JP2008309655A - 内径測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】内径測定装置1は、白色光源2からの光を、被測定物に向かう第1及び第2の光束に分岐し、第1の光束と第2の光束の間に被測定物の内径に対応する第1の光路差を生じさせる光束分割手段34と、白色光源2からの光に、光束分割手段34上で焦点を結ばせる結像レンズ32を有する第1の干渉計3と、第1の干渉計3を出射した光束を、第3の光束と移動鏡44に向かう第4の光束に分岐して、第3の光束と第4の光束との間に第2の光路差を生じさせる第2の干渉計4と、第3及び第4の光束を受光する検出器5と、第1の光路差と第2の光路差とが略等しい場合に生じる干渉信号の最大値に対応する移動鏡44の位置を測定して第2の光路差を計算することにより、被測定物の内径を求めるコントローラ6を有する。
【選択図】図1
Description
なお、上記の各実施態様において、白色光源とは、可視光域において広帯域発光する光源に限られず、所定の波長を中心波長とした一定の波長帯域の光を放射する光源をいう。
本発明を適用した内径測定装置は、白色光源からの光を第1の干渉計に入射させ、第1の干渉計で、被測定物の内径に対応する光路差を有する二つの光束を生成する。その二つの光束を第2の干渉計に入射して、上記光路差とほぼ等しい光路差を生じる二つの光路に光束を分割して干渉させることにより、白色干渉縞を生じさせる。そして、検出器で白色干渉縞の最大信号値を検出して第2の干渉計の二つの光路間の光路差を測定することにより、被測定物の内径を求める。ここで、第1の干渉計は、白色光源からの測定光を平行光にするコリメータレンズと、その測定光を被測定物の内側面へ向かう光束と、そのまま直進する光束の二つに分岐させる半透過面を有する光束分割手段であるビームスプリッタと、白色光源からの測定光にビームスプリッタ上で焦点を結ばせる結像レンズであるシリンドリカルレンズを有する。そのシリンドリカルレンズは、ビームスプリッタの半透過面が、白色光源からの測定光の光路に対して傾斜する方向と略直交する方向に対して、その測定光に焦点を結ばせるように配置される。係る構成により、ビームスプリッタの半透過面で反射され、被測定物の内面へ向かう光束は、被測定物の円筒断面内ではビームスプリッタ上の反射面を中心として広がる発散光となり、被測定物の内面で反射されるとビームスプリッタ上に結像する収束光となる。一方、被測定物の軸方向に平行な面内においては、その光束は平行光となる。そのため、被測定物で反射された光のうち、ビームスプリッタを通らない光をなくすことができるので、白色光源からの測定光を、干渉縞を生成するために有効に利用することができる。
ここで、第1のシリンドリカルレンズ32は、白色光源2から放射された測定光について、半透過面HMがその測定光の光路に対して傾斜する方向には平行光とし、その傾斜方向と略直交する方向にはビームスプリッタ34の半透過面HM上に焦点を結ばせる。すなわち、第1のシリンドリカルレンズ32は、半透過面HMが白色光源2のからの測定光の光路に対して傾斜する方向と平行な方向の光束には平板ガラスとして機能し、半透過面HMの傾斜方向と略直交する方向の光束には凸レンズとして機能するように配置される。そのため、図2(b)に示すように、光束B1は、ビームスプリッタ34の半透過面HMで反射された後、被測定物10の軸方向に直交する円筒断面内では、その焦点を中心として発散する発散光となる。そして、光束B1は、非測定物10の内面S1に対してほぼ垂直に入射するので、その内面S1で反射された後、ビームスプリッタ34の半透過面HM上の焦点に収束する収束光となる。そして、ビームスプリッタ34を透過した後、再びその焦点を中心として発散する発散光となる。その後、光束B1は、非測定物10の内面S2に対してほぼ垂直に入射するので、光束B1は、その内面S2で反射された後、再びビームスプリッタ34の半透過面HM上の焦点に収束する収束光となる。
したがって、光束B1は、被測定物10の円筒断面内においても、軸方向面内においても、ビームスプリッタ34の半透過面HMから外れることがない。そのため、光束B1について、光量低下を抑制することができ、干渉縞の生成に有効に利用できる。
また、ビームスプリッタ34を出射した光束B2についても、半透過面HMの傾斜方向と略直交する面内では発散光となる。そのため、光束B2も、第2のシリンドリカルレンズ36を透過することにより、その面内で平行光となる。したがって、第2のシリンドリカルレンズ36を透過した光束B1、B2ともに、集光レンズ37で光ファイバ8に良好に入射させることができる。
なお、移動鏡44を移動させつつ、その移動の間に連続的に干渉信号を測定する場合には、ピエゾ微動ステージ46及びピエゾコントローラ51を省略してもよい。
また、検出器5は、コントローラ6と電気的に接続され、検出した光量に対応する電気信号を、コントローラ6へ送信する。
さらにコントローラ6は、図示していないCPU,ROM,RAM及びその周辺回路と、CPU上で実行されるコンピュータプログラムによって実現される機能モジュールとして、検出された光量及び移動鏡44の位置に基づいて、被測定物10の内径Dを求めたり、位置計測用干渉計49、ピエゾコントローラ51、ステージコントローラ52及び検出器5など、コントローラ6に接続された機器を制御する制御部とを有する。
白色光源2からの光は、コヒーレンス長が短いため、光路差がほぼ等しい場合にのみ干渉縞を生じる。ここで、第2の干渉計4の第1の光路における、ビームスプリッタ42から参照鏡43までの距離がL1であり、第2の光路における、ビームスプリッタ42から移動鏡44までの距離がL2であるとすると、第3の光束と第4の光束との間に、2(L2−L1)の光路差が生じる(ただし、L2>L1とする)。このとき、(L2−L1)とDが等しければ、第1の干渉計3において、被測定物10の内面S1、S2で反射された光束B1のうち、第2の干渉計4において、第1の光路を通った光束B11と、第1の干渉計3においてビームスプリッタ34を素通りした光束B2のうち、第2の干渉計4において、第2の光路を通った光束B22との光路差が0となる。そのため、最大の干渉信号を観測することができる。そして、(L2−L1)とDとの差が大きくなるにつれて、干渉信号の大きさは急激に低下する。したがって、干渉信号が最大となるときの(L2−L1)を計測することにより、被測定物10の内径Dを求めることができる。
最初に、初期化手順として、移動鏡44の基準位置、すなわち、第2の干渉計4の第1の光路と第2の光路間の光路差が0となる移動鏡44の位置を決定する(ステップS101)。そのために、内径測定装置1の第1の干渉計3に、被測定物10を設置せず、第2の干渉計4で干渉縞の検出される位置を求める。このとき、被測定物10の内面で反射される光束は存在しないから、第1の干渉計3を出射する光束は、全てB2となる。そのため、第2の干渉計4では、第1の光路におけるビームスプリッタ42から参照鏡43までの距離L1と、第2の光路におけるビームスプリッタ42から移動鏡44までの距離L2との差が0のとき、干渉信号は最大となる。そこで、コントローラ6は、移動鏡44を移動させて、複数の測定点で検出器5で検出される光量を観測し、検出光量が最大、すなわち、干渉信号が最大値となる位置を見つける。そして、コントローラ6は、干渉信号が最大値となったときの移動鏡44の位置を、位置計測用干渉計49から受信し、L1=L2となる位置P1として、コントローラ6の記憶部に記憶する。
また、上記の実施形態において、第1のシリンドリカルレンズ32と第1のウェッジプリズム33の配置順序を入れ替えてもよい。同様に、第2のウェッジプリズム35と第2のシリンドリカルレンズ36の配置順序を入れ替えてもよい。あるいは、コリメータレンズ31と第1のシリンドリカルレンズ32を一体に形成してもよく、同様に、第2のシリンドリカルレンズ36と集光レンズ37を一体に形成してもよい。さらに、上記の実施形態の測定装置において、第2の干渉計をフィゾー型の干渉計としてもよい。
以上のように、本発明の範囲内で、実施される形態に合わせて様々な変更を行うことができる。
10 被測定物
2 白色光源
3、4 干渉計
5 検出器
6 コントローラ
31 コリメータレンズ
32、36 シリンドリカルレンズ
33、35 ウェッジプリズム
34、42 ビームスプリッタ
37 集光レンズ
38 XYZステージ
39 ステージコントローラ
43 参照鏡
44 移動鏡
45 支持部材
46 ピエゾ微動ステージ
47 粗動ステージ
48 コーナーキューブ
49 位置計測用干渉計
51 ピエゾコントローラ
52 ステージコントローラ
7,8 光ファイバ
HM 半透過面
Claims (4)
- 円筒状の被測定物の内径寸法を測定する内径測定装置であって、
白色光源と、
前記白色光源から放射された光を、前記被測定物に向かう第1の光束と第2の光束に分岐し、該第1の光束を前記被測定物で反射させて該第2の光束との間に前記被測定物の内径に対応する第1の光路差を生じさせ、該第1の光束と該第2の光束を一つの光束に合わせて出射させる光束分割手段と、前記白色光源から放射された光に、該光束分割手段上に焦点を結ばせる結像レンズとを有する第1の干渉計と、
位置が固定された参照鏡と、光路に沿って移動可能な移動鏡とを有する第2の干渉計であって、前記第1の干渉計を出射した光束を、該参照鏡に向かう第3の光束と、該移動鏡に向かう第4の光束に分岐して、該第3の光束と該第4の光束との間に第2の光路差を生じさせる第2の干渉計と、
前記第3の光束と前記第4の光束を受光し、前記第1の光路差と前記第2の光路差とが略等しい場合に生じる干渉信号を検出し、該干渉信号に対応する信号を出力する検出器と、
前記干渉信号の最大値に対応する前記移動鏡の位置を測定し、該位置から前記第2の光路差を計算することにより、前記被測定物の内径の測定値を求めるコントローラと、
を有することを特徴とする内径測定装置。 - 前記光束分割手段は半透過面を有し、該半透過面は、前記白色光源から放射された光のうち、該半透過面で反射された光束が前記第1の光束となり、前記白色光源から放射された光のうち、該半透過面を透過した光束が前記第2の光束となるように、前記白色光源から放射された光の光路に対して傾斜して配置され、
前記結像レンズは、前記第1の光束が前記半透過面で反射された後に前記被測定物の円周断面内で発散するように、前記半透過面の前記傾斜方向と前記被測定物の軸方向を含む面内においては前記白色光源からの光に焦点を結ばせず、前記傾斜方向と略直交し、前記被測定物の軸方向を含む面内においては前記白色光源からの光に焦点を結ばせるシリンドリカルレンズである、請求項1に記載の内径測定装置。 - 前記光束分割手段は、前記被測定物と対向する面の少なくとも何れかに、前記光束分割手段を出射する前記第1の光束を前記被測定物の軸方向面内において平行光にするシリンドリカルレンズ面を有する、請求項1に記載の内径測定装置。
- 円筒状の被測定物の内径寸法を測定する内径測定装置であって、
白色光源と、
位置が固定された参照鏡と、光路に沿って移動可能な移動鏡とを有する第1の干渉計であって、前記白色光源から放射された光を、該参照鏡に向かう第1の光束と、該移動鏡に向かう第2の光束に分岐して、該第1の光束と該第2の光束との間に第1の光路差を生じさせる第1の干渉計と、
前記第1の干渉計から出射された前記第1の光束及び第2の光束を、前記被測定物に向かう第3の光束と第4の光束に分岐し、該第3の光束を前記被測定物で反射させて該第4の光束との間に前記被測定物の内径に対応する第2の光路差を生じさせ、該第3の光束と該第4の光束を一つの光束に合わせて出射させる光束分割手段と、前記第1の干渉計から出射された前記第1の光束及び第2の光束に、該光束分割手段上に焦点を結ばせる結像レンズとを有する第2の干渉計と、
前記第3の光束と前記第4の光束を受光し、前記第1の光路差と前記第2の光路差とが略等しい場合に生じる干渉信号を検出し、該干渉信号に対応する信号を出力する検出器と、
前記干渉信号の最大値に対応する前記移動鏡の位置を測定し、該位置から前記第1の光路差を計算することにより、前記被測定物の内径の測定値を求めるコントローラと、
を有することを特徴とする内径測定装置。
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