JP2008514819A - エピタキシャル・リアクターの冷却方法およびそれによって冷却されるリアクター - Google Patents

エピタキシャル・リアクターの冷却方法およびそれによって冷却されるリアクター Download PDF

Info

Publication number
JP2008514819A
JP2008514819A JP2007534184A JP2007534184A JP2008514819A JP 2008514819 A JP2008514819 A JP 2008514819A JP 2007534184 A JP2007534184 A JP 2007534184A JP 2007534184 A JP2007534184 A JP 2007534184A JP 2008514819 A JP2008514819 A JP 2008514819A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reaction chamber
area
susceptor
reactor
reactor according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007534184A
Other languages
English (en)
Inventor
オリアーリ ヴィンチェンツォ
タレンチ ジュゼッペ
プグリシ マルコ
スペチャーレ ナターレ
プレティ フランコ
Original Assignee
エルピーイー ソシエタ ペル アチオニ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by エルピーイー ソシエタ ペル アチオニ filed Critical エルピーイー ソシエタ ペル アチオニ
Publication of JP2008514819A publication Critical patent/JP2008514819A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/4411Cooling of the reaction chamber walls
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
    • C30B25/02Epitaxial-layer growth
    • C30B25/10Heating of the reaction chamber or the substrate

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Abstract

本発明は、化学気相成長用のリアクターの反応チャンバー(2)の壁を冷却する方法に関する。この方法は、反応チャンバー(2)の実質的に均一な温度分布を達成するように、チャンバー(2)の壁の少なくとも1つの所定の区域を水で選択的に冷却して、隣接する区域と比べて異なる熱流束を取り除くことにある。好ましい実施形態において、選択的に冷却される区域は、サセプタ(5)の上の区域であり、2つのリブ(8、9)によって範囲を定められる。本発明は、また、この冷却方法を実行するため、リアクターおよび反応チャンバー(2)を含む。

Description

本発明は、化学気相成長(CVDプロセス)による基板の製造に用いられるエピタキシャル・リアクターのチャンバーを冷却する方法に関する。
周知のように、これらのリアクターは、マイクロ電子産業において、半導体コンポーネントの製造のために何よりも用いられる。この目的のため、それらは、反応チャンバーを含み、その中では、基板がサセプタによって支持された状態で、(ウェーハとしてもまた普通知られている)基板のエピタキシャル成長が生じる。
2つのタイプのリアクターがあり、それらは反応ガスの通路に関連して定められる。それらは水平リアクターおよび垂直リアクターである。
(発明の効果)
本発明の方法は、以下の記述では言及は前者に対して主になされるけれども、両タイプのリアクターに関する。その反応チャンバーは、実質的に、漠然と平行六面体形状を有する石英の釣鐘状のものであり、それは一方の側から他方の側へのガスの流れによって水平に横断される。
水平リアクターにおいて、サセプタは反応チャンバーの内部で回転するディスクを含み、基板はその上面に、対応する形状の各々のシートに置かれる。サセプタのディスクは、電磁誘導あるいはランプでのラジアンスを用いて加熱され得るように、高温に耐えることができるグラファイトあるいは別の導体材料で通常作られる。
CVDプロセスは高温(1000℃以上)で生じる化学反応の結果であり、反応チャンバーの壁、概して石英を冷却することが既知の手法である。
その冷却は空気または水を用いてなされ得る。しかしながら、壁温度が予め設定されたレベルよりも低くなる場合、リスクがあるので、それは過度になり過ぎないようにすべきである。
このリスクは、冷却流体が水である場合、石英の釣鐘状のものとのそれの熱交換が空気のそれよりも大きいので、熱くないチャンバーの区域に主に関係し、深刻化される。
それ故、本発明の根底にある技術的課題は、前記のネガティブな結果を引き起こし得る温度の過度の低下を防止するように、そのような方法で、エピタキシャル・リアクターを冷却することである。
この課題は、選択的に反応チャンバーを冷却することによって特徴付けられる方法によって解決される。すなわち、それはチャンバーの異なるゾーンから異なる熱流束を取り除き、それによってそれの温度分布を実質的に均一に保つ。これは、そのプロセスをより良く制御することを可能にし、いかなる不測の出来事の結果としても所定点の温度が許容できる限界よりも下の温度まで下がることを防止する。
好ましい実施形態によれば、本発明に従う方法が水平リアクターで実行されるとき、その反応チャンバーは、サセプタのディスクの上の区域にかけられる水(あるいは別の適切な液体)によって冷却される。本発明は、また、上記方法に従って冷却されるエピタキシャル・リアクターと、わざわざ作られた反応チャンバーとを含む。
本発明のさらなる特徴が、添付の図面に示されている本発明の非制限の例についての以下の記述からより明確に明らかになるだろう。
これらの図面において、リファレンス1は、概して、マイクロ電子産業の半導体の製造のために典型的に用いられるような基板の化学気相成長(CVD)用のエピタキシャル・リアクターを指し示す。
リアクター1は、水平フロータイプのものであり、実質的に平行六面体形状を有する反応チャンバー2を備え、それは、反応チャンバーにおけるガスの流れ用に、2つの向かい合った面に入口開口部3および出口開口部4を有する。その速度は図3に矢印で表されている。
反応チャンバー2は石英で作られ、ガス出口側に向かってわずかにしだいに厚さが減少していき、一方、(図1において破線でのみ表されている)サセプタのディスク5の上方の区域において、それは金のペイントからなる薄層によって好ましくはコーティングされ、それはそのプロセスの間に放射される熱を反射する。
サセプタ5の上方に位置が定められたチャンバー2の区域は、2つの円弧形状のリブ8、9によって範囲を定められ、それらはチャンバーの一方の側部からもう他方の側部まで延在する。さらに、チャンバーには、サセプタの位置をモニターする光学的手段の使用のために、それ自体が知られている半径方向のウィンドウ10が与えられる。
チャンバー2の下方部分は普通の中空の心棒11を有し、その中を通してサセプタ5を回転させるためのシャフトが延在する。このシャフトは、図面には示されていない。図1に見られ得るように、チャンバーの入口開口部3および出口開口部4と関連して、それぞれにスクリーン13、14がある。後者は、シートメタルあるいは他の適切な材料で作られた被膜であり、それはリブ8、9の囲いの外にある反応チャンバー2の区域に関して延在する。
そのスクリーンの目的は、分配器15、16を用いて供給される冷却水が、サセプタから一番遠くにあってそれ故に低温を有するチャンバー2の区域に入ることを防止する。この目的のため、スクリーン13、14は、入口開口部3および出口開口部4と関係があるフランジ17、18に取り付けられ、リブ8、9と同じように形作られた自由エッジを有する。スクリーンとチャンバー2の石英との間の距離は、好ましくはおよそ10mmである。
本発明の好ましい実施形態では、スクリーン13の上部にプレート23があり、それは反応チャンバー2の中央の区域の上方に水をかけるために、付加的なノズル24、25を支持する。
上で与えられた記述は、リアクター1が本発明の方法に従って冷却される仕方を理解することを可能にする。
分配器15、16は、図1に矢印で表されているように、それぞれのスクリーン13、14の上に水を供給する。そして、その水は、前記のスクリーンの曲線状のエッジに沿って滝のように流れ、反応チャンバー2の上へ、リブ8、9間のサセプタの上部にある後者のゾーンに落ちる。
実際には、リブは、水が開口部3、4に向かって後ろに流れることを防止するバリアを形成するので、2つのリブ8、9間のチャンバー2の自由エッジに沿って横方向にそれが落ち、下に置かれるが図面に示されていないタンクに引き続いて集められる。
水の第3の流れは、ノズル24、25によって、チャンバー2の中央部分に向かっていくらかの速度で噴霧される。これはサセプタからの最も大きな熱流束にさらされるので最も重要な区域であり、その流水は石英とより望ましく熱を交換し、それにより、この区域に加えられる反射ペイントの剥離を引き起こし得る有害な沸騰現象を避けることができる。
このようにして提供される選択的冷却は、それの最も冷えた区域(すなわち、サセプタ5から最も離れた区域)には水がかけられないが、一方、それの中央区域にはサセプタによって放射される熱を取り除くべく絶えずかけられるので、反応チャンバー2の石英のほぼ均一な温度分布を維持することを可能にする。
特に、強制対流によって水がかけられる部分から高い熱流束あるいはパワー(すなわち、単位時間当たりの熱量)が取り除かれるのに対して、ドライ区域において取り除かれる熱流束は少なく、その交換は空気の自然対流および放射によって生じる。
しかしながら、より大きな冷却あるいはより良いプロセス制御のいずれかを獲得するため、図4に図示的に表されているように、ドライ区域は、チャンバー2の上部壁とスクリーン13、14との間に空気を循環させる押込み換気によって、なめるようにかすめられ得るということにも留意しなければならない。それ故、この場合、これらの区域は強制対流によって冷却される。
本発明の方法を用いて得られる均一な温度分布は、前記不利な結果(チャンバー壁でのガス状物質の重合およびそれに続く凝縮あるいは堆積)を有し得る温度に過度に降下するのを防止するので、反応チャンバー2のコンディションのより容易で且つより効果的な制御を可能にする。
反応チャンバーを選択的に冷却することの教示は、また、上で説明された実施形態と異なって実行され得、使用に際して異なるエピタキシャル・リアクター(水平および垂直の両方)に適合することは明らかである。
例えば、反応チャンバー2の上部区域のみが上述されたように水で冷却されるという事実は、その下部部分が、同じ原理を用いて冷却されることを妨げない。
この場合、サセプタ5の下部にあり、中空の心棒11の周りにあるチャンバーの区域に向かって、下から水を吹きかける手段を提供することが必要とされるだろう。
例えば、同じ本出願人名義の欧州特許第730679号に記述されているシステムのような既知の冷却システムが、反応チャンバーの下に選択的に設置され得ることがまた理解されるべきである。
ついでながら、本発明の選択的冷却は、サセプタの放射が最大である区域のみに、反射率の高い金のコーティングを適用することを可能にするということが強調されるべきである。先の例において、この区域は、2つのリブ8、9間の水を振り掛けられた区域である。
これは2つの利点を有する。第1に、全反応チャンバー2をコーティングしないがそれの一部のみをコーティングするということから与えられるのは、塗装が簡易化され、且つ、金がかからないということであり、第2に、より大きな放射にさらされる区域は水で冷却されるので、水側にある石英の温度は相対的に低いということである。
逆にいえば、放射が少ないという事実にもかかわらず、水がないところでは、その温度がチャンバー2の外側部上でより高く、これは、金(あるいは他の金属)は(5×10-71/Kの)石英よりもより大きな熱膨張係数を有するので、他の方法(例えばPVD)によって塗装されるかあるいは堆積されることによって適用されるかどうかにかかわりなく、金のコーティングが分離することを引き起こす。
しかしながら、水がないこれらの区域において、放射による損失はスクリーン13、14を用いることによって低減され、しかしてそれらはリフレクターとしての機能を果たす。この場合、スクリーン13、14は、金属材料で作られ得、および/または金あるいは別の高反射材料で任意にコーティングされ得る。
最後に、反応チャンバーの選択的冷却は、サセプタの角錐台形状や反応チャンバーの釣鐘形状のために可能な変形を伴いつつ、垂直エピタキシャル・リアクターにも適用され得るということに留意しなければならない。
それでもやはり、これらのおよび他の実施形態は、伴われる特許請求の範囲の範囲に入る。
本発明に従って冷却されるエピタキシャル・リアクターの斜視図である。 図1のリアクターの反応チャンバーの平面図である。 図2の反応チャンバーの側面図である。 上記反応チャンバーにおける冷却用流れの図表示である。

Claims (17)

  1. 化学気相成長用のリアクター(1)の反応チャンバー(2)を冷却する方法であって、
    前記反応チャンバー(2)の壁の少なくとも1つの所定の区域は、隣接する区域と比べて、異なる熱流束を取り除くために流体で選択的に冷却され、それにより、前記反応チャンバー(2)の概ね均一な温度分布を達成し、前記少なくとも1つの区域を選択的に冷却するために用いられる前記流体は水あるいは他の液体であり、前記隣接する区域は空気あるいは他の気体を用いて冷却されることを特徴とする方法。
  2. 前記少なくとも1つの選択的に冷却される区域は、前記隣接する区域から隔てられ、前記流体が前者から後者へ回ることを回避することを特徴とする請求項1に記載の方法。
  3. 前記反応チャンバー(2)はサセプタ(5)を含み、前記少なくとも1つの選択的に冷却される区域は前記サセプタ(5)の正面に実質的にある位置にあることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
  4. 前記空気あるいは他の気体は、押込み換気を用いて供給されることを特徴とする請求項1または2または3に記載の方法。
  5. 請求項1から4のいずれかに記載の方法を実行するように構成された化学気相成長用のリアクター(1)であって、反応チャンバー(2)、該反応チャンバーに配置されたサセプタ(5)、前記反応チャンバー(2)の少なくとも1つの所定の区域に冷却流体を選択的に散布する手段(15、16、24、25)を含み、前記冷却流体は水あるいは他の液体であり、前記所定の区域に隣接する前記反応チャンバー(2)の区域を空気あるいは他の気体で冷却するように構成されていることを特徴とするリアクター。
  6. 前記空気あるいは他の気体を押込み換気を用いて供給する手段を含むことを特徴とする請求項5に記載のリアクター。
  7. 前記流体が前記選択的に冷却される区域に隣接する前記区域をなめるように動くことを防止するために、前記反応チャンバー(2)に合わせられた仕切り部(13、14)を含むことを特徴とする請求項5または6に記載のリアクター。
  8. 前記反応チャンバー(2)はその表面に囲み部(8、9)を含み、囲み部(8、9)は前記選択的に冷却される区域を、それに隣接する前記区域から区切るのに適していることを特徴とする請求項7に記載のリアクター。
  9. 前記サセプタ(5)は、ディスク・サセプタであり、前記反応チャンバー(2)は実質的に平行六面体形状を有し、実質的に平行方向の反応ガスの流れ用にそれぞれ反対側の面にある入口開口部(3)および出口開口部(4)を備え、前記仕切り部(13、14)は前記反対側の面から延在し、前記サセプタの上方の前記区域を自由に出入りできるようにしておくことを特徴とする請求項7または8に記載のリアクター。
  10. 前記冷却流体は、前記仕切り部(13、14)の上に散布され、前記サセプタ(5)の上に位置される前記反応チャンバー(2)の前記区域に流れることを特徴とする請求項7または8または9に記載のリアクター。
  11. 前記囲み部(8、9)は、前記サセプタ(5)の上に位置された前記反応チャンバー(2)の前記区域の範囲を定めるために実質的に弧状であり、前記冷却流体を横方向に流れ出させるべく側部に開いていることを特徴とする請求項8または9または10に記載のリアクター。
  12. 前記サセプタ(5)の上に位置される前記反応チャンバー(2)の前記区域について中心部に前記冷却流体をかけるのに適したノズル(24、25)を含むことを特徴とする請求項5から11のいずれかに記載のリアクター。
  13. 前記反応チャンバー(2)の前記選択的に冷却される区域は、反射層でコーティングされていることを特徴とする請求項5から12のいずれかに記載のリアクター。
  14. 前記仕切り部(13、14)は、前記反応チャンバー(2)に合わせられ、金属材料で作られあるいは反射材料でコーティングされていることを特徴とする請求項1から13のいずれかに記載のリアクター。
  15. 請求項5から14のいずれかに記載のリアクター用の反応チャンバーであって、実質的に平行六面体形状を有し、その表面に、選択的に冷却される区域をそれに隣接する区域から区切るのに適している囲い部(8、9)を含むことを特徴とする反応チャンバー。
  16. 前記選択的に冷却される区域を区切るように、前記チャンバーの一方の側部から他方の側部まで好ましくは延在する一対の実質的に弧状のリブ(8、9)を上面に含むことを特徴とする請求項15に記載の反応チャンバー。
  17. 前記リブ(8、9)によって区切られる前記区域は、反射層でコーティングされていることを特徴とする請求項16に記載の反応チャンバー。
JP2007534184A 2004-10-01 2004-10-01 エピタキシャル・リアクターの冷却方法およびそれによって冷却されるリアクター Pending JP2008514819A (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/IT2004/000542 WO2006038228A1 (en) 2004-10-01 2004-10-01 Epitaxial reactor cooling method and reactor cooled thereby

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008514819A true JP2008514819A (ja) 2008-05-08

Family

ID=34958687

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007534184A Pending JP2008514819A (ja) 2004-10-01 2004-10-01 エピタキシャル・リアクターの冷却方法およびそれによって冷却されるリアクター

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20070295275A1 (ja)
EP (1) EP1809789B1 (ja)
JP (1) JP2008514819A (ja)
CN (1) CN101031671A (ja)
WO (1) WO2006038228A1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1392068B1 (it) * 2008-11-24 2012-02-09 Lpe Spa Camera di reazione di un reattore epitassiale
ITCO20130073A1 (it) * 2013-12-19 2015-06-20 Lpe Spa Camera di reazione di un reattore per crescite epitassiali adatta per l'uso con un dispositivo di carico/scarico e reattore
CN104752133B (zh) * 2013-12-27 2017-02-15 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 冷却装置及等离子体加工设备
CN106471614B (zh) 2014-07-03 2020-08-25 Lpe公司 用于操纵衬底的工具、操纵方法及外延反应器
CN111161992B (zh) * 2019-12-27 2022-11-25 北京北方华创微电子装备有限公司 半导体设备的反应腔冷却装置
US11702904B1 (en) 2022-09-19 2023-07-18 Lonestar Completion Tools, LLC Toe valve having integral valve body sub and sleeve

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5558368A (en) * 1978-10-23 1980-05-01 Gen Instrument Corp Method of cooling inductionnheated evaporation apparatus and cooling device therefor
JPS58141523A (ja) * 1982-02-17 1983-08-22 Toshiba Corp 半導体製造装置
JPH02184020A (ja) * 1989-01-11 1990-07-18 Nissin Electric Co Ltd 気相成長装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4293755A (en) * 1978-10-23 1981-10-06 General Instrument Corporation Method of cooling induction-heated vapor deposition apparatus and cooling apparatus therefor
DE3485898D1 (de) * 1983-12-09 1992-10-01 Applied Materials Inc Induktiv beheitzter reaktor zur chemischen abscheidung aus der dampfphase.
US6639196B1 (en) * 1999-06-04 2003-10-28 Goodrich Corporation Method and apparatus for cooling a CVI/CVD furnace

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5558368A (en) * 1978-10-23 1980-05-01 Gen Instrument Corp Method of cooling inductionnheated evaporation apparatus and cooling device therefor
JPS58141523A (ja) * 1982-02-17 1983-08-22 Toshiba Corp 半導体製造装置
JPH02184020A (ja) * 1989-01-11 1990-07-18 Nissin Electric Co Ltd 気相成長装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP1809789A1 (en) 2007-07-25
CN101031671A (zh) 2007-09-05
US20070295275A1 (en) 2007-12-27
EP1809789B1 (en) 2015-12-09
WO2006038228A1 (en) 2006-04-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102154196B1 (ko) 반도체 공정의 반응부산물 포집장치
TW202104658A (zh) 溫度控制總成、及控制氣相反應器之溫度控制總成的溫度之方法
JP6815390B2 (ja) 堆積装置を操作する方法、蒸発した源材料を基板に堆積する方法、及び堆積装置
CN105386012A (zh) 用于在低温ald系统中的稳定沉积率控制的方法和装置
TWI652363B (zh) 沉積配置、沉積設備及其操作方法
TW201829808A (zh) 用以測量一沈積率之測量組件、蒸發源、沈積設備、及用於其之方法
KR100900318B1 (ko) 박막증착장치용 샤워헤드 및 박막증착장치 세정방법
JP2008514819A (ja) エピタキシャル・リアクターの冷却方法およびそれによって冷却されるリアクター
KR20180014084A (ko) 증착률을 측정하기 위한 측정 어셈블리 및 이를 위한 방법
JP2008270589A (ja) 半導体装置の製造方法およびその製造装置
JP2023075126A (ja) 真空チャンバ内で基板をコーティングするための気相堆積装置及び方法
JP2001131748A (ja) トラップ装置及びトラップ方法
TWI612167B (zh) 用以測量一沈積率之方法、沈積控制系統與應用其之蒸發源及沈積設備
KR101208995B1 (ko) 증착용기를 구비하는 증착장치
KR20070072859A (ko) 에피텍셜 반응기 냉각방법 및 그에 의해 냉각되는 반응기
JPH10312943A (ja) 温度制御装置
KR100864645B1 (ko) 기판 처리 장치에 사용되는 고온 폐수 처리 장치
KR101196562B1 (ko) 유기물 소모량 향상용 유기소자 양산 제작용 증발원
CN117107225B (zh) 一种基于mpcvd法的金刚石膜生产设备
JPH10135101A (ja) スピンコータ
JPH0625844A (ja) 成膜装置及びターゲット材料
JPH03245524A (ja) 気相成長装置の冷却方法
RU2007116103A (ru) Метод охлаждения эпитаксиального реактора и охлаждаемый в соответствии с этим способом реактор
KR100213960B1 (ko) 하향식 액막 증발 장치
JPH0713946B2 (ja) Cvd装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101015

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110311