JP2008510260A - 光ディスク記録パラメータを決定するための方法および装置 - Google Patents

Abstract

ディスク記録のためのパラメータを決定するための方法および装置が提供される。あらかじめ保存された記録情報をもたないディスク、あるいはあらかじめ保存された、品質要件を満たさない記録情報をもつディスクについて、本発明の方法によれば、まず記録方針パラメータの初期値を設定し、次いで互いの間で近い関連性をもつパラメータの群を用い、実験において計画された方法に従ってディスク記録試験を実行し、最終的に各最適なパラメータと光ディスク記録品質との間の関係を判別し、それにより各パラメータに対応する最適パラメータの値がディスク記録のために得られる。本発明によれば、最適ディスク記録パラメータは、ディスク記録試験の限られた時間、限られたスペース内で決定されることができる。

Description

本発明は光記憶の分野に、より詳細には光ディスクに記録するための最適パラメータを決定するための方法および装置に関する。

記録可能な光ディスクが市場に登場して以来、光ディスクを記録するための技術はCD-R、CD-RW、DVD±RおよびDVD±RWから今ではブルーレイ記録可能光ディスクへと急速な発展を遂げてきた。そのため光記録速度は低速から高速へと発展してきた。今では、CDについては16倍速、24倍速、さらにはより高速（たとえば52倍速）で記録するための光ディスク記録装置が市販されており、16倍速でDVDに記録するための光ディスク記録装置も市販されている。

ディスクへの記録はある種の記録方針（record strategy）のもとで実行されるべきである。記録方針には、Pw（記録出力）、Pe（消去出力）およびC（冷却ギャップ）など、光ディスク記録過程を制御するためのさまざまなパラメータが含まれる。一般に、関連する記録パラメータは、市販されている記録用光ディスク上にあらかじめ保存されている。たとえば記録可能CDでは、ATIP（Absolute Time In Pregroove［事前案内構内絶対時間］）情報が一般にあらかじめ保存されたディスク記録パラメータを含んでおり、記録可能DVDではADIP（Absolute Address In Pregroove［事前案内構内絶対アドレス］）情報があらかじめ保存された記録パラメータを含んでいる。一般に、光ディスク記録装置は光ディスク上に保存されている記録パラメータに基づいてOPC（Optimum Power Control［最適出力制御］）を実行することにより適切な記録出力を決定する。

しかしながら、すべての記録可能ディスクが一貫した品質をもっているわけではなく、すべての記録可能ディスクがあらかじめ保存された記録パラメータをもっているわけでもない。市販の記録可能ディスクは異なるメディアおよび製造工程が使われていて雑多であり、その記録特性は著しく異なっている。光ディスク上に保存されている多くの記録方針は予期されていなかったもので、それどころか光ディスク上にあらかじめ保存された記録方針がないことさえある。ディスクによっては認証された記録方針パラメータを有しているのにそれらのパラメータがディスク記録装置の記録特性に従うものでないこともある。

記録装置がこうしたさまざまなディスクを受け容れることができなければ、記録装置のメーカーは市場のかなりの部分を失うことになる。したがって、メーカーによっては、こうしたさまざまな記録可能ディスクに関連する利用可能な記録方針をすべてあらかじめ保存している。それでも、際限なく新しいディスクが登場するので、ディスク記録装置はすべての状況に対処することはできない。いくつかのディスク記録装置は、ディスクの記録パラメータを、光ディスクに記録する前の大量の試験記録によって判別するので、より多くの時間およびより多くの試験スペースが必要とされる。しかし、ディスクにおける試験記録のためのスペースは非常に限られているし、ユーザーは本番の記録に進む前に長く待つことを望まない。

したがって、光ディスク記録装置が光ディスク特性に基づいて迅速に記録品質の要求を満たす記録パラメータを決定できるようにするよう、ディスクに記録するためのパラメータを決定する方法を提供する必要がある。

本発明の一つの目的は、従来技術に存在する上述した問題を克服するよう、ディスク記録のためのパラメータを決定するための方法および装置を提供することである。

本発明の一つの実施形態によれば、ディスク記録のためのパラメータを決定するための方法であって：初期ディスク記録パラメータを設定し；所定の回数、互いの間で特定の関連をもつ記録パラメータの群について試験記録を実行し；前記集合の各パラメータと光ディスク記録品質との間の関係を判別することにより、前記集合中の各パラメータについてディスク記録のために最適なパラメータ値を得るステップを有する方法が提供される。

本発明のもう一つの実施形態によると、ディスク記録のためのパラメータを決定するための装置であって：初期ディスク記録パラメータを設定するための設定手段と；所定の回数、互いの間で特定の関連をもつ記録パラメータの群についてディスク記録試験を実行するための試験手段と；前記集合の各パラメータと光ディスク記録品質との間の関係を判別することにより、前記集合中の各パラメータについてディスク記録のために最適なパラメータ値を得るための判別手段とを含む装置が提供される。

本発明はさらに、ディスク記録装置であって：書き込まれる光ディスクを駆動するための駆動手段、ならびに、記録のためのパラメータを決定する手段であって：初期ディスク記録パラメータを設定するための設定手段と；所定の回数、互いの間で特定の関連をもつ記録パラメータの群についてディスク記録試験を実行するための試験手段と；前記集合の各パラメータと光ディスク記録品質との間の関係を判別することにより、前記集合中の各パラメータについて書き込まれる光ディスクに記録するために最適なパラメータ値を得るための判別手段とを含むディスク記録のためのパラメータを決定する手段を有する装置が提供される。

本発明の方法および装置を用いれば、ディスクがあらかじめ保存されている記録パラメータをもたないとき、あるいはあらかじめ保存されている記録パラメータが満足のいく品質の結果につながらないとき、光ディスク記録品質に重要な影響をもつパラメータを光ディスク記録装置が決定できる。より好ましくは、互いの間に特定の関連をもつ複数のパラメータが、より少ない時間およびより少ないディスクスペースで判別できる。

本発明のその他の目的および利点は、付属の図面を参照しつつ以下の詳細な記載および請求項に照らすことで明らかとなるであろう。そして本発明は完全に理解されることができる。

本発明の実施形態について、付属の図面を参照しつつ詳細に述べる。

付属の図面において、同様の参照符号は同一、類似または対応する特性または機能を指す。

本発明によれば、記録品質を満足させる記録パラメータが書き込まれるべきディスクから得られない場合には、光ディスク記録装置がその光ディスクに記録するための関連パラメータを決定する。記録パラメータを決定するプロセスにおいて、光ディスク記録装置は、互いの間に特定の関連をもつ複数の記録パラメータと、記録品質に対するそれらの共通の影響とを考慮する。それにより、品質要求を満足させるパラメータの値が、より少ない時間と、光ディスク上の限られた試験スペースで得られる。

図１は、本発明のある実施形態に基づく、ディスク記録のためのパラメータを決定する方法のフローチャートである。書き込まれるべきディスクが挿入されると、光ディスク記録装置が書き込まれるべき光ディスクの型を判別し、その光ディスク上の記録情報を検索する（ステップＳ１１０）。光ディスクの種別情報およびあらかじめ保存されているディスク記録パラメータ情報は一般にATIP（記録可能CDディスクの場合）またはADIP（記録可能DVDディスクの場合）の中で得ることができる。

あらかじめ保存されている記録パラメータが検索でみつけ出された場合、光ディスク記録装置は、そのみつけ出された記録パラメータに基づいて書き込まれるべき光ディスクに記録試験を実行する（ステップＳ１２０）。一般に、この試験は最適出力制御（OPC）手順を用いて実行され、一つの記録出力パラメータ（Pw）だけが試験され、所定の値の範囲内で最適化される。ディスク記録の品質を推定する方法は、まず光ディスク上に書き込まれた信号を読み出し、次いで読み出された信号の、クロックに対するデータのジッタ（data-to-clock Jitter）に基づいて記録品質を判断することを含む。ジッタが大きいほど光ディスク記録品質は悪く、逆もまたしかりである。

次いで、その記録品質が所定のディスク記録品質を満足させるかどうかが、試験結果に基づいて判別される（ステップ１３０）。試験のジッタがある基準値より大きければ、そのあらかじめ保存されているパラメータは所定のディスク記録品質を満足させない。

あらかじめ保存されているディスク記録パラメータが所定のディスク記録品質を満足させない場合、あるいは光ディスク上で記録パラメータがみつけ出されなかった場合、光ディスク記録装置は、書き込まれるべきその光ディスクについての初期記録パラメータを設定する（ステップ１４０）。初期ディスク記録パラメータは、光ディスク記録装置のメーカーによって、光ディスクの型およびその光ディスク記録装置の記録速度に基づいて設定されることができる。一般に、異なる型の記録可能ディスクおよび異なるディスク記録速度は、異なるディスク記録方針に該当する、すなわち異なるディスク記録パラメータに対応する。たとえば、16倍速から32倍速の記録速度でCD-RWディスクに記録するためには2Tディスク記録方針が必要であるが、一方、10倍速未満の記録速度でCD-RWディスクに記録するには1T記録方針が必要なだけである。

光ディスク上にあらかじめ保存されている記録情報がない場合、設定される初期ディスク記録パラメータは、関連するディスク記録方針の下でのあらゆる必要なパラメータを含むべきである。光ディスク上にあらかじめ保存されている記録パラメータがあるがそれらのパラメータが記録品質を満足させないという場合には、設定される初期ディスク記録パラメータは、共通でないパラメータだけを含むことができ、共通パラメータは使用すべく保持できる。もちろん、あらかじめ保存されている光ディスク記録パラメータを放棄して、ディスク記録パラメータの群全体を記録可能ディスクの型および当該光ディスク記録装置の記録速度に基づいて設定してもよい。初期ディスク記録パラメータを設定する際、共通でないパラメータのための値の範囲を判別する必要もある。たとえば、記録出力（Pw）の初期値は38mWなど、値の範囲が35mWから47mWなどといった具合である。

次いで、互いの間に特定の関連をもった一群のパラメータが初期記録パラメータから最適化のために選択される（ステップＳ１５０）。いくつかの記録パラメータが光ディスク記録品質に対して著しい影響をもつ。たとえば、CD-RWディスク記録のPwおよびPe、DVD+Rディスク記録のPwおよびdPwなどである。これらのパラメータは通常、互いに近い関連性をもち、記録品質に共通して影響する。CD-RWディスクについては、偶数（even）マークの冷却ギャップ（Ce）および奇数（odd）マークの冷却ギャップも互いに近い関連性をもつ重要なディスク記録パラメータの群である。DVD+Rディスクについては、T_top（より高出力で4Tから14Tの符号の開始セグメントにおいて記録するために使う時間）およびT_lp（より高出力で4Tから14Tの符号の終了セグメントにおいて記録するために使う時間）も互いに近い関連性をもつ重要なディスク記録パラメータの群である。

光ディスク記録装置は、選択されたパラメータの集合の各パラメータについて、所定のパラメータ値の範囲について、所定の試験方法に従って試験記録を実行する（ステップＳ１６０）。特定の関連性をもつパラメータの最適化は、光ディスク品質へのさまざまな関連性のパラメータの影響を考慮しうる。選択されたパラメータの群についての試験は、他のパラメータが不変のままという条件のもとで実行され、それにより選択された群のパラメータのディスク記録品質に対する影響が浮かび上がる。

よりよい試験方法は、ディスク記録試験に実験計画（DOE: Design of Experiment）法を採用することである。たとえば、DOEの中心複合計画（CCD: Central Composite Design）に従って計画された試験方法は、限られた試験回数でよりよい試験結果を得ることができる。CCDはパラメータの主要な影響、各パラメータの相互影響、パラメータの二次項成分を考慮に入れる。その試験観察値は、応答の反り（a response camber）、よってより高効率にあてはめるために使うことができる。

最後に、ステップＳ１６０の試験結果に基づいて、記録品質と選択された集合内の各パラメータとの間の関係が判別され、それによりディスク記録のために選択された集合内の各パラメータについての値が得られる。多くの実験により、多くの記録パラメータと記録品質を示すジッタとの間にある種の関数関係が存在することが示されている。ステップＳ１６０の試験結果に従って、関数関係はあてはめ出すことができ、それにより、選択されたパラメータに対応する、対応するパラメータ範囲内で最低のジッタをもつ値が得られる。

ステップＳ１５０では、記録品質に対する重要な影響をもつ相互に関連するパラメータの複数の集合が選ばれることができる。たとえば、相変化ディスクについてはPwおよびPeのほかにパラメータCeおよびCoを選ぶことができる。この場合、パラメータ集合PwおよびPeを最適化したのち、ステップＳ１６０およびＳ１７０に従ってパラメータ集合CeおよびCoが最適化できる。複数のパラメータ集合を選び、最適化することによって、光ディスク記録品質がさらに改善されることができる。

パラメータ集合CeおよびCoを決定するのに先立ってパラメータ集合PwおよびPeを決定する理由は、パラメータ集合PwおよびPeが、パラメータ集合CeおよびCoよりもディスク記録品質に対して影響が大きいからである。この順序で最適化されたディスク記録パラメータを決定することは、まず光ディスク記録パラメータを粗調整し、それから微調整することに対応する。同様に、DVD+Rのような一倍速の記録可能ディスクについては、パラメータ集合PwおよびdPwと、パラメータ集合T_topおよびT_lpとを順次最適化されるよう選ぶことができる。

本発明に基づくディスク記録パラメータを最適化する方法は、より短い時間で、より少ない試験スペースで最適なディスク記録パラメータを決定できる。ディスク記録のためのこれらの最終的に決定されたパラメータは、のちに使用すべく光ディスクに書き込んでおいたり、あるいは光ディスク識別情報（たとえば光ディスクのID）に対応してディスク記録装置内に保存しておいたりすることができる。

これから本発明について、書き換え可能光ディスクCD-RWを例としてパラメータを決定するプロセスについて説明する。多くの実験により、ある種の記録スピードのもとでは、CD-RWディスクの記録品質に対しては４つのパラメータが著しい影響をもっていることが示されている。記録出力Pw、消去出力Pe、偶数マークの冷却ギャップCeおよび奇数マークの冷却ギャップCoである。ここで、PwおよびPeは近い関連性を有しており、CeおよびCoは近い関連性を有している。したがって、試験のためにこれら４つのパラメータを選んで、２つの集合に分割することができる。PwおよびPeがいちばん決定的な記録パラメータなので、これらが先に最適化されて光ディスク記録方針パラメータを粗調整し、それからパラメータ集合CeおよびCoがより細かい調整のために最適化される。

CD-RWに記録するときには、ジッタとパラメータ集合（PwおよびPe）との間には二次の関係が存在する。その関係は式（１）で表すことができる。

ここで、
Cは定数（すなわち0次項の係数）；
iはパラメータの数字で今の場合i＝1,2；
jはパラメータの数字で今の場合j＝1,2；
B_iは一次項の係数；
X_iおよびX_jは試験のための選ばれた最適化されたパラメータで、今の場合はPeおよびPw；
A_ijは二次項の係数；ここでA₁₂＝A₂₁で、また、A_1-2＝2A₁₂＝2A₂₁とする。

式（１）によれば、各係数についての値が決定できれば、ジッタと対応する記録パラメータとの間の二次関係があてはめできる。

式（１）において係数を決定するために、選ばれた記録パラメータのための試験方法がDOE法に従って計画される。DOEにおけるCCD（中心複合計画）実験を使って、有限回の試験でパラメータの設定された範囲内での完璧な値を得ることができる。たとえば、２つのパラメータからなる群については、試験結果の処理を通じてよりよいパラメータ値を得るために必要な実験はたった9回である。各パラメータの値の範囲は、光ディスクの型および記録速度に基づいてあらかじめ決定されていることができる。たとえば、Pwの範囲は35mwから47mw、Ceは2.89nsから8.96nsなどである。

図２は、所定のCCD試験方法におけるPwおよびPeの値を図解する概略図である。ここで、パラメータPwおよびPeの値の範囲の終点値を規格化したのちに値1、−1、√2、−√2および0が得られる。CCD試験計画によれば、Pe/Pwとジッタとの間の関係が、図２の9つの点に対応するパラメータPeおよびPwの値についての9回の記録試験であてはめできる。

表１に示されるように、PwおよびPeについての9回のディスク記録試験において、PwおよびPeは次のように評価されている。

表１PwおよびPeの試験値

パラメータの各群PwおよびPeについて、対応するジッタ値が記録試験で得られる。9つの試験で得られたジッタ値は式（２）のように、すなわち次の行列Yで表せる。

上記のディスク記録試験の結果および下記の式（３）により、係数C、B₁、B₂、A₁₁、A₂₂およびA_1-2が計算できる。

ここで、Coeffは係数C、B₁、B₂、A₁₁、A₁₂、A₂₁、A₂₂から構成される列行列。

Tは行列転置操作を表す。

式（１）の各係数が得られたのちは、ジッタとパラメータPwおよびPeとの間の関係は式（１）によって表される。式（１）によれば、最小ジッタに対応するPwおよびPeの値は次の式（５）に従って求められる。

ここで、Pは最終的に得られるPeおよびPw値の行列、Aは係数A_ijの行列、Bは係数B_iから構成される列行列である。

上記のように、CCD法によれば9回の記録試験を用い、式（１）ないし（５）に従って試験結果を処理することにより、記録出力Pw、消去出力Peおよびジッタの間の関数関係が得られる。この関数関係を用いて、最小ジッタに対応するPwおよびPeの値を得ることができ、ディスク記録に供することができる。

実際上は、PwおよびPeについての9回の記録試験はもう1回繰り返されて、干渉を減らすために同じパラメータを用いて得られたジッタ値が平均されることができる。パラメータCe、Coとジッタとの間にも同様の二次関係が存在し、同じ方法でパラメータCeおよびCoが決定できる。

異なるパラメータ集合の最適化の順序は、光ディスク記録品質に対するその影響に基づいて決定されるべきである。比較的重要なパラメータ集合が最初に最適化され、それから他の集合に進むべきである。

一つの集合には２つのパラメータが好ましい。この方法では、CCD試験方法で必要とされる試験は9回だけとなり、それにより試験作業負荷が軽減される。一つの集合中に３つ以上のパラメータがある場合も実行可能であるが、その場合には、CCDに従って実行される試験計画では、良好な結果を得るためには試験作業が大幅に増加する。たとえば、３つのパラメータを有する集合については必要とされる結果を得るために27回の試験が必要とされる。

ここで、本発明の効果について、本発明の方法を用いて３枚のCD-RWディスクについて記録パラメータを決定することによって解説する。まず本発明の方法に従って記録パラメータが決定され、次いでその決定されたパラメータを用いた光ディスク記録品質と、あらかじめ保存されている記録パラメータを用いた光ディスク記録品質とが比較される。3枚のCD-RWディスクにあらかじめ保存されている記録パラメータは認証されており、記録品質を完璧に満足させるものである。

実験で使われた光ディスク記録装置の記録速度は16倍速で、選ばれたパラメータ集合はそれぞれPwおよびPeの第一のパラメータ群と、CoおよびCeの第二のパラメータ群である。各パラメータの値の範囲は表２に掲げてある。なお、Peの値の範囲はPe/Pwから得られる。

表２：Pe、Pw、Ce、Coの値の範囲

ディスク記録試験は、それぞれDOEのCCD法に従って、ディスク１、２、３の第一のパラメータ集合（PwおよびPe）ならびに第二のパラメータ集合（CeおよびCo）について実行される。試験結果を表３に挙げる。

表３：光ディスク記録品質の比較

表３から、本発明の方法を用いて決定された記録パラメータを使っての記録品質が、認証された記録パラメータを使っての記録品質を実質的にエミュレートすることが見て取れる。

図３は、本発明に基づいて決定された最適ディスク記録パラメータを用いて複数回CD-RWディスク１に直接、再書き込みを実行することを図解している概略図である。図３に示されるように、ディスク記録品質についての要件は、ジッタ値が15%を超えないということである。図３から、本発明に基づいて決定された光ディスク記録パラメータは、複数回繰り返される消去／記録プロセスにおける要件を満たしており、比較的安定である。

ディスク２およびディスク３についての試験はディスク１についてと実質的に一貫した結果である。

以下の記述では、記録可能DVD-Rについての記録パラメータ決定を例とする。DVD-Rディスクについては、記録品質にとって決定的なパラメータ集合は、パラメータ集合PwおよびdPwと、パラメータ集合T_topおよびT_lpなどである。

図４は、１回だけ記録可能なDVD+Rディスクによって使用される光ディスク記録方針を図解する概略図である。図４では、曲線５１０はDVD+Rに書き込まれるべきデータを表し、曲線５２０はDVD+Rにデータを記録するための記録方針を示している。Pwは4Tから14Tのデータを記録するために必要とされる出力であり、dPwはデータ3Tならびに4Tから14Tのマークされた開始セグメントおよび終了セグメントを記録するための出力増分である。パラメータPwおよびdPwはDVD+Rの記録品質に著しい影響をもち、これら２つのパラメータ間にはより近い関連性があるので、これらは同時に最適化されるべきである。

記録品質を満足させる記録パラメータが書き込まれるべきDVD+Rから得られないときは、光ディスク記録装置は光ディスクの型および記録速度に基づいてDVD+Rについての初期記録パラメータを設定することになる。

本発明の方法によれば、パラメータPwおよびdPwは、最適化されるべき選ばれた集合の中のパラメータとして選択されている。このパラメータ集合はP_high（＝Pw＋dPw）およびdP（＝dPw/Pw）などとして表すことができる。

ジッタは、式（１）と同様の二次の関数関係でパラメータP_highおよびdPに応答する。P_highおよびdPを決定するためのその他のステップは、CD-RWについて光ディスク記録パラメータPwおよびPeを決定するための上記の実施例におけるステップに従って実行できる。違いは、CCD試験方法におけるパラメータ値が表４に描かれるようになり、これらの値も良好な結果を得ることができるということである。

表４：dPおよびP_highのパラメータの試験値

対応して、この例での行列Xは式（６）のように表すことができる。

上記のプロセスを通じて、DVD+Rの記録品質を満足させる記録パラメータを得ることができる。DVD+R記録パラメータのうちでは、パラメータ集合T_topおよびT_lpも重要なパラメータであり、本方法に基づいてP_highおよびdPが比較的望ましい値を得たのちに最適化されることができる。

ここで、本発明の効果について、DVD+Rディスクについての記録パラメータP_high、dP、T_topおよびT_lpを決定することによってさらに解説する。

記録速度が６倍速のとき、パラメータP_highおよびdPの値の範囲ならびに最終的に決定されたパラメータの値P_highおよびdPならびに該決定されたパラメータの値に基づいて得られたジッタ値を表５に掲げる。

表５：６倍速の場合の最適化されたP_highおよびdP

次いで、６倍速のもとでP_highおよびdPに基づいてT_topおよびT_lpの値が決定される。結果を表６に掲げる。

表６：６倍速の場合の最適化されたT_topおよびT_lp

記録速度が８倍速のときは、パラメータP_highおよびdPの値の範囲、最終的に決定されたパラメータの値ならびに該決定されたパラメータの値に基づいて得られたジッタ値を表７に掲げる。

表７：８倍速の場合の最適化されたP_highおよびdP

次いで、８倍速のもとでP_highおよびdPに基づいてT_topおよびT_lpの値が決定される。結果を表８に掲げる。

表８：８倍速の場合の最適化されたT_topおよびT_lp

上記の実施形態から、本発明の方法に従って決定されたパラメータは、光ディスク記録品質をうまく満足させることができる。

図５は、本発明のある実施形態に基づく、ディスク記録のためのパラメータを決定するための装置６００のブロック図である。装置６００は、光ディスクの型およびディスク記録速度に基づいて初期記録パラメータを設定するための設定手段６１０を有している。装置６００はまた、初期記録パラメータからパラメータの群を選択して、その集合中のパラメータが互いに特定の関連性を有し、ディスク記録品質に対して共通の影響をもつようにするための選択手段６２０をも有していてもよい。最適化を必要とするパラメータ集合があらかじめ設定されている場合には、選択手段６２０は無視されることができる。

装置６００はさらに、所定の試験方法に従って所定の値の範囲内で前記選択されたパラメータ群についてディスク記録試験を実行するための試験手段６３０を有している。前記所定の試験方法は、DOEにおけるCCD法に従って計画されたディスク記録試験方法であることができる。

装置６００はさらに、パラメータ群内の各パラメータと光ディスク記録品質との間の関係を記録試験結果に基づいて判別することにより、前記群のパラメータのそれぞれについて最適化されたパラメータ値を得るための判別手段６４０を有する。

装置６００によって決定された光ディスク記録パラメータはその光ディスク上に保存されてもよいし、あるいは光ディスク記録装置内に各光ディスクに対応するように保存されてもよい。

本発明について例示的な実施形態を参照しつつ述べてきたが、多くの代替、修正および変更が当業者には明らかであろう。よって、これらの代替、修正および変更のすべてはみな本発明の範囲および精神のうちにはいるものである。

本発明のある実施形態に基づく、ディスク記録のためのパラメータを判別するための方法を図解するフローチャートである。 所定の中心複合計画方式におけるPwおよびPeの値の概略図である。 本発明に基づいて決定された最適ディスク記録パラメータを用いて複数回にわたってCD-RWディスク１に直接、再記録することの実行を図解する概略図である。 一度しか書き込みできないDVD+Rディスクによって使われる光ディスク記録方針の概略図である。 本発明のある実施形態に基づく、ディスク記録のためのパラメータを判別するための装置６００のブロック図である。

符号の説明

Ｓ１１０ ディスク上にあらかじめ保存されている記録情報があるかどうかを判定
Ｓ１２０ ディスク上に記録試験を実行
Ｓ１３０ 記録品質が所定のディスク記録品質を満たすか？
Ｓ１４０ 初期ディスク記録パラメータを設定
Ｓ１５０ 互いに特定の関連性をもつパラメータの群を選択
Ｓ１６０ 選択された群の各パラメータについてディスク書き込み試験を実行
Ｓ１７０ 記録品質と各パラメータとの間の関係を判別して最適値を取得
６１０ 設定手段
６２０ 選択手段
６３０ 試験手段
６４０ 決定手段

Claims (21)

1. 光ディスクに記録するためのパラメータを決定する方法であって：
   （ａ）前記光ディスクに記録するための記録方針パラメータの初期値を設定し；
   （ｂ）所定の回数、互いの間で特定の関連性をもつパラメータの群について試験記録を実行し；
   （ｃ）前記試験の結果に基づいて前記群の各パラメータと前記光ディスクの記録品質との間の関係を判別することにより、前記群中の各パラメータについて対応する最適なパラメータ値を得る、
   ステップを有する方法。
2. （ｄ）前記パラメータから別のパラメータ群を選択し、該別の群のパラメータは互いの間で特定の関連性をもち、該別の群のパラメータはステップ（ｂ）で試験された群のパラメータより少ない影響力を記録品質に対して有し；
   （ｅ）もう所定の回数だけ、前記別の群のパラメータについてディスク記録試験を実行し；
   （ｆ）前記試験の結果に基づいて前記別の群の各パラメータと前記光ディスクの記録品質との間の関係を判別することにより、前記別の群中の各パラメータについて対応する最適なパラメータ値を得る、
   ステップをさらに有する、請求項１記載の方法。
3. 前記ステップ（ｅ）において実行される光ディスク記録試験が前記ステップ（ｃ）で得られた対応するパラメータを使用する、請求項２記載の方法。
4. 前記ステップ（ａ）が、光ディスクの型に基づいて記録方針パラメータの初期値を設定する、請求項１記載の方法。
5. 前記ステップ（ａ）が、ディスク記録の速度に基づいて記録方針パラメータの初期値を設定する、請求項１または４に記載の方法。
6. 前記光ディスク記録試験が前記パラメータ群中の各パラメータの所定の値の範囲および所定の試験方法に基づいて実行され、該所定の試験方法が前記所定の回数を決定する、請求項１または２に記載の方法。
7. 前記所定の試験方法が中心組み合わせ計画実験法（center combination design experiment method）の試験方法を含む、請求項６記載の方法。
8. 前記パラメータ群が前記光ディスク記録パワーのパラメータを含む、請求項１記載の方法。
9. 前記パラメータ群がPe（消去パワー）のパラメータを含む、請求項１または８に記載の方法。
10. 前記パラメータ群がdPw（パワー増分）のパラメータを含む、請求項１または８に記載の方法。
11. 前記パラメータ群がCe（偶数マークの冷却ギャップ）およびCo（奇数マークの冷却ギャップ）のパラメータを含む、請求項１、２または８に記載の方法。
12. 前記パラメータ群がT_top（4Tから14Tのマークの開始セグメントにおいて記録に使う時間）およびT_lp（4Tから14Tのマークの終了セグメントにおいて記録に使う時間）を含む、請求項１、２または８に記載の方法。
13. ステップ（ｂ）およびステップ（ｅ）における光ディスク記録試験が、各対応する群内のパラメータについては同時に実行される、請求項１または２記載の方法。
14. ディスク記録のためのパラメータを決定するための装置であって：
    前記光ディスクに記録するための記録方針パラメータの初期値を設定する設定手段と；
    所定の回数、互いの間で特定の関連性をもつパラメータの群を用いて試験記録を実行する試験手段と；
    前記試験の結果に基づいて前記群の各パラメータと前記光ディスクの記録品質との間の関係を判別することにより、前記群中の各パラメータについて対応する最適なパラメータ値を得る判別手段、
    とを有する装置。
15. 前記設定手段が、前記光ディスクの型およびディスク記録の速度に基づいて記録方針パラメータの初期値を設定する、請求項１４記載の装置。
16. 前記光ディスク記録試験が前記パラメータ群中の各パラメータの所定の値の範囲および所定の試験方法に基づいて実行され、該所定の試験方法が前記所定の回数を決定する、請求項１４に記載の装置。
17. 前記所定の試験方法が中心組み合わせ計画実験法の試験方法を含む、請求項１６記載の装置。
18. 書き込まれるべきディスクを駆動するための駆動手段と、
    ディスク記録のためのパラメータを決定するための手段であって：
    前記光ディスクに記録するための記録方針パラメータの初期値を設定する設定手段と；
    所定の回数、互いの間で特定の関連性をもつパラメータの群を用いて試験記録を実行する試験手段と；
    前記試験の結果に基づいて前記群の各パラメータと前記光ディスクの記録品質との間の関係を判別することにより、前記群中の各パラメータについて対応する最適なパラメータ値を得る判別手段；
    とを有する決定手段、
    とを有するディスク記録装置。
19. 前記設定手段が、前記光ディスクの型およびディスク記録の速度に基づいて初期記録パラメータを設定する、請求項１８記載の装置。
20. 前記光ディスク記録試験が前記パラメータ群中の各パラメータの所定の値の範囲および所定の試験方法に基づいて実行され、該所定の試験方法が前記所定の回数を決定する、請求項１８に記載の装置。
21. 前記所定の試験方法が中心組み合わせ計画実験法の試験方法を含む、請求項２０記載の装置。

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