスクをマスキング位置と非マスキング位置との方へおよびその間で移動させるマスク装填機構をさらに含む。処理は、異なる領域に異なる注入パラメータ値を有する基板のイオン注入を含んでよい。他の実施形態においては、処理される基板の領域は、基板の前にあるマスク、シャッタ、または、ビームモディファイヤにより選択することができる。
【選択図】図1
【選択図】図1
Description
本発明は、半導体のウェーハなどの基板の処理に関し、より詳しくは、異なるプロセスパラメータを有する基板の異なる領域を処理する方法および装置に関する。本発明は、半導体ウェーハのイオン注入に用いることができるが、イオン注入または半導体ウェーハに限定されない。
本出願は、2005年3月9日に出願された仮出願番号60/660,420の利益を主張し、そのすべてを参照としてここに組み込む。
本出願は、2005年3月9日に出願された仮出願番号60/660,420の利益を主張し、そのすべてを参照としてここに組み込む。
従来のイオン注入では、ウェーハ全体が線量、エネルギー、ドーパント種、および、ビーム入射角などの一そろいの注入パラメータ値により注入される。ほとんどの用途では、半導体ウェーハの表面全体に、均一にイオンが注入されることが必要条件となる。
集積回路の開発においては、最適なプロセスおよびデバイスパラメータ値を決定すべく、プロセス条件を変更する必要が頻繁にある。研究開発および生産設備における実験計画(DOE)は、単一のウェーハが実験におけるそれぞれのデータポイントに使用されることが求められていた。開発者が多数の異なるパラメータ値により実験を行いたい場合、異なるパラメータ値の数に等しい数のウェーハが必要になる。プロセスおよびデバイスパラメータを最適化するためにはウェーハのコスト、特に大型のウェーハのコストがひどく高くなる。例えば、直径300ミリメートルのウェーハはそれぞれ5、000ドルもする場合もある。
したがって、多数の工程段階を単一の基板上で実行できるようにし、その結果、集積回路の開発に必要な基板数を減らすことができる方法および装置が要求される。
本発明の第1の態様によれば、基板マスキング装置であって、処理のための基板を支持するプラテンアセンブリと、開口を有するマスクと、マスクをマスク位置で保持する保持機構と、マスクと基板との相対位置を変更することにより、基板の異なる領域がマスクにおける開口を介して露光される位置決め機構とを有する。
いくつかの実施形態では、処理は、異なる領域に異なる注入パラメータ値を有する基板のイオン注入を含む。マスクにおける開口は、注入パラメータ値の特定のセットを用い、注入されるべき基板の領域を定義する。
本発明の第2の態様によれば、基板を処理する方法が提供される。方法は、開口を有するマスクを基板に対して位置決めすることにより、基板の第1の領域がマスクにおける該開口を介し露光される工程と、マスクにおける開口を介し、基板の第1の領域を処理する工程と、マスクと基板との相対位置を変更することにより、開口を介し、基板の第2の領域が露光される工程と、マスクにおける開口を介し基板の第2の領域を処理する工程とを含む。
本発明の第3の態様によれば、イオン注入機であって、イオンビームを生成するイオンビーム発生器と、イオンビームによるイオン注入のために基板を支持するプラテンアセンブリと、開口を有するマスクと、マスクをマスキング位置に移動させるマスク装填機構と、マスクをマスキング位置で保持する保持機構と、マスクと基板との相対位置を変更することにより、マスクにおける開口を通過するイオンビームにより基板の異なる領域が注入される位置決め機構とを有する。本発明の第4の態様によれば、基板を処理する方法が提供される。方法は、異なる処理パラメータ値を有する基板の異なる領域を処理する工程を含む。いくつかの実施形態では、処理は、異なる注入パラメータ値を有する基板のイオン注入を含む。
本発明の第5の態様によれば、イオン注入装置が提供される。イオン注入装置は、処理チャンバと、イオンビームを生成するイオンビーム発生器と、処理チャンバ内で基板を支持するプラテンと、基板の異なる領域が異なる注入パラメータ値により注入されるようイオン注入を制御する注入制御デバイスとを有する。デバイスは、マスクと、注入される基板の領域を定義するよう基板の前に位置するシャッタまたはビームモディファイヤとを含んでよい。
半導体ウェーハなどの基板の製造には様々なプロセスツールが用いられている。本発明の一側面によれば、イオン注入機などのプロセスツールは、基板の選択された領域を処理すべく修正される。いくつかの実施形態では、処理されるべき基板の領域は、基板に関連して、一般的には基板の前に間隔を置いて配置された物理的マスクにより選択可能に処理される。基板の異なる領域は、基板、マスク、あるいは両方を再配置し、かつ、2つまたはそれ以上の処理ステップを用いることにより処理されることができる。さらなる実施形態では、処理される基板の領域は、基板に関連して配置されたシャッタにより選択可能である。シャッタは、サイズおよび/または位置が変更可能な開口を有する。基板の異なる領域は、シャッタ、基板位置、あるいは両方を制御することにより処理されることができる。別の実施形態では、処理される基板の領域は、イオン注入の選択された期間中にイオンビームをブロックするなど、イオンビームを修正することにより、あるいは、注入の選択された期間中に基板からイオンビームを逸らすことにより、選択可能である。異なるプロセスパラメータは、基板の異なる領域で用いられることができる。
本発明の側面は、個別の集積回路の超小型の特徴を選択可能に処理するのとは対照的に、多数の集積回路をそれぞれ含む領域のような、基板のマクロ領域を選択可能に処理することを目的とする。イオン注入機においてプロセスを実施する方法がいくつかある。これらの技術は、バッチアーキテクチャにおいてと同様に、一次または二次元スキャンを用いる単一のウェーハアーキテクチャにおいて利用されることができる。さまざまなイオン注入機アーキテクチャでは、イオンビームは、基板を移動することによるビームスキャン、または、ビームスキャンと基板の移動との組み合わせにより基板上に分散される。
本発明は、これらのイオン注入機アーキテクチャのいずれを用いて利用されることもできる。
本発明は、これらのイオン注入機アーキテクチャのいずれを用いて利用されることもできる。
一実施形態では、マスクは、半導体ウェーハのような基板の前に配置される。この実施形態では、ウェーハは、機械的あるいは静電的にプラテンのような保持機構上に固定される。マスクは、ウェーハの前に配置される。マスクは、切り抜き領域または開口を有し、処理はこの開口を介してのみ可能である。マスクは、ウェーハの前のマスキング位置と、マスクがウェーハから除去され、実質的にウェーハ処理に影響しない非マスキング位置との間を移動可能である。非マスキング位置は、処理チャンバの内側または外側にある記憶場所であってもよい。処理システムは、以下に述べる自動マスク装入取り出し機構を利用することもできる。他の実施形態では、マスクは、マスキング位置に手動で取り付けられてよい。
いくつかの実施形態では、マスク装入取り外し機構は、真空チャンバ内の記憶場所からウェーハの前のマスキング位置までマスクを移動させる。ウェーハの第1の領域は、マスクの開口を介し、イオン注入などにより処理される。その後、ウェーハは、マスクに関連して移動し、ウェーハの第2の領域が処理される。ウェーハは、例えば、ウェーハハンドラの配向器の上で回転することにより再配置されることができる。他の実施形態では、マスクは、ウェーハに対し再配置される。
さらなる実施形態では、マスクは、ウェーハの大きさであってよく、したがって、ウェーハをプロセスステーションに供給する同じウェーハ操作システムにより操作されることができる。一連のマスクは、FOUP(Front Opening Unified Pod)で配置されることができ、それによって、それぞれのマスクが変更された後に起きている処理工程を伴い、異なるマスクがウェーハの前に正確に供給されかつ配置されることができる。マスクおよびウェーハの異なる相対位置を利用することにより、単一のマスクを使用してウェーハの2つまたはそれ以上の領域を処理することができる。ウェーハおよび/またはマスクは、再配置されることができる。FOUPにおけるマスクは、物理的に異なっていてよいので、ウェーハの異なる領域は、個別に処理されることができる。この方法は、スパッタリング、蒸着プロセス、CVD、エッチング、プラズマ洗浄システム、レーザアニールなど、他の半導体処理ツールにおける処理チャンバ同様、シングルおよびデュアルアクシス・メカニカル・スキャン、および、イオン注入機におけるバッチ終端ステーションを含む単一のウェーハイオン注入機に適用されることができる。
図1および図2は、本発明の第1の実施形態に従うイオン注入機の簡略ブロック図である。半導体ウェーハ20は、支持機構、あるいは、静電ウェーハクランプまたはメカニカルウェーハクランプなどのプラテン22に取り付けられる。32における開口を有するマスク30は、リテーナ34を用い、ウェーハ20の前に取り付けられる。好ましくは、マスク30は、ウェーハ20から距離を置いて配置され、物理的に接触しない。いくつかの実施形態では、マスク30とウェーハ20との間隔は、ウェーハ20がマスク30に接触せずに装入され、プラテン22から取り出されるのに十分である。イオンビーム発生器40は、イオンビーム42をウェーハ20に導く。イオンビーム42は、少なくともウェーハ20の直径くらいの幅を有するリボンイオンビームか、(一次元または二次元でスキャンされる)スキャンイオンビーム、あるいは、固定イオンビームであってよい。メカニカルスキャナ44は、ウェーハ20の表面全体にイオンビーム42が分散されるよう、イオンビーム42の構成およびイオン注入機のアーキテクチャに基づき、ウェーハ20を一次元または二次元で表現してよい。
マスク30は、開口32の領域以外のイオンビーム42を遮蔽するよう構成される。したがって、マスク30は、イオンビーム遮蔽部分30a、および、開口32により定義される非遮蔽部分を有する。したがって、ウェーハ20は、開口32により定義される領域のみで注入される。ウェーハ20の注入領域は、開口32の境界近くの領域でエッジ効果を呈することもあると理解されよう。マスク30は、単一の開口32、あるいは、2つまたはそれ以上の開口を含む。開口32は、マスク30のイオンビーム遮蔽位置30a内に配置されてよく、その結果、開口32は、イオンビーム遮蔽部分30aに囲まれることになる。他の実施形態では、開口32は、イオンビーム遮蔽部分30aにより部分的に囲まれてよい。したがって、開口32は、マスク30の上に内部位置を有するか、または、マスク30の端に位置してよい。例えば、マスク30は、扇形の開口を有する円形であってよい。1つの具体例において、マスク30は、円形であり、開口32は、90度の扇形である。
マスクは、注入がなされるウェーハの汚染を最小限にする導電材料で作製されることができる。適切な材料は、カーボンファイバ、シリコンカーバイド、シリコン、および、グラファイトを含む。カーボンファイバマスクは、例えば、厚さ0.090インチを有する。開口は、比較的鋭角を有することにより、マスク材料と開口との間の境界におけるエッジ効果を制限する。このマスク情報は、例に挙げられているに過ぎず、本発明の範囲を限定しない。
開口32を介し、ウェーハ20の異なる領域に注入するよう、マスク30とウェーハ20との相対位置は変更できる。ウェーハ20を再配向するか、マスク30を再配向するか、または両方を再配向することにより、再配置が実現する。他の実施形態では、異なるマスクは、ウェーハ20の異なる領域に注入するよう用いられることができる。ウェーハ20の異なる領域が露光されるたびに、イオンビーム42の1つまたはそれ以上のパラメータ値が変更され得る。結果として、ウェーハ20の異なる領域は、異なる注入パラメータ値で注入されてよい。
図3は、本発明の第2の実施形態に従う基板マスキング装置を示す。基板マスキング装置100は、イオン注入などによる処理のために半導体ウェーハ112などの基板を支持するプラテンアセンブリ110を含む。プラテンアセンブリ110は、スキャンシステム114により支持される。基板マスキング装置100は、開口122を有するマスク120、マスク装填機構130、および、マスク120とウェーハ112との相対位置を変更する位置決め機構132をさらに含む。図3の実施形態では、位置決め機構132は、図9に関連して以下に述べるウェーハハンドラの一部であるウェーハ配向器であってよい。
プラテンアセンブリ110は、ウェーハ112を支持するための一の表面を有するプラテン140、および、ウェーハ112をプラテン140に固定するための静電クランプまたは機械クランプを含む。プラテンアセンブリ110は、処理の間ウェーハ112を冷却するための冷却システム、および、その中心軸の周りでウェーハ112を回転させるまたはねじる機構とをさらに含む。図3の実施形態では、プラテンアセンブリ110は、マスク保持要素142を含む。図に示すように、マスク120は、マスク保持要素142を係合するためのフィンガ144を備えてもよい。
プラテンアセンブリ110は、スキャンシステム114により支持される。スキャンシステム114は、角度をもたせた注入のために水平軸に関しプラテンアセンブリ110を傾けることができ、ウェーハ装入/取り出し位置に対する水平軸に関しプラテンアセンブリ110を回転させることができる。
さらに、スキャンシステム114は、イオン注入の間、プラテンアセンブリ110を垂直に移動させてよい。
さらに、スキャンシステム114は、イオン注入の間、プラテンアセンブリ110を垂直に移動させてよい。
図3の実施形態では、マスク装填機構130は、マスク120を係合する要素152を有する転送アーム150と、装入位置と格納位置との間で転送アーム150を移動させる駆動システム154とを含む。動作中、マスク装填機構130は、駆動システム154の動作により、ウェーハ112の前でマスク120をマスキング位置に対し往復移動させる。マスキング位置で、マスク120は、マスク保持要素142を係合する。その後、マスク装填機構130は、引っ込み、スキャンシステム114は、プラテンアセンブリ110をウェーハ装入/取り出し位置へと移動させる。その後、ウェーハ112は、図9および下記に示すウェーハ操作システムによりマスク120の下に装入される。そして、ウェーハ112は、注入されるかまたは処理されることができる。ウェーハ112は、マスク120内の開口122により定義される第1の領域に注入される。ウェーハは、注入された後、ウェーハ操作システムにより除去される。ウェーハ112は、再配置でき、その結果、ウェーハ112の第2の領域が開口122を介し露光される。例えば、ウェーハは、ウェーハハンドラの一部である配向器により再配置されることができる。ウェーハの選択された領域が注入された後、ウェーハ112は、除去されることができ、新たなウェーハが注入のためにプラテン140上に装填される。マスク120は、同じ場所のままか、あるいは、動作の望ましいモードに基づき除去されることができる。マスク120は、転送アーム150を係合マスク120に移動させることにより除去されることができる。保持要素142は、マスク120を開放し、転送アーム150は、マスク120を格納位置まで引っ込ませる。
別の動作では、ウェーハ112は、マスク120がマスキング位置まで移動される前にプラテン上に装填されることができる。
図4は、本発明の第3の実施形態に従う基板マスキング装置200を示す。基板マスキング装置200は、プラテンアセンブリ210とマスク220とを含む。スキャンシステム、マスク装填機構、および、位置決め機構は、説明を容易にするために図4から省略されている。プラテンアセンブリ210は、ウェーハ212を保持するための内部静電クランプ242と、マスク220を保持するための外部静電クランプ244とを有するプラテン240を含む。マスク220は、開口222、外部静電クランプ244を係合するリング状領域224、および、ウェーハ212から間隔を置いて配置された隆起した中央域226を含む。
マスク220は、上述のようなマスク装填機構により、または、後述するようなウェーハ操作システムによりマスキング位置まで移動される。マスク220は、外部静電クランプ244によりマスキング位置内のしかるべき場所に保持される。ウェーハ212は、マスク220の装入前か、あるいは、マスク220における適切な大きさの開口(図示せず)を介しプラテン240上に装填される。ウェーハ212は、内部静電クランプ242によりしかるべき場所に保持される。その後、ウェーハ212の第1の領域は、注入されるか、または、開口222を介し処理される。ウェーハ212およびマスク220の相対位置は、開口222を介しウェーハ212の第2の領域を露光するよう変更され、ウェーハ212の第2の領域は、開口222を介し注入される。上述のように、ウェーハ212およびマスク220の相対位置は、ウェーハ212を再配置することにより、または、マスク220を再配置することにより、あるいは、どちらも再配置することにより変更できる。このシーケンスは、ウェーハ212の望ましい領域が注入され終わるまで繰り返される。
図5は、本発明の第4の実施形態に従う基板マスキング装置300を示す。基板マスキング装置300は、スキャンシステム314により支持されるプラテンアセンブリ310と、開口322を有するマスク320とを含む。マスク装填機構および位置決め機構は、説明を簡単にすべく、図5から省略される。図5の実施形態において、スキャンシステム314は、マスク保持要素342を備える。マスク保持要素342は、プラテンアセンブリ310がウェーハ装入/取り出し位置に対し傾けられるかあるいは回転されるとき、マスク320を固定位置に維持する。
動作中、マスク320は、上述したようなマスク装填機構により、または、後述のようなウェーハハンドラによりマスキング位置まで移動されることができる。マスキング位置では、マスク320は、マスク保持要素342を係合する。マスク装填機構は、引っ込み、スキャンシステム314はプラテンアセンブリ310をウェーハ装入/取り出し位置に対し回転させる。ウェーハ312は、ウェーハ操作システムによりプラテン340上に装填される。その後、ウェーハ312の第1の領域は、マスク320における開口322を介し注入される。ウェーハ312の第1の領域が注入された後、マスク320とウェーハ312との相対位置は、注入のためにウェーハ312の第2の領域を露光するよう変更される。ウェーハ312の選択された領域が注入された後、ウェーハ312は、プラテンアセンブリ310をウェーハ装入/取り出し位置まで持っていくことにより除去される。マスク装填機構は、マスク320を係合すべく装入位置まで移動され、マスク保持要素342は、マスク320を開放する。マスク320は、使用されていないときは、記憶場所に移動されることもできる。他の動作において、ウェーハ312は、マスク320がマスキング位置まで移動される前にプラテン340上に装填される。
図6は、本発明の第5の実施形態に従う基板マスキング装置400を示す。基板マスキング装置400は、スキャンシステム414により支持されるプラテンアセンブリ410、開口422を有するマスク420、および、マスク装填機構430を含む。図6の実施形態では、マスク装填機構430は、イオン注入の間、イオンビームの経路内でマスク420を位置決めする。マスク装填機構430は、イオンビームの経路外の記憶位置までマスク420を引っ込めてよい。さらに、マスク装填機構430は、ウェーハ412に対しマスク420を回転させる位置決め機構432を含む。他の実施形態では、ウェーハ412の異なる領域は、ウェーハ412を再配置することにより開口422を介し露光されることができる。例えば、ウェーハ412は、ウェーハ操作システムにおける配向器により再配置されることができる。
図7は、本発明の第6の実施形態に従う基板マスキング装置500を示す。基板マスキング装置500は、スキャンシステム514により支持されるプラテンアセンブリ510と、開口522を有するマスク520とを含む。プラテンアセンブリ510は、マスク保持要素542を備える。図7の実施形態では、マスク520は、マスク保持要素542上に手動で装填される。ウェーハ512は、ウェーハ操作システムにより装入または取り出されることもでき、マスク520内の開口522を介し注入のための異なる領域を露光するよう再配置されることもできる。使用する必要がない場合、マスク520は、マスク保持要素542から手動で除去されてよい。
図8は、本発明の第7の実施形態に従う基板マスキング装置600を示す。基板マスキング装置600は、スキャンシステム614により支持されるプラテンアセンブリ610、および、開口622を有するマスク610を含む。プラテンアセンブリ610は、プラテン640、および、マスク保持要素642を含む。マスク620は、マスク保持要素642により手動で装填されることができる。図8の実施形態は、主にマスク保持要素について図7の実施形態と異なる。図8の実施形態では、マスク保持要素642は、プラテン640をひねることにより開閉位置の間を移動される。ウェーハ保持要素642が開位置に移動され、マスク620がマスキング位置へと装入され、プラテン640がひねられることにより、マスク保持要素642は、マスク620を係合する。プロセスは、マスキング位置からマスク620を除去するよう逆行される。
図9は、図3−8の基板マスキング装置による動作に適するウェーハ操作システムの簡略化概略図である。ウェーハ操作システムは、本願明細書中に参照として組み込まれたアメリカ特許No.5,486,080(1996年1月23日発行、Sieradzki)に開示されるタイプであってよい。真空チャンバ710は、第1のロボット712、第2のロボット714、転送ステーション716、または、ウェーハ配向器、および、プラテンアセンブリ718を含む。プラテンアセンブリ718は、上述の図3−8に示すプラテンアセンブリに対応する。ロードロック720および722は、遮断バルブ724および726をそれぞれ介し、真空チャンバ710と通信する。それぞれ複数の半導体ウェーハを保持するカセット、または、FOUP730および732は、それぞれのロードロック720および722内に配置される。
動作中、ウェーハは、第1のロボット712によりFOUP730から取り外され、転送ステーション716に配置される。転送ステーション716は、ウェーハサポート、および、ウェーハの基準値に対する偏向誤差および回転誤差を決定する位置センサを含む。位置検知は、通常、センサに対するウェーハの回転を必要とする。回転誤差は、転送ステーション716におけるウェーハサポートの適切な回転により補正される。ウェーハは、その後、偏向エラーをなくすべく適切な調整を伴い、第2のロボット714によりプラテンアセンブリ718に転送される。処理後、ウェーハは、第1のロボット712によりFOUP730へと返送される。
上述のように、ウェーハハンドラは、マスクにおける開口を介し、注入のためのウェーハの異なる領域を露光するようウェーハを再配置することができる。このことは、ウェーハをプラテンアセンブリ718から転送ステーション716まで移動させ、ウェーハを予め定められた量だけ回転させることにより成し得る。マスクにおける開口が90度の扇形である例では、転送ステーション716は、各注入後、ウェーハを90度回転することができる。ウェーハは、マスクにおける開口を介し、異なる領域の注入のためにプラテンアセンブリ718まで戻される。したがって、転送ステーション716は、ウェーハ再配置の機能を実行する。
図10は、本発明の第8の実施形態を一部実行するウェーハ操作システムの簡略化概略図である。ウェーハ操作システムは、通常、上述の図9に示すタイプであってよい。図に示すように、第1のロードロック800は、処理されるべきウェーハ830と共に装入され、第2のロードロック802は、マスク832と共に装入されてよい。第1のロボット810は、ロードロック800からウェーハ830を除去し、配向のためにウェーハ830を転送ステーション820に配置する。ウェーハは、プラテン822に転送される。第2のロボット812は、開口834を有するマスク832をロードロック802から、配向のために転送ステーション820に移動させる。マスク832は、その後、上述のように、プラテン822に転送され、ウェーハ830と位置合わせして配置される。ウェーハ830の第1の領域は、マスク832における開口834を介しイオンビーム836が注入される。マスク832は、注入後、再配置するためにプラテン822から転送ステーション820へと移動され、その後、ウェーハの第2の領域を注入するためにプラテン822へと返送されることができる。あるいは、ウェーハ130は、注入後、再配置するためにプラテン822から転送ステーション820へと移動され、その後、ウェーハの第2の領域を注入するためにプラテン822へと返送されることができる。このプロセスは、ウェーハ830の選択された領域が注入され終えるまで繰り返されることができる。次に、さらなるウェーハが注入のためにロードロック800から装入されることができる。同様に、異なる開口構成および/または配向を有するマスクがロードロック802から装入されることができる。
図11および12は、本発明の第9の実施形態に従う基板マスキング装置900を示す。図11は、基板マスキング装置900を示し、一方、図12は、イオン注入機における基板マスキング装置900を示す。基板マスキング装置900は、スキャンシステム914により支持されるプラテンアセンブリ910と、開口922を有するマスク920と、マスク装填機構930とを含む。図11および12のそれぞれにおいて、プラテンアセンブリ910上のマスキング位置960、および、プラテンアセンブリ910から間隔を置いた格納位置962のどちらにおいてマスク920が示される。実際のシステムでは、マスク920は、任意の所定時間においては一箇所のみに配置されると理解されたい。図に示すように、プラテンアセンブリ910にはマスク保持要素942が設けられ、マスク920には、保持要素942をマスキング位置で係合するフィンガ944が設けられる。特に、フィンガ944は、保持要素942にきちんとはまることができる。
マスク装填機構930は、マスククリップ952を有する転送アーム950と、駆動システム954とを含んでよい。図に示すように、駆動システム954は、転送アーム950がマスク920を移動させられるように、また、マスキング位置960と格納位置962との間で移動できるようにする。スキャンシステム914は、プラテンアセンブリ910をマスク920に関し上方に移動させることにより、マスク920上でフィンガ944を保持要素942にきちんとはめることもできる。
図12に示すように、基板マスキング装置900の一部は、イオンビーム972と交差する経路の下のハウジング970内に配置されてよい。
イオン注入すべく、スキャンシステム914は、プラテンアセンブリ910およびマスク920を、イオン注入を実行するべくイオンビーム972の経路に向けて垂直かつ上方に並進させる。マスク装入機構930およびマスク920の格納位置962は、イオンビーム972の経路から間隔を置いて配置される。
イオン注入すべく、スキャンシステム914は、プラテンアセンブリ910およびマスク920を、イオン注入を実行するべくイオンビーム972の経路に向けて垂直かつ上方に並進させる。マスク装入機構930およびマスク920の格納位置962は、イオンビーム972の経路から間隔を置いて配置される。
図13は、本発明の第9の実施形態に従うイオン注入の簡略化概略ブロック図である。半導体ウェーハ1020は、静電ウェーハクランプまたはメカニカルウェーハクランプなどのプラテン1022により支持される。開口1032を有するシャッタ1030は、ウェーハ1020の前に取り付けられる。イオンビーム発生器1040は、イオンビーム1042をウェーハ1020に導く。イオンビーム1042は、少なくともウェーハ1020の直径くらいの幅を有するリボンビーム、(一次元または二次元でスキャンされる)スキャンイオンビーム、または、固定のイオンビームであってよい。メカニカルスキャナ1044は、ウェーハ1020の表面全体にイオンビーム1042を分散させるよう、イオンビーム1042の構成、および、イオン注入機のアーキテクチャに基づき、一次元または二次元でウェーハ1020を表現してよい。
シャッタ1030は、開口1032の領域を除き、イオンビーム1042をブロックするよう構成される。シャッタ1030は、単一の開口1032、あるいは、2つまたはそれ以上の開口を含む。シャッタ1030は、様々な異なる構成を有してよい。いくつかの実施例では、開口1032は、固定のサイズおよび形状を有してよい。他の実施形態では、開口1032は、一次元または二次元に変化してよく、サイズおよび/または形状も変化してよい。シャッタ1030は、開口1032が開閉できるよう構成されてよい。また、シャッタ1030は、イオンビーム1042をブロックしない大きさにまで開口1032を開くことができ、それによって効果的にシャッタ1030を機能しないようにする。また、シャッタ1030は、開口1032を介し、ウェーハ1020の異なる領域に注入するよう、イオンビーム1042およびウェーハ1020に関し一次元または二次元に移動することもできる。さらにまた、シャッタ1030は、必要ないときは、イオンビーム1042の経路外に移動されることもできる。
図13に示すように、イオン注入機は、イオンビーム1042に対するシャッタ1030の位置を制御するシャッタ位置コントローラ1050と、開口1032の動作を制御する開口コントローラ1052と、イオン注入機のすべての動作を制御する注入コントローラ1054とをさらに含んでよい。シャッタ位置コントローラ1050は、シャッタ1030の位置が制御可能である複数の実施形態において用いられ、開口コントローラ1052は、開口1032が制御可能である複数の実施形態において用いられると理解されたい。様々な実施形態において、ウェーハ1020の選択される領域は、シャッタ1030を制御することにより、または、シャッタ1030に関しウェーハ1020を移動させることにより、あるいは、その組み合わせにより注入されることができる。メカニカルスキャナ1044、シャッタ位置コントローラ1050、および、開口コントローラ1052は、望ましい注入を実行すべく注入コントローラ1054により制御されることができる。
図14は、本発明の第10の実施形態に従うプロセス制御装置の斜視図である。プロセス制御装置1100は、イオン注入などの処理のために半導体ウェーハ1112などの基板を支持するプラテンアセンブリ1110を含む。プラテンアセンブリ1110は、スキャンシステム1114により支持される。プロセス制御装置1100は、開口1122を有するシャッタ1120、および、シャッタコントローラ1130をさらに含む。図14の実施形態では、シャッタコントローラ1130は、ウェーハ1112に対するシャッタ1120の位置を制御することができるか、開口1122を制御することができるか、あるいはどちらも制御することができる。
動作中、シャッタコントローラ1130は、ウェーハ1112の前でシャッタ1120を位置決めし、開口1122の望ましいサイズ、形状、位置を設定する。ウェーハ1112は、前述した図9に示されるウェーハ操作システムによりプラテンアセンブリ1110上に装填される。その後、ウェーハ1112は、注入されるか、または、開口1122を介し処理されることができる。ウェーハ1112は、開口1122により定義される第1の領域において注入される。ウェーハ1112の第2の領域は、システムの構成に基づき、いくつかの方法のうちの1つで注入されることができる。1つの方法では、シャッタ1120は、開口1122が再配置された開口を介しウェーハ1112の第2の領域を露光すべく移動されるよう調整されることができる。他の方法では、ウェーハ1112は、例えば、上述したようなウェーハハンドラの一部である配向器により再配置されることができる。ウェーハの選択された領域が注入された後、ウェーハ1112は、除去され、新たなウェーハがプラテンアセンブリ1110上に装填されることができる。
図15は、本発明の第11の実施形態に従うイオン注入機の簡略化概略ブロック図を示す。半導体ウェーハ1220は、静電ウェーハクランプまたはメカニカルウェーハクランプなどのプラテン1222により支持される。
ビームモディファイヤ1230は、ウェーハ1220の前に取り付けられる。イオンビーム発生器1240は、ウェーハ1220にイオンビーム1242を導く。イオンビーム1242は、ウェーハ1220の少なくとも直径くらいの幅を有するリボンイオンビームであってよく、(一次元または二次元でスキャンされる)スキャンイオンビーム、あるいは、固定のイオンビームであってよい。メカニカルスキャナ1244は、ウェーハ1220の表面全体にイオンビーム1242が分散されるよう、イオンビーム1242の構成、および、イオン注入機のアーキテクチャに基づき、ウェーハ1220を一次元または二次元で表現してよい。
ビームモディファイヤ1230は、ウェーハ1220の前に取り付けられる。イオンビーム発生器1240は、ウェーハ1220にイオンビーム1242を導く。イオンビーム1242は、ウェーハ1220の少なくとも直径くらいの幅を有するリボンイオンビームであってよく、(一次元または二次元でスキャンされる)スキャンイオンビーム、あるいは、固定のイオンビームであってよい。メカニカルスキャナ1244は、ウェーハ1220の表面全体にイオンビーム1242が分散されるよう、イオンビーム1242の構成、および、イオン注入機のアーキテクチャに基づき、ウェーハ1220を一次元または二次元で表現してよい。
ビームモディファイヤ1230は、イオンビーム1242がウェーハ1220の1つまたはそれ以上の選択された領域に注入するよう、そして、ウェーハ1220の他の領域には注入しないよう、イオンビーム1242を修正するよう設定されることができる。1つの実施形態では、ビームモディファイヤ1230は、選択された部分の注入の間、イオンビーム1242の経路内に移動されるメカニカルビームブロックであってよい。他の実施形態では、ビームモディファイヤ1230は、選択された部分の注入の間、イオンビーム1242をウェーハ1220から逸らすよう作動されることができる静電または磁気偏向器である。イオン注入機は、ビームモディファイヤコントローラ1250および注入コントローラ1254をさらに含む。
動作中、注入コントローラ1254は、ウェーハ1220全体にイオンビーム1242が分散されるよう、注入の間、メカニカルスキャナ1244を制御する。注入の間の特定の時間、注入コントローラ1240は、例えばイオンビーム1242をブロックすることにより、または、イオンビーム1242をウェーハ1220から逸らすことによりイオンビーム1242がウェーハ1220に達することを避けるよう、ビームモディファイヤコントローラ1250に命じることもできる。したがって、プロセスは、ウェーハ1220の選択された領域を注入するよう制御されることができる。
ここまで本発明の少なくとも1つの実施形態のいくつかの側面を説明してきたが、様々な変更、修正および改良が容易に生じ得ることは当業者であれば理解できよう。このような変更、修正および改良は、本開示の一部であると意図され、また、本発明の趣旨および範囲内であると意図される。
したがって、前述の説明および図面は、一例に過ぎない。
したがって、前述の説明および図面は、一例に過ぎない。
本発明をより理解すべく、本願明細書中に組み込まれた添付の図面を参照されたい。
Claims (46)
- 基板マスキング装置であって、
処理のために一の基板を支持する一のプラテンアセンブリと、
一の開口を有する一のマスクと、
前記マスクを一のマスキング位置で保持する一の保持機構と、
前記マスクと前記基板との相対位置を変更することにより、前記基板の異なる領域が前記マスク内の前記開口を介し露光されるようにする一の位置決め機構と、
を含む基板マスキング装置。 - 前記保持機構は、前記プラテンアセンブリに固定される、請求項1に記載の基板マスキング装置。
- 前記保持機構は、前記プラテンアセンブリを支持する一のスキャンシステムに固定される、請求項1に記載の基板マスキング装置。
- 前記保持機構および前記マスクは、相互係合要素を含む、請求項1に記載の基板マスキング装置。
- 前記保持機構は、前記プラテンアセンブリと関連する一の静電クランプを含む、請求項1に記載の基板マスキング装置。
- 前記保持機構は、手動操作可能である、請求項1に記載の基板マスキング装置。
- 前記マスクは、円形であり、一の扇形の開口を有する、請求項1に記載の基板マスキング装置。
- 前記マスクは、前記プラテンアセンブリに対し前記基板が装入および取り出しできるよう、該基板から間隔を置いて配置される、請求項1に記載の基板マスキング装置。
- 前記基板は、該基板の異なる領域が前記マスクの前記開口を介し露光されるよう再配置される、請求項1に記載の基板マスキング装置。
- 前記マスクは、前記基板の異なる領域が該マスクの前記開口を介し露光されるよう再配置される、請求項1に記載の基板マスキング装置。
- 前記再配置機構は、一の基板配向器と、前記基板を前記プラテンアセンブリと該基板配向器との方へおよびその間で移動させる一の転送機構とを有する、請求項1に記載の基板マスキング装置。
- 前記マスクを前記保持機構に装填する一のマスク装填機構をさらに含む、請求項1に記載の基板マスキング装置。
- 前記マスクを前記マスキング位置と一の非マスキング位置との方へおよびその間で移動させる一のマスク装填機構をさらに含む、請求項1に記載の基板マスキング装置。
- 前記マスク装填機構は、前記保持機構としての機能を果たす、請求項13に記載の基板マスキング装置。
- 前記マスク装填機構は、前記位置決め機構としての機能を果たす、請求項14に記載の基板マスキング装置。
- 前記マスク装填機構は、一の転送アーム、および、該転送アームを前記マスキング位置と前記非マスキング位置との間で移動させる一のドライブアセンブリとを含む、請求項13に記載の基板マスキング装置。
- 前記基板を装入し、前記プラテンアセンブリから取り出す一の基板操作機構をさらに含む、請求項1に記載の基板マスキング装置。
- 前記基板操作機構は、前記マスクを装入し、前記保持機構から取り出す、請求項17に記載の基板マスキング装置。
- 一の基板を処理する方法であって、
一の基板に対し一の開口を有する一のマスクを位置決めすることにより、前記基板の一の第1の領域が前記開口を介し露光されるようにする工程と、
前記マスクにおける前記開口を介し前記基板の前記第1の領域を処理する工程と、
前記マスクと前記基板との相対位置を変更することにより、前記基板の一の第2の領域を前記開口を介し露光させる工程と、
前記マスクにおける前記開口を介し前記基板の前記第2の領域を処理する工程と、
を含む方法。 - 前記基板の前記第1および第2の領域を処理する工程は、前記基板の前記第1および第2の領域にイオン注入する工程を含む、請求項19に記載された方法。
- 前記基板の前記第1および第2の領域にイオン注入する工程は、前記第1の領域へのイオン注入と前記第2の領域へのイオン注入との間で少なくとも1つのイオン注入パラメータを変更する工程を含む、請求項20に記載の方法。
- 一の基板に対し一のマスクを位置決めする工程は、前記基板を一のプラテン上に位置決めする工程と、前記マスクを一のマスキング位置で位置決めする工程とを含む、請求項19に記載の方法。
- 前記マスクと前記基板との相対位置を変更する工程は、前記基板を一の配向器まで移動させる工程と、前記基板を回転させる工程と、前記配向器から前記プラテンまで前記基板を移動させる工程と、を含む、請求項22に記載の方法。
- イオン注入機であって、
一のイオンビームを生成する一のイオンビーム発生器と、
イオン注入のために一の基板を支持する一のプラテンアセンブリと、
一の開口を有する一のマスクと、
前記マスクを一のマスキング位置へと移動させる一のマスク装填機構と、
前記マスクを前記マスキング位置で保持する一の保持機構と、
前記マスクと前記基板との相対位置を変更することにより、前記基板の前記第1および第2の領域が前記マスクの前記開口を介し注入されるようにする一の位置決め機構と、
を有するイオン注入機。 - 一の基板を処理する方法であって、
異なるプロセスパラメータ値を有する一の基板の異なる領域を処理する工程を含む方法。 - 異なる領域を処理する工程は、異なる注入パラメータ値を有する一の半導体ウェーハの異なる領域へのイオン注入工程を含む、請求項25に記載の方法。
- 異なる領域へのイオン注入工程は、注入されるべき一の領域を定義する一の開口を有する一のマスクを介し、前記ウェーハに注入する工程を含む、請求項26に記載の方法。
- 一のマスクを介し、前記ウェーハに注入する工程は、イオン注入のために前記ウェーハの異なる領域を露光するよう、該ウェーハに対する前記マスクの一の向きを変更する工程を含む、請求項27に記載の方法。
- 一のマスクを介し前記ウェーハに注入する工程は、イオン注入のために前記ウェーハの異なる領域を露光するようマスクを変更する工程を含む、請求項27に記載の方法。
- 前記マスクおよび前記ウェーハを一の基板ハンドラにより一のプラテンに/から移動させる工程をさらに含む、請求項27に記載の方法。
- 前記基板ハンドラにより、前記マスクを一の異なるマスクに変更する工程をさらに含む、請求項30に記載の方法。
- 前記基板ハンドラにより、前記ウェーハに対する前記マスクの配向を変更する工程をさらに含む、請求項30に記載の方法。
- イオン注入装置であって、
一の処理チャンバと、
一のイオンビームを生成する一のイオンビーム発生器と、
前記処理チャンバ内で一の基板を支持する一の支持機構と、
前記基板の異なる領域が異なる注入パラメータ値により注入されるよう、イオン注入を制御する一の注入制御デバイスと、
を有するイオン注入装置。 - 前記注入制御デバイスは、前記基板の前に配置された一のマスクを含み、該マスクは、注入される一の領域を定義する一の開口を有する、請求項33に記載のイオン注入装置。
- 前記マスクおよび前記基板を前記支持機構に/から移動させる一の基板ハンドラをさらに含む、請求項34に記載のイオン注入装置。
- 前記基板ハンドラは、注入されるべき前記基板の異なる領域を定義すべくマスクを変更するよう設定される、請求項35に記載のイオン注入装置。
- 前記基板ハンドラは、注入されるべき前記基板の異なる領域を定義すべく前記基板に対する前記マスクの向きを変更するよう設定される、請求項35に記載のイオン注入装置。
- 前記支持機構は、前記基板に対し間隔を置いて前記マスクを位置決めするためのリテーナを含む、請求項34に記載のイオン注入装置。
- 前記注入制御デバイスは、前記イオンビーム発生器と、前記支持機構との間に配置された一のシャッタを含み、該シャッタは、前記イオンビームが通過する一の開口を有する、請求項33に記載のイオン注入装置。
- 前記シャッタは移動できる、請求項39に記載のイオン注入装置。
- 前記シャッタにおける前記開口は、調整できる、請求項39に記載のイオン注入装置。
- 前記シャッタにおける前記開口は、閉めることができる、請求項39に記載のイオン注入装置。
- 前記シャッタにおける前記開口は、実質的な修正なしに前記イオンビームを通過させるべく大きくすることができる、請求項39に記載のイオン注入装置。
- 前記注入制御デバイスは、一の注入の選択された期間に前記イオンビームを修正する一のビームモディファイヤを含む、請求項33に記載のイオン注入装置。
- 前記ビームモディファイヤは、前記イオンビームの一の経路内に/から移動可能である一のビームブロックを備える、請求項44に記載のイオン注入装置。
- 前記ビームモディファイヤは、前記注入の一の期間中に前記基板から前記イオンビームを逸らす一のビーム偏向器を備える、請求項44に記載のイオン注入装置。
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