JP2008261783A - 電圧測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】検出電極12とケース11との間に接続されてその静電容量C1を変化可能に構成された可変容量回路19、ケース11の電位(フィードバック電圧V4(以下、電圧V4))を生成する電圧生成回路25、および電圧生成回路25に対して電圧V4を変化させる電圧制御部CNTを備えて測定対象体4の電圧V1を測定可能に構成され、可変容量回路19は、ダイオードを逆向きに直列接続して構成された第1電気的要素をそれぞれ含む4つの構成単位31〜34が環状に接続されて、接続点Aが検出電極12に接続され、かつ接続点Cが電圧V4に接続された容量変化機能体13と、接続点B,D間に駆動信号S2を印加して容量変化機能体13の静電容量C1を変化させる駆動回路14とを備え、駆動回路14は駆動信号S2の正・負電圧波形を非対称にする調整回路71を備えている。
【選択図】図1
Description
2 プローブユニット
3 本体ユニット
4 測定対象体
11 ケース
12 検出電極
13,13A〜13G 容量変化機能体
14 駆動回路
15 電流検出器
19 可変容量回路
25 電圧生成回路
31,32,32A,33,33A,33B,34,34A 構成単位
71,71A 調整回路
CNT 電圧制御部
E11〜E14 第1電気的要素
E22,E23 第2電気的要素
E33,E34 第3電気的要素
i 電流
V1 測定対象体4の電圧
V4 フィードバック電圧(参照電位)
Claims (6)
- 測定対象体に対向可能な検出電極、前記検出電極と参照電位との間に接続されてその静電容量を変化可能に構成された可変容量回路、前記参照電位を生成する電圧生成回路、および前記可変容量回路が前記静電容量を変化させているときに前記電圧生成回路に対して前記参照電位の電圧を変化させる電圧制御部を備えて前記測定対象体の電圧を測定可能に構成された電圧測定装置であって、
前記可変容量回路は、一端が他端に対して高電位のときに抵抗体として機能し、かつ当該一端が当該他端に対して低電位のときに容量体として機能する2つの第1素子を逆向きに直列接続して構成された第1電気的要素をそれぞれ含む第1の構成単位、第2の構成単位、第3の構成単位および第4の構成単位がこの順に環状に接続されて構成されると共に当該第1の構成単位および当該第4の構成単位の接続点が前記検出電極に接続され、かつ当該第2の構成単位および当該第3の構成単位の接続点が前記参照電位に接続された容量変化機能体と、前記第1の構成単位および前記第2の構成単位の接続点と前記第3の構成単位および前記第4の構成単位の接続点との間に交流電圧を印加して前記容量変化機能体の静電容量を変化させる駆動回路とを備えて構成され、
前記駆動回路から前記容量変化機能体に印加される前記交流電圧の正電圧波形と負電圧波形とを非対称にする調整回路を備えている電圧測定装置。 - 測定対象体に対向可能な検出電極、前記検出電極と参照電位との間に接続されてその静電容量を変化可能に構成された可変容量回路、前記参照電位を生成する電圧生成回路、および前記可変容量回路が前記静電容量を変化させているときに前記電圧生成回路に対して前記参照電位の電圧を変化させる電圧制御部を備えて前記測定対象体の電圧を測定可能に構成された電圧測定装置であって、
前記可変容量回路は、第1の構成単位、第2の構成単位、第3の構成単位および第4の構成単位がこの順に環状に接続されて構成され、かつ当該第1の構成単位と当該第4の構成単位との組、および当該第2の構成単位と当該第3の構成単位との組のうちの一方の組の各構成単位が一端が他端に対して高電位のときに抵抗体として機能し、かつ当該一端が当該他端に対して低電位のときに容量体として機能する2つの第1素子を逆向きに直列接続して構成された第1電気的要素をそれぞれ含むと共に、他の組の各構成単位が交流信号の通過を許容する第2電気的要素をそれぞれ含み、かつ当該第1の構成単位および当該第4の構成単位の接続点が前記検出電極に接続されると共に当該第2の構成単位および当該第3の構成単位の接続点が前記参照電位に接続された容量変化機能体と、前記第1の構成単位および前記第2の構成単位の接続点と前記第3の構成単位および前記第4の構成単位の接続点との間に交流電圧を印加して前記容量変化機能体の静電容量を変化させる駆動回路とを備えて構成され、
前記駆動回路から前記容量変化機能体に印加される前記交流電圧の正電圧波形と負電圧波形とを非対称にする調整回路を備えている電圧測定装置。 - 測定対象体に対向可能な検出電極、前記検出電極と参照電位との間に接続されてその静電容量を変化可能に構成された可変容量回路、前記参照電位を生成する電圧生成回路、および前記可変容量回路が前記静電容量を変化させているときに前記電圧生成回路に対して前記参照電位の電圧を変化させる電圧制御部を備えて前記測定対象体の電圧を測定可能に構成された電圧測定装置であって、
前記可変容量回路は、第1の構成単位、第2の構成単位、第3の構成単位および第4の構成単位がこの順に環状に接続されて構成され、かつ当該第1の構成単位と当該第2の構成単位との組、および当該第3の構成単位と当該第4の構成単位との組のうちの一方の組の各構成単位が一端が他端に対して高電位のときに抵抗体として機能し、かつ当該一端が当該他端に対して低電位のときに容量体として機能する2つの第1素子を逆向きに直列接続して構成された第1電気的要素をそれぞれ含むと共に、他の組の各構成単位が直流信号の通過を阻止しつつ交流信号の通過を許容する第3電気的要素をそれぞれ含み、かつ当該第1の構成単位および当該第4の構成単位の接続点が前記検出電極に接続されると共に当該第2の構成単位および当該第3の構成単位の接続点が前記参照電位に接続された容量変化機能体と、前記第1の構成単位および前記第2の構成単位の接続点と前記第3の構成単位および前記第4の構成単位の接続点との間に交流電圧を印加して前記容量変化機能体の静電容量を変化させる駆動回路とを備えて構成され、
前記駆動回路から前記容量変化機能体に印加される前記交流電圧の正電圧波形と負電圧波形とを非対称にする調整回路を備えている電圧測定装置。 - 前記駆動回路は、前記交流電圧を二次巻線に発生させるトランスを備え、
前記調整回路は、ダイオードおよびインピーダンス素子が直列接続されて構成されて、前記トランスの一次巻線に並列に接続されている請求項1から3のいずれかに記載の電圧測定装置。 - 前記駆動回路は、前記交流電圧を二次巻線に発生させるトランスを備え、
前記調整回路は、ダイオードおよびインピーダンス素子が並列接続されて構成されて、前記トランスの一次巻線に直列に接続されている請求項1から3のいずれかに記載の電圧測定装置。 - 前記第1素子は、P型半導体およびN型半導体で形成されたダイオードで構成されている請求項1から5のいずれかに記載の電圧測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007105935A JP4927632B2 (ja) | 2007-04-13 | 2007-04-13 | 電圧測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007105935A JP4927632B2 (ja) | 2007-04-13 | 2007-04-13 | 電圧測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008261783A true JP2008261783A (ja) | 2008-10-30 |
JP4927632B2 JP4927632B2 (ja) | 2012-05-09 |
Family
ID=39984360
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007105935A Expired - Fee Related JP4927632B2 (ja) | 2007-04-13 | 2007-04-13 | 電圧測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4927632B2 (ja) |
Cited By (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102486491A (zh) * | 2010-12-03 | 2012-06-06 | 比亚迪股份有限公司 | 用于检测交流电流的正负半周电流不平衡的方法和系统 |
CN105571612A (zh) * | 2014-10-17 | 2016-05-11 | 北京自动化控制设备研究所 | 一种mems陀螺结构关键参数自动测试方法 |
CN105571576A (zh) * | 2014-10-17 | 2016-05-11 | 北京自动化控制设备研究所 | 一种mems陀螺模态匹配电压自动测试方法 |
JP2016095227A (ja) * | 2014-11-14 | 2016-05-26 | 日置電機株式会社 | 物理量検出装置および物理量検出方法 |
JP2017032517A (ja) * | 2015-08-06 | 2017-02-09 | 日置電機株式会社 | 電圧検出センサおよび測定装置 |
JP2017040526A (ja) * | 2015-08-19 | 2017-02-23 | 日置電機株式会社 | 電圧検出センサおよび測定装置 |
US10120021B1 (en) | 2017-06-16 | 2018-11-06 | Fluke Corporation | Thermal non-contact voltage and non-contact current devices |
US10119998B2 (en) | 2016-11-07 | 2018-11-06 | Fluke Corporation | Variable capacitance non-contact AC voltage measurement system |
US10139435B2 (en) | 2016-11-11 | 2018-11-27 | Fluke Corporation | Non-contact voltage measurement system using reference signal |
US10254375B2 (en) | 2016-11-11 | 2019-04-09 | Fluke Corporation | Proving unit for voltage measurement systems |
US10281503B2 (en) | 2016-11-11 | 2019-05-07 | Fluke Corporation | Non-contact voltage measurement system using multiple capacitors |
US10352967B2 (en) | 2016-11-11 | 2019-07-16 | Fluke Corporation | Non-contact electrical parameter measurement systems |
US10359494B2 (en) | 2016-11-11 | 2019-07-23 | Fluke Corporation | Proving unit for non-contact voltage measurement systems |
US10502807B2 (en) | 2017-09-05 | 2019-12-10 | Fluke Corporation | Calibration system for voltage measurement devices |
US10509063B2 (en) | 2017-11-28 | 2019-12-17 | Fluke Corporation | Electrical signal measurement device using reference signal |
US10539643B2 (en) | 2017-09-01 | 2020-01-21 | Fluke Corporation | Proving unit for use with electrical test tools |
US10551416B2 (en) | 2018-05-09 | 2020-02-04 | Fluke Corporation | Multi-sensor configuration for non-contact voltage measurement devices |
US10557875B2 (en) | 2018-05-09 | 2020-02-11 | Fluke Corporation | Multi-sensor scanner configuration for non-contact voltage measurement devices |
US10591515B2 (en) | 2016-11-11 | 2020-03-17 | Fluke Corporation | Non-contact current measurement system |
US10605832B2 (en) | 2016-11-11 | 2020-03-31 | Fluke Corporation | Sensor subsystems for non-contact voltage measurement devices |
US10677876B2 (en) | 2018-05-09 | 2020-06-09 | Fluke Corporation | Position dependent non-contact voltage and current measurement |
US10746767B2 (en) | 2018-05-09 | 2020-08-18 | Fluke Corporation | Adjustable length Rogowski coil measurement device with non-contact voltage measurement |
US10775409B2 (en) | 2018-05-09 | 2020-09-15 | Fluke Corporation | Clamp probe for non-contact electrical parameter measurement |
US10802072B2 (en) | 2018-05-11 | 2020-10-13 | Fluke Corporation | Non-contact DC voltage measurement device with oscillating sensor |
US10908188B2 (en) | 2018-05-11 | 2021-02-02 | Fluke Corporation | Flexible jaw probe for non-contact electrical parameter measurement |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1050156A (ja) * | 1996-08-05 | 1998-02-20 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | 撚線の撚り状態検出装置及び検出方法 |
JP2000065878A (ja) * | 1998-08-25 | 2000-03-03 | Kawaguchi Denki Seisakusho:Kk | 表面電位計 |
JP2002162429A (ja) * | 2000-11-24 | 2002-06-07 | Tdk Corp | 表面電位検出方法、表面電位検出装置及び表面電位センサ |
-
2007
- 2007-04-13 JP JP2007105935A patent/JP4927632B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1050156A (ja) * | 1996-08-05 | 1998-02-20 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | 撚線の撚り状態検出装置及び検出方法 |
JP2000065878A (ja) * | 1998-08-25 | 2000-03-03 | Kawaguchi Denki Seisakusho:Kk | 表面電位計 |
JP2002162429A (ja) * | 2000-11-24 | 2002-06-07 | Tdk Corp | 表面電位検出方法、表面電位検出装置及び表面電位センサ |
Cited By (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102486491A (zh) * | 2010-12-03 | 2012-06-06 | 比亚迪股份有限公司 | 用于检测交流电流的正负半周电流不平衡的方法和系统 |
CN105571612A (zh) * | 2014-10-17 | 2016-05-11 | 北京自动化控制设备研究所 | 一种mems陀螺结构关键参数自动测试方法 |
CN105571576A (zh) * | 2014-10-17 | 2016-05-11 | 北京自动化控制设备研究所 | 一种mems陀螺模态匹配电压自动测试方法 |
JP2016095227A (ja) * | 2014-11-14 | 2016-05-26 | 日置電機株式会社 | 物理量検出装置および物理量検出方法 |
JP2017032517A (ja) * | 2015-08-06 | 2017-02-09 | 日置電機株式会社 | 電圧検出センサおよび測定装置 |
JP2017040526A (ja) * | 2015-08-19 | 2017-02-23 | 日置電機株式会社 | 電圧検出センサおよび測定装置 |
US10119998B2 (en) | 2016-11-07 | 2018-11-06 | Fluke Corporation | Variable capacitance non-contact AC voltage measurement system |
US10591515B2 (en) | 2016-11-11 | 2020-03-17 | Fluke Corporation | Non-contact current measurement system |
US10605832B2 (en) | 2016-11-11 | 2020-03-31 | Fluke Corporation | Sensor subsystems for non-contact voltage measurement devices |
US10254375B2 (en) | 2016-11-11 | 2019-04-09 | Fluke Corporation | Proving unit for voltage measurement systems |
US10281503B2 (en) | 2016-11-11 | 2019-05-07 | Fluke Corporation | Non-contact voltage measurement system using multiple capacitors |
US10352967B2 (en) | 2016-11-11 | 2019-07-16 | Fluke Corporation | Non-contact electrical parameter measurement systems |
US10359494B2 (en) | 2016-11-11 | 2019-07-23 | Fluke Corporation | Proving unit for non-contact voltage measurement systems |
US10139435B2 (en) | 2016-11-11 | 2018-11-27 | Fluke Corporation | Non-contact voltage measurement system using reference signal |
US11237192B2 (en) | 2016-11-11 | 2022-02-01 | Fluke Corporation | Non-contact current measurement system |
US10120021B1 (en) | 2017-06-16 | 2018-11-06 | Fluke Corporation | Thermal non-contact voltage and non-contact current devices |
US10539643B2 (en) | 2017-09-01 | 2020-01-21 | Fluke Corporation | Proving unit for use with electrical test tools |
US10502807B2 (en) | 2017-09-05 | 2019-12-10 | Fluke Corporation | Calibration system for voltage measurement devices |
US10509063B2 (en) | 2017-11-28 | 2019-12-17 | Fluke Corporation | Electrical signal measurement device using reference signal |
US10551416B2 (en) | 2018-05-09 | 2020-02-04 | Fluke Corporation | Multi-sensor configuration for non-contact voltage measurement devices |
US10677876B2 (en) | 2018-05-09 | 2020-06-09 | Fluke Corporation | Position dependent non-contact voltage and current measurement |
US10746767B2 (en) | 2018-05-09 | 2020-08-18 | Fluke Corporation | Adjustable length Rogowski coil measurement device with non-contact voltage measurement |
US10775409B2 (en) | 2018-05-09 | 2020-09-15 | Fluke Corporation | Clamp probe for non-contact electrical parameter measurement |
US10557875B2 (en) | 2018-05-09 | 2020-02-11 | Fluke Corporation | Multi-sensor scanner configuration for non-contact voltage measurement devices |
US10802072B2 (en) | 2018-05-11 | 2020-10-13 | Fluke Corporation | Non-contact DC voltage measurement device with oscillating sensor |
US10908188B2 (en) | 2018-05-11 | 2021-02-02 | Fluke Corporation | Flexible jaw probe for non-contact electrical parameter measurement |
US11209480B2 (en) | 2018-05-11 | 2021-12-28 | Fluke Corporation | Non-contact DC voltage measurement device with oscillating sensor |
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---|---|
JP4927632B2 (ja) | 2012-05-09 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R250 | Receipt of annual fees |
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