JP2008286886A - 基板貼り合わせ装置及び基板貼り合わせ方法 - Google Patents

基板貼り合わせ装置及び基板貼り合わせ方法 Download PDF

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Abstract

【課題】貼り合わせ精度の低下を防止することができる基板貼り合わせ装置を提供する。
【解決手段】基板貼り合わせ装置1において、真空容器2と、その真空容器2内に設けられ第1基板K1を保持する第1基板保持部3と、真空容器2内に設けられ第1基板K1に対向させて第2基板K2を保持する第2基板保持部4と、第1基板保持部3と第2基板保持部4とを接離方向に相対移動させる移動機構5と、真空容器2内を減圧する減圧部6と、真空容器2内の雰囲気の第1圧力を検出する第1圧力検出器9a、9bと、第2基板保持部4の表面であって第2基板K2を保持する保持面M2と第2基板K2との間に溜まった気体の第2圧力を検出する第2圧力検出器10bと、検出した第1圧力と検出した第2圧力との圧力差に応じて、第2基板K2の変形を抑えるように減圧部6を制御する手段とを備える。
【選択図】図1

Description

本発明は、基板を貼り合わせる基板貼り合わせ装置及び基板貼り合わせ方法に関し、特に、表示装置の製造において基板を貼り合わせる基板貼り合わせ装置及び基板貼り合わせ方法に関する。
基板貼り合わせ装置は、2枚の基板を収容する真空チャンバ内を減圧し、その真空チャンバを真空雰囲気等の減圧状態にし、その真空チャンバ内でシール剤を介して基板の貼り合わせを行う装置である(例えば、特許文献1参照)。この基板貼り合わせ装置は、例えば、液晶表示パネル等の表示パネルを製造する場合等に用いられている。
通常、このような基板貼り合わせ装置では、シール剤が塗布され液晶が滴下された第1基板が真空チャンバ内の下ステージに保持され、第1基板に貼り合わせる第2基板が真空チャンバ内の上ステージに保持される。このとき、第2基板は上ステージに静電チャックにより吸着保持されている。
特開2000−66163号公報
しかしながら、上ステージに保持された第2基板は、真空チャンバ内の減圧途中で撓んでしまうことがある。この原因としては、次のようなことが挙げられる。
上ステージの保持面と第2基板とは、全面に渡って隙間なく接触していることが理想であるが、実際には、部分的に隙間が生じている。この隙間には、気体(空気)が閉じ込められており、この状態で真空チャンバ内を減圧すると、隙間に閉じ込められた気体の圧力はその外部(真空チャンバ内)の雰囲気の圧力よりも高くなる。このため、隙間内の気体は膨張し、この膨張により気体の一部は上ステージの保持面と第2基板との間を通って真空チャンバ内へ抜け出るが、抜けきれない気体は隙間を押し広げることになる。このとき、上ステージは変形しないため、薄くて変形しやすい第2基板が上ステージから離れる方向に凸状に変形してしまう。その後、隙間内の気体が抜け出たとしても、第2基板は上ステージに静電チャックにより保持されているため、凸状の変形はそのまま保たれる。このように第2基板が凸状に変形していると、貼り合わせ精度が低下してしまう。
例えば、貼り合わせに先立って行われる第1基板と第2基板との位置合わせは、基板の各端部にそれぞれ付された位置合わせ用のマークに基づいて行われる。基板が撓んでいると、撓みの分だけマークの位置が基板中央寄りにずれてしまうため、その分だけ位置合わせ精度が低下する。また、位置合わせは、位置合わせ後の第2基板の下降量を短くするために、第1基板と第2基板とをできるだけ接近させた状態で行われる。このとき、第2基板が凸状に変形していると、その変形した部分が第1基板に接触し、第1基板と第2基板との相対移動を妨げ、位置合わせが良好にできない場合がある。これらのような位置合わせ精度の低下及び位置合わせ不良が貼り合わせ精度の低下につながっている。この貼り合わせ精度の低下は、製造する表示パネルの表示不良等を招き、製品の品質を低下させてしまう。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、その目的は、貼り合わせ精度の低下を防止することができる基板貼り合わせ装置及び基板貼り合わせ方法を提供することである。
本発明の実施の形態に係る第1の特徴は、基板貼り合わせ装置において、真空容器と、真空容器内に設けられ、第1基板を保持する第1基板保持部と、真空容器内に設けられ、第1基板に対向させて第2基板を保持する第2基板保持部と、第1基板保持部と第2基板保持部とを接離方向に相対移動させる移動機構と、真空容器内を減圧する減圧部と、真空容器内の雰囲気の第1圧力を検出する第1圧力検出器と、第2基板保持部に設けられ、第2基板保持部の表面であって第2基板を保持する保持面と第2基板との間に溜まった気体の第2圧力を検出する第2圧力検出器と、検出した第1圧力と検出した第2圧力との圧力差に応じて、第2基板の変形を抑えるように減圧部を制御する手段とを備えることである。
本発明の実施の形態に係る第2の特徴は、基板貼り合わせ方法において、第1基板を保持する第1基板保持部と第1基板に対向させて第2基板を保持する第2基板保持部とを収容する真空容器内の雰囲気の第1圧力を検出するステップと、第2基板保持部の表面であって第2基板を保持する保持面と第2基板との間に溜まった気体の第2圧力を検出するステップと、検出した第1圧力と検出した第2圧力との圧力差に応じて、第2基板の変形を抑えるように真空容器内を減圧するステップと、第1基板保持部と第2基板保持部とを近接方向に相対移動させ、第1基板と第2基板とを貼り合わせるステップとを有することである。
本発明によれば、貼り合わせ精度の低下を防止することができる。
本発明の実施の一形態について図面を参照して説明する。
図1に示すように、本発明の実施の形態に係る基板貼り合わせ装置1は、真空容器である真空チャンバ2と、その真空チャンバ2内に設けられ第1基板K1を水平状態(図1中、X軸方向とそれに直交するY軸方向に沿う状態)で保持する第1基板保持部としての第1ステージ3と、真空チャンバ2内に設けられ第2基板K2を水平状態で保持する第2基板保持部としての第2ステージ4と、それらの第1ステージ3及び第2ステージ4を接離方向(図1中のZ軸方向)に相対移動させる移動機構5と、真空チャンバ2内を減圧する減圧部6と、真空チャンバ2内を大気圧に戻す大気復元部7と、各部を制御する制御部8とを備えている。
真空チャンバ2は、第1チャンバ2aと第2チャンバ2bとに分離可能に形成されている。この真空チャンバ2は、第1チャンバ2aと第2チャンバ2bとが一体になった閉状態と、第1チャンバ2aと第2チャンバ2bとが分離した開状態となる。第1チャンバ2aは第1ステージ3を下方から収容する下チャンバであり、第2チャンバ2bは第2ステージ4を上方から収容する上チャンバである。これらの第1チャンバ2aと第2チャンバ2bとの閉空間、すなわち閉状態の真空チャンバ2の内部は減圧部6により減圧されて真空状態(大気圧より低い圧力の状態)になる。
第1チャンバ2aには、真空チャンバ2内の雰囲気(気体)を排気するための開口部H1、H2が形成されている。これらの開口部H1、H2は、第1ステージ3に対向しない位置に設けられている。また、第2チャンバ2bには、真空チャンバ2内を大気圧に戻す気体を供給するための開口部H3、H4が形成されている。これらの開口部H3、H4は、第2ステージに対向しない位置に設けられており、エアフィルタFにより覆われている。このエアフィルタFは、真空チャンバ2内に流入する気体から埃や塵等を除去する。
この真空チャンバ2の内部には、真空チャンバ2内の雰囲気の圧力(第1圧力)をそれぞれ検出する複数の圧力検出器(圧力センサ)9a、9bが設けられている。圧力検出器9aは第1チャンバ2aの開口部H1の近傍に設けられおり、圧力検出器9bは第1チャンバ2aの開口部H2の近傍に設けられている。これらの圧力検出器9a、9bは制御部8に電気的に接続されている。
第1ステージ3は、吸引吸着や静電吸着等の保持機構により第1基板K1を保持する下ステージである。この第1ステージ3の表面が第1基板K1を保持する保持面M1として機能する。第1基板K1は第1ステージ3の保持面M1に載置され、保持機構により保持される。なお、第1基板K1の貼り合わせ面(第2ステージ4に対向する面)には、枠状のシール剤が塗布されており、さらに、液晶が滴下されている。
この第1ステージ3には、保持面M1と第1基板K1との間に溜まった気体の圧力(第3圧力)を検出する圧力検出器(圧力センサ)10aが設けられている。圧力検出器10aは、気体の圧力を検出可能に第1ステージ3の保持面M1に埋め込まれている。すなわち、圧力検出器10aは、第1ステージ3の保持面M1に形成された凹部A1内に保持面M1から突出しないように設けられている。この圧力検出器10aは制御部8に電気的に接続されている。なお、凹部A1は第1ステージ3の載置領域(第1基板K1が載置される領域)内に形成されており、圧力検出器10aを収容する収容室である。この凹部A1の内壁と圧力検出器10aとの間には、空間が形成されている。
第2ステージ4は、吸引吸着や静電吸着等の保持機構により第1基板K1に対向させて第2基板K2を保持する上ステージである。この第2ステージ4の表面が第2基板K2を保持する保持面M2として機能する。第2基板K2は第2ステージ4の保持面M2に載置され、保持機構により保持される。
この第2ステージ4には、保持面M2と第2基板K2との間に溜まった気体の圧力(第2圧力)を検出する圧力検出器(圧力センサ)10bが設けられている。圧力検出器10bは、気体の圧力を検出可能に第2ステージ4の保持面M2に埋め込まれている。すなわち、圧力検出器10bは、第2ステージ4の保持面M2に形成された凹部A2内に保持面M2から突出しないように設けられている(図2参照)。この圧力検出器10bは制御部8に電気的に接続されている。なお、凹部A2は第2ステージ4の載置領域R(第2基板K2が載置される領域:図2参照)内に形成されており、圧力検出器10bを収容する収容室として機能する。この凹部A2の内壁と圧力検出器10bとの間には、空間が形成されている。
さらに、第2ステージ4には、第2基板K2の保持の解除後、第1ステージ3上の第1基板K1に貼り合わされた第2基板K2の表面に対する第1離間距離L1を検出する距離検出器(距離センサ)11aと、第1基板保持部3上の第1基板K1に貼り合わされた第2基板K2の表面に対する第2離間距離L2を検出する距離検出器(距離センサ)11bとが設けられている(図3参照)。これらの距離検出器11a、11bは制御部8に電気的に接続されている。
距離検出器11aは、第1基板K1に塗布されたシール剤に対向する位置に設けられており、距離検出器11bは、第1基板K1の中央付近に対向する位置に設けられている。これらの距離検出器11a、11bは、各離間距離L1、L2をそれぞれ検出可能に第2ステージ4の保持面M2に埋め込まれている。すなわち、距離検出器11aは、第2ステージ4の保持面M2に形成された凹部A3に保持面M2から突出しないように設けられている(図2参照)。また、距離検出器11bは、圧力検出器10bと共に、凹部A2内に保持面M2から突出しないように設けられている(図2参照)。これらの凹部A2、A3は距離検出器11a、11bを収容する収容室として機能する。
移動機構5は、第1ステージ3をXYθ方向に移動させる第1ステージ移動機構5aと、第2ステージ4をZ軸方向に移動させる第2ステージ移動機構5bとを備えている。これらの第1ステージ移動機構5a及び第2ステージ移動機構5bは制御部8に電気的にそれぞれ接続されている。なお、第1ステージ移動機構5aは、第1ステージ3をX軸方向、Y軸方向、θ方向(図1中、XY平面内での回転方向)に移動させる機構である。このような移動機構5は、第1ステージ移動機構5aにより第1ステージ3をXYθ方向に移動させ、第1基板K1と第2基板K2との位置合わせを行い、さらに、第2ステージ移動機構5bにより第2ステージ4をZ軸方向に移動させ、第1ステージ3と第2ステージ4とをZ軸方向に相対移動させる。なお、位置合わせは、第1基板K1の端部及び第2基板K2の端部にそれぞれ付された位置合わせ用のマークに基づいて行われる。
第1ステージ移動機構5aの両側には、位置合わせ用のマークを撮像する撮像部12a、12bがそれぞれ設けられている。これらの撮像部12a、12bは、位置合わせ用のマークを撮像可能に設けられている。すなわち、第1基板K1のマーク及び第2基板K2のマークを撮像するため、第1チャンバ2aには透光性ガラス窓等が各撮像部12a、12bにそれぞれ対向させて形成されており、さらに、第1ステージ3には貫通孔が各撮像部12a、12bにそれぞれ対向させて形成されている。各撮像部12a、12bは制御部8に電気的に接続されており、制御部8の制御に応じて第1基板K1のマーク及び第2基板K2のマークを撮像する。
減圧部6は、真空チャンバ2内の雰囲気(気体)を排気するための排気配管である排気パイプ6aと、その排気パイプ6aを介して真空チャンバ2内の雰囲気を排気する排気部6bと、排気パイプ6aを開閉する排気バルブ6cとを備えている。
排気パイプ6aは、第1チャンバ2aの開口部H1、H2に接続されている。排気部6bは制御部8に電気的に接続されており、制御部8の制御に応じ、排気パイプ6aを介して真空チャンバ2内の雰囲気(気体)を吸引して排気する。この排気部6bとしては、例えば真空ポンプ等を用いる。また、排気バルブ6cは制御部8に電気的に接続されており、制御部8の制御に応じて排気パイプ6aを開閉する。この排気バルブ6cは流量調整弁として機能する。なお、排気バルブ6cとしては、例えば電磁弁やバタフライ弁等の開閉弁等を用いる。
大気復元部7は、真空チャンバ2内に気体を供給するための供給配管である供給パイプ7aと、その供給パイプ7aを介して真空チャンバ2内に気体を供給する気体供給部7bと、供給パイプ7aの開口率を変える供給バルブ7cとを備えている。
供給パイプ7aは、第2チャンバ2bの開口部H3、H4に接続されている。気体供給部7bは制御部8に電気的に接続されており、制御部8の制御に応じ、供給パイプ7aを介して真空チャンバ2内に気体を供給する。この気体供給部7bとしては、例えば、窒素ガス等の不活性ガスを収容するガス供給源等を用いる。また、供給バルブ7cは制御部8に電気的に接続されており、制御部8の制御に応じて供給パイプ7aの開口率を変更する。この供給バルブ7cは流量調整弁として機能する。なお、供給バルブ7cとしては、例えば電磁弁やバタフライ弁等の開閉弁等を用いる。
制御部8は、各部を集中的に制御するマイクロコンピュータと、各種プログラムや各種データ等を記憶する記憶部と(いずれも図示せず)を備えている。この制御部8には、画像を表示する表示部8aと、操作者からの入力操作を受け付ける入力部8bとが接続されている。なお、制御部8は、入力部8bに対する操作者の入力操作に応じて、圧力差の許容範囲や距離差の許容範囲を設定し、それらの許容範囲を記憶部に格納する。
この制御部8は、真空チャンバ2内を減圧する場合、圧力検出器9a、9bにより検出した雰囲気の圧力と圧力検出器10a、10bにより検出した気体の圧力との圧力差に応じて、第1基板K1及び第2基板K2の変形を抑えるように減圧部6、すなわち排気バルブ6cの駆動を制御する。すなわち、制御部8は、その圧力差を許容範囲(圧力差の許容範囲)内に維持するように排気バルブ6cの開閉を制御する。さらに、制御部8は、真空チャンバ2内を大気圧に戻す場合、距離検出器11aにより検出した第1離間距離L1と距離検出器11bにより検出した第2離間距離L2との距離差に応じて、第2基板K2の変形を抑えるように大気復元部7、すなわち供給バルブ7cの駆動(供給パイプ7aの開口率)を制御する。すなわち、制御部8は、その距離差を許容範囲(距離差の許容範囲)内に維持するように供給バルブ7cの開口率を制御する。
次に、前述の基板貼り合わせ装置1が行う貼り合わせ動作(貼り合わせ工程)について説明する。基板貼り合わせ装置1の制御部8が貼り合わせ処理を実行して各部の駆動を制御する。なお、貼り合わせ工程は、真空チャンバ2内を減圧する減圧工程と、シール剤を介して第1基板K1と第2基板K2とを密着させる密着工程と、真空チャンバ2内を大気圧に戻す大気復元工程(真空破壊工程)とを有している。
ここで、第1基板K1は第1ステージ3にセットされており、第2基板K2も第2ステージ4にセットされており(第2ステージ4は原点位置に待機している)、真空チャンバ2は閉状態になっている。なお、第1基板K1には、枠状のシール剤が塗布されており、さらに、液晶が滴下されている。
図4に示すように、制御部8は、入力部8bに対する入力操作、すなわち貼り合わせ動作の開始を指示する入力操作に応じて、排気部6bをオンし(ステップS1)、その後、排気バルブ6cを開ける(ステップS2)。これにより、真空チャンバ2内の雰囲気(気体)が排気パイプ6aを介して排気部6bにより排気され、真空チャンバ2内の圧力が下がっていく。
なお、真空チャンバ2内の圧力は圧力検出器9a、9bにより常時計測されており、第1ステージ3の凹部A1内の気体の圧力及び第2ステージ4の凹部A2内の気体の圧力は圧力検出器10a、10bにより常時計測されており、それらの各圧力値に基づいて圧力差が常時計算されて求められている。例えば、圧力検出器9aにより計測された圧力と圧力検出器9aにより計測された圧力との平均値が求められており、その平均値と各圧力検出器10a、10bにより計測された圧力との圧力差がそれぞれ求められている。
ここで、真空チャンバ2内の圧力が下がっていくと、圧力検出器9a、9bにより検出された雰囲気の圧力と、圧力検出器10a、10bにより検出された気体の圧力との間には、差(圧力差)が生じ始める。第1ステージの凹部A1及び第2ステージの凹部A2はそれぞれ第1基板K1又は第2基板K2により塞がれているため、それらの凹部A1、A2内の気体は真空チャンバ2内の気体よりも排気され難いので、圧力検出器9a、9bにより検出された雰囲気の圧力よりも、圧力検出器10a、10bにより検出された気体の圧力の方が高くなる。
次いで、制御部8は、圧力差が上限値以上であるか否かを判断し(ステップS3)、圧力差が上限値以上になるまでステップS3の判定を繰り返す(ステップS3のNO)。このとき、真空チャンバ2内の減圧が進むにつれて圧力差が徐々に大きくなり、圧力差がまず下限値を超え、その後、上限値を超える。
圧力差が上限値以上であると判断した場合には(ステップS3のYES)、排気バルブ6cを閉じ(ステップS4)、圧力差が下限値以下であるか否かを判断し(ステップS5)、圧力差が下限値以下になるまでステップS5の判定を繰り返す(ステップS5のNO)。
排気バルブ6cが閉じられると、真空チャンバ2内の減圧は停止する。このとき、第1基板K1と保持面M1との間に溜まった気体は、その気体の圧力と真空チャンバ2内の雰囲気の圧力との圧力差により、第1基板K1と保持面M1との隙間を通って真空チャンバ2内に抜け出る。これにより、第1基板K1と保持面M1との間に溜まった気体の圧力と真空チャンバ2内の雰囲気の圧力との圧力差が次第に小さくなり、やがて下限値より小さくなる。同様に、第2基板K2と保持面M2との間に溜まった気体は、その気体の圧力と真空チャンバ2内の雰囲気の圧力との圧力差により、第2基板K2と保持面M2との隙間を通って真空チャンバ2内に抜け出る。これにより、第2基板K2と保持面M2との間に溜まった気体の圧力と真空チャンバ2内の雰囲気の圧力との圧力差が次第に小さくなり、やがて下限値より小さくなる。
なお、ステップS5の判定において、経過時間を計測するタイマを設け、そのタイマによる計測時間が許容値を越えたときには、その基板K1、K2についての貼り合わせ動作を中断し、その旨を作業者に報知するようにしても良い。すなわち、圧力差がいつまで経っても下限値以下にならない場合、生産性が著しく低下するおそれが考えられるので、予めステップS5の判定を繰り返す許容時間を設定しておき、許容時間が経過したときには、第2ステージ4に対する第2基板K2の保持をし直すなどの処理を促すようにする。このようにすることによって、第1基板K1と保持面M1との隙間から気体が著しく抜け難い場合でも、それにより貼り合わせに要する時間が長大となることを防ぐことができ、生産性の低下を抑制することができる。ここで、第2ステージ4に対する第2基板K2の保持のし直しは、制御部8の制御のもとで自動的に行っても良い。
圧力差が下限値以下であると判断した場合には(ステップS5のYES)、真空チャンバ2内の圧力が所定値であるか否かを判断し(ステップS6)、真空チャンバ2内の圧力が所定値でないと判断した場合には(ステップS6のNO)、ステップS2に処理を戻す。なお、所定値は、例えば1Pa程度の所定の圧力値である。このように、真空チャンバ2内の圧力が所定値になるまで、ステップS2からステップS5までの処理が繰り返され、真空チャンバ2内の圧力は基板の貼り合わせに適した1Pa程度の所定の圧力になる。
一方、真空チャンバ2内の圧力が所定値であると判断した場合には(ステップS6のYES)、排気部6bをオフし(ステップS7)、基板の貼り合わせを行い(ステップS8)、処理を終了する。なお、基板の貼り合わせでは、制御部8は、第2ステージ移動機構5bを制御し、第2ステージ4を所定量だけ下降させて、第1ステージ3上の第1基板K1と第2ステージ4上の第2基板K2とを接近させる。次いで、制御部8は、第1ステージ移動機構5aを制御し、撮像部12a、12bにより撮像された位置合わせ用のマークに基づいて、第1ステージ3上の第1基板K1と第2ステージ4上の第2基板K2との位置合わせを行う。その後、制御部8は、第2ステージ移動機構5bを制御し、第2ステージ4を下降させて第1基板K1と第2基板K2とを密着させて貼り合わせる。
このようにして、圧力検出器9a、9bにより検出した雰囲気の圧力と圧力検出器10bにより検出した気体の圧力との圧力差に応じて、第2基板K2の変形を抑えるように真空チャンバ2内が減圧される。これにより、隙間に閉じ込められた気体は第2基板K2と保持面M2との間を通って徐々に真空チャンバ2内へ抜け出ていき、第2基板K2の撓みが抑えられるので、位置合わせ精度の低下や位置合わせ不良の発生を防止することが可能になり、さらに、第2基板K2を確実に保持することが可能になることから、貼り合わせ精度の低下及び落下による基板の損傷を防止することができる。
次に、図5に示すように、制御部8は、第2基板K2の保持を解除し(ステップS11)、第2ステージ移動機構5bを制御し、第2ステージ4を原点位置まで移動させ(ステップS12)、その後、供給バルブ7cを開ける(ステップS13)。これにより、気体が気体供給部7bから供給パイプ7aを介して真空チャンバ2内に供給され、真空チャンバ2内の圧力が大気圧に近づいていく。なお、第1離間距離L1は距離検出器11aにより常時計測されており、第2離間距離L2は距離検出器11bにより常時計測されており、それらの各離間距離L1、L2に基づいて距離差が常時計算されて求められている。
ここで、真空チャンバ2内の圧力が大気圧に近づいていくと、第1離間距離L1と第2離間距離L2との間には、差(距離差)が生じ始める。距離検出器11aはシール剤上の第2基板K2の表面までの距離を計測し、距離検出器11bはシール剤上以外(シール剤で囲まれ、液晶が滴下されている領域上)の第2基板K2の表面までの距離を計測しているが、液晶とシール剤とではシール剤の方が粘度が高い分だけつぶれ難い。そのため、第2基板K2は第1基板K1に向かって凸状に撓み、距離検出器11bによる計測値である第2離間距離L2は、距離検出器11aによる計測値である第1離間距離L1に比べ次第に長くなっていく。
次いで、制御部8は、距離差が許容範囲内であるか否かを判断し(ステップS14)、距離差が許容範囲内であると判断した場合には(ステップS14のYES)、真空チャンバ2内の圧力が所定値であるか否か判断する(ステップS15)。なお、所定値は、例えば大気圧である所定の圧力値である。一方、距離差が許容範囲内でないと判断した場合には(ステップS14のNO)、供給バルブ7cを制御し、供給パイプ7aの開口率を調整し(ステップS16)、ステップS14に処理を戻す。
このように、真空チャンバ2内の圧力が所定値になるまで、距離差に応じて供給バルブ7cにより供給パイプ7aの開口率が調整され、真空チャンバ2内の圧力は大気圧である所定の圧力になる。これにより、貼り合わされた第1基板K1と第2基板K2との間は内外圧力差を受けて加圧され、所定のギャップ(間隔)がスペーサを介して形成される。
真空チャンバ2内の圧力が所定値であると判断した場合には(ステップS15のYES)、真空チャンバ2を開放する(ステップS17)。真空チャンバ2の開放では、制御部8は第1チャンバ2aと第2チャンバ2bとを分離させ、真空チャンバ2を開状態にする。その後、貼り合わせが完了した第1基板K1及び第2基板K2が搬送される。
このようにして、第1離間距離L1と第2離間距離L2との距離差に応じて、第2基板の撓み変形を抑えるように真空チャンバ2内が大気圧に戻される。これにより、第2基板K2の撓みが抑えられ、第1基板K1と第2基板K2との間の部材を均一に潰すことが可能になるので、第1基板K1と第2基板K2との間の間隔を均一にすることができ、さらに、第2基板K2の撓み変形に起因して生じる第1基板K1と第2基板K2との面方向における位置ズレの発生を防止することができる。その結果として、製造する製品である表示パネルの表示不良等の発生を防止し、製品の品質を向上させることができる。
以上説明したように、本発明の実施の形態によれば、真空チャンバ2内の雰囲気の圧力(第1圧力)を検出する圧力検出器9a、9bと、第2ステージ4の表面であって第2基板K2を保持する保持面M2と第2基板K2との間に溜まった気体の圧力(第2圧力)を検出する圧力検出器10bとを設け、圧力検出器9a、9bにより検出した雰囲気の圧力と圧力検出器10bにより検出した気体の圧力との圧力差に応じて、第2基板K2の変形を抑えるように減圧部6を制御することによって、隙間に閉じ込められた気体は第2基板K2と保持面M2との間を通って徐々に真空チャンバ2内へ抜け出ていき、第2基板K2の撓みが抑えられる。これにより、位置合わせ精度の低下や位置合わせ不良を防止することが可能になり、さらに、第2基板K2を確実に保持することが可能になるので、貼り合わせ精度の低下及び落下による基板の損傷を防止することができる。その結果として、製造する製品である表示パネルの表示不良等の発生を防止し、製品の品質を向上させることができる。
さらに、圧力差が許容範囲内になるように減圧部6を制御することによって、第2基板K2の変形を確実に抑えることが可能になるので、第2基板K2の撓みを確実に抑えることができる。
加えて、圧力検出器10bは、気体の圧力を検出可能に第2ステージ4の保持面M2の凹部A2に埋め込まれ、凹部A2との間に空間が形成されていることから、隙間に閉じ込められた気体の圧力を正確に検出することが可能になるので、気体の圧力の検出精度が向上し、第2基板K2の撓みを確実に抑えることができる。
また、第1ステージ3の表面であって第1基板K1を保持する保持面M1と第1基板K1との間に溜まった気体の圧力(第3圧力)を検出する圧力検出器10aを設け、圧力検出器9a、9bにより検出した雰囲気の圧力と圧力検出器10aにより検出した気体の圧力との圧力差に応じて、第1基板K1の変形を抑えるように減圧部6を制御することによって、隙間に閉じ込められた気体は第1基板K1と保持面M1との間を通って徐々に真空チャンバ2内へ抜け出ていき、第1基板K1の撓みが抑えられる。これにより、位置合わせ精度の低下や位置合わせ不良をより確実に防止することが可能になるので、貼り合わせ精度の低下を確実に防止することができる。
さらに、圧力検出器10aは、気体の圧力を検出可能に第1ステージ3の保持面M1の凹部A1に埋め込まれ、凹部A1との間に空間が形成されていることから、隙間に閉じ込められた気体の圧力を正確に検出することが可能になるので、第1基板K1の撓みを確実に抑えることができる。
また、真空チャンバ2内を大気圧に戻す大気復元部7と、第1ステージ3上の第1基板K1に貼り合わされた第2基板K2の表面に対する第1離間距離L1を検出する距離検出器11aと、第1ステージ3上の第1基板K1に貼り合わされた第2基板K2の表面に対する第2離間距離L2を検出する距離検出器11bとを設け、検出した第1離間距離L1と検出した第2離間距離L2との距離差に応じて、第2基板の変形を抑えるように大気復元部7を制御することによって、第2基板K2の撓みが抑えられ、第1基板K1と第2基板K2との間の部材が均一に潰れるので、第1基板K1と第2基板K2との間の間隔を均一にすることができ、さらに、第1基板K1と第2基板K2との面方向における位置ズレの発生を防止することができる。その結果として、製造する製品である表示パネルの表示不良等の発生を防止し、製品の品質を向上させることができる。
さらに、距離検出器11aは第1離間距離L1を検出可能に第2ステージ4の保持面M2に埋め込まれており、距離検出器11bは第2離間距離L2を検出可能に第2ステージ4の保持面M2に埋め込まれていることから、各離間距離L1、L2を正確に検出することが可能になるので、第2基板K2の撓みを確実に抑えることができる。
(他の実施の形態)
なお、本発明は、前述の実施の形態に限るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能である。
例えば、前述の実施の形態においては、各ステージ3、4にそれぞれ1つの圧力検出器10a、10bだけを設けているが、これに限るものではなく、例えば、各ステージ3、4にそれぞれ複数の圧力検出器を設けるようにしてもよく、その数は限定されない。
また、前述の実施の形態においては、複数の圧力検出器9a、9bを設けているが、これに限るものではなく、例えば1つの圧力検出器を設けるようにしてもよく、その数は限定されない。
さらに、前述の実施の形態においては、第1ステージ3に対して第2ステージ4をZ軸方向に移動させているが、これに限るものではなく、第2ステージ4に対して第1ステージ3をZ軸方向に移動させるようにしてもよい。
加えて、前述の実施の形態においては、排気バルブ6cにより排気パイプ6aの開閉を制御しているが、これに限るものではなく、例えば、排気バルブ6cにより排気パイプ6aの開口率を制御するようにしてもよい。
また、距離検出器11a、11bは、2箇所に限らず、3箇所以上に設けるようにしても良い。3箇所以上に設ける場合には、各検出器による検出値のうち、最大の値と最小の値との距離差によってステップS14の判定を行うようにするとよい。また、複数個の検出器をステージ上におけるシール剤に対向する位置に配置するようにしてもよい。この場合には、各検出器の検出値が許容範囲内を維持するように制御すれば、シール剤を許容範囲内で均一に潰すことができるから、シール剤の潰れ具合のばらつきによって生じる可能性のあるシール剤と第2基板K2との接着力のばらつきの発生を抑制することができる。そのため、接着力不足による基板間への空気の侵入や基板間からの液晶漏れ等の不良が防止され、さらに品質が向上する。
また、第1ステージ3の保持面M1及び第2ステージ4の保持面M2に静電吸着により基板K1、K2を保持する例で説明したが、ステージ3、4の保持面M1、M2に真空吸着用の吸引孔を複数個設け、真空吸着を併用して基板K1、K2を保持するようにしても良い。この場合には、吸引孔に作用する真空吸引力が基板K1、K2と保持面M1、M2との間に溜まった気体の除去を促進するように作用するので、基板K1、K2と保持面M1、M2との間に溜まった気体の圧力と真空チャンバ2内の雰囲気の圧力との圧力差が上限値以上になることを抑制することができる。
また、第1ステージ3の保持面M1及び第2ステージ4の保持面M2に、一端部が真空チャンバ2内の雰囲気に連通する連通路の他端部を開口させても良い。この場合にも、基板K1、K2とステージ3、4の保持面M1、M2との間に溜まった気体が連通路を介して真空チャンバ2内に抜け出ることができるので、基板K1、K2と保持面M1、M2との間に溜まった気体の圧力と真空チャンバ2内の雰囲気の圧力との圧力差が上限値以上になることを抑制することができる。なお、この場合、連通路は、保持面M1、M2においてその保持面M1、M2に保持される基板K1、K2の中央付近に対向する位置に設けると、基板K1、K2の外周部から遠い中央部に溜まった気体を効果的に除去することができ好ましい。
また、第1距離検出器11a及び第2距離検出器11bを第2ステージ4の保持面M2に埋め込んだ例で説明したが、これに限らず、例えば、第2ステージ4に貫通孔を設け、その貫通孔を介して第2基板K2の表面までの距離(第1、第2離間距離)を測定するように、第2チャンバ2b等の第2ステージ4とは別部材に固定して設けるようにしても良い。
また、前述の実施の形態においては、シール剤が塗布され液晶が滴下された基板を第1基板K1として第1ステージ3にセットしているが、これに限るものではなく、その基板を第2基板K2として第2ステージ4にセットするようにしてもよい。
最後に、前述の実施の形態においては、第1基板K1と第2基板K2との間に液晶を介在させているが、これに限るものではなく、液晶を介在させず、単にシール剤を介して第1基板K1と第2基板K2とを貼り合せるようにしてもよい。この場合には、液晶は後から第1基板K1と第2基板K2との間に注入される。
本発明の実施の一形態に係る基板貼り合わせ装置の概略構成を示す模式図である。 図1に示す基板貼り合わせ装置が備える第2ステージの保持面を示す平面図である。 図1に示す基板貼り合わせ装置が備える距離検出器による距離計測を説明するための説明図である。 図1に示す基板貼り合わせ装置が行う貼り合わせ動作(減圧工程)の流れを示すフローチャートである。 図1に示す基板貼り合わせ装置が行う貼り合わせ動作(大気復元工程)の流れを示すフローチャートである。
符号の説明
1 基板貼り合わせ装置
2 真空容器(真空チャンバ)
3 第1基板保持部(第1ステージ)
4 第2基板保持部(第2ステージ)
5 移動機構
6 減圧部
7 大気復元部
9a 第1圧力検出器
9b 第1圧力検出器
10a 第3圧力検出器
10b 第2圧力検出器
11a 第1距離検出器
11b 第2距離検出器
K1 第1基板
K2 第2基板
L1 第1離間距離
L2 第2離間距離
M1 保持面
M2 保持面

Claims (11)

  1. 真空容器と、
    前記真空容器内に設けられ、第1基板を保持する第1基板保持部と、
    前記真空容器内に設けられ、前記第1基板に対向させて第2基板を保持する第2基板保持部と、
    前記第1基板保持部と前記第2基板保持部とを接離方向に相対移動させる移動機構と、
    前記真空容器内を減圧する減圧部と、
    前記真空容器内の雰囲気の第1圧力を検出する第1圧力検出器と、
    前記第2基板保持部に設けられ、前記第2基板保持部の表面であって前記第2基板を保持する保持面と前記第2基板との間に溜まった気体の第2圧力を検出する第2圧力検出器と、
    検出した前記第1圧力と検出した前記第2圧力との圧力差に応じて、前記第2基板の変形を抑えるように前記減圧部を制御する手段と、
    を備えることを特徴とする基板貼り合わせ装置。
  2. 前記制御する手段は、前記圧力差が許容範囲内になるように前記減圧部を制御することを特徴とする請求項1記載の基板貼り合わせ装置。
  3. 前記第2圧力検出器は、前記第2圧力を検出可能に前記第2基板保持部の前記保持面に埋め込まれていることを特徴とする請求項1又は2記載の基板貼り合わせ装置。
  4. 前記第1基板保持部に設けられ、前記第1基板保持部の表面であって前記第1基板を保持する保持面と前記第1基板との間に溜まった気体の第3圧力を検出する第3圧力検出器を備え、
    前記制御する手段は、検出した前記第1圧力と検出した前記第3圧力との圧力差に応じて、前記第1基板の変形を抑えるように前記減圧部を制御することを特徴とする請求項1、2又は3記載の基板貼り合わせ装置。
  5. 前記第3圧力検出器は、前記第3圧力を検出可能に前記第1基板保持部の前記保持面に埋め込まれていることを特徴とする請求項4記載の基板貼り合わせ装置。
  6. 前記真空容器内を大気圧に戻す大気復元部と、
    前記第2基板保持部側に設けられ、前記第1基板保持部上の前記第1基板に貼り合わされた前記第2基板の表面に対する第1離間距離を検出する第1距離検出器と、
    前記第2基板保持部側に設けられ、前記第1基板保持部上の前記第1基板に貼り合わされた前記第2基板の表面に対する第2離間距離を検出する第2距離検出器と、
    検出した前記第1離間距離と検出した前記第2離間距離との距離差に応じて、前記第2基板の変形を抑えるように前記大気復元部を制御する手段と、
    を備えることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか一に記載の基板貼り合わせ装置。
  7. 前記第1距離検出器は、前記第1離間距離を検出可能に前記第2基板保持部の前記保持面に埋め込まれており、
    前記第2距離検出器は、前記第2離間距離を検出可能に前記第2基板保持部の前記保持面に埋め込まれていることを特徴とする請求項6記載の基板貼り合わせ装置。
  8. 第1基板を保持する第1基板保持部と前記第1基板に対向させて第2基板を保持する第2基板保持部とを収容する真空容器内の雰囲気の第1圧力を検出するステップと、
    前記第2基板保持部の表面であって前記第2基板を保持する保持面と前記第2基板との間に溜まった気体の第2圧力を検出するステップと、
    検出した前記第1圧力と検出した前記第2圧力との圧力差に応じて、前記第2基板の変形を抑えるように前記真空容器内を減圧するステップと、
    前記第1基板保持部と前記第2基板保持部とを近接方向に相対移動させ、前記第1基板と前記第2基板とを貼り合わせるステップと、
    を有することを特徴とする基板貼り合わせ方法。
  9. 前記減圧するステップは、前記圧力差が許容範囲内になるように前記真空容器内を減圧することを特徴とする請求項8記載の基板貼り合わせ方法。
  10. 前記第1基板保持部の表面であって前記第1基板を保持する保持面と前記第1基板との間に溜まった気体の第3圧力を検出するステップを有し、
    前記減圧するステップは、検出した前記第1圧力と検出した前記第3圧力との圧力差に応じて、前記第1基板の変形を抑えるように前記真空容器内を減圧することを特徴とする請求項8又は9記載の基板貼り合わせ方法。
  11. 前記第1基板保持部上の前記第1基板に貼り合わされた前記第2基板の表面に対する第1離間距離を検出するステップと、
    前記第1基板保持部上の前記第1基板に貼り合わされた前記第2基板の表面に対する第2離間距離を検出するステップと、
    検出した前記第1離間距離と検出した前記第2離間距離との距離差に応じて、前記第2基板の変形を抑えるように前記真空容器内を大気圧に戻すステップと、
    を有することを特徴とする請求項8、9又は10記載の基板貼り合わせ方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102981289A (zh) * 2012-11-08 2013-03-20 京东方科技集团股份有限公司 一种加压设备
JP2014066917A (ja) * 2012-09-26 2014-04-17 Hitachi High-Technologies Corp 板状体保持機構、基板貼り合わせ装置及び基板貼り合わせ方法
CN104772738A (zh) * 2015-04-24 2015-07-15 合肥京东方光电科技有限公司 压合治具
US9904062B2 (en) 2014-03-06 2018-02-27 Nlt Technologies, Ltd. Substrate laminating apparatus, substrate laminating method, and stereoscopic display device

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014066917A (ja) * 2012-09-26 2014-04-17 Hitachi High-Technologies Corp 板状体保持機構、基板貼り合わせ装置及び基板貼り合わせ方法
CN102981289A (zh) * 2012-11-08 2013-03-20 京东方科技集团股份有限公司 一种加压设备
US9904062B2 (en) 2014-03-06 2018-02-27 Nlt Technologies, Ltd. Substrate laminating apparatus, substrate laminating method, and stereoscopic display device
US10718953B2 (en) 2014-03-06 2020-07-21 Tianma Microelectronics Co., Ltd. Substrate laminating apparatus, substrate laminating method, and stereoscopic display device
CN104772738A (zh) * 2015-04-24 2015-07-15 合肥京东方光电科技有限公司 压合治具
US10195809B2 (en) 2015-04-24 2019-02-05 Boe Technology Group Co., Ltd. Press-fit device

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