JP2008275350A - 冷陰極管の温度測定方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】冷陰極管の短寿命要因として冷陰極管の冷点の深度が影響している可能性が高いことが分かってきており、その実験過程において冷陰極管の表面温度を正確に測定しなければならないが、現在の測定方法では正確な温度測定が困難な状況にある。
【解決手段】金属体3Aを冷陰極管1の表面の任意の位置に設置し、観察手段による前記金属体設置位置での冷陰極管1内の水銀移動方向の観察で、該水銀の移動が停止し、平衡状態となった点に、温度検出部7及び電源部6により金属体3Aの温度を設定する手順と、前記設定した金属体3Aの温度を温度検出部7により記録する手順とを有し、記録した温度を冷陰極管1の表面温度の絶対値とする。
【選択図】図1
【解決手段】金属体3Aを冷陰極管1の表面の任意の位置に設置し、観察手段による前記金属体設置位置での冷陰極管1内の水銀移動方向の観察で、該水銀の移動が停止し、平衡状態となった点に、温度検出部7及び電源部6により金属体3Aの温度を設定する手順と、前記設定した金属体3Aの温度を温度検出部7により記録する手順とを有し、記録した温度を冷陰極管1の表面温度の絶対値とする。
【選択図】図1
Description
本発明は、例えば、液晶表示装置(以下、「LCD」とも記す)のバックライトなどに使用されている冷陰極管(以下、「FL管」とも記す)の表面温度の絶対値を正確に測定するための冷陰極管の温度測定方法に関する。
例えば、LCDのバックライトに使用されているFL管(冷陰極管)は、寿命部品であり、各社、寿命メカニズムを追求、改善して、長寿命のFL管を早く市場に投入するべく開発競争が激化している。
現在、最新の実験結果から、FL管の短寿命要因として、「FL管の冷点の深度」が影響している可能性が高いことが分かってきており、その実験過程において、FL管の表面温度を正確に測定しなければならないが、現在の測定方法では種々の問題点があり、正確な温度測定が困難な状況にある。
なお、前記「FL管の冷点の深度」の冷点とは、他の部分より温度の低いところのことであり、前記深度とは、その温度差のことである。
§1:従来例1の説明
図4はFL管の端子削れ/赤色点灯障害の原因説明図である。以下、図4に基づいて、従来例1(端子削れ/赤色点灯障害の原因)について説明する。
図4はFL管の端子削れ/赤色点灯障害の原因説明図である。以下、図4に基づいて、従来例1(端子削れ/赤色点灯障害の原因)について説明する。
FL管(冷陰極管)1が端子削れや赤色点灯障害の原因となるのは次のような原因であると考えられている。一般に図4に示したように、FL管1は左右両端部にそれぞれ端子15が設けてあり、内部には、水銀(Hg)と、ネオン(80%程度)と、アルゴン(10〜30%程度)等が封入されている。
そして、前記水銀がアルゴンガスやネオンガスの中に封入され、管壁には蛍光物質が塗布されている。水銀ガスは放電中に紫外線を発生し、紫外線が蛍光物質に当たって可視光が発生する。
このようなFL管1において、Oリング16の位置が深い冷点(他の場所と比較し温度が低い点)であるとすれば、この冷点に水銀17が集中する。このため、端子15の近傍の蒸気水銀が不足する。その結果、スパッタリングが激しくなり、端子15が削れ落ちたりする。また、スパッタリングが激しくなると、このスパッタリングに巻き込まれてアルゴンが消耗し、赤色点灯のような障害が発生する。
§2:従来例2(特許文献1参照)の説明
以下、特許文献1を従来例2として説明する。従来例2には次のような内容が記載されている。
以下、特許文献1を従来例2として説明する。従来例2には次のような内容が記載されている。
(1) :「放電管と、該放電管から放射された光を反射させるリフレクタと、該放電管の一部分に接触し且つ該リフレクタに取り付けられている導熱部材とを備え、該放電管の一部分が該導熱部材によって局所的に冷却されるようにしたことを特徴とするバックライト。」・・・特許請求の範囲の請求項1参照
(2) :「本発明は希薄な気体の中で放電することで発光させる放電管を有するバックライト及び表示装置及びその製造方法に関する。」・・・段落番号[0001]参照
(3) :「水銀を含み且つ放電時の気体水銀量を除くほとんど全ての液体水銀が放電管の端部から離れた第1の位置に集められた放電管と、該放電管の第1の位置を冷却する冷却装置とからなるバックライトを提供する。」・・・段落番号[0023]参照
§3:従来例3(特許文献2参照)の説明
以下、特許文献2を従来例3として説明する。従来例3には次のような内容が記載されている。
(2) :「本発明は希薄な気体の中で放電することで発光させる放電管を有するバックライト及び表示装置及びその製造方法に関する。」・・・段落番号[0001]参照
(3) :「水銀を含み且つ放電時の気体水銀量を除くほとんど全ての液体水銀が放電管の端部から離れた第1の位置に集められた放電管と、該放電管の第1の位置を冷却する冷却装置とからなるバックライトを提供する。」・・・段落番号[0023]参照
§3:従来例3(特許文献2参照)の説明
以下、特許文献2を従来例3として説明する。従来例3には次のような内容が記載されている。
(1) :「アルゴンのみを含有した低ワット数蛍光ランプを提供する。」・・・要約の欄を参照
(2) :「蛍光ランプは、密閉形ランプ器具においてランプ内部の水銀を30°C未満、好ましくは25°Cに維持する働きをする少なくとも1つの水銀冷点領域を有する。蛍光ランプは、電極間の距離が短縮され、その結果、蛍光ランプの動作中に電気アーク放電を維持するために要求される電力が少なくて済むという特徴を更に有する。電気アークが従来ほど電力を要求しないため、蛍光ランプ内部の水銀蒸気の温度を上昇させるべき熱の発生量も少ない。」・・・要約の欄を参照
特開2002−245829号公報
特開2002−334679号公報
(2) :「蛍光ランプは、密閉形ランプ器具においてランプ内部の水銀を30°C未満、好ましくは25°Cに維持する働きをする少なくとも1つの水銀冷点領域を有する。蛍光ランプは、電極間の距離が短縮され、その結果、蛍光ランプの動作中に電気アーク放電を維持するために要求される電力が少なくて済むという特徴を更に有する。電気アークが従来ほど電力を要求しないため、蛍光ランプ内部の水銀蒸気の温度を上昇させるべき熱の発生量も少ない。」・・・要約の欄を参照
(1) :従来例1のように、冷陰極管において深い冷点(他の場所と比較し温度が低い点)では水銀が集中し、端子の近傍の蒸気水銀が不足する。その結果、スパッタリングが激しくなり、端子が削れ落ちたりする。また、スパッタリングが激しくなると、このスパッタリングに巻き込まれてアルゴンが消耗し、赤色点灯のような障害が発生する。
また、冷陰極管の短寿命要因として、冷陰極管の冷点の深度が影響している可能性が高いことが分かってきており、その実験過程において、冷陰極管の表面温度を正確に測定しなければならないが、現在の測定方法では種々の問題点があり、正確な温度測定が困難な状況にある。
従来、冷陰極管の表面温度測定方法としては、熱電対法や赤外線法が考えられていたが、以下の問題があり、正確な温度測定を行うことは困難であった。すなわち、熱電対法では、被測定物であるFL管の熱容量が小さいため、熱電対をFL管に取り付けたことによって、熱電対取り付け箇所の温度が変わってしまい、正確な温度測定が困難であった。また、赤外線法では、被測定物であるFL管自体が発光体であるため、その原理上、正確な温度測定は困難であった。
(2) :従来例2は、最冷部を形成する為に、測定している温度は正確な温度(絶対値)を必要としておらず、強制的に所定の位置に最冷部を形成させることで、輝度を向上させるバックライト、表示装置を製造するという内容である。従って、従来例2は、本発明の必須構成要件を含んでおらず、本発明の参考程度の技術である。
(3) :従来例3は、ランプの水銀蒸気の平均温度を30°未満に維持する効果を奏するものであり、絶対値を測定する本発明とは異なる技術である。従って、従来例3は、本発明の必須構成要件を含んでおらず、本発明の参考程度の技術である。
本発明は前記従来の課題を解決し、冷陰極管の表面温度の絶対値を正確に測定できるようにすることで、冷陰極管の短寿命要因としての冷点の深度の影響を解明できるようにすることを目的とする。
本発明は前記の目的を達成するため、次のように構成した。
(1) :冷陰極管表面の長手方向の任意の位置に移動させて接触でき、且つ、任意の温度に設定可能な金属体と、前記金属体の温度を検出する温度検出部と、前記温度検出部の検出信号に基づいて前記金属体の温度を制御する電源部と、前記冷陰極管内の水銀の移動方向を観察するための観察手段とを備えた冷陰極管の温度測定装置により冷陰極管の表面温度を測定する冷陰極管の温度測定方法であって、前記金属体を冷陰極管表面の任意の位置に設置し、前記観察手段による前記金属体設置位置での冷陰極管内の水銀移動方向の観察で、該水銀の移動が停止し、平衡状態となった点に、前記温度検出部及び電源部により前記金属体の温度を設定する手順と、前記設定した金属体の温度を前記温度検出部により記録する手順とを有し、前記記録した温度を冷陰極管の表面温度の絶対値とすることを特徴とする。
(2) :前記(1) の冷陰極管の温度測定方法において、前記金属体はペルチエ素子の上に載せてあり、該ペルチエ素子は、前記電源部に接続され、該電源部からの出力電流により加熱され、その熱により前記金属体を任意の温度に設定可能に構成されていることを特徴とする。
(作用)
図1は本発明の原理説明図である。以下、図1を参照しながら本発明の作用を説明する。
図1は本発明の原理説明図である。以下、図1を参照しながら本発明の作用を説明する。
(a) :前記(1) の作用
冷陰極管1の近傍に、任意の温度に設定できる金属体3Aを設置する。次に、その部分の水銀の移動方向を観察手段で観察する。水銀は、温度の低い箇所に集まる為、その金属体3Aを設置した部分に水銀が集まると、その部分は他の場所より温度が低いことになる。また、逆に、その部分から水銀が離れる方向に移動すると、その部分は他の場所より温度が高いことになる。
冷陰極管1の近傍に、任意の温度に設定できる金属体3Aを設置する。次に、その部分の水銀の移動方向を観察手段で観察する。水銀は、温度の低い箇所に集まる為、その金属体3Aを設置した部分に水銀が集まると、その部分は他の場所より温度が低いことになる。また、逆に、その部分から水銀が離れる方向に移動すると、その部分は他の場所より温度が高いことになる。
従って、この水銀の移動方向を観察し、冷陰極管1内の水銀が平衡する点に、金属体3Aの温度を設定すると、その設定した温度が冷陰極管1の表面温度となり、冷陰極管1の表面温度絶対値を正確に求めることができる。
このようにすれば、冷陰極管の表面温度の絶対値を正確に測定できるようにすることで、冷陰極管の短寿命要因としての冷点の深度の影響を解明できる。
(b) :前記(2) の作用
金属体3Aはペルチエ素子2の上に載せてあり、該ペルチエ素子2は、電源部6に接続され、該電源部6からの出力電流により加熱され、その熱により金属体3Aを任意の温度に設定することができる。このようにすれば、冷陰極管の表面温度の絶対値を正確に測定できるようにすることで、冷陰極管の短寿命要因としての冷点の深度の影響を解明できる。
金属体3Aはペルチエ素子2の上に載せてあり、該ペルチエ素子2は、電源部6に接続され、該電源部6からの出力電流により加熱され、その熱により金属体3Aを任意の温度に設定することができる。このようにすれば、冷陰極管の表面温度の絶対値を正確に測定できるようにすることで、冷陰極管の短寿命要因としての冷点の深度の影響を解明できる。
請求項1、2によれば次のような効果がある。
(a) :冷陰極管の表面温度の絶対値を正確に測定できるようにすることで、冷陰極管の短寿命要因としての冷点の深度の影響を解明できる。
(b) :冷陰極管の表面温度を正確に測定できるようになることで、冷陰極管の寿命メカニズムの解析、解明を精度良く行うことが可能になる。
§1:冷陰極管の温度測定方法の概要説明
図1は本発明の原理説明図である。以下、図1を参照しながら本発明を実施するためのFL管(冷陰極管)の温度測定方法の概要を説明する。
図1は本発明の原理説明図である。以下、図1を参照しながら本発明を実施するためのFL管(冷陰極管)の温度測定方法の概要を説明する。
以下に説明する例は、FL管1の表面の長手方向の任意の位置に移動させて接触でき、且つ、任意の温度に設定可能な金属体3Aと、金属体3Aの温度を検出する温度検出部7と、温度検出部7の検出信号に基づいて金属体3Aの温度を制御する電源部6と、FL管1内の水銀の移動方向を観察するための観察手段としてのX線装置(図示省略)とを備えたFL管1の温度測定装置によりFL管1の表面温度を測定するものである。
この測定では、金属体3AをFL管1表面の任意の位置に設置し、前記X線装置による前記金属体設置位置での冷陰極管内の水銀移動方向の観察で、該水銀の移動が停止し、平衡状態となった点に、温度検出部7及び電源部6により金属体3Aの温度を設定する。また、前記設定した金属体3Aの温度を温度検出部7が記録する。そして、記録した温度をFL管1の表面温度の絶対値とする。なお、前記金属体3Aの位置は、FL管1と金属体3Aとの相対的な移動により、FL管1の任意の位置に金属体3Aを設置できるようにしてある。
また、金属体3Aはペルチエ素子2の上に載せてあり、該ペルチエ素子2は、電源部6に接続され、該電源部6からの出力電流により加熱され、その熱により金属体3Aを任意の温度に設定可能に構成されている。
§2:FL管の温度測定方法の説明
図2はFL管の温度測定方法概要説明図である。FL管の温度測定方法としては、FL管1内の水銀が温度の低い箇所に集まることに着目し、FL管1の近傍に、任意の温度に設定できる金属として、アルミ板(アルミニューム板)3を設置し、このアルミ板3に対し、水銀の移動方向をX線装置(図示省略)にて観測することで、FL管1の温度を求めることができる。
図2はFL管の温度測定方法概要説明図である。FL管の温度測定方法としては、FL管1内の水銀が温度の低い箇所に集まることに着目し、FL管1の近傍に、任意の温度に設定できる金属として、アルミ板(アルミニューム板)3を設置し、このアルミ板3に対し、水銀の移動方向をX線装置(図示省略)にて観測することで、FL管1の温度を求めることができる。
更に具体的には、FL管1の近傍で、FL管1の表面に接触するように設置し、任意の温度に設定できる金属体3A(図1参照)としてアルミ板3を設置する。次に、その部分の水銀の移動方向をX線装置で観察する。
水銀は、温度の低い箇所に集まる為、その金属体を設置した部分に水銀が集まると、その部分は他の場所より温度が低いことになる。また、逆に、その部分から水銀が離れる方向に移動すると、その部分は他の場所より温度が高いことになる。
従って、この水銀の移動方向を観察し、FL管1内の水銀が平衡する点に、前記アルミ板3の温度を設定すると、その設定した温度がFL管の表面温度となり、FL管1の表面温度絶対値を正確に求めることができる。この場合、アルミ板3の温度を徐々に変化させ、均衡点を探す。
§3:FL管の温度測定装置の説明
図3はFL管の温度測定装置の構成図である。以下、図3に基づいて、FL管の表面温度測定装置を説明する。
図3はFL管の温度測定装置の構成図である。以下、図3に基づいて、FL管の表面温度測定装置を説明する。
FL管の温度測定装置は、FL管1の表面の長手方向の任意の位置に移動させて接触でき、且つ、任意の温度に設定可能なアルミ板3と、アルミ板3の温度を検出する温度検出部7と、温度検出部7の検出信号に基づいてアルミ板3の温度を制御する電源部6と、FL管1内の水銀の移動方向を観察するX線装置(図示省略)とを備えている。
なお、前記X線装置は、X線照射手段と、前記X線照射手段により照射したX線がFL管を透過した際に、透過X線を感知するセンサと、前記センサの出力信号を入力し、画像処理等を行うコンピュータ等からなり、該コンピュータの表示画面上に、FL管1内の水銀の移動方向を示す画像などが表示できるようにしたものであり、市販されている装置を利用する。
更に詳しくは、FL管の温度測定装置は、アルミ板3と、熱電対4と、ペルチエ素子2と、温度検出部7と、電源部6等を含んでいる。アルミ板3の上にはFL管1が載せてあり、該FL管の外側表面と接するようにアルミ板3が設置されている。そして、アルミ板3の一部であって、FL管の表面の近傍には、温度を検出するための熱電対4が貼り付けられており、該熱電対4からは熱電対線5が引き出されている。
また、アルミ板3はペルチエ素子2の上に載せてあり、該ペルチエ素子2は、電源部6に接続され、該電源部6からの出力電流により加熱され、その熱によりアルミ板3を任意の温度(例えば、10°C〜120°Cの範囲)に設定可能に構成されている。
温度検出部7は、オペアンプ12、13と、抵抗R2、R3、R4、R5と、温度記録計14を含んでいる。また、電源部6は、PWM制御部11と、トランジスタTRと、トランスTと、ダイオードD1等を含んでいる。
温度検出部7は、熱電対4からの信号を熱電対線5を介して取り込み、アルミ板3の温度を検出する。そして、温度記録計14により熱電対4から検出したアルミ板3の温度を記録する。また、オペアンプ12の出力を電源部6のPWM制御部11へ送る。
電源部6は、PWM制御部11の制御信号によりトランジスタTRを駆動してPWM(パルス幅変調)制御を行う。そして、トランスTの一次側巻線をトランジスタTRによりオン/オフ駆動し、二次側巻線の出力電圧によりダイオードD1を介して整流した直流電流をペルチエ素子2へ供給する。
ペルチエ素子2は、電源部6から供給された電流に比例した熱を発生し、この熱でアルミ板3を加熱する。このようにして、ペルチエ素子2の加熱→アルミ板3の加熱→熱電対4によるアルミ板3の温度検出→温度検出部7による温度検出→電源部6によるPWM制御での出力の制御→ペルチエ素子2の加熱のようなループで制御が行なわれる。そしてその制御の過程において、温度記録計14によりアルミ板3の温度を記録する。
なお、前記の例では、金属体3Aとしてアルミ板3を使用したが、本発明はアルミ板3に限らず、他の任意の金属体(但し、任意の温度に設定可能な金属体)で実施可能である。
(付記)
前記の説明に対し、次の構成を付記する。
前記の説明に対し、次の構成を付記する。
(付記1)
冷陰極管表面の長手方向の任意の位置に移動させて接触でき、且つ、任意の温度に設定可能な金属体と、
前記金属体の温度を検出する温度検出部と、
前記温度検出部の検出信号に基づいて前記金属体の温度を制御する電源部と、
前記冷陰極管内の水銀の移動方向を観察するための観察手段と、
を備えた冷陰極管の温度測定装置により冷陰極管の表面温度を測定する冷陰極管の温度測定方法であって、
前記金属体を冷陰極管表面の任意の位置に設置し、前記観察手段による前記金属体設置位置での冷陰極管内の水銀移動方向の観察で、該水銀の移動が停止し、平衡状態となった点に、前記温度検出部及び電源部により前記金属体の温度を設定する手順と、
前記設定した金属体の温度を前記温度検出部により記録する手順と、
を有し、前記記録した温度を冷陰極管の表面温度の絶対値とすることを特徴とする冷陰極管の温度測定方法。
冷陰極管表面の長手方向の任意の位置に移動させて接触でき、且つ、任意の温度に設定可能な金属体と、
前記金属体の温度を検出する温度検出部と、
前記温度検出部の検出信号に基づいて前記金属体の温度を制御する電源部と、
前記冷陰極管内の水銀の移動方向を観察するための観察手段と、
を備えた冷陰極管の温度測定装置により冷陰極管の表面温度を測定する冷陰極管の温度測定方法であって、
前記金属体を冷陰極管表面の任意の位置に設置し、前記観察手段による前記金属体設置位置での冷陰極管内の水銀移動方向の観察で、該水銀の移動が停止し、平衡状態となった点に、前記温度検出部及び電源部により前記金属体の温度を設定する手順と、
前記設定した金属体の温度を前記温度検出部により記録する手順と、
を有し、前記記録した温度を冷陰極管の表面温度の絶対値とすることを特徴とする冷陰極管の温度測定方法。
(付記2)
前記金属体はペルチエ素子の上に載せてあり、該ペルチエ素子は、前記電源部に接続され、該電源部からの出力電流により加熱され、その熱により前記金属体を任意の温度に設定可能に構成されていることを特徴とする付記1記載の冷陰極管の温度測定方法。
前記金属体はペルチエ素子の上に載せてあり、該ペルチエ素子は、前記電源部に接続され、該電源部からの出力電流により加熱され、その熱により前記金属体を任意の温度に設定可能に構成されていることを特徴とする付記1記載の冷陰極管の温度測定方法。
(付記3)
冷陰極管表面の長手方向の任意の位置に移動させて接触でき、且つ、任意の温度に設定可能な金属体と、
前記金属体の温度を検出する温度検出部と、
前記温度検出部の検出信号に基づいて前記金属体の温度を制御する電源部と、
前記冷陰極管内の水銀の移動方向を観察するための観察手段と、
を備え、冷陰極管の表面温度を測定する冷陰極管の温度測定装置であって、
前記金属体を冷陰極管表面の任意の位置に設置し、前記観察手段による前記金属体設置位置での冷陰極管内の水銀移動方向の観察で、該水銀の移動が停止し、平衡状態となった点に、前記温度検出部及び電源部により前記金属体の温度を設定する機能と、
前記設定した金属体の温度を前記温度検出部により記録する機能と、
を有し、前記記録した温度を冷陰極管の表面温度の絶対値とすることを特徴とする冷陰極管の温度測定装置。
冷陰極管表面の長手方向の任意の位置に移動させて接触でき、且つ、任意の温度に設定可能な金属体と、
前記金属体の温度を検出する温度検出部と、
前記温度検出部の検出信号に基づいて前記金属体の温度を制御する電源部と、
前記冷陰極管内の水銀の移動方向を観察するための観察手段と、
を備え、冷陰極管の表面温度を測定する冷陰極管の温度測定装置であって、
前記金属体を冷陰極管表面の任意の位置に設置し、前記観察手段による前記金属体設置位置での冷陰極管内の水銀移動方向の観察で、該水銀の移動が停止し、平衡状態となった点に、前記温度検出部及び電源部により前記金属体の温度を設定する機能と、
前記設定した金属体の温度を前記温度検出部により記録する機能と、
を有し、前記記録した温度を冷陰極管の表面温度の絶対値とすることを特徴とする冷陰極管の温度測定装置。
(付記4)
前記金属体はペルチエ素子の上に載せてあり、該ペルチエ素子は、前記電源部に接続され、該電源部からの出力電流により加熱され、その熱により前記金属体を任意の温度に設定可能に構成されていることを特徴とする付記3記載の冷陰極管の温度測定装置。
前記金属体はペルチエ素子の上に載せてあり、該ペルチエ素子は、前記電源部に接続され、該電源部からの出力電流により加熱され、その熱により前記金属体を任意の温度に設定可能に構成されていることを特徴とする付記3記載の冷陰極管の温度測定装置。
(付記5)
前記温度検出部は、該温度検出部が検出した前記金属体の温度を記録するための温度記録計を備えており、該温度記録計から前記冷陰極管の表面温度の絶対値に相当する値が得られるように構成されていることを特徴とする付記4記載の冷陰極管の温度測定装置。
前記温度検出部は、該温度検出部が検出した前記金属体の温度を記録するための温度記録計を備えており、該温度記録計から前記冷陰極管の表面温度の絶対値に相当する値が得られるように構成されていることを特徴とする付記4記載の冷陰極管の温度測定装置。
1 冷陰極管(FL管)
2 ペルチエ素子
3 アルミ板(アルミニューム板)
3A 金属体
4 熱電対
5 熱電対線
6 電源部
7 温度検出部
11 PWM制御部
12、13 オペアンプ
14 温度記録計
15 端子
16 Oリング
17 水銀
T トランス
TR トランジスタ
R1〜R5 抵抗
D1 ダイオード
2 ペルチエ素子
3 アルミ板(アルミニューム板)
3A 金属体
4 熱電対
5 熱電対線
6 電源部
7 温度検出部
11 PWM制御部
12、13 オペアンプ
14 温度記録計
15 端子
16 Oリング
17 水銀
T トランス
TR トランジスタ
R1〜R5 抵抗
D1 ダイオード
Claims (2)
- 冷陰極管表面の長手方向の任意の位置に移動させて接触でき、且つ、任意の温度に設定可能な金属体と、
前記金属体の温度を検出する温度検出部と、
前記温度検出部の検出信号に基づいて前記金属体の温度を制御する電源部と、
前記冷陰極管内の水銀の移動方向を観察するための観察手段と、
を備えた冷陰極管の温度測定装置により冷陰極管の表面温度を測定する冷陰極管の温度測定方法であって、
前記金属体を冷陰極管表面の任意の位置に設置し、前記観察手段による前記金属体設置位置での冷陰極管内の水銀移動方向の観察で、該水銀の移動が停止し、平衡状態となった点に、前記温度検出部及び電源部により前記金属体の温度を設定する手順と、
前記設定した金属体の温度を前記温度検出部により記録する手順と、
を有し、前記記録した温度を冷陰極管の表面温度の絶対値とすることを特徴とする冷陰極管の温度測定方法。 - 前記金属体はペルチエ素子の上に載せてあり、該ペルチエ素子は、前記電源部に接続され、該電源部からの出力電流により加熱され、その熱により前記金属体を任意の温度に設定可能に構成されていることを特徴とする請求項1記載の冷陰極管の温度測定方法。
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JP (1) | JP2008275350A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002245829A (ja) * | 2000-12-14 | 2002-08-30 | Fujitsu Ltd | バックライト及び表示装置及びその製造方法 |
JP2002334679A (ja) * | 2001-04-26 | 2002-11-22 | General Electric Co <Ge> | 低ワット数蛍光ランプ |
-
2007
- 2007-04-26 JP JP2007116282A patent/JP2008275350A/ja active Pending
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