JP2008292475A - ターゲットパターンを使用して絶対位置を感知する位置測定システムおよび位置測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】位置測定システムと、チップ上の位置測定システム(LSoC)および方法が記載される。
【選択図】図1
Description
本出願は、37C.F.R.§1.53(b)に基づく一部継続(CIP)出願であり、35U.S.C.§120の下で(特許文献1)の継続である2007年5月24日出願の「system for sensing an absolute position in two dimensions using a target pattern」と題された(特許文献2)(代理人明細書番号第10041390−06)に対し優先権の恩典を主張する。本出願と引用特許はいずれも本譲受人であるアジレントテクノロジー社(Agilent Technologies,Inc.)に譲渡される。引用特許出願および特許の開示は、参照として特に本明細書に組み入れられる。
101 PLD
102 ディジタルイメージセンサ
103 照明光源
104 コントローラ
105 コア
106 対象物
107 画像
108 画像データ
109 位置データ
201 対象物
202 位置システム
203 ターゲットパターン
204 方向
205 原点
300 LSoC
301 パッケージLSoC
302 ケーブル
400 位置測定システム
401 第1の部品
402 第2の部品
500 測定方法
501 ステップ
502 ステップ
503 ステップ
504 ステップ
Claims (24)
- 位置測定システムであって、
ターゲットパターンのサブセットの画像を取得するように適合されたイメージセンサと、
前記画像からのピクセル値の行の合計を表わす第1の画像ベクトルと、前記画像からのピクセル値の列の合計を表わす第2の画像ベクトルとを生成する働きをするプログラマブルロジックデバイス(PLD)と、
を備え、
前記PLDは前記ターゲットパターンの原点に対して少なくとも二次元のサブセットの絶対位置を前記画像ベクトルから測定するように構成される、位置測定システム。 - 前記PLDに接続され、前記PLDの動作パラメータを入力するように適合されたコントローラをさらに備える、請求項1に記載の位置測定システム。
- 前記PLDに接続され、前記PLDからデータを受け取り、前記データに基づいて前記位置測定システムの動作パラメータのステータスを判断するように適合されたコントローラをさらに備える、請求項1に記載の位置測定システム。
- 前記PLDはフィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)を備える、請求項1に記載の位置測定システム。
- 前記FPGAは少なくとも2つのコアをさらに備え、前記コアの各々は次元のそれぞれ1つに対する絶対位置を測定する働きをする、請求項4に記載の位置測定システム。
- 前記FPGAに埋め込まれたコントローラをさらに備え、前記FPGAに動作パラメータを入力するか、または前記FPGAからのデータを受け取って前記データに基づいて前記位置測定システムの動作パラメータのステータスを判断するか、あるいはこれらの両方を行うように適合される、請求項4に記載の位置測定システム。
- 前記PLDにデータを提供するように適合される他のPLDをさらに備える、請求項1に記載の位置測定システム。
- 前記コアの各々は前記FPGAで作成されるソフトウェアコアである、請求項5に記載の位置測定システム。
- 前記コントローラはソフトウェアに埋め込まれる、請求項6に記載の位置測定システム。
- 前記コアはそれぞれの次元の絶対位置を同時に測定する、請求項5に記載の位置測定システム。
- 前記位置測定システムは、
前記イメージセンサ、照明光源、および前記PLDを含む第1の部品と、
他のPLDを含む第2の部品と、
をさらに備える、請求項1に記載の位置測定システム。 - 前記位置測定システムは、
前記イメージセンサおよび照明光源を含む第1の部品と、
前記PLDを含む第2の部品と
をさらに備える、請求項1に記載の位置測定システム。 - チップ上の位置測定システム(LSoC)であって、
ターゲットパターンのサブセットの画像を取得するように適合されたイメージセンサと、
前記画像からピクセル値の行の合計を表わす第1の画像ベクトルと、前記画像からピクセル値の列の合計を表わす第2の画像ベクトルとを生成する働きをするプログラマブルロジックデバイス(PLD)と、
を備え、
前記PLDは少なくとも二次元の前記ターゲットパターンの原点に対して前記サブセットの絶対位置を測定するように構成される、チップ上の位置測定システム。 - 前記PLDに接続され、前記PLDに動作パラメータを入力するように適合されたコントローラをさらに備える、請求項13に記載のチップ上の位置測定システム。
- 前記PLDに接続され、前記PLDからデータを受け取り、前記データに基づいて前記位置測定システムの動作パラメータのステータスを判断するように適合されたコントローラをさらに備える、請求項13に記載のチップ上の位置測定システム。
- 前記PLDはフィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)である、請求項14に記載のチップ上の位置測定システム。
- 前記FPGAは少なくとも2つのコアをさらに備え、前記コアの各々は次元のそれぞれ1つに対する絶対位置を測定する働きをする、請求項16に記載のチップ上の位置測定システム。
- 前記FPGAに埋め込まれたコントローラをさらに備え、前記FPGAに動作パラメータを入力するか、または前記PLDからデータを受け取って前記データに基づいて前記位置測定システムの動作パラメータのステータスを判断するか、あるいはこれらの両方を行うように適合される、請求項16に記載のチップ上の位置測定システム。
- 前記LSoCは前記PLDにデータを提供するように適合される他のPLDをさらに備える、請求項13に記載のチップ上の位置測定システム。
- 前記コアの各々は前記FPGAで作成されるソフトウェアコアである、請求項17に記載のチップ上の位置測定システム。
- 前記コントローラはソフトウェアで具体化される、請求項20に記載のチップ上の位置測定システム。
- 前記コアはそれぞれの絶対位置を同時に測定する、請求項17に記載のチップ上の位置測定システム。
- 位置の測定方法であって、
ターゲットパターンを有する対象物を照明し、
前記ターゲットパターンのサブセットの画像を取得し、
フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)で、前記画像からピクセル値の行の合計を表わす第1の画像ベクトルと、前記画像からピクセル値の列の合計を表わす第2の画像ベクトルとを生成し、
少なくとも二次元の前記ターゲットパターンの原点に対して前記サブセットの絶対位置を測定することを含む、位置の測定方法。 - 前記測定は少なくとも二次元で同時に行われる、請求項23に記載の位置の測定方法。
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