CN101002257A - 一种确定用于光盘刻写的参数的方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种确定用于光盘刻写的参数的方法及装置。对于没有预存储刻写信息或虽然预存储了刻写信息但不能满足刻写质量要求的光盘，按照本发明提供的方法，首先设置初始的光盘刻录参数，然后对其中相互之间有比较紧密关联性的一组参数，按照实验设计的方法进行光盘刻写测试，最后根据光盘刻写测试结果，确定选定优化的各参数与光盘刻写质量之间的关系，从而根据这个关系获得各参数相应的优化参数值，用于光盘刻写。根据本发明，可以在有限的时间和有限的光盘刻写测试空间内确定优化的光盘刻写参数。

Description

一种确定用于光盘刻写的参数的方法及装置

背景技术

本发明涉及光存储领域，尤其涉及一种确定用于光盘刻写的参数的方法及装置。

自从可以刻写的光盘进入市场以来，强大的市场需求便推动着光盘刻写技术飞速发展。可以刻写的光盘从CD-R，CD-RW发展到DVD±R和DVD±RW，进而发展到蓝光刻写光盘。相应的，光盘刻写速度也由单倍速发展到多倍速。现在在市场上已经可以方便的购买到能够以16倍速，24倍速，甚至更高倍速(如52倍速)刻写CD光盘的光盘刻写设备，也可以买到以16倍速刻写DVD光盘的光盘刻写设备。

刻写光盘需要在一定的光盘刻写策略(write strategy)下进行。光盘刻写策略中包含了各种控制光盘刻写过程的参数，如光盘写入功率Pw(Write Power)、相变光盘的光盘擦除功率Pe(Erase Power)及冷却时间C(cooling gap)等。通常，市场上出售的用来刻写的光盘上预存储有相应的刻写参数，例如，对于可以刻写的CD光盘，一般在ATIP(Absolute Time In Pregroove)信息中包括有预存储的光盘刻写参数，而对于可以刻写的DVD刻写光盘，则是在ADIP(AbsoluteAddress In Pregroove)信息包括有预存储的刻写参数。这些刻写参数多数能满足光盘刻写质量的要求。通常，光盘刻写设备将根据光盘上的存储刻录参数进行最佳功率校正(OPC，Optimum Power Control)，以确定一个适当的写入功率。

然而，并不是所有的可以刻写的光盘的质量都能保持一致，也不是所有的光盘都预存储了刻写参数。因使用介质、工艺不同等原因，市场上出售的可以刻写的光盘良莠不齐，写入特性有相当大的差异。许多光盘存储的刻写策略没有得到认证、或者根本就没有预存储刻写策略，而有些光盘虽有经过认证的刻写策略参数但却与光盘刻写装置的刻写特性不相适应。

如果光盘刻写设备不能适应这些各式各样的光盘，那么生产刻写设备的厂家势必要失去相当一部分市场份额。因此，有些厂商在光盘刻录设备上预存储了所有能得到的对应于各种刻写光盘的刻写策略。即使这样做，一个光盘刻写设备也不可能应付所有的情况，因为新的光盘品种层出不穷。还有的光盘刻写设备是在刻写光盘前通过大量的光盘刻写测试来确定光盘刻写参数，这样做需要较多的时间和光盘上较多的测试空间，而实际上光盘上供刻写测试的空间是十分有限的，而用户也不希望等待较长时间后才能进行正式刻写。

因此，需要提供一种确定用于光盘刻写的参数的方法，以使光盘刻写设备能够迅速有效的根据光盘特性确定能够满足刻写质量要求的刻写参数。

发明内容

本发明的目的是提供一种确定用于光盘刻写的参数的方法及装置，以克服现有技术中的不足。

根据本发明的一个实施例所提供的确定用于光盘刻写的参数的方法，包括步骤：设置初始光盘刻写参数；针对所述刻写参数中的一组参数进行预设定次数的光盘刻写测试，该组参数中的各参数之间具有特定关联性；和根据所述刻写测试的结果，确定该组参数中的各参数与光盘刻写质量之间的关系，以获得该组参数中各参数相应的优化参数值，用于光盘刻写。

根据本发明的一个实施例，提供一个确定用于光盘刻写的参数的装置，包括：一个设置装置，用于设置初始光盘刻写参数；一个测试装置，针对所述刻写参数中的一组参数进行预设定次数光盘刻写测试，该组参数中的各参数之间具有特定关联性；和一个确定装置，根据所述刻写测试的结果，确定该组参数中的各参数与光盘刻写质量之间的关系，以获得该组参数中各参数相应的优化参数值，用于光盘刻写。

本发明还提供一个光盘刻写装置，包括：一个光盘驱动装置，用于驱动一张待刻录光盘和一种确定用于光盘刻录的参数的装置；所述确定用于光盘刻录的参数的装置包括，一个设置装置，用于设置初始光盘刻写参数，一个测试装置，同时针对所述刻写参数中的一组参数进行预设定次数的光盘刻写测试，该组参数中的各参数之间具有特定关联性和一个确定装置，根据所述刻写测试的结果，确定该组参数中的各参数与光盘刻写质量之间的关系，以获得该组参数中各参数相应的优化参数值，用于所述待刻录光盘的刻写。

通过本发明所提供的方法和装置，对于没有预存储光盘刻写参数或根据预存储的光盘刻写参数进行光盘刻写不能达到光盘刻写质量要求的光盘，光盘刻写设备可以确定对光盘刻写质量有重要影响作用的的参数，尤其是能够在较短的时间内和较小的光盘空间内确定有特定关联性的多个参数。

通过下文中参照附图对本发明所作的描述和权利要求，本发明的其他目的和成就将显而易见，并可对本发明有全面的理解。

附图说明

通过实施例，参照附图对本发明作进一步详尽解释。

图1是根据本发明的一个实施例的确定用于光盘刻写的参数的方法流程图；

图2是在预定的中心组合设计测试方案中的Pw和Pe取值示意图；

图3是根据本发明为CD-RW光盘1确定的优化的光盘刻写参数的多次直接重写性能示意图；

图4是DVD+R可一次刻写光盘所用的光盘刻写策略示意图；和

图5是根据本发明的一个实施例的确定光盘刻写参数装置600的框图。

在所有的上述附图中，相同的标号表示具有相同、相似或相应的特征或功能。

具体实施方式

根据本发明，如果在待刻写光盘上不能得到能够满足刻写质量要求的刻写参数，那么光盘刻写装置将为该光盘确定相应的用于刻写的参数。在确定刻写参数过程中，光盘刻写装置将兼顾其中具有特定关联性的多个刻写参数，考虑它们对刻写质量的共同影响，同时予以确定，这样可以在较短的时间内和光盘上有限的测试空间内得到满足刻写质量要求的参数值。

图1是根据本发明的一个实施例的确定光盘刻写参数的方法流程图。一个待刻写光盘插入后，光盘刻写装置将首先确定这张待刻写光盘的类型，并且检索光盘上的刻写参数信息(步骤S110)。光盘的类型信息和预存储的光盘刻录参数信息一般可以在光盘的ADIP(对于可以刻录的CD光盘而言)或ADIP(对于可以刻录的DVD光盘而言)得到。

如果能检索到预存储的刻写参数，那么光盘刻写装置将根据检索到的刻写参数在待刻录光盘上进行刻写测试(步骤S120)。这种测试一般通过最佳写入功率校正OPC进行，并且一般只对其中的一个写入功率参数Pw在设定的取值范围内进行测试、优化。衡量光盘刻写质量的方法通常是先读出测试刻写在光盘上的信号，然后根据读出的信号的数据对时钟(data-to-clock)的抖动值(Jitter)来判断刻写质量的优劣。抖动值越大，光盘刻写质量越差，反之，抖动值越小，光盘刻写质量越好。

然后，根据测试结果，判断光盘刻写质量是否符合预设定光盘刻写质量要求(步骤S130)。如果光盘刻写测试的抖动值大于一个参考抖动值，那么预存储光盘刻写参数就不满足预设定刻写质量要求。

如果预存储光盘刻写参数不满足光盘刻写质量要求，或者在光盘上没有检索到刻写参数，那么光盘刻写装置就要为待刻写光盘设置初始光盘刻写参数(步骤S140)。具体初始光盘刻录参数可以由光盘刻录装置厂商等根据光盘类型和光盘刻录装置的刻录速度设定。一般来讲，不同的类型的刻写光盘以及不同的光盘刻写速度适应于不同的光盘刻写策略，也即对应不同的光盘刻写参数。例如，在16倍速到32倍速光盘刻写速度范围内刻写一张CD-RW光盘，需要2T光盘刻写策略，而要在10倍速以下的刻写速度下刻写一张CD-RW光盘，1T光盘刻写策略就可以了。

如果在光盘上没有预存储刻录信息，那么所设定的初始光盘刻录参数包括相应光盘刻录策略下的所有必须的参数。如果光盘上有预存储的刻写参数，但不满足刻写质量要求，那么需要设置的初始光盘刻写参数可以只包括那些非通用的参数，而保留使用那些通用的参数。当然，也可以放弃原来预存储的光盘刻写参数，而根据可以刻录的光盘的类型和光盘刻写装置的刻写速度设置全套的光盘刻写参数。在设置初始光盘刻录参数时，对于非通用参数，一般还要确定其取值范围，如写入功率Pw的初始值可以为38毫瓦，其取值范围在35毫瓦到47毫瓦之间等。

然后，在所设置的初始刻写参数中选定一组具有特定关联性的参数(步骤S150)，进行优化确定。有些刻写参数对光盘刻写质量具有重要影响，如在CD-RW光盘刻写中的写入功率Pw和擦除功率Pe，在DVD+R光盘刻写中的写入功率Pw和功率增量dPw等。这些参数之间常常又具有十分紧密的关联性，它们共同影响光盘的刻录质量。对于CD-RW光盘，偶数标记的冷却时间Ce(Cooling gaps of evenmarks)和奇数标记的冷却时间Co(Cooling gaps of odd marks)，也是一组具有紧密关联性的重要的光盘刻录参数。对于DVD+R光盘，T_top(刻录4T到14T标记时的开始段使用较高功率的时间)和T_lp(刻录4T到14T标记时的结束段使用的较高功率的时间)也是一组具有紧密关联性的重要的光盘刻录参数。

光盘刻写装置将在预设定的参数取值范围内，针对选定的参数组中的各参数按照预定的测试方案进行光盘刻写测试(步骤S160)。对具有特定关联性的参数同时进行优化能够兼顾各相关参数对光盘质量的共同影响。针对选定的一组光盘刻写参数所作的测试都是在其他参数不变的情况下进行的，这样可以凸现这一组参数对光盘刻写质量的影响。

比较好的测试方案是采用实验设计方法DOE(Design OfExperiment)进行光盘刻写测试设计。例如根据DOE中的中心组合设计CCD法(Central Composite Design)设计的测试方案可以在有限的测试次数内得到较好的测试效果。中心组合设计(CCD)方法考虑了参数的主要影响、各参数的交互影响和参数的二次项成分，实验的观测值可以用来拟合响应曲面，具有比较高的效率。

最后，根据步骤S160的测试结果，确定所选定参数组中各参数与刻写质量之间的关系，以获得参数组中各参数用于光盘刻写的参数值(步骤S170)。大量的实验表明，许多刻写参数与表示光盘刻写质量的抖动值Jitter之间存在一定的函数关系。根据步骤S160所进行的光盘刻写测试的结果，可以拟合这个关系，据此得到在相应的参数范围内抖动值最小时所选定参数所对应的的参数值。

在步骤S150中还可以选定多组对于光盘刻写质量有重要影响的相互关联的参数，例如对于相变光盘，除选定Pw和Pe外，还可以选定参数组Ce和Co，那么在结束对参数组Pw和Pe的优化后，再按照步骤S160和S170对参数组Ce和Co进行优化。通过选定和优化确定多组参数，光盘刻写质量可以得到进一步提高。

之所以先确定参数组Pw和Pe的值，然后再确定参数组Ce和Co的值，是因为参数组Pw和Pe比参数组Ce和Co对光盘刻录质量的影响大，按照这个顺序对光盘刻录参数进行优化确定，相当于对影响光盘刻录质量的参数先进行粗调，再进行细调。同样，对于可一次刻录的光盘，如DVD+R，则可以选定参数组Pw和dPw和参数组T_top和T_lp先后进行优化。

根据本发明提供的优化光盘刻写参数的方法，可以在较短的时间内，较少的光盘刻写测试空间内确定适合具体光盘的刻写参数。这些最终确定的用于光盘刻写的参数可以刻录在光盘上，以备以后的刻录使用，也可以对应于光盘的识别信息(如光盘的ID)存储在光盘刻录装置中。

下面以确定可重复刻录光盘CD-RW的刻写参数为例描述本发明。大量试验表明，在一定的刻写速度下，对于CD-RW光盘来讲，对刻写质量具有关键影响作用的四个参数是：写入功率Pw，擦除功率Pe，偶数标记的冷却时间Ce和奇数标记的冷却时间Co，其中Pw和Pe具有紧密关联性，Ce和Co具有紧密关联性。因此，可以选定这四个参数分成两组进行测试。因为Pw和Pe是最关键的刻写参数，所以先优化参数组Pw和Pe，作为对光盘刻写策略参数的粗略调整，然后再优化参数组Ce和Co，作为相对精细的调整。

在CD-RW光盘刻写中，抖动值Jitter和参数组(Pw和Pe)之间存在着二次函数关系，可以表示为函数关系式(1)。

$\mathrm{Jitter}=C+\underset{i=1}{\overset{2}{\mathrm{\Σ}}}{B}_i{x}_i+\underset{i=1}{\overset{2}{\mathrm{\Σ}}}\underset{j=1}{\overset{2}{\mathrm{\Σ}}}{A}_{i,j}{x}_i{x}_j---\left(1\right)$

其中：

C是常数项(即零次项系数)；

i是参数的个数，在本实施例中i＝1，2；

j是参数的个数，在本实施例中j＝1，2；

B_i是一次项系数；

X_i和X_j是被选定的测试优化的参数，在本例中为Pe和Pw；和

A_ij是二次项系数，其中A₁₂＝A₂₁，并且设A_1-2＝2A₁₂＝2A₂₁。

根据式(1)，如果能确定各系数的值，那么就可以拟合一个抖动值和相应刻写参数之间的二次函数关系。

为确定式(1)中的系数，根据实验设计DOE(Design Of Experiment)的方法设计针对选定的刻写参数的测试方案。使用DOE中的中心组合设计(central composite design)实验方法可以在设定的参数范围内通过十分有限次数的测试到比较理想的值。例如，针对两个一组的参数，只需进行九次实验，就可以通过对试验结果的处理得到比较好的参数值。各参数的取值范围可以根据光盘的类型和光盘的刻写速度预先确定，如Pw可以是在35毫瓦到47毫瓦之间，Ce可以是在2.89纳秒到8.96纳秒之间等等。

图2是在预定的CCD测试方案中的Pw和Pe取值示意图。在图2中，其中的数值1，-1，，-，和0是将参数Pw和Pe的取值范围的端点值进行归一化处理后得到的值。根据CCD实验设计，只需根据图2中九个点所对应Pe和Pw参数值进行九次光盘刻写测试，就可以建立Pe和Pw与抖动值Jitter之间的关系。

如表1所示，针对Pw和Pe所作九次光盘刻写测试中，Pw和Pe的取值分别为：

                表1：Pw和Pe的测试取值

Pw	0	-		1	0	0	-1	-1	1
										Pe	-	0	0	1	0		1	-1	-1

每对应于Pw和Pe的一组参数取值，在刻写测试中均可以得到一个相应的Jitter抖动值。九次光盘刻写测试所获得的Jitter值表示为式(2)，即矩阵Y：

$Y=\left[\begin{array}{c}\mathrm{jitter}1\\ \mathrm{jitter}2\\ \mathrm{jitter}3\\ \mathrm{jitter}4\\ \mathrm{jitter}5\\ \mathrm{jitter}6\\ \mathrm{jitter}7\\ \mathrm{jitter}8\\ \mathrm{jitter}9\end{array}\right]---\left(2\right)$

根据上述光盘刻写测试结果，以及下列算式(3)可以计算式(1)中的系数C和系数B₁，B₂，A₁₁，A₂₂，A_1-2。

Coeff＝(X^T·X)^-1·X^T·Y^T          (3)

其中：

Coeff表系数C和系数B₁，B₂，A₁₁，A₁₂，A₂₁，A₂₂组成的列矩阵；

$X=\left[\begin{array}{cccccc}1& 0& -1.414& 0& 2& 0\\ 1& -1.414& 0& 2& 0& 0\\ 1& 1.414& 0& 2& 0& 0\\ 1& 1& 1& 1& 1& 1\\ 1& 0& 0& 0& 0& 0\\ 1& 0& 1.414& 0& 2& 0\\ 1& -1& 1& 1& 1& -1\\ 1& -1& -1& 1& 1& 1\\ 1& 1& -1& 1& 1& -1\end{array}\right];---\left(4\right)$

T表示矩阵的转置运算。

在得到式(1)的各系数后，抖动值Jitter和参数Pw和Pe之间的关系就可以用式(1)表示了。根据式(1)，通过下列通常矩阵计算中的算式(5)可以确定Pe和Pw在抖动值为极小值时相应的参数Pw和Pe的值。

$P=-\frac{1}{2}{A}^{-1}\·B---\left(5\right)$

其中，P是最终得到的Pe和Pw参数值的矩阵，A是系数A_ij的矩阵，B是系数B_i组成的列矩阵。

如上所述，通过CCD设计的测试方法，通过九次刻写测试，并按照数学式(1)到(5)处理测试结果就可以得到优化的参数Pe和擦除参数Pe和抖动值Jitter之间的函数关系。通过这个函数关系就可疑得到在抖动值Jitter取极小值时，Pw和Pe的参数值，即用于光盘刻录的参数值。

在实践中，针对Pw和Pe的九次光盘刻写测试可以重复一遍，这样，在同样的参数设置下所测定的Jitter值可以取平均值，以减小干扰。同样，Ce和Co也和抖动值Jitter之间存在与式(1)相似的二次函数关系，通过同样的方法也可以确定参数Ce和Co。

对于不同参数组的优化顺序，一般应当按照参数组对光盘刻写质量的影响大小确定，先优化相对重要的参数组，然后再是其他参数组。

在一个参数组中比较好的是有两个参数，这样根据CCD的测试方案只需包括九次试验，因此测试工作量比较少。如果参数组中包含三个或更多个参数，也是可行的，但根据CCD进行的实验设计，要得到一个好的结果，测试工作量将有较大增加，例如对于包括三个参数的参数组，需要27次测试才能得到需要的结果。

下面以使用本发明提供的方法来为三张CD-RW光盘确定刻写参数为例，验证本发明的效果。本例将根据本发明提供的方法确定刻录参数，然后将根据确定的参数刻录光盘的质量和根据该三张光盘上预存刻录参数刻录的光盘质量进行对比。该三张光盘上预存的刻录参数是经过认证的，完全满足刻写质量要求。

实验所用的光盘刻录装置的刻录速度是16倍速，选定的参数组分别为第一参数组(Pe和Pw)，第二参数组(Co和Ce)。各参数的取值范围列在表2中，其中Pe的取值范围可以由Pe/Pw得到。

           表2：Pe，Pw，Ce和Co的取值范围

参数	Pw(毫瓦)	Pe/Pw	Ce(纳秒)	Co(纳秒)
					最小值	35	0.14	2.89	2.89
最大值	47	0.3	8.69	10.12

分别针对光盘1、2和3的第一参数组(Pw和Pe)和第二参数组(Co和Ce)按照DOE的中心组合设计实验方法进行光盘刻写测试，测试结果列于表3中。

                       表3：光盘刻写质量效果对比

实验所用光盘	Pw(毫瓦)	Pe/Pw	Ce(纳秒)	Co(纳秒)	抖动值(％)
							根据本发明得到的参数刻写结果	根据预存的经过认证的参数刻写结果
					光盘1	41.3			0.23	5.04	6.33	8.97	8.92
光盘2	42.7	0.17	4.92	6.35			9.44	9.39
					光盘3	40.5			0.233	5.01	6.30	8.82	8.71

由表3可以看出，使用本发明所提供的方法确定的刻写参数的刻写质量基本上能够达到使用经过认证的刻写参数进行的刻写质量。

图3是根据本发明为CD-RW光盘1确定的优化的光盘刻写策略参数的多次直接重写性能示意图。如图3所示，对光盘刻录质量的要求是Jitter值不大于15％。由图3可以看出根据本发明所确定的光盘刻写参数在多次重复擦写过程中符合要求并相对稳定。

针对光盘2和光盘3的试验具有和光盘1基本一致的试验结果。

下面再以确定可一次刻录的DVD+R光盘的刻录参数为例进行描述。对于DVD+R光盘来讲，对光盘刻写质量十分关键的参数组包括参数组写入功率参数Pw和功率增量dPw，参数组T_top和T_lp等。

图4是DVD+R可一次刻写光盘所用的光盘刻写策略示意图。图4中，曲线510表示要刻写在DVD+R光盘上的数据，曲线520表示在DVD+R光盘上刻写数据时所用刻写策略。Pw是在刻写4T到14T的数据时需要用到的功率，而功率增量dPw则是在刻写3T数据和4T到14T的标记的开始段和结束段用到的功率增量。参数Pw和dPw对DVD+R光盘的刻写质量具有十分重要的影响，并且这两个参数之间具有比较强的关联性，应当同时确定优化。

在一张DVD+R光盘上不能得到满足刻录质量要求的刻录参数时，光盘刻录装置将根据光盘类型和光盘刻录速度为待刻写的DVD+R光盘设定初始刻录参数。

根据本发明提供的方法，选择参数Pw和dPw作为选定的要优化的参数组中的参数，这个参数组也可以表示成为P_high(＝Pw+dPw)和dP(＝dPw/Pw)等。

抖动值Jitter对于参数P_high和dP的响应也具有类似函数关系式(1)表示的二阶函数关系。其他的确定P_high和dP的步骤按照前述为CD-RW光盘确定光盘刻写参数Pw和Pe实施例的步骤进行。不同的是在CCD测试方案中参数的取值如表4所示，因为这样的取值也能得到良好的结果。

                    表4：参数dP和P_high的测试取值

dP	0	0	-0.5	1	0.5	-1	0	-0.5	0.5
										Phigh	-1	0	0.5	0	-0.5	0	1	-0.5	0.5

相应的，相应于式(4)，在本例中矩阵X表示为式(6)：

$X=\left[\begin{array}{cccccc}1& 0& -1& 0& 1& 0\\ 1& 0& 0& 0& 0& 0\\ 1& -0.5& 0.5& 0.25& 0.25& -0.25\\ 1& 1& 0& 1& 0& 0\\ 1& 0.5& -0.5& 0.25& 0.25& -0.25\\ 1& -1& 0& 1& 0& 0\\ 1& 0& 1& 0& 1& 0\\ 1& -0.5& -0.5& 0.25& 0.25& 0.25\\ 1& 0.5& 0.5& 0.25& 0.25& 0.25\end{array}\right]---\left(6\right)$

通过上面的过程可以得到对应于DVD+R光盘、能够达到刻写质量要求的刻录参数。在DVD+R光盘刻录参数中，参数组T_top和T_lp也是一组十分重要的参数，也可以通过这种方法，在dP和P_high具有了较理想的参数值后进行优化。

下面再以为一张DVD+R光盘确定光盘刻写参数P_high和dp以及T_top和T_lp为例验证本发明的效果。其他的光盘刻写策略参数按照常规设置为缺省值。

在刻写速度为6倍速时，参数P_high和dP的取值范围和最后确定的P_high和dP参数值以及根据确定的参数值得出的抖动值列于表5中。

                   表5：6倍速时优化得到的P_high和dP

参数及取值范围		根据拟合的函数关系确定的参数优化值		利用优化值进行光刻写的抖动值(Jitter)
					Phigh(毫瓦)	dP	Phigh(毫瓦)	dP
[27，36]	[0.35，0.65]	31	0.396						9.5％

然后根据表5中确定的6倍速下的P_high和dP再确定T_top和T_lp的值，结果如表6。

               表6：6倍速时优化的T_top和T_lp

参数及取值范围		根据拟合的函数关系确定的参数优化值		利用优化值进行光盘刻写的抖动值
					Ttop(纳秒)	Tlp(纳秒)	Ttop(纳秒)	Tlp(纳秒)
[6，7.5]	[2.9，4.5]	7.1	3.6						9.2％

在刻写速度为8倍速时，参数P_high和dP的取值范围和最后确定的参数值以及根据确定的参数值得出的抖动值列于表7中。

                 表7：8倍速时优化确定的P_high和dP

参数及取值范围		根据拟合的函数关系确定的参数优化值		利用优化值进行光盘刻写的抖动值
					Phigh(毫瓦)	dP	Phigh(毫瓦)	dP
[32，40]	[0.35，0.55]	36	0.384						9.4％

然后根据表7中确定的8倍速下的P_high和dp，再确定T_top和T_lp的值，结果如表8。

                   表8：8倍速下优化确定的T_top和T_lp

参数及取值范围		根据拟合的函数关系确定的参数优化值		利用优化值进行光盘刻写的抖动值
					Ttop(纳秒)	Tlp(纳秒)	Ttop(纳秒)	Tlp(纳秒)
[4.4，6]	[2.4，3.6]	5.6	3.1						9.2％

由上面的实施例可以看出，根据本发明提供的方法确定的参数，可以很好的满足光盘刻录质量要求。

图5是根据本发明的一个实施例的确定用于光盘刻录的参数的装置600框图。装置600包括一个设置装置610，用于根据光盘的类型和光盘的刻写速度设定初始刻写参数。装置600还可以包括一个选定装置620，用于在设置的初始刻写参数中选定一组参数，这组参数中的参数之间具有特定关联性，对光盘刻写质量具有共同影响作用。如果预先设定要优化的参数组，那么选定装置620也是可以省略的。

装置600还包括一个测试装置630，在预设定的参数取值范围内，按照预设定的测试方案针对所述选定的一组参数进行光盘刻写测试。预设定的  测试方案可以是根据DOE中的CCD法设计的光盘刻写测试方案。

装置600还包括一个确定装置640，用于根据所述刻写测试的结果，确定所述一组参数中的各参数与光盘刻写质量之间的关系，以获得所述一组参数中的优化的各参数值。

根据装置600确定的用于光盘刻写的参数可以存储在光盘上，也可以相应于各个光盘存储在光盘刻写装置中。

以上虽然结合实施例描述了本发明，很明显对于本领域的技术人员根据前面所描述的内容作出多种替代、修改、和变化是显而易见的，因此，所有这样的替代、修改和变化都应该落入本发明的权利要求的精神和范围之中。

Claims (21)

1.一种确定用于光盘刻写的参数的方法，包括步骤：

(a)设置初始光盘刻写参数；

(b)针对所述刻写参数中的一组参数进行预设定次数的光盘刻写测试，该组参数的各参数之间具有特定关联性；和

(c)根据所述刻写测试的结果，确定该组参数中的各参数与光盘刻写质量之间的关系，以获得该组参数中各参数相应的优化参数值，用于光盘刻写。

2.如权利要求1所述的方法，进一步包括步骤：

(d)在所述初始刻录参数中选定另一组参数，该另一参数组中的各参数之间具有相应的特定关联性，该另一参数组比步骤(b)中所测试的参数组对光盘刻写质量的影响程度低；

(e)针对该另一参数组中的各参数进行另一预设定次数的光盘刻写测试；和

(f)根据所述对该另一参数组所作刻写测试的结果，确定该另一参数组中的各参数与光盘刻写质量之间的关系，以获得该另一参数组中各参数相应的优化参数值，用于光盘刻写。

3.如权利要求2所述的方法，其中，步骤(e)所进行的光盘刻写测试使用步骤(c)所获得的相应的参数。

4.如权利要求1所述的方法，其中，步骤(a)根据所述光盘的类型设置所述初始光盘刻录参数。

5.如权利要求1或4所述的方法，其中，步骤(a)根据光盘刻录速度设置所述初始光盘刻录参数。

6.如权利要求1或2所述的方法，其中，所述光盘刻写测试根据参数组中各参数的预设定的取值范围和预定的测试方案进行，其中所述预设定次数由所述预定测试方案设定。

7.如权利要求6所述的方法，其中，所述预定测试方案包括中心组合设计实验方法的测试方案。

8.如权利要求1所述的方法，其中，所述参数组包括光盘刻写功率参数。

9.如权利要求1或8所述的方法，其中，所述参数组包括光盘擦除功率参数。

10.如权利要求1或8所述的方法，其中，所述参数组包括功率增量参数(dPw)。

11.如权利要求1、2或8所述的方法，其中，所述参数组包括偶数标记冷却时间参数和奇数标记冷却时间参数。

12.如权利要求1、2或8所述的方法，其中，所述参数组包括刻录4T到14T标记的开始段的时间参数(T_top)和刻录4T到14T标记时的结束段的时间参数(T_lp)。

13.如权利要求1或2所述的方法，其中，步骤(b)和步骤(e)所述的光盘刻写测试是同时针对所述各相应的参数组中的参数进行。

14.一种确定用于光盘刻录的参数的装置，包括：

一个设置装置，用于设置初始光盘刻写参数；

一个测试装置，针对所述刻写参数中的一组参数进行预设定次数的光盘刻写测试，该组参数中的各参数之间具有特定关联性；和

一个确定装置，根据所述刻写测试的结果，确定该组参数中的各参数与光盘刻写质量之间的关系，以获得该组参数中各参数相应的优化参数值，用于光盘刻写。

15.如权利要求14所述的装置，其中，所述设置装置根据光盘的类型和光盘刻写速度设置所述初始光盘刻录参数。

16.如权利要求14所述的装置，其中，所述光盘刻写测试根据所述参数组的各参数预设定的取值范围和预定的测试方案进行，其中所述预设定次数由所述预定测试方案设定。

17.如权利要求16所述的装置，其中，所述预定测试方案包括中心组合设计实验方法的测试方案。

18.一个光盘刻录装置，包括：

一个光盘驱动装置，用于驱动一张待刻录光盘；和

一种确定用于光盘刻录的参数的装置，包括，

一个设置装置，用于设置初始光盘刻写参数；

一个测试装置，针对所述刻写参数中的一组参数进行预设定次

数的光盘刻写测试，该组参数中的各参数之间具有特定关联性；

和

一个确定装置，根据所述刻写测试的结果，确定该组参数中的

各参数与光盘刻写质量之间的关系，以获得该组参数中各参数相应的优化参数值，用于所述待刻录光盘的刻写。

19.如权利要求18所述的装置，其中，所述设置装置根据光盘的类型和光盘刻录速度设置所述初始光盘刻录参数。

20.如权利要求18所述的装置，所述光盘刻写测试根据所述参数组的各参数预设定的取值范围和预定的测试方案进行，其中，所述预设定次数由所述预设定测试方案设定。

21.  如权利要求20所述的装置，其中，所述预定测试方案包括中心组合设计实验方法的测试方案。

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